JP7463605B1 - 超音波映像装置 - Google Patents

超音波映像装置 Download PDF

Info

Publication number
JP7463605B1
JP7463605B1 JP2023143567A JP2023143567A JP7463605B1 JP 7463605 B1 JP7463605 B1 JP 7463605B1 JP 2023143567 A JP2023143567 A JP 2023143567A JP 2023143567 A JP2023143567 A JP 2023143567A JP 7463605 B1 JP7463605 B1 JP 7463605B1
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
probe holder
probe
axis direction
axis
support frame
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2023143567A
Other languages
English (en)
Inventor
高明 黛
薫 北見
卓也 塩澤
幸太 冨樫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Power Solutions Co Ltd
Original Assignee
Hitachi Power Solutions Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Power Solutions Co Ltd filed Critical Hitachi Power Solutions Co Ltd
Priority to JP2023143567A priority Critical patent/JP7463605B1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7463605B1 publication Critical patent/JP7463605B1/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

Figure 0007463605000001
【課題】既存の構造では実現できないX軸方向の速度域においても精度よく対象部位の映像化を実現することができる超音波映像装置を提供する。
【解決手段】超音波映像装置100は、被検体10に超音波を照射して、その透過波により超音波の照射部を映像化する超音波映像装置であって、超音波を送信する第1のプローブ11を保持する第1のプローブホルダ12を支持する第1の支持フレーム13と、透過波を受信する第2のプローブ21を保持する第2のプローブホルダ22を支持する第2の支持フレーム23とを、ステージ39に載置された被検体10をスキャンする方向を示すX軸方向に向けて配設し、X軸方向に平行に駆動する。
【選択図】図2

