JP7653601B2 - 接合材料およびそれを用いる実装構造体 - Google Patents

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Description

本発明は、パワーデバイスなどの機器で用いる、2つの部材を金属材料で接合するための接合材料および該接合材料を用いて接合した実装構造体に関する。
パワーデバイスなどの発熱を伴う機器においては、発生した熱の放熱を目的として、素子を搭載した基板から放熱部への熱輸送のために、基板と放熱部との2つの部材間を接合した実装構造体を有するものがある。
近年、パワーデバイスなどの機器では、省エネ化を目的とした大電流制御の要求が高まっている。そこで、高効率で電力を制御できる利点を持つSiCやGaNといった次世代パワーデバイス素子が、従来のSi素子に代わって増加している。
それらの次世代パワーデバイス素子は、高温でも動作できる利点を有しており、従来のSi素子よりも大きな発熱に耐えることができるため、大電流の制御が行われることで素子からの発熱量の上昇、高温化が起こる。
その結果、素子で制御した電流を流すリードフレームなどの電極と、素子電極との間の接合部温度Tjが上昇する。例えば、従来のSiでは約125℃だったものが、SiCやGaNでは200~250℃に上昇する。
そのため、素子電極とリードフレーム電極との間の接合部には、発生した熱をリードフレームに効率よく逃がすための熱伝導率と、高い接合部の温度Tjにも対応する耐熱性が求められる。
また、次世代パワーデバイス素子に用いられるSiCやGaNは、Siと比較して弾性率が高く、強度も高い。例えば、Siの弾性率が160GPaであるのに対し、SiCやGaNは200GPa以上である。そのため、2つの部材の線膨張係数差に起因する温度変化時の熱応力は大きくなる。そこで、接合部の接合強度をより高くすることも求められる。
従来、素子とリードフレーム電極との間を導電体で接合する実装構造体の接合部に用いられる接合材料には、低温での接合が可能であることから、はんだ材料が広く用いられていた。しかしながら、一般的に用いられるSnやPbを主成分としたはんだ材料にとって、200℃~250℃は融点付近またはそれ以上の温度となり非常に過酷な温度であるため、これらのはんだを用いた実装構造体では、耐熱性の確保は困難である。
そのような課題に対する一つの解決手段として、低融点金属とそれと金属間化合物を形成する第2の金属とを混合した接合材料であって、接合時に低融点金属が溶融し、第2の金属と反応して金属間化合物を形成することで高融点の接合部を形成する液相焼結法の接合材料が提案されている
従来の高耐熱の液相焼結法の接合材料として、少なくともCuを含む2種以上の金属粒子と、ポリジメチルシロキサン骨格を有する高分子とを含む接合材料であり、前記金属粒子が金属間化合物を形成可能であるものがある(例えば、特許文献1参照。)。
WO2016/031551号公報
しかしながら、特許文献1に記載の接合材料では、低融点金属が溶融し、Cuと反応して高融点の金属間化合物を形成するため高い耐熱性を示すものの、金属間化合物の結晶粒は粗大になる場合があり、接合強度の向上が困難である。
本発明は、従来の課題を解決するもので、より高い接合強度を発現することが可能な接合材料を提供することを目的とする。
上記課題を達成するための、本発明に係る接合材料は、融点が200℃以下の第1の金属粒子と、第1の金属粒子に含まれる第1の金属元素と金属間化合物を生成することができる第2の金属元素を含む第2の金属粒子と、TiOナノ粒子と、フラックスと、を含む。
第1の金属粒子は、第2の金属元素と金属間化合物を生成する第1の金属元素のみ、または、第2の金属元素と金属間化合物を生成する第1の金属元素と、第2の金属元素と金属間化合物を生成せずその金属元素単体の融点が250℃以上である第3の金属元素と、を含む複合体、の何れかである。
第1の金属粒子と第2の金属粒子の比率は、第1の金属元素と第2の金属元素との平衡状態図において第1の金属粒子に含まれる第1の金属元素と、第2の金属粒子に含まれる第2の金属元素とが全て金属間化合物となる比率である。
