JP7425409B2 - 損傷評価装置及び損傷評価方法 - Google Patents
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Description
本開示は、損傷評価装置及び損傷評価方法に関する。
例えば、ボイラの溶接面の損傷を評価する装置として特許文献１に開示さたものが提案されている。特許文献１には、フェーズドアレイ超音波探傷装置によって試験片の溶接部の内部に超音波を走査しながら照射し、超音波の反射波を受信して反射波の強度分布を取得し、溶接部の損傷を評価することが記載されている。
しかしながら、特許文献１に開示された技術では、測定時の機器の感度や超音波探触子の接触状態により評価値にばらつきが生じることがあり、高精度な評価ができないという問題がある。
本開示は、このような従来の課題を解決するためになされたものであり、その目的とするところは、測定時の機器の感度や超音波探触子の接触状態の影響を低減して、高精度な損傷度の評価が可能な損傷評価装置及び損傷評価方法を提供することにある。
本開示に係る損傷評価装置の一の態様は、金属内部に生じている損傷を評価する損傷評価装置であって、評価対象の金属の表面から内部に向けて超音波信号を照射し、金属内部の所定領域で反射した反射信号を検出するフェーズドアレイ探触子と、前記所定領域に、互いに平行な複数の平面を設定し、前記各平面に設定した各ピクセルごとに前記反射信号を取得し、且つ、前記平面に直交する方向に前記各ピクセルの反射信号の強度の最大値を抽出した画像であるマージ画像を生成するマージ処理部と、前記マージ画像の、各ピクセルごとの反射信号の強度を数値化したデータであるピクセルデータを算出する数値化処理部と、前記マージ画像の各ピクセルデータの散らばりの度合いを算出する散らばり度算出部と、前記散らばり度算出部で算出された散らばりの度合いに基づいて、前記評価対象の金属の損傷を評価する評価部とを備える。
本開示に係る損傷評価装置の他の態様は、金属内部に生じている損傷を評価する損傷評価装置であって、評価対象の金属の表面から内部に向けて超音波信号を照射し、金属内部の所定領域で反射した反射信号を検出するフェーズドアレイ探触子と、前記所定領域に、互いに平行な複数の平面を設定し、前記各平面に設定した各ピクセルごとに前記反射信号を取得し、前記各ピクセルの反射信号の強度を数値化したデータであるピクセルデータを算出する数値化処理部と、前記各ピクセルデータの散らばりの度合いを算出する散らばり度算出部と、前記散らばり度算出部で算出された散らばりの度合いに基づいて、前記評価対象の金属の損傷を評価する評価部とを備える。
本開示に係る損傷評価方法の一の態様は、金属内部に生じている損傷を評価する損傷評価方法であって、フェーズドアレイ探触子により、評価対象の金属の表面から内部に向けて超音波信号を照射し、金属内部の所定領域で反射した反射信号を検出するステップと、前記所定領域に、互いに平行な複数の平面を設定し、前記各平面に設定した各ピクセルごとに前記反射信号を取得し、且つ、前記平面に直交する方向に前記各ピクセルの反射信号の最大値を抽出した画像であるマージ画像を生成するステップと、前記マージ画像の、各ピクセルごとの反射信号の強度を数値化したデータであるピクセルデータを算出するステップと、前記マージ画像の各ピクセルデータの散らばりの度合いを算出するステップと、前記散らばりの度合いに基づいて、前記評価対象の金属の損傷を評価するステップとを備える。
本開示によれば、金属内の損傷を高精度に評価することが可能になる。
