JP7416744B2 - ディスプレイ装置 - Google Patents
ディスプレイ装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP7416744B2 JP7416744B2 JP2021167941A JP2021167941A JP7416744B2 JP 7416744 B2 JP7416744 B2 JP 7416744B2 JP 2021167941 A JP2021167941 A JP 2021167941A JP 2021167941 A JP2021167941 A JP 2021167941A JP 7416744 B2 JP7416744 B2 JP 7416744B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- layer
- pixel
- counter electrode
- electrode
- display device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims description 613
- 238000002161 passivation Methods 0.000 claims description 118
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 49
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 33
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 17
- 230000008021 deposition Effects 0.000 claims description 11
- 239000002346 layers by function Substances 0.000 claims description 11
- 238000002347 injection Methods 0.000 claims description 10
- 239000007924 injection Substances 0.000 claims description 10
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims description 6
- 230000005525 hole transport Effects 0.000 claims description 5
- 239000012212 insulator Substances 0.000 claims description 3
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 76
- 239000010408 film Substances 0.000 description 56
- 230000000873 masking effect Effects 0.000 description 46
- 238000000034 method Methods 0.000 description 39
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 29
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 29
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 26
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 23
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 21
- -1 region Substances 0.000 description 11
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 11
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 10
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 9
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 9
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 8
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 8
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 8
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 8
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 8
- YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N Fluorine atom Chemical compound [F] YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 description 7
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 7
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 7
- LIVNPJMFVYWSIS-UHFFFAOYSA-N silicon monoxide Chemical compound [Si-]#[O+] LIVNPJMFVYWSIS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 7
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 description 6
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 4
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 description 4
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 description 4
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 4
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 4
- 238000002207 thermal evaporation Methods 0.000 description 4
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 4
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000005137 deposition process Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 description 3
- 239000012044 organic layer Substances 0.000 description 3
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 3
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 3
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 3
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- URLKBWYHVLBVBO-UHFFFAOYSA-N Para-Xylene Chemical group CC1=CC=C(C)C=C1 URLKBWYHVLBVBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 101100311549 Saccharomyces cerevisiae (strain ATCC 204508 / S288c) SWC5 gene Proteins 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052791 calcium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 2
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 2
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 2
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 2
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 2
- 229920003229 poly(methyl methacrylate) Polymers 0.000 description 2
- 239000004926 polymethyl methacrylate Substances 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 2
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 2
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 2
- 238000001039 wet etching Methods 0.000 description 2
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052779 Neodymium Inorganic materials 0.000 description 1
- 101000779425 Pisum sativum Albumin-1 A Proteins 0.000 description 1
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 1
- 239000004793 Polystyrene Substances 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001408 amides Chemical class 0.000 description 1
- 150000008378 aryl ethers Chemical class 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 150000003949 imides Chemical class 0.000 description 1
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052741 iridium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052744 lithium Inorganic materials 0.000 description 1
- PQXKHYXIUOZZFA-UHFFFAOYSA-M lithium fluoride Inorganic materials [Li+].[F-] PQXKHYXIUOZZFA-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 125000005487 naphthalate group Chemical group 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- ISWSIDIOOBJBQZ-UHFFFAOYSA-N phenol group Chemical group C1(=CC=CC=C1)O ISWSIDIOOBJBQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920000058 polyacrylate Polymers 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 229920002451 polyvinyl alcohol Polymers 0.000 description 1
