JP7414143B2 - 樹脂組成物 - Google Patents
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Description
[1] (A)ハイパーブランチ構造を有するビニル樹脂、
(B)液状硬化剤、及び
(C)無機充填材、を含む樹脂組成物。
[2] (A)成分の重量平均分子量が1000以上15000以下である、[1]に記載の樹脂組成物。
[3] (A)成分のビニル当量が、250g/eq.以上3000g/eq.以下である、[1]又は[2]に記載の樹脂組成物。
[4] (A)成分は、3官能以上の化合物由来の構造と、2官能化合物由来の構造とが交互に結合した多分枝構造を有する、[1]~[3]のいずれかに記載の樹脂組成物。
[5] (A)成分が、環状構造を含む、[1]~[4]のいずれかに記載の樹脂組成物。
[6] 3官能以上の化合物由来の構造が、環状構造を含む、[4]に記載の樹脂組成物。
[7] 環状構造が、窒素原子を含む、[6]に記載の樹脂組成物。
[8] 2官能化合物由来の構造が、環状構造を含む、[4]に記載の樹脂組成物。
[9] (A)成分の含有量が、樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%としたとき、5質量%以上40質量%以下である、[1]~[8]のいずれかに記載の樹脂組成物。
[10] (B)成分が、アリル系液状硬化剤、マレイミド系液状硬化剤、(メタ)アクリル系液状硬化剤、及びブタジエン系液状硬化剤から選ばれる少なくとも1種である、[1]~[9]のいずれかに記載の樹脂組成物。
[11] さらに(D)重合開始剤を含む、[1]~[10]のいずれかに記載の樹脂組成物。
[12] さらに(E)エポキシ樹脂を含む、[1]~[11]のいずれかに記載の樹脂組成物。
[13] 樹脂組成物を190℃、90分間熱硬化させた硬化物の反り量が、1cm未満である、[1]~[12]のいずれかに記載の樹脂組成物。
[14] 樹脂組成物を200℃、90分間熱硬化させた硬化物の23℃における誘電率が、3.0以下である、[1]~[13]のいずれかに記載の樹脂組成物。
[15] 樹脂組成物を200℃、90分間熱硬化させた硬化物の誘電正接が、0.004以下である、[1]~[14]のいずれかに記載の樹脂組成物。
[16] 支持体と、該支持体上に設けられた、[1]~[15]のいずれかに記載の樹脂組成物を含む樹脂組成物層とを含む、樹脂シート。
[17] [1]~[15]のいずれかに記載の樹脂組成物の硬化物により形成された絶縁層を含む、プリント配線板。
[18] [17]に記載のプリント配線板を含む、半導体装置。
本発明の樹脂組成物は、(A)ハイパーブランチ構造を有するビニル樹脂、(B)液状硬化剤、及び(C)無機充填材を含む。本発明では、(A)~(C)成分を組み合わせて樹脂組成物に含有させることで、反りの発生が抑制され、誘電特性及び銅箔密着性に優れた硬化物を得ることができる。また、通常は、本発明の樹脂組成物の硬化物によれば、反りの発生を抑制することができる。
樹脂組成物は、(A)成分として(A)ハイパーブランチ構造を有するビニル樹脂を含む。(A)成分を樹脂組成物に含有させることで反りの発生が抑制され、誘電特性及び銅箔密着性に優れた硬化物を得ることが可能となる。(A)成分は1種単独で用いてもよく、2種以上を併用してもよい。
樹脂の重量平均分子量は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)法により、ポリスチレン換算の値として測定できる。
なお、本発明において、樹脂組成物中の各成分の含有量は、別途明示のない限り、樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%としたときの値である。
樹脂組成物は、(B)成分として(B)液状硬化剤を含む。(B)成分を樹脂組成物に含有させることにより、銅箔密着性に優れる硬化物を得ることが可能となる。(B)成分は1種単独で用いてもよく、2種以上を併用してもよい。
恒温水槽:
攪拌機、ヒーター、温度計、自動温度調節器(±0.1℃で温度制御が可能なもの)を備えたもので深さ150mm以上のものを用いる。なお、後述する実施例で用いた液状硬化剤の判定では、いずれもヤマト科学社製の低温恒温水槽(型式BU300)と投入式恒温装置サーモメイト(型式BF500)の組み合わせを用い、水道水約22リットルを低温恒温水槽(型式BU300)に入れ、これに組み付けられたサーモメイト(型式BF500)の電源を入れて設定温度(20℃又は60℃)に設定し、水温を設定温度±0.1℃にサーモメイト(型式BF500)で微調整したが、同様の調整が可能な装置であればいずれも使用できる。
試験管としては、図1に示すように、内径30mm、高さ120mmの平底円筒型透明ガラス製のもので、管底から55mmおよび85mmの高さのところにそれぞれ標線11A、12Bが付され、試験管の口をゴム栓13aで密閉した液状判定用試験管10aと、同じサイズで同様に標線が付され、中央に温度計を挿入・支持するための孔があけられたゴム栓13bで試験管の口を密閉し、ゴム栓13bに温度計14を挿入した温度測定用試験管10bを用いる。以下、管底から55mmの高さの標線を「A線」、管底から85mmの高さの標線を「B線」という。
温度計14としては、JIS B7410(1982)「石油類試験用ガラス製温度計」に規定する凝固点測定用のもの(SOP-58目盛範囲0~100℃)を用いるが、0~100℃の温度範囲が測定できるものであればよい。
温度60±5℃の大気圧下で24時間以上放置した試料を、図1(a)に示す液状判定用試験管10aと図1(b)に示す温度測定用試験管10bにそれぞれ11A線まで入れる。2本の試験管10a、10bを低温恒温水槽に12B線が水面下になるように直立させて静置する。温度計は、その下端が11A線よりも30mm下となるようにする。
試料温度が設定温度±0.1℃に達してから10分間そのままの状態を保持する。10分後、液状判断用試験管10aを低温恒温水槽から取り出し、直ちに水平な試験台の上に水平に倒し、試験管内の液面の先端が11A線から12B線まで移動した時間をストップウォッチで測定し、記録する。
60℃において、測定された時間が90秒を超えるものを固体状と判定する。
一般式(B-6)中、M4、M6及びM7はそれぞれ独立に置換基を有していてもよい炭素原子数が5以上のアルキレン基を表し、M5はそれぞれ独立に置換基を有していてもよい芳香環を有する2価の基を表し、R31及びR32はそれぞれ独立に炭素原子数が5以上のアルキル基を表す。t2は0~10の整数を表し、u1及びu2はそれぞれ独立に0~4の整数を表す。
樹脂組成物は、(C)成分として、無機充填材を含有する。(C)無機充填材を樹脂組成物に含有させることで、誘電特性に優れる硬化物を得ることが可能となる。
樹脂組成物は、上述した成分以外に、任意の成分として(D)重合開始剤を含有していてもよい。(D)成分は、通常(A)成分におけるラジカル重合性不飽和基の架橋を促進させる機能を有する。(D)成分は1種類単独で用いてもよく、2種類以上を併用してもよい。
樹脂組成物は、上述した成分以外に、任意の成分として(E)エポキシ樹脂を含有していてもよい。(A)成分は1種類単独で用いてもよく、2種類以上を併用してもよい。
樹脂組成物は、上述した成分以外に、任意成分として(F)エポキシ硬化剤を含有していてもよい。但し、(F)成分は(B)成分に該当するものは除く。(F)エポキシ硬化剤は、通常、(E)成分と反応して樹脂組成物を硬化させる機能を有する。(F)エポキシ硬化剤は、1種類単独で用いてもよく、2種類以上を併用してもよい。
樹脂組成物は、上述した成分以外に、任意の成分として、更に、(G)成分硬化促進剤を含有していてもよい。(G)成分は、1種類単独で用いてもよく、2種類以上を組み合わせて用いてもよい。
樹脂組成物は、上述した成分以外に、任意の成分として、更にその他の添加剤を含んでいてもよい。このような添加剤としては、例えば、熱可塑性樹脂、難燃剤、増粘剤、消泡剤、レベリング剤、密着性付与剤等の樹脂添加剤などが挙げられる。これらの添加剤は、1種類単独で用いてもよく、2種類以上を組み合わせて用いてもよい。それぞれの含有量は当業者であれば適宜設定できる。
