JP7402007B2 - LCD driver IC - Google Patents

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Description

本発明は、液晶素子を駆動する液晶ドライバIC(Integrated Circuit)に関する。 The present invention relates to a liquid crystal driver IC (Integrated Circuit) that drives a liquid crystal element.

特許文献1で提案されている表示ドライバICは、液晶素子を駆動する液晶ドライバICとして用いることができ、駆動制御信号の出力に関連する回路或いは信号ラインにショート故障が発生しているか否かを判定できる。 The display driver IC proposed in Patent Document 1 can be used as a liquid crystal driver IC that drives a liquid crystal element, and can detect whether a short circuit failure has occurred in a circuit or signal line related to the output of a drive control signal. Can be judged.

国際公開第2018/066292号(段落0043乃至段落0047及び段落0050乃至段落0053)International Publication No. 2018/066292 (Paragraphs 0043 to 0047 and Paragraphs 0050 to 0053)

しかしながら、特許文献1で開示されている表示ドライバICでは、いずれかの駆動制御信号の出力に関連する回路或いは信号ラインにショート故障が発生している場合に、ショート故障が発生していることは判定できても、どの駆動制御信号の出力に関連する回路或いは信号ラインにショート故障が発生しているかを特定することはできなかった。 However, in the display driver IC disclosed in Patent Document 1, if a short-circuit failure occurs in a circuit or signal line related to the output of any drive control signal, it is impossible to determine that a short-circuit failure has occurred. Even if it could be determined, it was not possible to specify in which circuit or signal line related to the output of the drive control signal the short-circuit failure occurred.

本発明は、上記の状況に鑑み、いずれかの駆動制御信号の出力に関連する回路或いは信号ラインにショート故障が発生している場合に、どの駆動制御信号の出力に関連する回路或いは信号ラインにショート故障が発生しているかを特定できる液晶ドライバICを提供することを目的とする。 In view of the above-mentioned situation, the present invention provides that when a short-circuit failure occurs in a circuit or signal line related to the output of any drive control signal, the circuit or signal line related to the output of any drive control signal is An object of the present invention is to provide a liquid crystal driver IC that can identify whether a short-circuit failure has occurred.

本明細書中に開示されている液晶ドライバICは、ロジック回路と、前記ロジック回路の出力に応じたレベルの駆動制御信号を液晶部に出力する出力部と、前記駆動制御信号のレベルが前記ロジック回路の出力に応じたレベルになっていない場合にエラー出力を行うエラー判定部と、アドレス判定部と、を含む回路ブロックをk(kは2以上の自然数)個備え、k個の前記エラー判定部の前記エラー出力に関する論理和であるエラー信号を生成するエラー信号生成部を備える液晶ドライバICであって、前記アドレス判定部は、前記液晶ドライバICの内部且つ前記回路ブロックの外部に配置されるアドレス発生器から供給される供給アドレスとk個の前記回路ブロックそれぞれで固有の固有アドレスとが一致するか否かを判定し、前記エラー判定部は、同一の前記回路ブロック内の前記アドレス判定部によって前記供給アドレスと前記固有アドレスとが一致しないと判定されれば、前記エラー出力をマスクする構成(第1の構成)である。
The liquid crystal driver IC disclosed in this specification includes a logic circuit, an output section that outputs a drive control signal at a level corresponding to the output of the logic circuit to a liquid crystal section, and a drive control signal whose level corresponds to the output of the logic circuit. k (k is a natural number of 2 or more) circuit blocks including an error determination section that outputs an error when the level does not correspond to the output of the circuit and an address determination section; The liquid crystal driver IC includes an error signal generation section that generates an error signal that is a logical sum of the error outputs of the section, and the address determination section is arranged inside the liquid crystal driver IC and outside the circuit block. The error determination section determines whether or not the supplied address supplied from the address generator matches the unique address unique to each of the k circuit blocks, and the error determination unit determines whether or not the supplied address supplied from the address generator in If it is determined by the unit that the supply address and the unique address do not match, the error output is masked (first configuration).

上記第1の構成の液晶ドライバICにおいて、前記ロジック回路の出力に応じたレベルが3値以上存在し、前記エラー判定部におけるレベルの検出機能で検出可能なレベルが特定の2値に限られる構成(第2の構成)にしてもよい。
In the liquid crystal driver IC having the first configuration, there are three or more levels corresponding to the output of the logic circuit, and the level detectable by the level detection function in the error determination section is limited to two specific values. (Second configuration) may also be used.

上記第1または第2の構成の液晶ドライバICにおいて、前記エラー信号生成部は、2入力のORゲートを(k-1)個備え、(k-1)個の前記ORゲートが所定の直線方向に沿って並んで配置され、(k-1)個の前記ORゲートそれぞれにおいて前記ORゲートの第1入力端子及び第2入力端子が前記所定の直線方向の一方側に配置され前記ORゲートの出力端子が前記所定の直線方向の他方側に配置され、kは3以上であって、(k-1)個の前記ORゲートのうち最も前記所定の直線方向の他方側に配置される前記ORゲートを除く(k-2)個の前記ORゲートの出力端子はそれぞれ、前記所定の直線方向の他方側に隣接する前記ORゲートの第1入力端子に接続される構成(第3の構成)にしてもよい。
In the liquid crystal driver IC having the first or second configuration, the error signal generation section includes (k-1) two-input OR gates, and the (k-1) OR gates are arranged in a predetermined linear direction. are arranged in line along the (k-1) OR gates, the first input terminal and the second input terminal of the OR gate are arranged on one side of the predetermined linear direction, and the output of the OR gate is The OR gate has a terminal arranged on the other side of the predetermined linear direction, k is 3 or more, and of the (k-1) OR gates, the OR gate is arranged on the other side of the predetermined linear direction. The output terminals of the (k-2) OR gates excluding the above are each connected to the first input terminal of the OR gate adjacent to the other side in the predetermined linear direction (third configuration). Good too.

上記第1~第3いずれかの構成の液晶ドライバICにおいて、前記駆動制御信号のレベルが前記ロジック回路の出力に応じたレベルになっていない場合において前記供給アドレスと前記固有アドレスとが一致する前記回路ブロックの前記ロジック回路の出力は、前記駆動制御信号のレベルが前記ロジック回路の出力に応じたレベルになっていない場合において前記供給アドレスと前記固有アドレスとが一致しない前記回路ブロックの前記ロジック回路の出力と異なる構成(第4の構成)にしてもよい。
In the liquid crystal driver IC having any of the first to third configurations, the supply address and the unique address match when the level of the drive control signal is not at a level corresponding to the output of the logic circuit. The output of the logic circuit of the circuit block is determined by the logic circuit of the circuit block where the supply address and the unique address do not match when the level of the drive control signal is not at a level corresponding to the output of the logic circuit. A configuration (fourth configuration) that is different from the output may be used.

本明細書中に開示されている液晶装置は、上記第1~第4いずれかの構成の液晶ドライバICと、前記液晶部と、前記液晶部に光を照射する光源と、を備え、前記液晶部が複数の液晶素子を備え、前記液晶ドライバICが前記液晶素子を駆動する構成(第5の構成)である。 A liquid crystal device disclosed herein includes a liquid crystal driver IC having any of the first to fourth configurations, the liquid crystal section, and a light source that irradiates the liquid crystal section with light, and This is a configuration (fifth configuration) in which the unit includes a plurality of liquid crystal elements, and the liquid crystal driver IC drives the liquid crystal elements .

上記第5の構成の液晶装置において、上記第4の構成の液晶ドライバICを備え、前記光源が消灯している期間に、前記エラー判定部は、同一の前記回路ブロック内の前記アドレス判定部によって前記供給アドレスと前記固有アドレスとが一致しないと判定されれば、前記エラー出力をマスクする構成(第6の構成)にしてもよい。 The liquid crystal device with the fifth configuration includes the liquid crystal driver IC with the fourth configuration, and during a period when the light source is turned off, the error determination unit is configured to detect the error determination unit by the address determination unit in the same circuit block. If it is determined that the supply address and the unique address do not match, the error output may be masked (sixth configuration).

上記第6の構成の液晶装置において、前記光源が点灯している期間であれば、前記エラー判定部は、たとえ同一の前記回路ブロック内の前記アドレス判定部によって前記供給アドレスと前記固有アドレスとが一致しないと判定されても、前記エラー出力をマスクしない構成(第7の構成)にしてもよい。 In the liquid crystal device having the sixth configuration, during the period when the light source is on, the error determination unit may detect whether the supply address and the unique address are determined by the address determination unit in the same circuit block. A configuration (seventh configuration) may be adopted in which the error output is not masked even if it is determined that they do not match.

