JP7367433B2 - 眼科撮影装置 - Google Patents

Description

本開示は、眼科撮影装置に関する。

眼科分野において、被検眼の組織のＯＣＴデータを撮影する装置である、光干渉断層計（Optical Coherence Tomography：ＯＣＴ）が広く利用されている。このような装置の一種として、ＯＣＴ光学系の他に、眼底正面画像を撮影する光学系（例えば、観察光学系）を備えた装置が知られている。眼底正面画像は、例えば、ＯＣＴデータの取得位置を撮影前に計画したり、撮影後に確認したりするために利用される（特許文献１参照）。

眼科分野のＯＣＴ撮影においては、黄斑－乳頭領域等の眼底中心部における組織の構造および厚み等が、診断・観察における関心の中心である。しかし、近年では、眼底中心部だけでなく、眼底の周辺部に対する関心が高まりつつある。これに対し、ＯＣＴデータの撮影範囲を広角化するための光学系が、例えば、本件発明者等によって提案されている（特許文献２参照）。

特開２０１４－５７８９９号公報 特開２０１９－２５２５５号公報

ＯＣＴ光学系と眼底正面画像を撮影する光学系との共通光路上に、非対称性を持つ光学素子が配置される場合がある。この場合、２つの光学系の間における歪曲の相違が、光学素子に起因して生じる場合があること、を本発明者は見出した。歪曲の相違の影響は、撮影範囲の中心部と比べて、周辺部において強調されやすい。その結果、正面画像の座標とＯＣＴデータの取得位置とが、撮影範囲の全体にわたって精度良く対応付けられていない可能性があった。このような撮影範囲の全体にわたる対応精度の問題については、画角が広がるほどに明確となるところ、ＯＣＴ撮影が主に眼底中心部の撮影に利用される従来の状況下では看過されていた。

本開示は、従来技術の問題点に鑑みてなされたものであり、正面画像の座標とＯＣＴデータの取得位置との対応精度が改善された眼科撮影装置を提供すること、を技術課題とする。

本開示の第１態様に係る眼科撮影装置は、被検眼の組織に照射される測定光と参照光とのスペクトル干渉信号に基づいて前記組織のＯＣＴデータを取得するためのＯＣＴ光学系であって、前記組織上で前記測定光を走査するための光スキャナを有するＯＣＴ光学系と、
前記組織の正面画像を取得するための第２光学系と、前記ＯＣＴ光学系と前記第２光学系との共通光路上に配置されていることによって、前記ＯＣＴ光学系と前記第２光学系との間に歪曲の相違を生じさせる、非対称性を持つ光学素子と、前記光スキャナにおける振り角毎にあらかじめ定められた、前記振り角と前記正面画像上の座標との対応関係であって前記歪曲の相違に応じた非線形な対応関係、を表す対応情報に基づいて、指定されたスキャンラインに対して前記振り角を制御することによって、又は、前記振り角の値と前記対応情報とに基づいてスキャンラインを示す曲線の前記正面画像上の位置情報を取得し更に前記曲線を前記正面画像上に重畳表示することによって、前記正面画像の座標上に前記ＯＣＴデータの取得位置を対応付ける演算制御手段と、を備える。

本開示によれば、正面画像の座標とＯＣＴデータの取得位置との対応精度が改善される。

実施例に係る眼科撮影装置の概略構成を示した図である。 眼科撮影装置の主要な光学系を示した図である。 対応情報を説明するための図である。 眼科撮影装置の動作を示したフローチャートである。 スキャンラインを示すグラフィックが重畳表示される眼底正面画像を示した図である。 測定光によってラスタースキャンされる領域を示す第２のグラフィックが重畳表示される眼底正面画像を示した図である。 撮影結果の確認画面の一例を示した図である。 ３次元モデルを示した図である。

＜概要＞
本開示の実施形態を説明する。なお、以下の＜＞にて分類された項目は、独立または関連して利用されうる。

初めに、実施形態に係る眼科撮影装置を説明する。眼科撮影装置は、ＯＣＴ光学系と、第２光学系と、演算制御手段（演算制御部）と、を有する。

＜ＯＣＴ光学系＞
本実施形態において、ＯＣＴ光学系は、被検眼の組織のＯＣＴデータを取得するために利用される。ＯＣＴ光学系は、被検眼の組織に照射される測定光と参照光とのスペクトル干渉信号を検出する。ＯＣＴデータは、スペクトル干渉信号を処理することによって、生成および取得される。

