JP7394186B2 - マイクロ発光ダイオード表示デバイス - Google Patents

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Description

本発明は表示(ディスプレイ)デバイスに関するものであり、特にマイクロ発光ダイオード(LED:light-emitting diode)表示デバイスに関するものである。
関連技術の説明
現在、世界は次世代ディスプレイに注目しており、マイクロ発光ダイオード(マイクロLED)は最も有望な技術の1つである。手短に言えば、マイクロLEDは、LEDを小型化してマトリクス化し、これにより何百万個の、さらには何千万個のダイを基板上に配列する技術であり、これらのダイは100ミクロンより小さく髪の毛より薄い。現在のOLED(organic light-emitting diode:有機発光ダイオード)技術に比べると、マイクロLED表示デバイスも自発光デバイスであるが、異なる材料を利用する。従って、マイクロLED表示デバイスは、スクリーンの焼き付きの問題を解決することができ、この問題はOLED表示デバイスにおける最も致命的な問題である。それに加えて、マイクロLED表示デバイスは、低電力消費、高コントラスト、広い色域、高い明度、小型かつ薄型のサイズ、軽量かつ省エネルギーという利点をさらに有する。従って、世界中の主要製造所が先を争ってマイクロLED技術の研究開発に投資している。
均一な明度を得て電力消費を低減するために、従来のマイクロLED表示デバイスは、一般に、金属グリッドを有する導電構造を利用して、マイクロLEDの半導体層を駆動基板に電気接続している。
技術課題
高解像度(UHD(ultra-high definition:超高解像度)、AR/VR(augmented reality/virtual reality:拡張現実感/仮想現実感)のような高PPI(pixels per inch:1インチ当たりの画素数))表示デバイスの要求の下で、比較的小型のマイクロLEDの半導体層内に形成される金属グリッドの製造工程許容誤差はより小さくなり、このことは表示デバイスの製造歩留まりに直接の影響を与える。従って、高解像度の要求を満足することができ高い製造歩留まりを有するマイクロLED表示デバイスを提供することが望まれる。
課題の解決策
本発明の1つ以上の好適例は、高解像度の要求を満足することができ、より高い製造歩留まりを有するマイクロLED表示デバイスを提供することにある。
1つの好適例では、マイクロLED表示デバイスが、回路基板と、エピタキシャル構造層と、金属導電層と、光変換層と、遮光構造とを含む。回路基板はボンディング(接合)面を有する。エピタキシャル構造層は回路基板のボンディング面上に配置されている。エピタキシャル構造層は、回路基板に対面する第1面と、回路基板から離れた側の第2面と、互いに分離された複数のマイクロLEDユニットとを含む。マイクロLEDユニットは、第1面上に配置され、回路基板に電気接続され、回路基板はマイクロLEDユニットを制御して発光させる。金属導電層は、エピタキシャル構造層の第2面上に配置され、エピタキシャル構造層に直接接触する。金属導電層は、互いに分離された複数の光変換領域を規定し、光変換領域の各々はマイクロLEDユニットの1つに対応する。光変換層は、光変換領域の一部分に配置され、対応するマイクロLEDユニットから発する光の波長を変換するように構成されている。遮光構造は、金属導電層上に配置された複数の第1遮光部を有し、第1遮光部は光変換領域を覆わない。回路基板のボンディング面に垂直な方向の、金属導電層の厚さがエピタキシャル構造層の厚さよりも大きい。
1つの好適例では、エピタキシャル構造層の第2面が平面である。
1つの好適例では、光変換領域の各々が金属導電層内に形成されたスルーホール(通し穴)である。
1つの好適例では、上記スルーホールが、対応するマイクロLEDユニットと、ボンディング面に垂直な方向にオーバーラップし、このマイクロLEDユニットから発する光が上記スルーホールを通過して画像を表示する。
1つの好適例では、エピタキシャル構造層が、マイクロLEDユニットに共通に付加された連続半導体層を含む。
1つの好適例では、回路基板が複数の導電性電極をさらに含み、これらの導電性電極の1つが、導電性部材を介してマイクロLEDユニットの1つに電気接続されている。
1つの好適例では、回路基板が共通電極信号を、導電性部材及びエピタキシャル構造層を通して金属導電層へ出力する。
1つの好適例では、遮光構造が、エピタキシャル構造層の第2面上に配置された第2遮光部をさらに含み、第2遮光部は、エピタキシャル構造層の第2面の領域における、マイクロLEDユニットの部分に対応する部分を露出させる。
1つの好適例では、第2遮光部の1つと、複数の光変換領域のうちこの第2遮光部に隣接する1つの光変換領域との間にギャップが構成されている。
1つの好適例では、マイクロLED表示デバイスが、遮光構造における金属導電層から離れた側の面に配置された透明層をさらに含む。
1つの好適例では、光変換領域のうち光変換層で構成されていないものが、透明層の材料の一部分で満たされている。
1つの好適例では、マイクロLED表示デバイスが、光変換層におけるエピタキシャル構造層から離れた側の面に配置された光フィルタ層をさらに含む。光フィルタ層は複数の光フィルタ部を含み、光変換層は複数の光変換部を含み、光フィルタ部は光変換部に個々に対応して配置されている。
1つの好適例では、各光変換部の断面形状が逆台形形状である。
1つの好適例では、エピタキシャル構造層が、光変換層に向かって突出した複数の突起部をさらに含み、突起部の各々はマイクロLEDユニットの1つに対応して配置されている。