本明細書中に開示されている車両は、上記第5~第7いずれかの構成の液晶装置を備える構成(第8の構成)である。 The vehicle disclosed in this specification has a configuration (eighth configuration) including a liquid crystal device having any of the fifth to seventh configurations described above.

本明細書中に開示されている液晶ドライバICによれば、いずれかの駆動制御信号の出力に関連する回路或いは信号ラインにショート故障が発生している場合に、どの駆動制御信号の出力に関連する回路或いは信号ラインにショート故障が発生しているかを特定できる。 According to the liquid crystal driver IC disclosed in this specification, when a short-circuit failure occurs in a circuit or signal line related to the output of any drive control signal, the output of any drive control signal is It can be determined whether a short circuit has occurred in the circuit or signal line.

一実施例に係る液晶表示装置の概略上面図Schematic top view of a liquid crystal display device according to one embodiment 液晶ドライバICの一構成例を示すブロック図Block diagram showing an example of a configuration of a liquid crystal driver IC COMラインのパターン例を示す図Diagram showing an example of a COM line pattern COMラインが1本である場合のCOMラインのパターン例を示す図Diagram showing an example of a COM line pattern when there is only one COM line SEGラインのパターン例を示す図Diagram showing an example of SEG line pattern 表示パターン例を示す図Diagram showing an example of display pattern データフリップフロップの配置例を示す図Diagram showing an example of arrangement of data flip-flops 第2判定回路の一構成例を示す図A diagram showing an example of the configuration of the second determination circuit 第2判定回路の他の構成例を示す図A diagram showing another configuration example of the second determination circuit アドレス発生器及び各回路ブロックのロジック回路を示す図Diagram showing the address generator and logic circuit of each circuit block ロジック回路の一構成例を示す図Diagram showing an example of a configuration of a logic circuit 動作シーケンスの一例を示す図Diagram showing an example of an operation sequence 第2判定回路のスキャンモード動作における走査信号及びデータ信号の一例を示す図A diagram showing an example of a scanning signal and a data signal in scan mode operation of the second determination circuit 全体エラー信号出力回路の一構成例を示す図Diagram showing an example of the configuration of the overall error signal output circuit 液晶ドライバICの概略透過上面図Schematic transparent top view of LCD driver IC 液晶表示装置が搭載される車両の外観図External view of a vehicle equipped with a liquid crystal display device

<全体構成>
図1は、一実施例に係る液晶表示装置の概略上面図である。図1に示す液晶表示装置は、ホスト機器であるMPU(Micro Processing Unit)100と、MPU100から表示データを受け取る液晶ドライバIC200と、液晶ドライバIC200から駆動制御信号(後述する走査信号COM0~COM3及びデータ信号SEG0~SEG9)を受け取る液晶表示パネル300と、バックライト(不図示)と、を有する。
<Overall configuration>
FIG. 1 is a schematic top view of a liquid crystal display device according to one embodiment. The liquid crystal display device shown in FIG. 1 includes an MPU (Micro Processing Unit) 100 that is a host device, a liquid crystal driver IC 200 that receives display data from the MPU 100, and drive control signals (scanning signals COM0 to COM3 and data to be described later) from the liquid crystal driver IC 200. It has a liquid crystal display panel 300 that receives signals (SEG0 to SEG9) and a backlight (not shown).

液晶表示パネル300は、ガラス基板上に形成される液晶部400を有する。液晶部400は、複数の液晶素子を有する。バックライト(不図示)は液晶部400に光を照射する。液晶ドライバIC200は、液晶表示パネル300のガラス基板上にCOG実装され、液晶部400の液晶素子に駆動制御信号を出力する。 The liquid crystal display panel 300 has a liquid crystal section 400 formed on a glass substrate. Liquid crystal section 400 has a plurality of liquid crystal elements. A backlight (not shown) irradiates the liquid crystal section 400 with light. The liquid crystal driver IC 200 is COG-mounted on the glass substrate of the liquid crystal display panel 300 and outputs a drive control signal to the liquid crystal element of the liquid crystal section 400.

図2は、液晶ドライバIC200の一構成例を示すブロック図である。 FIG. 2 is a block diagram showing an example of the configuration of the liquid crystal driver IC 200.

液晶ドライバIC200は、電源電圧端子T1に印加される電源電圧VDDとグランド電位端子T2に印加されるグランド電圧VSSとの差である内部電源電圧によって駆動する。パワーオンリセット回路1は、電源電圧端子T1に印加される電源電圧VDDが低下すると、液晶ドライバIC200全体の動作をリセットする。 The liquid crystal driver IC 200 is driven by an internal power supply voltage that is the difference between the power supply voltage VDD applied to the power supply voltage terminal T1 and the ground voltage VSS applied to the ground potential terminal T2. The power-on reset circuit 1 resets the entire operation of the liquid crystal driver IC 200 when the power supply voltage VDD applied to the power supply voltage terminal T1 decreases.

シリアルインターフェース2は、MPU100との間で例えばI2C等のシリアルバス通信を行う。シリアルインターフェース2は、ロジック回路であって、MPU100から送られてくるデータをレジスタに保持しながら、コマンドデータデコーダ3に出力する。 The serial interface 2 performs serial bus communication, such as I2C, with the MPU 100. The serial interface 2 is a logic circuit, and outputs the data sent from the MPU 100 to the command data decoder 3 while holding the data in a register.

コマンドデータデコーダ3は、コマンドレジスタ4に書き込まれているレジスタ値を参照して、シリアルインターフェース2から出力されるシリアルデータに含まれるコマンドをデコードする。 The command data decoder 3 refers to the register value written in the command register 4 and decodes the command included in the serial data output from the serial interface 2.

シリアルインターフェース2から出力されるシリアルデータに含まれる表示データは、コマンドデータデコーダ3から表示データRAM(Random Access Memory)5に出力される。 Display data included in the serial data output from the serial interface 2 is output from the command data decoder 3 to a display data RAM (Random Access Memory) 5.

発振器6は、外部から供給される外部発振信号OSC又は発振器6自身の発振により生成される内部発振信号をCOMMONカウンタ7に出力する。 The oscillator 6 outputs to the COMMON counter 7 an external oscillation signal OSC supplied from the outside or an internal oscillation signal generated by oscillation of the oscillator 6 itself.

COMMONカウンタ7は、発振器6から出力される外部発振信号OSC又は内部発振信号に基づいて走査期間を制御する。 The COMMON counter 7 controls the scanning period based on the external oscillation signal OSC or the internal oscillation signal output from the oscillator 6.

液晶電圧生成部8は、外部から供給される液晶駆動用の定電圧VLCDを分圧して、4値の電圧V1~V4を生成する。電圧V1>電圧V2>電圧V3>電圧V4であって、電圧V1は定電圧VLCDと同一値であり、電圧V4はグランド電圧VSSと同一値である。 The liquid crystal voltage generation section 8 divides a constant voltage VLCD for driving the liquid crystal supplied from the outside to generate four-value voltages V1 to V4. Voltage V1>voltage V2>voltage V3>voltage V4, where voltage V1 has the same value as constant voltage VLCD, and voltage V4 has the same value as ground voltage VSS.

液晶バイアス選択部群9Gは、14個の液晶バイアス選択部を有する。各液晶バイアス選択部は、電圧V1~V4から選択した電圧をCOMMONドライバ又はSEGMENTドライバに供給する。 The liquid crystal bias selection section group 9G has 14 liquid crystal bias selection sections. Each liquid crystal bias selection section supplies a voltage selected from voltages V1 to V4 to a COMMON driver or a SEGMENT driver.

COMMONドライバ群10Gは、4個のCOMMONドライバを有する。m(mは4以下の自然数)番目のCOMMONドライバは、m番目の液晶バイアス選択部の出力を用いて走査信号COM(m-1)を生成して液晶部400に出力する。SEGMENTドライバ群11Gは、10個のSEGMENTドライバを有する。n(nは10以下の自然数)番目のCOMMONドライバは、表示データ用RAM5から出力される表示データに基づいて、(n+4)番目の液晶バイアス選択部の出力を用いてデータ信号SEG(n-1)を生成して液晶部400に出力する。なお、本実施形態における走査信号の個数(=4個)及び本実施形態におけるデータ信号の個数(=10個)はあくまで一例であって、走査信号の個数及びデータ信号の個数は本実施形態に限定されるものではない。 The COMMON driver group 10G includes four COMMON drivers. The m-th (m is a natural number of 4 or less) COMMON driver generates a scanning signal COM (m-1) using the output of the m-th liquid crystal bias selection section and outputs it to the liquid crystal section 400. The SEGMENT driver group 11G has 10 SEGMENT drivers. The n-th (n is a natural number of 10 or less) COMMON driver uses the output of the (n+4)-th liquid crystal bias selection section to generate a data signal SEG (n-1) based on the display data output from the display data RAM 5. ) is generated and output to the liquid crystal section 400. Note that the number of scanning signals in this embodiment (=4) and the number of data signals in this embodiment (=10) are just examples, and the number of scanning signals and the number of data signals in this embodiment are different from each other. It is not limited.