以下、いくつかの例示的な実施形態について、図面を参照して説明する。図１は、本実施形態に係る損傷評価装置の構成を示すブロック図である。図１に示す例では、２つの金属を溶接により連結した部材の、溶接部に生じる亀裂や欠損などの損傷を検出し、寿命消費率を診断する例について説明する。なお、本開示で示す「寿命消費率」とは、経年劣化により金属が破壊するまでの期間を寿命としたときの、消費した期間の比率を示すものとする。
［第１実施形態の構成説明］
図１に示すように、本実施形態に係る損傷評価装置１は、２つの金属板２１ａ、２１ｂの端部を互いに突き当てて溶接した際の、溶接部２２に生じる損傷を検出する。なお、図１に示す装置の、左右方向をＸ方向、紙面に直交する方向をＹ方向、上下方向をＺ方向として定義する。
図１に示すように、本実施形態に係る損傷評価装置１は、２つの金属板２１ａ、２１ｂの端部を互いに突き当てて溶接した際の、溶接部２２に生じる損傷を検出する。なお、図１に示す装置の、左右方向をＸ方向、紙面に直交する方向をＹ方向、上下方向をＺ方向として定義する。
損傷評価装置１は、基台１６と、フェーズドアレイ探触子１１と、送受信機１２と、Ａ／Ｄボード１３と、演算処理部１４と、モニタ１５を備えている。
基台１６は、検査対象となる金属板の表面（本実施形態では、金属板２１ａ）に設置される。基台１６は、フェーズドアレイ探触子１１を接触させるための傾斜面を有している。基台１６は、アクリル等で構成されている。基台１６と金属板２１ａとの間には、空気層を除去するためにグリセリンが塗布されている。
なお、本実施形態では、金属板２１ａと２１ｂを接合する溶接部２２を検査対象としており、溶接部２２にはビードによる盛り上がりが生じているので、ビードとの干渉を回避するために基台１６に傾斜面を設ける構成としている。しかし、本開示はこれに限定されるものではなく、基台１６におけるフェーズドアレイ探触子１１を接触させる面を、金属板２１ａに平行な面とすることもできる。
フェーズドアレイ探触子１１は、一次元方向に配置された複数の超音波振動子を有している。具体的に、フェーズドアレイ探触子１１には、図中α１の方向に向けて複数（例えば、６４個）の超音波振動子が連続的に配置されている。そして、各超音波振動子の発振タイミング（遅延時間）を制御することにより、図１に示すＸ－Ｚ平面の領域ＳＬに向けて超音波ビームを照射する。更に、フェーズドアレイ探触子１１をＸ－Ｚ平面に直交する方向（Ｙ方向）に一軸走査することにより、超音波ビームの照射領域をＹ方向に移動させる。即ち、フェーズドアレイ探触子１１は、評価対象の金属の表面から内部に向けて超音波ビーム（超音波信号）を照射し、金属内部の所定領域で反射した反射信号を受信する。
以下、図２、図３を参照して、フェーズドアレイ探触子１１による検出領域について説明する。図２は金属板２１ａ、２１ｂをＹ方向から見た図、図３は、図２に示す矢印Ａ１の方向から見た図（Ｘ方向から見た図）である。
フェーズドアレイ探触子１１より超音波ビームを照射することにより、図２に示す溶接部２２を含む領域Ｑａからの反射信号を取得する。その結果、図２に示すｘ１、ｚ１で規定される領域の反射信号が取得される。
更に、フェーズドアレイ探触子１１をＹ方向に一軸走査することにより、図３に示すｙ１、ｚ１で規定される領域Ｑｂの反射信号が取得される。即ち、ｘ１、ｙ１、ｚ１で規定される直方体の三次元領域（以下、「検査領域Ｑ１」という）が、超音波ビームによる検出領域（金属内部の所定領域）として設定される。
図１に戻って、送受信機１２は、フェーズドアレイ探触子１１に設けられた各超音波振動子を駆動するための電気信号を出力する。また、各超音波振動子で検出された反射信号を受信する。