また、ＯＣＴ光学系は、光分割部、走査部（光スキャナともいう）、検出器のうち少なくともいずれかを備えてもよい。光分割部は、ＯＣＴ光源からの光を測定光と参照光とに分割する。走査部は、被検眼の組織上で測定光を走査するためのデバイスである。走査部は、互いに交差する２方向に、測定光を走査可能であってもよい。例えば、２方向の各一方に測定光を走査する２つのガルバノミラーを、走査部として備えていてもよい。検出器は、被検眼に導かれた測定光と、参照光と、を受光することによって、スペクトル干渉信号を出力する。ＯＣＴ光学系は、被検眼の組織上であらかじめ定められた複数のスキャンラインに沿って、測定光を走査し、複数のスキャンラインのそれぞれのＯＣＴデータを撮影してもよい。スキャンラインは、検者からの指示に基づいて任意の位置に設定されてもよい。また、あらかじめ定められた複数のスキャンパターンのうちいずれかが選択されることで、スキャンパターンと対応するスキャンラインが設定されてもよい。スキャンパターンとしては、ライン、クロス、マルチ、マップ、等の種々のものが知られている。

＜第２光学系＞
第２光学系は、被検眼の組織の正面画像を取得するために利用される。第２光学系は、第２光源からの第２光を、被検眼の組織に照射し、第２光の反射光に基づいて、正面画像を取得してもよい。正面画像は、例えば、ＯＣＴデータの取得位置の計画、設定、および、確認の少なくともいずれかに利用されてもよい。このとき、制御部によって、ＯＣＴデータの取得位置が正面画像上に重畳され、表示されてもよい。

第２光学系は、第２光源と、検出器と、を少なくとも有する。第２光学系は、走査型の光学系であってもよいし、非走査型の光学系であってもよい。第２光と、ＯＣＴ光源からの光との波長帯は、互いに異なっていてもよい。これにより、ＯＣＴ光学系の光路（第１光路）と第２光学系の光路（第２光路）とは、ダイクロイックミラーによって１つの光路に結合されてもよい。これにより、ダイクロイックミラーによって、ＯＣＴ光学系の光軸と、第２光学系の光軸と、が略一致されて、被検眼へ導かれる。この場合、ダイクロイックミラーと、被検眼との間に、ＯＣＴ光学系の光路と第２光学系との間で共用される、対物光学系が配置されてもよい。また、ＯＣＴ光学系におけるＯＣＴ光源および検出器と、第２光学系における第２光源および検出器と、は、それぞれの独立光路に配置されていてもよい。

＜ＯＣＴデータの取得位置と、正面画像の座標と、の対応付け＞
ところで、ダイクロイックミラーは、光軸に対して傾斜配置されていることによって、非対称性を持つ光学素子の１つとなる。ダイクロイックミラーによって、ＯＣＴ光学系および第２光学系の間において歪曲の相違が生じ得る。

例えば、ダイクロイックミラーは、ＯＣＴ光学系および第２光学系の少なくとも一方に対し、光軸に関して非対称な歪曲を生じさせる場合がある。この場合、ＯＣＴ光学系における走査部の振り角と画角との関係、および、正面画像上の座標と画角との関係、とのいずれかが、非線形な関係となる。結果、ＯＣＴ光学系における走査部の振り角と、正面画像上の座標との関係が非線形な関係になる。この場合、撮影範囲の中心部において正面画像上の座標とＯＣＴデータの取得位置とを線形的に対応付けてしまうと、周辺部においては、実際のＯＣＴデータの取得位置と、正面画像上において示される取得位置との間に、大きな誤差が生じてしまう。

なお、近年では、広画角に撮影可能なＯＣＴが提案されているが、この種の装置では、いっそうのこと、上記の歪曲の相違の影響が問題となりやすくなる。ここでいう広画角とは、黄斑―乳頭間に対して周辺側に位置する眼底周辺部が、ＯＣＴ光学系における撮影範囲に含まれていることをいう。ここで、標準的な成人の眼底では、黄斑－乳頭間の網膜上での距離は約１４ｍｍと言われており、水平方向の撮影画角にして約４７°に換算される。つまり、ＯＣＴ光学系における水平方向の撮影画角が４７°よりも広い場合において、歪曲の相違の影響が、問題化しやすくなる。

