JP7500698B2 - メモリからeccを読み出す回路および方法 - Google Patents
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- 230000015654 memory Effects 0.000 title claims description 283
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 52
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 21
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 16
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 15
- 230000008520 organization Effects 0.000 claims description 4
- 230000000977 initiatory effect Effects 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 7
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 5
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 5
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 4
- 230000006870 function Effects 0.000 description 4
- 230000005055 memory storage Effects 0.000 description 4
- 238000012549 training Methods 0.000 description 4
- 101000711846 Homo sapiens Transcription factor SOX-9 Proteins 0.000 description 3
- 102100034204 Transcription factor SOX-9 Human genes 0.000 description 3
- 238000003491 array Methods 0.000 description 3
- 230000002457 bidirectional effect Effects 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 101150103244 ACT1 gene Proteins 0.000 description 1
- 101100498818 Arabidopsis thaliana DDR4 gene Proteins 0.000 description 1
- 102100031102 C-C motif chemokine 4 Human genes 0.000 description 1
- 101710155855 C-C motif chemokine 4 Proteins 0.000 description 1
- 101100161918 Glycine max SAC1 gene Proteins 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/07—Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
- G06F11/08—Error detection or correction by redundancy in data representation, e.g. by using checking codes
- G06F11/10—Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's
- G06F11/1008—Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's in individual solid state devices
- G06F11/1048—Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's in individual solid state devices using arrangements adapted for a specific error detection or correction feature
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/07—Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
- G06F11/08—Error detection or correction by redundancy in data representation, e.g. by using checking codes
- G06F11/10—Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's
- G06F11/1008—Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's in individual solid state devices
