JPH1187774A - Led display device and semiconductor device - Google Patents

Led display device and semiconductor device

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JPH1187774A
JPH1187774A JP19397698A JP19397698A JPH1187774A JP H1187774 A JPH1187774 A JP H1187774A JP 19397698 A JP19397698 A JP 19397698A JP 19397698 A JP19397698 A JP 19397698A JP H1187774 A JPH1187774 A JP H1187774A
Authority
JP
Japan
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light emitting
abnormality
emitting diode
display device
led display
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP19397698A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yoshifumi Nagai
芳文 永井
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Nichia Chemical Industries Ltd
Original Assignee
Nichia Chemical Industries Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain a LED display device which can specify light emission diode which does not light or emits undesirable light with relatively simple circuitry and also which can display in full colors and can be easily large-sized by providing a monitor means for monitoring an abnormal signal from a common output line synchronously with driving of each light emitting diode. SOLUTION: First, a MPU comprising an arithmetic device shared with a communication means is driven by a test mode to control light-up of a light emitting diode, and also abnormality of the light emitting diode lit up synchronously with it is sensed. Abnormality sensing means 1,2 are constituted to be connected synchronously with a light-up output terminal. Signals from the abnormality sensing means 1, 2 are temporarily stored in a memory means comprising a RAM or the like. At this time whether the light emitting diode such as the MPU has been driven or whether abnormality of the abnormality sensing means 1, 2 or the like has been sensed can be stored. Thus the number of the abnormality sensing means can be reduced, while circuitry can be simplified.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、機能素子の1種で
あるLED(以下、発光ダイオードとも呼ぶ。)を縦横
複数並べたドットマトリックス状に配置し、文字や図形
などの各種データを表示できるLED表示装置などに係
わり、特に、複数の発光ダイオードの中から異常(不点
灯や所望外の発光など)のある発光ダイオードを比較的
簡単な構成で特定することができるものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention arranges an LED (hereinafter, also referred to as a light emitting diode), which is a kind of functional element, in a dot matrix in which a plurality of rows and columns are arranged vertically and can display various data such as characters and figures. The present invention relates to an LED display device and the like, and in particular, can identify a light emitting diode having an abnormality (non-lighting, undesired light emission, etc.) from a plurality of light emitting diodes with a relatively simple configuration.

【0002】[0002]

【従来技術】今日、RGB(赤色、緑色、青色)がそれ
ぞれ1000mcd以上にもおよぶ超高輝度に発光可能
な発光ダイオードが開発された。これに伴いRGBが発
光可能な発光ダイオードをドットマトリックス状に並べ
所望に点灯させることで種々の文字や画像情報などが多
数の者に視認できるフルカラーLED表示装置が可能と
なった。LED表示装置が大型化、フルカラー化するに
つれ、より高品質に表示できる表示装置に対する社会の
要求がますます高まりつつある。
2. Description of the Related Art At present, light emitting diodes capable of emitting ultra-high brightness of RGB (red, green, blue) each exceeding 1000 mcd have been developed. Accordingly, a full-color LED display device in which various characters, image information, and the like can be visually recognized by a large number of people has been made possible by arranging light emitting diodes capable of emitting RGB light in a dot matrix and lighting them as desired. As LED display devices have become larger and full color, there has been an increasing demand from society for display devices capable of displaying higher quality.

【0003】フルカラー表示装置の一例として、RGB
の発光ダイオードを組み合わせ1絵素としたものがあ
る。各絵素は、縦横16×16のドットマトリックス状
に配置させ表示画像の一部を構成するものが挙げられ
る。個々の発光ダイオードは、エポキシ樹脂などで覆わ
れ内部に半導体素子であるLEDチップを配している。
LEDチップは、LEDチップの各電極とそれぞれ金
線、半田やAgペーストなどを利用してリードフレーム
などと電気的に接続させて導通をとってある。同様に、
各発光ダイオードのリードフレームは基板と半田などに
より接続される。また、各発光ダイオードの点灯/消灯
を行う駆動手段が構成された基板とも電気的に接続され
る。
An example of a full-color display device is RGB.
Are combined into one picture element. Each of the picture elements is arranged in a 16 × 16 dot matrix to form a part of a display image. Each light emitting diode is covered with an epoxy resin or the like, and has an LED chip serving as a semiconductor element therein.
The LED chip is electrically connected to each electrode of the LED chip and a lead frame or the like using gold wire, solder, Ag paste, or the like. Similarly,
The lead frame of each light emitting diode is connected to the substrate by soldering or the like. Further, it is also electrically connected to a substrate on which a driving unit for turning on / off each light emitting diode is configured.

【0004】駆動手段は入力データに基づいて各発光ダ
イオードの点灯時間を演算し、各発光ダイオードを駆動
する。発光ダイオードがドットマトリックス状に配置さ
れた基板と、電気的に接続された駆動手段を有する基板
とでLEDモジュールを形成させることができる。LE
Dモジュールはそれぞれ2以上電気的に接続されると共
に、各LEDモジュールを制御する制御装置にも接続さ
れる。LEDモジュールは、制御装置から順次連続して
画像データや文字データなどが送信される。各LEDモ
ジュールは、例えば16×10個で一体となり全体とし
てLEDディスプレイを構成する。このようなLEDデ
ィスプレイに表示データを流すことで種々のデータを表
示することができる。
[0004] The driving means calculates the lighting time of each light emitting diode based on the input data, and drives each light emitting diode. An LED module can be formed by a substrate on which light emitting diodes are arranged in a dot matrix and a substrate having driving means electrically connected thereto. LE
Each D module is electrically connected to two or more D modules, and also connected to a control device that controls each LED module. Image data, character data, and the like are sequentially and continuously transmitted from the control device to the LED module. Each of the LED modules is, for example, 16 × 10 and integrated to constitute an LED display as a whole. Various data can be displayed by sending display data to such an LED display.