また、例えば、ダイクロイックミラーに起因するＯＣＴ光学系および第２光学系の間の光軸ズレによって、歪曲の相違が生じる場合も考えられる。

これに対し、本実施例の演算制御部は、ダイクロイックミラーのような非対称性を持つ光学素子に起因するＯＣＴ光学系と第２光学系との間の歪曲の相違を考慮して、正面画像の座標上にＯＣＴデータの取得位置を対応付ける。これにより、正面画像上の座標と、ＯＣＴデータの取得位置とが、各位置において、良好に対応付され得る。

この場合において、演算制御部は、あらかじめ定められた対応情報に基づいて、正面画像の座標上にＯＣＴデータの取得位置を対応付けてもよい。このとき、正面画像の座標上にＯＣＴデータの取得位置とが、対応情報に基づいて、非線形に対応付けられてもよい。

対応情報は、例えば、光スキャナにおける振り角毎にあらかじめ定められた、振り角と正面画像上の座標との対応関係を表す。対応情報は、振り角と正面画像上の座標との非線形な対応関係を示すものであってもよい。

より詳細には、対応情報は、次のような第１対応情報および第２対応情報の組み合わせであってもよい例えば、第１対応情報は、光スキャナにおける振り角毎にあらかじめ定められた、振り角と画角との対応関係を表す情報である。また、第２対応情報は、正面画像上の座標と画角との対応関係を表す情報である。第１対応情報および第２対応情報の組み合わせによって、画角を介して、光スキャナにおける振り角と正面画像の座標とが対応付け可能となる。

なお、ＯＣＴ光学系と第２光学系との間における倍率色収差も、歪曲の相違に影響を与える。これに対し、上記の対応情報を利用することによって、倍率色収差の影響についてもまとめて補正されてもよい。なお、倍率色収差は、対物光学系が屈折系である場合において、主に、対物光学系に起因して生じ得る。

なお、本実施形態において、各対応情報における画角は、互いに同一の位置を基準（原点）としている。例えば、ＯＣＴ光学系および第２光学系における共通光路上の一点を基準とした値であってもよい。例えば、射出瞳の位置が、基準であってもよい。

＜正面画像上へのＯＣＴデータ取得位置の重畳表示＞
演算制御部は、上記のような対応付けの結果として、正面画像上にＯＣＴデータの取得位置を示すグラフィックを重畳表示させてもよい。グラフィックの態様は、スキャン手法に応じて種々の態様の中から適宜選択され得る。例えば、スキャンポイントを示す点状のグラフィック、スキャンラインを示す線状のグラフィック、マップスキャンの範囲を示す２次元図形のグラフィック等のうちいずれかが、適宜適用されてもよい。線状のグラフィック、および、２次元図形のグラフィックによって、被検眼の組織上における測定光の軌跡が示される。

この場合において、演算制御部は、画角に関して等間隔に画素が並べられた正面画像を生成してもよい。該正面画像上に、ＯＣＴデータの取得位置を示すグラフィックが重畳表示される。画角に関して等間隔に画素が並べられた正面画像では、垂直方向および水平方向の各方向において、隣り合う画素間における画角の差が一定である。これにより、例えば、ＯＣＴデータの取得位置を、正面画像上の各画素に対して、精度よく対応づけることができる。

また、演算制御部は、光軸から離れた位置に設定される、主走査線（ここでは、水平方向の走査線）に沿ったスキャンラインを、曲線によるグラフィックとして正面画像に対して重畳表示させてもよい。組織における測定光の走査位置と、正面画像上の走査位置とが、曲線を介して対応付けらられる。

このとき、スキャンラインと対応する走査部の振り角の値と、対応情報と、に基づいて、スキャンラインを示す曲線を求めてもよい。例えば、スキャンラインの始点と終点とに対応する振り角と、該振り角と対応する正面画像上の座標位置および、該振り角の中間値と対応する正面画像上の座標位置、を通過する線を求めてもよい。該線を示すグラフィックが、眼底正面画像上に重畳表示されてもよい。

また、演算制御部は、２点を結ぶスキャンラインを示すグラフィックとして、２点間の走査において走査部が等角速度で駆動するときの測定光の軌跡を、前述の対応情報に基づいて生成してもよい。ここで、走査部として、ガルバノミラー等の等角速度で動作可能なデバイスが適用された場合における、測定光の軌跡を、正面画像上に精度よく描画できる。

