JP7490395B2 - 電鋳品の製造方法及び電鋳品 - Google Patents

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Description

本発明は、電鋳品の製造方法及び電鋳品に関する。
例えば、時計の部品等微小な形状の構造物を、電鋳により製造することが行われている。そして、導電性基板に近い第1の電鋳部分と、第1の電鋳部分から幅方向に突出した導電性基板から遠い第2の電鋳部分とが一体に形成された電鋳品を製造する方法も提案されている(例えば、特許文献1,2参照)。
特許文献1,2に記載の技術によれば、第1の電鋳部分(1層目の電鋳部分)に対応したレジストと第2の電鋳部分(2層目の電鋳部分)に対応したレジストとの段差の上面に導電層を形成する。
これにより、第1の電鋳部分が段差まで到達したときに、段差の上面に形成された導電層に第1の電鋳部分が繋がって段差の上面も導電性を有する部分となる。この結果、段差の上面の電鋳部分の成長速度が低下するのを抑制することができる。
特許第4550569号公報 特許第4840756号公報
ここで、特許文献1の技術によれば、1層目のレジストの露光後、露光部分も未露光部分も含めて全面に導電層を形成し、現像により未露光部分を除去し、その未露光部分の除去の際に、未露光部分の上面に形成されていた導電層が、露光部分(除去されずに残存する)の上面に形成された導電層から千切れて除去されるが、導電層が適切に千切れないため、未露光部分の上面に形成されていた部分の一部が残ってめくれたり、全部が残って1層目の未露光部分を除去できなかったりする。
また、基板の内周側と外周側とでめっき速度に差があり、速度が遅い側において、第1の電鋳部分と第2の電鋳部分との間に空洞が形成される恐れがある。
さらに、第2の電鋳部分が出来上がった後に、第2の電鋳部分の上面(表面)をグラインダで平坦に研削するが、研削の負荷により、段差面に形成されていた導電層が1層目のレジストの段差面から剥がれてしまい、第2の電鋳部分の表面の周縁部分が浮き上がった状態となり、表面をそのまま平坦に削ると、第2の電鋳部分は中心部に比べて周縁部分の厚さが薄くなってしまうという問題がある。
また、特許文献2の技術は、1層目のレジストの露光後、2層目のレジストとの段差面となる部分に、マスクを用いて導電層を形成する。しかし、マスクを使うとコストが高くなる。
また、第1の電鋳部分が形成される1層目のレジストの空洞内では、めっき液の流速にむら(差)が生じ易く、空洞内の全体が均一にめっきされず、早く段差まで到達した部分が段差面の導電層に繋がった時点で、段差面と導電層との間でめっきが開始され、第2の電鋳部分が形成され始める。そして、第2の電鋳部分が成長すると、段差面に到達していない第1の電鋳部分との間に空洞が形成されてしまう。
さらに、第2の電鋳部分が出来上がった後に、第2の電鋳部分の上面(表面)をグラインダなどで平坦に研削するが、研削の負荷により、段差面に形成されていた導電層が1層目のレジストの段差面から剥がれてしまい、第2の電鋳部分の表面の周縁部分が浮き上がった状態となり、表面をそのまま平坦に削ると、第2の電鋳部分は中心部に比べて周縁部分の厚さが薄くなってしまうという問題がある。
本発明は上記事情に鑑みなされたものであって、導電層を形成するためのマスクを必要とせず、かつ、段差面の導電層を適切な位置で確実に分離することができ、さらに、第1の電鋳部分と第2の電鋳部分との間に空洞が形成されない電鋳品の製造方法及び電鋳品を提供することを目的とする。
本発明の第1は、導電性基板に近い第1電鋳部分と、前記第1電鋳部分から幅方向に突出した前記導電性基板から遠い第2電鋳部分とが一体に形成された電鋳品の製造方法であって、前記導電性基板の上に、前記第1電鋳部分を形成する第1の型となる第1の型層を形成し、次いで、前記第1の型層の上面に、導電性の粒子を分布して配置し、次いで、前記第1の型層の上に、前記第2電鋳部分を形成する第2の型となる第2の型層を形成し、次いで、前記第1の型層の上面のうち、前記第2電鋳部分が前記第1電鋳部分から前記幅方向に突出した段差面を形成する段差形成面に配置された前記導電性の粒子を露出させた状態で、電気めっきの工程により、前記第1の電鋳部分及び前記第2電鋳部分を一体に形成する電鋳品の製造方法である。