1つの好適例では、光変換層が複数の光変換部を含み、光変換部の各々の断面形状は逆台形形状であり、突起部の各々の断面形状は台形形状である。
1つの好適例では、突起部が互いに隔離されている。
1つの好適例では、同一画素内の突起部が互いに接続され、隣接する2つの画素のそれぞれの画素内にあり、かつ互いに隣接する2つの突起部は互いに隔離されている。
1つの好適例では、光変換層がエピタキシャル構造層から離れた側の最上面を含み、金属導電層がエピタキシャル構造層から離れた側の上面を含み、最上面は上面と整列している。
1つの好適例では、マイクロLED表示デバイスが、各々がマイクロLEDユニットの側壁上に対応して配置された複数の光反射構造をさらに含み、光反射構造の各々は、対応するマイクロLEDユニットから発する光を反射するように構成されている。
1つの好適例では、光反射構造の各々が、対応するマイクロLEDユニットの発光層の周りに配置されている。
1つの好適例では、マイクロLED表示デバイスが、光変換領域の各々の側面に対応して配置された光反射層をさらに含む。
1つの好適例では、エピタキシャル構造層が光変換層に向かって突出した複数の突起部を含み、突起部の各々はマイクロLEDユニットの1つに対応して配置され、光反射層が、光変換領域の各々の側面から突起部の各々の外面まで延びる。
1つの好適例では、光反射層の反射率が金属導電層の反射率よりも大きい。
上述したように、本発明のマイクロLED表示デバイスは、従来の金属グリッドを利用する代わりに、より厚い金属導電層を利用して、各マイクロLEDユニットを通って流れる電流を導通させて、マイクロLEDユニットを駆動基板に電気接続する。この構成は、マイクロLEDユニットの照明効率を向上させ、均一な明度を得て、電力消費を低減することができる。金属グリッドを利用してマイクロLEDユニットを駆動基板に電気接続する従来技術に比べると、本発明のマイクロLED表示デバイスは、高解像度の要求を満足し、より高い製造歩留まりを有することができる。
本発明は、詳細な説明及び添付した図面より、より十分に理解され、これらの図面は例示用に提供するに過ぎず、従って本発明を限定するものではない:
本発明の一実施形態によるマイクロLED表示デバイスを示す概略図である。 図1AのマイクロLED表示デバイスのA-Aに沿った断面図である。 本発明の他の実施形態によるマイクロLED表示デバイスを示す概略図である。 図2A~2Iは、本発明の異なる実施形態によるマイクロLED表示デバイスを示す概略図である。
発明の詳細な説明
本発明は、添付した図面を参照しながら進める以下の詳細な説明より明らかになり、これらの図面では、同じ参照番号は同じ要素に関係する。
図1Aは、本発明の一実施形態によるマイクロLED表示デバイスを示す概略図であり、図1Bは、図1AのマイクロLED表示デバイスの線A-Aに沿った断面図であり、図1Cは、本発明の他の実施形態によるマイクロLED表示デバイスの概略図である。
図1A及び1Cを参照すれば、マイクロLED表示デバイス1が複数の画素(ピクセル)Pを含み、画素Pはアレイ(行と列)の形に配列されている。図1Aに示すように、本実施形態の各画素Pは並べて配列された3つの副画素(サブピクセル)を含み、各副画素はマイクロLEDユニット121を含む。即ち、各画素Pは、並べて配列された3つのマイクロLEDユニットを含む。他の実施形態では、各画素P内の3つの副画素を異なる方法で配列することができる。例えば、3つの副画素のうちの2つを上下に配列し、3つの副画素のうちの3番目のものを他の2つの副画素の脇に配置する。異なる実施形態では、各画素Pが4つ以上の副画素を含むことができる。4つの副画素を含む画素Pを一例として挙げれば、これら4つの副画素は並べて配列することができ、または2×2アレイの形に配列することができ、あるいは他のあらゆる適切な配列の形に配列することができる。図1Cを参照すれば、各画素P内の4つの副画素が2×2アレイの形に配列されている。例えば、上の2つの副画素は緑色のマイクロLEDユニット121を含み、下の2つの副画素は、それぞれ青色のマイクロLEDユニット121及び赤色のマイクロLEDユニット121を含む。本発明はこのことに限定されない。
図1Bを参照すれば、本実施形態のマイクロLED表示デバイス1は、アクティブマトリクス(AM:active matrix)LEDマイクロディスプレイデバイスとすることができ、あるいはパッシブマトリクス(PM:passive matrix)LEDマイクロディスプレイデバイスとすることができる。マイクロLED表示デバイス1は、回路基板11と、エピタキシャル構造層12と、金属導電層13と、光変換層14と、遮光構造15とを含む。
回路基板11はボンディング面S1を有する。本実施形態では、ボンディング面S1が回路基板11の上面である。回路基板は、マイクロLEDユニット121を駆動して発光させるための駆動基板である。例えば、回路基板11は、相補型金属酸化物半導体(CMOS:complementary metal-oxide-semiconductor)基板、シリコン上液晶(LCOS:liquid crystal on silicon)基板、薄膜トランジスタ(TFT:thin-film transistor)基板、または動作する回路を有する他のあらゆる駆動基板とすることができ、但し本発明はこれらに限定されない。一部の実施形態では、本発明のマイクロLED表示デバイスが、ARまたはVR用途向けに適合したマイクロディスプレイである。回路基板の長さは、例えば1インチ以下とすることができ、そのPPI(pixel per inch:1画素当たりのインチ数)は1000よりも大きくすることができ、但しこれらの値に限定されない。他の実施形態では、回路基板11の長さを1インチよりも大きくすることができ、そのPPIは制限されない。