Ａ／Ｄボード１３は、後述する遅延計算部１４１より出力される超音波振動子のデジタルの駆動信号をアナログ信号に変換する。また、送受信機１２で検出された超音波の反射信号をデジタル化して後述するデータ取得部１４２に出力する。
演算処理部１４は、遅延計算部１４１と、データ取得部１４２と、マージ処理部１４３と、数値化処理部１４４と、標準偏差算出部１４５と、マージ画像出力部１４６と、寿命消費率算出部１４７を備える。演算処理部１４は、例えば、中央演算ユニット（ＣＰＵ）や、ＲＡＭ、ＲＯＭ、ハードディスク等の記憶手段からなる一体型のコンピュータとして構成することができる。
遅延計算部１４１は、フェーズドアレイ探触子１１に設けられる複数の超音波振動子の発振のタイミング（遅延時間）を制御して、超音波ビームの照射領域を変化させるための制御信号を出力する。
データ取得部１４２は、フェーズドアレイ探触子１１の各超音波振動子で検出され、Ａ／Ｄボード１３でデジタル化された反射信号を取得する。
マージ処理部１４３は、図２、図３に示した三次元の検査領域Ｑ１で検出された各反射信号の強度（以下、「反射信号強度」という）に基づいて、マージ画像を生成する。以下、詳細に説明する。
前述したように、フェーズドアレイ探触子１１により超音波ビームを照射し、且つ、該フェーズドアレイ探触子１１をＹ方向に一軸走査することにより、溶接部２２内に設定されている検査領域Ｑ１からの反射信号が取得される。
図２に示すように、検査領域Ｑ１内にＹ－Ｚ平面に平行な複数の平面（図では、ｎ個の平面ｑ１～ｑｎ）を設定する。ｎは例えば「６４」である。そして、各平面ｑ１～ｑｎに、微少領域（以下、「ピクセル」という）を設定する。
マージ処理部１４３は、各平面ｑ１～ｑｎの各ピクセルについて超音波の反射信号が得られると、各反射信号の反射信号強度をＸ方向で比較し、Ｘ方向の反射信号強度の最大値を抽出する。マージ処理部１４３は、この最大値に基づいてマージ画像を生成する。具体的に、図４に示すように、縦ｚ１、横ｙ１の長方形の平面を、（ｉ×ｊ）個のピクセルｐ11～ｐijに分割したマージ画像が得られる。例えば、ピクセルｐ11には、各平面ｑ１～ｑｎをＸ方向に投影した際の、ピクセルｐ11に対応する領域における反射信号強度の最大値が設定される。
このため例えば、図２、図３に示すように、検査領域Ｑ１に亀裂や欠損などの損傷部β１が存在する場合には、図４に示す各ピクセルｐ11～ｐijのうち、損傷部β１に対応するピクセルの反射信号強度が大きくなる。
図１に戻って、マージ画像出力部１４６は、マージ処理部１４３で生成されたマージ画像をモニタ１５に出力する。
数値化処理部１４４は、マージ処理部１４３で生成されたマージ画像における各ピクセルｐ11～ｐijの反射信号強度を、強度に応じた数値に置き換える処理を実施する。例えば、反射信号強度に応じて「１～１００」までの数値（以下、「ピクセルデータ」という）を設定する。従って、図４に示した各ピクセルｐ11～ｐijには、それぞれの反射信号強度に応じたピクセルデータが設定されることになる。即ち、数値化処理部１４４は、各ピクセルごとの反射信号を数値化したデータであるピクセルデータを算出する機能を備えている。
標準偏差算出部１４５は、図４に示した各ピクセルｐ11～ｐijに設定されたピクセルデータの標準偏差を算出する。標準偏差は周知のように、以下に示す（１）式で算出することができる。
（１）式において、ｋは（ｉ，ｊ）で特定されるピクセル番号、ｎはピクセル数（即ち「ｉ×ｊ」）、μはピクセルデータの平均値、σは標準偏差、ｘｋは各ピクセルでのピクセルデータである。