本発明の第2は、第1電鋳部分と、前記第1電鋳部分から幅方向に突出した第2電鋳部分とが一体に形成され、前記第2電鋳部分が前記第1電鋳部分から前記幅方向に突出した段差面を有し、前記段差面に、前記第2電鋳部分を電気めっきの工程で形成する際の電極となる導電性の粒子が、分布して配置されている電鋳品である。
本発明に係る電鋳品の製造方法及び電鋳品によれば、導電層を形成するためのマスクを必要とせず、かつ、段差面の導電層を適切な位置で確実に分離することができ、さらに、第1の電鋳部分と第2の電鋳部分との間に空洞が形成されるのを防止することができる。
本発明の一実施形態である電鋳品の製造方法の流れのうち導電粒子分散シートを形成する流れを模式的に示す断面図(その1)である。 実施形態の導電粒子分散シートを形成する流れを模式的に示す断面図(その2)である。 実施形態の導電粒子分散シートを形成する流れを模式的に示す断面図(その3)である。 実施形態の導電粒子分散シートを形成する流れを模式的に示す断面図(その4)である。 実施形態の電鋳品の製造方法の流れを模式的に示す断面図(その1)である。 実施形態の電鋳品の製造方法の流れを模式的に示す断面図(その2)である。 実施形態の電鋳品の製造方法の流れを模式的に示す断面図(その3)である。 実施形態の電鋳品の製造方法の流れを模式的に示す断面図(その4)である。 実施形態の電鋳品の製造方法の流れを模式的に示す断面図(その5)である。 実施形態の電鋳品の製造方法の流れを模式的に示す断面図(その6)である。 実施形態の電鋳品の製造方法の流れを模式的に示す断面図(その7)である。 実施形態の電鋳品の製造方法の流れを模式的に示す断面図(その8)である。 実施形態の電鋳品の製造方法の流れを模式的に示す断面図(その4)である。 実施形態の電鋳品の製造方法の流れを模式的に示す断面図(その5)である。 実施形態の電鋳品の製造方法の流れを模式的に示す断面図(その6)である。 実施形態の電鋳品の製造方法の流れを模式的に示す断面図(その7)である。 実施形態の電鋳品の製造方法の流れを模式的に示す断面図(その8)である。 実施形態ではない、導電粒子分散シートが一体の導電膜350である比較例を示す断面図である。 第1電鋳部分に対応した空洞(未露光領域)における電鋳の成長速度が、仮に部分的に不均一となった場合を示す断面図である。 実施形態における1層目の型層を、レジストではなく、シリコン基板で形成した、実施形態の変形例(変形例1)を示す断面図(その1)である。 変形例1を示す断面図(その2)である。 変形例1を示す断面図(その3)である。 変形例1を示す断面図(その4)である。 変形例1を示す断面図(その5)である。 変形例1を示す断面図(その6)である。 変形例1を示す断面図(その7)である。 変形例1を示す断面図(その8)である。 変形例1を示す断面図(その9)である。 変形例1を示す断面図(その10)である。 変形例1を示す断面図(その11)である。 変形例1を示す断面図(その12)である。 変形例1を示す断面図(その13)である。 実施形態における導電性の粒子を、レジストに対して抜け止めの形状に変えた導電性の粒子とした、実施形態の変形例(変形例2)を示す断面図(その1)である。 変形例2を示す断面図(その2)である。 変形例2を示す断面図(その3)である。 変形例2を示す断面図(その4)である。 変形例2を示す断面図(その5)である。 変形例2を示す断面図(その6)である。 変形例2を示す断面図(その7)である。
以下、本発明に係る電鋳品の製造方法及び電鋳品の実施形態について、図面を用いて説明する。
図1A~1Dは本発明の一実施形態である電鋳品200の製造方法の流れのうち導電粒子分散膜を形成する流れを模式的に示す断面図であり、図2A~2Mは本発明の一実施形態である電鋳品200の製造方法の流れを模式的に示す断面図である。
図示の電鋳品200の製造方法は、導電性基板10(以下、単に、基板10という。)に近い第1電鋳部分40と、第1電鋳部分40から幅方向Wに突出した、基板10から遠い第2電鋳部分80とが一体に形成された電鋳品200の製造方法である。
この製造方法は、まず、図1A~1Dに示すように、第1電鋳部分40と第2電鋳部分80との段差面に配置される導電粒子分散シート140を形成する。具体的には、まず、図1Aに示すように、耐熱性を有し、かつ可撓性を有する基板110の一方の面110a上に、導電膜121を形成する。なお、導電膜121を形成する前に、面110aに離型剤を塗布しておいてもよい。