- 238000009987 spinning Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
- H10K59/10—OLED displays
- H10K59/12—Active-matrix OLED [AMOLED] displays
- H10K59/131—Interconnections, e.g. wiring lines or terminals
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K50/00—Organic light-emitting devices
- H10K50/80—Constructional details
- H10K50/805—Electrodes
- H10K50/82—Cathodes
- H10K50/824—Cathodes combined with auxiliary electrodes
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
- H10K59/10—OLED displays
- H10K59/12—Active-matrix OLED [AMOLED] displays
- H10K59/122—Pixel-defining structures or layers, e.g. banks
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K50/00—Organic light-emitting devices
- H10K50/10—OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED]
- H10K50/11—OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED] characterised by the electroluminescent [EL] layers
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K50/00—Organic light-emitting devices
- H10K50/10—OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED]
- H10K50/14—Carrier transporting layers
- H10K50/15—Hole transporting layers
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K50/00—Organic light-emitting devices
- H10K50/10—OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED]
- H10K50/14—Carrier transporting layers
- H10K50/16—Electron transporting layers
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K50/00—Organic light-emitting devices
- H10K50/10—OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED]
- H10K50/17—Carrier injection layers
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K50/00—Organic light-emitting devices
- H10K50/10—OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED]
- H10K50/17—Carrier injection layers
- H10K50/171—Electron injection layers
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K50/00—Organic light-emitting devices
- H10K50/80—Constructional details
- H10K50/805—Electrodes
- H10K50/81—Anodes
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K50/00—Organic light-emitting devices
- H10K50/80—Constructional details
- H10K50/805—Electrodes
- H10K50/82—Cathodes
- H10K50/822—Cathodes characterised by their shape
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K50/00—Organic light-emitting devices
- H10K50/80—Constructional details
- H10K50/84—Passivation; Containers; Encapsulations
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
- H10K59/80—Constructional details
- H10K59/805—Electrodes
- H10K59/8052—Cathodes
- H10K59/80521—Cathodes characterised by their shape
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K71/00—Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K71/00—Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
- H10K71/20—Changing the shape of the active layer in the devices, e.g. patterning
- H10K71/221—Changing the shape of the active layer in the devices, e.g. patterning by lift-off techniques
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K2102/00—Constructional details relating to the organic devices covered by this subclass
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K50/00—Organic light-emitting devices
- H10K50/80—Constructional details
- H10K50/84—Passivation; Containers; Encapsulations
- H10K50/844—Encapsulations
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
- H10K59/10—OLED displays
- H10K59/12—Active-matrix OLED [AMOLED] displays
- H10K59/131—Interconnections, e.g. wiring lines or terminals
- H10K59/1315—Interconnections, e.g. wiring lines or terminals comprising structures specially adapted for lowering the resistance
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
- H10K59/80—Constructional details
- H10K59/87—Passivation; Containers; Encapsulations
- H10K59/873—Encapsulations
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
Description
。該有機発光素子は、画素電極と、それに対向する対向電極と、画素電極と対向電極との
間に介在される発光層と、を含む。
異なる色の光が放出されるのであり、各画素の発光層と、複数の画素にわたって一体に形
成される対向電極とは、蒸着マスクを利用して形成される。該有機発光表示装置がだんだ
んと高解像度化されるにつれ、蒸着工程時に使用されるマスクにおけるオープンスリット
(open slit)の幅がだんだんと狭まっており、そのばらつき(variation)も、だんだん
と、さらに低減することが要求されている。また、高解像度の有機発光表示装置を製作す
るためには、シャドー現象(shadow effect)を減らしたりなくしたりすることが必要で
ある。それに伴い、基板とマスクとを密着させた状態で、蒸着工程を進める方法が使用さ
れうる。
ッピング現象が発生するという問題がある。それを防止するために、画素同士を区切る画
素画成膜(「バンク」)上に、スペーサを配置する方策があるが、そのためには、工程が
さらに追加されるという問題があり、スペーサによって、有機発光表示装置の厚みが厚く
なるという問題がある。また、対向電極が、複数の画素にわたって一体に形成されること
により、対向電極の抵抗によるIRドロップ(IR降下または電圧降下IR or voltage dr
op)、及びそれによる輝度偏差の発生の問題がある。
ごとにパターニングされた対向電極を有し、該対向電極に共通電圧を提供する電源層との
電気的連結を容易にした有機発光表示装置を開示する。しかし、かような課題は、例示的
なものであり、それによって、本発明の範囲が限定されるものではない。
とを具備した基板;前記第1画素領域及び前記第2画素領域のそれぞれに対応する第1画
素電極及び第2画素電極;前記画素領域に対応する開口を具備した画素画成膜;前記第1
画素電極及び前記第2画素電極の上にそれぞれ配置され、互いに離隔され、それぞれ発光
層を含む第1中間層及び第2中間層;前記第1中間層及び前記第2中間層の上にそれぞれ
配置され、互いに離隔された第1対向電極及び第2対向電極;並びに、前記非画素領域に
対応し、前記第1対向電極及び前記第2対向電極と一部重ね合わされ、前記第1対向電極
及び前記第2対向電極と接触する配線層;を含む、ディスプレイ装置を開示する。
下で、前記第1対向電極及び前記第2対向電極と接触しうる。
ング選択比が異なる材料を含んでもよい。
;並びに前記第1金属層と前記第2金属層との間の透光層;を含んでもよい。
ョン層及び第2パッシベーション層をさらに含んでもよい。
広く、前記第2パッシベーション層の幅は、前記第2対向電極の幅より広いというのであ
りうる。
、無機絶縁物を含んでもよい。
シベーション層の上に配置され、前記配線層は、前記第1パッシベーション層及び第2パ
ッシベーション層のそれぞれに画成されたコンタクトホールを介して、前記第1対向電極
及び前記第2対向電極と接触するというのでありうる。
材料を含んでもよい。
は、前記配線層を露出させる追加の開口を含んでもよい。
も、前記配線層に向かって延び、前記配線層と接触するのでありうる。
2対向電極の幅は、前記第2中間層の幅より広いというのでもよい。
一層は、発光層の下または上に配置される機能層を、さらに含んでもよい。
子輸送層のうちの、いずれか一層を含んでもよい。
細な説明から明確になるであろう。
間の電気的連結を容易に行うことができ、マスクによるチョッピング現象、及びそれによ
るディスプレイ装置の表示品質の低下を防止することができる。ただ、このような効果に
よって、本発明の範囲が限定されるものではないということは言うまでもない。
が、特定の実施形態を図面に例示し、詳細な説明によって詳細に説明する。本発明の効果
、特徴、及びそれらを達成する方法は、図面と共に詳細に説明する実施形態を参照すれば