樹脂組成物は(A)ハイパーブランチ構造を有するビニル樹脂、(B)液状硬化剤、及び(C)無機充填材を組み合わせて含むので、反りの発生が抑制され、銅箔密着性及び誘電特性に優れた硬化物を得ることができる。
(1)基材に仮固定フィルムを積層する工程、
(2)半導体チップを、仮固定フィルム上に仮固定する工程、
(3)半導体チップ上に封止層を形成する工程、
(4)基材及び仮固定フィルムを半導体チップから剥離する工程、
(5)半導体チップの基材及び仮固定フィルムを剥離した面に、絶縁層としての再配線形成層を形成する工程、及び
(6)再配線形成層上に、導体層としての再配線層を形成する工程
本発明の樹脂シートは、支持体と、該支持体上に設けられた、本発明の樹脂組成物で形成された樹脂組成物層を含む。
本発明のプリント配線板は、本発明の樹脂組成物の硬化物により形成された絶縁層を含む。
(I)内層基板上に、樹脂シートの樹脂組成物層が内層基板と接合するように積層する工程
(II)樹脂組成物層を熱硬化して絶縁層を形成する工程
本発明の半導体装置は、本発明のプリント配線板を含む。本発明の半導体装置は、本発明のプリント配線板を用いて製造することができる。
反応容器に1,1-ビス(4-ヒドロキシフェニル)-3,3,5-トリメチルシクロヘキサン1mmolとアセトンとを加え溶解させたのち、水酸化ナトリウム水溶液を加えて撹拌し、アリルブロミド0.5mmolを加えて室温で1時間反応させた。次いで、シアヌル酸クロリド0.5mmolを加えて室温で一晩反応させ、酢酸エチルを加えて抽出を行い、ろ過により不溶物を除いた。次に、そのろ液を水で洗浄したのち無水硫酸マグネシウムによる脱水を行い、溶媒の濃縮留去を行った。その残渣をメタノール晶析することで下記構造のハイパーブランチ構造を有するビニル樹脂Aを得た(式中、破線はさらに多分枝構造が結合していることを意味する。以下同じ。)。ハイパーブランチ構造を有するビニル樹脂Aの重量平均分子量は測定したところ2600であった。また、ハイパーブランチ構造を有するビニル樹脂Aのビニル当量は430g/eq.であった。
合成例1において、1,1-ビス(4-ヒドロキシフェニル)-3,3,5-トリメチルシクロヘキサン1mmolを、2,2-ビス(4-ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロパン1mmolに変更した。以上の事項以外は合成例1と同様にして、下記構造のハイパーブランチ構造を有するビニル樹脂Bを得た。ハイパーブランチ構造を有するビニル樹脂Bの重量平均分子量は測定したところ2780であった。また、ハイパーブランチ構造を有するビニル樹脂Bのビニル当量は460g/eq.であった。
反応容器に1,1-Bis(4-ヒドロキシフェニル)-3,3,5-トリメチルシクロヘキサン1mmolとアセトニトリルを加え溶解させたのち、炭酸カリウム水溶液を加えて撹拌し、2-プロペノイルブロマイド(2-Propenoyl bromide)0.5mmolを加えて室温で1時間反応させた。次いで、シアヌル酸クロリド0.5mmolを加えて室温で一晩反応させ、酢酸エチルを加えて抽出を行い、ろ過により不溶物を除いた。次に、そのろ液を水で洗浄したのち無水硫酸マグネシウムによる脱水を行い、溶媒の濃縮留去を行った。その残渣をメタノール晶析することで下記構造のハイパーブランチ構造を有するビニル樹脂Cを得た。ハイパーブランチ構造を有するビニル樹脂Cの重量平均分子量は測定したところ2670であった。また、ハイパーブランチ構造を有するビニル樹脂Cのビニル当量は445g/eq.であった。
合成例3において、2-プロペノイルブロマイド0.5mmolをメタクロリルブロミド(methacryloyl bromide)0.5mmolに変更した。以上の事項以外は合成例3と同様にして、下記構造のハイパーブランチ構造を有するビニル樹脂Dを得た。ハイパーブランチ構造を有するビニル樹脂Dの重量平均分子量は測定したところ2740であった。また、ハイパーブランチ構造を有するビニル樹脂Dのビニル当量は425g/eq.であった。