エピタキシャル構造層は回路基板11のボンディング面S1上に配置される。本実施形態では、エピタキシャル構造層12が、回路基板11に対面する第1面S21と、回路基板11から離れた側の第2面S22と、互いに分離されて回路基板11に対面する複数のマイクロLEDユニット121とを含む。マイクロLEDユニット121は、第1面S21上に配置され、回路基板11に電気接続され、回路基板11はマイクロLEDユニット121を制御(駆動)して発光させる。特に、エピタキシャル構造層12の第1面S21に複数の凹部Uが形成されてマイクロLEDユニット121を分離し、マイクロLEDユニット121はアレイの形に配列されている。LEDユニット121は個別に制御して発光させることができる。エピタキシャル構造層12の第2面S22は金属導電層13に直接接触する。
本実施形態では、各マイクロLEDユニット121が対応する1つの副画素用の光源を提供することができる。各マイクロLEDユニット121は、第1の型の半導体層121aと、発光層121bと、第2の型の半導体層121cとを含み、これらの層は順に積層されている。発光層121bは、第1の型の半導体層121aと第2の型の半導体層121cとの間に挟まれている。凹部Uの深さは、第2の型の半導体層121cと発光層121bとを合計した厚さよりも大きい。この場合、第1の型の半導体層121aはN型半導体層である。具体的には、エピタキシャル構造層12は1つの連続した第1の型の半導体層121aを含み、マイクロLEDユニット121は同一の第1の型の半導体層121aを共通に利用する。なお、本発明はこのことに限定されない。それに加えて、第2の型の半導体層121cはP型半導体層であり、発光層121bは、例えば多重量子井戸(MQW:multiple quantum well)である。本発明はこのことに限定されない。異なる実施形態では、第1の型の半導体層121aをP型半導体層とし、第2の型の半導体層121cをN型半導体層とすることができる。この場合、マイクロLEDユニット121は同じP型半導体層を共通に利用する。
それに加えて、回路基板11は複数の導電性電極(111、112)をさらに含み、これらの導電性電極はエピタキシャル構造層12のマイクロLEDユニット121に対応して(例えば、1対1配置の形に)配置されている。一実施形態では、各導電性電極が、回路基板11の対応する回路層(図示せず)に電気接続され、誘電体層(図示せず)が隣接する2つの導電性電極間に設けられている。従って、回路基板11は、個別に制御された電気信号を、対応する回路層を通して導電性電極へ伝送し、これにより対応するマイクロLEDユニット121を駆動して発光させることができる。
導電性電極の1つを、導電性部材Cを介してマイクロLEDユニット121の1つに電気接続することができる。本実施形態の導電性電極は、複数の第1電極111(図1Bには4つの第1電極111を示す)及び1つの第2電極を含むことができる。各第1電極111は、対応する1つの導電性部材Cを介して対応する1つのマイクロLEDユニット121の第2の型の半導体層121cに電気接続され、第2電極112は、エピタキシャル構造層12の共通電極であり、対応する1つの電極部材Cを介して対応するマイクロLEDユニット121の第1の型の半導体層121aに電気接続されている。上述した導電性部材Cは、例えばインジウム、スズ、銅、銀、金、またはその合金(例えば、銅+上記金属(スズを除く)のいずれか)を含むことができ、但しこれらに限定されず、本発明はこのことに限定されない。それに加えて、導電性部材Cに接触している領域を除いた、マイクロLEDユニット121の残りの表面は、回路基板11に対面し、マイクロLEDユニット121の構造を保護するための絶縁層18で構成されている。換言すれば、エピタキシャル構造層12の第1面S21における、導電性部材Cに接触していない部分は、絶縁層18で構成されている。一部の実施形態では、回路基板11が、ボンディング面S1とエピタキシャル構造層12との間に配置されたソルダーレジスト(耐ハンダ)層113をさらに含む。ソルダーレジスト層113は、加圧工程中にエピタキシャル構造層12を破壊から保護するための緩衝材を提供することができるだけでなく、第1電極111との間の短絡を防止することもできる。ソルダーレジスト層113の材料は、例えば無機誘電体材料(例えば、窒化シリコンまたは酸化シリコン)、あるいは有機ポリマー材料(例えば、フォトレジストまたはインク)を含むことができ、但しこれらに限定されない。なお、均一な明度を得て電力消費を低減するために、本実施形態のマイクロLED表示デバイス1は、マイクロLEDユニットの半導体層(例えば、第1の型の半導体層121a)を駆動基板に電気接続するために、従来の金属グリッドを使用しない。
金属導電層13は、エピタキシャル構造層12の第2面S22上に配置され、エピタキシャル構造12に直接接触し、第2面S22は回路基板11から離れた側にある。本実施形態では、エピタキシャル構造層12の第2面S22が平面であり、回路基板11のボンディング面S1にほぼ平行である。金属導電層13は、エピタキシャル構造層12の第1の型の半導体層121aに直接接触して、マイクロLEDユニット121に電気接続される。それに加えて、金属導電層13は回路基板11にも電気接続されている。例えば、金属導電層13は回路基板11の第2電極112に電気接続されている。一部の実施形態では、回路基板11のボンディング面S1に垂直な方向Dの、エピタキシャル構造層12の発光層121bと第2面S22との間の最小距離が1μmよりも大きく4μm未満である。さらに、凹部Uの底部U1からエピタキシャル構造層12の第2面S22までの厚さd3は3μm未満である。本実施形態では、厚さd3を制限しなければならない。厚さd3が大き過ぎれば、電流伝送が悪化する。換言すれば、より薄い厚さd3は、電流信号(本実施形態では共通電極の電気信号)を、導電性部材C及びエピタキシャル構造層12を通して金属導電層13へずっと容易に流すことができ、その結果、電流信号が高い導電率の金属導電層13を経由して表示領域全体へ均一に流れることができる。