【0005】このようなLEDディスプレイを構成する
発光ダイオードの数は、極めて多い。また、温湿度サイ
クルの厳しい野外など様々な環境下で使用される。その
ため、LEDディスプレイの形成時や使用中に発光ダイ
オード内外での電気接続が短絡(ゴミなどの電気接触に
よるリークなど)する或いは開放(断線や接触不足な
ど)する、さらには半導体素子自体が損傷する場合があ
る。この場合、部分的に発光ダイオードが不点灯にな
る、或いは発光輝度が大きく低下するなどの場合があ
る。LED表示装置に画像抜け(部分的に不点灯LED
があること)や画像むら(部分的に輝度の低いLEDが
あること)があると目立ち画像品質上好ましくない。発
光ダイオードの不良個所は、各発光ダイオードを点灯さ
せることにより比較的簡単に発見することができる。
[0005] The number of light emitting diodes constituting such an LED display is extremely large. In addition, it is used in various environments such as outdoors where temperature and humidity cycles are severe. Therefore, the electrical connection inside and outside the light emitting diode is short-circuited (leakage due to electrical contact with dust, etc.) or opened (disconnection, insufficient contact, etc.) during formation or use of the LED display, and further, the semiconductor element itself is damaged. There are cases. In this case, the light emitting diode may be partially turned off or the light emission luminance may be significantly reduced. Missing image on LED display (partially unlit LED
) And image unevenness (the presence of partially low-brightness LEDs) are noticeable and unfavorable in image quality. Defective portions of the light emitting diodes can be relatively easily found by lighting each light emitting diode.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかし、全ての発光ダ
イオードを駆動させ肉眼で発光状態を確認することは極
めて煩雑な作業となる。また、大型ディスプレイがビル
ボードなどに設置された後では、正確に異常箇所を検知
することができないという問題が生ずる。
However, driving all the light emitting diodes and checking the light emitting state with the naked eye is an extremely complicated operation. Further, after the large display is installed on a billboard or the like, there is a problem that an abnormal portion cannot be detected accurately.

【0007】次に、発光ダイオードの動作確認をする電
流検出回路を設け異常箇所を特定する方法が考えられ
る。各電流検出回路からのデータは、演算回路に送られ
どの発光ダイオードに動作不良があるかを判別するが考
えられる。これによりある程度の数の発光ダイオードを
持ったLED表示装置では、異常箇所を特定することが
できる。
[0007] Next, a method of providing a current detection circuit for confirming the operation of the light emitting diode and specifying an abnormal point can be considered. The data from each current detection circuit is sent to an arithmetic circuit to determine which light emitting diode has an operation failure. Thus, in an LED display device having a certain number of light emitting diodes, an abnormal portion can be specified.

【0008】しかしながら、発光ダイオードの動作を確
認する各電流検出回路からのデータは、各発光ダイオー
ドごとにありこれらを監視するために各電流検出回路か
ら監視手段にそれぞれ一対一に接続させなければならな
い。LEDディスプレイやLEDユニットでは使用され
る発光ダイオードの数が極めて多く異常検知手段を構成
する回路が複雑かつ大型化し現実的ではない。そのた
め、異常検知手段を構成する回路の簡略化とLEDディ
スプレイの大型化とは共に達成することが難しい。即
ち、フルカラーやマルチカラー化及びLEDディスプレ
イが大型化するにつれ接続が極めて多くなり、回路構成
が複雑になるという欠点を持つ。
However, data from each current detection circuit for confirming the operation of the light emitting diode is provided for each light emitting diode, and in order to monitor the data, each data detection circuit must be connected to the monitoring means in a one-to-one correspondence. . In an LED display or an LED unit, the number of light emitting diodes used is extremely large, and the circuit constituting the abnormality detecting means is complicated, large, and impractical. Therefore, it is difficult to achieve both simplification of the circuit constituting the abnormality detection means and enlargement of the LED display. That is, there is a drawback that the connection becomes extremely large and the circuit configuration becomes complicated as full color or multi color and the LED display becomes larger.

【0009】特に、LEDディスプレイに用いられる発
光ダイオードの数は、RGBにそれぞれ一個ずつ用いた
としても例えば、16×16のドットマトリックスを縦
10横16枚並べる場合、16×16×3色分×10×
16として122、880個以上に及ぶ場合がある。そのため
フルカラー化、より大型化したLEDディスプレイにお
いては、上記構成の異常検知では十分でなく更なる優れ
たLED表示装置が求められている。本発明は、以上の
点に鑑み、不点灯や所望外の発光をする発光ダイオード
を比較的簡単な回路構成で特定することができ、かつフ
ルカラー化や大型化が容易なLED表示装置を提供する
ことを目的としている。
In particular, the number of light emitting diodes used in an LED display is, for example, 16 × 16 dot matrices arranged in 10 rows and 16 columns, 16 × 16 × 3 colors × 10x
16 may be 122 or 880 or more. Therefore, in a full-color and larger-sized LED display, the abnormality detection of the above configuration is not sufficient, and a further excellent LED display device is required. The present invention has been made in view of the above points, and provides an LED display device that can specify a non-lighted or undesired light emitting diode with a relatively simple circuit configuration, and that can be easily made full-color or large. It is intended to be.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】本発明はドットマトリッ
クス状に配置された複数の発光ダイオードと、各発光ダ
イオードをそれぞれ独立に発光可能な駆動手段とを有す
るLED表示装置である。特に、各発光ダイオードの異
常を検出し異常信号を出力する異常検知手段と、複数の
異常検知手段が並列接続され異常信号を共通に出力させ
る共通出力線と、共通出力線と接続され前記各発光ダイ
オードの駆動に同期して共通出力線からの異常信号を監
視する監視手段とを有するLED表示装置である。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention is an LED display device having a plurality of light emitting diodes arranged in a dot matrix and driving means capable of emitting light from each of the light emitting diodes independently. In particular, abnormality detection means for detecting an abnormality of each light emitting diode and outputting an abnormality signal, a common output line for connecting a plurality of abnormality detection means in parallel to output an abnormality signal in common, and a common output line connected to the common output line An LED display device having monitoring means for monitoring an abnormal signal from a common output line in synchronization with driving of a diode.

【0011】本発明の構成とすることにより、各異常検
知手段から監視手段への接続を極めて簡略化することが
できる。LED表示装置を大型化させ発光ダイオードの
数が増えたとしても異常を監視する監視手段に入力され
るデータは一にすることができる。そのため複数の異常
検知手段から監視手段にそれぞれ一対一に接続させるこ
となく回路構成を簡略化し大型化、フルカラー化に対応
したLED表示装置とすることができる。また、異常検
出を発光ダイオードの点灯に同期することにより、異常
の生じた発光ダイオードなどを簡単に特定することがで
きる。
With the configuration of the present invention, the connection from each abnormality detecting means to the monitoring means can be extremely simplified. Even if the size of the LED display device is increased and the number of light emitting diodes is increased, the data input to the monitoring means for monitoring the abnormality can be reduced to one. Therefore, the circuit configuration can be simplified without connecting each of the plurality of abnormality detection units to the monitoring unit in a one-to-one correspondence, and an LED display device compatible with a large size and full color can be provided. Further, by synchronizing the abnormality detection with the lighting of the light emitting diode, it is possible to easily specify the light emitting diode or the like in which the abnormality has occurred.