標準偏差算出部１４５は、マージ画像の各ピクセルデータの散らばりの度合いを算出する散らばり度算出部としての機能を備えている。なお、本実施形態では、各ピクセルデータの散らばりの度合いとして標準偏差を例に挙げて説明するが、本開示はこれに限定されるものではなく、他の手法で数値の散らばりの度合いを算出してもよい。
寿命消費率算出部１４７（評価部）は、標準偏差算出部１４５で算出された標準偏差と予め設定されている検定曲線に基づいて、評価対象となる金属の損傷を評価する。具体的に寿命消費率算出部１４７は、メモリなどの記憶部（図示省略）を備えており、該記憶部には評価対象となる金属の供用時間（金属が破壊に至るまでの経過時間）と標準偏差との関係を示す検定曲線（図８のｆ１参照）が記憶されている。検定曲線ｆ１には、評価対象となる金属が破壊すると予想される破壊予測時期Ｔｅが示されている。
検定曲線ｆ１は、過去の統計データやサンプルを用いたクリープ試験を行うことにより取得することができる。以下、検定曲線を作成する方法を、図６Ａ、図６Ｂ、図６Ｃに示すグラフを参照して説明する。
検査対象となる金属のサンプルを用意し、該サンプルを運転環境下に置いて、この状態を長時間継続させる。サンプルに損傷や破壊が生じるまでの期間において、試験時間とピクセルデータ（図４のｐ11～ｐij）の変化を測定する。更に、各ピクセルデータの最大値、平均値、標準偏差を算出する。図６Ａは、試験時間の経過に対する最大値の変化を示し、図６Ｂは試験時間の経過に対する平均値の変化を示し、図６Ｃは試験時間の変化に対する標準偏差の変化を示している。
図６Ａ～図６Ｃのグラフより、試験時間が長くなるほど、最大値、平均値、標準偏差が増大する傾向があることが理解される。そして、このような試験を複数回繰り返すことにより、図８に示す検定曲線ｆ１を取得する。
寿命消費率算出部１４７は、図８に示すグラフｆ１に、実際に測定されたピクセルデータ（図４に示したピクセルｐ11～ｐijのピクセルデータ）より算出された標準偏差σを当てはめることにより、現在の供用時間Ｔ１を取得する。更に、破壊予測時期Ｔｅと供用時間Ｔ１に基づいて、寿命消費率を算出する。例えば、寿命消費率を（Ｔ１／Ｔｅ）で算出することができる。
図１に戻って、モニタ１５は、マージ画像出力部１４６より出力されたマージ画像を表示する。モニタ１５は、寿命消費率算出部１４７で算出された寿命消費率を画面表示して、評価対象となる金属の寿命消費率をユーザに知らせる。
［第１実施形態の作用の説明］
次に、本実施形態に係る損傷評価装置１の処理手順を、図５に示すフローチャートを参照して説明する。
次に、本実施形態に係る損傷評価装置１の処理手順を、図５に示すフローチャートを参照して説明する。
初めに、図５に示すステップＳ１１において、演算処理部１４は、フェーズドアレイ探触子１１に設けられる複数の超音波振動子に遅延制御信号を出力する。
ステップＳ１２において、演算処理部１４は、フェーズドアレイ探触子１１を駆動させ、且つ遅延制御して評価対象となる金属に超音波ビームを照射する。その結果、図２、図３に示したｘ１、ｙ１、ｚ１で規定される検査領域Ｑ１に超音波ビームを照射することができる。
ステップＳ１３において、演算処理部１４は、マージ画像を生成する。具体的に、図２に示した複数の平面ｑ１～ｑｎの各ピクセルで検出される反射信号をＸ方向に投影し、最大値を抽出した画像をマージ画像として生成する。その結果、図４に示したように、複数のピクセルｐ11～ｐijに、それぞれのＸ方向の反射信号強度の最大値が設定されたマージ画像が生成される。
ステップＳ１４において、演算処理部１４は、マージ画像を数値化する。具体的に、図４に示した複数のピクセルｐ11～ｐijに超音波ビームの反射信号強度に応じたピクセルデータを設定する。