それに加えて、金属導電層13は互いに分離した複数の光変換領域131を規定し、光変換領域131の各々がマイクロLEDユニット121の1つに対応する。換言すれば、光変換領域131はマイクロLEDユニット121に個々に(1対1の様式で)対応する。本実施形態では、各光変換領域131に、対応するマイクロLEDユニット121が、ボンディング面S1に垂直な方向Dにオーバーラップする。この場合、各光変換領域131は金属導電層13内に形成されたスルーホールであり、金属導電層13の上面と下面とをつなげる。従って、光変換領域131に対応するマイクロLEDユニット121から発する光を、スルーホール(光変換領域131)を通して上方へ出力することができる。手短に言えば、マイクロLEDユニット121から発する光がスルーホールを通過して画像を表示することができる。金属導電層13の材料は、例えば、銅、銀、アルミニウム、チタニウム、ニッケル、またはそのあらゆる合金を含む。
光変換層14は光変換領域131の一部分に配置され、光変換層14は、対応するマイクロLEDユニット121から発する光の波長を変換するように構成されている。本実施形態では、光変換層14が複数の分離した光変換部141a及び141bを含み、これらの光変換部はそれぞれに対応する光変換領域131内に配置されている。各光変換部141aまたは141bはマイクロLEDユニット121の1つに対応する。具体的には、1つの画素Pの3つの副画素において、2つの副画素内の光変換領域131に光変換部141a及び141bの材料が充填されて、光を異なる波長に変換する。ここでは、光変換層14(光変換部141aまたは141b)が、量子ドット、リン光物質、または蛍光物質のような光変換物質を含む。本実施形態では、光変換物質が量子ドットを含み、量子ドットが光変換部141a及び141bを形成する。異なるサイズの量子ドットを励起して、異なる色の光を生成することができる。例えば、異なるサイズの量子ドットを青色光で励起して、赤色光及び緑色光を生成することができる。本実施形態の光変換部141a及び141bの形状は、例えば逆円錐形であり、その断面形状は、例えば多角形(例えば、逆台形)である。確かに、本発明はこのことに限定されない。
本実施形態では、マイクロLED表示デバイス1が、光変換層14におけるエピタキシャル構造層12から離れた側の面に配置された光フィルタ層17をさらに含む。光フィルタ層17は部分的に光変換領域131内に充填されている。光フィルタ層17は複数の光フィルタ部17a及び17bを含み、光フィルタ部17a及び17bは、それぞれ光変換部141a及び141bに(1対1の様式で)対応して配置され、光変換部141a及び141bにオーバーラップされている。実際には、金属導電層13が分離した複数の光変換領域131を規定した後に、光変換部141aと141bの材料及び光フィルタ部171aと171bの材料が、対応する光変換領域131内に順に配置される。従って、光変換部141a及び光フィルタ部171aは、マイクロLEDユニット121の1つ(即ち、1つの副画素の領域)に対応して形成することができる。光フィルタ部171a及び171bは、それぞれ赤色光フィルタ材料及び緑色光フィルタ材料のような、異なる色の光用の異なる光フィルタ材料を含むことができる。従って、光変換部141aと141b及び光フィルタ部171aと171bに対応する光変換領域131の各々では、対応する副画素(即ち、対応するマイクロLEDユニット121)から発する光(例えば青色光)を、対応する光変換部(141aまたは141b)によって変換して、所望の色の光(例えば、赤色光または緑色光)を発することができ、この光は対応する光フィルタ部(171aまたは171b)を通過して出力される。他の実施形態では、例えば、光変換部141a及び141bの厚さが、光の色純度が要求に達するのに十分なほど大きければ、光フィルタ17(光フィルタ部171a及び171b)を取り除くことができる。それに加えて、光のより高い色純度を得るためにより厚い光変換層14(光変換部141a及び141b)を用いると、より厚い金属導電層13も必要になる。異なる実施形態では、マイクロLEDユニット121を対応する光変換部(及び/または光フィルタ部)と協働させて、異なる色(例えば、黄色光または白色光)を発するようにすることができ、但し本発明はこのことに限定されない。なお、本開示中に記載された「厚さ」及び「高さ」は、回路基板11のボンディング面S1、または第2面S2に垂直な方向Dの最大の厚さまたは高さを参照する。
遮光構造15は、金属導電層13の少なくとも一方の側の面上にパターン化されて形成される。本実施形態では、遮光構造15が複数の第1遮光部151及び複数の第2遮光部152を含み、第1遮光部151と第2遮光部152とは金属導電層13の互いに反対側の2つの面に配置されている。第1遮光部151は金属導電層13におけるエピタキシャル構造層12から離れた側の上面S3上に配置され、光変換領域131の周りに位置する。換言すれば、第1遮光部151は、対応する光変換領域131(光変換部141a、141bまたは光フィルタ部171a、171b)を、回路基板11のボンディング面S1に垂直な方向Dに遮らない。それに加えて、第2遮光部152は、エピタキシャル構造層12の第2面S22上に配置されている。第2遮光部152は、エピタキシャル構造層12の第2面S22の領域における、マイクロLEDユニット121の部分に対応する位置にある部分を露出させ、かつ隣接する2つの光変換領域131の間に位置する。