【0012】本発明の請求項2に記載のLED表示装置
は異常検知手段が、オープンコレクタ型回路で構成され
ており、各異常検知手段からの出力が共通出力線にワイ
ヤードOR接続されて監視手段に入力される。これによ
り、各種画像データなどを表示可能なLED表示装置を
より大型化したとしても簡略化可能な回路とすることが
できる。
In the LED display device according to a second aspect of the present invention, the abnormality detecting means is constituted by an open collector type circuit, and outputs from the abnormality detecting means are wired-OR connected to a common output line to monitor the abnormality. Is input to This makes it possible to provide a circuit that can be simplified even if the LED display device capable of displaying various image data and the like is made larger.

【0013】本発明の請求項3に記載のLED表示装置
は、発光ダイオードへ流れる電流の開放及び/又は短絡
を異常として検知する。これにより、発光ダイオードの
故障モードを特定することができる。
The LED display device according to the third aspect of the present invention detects an open and / or short circuit of the current flowing to the light emitting diode as an abnormality. Thereby, the failure mode of the light emitting diode can be specified.

【0014】本発明の請求項4に記載のLED表示装置
は、異常検知手段が各発光ダイオードを点灯させる駆動
手段を構成するトランジスタのコレクタなどの出力に少
なくとも1つ以上の基準電圧を持つ電圧比較回路を具備
している。これにより、より簡単な構成のLED表示装
置とすることができる。
According to a fourth aspect of the present invention, in the LED display device, the abnormality detecting means has at least one reference voltage at an output of a collector or the like of a transistor constituting driving means for lighting each light emitting diode. Circuit. Thus, an LED display device having a simpler configuration can be obtained.

【0015】本発明の請求項5に記載のLED表示装置
は、異常検知手段が各発光ダイオードを点灯させる駆動
手段を構成するトランジスタに制御電流検出回路を具備
している。より簡単な構成のLED表示装置とすること
ができる。
In the LED display device according to the fifth aspect of the present invention, the abnormality detecting means includes a control current detecting circuit in a transistor constituting driving means for lighting each light emitting diode. An LED display device having a simpler configuration can be obtained.

【0016】本発明の請求項6に記載の半導体装置は、
複数の機能素子をそれぞれ独立して駆動可能な駆動手段
と、該駆動手段に対応して前記機能素子の異常を個々に
検出できる異常検知手段を有する半導体装置である。特
に、異常検知手段の最終出力回路は、オープンコレクタ
型回路で構成されており、かつ各異常検知手段からの出
力はOR接続される。これにより、複数の機能素子の異
常を比較的簡単な装置で発見することができる。
A semiconductor device according to a sixth aspect of the present invention comprises:
A semiconductor device having a driving unit capable of independently driving a plurality of functional elements, and an abnormality detecting unit capable of individually detecting an abnormality of the functional element corresponding to the driving unit. In particular, the final output circuit of the abnormality detecting means is constituted by an open collector type circuit, and outputs from each abnormality detecting means are OR-connected. As a result, it is possible to detect abnormalities of a plurality of functional elements with a relatively simple device.

【0017】[0017]

【発明の実施の形態】本発明者は、種々の実験の結果、
各発光ダイオードの異常を検出させる異常検知手段から
の出力を共通化させると共に各発光ダイオードの駆動と
同期させることにより比較的簡単な構成で各発光ダイオ
ードの異常場所を特定できることを見いだし本願発明を
成すに至った。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The inventor of the present invention
It has been found that by sharing the output from the abnormality detecting means for detecting the abnormality of each light emitting diode and synchronizing with the driving of each light emitting diode, it is possible to identify the abnormal location of each light emitting diode with a relatively simple configuration, and form the present invention. Reached.

【0018】即ち、発光ダイオードの異常を検知する複
数の異常検知手段からの配線を異常を監視する監視手段
にそれぞれ複数接続させるのではなく、複数の異常検知
手段と並列接続された共通出力線を監視手段に接続させ
る。これにより異常検知手段が多くなったとしても回路
構成を極めて簡単にできる。また、ある特定した発光ダ
イオードを駆動させたときにおける異常を駆動に同期し
て検出することで異常箇所を特定することができる。
That is, instead of connecting a plurality of wirings from a plurality of abnormality detecting means for detecting abnormality of the light emitting diode to a plurality of monitoring means for monitoring the abnormality, a common output line connected in parallel with the plurality of abnormality detecting means is used. Connect to monitoring means. As a result, the circuit configuration can be extremely simplified even if the number of abnormality detection means increases. Further, by detecting an abnormality at the time of driving a specified light emitting diode in synchronization with the driving, it is possible to specify an abnormal part.

【0019】以下、本発明の一例を図5に示す。半導体
装置は、ダイナミック駆動可能なドットマトリックス状
に配置された発光ダイオードとそれぞれ電気的に接続さ
れている。半導体装置は、駆動トランジスターにより駆
動手段を構成するセグメントドライバー504と一対一
に対応して異常検知手段501が設けられている。異常
検知手段501は、それぞれ開放を検知する回路と短絡
を検知する回路からなる。半導体装置は、各異常検知手
段501から開放検知出力504にOR回路で接続させ
た構成となっている。同様に各異常検知手段501から
短絡検知出力505にOR回路で接続させた構成となっ
ている。
FIG. 5 shows an example of the present invention. The semiconductor device is electrically connected to light-emitting diodes arranged in a dot matrix that can be dynamically driven. The semiconductor device is provided with abnormality detecting means 501 in one-to-one correspondence with the segment driver 504 constituting driving means by driving transistors. The abnormality detecting means 501 includes a circuit for detecting an open circuit and a circuit for detecting a short circuit. The semiconductor device has a configuration in which each abnormality detection unit 501 is connected to the open detection output 504 by an OR circuit. Similarly, each of the abnormality detecting means 501 is connected to the short-circuit detection output 505 by an OR circuit.