Description

本発明は、超音波映像装置に関する。
超音波映像装置は、プローブが取り付けられているプローブホルダを、X軸方向に被検体の一方端部から他方端部まで駆動し、他方端部に到達後、Y軸方向に一定量駆動後に、再びX軸方向に他方端部から一方端部まで駆動する。これを繰り返すことにより、被検体全面をスキャンする。
特許文献1には、透過型の超音波映像システムにおいて、プローブホルダは、第1超音波探触部を固定するためのホルダであり、第1Z軸走査部を介して±Z軸方向に駆動可能であること、L字金具は、第2超音波探触部を固定するための金具であり、第2Z軸走査部を介して±Z軸方向に駆動可能であることが開示されている。
特許第6397600号公報(図3、段落0050)
半導体ウェハは、集積度を高めるとともに、1枚の半導体ウェハから多くの集積回路チップを切り出すために、積層数を多くし、直径を大型化してきた。このような半導体ウェハの欠陥を抽出するためには、反射型の超音波映像装置のように、超音波を対象物に照射してその反射波を取得するやり方は、信号強度が低下してしまい、精度良い検査が困難である。
特許文献1に開示された超音波映像装置においては、第1超音波探触部から超音波を被検体に向けて送信し、第2超音波探触部により被検体を透過した透過信号を受信する。これにより、反射法による超音波映像装置と比較して、積層数の多い被検体を検査する場合であっても、所望の検査対象面において、高解像度の検査画像を取得可能とすることができる。
さらに、市販されている超音波映像装置では、半導体ウェハの直径の大型化には、プローブホルダを支持する支持フレームを300mmと長くすることで対応してきた。また、市場では、更なる生産性向上のために、タクトタイムの短縮が求められている。
しかしながら、特許文献1の超音波映像装置では、プローブホルダをX軸方向と垂直に配設してX軸方向にスキャンするために、一定速度以上になるとブレが生じ、対象部位の映像化の精度に影響を及ぼすことが分かった。従って、プローブホルダをX軸方向と垂直に配設してX軸方向にスキャンする構造では、市場ニーズのタクトタイム短縮に対応できない課題がある。
本発明は、前記課題に鑑みなされたものであって、既存の構造では実現できないX軸方向の速度域においても精度よく対象部位の映像化を実現することができる超音波映像装置を提供することを目的とする。
前記目的を達成するために、本発明の超音波映像装置は、X軸方向に被検体の一方端部から他方端部まで駆動し、他方端部に到達後、Y軸方向に一定量駆動後に、再びX軸方向に他方端部から一方端部まで駆動することを繰り返して被検体全体に超音波を照射して、その透過波により前記超音波の照射部を映像化する超音波映像装置であって、前記超音波を送信する第1のプローブを保持する第1のプローブホルダを支持する第1の支持フレームと、前記透過波を受信する第2のプローブを保持する第2のプローブホルダを支持する第2の支持フレーム前記被検体を載置するステージと、前記ステージの載置面の垂直方向に配置する前記ステージの囲み枠を示すプローブホルダ把持フレームと、を備え、第1のプローブホルダX軸ガイド機構を介して前記第1のプローブホルダを前記プローブホルダ把持フレームに取り付け、第2のプローブホルダX軸ガイド機構を介して前記第2のプローブホルダを前記プローブホルダ把持フレームに取り付けて、前記第1の支持フレームの長手方向および前記第2の支持フレームの長手方向がステージに載置された前記被検体をスキャンする方向を示すX軸方向に平行になるよう配設し、前記X軸方向に平行に駆動するとともに、前記第1のプローブホルダは、前記第1のプローブホルダX軸ガイド機構により、前記第1の支持フレームの動きに同期してX軸方向に移動し、前記第2のプローブホルダは、前記第2のプローブホルダX軸ガイド機構により、前記第2の支持フレームの動きに同期してX軸方向に移動することを特徴とする。本発明のその他の態様については、後記する実施形態において説明する。
本発明によれば、既存の構造では実現できないX軸方向の速度域においても精度よく対象部位の映像化を実現することができる。
本実施形態に係る透過法の超音波映像装置の構成を示す図である。 本実施形態に係るスキャン部の概略を示す図である。 本実施形態に係るスキャン部の詳細を示す正面図である。 本実施形態に係るスキャン部の駆動方法を示す図である。 本実施形態に係る支持フレームの配設方向の変更を示す図である。 本実施形態に係るX軸方向の駆動範囲と補強部材の設置位置を示す図である。 本実施形態に係るプローブホルダ把持機構の詳細を示す図である。 本実施形態に係るZ軸方向の駆動範囲を示す図である。
