JP7405690B2 - 分析面切削用治具、分析装置、分析面切削方法、及び分析方法 - Google Patents

Description

本発明は、試料を切削工具で切削することにより当該試料の分析面を切り出すための分析面切削用治具並びに分析面切削方法、及び、これらを用いた分析装置並びに分析方法に関する。

例えば、錠剤などの試料を分析する場合、ラマン分光法や蛍光分光法などを利用した光学分析装置が用いられることがある。

かかる光学分析装置を用いて試料の表面を分析する場合、例えば顕微ラマン分光装置では、オートフォーカス機能により試料の表面に沿ってピントを合わせながら分析することができる（特許文献１）。

ところが、この分析方法では、試料表面の１点１点にピントを合わせていくことになるので、例えば１錠の錠剤に数１００時間もの分析時間がかかることがある。そこで、このような場合、１点１点へのピント合わせを不要にするべく、試料を切削して平坦な分析面を切り出すことがある。なお、このように試料から平坦な分析面を切り出すことは、顕微ラマン分光装置に限らず、種々の光学分析装置においても求められることである。

試料から平面度の高い分析面を切り出すものとしては、例えばスライサーやミクロトームと称される切削装置が知られているが、かかる装置は高価であったり大掛かりであったりする。

一方、上述した切削装置に頼ることなく試料から平坦な分析面を切り出す方法としては、従来、例えば剃刀の刃のようなもので試料を切削することで分析面を切り出している。

しかしながら、上述した人手による切削方法では、平面度の高い分析面を切り出すことが難しく、平面度を十分に出せないまま分析面の分析を行えば、例えば上述した顕微ラマン分光装置であれば、分析面に焦点が合わずにシグナルが弱くなり、分析精度の低下を招来する。

特開平５－３３２９３４号公報

そこで本発明は、上記問題点を一挙に解決すべくなされたものであり、高価な或いは大掛かりな切削装置に頼ることなく、試料から平面度の高い分析面を簡単に切り出せるようにすることをその主たる課題とするものである。

すなわち本発明に係る分析面切削用治具は、試料の少なくとも上部を露出させた状態で当該試料を保持する試料保持部材とともに用いられるものであり、前記試料を切削工具で切削することにより当該試料の分析面を切り出すための治具である。
そして、この治具は、前記試料保持部材が載置される載置台と、前記切削工具をガイドするものであり、その上面が前記試料保持部材に保持された前記試料の上部よりも下方に位置決めされるガイド部材とを備え、前記ガイド部材の前記上面が、前記切削工具の刃先を前記試料の片側からその反対側に案内して前記分析面を切り出すための切出案内面として機能することを特徴とするものである。

このように構成された分析面切削用治具であれば、ガイド部材の上面が、切削工具の刃先を試料の片側からその反対側に案内して分析面を切り出すための切出案内面として機能するので、切削工具の刃先をこの切出案内面に沿わせることで、高価な或いは大掛かりな切削装置に頼ることなく、試料から平面度の高い分析面を簡単に切り出すことができる。

前記ガイド部材が、前記試料保持部材の上面に押し当てられるものであり、この押し当てにより前記ガイド部材の上面が前記試料の上部よりも下方に位置決めされることが好ましい。
このような構成であれば、ガイド部材の厚みにより分析面の高さ位置が規定されるので、ガイド部材は、切削工具をガイドする機能のみならず、分析面の高さ位置を規定するスペーサとしての機能をも備えることになり、１つの部材に複数の機能を発揮させることができ、部品点数の削減や低コスト化を図れる。

厚み寸法の異なる複数種類の前記ガイド部材を備えることが好ましい。
このような構成であれば、複数種類のガイド部材の厚みそれぞれに規定される高さ位置のうち所望の高さ位置で分析面を切り出すことができる。

前記ガイド部材が、厚さ方向に貫通するとともに、その内側に前記試料が配置される貫通孔を有していることが好ましい。
このような構成であれば、切削工具の刃先をどの方向からも試料に案内することができ、作業性の向上を図れる。さらに、このような構成であれば、試料を全周から少しずつ切削していくことができるので、一方向から切削する場合に比べて、試料の分析面をより平坦に削り出すことができる。なお、かかる作用効果は、特に試料が割れやすいものの場合に顕著に発揮される。