- G06F11/1068—Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's in individual solid state devices in sector programmable memories, e.g. flash disk
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- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/06—Digital input from, or digital output to, record carriers, e.g. RAID, emulated record carriers or networked record carriers
- G06F3/0601—Interfaces specially adapted for storage systems
- G06F3/0602—Interfaces specially adapted for storage systems specifically adapted to achieve a particular effect
- G06F3/0614—Improving the reliability of storage systems
- G06F3/0619—Improving the reliability of storage systems in relation to data integrity, e.g. data losses, bit errors
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/06—Digital input from, or digital output to, record carriers, e.g. RAID, emulated record carriers or networked record carriers
- G06F3/0601—Interfaces specially adapted for storage systems
- G06F3/0628—Interfaces specially adapted for storage systems making use of a particular technique
- G06F3/0646—Horizontal data movement in storage systems, i.e. moving data in between storage devices or systems
- G06F3/065—Replication mechanisms
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/06—Digital input from, or digital output to, record carriers, e.g. RAID, emulated record carriers or networked record carriers
- G06F3/0601—Interfaces specially adapted for storage systems
- G06F3/0628—Interfaces specially adapted for storage systems making use of a particular technique
- G06F3/0655—Vertical data movement, i.e. input-output transfer; data movement between one or more hosts and one or more storage devices
- G06F3/0656—Data buffering arrangements
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/06—Digital input from, or digital output to, record carriers, e.g. RAID, emulated record carriers or networked record carriers
- G06F3/0601—Interfaces specially adapted for storage systems
- G06F3/0668—Interfaces specially adapted for storage systems adopting a particular infrastructure
- G06F3/0671—In-line storage system
- G06F3/0673—Single storage device
- G06F3/0679—Non-volatile semiconductor memory device, e.g. flash memory, one time programmable memory [OTP]
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/04—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
- G11C29/08—Functional testing, e.g. testing during refresh, power-on self testing [POST] or distributed testing
- G11C29/12—Built-in arrangements for testing, e.g. built-in self testing [BIST] or interconnection details