基板110としては、例えば、日本電気硝子株式会社製のフレキシブルガラスであるG-Leaf(登録商標)や、ゼノマックスジャパン株式会社(東洋紡株式会社と長瀬産業株式会社との合弁会社)製の高耐熱性ポリイミドフィルムであるゼノマックス(登録商標)などを用いることができる。なお、基板110は、これら例示のものに限定されない。
導電膜121は、例えば、導電体として金(Au)を用いることができ、この場合、導電膜121は、金の導電体を例えば厚さ5[nm]に形成したものである。なお、導電膜121は、金の導電体で形成したものに限定されず、また、厚さも5[nm]に限定されず、例えば1~10[nm]の範囲を適用することができる。導電膜121の厚さは10[nm]以上であってもよい。
次に、導電膜121が形成された基板110を加熱して、導電膜121を、図1Bに示すように、基板110上で分布した導電性の粒子120に粒子化する。導電体が金の場合は、例えば大気圧下において温度400[℃]で1[時間]加熱することにより、粒子化することができる。導電性の粒子120は、図1Cの平面図(図1Bの→方向から見た平面視)に示すように、粒子120同士が離れて分布した配置となる。
図1Cの平面図において、基板110の面110aの面積に対する粒子120の占める平面視での面積の百分率を充填率[%]としたとき、充填率は30[%]以上90[%]以下である。なお、本実施形態において、50[%]以上の充填率であることが好ましい。
導電性の粒子120の充填率が上述した範囲を下回っているときは、導電性の粒子120を形成した後に、基板110の面110aに追加して導電膜121を形成し、400[℃]で1[時間]、再度加熱することを繰り返すことにより、充填率を高めることができる。
なお、導電性の粒子120は、大きくても長辺が10[μm]以下であることが好ましく、上述した導電膜121の塗布及び加熱の工程の繰り返し回数を増やすことで、粒子120が球形に近づき、一方向にのみ長い粒子120の生成を抑制することができる。
次に、図1Dに示すように、導電性の粒子120が分布して配置された面110a上にレジスト130を塗布し、その後、加熱してレジスト130中の溶媒を除去する。レジスト130の厚さt2は、導電性の粒子120が覆われる程度であればよい。レジスト130は、例えば、化学増幅型のエポキシ系ネガ型フォトレジストで形成されているが、ネガ型に限定されず、例えば、ポリメチルメタクリレート系ポジ型フォトレジスト等であってもよい。
レジスト130を塗布することによって、面110a上で分布して配置された複数の導電性の粒子120を、レジスト130によって固めることで、所定の充填率で複数の導電性の粒子120が分布して配置された、一体の導電粒子分散シート140を生成することができる。
導電粒子分散シート140の生成と並行して、又は前後して、図2Aに示すように、導電性の基板10上に、第1の型層となる1層目のレジスト20を塗布する。その後、加熱してレジスト20内の溶媒を除去する。
導電性の基板10は、導電性の金属で形成されてもよいし、又は、半導体であるシリコン等の基板本体や非導電性の樹脂などの基板本体にそれぞれ導電性の膜を形成して導電性を発揮するものでもよい。なお、導電性の基板10は、複数種類の金属を積層して形成したものでもよい。
レジスト20は、少なくともレジスト130と同じ型(レジスト130がネガ型であるときはレジスト20もネガ型、レジスト130がポジ型であるときはレジスト20もポジ型)のものを使用する必要があり、同じ材料であることが好ましい。
本実施形態の製造方法は、次に、図2Bに示すように、レジスト20の、基板10から遠い側の面20aに、導電粒子分散シート140を貼り合わせる。具体的には、レジスト20の面20aに、図1Dに示した導電粒子分散シート140の、基板110とは反対側の面140aを密着させる。
このとき、レジスト20の面20aと導電粒子分散シート140の面140aとの間に気泡が入るのを防止するために、上述した両者の密着の操作を、以下の(1),(2),(3)のいずれかの方法で行うことができる。
(1)レジスト20及びレジスト130のガラス転移点以下の温度に加温する
(2)レジスト20及びレジスト130のガラス転移点以下の温度に加温して密着の操作をした後、レジスト20及びレジスト130のガラス転移点以上の温度に加温して両者の界面の結合力を向上させる
(3)レジスト20及びレジスト130のガラス転移点以上の温度に加温する(ただし、厚さの制御を行うために、加圧の条件を精密にコントロールする必要がある)