【0020】ここで、発光ダイオード201の動作状態
が内部回路やLEDチップ自体の損傷などにより所望通
りに点灯しなければ、これを異常検知手段501が検知
して異常信号を出力する。半導体装置の開放検知出力5
04と短絡検知出力505は、各発光色の発光ダイオー
ドごとに不示図の共通出力線に接続できる。そのため各
異常検知手段501はそれぞれ共通出力線にワイヤード
OR接続され、どれか一か所の発光ダイオード201に
異常があればそれを監視している監視手段にて検出する
ことができる。特定の発光ダイオード201の点灯時に
監視手段(不示図)を監視することにより、LEDディ
スプレイのどのLEDモジュールに異常があるか検出す
ることできる。同様にLEDモジュールのどの発光ダイ
オードに異常があるかを検出することができる。各発光
ダイオード201を検知する異常検知手段がすべて共通
出力線により監視手段によって電気的に接続されてい
る。このため監視手段は、少なくとも1本の共通出力線
により全ての発光ダイオード201の異常を検出するこ
とができる。また、発光ダイオードの点灯と同期させる
ことにより発光ダイオードのどの場所に異常があるのか
を容易に判断することができる。さらに、異常検知手段
からの出力によりどのような故障が生じたのかを検知す
ることもできる。以下、本発明の各構成について詳述す
る。
Here, if the operating state of the light emitting diode 201 does not light up as desired due to damage to the internal circuit or the LED chip itself, the abnormality detecting means 501 detects this and outputs an abnormal signal. Open detection output of semiconductor device 5
04 and the short circuit detection output 505 can be connected to a common output line (not shown) for each light emitting diode of each emission color. Therefore, each abnormality detecting means 501 is wired OR-connected to the common output line, and if there is an abnormality in any one of the light emitting diodes 201, it can be detected by the monitoring means monitoring the abnormality. By monitoring the monitoring means (not shown) when the specific light emitting diode 201 is turned on, it is possible to detect which LED module of the LED display has an abnormality. Similarly, it is possible to detect which light emitting diode of the LED module has an abnormality. The abnormality detecting means for detecting each light emitting diode 201 is all electrically connected by the monitoring means by a common output line. Therefore, the monitoring means can detect abnormality of all the light emitting diodes 201 by at least one common output line. In addition, by synchronizing with the lighting of the light emitting diode, it is possible to easily determine which location of the light emitting diode has an abnormality. Further, it is possible to detect what kind of failure has occurred based on the output from the abnormality detecting means. Hereinafter, each configuration of the present invention will be described in detail.

【0021】(異常検知手段501)異常検知手段50
1とは、各発光ダイオード201の点灯/非点灯や輝度
の低下などの異常を検知しうるものである。具体的に
は、各発光ダイオード201の発光や各発光ダイオード
201に接続された駆動手段を構成するトランジスター
などに流れる電流や電圧を調べることで開放や短絡を調
べることができる。なお、短絡にはグランド側に短絡す
る場合や電源側に短絡する場合も調べることができる。
また、発光ダイオード201の発光を太陽電池や光セン
サーによって直接検知することもできる。何れにしても
所望通りの発光を得ることができない発光ダイオード2
01に対して異常を検知し異常信号を出力しうるもので
ある。
(Abnormality detecting means 501) Abnormality detecting means 50
1 indicates that an abnormality such as lighting / non-lighting of each light emitting diode 201 and a decrease in luminance can be detected. Specifically, by checking the light emission of each light emitting diode 201 and the current and voltage flowing through a transistor and the like that constitute driving means connected to each light emitting diode 201, it is possible to check for an open or a short circuit. In addition, the case of short-circuiting to the ground side and the case of short-circuiting to the power supply side can be checked.
Further, the light emission of the light emitting diode 201 can be directly detected by a solar cell or an optical sensor. In any case, the light emitting diode 2 that cannot obtain the desired light emission
01 can detect an abnormality and output an abnormality signal.

【0022】異常検知手段501は、発光ダイオード2
01を点灯させる駆動手段を構成するICと一体的に構
成することができる。具体的には、図3の如く駆動手段
を構成するトランジスタのコレクタとLED201との
間に電圧検出回路301として基準電圧を持つ電圧比較
回路を構成させる、或いは図4の如く駆動手段を構成す
るトランジスタのベースに電流検出回路401として制
御電流検出回路を構成させることで駆動手段と一体とな
ったICを構成することができる。異常検知手段として
働く電圧検出回路301や電流検出回路401のどれか
一つが異常を検知することにより出力をHレベルからL
レベルにすることができる。即ち、電圧検出回路301
や電流検出回路401と接続された各発光ダイオード2
01のどれか一つに異常があれば出力をLレベルとして
異常を共通出力線302を介して監視手段で判断でき
る。
The abnormality detecting means 501 includes the light emitting diode 2
It can be formed integrally with an IC constituting a driving means for lighting 01. Specifically, a voltage comparison circuit having a reference voltage is formed as a voltage detection circuit 301 between the collector of the transistor constituting the driving means and the LED 201 as shown in FIG. 3, or a transistor constituting the driving means as shown in FIG. By configuring a control current detection circuit as the current detection circuit 401 on the base of the above, an IC integrated with the driving means can be configured. When one of the voltage detection circuit 301 and the current detection circuit 401 serving as the abnormality detection means detects an abnormality, the output is changed from the H level to the L level.
Level. That is, the voltage detection circuit 301
And each light emitting diode 2 connected to the current detection circuit 401
If any one of 01 is abnormal, the output can be set to L level and the abnormality can be determined by the monitoring means via the common output line 302.

【0023】また、異常検知手段は発光ダイオードと一
対一に設ける必要はなく、駆動手段を構成するIC中な
どに例えばRGBの発光ダイオードに対応する少なくと
も1個ずつの異常検知手段を設けることもできる。この
場合、検出させる検知動作に同期して異常検知手段と各
発光ダイオードを個々にスイッチングさせるように構成
しても良い。これにより、異常検知手段の数を少なくし
比較的簡単な構成で異常検知手段を構成することができ
る。なお、ドットマトリックス状に配置させたRの発光
ダイオードに対して1個の異常検知手段を設けた例を図
7に示す。
Further, it is not necessary to provide the abnormality detecting means one-to-one with the light emitting diodes, and at least one abnormality detecting means corresponding to, for example, RGB light emitting diodes can be provided in an IC constituting the driving means. . In this case, the abnormality detection means and each light emitting diode may be individually switched in synchronization with the detection operation to be detected. This makes it possible to reduce the number of abnormality detection means and configure the abnormality detection means with a relatively simple configuration. FIG. 7 shows an example in which one abnormality detection unit is provided for the R light emitting diodes arranged in a dot matrix.