本発明に係る接合材料によれば、液相焼結法において金属間化合物生成時の結晶粒粗大化を抑制し、より高い接合強度の接合部を形成可能な接合材料を提供することが可能である。
本実施の形態1に係る接合材料の構成を示す概略図である。 実施例1-1~1-8、比較例1-1~1-12における接合材料に含まれる成分と、その重量比率、及び、評価結果を示す表1である。 実施例2-1~2-6、比較例2-1~2-4における接合材料に含まれる成分と、その重量比率、及び、評価結果を示す表2である。 実施例3-1~3-11における接合材料に含まれる成分と、その重量比率、及び、評価結果を示す表3である。
第1の態様に係る接合材料は、融点が200℃以下の第1の金属粒子と、第1の金属粒子に含まれる第1の金属元素と金属間化合物を生成することができる第2の金属元素を含む第2の金属粒子と、TiOナノ粒子と、フラックスと、を含む。
第1の金属粒子は、第2の金属元素と金属間化合物を生成する第1の金属元素のみ、または、第2の金属元素と金属間化合物を生成する第1の金属元素と、第2の金属元素と金属間化合物を生成せずその金属元素単体の融点が250℃以上である第3の金属元素と、を含む複合体、の何れかである。
第1の金属粒子と第2の金属粒子との比率は、第1の金属元素と第2の金属元素との平衡状態図において第1の金属粒子に含まれる第1の金属元素と、第2の金属粒子に含まれる第2の金属元素とが全て金属間化合物となる比率である。
第2の態様に係る接合材料は。上記第1の態様において、TiOナノ粒子が、メジアン径20~80nmであってもよい。
第3の態様に係る接合材料は。上記第1又は第2の態様において、TiOナノ粒子の含有率が、第1の金属粒子、第2の金属粒子、およびTiOナノ粒子の総和のうち、0.1wt%~1wt%であってもよい。
第4の態様に係る接合材料は。上記第1から第3のいずれかの態様において、第1の金属粒子が、Sn-Bi、Sn-In、Sn-Bi-In、Bi-In、およびInの群から選択される少なくとも一つであってもよい。
第5の態様に係る接合材料は。上記第1から第4のいずれかの態様において、第2の金属粒子が、Cuを含んでいてもよい。
第6の態様に係る接合材料は。上記第1から第5のいずれかの態様において、第1の金属粒子が、メジアン径3~30μmの粒子を少なくとも含んでもよい。
第7の態様に係る接合材料は。上記第1から第6のいずれかの態様において、前記第2の金属粒子が、メジアン径100~2000nmであってもよい。
第8の態様に係る実装構造体は、SiCまたはGaNのパワーデバイス素子と、パワーデバイス素子の電極と外部電極とを接合する、上記第1から第7のいずれかの態様に係る接合材料と、を備える。
以下、実施の形態に係る接合材料及び実装構造体について添付図面を参照しながら詳述する。
(実施の形態1)
<接合材料>
図1は、本実施の形態1に係る接合材料の構成を示す概略図である。
本実施の形態1に係る接合材料101は、融点が200℃以下の第1の金属粒子102と、第1の金属粒子102に含まれる第1の金属元素と金属間化合物を生成することができる第2の金属元素を含む第2の金属粒子103と、TiOナノ粒子104と、フラックス105とを含む。
TiOナノ粒子を含むことにより、第2の金属粒子の第2の金属元素が第1の金属粒子102へ拡散し、金属間化合物が生成する際に、初晶の結晶核の生成を促進すると考えられる。また、発生した結晶核が成長する際に、固体のTiOが成長を阻害すると考えられる。それらにより、金属間化合物の結晶粒を微細化することができる。
第1の金属粒子は、第2の金属元素と金属間化合物を生成する第1の金属元素のみ、または、第2の金属元素と金属間化合物を生成する第1の金属元素と、第2の金属元素と金属間化合物を生成せずその金属元素単体の融点が250℃以上である第3の金属元素と、を含む複合体、の何れかである。
第1の金属粒子と第2の金属粒子との比率は、第1の金属元素と第2の金属元素との平衡状態図において第1の金属粒子に含まれる第1の金属元素と、第2の金属粒子に含まれる第2の金属元素とが全て金属間化合物となる比率である。