次いで、図2Cに示すように、基板110を導電粒子分散シート140から剥がす。ここで、導電粒子分散シート140の導電性の粒子120及びレジスト130と基板110との密着性は低いため、基板110は比較的容易に剥離することができるが、基板110の面110aに予め離型剤が塗布されていると、より容易に基板110を剥離することができる。
なお、基板110が紫外線を透過する場合は、基板110の剥離は、次の露光工程の後に行ってもよい。
次いで、図2Dに示すように、開口部31と遮蔽部32とが形成されたフォトマスク30を介して、導電粒子分散シート140を通じでレジスト20にUV光(紫外線)Lを照射(露光)する。導電粒子分散シート140における粒子120の充填率は100よりも小さいため、粒子120が存在していないレジスト130の領域を介して、レジスト20には、開口部31を通じてUV光Lが照射された領域(露光領域)21と、遮蔽部32によりUV光Lが照射されなかった領域(未露光領域)22とが形成される。
未露光領域22は、後の現像処理により空洞となり、基板10に近い第1電鋳部分40を形成する型(第1の型)となる。
次いで、図2Eに示すように、導電粒子分散シート140を挟んで1層目のレジスト20の上に、第2の型層となる2層目のレジスト60を形成する。このレジスト60は、基板10に近い第1電鋳部分40に比べて、基板10から遠い側であるの第2電鋳部分80に対応している。
次いで、図2Fに示すように、開口部71と遮蔽部72とが形成されたフォトマスク70を介して、2層目のレジスト60にUV光(紫外線)Lを照射(露光)する。これにより、レジスト60には、開口部71を通じてUV光Lが照射された領域(露光領域)61と、遮蔽部72によりUV光Lが照射されなかった領域(未露光領域)62とが形成される。未露光領域62は、後の現像処理により空洞となり、基板10から遠い第2電鋳部分80を形成する型(第2の型)となる。
ここで、厚さ方向tに直交する幅方向Wに沿った、2層目のレジスト60の未露光領域62の幅W2は、1層目のレジスト20の未露光領域22の幅W1よりも広い。この結果、図2Gに示すように、現像処理により、1層目のレジスト20の未露光領域22と2層目のレジスト60の未露光領域62を除去すると、1層目のレジスト20には、第1電鋳部分40から第2電鋳部分80が幅方向Wに突出した段差面を形成する段差形成面25が形成される。
また、現像により、レジスト20,60が除去される際に、レジスト20の未露光領域22に対応した導電粒子分散シート140の部分142も除去されるが、段差形成面25に対応した導電粒子分散シート140の部分141と部分142とは、導電体が一体の膜として繋がっているのではなく、粒子120が分布して配置されたレジスト130のみで繋がっているため、現像により、適切な境界で容易に千切れる。
なお、段差形成面25の導電粒子分散シート140の表面に、粒子120が露出していないときは、後述する金属めっきによる電鋳に先立って、導電粒子分散シート140の表面を、酸素プラズマでアッシング処理して、段差形成面25に粒子120を露出させる。
次いで、基板10との間で、ニッケル(Ni)を用いた電気めっきにより、まず、1層目のレジスト20の未露光領域22に対応した空洞を型として、図2Hに示すように、第1電鋳部分40が形成される。なお、電鋳材料はニッケルに限定されるものではなく、銅(Cu)、錫(Sn)、コバルト(Co)など電鋳可能な材料の全てを適用可能である。
第1電鋳部分40の成長が進むと、やがて図2Iに示すように、成長した第1電鋳部分40の先端部分が、導電粒子分散シート140に到達する。第1電鋳部分40は、当然に導電性を有するため、第1電鋳部分40に繋がった導電粒子分散シート140の粒子120も基板10と導通し、基板10と同様に、電気めっきの電極となる。そして、2層目のレジスト60の未露光領域62に対応した空洞を型として、図2Jに示すように、第2電鋳部分80が形成される。
ここで、導電粒子分散シート140の粒子120も電気めっきの電極となるため、第1電鋳部分40よりも幅方向Wに突出した段差形成面25からも、第2電鋳部分80が成長していく。
このとき、幅方向Wの成長速度は、粒子120の充填率に依存し、例えば、粒子120の充填率が50[%]の場合の成長速度は、粒子120の充填率が0[%]の場合の成長速度の約2倍となる。