第1~第4判定回路21~24及び全体エラー信号出力回路25の詳細については後述する。 Details of the first to fourth determination circuits 21 to 24 and the overall error signal output circuit 25 will be described later.

図3Aは、COMラインのパターン例を示す図である。走査信号COM0~COM3がそれぞれ供給される4本のCOMラインが液晶部400において図3Aに示すように配置されている。本実施形態とは異なり、COMラインを1本にする場合には、COMラインを液晶部400において例えば図3Bに示すように配置すればよい。 FIG. 3A is a diagram showing an example of a COM line pattern. Four COM lines to which scanning signals COM0 to COM3 are respectively supplied are arranged in the liquid crystal section 400 as shown in FIG. 3A. Unlike this embodiment, when using one COM line, the COM line may be arranged in the liquid crystal section 400, for example, as shown in FIG. 3B.

図4は、SEGラインのパターン例を示す図である。データ信号SEG0~SEG9がそれぞれ供給される10本のSEGラインが液晶部400において図4に示すように配置されている。 FIG. 4 is a diagram showing an example of a pattern of SEG lines. Ten SEG lines to which data signals SEG0 to SEG9 are respectively supplied are arranged in the liquid crystal section 400 as shown in FIG.

図3に示すCOMラインのパターン例及び図4に示すSEGラインのパターン例によってセグメント表示が可能となり、例えば図5に示すような表示が可能となる。 The example of the COM line pattern shown in FIG. 3 and the example of the SEG line pattern shown in FIG. 4 make it possible to display segments, such as the one shown in FIG. 5, for example.

<第1判定回路>
第1判定回路21は、複数のデータフリップフロップを有する構成であって、デジタル回路内のレジスタのレジスタ値に異常が発生しているか否かを判定する。なお、図2に示す構成例においては、シリアルインターフェース2、コマンドデータデコーダ3、コマンドレジスタ4、表示データRAM5、及びCOMMONカウンタ7によってデジタル回路が構成されている。外来電気ノイズによってデジタル回路内のレジスタのレジスタ値に異常が発生する。したがって、外来電気ノイズの影響を受けやすい位置にデータフリップフロップを配置する。そして、第1判定回路21は、データフリップフロップに書き込んだ値(期待値)とデータフリップフロップから読み込んだ値とが不一致である場合に、デジタル回路内のレジスタのレジスタ値に異常が発生している蓋然性が高いので、デジタル回路内のレジスタのレジスタ値に異常が発生したと判定する。
<First judgment circuit>
The first determination circuit 21 has a configuration including a plurality of data flip-flops, and determines whether or not an abnormality has occurred in the register value of a register in a digital circuit. In the configuration example shown in FIG. 2, the serial interface 2, command data decoder 3, command register 4, display data RAM 5, and COMMON counter 7 constitute a digital circuit. Abnormalities occur in the register values of registers in digital circuits due to external electrical noise. Therefore, the data flip-flop is placed at a position where it is susceptible to external electrical noise. Then, the first determination circuit 21 determines that an abnormality has occurred in the register value of the register in the digital circuit when the value written to the data flip-flop (expected value) and the value read from the data flip-flop do not match. Since there is a high probability that this occurs, it is determined that an abnormality has occurred in the register value of the register in the digital circuit.

第1判定回路21は、データフリップフロップに書き込むデータの生成、及び、データフリップフロップに書き込んだ値(期待値)とデータフリップフロップから読み込んだ値との比較を行う。 The first determination circuit 21 generates data to be written to the data flip-flop, and compares the value written to the data flip-flop (expected value) with the value read from the data flip-flop.

ここで、データフリップフロップに書き込まれる値は、書き込まれる前にデータフリップフロップに書き込まれていた値の反転値であることが望ましい。例えば、第1判定回路21が5個のデータフリップフロップそれぞれに書き込まれるデータを順番に生成する場合、最初に第1判定回路21によって生成されるデータが「10101」であれば、その後の比較の後に第1判定回路21によって生成されるデータを「01010」にすればよい。データフリップフロップに書き込まれる値が固定されていると、例えば破損したデータフリップフロップの出力がたまたまデータフリップフロップに書き込まれる値と一致し続けるというような不具合が生じ得るからである。 Here, it is desirable that the value written to the data flip-flop be an inverted value of the value written to the data flip-flop before writing. For example, when the first judgment circuit 21 sequentially generates data to be written to each of five data flip-flops, if the first data generated by the first judgment circuit 21 is "10101", then the data for the subsequent comparison will be The data generated later by the first determination circuit 21 may be set to "01010". This is because if the value written to the data flip-flop is fixed, problems may occur, such as the output of a damaged data flip-flop continuing to coincide with the value written to the data flip-flop.

図6は、データフリップフロップの配置例を示す図である。液晶ドライバIC200は平面視において矩形状であって、データフリップフロップFF1~FF4は液晶ドライバIC200の四隅に配置される。液晶ドライバIC200の四隅が外来電気ノイズの影響を最も受けやすい位置であると考えられるからである。 FIG. 6 is a diagram showing an example of the arrangement of data flip-flops. The liquid crystal driver IC 200 has a rectangular shape in plan view, and the data flip-flops FF1 to FF4 are arranged at the four corners of the liquid crystal driver IC 200. This is because the four corners of the liquid crystal driver IC 200 are considered to be the positions most susceptible to the influence of external electrical noise.

また、電源電圧VDDの変動も外来電気ノイズとなり得る。電源電圧端子T1の接続される電源電圧配線パターンP1は、液晶ドライバIC200の外縁に沿ったガードリング部と、図6中の上下方向に延びる線幅の太い第1直線部と、図6中の左右方向に延びる線幅が第1直線部より細い第2直線部と、を有している。データフリップフロップFF5は、電源電圧配線パターンP1内で電源電圧端子T1に対して最もインピーダンスが大きくなる箇所PT1の近傍に配置される。最もインピーダンスが大きくなる箇所PT1は、電源電圧VDDの変動が最も大きくなり、電源電圧VDDの変動が最も外来電気ノイズになり易い場所であると考えられるからである。 Furthermore, fluctuations in the power supply voltage VDD can also result in external electrical noise. The power supply voltage wiring pattern P1 to which the power supply voltage terminal T1 is connected includes a guard ring part along the outer edge of the liquid crystal driver IC 200, a first linear part with a thick line width extending in the vertical direction in FIG. and a second linear portion extending in the left-right direction and having a narrower line width than the first linear portion. The data flip-flop FF5 is arranged in the vicinity of a point PT1 in the power supply voltage wiring pattern P1 where the impedance is the largest with respect to the power supply voltage terminal T1. This is because the location PT1 where the impedance is the largest is considered to be the location where the variation in the power supply voltage VDD is greatest and the variation in the power supply voltage VDD is most likely to cause external electrical noise.

また、グランド電圧VSSの変動も電源電圧VDDの変動と同様に外来電気ノイズとなり得る。したがって、グランド電位端子T2に接続されるグランド電位配線パターンの内でグランド電位端子T2に対して最もインピーダンスが大きくなる箇所の近傍にデータフリップフロップを配置してもよい。 Further, fluctuations in the ground voltage VSS can also become external electrical noise, similar to fluctuations in the power supply voltage VDD. Therefore, the data flip-flop may be arranged near the location where the impedance with respect to the ground potential terminal T2 is largest among the ground potential wiring patterns connected to the ground potential terminal T2.

なお、本実施形態と異なり、データフリップフロップは単数であってもよい。 Note that, unlike this embodiment, there may be a single data flip-flop.