２点は、スキャンラインの始点および終点であってもよいし、中間点を含むスキャンライン上の任意の２点であってもよい。

＜走査部の駆動制御＞
以上の説明では、ＯＣＴデータの取得位置にあわせて、正面画像上に重畳される該取得位置を示すグラフィックが加工される。しかし、必ずしもこれに限られるものでは無い。例えば、ＯＣＴデータの取得位置を計画する際に、正面画像上に、任意のスキャンラインを設定可能であってもよい。例えば、スキャンラインは、正面画像上の直線によって示されてもよい。ＯＣＴデータの取得位置の計画が完了したときには、スキャンラインの各位置と対応する正面画像上の座標情報が、取得されてもよい。演算制御部は、スキャンラインの各位置と対応する正面画像上の座標情報と、対応情報と、に基づいて走査部を駆動制御してもよい。これにより、正面画像上におけるＯＣＴの取得位置が、測定光によって精度よく眼底上でトレースされる。

＜他の非対称性を持つ光学素子について＞
なお、上記説明では、非対称性を持つ光学素子として、ダイクロイックミラーを例示したが、必ずしもこれに限定されない。例えば、非対称性を持つ光学素子は、偏心して配置される対物光学系であってもよい。この場合、ＯＣＴ光学系および第２光学系の光軸に対し、偏心した光軸（傾斜を含む）を対物光学系は有する。

「実施例」
次に、一つの実施例について説明する。図に示した眼底撮影装置（ＯＣＴデバイス）１は、実施形態に係る眼科撮影装置の一種である。

＜眼底撮影装置の全体構成＞
まず、図１を参照して、眼科撮影装置１（以下、「本装置１」と称する。）の概略構成を説明する。

本装置１は、ＯＣＴ光学系（干渉光学系）１００と、第２光学系２００と、制御部７０と、を有する。本実施形態において、ＯＣＴ光学系１００は、被検眼Ｅの所定部位の断層画像を光干渉の技術を用いて非侵襲で得るために利用される。また、第２光学系２００は、被検眼Ｅの所定部位の正面画像を得るために利用される。以下、本実施形態では、被検眼Ｅの所定部位は、被検眼Ｅの眼底部位であるものとする。

一例として、本実施例におけるＯＣＴ光学系（干渉光学系）１００と、第２光学系２００と、のそれぞれは、１１０°の画角で、眼底を撮影可能である。なお、これは、広画角に撮影可能な光学系の一例に過ぎず、画角は、必ずしもこれに限定されない。

制御部７０は、ＣＰＵ、および、各種メモリ等によって構成される。制御部７０は、本装置１における画像処理部を兼用してもよい。

追加的に、本装置１は、記憶部７２、操作部７５、および、モニタ８０を、有していてもよい。各部は、制御部７０と電気的に接続されていてもよい。

本実施例において、対応情報は、あらかじめ記憶部７２に記憶されていてもよい。

操作部７５は、マウスおよびタッチパネル等のポインティングデバイスであってもよいし、その他のユーザインターフェースであってもよい。

＜光学系＞
次に、図２を参照して、本装置１の光学系を説明する。以下の説明では、図２に示すように、被検眼Ｅの奥行き方向を、Ｚ方向（作動距離方向）、水平方向をＸ方向、鉛直方向をＹ方向と、それぞれ称する。

図２に示すように、本装置１において、ＯＣＴ光学系１００と、第２光学系２００とは、ダイクロイックミラー１６０および対物光学系１７０を共用する。ＯＣＴ光学系１００と、第２光学系２００とは、ダイクロイックミラー１６０によって、波長選択的に光路が結合／分岐される。本実施例において、ＯＣＴ光学系１００による測定光と第２光学系２００による第２光との間で、波長帯が互いに異なっている。図２に示すように、ダイクロイックミラー１６０は、ＯＣＴ光学系１００による測定光を透過すると共に、第２光学系２００による第２光を反射してもよい。

＜ＯＣＴ光学系＞
以下では、一例として、ＳＤ－ＯＣＴが適用された場合におけるＯＣＴ光学系１００について示す。但し、必ずしもこれに限定されるものでは無い。ＯＣＴ光学系１００は、例えば、ＳＳ－ＯＣＴの光学系であってもよいし、その他の撮影原理によるＯＣＴ光学系であってもよい。

図２に示す、ＯＣＴ光学系１００は、ＯＣＴ光源１１０、光分割器１２０、検出器１３０、参照光学系１４０、および、導光光学系１５０、を備えている。なお、本実施例において図示および説明を省略するが、ＯＣＴ光学系１００は、光路長調整部、偏光調整部、および、フォーカス調整部等の各種の調整部を有していてもよい。