明確になるであろう。しかし、本発明は、以下に開示される実施形態に限定されるもので
はなく、多様な形態にて具現される。
参照して説明するとき、同一であるか、あるいは対応する構成要素には、同一の図面符号
を付し、それについての重複した説明は省略する。
構成要素を他の構成要素と区別する目的に使用されている。
、複数の表現を含む。
れた特徴または構成要素が存在するということを意味するものであり、1以上の他の特徴
または構成要素が付加される可能性をあらかじめ排除するものではない。
にあるとするとき、他の部分の真上にある場合だけではなく、その中間に、他の膜、領域
、構成要素などが介在されている場合も含む。
えば、図面に示された各構成の大きさ及び厚みは、説明の便宜のために任意に示したもの
であり、本発明は、必ずしも図示されているところに限定されるものではない。
異なる順序で遂行されうる。例えば、連続するものとして説明される2つの工程が、実質
的に同時に遂行されることもあり、説明される順序と逆の順序に進められることもある。
領域、構成要素が直接的に連結された場合だけではなく、膜、領域、構成要素の中間に、
他の膜、領域、構成要素が介在され、間接的に連結された場合も含む。例えば、本明細書
において、膜、領域、構成要素などが電気的に連結されているとするとき、膜、領域、構
成要素などが、直接、電気的に連結された場合だけではなく、その中間に、他の膜、領域
、構成要素などが介在され、間接的に電気的連結された場合も含む。
領域PAを含む。表示領域DAには、有機発光素子(OLED:organic light-emitting
device)といった表示素子を具備した画素Pが配置され、所定のイメージを提供する。
周辺領域PAは、イメージを提供しない領域であり、表示領域DAの画素Pに印加する電
気的信号を提供するスキャンドライバ及びデータドライバ、並びに駆動電圧及び共通電圧
といった電源を提供する電源線を含む。
回路PC、並びに画素回路PCに連結された有機発光素子OLEDを含む。
ストレージキャパシタCstを含む。スイッチング薄膜トランジスタT2は、スキャン線
SL及びデータ線DLに連結され、スキャン線SLを介して入力されるスキャン信号Sn
によって、データ線DLを介して入力されたデータ信号Dmを駆動薄膜トランジスタT1
に伝達する。
Lに連結され、スイッチング薄膜トランジスタT2から伝達された電圧と、駆動電圧線P
Lに供給される駆動電圧ELVDDとの差に該当する電圧を保持する。
されており、ストレージキャパシタCstに保持された電圧値に対応して、駆動電圧線P
Lから有機発光素子OLED中を流れる駆動電流を、制御することができる。有機発光素
子OLEDは、駆動電流によって、所定の輝度を有する光を放出することができる。
タを含む場合について説明したが、本発明は、それに限定されるものではない。
膜トランジスタT2、補償薄膜トランジスタT3、第1初期化薄膜トランジスタT4、第
1発光制御薄膜トランジスタT5、第2発光制御薄膜トランジスタT6及び第2初期化薄
膜トランジスタT7を含んでもよい。
由して、有機発光素子OLEDと電気的に連結される。駆動薄膜トランジスタT1は、ス
イッチング薄膜トランジスタT2のスイッチング動作によって、データ信号Dmを伝達し
てもらい、有機発光素子OLEDに駆動電流を供給する。
ソース電極は、データ線DLと連結される。スイッチング薄膜トランジスタT2のドレイ
ン電極は、駆動薄膜トランジスタT1のソース電極と連結されており、第1発光制御薄膜
トランジスタT5を経由して、駆動電圧線PLと連結されるのでありうる。
キャン信号Snによってターンオンされ、データ線DLに伝達されたデータ信号Dmを、
駆動薄膜トランジスタT1のソース電極に伝達するスイッチング動作を遂行する。
薄膜トランジスタT3のソース電極は、駆動薄膜トランジスタT1のドレイン電極と連結
されており、第2発光制御薄膜トランジスタT6を経由して、有機発光素子OLEDの画
素電極と連結される。補償薄膜トランジスタT3のドレイン電極は、ストレージキャパシ
タCstのいずれか1つの電極、第1初期化薄膜トランジスタT4のソース電極、及び駆
動薄膜トランジスタT1のゲート電極に、共に連結されうる。補償薄膜トランジスタT3
は、第1スキャン線SLを介して伝達された第1スキャン信号Snによってターンオンさ
れ、駆動薄膜トランジスタT1のゲート電極とドレイン電極とを互いに連結することで、
駆動薄膜トランジスタT1をダイオード連結(diode-connection)させる。
れる。第1初期化薄膜トランジスタT4のドレイン電極は、初期化電圧線VLと連結され
る。第1初期化薄膜トランジスタT4のソース電極は、ストレージキャパシタCstのい
ずれか1つの電極、補償薄膜トランジスタT3のドレイン電極、及び駆動薄膜トランジス
タT1のゲート電極に、共に連結されうる。第1初期化薄膜トランジスタT4は、第2ス
キャン線SLn-1を介して伝達された第2スキャン信号Sn-1によってターンオンさ
れ、初期化電圧VINTを駆動薄膜トランジスタT1のゲート電極に伝達し、駆動薄膜ト
ランジスタT1のゲート電極の電圧を初期化させる、初期化動作を遂行することができる
。
1発光制御薄膜トランジスタT5のソース電極は、駆動電圧線PLと連結される。第1発
光制御薄膜トランジスタT5のドレイン電極は、駆動薄膜トランジスタT1のソース電極
、及びスイッチング薄膜トランジスタT2のドレイン電極と連結されている。
2発光制御薄膜トランジスタT6のソース電極は、駆動薄膜トランジスタT1のドレイン
電極、及び補償薄膜トランジスタT3のソース電極と連結されうる。第2発光制御薄膜ト
ランジスタT6のドレイン電極は、有機発光素子OLEDの画素電極と電気的に連結され
る。第1発光制御薄膜トランジスタT5及び第2発光制御薄膜トランジスタT6は、発光
制御線ELを介して伝達された発光制御信号Enによって同時にターンオンされ、駆動電
圧ELVDDが有機発光素子OLEDに伝達され、有機発光素子OLEDに駆動電流が流
れる。
れうる。第2初期化薄膜トランジスタT7のソース電極は、有機発光素子OLEDの画素
電極と連結されうる。第2初期化薄膜トランジスタT7のドレイン電極は、初期化電圧線
VLと連結されうる。第2初期化薄膜トランジスタT7は、第3スキャン線SLn+1を
介して伝達された第3スキャン信号Sn+1によってターンオンされ、有機発光素子OL
EDの画素電極を初期化させることができる。
トレージキャパシタCstのいずれか1つの電極は、駆動薄膜トランジスタT1のゲート
電極、補償薄膜トランジスタT3のドレイン電極及び、第1初期化薄膜トランジスタT4
のソース電極に、共に連結されうる。
発光素子OLEDは、駆動薄膜トランジスタT1から駆動電流を伝達してもらって発光す
る。
ジキャパシタの個数、並びに回路デザインに限定されるものではなく、その個数及び回路
デザインは、多様に変更可能である。
「IV」の部分の拡大断面図である。
第3画素P3がそれぞれ配置される第1画素領域PA1、第2画素領域PA2及び第3画
素領域PA3を含み、隣接する画素領域間の非画素領域NPAを含む。本明細書における
画素領域とは、実際に光が放出される領域、すなわち、発光領域に対応する。
できる。例えば、第1画素P1は赤色を具現し、第2画素P2は緑色を具現し、第3画素
P3は、青色を具現することができる。他の実施形態において、表示領域DAは、白色を
具現する第4画素(図示せず)をさらに含んでもよい。
lyethylene naphthalate)、ポリイミド(polyimide)といったプラスチック材などの多
様な材料を含むものでありうる。基板100がプラスチック材によって形成された場合に
は、ガラス材によって形成された場合より可撓性を向上させることができる。
は、先に図2A及び図2Bを参照して説明したような薄膜トランジスタ及びストレージキ
ャパシタを含む。薄膜トランジスタ及びストレージキャパシタをなす層、例えば、半導体
層及び電極層は、絶縁層を挟んで配置されてもよい。画素回路PCは、第1画素P1、第
2画素P2及び第3画素P3の画素ごとに配置される。
連結された、第1有機発光素子OLED1、第2有機発光素子OLED2及び第3有機発
光素子OLED3を含む。第1有機発光素子OLED1、第2有機発光素子OLED2及
び第3有機発光素子OLED3は、いずれも、画素電極、発光層を含む中間層及び対向電
極を含む。
電極231を含む。第2有機発光素子OLED2は、第2画素電極212、第2中間層2
22及び第2対向電極232を含む。第3有機発光素子OLED3は、第3画素電極21
3、第3中間層223及び第3対向電極233を含む。
画素画成膜120で覆われており、第1対向電極231、第2対向電極232及び第3対
向電極233との距離を増大させ、電気的短絡を防止することができる。第1画素電極2
11、第2画素電極212及び第3画素電極213の上面は、画素画成膜120の開口O
P1を通じて露出され、開口OP1を通じて、それぞれ、第1中間層221、第2中間層
222及び第3中間層223と重なり合っているのでありうる。
A1、第2画素領域PA2及び第3画素領域PA3に、それぞれ対応するように配置され
た、島状であり、回路素子層110上に、互いに離隔して配置される。
得、また、透光性電極でありうる。
3は、Ag、Mg、Al、Pt、Pd、Au、Ni、Nd、Ir、Cr、またはそれらの
化合物などによって形成された反射膜を含んでもよい。または、第1画素電極211、第
2画素電極212及び第3画素電極213は、前述の反射膜、及び前述の反射膜の上また
は/及び下の透明導電性酸化物(TCO:transparent conductive oxide)膜を含んでも
よい。一実施形態において、第1画素電極211、第2画素電極212及び第3画素電極
213は、ITO(indium tin oxide)/Ag/ITOの3層でありうる。
13は、透明導電性酸化物(TCO)層でありうる。または、第1画素電極211、第2
画素電極212及び第3画素電極213は、銀(Ag)または銀(Ag)合金を含む金属
薄膜であり得、前述の金属薄膜上に透明導電性酸化物層が形成された積層膜でありうる。
第2画素領域PA2及び第3画素領域PA3に、それぞれ対応するように配置された、島
状であり、互いに離隔して配置される。第1中間層221、第2中間層222及び第3中
間層223は、画素画成膜120の開口OP1を通じて、それぞれ、第1画素電極211
、第2画素電極212及び第3画素電極213の上に配置される。
1bは、例えば、赤色の光を放出する有機発光層でありうる。第1中間層221は、発光
層221bの上または/及び下に配置された、第1機能層221a及び第2機能層221
cをさらに含んでもよい。第1機能層221aは、ホール注入層HIL及び/またはホー
ル輸送層HTLを含んでもよく、第2機能層221cは、電子輸送層ETL及び/または
電子注入層EILを含んでもよい。
光層を含む。第2中間層222は、発光層の上または/及び下に配置された機能層、例え
ば、ホール注入層、ホール輸送層、電子輸送層及び/または電子注入層をさらに含んでも
よい。第3中間層223は、青色の光を放出する有機発光層である発光層を含む。第3中
間層223は、発光層の上または/及び下に配置された機能層、例えば、ホール注入層、
ホール輸送層、電子輸送層及び/または電子注入層をさらに含んでもよい。
もよい。第1中間層221、第2中間層222及び第3中間層223は、後述する工程に
より、互いに独立に、すなわち別個にパターニングされるので、第1中間層221、第2
中間層222及び第3中間層223の機能層の物質、厚みなどは、互いに異なってもよい
。
A1、第2画素領域PA2及び第3画素領域PA3に、それぞれ対応するように配置され
た島状であり、互いに離隔して配置される。第1対向電極231、第2対向電極232及
び第3対向電極233は、それぞれ第1中間層221、第2中間層222及び第3中間層
223の上に配置される。
,w23は、それぞれ、第1中間層221、第2中間層222及び第3中間層223の幅
w11,w12,w13より、広いのでありうる。第1対向電極231、第2対向電極2
32及び第3対向電極233の端部は、それぞれ、第1中間層221、第2中間層222
及び第3中間層223の端部よりも、配線層130に向かってさらに延長されることで、
配線層130と接触するのでありうる。
は反射電極でもある。第1対向電極231、第2対向電極232及び第3対向電極233
は、Ag、Mg、Al、Yb、Ca、Li及びAuのうちの少なくともいずれか1つ以上
の物質を含む金属薄膜または金属の厚膜でありうる。例えば、第1対向電極231、第2
対向電極232及び第3対向電極233は、Ag、Mg、Al、Yb、Ca、LiF/C
a、LiF/Al、Al、Auのうちの少なくともいずれか一つを含む、単層膜、または
