JP7468558B2 - 表面疵の発生原因特定システム及び工業製品の製造方法 - Google Patents
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Description
塑性加工後の素材の表面疵を検出する疵検出部と、
前記表面疵を形態に応じた疵種別に分類する第1のサブシステムと、
前記表面疵の発生情報を前記素材の多次元図の座標に対応付ける第2のサブシステムと、
第1のサブシステムで分類された前記疵種別と第2のサブシステムで対応付けられた前記座標に基づいて前記疵種別毎に疵密度分布図を作成し、前記疵密度分布図に基づいて前記表面疵の発生プロセス又は疵発生原因となる化学成分を特定する制御部と、を備える。
前記第1のサブシステムは、前記疵種別が特定された教師データを用いた機械学習によって生成された第1の学習済モデルを用いて、前記表面疵を分類する。
前記第1のサブシステムは、前記第1の学習済モデルを用いた前記表面疵の分類の正解率が50%以上である。
前記制御部は、前記表面疵の発生プロセス又は疵発生原因となる化学成分が特定された前記疵密度分布図を教師データとして用いた機械学習によって生成された第2の学習済モデルを用いて、前記表面疵の発生プロセス又は疵発生原因となる化学成分を特定する。
前記制御部は、第2の学習済モデルを用いて特定した前記表面疵の発生プロセス又は疵発生原因となる化学成分のうち、特定率が50%以上であるものを前記特定率と共に表示させる。
上記の発生原因特定システムによって特定された前記表面疵の発生プロセス又は疵発生原因となる化学成分に基づいて操業条件を変更する。
10 制御部
11 第1のサブシステム
12 第2のサブシステム
13 疵検出部
14 記憶部
15 表示部
Claims (5)
- 塑性加工後の素材の表面疵を超音波若しくは漏洩磁束を用いる測定又は画像処理によって検出する疵検出部と、
前記表面疵を形態に応じた疵種別に分類する第1のサブシステムと、
前記表面疵の発生情報を前記素材の多次元図の座標に対応付ける第2のサブシステムと、
第1のサブシステムで分類された前記疵種別と第2のサブシステムで対応付けられた前記座標に基づいて前記疵種別毎に疵密度分布図を作成し、前記疵密度分布図から得られる前記疵種別と分布の位置及び向きを含む疵密度分布の組み合わせに基づいて、第2の学習済モデルを用いて前記表面疵の発生プロセス又は疵発生原因となる化学成分を特定する制御部と、を備え、
前記第2の学習済モデルは、前記表面疵の発生プロセス又は疵発生原因となる化学成分が特定された前記疵密度分布図を教師データとして用いた機械学習によって生成され、分布の位置及び向きを含む前記疵密度分布と前記疵種別との組み合わせと、前記表面疵の発生プロセス又は疵発生原因となる化学成分との対応を学習した学習済みモデルである、表面疵の発生原因特定システム。 - 前記第1のサブシステムは、前記疵種別が特定された教師データを用いた機械学習によって生成された第1の学習済モデルを用いて、前記表面疵を分類する、請求項1に記載の表面疵の発生原因特定システム。
- 前記第1のサブシステムは、前記第1の学習済モデルを用いた前記表面疵の分類の正解率が50%以上である、請求項2に記載の表面疵の発生原因特定システム。
- 前記制御部は、第2の学習済モデルを用いて特定した前記表面疵の発生プロセス又は疵発生原因となる化学成分のうち、特定率が50%以上であるものを前記特定率と共に表示させる、請求項1に記載の表面疵の発生原因特定システム。
- 請求項1から4のいずれか一項に記載の発生原因特定システムによって特定された前記表面疵の発生プロセス又は疵発生原因となる化学成分に基づいて操業条件を変更する、工業製品の製造方法。
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日本鉄鋼協会編,鉄鋼便覧,第3版 III (1),(2),丸善株式会社,1980年,(1)p1-714, (2)p.715-1422より抜粋 |
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