そして、第2電鋳部分80が所望の厚さまで成長した後に、図2Kに示すように、レジスト60の上面60a及び第2電鋳部分80の上面80aを平坦に研削及び研磨する。
その後、レジスト20,60,130を除去し、基板10も除去することにより、図2Lに示すように、第1電鋳部分40と、第1電鋳部分40から幅方向Wに突出した第2電鋳部分80とが一体に形成された電鋳品200が製造される。第1電鋳部分40から第2電鋳部分80の幅方向Wに突出した面は、段差形成面25によって形成された段差面210となる。
なお、電鋳品200の段差面210には、導電粒子分散シート140に含まれていた導電性の粒子120が残っている。この粒子120は、元の導電膜121が金である場合、表面プラズモン共鳴により、赤色や黄色等の色彩を帯びるため、色彩による装飾的な効果を得ることができる。したがって、そのような装飾的効果を得る目的で、粒子120を段差面210にあえて残してもよいし、又は、図2Mに示すように、段差面210から粒子120を除去してもよい。
以上のように、本実施形態の電鋳品200の製造方法によれば、導電粒子分散シート140は、導電性の粒子120同士は離れていて、レジスト130だけで繋がっているため、1層目のレジスト20の未露光領域22が除去されたときに、その未露光領域22の上面に配置されている導電粒子分散シート140の部分142と、段差形成面25の導電粒子分散シート140の部分141とは、容易に切断される。
したがって、図3Aに示すように、導電粒子分散シート140が一体の導電膜350であるものに比べて、未露光領域22に対応した部分352と段差形成面25に対応した部分351との境界で正確に切断されずに、その残った部分が、導電膜350を剥がれ易くするということが無い。
また、導電粒子分散シート140は、1層目のレジスト20の未露光領域22と段差形成面25との境界で正確に切断される、また、導電粒子120は適切な位置で完全に分離されているため、段差形成面25の形状ごとに合致する形状に形成された導電膜形成用のマスクを用意する必要が無い。したがって、本実施形態の電鋳品200の製造方法は、そのようなマスクを都度準備する製造方法に比べて、製造コストを低減することができる。
また、本実施形態の電鋳品200の製造方法は、1層目のレジスト20の、第1電鋳部分40に対応した空洞(未露光領域22)における電鋳の成長速度が、仮に部分的に不均一となって、例えば図3Bに示すように、第1電鋳部分40の一部のみが他部に先行して導電粒子分散シート140に到達した場合であっても、第1電鋳部分40が到達していない導電粒子分散シート140の部分は、基板10と導通しない。
このため、その第1電鋳部分40が到達していない導電粒子分散シート140の部分からは、第1電鋳部分40が到達する前に第2電鋳部分80が成長し始めることが無い。
したがって、第1電鋳部分40が到達する以前に第2電鋳部分が成長し始めた場合に形成され得る、第1電鋳部分40と第2電鋳部分80との間の空洞が発生することが無い。
また、本実施形態の電鋳品200の製造方法は、段差形成面25において、導電粒子分散シート140の粒子120が主に球形であるため表面積が大きく、したがって、第2電鋳部分80の段差面210が、この粒子120に接する面積は、平坦な導電膜に接する面積に比べて大きいため、第2電鋳部分80と粒子120との結合力が大きい。
したがって、本実施形態の電鋳品200の製造方法は、第2電鋳部分80の上面80aをグラインダで研削、研磨する(図2K参照)ことによる負荷に対する抵抗力が強く、段差面210が段差形成面25から剥離し難くなって、第2電鋳部分80の周囲が浮き上がるのを防止又は抑制することができる。
そして、第2電鋳部分80の周囲が中心部に対して浮き上がらないため、第2電鋳部分80の上面80aを、例えば図2Kに示すように研削、研磨したときに、第2電鋳部分80の周囲部分の厚さが中心部分の厚さよりも薄くなることが無く、均一な厚さとすることができる。
本実施形態の電鋳品200の製造方法で用いる導電粒子分散シート140は、粒子120の充填率が30[%]以上90[%]以下であるが、充填率が30[%]未満であると、第2電鋳部分80を電気めっきで成長させるための電極として、十分な成長速度を得ることができず、また、充填率が90[%]を超えると、導電粒子分散シート140に覆われた下層(1層目)のレジスト20を十分に露光することができない。