合成例1において、アリルブロミド0.5mmolを、4-ブロモスチレン0.2mmolに変更した。以上の事項以外は実施例1と同様にして、下記構造のハイパーブランチ構造を有するビニル樹脂Eを得た。ハイパーブランチ構造を有するビニル樹脂Eの重量平均分子量は測定したところ2910であった。また、ハイパーブランチ構造を有するビニル樹脂Eのビニル当量は485g/eq.であった。
合成例1において、アリルブロミド0.5mmolを、4-ビニルベンジルクロリド0.2mmolに変更した。以上の事項以外は合成例1と同様にして、下記構造のハイパーブランチ構造を有するビニル樹脂Fを得た。ハイパーブランチ構造を有するビニル樹脂Fの重量平均分子量は測定したところ3020であった。また、ハイパーブランチ構造を有するビニル樹脂Fのビニル当量は495g/eq.であった。
合成例6において、シアヌル酸クロリド0.5mmolを、シアヌル酸クロリド0.5mmolに加えてさらにPOSS-アミノプロピル-イソブチル置換体を0.2mmol加えた。以上の事項以外は合成例6と同様にして、下記構造のハイパーブランチ構造を有するビニル樹脂Gを得た。ハイパーブランチ構造を有するビニル樹脂Gの重量平均分子量は測定したところ5100であった。また、ハイパーブランチ構造を有するビニル樹脂Gのビニル当量は745g/eq.であった。
合成例7においてPOSS-アミノプロピル-イソブチル置換体0.2mmolをN-フェニル-3-アミノプロピルトリメトキシシラン0.2mmolに変更した。以上の事項以外は合成例7と同様にして、下記構造のハイパーブランチ構造を有するビニル樹脂Hを得た。ハイパーブランチ構造を有するビニル樹脂Hの重量平均分子量は測定したところ8900であった。また、ハイパーブランチ構造を有するビニル樹脂Hのビニル当量は520g/eq.であった。
合成例7においてPOSS-アミノプロピル-イソブチル置換体0.2mmolをt-ブチルクロロジフェニルシラン0.2mmolに変更した。以上の事項以外は合成例7と同様にして、下記構造のハイパーブランチ構造を有するビニル樹脂Iを得た。ハイパーブランチ構造を有するビニル樹脂Iの重量平均分子量は測定したところ3200であった。また、ハイパーブランチ構造を有するビニル樹脂Iのビニル当量は510g/eq.であった。
合成例1で合成したハイパーブランチ構造を有するビニル樹脂A60部をMEK 60部、トルエン40部に撹拌しながら加熱溶解させた。
実施例1において、
1)ビスフェノールA型エポキシ樹脂(三菱ケミカル社製「828US」、エポキシ当量約180)6部を用い、
2)ビキシレノール型エポキシ樹脂(「YX4000H」、三菱ケミカル社製、エポキシ当量約190g/eq.)6部を用い、
3)活性エステル系硬化剤(DIC社製「HPC-8000-65T」、活性基当量約223g/eq.、固形分65質量%のトルエン溶液)20部を用い、
4)硬化促進剤(4-ジメチルアミノピリジン(DMAP)、固形分5質量%のMEK溶液)2部を用い、
5)(メタ)アクリル系液状硬化剤(新中村化学工業社製「NKエステルA-DOG」、分子量326)10部を、ベンゾオキサジン環含有アリル系液状硬化剤(四国化成工業社製「ALP-d」、固形分65%のMEK溶液)15.4部に変え、
6)N-フェニル-8-アミノオクチル-トリメトキシシラン(信越化学工業社製、分子量325.2)で表面処理された球形シリカ(アドマテックス社製「SC2050-SXF」、比表面積5.9m2/g、平均粒径0.77μm)の量を165部から220部に変更した。
以上の事項以外は実施例1と同様にして、樹脂組成物2を作製した。
実施例1において、
1)ハイパーブランチ構造を有するビニル樹脂A 60部を、ハイパーブランチ構造を有するビニル樹脂B 60部に変え、
2)(メタ)アクリル系液状硬化剤(新中村化学工業社製「NKエステルA-DOG」、分子量326)10部を、エポキシ基を有するアリル系液状硬化剤(日本化薬社製「RE-810NM」、エポキシ当量220g/eq.)10部に変更した。
以上の事項以外は実施例1と同様にして、樹脂組成物3を作製した。
実施例1において、
1)ハイパーブランチ構造を有するビニル樹脂A 60部を、ハイパーブランチ構造を有するビニル樹脂C 60部に変え、