<第2判定回路>
図7は、第2判定回路22の一構成例を示す図である。液晶ドライバIC200は、走査信号COM3~COM0をそれぞれ生成する回路ブロックCB_COM3~CB_COM0及びデータ信号SEG0~SEG9をそれぞれ生成する回路ブロックCB_SEG0~CB_SEG9を備える。なお、図7において、回路ブロックCB_COM0及びCB_SEG0~CB_SEG8は図示を省略している。
<Second judgment circuit>
FIG. 7 is a diagram showing an example of the configuration of the second determination circuit 22. As shown in FIG. The liquid crystal driver IC 200 includes circuit blocks CB_COM3 to CB_COM0 that generate scanning signals COM3 to COM0, respectively, and circuit blocks CB_SEG0 to CB_SEG9 that generate data signals SEG0 to SEG9, respectively. Note that in FIG. 7, circuit blocks CB_COM0 and CB_SEG0 to CB_SEG8 are not shown.

各回路ブロックは基本的に同一の構成である。ただし、回路ブロックCB_COM3~CB_COM0はロジック回路33の出力に応じたレベルの走査信号を出力するCOMMONドライバ10を備えるのに対し、回路ブロックCB_SEG0~CB_SEG9はロジック回路33の出力に応じたレベルのデータ信号を出力するSEGMENTドライバを備える。SEGMENTドライバはCOMMONドライバ10と同様の構成である。各回路ブロックは、液晶バイアス選択部9と、COMMONドライバ10又はSEGMENTドライバと、レベルシフタ32と、ロジック回路33と、を備える。 Each circuit block has basically the same configuration. However, while the circuit blocks CB_COM3 to CB_COM0 are equipped with a COMMON driver 10 that outputs a scanning signal of a level corresponding to the output of the logic circuit 33, the circuit blocks CB_SEG0 to CB_SEG9 are equipped with a data signal of a level corresponding to the output of the logic circuit 33. It is equipped with a SEGMENT driver that outputs. The SEGMENT driver has the same configuration as the COMMON driver 10. Each circuit block includes a liquid crystal bias selection section 9, a COMMON driver 10 or a SEGMENT driver, a level shifter 32, and a logic circuit 33.

図7に示す構成例の第2判定回路22は、各回路ブロックのTTL(Transistor Transistor Logic)バッファ31、レベルシフタ32、ロジック回路33、及びレベルシフタ34と、各回路ブロックのロジック回路33から判定結果を受け取るORゲート35とによって構成される。なお、図7に示す構成例では電源電圧VDDと定電圧VLCDとが互いに異なる値の電圧であることを前提にレベルシフタ32及び34が設けられているが、電源電圧VDDと定電圧VLCDとが同一値の電圧である場合にはレベルシフタ32及び34を設けない構成にしてもよい。 The second determination circuit 22 in the configuration example shown in FIG. 7 receives determination results from the TTL (Transistor Transistor Logic) buffer 31, level shifter 32, logic circuit 33, and level shifter 34 of each circuit block, and the logic circuit 33 of each circuit block. It is constituted by an OR gate 35 for receiving. Note that in the configuration example shown in FIG. 7, the level shifters 32 and 34 are provided on the premise that the power supply voltage VDD and constant voltage VLCD are voltages of different values, but if the power supply voltage VDD and constant voltage VLCD are the same, In the case of a voltage of a certain value, a configuration may be adopted in which the level shifters 32 and 34 are not provided.

ロジック回路33は、走査信号又はデータ信号を特定の2値(例えば電圧V1又は電圧V4)に制御しているときにだけ、TTLバッファ31をイネーブル状態にするイネーブル信号を出力する。ロジック回路33から出力されるイネーブル信号は、レベルシフタ34によってレベルシフトされた後、TTLバッファ31に供給される。TTLバッファ31の入力端は、走査信号又はデータ信号が出力される信号線に接続されている。TTLバッファ31から出力される信号は、レベルシフタ32によってレベルシフトされた後、ロジック回路33に供給される。 The logic circuit 33 outputs an enable signal that enables the TTL buffer 31 only when the scanning signal or data signal is controlled to a specific binary value (for example, voltage V1 or voltage V4). The enable signal output from the logic circuit 33 is level-shifted by the level shifter 34 and then supplied to the TTL buffer 31. The input end of the TTL buffer 31 is connected to a signal line through which a scanning signal or a data signal is output. The signal output from the TTL buffer 31 is level-shifted by the level shifter 32 and then supplied to the logic circuit 33.

ロジック回路33は、走査信号又はデータ信号を電圧V1に制御しているときにレベルシフタ32から電圧V1に対応する電圧が戻れば、走査信号又はデータ信号の出力に関連する回路(COMMONドライバ10又はSEGMENTドライバ)或いは信号ラインにショート故障が発生しておらず、走査信号又はデータ信号のレベルがロジック回路33の出力に応じたレベルになっていると判定する。同様に、ロジック回路33は、走査信号又はデータ信号を電圧V4に制御しているときにレベルシフタ32から電圧V4に対応する電圧が戻れば、走査信号又はデータ信号の出力に関連する回路(COMMONドライバ10又はSEGMENTドライバ)或いは信号ラインにショート故障が発生しておらず、走査信号又はデータ信号のレベルがロジック回路33の出力に応じたレベルになっていると判定する。ロジック回路33は、上記の判定結果として、異常が発生していると判定した場合にハイレベルの信号を出力し(エラー出力を行い)、異常が発生していないと判定した場合にローレベルの信号を出力する。 When the level shifter 32 returns a voltage corresponding to the voltage V1 while controlling the scan signal or data signal to the voltage V1, the logic circuit 33 outputs a circuit related to the output of the scan signal or data signal (COMMON driver 10 or SEGMENT). It is determined that no short-circuit failure has occurred in the driver) or the signal line, and that the level of the scanning signal or data signal is at a level corresponding to the output of the logic circuit 33. Similarly, when the level shifter 32 returns a voltage corresponding to the voltage V4 while controlling the scanning signal or the data signal to the voltage V4, the logic circuit 33 controls the circuit (COMMON driver) related to the output of the scanning signal or the data signal. 10 or SEGMENT driver) or the signal line, and the level of the scanning signal or data signal is determined to be at a level corresponding to the output of the logic circuit 33. As a result of the above determination, the logic circuit 33 outputs a high level signal (outputs an error) when it is determined that an abnormality has occurred, and outputs a low level signal when it is determined that no abnormality has occurred. Output a signal.

ORゲート35は、各回路ブロックのロジック回路33から出力される判定結果の論理和を出力信号S2として全体エラー信号出力回路25(図2参照)に出力する。 The OR gate 35 outputs the logical sum of the determination results output from the logic circuit 33 of each circuit block to the overall error signal output circuit 25 (see FIG. 2) as an output signal S2.

図7に示す構成例の第2判定回路22は、4値の電圧V1~V4のうち特定の2値(例えば電圧V1又は電圧V4)のみを利用して判定を行っているため、4値の電圧V1~V4それぞれに対応するA/Dコンバータを設けることが不要な構成となり、小型化及び低コスト化を図ることができる。なお、液晶電圧生成部8(図2参照)が生成する電圧は、4値の電圧V1~V4に限定されることはなく、2値以上の電圧であればよい。 The second determination circuit 22 in the configuration example shown in FIG. 7 makes a determination using only specific two values (for example, voltage V1 or voltage V4) among the four-value voltages V1 to V4. This configuration eliminates the need to provide A/D converters corresponding to each of the voltages V1 to V4, making it possible to achieve downsizing and cost reduction. Note that the voltage generated by the liquid crystal voltage generation section 8 (see FIG. 2) is not limited to the four-value voltages V1 to V4, and may be any voltage of two or more values.

第2判定回路22内の配線の全長を短くする観点から、図7に示す構成例よりも図8に示す構成例の方が望ましい。図8に示す構成例の第2判定回路22は、ORゲート35の代わりに13個のORゲート35_1~35_13を備える点で図7に示す構成例の第2判定回路22と異なる。なお、図7に示す構成例の第2判定回路22と比較して、図8に示す構成例の第2判定回路22は、並走する配線を削減できるので、レイアウトを小さくできるという利点も有する。また、図8に示す構成例の第2判定回路22では、回路ブロックCB_COM2及びORゲート35_1のレイアウトを、回路ブロックCB_COM1及びORゲート35_2のレイアウト、回路ブロックCB_COM0及びORゲート35_3のレイアウト、及び回路ブロックCB_SEGa及びORゲート35_(a+4)の各レイアウト(ただし、上記aは0以上9以下の整数)に転用できるので、レイアウトの設計が容易になる。 From the viewpoint of shortening the total length of the wiring within the second determination circuit 22, the configuration example shown in FIG. 8 is more preferable than the configuration example shown in FIG. 7. The second determination circuit 22 of the configuration example shown in FIG. 8 differs from the second determination circuit 22 of the configuration example shown in FIG. 7 in that it includes 13 OR gates 35_1 to 35_13 instead of the OR gate 35. Note that, compared to the second determination circuit 22 in the configuration example shown in FIG. 7, the second determination circuit 22 in the configuration example shown in FIG. . Furthermore, in the second determination circuit 22 of the configuration example shown in FIG. Since it can be used for each layout of CB_SEGa and OR gate 35_(a+4) (where a is an integer from 0 to 9), layout design becomes easy.