なお、充填率が50[%]以上であると、第2電鋳部分80の成長速度を十分に速めることができるため好ましい。
<変形例1>
実施例の電鋳品200は、第1電鋳部分40の型となる1層目の部分(型層)をレジスト20によって形成したものである。ここで、レジスト20は、一般的に、基板10上に、スピンコータによって形成される。
スピンコータは、回転させているため遠心力が作用し、回転の中心に近い内周側のレジストよりも、外周側のレジストが厚くなり易く、第1電鋳部分40の厚さの精度を調整するのが難しい。また、レジストを研削しようとしても、紫外線に反応するレジストを、紫外線を受けない環境下で研削するのはコストが掛かる。
図4A~4Mは、実施形態における1層目の型層を、レジスト20ではなく、シリコン基板321で形成した、実施形態の変形例(変形例1)を示す断面図である。
この変形例1の電鋳品200の製造方法は、まず、第1電鋳部分40の型となる第1の型層としてのシリコン基板321を用意し、図4Aに示すように、一方の面321aに、プラズマCVD又は熱酸化処理などによって、酸化シリコン層321cを形成する。
次いで、図4Bに示すように、シリコン基板321の酸化シリコン321cが形成された反対の面321bを研削、研磨して、均一の厚さt3とする。
ここで、図4Aの例では、シリコン基板321の一方の面321aのみに酸化シリコン層321cを形成しているが、酸化シリコン層321cを両面に形成してもよい。その場合は、シリコン基板321の両面のうち、いずれか一方の面のみ研削、研磨を行う。
次いで、図4Cに示すように、研削、研磨した面(321b)上に、例えば、スパッタリングにより、導電層322を形成する。
次いで、図4Dに示すように、シリコンやガラスで形成されたサポート基板324に、図4Cに示した導電層322を、接着剤323で貼り付ける。
次いで、図4Eに示すように、酸化シリコン層321cにレジスト325を塗布し、第1電鋳部分40を形成する空洞に対応した範囲を未露光領域325aとするマスキングにより露光を行ったうえで、現像処理を行って未露光領域325aを除去する。次いで、酸化エッチングにより、酸化シリコン層321cのうち、未露光領域325aに対応した領域321dを除去し、その後レジスト325も除去する。
次いで、図4Fに示すように、酸化シリコン層321cをマスクとして、除去された領域321dに対応した領域321eを、深堀反応性イオンエッチングにより除去し、この領域321eを、第1電鋳部分40に対応した空洞に形成する。この領域321eは、導電層322に近い第1電鋳部分40を形成する型(第1の型)となる。
次いで、図4Gに示すように、酸化シリコン層321cに、図2Cに示した導電粒子分散シート140を貼り付ける。導電粒子分散シート140の貼り付けは、図2B,2Cにより説明した実施形態と同じ工程で行うことができる。そして、第1電鋳部分40を形成する空洞に対応した範囲を未露光領域142とするマスキングにより、露光を行う。
次いで、図4Hに示すように、導電粒子分散シート140上に、第2の型層である2層目のレジスト60を形成する。次いで、図2Fと同様に、フォトマスク70を介して2層目のレジスト60にUV光(紫外線)Lを照射(露光)し、現像により第2電鋳部分80を形成する型(第2の型)となる未露光領域62を除去する。このとき、領域321eに対応した導電粒子分散シート140の部分も除去される。
次いで、導電層322との間で、ニッケル(Ni)を用いた電気めっきにより、図4Iに示すように、1層目のシリコン基板321の領域321eに対応した空洞に第1電鋳部分40が形成され、2層目のレジスト60の未露光領域62に対応した空洞に第2電鋳部分80が形成されて、第1電鋳部分40と第2電鋳部分80とが一体の電鋳品200が形成される。なお、電鋳材料はニッケルに限定されるものではなく、銅、錫、コバルトなど電鋳可能な材料の全てを適用可能である。
2層目のレジスト60の上面60a及び第2電鋳部分80の上面80aを研削、研磨して、第2電鋳部分80の厚さt4を均一な厚さとする。
次いで、図4Jに示すように、接着剤323を剥がしてサポート基板324と導電層322側とを分離し、導電層322側を上下反対にして、第2電鋳部分80及び2層目のレジスト60を、接着剤323により、サポート基板324に貼り付ける。
次いで、図4Kに示すように、導電層322、シリコン基板321及び酸化シリコン層321cを、エッチングで除去する。例えば、導電層が金(Au)の場合、導電層をヨウ素系エッチング液で、シリコンを水酸化カリウムで、酸化シリコンをCHF3ガスを用いたプラズマエッチングで、各々除去する。