【0024】(監視手段106)監視手段106とは、
各発光ダイオード201に設けられた異常検知手段50
1が並列接続された共通出力線101からの異常信号を
監視するものである。発光ダイオードに異常があれば各
異常検知手段501から監視手段106に異常信号が送
られる。例えば、異常検知手段501を構成するオープ
ンコレクタ型のICの出力OUTがHレベルからLレベ
ルに代わることで監視手段106が異常と判断すること
ができる。また、特定の発光ダイオード201の駆動と
同期させ異常を検出することにより、監視手段106は
どの発光ダイオードやLEDモジュールなどが駆動され
ているかを把握することができる。監視手段106は、
共通出力線101を介して集中的に管理できるため複数
のLEDモジュールを制御する制御手段105中に設け
ることもできるし、LEDディスプレイを構成する各L
EDモジュール毎に設けることもできる。
(Monitoring means 106) The monitoring means 106
Abnormality detecting means 50 provided in each light emitting diode 201
1 monitors an abnormal signal from the common output line 101 connected in parallel. If there is an abnormality in the light emitting diode, an abnormality signal is sent from each abnormality detecting unit 501 to the monitoring unit 106. For example, when the output OUT of the open collector type IC constituting the abnormality detecting means 501 changes from the H level to the L level, the monitoring means 106 can determine that an abnormality has occurred. Further, by detecting an abnormality in synchronization with the driving of the specific light emitting diode 201, the monitoring means 106 can grasp which light emitting diode or LED module is being driven. The monitoring means 106
Since it can be centrally managed via the common output line 101, it can be provided in the control means 105 for controlling a plurality of LED modules.
It can also be provided for each ED module.

【0025】ダイナミック駆動の発光ダイオード201
は、各LEDモジュールごとにセグメントドライバー2
04とコモンドライバー203の駆動された交点が点灯
する。この交点を点灯させるデータを送付しているとき
に監視手段106が異常信号を受ければ、異常のある発
光ダイオード201箇所を特定することができる。
Dynamically driven light emitting diode 201
Is a segment driver 2 for each LED module
The intersection point of the common driver 203 and 04 is lit. If the monitoring means 106 receives an abnormal signal while transmitting the data for lighting the intersection, the abnormal light emitting diode 201 can be identified.

【0026】異常が特定された発光ダイオード201や
LEDモジュール103は、LEDディスプレイに共通
して設けられた、或いは各LEDモジュールごとに設け
られたRAMなどの記憶手段に記憶させておき所望時に
調べることで異常箇所を把握することができる。また、
LEDディスプレイに共通して設けられた、或いは各L
EDモジュールごとに設けられた記憶手段と接続され有
線或いは無線の通信手段により発光ダイオードなどの異
常をLED表示装置101を管理するものに転送するこ
ともできる。この場合、異常を知らせるだけでなく異常
箇所をも知らせることができる。さらには、異常検知手
段501によっては、短絡か或いは開放かの異常モード
をも知らせることができる。また、監視手段に異常デー
タが入ることで自動的に表示データの中断、表示内容の
変更することもできる。異常検知工程は、LED表示装
置101の起動時に行っても良いし、タイマーを設け定
期的に行っても良い。さらには、任意にテストパターン
を流すことで異常検知を行うこともできる。
The light emitting diode 201 and the LED module 103 in which the abnormality has been specified are stored in a storage means such as a RAM provided commonly to the LED display or provided for each LED module, and are checked when desired. The abnormal location can be grasped by using. Also,
Provided in common with the LED display or each L
An abnormality such as a light emitting diode can be transferred to a device that manages the LED display device 101 by a wired or wireless communication unit connected to a storage unit provided for each ED module. In this case, it is possible to notify not only an abnormality but also an abnormal location. Further, depending on the abnormality detecting means 501, an abnormal mode of short circuit or open can be notified. In addition, when abnormal data enters the monitoring means, the display data can be automatically interrupted and the display content can be changed. The abnormality detection step may be performed when the LED display device 101 is started, or may be performed periodically by providing a timer. Further, an abnormality can be detected by arbitrarily flowing a test pattern.

【0027】(共通出力線101、302)共通出力線
101、302は、各発光ダイオード201の異常を検
出する異常検知手段501と並列接続され異常検知手段
501からの異常データを監視手段106に伝達するも
のである。したがって、複数ある発光ダイオード201
のどこかに異常があれば共通出力線101、302を介
して監視手段106に異常信号が転送されることとな
る。共通出力線101、302は1本で構成してもよい
し、RGBの各発光色ごとに分けても良い。また、開放
を検知する開放検知出力504用や短絡を検知する短絡
検知出力505用に分けても良い。このように所望の特
性ごとにより複数の共通出力線101、302を設ける
ことができる。何れにしても各異常検知手段501から
出力される共通出力線101、302は少ない方が良
く、この共通出力線101、302と制御手段105と
の組み合わせによりそれぞれ識別することが可能とな
る。
(Common output lines 101 and 302) The common output lines 101 and 302 are connected in parallel with the abnormality detecting means 501 for detecting abnormality of each light emitting diode 201, and transmit abnormality data from the abnormality detecting means 501 to the monitoring means 106. Is what you do. Therefore, a plurality of light emitting diodes 201
If there is an abnormality somewhere, an abnormal signal will be transferred to the monitoring means 106 via the common output lines 101 and 302. The common output lines 101 and 302 may be configured as a single line, or may be divided for each of the RGB emission colors. Further, it may be divided into an open detection output 504 for detecting an open circuit and a short circuit detection output 505 for detecting a short circuit. In this manner, a plurality of common output lines 101 and 302 can be provided according to desired characteristics. In any case, it is better that the number of the common output lines 101 and 302 output from each abnormality detecting means 501 is small.

【0028】(機能素子)機能素子とは、発光素子、圧
電素子、受光素子、インクジェット等に用いられる昇温
素子や液晶装置など電力を供給することにより種々の働
きをする素子のことである。特に本発明においては、こ
のような機能素子をドットマトリックス状など2以上の
複数用いる装置に利用される。本発明の半導体装置を利
用することにより複数ある機能素子のどの機能素子に異
常があるかを比較的簡単な回路構成により判断すること
ができる。
(Functional element) The functional element is an element that performs various functions by supplying electric power, such as a light emitting element, a piezoelectric element, a light receiving element, a heating element used for an ink jet, a liquid crystal device, and the like. In particular, in the present invention, such a functional element is used in an apparatus using two or more such functional elements such as a dot matrix. By using the semiconductor device of the present invention, it is possible to determine which of the plurality of functional elements has an abnormality with a relatively simple circuit configuration.