複数層の積層膜でありうる。一実施形態において、第1対向電極231、第2対向電極2
32及び第3対向電極233は、Ag及びMgを含む金属薄膜を含むものであり得、Ag
がMgよりも多く含有されるのであってもよい。
向電極232及び第3対向電極233は、厚みを薄くして光透過性電極として形成するか
、あるいは厚みを厚くして反射電極として形成することができる。例えば、Ag及びMg
を含む金属を、約10Åないし15Åの厚みに形成し、光透過性を有する電極として使用
したり、厚みを約50nm以上の厚みに形成し、反射電極として使用したりすることがで
きる。
ッシベーション層241、第2パッシベーション層242及び第3パッシベーション層2
43で覆われうる。第1パッシベーション層241、第2パッシベーション層242及び
第3パッシベーション層243は、製造工程中において、第1対向電極231、第2対向
電極232及び第3対向電極233、並びにその下層が損傷されることを防止しうる。第
1パッシベーション層241、第2パッシベーション層242及び第3パッシベーション
層243の幅w31,w32,w33は、それぞれ、第1対向電極231、第2対向電極
232及び第3対向電極233の幅w21,w22,w23より広い。例えば、第1パッ
シベーション層241、第2パッシベーション層242及び第3パッシベーション層24
3の端部は、それぞれ、第1中間層221、第2中間層222及び第3中間層223の端
部よりも、配線層130に向かってさらに延長され、配線層130と接触することができ
る。
ョン層243は、酸化ケイ素(SiOx)、窒化ケイ素(SiNx)及び/または酸窒化
ケイ素(SiON)といった無機絶縁物を含んでもよく、単一層の膜、または複数層から
なる積層膜として形成されうる。
3は、配線層130を介して、互いに電気的に連結され、共通電源線と連結されることで
、共通電圧ELVSSを提供してもらうのでありうる。
膜120上に配置され、画素画成膜120と直接接触することができる。配線層130は
、導電性物質、例えば、金属または透明導電性酸化物(TCO)などを含んでもよく、単
一層の膜、または複数層からなる積層膜でありうる。
延長され、一部(例えば、両者の端部)が重ね合わされた状態で、配線層130の上面と
直接に接触することができる。同様に、第2対向電極232及び第3対向電極233は、
いずれも、配線層130の上にまで延長され、一部(例えば、両者の端部)同士が重ね合
わされた状態で、配線層130の上面と直接に接触することができる。このように、配線
層130は、第1対向電極231、第2対向電極232及び第3対向電極233と直接に
接触することができる。
円弧状または楕円弧状に膨出しており、直交格子(碁盤目)状に配置されて、各画素領域
(発光領域)をなす矩形状の開口OP1を画成する。一連の対向電極を互いに電気的に連
結するための配線層130は、図3のような積層断面において、画素画成膜120におけ
る、両方の裾部以外、例えば、画素画成膜120の膨出高さの約1/2以上の高さの領域
の全体を覆うように配置することができる。そして、画素電極と対向電極との間に挟まれ
る中間層221~223は、両縁が、ほぼ、配線層130の縁に一致するように配置する
ことができる。すなわち、画素画成膜120の膨出高さの1/2の高さの近傍にまで両縁
が延長されるようにすることができる。図3のような積層断面において、例えば、画素電
極211~213の幅は、画素開口OP1の幅の1~1.1倍とすることができ(例えば
、画素電極211~213の幅は、画素開口OP1,OP2,OP3の幅よりもさらに広
く形成することができる。本発明において、画素開口OP1,OP2,OP3の幅は、画
素開口のすそ部が始まる部分の幅であり、画素開口OP1,OP2,OP3を介して露出
される画素電極211~213と実質的に同一である)、中間層221~223の幅は、
対応する、画素開口OP1,OP2,OP3を介して露出される画素電極211~213
の幅の1~1.3倍とすることができ、対向電極231~233の幅は、対応する中間層
221~223の幅の1.05~1.5倍、または1.05~1.3倍、または1.05
~1.2倍とすることができ、パッシベーション層241~243の幅は、対応する中間
層221~223の幅の1.1~1.3倍とすることができる。また、図3に示すように
、配線層130の縁は、中間層221~223に覆われ、配線層130における縁から離
間した領域にて、対向電極231~233に直接重ね合わされて接触するのであってもよ
い。さらには、画素ごとに備えられた対向電極231~233は、必ずしも、図3の断面
に垂直の方向の全体にて配線層130に重ね合わされて接触するのでなくてもよく、特定
のコンタクトホール状の領域にて接触するのであってもい。
側から裏側へと向かう方向)から見た平面図であり、図6は、図5の変形例である。図5
及び図6は説明の便宜のために、図3のディスプレイ装置のうち、画素画成膜、配線層、
第1対向電極、第2対向電極及び第3対向電極だけを抜粋して図示する。
網の形態、特には碁盤状の格子の形態を有するように配置される。配線層130は、非画
素領域NPAの画素画成膜120上に配置されるが、第1画素領域PA1、第2画素領域
PA2及び第3画素領域PA3に、それぞれ配置された第1対向電極231、第2対向電
極232及び第3対向電極233に、一部重なることで、直接接触することができる。
分離された部分からなるものでありうる。複数の配線層130は、それぞれ直線帯状であ
り、非画素領域NPA上で等幅及び等間隔のストライプの形態を有するように配置されて
もよい。ストライプの形態の複数の配線層130は、非画素領域NPAの画素画成膜12
0上に配置されてもよい。各配線層130は、第1画素領域PA1、第2画素領域PA2
及び第3画素領域PA3にそれぞれ配置された、第1対向電極231、第2対向電極23
2及び第3対向電極233に、一部重なることで直接接触することができる。
電極231、第2対向電極232及び第3対向電極233と一部重なることで直接接触し
さえすればよいのであり、配線層130のパターンは、図5及び図6に図示されているよ
うに、網の形態またはストライプの形態以外にも、多様な形態にパターニングされうる。
このようにして、配線層130は、第1対向電極232、第2対向電極232及び第3対
向電極233に、接続や連結がされうるのであり、第1対向電極232、第2対向電極2
32及び第3対向電極233は、配線層130を介して、相互の接続や電気的な連結がな
されうる。
である。
極G1、駆動ソース電極S1及び駆動ドレイン電極D1を含み、スイッチング薄膜トラン
ジスタT2は、スイッチング半導体層A2、スイッチングゲート電極G2、スイッチング
ソース電極S2及びスイッチングドレイン電極D2を含み、ストレージキャパシタCst
は、第1ストレージ蓄電板CE1及び第2ストレージ蓄電板CE2を含んでもよい。
ングゲート電極G2との間には、ゲート絶縁層103が介在し、第1ストレージ蓄電板C
E1と第2ストレージ蓄電板CE2との間には、誘電体層105が介在し、駆動ゲート電
極G1及びスイッチングゲート電極G2と、駆動ソース電極S1、スイッチングソース電
極S2、駆動ドレイン電極D1及びスイッチングドレイン電極D2との間には、層間絶縁
層107(及び誘電体層105)が介在し、駆動ソース電極S1、スイッチングソース電
極S2、駆動ドレイン電極D1及びスイッチングドレイン電極D2の上には、平坦化絶縁
層109が配置される。
といった無機物を含む単層膜、または複数層からなる積層膜でありうる。誘電体層105
及び層間絶縁層107は、前述の酸化ケイ素、窒化ケイ素及び/または酸化アルミニウム
(Al2O3)といった無機物を含む単層膜、または複数層からなる積層膜でありうる。
平坦化絶縁層109は、ポリメチルメタクリレート(PMMA)やポリスチレン(PS)
といった一般の汎用高分子、フェノール系基を有する高分子誘導体、アクリル系高分子、
イミド系高分子、アリールエーテル系高分子、アミド系高分子、フッ素系高分子、p-キ
シレン系高分子、ビニルアルコール系高分子、及びそれらのブレンドなどを含む有機物を
含むものでありうるが、本発明は、それらに限定されるものではない。
うに配置され、駆動ゲート電極G1が第1ストレージ蓄電板CE1である場合を図示して
いるが、本発明は、それに限定されるものではない。
らないように配置されてもよい。例えば、第1ストレージ蓄電板CE1と駆動ゲート電極
G1とが同一の材料を含むものであり、第2ストレージ蓄電板CE2は、駆動ソース電極
S2及び駆動ドレイン電極D1と同一の材料を含むものであり、第1ストレージ蓄電板C
E1と第2ストレージ蓄電板CE2との間には、層間絶縁層107が介在してもよい。
びスイッチング薄膜トランジスタT2の駆動ゲート電極G1及びスイッチングゲート電極
G2が、駆動半導体層A1及びスイッチング半導体層A2の上に配置される場合について
説明したが、本発明は、それに限定されるものではない。他の実施形態として、駆動ゲー
ト電極G1及びスイッチングゲート電極G2は、それぞれ駆動半導体層A1及びスイッチ
ング半導体層A2の下に配置されてもよい。駆動ゲート電極G1及びスイッチングゲート
電極G2の位置によって、一部の実施形態においては、駆動半導体層A1及びスイッチン
グ半導体層A2が無機バッファ層101のすぐ上に配置され、他の実施形態においては、
駆動ゲート電極G1及びスイッチングゲート電極G2が、無機バッファ層101のすぐ上
に配置されうる。
とった一連の断面図である。
、回路素子層110の上に、第1画素電極211、第2画素電極212及び第3画素電極
213を形成する。第1画素電極211、第2画素電極212及び第3画素電極213は
、第1画素領域PA1、第2画素領域PA2及び第3画素領域PA3に、それぞれ対応す
るように形成される。例えば、回路素子層110上に、予備画素電極層(図示せず)を形
成した後、それをパターニングし、第1画素電極211、第2画素電極212及び第3画
素電極213を形成することができる。基板100の材料、並びに第1画素電極211、
第2画素電極212及び第3画素電極213の材料は、先に図3を参照して説明したので
、重複説明は省略する。
材料層(図示せず)を形成した後、それをパターニングすることで、第1画素電極211
、第2画素電極212及び第3画素電極213をそれぞれ露出させる開口OP1を有する
、画素画成膜120を形成する。画素画成膜120をなす絶縁材料は、有機物でありうる
。他の実施形態において、画素画成膜120をなす絶縁材料は、無機物であるか、あるい
は無機物及び有機物を含む、複数の層からなる積層膜、または複合材料による単層膜であ
りうる。
、導電性物質、例えば、金属または透明導電性酸化物(TCO)などを含んでもよく、単
一層の膜、または複数の層からなる積層膜でありうる。
電物質層(図示せず)を形成した後、フォトリソグラフィ工程、及び湿式または乾式のエ
ッチング工程により、非画素領域NPAの画素画成膜120上に配線層130を形成する
。該エッチング工程では、緻密なパターニングのために、乾式エッチングを行うことがで
きる。その場合、第1画素電極211、第2画素電極212及び第3画素電極213の損
傷を防止するように、配線層130をなす導電性材料は、第1画素電極211、第2画素
電極212及び第3画素電極213の材料とエッチング選択比が異なる材料を含むことが
望ましい。
の領域に、ポジ型(positive)あるいはネガ型(negative)のレジスト材料を含むマスキン
グ層(図示せず)を形成した後、熱蒸着などの方式によって導電性材料を蒸着し、配線層
130を形成することができる。その場合、第1画素電極211、第2画素電極212及
び第3画素電極213は、マスキング層で覆われているので、配線層130の形成工程に
て、前述の乾式エッチング法と異なり、損傷されるものではない。従って、配線層130
をなす導電性材料は、第1画素電極211、第2画素電極212及び第3画素電極213
の物質と同一の材料を含むものでありうる。
層1010を形成する。第1マスキング層1010は、第1感光パターン層1210、及
び、第1感光パターン層1210と画素画成膜120との間の第1補助層1110を含ん
でもよい。
。
その上に、フォトレジスト層(図示せず)を形成する。該非感光性有機物層は、一例とし
て、フッ素系物質を含んでもよいが、本発明は、それに制限されるものではない。フォト
レジスト層は、ポジ型(positive)の感光材料を含んでもよい。
て現像し、第1開口領域OR1を有する第1感光パターン層1210を形成する。次に、
第1開口領域OR1を通じて露出された非感光性有機物層をエッチングし、第1補助開口
領域AOR1を形成する。該エッチングにより、第1補助層1110の第1補助開口領域