本発明を実施するための実施形態について、適宜図面を参照しながら詳細に説明する。
図1は、本実施形態に係る透過法の超音波映像装置100の構成を示す図である。
超音波映像装置100は、制御装置50とスキャン部30(メカ部)と超音波プローブ(第1のプローブ11、第2のプローブ21(図3参照))を含んで構成する。超音波映像装置100は、被検体10(図2、図3参照)の検査範囲に、プローブを介して予め定めた間隔で設定した照射点に超音波を照射してその透過波を取得し、該透過波の中から検査対象とする接合界面の波形を示す界面エコーを抽出し、該界面エコーの信号強度から画素化情報を生成する処理を全ての照射点または特定の照射点に施し、生成した照射点の画素化情報に基づき接合界面の画像を生成して欠陥を見つけ出す。
制御装置50は、超音波プローブの走査位置の制御処理、超音波の送受信の制御処理等をする処理部51と、第1のプローブ11から超音波を照射し、第2のプローブ21で透過波を取得し超音波画像を生成する画像生成部52と、入出力部53とを有する。
スキャン部30は、ステージ39上に第1のプローブ11を保持する第1のプローブホルダ12、第2のプローブ21を保持する第2のプローブホルダ22と、を含んで構成される。第1のプローブホルダ12は、第1の制御部19を介して制御され、第2のプローブホルダ22は、第2の制御部29を介して制御される。
超音波映像装置100は、ステージ39に載置された被検体10(図2、図3参照)の上部を第1のプローブホルダ12によって保持された第1のプローブ11が移動しながら超音波を送信し、被検体10の下部を第2のプローブホルダ22によって保持された第2のプローブ21が移動しながら被検体を透過した透過波を受信する。受信した透過波によって、超音波照射部の画像を生成する。超音波映像装置100には、生成する画像をより鮮明とすることが求められる。従って、第1のプローブ11、第2のプローブ21は、可能な限りブレを抑制する必要がある。本実施形態は、この課題を解決するものである。なお、図2において、第1のプローブ11から超音波を送信し、第2のプローブ21が透過波を受信としているが、第2のプローブ21から超音波を送信し、第1のプローブ11が透過波を受信してもよい。
本実施形態では、前記課題を解決する方法として、プローブの支持フレームの配設と駆動方向を対策することで実現している。以下詳細に説明する。
図2は、本実施形態に係るスキャン部30の概略を示す図である。図3は、本実施形態に係るスキャン部30の詳細を示す正面図である。図4は、本実施形態に係るスキャン部30の駆動方法を示す図である。なお、図2は、図3における第1のプローブホルダ12および第2のプローブホルダ22のプローブホルダ把持機構47(例えば、ケーシング32、プローブホルダ把持フレーム31等を含む機構)を省略した図である。また、図3において、ステージ39の脚部は省略した。図3のプローブホルダ把持機構47については、図7を参照して後述する。
図2に示すスキャン部30は、超音波を送信する第1のプローブ11を保持する第1のプローブホルダ12を支持する第1の支持フレーム13と、透過波を受信する第2のプローブ21を保持する第2のプローブホルダ22を支持する第2の支持フレーム23と、第1の支持フレーム13と第2の支持フレーム23を取り付けるフレーム支持部34と、フレーム支持部34を駆動するX軸駆動軸41を含んで構成する。第1の支持フレーム13および第2の支持フレーム23は、ステージ39に載置された被検体10をスキャンする方向を示すX軸方向に向けて配設する。この状態において、フレーム支持部34をX軸駆動軸41により、X軸方向に駆動することにより、第1の支持フレーム13および第2の支持フレーム23をX軸方向に平行に駆動する。
ステージ39の外側には、Y軸駆動軸42、第1のY軸ガイド44、第2のY軸ガイド45をステージ39のY軸方向と平行に配設している。Y軸駆動軸42、第1のY軸ガイド44、第2のY軸ガイド45上には、X軸駆動軸41を載置する載置台46が配設されている。フレーム支持部34を介して、第1の支持フレーム13と第2の支持フレーム23を駆動するX軸駆動軸41は、X軸方向と平行に配設している。このような構成により、X軸駆動軸は、Y軸駆動軸によりY軸方向に平行に駆動することが可能である。