【0029】機能素子の一つである発光ダイオード20
1は、制御手段105から信号に基づき駆動手段により
順次駆動可能なものである。したがって、種々の発光が
可能な半導体発光素子を利用することができる。発光ダ
イオードに利用される半導体素子としては、GaP、G
aAs、GaN、InN、AlN、GaAsP、GaA
lAs、InGaN、AlGaN、AlGaInP、I
nGaAlNなどの半導体を発光層に利用したものが挙
げられる。また、半導体の構造もMIS接合、PIN接
合やpn接合を有するホモ構造、ヘテロ構造或いはダブ
ルへテロ構造のものが挙げられる。
Light emitting diode 20 which is one of the functional elements
Reference numeral 1 denotes a unit which can be sequentially driven by the driving unit based on a signal from the control unit 105. Therefore, it is possible to use a semiconductor light emitting element that can emit various lights. As semiconductor elements used for light emitting diodes, GaP, G
aAs, GaN, InN, AlN, GaAsP, GaAs
lAs, InGaN, AlGaN, AlGaInP, I
An example in which a semiconductor such as nGaAlN is used for a light emitting layer is given. Further, the structure of the semiconductor may be a homostructure having a MIS junction, a PIN junction or a pn junction, a heterostructure, or a double heterostructure.

【0030】半導体層の材料やその混晶度により発光波
長を紫外光から赤外光まで種々選択することができる。
さらに、量子効果を持たせるため発光層を薄膜とした単
一量子井戸構造や多重量子井戸構造とすることもでき
る。また、RGBの3原色だけでなく、LEDチップか
らの光とこれにより励起され発光する蛍光物質との補色
により白色が発光可能な発光ダイオードとすることもで
きる。発光ダイオードは、発光素子であるLEDチップ
をリードフレームと電気的に接続させると共にモールド
樹脂で被覆する構造とすることができる。被覆の形状な
どにより砲弾型やチップタイプLEDなどの発光ダイオ
ードを構成することができる。
The emission wavelength can be variously selected from ultraviolet light to infrared light depending on the material of the semiconductor layer and the degree of mixed crystal thereof.
Further, a single quantum well structure or a multiple quantum well structure in which a light emitting layer is thin to provide a quantum effect can be used. In addition, a light emitting diode capable of emitting white light by a complementary color of light from the LED chip and a fluorescent substance excited and emitted by the LED chip can be used as well as the three primary colors of RGB. The light emitting diode can have a structure in which an LED chip as a light emitting element is electrically connected to a lead frame and covered with a mold resin. A light emitting diode such as a shell type or a chip type LED can be formed depending on the shape of the coating.

【0031】(駆動手段)駆動手段とは、機能素子であ
る発光ダイオード201などに電力を供給して所望の発
光ダイオード201のみ駆動可能なものである。このよ
うな駆動手段は、ダイナミック駆動させるドットマトリ
ックス状に配置した発光ダイオード201の場合、コモ
ンドライバー503とセグメントドライバー504によ
り構成することができる。コモンドライバー及びセグメ
ントドライバーをスイッチングさせることにより所望の
機能素子を機能させることができる。以下、本発明の具
体的実施例について詳述するが、本発明がこの実施例の
みに限定されるものでないことは言うまでもない。
(Driving Means) The driving means is capable of driving only the desired light emitting diode 201 by supplying electric power to the light emitting diode 201 or the like which is a functional element. Such a driving unit can be constituted by a common driver 503 and a segment driver 504 in the case of the light emitting diodes 201 arranged in a dot matrix to be dynamically driven. By switching the common driver and the segment driver, a desired functional element can function. Hereinafter, specific examples of the present invention will be described in detail, but it goes without saying that the present invention is not limited to only these examples.

【0032】[0032]

【実施例】【Example】

(実施例1)RGBごとにそれぞれ発光可能な砲弾型発
光ダイオード201を利用した。各発光ダイオードは、
青色光が発光可能な窒化物半導体であるインジウム・ガ
リウム・ナイトライドを利用した発光ダイオードと、青
色光が発光可能なインジウム・ガリウム・ナイトライド
よりもInの組成が多い緑色光が発光可能なインジウム
・ガリウム・ナイトライドを利用した発光ダイオード及
び赤色光が発光可能なインジム・ガリウム・アルミニウ
ム砒素半導体素子を利用した発光ダイオードである。こ
のような発光ダイオードをRGB用いて1絵素として構
成する。基板上に配置された発光ダイオードは自動実装
機により、1絵素を16×16のドットマトリクス状に
配置させる。自動半田付け装置により基板に設けられた
銅箔パターンとリードフレームとを半田付けする。発光
ダイオードが形成された基板を駆動手段と電気的に接続
させLEDモジュール103を形成させる。LEDモジ
ュール103は、16×9個並べそれぞれ直接或いは分
配ボード104などにより分配され間接的に制御装置1
05と接続されてLED表示装置100を構成する。
(Example 1) A bullet-shaped light emitting diode 201 capable of emitting light for each of RGB was used. Each light emitting diode is
A light emitting diode using indium gallium nitride, which is a nitride semiconductor capable of emitting blue light, and an indium capable of emitting green light, which has a greater In composition than indium gallium nitride capable of emitting blue light A light emitting diode using gallium nitride and a light emitting diode using an indium gallium aluminum arsenide semiconductor element capable of emitting red light. Such a light emitting diode is configured as one picture element using RGB. For the light emitting diodes arranged on the substrate, one picture element is arranged in a 16 × 16 dot matrix by an automatic mounting machine. The copper foil pattern provided on the substrate and the lead frame are soldered by an automatic soldering device. The LED module 103 is formed by electrically connecting the substrate on which the light emitting diodes are formed to driving means. The 16 × 9 LED modules 103 are arranged directly or indirectly distributed by the distribution board 104 or the like.
05 to form the LED display device 100.

【0033】画像情報などのデータをコンピュータに接
続された制御手段であるインタフェースボードによりL
EDディスプレイ用に変換する。変換されたデータ10
2は、制御手段105から各LEDディスプレイの駆動
手段に順次入力される。各発光ダイオード201を駆動
させる駆動手段は、制御手段から入力された表示データ
に基づいて、一画面を構成するフレームごとに一定周期
で発光ダイオードが点灯され表示データに基づいて消灯
する。制御手段がコモンドライバー203及びセグメン
トドライバー204を駆動させダイナミック駆動させる
ことにより、それぞれの交点に当たる発光ダイオード2
01を順次点灯及び消灯させることができる。
Data such as image information is transferred to an L by an interface board which is a control means connected to a computer.
Convert for ED display. Converted data 10
2 is sequentially input from the control means 105 to the drive means of each LED display. The driving unit that drives each light emitting diode 201 turns on the light emitting diode at a constant cycle for each frame constituting one screen based on the display data input from the control unit and turns off the light based on the display data. The control unit drives the common driver 203 and the segment driver 204 to perform dynamic driving, so that the light emitting diode 2
01 can be sequentially turned on and off.