AOR1は、第1開口領域OR1より大きく形成される。
、第1画素電極211と隣接した端部)が露出されるように、配線層130の端部を覆わ
ない。
第1中間層221、第1対向電極231及び第1パッシベーション層241を形成する。
第1中間層221、第1対向電極231、第1パッシベーション層241の材料について
は、先に図3を参照して説明したので、重複説明は省略し、以下では工程を中心に説明す
る。
て形成されてもよい。第1中間層221及び第1対向電極231を形成するための蒸着材
料は、基板100に垂直の方向及び斜めの方向に沿って、基板100に向けて移動するこ
とができる。従って、第1中間層221の端部、及び第1対向電極231の端部は、第1
補助層1110と接触しない状態でありつつ、第1感光パターン層1210における庇(
ひさし)状の端部の下の空間にまで延長されてもよい。蒸着材料が斜め方向に蒸着される
ことで、第1中間層221及び第1対向電極231の端部は、積層断面にて、画素の外側
へと向かう順方向テーパ形状(forward taper shape)を有することができ、第1中間層
221の幅よりさらに広い幅を有するように、第1対向電極231の端部は、第1中間層
221の端部よりさらに、画素の外側へと向かって延長され、配線層130と接触するこ
とができる。第1対向電極231は、配線層130の上面と直接に接触し、電気的に直接
に連結されうる。
よって形成されてもよい。第1パッシベーション層241を形成するための蒸着物質は、
基板100に垂直である方向及び斜め方向に沿って、基板100に向けて移動することが
できる。従って、第1パッシベーション層241の端部は、第1補助層1110と接触せ
ず、第1感光パターン層1210下の空間に延長されてもよい。第1パッシベーション層
241の端部は、順方向テーパ形状を有する。第1パッシベーション層241は、後述す
る工程において、第1対向電極231及びその下層が損傷されることを防止するために、
第1対向電極231の幅よりさらに広幅を有する。
去する。一実施形態において、第1補助層1110がフッ素系材料である場合、フッ素系
溶媒を利用して、第1補助層1110を除去することができる。第1補助層1110が除
去されることで、第1補助層1110上の第1感光パターン層1210、第1感光パター
ン層1210上に積層された第1中間層221、第1対向電極231及び第1パッシベー
ション層241が、共に除去される。そして、第1画素領域PA1には、島状の、第1中
間層221、第1対向電極231及び第1パッシベーション層241が残る。
護することができる。第1マスキング層1010のリフトオフの際、フッ素系溶媒に含ま
れた物質が第1有機発光素子OLED1中に浸透し、第1有機発光素子OLED1を損傷
させることを防止することができる。
層1020を形成する。第2マスキング層1020は、第2感光パターン層1220、及
び、第2感光パターン層1220と画素画成膜120との間の第2補助層1120を含ん
でもよい。第2補助層1120及び第2感光パターン層1220は、それぞれ前述の第1
補助層1110及び第1感光パターン層1210と同一の材料を含み、同一の工程によっ
て形成されてもよい。
2、第2対向電極232及び第2パッシベーション層242を形成する。第2中間層22
2、第2対向電極232、第2パッシベーション層242の材料は、先に図3を参照して
説明したので、重複説明は省略する。
ーション層242は、化学気相蒸着法によって形成されるのであってもよい。
質は、基板100に垂直である方向及び斜め方向に沿って、基板100に向けて移動する
ことができる。従って、第2中間層222、第2対向電極232、第2パッシベーション
層242それぞれの端部は、第2補助層1120と接触せず、順方向テーパ形状を有する
。
第2中間層222の端部より延長され、配線層130と接触することができる。第2対向
電極232は、配線層130の上面と直接接触し、電気的に直接連結される。第2パッシ
ベーション層242は、第2対向電極232の幅よりさらに広幅を有するように形成され
、従って、後述する工程において、第2対向電極232及びその下層が損傷されることを
防止することができる。
ッ素系溶媒を利用して、第2補助層1120を除去することにより、第2補助層1120
上の第2感光パターン層1220、第2中間層222、第2対向電極232及び第2パッ
シベーション層242が共に除去される。そして、第2画素領域PA2には、島型の第2
中間層222、第2対向電極232及び第2パッシベーション層242が残る。
層1030を形成する。第3マスキング層1030は、第3感光パターン層1230及び
第3感光パターン層1230と、画素画成膜120との間の第3補助層1130を含んで
もよい。第3補助層1120及び第3感光パターン層1220は、それぞれ前述の第1補
助層1110及び第1感光パターン層1210と同一物質を含み、同一工程によって形成
されてもよい。
3、第3対向電極233及び第3パッシベーション層243を形成する。第3中間層22
3、第3対向電極233、第3パッシベーション層243の物質は、先に図3を参照して
説明したので、重複説明は省略する。
ーション層243は、化学気相蒸着法によって形成されてもよい。
質は、基板100に垂直である方向及び斜め方向に沿って、基板100に向けて移動する
ことができる。従って、第3中間層223、第3対向電極233、第3パッシベーション
層243のそれぞれの端部は、第3補助層1130と接触せず、順方向テーパ形状を有す
る。
が第3中間層223の端部よりも画素の外側へと延長され、配線層130と接触すること
ができる。第3対向電極233は、配線層130の上面と直接接触し、電気的に直接連結
される。第3パッシベーション層243は、第3対向電極233の幅よりさらに広い幅を
有するように形成され、従って、後述する工程において、第3対向電極233及びその下
層が損傷されることを防止することができる。
例えば、フッ素系溶媒を利用して、第3補助層1130を除去することにより、第3補助
層1130上の、第3感光パターン層1230、第3中間層223、第3対向電極233
及び第3パッシベーション層243が、共に除去される。そして、第3画素領域PA3に
は、島状の、第3中間層223、第3対向電極233及び第3パッシベーション層243
が残る。
して説明したディスプレイ装置1と同一であるので、以下では、相違点を中心に説明する
。
層132を含む多層構造でありうる。配線層130Aは、外部から、ディスプレイ装置2
に向けて入射した光が配線層130Aで反射して外部に視認されることを防止することが
できる。例えば、第1金属層131で反射した光L1と、第2金属層133で反射した光
L2とは、互いに相殺されるように干渉し合うことによって、外部から視認されない。
った金属を含んでもよいが、本発明は、それらに制限されるものではない。透光層132
は、酸化ケイ素(SiOx)といった透光性無機物または透明酸化物を含んでもよい。透
光層132が酸化ケイ素(SiOx)といった絶縁性材料を含む場合、配線層130A中
、第2金属層133が、実質的に共通電圧ELVSSを、第1対向電極231、第2対向
電極232及び第3対向電極233に供給する配線としての機能を遂行することができる
。
の際、配線層130Aをなす材料、例えば、第1金属層131及び第2金属層133及び
透光層132は、第1画素電極211、第2画素電極212及び第3画素電極213をな
す材料とエッチング選択比が異なる材料を含むことが望ましい。
1は、図10のディスプレイ装置を、上述のK方向から見た平面図であり、図12は、図
11の変形例である。図11及び図12は、説明の便宜のために、図10のディスプレイ
装置のうち、画素画成膜、配線層、第1対向電極、第2対向電極及び第3対向電極だけを
抜粋して図示する。
子層110、第1有機発光素子OLED1、第2有機発光素子OLED2、第3有機発光
素子OLED3、第1パッシベーション層241、第2パッシベーション層242及び第
3パッシベーション層243を含む。第1有機発光素子OLED1、第2有機発光素子O
LED2及び第3有機発光素子OLED3は、それぞれ、第1画素電極211、第2画素
電極212及び第3画素電極213と、第1中間層221、第2中間層222及び第3中
間層223と、第1対向電極231、第2対向電極232及び第3対向電極233とを含
む。第1有機発光素子OLED1、第2有機発光素子OLED2及び第3有機発光素子O
LED3は、それぞれ、第1パッシベーション層241、第2パッシベーション層242
及び第3パッシベーション層243で覆われており、第1パッシベーション層241、第
2パッシベーション層242及び第3パッシベーション層243は、酸化ケイ素(SiO
x)、窒化ケイ素(SiNx)及び/または酸窒化ケイ素(SiON)といった無機絶縁
物を含んだ単一層または積層膜によって形成されてもよい。
OLED2及び第3有機発光素子OLED3は、先に図3及び図4を参照して説明し、回
路素子層110は、図7Aないし図7Bを参照して説明したので、以下では、相違点を中
心に説明する。
130Bの一部は、第1パッシベーション層241、第2パッシベーション層242及び
第3パッシベーション層243の上にまで延長される。配線層130Bの一部は、第1対
向電極231、第2対向電極232及び第3対向電極233と重なり、第1パッシベーシ
ョン層241、第2パッシベーション層242及び第3パッシベーション層243のコン
タクトホール240hを通じて、第1対向電極231、第2対向電極232及び第3対向
電極233と接触することができる。例えば、配線層130Bは、コンタクトホール24
0hを通じて、第1対向電極231、第2対向電極232及び第3対向電極233の上面
と、直接接触することができる。
極231、第2対向電極232及び第3対向電極233の一方の端部の中心領域に対応し
て備えられうる。例えば、コンタクトホール240hは、画素画成膜120が具備された
非画素領域NPA中にて、第1対向電極231、第2対向電極232及び第3対向電極2
33の端部を露出させるように配置されてもよい。
と一部重なり、コンタクトホール240hを通じて、第1対向電極231、第2対向電極
232及び第3対向電極233と、直接接触する。従って、互いに離隔された島状の、第
1対向電極231、第2対向電極232及び第3対向電極233は、配線層130Bによ
って互いに電気的に連結され、共通電圧ELVSSを提供してもらうことができる。
すようにパターニングされるか、あるいは図12に図示されているように、ストライプの
形態をなすようにパターニングされてもよいが、本発明は、それらに制限されるものでは
ない。
、第1金属層131及び第2金属層133、並びにそれら間の透光層132を含む積層構
造でありうる。第1金属層131で反射した光L1と、第2金属層133で反射した光L
2とは、互いに相殺する干渉によって、外部のユーザに視認されないので、外光の反射率
を低下させることができる。第1金属層131及び第2金属層133は、モリブデン(M
o)、チタン(Ti)といった金属を含んでもよいが、本発明は、それらに制限されるも
のではない。透光層132は、酸化ケイ素(SiOx)といった透光性無機物または透明
酸化物(TCO)を含んでもよい。透光層132が酸化ケイ素(SiOx)といった絶縁
性材料を含む場合、配線層130B中、第1金属層131が、実質的に共通電圧ELVS
Sを、第1対向電極231、第2対向電極232及び第3対向電極233に供給する配線
としての機能を遂行することができる。
積層膜であり得、または透明酸化物を含む単一層の膜または積層膜でありうる。
び第3パッシベーション層243を形成した後に形成されるので、第1画素電極211、
第2画素電極212及び第3画素電極213と、異なる材料を含むものでもよく、同一の
材料を含むものでもよい。
レイ装置についての製造工程にのっとった一連の断面図である。
1、第2画素電極212及び第3画素電極213を、順次に形成した後、第1画素電極2
11、第2画素電極212及び第3画素電極213を露出させる開口OP1を有する画素
画成膜120を形成する。具体的な工程は、先に図8Aを参照して説明したところと同一
であるので、重複説明は省略する。
ング層1010を形成した後、順次に、第1中間層221、第1対向電極231及び第1
パッシベーション層241を形成する。そして、リフトオフ工程によって、第1マスキン
グ層1010を除去することにより、第1画素領域PA1に島型に配置された第1中間層
221、第1対向電極231及び第1パッシベーション層241を形成する。
31及び第1パッシベーション層241の形成工程、リフトオフ工程などは、先に図8C
及び図8Dを参照して説明したところと同一であるので、重複説明は省略する。