これにより、この接合材料を用いた液相焼結法のプロセスで生成した接合部は、250℃以下では再溶融が生じない。そのため、接合後のデバイスの動作温度が200℃以上となっても溶融しない高い耐熱性を発現することができる。
以下に、この接合材料を構成する各部材について説明する。
<第1の金属粒子>
第1の金属粒子102は、液相焼結法のプロセスにおいて液相成分となり、第2の金属粒子103と反応して高融点の金属間化合物を生成するための第1の金属元素を含む。
第1の金属粒子102は、融点が200℃以下の合金または単体の金属で構成される。これにより、200℃以下の低温での液相焼結を可能にする。
第1の金属粒子102を構成する合金または単体の金属としては、融点が200℃以下の合金または単体の金属であればよいが、特にSn-Bi、Sn-In、Sn-Bi-In、Bi-In、およびInの群から選択されるいずれかであることが望ましい。
第1の金属元素としては、例えば、Sn、Inである。なお、第1の金属元素は、1種類に限られず、Sn及びInの両方を含んでもよい。第1の金属元素は、第2の金属粒子103に含まれる第2の金属元素と金属間化合物を形成する。
<第2の金属粒子>
第2の金属粒子103は、第1の金属粒子102に含まれる第1の金属元素と金属間化合物を生成することができる第2の金属元素を含む。これにより、溶融状態の第1の金属粒子に溶解し、第1の金属粒子102に含まれる第1の金属元素との高融点の金属間化合物を生成することができる。
第2の金属粒子103は、第1の金属粒子102に含まれる第1の金属元素と少なくとも1種以上の金属間化合物を生成することができる第2の金属元素を含んでいればよい。
第2の金属元素としては、例えば、Cuである。なお、第2の金属元素は、Cuに限られないが、Cuを含んでいることが望ましい。
また、第1の金属粒子102は、第2の金属元素と金属間化合物を生成する第1の金属元素のみ、または、第2の金属元素と金属間化合物を生成する第1の金属元素と、第2の金属元素と金属間化合物を生成せず、その金属元素単体の融点が250℃以上である第3の金属元素と、を含む複合体、の何れかである。
第3の金属元素は、例えば、Biである。なお、第3の金属元素は、Biに限られない。
さらに、第1の金属粒子102と第2の金属粒子103との比率は、第1の金属元素と第2の金属元素との平衡状態図において第1の金属粒子に含まれる第1の金属元素と、第2の金属粒子に含まれる第2の金属元素とが全て金属間化合物となる比率である。これにより、液相焼結法のプロセスで生成した接合部は、250℃以下では再溶融が生じない。そのため、接合後のデバイスの動作温度が200℃以上となっても溶融しない高い耐熱性を発現することができる。
<TiOナノ粒子>
TiOナノ粒子104は、第1の金属粒子102と第2の金属粒子103との間で金属間化合物を生成する際に、その界面に固体として存在する。これにより、第2の金属粒子の第2の金属元素が第1の金属粒子102へ拡散し、金属間化合物が生成する際に、初晶の結晶核の生成を促進すると考えられる。また、発生した結晶核が成長する際に、固体のTiOが成長を阻害すると考えられる。それらにより、金属間化合物の結晶粒を微細化するために含まれる。
TiOナノ粒子104は、第1の金属粒子102、第2の金属粒子103、TiOナノ粒子104の総和のうち、0.1wt%~1wt%であることが望ましい。
<フラックス>
フラックス105は、第1の金属粒子102、第2の金属粒子103の表面に存在する酸化膜の除去と、再酸化の抑制のために含まれる。フラックス105は、第1の金属粒子102の溶融と、溶融した第1の金属粒子102への第2の金属粒子103表面の第2の金属元素の拡散を容易にする。フラックス105は、第1の金属粒子102、第2の金属粒子103の表面に存在する酸化膜を除去する成分と、液相焼結法のプロセス中における再酸化防止のために第1の金属粒子102の融点よりも高い沸点を有す溶媒と、を含む。
(実施例)