【0034】本発明の駆動手段を構成するICには、各
発光ダイオードのオン/オフを制御する駆動トランジス
ターに加えて、各駆動トランジスターのコレクタ出力に
基準電圧を持つ電圧比較回路301をそれぞれ付加させ
る。電圧比較回路301は、各発光ダイオード201の
異常を検出する異常検知手段501として働く。電圧比
較回路301の基準電圧と発光ダイオード201にかか
る電圧を比較することで発光ダイオードが短絡している
或いは開放しているかを判断することができる。電圧比
較回路301の基準電圧と発光ダイオード201の一定
の比較値と一致した場合には、異常があると判断して異
常信号を出力する。
In the IC constituting the driving means of the present invention, a voltage comparison circuit 301 having a reference voltage at the collector output of each driving transistor is added in addition to the driving transistors for controlling on / off of each light emitting diode. . The voltage comparison circuit 301 functions as abnormality detection means 501 for detecting abnormality of each light emitting diode 201. By comparing the reference voltage of the voltage comparison circuit 301 with the voltage applied to the light emitting diode 201, it is possible to determine whether the light emitting diode is short-circuited or open. When the reference voltage of the voltage comparison circuit 301 matches a certain comparison value of the light emitting diode 201, it is determined that there is an abnormality, and an abnormality signal is output.

【0035】電圧比較回路の出力は、オープンコレクタ
形を採っている。各発光ダイオードに対応して設けられ
た電圧比較回路の出力を並列に直接接続し基準電圧Vc
cと出力OUTとの間に抵抗を接続させる。発光ダイオ
ードに異常があった場合、異常検知手段である電圧比較
回路からの出力により出力トランジスタがどれかオンす
る。各異常検知手段501と接続された共通出力線10
1、302には、出力トランジスタのうち一つでもオン
されると出力OUTがLレベルとなる。共通出力線の電
圧を監視している監視手段106は、共通出力線がHレ
ベルからLレベルになったことで異常があったことを判
断する。共通出力線に出力された異常信号は、一本の回
線を通して異常信号の有無を監視している制御手段10
5内の監視手段106に入力される。
The output of the voltage comparison circuit is of an open collector type. The outputs of the voltage comparison circuits provided corresponding to the respective light emitting diodes are directly connected in parallel and the reference voltage Vc
A resistor is connected between c and the output OUT. When there is an abnormality in the light emitting diode, one of the output transistors is turned on by an output from the voltage comparison circuit which is an abnormality detecting means. Common output line 10 connected to each abnormality detecting means 501
At 1 and 302, when at least one of the output transistors is turned on, the output OUT goes low. The monitoring unit 106 that monitors the voltage of the common output line determines that an abnormality has occurred due to the change of the common output line from the H level to the L level. The abnormal signal output to the common output line is controlled by the control means 10 which monitors the presence or absence of the abnormal signal through one line.
5 is input to the monitoring means 106.

【0036】この状態では、複数の発光ダイオード20
1の何れか一つに異常があることが判断される。LED
表示装置101のどの発光ダイオードに異常が発生して
いるかは、LED表示装置のRGBごとにそれぞれ発光
ダイオードを順次点灯させる。青色発光ダイオードがド
ットマトリックス状に配置されたコモンドライバー及び
セグメントドライバーを順次駆動させる。この点灯に同
期して異常があれば異常検知手段から監視手段に異常信
号が出力される。異常データが検知された時点での点灯
箇所を特定しておく。これにより、LED表示装置の中
から異常が生じた発光ダイオードの場所を特定すること
ができる。順次他の色や各LEDモジュール103につ
いて異常を検出する。
In this state, the plurality of light emitting diodes 20
It is determined that any one of the two has an abnormality. LED
To determine which of the light emitting diodes of the display device 101 has an abnormality, the light emitting diodes are sequentially turned on for each of the RGB of the LED display device. A blue light emitting diode sequentially drives a common driver and a segment driver arranged in a dot matrix. If there is an abnormality in synchronization with the lighting, an abnormality signal is output from the abnormality detecting means to the monitoring means. The lighting location at the time when abnormal data is detected is specified. Thereby, the location of the light emitting diode in which the abnormality has occurred can be specified from the LED display device. An abnormality is sequentially detected for other colors and each LED module 103.

【0037】こうして特定された発光ダイオードの異常
場所は、メモリーに記憶させておく。メモリーを調べる
ことで異常のある発光ダイオードを特定し、特定された
異常のある発光ダイオードのみ交換することで、常に表
示状態の優れたLED表示装置とすることができる。
The abnormal location of the light emitting diode specified in this way is stored in a memory. By examining the memory to identify the abnormal light emitting diode and replacing only the identified abnormal light emitting diode, it is possible to obtain an LED display device with an excellent display state at all times.

【0038】(実施例2)実施例1の如き、各LEDデ
ィスプレイ全体でLED表示装置を構成する代わりに図
6の如く、各LEDユニット1つをLED表示装置とし
た異常検知例を示す。LEDユニットとしてRGBがそ
れぞれ発光可能な発光ダイオードを16×16のドット
マトリックス状に配置させる。LEDユニット内部には
各発光ダイオードの異常を検知する異常検知手段及び異
常を出力する共通出力線が設けられている。また、LE
Dユニットには共通出力線と接続された通信制御手段及
び記憶手段が設けられている。このようなLEDユニッ
トを複数組み合わせることによりLEDディスプレイを
構成させてある。
(Example 2) As shown in FIG. 6, an abnormality detection example in which one LED unit is used as the LED display device instead of configuring the LED display device with the entire LED display as in Example 1 is shown. As LED units, light-emitting diodes capable of emitting light by RGB are arranged in a 16 × 16 dot matrix. An abnormality detecting means for detecting an abnormality of each light emitting diode and a common output line for outputting an abnormality are provided inside the LED unit. Also, LE
The D unit is provided with communication control means and storage means connected to the common output line. An LED display is configured by combining a plurality of such LED units.