ング層1020を形成した後、順次に、第2中間層222、第2対向電極232及び第2
パッシベーション層242を形成する。そして、リフトオフ工程によって、第2マスキン
グ層1020を除去することにより、第2画素領域PA2に島状に配置された、第2中間
層222、第2対向電極232及び第2パッシベーション層242を形成する。
32及び第2パッシベーション層242の形成工程、リフトオフ工程などは、先に図8E
及び図8Fを参照して説明したところと同一であるので、重複説明は省略する。
ング層1030を形成した後、順次に、第3中間層223、第3対向電極233及び第3
パッシベーション層243を形成する。そして、リフトオフ工程によって、第3マスキン
グ層1030を除去することにより、第3画素領域PA3に島状に配置された、第3中間
層223、第3対向電極233及び第3パッシベーション層243を形成する。
33及び第3パッシベーション層243の形成工程、リフトオフ工程などは、先に図8G
を参照して説明したところと同一であるので、重複説明は省略する。
2及び第3パッシベーション層243に、コンタクトホール240hを形成する。コンタ
クトホール240hを通じて、第1対向電極231、第2対向電極232及び第3対向電
極233が露出される。例えば、コンタクトホール240hは、非画素領域NPAにおい
て、第1対向電極231、第2対向電極232及び第3対向電極233の端部を露出させ
るように、第1対向電極231、第2対向電極232及び第3対向電極233の端と対応
する位置に形成されてもよい。
線層130Bを形成する。配線層130Bは、フォトリソグラフィ工程、及び湿式または
乾式のエッチング工程により、形成されてもよい。配線層130Bは、コンタクトホール
240hを通じて、第1対向電極231、第2対向電極232及び第3対向電極233に
、それぞれ接触することができる。
ョン層242及び第3パッシベーション層243を形成した工程の後に形成されるので、
配線層130Bは、先に図9を参照して説明した配線層130Aと異なり、材料の制限な
しに多様に選択されてもよい。
子層110、第1有機発光素子OLED1、第2有機発光素子OLED2及び第3有機発
光素子OLED3、並びに第1パッシベーション層241、第2パッシベーション層24
2及び第3パッシベーション層243と、配線層130Cとを含む。基板100と回路素
子層110は、前述のところと同一であるので、以下、相違点を中心に説明する。
212及び第3画素電極213と同一層に配置されてもよい。同一層に配置されるという
ことは、すぐ下の層と、すぐ上の層とが同一であるということを意味する。例えば、配線
層130C、並びに第1画素電極211、第2画素電極212及び第3画素電極213は
、回路素子層110と画素画成膜120との間に、それらと接触したまま配置されてもよ
い。配線層130Cは、第1画素電極211、第2画素電極212及び第3画素電極21
3と同一の材料を含むものでありうる。
3の端部、並びに配線層130Cの端部を覆うことで、この端部と直接接触することがで
きる。画素画成膜120は、第1画素電極211、第2画素電極212及び第3画素電極
213を露出させる開口OP1、並びに配線層130Cを露出させる追加の開口OP2を
さらに含んでもよい。
を通じて露出された、第1画素電極211、第2画素電極212及び第3画素電極213
の上に配置され、第1対向電極231、第2対向電極232及び第3対向電極233は、
それぞれ、第1中間層221、第2中間層222及び第3中間層223より広い幅を有す
るように配置される。
画素電極211、第2画素電極212及び第3画素電極213に隣接した箇所の配線層1
30Cに向かって(各画素の外側へと)延長され、追加の開口OP2を通じて露出された
配線層130Cの少なくとも一部と、重なることで直接接触する。例えば、第1対向電極
231、第2対向電極232及び第3対向電極233のそれぞれの端部は、配線層130
Cとの間に配置された画素画成膜120の一部を覆うとともに、配線層130Cに向かっ
て延長されて、配線層と接触することができる。
ぞれが、配線層130Cと、一部重なることで接触する構造を図示しているが、他の実施
形態において、第1対向電極231、第2対向電極232及び第3対向電極233のそれ
ぞれは、配線層130Cにおける追加の開口OP2を通じて露出された部分に、その全体
を覆うように重ねられることで、直接接触することができる。
けられ、それぞれ、近接する方の画素開口OP1を覆う対向電極231~233に直接重
ね合わされて接触している。これら追加の画素開口OP2は、例えば、隣り合う2つの画
素開口OP1の間の領域にのみ設けることもでき、また、例えば、図14の積層断面に垂
直な方向にわたって連続して延びるように設けることもできる。このように、配線層13
0は、各画素開口OP1の左右両側から対向電極231~233に電気的に接続されて、
対向電極同士を、図14の積層断面に垂直な方向に互いに電気的に接続する。また、図示
の例において、画素画成膜120は、図3に示す実施形態と同様に、この積層断面にて、
紡糸湾曲した膨出状、特には円弧状または楕円弧状に膨出している。図14に示す実施形
態では、図3に示す実施形態と比べた場合、画素画成膜120における、隣り合う2つの
画素開口OP1の間の膨出部が、3つの小さな膨出部と、これらの間の追加の開口OP2
とに置き換わっており、これら小さな膨出部は互いに寸法が等しくともよく、追加の開口
OP2も互いに寸法が等しいともよい。
ョン層243は、それぞれ、第1対向電極231、第2対向電極232及び第3対向電極
233を覆う。図示の積層断面において、第1パッシベーション層241、第2パッシベ
ーション層242及び第3パッシベーション層243は、第1対向電極231、第2対向
電極232及び第3対向電極233の幅よりも広幅に形成される。例えば、第1パッシベ
ーション層241、第2パッシベーション層242及び第3パッシベーション層243の
端部は、それぞれ、第1対向電極231、第2対向電極232及び第3対向電極233の
端部よりも、各画素の外側へと延長されうる。
るいはストライプ状をなすというように多様なパターンを有する。
レイ装置についての製造工程にのっとった一連の断面図である。
10上に、第1画素電極211、第2画素電極212及び第3画素電極213と、配線層
130Cとを形成する。第1画素電極211、第2画素電極212及び第3画素電極21
3は、第1画素領域PA1、第2画素領域PA2及び第3画素領域PA3に、それぞれ対
応するように形成され、配線層130Cは、非画素領域NPAに対応するように形成され
る。例えば、回路素子層110上に予備画素電極層(図示せず)を形成した後、それをパ
ターニングし、第1画素電極211、第2画素電極212及び第3画素電極213、並び
に配線層130Cを形成することができる。第1画素電極211、第2画素電極212及
び第3画素電極213の材料は、先に図3を参照して説明したところと同一であり、配線
層130Cは、第1画素電極211、第2画素電極212及び第3画素電極213と同一
の材料を有する。
211、第2画素電極212及び第3画素電極213それぞれを露出させる開口OP1、
及び、配線層130Cを露出させる追加の開口OP2を有する、画素画成膜120を形成
する。画素画成膜120をなす絶縁材料は、有機物でありうる。他の実施形態において、
画素画成膜120をなす絶縁材料は、無機物を含む、複数の層からなる積層膜、または複
合材料による単層膜でありうる。
に隣接した非画素領域NPAの一部(例えば、配線層130Cの一部と対応する部分)が
開放された第1マスキング層1010を形成する。第1マスキング層1010は、第1感
光パターン層1210、及び、第1感光パターン層1210と画素画成膜120との間の
第1補助層1110を含んでもよい。第1マスキング層1010の開放領域を介して、第
1画素電極211及び第1画素電極211に隣接した配線層130Cが露出される。第1
マスキング層1010の構造、材料、形成工程は、先に図3を参照して説明したので、重
複説明は省略する。
1、第1対向電極231及び第1パッシベーション層241を形成する。
斜めの方向に沿って、基板100に向かって移動することで、第1中間層221の端部、
及び第1対向電極231の端部は、第1補助層1110と接触しないようにしつつ、第1
感光パターン層1210の端部の庇(ひさし;overhang)状部分の下の空間内にまで延長
される。第1中間層221は、開口OP1を通じて露出された第1画素電極211の上に
形成され、第1対向電極231は、第1中間層221の幅よりさらに広い幅を有するよう
に形成される。第1対向電極231の端部は、第1中間層221の端部よりさらに、各画
素の外側へと延長され、配線層130Cと、少なくとも一部が重なることで直接接触する
。第1パッシベーション層241は、第1対向電極231の全体を覆うように形成され、
図示のような積層断面図にて、第1対向電極231より広い幅を有するように形成される
。
PA1には、第1中間層221、第1対向電極231及び第1パッシベーション層241
が配置され、第1対向電極231の端部は、配線層130Cと、一部重なることで直接接
触する。
20は、第2画素領域PA2に対応する部分と、第2画素領域PA2に隣接した非画素領
域NPAの一部(例えば、配線層130Cの一部に対応する部分)とが開放された開口領
域を含む。第2マスキング層1020の開放領域を通じて、第2画素電極212、及び、
第2画素電極212に隣接した配線層130Cが露出される。第2マスキング層1020
の構造、材料、形成工程は、先に図3を参照して説明したので、重複説明は省略する。
2、第2対向電極232及び第2パッシベーション層242を形成する。
れ、第2対向電極232は、第2中間層222の幅よりさらに広い幅を有するように形成
される。第2対向電極232の端部は、第2中間層222の端部よりさらに、各画素の外
側へと延長され、配線層130Cに、少なくとも一部が重なることで直接接触する。第2
パッシベーション層242は、第2対向電極232の全体を覆うように形成され、第2対
向電極232より広い幅を有するように形成される。
PA2には、第2中間層222、第2対向電極232及び第2パッシベーション層242
が配置され、第2対向電極232の端部は、配線層130Cに、一部重なることで直接接
触する。
30は、第3画素領域PA3に対応する部分と、第3画素領域PA3に隣接した非画素領
域NPAの一部(例えば、配線層130Cの一部と対応する部分)とが開放された開口領
域を含む。第3マスキング層1030の開放領域を通じて、第3画素電極213、及び、
この第3画素電極213に隣接した配線層130Cが露出される。第3マスキング層10
30の構造、材料、形成工程は、先に図3を参照して説明したので、重複説明は省略する
。
3、第3対向電極233及び第3パッシベーション層243を形成する。
れ、第3対向電極233は、第3中間層223の幅よりさらに広い幅を有するように形成
される。第3対向電極233の端部は、第3中間層223の端部よりさらに、各画素の外
側へと延長され、配線層130Cに、少なくとも一部が重なってて直接接触する。第3パ
ッシベーション層243は、第3対向電極233を覆うように形成され、第3対向電極2
33より広い幅を有するように形成される。
PA3には、第3中間層223、第3対向電極233及び第3パッシベーション層243
が配置され、第3対向電極233の端部は、配線層130Cに、一部重なることで直接接
触する。
PA2及び第3画素領域PA3における第1対向電極231、第2対向電極232及び第
3対向電極233は、配線層130Cに、一部重なることで直接接触し、互いに電気的に
連結されて、同一共通電圧ELVSSを提供してもらっている。
断面図であり、図15の変形例に該当する。
た構造に相違があり、他の構成は同一であるので、以下、相違点を中心に説明する。
面は、隣接するいずれの画素の対向電極とも接触することができる。例えば、いずれか1
つの追加の開口OP2を通じて露出された配線層130Dの上面は、第1対向電極231
及び第2対向電極232の一部に、重なることで直接接触することができ、他の1つの追
加の開口OP2を通じて露出された配線層130Dの上面は、第2対向電極232及び第
3対向電極233の一部に、重なることで直接接触することができる。
面は、隣接する1つの画素の対向電極と接触することができる。例えば、いずれか1つの
追加開口OP2を通じて露出された配線層130Dの上面は、第1対向電極231の少な
くとも一部に、重なることで直接接触することができ、他の1つの追加開口OP2を介し
て露出された配線層130Dの上面は、第2対向電極232の少なくとも一部に、重なる