ステップＳ１５において、演算処理部１４は、各ピクセルデータの標準偏差を算出する。具体的に、前述した（１）式の「ｎ」にピクセルの個数（ｉ×ｊ）を代入し、「μ」にピクセルデータの平均値を代入して標準偏差σを算出する。
ステップＳ１６において、演算処理部１４は、標準偏差σと、図８に示した検定曲線ｆ１に基づいて、評価対象となる金属の寿命消費率を算出する。
ステップＳ１７において、演算処理部１４は、算出された寿命評価率に基づいて、評価対象となる金属（本実施形態では溶接部２２）の損傷の度合いを評価する。
本実施形態では、各ピクセルｐ11～ｐijのピクセルデータから標準偏差σを算出しており、この標準偏差σと検定曲線ｆ１を参照して金属の損傷の度合いを評価するので、従来と対比して高精度な評価が可能となる。
［第１実施形態の効果の説明］
このようにして、本実施形態に係る損傷評価装置によれば、以下に示す作用、効果が得られる。
このようにして、本実施形態に係る損傷評価装置によれば、以下に示す作用、効果が得られる。
（１）
評価対象となる金属に超音波ビームを照射し、金属内部で反射する反射信号を取得する。金属内部の、図２、図３に示すｘ１、ｙ１、ｚ１の各辺で規定される検査領域Ｑ１（所定の領域）を設定し、この検査領域Ｑ１に、Ｙ－Ｚ平面に平行な複数の平面ｑ１～ｑｎを設定する。そして、各平面ｑ１～ｑｎの各ピクセルにて検出される反射波のデータを、Ｘ方向に投影して最大値を抽出し、マージ画像を生成する。更に、このマージ画像の各ピクセルｐ11～ｐijを数値化し、数値化した各ピクセルデータの標準偏差を算出する。算出した標準偏差と図８に示した検定曲線ｆ１に基づいて、評価対象となる金属を評価する。従って、溶接部２２などの評価対象となる金属に生じる亀裂、欠損などの損傷を高精度に評価することが可能となる。
評価対象となる金属に超音波ビームを照射し、金属内部で反射する反射信号を取得する。金属内部の、図２、図３に示すｘ１、ｙ１、ｚ１の各辺で規定される検査領域Ｑ１（所定の領域）を設定し、この検査領域Ｑ１に、Ｙ－Ｚ平面に平行な複数の平面ｑ１～ｑｎを設定する。そして、各平面ｑ１～ｑｎの各ピクセルにて検出される反射波のデータを、Ｘ方向に投影して最大値を抽出し、マージ画像を生成する。更に、このマージ画像の各ピクセルｐ11～ｐijを数値化し、数値化した各ピクセルデータの標準偏差を算出する。算出した標準偏差と図８に示した検定曲線ｆ１に基づいて、評価対象となる金属を評価する。従って、溶接部２２などの評価対象となる金属に生じる亀裂、欠損などの損傷を高精度に評価することが可能となる。
（２）
各ピクセルデータの散らばりの度合いとして、標準偏差を用いているので、簡易な演算で、金属の損傷を評価することができ、装置の演算負荷を軽減することが可能となる。
各ピクセルデータの散らばりの度合いとして、標準偏差を用いているので、簡易な演算で、金属の損傷を評価することができ、装置の演算負荷を軽減することが可能となる。
（３）
過去に得られた統計データに基づいて、供用時間と標準偏差との関係を示す検定曲線（図８に示すグラフｆ１）を作成し、この検定曲線を用いて、金属の損傷を評価するので、より高精度に金属の損傷を評価することが可能となる。
過去に得られた統計データに基づいて、供用時間と標準偏差との関係を示す検定曲線（図８に示すグラフｆ１）を作成し、この検定曲線を用いて、金属の損傷を評価するので、より高精度に金属の損傷を評価することが可能となる。
なお、本実施形態では、散らばりの度合いを示す指標として標準偏差を例に挙げて説明したが、本開示はこれに限定されるものではなく、他の方法を用いることも可能である。