- G11C29/38—Response verification devices
- G11C29/42—Response verification devices using error correcting codes [ECC] or parity check
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- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/04—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
- G11C2029/0411—Online error correction
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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Description
本願は、2021年12月17日付にて出願された“Reading Error-Correction Code(ECC) from Non-volatile memory”なるタイトルの米国仮出願第63/290982号の利益を主張し、当該出願は参照により本明細書に組み込まれるものとする。
本開示は、一般的には電子システムおよび方法に関し、また特段の実施形態においてはメモリから誤り訂正符号(ECC)を読み出す回路および方法に関する。
Claims (21)
- 方法であって、前記方法は、
メモリデバイスのパラレルインタフェースの制御線を介して第1のコマンドを受信するステップと、
前記第1のコマンドを受信した後に、前記制御線を介して第1の読み出しコマンドを受信するステップであって、前記第1のコマンドまたは前記第1の読み出しコマンドは、第1の選択を表す1つまたは複数のビットを含み、前記第1の選択は、セレクタ回路に前記メモリデバイスのデータメモリ部分からのデータを選択させるものであり、第2の選択は、前記セレクタ回路に誤り訂正符号(ECC)メモリ部分からのデータを選択させるものであるステップと、
前記第1の読み出しコマンドおよび前記第1の選択を受信した後に、前記パラレルインタフェースのデータ線を介して、前記セレクタ回路を用いて、前記データメモリ部分から、前記第1の読み出しコマンドに関連付けられた第1のデータを供給するステップと、
前記制御線を介して第2のコマンドを受信するステップと、
前記第2のコマンドを受信した後に、前記制御線を介して第2の読み出しコマンドを受信するステップであって、前記第2のコマンドまたは前記第2の読み出しコマンドは、前記第2の選択を表す1つまたは複数のビットを含むステップと、
前記第2の読み出しコマンドおよび前記第2の選択を受信した後に、前記データ線を介して、前記セレクタ回路を用いて、前記ECCメモリ部分から、前記第1のデータに関連付けられた第1のECC値を供給するステップと、
を含み、
前記第1のコマンドは、前記第1の選択を表す1つまたは複数のビットを有し、
前記第2のコマンドは、前記第2の選択を表す1つまたは複数のビットを有し、
前記第1の読み出しコマンドは、前記第2の読み出しコマンドと同一であり、
前記方法は、
前記第1のコマンドを受信した後、前記第1の読み出しコマンドを受信する前に、前記制御線を介して第1の動作開始コマンドを受信するステップと、
前記第2のコマンドを受信した後、前記第2の読み出しコマンドを受信する前に、前記制御線を介して第2の動作開始コマンドを受信するステップと、
をさらに含む、
方法。 - 前記制御線は、チップ選択線と、第1のコマンドアドレス線と、第2のコマンドアドレス線と、第3のコマンドアドレス線と、第4のコマンドアドレス線と、第5のコマンドアドレス線と、第6のコマンドアドレス線と、を含み、
前記第1のコマンドまたは前記第2のコマンドのうちの一方を受信するステップは、
ハイ状態にある前記チップ選択線を受信し、続いてロー状態にある前記チップ選択線を受信するステップと、
前記チップ選択線がハイ状態にある場合、ロー状態にある前記第1のコマンドアドレス線、前記第2のコマンドアドレス線、前記第3のコマンドアドレス線、前記第4のコマンドアドレス線および前記第5のコマンドアドレス線ならびにハイ状態にある前記第6のコマンドアドレス線を受信するステップと、
前記チップ選択線がロー状態にある場合、ロー状態にある前記第1のコマンドアドレス線、前記第2のコマンドアドレス線、前記第4のコマンドアドレス線および前記第5のコマンドアドレス線ならびにハイ状態にある前記第3のコマンドアドレス線および前記第6のコマンドアドレス線を受信するステップと、
を含み、
前記第1のコマンドまたは前記第2のコマンドのうちの他方を受信するステップは、
ハイ状態にある前記チップ選択線を受信し、続いてロー状態にある前記チップ選択線を受信するステップと、
前記チップ選択線がハイ状態にある場合、ロー状態にある前記第1のコマンドアドレス線、前記第2のコマンドアドレス線、前記第3のコマンドアドレス線、前記第4のコマンドアドレス線および前記第5のコマンドアドレス線ならびにハイ状態にある前記第6のコマンドアドレス線を受信するステップと、
前記チップ選択線がロー状態にある場合、ロー状態にある前記第1のコマンドアドレス線、前記第2のコマンドアドレス線、前記第3のコマンドアドレス線および前記第5のコマンドアドレス線ならびにハイ状態にある前記第4のコマンドアドレス線および前記第6のコマンドアドレス線を受信するステップと、
を含む、
請求項1記載の方法。 - 方法であって、前記方法は、
メモリデバイスのパラレルインタフェースの制御線を介して第1のコマンドを受信するステップと、