本実施の形態1の効果を確認するために、実施例1-1~1-8、比較例1-1~1-12として、第1の金属粒子102および第2の金属粒子103の種類を変えた接合材料101を作製する。実施例1-1~1-8、比較例1-1~1-12における接合材料101に含まれる成分と、その重量比率、及び、評価結果を図2の表1に示す。図2の表1で示す第1の金属粒子102、第2の金属粒子103、TiOナノ粒子104の粒径は、いずれもメジアン径である。
<接合材料101>
本実施の形態1における第1の金属粒子102として、Sn-58Bi、Sn-51In、Sn-55Bi-20In、In、Sn、Sn-3.5Ag、Sn-5Sbを評価する。また、第2の金属粒子として、Cu、Cu-20Sn、Znを評価する。TiOナノ粒子は30nmのものを用いる。
接合材料101は次のように作製する。
(1)まず、第1の金属粒子102と第2の金属粒子103、TiOナノ粒子を秤量し、機械的に混錬して均一に混ぜる。
(2)その後、フラックスを秤量、添加し、2軸遊星式混錬機で混錬することで、接合材料101を得る。
<接合プロセス>
本実施の形態1の効果を確認するために実装構造体を作製する。接合プロセスは次の通りである。
まず、作製した接合材料101を用いて接合を行う。
(a)Cu板上に厚み100μm、開口1mm×1mmのメタルマスクを用いて接合材料101を供給する。
(b)供給した接合材料101の上にSiC素子を搭載する。接合材料101で接合するSiC素子の電極は、SiC側からTi/Ni/Anのめっきで構成される。
(c)搭載したSiC素子の上から1MPaの加重をかけ、N雰囲気で200℃で10minの加熱を行い、SiC素子の電極とCu板とを接合材料101で接合した実装構造体を作製する。
<接合評価>
本実施の形態1の効果を確認するための評価の結果についても、図2の表1に併せて示している。
この一連の接合プロセスを行った後に、Cu板とSiC素子の電極とが接合されているかを確認する。図2の表1において、接合されている場合は○、接合されていない場合は×と判定している。
次に、接合されている実装構造体について、耐熱性を評価する。作製した実装構造体を再度200℃に加熱し、接合材料101が再溶融するかどうかを評価する。再溶融が発生せず接合が確保される場合を○、再溶融が発生する場合を×と判定している。
さらに、再溶融が発生しない接合構造体について、接合強度を評価する。作製した接合構造体のSiC素子にせん断方向の力を印加し、破壊強度を測定する。従来はんだ並みの20MPaよりも大きい場合を○、30MPaよりも大きい場合を◎、20MPa以下の場合を×と判定する。
図2の表1に示すように、実施例1-1~1-8のうち、実施例1-1~1―6では接合、耐熱性が○、強度が◎、実施例1-7、1-8では接合、耐熱性、強度が○であり、ともに評価基準を上回っている。これらの実施例では、第2の金属粒子103が、CuまたはCu-20SnでCuを含んでおり、第1の金属粒子102がSn-58Bi、Sn-51In、Sn-55Bi-20In、Inいずれにおいても1種以上の金属元素と反応して金属間化合物を形成する。金属間化合物を形成しない第3の金属元素(ここではBi)は、融点271℃である。
さらに、第1の金属粒子102と第2の金属粒子103との比率は40:60であり、いずれの実施例においても、第1の金属粒子102のうちの第1の金属元素と第2の金属元素であるCuとが、平衡状態図において全て金属間化合物となる含有率となるような比率である。
一方、比較例1-10、1-11、1-12では、一連の接合プロセスを施しても、接合が形成されていない。これは、比較例1-10、1-11、1-12で用いた第1の金属粒子102の組成が、それぞれSn、Sn-3.5Ag、Sn-5Sbであり、その融点はそれぞれ232℃、221℃、235℃と加熱温度200℃よりも高いためと考えられる。すなわち、一連の接合プロセスにおいて、第1の金属粒子102が溶融せず、液相焼結とならないため、十分な接合が確保されないと考える。
また、比較例1-9では、耐熱評価において再溶融が発生する。これは、比較例1-9で用いた第1の金属粒子102のInと、第2の金属粒子103のZnは金属間化合物を形成しないためと考える。接合プロセスにおいて液相焼結が進行せず、InおよびZnが残存し、再加熱によってInが再溶融するためと考える。