前記試料保持部材が平板状のものであり、前記載置台が、上面を凹ませてなり、前記試料保持部材を収容する収容溝を有し、前記ガイド部材の下面が、前記試料保持部材の上面及び前記載置台の上面に面接触することが好ましい。
このような構成であれば、ガイド部材を例えば利き手とは反対の手押さえることにより、試料保持部材を載置台に対して動かないようにしつつ、載置台をも動かないようにすることができ、切削作業の安定性の向上を図れる。

前記収容溝を形成する内側面が、前記試料保持部材の動きを規制する規制面として機能することが好ましい。
このような構成であれば、切削作業中に試料保持部材の動きを規制することができるので、切削作業の安定性のさらなる向上を図れる。

前記収容溝に設けられるとともに、前記試料保持部材と前記載置台との間に介在し、前記載置台に対する前記試料保持部材の高さを調整するための高さ調整部材をさらに備えることが好ましい。
このような構成であれば、試料保持部材の厚みによらず、試料保持部材の上面の高さと載置台の上面の高さとを揃えることができる。

また、本発明に係る分析面切削用治具は、試料を切削工具で切削することにより当該試料の分析面を切り出すための治具であり、前記試料の少なくとも上部を露出させた状態で当該試料を保持する試料保持部材と、前記切削工具をガイドするものであり、その上面が前記試料保持部材に保持された前記試料の上部よりも下方に位置決めされるガイド部材とを備え、前記ガイド部材の前記上面が、前記切削工具の刃先を前記試料の片側からその反対側に案内して前記分析面を切り出すための切出案内面として機能することを特徴とするものである。

このように構成された分析面切削用治具であっても、切削工具をガイドするガイド部材の上面が、切削工具の刃先を試料の片側からその反対側に案内して分析面を切り出すための切出案内面として機能するので、切削工具の刃先をこの切出案内面に沿わせることで、高価な或いは大掛かりな切削装置に頼ることなく、試料から平面度の高い分析面を簡単に切り出すことができる。

ところで、例えば接着剤を用いて試料を試料保持部材に固定させる場合、試料の切削作業中に試料が試料保持部材から剥がれてしまわないよう、接着後にある程度の時間を置く必要があったり、しっかりと固定できる適切な接着剤を選定する必要があったりする。
そこで、接着剤を用いることなく試料を保持できるようにするためには、前記試料保持部材が、前記試料を両側から挟み込んで保持する一対の挟持体を備えることが好ましい。

前記一対の挟持体における互いに対向する対向側面それぞれに前記試料を挟み込む窪み部が設けられていることが好ましい。
このような構成であれば、試料を窪み部で挟むことにより、しっかりと保持することができる。

前記一対の挟持体の前記対向側面それぞれに、互いに大きさの異なる複数の前記窪み部が設けられていることが好ましい。
このような構成であれば、種々の大きさの試料に対応することができる。

前記試料保持部材が載置される載置台と、前記載置台における前記一対の挟持体の間に設けられ、前記試料を支持しながら前記載置台に対して昇降可能な昇降体とをさらに備えることが好ましい。
このような構成であれば、昇降体を昇降させて試料の高さを調整することができるので、試料の分析面を所望の高さ位置で切り出すことができる。

さらに、本発明に係る分析装置は、上述した分析面切削用治具を備え、前記分析面が切り出された前記試料を分析することを特徴とするものである。
このような分析装置であっても、上述した分析面切削用治具による作用効果を奏し得る。

また、本発明に係る分析面切削方法は、該試料を切削工具で切削することにより当該試料の分析面を切り出す方法であって、前記試料の少なくとも上部を露出させた状態で当該試料を試料保持部材に保持させ、前記切削工具をガイドするガイド部材を、その上面が前記試料保持部材に保持された前記試料の上部よりも下方に位置決めし、前記ガイド部材の上面に沿って前記切削工具の刃先を前記試料の片側からその反対側に案内し、前記試料を切削することにより前記分析面を切り出すことを特徴とする方法である。
このような分析面切削方法によっても、切削工具の刃先をガイド部材の上面に沿わせるだけで分析面を切り出せるので、高価な或いは大掛かりな切削装置に頼ることなく、試料から平面度の高い分析面を簡単に切り出すことができる。

