JP7380596B2 - 光学特性解析装置及びプログラム - Google Patents
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Description
・高意匠の顔料では、正反射近傍でのみ高輝度、高彩度等の物性が発現する場合がある、
・光輝材の配光成分は、塗膜水平方向に集中し、その反射光は正反射近傍に到達する、
等の理由から、発明者らは、正反射近傍の表面測定を行うのが良いことを見い出した。
(1)単一の照明装置と、
表層部に光輝材含有層を有する被測定物に対して前記照明装置から照明光が照射されたときの略正反射方向の反射光を受光して画像データに変換する二次元の光電変換素子と、
前記画像データに対し、前記被測定物の表面のみの正反射成分を算出する算出手段と、
前記算出手段により算出された前記被測定物の表面のみの正反射成分を、前記画像データの全体から差し引くことにより、前記光輝材の反射成分を抽出する抽出手段と、
を備え、
前記被測定物への前記照明装置による照度分布において照度が同じと見なせる領域が照度毎に存在し、
照度毎の各領域から得られるそれぞれ複数の画像データには、光輝材の反射成分が存在しない画像データが含まれており、
前記算出手段は、1つの領域における光輝材の反射成分が存在しない画像データから、その領域における被測定物の表面のみの正反射成分を求める処理を各領域について行い、得られた領域毎の被測定物の表面のみの正反射成分を基に、前記被測定物の表面のみの正反射成分を算出することを特徴とする光学特性解析装置。
(2)単一の照明装置と、
表層部に光輝材含有層を有する被測定物に対して前記照明装置から照明光が照射されたときの略正反射方向の反射光を受光して画像データに変換する二次元の光電変換素子と、
前記画像データに対し、前記被測定物の表面のみの正反射成分を算出する算出手段と、
前記算出手段により算出された前記被測定物の表面のみの正反射成分を、前記画像データの全体から差し引くことにより、前記光輝材の反射成分を抽出する抽出手段と、
を備え、
前記被測定物への前記照明装置による照度分布において照度が同じと見なせる領域が照度毎に存在し、
照度毎の各領域から得られるそれぞれ複数の画像データには、光輝材の反射成分が存在しない画像データが含まれており、
前記算出手段は、前記被測定物への前記照明装置による照度分布に合わせた所定のモデル関数によってフィッティングする第1の処理と、1つの領域における光輝材の反射成分が存在しない画像データから、その領域における被測定物の表面のみの正反射成分を求める処理を各領域について行う第2の処理を、前記画像データの全体に対して行うことにより、前記被測定物の表面のみの正反射成分を算出することを特徴とする光学特性解析装置。
(3)前記照明装置は特定の照明パターンを表示可能である前項1または2に記載の光学特性解析装置。
(4)前記算出手段は、前記各領域から得られるそれぞれ複数の画像データとして輝度を求め、輝度の最小値を当該領域における被測定物の表面のみの正反射成分とする前項1~3のいずれかに記載の光学特性解析装置。
(5)前記算出手段は、前記各領域から得られるそれぞれ複数の画像データとして輝度を求め、求めた輝度情報に対してフーリエ変換を行うことにより得られる周波数領域のデータのうち、所定の閾値以下の周波数成分を有するものを抽出し、抽出されたデータを逆フーリエ変換することにより得られるデータを、当該領域における被測定物の表面のみの正反射成分とする前項1~3のいずれかに記載の光学特性解析装置。
(6)前記算出手段は、前記被測定物の表面のみの正反射成分の算出に用いられる画像データの値が、所定の分散内に収まらない小さい値である場合、その画像データの値については、前記被測定物の表面のみの正反射成分の算出には用いない前項1~5のいずれかに記載の光学特性解析装置。
(7)前記算出手段は、前記被測定物の表面のみの正反射成分の算出に用いられる画像データの値が所定の閾値よりも小さい場合、その画像データの値については、前記被測定物の表面のみの正反射成分の算出には用いない前項1~5のいずれかに記載の光学特性解析装置。