比較例1-2、1-4、1-6、1-8も、比較例1-9と同様に、耐熱評価において再溶融が発生する。
これは、第1の金属粒子102における第1の金属元素(比較例1-2ではSn、比較例1-4および比較例1-6ではSnおよびIn、比較例1-8ではIn)と、第2の金属元素であるCuとの混合比率に着目すると理解できる。つまり、比較例1-2、1-4、1-6、1-8では、第1の金属粒子102と第2の金属粒子103との混合比率はいずれも70:30である。この場合には、第1の金属粒子102における第1の金属元素が、平衡状態図において全て第2の金属元素との金属間化合物となる比率よりも過剰に存在するためであると考えられる。
そのため、接合プロセスを経た後の接合材料101において、比較例1-2ではSn、比較例1-4および比較例1-6ではSnおよびIn、比較例1-8ではInが残存し、これらの融点が200℃より低いため、200℃以下で再溶融が発生すると考えられる。
さらに、比較例1-1、1-3、1-5、1―7に着目すると、初期接合と耐熱性は基準値を超えているものの、接合強度がそれぞれ16.8、13.4、14.7、12.2MPaとそれほど大きくなく、判定は×である。
比較例1-1、1-3、1-5、1―7と、実施例1-1、1-3、1-5、1-7をそれぞれ比較すると、30nmのTiOナノ粒子104を添加することで接合強度が2倍以上に大きくなることがわかる。
本実施の形態1の結果より、次のことが確認される。
本開示の効果を発現するためには、まず、融点200℃以下の第1の金属粒子と、第1の金属粒子102に含まれる第1の金属元素と金属間化合物を生成することができる第2の金属元素を含む第2の金属粒子103と、TiOナノ粒子104と、フラックス105と、を含む接合材料であることが必要である。
さらに、第1の金属粒子102が、第2の金属元素と金属間化合物を生成する第1の金属元素のみ、または、第2の金属元素と金属間化合物を生成する第1の金属元素と、第2の金属元素と金属間化合物を生成せず、その金属元素単体の融点が250℃以上の第3の金属元素と、を含む複合体、のいずれかであることが必要である。
そして、第1の金属粒子102と第2の金属粒子103との比率が、第1の金属元素と第2の金属元素との平衡状態図において第1の金属粒子に含まれる第1の金属元素と、第2の金属粒子に含まれる第2の金属元素とが全て金属間化合物となる比率であることが必要である。
これらを満たす接合材料101において、高い接合強度の接合部を形成可能な接合材料を提供することが可能である。
(実施の形態2)
本実施の形態2として、TiOナノ粒子104の粒径および含有率の影響を評価する。本実施の形態2の実施例2-1~2-6、比較例2-1~2-4における接合材料101に含まれる成分と、その重量比率、及び、評価結果を図3の表2に示す。接合材料101の作製方法、接合プロセス、および評価方法は実施の形態1と同様である。
図3の表2より、TiOナノ粒子104の粒径に着目すると、粒径がそれぞれ20、50、80nmである実施例2-1、2-2、2-3では、接合、耐熱性が○、強度が◎であり、いずれも評価基準を上回っている。
一方、TiOナノ粒子104の粒径が100nm、300nmと大きい比較例2-1、2-2では、接合強度がそれぞれ17.1MPa、10MPa未満と高くないため判定は×である。
これは、TiOナノ粒子104の粒径が大きいために、液相焼結時の核生成の起点となる箇所が少なくなり、また、接合後は金属間化合物の間に大きな異物が混入される形になる。
そのため、TiOナノ粒子104を含有する効果が小さくなるとともに、界面付近が構造的に弱くなり、接合強度が小さくなると考える。
次に、TiOナノ粒子104の含有率に着目すると、TiOナノ粒子の含有率がそれぞれ0.1、0.2、1.0wt%である実施例2-4~2-6では、接合、耐熱性が○、強度が◎と、いずれも評価基準を上回っている。
一方、TiOナノ粒子104の含有率が0.05wt%と小さい比較例2-3では、接合強度が18.1MPaと高くない。
これはTiOナノ粒子104の含有率が小さいために、添加の効果が小さいためと考えられる。
