JP7516773B2 - 測定装置、及び測定方法 - Google Patents
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Description
(中赤外領域)
中赤外領域とは、2~14μmの波長領域をいい、特定波長領域の一例である。
プローブ光とは、吸光度測定及び生体情報測定のために用いられる光をいう。実施形態では、全反射部材で全反射され、生体により減衰された後、光強度検出部で検出される光に該当する。
ATR(Attenuated Total Reflection;減衰全反射又は全反射吸収)法とは、被測定物に接触して配置されたATRプリズム等の全反射部材で全反射が起きる際に、全反射面からしみ出した界(エバネッセント波)を利用して被測定物の吸収スペクトルを取得する手法をいう。
吸光度とは、物体を光が通過した際に光強度がどの程度低下するかを示す無次元量をいう。実施形態では、ATR(Attenuated Total Reflection;減衰全反射又は全反射吸収)法により、全反射面からしみ出した界の生体による減衰が吸光度として測定される。
血糖値とは、血液中に含まれるブドウ糖(グルコース)の濃度をいう。
実施形態では、光強度検出部による検出値を指すものとする。
波長λ(μm)と波数k(cm-1)の関係は、k=10000/λである。
まず、実施形態に係る血糖値測定装置100について説明する。
図1は、血糖値測定装置100の全体構成の一例を示す図である。図1に示すように、血糖値測定装置100は、測定部1と、処理部2とを備える。
次に、図2を参照してATRプリズム16の作用を説明する。図2に示すように、測定部1のATRプリズム16は、生体Sに接触して配置される。ATRプリズム16に入射したプローブ光は、それぞれ生体Sの赤外吸光スペクトルに対応する減衰を受ける。減衰を受けたプローブ光は光検出器17で受光され、プローブ光毎に光強度が検出される。検出信号は処理部2に入力され、処理部2は検出信号に基づき、吸光度データ及び血糖値データを取得して出力する。
次に、処理部2の構成について、図5及び図6を参照して説明する。
次に、血糖値測定装置100の動作について、図7~図8を参照して説明する。
図7は、プローブ光の切替動作の一例を説明するための図である。(a)は第1プローブ光を使用する場合、(b)は第2プローブ光を使用する場合、(c)は第3プローブ光を使用する場合のそれぞれにおける測定部1の状態を示している。
図8は、血糖値測定装置100の動作の一例を示すフローチャートである。
ここで、実施形態における各構成部は、各種の変形が可能であるため、以下において、各種変形例を説明する。
血糖値測定装置100で用いられる光検出器17は、線形性誤差を含む場合があり、光検出器17の線形性誤差は血糖値の測定誤差を生じさせる。そのため、プローブ光強度を予め定めた3つ以上の段階に変化させ、プローブ光強度と光検出器17による検出値とを比較することで線形性誤差の影響を低減させることもできる。
光検出器17は、1つの画素(受光素子)を用いるものに限定されるものではなく、画素がライン状に配列されたライン状のイメージセンサや、画素が2次元に配列されたエリア状のイメージセンサを用いることもできる。
上述した実施形態では、ATRプリズム16の入射面161が平坦面である例を示したが、これに限定されるものではなく、入射面161を拡散面や曲率を有する面等のさまざまな形状にしてもよい。
ATRプリズム16に生体Sが接触する際に、第1中空光ファイバ151及び第2中空光ファイバ152とATRプリズム16との相対位置がずれると、ATRプリズム16に対するプローブ光の入射効率や出射効率が変動し、測定ばらつきが増大する場合がある。
プローブ光にスペックルが含まれると、スペックルのパターンに応じて光検出器17による検出値が変動して測定ばらつきを増大させる場合がある。このスペックルは、プローブ光の散乱光等が干渉して発生するものであるため、プローブ光の可干渉性を低下させることでスペックルの発生を抑制できる。そのため、実施形態では、光源を駆動する電流に高周波変調成分を重畳させることで、血糖値測定装置に含まれる光源の可干渉性を低下させ、プローブ光のスペックルに起因する吸光度の測定ばらつきを低減させることもできる。
次に、第1実施形態に係る血糖値測定装置について説明する。
まず、本実施形態に係る血糖値測定装置100aの構成を説明する。図15は血糖値測定装置100aの構成の一例を説明する図であり、(a)は正面図、(b)は側面図である。
次に、面状発熱素子18の作用効果について、図16を参照して説明する。図16はATRプリズム16周辺を+Z方向側から見た上面図であり、ATRプリズム16と唇との接触領域を説明する図である。
次に、第2実施形態に係る血糖値測定装置100bについて説明する。
ここで図17は、血糖値測定装置100bの構成の一例を説明する図であり、(a)は正面図、(b)は側面図、(c)は+X及び+Z方向からATRプリズム周辺を見た斜視図、(d)は+X及び-Z方向からATRプリズム周辺を見た斜視図である。
次に、処理部2bによる温度制御結果の一例を、図19及び図20を参照して説明する。図19及び図20は、温度センサ19による出力の時間変化を示している。図19は、本実施形態を適用しない場合のものであり、図20は本実施形態を適用した場合のものである。また図19及び図20における時刻t1は、ATRプリズム16の上面16aに唇が接触を開始したタイミングを示している。時刻t1以降の時刻では、ATRプリズム16の上面16aに唇が接触し続けている。