(8)前記算出手段は、前記被測定物の表面のみの正反射成分の算出に用いられる画像データの値が、所定の分散内に収まらない大きい値である場合、その画像データの値については、前記被測定物の表面のみの正反射成分の算出には用いない前項1~7のいずれかに記載の光学特性解析装置。
(9)前記算出手段は、前記被測定物の表面のみの正反射成分の算出に用いられる画像データの値が所定の閾値を超える場合、その画像データの値については、前記被測定物の表面のみの正反射成分の算出には用いない前項1~7のいずれかに記載の光学特性解析装置。
(10)前記照明装置による照度分布に合わせた所定のモデル関数は0次以上の多項式関数である前項2に記載の光学特性解析装置。
(11)前記照明装置による照度分布に合わせた所定のモデル関数は周期関数である前項2に記載の光学特性解析装置。
(12)前記照明装置による照度分布に合わせた所定のモデル関数は指数関数である前項2に記載の光学特性解析装置。
(13)前記照明装置による照度分布に合わせた所定のモデル関数はガウス関数である前項2に記載の光学特性解析装置。
(14)表層部に光輝材含有層を有する被測定物に対して、単一の照明装置から照明光が照射されたときの反射光を光電変換素子で受光することにより得られた画像データに基づいて、前記被測定物の表面のみの正反射成分を算出する算出ステップと、
前記算出ステップにより算出された前記被測定物の表面のみの正反射成分を、前記画像データから差し引いて、前記光輝材の反射成分を抽出する抽出ステップと、
をコンピュータに実行させ、
前記被測定物への前記照明装置による照度分布において照度が同じと見なせる領域が照度毎に存在し、
照度毎の各領域から得られるそれぞれ複数の画像データには、光輝材の反射成分が存在しない画像データが含まれており、
前記算出ステップでは、1つの領域における光輝材の反射成分が存在しない画像データから、その領域における被測定物の表面のみの正反射成分を求める処理を各領域について行い、得られた領域毎の被測定物の表面のみの正反射成分を基に、前記被測定物の表面のみの正反射成分を算出する処理を前記コンピュータに実行させるためのプログラム。
(15)表層部に光輝材含有層を有する被測定物に対して、単一の照明装置から照明光が照射されたときの反射光を光電変換素子で受光することにより得られた画像データに基づいて、前記被測定物の表面のみの正反射成分を算出する算出ステップと、
前記算出ステップにより算出された前記被測定物の表面のみの正反射成分を、前記画像データから差し引いて、前記光輝材の反射成分を抽出する抽出ステップと、
をコンピュータに実行させ、
前記被測定物への前記照明装置による照度分布において照度が同じと見なせる領域が照度毎に存在し、
照度毎の各領域から得られるそれぞれ複数の画像データには、光輝材の反射成分が存在しない画像データが含まれており、
前記算出ステップでは、前記被測定物への前記照明装置による照度分布に合わせた所定のモデル関数によってフィッティングする第1の処理と、1つの領域における光輝材の反射成分が存在しない画像データから、その領域における被測定物の表面のみの正反射成分を求める処理を各領域について行う第2の処理を、前記画像データの全体に対して行うことにより、前記被測定物の表面のみの正反射成分を算出する処理を前記コンピュータに実行させるためのプログラム。
また、被測定物への前記照明装置による照度分布において照度が同じと見なせる領域が照度毎に存在し、照度毎の各領域から得られるそれぞれ複数の画像データには、光輝材の反射成分が存在しない画像データが含まれており、1つの領域における光輝材の反射成分が存在しない画像データから、その領域における被測定物の表面のみの正反射成分を求める処理を各領域について行い、得られた領域毎の被測定物の表面のみの正反射成分を基に、被測定物の表面のみの正反射成分を確実に算出することができる。
前項(2)に記載の発明によれば、被測定物への前記照明装置による照度分布において照度が同じと見なせる領域が照度毎に存在し、照度毎の各領域から得られるそれぞれ複数の画像データには、光輝材の反射成分が存在しない画像データが含まれており、被測定物への照明装置による照度分布に合わせた所定のモデル関数によってフィッティングする第1の処理と、1つの領域における光輝材の反射成分が存在しない画像データから、その領域における被測定物の表面のみの正反射成分を求める処理を各領域について行う第2の処理を、画像データの全体に対して行うことにより、被測定物の表面のみの正反射成分を精度良く算出することができる。