次いで、図4Lに示すように、導電粒子分散シート140、レジスト60,130を除去し、接着剤323を溶解することで除去して、電鋳品200をサポート基板324から分離する。これにより、段差面210に、導電粒子分散シート140に含まれていた導電性の粒子120が残っている電鋳品200が形成される。
この電鋳部品200には、段差面210に導電性の粒子120が残っているが、実施形態と同様の装飾的効果を得る目的により、粒子120を敢えて残してもよいし、又は、図4Mに示すように、導電性の粒子120を除去してよい。
以上のように、変形例1による電鋳品200の製造方法によれば、実施形態と同じ効果を得ることができるのに加えて、厚さが不均一になることがあるレジストを用いずに、厚さを均一に生成することができるシリコン基板321を型層として用いて第1電鋳部分40を生成することにより、電鋳品200の1層目の厚さt3を均一にすることができる。
なお、変形例1は、2層の電鋳部分40,80が一体に形成された電鋳品200を製造する方法であるが、3層以上の電鋳部分を一体に形成するものであってもよい。この場合、最上層の電鋳部分の型層のみをレジスト60とし、最上層を除いた他の全ての電鋳部分の型層をレジスト60又はシリコン基板321のいずれかで形成すればよい。
<変形例2>
実施例の電鋳品200は、導電性の粒子120が球形に近いが、粒子120の形状を変えて、導電粒子分散シート140におけるレジスト130と導電性の粒子120との結合力を増大させてもよい。
図5A~5Fは、実施形態における導電性の粒子120を、レジストに対して抜け止めの形状に変えた導電性の粒子129とした、実施形態の変形例(変形例2)を示す断面図である。
この変形例2の電鋳品200の製造方法は、まず、実施形態の導電粒子分散シート140に代えて導電粒子分散シート240を形成する。
具体的には、図5Aに示すように、基板110の一方の面110a上に、熱剥離シート115を貼り付け、熱剥離シート115の上に導電膜121を形成する。
次に、図5Bに示すように、導電膜121の上に、レジスト130を形成し、このレジスト130に、後に、粒子120に対応した導電性の粒子129を形成するための未露光領域132を形成する。未露光領域132は、幅W5の遮光部を有するマスクを用いた露光により形成することができる。これにより、幅W5の未露光領域132が形成され、現像により、未露光領域132のレジスト130が除去されて幅W5の空洞が形成される。
次に、図5Cに示すように、導電膜121を電極とした湿式めっきにより、未露光領域132の空洞に、導電性の粒子129を形成させる。導電性の粒子129は、レジスト130の空洞からレジスト130の外側まで成長すると、空洞の幅W5よりも広い幅W6(>W5)まで成長する。これにより、導電性の粒子129は、空洞と同じ幅W5の粒子部分127と、空洞よりも広い幅W6の粒子部分128とが一体に形成されたものとなる。
次いで、図5Dに示すように、導電性の粒子129が分布して配置されたレジスト130の上にさらに、レジスト138を塗布して加熱し、レジスト138中の溶媒を除去する。レジスト138は、導電性の粒子129が覆われる程度の厚さであればよい。レジスト138はレジスト130と同じものであってもよい。
レジスト138を塗布することによって、幅W5の粒子部分127よりも幅の広い粒子部分128をレジスト138に埋めた状態にすることができ、これにより、分布して配置された複数の導電性の粒子129を、レジスト130,138によって一体に形成した導電粒子分散シート240を生成することができる。
次に、実施形態の図2Bに示したのと同様に、図5Eに示すように、導電粒子分散シート240の生成と並行して、又は前後して生成された、図2Aに示した、導電性の基板10上に塗布された1層目のレジスト20に、導電粒子分散シート240を貼り合わせる。この導電シートの240の貼り合わせは、実施形態と同じである。
次に、図5Fに示すように、熱を加えて熱剥離シート115の粘着力を低下させることで、基板110を除去し、さらに、導電膜121を除去して、実施形態1の導電粒子分散シート140と同様の、粒子129が分布して配置された導電粒子分散シート240を、1層目のレジスト20の上に形成することができる。