前記第1のコマンドを受信した後に、前記制御線を介して第1の読み出しコマンドを受信するステップであって、前記第1のコマンドまたは前記第1の読み出しコマンドは、第1の選択を表す1つまたは複数のビットを含み、前記第1の選択は、セレクタ回路に前記メモリデバイスのデータメモリ部分からのデータを選択させるものであり、第2の選択は、前記セレクタ回路に誤り訂正符号(ECC)メモリ部分からのデータを選択させるものであるステップと、
前記第1の読み出しコマンドおよび前記第1の選択を受信した後に、前記パラレルインタフェースのデータ線を介して、前記セレクタ回路を用いて、前記データメモリ部分から、前記第1の読み出しコマンドに関連付けられた第1のデータを供給するステップと、
前記制御線を介して第2のコマンドを受信するステップと、
前記第2のコマンドを受信した後に、前記制御線を介して第2の読み出しコマンドを受信するステップであって、前記第2のコマンドまたは前記第2の読み出しコマンドは、前記第2の選択を表す1つまたは複数のビットを含むステップと、
前記第2の読み出しコマンドおよび前記第2の選択を受信した後に、前記データ線を介して、前記セレクタ回路を用いて、前記ECCメモリ部分から、前記第1のデータに関連付けられた第1のECC値を供給するステップと、
を含み、
前記第1のコマンドは、前記第1の選択を表す1つまたは複数のビットを有し、
前記第2のコマンドは、前記第2の選択を表す1つまたは複数のビットを有し、
前記第1の読み出しコマンドは、前記第2の読み出しコマンドと同一であり、
前記制御線は、チップ選択線と、第1のコマンドアドレス線と、第2のコマンドアドレス線と、第3のコマンドアドレス線と、第4のコマンドアドレス線と、第5のコマンドアドレス線と、第6のコマンドアドレス線と、を含み、
前記第1のコマンドまたは前記第2のコマンドのうちの一方を受信するステップは、
第1の部分と第2の部分とを含む第1の動作開始コマンドを受信するステップであって、前記第1の動作開始コマンドの前記第1の部分を受信するステップは、ハイ状態にある前記チップ選択線を受信し、続いてロー状態にある前記チップ選択線を受信するステップを含むステップと、
前記第1の動作開始コマンドの前記第1の部分において、前記チップ選択線がハイ状態にある場合、ハイ状態にある前記第1のコマンドアドレス線とロー状態にある前記第2のコマンドアドレス線とを受信するステップと、
前記第1の動作開始コマンドの前記第1の部分において、前記チップ選択線がロー状態にある場合、ロー状態にある前記第4のコマンドアドレス線を受信するステップと、
を含み、
前記第1のコマンドまたは前記第2のコマンドのうちの他方を受信するステップは、
第1の部分と第2の部分とを含む第2の動作開始コマンドを受信するステップであって、前記第2の動作開始コマンドの前記第1の部分を受信するステップは、ハイ状態にある前記チップ選択線を受信し、続いてロー状態にある前記チップ選択線を受信するステップを含むステップと、
前記第2の動作開始コマンドの前記第1の部分において、前記チップ選択線がハイ状態にある場合、ハイ状態にある前記第1のコマンドアドレス線とロー状態にある前記第2のコマンドアドレス線とを受信するステップと、
前記第2の動作開始コマンドの前記第1の部分において、前記チップ選択線がロー状態にある場合、ハイ状態にある前記第4のコマンドアドレス線を受信するステップと、
を含む、
方法。 - 方法であって、前記方法は、
メモリデバイスのパラレルインタフェースの制御線を介して第1のコマンドを受信するステップと、
前記第1のコマンドを受信した後に、前記制御線を介して第1の読み出しコマンドを受信するステップであって、前記第1のコマンドまたは前記第1の読み出しコマンドは、第1の選択を表す1つまたは複数のビットを含み、前記第1の選択は、セレクタ回路に前記メモリデバイスのデータメモリ部分からのデータを選択させるものであり、第2の選択は、前記セレクタ回路に誤り訂正符号(ECC)メモリ部分からのデータを選択させるものであるステップと、
前記第1の読み出しコマンドおよび前記第1の選択を受信した後に、前記パラレルインタフェースのデータ線を介して、前記セレクタ回路を用いて、前記データメモリ部分から、前記第1の読み出しコマンドに関連付けられた第1のデータを供給するステップと、
前記制御線を介して第2のコマンドを受信するステップと、
前記第2のコマンドを受信した後に、前記制御線を介して第2の読み出しコマンドを受信するステップであって、前記第2のコマンドまたは前記第2の読み出しコマンドは、前記第2の選択を表す1つまたは複数のビットを含むステップと、
前記第2の読み出しコマンドおよび前記第2の選択を受信した後に、前記データ線を介して、前記セレクタ回路を用いて、前記ECCメモリ部分から、前記第1のデータに関連付けられた第1のECC値を供給するステップと、
を含み、
前記第1のコマンドは、第1の動作開始コマンドであり、
前記第2のコマンドは、第2の動作開始コマンドであり、
前記第1の読み出しコマンドは、前記第1の選択を表す1つまたは複数のビットを含み、
前記第2の読み出しコマンドは、前記第2の選択を表す1つまたは複数のビットを含み、
前記制御線は、チップ選択線と、第1のコマンドアドレス線と、第2のコマンドアドレス線と、第3のコマンドアドレス線と、第4のコマンドアドレス線と、第5のコマンドアドレス線と、第6のコマンドアドレス線と、を含み、
前記第1のコマンドまたは前記第2のコマンドのうちの一方を受信するステップは、
ハイ状態にある前記チップ選択線を受信し、続いてロー状態にある前記チップ選択線を受信するステップと、