また、被測定物への前記照明装置による照度分布において照度が同じと見なせる領域が照度毎に存在し、照度毎の各領域から得られるそれぞれ複数の画像データには、光輝材の反射成分が存在しない画像データが含まれており、算出ステップでは、1つの領域における光輝材の反射成分が存在しない画像データから、その領域における被測定物の表面のみの正反射成分を求める処理を各領域について行い、得られた領域毎の被測定物の表面のみの正反射成分を基に、被測定物の表面のみの正反射成分を算出する処理をコンピュータに実行させることができる。
前項(15)に記載の発明によれば、被測定物への前記照明装置による照度分布において照度が同じと見なせる領域が照度毎に存在し、照度毎の各領域から得られるそれぞれ複数の画像データには、光輝材の反射成分が存在しない画像データが含まれており、算出ステップでは、被測定物への照明装置による照度分布に合わせた所定のモデル関数によってフィッティングする第1の処理と、1つの領域における光輝材の反射成分が存在しない画像データから、その領域における被測定物の表面のみの正反射成分を求める処理を各領域について行う第2の処理を、画像データの全体に対して行うことにより、被測定物の表面のみの正反射成分を算出する処理をコンピュータに実行させることができる。
[実施形態1]
照明装置1に被測定物100からの距離に比べ十分に小さい点を表示することで被測定物100を照明するものとする。照明装置1として、被測定物100からの距離に比べ十分に小さい光源を用いる場合も同様である。
(実施形態1-1)
この処理は、図2のステップS2の処理、つまり被測定物100への照明装置1による照度分布に合わせた所定のモデル関数によって画像データをフィッティングすることにより、被測定物100の表面のみの正反射成分の算出を行うものである。
(実施形態1-2)
この処理は、図2のステップS3の処理、つまり被測定物100への照明装置1による照度分布において同等の照度を持つと見なせる場所毎に画像データを解析することにより行うものである。
(実施形態1-3)
上述した実施形態1-2では、同心円上での輝度の最小値を被測定物100の表面のみの正反射成分とした。しかし、被測定物100の表面に傷、汚れ、凹凸等が存在している場合、反射光の輝度は小さくなることから、同心円上での輝度の最小値も本来の被測定物100の表面のみの正反射成分よりも小さくなり、正反射成分の算出精度が低下する。
(実施形態1-4)
この例では、光輝材110による反射成分を除外した状態で、被測定物100の表面のみの正反射成分を算出する。
(実施形態1-5)
この例では、上述した実施形態1-2の処理(図2のステップS3の処理)と、実施形態1-1の処理(図2のステップS2の処理)を組み合わせて、被測定物100の表面のみの正反射成分を算出する。
[実施形態2]
実施形態1では、照明装置1に被測定物100からの距離に比べ十分に小さい点を表示することで被測定物100を照明するものとした。これに対し、本実施形態2では、実施形態1と同じ光学系で、照明装置1に被測定物100からの距離に比べ十分に細い線を表示することで被測定物100を照明する。照明装置1として被測定物100からの距離に比べ十分に細い線状光源を用いる場合も同様である。
(実施形態2-1)
この例では、実施形態1-1と同様に、図2のステップS2の処理、つまり被測定物100への照明装置1による照度分布に合わせた所定のモデル関数によって画像データをフィッティングすることにより、被測定物100の表面のみの正反射成分の算出を行うものである。
(実施形態2-2)
この処理は、実施形態1-2と同じく、図2のステップS3の処理、つまり被測定物100への照明装置1による照度分布において同等の照度を持つと見なせる場所毎に画像データを解析することにより行うものである。
(実施形態2-3)
この例は、実施形態1-3と同様に、被測定物100の表面に傷、汚れ、凹凸等が存在している場合に、その影響を排除して、被測定物100の表面のみの正反射成分の算出精度を向上させるものである。
(実施形態2-4)
この例では、実施形態1-4と同様に、光輝材110による反射成分を除外した状態で、被測定物100の表面のみの正反射成分を算出する。