また、TiOナノ粒子104の含有率が2.0wt.%と大きい比較例2-4では、接合強度が14.3MPaと小さく、判定は×である。これは、TiOナノ粒子104の含有率が高いために、第1の金属粒子102と第2の金属粒子103との間で形成される金属間化合物間の強度を低下させてしまうためであると考える。
本実施の形態2の結果より、次のことが確認される。
TiOナノ粒子104の粒径は、メジアン径20~80nmであることが好ましい。
また、TiOナノ粒子104の含有率は、0.1~1wt.%であることが好ましい。
これらを満たす接合材料101において、高い接合強度の接合部を形成可能な接合材料を提供することが可能である。
(実施の形態3)
本実施の形態3として、第1の金属粒子102、第2の金属粒子103、TiOナノ粒子104の粒径の影響を評価する。
本実施の形態3の実施例3-1~3-11における接合材料101に含まれる成分と、その重量比率、及び、評価結果を図4の表3に示す。接合材料101の作製方法、接合プロセス、および評価方法は実施の形態1および実施の形態2と同様である。
図4の表3の結果から、第1の金属粒子102の粒径に着目すると、第1の金属粒子102の粒径がそれぞれ3、20、30μmである実施例3-2~3-4の場合は、接合、耐熱性の判定は○、強度の判定は◎であり、粒径が0.5、45μmである実施例3-1、3-5は接合、耐熱性、強度の判定は○である。
第1の金属粒子102の粒子径が小さい実施例3-1の場合、第2の金属粒子103の粒径と近いため、第2の金属粒子103と接する箇所が多くなる。そのため、接合プロセスにおける加熱時に液相焼結の速度が非常に大きく、接合する2つの部材の電極に十分ぬれ広がる前に金属間化合物の形成が完了するため、その他の実施例と比較して強度が小さくなると考えられる。
逆に、第1の金属粒子102の粒径が大きい実施例3-5の場合、第2の金属粒子103と比較して第1の金属粒子102の粒径が非常に大きいため、接合材料101を作製する際の均一性が低下したため、その他の実施例と比較して接合強度も比較的小さくなると考えられる。
第2の金属粒子103の粒径に着目すると、第2の金属粒子103の粒径がそれぞれ100、400、1200、2000nmである実施例3-7~3-10の場合は、接合、耐熱性の判定が○、強度の判定が◎であり、50、6000nmである実施例3-6、3-11は接合、耐熱性、強度の判定が○である。
第2の金属粒子103の粒径が小さい実施例3-6では、第2の金属粒子103の粒径が非常に小さいことによって、接合材料101の作製中や接合プロセスの加熱において第2の金属粒子103の凝集が生じ、均一性が低下するため、その他の実施例と比較して接合強度も比較的小さくなるためと考えられる。
第2の金属粒子103の粒子径が大きい実施例3-11では、第2の金属粒子103の粒径が大きいことで、接合プロセス中で溶融している第1の金属粒子102への拡散が遅く、金属間化合物の粒径が大きくなるためと考える。
本実施の形態3の結果より、次のことが確認される。
第1の金属粒子102は、メジアン径3~30μmの粒子を少なくとも含んでいるであることが望ましい。
第2の金属粒子103は、メジアン径100~2000nmであることが望ましい。
これらを満たす接合材料101において、高い接合強度の接合部を形成可能な接合材料を提供することが可能である。
<本発明の好適な条件>
以上、本実施形態1~3の結果より、本開示の接合材料の効果を発現するための好適な条件として、接合材料は、融点が200℃以下の第1の金属粒子102と、第1の金属粒子102に含まれる第1の金属元素と金属間化合物を生成することができる第2の金属元素を含む第2の金属粒子103と、TiOナノ粒子104と、フラックス105と、を含む接合材料101である。
また、第1の金属粒子102は、第2の金属元素と金属間化合物を生成する第1の金属元素のみ、または、第2の金属元素と金属間化合物を生成する第1の金属元素と、第2の金属元素と金属間化合物を生成せず、その金属元素単体の融点が250℃以上である第3の金属元素と、を含む複合体、の何れかである。