前記チップ選択線がハイ状態にある場合、ロー状態にある前記第1のコマンドアドレス線、前記第3のコマンドアドレス線、前記第4のコマンドアドレス線および前記第5のコマンドアドレス線ならびにハイ状態にある前記第2のコマンドアドレス線を受信するステップと、
前記チップ選択線がロー状態にある場合、ロー状態にある前記第4のコマンドアドレス線を受信するステップと、
を含み、
前記第1のコマンドまたは前記第2のコマンドのうちの他方を受信するステップは、
ハイ状態にある前記チップ選択線を受信し、続いてロー状態にある前記チップ選択線を受信するステップと、
前記チップ選択線がハイ状態にある場合、ロー状態にある前記第1のコマンドアドレス線、前記第3のコマンドアドレス線、前記第4のコマンドアドレス線および前記第5のコマンドアドレス線ならびにハイ状態にある前記第2のコマンドアドレス線を受信するステップと、
前記チップ選択線がロー状態にある場合、ハイ状態にある前記第4のコマンドアドレス線を受信するステップと、
を含む、
方法。 - 前記パラレルインタフェースは、LPDDR4規格または標準化機構によって規定された他のデジタル通信規格との互換性を有する、
請求項1記載の方法。 - 前記第1の読み出しコマンドは、前記第1の選択を表す1つまたは複数のビットを含み、
前記第2の読み出しコマンドは、前記第2の選択を表す1つまたは複数のビットを含む、
請求項5記載の方法。 - 前記第1のコマンドは、前記第1の選択を表す1つまたは複数のビットを含み、
前記第2のコマンドは、前記第2の選択を表す1つまたは複数のビットを含む、
請求項5記載の方法。 - 前記第1のコマンドおよび前記第2のコマンドは、LPDDR4規格に準拠した動作開始コマンドである、
請求項7記載の方法。 - 前記第1のコマンドおよび前記第2のコマンドは、LPDDR4規格に準拠した多目的コマンド(MPC)である、
請求項7記載の方法。 - 方法であって、前記方法は、
メモリデバイスのパラレルインタフェースの制御線を介して、第1の読み出しコマンドを受信するステップと、
前記第1の読み出しコマンドを受信するステップに応答して、
前記パラレルインタフェースのデータ線を介して、第1のメモリ部分から、前記第1の読み出しコマンドに関連付けられた第1のデータを供給し、
前記メモリデバイスの誤り訂正符号(ECC)メモリ部分から、前記第1のデータに関連付けられた第1の誤り訂正符号(ECC)値をバッファへコピーするステップと、
前記第1の読み出しコマンドを受信した後に、前記制御線を介してバッファ読み出しコマンドを受信するステップと、
前記バッファ読み出しコマンドを受信した後に、前記データ線を介して前記バッファから前記第1のECC値を供給するステップと、
を含む方法。 - 制御線は、チップ選択線と、第1のコマンドアドレス線と、第2のコマンドアドレス線と、第3のコマンドアドレス線と、第4のコマンドアドレス線と、第5のコマンドアドレス線と、第6のコマンドアドレス線と、を含み、
前記バッファ読み出しコマンドを受信するステップは、
ハイ状態にある前記チップ選択線を受信し、続いてロー状態にある前記チップ選択線を受信するステップと、
前記チップ選択線がハイ状態にある場合、ロー状態にある前記第1のコマンドアドレス線、前記第2のコマンドアドレス線、前記第3のコマンドアドレス線、前記第4のコマンドアドレス線および前記第5のコマンドアドレス線ならびにハイ状態にある前記第6のコマンドアドレス線を受信するステップと、
前記チップ選択線がロー状態にある場合、ロー状態にある前記第2のコマンドアドレス線、前記第3のコマンドアドレス線、前記第4のコマンドアドレス線、前記第5のコマンドアドレス線および前記第6のコマンドアドレス線ならびにハイ状態にある前記第1のコマンドアドレス線を受信するステップと、
を含む、
請求項10記載の方法。 - 前記パラレルインタフェースは、LPDDR4規格との互換性を有するか、または、標準化機構によって規定されたデジタル通信規格に準拠している、
請求項10記載の方法。 - 前記バッファ読み出しコマンドは、LPDDR4規格に準拠した多目的コマンド(MPC)である、
請求項12記載の方法。 - 前記バッファは、先入れ先出しバッファ(FIFOバッファ)を備える、
請求項10記載の方法。 - 集積回路であって、前記集積回路は、
制御線を介してコマンドを受信するように構成されかつデータ線を介してデータを伝送するように構成されたパラレルインタフェースと、
データを記憶するように構成されたデータメモリ部分と、
前記データメモリ部分に記憶されているデータに関連付けられた誤り訂正符号(ECC)値を記憶するように構成された誤り訂正符号(ECC)メモリ部分と、
バッファと、
前記データメモリ部分のデータ出力端に結合された第1の入力端と前記ECCメモリ部分のデータ出力端に結合された第2の入力端とを有するセレクタ回路と、
コントローラと、
を備え、前記コントローラは、
前記パラレルインタフェースにより、前記制御線を介して第1の読み出しコマンドを受信した後に、前記セレクタ回路に前記第1の入力端を選択させ、前記パラレルインタフェースに前記セレクタ回路の前記第1の入力端から前記データ線を介して前記第1の読み出しコマンドに関連付けられた第1のデータを供給させ、
前記パラレルインタフェースにより、前記制御線を介して第2のコマンドを受信した後に、前記セレクタ回路に前記第2の入力端を選択させ、前記パラレルインタフェースに前記セレクタ回路の前記第2の入力端から前記データ線を介して前記第1のデータに関連付けられた第1のECC値を供給させる、
ように構成されており、
前記セレクタ回路の前記第2の入力端は、前記バッファを介して前記ECCメモリ部分に結合されており、
前記バッファのデータ出力端は、前記第2の入力端に結合されており、
前記バッファのデータ入力端は、前記ECCメモリ部分に結合されている、