ORゲート35_1は、回路ブロックCB_COM3のロジック回路33から出力される判定結果と、回路ブロックCB_COM2のロジック回路33から出力される判定結果との論理和を出力する。ORゲート35_2は、回路ブロックCB_COM1のロジック回路33から出力される判定結果と、ORゲート35_1の出力との論理和を出力する。ORゲート35_2と同様に、ORゲート35_3~35_12は、対応する回路ブロックのロジック回路33から出力される判定結果と、隣接するORゲートの出力との論理和を出力する。ORゲート35_13は、回路ブロックCB_SEG9のロジック回路33から出力される判定結果と、ORゲート35_12の出力との論理和を出力信号S2として全体エラー信号出力回路25(図2参照)に出力する。 The OR gate 35_1 outputs the logical sum of the determination result output from the logic circuit 33 of the circuit block CB_COM3 and the determination result output from the logic circuit 33 of the circuit block CB_COM2. The OR gate 35_2 outputs the logical sum of the determination result output from the logic circuit 33 of the circuit block CB_COM1 and the output of the OR gate 35_1. Similar to the OR gate 35_2, the OR gates 35_3 to 35_12 output the logical sum of the determination result output from the logic circuit 33 of the corresponding circuit block and the output of the adjacent OR gate. The OR gate 35_13 outputs the logical sum of the determination result output from the logic circuit 33 of the circuit block CB_SEG9 and the output of the OR gate 35_12 to the overall error signal output circuit 25 (see FIG. 2) as an output signal S2.

ここで、例えば、各回路ブロックのロジック回路33から出力される判定結果それぞれをシリアルインターフェース2に送る構成にすれば、シリアルインターフェース2は、どの駆動制御信号(走査信号またはデータ信号)の出力に関連する回路或いは信号ラインにショート故障が発生しているかを把握することができる。しかしながら、そのような構成にした場合、余分な配線が必要となる。特に、図8に示す構成例を採用する場合、第2判定回路22内の配線の全長を短くできるメリットよりも各回路ブロックのロジック回路33とシリアルインターフェース2とを繋ぐ配線の引き回しが繁雑になるデメリットの方が大きくなる。 Here, for example, if the configuration is such that each of the determination results output from the logic circuit 33 of each circuit block is sent to the serial interface 2, the serial interface 2 can be connected to the output of which drive control signal (scanning signal or data signal) It can be ascertained whether a short-circuit failure has occurred in the circuit or signal line. However, such a configuration requires extra wiring. In particular, when adopting the configuration example shown in FIG. 8, the wiring that connects the logic circuit 33 of each circuit block and the serial interface 2 becomes more complicated than the advantage of shortening the total length of the wiring in the second determination circuit 22. The disadvantages are greater.

そこで、本実施形態では、各回路ブロックのロジック回路33内にアドレス判定回路を設けることで、いずれかの駆動制御信号(走査信号またはデータ信号)の出力に関連する回路或いは信号ラインにショート故障が発生している場合に、どの駆動制御信号(走査信号またはデータ信号)の出力に関連する回路或いは信号ラインにショート故障が発生しているかを特定できるようにしている。なお、本実施形態ではロジック回路33内にアドレス判定回路を設けているが、アドレス判定回路はロジック回路33の外部に設けてもよい。 Therefore, in this embodiment, by providing an address determination circuit in the logic circuit 33 of each circuit block, a short circuit failure occurs in a circuit or signal line related to the output of any drive control signal (scanning signal or data signal). If a short-circuit failure has occurred, it can be specified in which circuit or signal line related to the output of a drive control signal (scanning signal or data signal) a short-circuit failure has occurred. Note that although the address determination circuit is provided within the logic circuit 33 in this embodiment, the address determination circuit may be provided outside the logic circuit 33.

図9に示すように、シリアルインターフェース2内のアドレス発生器2Aは、各回路ブロックのロジック回路33にアドレスを供給する。例えば、アドレス発生器2Aは、発振器6によって生成される内部発振信号に基づいて、各回路ブロックのロジック回路33に供給するアドレス(以下、「供給アドレス」ともいう)の値を順次切り替える。 As shown in FIG. 9, the address generator 2A in the serial interface 2 supplies addresses to the logic circuits 33 of each circuit block. For example, the address generator 2A sequentially switches the value of the address (hereinafter also referred to as "supply address") supplied to the logic circuit 33 of each circuit block based on the internal oscillation signal generated by the oscillator 6.

図10は、ロジック回路33の一構成例を示す図である。ロジック回路33は、XORゲート33Aと、アドレス判定部33Bと、ANDゲート33Cと、を備える。 FIG. 10 is a diagram showing an example of the configuration of the logic circuit 33. The logic circuit 33 includes an XOR gate 33A, an address determination section 33B, and an AND gate 33C.

XORゲート33Aは、ロジック回路33が走査信号又はデータ信号を電圧VAに制御しているときに、電圧VAとレベルシフタ32から戻ってくる電圧VBとの排他的論理和を生成してANDゲート33Cの第1入力端子に出力する。つまり、XORゲート33Aは、電圧VAと電圧VBが不一致であり異常が発生していると判定した場合にハイレベルの信号を出力し(エラー出力を行い)、電圧VAと電圧VBが一致しており異常が発生していないと判定した場合にローレベルの信号を出力する。 When the logic circuit 33 is controlling the scan signal or data signal to the voltage VA, the XOR gate 33A generates an exclusive OR of the voltage VA and the voltage VB returned from the level shifter 32, and outputs the exclusive OR of the AND gate 33C. Output to the first input terminal. In other words, the XOR gate 33A outputs a high-level signal (outputs an error) when it determines that voltage VA and voltage VB do not match and an abnormality has occurred, and when voltage VA and voltage VB match, If it is determined that no abnormality has occurred, a low level signal is output.

アドレス判定部33Bは、供給アドレスA1と各回路ブロックで固有の固有アドレスA2とが一致するか否かを判定し、一致する場合にはハイレベルの信号をANDゲート33Cの第2入力端子に出力し、一致しない場合にはローレベルの信号をANDゲート33Cの第2入力端子に出力する。固有アドレスA2は例えばロジック回路33内の記憶部(不図示)に記憶させる。ロジック回路33内の記憶部(不図示)は揮発性でも不揮発性でもよい。ロジック回路33内の記憶部(不図示)が揮発性である場合、電源投入毎に例えばシリアルインターフェース2が固有アドレスA2をロジック回路33に付与すればよい。 The address determination unit 33B determines whether or not the supplied address A1 matches the unique address A2 unique to each circuit block, and if they match, outputs a high-level signal to the second input terminal of the AND gate 33C. However, if they do not match, a low level signal is output to the second input terminal of the AND gate 33C. The unique address A2 is stored in a storage section (not shown) within the logic circuit 33, for example. A storage section (not shown) within the logic circuit 33 may be volatile or nonvolatile. If the storage section (not shown) in the logic circuit 33 is volatile, the serial interface 2 may, for example, give the unique address A2 to the logic circuit 33 every time the power is turned on.

ANDゲート33Cは、XORゲート33Aの出力とアドレス判定部33Bの出力との論理積を出力する。ANDゲート33Cの出力は、例えば第2判定部が図7に示す構成例であればORゲート35に供給され、例えば第2判定部が図8に示す構成例であればORゲート35_1~35_13のいずれかに供給される。これにより、供給アドレスA1と固有アドレスA2とが不一致である場合には、エラー出力がマスクされる。 AND gate 33C outputs the logical product of the output of XOR gate 33A and the output of address determination section 33B. For example, the output of the AND gate 33C is supplied to the OR gate 35 if the second determination section has the configuration example shown in FIG. supplied to either. As a result, if the supply address A1 and the unique address A2 do not match, the error output is masked.