そして、このように形成された導電粒子分散シート240に分布した粒子129は、導電粒子分散シート140の表面に露出した上側の粒子部分127が幅W5であり、レジスト130,138に埋まった下側の粒子部分128が、粒子部分127よりも広い幅W6となる。
上側の粒子部分127は、図5Gに示すように、第2電鋳部分80を形成する際の電極となるため、第2電鋳部分80と結合する。ここで、仮に、第2電鋳部分80の表面が研削等されて第2電鋳部分80の周囲が上方に浮き上がるような負荷を受けても、レジスト130,138に埋まっている粒子部分128は、第2電鋳部分80に結合する粒子部分127よりも幅が広く形成されているため、粒子129が第2電鋳部分80とともに浮き上がろうとしても、粒子部分128がレジスト130,138からの抜け止め機能を発揮する。
このように、変形例2による電鋳品200の製造方法によれば、実施形態と同じ効果を得ることができるのに加えて、導電粒子分散シート240の粒子129とレジスト130,138との結合力が実施形態の導電粒子分散シート140よりも増強されていることにより、第2電鋳部分80の浮き上がりを、一層強固に防止することができる。
10 導電性基板
20,60 レジスト
25 段差形成面
40 第1電鋳部分
80 第2電鋳部分
120 粒子
140 導電粒子分散シート
200 電鋳品
210 段差面
L UV光
W 幅方向
W1,W2 幅
t 厚さ方向

Claims (6)

  1. 導電性基板に近い第1電鋳部分と、前記第1電鋳部分から幅方向に突出した前記導電性基板から遠い第2電鋳部分とが一体に形成された電鋳品の製造方法であって、
    前記導電性基板の上に、前記第1電鋳部分を形成する第1の型となる第1の型層を形成し、
    次いで、前記第1の型層の上面に、互いに離れてレジストだけで繋がった導電性の粒子を分布して配置し、
    次いで、前記第1の型層の上に、前記第2電鋳部分を形成する第2の型となる第2の型層を形成し、
    前記第1の型層における前記第1の電鋳部分に対応した空洞を形成し、
    次いで、前記第1の型層の上面のうち、前記第2電鋳部分が前記第1電鋳部分から前記幅方向に突出した段差面を形成する段差形成面に配置された前記導電性の粒子を露出させた状態で、電気めっきの工程により、前記第1の電鋳部分及び前記第2電鋳部分を一体に形成し、前記段差形成面は前記第1電鋳部分に対応した空洞から幅方向に突出する、電鋳品の製造方法。
  2. 耐熱性を有する可撓性の基板に導電性膜を形成し、
    前記導電性膜が形成された前記基板を加熱して、前記導電性膜を、前記基板上で分布した導電性の粒子に粒子化し、
    前記導電性の粒子が分布した基板上にレジストを塗布した後、加熱して、分布した多数の前記導電性の粒子を前記レジストによって一体化した導電粒子分散シートに形成し、
    前記導電粒子分散シートのレジストの上面側を前記第1の型層の上面に貼り、
    前記基板を剥がすことにより、前記第1の型層の上面に前記導電性の粒子を分布して配置する請求項1に記載の電鋳品の製造方法。
  3. 前記粒子は、前記レジストに埋まっている粒子部分のうち前記第2電鋳部分に接する方とは反対側の粒子部分の幅が、前記第2電鋳部分に結合される粒子部分の幅よりも広く形成されて、前記レジストに埋まっている粒子部分のうち前記第2電鋳部分に接する方とは反対側の粒子部分が抜け止めを形成している請求項1に記載の電鋳品の製造方法。
  4. 前記第2の型層を形成するのに先立って、前記第1の型層の上面に前記導電性の粒子が分布して配置された状態で、前記第1の型層に、前記第1の電鋳部分に対応した空洞を形成する請求項1から3のうちいずれか1項に記載の電鋳品の製造方法。
  5. 前記第1の型層の上面における前記導電性の粒子の分布した配置は、前記上面の面積に占める前記導電性の粒子の面積の比率で定義される充填率が、30~90[%]となる配置である請求項1から4のうちいずれか1項に記載の電鋳品の製造方法。
  6. 第1電鋳部分と、前記第1電鋳部分から幅方向に突出した第2電鋳部分とが一体に形成され、
    前記第2電鋳部分が前記第1電鋳部分から前記幅方向に突出した段差面を有し、
    前記段差面に、前記第2電鋳部分を電気めっきの工程で形成する際の電極となる、互いに離れた導電性の粒子が、分布して配置されている電鋳品。
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