以上説明したように、本実施形態では、温度センサ19によるATRプリズム16の温度検出値に基づき、温度制御部23が面状発熱素子18を制御することで、ATRプリズム16における唇との接触領域を、より正確に所定温度に維持することができる。これにより、接触領域におけるATRプリズム16と唇との温度差を抑制し、ATRプリズム16の上面16aに接触した時の唇の温度低下を抑制できる。その結果、唇の温度低下に起因する測定誤差を防ぎ、測定の信頼性低下を防ぐことができる。
次に、第3実施形態に係る血糖値測定装置100cについて説明する。
以下に、実施形態の各種変形例を説明する。
100、100a 血糖値測定装置(生体情報測定装置の一例)
101 吸光度測定装置
110 QCL(光源の一例)
111 第1光源(光源の一例)
112 第2光源(光源の一例)
113 第3光源(光源の一例)
121 第1シャッタ
122 第2シャッタ
123 第3シャッタ
131 第1ハーフミラー
132 第2ハーフミラー
14 カップリングレンズ
151 第1中空光ファイバ
152 第2中空光ファイバ
153 導光支持部材
154 出射支持部材
16 ATRプリズム
16a 上面
161 入射面
162 第1全反射面
163 第2全反射面
164 出射面
165 接触領域
166 接触長さ
167 接触中心
17 光検出器(光強度検出部の一例)
176 光源支持台
177 光検出器支持台
18 面状発熱素子(温度調節部材の一例)
181 発熱長さ
182 発熱中心
183 接触防止部材
19 温度センサ(温度検出部の一例)
2 処理部
21 吸光度取得部
211 光源駆動部
212 光源制御部
213 シャッタ駆動部
214 シャッタ制御部
215 データ取得部
216 データ収録部
217 吸光度出力部
22 血糖値取得部
221 生体情報出力部(出力部の一例)
23 温度制御部
31 第1支持部
311 箱状部材
312 背板
32 第2支持部
32a 伝熱部
S 生体(被測定物の一例)
P プローブ光
T1(t) グラフ(接触領域の温度を35度にする場合)
T2(t) グラフ(接触領域の温度を34度にする場合)
T3(t) グラフ(接触領域の温度を33度にする場合)
Claims (11)
- 生体を被測定物とする測定装置であって、
入射されるプローブ光を前記生体に接触した状態で全反射させる全反射部材と、
前記全反射部材における前記生体との接触領域の温度を所定温度に上昇させて維持する温度調節部材と、を備え、
温度調節部材は、前記生体と前記接触領域が接触される際の前記生体と前記接触領域との温度差を、温度調整されない状態の前記温度差よりも小さくするよう温度調節し、
前記温度調節部材及び前記接触領域は長手方向に長く、前記プローブ光は前記長手方向の一側から前記全反射部材に入射し、
前記温度調節部材の前記長手方向における長さは、前記接触領域の前記長手方向の長さに合致する
測定装置。 - 前記プローブ光を射出する光源と、
前記全反射部材から出射される前記プローブ光の光強度を検出する光強度検出部と、
前記光強度に基づき取得される測定値を出力する出力部と、を備える
請求項1に記載の測定装置。 - 前記温度調節部材は、前記全反射部材の温度を調節することで、前記接触領域を前記所定温度に維持する
請求項1、又は2に記載の測定装置。 - 前記温度調節部材の前記長手方向における中間位置と、前記接触領域の前記長手方向における中間位置は、所定の位置関係で配置されている
請求項1乃至3の何れか1項に記載の測定装置。 - 前記所定温度は、前記被測定物の表面近傍の温度である
請求項1乃至4の何れか1項に記載の測定装置。 - 前記所定温度は、前記被測定物としての前記生体の体温である
請求項1乃至5の何れか1項に記載の測定装置。 - 前記所定温度は、33度以上で35度以下である
請求項1乃至6の何れか1項に記載の測定装置。 - 前記全反射部材の温度を検出する温度検出部と、
前記温度検出部による検出値に基づき、前記温度調節部材を制御する温度制御部と、を備える
請求項1乃至7の何れか1項に記載の測定装置。 - 前記温度検出部と、前記全反射部材と、を保持する保持部材を備える
請求項8に記載の測定装置。 - 前記温度調節部材と前記被測定物との接触を防止するための接触防止部材を備える
請求項1乃至9の何れか1項に記載の測定装置。 - 生体を被測定物とする測定方法であって、
温度調節部材により、全反射部材の接触領域の温度を所定温度に上昇させて維持し、生体と前記接触領域との温度差を、温度調整されない状態の前記温度差よりも小さくするよう温度調節するステップと、
温度調節された前記接触領域に前記生体を接触させるステップと、
前記接触領域に前記生体を接触させた状態でプローブ光を入射するステップと、を備え、
前記温度調節部材及び前記接触領域は長手方向に長く、前記プローブ光は前記長手方向の一側から前記全反射部材に入射し、
前記温度調節部材の前記長手方向における長さは、前記接触領域の前記長手方向の長さに合致する
測定方法。
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