ことで直接接触することができる。そして、さらに他の1つの追加開口OP2を通じて露
出された配線層130Dの上面は、第3対向電極233の少なくとも一部に、重なること
で直接接触することができる。
的なものに過ぎず、当該分野で当業者であるならば、それらから多様な変形、及び実施形
態の変形が可能であるという点を理解するであろう。従って、本発明の真の技術的保護範
囲は、特許請求の範囲の技術的思想によって決められるものである。
能である。
110 回路素子層
120 画素画成膜
130,130A,130B,130C,130D,130E 配線層
211,212,213 画素電極
221,222,223 中間層
231,232,233 対向電極
241,242,243 パッシベーション層
Claims (10)
- 第1画素領域及び第2画素領域を含む画素領域と、非画素領域とを具備した基板と、
前記第1画素領域及び前記第2画素領域にそれぞれ対応する第1画素電極及び第2画素電極と、
前記画素領域に対応する開口を具備した画素画成膜と、
前記第1画素電極及び前記第2画素電極の上にそれぞれ配置され、互いに離隔され、それぞれ発光層を含む第1中間層及び第2中間層と、
前記第1中間層及び前記第2中間層の上にそれぞれ配置され、互いに離隔された第1対向電極及び第2対向電極と、
前記非画素領域と対応し、前記第1対向電極及び前記第2対向電極と一部重なり、前記第1対向電極及び前記第2対向電極と接触する配線層と、を含み、
前記配線層は、前記画素画成膜の下に配置され、前記画素画成膜は、前記配線層を露出させる追加の開口を含み、
前記第1対向電極の端部及び前記第2対向電極の端部は、いずれも、前記配線層へと向かって延長され、前記配線層とは、前記追加の開口を通じて露出された部分で、前記配線層を覆うようにして直接に接触し、
前記配線層の一部は、前記第1対向電極及び前記第2対向電極の下で、前記第1対向電極及び前記第2対向電極と接触しており、
前記第1対向電極上及び前記第2対向電極上の、第1パッシベーション層及び第2パッシベーション層をさらに含み、
前記第1対向電極の延長された端部が接触される前記第1の追加の開口は、前記第1パッシベーション層により重畳され、前記第2対向電極の延長された端部が接触される前記第2の追加の開口は、第2パッシベーション層により重畳されており、
前記第1の追加の開口と、前記第2の追加の開口との間では、前記画素画成膜上にて、電極層が省かれており、前記第1パッシベーション層及び前記第2パッシベーション層も省かれているディスプレイ装置。 - 前記画素画成膜は、前記第1の追加の開口と、前記第2の追加の開口との間にて、積層方向断面における膨出状をなすことを特徴とする請求項1に記載のディスプレイ装置。
- 前記第1及び前記第2の追加の開口は、その2つが、隣り合う2つの画素領域の間に設けられ、それぞれの追加の開口にて、前記配線層は、前記第1対向電極及び前記第2対向電極のうちの、近接する方の画素領域を覆う対向電極に直接重ね合わされて接触していることを特徴とする請求項1に記載のディスプレイ装置。
- 前記配線層は、前記第1画素電極及び前記第2画素電極とエッチング選択比が異なる材料を含むことを特徴とする請求項1に記載のディスプレイ装置。
- 前記第1パッシベーション層の幅は、前記第1対向電極の幅より広く、
前記第2パッシベーション層の幅は、前記第2対向電極の幅より広いことを特徴とする請求項1に記載のディスプレイ装置。 - 前記第1パッシベーション層及び前記第2パッシベーション層は、無機絶縁物を含むことを特徴とする請求項1に記載のディスプレイ装置。
- 前記配線層は、前記第1画素電極及び前記第2画素電極と同一の材料を含むことを特徴とする請求項1に記載のディスプレイ装置。
- 前記第1対向電極の幅は、前記第1中間層の幅より広く、
前記第2対向電極の幅は、前記第2中間層の幅より広いことを特徴とする請求項1に記載のディスプレイ装置。 - 前記第1中間層及び前記第2中間層のうちの少なくともいずれか一層は、
発光層の下または上に配置される機能層をさらに含むことを特徴とする請求項1に記載のディスプレイ装置。 - 前記機能層は、ホール輸送層、ホール注入層、電子注入層及び電子輸送層のうちのいずれか一つの層を含むことを特徴とする請求項9に記載のディスプレイ装置。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-2016-0152241 | 2016-11-15 | ||
KR1020160152241A KR102718992B1 (ko) | 2016-11-15 | 디스플레이 장치 | |
JP2017219406A JP6961468B2 (ja) | 2016-11-15 | 2017-11-14 | ディスプレイ装置 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017219406A Division JP6961468B2 (ja) | 2016-11-15 | 2017-11-14 | ディスプレイ装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2022009077A JP2022009077A (ja) | 2022-01-14 |
JP7416744B2 true JP7416744B2 (ja) | 2024-01-17 |
Family
ID=60301797
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017219406A Active JP6961468B2 (ja) | 2016-11-15 | 2017-11-14 | ディスプレイ装置 |
JP2021167941A Active JP7416744B2 (ja) | 2016-11-15 | 2021-10-13 | ディスプレイ装置 |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017219406A Active JP6961468B2 (ja) | 2016-11-15 | 2017-11-14 | ディスプレイ装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US10439160B2 (ja) |
EP (1) | EP3321989B1 (ja) |
JP (2) | JP6961468B2 (ja) |
CN (1) | CN108074954B (ja) |
TW (1) | TWI737836B (ja) |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108074954B (zh) * | 2016-11-15 | 2023-09-12 | 三星显示有限公司 | 显示设备 |
KR102439307B1 (ko) | 2018-01-29 | 2022-09-02 | 삼성디스플레이 주식회사 | 유기발광표시장치 및 그 제조방법 |
CN108767136B (zh) * | 2018-06-05 | 2020-06-30 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种镜面显示屏和制备方法 |
KR102588594B1 (ko) | 2018-10-16 | 2023-10-16 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 장치 및 그 제조 방법 |
CN109390382B (zh) * | 2018-10-30 | 2020-11-06 | 昆山国显光电有限公司 | 显示面板及其制备方法、显示装置 |
KR102671037B1 (ko) * | 2018-11-07 | 2024-06-03 | 삼성디스플레이 주식회사 | 유기 발광 표시 장치 및 유기 발광 표시 장치의 제조 방법 |
KR102619291B1 (ko) * | 2018-11-28 | 2023-12-28 | 엘지디스플레이 주식회사 | 표시장치 |
KR102687429B1 (ko) * | 2018-12-28 | 2024-07-22 | 엘지디스플레이 주식회사 | 조명 장치 |
KR20200093737A (ko) * | 2019-01-28 | 2020-08-06 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 장치 및 이의 제조 방법 |
KR20210002165A (ko) | 2019-06-26 | 2021-01-07 | 삼성디스플레이 주식회사 | 디스플레이 장치 및 그 제조방법 |
CN111048005B (zh) * | 2020-01-06 | 2021-06-22 | 昆山国显光电有限公司 | 显示面板及显示装置 |
TWI747690B (zh) * | 2020-12-28 | 2021-11-21 | 友達光電股份有限公司 | 顯示裝置及其製作方法 |
JPWO2023275653A1 (ja) * | 2021-06-30 | 2023-01-05 | ||
JP2024016357A (ja) * | 2022-07-26 | 2024-02-07 | 株式会社Joled | 表示パネル、表示装置、及び、表示パネルの製造方法 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012182120A (ja) | 2011-02-11 | 2012-09-20 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 発光装置及びその作製方法、並びに照明装置及び表示装置 |
JP2012230928A (ja) | 2006-06-19 | 2012-11-22 | Sony Corp | 発光表示装置およびその製造方法 |
US20140018350A1 (en) | 2012-07-13 | 2014-01-16 | Asahi Glass Co., Ltd. | Combination of sulfonamide compound and tafluprost |
JP2014197457A (ja) | 2013-03-29 | 2014-10-16 | 大日本印刷株式会社 | トップエミッション型有機エレクトロルミネッセンス表示装置の製造方法、およびトップエミッション型有機エレクトロルミネッセンス表示装置 |
US20160293888A1 (en) | 2015-04-02 | 2016-10-06 | Lg Display Co., Ltd. | Auxiliary Lines Reducing Resistance In A Cathode Of An Organic Light Emitting Display Device |
Family Cites Families (27)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4593019B2 (ja) * | 2001-06-25 | 2010-12-08 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 発光装置の作製方法 |
KR100858297B1 (ko) * | 2001-11-02 | 2008-09-11 | 삼성전자주식회사 | 반사-투과형 액정표시장치 및 그 제조 방법 |
JP4016144B2 (ja) * | 2003-09-19 | 2007-12-05 | ソニー株式会社 | 有機発光素子およびその製造方法ならびに表示装置 |
JP2008135325A (ja) * | 2006-11-29 | 2008-06-12 | Hitachi Displays Ltd | 有機el表示装置とその製造方法 |
KR20090043213A (ko) * | 2007-10-29 | 2009-05-06 | 엘지디스플레이 주식회사 | 박막 트랜지스터 기판 및 그 제조 방법 |
US9091913B2 (en) | 2008-04-10 | 2015-07-28 | The Johns Hopkins University | Method for producing spatially patterned structures using fluorinated compounds |
JP5649567B2 (ja) | 2008-05-23 | 2015-01-07 | クオルネルル ユニバーシティー | 電子及び電気デバイスに使用される有機材料の直交方法 |
JP2010027504A (ja) * | 2008-07-23 | 2010-02-04 | Seiko Epson Corp | 有機el装置及び電子機器 |