さらに、第1の金属粒子102と第2の金属粒子103との比率は、第1の金属元素と第2の金属元素との平衡状態図において第1の金属粒子102に含まれる第1の金属元素と、第2の金属粒子103に含まれる第2の金属元素とが全て金属間化合物となる比率である。
より好適な条件として、TiOナノ粒子104が、メジアン径20~80nmであってもよい。
さらにより好適な条件として、TiOナノ粒子104の含有率が、第1の金属粒子102、第2の金属粒子103、およびTiOナノ粒子104の総和のうち、0.1wt%~1wt%であってもよい。
さらにより好適な条件として、第1の金属粒子102が、Sn-Bi、Sn-In、Sn-Bi-In、Bi-In、およびInの群から選択される少なくとも一つであってもよい。
さらにより好適な条件として、第2の金属粒子103が、Cuを含んでいてもよい。
さらにより好適な条件として、第1の金属粒子102が、メジアン径3~30μmの粒子を少なくとも含んでいてもよい。
さらにより好適な条件として、第2の金属粒子103が、メジアン径100~2000nmであってもよい。
また、実装構造体は、SiCまたはGaNのパワーデバイス素子と、パワーデバイス素子の電極と外部電極とを接合する上記接合材料101と、を備える。
なお、本実施形態において、評価に用いたSiC素子の電極はTi/Ni/Auを用いているが、本開示はこれに限定されるものではなく、第1の金属粒子102で接合可能な電極であれば本開示の効果を発現することができる。
なお、本開示においては、前述した様々な実施の形態及び/又は実施例のうちの任意の実施の形態及び/又は実施例を適宜組み合わせることを含むものであり、それぞれの実施の形態及び/又は実施例が有する効果を奏することができる。
本発明に係る接合材料によれば、SiCやGaNのような高弾性率の素子を用い、かつ高温動作を行うデバイスにおいて求められる、耐熱性と高い強度を有した実装構造体を実現できる。
101 接合材料
102 第1の金属粒子
103 第2の金属粒子
104 TiOナノ粒子
105 フラックス

Claims (4)

  1. 融点が200℃以下の第1の金属粒子と、
    前記第1の金属粒子に含まれる第1の金属元素と金属間化合物を生成することができる第2の金属元素を含む第2の金属粒子と、
    TiOナノ粒子と、
    フラックスと、
    を含む接合材料であって、
    前記第1の金属粒子は、
    前記第2の金属元素と金属間化合物を生成する前記第1の金属元素のみ、または、
    前記第2の金属元素と金属間化合物を生成する前記第1の金属元素と、前記第2の金属元素と金属間化合物を生成せずその金属元素単体の融点が250℃以上である第3の金属元素と、を含む複合体、
    の何れかであり、
    前記第1の金属粒子と前記第2の金属粒子との比率は、前記第1の金属元素と前記第2の金属元素との平衡状態図において前記第1の金属粒子に含まれる前記第1の金属元素と、前記第2の金属粒子に含まれる前記第2の金属元素とが全て金属間化合物となる比率であると共に、
    前記TiO ナノ粒子が、メジアン径20~80nmであり、
    前記TiO ナノ粒子の含有率が、前記第1の金属粒子、前記第2の金属粒子、および前記TiO ナノ粒子の総和のうち、0.1wt%~1wt%であり、
    前記第1の金属粒子が、メジアン径3~30μmの粒子を少なくとも含み、
    前記第2の金属粒子が、メジアン径100~2000nmである
    接合材料。
  2. 前記第1の金属粒子が、Sn-Bi、Sn-In、Sn-Bi-In、Bi-In、およびInの群から選択される少なくとも一つである、請求項に記載の接合材料。
  3. 前記第2の金属粒子が、Cuを含んでいる、請求項1又は2に記載の接合材料。
  4. SiCまたはGaNのパワーデバイス素子と、
    前記パワーデバイス素子の電極と外部電極とを接合する、請求項1からのいずれか一項に記載の前記接合材料と、
    を備えた、実装構造体。
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