前記ガイド部材が、厚さ方向に貫通するとともに、その内側に前記試料が配置される貫通孔を有しており、前記切削工具の刃先が前記貫通孔よりも幅広のものであることが好ましい。
このような幅広の刃先を用いることで、分析面をスムーズに切り出すことができる。

さらに、本発明に係る分析方法は、上述した分析面切削方法により前記分析面を切り出された前記試料を分析する分析方法であって、前記試料保持部材が平板状のものであり、前記試料保持部材を前記載置台からそのまま分析装置に移動させて、当該分析装置により前記試料の前記分析面を分析することを特徴とする方法である。
このような分析方法によれば、上述した分析面切削方法と同様に、高価な或いは大掛かりな切削装置に頼ることなく、試料から平面度の高い分析面を簡単に切り出すことができる。しかも、試料保持部材が平板状のものなので、平坦に切り出した分析面を分析装置の光軸に対して垂直にセットすることができ、分析面を精度良く分析することができる。

前記分析面をマッピング分析する分析方法であれば、上述した作用効果をより顕著に発揮させることができる。

以上に述べた本発明によれば、高価な或いは大掛かりな切削装置に頼ることなく、試料から平面度の高い分析面を簡単に切り出すことができる。

第１実施形態に係る分析面切削用治具の使用状態を示す模式図。 同実施形態に係る分析面切削用治具の分解斜視図。 同実施形態に係る分析面切削用治具の断面図。 同実施形態に係る分析面切削用治具を用いた切削作業を示す模式図。 第２実施形態に係る分析面切削用治具の使用状態を示す模式図。 同実施形態に係る分析面切削用治具の分解斜視図。 同実施形態に係る分析面切削用治具の拡大断面図。

＜＜第１実施形態＞＞
以下に、本発明の第１実施形態について、図面を参照しながら説明する。

本実施形態に係る分析面切削用治具１００は、図１に示すように、試料Ｚを分析する光学分析装置Ｘとともに用いられるものであり、具体的には試料Ｚの分析前の前処理に用いられるものである。なお、試料Ｚとしては、定形性を有する固体試料であり、例えば錠剤、穀物などの食材、樹脂製品などの有機物、昆虫などの生物を挙げることができる。

まず、光学分析装置Ｘについて簡単に説明する。
光学分析装置Ｘは、図１に示すように、ステージＸ１に載置された試料Ｚに光源Ｘ２からの一次光を照射し、これにより生じる二次光を検出器Ｘ３により検出することで、その検出信号を取得した情報処理装置Ｘ４が試料Ｚの種々の物性を分析するものである。本実施形態の光学分析装置Ｘは、一次光としてレーザを試料Ｚに照射し、これにより生じるラマン散乱光を二次光として検出する所謂ラマン分光法を用いたものであり、より具体的には光学顕微鏡を用いたマッピング測定により試料Ｚの成分分布などを観察できる顕微ラマン分光装置である。なお、その他の光学分析装置Ｘとしては、例えば二次光としてＸ線を検出するＸ線分析装置や蛍光Ｘ線を分析する蛍光Ｘ線分析装置などを挙げることができる。

次に、本実施形態の分析面切削用治具１００について説明する。
分析面切削用治具１００は、図１に示すように、試料Ｚを切削工具Ｙで切削することにより、その試料Ｚの分析対象となる分析面を切り出すために用いられる。なお、ここの分析面は、顕微ラマン分光装置によるマッピング測定の対象となる面である。

具体的にこの治具１００は、図２に示すように、試料Ｚの少なくとも上部を露出させた状態で当該試料Ｚを保持する試料保持部材１０とともに用いられるものであり、試料保持部材１０が載置される載置台２０と、切削工具Ｙをガイドするガイド部材３０とを備えている。

試料保持部材１０は、ここでは上面１１で試料Ｚを保持するものであり、この上面１１よりも上方に試料Ｚ全体が位置するように試料Ｚを保持する。具体的にこの試料保持部材１０は、所定の厚みを有する平板状のものであり、その上面１１に塗布した接着剤Ａによって試料Ｚが接着固定される。なお、ここでの試料保持部材１０は、図１に示すように、上述した光学分析装置ＸのステージＸ１に載置可能なものであり、例えばプレパラート等のガラス板である。