(実施形態2-5)
この例では、上述した実施形態2-2の処理と、実施形態2-1の処理を組み合わせて、被測定物100の表面のみの正反射成分を算出する。
[実施形態3]
実施形態1では小さい点を表示した照明装置1を使用し、実施形態2では細い線を表示した照明装置1を使用する場合の、被測定物100の表面のみの正反射成分の算出処理について説明した。
(実施形態3-1)
この例では、実施形態2-1と同様に、図2のステップS2の処理、つまり被測定物100への照明装置1による照度分布に合わせた所定のモデル関数によって画像データをフィッティングすることにより、被測定物100の表面のみの正反射成分の算出を行うものである。
(実施形態3-2)
この処理は、実施形態2-2と同じく、図2のステップS3の処理、つまり被測定物100への照明装置1による照度分布において同等の照度を持つと見なせる場所毎に画像データを解析することにより行うものである。
(実施形態3-3)
なお、実施形態3-2において、被測定物100の表面に傷、汚れ、凹凸等が存在している場合に、その影響を排除して、被測定物100の表面のみの正反射成分の算出精度を向上させるために、実施形態2-3と同様の処理を実行しても良い。
2 対物レンズ
3 光電変換素子
4 演算部
5 測定結果表示部
100 測定対象物
100a 被測定部位
101 光輝材含有層
102 クリア層
110 光輝材
Claims (15)
- 単一の照明装置と、
表層部に光輝材含有層を有する被測定物に対して前記照明装置から照明光が照射されたときの略正反射方向の反射光を受光して画像データに変換する二次元の光電変換素子と、
前記画像データに対し、前記被測定物の表面のみの正反射成分を算出する算出手段と、
前記算出手段により算出された前記被測定物の表面のみの正反射成分を、前記画像データの全体から差し引くことにより、前記光輝材の反射成分を抽出する抽出手段と、
を備え、
前記被測定物への前記照明装置による照度分布において照度が同じと見なせる領域が照度毎に存在し、
照度毎の各領域から得られるそれぞれ複数の画像データには、光輝材の反射成分が存在しない画像データが含まれており、
前記算出手段は、1つの領域における光輝材の反射成分が存在しない画像データから、その領域における被測定物の表面のみの正反射成分を求める処理を各領域について行い、得られた領域毎の被測定物の表面のみの正反射成分を基に、前記被測定物の表面のみの正反射成分を算出することを特徴とする光学特性解析装置。 - 単一の照明装置と、
表層部に光輝材含有層を有する被測定物に対して前記照明装置から照明光が照射されたときの略正反射方向の反射光を受光して画像データに変換する二次元の光電変換素子と、
前記画像データに対し、前記被測定物の表面のみの正反射成分を算出する算出手段と、
前記算出手段により算出された前記被測定物の表面のみの正反射成分を、前記画像データの全体から差し引くことにより、前記光輝材の反射成分を抽出する抽出手段と、
を備え、
前記被測定物への前記照明装置による照度分布において照度が同じと見なせる領域が照度毎に存在し、
照度毎の各領域から得られるそれぞれ複数の画像データには、光輝材の反射成分が存在しない画像データが含まれており、
前記算出手段は、前記被測定物への前記照明装置による照度分布に合わせた所定のモデル関数によってフィッティングする第1の処理と、1つの領域における光輝材の反射成分が存在しない画像データから、その領域における被測定物の表面のみの正反射成分を求める処理を各領域について行う第2の処理を、前記画像データの全体に対して行うことにより、前記被測定物の表面のみの正反射成分を算出することを特徴とする光学特性解析装置。 - 前記照明装置は特定の照明パターンを表示可能である請求項1または2に記載の光学特性解析装置。
- 前記算出手段は、前記各領域から得られるそれぞれ複数の画像データとして輝度を求め、輝度の最小値を当該領域における被測定物の表面のみの正反射成分とする請求項1~3のいずれかに記載の光学特性解析装置。