また、本実施形態では、図２に示したように、検査領域Ｑ１内に、Ｙ－Ｚ平面に平行な複数の平面ｑ１～ｑｎを設定する例について説明したが、本開示はこれに限定されるものではなく、互いに平行な複数の平面ｑ１～ｑｎを任意の方向に設定することが可能である。
即ち、検査領域Ｑ１（所定領域）に、互いに平行な複数の平面を設定し、各平面に設定した各ピクセルごとに反射信号を取得し、且つ、各平面に直交する方向に各ピクセルの反射信号強度の最大値を抽出した画像であるマージ画像を生成する構成とすることができる。
［第１実施形態の変形例の説明］
次に、上述した第１実施形態の変形例について説明する。変形例では、標準偏差を算出する際に、各ピクセルデータの最大値を規格化して標準偏差を算出する。
次に、上述した第１実施形態の変形例について説明する。変形例では、標準偏差を算出する際に、各ピクセルデータの最大値を規格化して標準偏差を算出する。
具体的に、過去の統計データまたはクリープ試験により得られるデータに基づいて検定曲線を作成する際に、図７Ａに示すように各試験時間毎のピクセルデータの最大値が同一となるように、各ピクセルデータを規格化する。そして、図７Ｂに示すように最大値が規格化されたピクセルデータに基づいて平均値を算出する。また、図７Ｃに示すように最大値が規格化されたピクセルデータに基づいて、標準偏差を算出する。そして、算出した標準偏差に基づいて検定曲線（図８に示すグラフｆ１）を作成する。
評価対象となる金属を評価する際には、検査により取得された各ピクセルｐ11～ｐijのピクセルデータの最大値を規格化して標準偏差を算出する。算出した標準偏差と上記の特性曲線に基づいて、評価対象となる金属に亀裂や欠損などの損傷を評価する。
ピクセルデータの最大値を規格化することにより、各ピクセルｐ11～ｐijにおけるピクセルデータの最大値が変動する場合でも、この変動の影響を低減してより高精度に評価対象となる金属を評価することが可能となる。
なお、変形例ではピクセルデータの最大値を規格化する例について説明したが、ピクセルデータの平均値を規格化して標準偏差を算出しても同様の効果を得ることができる。
［第２実施形態の説明］
次に、第２実施形態について説明する。第２実施形態では、前述した第１実施形態と同様に、図２、図３に示されるｘ１、ｙ１、ｚ１で規定される三次元の検査領域Ｑ１（所定の領域）に、Ｙ－Ｚ平面に平行な複数の平面ｑ１～ｑｎを設定する。
次に、第２実施形態について説明する。第２実施形態では、前述した第１実施形態と同様に、図２、図３に示されるｘ１、ｙ１、ｚ１で規定される三次元の検査領域Ｑ１（所定の領域）に、Ｙ－Ｚ平面に平行な複数の平面ｑ１～ｑｎを設定する。
更に、第２実施形態では、各平面ｑ１～ｑｎのそれぞれのピクセルにおいて、反射信号の強度を数値化しピクセルデータを取得する。即ち、図４に示した各ピクセルｐ11～ｐijを、各平面ｑ１～ｑｎに対して設定し、各平面ｑ１～ｑｎの各ピクセルごとにピクセルデータを算出する。即ち、図４に示した（ｉ×ｊ）個のピクセルデータを、各平面ｑ１～ｑｎに対して算出し、合計で（（ｉ×ｊ）×ｎ個）のピクセルデータを取得する。
そして、各ピクセルデータに対して、前述した第１実施形態と同様に標準偏差を算出し、算出したピクセルデータに基づいて、評価対象となる金属の損傷を評価する。
このような構成によれば、検査領域Ｑ１に存在する、より多くのピクセルデータに基づいて、金属の損傷を評価するので、第１実施形態と対比して、より高精度に金属の損傷を評価することが可能となる。