本実施形態では、各第2遮光部152と、これに隣接する光変換領域131との間のギャップが、マイクロLEDユニット121を駆動するための電流が金属導電層13から当該ギャップを通ってマイクロLEDユニット121へ流れることができるように構成されている。この構成は照明効率を向上させることができる。異なる実施形態では、各第2遮光部152を隣接する光変換領域131に接続することができ、但し本発明はこのことに限定されない。例えば、遮光構造15は第2遮光部152を含まなくてもよい。(第1遮光部151及び第2遮光部152を含む)遮光構造15の材料を、光を遮光または吸収する導電性または絶縁性の不透明材料(例えば、黒色の材料)にして、副画素間の干渉(例えば、光混合の問題)を防止することができる。
それに加えて、本実施形態のマイクロLED表示デバイス1は、遮光構造15における金属導電層13から離れた側の面に配置された透明層16をさらに含む。ここでは、透明層16が、遮光構造15の複数部分(第1遮光部151)及び光フィルタ部171aと171bを覆い、透明層16の材料の一部分は、光変換領域131のうち、光変換層14(及び光フィルタ層17)で構成されていない部分に充填される。透明層16は透明膜とすることができ、その材料は、例えば、アクリル(例えば、1.18g/cm3の密度を有するPMMA(polymethylmethacrylate:ポリメタクリル酸メチル))、(1.1~1.4g/cm3の密度を有する)エポキシ、またはポリウレタン(PU:polyurethane)を含むことができ、但し本発明はこれらに限定されない。例えば、透明層16の材料は、酸化シリコン(SiOx)、二酸化チタニウム(TiO2)、酸化アルミニウム(Al2O3)、窒化シリコン(SiNx)、等のような無機材料を含むことができる。透明層16の厚さは20μm以下にすることができ、0.5μm未満(例えば0.15μm)であることが好ましい。透明層16の厚さがより薄い場合、透明層16は、光変換領域131を、変換構造14及び光フィルタ層17で構成されない側壁に沿って覆う。換言すれば、透明層16は、全体が平面の表面を形成する代わりに非平面の表面を形成し、この非平面の表面は覆われる層の幾何学的形状に基づく。一部の実施形態では、透明層16を、例えば反射防止膜、防幻膜(アンチグレアフィルム)、指紋防止膜、防水兼防汚膜、または防傷膜(アンチスクラッチフィルム)、あるいはその組合せとすることができ、但し本発明はこれらに限定されない。
上述したように、マイクロLED表示デバイス1がイネーブル(有効)状態になると、例えば、第1電極111がハイ電位を有することができ、第2電極112が接地電位またはロー電位を有することができる。第1電極111と第2電極112との電位差(即ち、駆動電圧)によって発生する電流が、対応するマイクロLEDユニット121をイネーブル状態にして対応する赤色光、緑色光、及び青色光を発光することができる。より具体的には、マイクロLED表示デバイス1では、回路基板11の駆動素子(例えば、TFT(thin film transistor:薄膜トランジスタ)のような能動素子)を制御して、異なる電圧を、対応する導電性パターン及び/または回路層を通して供給し、これにより対応する第1電極に異なるハイ電位を持たせることができる。それに応じて、マイクロLEDユニット121は青色光を発光することができ、この青色光は光変換部141a、141b及び光フィルタ部171a、171bによって赤色光及び緑色光に変換することができる。異なる色及び異なる強度を有するこれらの光ビームの空間分布が、視聴者が見ることができる画像を形成することができ、これによりマイクロLED表示デバイス1はフルカラー表示デバイスとして機能することができる。
本実施形態のマイクロLED表示デバイス1では、回路基板11のボンディング面S1に垂直な方向Dの、金属導電層13の厚さd1がエピタキシャル構造層12の厚さd2よりも大きい。均一な明度を得て電力消費を低減するために、本実施形態のマイクロLED表示デバイス1は、マイクロLEDの半導体層(例えば、第1の型の半導体層121a)を従来の金属グリッドで駆動基板に接続する代わりに、より厚い金属導電層13を利用して、マイクロLEDユニット121を通って流れる電流を導く。この構成は、マイクロLEDユニット121の照明効率を向上させ、均一な明度を得て、電力消費を低減することができる。本実施形態では、金属導電層13が導通及び光反射または集光の機能を有し、これにより副画素間の干渉を防止することができる。従来のマイクロLED表示デバイスに比べると、本実施形態のマイクロLED表示デバイス1は、金属グリッドを利用してマイクロLEDを駆動基板に接続する従来の高解像度の製造工程の許容誤差の問題を解決することができる。その結果、本実施形態のマイクロLED表示デバイス1は、高解像度の要求を満足し、より高い製造歩留まりを有することができる。
図2A~2Gは、本発明の異なる実施形態によるマイクロLED表示デバイスを示す概略図である。