集積回路。 - 前記第2のコマンドは、読み出しバッファコマンドであり、
前記コントローラは、
前記パラレルインタフェースにより、前記制御線を介して前記第1の読み出しコマンドを受信した後に、前記第1のECC値を前記ECCメモリ部分から前記バッファへコピーし、
前記パラレルインタフェースにより、前記制御線を介して前記第2のコマンドを受信した後に、前記セレクタ回路に前記第2の入力端を選択させ、前記パラレルインタフェースに前記バッファから前記データ線を介して前記第1のECC値を供給させる、
ように構成されている、
請求項15記載の集積回路。 - 前記コントローラは、
前記第1の読み出しコマンドを受信する前に受信された第1の動作開始コマンドの1つまたは複数のビットに基づいて、前記セレクタ回路に前記第1の入力端を選択させ、
前記第2のコマンドを受信する前に受信された第2の動作開始コマンドの1つまたは複数のビットに基づいて、前記セレクタ回路に前記第2の入力端を選択させる、
ように構成されており、
前記第2のコマンドは、第2の読み出しコマンドである、
請求項15記載の集積回路。 - 前記コントローラは、ステートマシンを備えており、前記セレクタ回路をさらに備えている、
請求項15記載の集積回路。 - 前記ECCメモリ部分は、前記データメモリ部分よりも小さい、
請求項15記載の集積回路。 - 前記集積回路は、複数のメモリバンクをさらに備えており、前記複数のメモリバンクのうち第1のメモリバンクは、前記データメモリ部分および前記ECCメモリ部分を含む、
請求項15記載の集積回路。 - 前記パラレルインタフェースは、LPDDR4規格との互換性を有し、前記集積回路は、フラッシュメモリデバイスである、
請求項15記載の集積回路。
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US202163290982P | 2021-12-17 | 2021-12-17 | |
US63/290,982 | 2021-12-17 | ||
US17/698,729 | 2022-03-18 | ||
US17/698,729 US11841764B2 (en) | 2021-12-17 | 2022-03-18 | Circuit and method for reading ECC from memory |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2023090690A JP2023090690A (ja) | 2023-06-29 |
JP7500698B2 true JP7500698B2 (ja) | 2024-06-17 |
Family
ID=86606017
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2022201103A Active JP7500698B2 (ja) | 2021-12-17 | 2022-12-16 | メモリからeccを読み出す回路および方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11841764B2 (ja) |
JP (1) | JP7500698B2 (ja) |
DE (1) | DE102022133778A1 (ja) |
TW (1) | TW202328917A (ja) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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-
2022
- 2022-03-18 US US17/698,729 patent/US11841764B2/en active Active
- 2022-11-25 TW TW111145255A patent/TW202328917A/zh unknown
- 2022-12-16 JP JP2022201103A patent/JP7500698B2/ja active Active
- 2022-12-17 DE DE102022133778.2A patent/DE102022133778A1/de active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20230195564A1 (en) | 2023-06-22 |
JP2023090690A (ja) | 2023-06-29 |
US11841764B2 (en) | 2023-12-12 |
TW202328917A (zh) | 2023-07-16 |
DE102022133778A1 (de) | 2023-06-22 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20230217 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20240124 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Request for written amendment filed |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20240507 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20240605 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7500698 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |