JP7469366B2 - 移動端末試験装置、及び移動端末試験方法 - Google Patents

Description

本発明は、試験用信号を被試験対象で受信させて受信感度を測定する受信感度試験を複数回実行し、被試験対象である移動端末を試験する移動端末試験装置、及び移動端末試験方法に関する。

近年開発が進んでいる、ミリ波帯の広帯域な信号を使用するＩＥＥＥ８０２．１１ａｄや５Ｇセルラ等に対応した無線信号を送受信する無線端末については、無線端末が備えている無線通信用のアンテナに対して、通信規格ごとに定められた送信電波の出力レベルや受信感度を測定し、所定の基準を満たすか否かを判定する性能試験が行われる。

例えば、５Ｇ ＮＲシステム（New Radio System）用の無線端末（以下、５Ｇ無線端末）を被試験対象（Device Under Test：ＤＵＴ）とする性能試験においては、周囲の電波環境に影響されないコンパクト・アンテナ・テスト・レンジ（Compact Antenna Test Range：以下、ＣＡＴＲ）と称する電波暗箱（ＯＴＡチャンバ）を用いたＯＴＡ試験が実施される。

ＯＴＡ試験の一例としては、信号発生器から送信する試験用信号をＤＵＴ（例えば、５Ｇ無線端末）で受信させて受信感度を測定する動作を複数回実行して測定結果を集計するＤＵＴの受信感度試験が挙げられる。ＤＵＴの受信感度試験においては、非特許文献１の３８．５２１－２章の７．３．２に記載されるように、試験用信号の最低限許容される出力レベル［ｄＢ］などの規定がある。

最低限許容される出力レベルまで試験用信号の出力レベルを順次下げていきながらＤＵＴの受信感度を測定する動作を複数回実行する受信感度試験の実現方法としては、例えば、試験用信号の出力レベルを初回の受信感度試験で設定した値から測定回数が増えるごとに順次一定レベルずつ変化（リニアに変化）させていく方法、ノンリニアに変化させる方法などが知られている。

また、チェックポイント（Check Point：ＣＰ）となる条件（ＣＰ条件）を設定し、試験中に測定したスループットがＣＰ条件を満たす場合には、試験用信号のステップレベルを大きくすることで測定結果が得られまでの時間を短縮するもの（ＣＰ判定処理を採用したもの）も従来から知られている（例えば、特許文献１参照）。

３ＧＰＰ（登録商標）技術仕様書３８．５２１－２章の７．３．２ 特開２０２２－５４７４４号公報

上述した従来の移動端末試験装置において、試験用信号の出力レベルをリニアに変化させる方法と、ノンリニアに変化させる方法との受信感度試験終了までの出力レベルの変化パターン（ＥＩＳサーチパス）の例を図１５に示している。図１５に示すように、試験用信号の出力レベルをリニアに変化させる方法（曲線Ｌ１、Ｌ２参照）と、ノンリニアに変化させる方法（曲線ＮＬ１、ＮＬ２参照）とは、常に、固定値である初回測定ＯＬ（出力）レベルからＥＩＳサーチを開始する点で共通している。また、いずれの方法も、初回測定ＯＬレベルと受信感度試験終了位置（ＥＩＳ ｐｏｉｎｔ１、２）の出力レベルとの間に大きな開きがある。

このため、上記いずれかの方法を適用する従来の移動端末測定装置では、試験用信号を固定値である初回出力レベルに設定してＥＩＳサーチを開始した後、かなりの回数のＥＩＳサーチを継続する必要性からＥＩＳサーチ時間を大幅に短縮することは困難であった。

一方、特許文献１に記載されるＣＰ判定処理を採用した従来装置にあっては、ＣＰを境にして出力レベルの変化幅を大きくとるため、出力レベルをリニア、あるいはノンリニアに変化させる方法よりもＥＩＳのサーチ時間を短縮できる。特許文献１において、試験用信号の出力レベルをノンリニアに変化させる方法と、ＣＰ判定処理を経て変化させる方法との受信感度試験終了までの出力レベルと測定回数の関係が図１１のグラフに示されている。図１１においては、ノンリニアに変化させるときに対応するグラフを符号Ｃ３で示し、ＣＰ判定処理を経て変化させるときに対応するグラフを符号Ｃ１で示している。図１１に示すように、ＣＰ判定処理を経て試験用信号の出力レベルを変化させる方法を採用することで、ノンリニアに変化させる方法に比べて測定回数を減らすことができ（この例では、４回まで）、その分、ＥＩＳのサーチ時間を短縮することができる。しかしながら、ＣＰ判定処理を採用する従来装置においても、測定回数（ＥＩＳサーチ回数）をさらに少ない数まで減らすことは困難であり、ＥＩＳのサーチ時間の時間短縮には限界があった。

本発明は、このような従来の課題を解決するためになされたものであって、測定回数を極力低減して試験用信号の出力レベルをより短時間で試験可能レベルに設定可能であり、移動端末の受信感度試験を効率よく行える移動端末試験装置及び移動端末試験方法を提供することを目的とする。

上記課題を解決するために、本発明の請求項１に係る移動端末試験装置は、試験用信号を発生する信号発生器（２０）と、前記信号発生器と移動端末（１００）との間で前記試験用信号をＮ回送受信することにより前記移動端末の受信感度試験を行う受信感度試験実行部（１８）と、を有し、被試験対象である前記移動端末を試験する移動端末試験装置（１）であって、前記受信感度試験の開始時の前記試験用信号のステップレベルＳＬ０、出力レベルＯＬ０を設定パラメータとして含む試験条件を初期設定する設定手段（１８ａ）と、前記試験条件で前記試験用信号を送受信することによりスループット測定を行い、スループット測定結果と判定閾値とを比較して合否判断する合否判断手段（１８ｆ）と、前記合否判断の結果、否と判断された場合、以前のスループット測定の合否判断の結果に応じてレベルダウン処理Ａ（Ｓ８ａ）、レベルダウン処理Ｂ（Ｓ８ｂ）、あるいはレベルアップ処理Ａ（Ｓ９ｂ）、レベルアップ処理Ｂ（Ｓ９ｄ）を行う出力レベル設定手段（１８ｅ）と、過去の前記受信感度試験の測定ログファイルからパラメータデータと測定結果データの関連性を人工知能により機械学習させることにより生成したＡＩ予測モデルを保持し、前記設定手段により設定された前記設定パラメータに基づき前記ＡＩ予測モデルによって事前にＡＩ予測されたＡＩ予測出力レベルＯＬ０１を、前記出力レベルＯＬ０に代えて、初回出力レベルとして設定するＡＩ予測試験条件変更設定手段（１８ｂ）と、を有することを特徴とする。

この構成により、本発明の請求項１に係る移動端末試験装置は、試験用信号の初回出力レベルをＡＩ予測によって既存のノンリニア制御等での測定終了時に近い値に速やかに設定することができ、ノンリニア制御、ＣＰ制御等の従来方式に比べて測定回数を大幅に低減して試験用信号の出力レベルを極めて短時間で試験可能レベルに設定可能であり、移動端末の受信感度試験を効率よく行えるようになる。

また、本発明の請求項２に係る移動端末試験装置において、前記ＡＩ予測試験条件変更設定手段は、前記ＡＩ予測出力レベルで前記試験用信号を送受信することにより実施した初回のスループット測定の測定結果に基づき前記ＡＩ予測モデルによって事前にＡＩ予測されたＡＩ予測ステップレベルＳＬ０１を、前記ステップレベルＳＬ０に代えて、２回目以降の測定のステップレベルとして設定する構成であってもよい。

この構成により、本発明の請求項２に係る移動端末試験装置は、ＡＩ予測により、試験用信号の初回出力レベルにとどまらず、ステップレベルについても動的に制御することで、ノンリニア制御、ＣＰ制御等の従来方式で測定を継続する場合に比べてより短時間で試験用信号を試験可能レベルに設定可能であり、移動端末の受信感度試験の効率をより向上させることができる。

また、本発明の請求項３に係る移動端末試験装置において、前記ＡＩ予測試験条件変更設定手段は、前記初回のスループット測定の測定結果に対する前記合否判断の結果、否と判断された場合、その後、２回目のスループット測定までに限り、前記ＡＩ予測ステップレベルＳＬ０１を用いて次回の測定のための前記出力レベルの更新処理を実施する構成であってもよい。

この構成により、本発明の請求項３に係る移動端末試験装置は、ＡＩ予測による試験用信号の初回出力レベル、及びステップレベルの動的な制御を２回目のスループット測定までにとどめ、せっかくノンリニア制御等での測定終了時に近い値から測定開始したにもかかわらず、上述した動的な制御が無駄に繰り返される事態を回避可能となる。

また、本発明の請求項４に係る移動端末試験装置において、前記ＡＩ予測試験条件変更設定手段は、前記パラメータデータとして外部接続用ケーブルの損失、前記移動端末の方位角度（θ、φ）、測定対象周波数を指定し、該パラメータデータと前記測定結果データの関係を機械学習させることにより生成した前記ＡＩ予測モデルを保持している構成であってもよい。

この構成により、本発明の請求項４に係る移動端末試験装置は、外部接続用ケーブルの損失、移動端末の方位角度（θ、φ）、測定対象周波数の各パラメータデータが測定精度に影響を及ぼす環境下においても、該ＡＩ予測モデルを用いて、当該各パラメータデータを加味した正確なＡＩ予測結果を導き出すことができ、測定精度を低下させることなく、試験用信号を極めて短時間、かつ、確実に試験可能レベルに設定することができる。

また、本発明の請求項５に係る移動端末試験装置は、前記受信感度試験実行部は、２回目のスループット測定の測定結果に対する前記合否判断の結果、否と判断された場合、前記出力レベル設定手段による前記レベルダウン処理Ａ、前記レベルダウン処理Ｂ、あるいは前記レベルアップ処理Ａ、前記レベルアップ処理Ｂを実施するように制御する構成としてもよい。

この構成により、本発明の請求項５に係る移動端末試験装置は、ＡＩ予測による試験用信号の初回出力レベル、及びステップレベルの動的な制御により試験用信号の出力レベルが試験可能レベルに到達しないときには、即座に通常の測定ルーチンに切り替えて試験用信号の出力レベルを確実に試験可能レベルに設定することができるようになる。

また、本発明の請求項６に係る移動端末試験装置は、内部空間（５１）を有する電波暗箱（５０）と、前記内部空間内で前記移動端末の方位を連続的に可変するように前記移動端末を駆動走査する走査手段（１６、５６）と、をさらに有し、前記受信感度試験は、前記内部空間内でＯＴＡ（Over The Air）測定環境における前記走査手段の走査の対象となる全方位について行う構成としてもよい。

この構成により、本発明の請求項６に係る移動端末試験装置は、ＯＴＡ環境下で全ての方位について受信感度測定を行わなければならない状況下においても、ＡＩ予測による試験用信号の初回出力レベル、及びステップレベルの動的な制御を適用し、短時間で試験用信号の出力レベルを試験可能レベルに設定することができるようになる。

また、上記課題を解決するために、本発明の請求項７に係る移動端末試験方法は、請求項１ないし６のいずれか１項に記載の移動端末試験装置（１）を用い、前記信号発生器と前記移動端末との間で前記試験用信号をＮ回送受信することにより前記移動端末の受信感度試験を行う移動端末試験方法であって、前記受信感度試験の開始時の前記試験用信号のステップレベルＳＬ０、出力レベルＯＬ０を設定パラメータとして含む試験条件を初期設定する設定ステップ（Ｓ１）と、過去の前記受信感度試験の測定ログファイルからパラメータデータと測定結果データの関連性を人工知能により機械学習させることにより生成したＡＩ予測モデルを保持し、前記設定ステップで設定された前記設定パラメータに基づき前記ＡＩ予測モデルによって事前にＡＩ予測されたＡＩ予測出力レベルＯＬ０１を、前記出力レベルＯＬ０に代えて、初回出力レベルとして設定するＡＩ予測試験条件変更設定ステップ（Ｓ１ａ）と、前記ＡＩ予測出力レベルで前記試験用信号を送受信することにより初回のスループット測定を行い、該初回のスループット測定結果と判定閾値とを比較して合否判断する合否判断ステップ（Ｓ４、Ｓ５）と、前記初回のスループット測定の測定結果に基づき前記ＡＩ予測モデルによって事前にＡＩ予測されたＡＩ予測ステップレベルＳＬ０１を、前記ステップレベルＳＬ０に代えて、２回目以降の測定のステップレベルとして設定するステップレベル変更設定ステップと、を含むことを特徴とする。

この構成により、本発明の請求項７に係る移動端末試験方法は、上記請求項１ないし６のいずれか１項に記載の移動端末試験装置を用い、本移動端末試験方法を適用することで、試験用信号の初回出力レベルをＡＩ予測によって既存のノンリニア制御等での測定終了時に近い値に速やかに設定することができ、ノンリニア制御、ＣＰ制御等の従来方式に比べて測定回数を大幅に低減して試験用信号の出力レベルを極めて短時間で試験可能レベルに設定可能であり、移動端末の受信感度試験を効率よく行えるようになる。

本発明は、測定回数を極力低減して試験用信号の出力レベルをより短時間で試験可能レベルに設定可能であり、移動端末の受信感度試験を効率よく行える移動端末試験装置及び移動端末試験方法を提供することができる。

本発明の一実施形態に係る測定装置全体の概略構成を示す図である。 本発明の一実施形態に係る測定装置の機能構成を示すブロック図である。 本発明の一実施形態に係る測定装置の統合制御装置とその被制御要素の機能構成を示すブロック図である。 本発明の一実施形態に係る測定装置におけるＮＲシステムシミュレータの機能構成を示すブロック図である。 本発明の一実施形態に係る測定装置のＯＴＡチャンバ内における被試験対象の全球面走査イメージを示す図であり、（ａ）は球座標系の中心に対する被試験対象の配置態様を示し、（ｂ）は球座標系における角度標本点ＰＳの分布態様を示している。 本発明の一実施形態に係る測定装置のＯＴＡチャンバ内での試験用アンテナ５の配置態様を図５に示す球座標系（ｒ，θ，φ）系を用いて説明するための図である。 本発明の一実施形態に係る測定装置で用いるＡＩ予測モデルの生成処理手順を示す概念図である。 本発明の一実施形態に係る測定装置でのＡＩ予測を適用したＤＵＴの受信感度試験と既存装置でのＤＵＴの受信感度試験とに係る測定開始位置の違いを説明するための模式図である。 本発明の一実施形態に係る測定装置でのＤＵＴの受信感度試験におけるＡＩ予測を適用した試験用信号の出力レベル可変設定制御動作を示すフローチャートである。 図９のステップＳ８での処理の詳細を示すフローチャートであり、（ａ）はレベルダウン処理（Ａ）を示し、（ｂ）はレベルダウン処理（Ｂ）を示している。 本発明の一実施形態に係る測定装置でのＡＩ予測を適用したＤＵＴの受信感度試験と既存装置でのＤＵＴの受信感度試験とに係る測定回数と試験用信号の出力レベル及びスループット測定結果可否判断結果との関係を示す表図である。 図１１の表図に示す本発明の一実施形態に係る測定装置でのＡＩ予測を適用したＤＵＴの受信感度試験と既存装置でのＤＵＴの受信感度試験とに係る測定回数と試験用信号の出力レベル及びスループット測定結果可否判断結果との関係を示すグラフである。 本発明の一実施形態に係る測定装置でのＡＩ予測を適用したＤＵＴの受信感度試験と既存装置でのＤＵＴの受信感度試験とに係るＥＩＳサーチパスの差異を説明するためのグラフである。 本発明の一実施形態に係る測定装置でのＡＩ予測を適用したＥＩＳ－ＣＤＦ測定の測定時間と機械学習のための測定回数との関係を示すグラフである。 既存装置におけるＤＵＴの受信感度試験に係る試験用信号のリニア及びノンリニア制御に基づく各種のＥＩＳサーチパスを並べて示すグラフである。

以下、本発明に係る移動端末試験装置、及び移動端末試験方法の実施形態について図面を用いて説明する。

まず、本発明の一実施形態に係る測定装置１の構成について、図１～図４を参照して説明する。測定装置１は、本発明の移動端末試験装置を構成する。本実施形態に係る測定装置１は、全体として図１に示すような外観構造を有し、かつ、図２に示すような機能ブロックにより構成されている。図１、図２において、ＯＴＡチャンバ５０についてはその側面から透視した状態における各構成要素の配置態様を示している。

測定装置１は、例えば、図１に示す構造を有するラック構造体９０の各ラック９０ａに前述したそれぞれの構成要素を載置した態様で運用される。図１においては、ラック構造体９０の各ラック９０ａに、それぞれ、統合制御装置１０、ＮＲシステムシミュレータ２０、ＯＴＡチャンバ５０を載置した例を示している。

図２に示すように、本実施形態に係る測定装置１は、統合制御装置１０、ＮＲシステムシミュレータ２０、信号処理部２５、ＯＴＡチャンバ５０を有している。

これらの構成について、ここでは、便宜的に、ＯＴＡチャンバ５０から先に説明する。図１、図２に示すように、ＯＴＡチャンバ５０は、例えば、長方体形状の内部空間５１を有する金属製の筐体本体部５２により構成され、内部空間５１に、アンテナ１１０を有するＤＵＴ１００、試験用アンテナ５、リフレクタ７、ＤＵＴ走査機構５６を収容している。

ＯＴＡチャンバ５０の内面全域、つまり、筐体本体部５２の底面５２ａ、側面５２ｂ及び上面５２ｃ全面には、電波吸収体５５が貼り付けられている。これにより、ＯＴＡチャンバ５０は、内部空間５１内に配置される各要素（ＤＵＴ１００、試験用アンテナ５、リフレクタ７、ＤＵＴ走査機構５６）が外部からの電波の侵入及び外部への電波の放射を規制する機能が強化されている。このように、ＯＴＡチャンバ５０は、周囲の電波環境に影響されない内部空間５１を有する電波暗箱を実現している。本実施形態で用いる電波暗箱は、例えば、Anechoic型のものである。

ＯＴＡチャンバ５０の内部空間５１に収容されるもののうち、ＤＵＴ１００は、例えばスマートフォンなどの無線端末である。ＤＵＴ１００の通信規格としては、セルラ（ＬＴＥ、ＬＴＥ－Ａ、Ｗ－ＣＤＭＡ（登録商標）、ＧＳＭ（登録商標）、ＣＤＭＡ２０００、１ｘＥＶ－ＤＯ、ＴＤ－ＳＣＤＭＡ等）、無線ＬＡＮ（ＩＥＥＥ８０２．１１ｂ／ｇ／ａ／ｎ／ａｃ／ａｄ等）、Ｂｌｕｅｔｏｏｔｈ（登録商標）、ＧＮＳＳ（ＧＰＳ、Ｇａｌｉｌｅｏ、ＧＬＯＮＡＳＳ、ＢｅｉＤｏｕ等）、ＦＭ、及びデジタル放送（ＤＶＢ－Ｈ、ＩＳＤＢ－Ｔ等）が挙げられる。また、ＤＵＴ１００は、ＩＥＥＥ８０２．１１ａｄや５Ｇセルラ等に対応したミリ波帯の無線信号を送受信する無線端末であってもよい。

本実施形態において、ＤＵＴ１００のアンテナ１１０は、例えば、５Ｇ ＮＲの通信規格に準拠した規定の周波数帯の無線信号を使用するものである。ＤＵＴ１００は、本発明における被試験対象、移動端末を構成する。

ＯＴＡチャンバ５０の内部空間５１において、ＤＵＴ１００は、ＤＵＴ走査機構５６の一部機構により保持されている。ＤＵＴ走査機構５６は、ＯＴＡチャンバ５０の内部空間５１における筐体本体部５２の底面５２ａに、鉛直方向に延在して設けられている。ＤＵＴ走査機構５６は、性能試験を行うＤＵＴ１００を保持しつつ、該ＤＵＴ１００に対する後述の全球面走査（図５、図６参照）を実施するものである。

ＤＵＴ走査機構５６は、図１に示すように、ターンテーブル５６ａ、支柱部材５６ｂ、ＤＵＴ載置部５６ｃ、駆動部５６ｅを有している。ターンテーブル５６ａは、円盤形状を有する板部材で構成され、アジマス軸（鉛直方向の回転軸）を中心に回転する構成（図３参照）を有する。支柱部材５６ｂは、ターンテーブル５６ａの板面上に垂直方向に延びるように配置される柱状部材により構成されている。

ＤＵＴ載置部５６ｃは、支柱部材５６ｂの上端近傍にターンテーブル５６ａと平行に配置され、ＤＵＴ１００を載置する載置トレイ５６ｄを有している。ＤＵＴ載置部５６ｃは、ロール軸（水平方向の回転軸）を中心に回転可能な構成（図３参照）を有している。

駆動部５６ｅは、例えば、図３に示すように、アジマス軸を回転駆動する駆動モータ５６ｆと、ロール軸を回転駆動する駆動モータ５６ｇと、を有する。駆動部５６ｅは、駆動モータ５６ｆと駆動モータ５６ｇとによって、アジマス軸とロール軸とをそれぞれの回転方向に回転させる機構を備えた２軸ポジショナにより構成されている。このように、駆動部５６ｅは、載置トレイ５６ｄに載置されたＤＵＴ１００を、載置トレイ５６ｄごと２軸（アジマス軸とロール軸）方向に回転させることができるものである。以下、駆動部５６ｅを含むＤＵＴ走査機構５６全体を２軸ポジショナと称することもある（図３参照）。駆動部５６ｅ、駆動モータ５６ｆ、５６ｇは、それぞれ、本発明における駆動手段、第１の回転駆動手段、第２の回転駆動手段を構成する。載置トレイ５６ｄは、本発明における被試験対象載置部を構成する。

ＤＵＴ走査機構５６では、載置トレイ５６ｄに載置（保持）されているＤＵＴ１００を、例えば、球体（図５の球体Ｂ参照）の中心Ｏ１に配置したと仮定し、球体表面の全ての方位に対してアンテナ１１０が向く状態にＤＵＴ１００の姿勢を順次変化させる全球面走査を行うものである。ＤＵＴ走査機構５６におけるＤＵＴ走査の制御は、後述するＤＵＴ走査制御部１６よって行われる。ＤＵＴ走査機構５６、及びＤＵＴ走査制御部１６は、本発明における走査手段を構成する。

試験用アンテナ５は、ＯＴＡチャンバ５０の筐体本体部５２の底面５２ａの所要位置に、適宜な保持具（図示せず）を用いて取り付けられている。試験用アンテナ５の取り付け位置は、底面５２ａに設けられた開口６７ａを介してリフレクタ７から見透しが確保できる位置となっている。試験用アンテナ５は、ＤＵＴ１００のアンテナ１１０と同じ規定（ＮＲ規格）の周波数帯の無線信号を使用するものである。

試験用アンテナ５は、ＯＴＡチャンバ５０内でのＤＵＴ１００のＮＲに関連する測定に際し、ＮＲシステムシミュレータ２０からＤＵＴ１００に対する試験用信号の送信、及び該試験用信号を受信したＤＵＴ１００から送信される被測定信号の受信を行う。試験用アンテナ５は、その受光面がリフレクタ７の焦点位置Ｆとなるように配置されている。なお、試験用アンテナ５をその受光面がＤＵＴ１００に向き適切な受光ができるように配置できる場合には、リフレクタ７は必ずしも必要ない。

リフレクタ７は、ＯＴＡチャンバ５０の側面５２ｂの所要位置にリフレクタ保持具５８を用いて取り付けられている。リフレクタ７は、ＤＵＴ１００のアンテナ１１０により送受信される無線信号（試験用信号、及び被測定信号）を、試験用アンテナ５の受光面へと折り返す電波経路を実現する。

次に、統合制御装置１０、ＮＲシステムシミュレータ２０の構成について説明する。

図２に示すように、統合制御装置１０は、ＮＲシステムシミュレータ２０に対して、例えばイーサネット（登録商標）等のネットワーク１９を介して相互に通信可能に接続されている。また、統合制御装置１０は、ＯＴＡチャンバ５０における被制御系要素、例えば、ＤＵＴ走査制御部１６にもネットワーク１９を介して接続されている。

統合制御装置１０は、ネットワーク１９を介して、ＮＲシステムシミュレータ２０、及びＤＵＴ走査制御部１６を統括的に制御するものであり、例えば、パーソナル・コンピュータ（ＰＣ）により構成される。なお、ＤＵＴ走査制御部１６は、ＯＴＡチャンバ５０に付随して独立に設けられる（図２参照）他、図３に示すように、統合制御装置１０に設けられていてもよい。以下では、統合制御装置１０が図３に示す構成を有するものとして説明する。

図３に示すように、統合制御装置１０は、制御部１１、操作部１２、表示部１３を有している。制御部１１は、例えば、コンピュータ装置によって構成される。このコンピュータ装置は、測定装置１の機能を実現するための所定の情報処理や、ＮＲシステムシミュレータ２０、及び信号処理部２５を対象とする統括的な制御を行うＣＰＵ（Central Processing Unit）１１ａと、ＣＰＵ１１ａを立ち上げるためのＯＳ（Operating System）やその他のプログラム及び制御用のパラメータ等を記憶するＲＯＭ（Read Only Memory）１１ｂと、ＣＰＵ１１ａが動作に用いるＯＳやアプリケーションの実行コードやデータ等を記憶するＲＡＭ（Random Access Memory）１１ｃ、外部Ｉ／Ｆ部１１ｄ、入出力ポート（図示せず）等を有する。

外部Ｉ／Ｆ部１１ｄは、ネットワーク１９を介して、ＮＲシステムシミュレータ２０、信号処理部２５、及びＤＵＴ走査機構（２軸ポジショナ）５６の駆動部５６ｅとそれぞれ通信可能に接続されている。入出力ポートには、操作部１２、表示部１３が接続されている。操作部１２は、コマンドなど各種情報を入力するための機能部であり、表示部１３は、上記各種情報の入力画面や測定結果など、各種情報を表示する機能部である。

上述したコンピュータ装置は、ＣＰＵ１１ａがＲＡＭ１１ｃを作業領域としてＲＯＭ１１ｂに格納されたプログラムを実行することにより制御部１１として機能する。制御部１１は、図３に示すように、呼接続制御部１４、信号送受信制御部１５、ＤＵＴ走査制御部１６、信号解析制御部１７、受信感度試験制御部１８を有している。呼接続制御部１４、信号送受信制御部１５、ＤＵＴ走査制御部１６、信号解析制御部１７、受信感度試験制御部１８も、ＣＰＵ１１ａがＲＡＭ１１ｃの作業領域でＲＯＭ１１ｂに格納された所定のプログラムを実行することにより実現されるものである。

呼接続制御部１４は、ＮＲシステムシミュレータ２０、信号処理部２５を介して試験用アンテナ５を駆動してＤＵＴ１００との間で制御信号（無線信号）を送受信させることにより、ＮＲシステムシミュレータ２０とＤＵＴ１００との間に呼（無線信号を送受信可能な状態）を確立する制御を行う。

信号送受信制御部１５は、操作部１２におけるユーザ操作を監視し、ユーザによりＤＵＴ１００の送信及び受信特性の測定に係る所定の測定開始操作が行われことを契機に、呼接続制御による呼の確立後のＮＲシステムシミュレータ２０に対して信号送信指令を送信し、ＮＲシステムシミュレータ２０から試験用アンテナ５を介して試験用信号を送信させる制御、及び信号受信指令を送信し、試験用アンテナ５を介して被測定信号を受信させる制御を行う。

ＤＵＴ走査制御部１６は、ＤＵＴ走査機構５６の駆動モータ５６ｆ及び５６ｇを駆動制御することにより、ＤＵＴ載置部５６ｃの載置トレイ５６ｄに載置されているＤＵＴ１００の全球面走査を行わせるものである。この制御を実現するために、例えば、ＲＯＭ１１ｂには、予め、ＤＵＴ走査制御テーブル１６ａが用意されている。ＤＵＴ走査制御テーブル１６ａは、例えば、ＤＵＴ１００の全球面走査に係る球座標系（図５（ａ）参照）における各角度標本点ＰＳ（図５（ｂ）参照）の座標、各角度標本点ＰＳの座標に対応付けられた駆動モータ５６ｆ及び５６ｇの駆動データ、及び各角度標本点ＰＳでの停止時間（測定時間）などが関係付けられた制御データを格納している。駆動モータ５６ｆ及び５６ｇが例えばステッピングモータの場合には、上記駆動データとして例えば駆動パルス数が格納される。

ＤＵＴ走査制御部１６は、ＤＵＴ走査制御テーブル１６ａをＲＡＭ１１ｃの作業領域に展開し、該ＤＵＴ走査制御テーブル１６ａに記憶されている制御データに基づき、ＤＵＴ走査機構５６の駆動モータ５６ｆ及び５６ｇを駆動制御する。これにより、ＤＵＴ載置部５６ｃに載置されるＤＵＴ１００の全球面走査が行われる。全球面走査では、球座標系における角度標本点ＰＳごとにＤＵＴ１００のアンテナ１１０のアンテナ面が該角度標本点ＰＳに向いて規定の時間（上記停止時間）だけ停止し、その後、次の角度標本点ＰＳに移動する動作（ＤＵＴ１００の走査）が、全ての角度標本点ＰＳを対象にして順次実施される。

信号解析制御部１７は、ＤＵＴ１００の全球面走査時に、試験用アンテナ５が受信したＮＲ、ＬＴＥに関連する無線信号を、ＮＲシステムシミュレータ２０、信号処理部２５を介して取り込み、指定測定項目の信号として解析処理（測定処理）するものである。

受信感度試験制御部１８は、ＮＲシステムシミュレータ２０の信号発生部２１ａから送信した試験用信号をＤＵＴ１００で受信させてその受信感度を測定する受信感度試験を複数回実行させ、複数回の受信感度試験の測定結果を試験結果として集計する制御を行う。受信感度試験制御部１８は、本発明の受信感度試験実行部、合否判断手段を構成している

受信感度試験制御部１８は、図３に示すように、試験条件設定部１８ａ、ＡＩ予測試験条件変更設定部１８ｂ、スループット測定部１８ｃ、低下状態判定部１８ｄ、出力レベル可変設定部１８ｅ、測定結果出力部１８ｆを有している。試験条件設定部１８ａ、ＡＩ予測試験条件変更設定部１８ｂ、出力レベル可変設定部１８ｅは、それぞれ、本発明の設定手段、試験条件変更設定手段、出力レベル設定手段を構成している。

試験条件設定部１８ａは、受信感度試験の試験条件を設定する機能部である。試験条件設定部１８ａが設定する試験条件（設定パラメータ）として、初期ステップレベル（initial step level）ＳＬ０、スタート出力レベル（Starting output level）ＯＬ０、エラートレランスレベルＥＬ（Error tolerance of boundary level）、接続断判定用閾値ＤＴ（Connection drop threshold）などが挙げられる。初期ステップレベルＳＬ０は受信感度試験に際してステップ的に変動させる試験用信号の出力レベルのステップ変動幅の初期値を示す。スタート出力レベルＯＬ０は、受信感度試験を開始する際のＤＵＴ１００の出力レベル（１回目の送受信の際の出力レベル）を示す。エラートレランスレベルＥＬは、受信感度試験を次回も継続して行うか否かを判定するための前回と今回の試験用信号の出力レベルの変動幅（所定値）を示す。ＤＴは、この値よりも値を下げてしまうと呼接続の切断をきたす（Call Dropしてしまう）という、底の値の設定値である。図９におけるアルゴリズムでは、大きなステップで出力レベルを下げていくので、これ以上行くとCall Dropしてしまうから下げない、という閾値が必要になる。この値は、ユーザが事前に設定することが可能である。

ＡＩ予測試験条件変更設定部１８ｂは、当該測定装置１での過去に実施したＤＵＴ１００の受信感度試験の測定ログファイルからパラメータデータと測定結果データの関連性を人工知能（ＡＩ：Ａｒｔｉｆｉｃｉａｌ Ｉｎｔｅｌｌｉｇｅｎｃｅ）により機械学習（Ｍａｃｈｉｎｅ Ｌｅａｒｎｉｎｇ：ＭＬ）させることにより取得したＡＩ予測モデル（ｍｏｄｅｌ）Ｄａｉ（図７参照）を用い、試験開始時に試験条件設定部１８ａにより設定（初期設定）された試験条件（設定パラメータ）に基づき上記ＡＩ予測モデルＤａｉによって事前にＡＩ予測された特定の設定パラメータの値を、初期設定された値に代えて、変更設定する機能部である。ＡＩ予測試験条件変更設定部１８ｂによるＡＩ予測モデルＤａｉを使ったＡＩ予測に基づく変更設定の対象となる特定の設定パラメータとしては、例えば、初期設定された試験用信号の出力レベル（スタート出力レベルＯＬ０）、及び初期ステップレベルＳＬ０が挙げられる。以下においては（図９参照）、２回目の測定までの間の試験用信号の出力レベルＯＬ０、ＯＬ１、及び初期ステップレベルＳＬ０をＡＩ予測に基づいて変更設定する例を挙げている。

ＡＩ予測試験条件変更設定部１８ｂによる初期設定されたスタート出力レベルＯＬ０の変更設定処理は、例えば、図９に示すフローチャートのステップＳ１ａにおいて、その前のステップＳ１で初期設定された試験条件（設定パラメータ）に基づき上記ＡＩ予測モデルＤａｉ（ＡＩ予測モデルＡ１）によって事前にＡＩ予測されたＡＩ予測出力レベルＯＬ０１をサーチし、該ＡＩ予測出力レベルＯＬ０１をステップＳ１で初期設定されたスタート出力レベルＯＬ０に代えて、初回出力レベルとして設定するという流れで実施される。また、初期ステップレベルＳＬ０の変更設定処理は、図９に示すフローチャートのステップＳ２６において、その前のステップＳ４、Ｓ５、Ｓ２５での処理結果（ステップＳ１ａで初回出力レベルに変更設定された試験用信号の送受信時の初回のスループット測定の測定結果）に基づき、ＡＩ予測モデルＤａｉ（ＡＩ予測モデルＡ２）によって事前にＡＩ予測されたＡＩ予測ステップレベルＳＬ０１を、ステップＳ１で初期設定された初期ステップレベルＳＬ０に代えて設定するという流れで実施される。ＡＩ予測モデルＤａｉ（Ａ１、Ａ２）の生成処理手順については図７を参照して後で詳しく説明する。

スループット測定部１８ｃは、受信感度試験ごとにＤＵＴ１００の受信能力に関するスループットを測定する機能部である。スループット測定部１８ｃは、例えば、試験用信号の送信に合わせてその伝送レートもＤＵＴ１００に送信し、その後、ＤＵＴ１００が試験用信号の受信結果（受信伝送レート）をＮＲシステムシミュレータ２０側に報知してくるのに合わせ当該受信伝送レートからスループットを測定する構成であってもよい。

低下状態判定部１８ｄは、スループット測定部１８ｃによるスループットの測定結果が急峻に低下する特性に関する急峻低下領域内の予め設定した割合まで低下した状態であるか否かを判定する機能を有する。この機能を実現するために、スループットの測定結果が急峻低下領域内のある割合まで低下した状態であるか否かを判定するための判定条件が、例えば、試験条件設定部１８ａによって予め設定されている。低下状態判定部１８ｄは、測定されたスループットが判定条件によって示される急峻低下領域内にあるか否かに応じて低下した状態であるか否かを判定するようになっている。低下した状態であるか否かを判定する判定条件としては、例えば、１回目の試験信号の送受信によりスループット測定部１８ｃにより測定されたスループットの値を１００％とするときに、９５％を超えて９９％以下の範囲を設定する例が挙げられる。これにより、測定されたスループットが設定した範囲内にあるときに低下した状態であると判定することができ、上記範囲よりも高い割合である場合には低下した状態ではないと判定することができる（図９のステップＳ７、Ｓ９ａ参照）。ここで上記判定条件は、前述の如く１回目の試験信号の送受信により測定されたスループットの値を１００％（基準値）とし、該基準値に対して９５％を超えて９９％以下の割合の範囲とするのに限らず、基準値に対する他の割合範囲を設定するようにしてもよい。

出力レベル可変設定部１８ｅは、スループット測定部１８ｃによるスループットの測定結果と予め設定された所定の閾値（スループット閾値）との比較結果に応じて、次回の前記受信感度試験における試験用信号の出力レベルを上昇（レベルアップ）または下降（レベルダウン）方向に、かつ、前後する回数の受信感度試験間での試験用信号の出力レベルが異なるように可変設定する機能部である。

測定結果出力部１８ｆは、可変設定後の出力レベルを有する試験用信号による今回の受信感度試験の試験結果（スループットの測定結果）と前回の受信感度試験の試験結果間の試験結果変動幅が試験条件設定部１８ａにより設定された変動幅（ＥＬ）の範囲を超えているときには次回の受信感度試験（スループット測定）に進み、試験結果変動幅が変動幅（ＥＬ）内となったときには当該試験結果を出力する機能部である。測定結果出力部１８ｆは、受信感度試験制御部１８とともに本発明の合否判断手段を構成する。

ＮＲシステムシミュレータ２０は、図４に示すように、信号発生部２１ａ、送受信部２１ｆ、信号測定部２１ｂ、制御部２１ｃ、操作部２１ｄ、表示部２１ｅを有している。ＮＲシステムシミュレータ２０は、本発明の信号発生器を構成する。

信号発生部２１ａは、試験用信号の元となる信号（ベースバンド信号）を発生する。送受信部２１ｆは、信号発生部２１ａが発生した信号から各通信規格の周波数に対応した試験用信号を生成して信号処理部２５に送出するとともに、信号処理部２５から送られてくる被測定信号からベースバンド信号を復元するＲＦ部の機能を果たす。信号測定部２１ｂは、送受信部２１ｆで復元されたベースバンド信号に基づいて被測定信号の測定処理を行う。

制御部２１ｃは、信号発生部２１ａ、信号測定部２１ｂ、送受信部２１ｆ、操作部２１ｄ、表示部２１ｅの各機能部を統括的に制御する。操作部２１ｄは、コマンドなど各種情報を入力するための機能部であり、表示部２１ｅは、各種情報の入力画面や測定結果など、各種情報を表示する機能部である。

上述した構成を有する測定装置１では、ＯＴＡチャンバ５０の内部空間５１内で、ＤＵＴ走査機構５６（２軸ポジショナ）の載置トレイ５６ｄにＤＵＴ１００を載置し、該ＤＵＴ１００を、載置トレイ５６ｄごと２軸（アジマス軸とロール軸）方向に回転させながら（ポジショナの角度を変更しながら）、ＤＵＴ１００の無線信号に関するＥＩＲＰ（Ｅｑｕｉｖａｌｅｎｔ Ｉｓｏｔｒｏｐｉｃ Ｒａｄｉａｔｅｄ Ｐｏｗｅｒ）－ＣＤＦ（Ｃｕｍｕｌａｔｉｖｅ Ｄｉｓｔｒｉｂｕｔｉｏｎ Ｆｕｎｃｔｉｏｎ：累積分布関数）、ＥＩＳ（Ｅｑｕｉｖａｌｅｎｔ Ｉｓｏｔｒｏｐｉｃ Ｓｅｎｓｉｔｉｖｉｔｙ）－ＣＤＦ、ＴＲＰ（Ｔｏｔａｌ Ｒａｄｉａｔｅｄ Ｐｏｗｅｒ）等の測定項目の測定を行うことができる。

ここで、上述した各測定項目を測定する際に必要とされる、２軸ポジショナの角度変更によるＤＵＴ１００の角度制御（全球面走査）について図５、図６を参照して説明する。

一般に、ＤＵＴ１００を対象とする放射電力測定に関しては、等価等方輻射電力（ＥＩＲＰ）を測定する方法と、全放射電力（ＴＲＰ）を測定する方法が知られている。ＥＩＲＰは、例えば、図５（ａ）に示す球座標系（ｒ，θ，φ）の各測定点（θ，φ）で測定した電力値である。これに対し、ＴＲＰは、上記球座標系（ｒ，θ，φ）の全ての方位、すなわち、ＤＵＴ１００の全球面走査の中心Ｏ１（以下、基準点）から等距離にある球面上の予め規定した複数の角度標本点ＰＳ（図５（ｂ）参照）でのＥＩＲＰを測定し、その総和を求めたものである。

本実施形態において、全放射電力（ＴＲＰ）を算出するための分割数Ｎθ及びＮφは、それぞれ、例えば、１２に設定されている。これにより、本実施形態においては、角度標本数（Ｎ）は、Ｎ＝１３２（＝（１２－１）×１２）として求められる。こうして求められた１３２個の角度標本点ＰＳは、球体Ｂの表面上に表すと図５（ｂ）に示すような位置となる。

本実施形態に係る測定装置１では、図５（ｂ）に示すように、球座標系（ｒ，θ，φ）の基準点から等距離の１３２ポイントの位置でそれぞれＥＩＲＰが測定され、さらに全てのポイント位置でのＥＩＲＰが加算される。そして、上記各ＥＩＲＰの加算結果、すなわち、１３２ポイントの全ての角度標本点ＰＳでのＥＩＲＰの総和に基づいて、ＤＵＴ１００の全放射電力（ＴＲＰ）が求められる。

ＴＲＰ測定に際し、統合制御装置１０は、ＤＵＴ走査機構５６を駆動制御することでＤＵＴ１００の全球面走査を実施する。ＤＵＴ１００の全球面走査において、統合制御装置１０は、駆動モータ５６ｆの駆動／非駆動を繰り返しつつターンテーブル５６ａをアジマス軸中心に回転駆動する一方で、駆動モータ５６ｇの駆動／非駆動を繰り返しつつ載置トレイ５６ｄをロール軸中心に回転駆動させる。その際、統合制御装置１０は、アンテナ１１０のアンテナ面が１つの角度標本点ＰＳを向くタイミングごとに駆動モータ５６ｆ及び駆動モータ５６ｇを非駆動とするように制御する。このＤＵＴ１００の全球面走査制御により、載置トレイ５６ｄに載置されているＤＵＴ１００は、アンテナ１１０が球座標系（ｒ，θ，φ）を規定する球体Ｂの中心である基準点の位置に保たれたまま、アンテナ１１０のアンテナ面が球体Ｂの全ての角度標本点ＰＳを順次向く（指向する）ように、基準点を中心に回転駆動される。

図６に示すように、上記球座標系（ｒ，θ，φ）系における特定の角度標本点ＰＳ（１点）の位置には、試験用アンテナ５が配置されている。上述した全球面走査において、ＤＵＴ１００は、アンテナ１１０のアンテナ面が試験用アンテナ５の受光面に順次に向くように駆動（走査）される。これにより、試験用アンテナ５は、全球面走査が行われるＤＵＴ１００のアンテナ１１０との間でＴＲＰ測定のための信号の送受信を行うことが可能となる。ここで送受信される信号は、ＮＲシステムシミュレータ２０から試験用アンテナ５を介して送信される試験用信号と、該試験用信号を受信したＤＵＴ１００がアンテナ１１０より送信する信号であって、試験用アンテナ５を介して受信される被測定信号である。

統合制御装置１０では、図５（ｂ）に示す球座標系（ｒ，θ，φ）系において、ＤＵＴ１００があるθの角度を保ったままφ方向の各角度標本点ＰＳを通過するように走査されるのに合わせて、ＮＲシステムシミュレータ２０を駆動して信号発生部２１ａ、送受信部２１ｆより上記試験用信号を発生させ、該試験用信号を、信号処理部２５を介して試験用アンテナ５から送信させる。ここでＤＵＴ１００は、アンテナ１１０で上記試験用信号を受信すると、当該試験用信号の受信に対応した応答信号を送出する。

統合制御装置１０は、ＮＲシステムシミュレータ２０をさらに駆動し、ＤＵＴ１００が上記試験用信号の受信に応答して送信し、試験用アンテナ５で受信された信号を、信号処理部２５から送受信部２１ｆを介して信号測定部２１ｂに被測定信号として受信させる。さらに統合制御装置１０は、受信した被測定信号に基づいてＥＩＲＰの測定に係る信号処理を行わせるように信号測定部２１ｂを駆動制御する。こうしたＥＩＲＰの測定制御を、θの角度を変えて全ての角度標本点ＰＳを通過するＤＵＴ１００の全球面走査に合わせ実施することで、ＮＲシステムシミュレータ２０では、ＮＲに対応して球座標系（ｒ，θ，φ）系の全ての角度標本点ＰＳについてのＥＩＲＰを測定することができる。また、統合制御装置１０は、全ての角度標本点ＰＳについてのＥＩＲＰ測定値の総和であるＴＲＰを求めることができる。

さらに統合制御装置１０は、ＯＴＡチャンバ５０内で２軸ポジショナ（ＤＵＴ走査機構５６）の角度を変更しながら行うＤＵＴ１００の性能試験、具体的には、例えば、ＥＩＲＰ－ＣＤＦ、ＥＩＳ－ＣＤＦ、ＴＲＰ等の測定項目の測定の実施に先立って、ＮＲシステムシミュレータ２０における試験用信号の出力レベル（電力レベル）を、例えば、３ＧＰＰ規格によって規定された適正なレベルに調整する出力レベル制御機能を有している。この出力レベル制御機能によって、上記各項目の測定に際してＤＵＴ１００が最大の能力を発揮できる試験用信号の出力レベルのサーチ（ＥＩＳサーチ）が行われる。このため、ＮＲシステムシミュレータ２０による上述した出力レベル制御機能は、ＤＵＴ１００にとっての受信感度を探る受信感度試験に係る制御機能という見方もできる。受信感度試験に係る制御機能は、統合制御装置１０の制御部１１に設けられる受信感度試験制御部１８によって実現される。

（受信感度試験における試験用信号の出力レベルの収束制御について）
統合制御装置１０において、受信感度試験制御部１８は、信号発生器であるＮＲシステムシミュレータ２０とＤＵＴ１００との間で試験用信号を複数回送受信することによりＤＵＴ１００の受信感度試験の制御を実施する。この制御においては、受信感度試験中の各回の試験用信号の送受信に合わせてスループットが測定され、該スループットの測定値とスループット閾値との比較結果に応じて試験用信号の出力レベルをレベルダウン、若しくはレベルアップさせていきながら、適宜なスループットの値（測定結果）が得られる出力レベルに収束させていくようになっている。

上述した受信感度試験における試験用信号の出力レベルの収束制御の一例として、本実施形態に係る測定装置１では、統合制御装置１０の受信感度試験制御部１８に、ＤＵＴ１００の測定開始時に設定される試験条件のうちの特定の設定パラメータ（例えば、スタート出力レベルＯＬ０、初期ステップレベルＳＬ０）をＡＩ予測技術に基づいて初期設定値から変更設定する初回測定パラメータ変更設定機能を設け、ＥＩＳサーチの開始地点が本来のＥＩＳサーチの終了地点にできるだけ近接するように試験用信号の出力レベルをダイナミック（動的）に制御するようにしている。上記初回測定パラメータ変更設定機能を設けることで、本実施形態に係る測定装置１では、初期設定した出力レベルから測定回数が増えるごとに順次一定レベルずつ変化（リニアに変化）させていく（図１３の曲線Ｌ１、Ｌ２参照）方法、試験用信号の出力レベルに関してレベルダウン、若しくはレベルアップを繰り返し実行しながら、該出力レベルをノンリニアに変動させるように制御する方法（図１３の曲線ＮＬ１、ＮＬ２参照）、さらにはＣＰ判定処理を適用して測定回数を減らす既存の各種方法に比べて、試験用信号の出力レベルを目標とするレベルにまでいち早く収束させ、ＥＩＳサーチ時間を大幅に削減できるようにしている。

初回測定パラメータ変更設定機能として受信感度試験制御部１８に備わるＡＩ予測試験条件変更設定部１８ｂは、当該測定装置１の過去におけるＤＵＴ１００の受信感度試験の測定ログファイルからパラメータデータと測定結果データの関連性を機械学習させることにより取得したＡＩ予測モデルＤａｉを保持し、該ＡＩ予測モデルＤａｉを使って上述したスタート出力レベル（ＯＬ０）、初期ステップレベル（ＳＬ０）をＡＩ予測に基づいて初回測定、あるいは２回目の測定に用いる値に変更設定するようになっている。

ＡＩ予測モデルＤａｉの生成処理手順について、図７を参照して詳しく説明する。図７に示すように、ＡＩ予測モデルＤａｉを生成するには、本実施形態に係る測定装置１における過去に実施した複数回のＤＵＴ１００の受信感度測定で収集した測定ログファイルを用意する（ステップＳ３１）。用意する測定ログファイルとしては、例えば、ＥＩＳ測定ログファイル、またはＥＩＳ－ＣＤＦ測定ログファイル等が挙げられる。これらの測定ログファイルは、生成目標とするＡＩ予測モデルＤａｉとしての十分な精度を保ち得る測定回数（例えば、１０回以上）に相当する数を収集するのが好ましい。

次いで、この生成処理手順では、ステップＳ３１で用意されたｎ回の測定で収集されたＥＩＳ測定ログファイル（あるいは、ＥＩＳ－ＣＤＦログファイル）からＥＩＳ測定結果データ（同、ＥＩＳ－ＣＤＦログファイル）とそれぞれの測定に際して使用（設定）されたパラメータデータとを抽出する（ステップＳ３２）。ここで抽出するパラメータデータとしては、例えば、外部接続用ケーブルの損失（外部パスロス）、ＤＵＴ走査機構５６の角度、すなわちＤＵＴ１００の方位角度（θ、φ）、測定対象の周波数が少なくとも挙げられる。

さらにこの生成処理手順においては、ステップＳ３２で抽出されたパラメータデータと測定結果データの関係を、ＡＩを使って機械学習させ（ステップＳ３３）、該機械学習結果をＡＩ予測モデルＤａｉとしてまとめて所定の記憶領域に格納する（ステップＳ３４）。ここでＡＩ予測モデルＤａｉは、過去の測定ログファイルから抽出したパラメータデータの種別等を反映した複数種類のものが生成されるようになっている。本実施形態において、ＡＩ予測モデルＤａｉは、例えば、統合制御装置１０の制御部１１におけるＲＡＭ１１ｃ内に設けられるＡＩ予測モデル格納部１８ｂ１に格納される。

図７に示す生成処理手順から理解できるように、当該生成処理手順で生成されたＡＩ予測モデルＤａｉは、過去に実施された複数回のＤＵＴ１００の受信感度試験でのパラメータデータと測定結果データの関連性を統計したデータで構成されたものである。要するに、ＡＩ予測モデルＤａｉは、パラメータデータがどのような値のときにどのような測定結果が得られるかを示す統計データである。

これにより、本実施形態に係る測定装置１では、ＤＵＴ１００の受信感度試験にて初期設定される設定パラメータから、ＡＩ予測モデルＤａｉに照らして、既存の測定方法でのＥＩＳサーチパス上の最後のＥＩＳサーチ点から所定サーチ回数の範囲内のＥＩＳサーチ点での試験用信号の出力レベル、あるいはステップレベル等をＡＩ予測によって探り当てることが可能となる。言い換えると、本実施形態に係る測定装置１では、初期設定される設定パラメータを用いた上記最後のＥＩＳサーチ点までのＥＩＳサーチを飛ばし、該最後のＥＩＳサーチ点からＥＩＳサーチを開始することができ、ＥＩＳサーチ回数を大幅に低減することができる。

また、本実施形態では、ＡＩ予測モデルＤａｉを生成すためのパラメータデータとして外部パスロス、ＤＵＴ１００の方位角度（θ、φ）、測定対象周波数を用いるため、ＡＩ予測モデルを用いて、当該各パラメータデータを加味した正確なＡＩ予測結果を導き出すことができ、測定精度を低下させることなく、試験用信号を極めて短時間、かつ、確実に試験可能レベルに設定することができるようになる。

本実施形態に係る測定装置１でのＡＩ予測を適用したＤＵＴの受信感度試験と既存の装置（従来装置）でのＤＵＴの受信感度試験の測定開始位置の比較例を図８に示している。図８に示すように、既存の装置では、試験用信号の出力レベルをリニアに制御するにしても、ノンリニアに制御するにしても、ＥＩＳの測定開始時に初期設定された固定値（例えば、ＯＬ０＝－８０ｄＢｍ）から測定が開始される（図中、「従来測定」）。このため、仮に、－９０ｄＢｍで終了条件を満たすことになる「ＥＩＳ１」の測定を「従来測定」手順で実施した場合には、測定回数が例えばｎ回となる。他方、仮に－９６ｄＢｍで終了条件を満たすことになる「ＥＩＳ２」の測定を「従来測定」手順で実施した場合には、測定回数がさらに多い例えばＮ（Ｎ＞ｎ）回となる。

これに対し、本実施形態に係る測定装置１でのＡＩ予測を用いた測定（図中、「ＡＩ測定」）においては、上記初期設定された設定パラメータからＡＩ予測モデルＤａｉを使ってＡＩ予測された値（例えば、ＯＬ０１：（予測値））からＥＩＳサーチが開始される。ここでＡＩ予測された値ＯＬ０１は、ＥＩＳ１の測定に際しては、例えば、「従来測定」における最後のＥＩＳサーチポイント（「測定ｎ回目」に対応するポイント）から所定範囲内（この例では、１回前）のＥＩＳサーチポイントに対応する値となる。これにより、ＡＩ予測に基づくＥＩＳ１の測定は、試験用信号の出力レベルが例えば－８９．８ｄＢｍに設定されて初回の測定が実施され、次いでその出力レベルが例えば－９０ｄＢｍに設定されて２回目の測定が実施され、ここで終了条件を満足したと判定され、測定２回目でＥＩＳサーチが終了することとなる。

また、ＥＩＳ２の測定に際しては、ＡＩ予測された値ＯＬ０１が、例えば、「従来測定」における最後のＥＩＳサーチポイント（「測定Ｎ回目」に対応するポイント）から所定範囲内（この例では、１回前）のＥＩＳサーチポイントに対応する値となる。これにより、ＡＩ予測に基づくＥＩＳ２の測定は、試験用信号の出力レベルが例えば－９５．８ｄＢｍに設定されて初回の測定が実施され、次いでその出力レベルが例えば－９６ｄＢｍに設定されて２回目の測定が行われ、ここで終了条件を満足したと判定され、測定２回目でＥＩＳサーチが終了することとなる。

図８に示すように、本実施形態に係る測定装置１では、設定するパラメータに応じて測定開始する試験用信号の出力レベルをダイナミックに適応制御することにより、常に固定値から測定開始する「従来測定」に比べて、ＥＩＳサーチパスを大幅に短くすることができ、ＥＩＳサーチ回数を大幅に低減して試験用信号の出力レベルをより短時間で試験可能レベルに設定可能となる。

以上に述べたＡＩ予測モデルを用いたＡＩ予測に基づくＤＵＴ１００の受信感度試験の時間短縮手法を踏まえ、以下、本実施形態に係る測定装置１の統合制御装置１０によるＤＵＴ１００の受信感度試験に係る試験用信号の出力レベル可変設定制御動作について図９、図１０を参照して説明する。

図９は、本実施形態に係る測定装置１でのＤＵＴ１００の受信感度試験におけるＡＩ予測を適用した試験用信号の出力レベル可変設定制御動作を示すフローチャートである。図９において、ステップＳ２０、Ｓ１ａ、Ｓ２５、Ｓ２６、Ｓ２７は、上述したＡＩ予測を適用した出力レベル変更設定処理の部分である。このＡＩ予測を適用した出力レベル変更設定処理を実現するための制御データの格納形態としては、設定パラメータからＡＩ予測モデルＤａｉに基づいて事前にＡＩ予測した結果のデータ（予測結果データ）を格納しておく方法と、ＡＩ予測モデルＤａｉを格納しておき、ＤＵＴ１００の受信感度試験の開始時に初期設定された設定パラメータからＡＩ予測モデルＤａｉに基づいてその都度ＡＩ予測を実施する方法とが考えられる。以下においては、前者の方法を適用することを前提に説明するものとする。制御データの格納先は、いずれも、例えば、ＡＩ予測モデル格納部１８ｂ１である。

本実施形態に係る測定装置１において、図９に示すフローチャットに沿ったＤＵＴ１００の受信感度試験を開始するにはまず、統合制御装置１０の制御部１１における受信感度試験制御部１８によって試験条件（設定パラメータ）の設定（初期設定）を行う（ステップＳ１）。具体的に、試験条件設定部１８ａは、操作部１２での操作入力を受け付けることにより、例えば、上述した初期ステップレベルＳＬ０、スタート出力レベルＯＬ０、エラートレランスレベルＥＬ、接続断判定閾値ＤＴ、スループットの急峻低下領域の判定条件（ステップＳ７、Ｓ９ａ参照）のそれぞれの値を設定する。

ステップＳ１で設定するスタート出力レベルＯＬ０、初期ステップレベルＳＬ０としては、それぞれ、例えば、－７５ｄＢｍ、１０ｄＢを想定している。エラートレランスレベルＥＬは、例えば、０．２ｄＢを想定している。接続断判定閾値ＤＴは、例えば、－９０ｄＢｍを想定している。また、スループットの急峻低下領域の判定条件としては、例えば、スループット測定値が上述した基準値に対して９５％を超えて９９％以下の割合の範囲という条件を想定している。

ステップＳ１での試験条件の初期設定が完了した後、受信感度試験制御部１８では、初期設定されたスタート出力レベルＯＬ０をＡＩ予測に基づいて変更して設定する処理を実施する（ステップＳ１ａ）。具体的に、受信感度試験制御部１８において、ＡＩ予測試験条件変更設定部１８ｂは、例えば、ステップＳ１で設定されたスタート出力レベルＯＬ０に基づいてＡＩ予測モデル格納部１８ｂ１に格納されているＡＩ予測モデルＤａｉに基づくＡＩ予測結果データをサーチし（ステップＳ２０）、設定中のスタート出力レベルＯＬ０の値を、当該スタート出力レベルＯＬ０に対応して事前にＡＩ予測されたＡＩ予測出力レベル（ＯＬ０１）に変更して設定する（ステップＳ１ａ）。すなわち、初期設定されたスタート出力レベルＯＬ０を初回出力レベルＯＬ０に変更設定する。

次いで、受信感度試験制御部１８は、測定回数ｎを＋１インクリメントしたうえで（ステップＳ２）、Ｎ回目の測定に係るパラメータの設定、及びそれ以前に例えばＯＬレベルダウン処理を行うステップＳ８（ステップＳ８ａ、Ｓ８ｂを含む）やＯＬレベルアップ処理を行うステップＳ９で設定された出力レベルＯＬの値などの読み込む処理を行う（ステップＳ３）。引き続き受信感度試験制御部１８は、ステップＳ３で設定された（若しくは、読み取られた）測定に係るパラメータに基づいて試験用信号を送信させつつＤＵＴ１００のスループットに関するｎ回目の測定を行うように制御する（ステップＳ４）。

ステップＳ３、Ｓ４の制御（スループット測定制御）の具体例として、受信感度試験制御部１８は、１回目の測定に関するパラメータとしては、ステップＳ１での試験条件の設定、及びステップＳ２０でのＡＩ予測に基づく変更設定で設定された初回出力レベルＯＬ０１を読み出し、ＤＵＴ１００を初回出力レベルＯＬ０１で駆動制御させつつスループット測定を実施する。

次いで受信感度試験制御部１８は、今回のスループット測定に係る前の回（前回）のスループット測定のときに対するステップレベルの間隔、すなわち、ステップレベルＳＬ（ｎ）がステップＳ１で設定されたエラートレランスレベルＥＬよりも大きいかをチェックする（ステップＳ５）。ここでステップレベルＳＬ（ｎ）がエラートレランスレベルＥＬよりも大きいと判定された場合（ステップＳ５でＹＥＳ）、受信感度試験制御部１８は、ステップＳ２５へ移行し、スループット測定及びステップレベルのサーチ制御を続行する。なお、１回目のスループット測定に際しては、上述したように初回出力レベルＯＬ０１の試験用信号の送信から開始されており、前回の測定に対するＳＬの変化幅を有しないため、ステップＳ５の処理がスルーされてステップＳ２５へと進む。

ステップＳ２５において、受信感度試験制御部１８は、測定回数Ｎが１であるか否かをチェックする。ここで測定回数Ｎが１ではない（すなわち、２以上である）と判定された場合（ステップＳ２５でＮＯ）、受信感度試験制御部１８は、ステップＳ６以降の処理、すなわち、既存の測定方法に基づく測定処理に移行する。

これに対して、測定回数Ｎが１であると判定された場合（ステップＳ２５でＹＥＳ）、受信感度試験制御部１８では、ステップＳ１で設定された初期ステップレベルＳＬ０から事前にＡＩ予測されたＡＩ予測ステップレベルＳＬ０１を取得し、該取得したＡＩ予測ステップレベルＳＬ０１に基づき２回目の測定に用いる出力レベルＯＬ１を設定する処理を実施する（ステップＳ２６、ステップＳ２７）。具体的に、受信感度試験制御部１８において、ＡＩ予測試験条件変更設定部１８ｂは、ＡＩ予測モデル格納部１８ｂ１に格納されているＡＩ予測結果データをサーチし、ステップＳ１で設定された初期ステップレベルＳＬ０から事前にＡＩ予測されたＡＩ予測ステップレベルＳＬ０１を取得する（ステップＳ２６）。次いで、ＡＩ予測試験条件変更設定部１８ｂは、その取得したＡＩ予測ステップレベルＳＬ０１と、ステップＳ１ａで変更設定されている初回出力レベルＯＬ０１とに基づいて２回目の測定に用いる試験用信号の出力レベルＯＬ１（＝ＯＬ０１＋ＳＬ０１））を設定する処理を実施する（ステップＳ２７）。

その後、受信感度試験制御部１８ではステップＳ２、Ｓ３、Ｓ４の処理を続行する。すなわち、受信感度試験制御部１８は、測定回数ｎを＋１インクリメントし（ステップＳ２）、２回目の測定に係るパラメータの設定、及びそれ以前に例えばステップＳ２７でＡＩ予測に基づいて設定された出力レベルＯＬ１の値などを読み込んだうえで（ステップＳ３）、該設定された（若しくは、読み取られた）測定に係るパラメータに基づいて試験用信号を送信させつつＤＵＴ１００のスループットに関する２回目の測定を行うように制御する（ステップＳ４）。

具体的に、ステップＳ３、Ｓ４の制御（スループット測定制御）において、受信感度試験制御部１８は、ステップＳ２７で設定された出力レベルＯＬ１（＝ＯＬ０１＋ＳＬ０１）を読み込み、ＤＵＴ１００を該出力レベルＯＬ１で駆動制御させつつ２回目のスループット測定を実施する。

さらに受信感度試験制御部１８は、今回のスループット測定に係る前回のスループット測定のときに対するステップレベルの間隔、すなわち、ステップレベルＳＬ（ｎ）がステップＳ１で設定されたエラートレランスレベルＥＬよりも大きいかをチェックする（ステップＳ５）。

ここでステップレベルＳＬ（ｎ）がエラートレランスレベルＥＬ以下であると判定された場合（ステップＳ５でＮＯ）、受信感度試験制御部１８は、スループット測定及びステップレベルのサーチを停止し、このときの測定結果を出力（ステップＳ１０）して一連の測定動作を終了する。これに合わせて、受信感度試験制御部１８は、ステップＳ１０で出力したスループットの測定結果及びＡＩ予測試験条件変更設定部１８ｂにて設定されたパラメータデータをフィードバックし、ステップＳ２０で用いるＡＩ予測モデルＤａｉ（ＡＩ予測モデルＡ１）を更新する処理を実施する（ステップＳ１１）。

これに対し、ステップレベルＳＬ（ｎ）がエラートレランスレベルＥＬよりも大きいと判定された場合（ステップＳ５でＹＥＳ）、受信感度試験制御部１８は、測定回数Ｎが１であるか否かをチェックする（ステップＳ２５）。ここで測定回数Ｎが１ではない（すなわち、２以上である）と判定された場合（ステップＳ２５でＮＯ）、受信感度試験制御部１８は、ステップＳ６以降の処理、すなわち、既存の測定方法に基づく測定処理を実行する。

このように、図９に示す本実施形態に係る測定装置１でのＤＵＴ１００の受信感度試験に係る試験用信号の出力レベル可変設定制御動作においては、ステップＳ１で初期設定したスタート出力レベルＯＬ０からのＡＩ予測に基づく設定変更を２回（ステップＳ１ａ、及びステップＳ２６）までに制限し、その間にステップＳ５で「ＹＥＳ」の判定結果が得られない場合には、ステップＳ６以降の既存の測定方法に基づく測定処理を実行する例を挙げている。ここで、ＡＩ予測に基づく変更設定回数は２回に限られるものではなく、それ以外の回数とすることも可能である。

ステップＳ６以降の既存の測定方法に基づく測定処理は、特許文献１の図７のフローチャートにおけるステップ６以降の処理と同じであり、概略以下の通りである。

まず、ステップＳ６において、受信感度試験制御部１８は、ステップＳ４でのスループット測定値と予め設定したスループット閾値とを比較し、スループット測定値がスループット閾値以上であると判定されると（ステップＳ６で「ＰＡＳＳ」の状態）ステップＳ７へ進み、スループットの測定値が上記基準値に対して９５％を超えて９９％以下の割合の範囲という判定条件を満たすか否かを判定する。

ここでスループットの測定値が上記基準値に対して９９％を超えており、上記判定条件を満たしていないと判定された場合（ステップＳ７でＮＯ）、受信感度試験制御部１８は、試験用信号の出力レベルを下げるＯＬレベル（出力レベル）ダウン処理（Ａ）を実行し（ステップＳ８ａ）、他方、スループットの測定値が上記基準値に対して９５％を超えて９９％以下の割合の範囲内にあり、上記判定条件を満たしていることが低下状態判定部１８ｄにより判定された場合（ステップＳ７でＹＥＳ）、受信感度試験制御部１８は、ＯＬレベルダウン処理（Ｂ）を実行する（ステップＳ８ｂ）。ＯＬレベルダウン処理（Ａ）は図１０（ａ）に示す通りであり、ＯＬレベルダウン処理（Ｂ）は図１０（ｂ）に示す通りである。

一方、上記ステップＳ６でスループット（測定値）がスループット閾値以下であると判定されると（ステップＳ６で「ＦＡＩＬ」の状態）、次いで受信感度試験制御部１８は、ステップＳ９ａでの判定処理を実行する。ここでスループットの測定値が上記基準値に対して８０％を超えており、上記判定条件を満たしていると判定された場合（ステップＳ９ａでＹＥＳ）、試験用信号の出力レベルを下げるＯＬレベルアップ処理（Ａ）を実行し、他方、スループットの測定値が上記基準値に対して８０％以下で上記判定条件を満たしていないと判定された場合（ステップＳ９ａでＮＯ）、ステップＳ９ｃでの判定結果に応じてＯＬレベルアップ処理（Ｂ）または（Ｃ）を実行する。

上記ＯＬレベルダウン処理（Ａ）及び（Ｂ）、若しくはＯＬレベルアップ処理（Ａ）、（Ｂ）、（Ｃ）の処理後、受信感度試験制御部１８は、ステップＳ２～Ｓ４の処理を続行し、続くステップＳ５でステップレベルＳＬ（ｎ）がエラートレランスレベルＥＬ以下であると判定された場合（ステップＳ５でＮＯ）、スループット測定及びステップレベルのサーチを停止し（ステップＳ１０）、その後、一連の測定動作を終了する。ここでも、受信感度試験制御部１８は、スループットの測定結果をフィードバックし、ステップＳ２０で用いるＡＩ予測モデルＤａｉ（ＡＩ予測モデルＡ１）を更新する処理を実施する（ステップＳ１１）。

図９に示した一連の測定制御によれば、ステップＳ１で初期設定したスタート出力レベルＯＬ０、初期ステップレベルＳＬ０をＡＩ予測に基づいて変更設定する処理（ステップＳ２０、Ｓ１ａ、Ｓ２５、Ｓ２６、Ｓ２７参照）を、例えば、測定回数２回目まで対象に実施するようになっている。

このＡＩ予測に基づくスタート出力レベルＯＬ０の変更設定処理によれば、例えば、たった２回のＥＩＳパスサーチで測定を完了することができ、図９のステップＳ６以降で実行するノンリニア、かつ、ＣＰ判定条件を採用した既存の測定方法に基づく測定に比べてＥＩＳサーチ回数をさらに低減することができる。この点について、以下、具体例を挙げて説明する。

図１１は、本実施形態に係る測定装置１でのＡＩ予測を適用したＤＵＴ１００の受信感度試験と既存装置でのＤＵＴ１００の受信感度試験とに係る測定回数と試験用信号の出力レベル及びスループット測定結果可否判断結果との関係を示す表図である。図１２は、図１１の表図に示す本実施形態に係る測定装置１でのＡＩ予測を適用したＤＵＴ１００の受信感度試験と既存装置でのＤＵＴ１００の受信感度試験とに係る測定回数と試験用信号の出力レベル及びスループット測定結果可否判断結果との関係を示すグラフである。

図１１に示す表図において、左から２行目と３行目が既存装置でのノンリニアの出力レベル制御によるＤＵＴ１００の受信感度試験に係るデータ例を示し、左から４行目と５行目が本実施形態に係る測定装置１のＡＩ予測による出力レベル制御を適用したＤＵＴ１００の受信感度試験に係る測定回数と試験用信号の出力レベル及びスループット測定結果可否判断結果との関係を示している。同様に、図１２に示すグラフにおいては、図１１における本実施形態に係るＡＩ予測による試験用信号の出力レベル制御のデータ例に対応するグラフを符号Ｃ１（測定回数と出力レベルの関係を示すグラフ）で示し、図１１における既存装置でのノンリニアの試験用信号の出力レベル制御のデータ例に対応するグラフを符号Ｃ２（測定回数と出力レベルの関係を示すグラフ）で示している。

図１１（左から１、２～３列目参照）、並びに図１２における特性Ｃ２に示されるように、既存装置でのノンリニアの出力レベル制御によるＤＵＴ１００の受信感度試験では、１回目は特性Ｃ２の測定点Ｐ２１においてＤＵＴ１００を出力レベルＯＬ（０）＝－８０ｄＢｍとして試験を開始し、このとき測定されたスループットは許容範囲内（ＰＡＳＳ）の判定となってＯＬレベルダウン処理が実施される。

このＯＬレベルダウン処理の結果、２回目は特性Ｃ２の測定点Ｐ２２においてＤＵＴ１００を出力レベルＯＬ（１）＝－９０ｄＢｍとして試験を開始し、このとき測定されたスループットは許容範囲内（ＰＡＳＳ）の判定となってさらにＯＬレベルダウン処理が実施される。

このＯＬレベルダウン処理の結果、３回目は特性Ｃ２の測定点Ｐ２３においてＤＵＴ１００を出力レベルＯＬ（２）＝－９５ｄＢｍとして試験を開始し、このとき測定されたスループットは許容範囲内（ＰＡＳＳ）の判定となってさらにＯＬレベルダウン処理が実施される。

このＯＬレベルダウン処理の結果、４回目は特性Ｃ２の測定点Ｐ２４においてＤＵＴ１００を出力レベルＯＬ（３）＝－９７．５ｄＢｍとして試験を開始し、このとき測定されたスループットは許容範囲外（ＦＡＩＬ）の判定となってＯＬレベルアップ処理が実施される。

このＯＬレベルアップ処理の結果、５回目は特性Ｃ２の測定点Ｐ２５においてＤＵＴ１００を出力レベルＯＬ（４）＝－９６．２ｄＢｍとして試験を開始し、このとき測定されたスループットは許容範囲外（ＦＡＩＬ）の判定となってさらにＯＬレベルアップ処理が実施される。

このＯＬレベルアップ処理の結果、６回目は特性Ｃ２の測定点Ｐ２６においてＤＵＴ１００を出力レベルＯＬ（５）＝－９５．６ｄＢｍとして試験を開始し、このとき測定されたスループットは許容範囲内（ＰＡＳＳ）の判定となってＯＬレベルダウン処理が実施される。

このＯＬレベルダウン処理の結果、７回目は特性Ｃ２の測定点Ｐ２７においてＤＵＴ１００を出力レベルＯＬ（６）＝－９５．９ｄＢｍとして試験を開始し、このとき測定されたスループットは許容範囲外（ＦＡＩＬ）の判定となってＯＬレベルアップ処理が実施される。

このＯＬレベルアップ処理の結果、８回目は特性Ｃ２の測定点Ｐ２８においてＤＵＴ１００を出力レベルＯＬ（７）＝－９５．８ｄＢｍとして試験を開始し、このとき測定されたスループットは許容範囲外（ＦＡＩＬ）の判定となるが、当該スループットと前回（７回目に）測定されたスループットとの間のステップレベルＳＬｎはエラートレランスレベルＥＬ以下となって一連の測定が終了する。

一方、図１１（左から１、４～５列目参照）、並びに図１２における特性Ｃ１に示されるように、本実施形態に係る測定装置１でのＡＩ予測による出力レベル制御を適用したＤＵＴ１００の受信感度試験によれば、１回目は、特性Ｃ１の測定点Ｐ１１において、ＤＵＴ１００をＡＩ予測（図９のステップＳ２０、Ｓ１ａ参照）で変更設定された初回出力レベルＯＬ（０１）＝－９５．９ｄＢｍとして試験を開始し、このとき測定されたスループットは許容範囲外（ＦＡＩＬ）の判定となってＯＬレベルアップ処理が実施される。

このＯＬレベルアップ処理の結果、２回目は特性Ｃ１の測定点Ｐ１２においてＤＵＴ１００をＡＩ予測（図９のステップＳ２６、Ｓ２７参照）で設定変更された出力レベルＯＬ（１）＝－９５．８ｄＢｍとして試験を開始し、このとき測定されたスループットは許容範囲内（ＰＡＳＳ）の判定となるが、当該スループットと前回（１回目に）測定されたスループットとの間のステップレベルＳＬｎはエラートレランスレベルＥＬ以下となって測定が終了する。

図１２における特性Ｃ２に示されるように、既存装置でのＤＵＴ１００の受信感度試験においてはノンリニアの出力レベル制御を実施したとしても、Ｐ２１、Ｐ２２、Ｐ２３、Ｐ２４、Ｐ２５、Ｐ２６、Ｐ２７、Ｐ２８での８回の測定を行う必要があった。

これに対して、本実施形態に係る測定装置１でのＤＵＴ１００の受信感度試験では、ＡＩ予測に基づく試験用信号の初回出力レベルの動的制御を適用したことで、Ｐ１１とＰ１２での２回の測定で受信感度試験を終了できるようになった。

本実施形態に係る測定装置１でのＤＵＴ１００の受信感度試験が少ない測定回数で終えることができる要因は、過去の測定ログファイルから生成されるＡＩ予測モデルＤａｉに基づくＡＩ予測技術を駆使し、初回の測定を、過去の測定の終了間際の設定パラメータ（例えば、出力レベル）に近い値から開始させることにある。これを実現するため、本実施形態に係る測定装置１では、ＡＩ予測によって、初期設定されたスタート出力レベルＯＬ０（例えば、－７５ｄＢｍ）を、過去の測定における測定終了から例えば２回前の値に相当するＡＩ予測出力レベルＯＬ０１（例えば、－９５．９ｄＢｍ：図１１参照）へと変更設定している。ここで変更設定された設定パラメータ（ＡＩ予測出力レベル（初回出力レベル）ＯＬ０１）の値が過去の測定における同設定パラメータの測定終了近傍の値に近ければ近いほど、目標とするスループットの値（測定結果）が得られる出力レベルへの収束時間を短縮できることになる。

本実施形態に係る測定装置１でのＡＩ予測を適用したＤＵＴ１００の受信感度試験の時間短縮効果について図１３を参照して説明する。図１３に示すグラフにおいて、曲線Ｌ１、Ｌ２は、既存装置でのＤＵＴ１００の受信感度試験におけるリニアの出力レベル制御に基づくＥＩＳサーチのサーチパスを示し、曲線ＮＬ１、ＮＬ２は、既存装置でのＤＵＴの受信感度試験におけるノンリニアの出力レベル制御に基づくＥＩＳサーチのサーチパスを示している。曲線Ｌ２と曲線ＮＬ２とで示されるように、既存装置でのＤＵＴ１００の受信感度試験におけるリニアとノンリニアの出力レベル制御に基づくＥＩＳサーチは、共に、ＥＳＩポイント１で終了している。

このような測定状況下において、本実施形態に係る測定装置１でのＡＩ予測を用いた測定に際しては、例えば、上記ノンリニアの出力レベル制御に基づく測定開始時に設定された初回測定ＯＬレベル（スタート出力レベル）から、ＡＩ予測モデルＤａｉを使ったＡＩ予測によって、例えばＥＳＩポイント１から所定の範囲内のＡＩ予測レンジＲａｉ内のＡＩ予測ポイントＰａｉ０に対応する値（ＡＩ予測結果）を上述した初回出力レベルＯＬ０１（図９のステップＳ１ａ参照）として設定することができる。これにより、測定装置１におけるＡＩ予測を適用したときのＥＩＳサーチパスは、図１３のグラフ上の曲線Ｌａｉによって示されるように、ＡＩ予測レンジＲａｉ内でＡＩ予測ポイントＰａｉ０から始まり、次のＡＩ予測ポイントＰａｉ１（測定結果）を経てＥＳＩポイント１で終わる２回の測定を包含するものとなる。

図１１、図１２に示す測定結果データが得られるときのＤＵＴ１００の受信感度試験を前提に説明すると、本実施形態に係る測定装置１では、図９のステップＳ１ａにおいて、ステップＳ１で設定されたスタート出力レベルＯＬ０から図１３に示すＡＩ予測レンジＲａｉ内のＡＩ予測ポイントＰａｉ０に対応する値（初回出力レベルＯＬ０１）をＡＩ予測に基づいて変更設定している。その後、２回目の測定に際しては、図９のステップＳ２７で図１３に示すＡＩ予測レンジＲａｉ内のＡＩ予測ポイントＰａｉ２に対応する値ＯＬ１＝（ＯＬ０１＋ＳＬ０１）をＡＩ予測に基づいて変更設定し、２回目のスループット測定後、ステップＳ５での「ＹＥＳ」判定を得て測定を終了している。

図１３は、図５（ｂ）に示す角度標本点ＰＳごとのＥＩＳ測定に際しての出力レベルのＡＩ予測結果を開示したものであるが、ＥＩＳ－ＣＤＦを測定する場合にはさらに多くの時間を必要とする。ここで、図１４を参照し、本実施形態に係る測定装置１でのＡＩ予測を適用したＥＩＳ－ＣＤＦ測定で達成できる測定時間と機械学習のための測定回数との関係について検証する。この検証にあたっての測定装置１における測定条件については、例えば、Ｍｅａｓ．Ｍｅｔｒｉｃ（測定対象）はＥＩＳ－ＣＤＦ、Ｇｒｉｄ ＴｙｐｅはＣｏｎｓｔａｎｔ Ｓｔｅｐ、Ｐｏｎｔ（角度標本点ＰＳの数）は１６８、Ｒａｎｇｅ（測定範囲）は半球、Ｓｔｅｐ（次の角度標本点ＰＳまで移動する角度）は１５ｄｅｇ、Ｅｒｒｏｒ Ｃｏｎｔｒｏｌ（上述した「エラートレランスレベルＥＬ」に同じ）は０．２ｄＢとした。

上述した測定条件下で検証用に用意された測定装置１でのＥＩＳ－ＣＤＦ測定を実施したところ、測定回数に応じて図１４のグラフで示されるような検証結果を得た。図１４のグラフにおいて、「測定０回目」に対応する測定は、ＡＩ予測を適用しないで、つまり、従来装置での測定した場合の測定結果に相当するものである。また、「測定１回目」に対応する測定は、デフォルトで用意したＡＩ予測モデルを用いて測定した場合の測定結果に相当するものである。また、「測定２回目」以降に対応する測定（この例では、「測定２回目」に対応する測定、「測定３回目」に対応する測定）は、それぞれ、直前の測定、つまり、「測定１回目」の対応する測定、「測定２回目」に対応する測定に基づく機械学習によって取得されたＡＩ予測モデルを用いた測定結果に相当している。図１４のグラフに示されるように、「測定０回目」に対応する測定においては、測地終了までに１７３分を要している。一方、「測定１回目」に対応する測定においては、機械学習が適用され、ＡＩ予測された出力レベルＯＬ０１から測定が開始される結果、「測定０回目」に対応する測定より短い１２６分で測定を終了している。さらに、「測定２回目」に対応する測定、「測定３回目」に対応する測定においては、それぞれ、測定終了までの時間が７２分、６７分と、機械学習の回数が増すにつれて測定時間が短縮される傾向を示している。図１４に示すグラフからは、２～３回目程度の機械学習回数から、測定時間の短縮に係る機械学習効果が出始めていることが理解できる。このことから、今後も測定装置１を使用して測定情報を記憶することで、さらなる測定速度の向上が見込めるものと推察できる。

なお、測定装置１を使用して測定情報を記憶する作業は、前述した通り、例えば、図７に示す手順で実行可能である。ここで、測定速度の向上が見込める測定条件、測定回数については、本件発明者等は、測定条件を「ＥＩＳ／ＥＩＳ－ＣＤＦ測定を実施するだけで自動更新」とした場合に、１０回程度の機械学習回数から測定速度向上の効果が出始めることを確認することができている。

なお、上記実施形態では、単一面での測定（ＥＩＳ測定）について特化した受信感度試験動作制御を例示したが、本実施形態は、全球面の測定（ＴＲＰ測定：図５参照）に関する受信感度試験にも適用できるものである。

また、上記実施形態では、測定装置１の外部に統合制御装置１０を設けたシステム構成例を開示しているが、本発明は、測定装置１に統合制御装置１０の制御機能を設けた構成であってもよい。

上述したように、本実施形態に係る測定装置１は、試験用信号を発生するＮＲシステムシミュレータ２０と、ＮＲシステムシミュレータ２０と移動端末（ＤＵＴ１００）との間で試験用信号をＮ回送受信することにより前記移動端末の受信感度試験を行う受信感度試験実行部（１８）と、を有し、被試験対象であるＤＵＴ１００を試験するものであって、受信感度試験の開始時の試験用信号のステップレベルＳＬ０、出力レベルＯＬ０を設定パラメータとして含む試験条件を初期設定する試験条件設定部１８ａと、上記試験条件で試験用信号を送受信することによりスループット測定を行い、スループット測定結果と判定閾値とを比較して合否判断する測定結果出力部１８ｆと、合否判断の結果、否と判断された場合、以前のスループット測定の合否判断の結果に応じてレベルダウン処理Ａ（Ｓ８ａ）、レベルダウン処理Ｂ（Ｓ８ｂ）、あるいはレベルアップ処理Ａ（Ｓ９ｂ）、レベルアップ処理Ｂ（Ｓ９ｄ）を行う出力レベル可変設定部１８ｅと、過去の受信感度試験の測定ログファイルからパラメータデータと測定結果データの関連性を人工知能により機械学習させることにより生成したＡＩ予測モデルＤａｉを保持し、試験条件設定部１８ａにより設定された設定パラメータに基づきＡＩ予測モデルＤａｉによって事前にＡＩ予測されたＡＩ予測出力レベルＯＬ０１を、出力レベルＯＬ０に代えて、初回出力レベルとして設定するＡＩ予測試験条件変更設定部１８ｂと、を有する構成である。

この構成により、本実施形態に係る測定装置１は、試験用信号の初回出力レベルをＡＩ予測によって既存のノンリニア制御等での測定終了時に近い値に速やかに設定することができ、ノンリニア制御、ＣＰ制御等の従来方式に比べて測定回数を大幅に低減して試験用信号の出力レベルを極めて短時間で試験可能レベルに設定可能であり、移動端末の受信感度試験を効率よく行えるようになる。

また、本実施形態に係る測定装置１において、ＡＩ予測試験条件変更設定部１８ｂは、ＡＩ予測出力レベルで試験用信号を送受信することにより実施した初回のスループット測定の測定結果に基づきＡＩ予測モデルＤａｉによって事前にＡＩ予測されたＡＩ予測ステップレベルＳＬ０１を、初期ステップレベルＳＬ０に代えて、２回目以降の測定のステップレベルとして設定する構成であってもよい。

この構成により、本実施形態に係る測定装置１は、ＡＩ予測により、試験用信号の初回出力レベルにとどまらず、初期ステップレベルについても動的に制御することで、ノンリニア制御、ＣＰ制御等の従来方式で測定を継続する場合に比べてより短時間で試験用信号を試験可能レベルに設定可能であり、移動端末の受信感度試験の効率をより向上させることができる。

また、本実施形態に係る測定装置１において、ＡＩ予測試験条件変更設定部１８ｂは、初回のスループット測定の測定結果に対する合否判断の結果、否と判断された場合、その後、２回目のスループット測定までに限り、ＡＩ予測ステップレベルＳＬ０１を用いて次回の測定のための出力レベルの更新処理を実施する構成であってもよい。

この構成により、本実施形態に係る測定装置１は、ＡＩ予測による試験用信号の初回出力レベル、及びステップレベルの動的な制御を２回目のスループット測定までにとどめ、せっかくノンリニア制御等での測定終了時に近い値から測定開始したにもかかわらず、上述した動的な制御が無駄に繰り返される事態を回避可能となる。

また、本実施形態に係る測定装置１において、ＡＩ予測試験条件変更設定部１８ｂは、上記パラメータデータとして外部接続用ケーブルの損失、ＤＵＴ１００の方位角度（θ、φ）、測定対象周波数を指定し、該パラメータデータと測定結果データの関係を機械学習させることにより生成したＡＩ予測モデルを保持している構成であってもよい。

この構成により、本実施形態に係る測定装置１は、外部接続用ケーブルの損失、ＤＵＴ１００の方位角度（θ、φ）、測定対象周波数の各パラメータデータが測定精度に影響を及ぼす環境下においても、該ＡＩ予測モデルを用いて、当該各パラメータデータを加味した正確なＡＩ予測結果を導き出すことができ、測定精度を低下させることなく、試験用信号を極めて短時間、かつ、確実に試験可能レベルに設定することができる。

また、本実施形態に係る測定装置１において、受信感度試験制御部１８は、２回目のスループット測定の測定結果に対する合否判断の結果、否と判断された場合、出力レベル可変設定部１８ｅによるレベルダウン処理Ａ、レベルダウン処理Ｂ、あるいはレベルアップ処理Ａ、レベルアップ処理Ｂを実施するように制御する構成としてもよい。

この構成により、本実施形態に係る測定装置１は、ＡＩ予測による試験用信号の初回出力レベル、及び初期ステップレベルの動的な制御により試験用信号の出力レベルが試験可能レベルに到達しないときには、即座に通常の測定ルーチンに切り替えて試験用信号の出力レベルを確実に試験可能レベルに設定することができるようになる。

また、本実施形態に係る測定装置１は、内部空間５１を有するＯＴＡチャンバ５０と、内部空間５１内でＤＵＴ１００の方位を連続的に可変するようにＤＵＴ１００を駆動走査するＤＵＴ走査制御部１６、ＤＵＴ走査機構５６と、をさらに有し、受信感度試験は、内部空間５１内でＯＴＡ（Over The Air）測定環境におけるＤＵＴ走査制御部１６、ＤＵＴ走査機構５６の走査の対象となる全方位について行う構成としてもよい。

この構成により、本実施形態に係る測定装置１は、ＯＴＡ環境下で全ての方位について受信感度測定を行わなければならない状況下においても、ＡＩ予測による試験用信号の初回出力レベル、及びステップレベルの動的な制御を適用し、短時間で試験用信号の出力レベルを試験可能レベルに設定することができるようになる。

また、上記課題を解決するために、本実施形態に係る移動端末試験方法は、上述した構成を有する測定装置１を用い、ＮＲシステムシミュレータ２０と移動端末との間で試験用信号をＮ回送受信することにより移動端末の受信感度試験を行う移動端末試験方法であって、受信感度試験の開始時の試験用信号のステップレベルＳＬ０、出力レベルＯＬ０を設定パラメータとして含む試験条件を初期設定する設定ステップ（Ｓ１）と、過去の前記受信感度試験の測定ログファイルからパラメータデータと測定結果データの関連性を人工知能により機械学習させることにより生成したＡＩ予測モデルを保持し、設定ステップで設定された設定パラメータに基づきＡＩ予測モデルによって事前にＡＩ予測されたＡＩ予測出力レベルＯＬ０１を、出力レベルＯＬ０に代えて、初回出力レベルとして設定するＡＩ予測試験条件変更設定ステップ（Ｓ１ａ）と、ＡＩ予測出力レベルで試験用信号を送受信することにより初回のスループット測定を行い、該初回のスループット測定結果と判定閾値とを比較して合否判断する合否判断ステップ（Ｓ４、Ｓ５）と、初回のスループット測定の測定結果に基づきＡＩ予測モデルによって事前にＡＩ予測されたＡＩ予測ステップレベルＳＬ０１を、ステップレベルＳＬ０に代えて、２回目以降の測定のステップレベルとして設定するステップレベル変更設定ステップと、を含むことを特徴とする。

この構成により、本実施形態に係る移動端末試験方法は、上記構成を有する測定装置１を用い、本移動端末試験方法を適用することで、試験用信号の初回出力レベルをＡＩ予測によって既存のノンリニア制御等での測定終了時に近い値に速やかに設定することができ、ノンリニア制御、ＣＰ制御等の従来方式に比べて測定回数を大幅に低減して試験用信号の出力レベルを極めて短時間で試験可能レベルに設定可能であり、移動端末の受信感度試験を効率よく行えるようになる。

以上のように、本発明に係る移動端末試験装置及び移動端末試験方法は、測定回数を極力低減して試験用信号の出力レベルをより短時間で試験可能レベルに設定可能であり、移動端末の受信感度試験を効率よく行えるという効果を奏し、５Ｇ用無線端末等の高速通信能力を有する移動端末の受信感度試験を行う移動端末試験装置及び測定方法全般に有用である。

１ 測定装置（移動端末試験装置）
１６ ＤＵＴ走査制御部（走査手段）
１８ 受信感度試験制御部（受信感度試験実行部、合否判断手段）
１８ａ 試験条件設定部（設定手段）
１８ｂ ＡＩ予測試験条件変更設定部（ＡＩ予測試験条件変更設定手段）
１８ｅ 出力レベル可変設定部（出力レベル設定手段）
１８ｆ 測定結果出力部（合否判断手段）
２０ ＮＲシステムシミュレータ（信号発生器）
５０ ＯＴＡチャンバ（電波暗箱）
５１ 内部空間
５６ ＤＵＴ走査機構（走査手段）
１００ ＤＵＴ（被試験対象、移動端末）

Claims (7)

1. 試験用信号を発生する信号発生器（２０）と、
   前記信号発生器と移動端末（１００）との間で前記試験用信号をＮ回送受信することにより前記移動端末の受信感度試験を行う受信感度試験実行部（１８）と、を有し、
   被試験対象である前記移動端末を試験する移動端末試験装置（１）であって、
   前記受信感度試験の開始時の前記試験用信号のステップレベルＳＬ０、出力レベルＯＬ０を設定パラメータとして含む試験条件を初期設定する設定手段（１８ａ）と、
   前記試験条件で前記試験用信号を送受信することによりスループット測定を行い、スループット測定結果と判定閾値とを比較して合否判断する合否判断手段（１８ｆ）と、
   前記合否判断の結果、否と判断された場合、以前のスループット測定の合否判断の結果に応じてレベルダウン処理Ａ（Ｓ８ａ）、レベルダウン処理Ｂ（Ｓ８ｂ）、あるいはレベルアップ処理Ａ（Ｓ９ｂ）、レベルアップ処理Ｂ（Ｓ９ｄ）を行う出力レベル設定手段（１８ｅ）と、
   過去の前記受信感度試験の測定ログファイルからパラメータデータと測定結果データの関連性を人工知能により機械学習させることにより生成したＡＩ予測モデルを保持し、前記設定手段により設定された前記設定パラメータに基づき前記ＡＩ予測モデルによって事前にＡＩ予測されたＡＩ予測出力レベルＯＬ０１を、前記出力レベルＯＬ０に代えて、初回出力レベルとして設定するＡＩ予測試験条件変更設定手段（１８ｂ）と、
   を有することを特徴とする移動端末試験装置。
2. 前記ＡＩ予測試験条件変更設定手段は、前記ＡＩ予測出力レベルで前記試験用信号を送受信することにより実施した初回のスループット測定の測定結果に基づき前記ＡＩ予測モデルによって事前にＡＩ予測されたＡＩ予測ステップレベルＳＬ０１を、前記ステップレベルＳＬ０に代えて、２回目以降の測定のステップレベルとして設定することを特徴とする請求項１に記載の移動端末試験装置。
3. 前記ＡＩ予測試験条件変更設定手段は、前記初回のスループット測定の測定結果に対する前記合否判断の結果、否と判断された場合、その後、２回目のスループット測定までに限り、前記ＡＩ予測ステップレベルＳＬ０１を用いて次回の測定のための前記出力レベルの更新処理を実施することを特徴とする請求項２に記載の移動端末試験装置。
4. 前記ＡＩ予測試験条件変更設定手段は、前記パラメータデータとして外部接続用ケーブルの損失、前記移動端末の方位角度（θ、φ）、測定対象周波数を指定し、該パラメータデータと前記測定結果データの関係を機械学習させることにより生成した前記ＡＩ予測モデルを保持していることを特徴とする請求項１に記載の移動端末試験装置。
5. 前記受信感度試験実行部は、２回目のスループット測定の測定結果に対する前記合否判断の結果、否と判断された場合、前記出力レベル設定手段による前記レベルダウン処理Ａ、前記レベルダウン処理Ｂ、あるいは前記レベルアップ処理Ａ、前記レベルアップ処理Ｂを実施するように制御することを特徴とする請求項２に記載の移動端末試験装置。
6. 内部空間（５１）を有する電波暗箱（５０）と、
   前記内部空間内で前記移動端末の方位を連続的に可変するように前記移動端末を駆動走査する走査手段（１６、５６）と、をさらに有し、
   前記受信感度試験は、前記内部空間内でＯＴＡ（Over The Air）測定環境における前記走査手段の走査の対象となる全方位について行うことを特徴とする請求項１に記載の移動端末試験装置。
7. 請求項１ないし６のいずれか１項に記載の移動端末試験装置（１）を用い、前記信号発生器と前記移動端末との間で前記試験用信号をＮ回送受信することにより前記移動端末の受信感度試験を行う移動端末試験方法であって、
   前記受信感度試験の開始時の前記試験用信号のステップレベルＳＬ０、出力レベルＯＬ０を設定パラメータとして含む試験条件を初期設定する設定ステップ（Ｓ１）と、
   過去の前記受信感度試験の測定ログファイルからパラメータデータと測定結果データの関連性を人工知能により機械学習させることにより生成したＡＩ予測モデルを保持し、前記設定ステップで設定された前記設定パラメータに基づき前記ＡＩ予測モデルによって事前にＡＩ予測されたＡＩ予測出力レベルＯＬ０１を、前記出力レベルＯＬ０に代えて、初回出力レベルとして設定するＡＩ予測試験条件変更設定ステップ（Ｓ１ａ）と、
   前記ＡＩ予測出力レベルで前記試験用信号を送受信することにより初回のスループット測定を行い、該初回のスループット測定結果と判定閾値とを比較して合否判断する合否判断ステップ（Ｓ４、Ｓ５）と、
   前記初回のスループット測定の測定結果に基づき前記ＡＩ予測モデルによって事前にＡＩ予測されたＡＩ予測ステップレベルＳＬ０１を、前記ステップレベルＳＬ０に代えて、２回目以降の測定のステップレベルとして設定するステップレベル変更設定ステップと、
   を含むことを特徴とする移動端末試験方法。

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