その結果、供給アドレスA1と固有アドレスA2とが一致する回路ブロックのみの判定結果が出力信号S2に反映される。したがって、供給アドレスA1の値を順次切り替えながら出力信号S2を確認するだけで、いずれかの駆動制御信号(走査信号またはデータ信号)の出力に関連する回路或いは信号ラインにショート故障が発生している場合に、どの駆動制御信号(走査信号またはデータ信号)の出力に関連する回路或いは信号ラインにショート故障が発生しているかを特定できる。供給アドレスA1の値それぞれにおける出力信号S2のレベル、すなわち各回路ブロックの判定結果は、例えばシリアルインターフェース2内のレジスタ(不図示)に記憶させてもよく、また例えばシリアルインターフェース2内のレジスタ(不図示)を介さずに直接的にMPU100に送られてもよい。 As a result, the determination results of only the circuit blocks in which the supply address A1 and the unique address A2 match are reflected in the output signal S2. Therefore, by simply checking the output signal S2 while sequentially switching the value of the supply address A1, it is possible to detect that a short-circuit failure has occurred in the circuit or signal line related to the output of one of the drive control signals (scanning signal or data signal). In this case, it can be determined in which circuit or signal line related to the output of the drive control signal (scanning signal or data signal) a short-circuit failure has occurred. The level of the output signal S2 for each value of the supply address A1, that is, the determination result of each circuit block, may be stored, for example, in a register (not shown) within the serial interface 2; (shown in the figure) may be directly sent to the MPU 100.

なお、エラー出力のマスクが不要な場合には、供給アドレスA1と固有アドレスA2とが一致しているか否かにかかわらず、アドレス判定部33Bがハイレベルの信号をANDゲート33Cの第2入力端子に供給するようにすればよい。 Note that if error output masking is not required, the address determination unit 33B sends a high-level signal to the second input terminal of the AND gate 33C, regardless of whether the supply address A1 and the unique address A2 match or not. All you have to do is supply it to

次に、第2判定回路22の動作タイミングについて図11及び図12を参照して説明する。図11は動作シーケンスの一例を示す図である。図12は第2判定回路22のスキャンモード動作における走査信号及びデータ信号の一例を示す図である。 Next, the operation timing of the second determination circuit 22 will be explained with reference to FIGS. 11 and 12. FIG. 11 is a diagram showing an example of an operation sequence. FIG. 12 is a diagram showing an example of a scan signal and a data signal in the scan mode operation of the second determination circuit 22.

図11に示す動作シーケンスの一例では、図1に示す液晶表示装置に電源が投入されると、まずタイミングt1において電源電圧VDDが立ち上がる。その後、タイミングt2においてMPU100からシリアルインターフェース2にスキャンモード設定に関する情報が送られる。スキャンモード設定に関する情報の送信が完了するタイミングt3において、定電圧VLCDが立ち上がるとともに、COMMONドライバ群10G及びSEGMENTドライバ群11Gがスキャンモード設定に基づきスキャンモード動作を開始する。 In an example of the operation sequence shown in FIG. 11, when the liquid crystal display device shown in FIG. 1 is powered on, the power supply voltage VDD first rises at timing t1. Thereafter, at timing t2, information regarding the scan mode setting is sent from the MPU 100 to the serial interface 2. At timing t3 when the transmission of information regarding the scan mode setting is completed, the constant voltage VLCD rises, and the COMMON driver group 10G and the SEGMENT driver group 11G start the scan mode operation based on the scan mode setting.

スキャンモード動作では、図12に示すように、走査信号COM3~COM0及びデータ信号SEG0~SEG9が順次1つだけハイレベルの電圧(例えば電圧V1)に制御され残りがローレベルの電圧(例えば電圧V4)に制御されるハイレベル電圧スキャン動作が第1期間P1において実行され、次に走査信号COM3~COM0及びデータ信号SEG0~SEG9が順次1つだけローレベルの電圧(例えば電圧V4)に制御され残りがハイレベルの電圧(例えば電圧V1)に制御されるローレベル電圧スキャン動作が第2期間P2において実行される。 In the scan mode operation, as shown in FIG. 12, only one of the scan signals COM3 to COM0 and data signals SEG0 to SEG9 is sequentially controlled to a high level voltage (for example, voltage V1), and the rest are controlled to a low level voltage (for example, voltage V4). ) is performed in the first period P1, and then the scan signals COM3 to COM0 and the data signals SEG0 to SEG9 are sequentially controlled to a low level voltage (for example, voltage V4), and the remaining ones are controlled to a low level voltage (for example, voltage V4). A low-level voltage scan operation in which the voltage is controlled to a high-level voltage (for example, voltage V1) is performed in the second period P2.

上記のスキャンモード動作により、第2判定回路22は、各回路ブロックにおける異常判定を他の回路ブロックの影響を受けることなく行うことができる。なお、上記のスキャンモード動作では液晶部400での表示がコンテンツの表示になっていないので、上記のスキャンモード動作が実行されている期間(タイミングt3からタイミングt4までの期間)は、液晶表示装置のバックライトを消灯させておくことが望ましい。 The above-described scan mode operation allows the second determination circuit 22 to perform abnormality determination in each circuit block without being influenced by other circuit blocks. Note that in the scan mode operation described above, the content is not displayed on the liquid crystal unit 400, so during the period when the scan mode operation described above is executed (the period from timing t3 to timing t4), the liquid crystal display device It is desirable to turn off the backlight.

スキャンモード動作が終了するタイミングt4の後、MPU100はシリアルインターフェース2のレジスタに記憶されている第2判定回路22の判定結果を読み出す。 After timing t4 when the scan mode operation ends, the MPU 100 reads the determination result of the second determination circuit 22 stored in the register of the serial interface 2.

判定結果を読み出しが終了した後、MPU100からシリアルインターフェース2にノーマルモード設定に関する情報が送られ、COMMONドライバ群10G及びSEGMENTドライバ群11Gがノーマルモード設定に基づきノーマルモード動作(コンテンツ表示動作)を開始する。 After reading out the determination results, the MPU 100 sends information regarding the normal mode setting to the serial interface 2, and the COMMON driver group 10G and the SEGMENT driver group 11G start normal mode operation (content display operation) based on the normal mode setting. .

<第3判定回路>
MPU100は、シリアルバス通信によってシリアルインターフェース2に送信するデータにチェックサムを含めている。第3判定回路23は、チェックサムを用いて、MPU100からシリアルバス通信によってシリアルインターフェース2に送信されるデータに異常が発生しているか否かを判定する。
<Third judgment circuit>
The MPU 100 includes a checksum in data transmitted to the serial interface 2 through serial bus communication. The third determination circuit 23 uses the checksum to determine whether an abnormality has occurred in the data transmitted from the MPU 100 to the serial interface 2 via serial bus communication.

<第4判定回路>
第4判定回路24は、パルス信号CHKOを出力する。パルス信号CHKOは、例えばハイレベルが電源電圧VDDの値と一致しローレベルがグランド電圧VSSの値と一致するパルス信号としてもよく、また例えばハイレベルが定電圧VLCDの値と一致しローレベルがグランド電圧VSSの値と一致するパルス信号としてもよい。パルス信号CHKOが出力される端子は、液晶表示パネル300のガラス基板に形成されている透明電極ラインの一端に接続されている。第4判定回路24は、透明電極ラインの他端に接続されている端子に入力されるパルス信号CHKIを用いて、液晶表示パネル300のガラス基板に破損が発生しているか否かを判定する。パルス信号CHKIのパルスに抜けが発生している場合、第4判定回路24は、液晶表示パネル300のガラス基板に破損が発生していると判定する。
<Fourth judgment circuit>
The fourth determination circuit 24 outputs a pulse signal CHKO. The pulse signal CHKO may be, for example, a pulse signal whose high level matches the value of the power supply voltage VDD and whose low level matches the value of the ground voltage VSS, or for example, whose high level matches the value of the constant voltage VLCD and whose low level matches the value of the constant voltage VLCD. It may also be a pulse signal that matches the value of the ground voltage VSS. A terminal to which the pulse signal CHKO is output is connected to one end of a transparent electrode line formed on the glass substrate of the liquid crystal display panel 300. The fourth determination circuit 24 determines whether or not the glass substrate of the liquid crystal display panel 300 is damaged, using the pulse signal CHKI input to the terminal connected to the other end of the transparent electrode line. If a pulse omission occurs in the pulse signal CHKI, the fourth determination circuit 24 determines that the glass substrate of the liquid crystal display panel 300 is damaged.