図2Aに示すように、本実施形態のマイクロLED表示デバイス1aの構成要素の配置及び接続は、大部分は前の実施形態のものと同じである。前の実施形態とは異なり、本実施形態のマイクロLED表示デバイス1aでは、エピタキシャル構造層12が、光変換層14に向かって突出する複数の突起部122をさらに含み、突起部122は光変換領域131に個々に対応し、突起部122の各々はマイクロLEDユニット121の1つに対応して配置されている。具体的には、1つの突起部122が1つのマイクロLEDユニット121及び1つの光変換領域131に対応して配置されている。本実施形態では、突起部122が互いに隔離されている。なお、突起部122は、エピタキシャル構造層12の共通の第1の型の半導体層に接続されている。突起部122の配置は、遮光を低減し、エピタキシャル構造層12と金属導電層13との接触面積を増加させ(て電流を増加させ)るためである。より具体的には、光変換部141a及び141bが、それぞれに対応する突起部122に接触する。突起部122の形状は、例えば円錐形状であり、その断面形状は例えば多角形(例えば、台形)である。なお、本発明はこのことに限定されない。例えば、光変換部141a及び141bの形状は逆円錐形にすることができる。突起部122の断面形状が台形であり、光変換部131の断面形状がこれに対応して逆台形である(1つの台形が1つの逆台形に対応する)ので、マイクロLEDユニット121の照明効率を増加させることができる。一部の実施形態では、突起部122の高さが2μmよりも大きい。
本実施形態では、各突起部122の最上部が非ドープで非導電性の半導体層122aであり、各突起部122の最下部がドープされた導電性の半導体層122bである。非ドープの半導体層122aは、例えば非ドープの窒化ガリウム(u-GaN)であり、ドープされた半導体層122bは、第1の型の半導体層121aと同じ材料(例えば、n型窒化ガリウム(n-GaN))を有する。異なる実施形態では、突起部122の全体がドープされた導電性の半導体であり、但し本発明はこのことに限定されない。それに加えて、遮光構造15は第1遮光部151を含むが、第2遮光部152は含まない。
一部の実施形態では、ドープされた半導体層122b(例えば、n-GaN)の導電率が約10-1~103S/cmであり、金属の導電率は約107S/mである。従って、金属製である金属導電層13がマイクロLEDユニット121用の導電性経路を提供する。一部の実施形態では、金属グリッドの厚さが2μm~20μmである。マイクロ表示デバイスは、その用途の要求を満たすために通常は高いリフレッシュレートを必要とするので、高い導電率を有し厚さを増加させた金属導電層13を用いて、エピタキシャル構造層12が電流伝送速度を増加させることを支援し、光反射特性を与え、これにより照明効率を増加させて表示の明度及び品質を向上させる。
一部の実施形態では、光変換部141a及び141bの厚さを2μm以上かつ金属グリッドの厚さ以下にすることができる。一部の実施形態では、突起部122の厚さが2μm~厚さd5であり(2μm≦d4≦d5)、厚さd5は発光層121bと突起部122の最上部との間に規定される。一部の実施形態では、発光層121bと突起部122の最上部との間の厚さd5が4μm以下である。一部の実施形態では、突起部122の最上部の幅W1が0.3μm~7μm(0.3μm≦W1≦7μm)である。一部の実施形態では、突起部122の厚さd4に対する突起部122の最上部の幅W1の比率が0.075~3.5(0.075≦(W1/d4)≦3.5)である。一部の実施形態では、金属グリッドの厚さに対する突起部122の最上部の幅W1の比率が0.015~7(0.015±(W1/金属グリッドの厚さ)≦7)である。
図2Bに示すように、本実施形態のマイクロLED表示デバイス1bの構成要素の配置及び接続は、大部分は前の実施形態のものと同じである。前の実施形態とは異なり、本実施形態のLED表示デバイス1bでは、遮光構造15が第2遮光部152をさらに含む。本実施形態では、第2遮光部152が突起部122の周囲に配置され、各第2遮光部152は隣接する突起部122に接続されている。
図2Cに示すように、本実施形態のマイクロLED表示デバイス1cの構成要素の配置及び接続は、大部分は前の実施形態のものと同じである。前の実施形態とは異なり、本実施形態のLED表示デバイス1cは透明層16を含まない。従って、光変換層14(及び光フィルタ層17)で構成されない光変換領域には何の材料も充填されない。一部の実施形態では、光変換層14(及び光フィルタ層17)で構成されない光変換領域131に、光学透明接着剤(OCA:optical clear adhesive:光学透明接着剤)のような他の材料を充填することができ、但し本発明はこのことに限定されない。
図2Dに示すように、本実施形態のマイクロLED表示デバイス1dの構成要素の配置及び接続は、大部分は前の実施形態のものと同じである。前の実施形態とは異なり、本実施形態のマイクロLED表示デバイス1dでは、光変換領域131の一部分に透明層16’が充填され、光フィルタ層17が青色光フィルタ材料を含有する光フィルタ部171cをさらに含む。それに加えて、透明層16’が光フィルタ部171cにオーバーラップしている。即ち、青色副画素内の光変換領域131も、対応する青色光フィルタ部171cで構成され、これにより波長の光均一性をさらに改善する
図2Eに示すように、本実施形態のマイクロLED表示デバイス1eの構成要素の配置及び接続は、大部分は前の実施形態のものと同じである。前の実施形態とは異なり、本実施形態のマイクロLED表示デバイス1eでは、突起部122がより高背であり、互いに隔離されている。突起部122の各々は、対応するマイクロLEDユニット121の第1の型の半導体層121aに直接接続するが、隣接するマイクロLEDユニット121の第1の型の半導体層121aには接続しない。隣接するマイクロLEDユニット121の第1の型の半導体層121aは互いに隔離され、金属導電層13はより厚い。より高背の突起部122及びより厚い金属導電層13は、電流伝送を改善し、これによりマイクロLEDユニット121の照明効率を増加させることができる。それに加えて、第2遮光部152が絶縁層18に直接接触する。換言すれば、あらゆるマイクロLEDユニット121から発する光が隣接するマイクロLEDユニット121と干渉せず、これにより表示品質をさらに改善する。