以上、本発明の実施形態を記載したが、この開示の一部をなす論述及び図面はこの発明を限定するものであると理解すべきではない。この開示から当業者には様々な代替実施の形態、実施例及び運用技術が明らかとなろう。
１ 損傷評価装置
１１ フェーズドアレイ探触子
１４３ マージ処理部
１４４ 数値化処理部
１４５ 標準偏差算出部（散らばり度算出部）
１４７ 寿命消費率算出部（評価部）
１１ フェーズドアレイ探触子
１４３ マージ処理部
１４４ 数値化処理部
１４５ 標準偏差算出部（散らばり度算出部）
１４７ 寿命消費率算出部（評価部）
Claims (6)
- 金属内部に生じている損傷を評価する損傷評価装置であって、
評価対象の金属の表面から内部に向けて超音波信号を照射し、金属内部の所定領域で反射した反射信号を検出するフェーズドアレイ探触子と、
前記所定領域に、互いに平行な複数の平面を設定し、前記各平面に設定した各ピクセルごとに前記反射信号を取得し、且つ、前記平面に直交する方向に前記各ピクセルの反射信号の強度の最大値を抽出した画像であるマージ画像を生成するマージ処理部と、
前記マージ画像の、各ピクセルごとの反射信号の強度を数値化したデータであるピクセルデータを算出する数値化処理部と、
前記マージ画像の各ピクセルデータの散らばりの度合いを算出する散らばり度算出部と、
前記散らばり度算出部で算出された散らばりの度合いに基づいて、前記評価対象の金属の損傷を評価する評価部と、
を備えた損傷評価装置。 - 前記散らばりの度合いは、標準偏差である請求項１に記載の損傷評価装置。
- 前記散らばり度算出部は、前記マージ画像の各ピクセルデータの最大値、または平均値のいずれか一方を規格化して前記標準偏差を算出する請求項２に記載の損傷評価装置。
- 前記評価部は、前記金属が破壊する時期までの供用時間と標準偏差との関係を示す曲線である検定曲線を記憶しており、前記散らばり度算出部で算出された前記標準偏差と前記検定曲線に基づいて、前記評価対象の金属の損傷を評価すること
を特徴とする請求項２または３に記載の損傷評価装置。 - 金属内部に生じている損傷を評価する損傷評価装置であって、
評価対象の金属の表面から内部に向けて超音波信号を照射し、金属内部の所定領域で反射した反射信号を検出するフェーズドアレイ探触子と、
前記所定領域に、互いに平行な複数の平面を設定し、前記各平面に設定した各ピクセルごとに前記反射信号を取得し、前記各ピクセルの反射信号の強度を数値化したデータであるピクセルデータを算出する数値化処理部と、
前記各ピクセルデータの散らばりの度合いを算出する散らばり度算出部と、
前記散らばり度算出部で算出された散らばりの度合いに基づいて、前記評価対象の金属の損傷を評価する評価部と、
を備えた損傷評価装置。 - 金属内部に生じている損傷を評価する損傷評価方法であって、
フェーズドアレイ探触子により、評価対象の金属の表面から内部に向けて超音波信号を照射し、金属内部の所定領域で反射した反射信号を検出するステップと、
前記所定領域に、互いに平行な複数の平面を設定し、前記各平面に設定した各ピクセルごとに前記反射信号を取得し、且つ、前記平面に直交する方向に前記各ピクセルの反射信号の最大値を抽出した画像であるマージ画像を生成するステップと、
前記マージ画像の、各ピクセルごとの反射信号の強度を数値化したデータであるピクセルデータを算出するステップと、
前記マージ画像の各ピクセルデータの散らばりの度合いを算出するステップと、
前記散らばりの度合いに基づいて、前記評価対象の金属の損傷を評価するステップと、
を備えた損傷評価方法。
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