<全体エラー信号出力回路>
図13は、全体エラー信号出力回路25の一構成例を示す図である。全体エラー信号出力回路25は、OR回路36を有する。なお、図13に示す構成例では、シリアルインターフェース2の一部も全体エラー信号出力回路25の一部として機能する。
<Overall error signal output circuit>
FIG. 13 is a diagram showing an example of the configuration of the overall error signal output circuit 25. As shown in FIG. The overall error signal output circuit 25 has an OR circuit 36. Note that in the configuration example shown in FIG. 13, a part of the serial interface 2 also functions as a part of the overall error signal output circuit 25.

第1判定回路21は、異常が発生していると判定した場合に出力信号S1をハイレベルにし、異常が発生していないと判定した場合に出力信号S1をローレベルにする。第2判定回路22は、異常が発生していると判定した場合に出力信号S2をハイレベルにし、異常が発生していないと判定した場合に出力信号S2をローレベルにする。第3判定回路23は、異常が発生していると判定した場合に出力信号S3をハイレベルにし、異常が発生していないと判定した場合に出力信号S3をローレベルにする。第4判定回路24は、異常が発生していると判定した場合に出力信号S4をハイレベルにし、異常が発生していないと判定した場合に出力信号S4をローレベルにする。 The first determination circuit 21 sets the output signal S1 to a high level when it is determined that an abnormality has occurred, and sets the output signal S1 to a low level when it is determined that no abnormality has occurred. The second determination circuit 22 sets the output signal S2 to a high level when determining that an abnormality has occurred, and sets the output signal S2 to a low level when determining that no abnormality has occurred. The third determination circuit 23 sets the output signal S3 to a high level when it is determined that an abnormality has occurred, and sets the output signal S3 to a low level when it is determined that no abnormality has occurred. The fourth determination circuit 24 sets the output signal S4 to a high level when it is determined that an abnormality has occurred, and sets the output signal S4 to a low level when it is determined that no abnormality has occurred.

OR回路36は、第1~第4判定回路21~24の出力信号S1~S4を入力し、それらの論理和である全体エラー信号ERROUTをMPU100に出力する。全体エラー信号ERROUTは、液晶表示パネル300の画面表示異常をもたらす要因が発生しているか否かを知らせる信号であって、液晶表示パネル300の画面表示異常をもたらす要因が発生していると判定されたときにハイレベルになり、液晶表示パネル300の画面表示異常をもたらす要因が発生していないと判定されたときにローレベルになる。したがって、MPU100は、全体エラー信号ERROUTがハイレベルである場合に異常が発生していることを認識することができる。これにより、MPU100は、異常発生時に例えば表示データの出力停止や異常報知などの対応をとることができる。OR回路36は、上述した通り、第1~第4判定回路21~24の少なくとも一つにおいて異常が発生していると判定された場合に、液晶表示パネル300の画面表示異常をもたらす要因が発生していることをMPU100に知らせるために設けられている。したがって、OR回路36と異なる回路構成であってOR回路36と同様の役割を果たす回路をOR回路36の代わりに設けてもよい。また、第1~第4判定回路21~24の判定機能はそれぞれレジスタ設定によりON/OFFの切り替えが可能であることが望ましい。判定機能がOFFであるときには、例えば、判定回路は、判定を実施せずに、異常が発生していないと判定したことを示す出力信号を出力すればよい。 The OR circuit 36 inputs the output signals S1 to S4 of the first to fourth determination circuits 21 to 24, and outputs the overall error signal ERROUT which is the logical sum of these signals to the MPU 100. The overall error signal ERROUT is a signal that informs whether or not a factor that causes a screen display abnormality on the liquid crystal display panel 300 has occurred, and it is determined that a factor that causes a screen display abnormality on the liquid crystal display panel 300 has occurred. It becomes a high level when the liquid crystal display panel 300 has a screen display abnormality, and becomes a low level when it is determined that no factor causing screen display abnormality of the liquid crystal display panel 300 has occurred. Therefore, the MPU 100 can recognize that an abnormality has occurred when the overall error signal ERROUT is at a high level. Thereby, the MPU 100 can take measures such as stopping the output of display data or reporting an abnormality when an abnormality occurs. As described above, when it is determined that an abnormality has occurred in at least one of the first to fourth determination circuits 21 to 24, the OR circuit 36 detects the occurrence of a factor that causes an abnormality in the screen display of the liquid crystal display panel 300. This is provided to notify the MPU 100 of what is being done. Therefore, a circuit having a circuit configuration different from that of the OR circuit 36 and playing the same role as the OR circuit 36 may be provided in place of the OR circuit 36. Further, it is desirable that the determination functions of the first to fourth determination circuits 21 to 24 can be switched ON/OFF by register settings. When the determination function is OFF, for example, the determination circuit may output an output signal indicating that it has determined that no abnormality has occurred, without performing determination.

全体エラー信号出力回路25は、第1~第4判定回路21~24の出力信号S1~S4の状態を記憶している。そして、シリアルインターフェース2は、MPU100から第1~第4判定回路21~24の出力信号S1~S4の状態に関する読み出しコマンドが送られてくれば、第1~第4判定回路21~24の出力信号S1~S4の状態をMPU100に送信する。 The overall error signal output circuit 25 stores the states of the output signals S1 to S4 of the first to fourth determination circuits 21 to 24. Then, when the serial interface 2 receives a read command regarding the states of the output signals S1 to S4 of the first to fourth determination circuits 21 to 24 from the MPU 100, the serial interface 2 reads the output signals of the first to fourth determination circuits 21 to 24. The states of S1 to S4 are sent to the MPU 100.

<COG実装の状態判定>
図14は、液晶ドライバIC200の概略透過上面図である。液晶ドライバIC200の下面の隅部にダミー端子T3及びT4が設けられている。ダミー端子T3とダミー端子T4とは液晶ドライバIC200の内部において電気的に接続されている。表示パネル300のガラス基板上にパッドPD1及びPD2が形成されている。パッドPD1に一端が接続されている配線が表示パネル300のガラス基板上に形成されており、COG実装されると当該配線の他端がダミー端子T3と電気的に接続される。パッドPD2に一端が接続されている配線が表示パネル300のガラス基板上に形成されており、COG実装されると当該配線の他端がダミー端子T4と電気的に接続される。パッドPD1とパッドPD2との間の抵抗値を測定することでCOG実装の良否を判定することができる。ダミー端子T3及びT4は図14に示すように液晶ドライバIC200の下面の四隅それぞれに設けることが望ましい。
<COG implementation status determination>
FIG. 14 is a schematic transparent top view of the liquid crystal driver IC 200. Dummy terminals T3 and T4 are provided at the corners of the lower surface of the liquid crystal driver IC 200. The dummy terminal T3 and the dummy terminal T4 are electrically connected inside the liquid crystal driver IC 200. Pads PD1 and PD2 are formed on the glass substrate of display panel 300. A wiring whose one end is connected to the pad PD1 is formed on the glass substrate of the display panel 300, and when COG mounting is performed, the other end of the wiring is electrically connected to the dummy terminal T3. A wiring whose one end is connected to the pad PD2 is formed on the glass substrate of the display panel 300, and when COG mounting is performed, the other end of the wiring is electrically connected to the dummy terminal T4. The quality of COG mounting can be determined by measuring the resistance value between pad PD1 and pad PD2. It is desirable that the dummy terminals T3 and T4 be provided at each of the four corners of the lower surface of the liquid crystal driver IC 200, as shown in FIG.

<用途>
上記した液晶表示装置は、例えば、図15で示す車両X10の運転者が視認できる位置に配置されるインストルメントパネルの一部として好適に用いることができる。
<Application>
The above-described liquid crystal display device can be suitably used, for example, as a part of an instrument panel disposed at a position visible to the driver of the vehicle X10 shown in FIG. 15.

<留意点>
本明細書中に開示されている種々の技術的特徴は、上記実施形態のほか、その技術的創作の主旨を逸脱しない範囲で種々の変更を加えることが可能である。例えば上記実施形態では液晶表示装置はセグメント表示を行っているが、液晶表示装置はマトリスク表示を行うものであってもよい。また、上記実施形態では、複数の液晶素子を備える液晶部と、当該液晶部に光を照射する光源と、当該液晶素子を駆動する液晶ドライバICと、を備える液晶装置として、液晶表示装置を例に挙げて説明したが、液晶装置は表示装置でなくてもよい。すなわち、上記実施形態は、全ての点で例示であって、制限的なものではないと考えられるべきであり、本発明の技術的範囲は、上記実施形態の説明ではなく、特許請求の範囲によって示されるものであり、特許請求の範囲と均等の意味及び範囲内に属する全ての変更が含まれると理解されるべきである。
<Points to note>
The various technical features disclosed in this specification can be modified in addition to the embodiments described above without departing from the gist of the technical creation. For example, in the above embodiments, the liquid crystal display device performs segment display, but the liquid crystal display device may perform matrix display. Further, in the above embodiments, a liquid crystal display device is used as an example of a liquid crystal device including a liquid crystal section including a plurality of liquid crystal elements, a light source that irradiates the liquid crystal section with light, and a liquid crystal driver IC that drives the liquid crystal element. Although described above, the liquid crystal device does not have to be a display device. That is, the above embodiments should be considered to be illustrative in all respects and not restrictive, and the technical scope of the present invention is defined by the claims rather than the description of the above embodiments. It should be understood that all changes that come within the meaning and range of equivalency of the claims are included.

1 パワーオンリセット回路
2 シリアルインターフェース
3 コマンドデータデコーダ
4 コマンドレジスタ
5 表示データRAM
6 発振器
7 COMMONカウンタ
8 液晶電圧生成部
9、9G 液晶バイアス選択部、液晶バイアス選択部群
10G COMMONドライバ群
11、11G SEGMENTドライバ、SEGMENTドライバ群
21~24 第1~第4判定回路
25 全体エラー信号出力回路
31 TTLバッファ
32、34 レベルシフタ
33 ロジック回路
33A XORゲート
33B アドレス判定部
33C ANDゲート
35、36 OR回路
100 MPU
200 液晶ドライバIC
300 液晶表示パネル
400 液晶部
FF1~FF5 データフリップフロップ
PD1、PD2 パッド
T1 電源電圧端子
T2 グランド電位端子
T3、T4 ダミー端子
X10 車両
1 Power-on reset circuit 2 Serial interface 3 Command data decoder 4 Command register 5 Display data RAM
6 Oscillator 7 COMMON counter 8 Liquid crystal voltage generation section 9, 9G Liquid crystal bias selection section, liquid crystal bias selection section group 10G COMMON driver group 11, 11G SEGMENT driver, SEGMENT driver group 21 to 24 1st to 4th judgment circuit 25 Overall error signal Output circuit 31 TTL buffer 32, 34 Level shifter 33 Logic circuit 33A XOR gate 33B Address judgment section 33C AND gate 35, 36 OR circuit 100 MPU
200 LCD driver IC
300 Liquid crystal display panel 400 Liquid crystal section FF1 to FF5 Data flip-flop PD1, PD2 Pad T1 Power supply voltage terminal T2 Ground potential terminal T3, T4 Dummy terminal X10 Vehicle

Claims (8)

ロジック回路と、
前記ロジック回路の出力に応じたレベルの駆動制御信号を液晶部に出力する出力部と、
前記駆動制御信号のレベルが前記ロジック回路の出力に応じたレベルになっていない場合にエラー出力を行うエラー判定部と、アドレス判定部と、を含む回路ブロックをk(kは2以上の自然数)個備え、
k個の前記エラー判定部の前記エラー出力に関する論理和であるエラー信号を生成するエラー信号生成部を備える液晶ドライバICであって、
前記アドレス判定部は、前記液晶ドライバICの内部且つ前記回路ブロックの外部に配置されるアドレス発生器から供給される供給アドレスとk個の前記回路ブロックそれぞれで固有の固有アドレスとが一致するか否かを判定し、
前記エラー判定部は、同一の前記回路ブロック内の前記アドレス判定部によって前記供給アドレスと前記固有アドレスとが一致しないと判定されれば、前記エラー出力をマスクする、液晶ドライバIC。
logic circuit and
an output section that outputs a drive control signal at a level corresponding to the output of the logic circuit to the liquid crystal section ;
k (k is a natural number of 2 or more) circuit blocks including an error determination section that outputs an error when the level of the drive control signal is not at a level corresponding to the output of the logic circuit, and an address determination section. Individually prepared,
A liquid crystal driver IC comprising an error signal generation section that generates an error signal that is a logical sum of the error outputs of the k error determination sections,
The address determination unit determines whether a supplied address supplied from an address generator disposed inside the liquid crystal driver IC and outside the circuit block matches a unique address unique to each of the k circuit blocks. determine whether
The error determining unit is configured to mask the error output if the address determining unit in the same circuit block determines that the supplied address and the unique address do not match.
前記ロジック回路の出力に応じたレベルが3値以上存在し、
前記エラー判定部におけるレベルの検出機能で検出可能なレベルが特定の2値に限られる、請求項1に記載の液晶ドライバIC。
There are three or more levels depending on the output of the logic circuit,
2. The liquid crystal driver IC according to claim 1 , wherein the level detectable by the level detection function in the error determination section is limited to specific binary values .
前記エラー信号生成部は、2入力のORゲートを(k-1)個備え、
(k-1)個の前記ORゲートが所定の直線方向に沿って並んで配置され、
(k-1)個の前記ORゲートそれぞれにおいて前記ORゲートの第1入力端子及び第2入力端子が前記所定の直線方向の一方側に配置され前記ORゲートの出力端子が前記所定の直線方向の他方側に配置され、
kは3以上であって、(k-1)個の前記ORゲートのうち最も前記所定の直線方向の他方側に配置される前記ORゲートを除く(k-2)個の前記ORゲートの出力端子はそれぞれ、前記所定の直線方向の他方側に隣接する前記ORゲートの第1入力端子に接続される、請求項1又は請求項2に記載の液晶ドライバIC。
The error signal generation section includes (k-1) two-input OR gates,
(k-1) of the OR gates are arranged in line along a predetermined linear direction,
In each of the (k-1) OR gates, a first input terminal and a second input terminal of the OR gate are arranged on one side of the predetermined linear direction, and an output terminal of the OR gate is arranged on one side of the predetermined linear direction. placed on the other side,
k is 3 or more, and outputs of (k-2) OR gates excluding the OR gate located closest to the other side of the predetermined linear direction among the (k- 1) OR gates; 3. The liquid crystal driver IC according to claim 1, wherein each terminal is connected to a first input terminal of the OR gate adjacent to the other side in the predetermined linear direction .
前記駆動制御信号のレベルが前記ロジック回路の出力に応じたレベルになっていない場合において前記供給アドレスと前記固有アドレスとが一致する前記回路ブロックの前記ロジック回路の出力は、前記駆動制御信号のレベルが前記ロジック回路の出力に応じたレベルになっていない場合において前記供給アドレスと前記固有アドレスとが一致しない前記回路ブロックの前記ロジック回路の出力と異なる、請求項1~3のいずれか一項に記載の液晶ドライバIC。 When the level of the drive control signal is not at a level corresponding to the output of the logic circuit, the output of the logic circuit of the circuit block in which the supply address and the unique address match is the level of the drive control signal. 4. The supply address and the unique address are different from the output of the logic circuit of the circuit block with which the supply address and the unique address do not match when the address is not at a level corresponding to the output of the logic circuit. The liquid crystal driver IC described. 請求項1~4のいずれか一項に記載の液晶ドライバICと、
前記液晶部と、
前記液晶部に光を照射する光源と、
を備え、
前記液晶部が複数の液晶素子を備え、
前記液晶ドライバICが前記液晶素子を駆動する、液晶装置。
A liquid crystal driver IC according to any one of claims 1 to 4,
the liquid crystal section;
a light source that irradiates the liquid crystal section with light;
Equipped with
The liquid crystal section includes a plurality of liquid crystal elements,
A liquid crystal device , wherein the liquid crystal driver IC drives the liquid crystal element .
請求項4に記載の液晶ドライバICを備え、
前記光源が消灯している期間に、前記エラー判定部は、同一の前記回路ブロック内の前記アドレス判定部によって前記供給アドレスと前記固有アドレスとが一致しないと判定されれば、前記エラー出力をマスクする、請求項5に記載の液晶装置。
Comprising the liquid crystal driver IC according to claim 4,
During the period when the light source is off, the error determining unit masks the error output if the address determining unit in the same circuit block determines that the supply address and the unique address do not match. The liquid crystal device according to claim 5.
前記光源が点灯している期間であれば、前記エラー判定部は、たとえ同一の前記回路ブロック内の前記アドレス判定部によって前記供給アドレスと前記固有アドレスとが一致しないと判定されても、前記エラー出力をマスクしない、請求項6に記載の液晶装置。 During the period when the light source is on, the error determining unit detects the error even if the address determining unit in the same circuit block determines that the supplied address and the unique address do not match. 7. The liquid crystal device according to claim 6, wherein the output is not masked. 請求項5~7のいずれか一項に記載の液晶装置を備える、車両。
A vehicle comprising the liquid crystal device according to any one of claims 5 to 7.
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