載置台２０は、図２に示すように、試料保持部材１０が載置される載置面２１を有するものであり、例えば中実のブロック体であって、ここでは円柱状をなすものである。具体的にこの載置台２０は、上面２２と、この上面２２を凹ませた収容溝２３とを有し、この収容溝２３に試料保持部材１０を収容できるように構成されている。すなわち、この実施形態では収容溝２３の底面２４が上述した載置面２１となる。

本実施形態の収容溝２３は、載置台２０の上面２２を径方向に切り欠いたものであり、底面２４と、互いに対向する一対の内側面２５とにより形成されている。より具体的に説明すると、収容溝２３の底面２４は、試料保持部材１０の平面視に対応した形状をなしており、言い換えれば、底面２４の幅寸法、すなわち一対の内側面２５の離間寸法が、試料保持部材１０の幅寸法と同じ又は若干大きく設定されている。これにより、これら一対の内側面２５が、収容溝２３に収容された試料保持部材１０の幅方向の動きを規制する規制面２５として機能する。

さらに、本実施形態の載置台２０は、上面２２の外縁部から起立する起立面２６を有している。そして、この起立面２６と上面２２とに囲まれた空間が、後述するガイド部材３０を収容する収容空間２７として形成されており、この起立面２６が、ガイド部材３０の水平方向の動きを規制する第２規制面２６として機能する。

ガイド部材３０は、図１に示すように、試料保持部材１０に保持された試料Ｚの周囲に配置されて切削工具Ｙの動きをガイドするものである。ここでのガイド部材３０は、図２に示すように、所定の厚み寸法を有する平板状のものであり、例えば円環状をなし、厚さ方向に貫通して、その内側に試料Ｚが配置される貫通孔３１を有している。このガイド部材３０は、上述したように載置台２０の上面２２と起立面２６とにより形成された収容空間２７に収容されるものであり、その外径が、載置台２０の外径と同じ又は若干小さく設定されている。

本実施形態の分析面切削用治具１００は、図２に示すように、厚み寸法が互いに異なる複数種類のガイド部材３０を備えており、これらは例えば互いに同じ外径及び内径を有するものである。なお、厚み寸法が同じガイド部材３０を複数備えていても良いし、外形や内径が互いに異なるガイド部材３０を複数備えていても良い。

然して、このガイド部材３０は、図３に示すように、その上面３２が試料保持部材１０に保持された試料Ｚの上部よりも下方に位置決めされるものであり、この上面３２が、切削工具Ｙを試料Ｚの片側からその反対側に案内して分析面を切り出すための切出案内面３２として機能するものである。

より具体的に説明すると、この実施形態では、試料Ｚの切削作業時において、上述した試料保持部材１０の上面１１の高さ位置と、載置台２０の上面２２の高さ位置とが揃うようにしてある。これにより、ガイド部材３０を試料保持部材１０の上面１１に押し当てると、ガイド部材３０の下面３３が試料保持部材１０の上面１１及び載置台２０の上面２２に面接触する。この状態において、載置台２０の上面２２からガイド部材３０の上面３２までの高さがガイド部材３０の厚み寸法により規定されるとともに、ガイド部材３０の上面３２が試料Ｚの上端部（頂部）よりも下方に位置決めされる。すなわち、この実施形態では、ガイド部材３０の厚み寸法により、試料Ｚから切り出される分析面の高さが規定されることになる。

ここで、本実施形態の分析面切削用治具１００は、試料保持部材１０の上面１１の高さ位置と載置台２０の上面２２の高さ位置を揃えるべく、図２及び図３に示すように、上述した収容溝２３に設けられて、試料保持部材１０の高さを調整するための高さ調整部材４０を備えている。この高さ調整部材４０は、収容溝２３において試料保持部材１０と載置台２０との間に介在して試料保持部材１０を持ち上げるものであり、例えば所定の厚み寸法を有する薄板状のものである。ここでは、厚み寸法が互いに異なる又は互いに同じ複数の高さ調整部材４０が準備されている。