図4は、図3の上面図であり、第1のプローブホルダ12を支持する第1の支持フレーム13がX軸方向に駆動できること、すなわち、第2のプローブホルダ22を支持する第2の支持フレーム23がX軸方向に移動できることを示している。また、載置台46がY軸方向に移動できることを示している。詳細については、図7を参照して後述する。
以上の構成により、スキャン部30は、プローブが取り付けられているプローブホルダを、X軸方向に被検体の一方端部から他方端部まで駆動し、他方端部に到達後、Y軸方向に一定量駆動後に、再びX軸方向に他方端部から一方端部まで駆動することができる。これを繰り返すことにより、スキャン部30は、被検体全面をスキャンできる。
本実施形態においては、プローブが動作するときのブレを抑制するために、第1の支持フレーム13および第2の支持フレーム23をフレーム支持部34にX軸方向に向けて取り付け、X軸駆動軸41が動作することで、第1の支持フレーム13および第2の支持フレーム23がX軸方向に駆動することが第1のポイントとなる。
図5は、本実施形態に係る支持フレームの配設方向の変更を示す図である。従来タイプのスキャン部30は、構成5Aに示すように、プローブホルダの支持フレームをX軸方向に対して垂直となるように配設し、支持フレームの長手方向がX軸方向に対して垂直となるように動作していた。その結果、慣性力の影響により、一定速度以上で駆動すると、ブレが生じることとなった。従って、それ以上の速度では、プローブホルダを動かすことができず、単位時間当たりの作業量に限界があった。慣性力の影響は、X軸方向の両端部近傍において、すなわちプローブのX軸方向の動作開始または動作停止のときに顕著である。なお、課題でも説明したように、300mmの半導体ウェハの場合、プローブホルダを支持する支持フレームを300mm以上と長くすることが要求される。
本実施形態では、構成5Bに示すように、支持フレームの長手方向をX軸方向に対して平行となるように動作することとした。これにより、慣性力の影響を抑制し、ブレの発生を抑制することを実現した。
さらに本実施形態ではブレを抑制するために、次の二つの点を工夫している。
第1は、図6に示すふたつの支持フレームを補強する補強部材35を設けたこと、
第2は、図7に示すプローブホルダ把持機構47を設けたこと、である。
<支持フレームを補強する補強部材>
図6は、本実施形態に係るX軸方向の駆動範囲と補強部材35の設置位置を示す図である。図6の位置状態6Aの場合、X軸方向の被検体10の左端をカバーし、位置状態6Bの場合、X軸方向の被検体10の右端をカバーしている。図6に示すように、第1の支持フレーム13と第2の支持フレーム23との間に、少なくとも1本の補強部材35を設けた。具体的には、第1のプローブホルダ12および第2のプローブホルダ22がX軸方向の駆動範囲を駆動するときに、ステージ39に接触しない位置に、第1の支持フレーム13と第2の支持フレーム23を接続する少なくとも1本の補強部材35を設けた。
<プローブホルダ把持機構>
図7は、本実施形態に係るプローブホルダ把持機構47の詳細を示す図である。プローブホルダ把持機構47は、第1のプローブホルダX軸ガイド機構14および第2のプローブホルダX軸ガイド機構24を有するプローブホルダ把持フレーム31と、プローブホルダ把持フレーム31よりも大きい同形状のケーシング32などを含んで構成されている。
具体的には、ステージ39の垂直方向に配置するステージ39の囲み枠を示すプローブホルダ把持フレーム31を備えている。プローブホルダ把持フレーム31は、矩形フレーム構造を有しており、ステージ39のX軸方向およびZ軸方向を取り囲むようにし、Y軸方向にステージ39が貫通するように配設している(図4参照)。
第1のプローブホルダ12は、第1のプローブホルダX軸ガイド機構14を介してプローブホルダ把持フレーム31に取り付け、同様に第2のプローブホルダ22は、第2のプローブホルダX軸ガイド機構24を介してプローブホルダ把持フレーム31に取り付けられている。
以上説明したように、本実施形態ではプローブホルダのブレ、つまりプローブのブレを抑制するための構造を備えている。このような構造のもと、プローブホルダの具体的な動き、並びにプローブの配置と焦点距離の調整について、どのようにするか以下説明する。
第1のプローブホルダX軸ガイド機構14および第2のプローブホルダX軸ガイド機構24は、一般的なリニアガイド構造を採用している。リニアガイドは、回転運動で実現していたベアリングを応用し、重いものを軽く、まっすぐに動かす働きをする機械要素部品である。なお、この構造に限定する必要は無い。
第1のプローブホルダ12は、第1のプローブホルダX軸ガイド機構14により、第1の支持フレーム13の動きに同期してX軸方向に移動し、第2のプローブホルダ22は、第2のプローブホルダX軸ガイド機構24により、第2の支持フレーム23の動きに同期してX軸方向に移動する。
次に、第1のプローブ11および第2のプローブ21の配置について説明する。
第1のプローブ11および第2のプローブ21は、図7に示すプローブホルダ把持機構47に示すように、第1のプローブ11の中心点と、第2のプローブ21の中心点を、鉛直方向で同一直線上に配置する。この構造により、ブレ防止の抑制構造を採用したうえで、第1のプローブ11および第2のプローブ21は、X軸方向およびY軸方向に同期して動く。
次に、プローブの焦点距離の調整について説明する。
図7に図示するように、プローブホルダ把持フレーム31の外側にプローブホルダ把持フレーム31より大きく同形状のケーシング32を備える。ケーシング32は、Y軸駆動軸の動きに伴ってY軸方向のみに駆動する載置台46にX軸駆動軸41と共に固定され、X軸方向、Z軸方向には駆動せずに、載置台46とともにY軸方向にのみ駆動する。プローブホルダ把持フレーム31は、ステージに鉛直に交わる方向をZ軸方向とすると、プローブホルダ把持フレーム31の両側辺に配置する一対の把持フレームZ軸ガイド機構36,36を介して、ケーシング32に取り付けられている。なお、把持フレームZ軸ガイド機構36は、前述したリニアガイドを用いている。
プローブホルダ把持フレーム31は、プローブホルダ把持フレーム31の上部に取り付けた把持フレーム駆動モータ33と、把持フレーム駆動モータ33に接続したボールスクリューネジ37の動きにより駆動力を付与され、一対の把持フレームZ軸ガイド機構36,36により、ケーシング32内をZ軸方向に移動する。
このプローブホルダ把持フレーム31が動作することにより、第1のプローブホルダ12および第2のプローブホルダ22がZ軸方向に動作することを、図8のZ軸方向の駆動範囲を用いて説明する。
図8は、本実施形態に係るZ軸方向の駆動範囲を示す図である。図8の位置状態8Aの場合、プローブホルダ把持フレーム31がZ軸方向の上側に位置する場合であり、位置状態8Bの場合、プローブホルダ把持フレーム31がZ軸方向の下側に位置する場合である。
第1のプローブホルダ12は、第1のプローブホルダX軸ガイド機構14を介してプローブホルダ把持フレーム31に取り付けられている。また、第1のプローブホルダ12は、第1のプローブホルダZ軸ガイド機構15を介して第1の支持フレーム13に取り付けられ、Z軸方向には第1の支持フレーム13から独立して移動する。
第2のプローブホルダ22は、第2のプローブホルダX軸ガイド機構24を介してプローブホルダ把持フレーム31に取り付けられている。また、第2のプローブホルダ22は、第2のプローブホルダZ軸ガイド機構25を介して第2の支持フレーム23に取り付けられ、Z軸方向には第2の支持フレーム23から独立して移動する。
第1のプローブホルダ12および第2のプローブホルダ22は、プローブホルダ把持フレーム31がZ軸方向に移動することに同期してZ軸方向に移動する。すなわち、第1のプローブ11と第2のプローブ21が、その離間距離を保持したままZ軸方向に同期して移動する。
なお、Z軸方向の動作量は、第1のプローブ11から照射した超音波を被検体に焦点距離を設定するように調整する。第2のプローブ21は、被検体からの透過波を受信するだけなので、特に焦点距離を設定する必要は無い。
以上、本実施形態の超音波映像装置100は、次の特徴を有する。
(1)超音波映像装置100は、被検体10に超音波を照射して、その透過波により超音波の照射部を映像化する超音波映像装置であって、超音波を送信する第1のプローブ11を保持する第1のプローブホルダ12を支持する第1の支持フレーム13と、透過波を受信する第2のプローブ21を保持する第2のプローブホルダ22を支持する第2の支持フレーム23とを、ステージ39に載置された被検体10をスキャンする方向を示すX軸方向に向けて配設し、X軸方向に平行に駆動する。これによれば、既存の構造では実現できないX軸方向の速度域においても精度よく対象部位の映像化を実現することができる。
(2)前記(1)の超音波映像装置100であって、ステージ39の垂直方向に配置するステージ39の囲み枠を示すプローブホルダ把持フレーム31を備え、第1のプローブホルダX軸ガイド機構14を介して第1のプローブホルダ12をプローブホルダ把持フレーム31に取り付け、第2のプローブホルダX軸ガイド機構24を介して第2のプローブホルダ22をプローブホルダ把持フレーム31に取り付ける(図7参照)。
(3)前記(2)の超音波映像装置100であって、第1のプローブホルダ12は、第1のプローブホルダX軸ガイド機構14により、第1の支持フレーム13の動きに同期してX軸方向に移動し、第2のプローブホルダ22は、第2のプローブホルダX軸ガイド機構24により、第2の支持フレーム23の動きに同期してX軸方向に移動する(図3、図6参照)。
(4)前記(2)の超音波映像装置100であって、プローブホルダ把持フレーム31の外側にプローブホルダ把持フレーム31より大きい形状のケーシング32を備え、プローブホルダ把持フレーム31は、ステージに鉛直に交わる方向をZ軸方向とすると、プローブホルダ把持フレームの両側辺に配置する一対の把持フレームZ軸ガイド機構36を介して、ケーシング32に取り付ける(図7参照)。
(5)前記(4)の超音波映像装置100であって、プローブホルダ把持フレーム31は、プローブホルダ把持フレーム31に取り付けた把持フレーム駆動モータ33から駆動力を付与され、一対の把持フレームZ軸ガイド機構36,36に沿って、ケーシング32内をZ軸方向に移動する(図8参照)。
(6)前記(5)の超音波映像装置100であって、第1のプローブ11の中心点と、第2のプローブ21の中心点と、を、鉛直方向で同一直線上に配置する(図7参照)。
(7)前記(6)の超音波映像装置100であって、第1のプローブホルダ12を、第1のプローブホルダZ軸ガイド機構15を介して第1の支持フレーム13に取り付け、第2のプローブホルダ22を、第2のプローブホルダZ軸ガイド機構25を介して第2の支持フレーム23に取り付け、第1のプローブホルダZ軸ガイド機構15と第2のプローブホルダZ軸ガイド機構25により、プローブホルダ把持フレーム31のZ軸方向の移動に同期して、第1のプローブ11および第2のプローブ21は、第1のプローブ11と第2のプローブ21の離間距離を保持したままZ軸方向に移動し、第1のプローブの焦点距離を調整する(図8参照)。
(8)前記(1)の超音波映像装置100であって、ステージ39の外側に、Y軸駆動軸42をステージ39のY軸方向と平行に配設し、フレーム支持部34を介して、第1の支持フレーム13と第2の支持フレーム23を駆動するX軸駆動軸41をX軸方向と平行に配設し、X軸駆動軸41は、Y軸駆動軸42により、Y軸方向に平行に駆動する(図3、図4参照)。
(9)前記(1)の超音波映像装置100であって、超音波映像装置100は、第1の支持フレーム13と第2の支持フレーム23を接続する少なくとも1本の補強部材35を有し、第1のプローブホルダ12および第2のプローブホルダ22がX軸方向の駆動範囲を駆動するときに、補強部材35がステージ39に接触しない位置に、補強部材35を配置する(図6参照)。
なお、本発明は前記した実施形態に限定されるものではなく、様々な変形例が含まれる。また、前記した実施形態は本発明を分かりやすく説明するために詳細に説明したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されるものではない。また、各実施例の構成の一部について、他の構成の追加・削除・置換をすることが可能である。
10 被検体
11 第1のプローブ
12 第1のプローブホルダ
13 第1の支持フレーム
14 第1のプローブホルダX軸ガイド機構
15 第1のプローブホルダZ軸ガイド機構
19 第1の制御部
21 第2のプローブ
22 第2のプローブホルダ
23 第2の支持フレーム
24 第2のプローブホルダX軸ガイド機構
25 第2のプローブホルダZ軸ガイド機構
29 第2の制御部
30 スキャン部
31 プローブホルダ把持フレーム
32 ケーシング
33 把持フレーム駆動モータ
34 フレーム支持部
35 補強部材
36 把持フレームZ軸ガイド機構
37 ボールスクリューネジ
39 ステージ
41 X軸駆動軸
42 Y軸駆動軸
44 第1のY軸ガイド
45 第2のY軸ガイド
46 載置台
47 プローブホルダ把持機構
50 制御装置
51 処理部
52 画像生成部
53 入出力部
100 超音波映像装置

Claims (7)

  1. X軸方向に被検体の一方端部から他方端部まで駆動し、他方端部に到達後、Y軸方向に一定量駆動後に、再びX軸方向に他方端部から一方端部まで駆動することを繰り返して被検体全体に超音波を照射して、その透過波により前記超音波の照射部を映像化する超音波映像装置であって、
    前記超音波を送信する第1のプローブを保持する第1のプローブホルダを支持する第1の支持フレームと、前記透過波を受信する第2のプローブを保持する第2のプローブホルダを支持する第2の支持フレーム前記被検体を載置するステージと、前記ステージの載置面の垂直方向に配置する前記ステージの囲み枠を示すプローブホルダ把持フレームと、を備え、
    第1のプローブホルダX軸ガイド機構を介して前記第1のプローブホルダを前記プローブホルダ把持フレームに取り付け、第2のプローブホルダX軸ガイド機構を介して前記第2のプローブホルダを前記プローブホルダ把持フレームに取り付けて、
    前記第1の支持フレームの長手方向および前記第2の支持フレームの長手方向がステージに載置された前記被検体をスキャンする方向を示すX軸方向に平行になるよう配設し、前記X軸方向に平行に駆動するとともに、
    前記第1のプローブホルダは、前記第1のプローブホルダX軸ガイド機構により、前記第1の支持フレームの動きに同期してX軸方向に移動し、
    前記第2のプローブホルダは、前記第2のプローブホルダX軸ガイド機構により、前記第2の支持フレームの動きに同期してX軸方向に移動する
    ことを特徴とする超音波映像装置。
  2. 請求項に記載の超音波映像装置であって、
    前記プローブホルダ把持フレームの外側に前記プローブホルダ把持フレームより大きい形状のケーシングを備え、
    前記プローブホルダ把持フレームは、前記ステージの載置面に垂直に交わる方向をZ軸方向とすると、前記プローブホルダ把持フレームの両側辺に配置する一対の把持フレームZ軸ガイド機構を介して、前記ケーシングに取り付ける
    ことを特徴とする超音波映像装置。
  3. 請求項に記載の超音波映像装置であって、
    前記プローブホルダ把持フレームは、前記プローブホルダ把持フレームに取り付けた把持フレーム駆動モータから駆動力を付与され、前記一対の把持フレームZ軸ガイド機構に沿って、前記ケーシング内をZ軸方向に移動する
    ことを特徴とする超音波映像装置。
  4. 請求項に記載の超音波映像装置であって、
    前記第1のプローブの中心点と、前記第2のプローブの中心点とを、鉛直方向で同一直線上に配置する
    ことを特徴とする超音波映像装置。
  5. 請求項に記載の超音波映像装置であって、
    前記第1のプローブホルダを、第1のプローブホルダZ軸ガイド機構を介して前記第1の支持フレームに取り付け、前記第2のプローブホルダを、第2のプローブホルダZ軸ガイド機構を介して前記第2の支持フレームに取り付け、
    前記第1のプローブホルダZ軸ガイド機構と前記第2のプローブホルダZ軸ガイド機構により、前記プローブホルダ把持フレームのZ軸方向の移動に同期して、前記第1のプローブおよび前記第2のプローブは、前記第1のプローブと前記第2のプローブの離間距離を保持したままZ軸方向に移動し、前記第1のプローブの焦点距離を調整する
    ことを特徴とする超音波映像装置。
  6. 請求項1に記載の超音波映像装置であって、
    前記ステージの外側に、Y軸駆動軸を前記ステージのY軸方向と平行に配設し、
    フレーム支持部を介して、前記第1の支持フレームと前記第2の支持フレームを駆動するX軸駆動軸を前記X軸方向と平行に配設し、
    前記X軸駆動軸は、前記Y軸駆動軸により、前記Y軸方向に平行に駆動する
    ことを特徴とする超音波映像装置。
  7. 請求項1に記載の超音波映像装置であって、
    前記超音波映像装置は、前記第1の支持フレームと前記第2の支持フレームを接続する少なくとも1本の補強部材を有し、前記第1のプローブホルダおよび前記第2のプローブホルダが前記X軸方向の駆動範囲を駆動するときに、前記補強部材が前記ステージに接触しない位置に、前記補強部材を配置する
    ことを特徴とする超音波映像装置。
JP2023143567A 2023-09-05 2023-09-05 超音波映像装置 Active JP7463605B1 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2023143567A JP7463605B1 (ja) 2023-09-05 2023-09-05 超音波映像装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2023143567A JP7463605B1 (ja) 2023-09-05 2023-09-05 超音波映像装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP7463605B1 true JP7463605B1 (ja) 2024-04-08

Family

ID=90606833

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2023143567A Active JP7463605B1 (ja) 2023-09-05 2023-09-05 超音波映像装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP7463605B1 (ja)

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004053309A (ja) 2002-07-17 2004-02-19 Hitachi Eng Co Ltd ガラス端部の傷検査装置
JP6397600B1 (ja) 2018-05-23 2018-09-26 株式会社日立パワーソリューションズ 位置制御装置、位置制御方法、及び超音波映像システム
JP6479243B1 (ja) 2018-07-02 2019-03-06 株式会社日立パワーソリューションズ 超音波映像システム
JP6641054B1 (ja) 2019-04-26 2020-02-05 株式会社日立パワーソリューションズ プローブの可動範囲設定装置及び可動範囲設定方法
JP2023077632A (ja) 2021-11-25 2023-06-06 三菱電機株式会社 検査装置および検査方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004053309A (ja) 2002-07-17 2004-02-19 Hitachi Eng Co Ltd ガラス端部の傷検査装置
JP6397600B1 (ja) 2018-05-23 2018-09-26 株式会社日立パワーソリューションズ 位置制御装置、位置制御方法、及び超音波映像システム
JP6479243B1 (ja) 2018-07-02 2019-03-06 株式会社日立パワーソリューションズ 超音波映像システム
JP6641054B1 (ja) 2019-04-26 2020-02-05 株式会社日立パワーソリューションズ プローブの可動範囲設定装置及び可動範囲設定方法
JP2023077632A (ja) 2021-11-25 2023-06-06 三菱電機株式会社 検査装置および検査方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6578534B1 (ja) 超音波高速スキャン装置
KR101819830B1 (ko) 초음파 검사 장치, 초음파 검사 시스템 및 초음파 검사 방법
JP4778074B2 (ja) 少なくとも1つのバランスリニアモータアセンブリを有する超音波マイクロイメージングデバイス
WO2015119063A1 (ja) 超音波検査装置および超音波検査方法
KR102485090B1 (ko) 위치 제어 장치, 위치 제어 방법, 및 초음파 영상 시스템
TWI828194B (zh) 陣列式超音波影像裝置及其控制方法
JP7463605B1 (ja) 超音波映像装置
JP5997861B1 (ja) 超音波映像装置および超音波映像装置の画像生成方法。
JP6641054B1 (ja) プローブの可動範囲設定装置及び可動範囲設定方法
JPH06242087A (ja) 超音波探傷装置
JP7368654B1 (ja) 超音波映像装置
JP3822500B2 (ja) 超音波映像装置
TWI838769B (zh) 陣列式超音波收發裝置
WO2003046532A1 (fr) Dispositif d'examen radiographique, procedes de commande et de reglage associes
JP4185209B2 (ja) モード制御方法および超音波診断装置
WO2022270363A1 (ja) アレイ型超音波送受信装置
JP4271898B2 (ja) 超音波探傷装置及び超音波探傷方法
JP4404355B2 (ja) 超音波映像装置用探触子
KR0177390B1 (ko) 이물 검출 장비의 레이저 주사 장치
JPS625646Y2 (ja)
JP2008175661A (ja) 音響パラメータ測定方法、及び音響パラメータ測定装置
Titov et al. A small-size multichannel scanning acoustic microscope
JPS6324260B2 (ja)
JPS58102151A (ja) 超音波顕微鏡
JP2006058030A (ja) 超音波映像装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20230905

A871 Explanation of circumstances concerning accelerated examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871

Effective date: 20230905

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20231003

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20231128

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20231212

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20240208

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20240216

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20240305

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20240327

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7463605

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150