2)(メタ)アクリル系液状硬化剤(新中村化学工業社製「NKエステルA-DOG」、分子量326)10部を、マレイミド系液状硬化剤(デザイナーモレキュールズ社製「BMI689」、マレイミド基当量345g/eq.)10部に変更した。
以上の事項以外は実施例1と同様にして、樹脂組成物4を作製した。
実施例1において、
1)ハイパーブランチ構造を有するビニル樹脂A 60部を、ハイパーブランチ構造を有するビニル樹脂D 60部に変え、
2)(メタ)アクリル系液状硬化剤(新中村化学工業社製「NKエステルA-DOG」、分子量326)10部を、ブタジエン系液状硬化剤(CRAY VALLEY社製「Ricon100」、スチレン含有量25%、Mn約4500)10部に変更した。
以上の事項以外は実施例1と同様にして、樹脂組成物5を作製した。
実施例1において、
1)ハイパーブランチ構造を有するビニル樹脂A 60部を、ハイパーブランチ構造を有するビニル樹脂E 60部に変え、
2)(メタ)アクリル系液状硬化剤(新中村化学工業社製「NKエステルA-DOG」、分子量326)10部を、イソシアヌル環を有するアリル系液状硬化剤(日本化成社製「TAIC」、分子量249)10部に変更した。
以上の事項以外は実施例1と同様にして、樹脂組成物6を作製した。
実施例1において、
1)ハイパーブランチ構造を有するビニル樹脂A 60部を、ハイパーブランチ構造を有するビニル樹脂(日鉄ケミカル&マテリアル社製「PDV-PM」、分子量5000~10000)60部に変え、
2)(メタ)アクリル系液状硬化剤(新中村化学工業社製「NKエステルA-DOG」、分子量326)10部を、アリル系液状硬化剤(日触テクノファインケミカル社製「DAD」、分子量322)10部に変更した。
以上の事項以外は実施例1と同様にして、樹脂組成物7を作製した。
実施例2において、ハイパーブランチ構造を有するビニル樹脂A 60部を、ハイパーブランチ構造を有するビニル樹脂(日鉄ケミカル&マテリアル社製「PDV-PM」、分子量5000~10000)60部に変更した。以上の事項以外は実施例2と同様にして、樹脂組成物8を作製した。
実施例1において、N-フェニル-8-アミノオクチル-トリメトキシシラン(信越化学工業社製、分子量325.2)で表面処理された球形シリカ(アドマテックス社製「SC2050-SXF」、比表面積5.9m2/g、平均粒径0.77μm)の量を165部から270部に変更した。以上の事項以外は実施例1と同様にして、樹脂組成物9を作製した。
実施例1において、N-フェニル-8-アミノオクチル-トリメトキシシラン(信越化学工業社製、分子量325.2)で表面処理された球形シリカ(アドマテックス社製「SC2050-SXF」、比表面積5.9m2/g、平均粒径0.77μm)の量を165部から47部に変更した。以上の事項以外は実施例1と同様にして、樹脂組成物10を作製した。
実施例2において、
1)ハイパーブランチ構造を有するビニル樹脂A 60部を、ハイパーブランチ構造を有するビニル樹脂F 60部に変え、
2)ベンゾオキサジン環含有アリル系液状硬化剤(四国化成工業社製「ALP-d」、固形分65%のMEK溶液)の量を15.4部から4.62部に変え、
3)N-フェニル-8-アミノオクチル-トリメトキシシラン(信越化学工業社製、分子量325.2)で表面処理された球形シリカ(アドマテックス社製「SC2050-SXF」、比表面積5.9m2/g、平均粒径0.77μm)の量を220部から210部に変え、
4)硬化促進剤(4-ジメチルアミノピリジン(DMAP)、固形分5質量%のMEK溶液)の量を2部から10部に変えた。
以上の事項以外は実施例2と同様にして、樹脂組成物11を作製した。
実施例11において、ハイパーブランチ構造を有するビニル樹脂F 60部を、ハイパーブランチ構造を有するビニル樹脂G 60部に変更した。以上の事項以外は実施例11と同様にして、樹脂組成物12を作製した。
実施例11において、ハイパーブランチ構造を有するビニル樹脂F 60部を、ハイパーブランチ構造を有するビニル樹脂H 60部に変更した。以上の事項以外は実施例11と同様にして、樹脂組成物13を作製した。
実施例11において、ハイパーブランチ構造を有するビニル樹脂F 60部を、ハイパーブランチ構造を有するビニル樹脂I 60部に変更した。以上の事項以外は実施例11と同様にして、樹脂組成物14を作製した。
実施例1において、ハイパーブランチ構造を有するビニル樹脂A 60部を、オリゴフェニレンエーテル・スチレン樹脂(三菱ガス化学社製、「OPE-2St」、不揮発分65%のトルエン溶液)92部に変更した。以上の事項以外は実施例1と同様にして、樹脂組成物15を作製した。
実施例2において、ハイパーブランチ構造を有するビニル樹脂A 60部を、オリゴフェニレンエーテル・スチレン樹脂(三菱ガス化学社製、「OPE-2St」、不揮発分65%のトルエン溶液)92部に変更した。以上の事項以外は実施例2と同様にして、樹脂組成物16を作製した。
実施例1において、
1)(メタ)アクリル系液状硬化剤(新中村化学工業社製「NKエステルA-DOG」、分子量326)10部を用いず、
2)N-フェニル-8-アミノオクチル-トリメトキシシラン(信越化学工業社製、分子量325.2)で表面処理された球形シリカ(アドマテックス社製「SC2050-SXF」、比表面積5.9m2/g、平均粒径0.77μm)の量を165部から140部に変更した。
以上の事項以外は実施例1と同様にして、樹脂組成物17を作製した。
支持体として、アルキド樹脂系離型剤(リンテック社製「AL-5」)で離型処理したPETフィルム(東レ社製「ルミラーR80」、厚み38μm、軟化点130℃、以下「離型PET」ということがある。)を用意した。
(1)銅箔の下地処理
三井金属鉱山社製「3EC-III」(電界銅箔、35μm)の光沢面をマイクロエッチング剤((メック社製「CZ8101」)にて1μmエッチングして銅表面の粗化処理を行い、次いで防錆処理(CL8300)を施した。さらに、130℃のオーブンで30分間加熱処理した。この銅箔をCZ銅箔という。
内層回路を形成したガラス布基材エポキシ樹脂両面銅張積層板(銅箔の厚さ18μm、基板の厚さ0.4mm、パナソニック社製「R1515A」)の両面をマイクロエッチング剤(メック社製「CZ8101」)にて1μmエッチングして銅表面の粗化処理を行った。
作製した樹脂シートから保護フィルムを剥がして、樹脂組成物層を露出させた。バッチ式真空加圧ラミネーター(ニッコー・マテリアルズ社製、2ステージビルドアップラミネーター「CVP700」)を用いて、樹脂組成物層が内層基板と接するように、内層基板の両面にラミネートした。ラミネートは、30秒間減圧して気圧を13hPa以下に調整した後、120℃、圧力0.74MPaにて30秒間圧着させることにより実施した。次いで、100℃、圧力0.5MPaにて60秒間熱プレスを行った。その樹脂組成物層上に、CZ銅箔の処理面を、上記と同様の条件で、ラミネートした。そして、200℃、90分の硬化条件で樹脂組成物層を硬化して絶縁層を形成することで、評価基板を作製した。
作製した評価基板を150×30mmの小片に切断した。小片の銅箔部分に、カッターを用いて幅10mm、長さ100mmの部分の切込みをいれて、銅箔の一端を剥がしてつかみ具で掴み、室温中にて、50mm/分の速度で垂直方向に35mmを引き剥がした時の荷重(kgf/cm)を測定し、剥離強度を求めた。測定には、引っ張り試験機(TSE社製「AC-50C-SL」)を使用した。測定は日本工業規格(JIS C6481)に準拠して行い、信頼性試験前の銅箔密着性について以下の基準で評価した。
〇:密着性が0.40kgf/cm以上
×:密着性が0.40kgf/cm未満
上記で作製した評価基板を、高度加速寿命試験装置(ETAC社製「PM422」)を使用し、130℃、85%相対湿度、3.3V直流電圧印加の条件で200時間経過させた。その後、銅箔の一端を剥がしてつかみ具(ティー・エス・イー社製、オートコム型試験機「AC-50C-SL」)で掴み、インストロン万能試験機を用いて、室温中にて、50mm/分の速度で垂直方向に35mmを引き剥がした時の荷重をJIS C6481に準拠して測定し、信頼性試験後の銅箔密着性について以下の基準で評価した。
〇:密着性が0.30kgf/cm以上
×:密着性が0.30kgf/cm未満
(1)樹脂シートのラミネート
作製した樹脂シートを9.5cm角のサイズに切り出し、バッチ式真空加圧ラミネーター(ニッコー・マテリアルズ社製、2ステージビルドアップラミネーター、CVP700)を用いて、10cm角に切り取った三井金属鉱業製銅箔「3EC-III(厚さ35μm)」の粗化面にラミネートした。ラミネートは、30秒間減圧して気圧を13hPa以下とした後、120℃で30秒間、圧力0.74MPaにて圧着させることにより、樹脂組成物層付き金属箔を作製し、その後PETフィルムを剥離した。
上記(1)で得られた樹脂組成物層付き金属箔の四辺を、樹脂組成物層が上面になるように厚さ1mmのSUS板にポリイミドテープで貼りつけ、190℃、90分間の硬化条件で樹脂組成物層を硬化させた。
上記(2)で得られた樹脂組成物層付き金属箔の四辺のうち、三辺のポリイミドテープを剥離し、SUS板から最も高い点の高さを求めることにより反りの値を求めた。また、反りの大きさを以下の基準で評価した。
〇:反りの大きさが1cm未満
△:反りの大きさが1cm以上3cm未満の場合
×:反りの大きさが3cm以上
作製した樹脂シートから保護フィルムを剥がして、200℃にて90分間加熱して樹脂組成物層を熱硬化させた後、支持体を剥離した。得られた硬化物を、幅2mm、長さ80mmの試験片に切断した。該試験片について、アジレントテクノロジーズ社製「HP8362B」を用いて、空洞共振摂動法により測定周波数5.8GHz、測定温度23℃にて誘電率、誘電正接を測定した。3本の試験片について測定を行い、平均値を算出した。また、誘電特性について以下の基準で評価した。
〇:誘電率が3.0以下であり、誘電正接が0.004以下
×:誘電率が3.0を超え、誘電正接が0.004を超える
Claims (18)
- (A)成分の重量平均分子量が1000以上15000以下である、請求項1に記載の樹脂組成物。
- (A)成分のビニル当量が、250g/eq.以上3000g/eq.以下である、請求項1又は2に記載の樹脂組成物。
- (A)成分は、3官能以上の化合物由来の構造と、2官能化合物由来の構造とが交互に結合した多分枝構造を有する、請求項1~3のいずれか1項に記載の樹脂組成物。
- (A)成分が、環状構造を含む、請求項1~4のいずれか1項に記載の樹脂組成物。
- 3官能以上の化合物由来の構造が、環状構造を含む、請求項4に記載の樹脂組成物。
- 環状構造が、窒素原子を含む、請求項6に記載の樹脂組成物。
- 2官能化合物由来の構造が、環状構造を含む、請求項4に記載の樹脂組成物。
- (A)成分の含有量が、樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%としたとき、5質量%以上40質量%以下である、請求項1~8のいずれか1項に記載の樹脂組成物。
- (B)成分が、アリル系液状硬化剤、マレイミド系液状硬化剤、(メタ)アクリル系液状硬化剤、及びブタジエン系液状硬化剤から選ばれる少なくとも1種である、請求項1~9のいずれか1項に記載の樹脂組成物。
- さらに(D)重合開始剤を含む、請求項1~10のいずれか1項に記載の樹脂組成物。
- さらに(E)エポキシ樹脂を含む、請求項1~11のいずれか1項に記載の樹脂組成物。
- 樹脂組成物を190℃、90分間熱硬化させた硬化物の反り量が、1cm未満である、請求項1~12のいずれか1項に記載の樹脂組成物。
- 樹脂組成物を200℃、90分間熱硬化させた硬化物の23℃における誘電率が、3.0以下である、請求項1~13のいずれか1項に記載の樹脂組成物。
- 樹脂組成物を200℃、90分間熱硬化させた硬化物の誘電正接が、0.004以下である、請求項1~14のいずれか1項に記載の樹脂組成物。
- 支持体と、該支持体上に設けられた、請求項1~15のいずれか1項に記載の樹脂組成物を含む樹脂組成物層とを含む、樹脂シート。
- 請求項1~15のいずれか1項に記載の樹脂組成物の硬化物により形成された絶縁層を含む、プリント配線板。
- 請求項17に記載のプリント配線板を含む、半導体装置。
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