図2Fに示すように、本実施形態のマイクロLED表示デバイス1fの構成要素の配置及び接続は、大部分は前の実施形態のものと同じである。前の実施形態とは異なり、本実施形態のマイクロLED表示デバイス1fでは、1つの画素P内の3つの突起部122が互いに接続され(て単一の構成要素(122)を形成す)るが、隣接する2つの画素のそれぞれの画素内にあり、かつ互いに隣接する2つの突起部122は互いに隔離されている。本実施形態では、突起部122が平面S122を有する。この構成は、突起部122と光変換領域131との接触面積を増加させ、これによりアライメント(位置合わせ)精度を増加させて製造歩留まりを向上させることができる。
図2Gに示すように、本実施形態のマイクロLED表示デバイス1gの構成要素の配置及び接続は、大部分は前の実施形態のものと同じである。前の実施形態とは異なり、本実施形態のマイクロLED表示デバイス1gでは、光変換層14が、エピタキシャル構造層12から離れた側の上面S4を含み、上面S4は、金属導電層13におけるエピタキシャル構造層12から離れた側の上面S3と整列している。換言すれば、光変換部141a及び141bの材料を充填するステップでは、光変換部141aと141bの材料及び金属導電層の上面S3が平面を形成する。その後に、対応する光フィルタ部171a及び171b並びに透明層16がこの平面上に形成される。
図2Hに示すように、本実施形態のマイクロLED表示デバイス1hの構成要素の配置及び接続は、大部分は前の実施形態のものと同じである。前の実施形態とは異なり、本実施形態のマイクロLED表示デバイス1hは複数の光反射構造191をさらに含み、光反射構造191は個々のLEDユニット121の側壁上に対応して配置されている。光反射構造191の各々は、対応するマイクロLEDユニット121から発する光を対応する光変換層14に向けて反射するように構成され、これにより光の利用率を増加させる。本実施形態では、各光反射構造191が、対応するマイクロLEDユニット121の発光層121bの周りに配置されている。一部の実施形態では、光反射構造191が、チタニウム(Ti)、クロム(Cr)、アルミニウム(Al)、銅(Cu)、銀(Ag)、金(Au)、またはニッケル(Ni)、あるいはその組合せを含む。ここでは、絶縁層18を用いて光反射構造191を覆って、第1の型の半導体層121aと第2の型の半導体層121cとの短絡を防止することができる。一部の実施形態では、光反射構造191の各々が、対応する第1の型の半導体層121aの周りに配置されるが、第2の型の半導体層121cまでは延びず、従って、絶縁層18を設けて光反射構造191を覆う必要はない、というのは、第1の型の半導体層121aと第2の型の半導体層121cとの間に光反射構造191を介した導通が存在しないからである。一部の実施形態では、光反射構造191の厚さを0.05~0.3μmとすることができる。本実施形態の光反射構造191は、本発明の他の実施形態にも適用することができる。
図2Iに示すように、本実施形態のマイクロLED表示デバイス1iの構成要素の配置及び接続は、大部分は前の実施形態のものと同じである。前の実施形態とは異なり、本実施形態のマイクロLED表示デバイス1iは、光変換領域131の各々の側面に対応して配置された光反射層192をさらに含む。ここでは、光反射層192が、光変換層14に入る光を反射するように構成され、これにより光の利用率を増加させる。本実施形態では、光反射層192が各光変換領域131の側面の周りに配置され、各光変換領域131の側面から各突起部122の外面まで延びる。本実施形態では、光反射層192の反射率が金属導電層13の反射率よりも大きい。一部の実施形態では、光反射層192が、チタニウム(Ti)、クロム(Cr)、アルミニウム(Al)、または銀(Ag)、あるいはその組合せを含む。一部の実施形態では、光反射層192の厚さを0.05~0.3μmとすることができる。本実施形態の光反射層192は、本発明の他の実施形態にも適用することができる。
要約すれば、本発明のLED表示デバイスは、従来の金属グリッドを利用する代わりに、より厚い金属導電層を利用して、各マイクロLEDユニットを通って流れる電流を導通させて、これらのマイクロLEDユニットを駆動基板に電気接続する。この構成は、マイクロLEDユニットの照明効率を向上させ、均一な明度を得て、電力消費を低減することができる。金属グリッドを利用してマイクロLEDユニットを駆動基板に電気接続する従来技術に比べると、本発明のマイクロLED表示デバイスは、高解像度の要求を満足すると共により高い製造歩留まりを有することができる。
本発明は特定の実施形態を参照しながら説明してきたが、この説明は限定的意味で解釈されることを意味しない。開示した実施形態の種々の変更並びに代案の実施形態は、当業者にとって明らかである。従って、添付した特許請求の範囲は、本発明の真の範囲内に入るすべての変更をカバーすることを目論んでいる。
本発明のマイクロLED表示デバイスは、ディスプレイ技術の分野において応用することができる。
1、1a、1b、1c、1d、1e、1f、1h、1i:マイクロLED表示デバイス
11:回路基板
12:エピタキシャル構造層
13:金属導電層
14:光変換層
15:遮光構造
16、16’:透明層
17:光フィルタ層
18:絶縁層
111:第1電極
112:第2電極
113:ソルダーレジスト層
121:マイクロLEDユニット
121a:第1型半導体層
121b:発光層
121c:第2型半導体層
122:突起部
122a:非ドープ半導体層
122b:ドープ半導体層
131:光変換領域
141a、141b:光変換部
151:第1遮光部
152:第2遮光部
171a、171b、171c:光フィルタ部
191:光反射構造
192:光反射層
C:導電部材
D:向き
U:凹部
U1:底部
W1:幅
d1、d2、d3、d4、d5:厚さ
S1:ボンディング面
S3:上面
S4:最上面
S21:第1面
S22:第2面
S122:平面

Claims (7)

  1. ボンディング面を有する回路基板と、
    前記回路基板の前記ボンディング面上に配置されたエピタキシャル構造層と、
    金属導電層と、
    光変換層と、
    前記金属導電層上に配置された複数の第1遮光部を有する遮光構造とを備えたマイクロLED表示デバイスであって、
    前記エピタキシャル構造層は、前記回路基板に対面する第1面と、前記回路基板から離れた側の第2面と、互いに分離された複数のマイクロLEDユニットとを備え、該マイクロLEDユニットは、前記第1面を含み、前記第1面上で互いに分離され、前記回路基板に電気接続され、前記回路基板は前記マイクロLEDユニットを制御して発光させ、
    前記金属導電層は、前記エピタキシャル構造層の前記第2面上に配置されて前記エピタキシャル構造層に直接接触し、前記金属導電層は、互いに分離された複数の光変換領域を規定し、該光変換領域の各々は前記マイクロLEDユニットの1つに対応し、
    前記光変換層は、前記光変換領域の一部分に配置され、前記対応するマイクロLEDユニットから発する光の波長を変換するように構成され、
    前記第1遮光部は前記光変換領域を覆わず、
    前記回路基板の前記ボンディング面に垂直な方向の、前記金属導電層の厚さが前記エピタキシャル構造層の厚さよりも大きい、マイクロLED表示デバイス。
  2. 前記光変換領域の各々が、前記金属導電層内に形成されたスルーホールである、請求項1に記載のマイクロLED表示デバイス。
  3. 前記遮光構造が、前記エピタキシャル構造層の前記第2面上に配置された複数の第2遮光部をさらに備え、該第2遮光部は、前記エピタキシャル構造層の領域における、前記マイクロLEDユニットの部分に対応する部分を露出させる、請求項1に記載のマイクロLED表示デバイス。
  4. 前記エピタキシャル構造層が、前記光変換層に向かって突出する複数の突起部をさらに備え、該突起部の各々が、前記マイクロLEDユニットの1つに対応して配置されている、請求項1に記載のマイクロLED表示デバイス。
  5. 同一画素内の前記突起部が互いに接続され、隣接する2つの画素のそれぞれの画素内にあり、かつ互いに隣接する2つの前記突起部が互いに隔離されている、請求項4に記載のマイクロLED表示デバイス。
  6. 各々が前記マイクロLEDユニットの側壁上に対応して配置された複数の光反射構造をさらに備え、該光反射構造の各々が、前記対応するマイクロLEDユニットから発する光を反射するように構成されている、請求項1に記載のマイクロLED表示デバイス。
  7. 前記光変換領域の各々の側面に対応して配置された光反射層をさらに備えている、請求項1に記載のマイクロLED表示デバイス。
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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2021012251A (ja) 2019-07-04 2021-02-04 シャープ福山セミコンダクター株式会社 画像表示素子
JP2021019015A (ja) 2019-07-17 2021-02-15 シャープ福山セミコンダクター株式会社 マイクロ発光素子及び画像表示素子
CN112909038A (zh) 2021-03-22 2021-06-04 厦门大学 超高分辨率MicroLED显示屏
JP2021089427A (ja) 2019-12-04 2021-06-10 ▲ナイ▼創▲顕▼示科技股▲ふん▼有限公司 マイクロ発光ダイオードディスプレイパネル

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI725691B (zh) * 2019-12-30 2021-04-21 錼創顯示科技股份有限公司 微型發光元件顯示裝置
TWI709222B (zh) * 2019-12-30 2020-11-01 錼創顯示科技股份有限公司 微型發光元件顯示裝置
TWI667643B (zh) * 2018-04-18 2019-08-01 英屬開曼群島商錼創科技股份有限公司 微型發光二極體顯示面板
TWI790405B (zh) * 2019-06-21 2023-01-21 錼創顯示科技股份有限公司 半導體材料基板、微型發光二極體面板及其製造方法
TWI720772B (zh) * 2020-01-08 2021-03-01 錼創顯示科技股份有限公司 基板和顯示裝置
TWI736455B (zh) * 2020-10-26 2021-08-11 錼創顯示科技股份有限公司 微型發光二極體顯示器

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2021012251A (ja) 2019-07-04 2021-02-04 シャープ福山セミコンダクター株式会社 画像表示素子
JP2021019015A (ja) 2019-07-17 2021-02-15 シャープ福山セミコンダクター株式会社 マイクロ発光素子及び画像表示素子
JP2021089427A (ja) 2019-12-04 2021-06-10 ▲ナイ▼創▲顕▼示科技股▲ふん▼有限公司 マイクロ発光ダイオードディスプレイパネル
CN112909038A (zh) 2021-03-22 2021-06-04 厦门大学 超高分辨率MicroLED显示屏

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