- 前記算出手段は、前記各領域から得られるそれぞれ複数の画像データとして輝度を求め、求めた輝度情報に対してフーリエ変換を行うことにより得られる周波数領域のデータのうち、所定の閾値以下の周波数成分を有するものを抽出し、抽出されたデータを逆フーリエ変換することにより得られるデータを、当該領域における被測定物の表面のみの正反射成分とする請求項1~3のいずれかに記載の光学特性解析装置。
- 前記算出手段は、前記被測定物の表面のみの正反射成分の算出に用いられる画像データの値が、所定の分散内に収まらない小さい値である場合、その画像データの値については、前記被測定物の表面のみの正反射成分の算出には用いない請求項1~5のいずれかに記載の光学特性解析装置。
- 前記算出手段は、前記被測定物の表面のみの正反射成分の算出に用いられる画像データの値が所定の閾値よりも小さい場合、その画像データの値については、前記被測定物の表面のみの正反射成分の算出には用いない請求項1~5のいずれかに記載の光学特性解析装置。
- 前記算出手段は、前記被測定物の表面のみの正反射成分の算出に用いられる画像データの値が、所定の分散内に収まらない大きい値である場合、その画像データの値については、前記被測定物の表面のみの正反射成分の算出には用いない請求項1~7のいずれかに記載の光学特性解析装置。
- 前記算出手段は、前記被測定物の表面のみの正反射成分の算出に用いられる画像データの値が所定の閾値を超える場合、その画像データの値については、前記被測定物の表面のみの正反射成分の算出には用いない請求項1~7のいずれかに記載の光学特性解析装置。
- 前記照明装置による照度分布に合わせた所定のモデル関数は0次以上の多項式関数である請求項2に記載の光学特性解析装置。
- 前記照明装置による照度分布に合わせた所定のモデル関数は周期関数である請求項2に記載の光学特性解析装置。
- 前記照明装置による照度分布に合わせた所定のモデル関数は指数関数である請求項2に記載の光学特性解析装置。
- 前記照明装置による照度分布に合わせた所定のモデル関数はガウス関数である請求項2に記載の光学特性解析装置。
- 表層部に光輝材含有層を有する被測定物に対して、単一の照明装置から照明光が照射されたときの反射光を光電変換素子で受光することにより得られた画像データに基づいて、前記被測定物の表面のみの正反射成分を算出する算出ステップと、
前記算出ステップにより算出された前記被測定物の表面のみの正反射成分を、前記画像データから差し引いて、前記光輝材の反射成分を抽出する抽出ステップと、
をコンピュータに実行させ、
前記被測定物への前記照明装置による照度分布において照度が同じと見なせる領域が照度毎に存在し、
照度毎の各領域から得られるそれぞれ複数の画像データには、光輝材の反射成分が存在しない画像データが含まれており、
前記算出ステップでは、1つの領域における光輝材の反射成分が存在しない画像データから、その領域における被測定物の表面のみの正反射成分を求める処理を各領域について行い、得られた領域毎の被測定物の表面のみの正反射成分を基に、前記被測定物の表面のみの正反射成分を算出する処理を前記コンピュータに実行させるためのプログラム。 - 表層部に光輝材含有層を有する被測定物に対して、単一の照明装置から照明光が照射されたときの反射光を光電変換素子で受光することにより得られた画像データに基づいて、前記被測定物の表面のみの正反射成分を算出する算出ステップと、
前記算出ステップにより算出された前記被測定物の表面のみの正反射成分を、前記画像データから差し引いて、前記光輝材の反射成分を抽出する抽出ステップと、
をコンピュータに実行させ、
前記被測定物への前記照明装置による照度分布において照度が同じと見なせる領域が照度毎に存在し、
照度毎の各領域から得られるそれぞれ複数の画像データには、光輝材の反射成分が存在しない画像データが含まれており、
前記算出ステップでは、前記被測定物への前記照明装置による照度分布に合わせた所定のモデル関数によってフィッティングする第1の処理と、1つの領域における光輝材の反射成分が存在しない画像データから、その領域における被測定物の表面のみの正反射成分を求める処理を各領域について行う第2の処理を、前記画像データの全体に対して行うことにより、前記被測定物の表面のみの正反射成分を算出する処理を前記コンピュータに実行させるためのプログラム。
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