次に、上述した分析面切削用治具１００を用いて試料Ｚから分析面を切り出す切削作業について、図４を参照しながら説明する。

まず、試料Ｚを試料保持部材１０に保持させる（図４ａ）。本実施形態では、試料保持部材１０の上面１１に接着剤Ａを塗布し、この接着剤Ａを介して試料Ｚを試料保持部材１０の上面１１に接着固定する。

次に、試料Ｚを保持した試料保持部材１０を載置台２０に載置する（図４ｂ）。ここでは、上述したように複数枚の高さ調整部材４０が設けられており、必要に応じて１又は複数枚の高さ調整部材４０を収容溝２３に配置したうえで、その収容溝２３に試料保持部材１０を収容させ、試料保持部材１０の上面１１の高さ位置と、載置台２０の上面２２の高さ位置とを揃える。

続いて、載置台２０に載置した試料保持部材１０にガイド部材３０を重ね合わせる（図４ｃ）。ここでは、上述したようにガイド部材３０には、厚み方向に貫通する貫通孔３１が設けられており、この貫通孔３１の内側に試料Ｚが位置するように、ガイド部材３０を試料保持部材１０の上面１１に載置する。これにより、ガイド部材３０の上面３２が、試料Ｚの上面よりも下方に位置決めされる。

そして、例えば利き手とは反対側の手でガイド部材３０を上方から押さえつけてガイド部材３０や載置台２０を動ない状態とし、切削工具Ｙの刃先をガイド部材３０の上面３２に沿わせて動かす（図４ｄ）。これにより、ガイド部材３０の上面３２が、切削工具Ｙの刃先を試料Ｚの片側から反対側に案内する切出案内面３２として機能し、刃先が試料Ｚの片側から反対側へと案内されて分析面が切り出される。なお、本実施形態の切削工具Ｙの刃先は、上述した貫通孔３１よりも幅広のものである。すなわち、ここでは切削工具Ｙの刃先の幅寸法が、貫通孔３１の直径よりも大きく、これにより、切削工具Ｙにより試料Ｚを全周から少しずつ切削していくことができる。

その後、この実施形態では、試料保持部材１０が光学分析装置ＸのステージＸ１に載置可能なものであることから、分析面が切り出された試料Ｚを試料保持部材１０に保持させた状態で、そのまま試料保持部材１０をステージＸ１に載置することができる。これにより、分析面を光源Ｘ２から射出された光の光軸に対して垂直にすることができ、この状態において分析面のマッピング測定などの分析を行うことができる。

＜＜第１実施形態の作用効果＞＞
このように構成された分析面切削用治具１００によれば、切削工具Ｙをガイドするガイド部材３０の上面３２が、切削工具Ｙの刃先を試料Ｚの片側からその反対側に案内して分析面を切り出すための切出案内面３２として機能するので、切削工具Ｙの刃先をこの切出案内面３２に沿わせることで、高価な或いは大掛かりな切削装置に頼ることなく、試料Ｚから平面度の高い分析面を簡単に切り出すことができる。

また、ガイド部材３０が、切削工具Ｙをガイドする機能のみならず、分析面の高さ位置を規定するスペーサとしての機能をも備えるので、１つの部材に複数の機能を発揮させることで、部品点数の削減や低コスト化を図れる。

さらに、厚み寸法の異なる複数種類のガイド部材３０を設けてあるので、試料Ｚの分析面を、複数種類のガイド部材３０の厚み寸法それぞれに対応する高さ位置のうちの所望の高さ位置で切り出すことができる。

そのうえ、ガイド部材３０が、内側に試料Ｚが配置される貫通孔３１を有しているので、切削工具Ｙの刃先をどの方向からも試料Ｚに案内することができ、作業性の向上を図れる。さらに、このような貫通孔３１をガイド部材３０に設けてあるので、試料Ｚを全周から少しずつ切削していくことができる。これにより、試料Ｚを一方向から切削する場合に比べて、試料Ｚの分析面をより平坦に削り出すことができ、かかる作用効果は、特に試料Ｚが割れやすいものの場合に顕著に発揮される。

加えて、試料保持部材１０の上面１１の高さ位置と載置台２０の上面２２の高さ位置とを合わせており、これらの上面１１、２２に対してガイド部材３０の下面３３が面接触するようにしてあるので、ガイド部材３０を上から押させることにより、試料保持部材１０を載置台２０に対して動かないようにしつつ、載置台２０をも動かないように押さえつけることができ、切削作業の安定性の向上を図れる。

しかも、試料保持部材１０の高さを調整するための高さ調整部材４０を備えているので、試料保持部材１０の厚みによらず、試料保持部材１０の上面１１の高さと載置台２０の上面２２の高さとを揃えることができる。

さらに加えて、収容溝２３を形成する一対の内側面２５が、試料保持部材１０の幅方向の動きを規制する規制面２５として機能するので、切削作業の安定性のさらなる向上を図れる。

＜＜第１実施形態の変形例＞＞
なお、本発明は前記第１実施形態に限られるものではない。

例えば、前記第１実施形態では、載置台２０を中実の円柱状をなすものとして説明したが、例えば中空のものであっても良いし、三角柱や四角柱などの形状であっても良く、試料保持部材１０が載置されるものであればその形状は適宜変更して構わない。

また、載置台２０としては、必ずしも収容溝２３を設けてある必要はないし、必ずしも起立面２６を設けてある必要もなく、例えば上面２２が平坦なものであっても良い。

ガイド部材３０の形状に関しても、円環状に限らず、種々の形状を採用して構わない。また、ガイド部材３０は、必ずしも貫通孔３１を有している必要はなく、例えば内側に試料Ｚが配置される平面視Ｕ字状のものであっても良いし、試料Ｚを取り囲む或いは挟み込む複数の平板要素から構成されていても良い。

また、前記第１実施形態では、試料Ｚの切削作業時にガイド部材３０を押さえつけていたが、例えばガイド部材３０を載置台２０に対して固定するなどして、ガイド部材３０の水平方向の動きを規制しておけば、切削作業時にガイド部材３０を押さえつけなくても良い。

＜＜第２実施形態＞＞
次に、本発明の第２実施形態について、図面を参照しながら説明する。

本実施形態の分析面切削用治具１００は、図５及び図６に示すように、試料Ｚを切削工具Ｙで切削することにより当該試料Ｚの分析面を切り出すための治具である点は前記第１実施形態の分析面切削用治具１００と共通している。また、ガイド部材３０の上面３２が、試料保持部材１０に保持された試料Ｚの上部よりも下方に位置決めされるとともに、切削工具Ｙの刃先を試料Ｚの片側からその反対側に案内して前記分析面を切り出すための切出案内面３２として機能する点においても、前記第１実施形態と共通している。

一方、本実施形態の分析面切削用治具１００は、試料Ｚを保持する試料保持部材１０を構成要素として備える点で第１実施形態とは相違しており、この試料保持部材１０に特徴があるので、以下に詳述する。

試料保持部材１０は、図６に示すように、試料Ｚの少なくとも上部を露出させた状態で当該試料Ｚを保持するものであり、具体的には、試料Ｚを両側から挟み込んで保持する一対の挟持体１２を備えている。

これらの挟持体１２は、互いに対向する対向側面１３で試料Ｚを挟み込むものであり、例えば一方の挟持体１２を他方の挟持体１２に対して進退可能にする連結機構１４を介して連結されている。そして、この連結機構１４を操作することにより、一対の挟持体１２の対向側面１３の離間距離を調整することができる。

本実施形態では試料Ｚを落とさずに保持できるようにするべく、各挟持体１２の対向側面１３それぞれには、試料Ｚに係合する窪み部１５が設けられている。具体的には、それぞれの対向側面１３を長尺状にしてあり、これらの対向側面１３の長手方向に沿って、互いに大きさが異なる複数の窪み部１５を設けてある。

このように構成された試料保持部材１０は、挟持体１２それぞれの下面が載置台２０に載置されるとともに、挟持体１２それぞれの上面にガイド部材３０が設けられ、これにより前記第１実施形態と同様、ガイド部材３０の上面３２が、試料Ｚの上部よりも下方に位置決めされるとともに切出案内面３２として機能する。なお、ガイド部材３０の形状は適宜変更して構わないが、ここでは、内部に試料Ｚが配置される貫通孔３１が形成された平面視矩形状のものとした。

ここで、この実施形態の分析面切削用治具１００は、図７に示すように、試料保持部材１０が載置される載置台２０と、試料Ｚを支持しながら載置台２０に対して昇降可能な昇降体５０とをさらに備えている。

載置台２０は、試料保持部材１０が載置される平坦な載置面２１を有するものである。ここでは一例として箱型のものを挙げてあるが、載置面２１を有するものであればその形状は適宜変更して構わない。ここでの載置台２０は、図７に示すように、上述した一対の挟持体１２の間に位置する縦孔２８を有しており、この縦孔２８内に昇降体５０が上下方向に沿ってスライド移動可能に設けられている。

昇降体５０は、例えば縦孔２８に螺合するものであり、縦孔２８に設けられた雌螺子と螺合する雄螺子が外周面に形成されている。かかる構成により、昇降体５０は、試料Ｚを支持しながら、載置台２０における一対の挟持体１２の間で上下方向に沿って移動可能であり、これによって試料Ｚの高さ位置を調整することができる。

＜＜第２実施形態の作用効果＞＞
このように構成された分析面切削用治具１００によれば、試料Ｚを挟み込んで保持する試料保持部材１０を備えているので、接着剤Ａを用いることなく試料Ｚを保持することができ、前記第１実施形態と比べると、接着剤Ａを用いて試料Ｚを接着固定する手間を省くことができるし、もちろん接着剤Ａが乾くまでの時間を置く必要もなく、また適切な接着剤Ａの選定も不要である。

また、一対の挟持体１２の対向側面１３それぞれに窪み部１５が設けられているので、試料Ｚをしっかりと保持することができ、しかも互いに大きさの異なる複数の窪み部１５を設けてあるので、種々の大きさの試料Ｚに対応することができる。

さらに、試料Ｚを支持しながら載置台２０に対して昇降可能な昇降体５０を備えているので、昇降体５０を昇降させて試料Ｚの高さを調整することができるので、試料Ｚの分析面を所望の高さ位置で切り出すことができる。

＜＜第２実施形態の変形例＞＞
例えば、載置台２０は、前記第２実施形態では分析面切削用治具１００を構成する構成要素の１つとして説明したが、分析面切削用治具１００とは別のものであっても良い。

また、前記第２実施形態では、昇降体５０を昇降させることで試料Ｚの高さ位置を調整していたが、高さ位置を固定した試料Ｚに対して、一対の挟持体１２が昇降可能に設けられていても良い。

＜＜その他の実施形態＞＞
前記各実施形態では、分析面切削用治具１００を光学分析装置Ｘとともに用いられる装置とは別のものとして説明したが、光学分析装置Ｘが、上述した分析面切削用治具１００を備えるものであっても良い。

また、本発明に係る分析面切削用治具１００は、光学分析装置Ｘとともに用いられるものに限らず、試料Ｚを分析するための種々の分析装置とともに用いられ得るものである。

その他、本発明の趣旨に反しない限りにおいて様々な実施形態の変形や組み合わせを行っても構わない。

１００・・・分析面切削用治具
Ｚ ・・・試料
Ｙ ・・・切削工具
Ａ ・・・接着剤
Ｘ ・・・光学分析装置
Ｘ１ ・・・ステージ
Ｘ２ ・・・光源
Ｘ３ ・・・検出器
Ｘ４ ・・・情報処理装置
１０ ・・・試料保持部材
１１ ・・・上面
２０ ・・・載置台
２１ ・・・載置面
２２ ・・・上面
２３ ・・・収容溝
２４ ・・・底面
２５ ・・・内側面
２５ ・・・規制面
２６ ・・・起立面
２６ ・・・第２規制面
２７ ・・・収容空間
３０ ・・・ガイド部材
３１ ・・・貫通孔
３２ ・・・上面
３２ ・・・切出案内面
３３ ・・・下面
４０ ・・・高さ調整部材
１２ ・・・挟持体
１３ ・・・対向側面
１４ ・・・連結機構
１５ ・・・窪み部
５０ ・・・昇降体
２８ ・・・縦孔

Claims (14)

1. 試料の少なくとも上部を露出させた状態で当該試料を保持する試料保持部材とともに用いられるものであり、前記試料を切削工具で切削することにより当該試料の分析面を切り出すための治具であり、
   前記試料保持部材が載置される載置台と、
   前記切削工具をガイドするものであり、その上面が前記試料保持部材に保持された前記試料の上部よりも下方に位置決めされるガイド部材とを備え、
   前記ガイド部材の前記上面が、前記切削工具の刃先を前記試料の片側からその反対側に案内して前記分析面を切り出すための切出案内面として機能し、
   前記試料保持部材が平板状のものであり、
   前記載置台が、上面を凹ませてなり、前記試料保持部材を収容する収容溝を有し、
   前記ガイド部材の下面が、前記試料保持部材の上面及び前記載置台の上面に面接触する、分析面切削用治具。
2. 前記ガイド部材が、前記試料保持部材の上面に押し当てられるものであり、この押し当てにより当該ガイド部材の上面が前記試料の上部よりも下方に位置決めされる、請求項１記載の分析面切削用治具。
3. 厚み寸法の異なる複数種類の前記ガイド部材を備える、請求項１又は２記載の分析面切削用治具。
4. 前記ガイド部材が、厚さ方向に貫通するとともに、その内側に前記試料が配置される貫通孔を有している、請求項１乃至３のうち何れか一項に記載の分析面切削用治具。
5. 前記収容溝を形成する内側面が、前記試料保持部材の動きを規制する規制面として機能する、請求項１～４の何れか一項に記載の分析面切削用治具。
6. 前記収容溝に設けられるとともに、前記試料保持部材と前記載置台との間に介在し、前記載置台に対する前記試料保持部材の高さを調整するための高さ調整部材をさらに備える、請求項１～５の何れか一項に記載の分析面切削用治具。
7. 試料を切削工具で切削することにより当該試料の分析面を切り出すための治具であり、
   前記試料の少なくとも上部を露出させた状態で当該試料を保持するものであり、前記試料を両側から挟み込んで保持する一対の挟持体を備える試料保持部材と、
   前記切削工具をガイドするものであり、その上面が前記試料保持部材に保持された前記試料の上部よりも下方に位置決めされるガイド部材と、
   前記試料保持部材が載置される載置台と、
   前記載置台における前記一対の挟持体の間に設けられ、前記試料を支持しながら前記載置台に対して昇降可能な昇降体とを備え、
   前記ガイド部材の前記上面が、前記切削工具の刃先を前記試料の片側からその反対側に案内して前記分析面を切り出すための切出案内面として機能する、分析面切削用治具。
8. 前記一対の挟持体における互いに対向する対向側面それぞれに前記試料を挟み込む窪み部が設けられている、請求項７記載の分析面切削用治具。
9. 互いに大きさの異なる複数の前記窪み部が、前記挟持体の前記対向側面それぞれに設けられている、請求項８記載の分析面切削用治具。
10. 請求項１乃至９のうち何れか一項に記載の分析面切削用治具を備え、前記分析面が切り出された前記試料を分析する、分析装置。
11. 該試料を切削工具で切削することにより当該試料の分析面を切り出す分析面切削方法であって、
    前記試料の少なくとも上部を露出させた状態で当該試料を平板状の試料保持部材に保持させ、
    当該試料保持部材を、上面を凹ませてなり、前記試料保持部材を収容する収容溝を有する載置台に載置し、
    前記切削工具をガイドするガイド部材を、その下面を前記試料保持部材の上面及び前記載置台の上面に面接触させ、その上面を前記試料保持部材に保持された前記試料の上部よりも下方に位置決めし、
    前記ガイド部材の上面に沿って前記切削工具の刃先を前記試料の片側からその反対側に案内し、前記試料を切削することにより前記分析面を切り出す、分析面切削方法。
12. 前記ガイド部材が、厚さ方向に貫通するとともに、その内側に前記試料が配置される貫通孔を有しており、
    前記切削工具の刃先が前記貫通孔よりも幅広のものである、請求項１１記載の分析面切削方法。
13. 請求項１１又は１２記載の分析面切削方法により前記分析面を切り出された前記試料を分析する分析方法であって、
    前記試料保持部材が平板状のものであり、
    前記試料保持部材を前記載置台からそのまま分析装置に移動させて、当該分析装置により前記試料の前記分析面を分析する、分析方法。
14. 前記分析面をマッピング分析する、請求項１３記載の分析方法。