【0039】このようなLEDディスプレイにおける異
常検知テスト時の動作を示す。まず、テストモードによ
り通信手段と共有する演算装置からなるMPUを駆動さ
せ、発光ダイオードの点灯を制御させると共にそれに同
期して点灯された発光ダイオードの異常を検知する。異
常検知手段は点灯出力端子に同期して接続されるように
構成されている。異常検知手段からの信号はRAMなど
から構成される記憶手段に一時的に記憶される。この
時、MPUがどの発光ダイオードを駆動させていたか、
異常検知手段がどの異常を検知したかなどを記憶させる
ことができる。これにより、異常検知手段の数も少なく
することができると共に回路構成をより簡略化させるこ
とができる。また、LEDディスプレイの外部と通信線
などを経由して記憶した異常データを通信手段から発信
することでLEDディスプレイの外部において異常箇所
や異常状況などを把握することができる。
The operation at the time of an abnormality detection test in such an LED display will be described. First, in the test mode, the MPU, which is an arithmetic unit shared with the communication means, is driven to control the lighting of the light emitting diode and detect an abnormality of the light emitting diode which is turned on in synchronization with the control. The abnormality detecting means is configured to be connected in synchronization with the lighting output terminal. The signal from the abnormality detection unit is temporarily stored in a storage unit such as a RAM. At this time, which light emitting diode the MPU was driving,
Which abnormality is detected by the abnormality detecting means can be stored. Thus, the number of abnormality detection means can be reduced, and the circuit configuration can be further simplified. Further, by transmitting abnormal data stored outside the LED display via a communication line or the like from the communication means, it is possible to grasp an abnormal location, an abnormal situation, and the like outside the LED display.

【0040】[0040]

【発明の効果】本発明の構成とすることにより大型化や
極めて数の多い機能素子を利用する半導体装置において
も異常のある半導体装置を比較的簡単な構成により検出
することができる。
According to the structure of the present invention, even in a semiconductor device using a large size or an extremely large number of functional elements, an abnormal semiconductor device can be detected with a relatively simple structure.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に用いられるLED表示装置の構成を示
す模式的説明図である。
FIG. 1 is a schematic explanatory view showing a configuration of an LED display device used in the present invention.

【図2】本発明のLED表示装置に用いられるLEDモ
ジュールの模式的説明図である。
FIG. 2 is a schematic explanatory view of an LED module used in the LED display device of the present invention.

【図3】本発明の半導体装置内の一構成例を示す回路図
である。
FIG. 3 is a circuit diagram showing one configuration example in a semiconductor device of the present invention.

【図4】本発明の半導体装置内の一構成例を示す別の回
路図である。
FIG. 4 is another circuit diagram showing one configuration example in the semiconductor device of the present invention.

【図5】本発明の半導体装置内の構成を示す模式的説明
図である。
FIG. 5 is a schematic explanatory view showing a configuration inside a semiconductor device of the present invention.

【図6】本発明の別のLED表示装置の構成を示す模式
的説明図である。
FIG. 6 is a schematic explanatory view showing a configuration of another LED display device of the present invention.

【図7】本発明の別の異常検知手段の接続を示す模式的
説明図である。
FIG. 7 is a schematic explanatory view showing the connection of another abnormality detecting means of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

100・・・LED表示装置 101、302・・・共通出力線 102・・・表示データ 103・・・LEDモジュール 104・・・分配ボード 105・・・制御装置 106・・・監視手段 200・・・LEDモジュール 201・・・発光ダイオード 202・・・信号処理回路 203、503・・・コモンドライバー 204、504・・・セグメントドライバー 301・・・電圧検出回路 401・・・電流検出回路 501・・・異常検知手段 504・・・開放検知出力 505・・・短絡検知出力 100 LED display devices 101, 302 Common output line 102 Display data 103 LED module 104 Distribution board 105 Control device 106 Monitoring means 200 LED module 201: Light emitting diode 202: Signal processing circuit 203, 503: Common driver 204, 504: Segment driver 301: Voltage detection circuit 401: Current detection circuit 501: Abnormal Detection means 504: Open detection output 505: Short detection output

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 ドットマトリックス状に配置された複数
の発光ダイオードと、各発光ダイオードをそれぞれ独立
に発光可能な駆動手段とを有するLED表示装置であっ
て、前記各発光ダイオードの異常を検出し異常信号を出
力する異常検知手段と、複数の前記異常検知手段が並列
接続され異常信号を共通に出力させる共通出力線と、該
共通出力線と接続され前記各発光ダイオードの駆動に同
期して前記共通出力線からの異常信号を監視する監視手
段とを有するLED表示装置。
1. An LED display device comprising: a plurality of light emitting diodes arranged in a dot matrix; and a driving unit capable of emitting light from each of the light emitting diodes independently. An abnormality detection unit that outputs a signal, a plurality of abnormality detection units that are connected in parallel to output a common abnormality signal, and a common output line that is connected to the common output line and synchronizes with the driving of each of the light emitting diodes. An LED display device having monitoring means for monitoring an abnormal signal from an output line.
【請求項2】 前記異常検知手段は、オープンコレクタ
型回路で構成されており、各異常検知手段からの出力が
共通出力線にワイヤードOR接続されて監視手段に入力
される請求項1記載のLED表示装置。
2. The LED according to claim 1, wherein said abnormality detecting means is constituted by an open collector type circuit, and an output from each abnormality detecting means is wired-OR-connected to a common output line and inputted to the monitoring means. Display device.
【請求項3】 前記異常が発光ダイオードへ流れる電流
の開放及び/又は短絡である請求項1記載のLED表示
装置。
3. The LED display device according to claim 1, wherein the abnormality is an opening and / or a short circuit of a current flowing to the light emitting diode.
【請求項4】 前記異常検知手段は、各発光ダイオード
を点灯させる駆動手段の出力に少なくとも1つ以上の基
準電圧を持つ電圧比較回路を具備する請求項1記載のL
ED表示装置。
4. The L according to claim 1, wherein said abnormality detecting means comprises a voltage comparing circuit having at least one or more reference voltages at an output of a driving means for lighting each light emitting diode.
ED display device.
【請求項5】 前記異常検知手段は、各発光ダイオード
を点灯させる駆動手段に制御電流検出回路を具備する請
求項1記載のLED表示装置。
5. The LED display device according to claim 1, wherein said abnormality detecting means includes a control current detecting circuit in a driving means for lighting each light emitting diode.
【請求項6】 複数の機能素子をそれぞれ独立して駆動
可能な駆動手段と、該駆動手段に対応して前記機能素子
の異常を個々に検出できる異常検知手段を有する半導体
装置であって、前記異常検知手段の最終出力回路は、オ
ープンコレクタ型複数と回路で構成されており、且つ各
異常検知手段からの出力はOR接続されることを特徴と
する半導体装置。
6. A semiconductor device comprising: driving means capable of independently driving a plurality of functional elements; and abnormality detecting means capable of individually detecting abnormalities of the functional elements corresponding to the driving means, A semiconductor device, wherein a final output circuit of the abnormality detecting means is constituted by a plurality of open collector type circuits and circuits, and outputs from each abnormality detecting means are OR-connected.
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