US8871545B2 (en) | 2010-04-27 | 2014-10-28 | Orthogonal, Inc. | Method for forming a multicolor OLED device |
US9287339B2 (en) * | 2010-10-28 | 2016-03-15 | Samsung Display Co., Ltd. | Organic light emitting display device and method of manufacturing the same |
KR101397110B1 (ko) | 2010-10-28 | 2014-05-19 | 삼성디스플레이 주식회사 | 유기 발광 표시 장치 및 그 제조방법 |
KR101875774B1 (ko) * | 2011-08-10 | 2018-07-09 | 삼성디스플레이 주식회사 | 유기발광표시장치 및 그 제조 방법 |
KR101453880B1 (ko) * | 2012-11-29 | 2014-10-22 | 삼성디스플레이 주식회사 | 유기 발광 표시 장치 및 이의 제조 방법 |
KR101976829B1 (ko) * | 2012-12-21 | 2019-05-13 | 엘지디스플레이 주식회사 | 대면적 유기발광 다이오드 표시장치 및 그 제조 방법 |
KR102118920B1 (ko) * | 2014-01-28 | 2020-06-05 | 삼성디스플레이 주식회사 | 유기발광 표시장치 및 그 제조방법 |
US10910590B2 (en) * | 2014-03-27 | 2021-02-02 | Universal Display Corporation | Hermetically sealed isolated OLED pixels |
KR102207605B1 (ko) * | 2014-05-07 | 2021-01-25 | 엘지디스플레이 주식회사 | 유기 발광 표시 장치 및 유기 발광 표시 장치 제조 방법 |
KR102373082B1 (ko) * | 2014-07-16 | 2022-03-10 | 엘지디스플레이 주식회사 | 유기 발광 표시 장치 및 유기 발광 표시 장치 제조 방법 |
US9570471B2 (en) * | 2014-08-05 | 2017-02-14 | Lg Display Co., Ltd. | Organic light emitting display device and method of manufacturing the same |
KR102263261B1 (ko) * | 2014-08-05 | 2021-06-10 | 엘지디스플레이 주식회사 | 유기 발광 표시 장치 및 유기 발광 표시 장치 제조 방법 |
KR102293365B1 (ko) * | 2014-12-18 | 2021-08-25 | 엘지디스플레이 주식회사 | 유기전계발광 표시장치 및 그 제조방법 |
KR102456698B1 (ko) * | 2015-01-15 | 2022-10-19 | 삼성디스플레이 주식회사 | 신축성 표시 장치 |
KR102552276B1 (ko) | 2015-02-24 | 2023-07-07 | 삼성디스플레이 주식회사 | 유기 발광 표시 장치 및 그 제조 방법 |
KR102239718B1 (ko) | 2016-05-13 | 2021-04-13 | (주)디에스씨 | 커넥터용 접속핀 및 커넥터 및 커넥터용 접속핀 제조방법 |
KR102491880B1 (ko) | 2016-06-16 | 2023-01-27 | 삼성디스플레이 주식회사 | 유기 발광 표시 장치 및 그 제조 방법 |
KR102614598B1 (ko) | 2016-06-27 | 2023-12-18 | 삼성디스플레이 주식회사 | 유기 발광 표시 장치 |
CN108074954B (zh) * | 2016-11-15 | 2023-09-12 | 三星显示有限公司 | 显示设备 |
-
2017
- 2017-09-22 CN CN201710865229.5A patent/CN108074954B/zh active Active
- 2017-10-13 TW TW106135118A patent/TWI737836B/zh active
- 2017-11-08 EP EP17200505.0A patent/EP3321989B1/en active Active
- 2017-11-14 JP JP2017219406A patent/JP6961468B2/ja active Active
- 2017-11-14 US US15/811,979 patent/US10439160B2/en active Active
-
2019
- 2019-08-07 US US16/534,607 patent/US10784462B2/en active Active
-
2021
- 2021-10-13 JP JP2021167941A patent/JP7416744B2/ja active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012230928A (ja) | 2006-06-19 | 2012-11-22 | Sony Corp | 発光表示装置およびその製造方法 |
JP2012182120A (ja) | 2011-02-11 | 2012-09-20 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 発光装置及びその作製方法、並びに照明装置及び表示装置 |
US20140018350A1 (en) | 2012-07-13 | 2014-01-16 | Asahi Glass Co., Ltd. | Combination of sulfonamide compound and tafluprost |
JP2014197457A (ja) | 2013-03-29 | 2014-10-16 | 大日本印刷株式会社 | トップエミッション型有機エレクトロルミネッセンス表示装置の製造方法、およびトップエミッション型有機エレクトロルミネッセンス表示装置 |
US20160293888A1 (en) | 2015-04-02 | 2016-10-06 | Lg Display Co., Ltd. | Auxiliary Lines Reducing Resistance In A Cathode Of An Organic Light Emitting Display Device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP3321989A1 (en) | 2018-05-16 |
EP3321989B1 (en) | 2024-05-08 |
JP2018081916A (ja) | 2018-05-24 |
KR20180055024A (ko) | 2018-05-25 |
CN108074954A (zh) | 2018-05-25 |
US10439160B2 (en) | 2019-10-08 |
US10784462B2 (en) | 2020-09-22 |
TW201820609A (zh) | 2018-06-01 |
JP6961468B2 (ja) | 2021-11-05 |
CN108074954B (zh) | 2023-09-12 |
JP2022009077A (ja) | 2022-01-14 |
US20190363280A1 (en) | 2019-11-28 |
US20180138441A1 (en) | 2018-05-17 |
TWI737836B (zh) | 2021-09-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP7416744B2 (ja) | ディスプレイ装置 | |
KR102606282B1 (ko) | 디스플레이 장치 | |
US11921950B2 (en) | Organic light emitting display with touch sensor | |
JP7229752B2 (ja) | 有機発光表示装置 | |
JP6712514B2 (ja) | 有機発光表示装置及びその製造方法 | |
KR102453420B1 (ko) | 투명 유기 발광 표시 장치 및 이의 제조방법 | |
KR101073552B1 (ko) | 유기 발광 표시 장치 및 그 제조 방법 | |
JP7534132B2 (ja) | 表示装置及び表示装置の製造方法 | |
US11296166B2 (en) | Display apparatus including a cathode layer with multiple layers and method of manufacturing the display apparatus | |
KR20090011831A (ko) | 표시장치 및 그 제조방법 | |
KR102458680B1 (ko) | 유기발광 표시장치 및 그 제조방법 | |
JP6457879B2 (ja) | 表示装置及びその製造方法 | |
JP2022108901A (ja) | 表示装置 | |
KR20220060019A (ko) | 디스플레이 장치 및 그 제조 방법 | |
KR20150034462A (ko) | 고 개구율 유기발광 다이오드 표시장치 및 그 제조 방법 | |
KR102718992B1 (ko) | 디스플레이 장치 | |
US20230284482A1 (en) | Display device and method for manufacturing display device | |
US20220392981A1 (en) | Electronic device and manufacturing method of the same | |
US20230309350A1 (en) | Display device and manufacturing method of the same | |
KR102712663B1 (ko) | 표시 장치 | |
WO2024154301A1 (ja) | 回路基板および表示装置 | |
US20230371342A1 (en) | Display device and method of manufacturing display device | |
JP2024044519A (ja) | 表示装置およびその製造方法 | |
KR20210153808A (ko) | 디스플레이 장치 및 그 제조방법 | |
JP2020126908A (ja) | 表示装置及びその製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20211013 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20211013 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20220825 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20221004 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20221228 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20230404 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20230628 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20230808 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20231106 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20231205 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20240104 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7416744 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |