JP7444659B2 - コンタクトピン及びソケット - Google Patents
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Description
第1電気部品及び第2電気部品を電気的に接続するコンタクトピンであって、
使用時に前記第1電気部品に接触する第1接触端部から第1係合端部へ軸方向に延び、前記第1係合端部側に開放された第1中空部を有する第1プランジャと、
使用時に前記第2電気部品に接触する第2接触端部から第2係合端部まで前記軸方向に延び、前記第2係合端部側に開放された第2中空部を有し、前記第2中空部と前記第1中空部とが連通した状態で前記第1係合端部及び前記第2係合端部が相互摺動可能に係合されている、第2プランジャと、
前記第1中空部及び前記第2中空部が連通してなる空間内に、前記第1プランジャ及び前記第2プランジャを前記軸方向に伸長させるよう付勢する付勢部材と、
を有し、
前記第1プランジャは、
筒状の本体部材であって、前記第1接触端部側の開放部の端部が縮径するよう傾斜する弾性のテーパ部と、前記テーパ部よりも前記第2プランジャ側で局所的に内周側へ突出する突出部と、を有する本体部材と、
前記第1接触端部が設けられた基部を有し前記本体部材及び前記第2プランジャに比べて高い硬度を有する接点部材と、
を有し、
前記第1接触端部を前記開放部から突出させた状態で前記開放部を閉塞する前記基部が前記テーパ部と前記突出部とにより前記軸方向で挟持されることで、前記接点部材が前記本体部材に固定される構成を採る。
前記コンタクトピンを支持する支持体と、
を備える構成を採る
図1は、本発明の実施の形態に係るコンタクトピン100の非使用状態における外観斜視図であり、図2は、同コンタクトピンの要部構成を説明する縦断面図である。
図1及び図2に示すコンタクトピン100は、第1電気部品と第2電気部品とを電気的に接続するものである。
第1プランジャ110は、コンタクトピン100の上側(一端部側)に配置される部材であり、第2プランジャ150は、コンタクトピン100の下側(他端部側)に配置される部材である。
コンタクトピン100は、本実施の形態では、第1電気部品としてのICパッケージの電気的特性を検査する検査用のICソケットにプローブピンとして用いられる。この検査では、検査対象の第1電気部品に対して、バーンイン試験等の各種試験が行われる。例えば、電気部品の実際の使用環境と同じ環境、又は、実際の環境よりも負荷のかかる環境において、電気部品が適正に動作するかどうかなどが調べられる。
図3は、コンタクトピンが取り付けられたソケットの平面図であり、図4は、図3のA-A線部分断面図である。なお、図3及び図4に示すコンタクトピンは、模式的に図示されている。
図3及び図4に示すソケット10は、第2電気部品としての配線基板上に配置され、上部に、第1電気部品としてのICパッケージが収容される。
ソケット10は、複数のコンタクトピン100と、コンタクトピン100を支持する板状のソケット本体(支持体)2とを有する。
図5は、ソケットにおけるコンタクトピンの動作の説明に供する断面図であり、図5Aは、ソケットにおいてなんら荷重が掛かっていないコンタクトピンを示す図である。また、図5Bは、配線基板5上にソケット10を配置した状態を示す図であり、図5Cは、ICパッケージを配線基板に接続した状態を示す図である。
貫通孔3に挿通されるコンタクトピン100は、フランジ部136が中央のフランジ孔部3b内に配置されることにより、ソケット本体2に対する上下方向の移動を規制される。
なお、ばね170は、第1プランジャ110と第2プランジャ150との双方を伸長させる方向、つまり、第1プランジャ110の端部と第2プランジャ150の端部とを離間する方向に付勢する付勢力を有する構成であれば、金属製でなくてもよい。
第1プランジャ110は、図2に示すように、上端部(一端部)側に設けられた第1接点部材120と、下端部(他端部)131が開放され、中空形状の第1中空部133を有する筒状の本体部材130と、下端部131に設けられる第1係合端部135を有する。
第1中空部133は、後述する第2プランジャ150の第2中空部153と連通して、ばね170を収容する空間を形成する。
本体部材130は、例えば、リン青銅、ベリリウム銅などの金属材料により形成されている。
図6に示すように、第1接点部材120における縦断面におけるテーパ部137の傾斜角度θは、第1プランジャ110の中心軸を通る点を中心して、第1接点部材120の接点側テーパ部124bのなす角度(例えば、90°)以上であることが好ましい。このテーパ部137の傾斜角度と、第1接点部材120の接点部側テーパ部124bの傾斜角度とを調整することにより、第1接点部材120の本体部材130に対する固定状態を調整できる。この調整により、使用時において第1接点部材120側からのごみ、かすが第1プランジャ110の内部落下しないように、双方を密着させることができる。
第1接点部材120は、使用時に第1電気部品、例えば、ICパッケージに接触する第1接触端部122を構成する。
第1接点部材120は、本体部材130の第1接触端部122側の開放部を閉塞して設けられている。
第1接点部材120は、第1接触端部122と、第1接触端部122が突設され、本体部材130の上端部内に配置される基部124と、位置決め突起部126とを有する。
第1接触端部122は、第1接点部材120において、テーパ部137で囲まれる開口から上側、すなわち一端部側に突出して配置される。
接点部側テーパ部124bは、下端部131の第1係合端部135側から第1接触端部122側に向かって縮径するように傾斜する外面を有する。
係合端部側テーパ部124cは、接点部側テーパ部124bよりも第1係合端部135側に設けられ、前記第1接点端部側から前記第1係合端部に向かって縮径するように傾斜する外面を有する。
これにより、例えば、図8に示すように、第2プランジャ150が第1プランジャ110の第1接点部材120側に移動したとき等、ばね170が予期せぬ軸方向と直交する方向の挙動をする場合でも、ばね170の横ずれ、つまり、軸方向に交差する方向への移動を規制する。これにより、ばね170が第1プランジャ110と第2プランジャ150との間に挟まれることがない。
第2プランジャ150は、使用時に第2電気部品、例えば、回路基板に接触する第2接触端部152を有し、第1プランジャ110に対して軸方向で伸縮自在に設けられている。
例えば、第2プランジャ150は、ベリリウム銅、リン青銅、黄銅等の金属材料を加工して形成される。また、これら金属材料に構成される第2プランジャ150は、ニッケル、金などのメッキ処理が施されてもよい。
第2接触端部152は、コンタクトピン100の軸線上に中心が位置するように設けられている。第2接触端部152は、本体部154の底面から突出方向に向かって軸線と直交する断面積が小さくなるように形成されてもよい。本実施の形態では、第2接触端部152は、半球状に形成されている。
本体部154は、第1プランジャ110の本体部材130内で軸方向に移動自在に設けられている。
本体部154の開口側の端部に、第2係合端部155が、本体部154の上端部から放射方向に張り出すように形成され、本体部材130内に配置され、第1係合端部135と相互摺動自在に係合する。
ばね170は、付勢部材の一例であり、第1プランジャ110及び第2プランジャ150を軸方向に伸長させるよう付勢する。
ばね170は、第1中空部133及び第2中空部153が連通してなる空間S内に配設されている。ばね170は、空間S内において、プリロードした状態で配置されている。
このように本実施の形態によれば、ピン全長を短くできるとともに耐久性と量産性とを両立させることができる。
3 貫通孔
3a 上側孔部
3b フランジ孔部
3c 下側孔部
5 配線基板
6 半田ボール
7 作業台
10 ソケット
71 孔部
72 作業台
100 コンタクトピン
110 第1プランジャ
120、120A 第1接点部材
122 第1接触端部
124 基部
124a 外周部
124b 接点部側テーパ部
124c 係合端部側テーパ部
126 位置決め突起部
130 本体部材
131 下端部(他端部)
132 上端部
133 第1中空部
134 外壁部
135 第1係合端部
136 フランジ部
137 テーパ部
142 移動規制部
144 打痕部
150 第2プランジャ
152 第2接触端部
153 第2中空部
153a 底部
154 本体部
155 第2係合端部
170 バネ(付勢部材)
Claims (7)
- 第1電気部品及び第2電気部品を電気的に接続するコンタクトピンであって、
使用時に前記第1電気部品に接触する第1接触端部から第1係合端部へ軸方向に延び、前記第1係合端部側に開放された第1中空部を有する第1プランジャと、
使用時に前記第2電気部品に接触する第2接触端部から第2係合端部まで前記軸方向に延び、前記第2係合端部側に開放された第2中空部を有し、前記第2中空部と前記第1中空部とが連通した状態で前記第1係合端部及び前記第2係合端部が相互摺動可能に係合されている、第2プランジャと、
前記第1中空部及び前記第2中空部が連通してなる空間内に、前記第1プランジャ及び前記第2プランジャを前記軸方向に伸長させるよう付勢する付勢部材と、
を有し、
前記第1プランジャは、
筒状の本体部材であって、前記第1接触端部側の開放部の端部が縮径するよう傾斜する弾性のテーパ部と、前記テーパ部よりも前記第2プランジャ側で局所的に内周側へ突出する突出部と、を有する本体部材と、
前記第1接触端部が設けられた基部を有し前記本体部材及び前記第2プランジャに比べて高い硬度を有する接点部材と、
を有し、
前記第1接触端部を前記開放部から突出させた状態で前記開放部を閉塞する前記基部が前記テーパ部と前記突出部とにより前記軸方向で挟持されることで、前記接点部材が前記本体部材に固定される、
コンタクトピン。 - 前記突出部は、前記本体部材の外周面に設けられた打痕部により押圧して内側に突出するように変形して形成されている、
請求項1記載のコンタクトピン。 - 前記第2プランジャが前記第1プランジャの内側で前記軸方向に伸長するように、前記第2係合端部は、前記第1係合端部に、その内側で係合されている、
請求項1記載のコンタクトピン。 - 前記付勢部材は、圧縮コイルばねであり、
前記接点部材は、前記本体部材内に突出して設けられ、前記圧縮コイルばねの一端部に挿入して、前記圧縮コイルばねの横ずれを規制する突起部を有する、
請求項1から3のいずれか一項に記載のコンタクトピン。 - 前記接点部材は、前記本体部材に、前記第1係合端部側から挿入されて前記第1接触端部側で固定されている、
請求項1から4のいずれか一項に記載のコンタクトピン。 - 前記接点部材はパラジウム合金により構成される、
請求項1から5のいずれか一項に記載のコンタクトピン。 - 請求項1から6のいずれかに記載のコンタクトピンと、
前記コンタクトピンを支持する支持体と、
を備える、ソケット。
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Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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JP2011191104A (ja) | 2010-03-12 | 2011-09-29 | Advantest Corp | コンタクトプローブ及びソケット、チューブ状プランジャの製造方法、並びにコンタクトプローブの製造方法 |
JP2013120065A (ja) | 2011-12-06 | 2013-06-17 | Yamaichi Electronics Co Ltd | コンタクトプローブ及びそれを備えた半導体素子用ソケット |
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