ＳＤ－ＯＣＴにおいて、ＯＣＴ光源１１０は、低コヒーレント光を発する。ＯＣＴ光源１１０から出射された光は、光分割器１２０によって、測定光と参照光とに分割される。本実施例において、光分割器１２０は、カップラ（スプリッタ）が利用される。測定光は、導光光学系１５０を介して被検眼の眼底へ導かれ、参照光は、参照光学系１４０へ導かれる。

図２に示す参照光学系１４０は、反射光学系が用いられるが、必ずしもこれに限られるものではない。例えば、参照光学系１４０は、透過光学系によって形成されてもよい。参照光学系１４０において、参照光は、図示なきミラーによって折り返され、光分割器１２０によって、測定光の戻り光と合波された状態で、検出器１３０へ入射する。

ＳＤ－ＯＣＴにおいて、検出器１３０は、スペクトロメータ（分光検出器）である。検出器１３０は、戻り光と参照光とのスペクトル干渉信号を出力する。戻り光と、参照光とのスペクトル干渉信号に基づいて、眼底のＯＣＴデータが取得される。

本実施例では、光分割器１２０と被検眼との間に配置される光学系を、導光光学系１５０と称する。導光光学系１５０には、走査部（光スキャナ）１５５、ダイクロイックミラー１６０、対物光学系１７０、が配置されている。

走査部１５５は、ＯＣＴデータの取得位置を、眼底上で変更するために利用される。走査部１５５は、測定光を、眼底（被検物）上で二次元的（ＸＹ方向）に走査させるために利用されてもよい。本実施例において、走査部１５５は、走査方向が互いに異なる２つの光スキャナを含んでいる。一例として、以下の説明では、Ｘ方向に走査するためのＸガルバノミラーと、Ｙ方向に走査するためのＹガルバノミラーと、を有していてもよい。

対物光学系１７０は、測定光の旋回点を形成し、旋回点を介して測定光を被検眼の眼底へ導く。対物光学系１７０に関して、走査部１５５は、被検眼の瞳と共役な位置に配置される。これにより、測定光は、走査部１５５の駆動量に応じて、瞳上の一点を旋回点として旋回される。

なお、本開示において「共役」とは、必ずしも完全な共役関係に限定されるものではなく、「略共役」を含むものとする。即ち、眼底画像の利用目的（例えば、観察、解析等）との関係で許容される範囲で、完全な共役位置からズレて配置される場合も、本開示における「共役」に含まれる。

＜第２光学系＞
第２光学系２００は、被検眼の眼底の正面画像を取得するために利用される。本実施例における第２光学系２００は、走査型の光学系(ＳＬＯ光学系：Ｓｃａｎｎｉｎｇ Ｌｉｇｈｔ Ｏｐｈｔｈａｌｍｏｓｃｏｐｅ光学系)である。特に、眼底上でスポット状の光束を２次元的に走査する、２次元スキャンタイプのＳＬＯ光学系が、第２光学系２００として適用された場合を説明する。

本実施例において、第２光学系２００は、正面画像として観察画像を取得する観察光学系を兼用する。観察画像は、動画像であり、リアルタイムにモニタ８０へ表示されてもよい。また、所定のトリガ（例えばレリーズ信号）に基づいて取得される正面画像が、撮影画像としてメモリ７２へ保存されてもよい。

第２光学系２００は、第２光源２１０、ビームスプリッタ２２０、走査部２３０、ダイクロイックミラー１６０、対物光学系１７０、および、検出器（受光素子）２４０、を有する。第２光源２１０は、第２光として、赤外光および可視光を出射してもよい。赤外光は、観察画像を取得する際に、出射されてもよい。第２光は、ビームスプリッタ２２０、走査部２３０、ダイクロイックミラー１６０、対物光学系１７０、を順に通過し、被検眼の眼底に導かれる。

ビームスプリッタ２２０は、穴開きミラーであってもよいし、ハーフミラーであってもよい。

走査部２３０は、第２光を、眼底上でＸＹ方向に走査させるためのデバイスである。本実施例では、眼底上で第２光をラスタースキャンするために、走査部２３０が利用される。本実施例において、走査部２３０は、高速に駆動する主走査用光スキャナと、副走査用光スキャナと、を含む。主走査用光スキャナには、例えば、レゾナントスキャナや、ポリゴンミラーが利用されてもよい。副走査用光スキャナには、例えば、ガルバノミラー等が利用されてもよい。

走査部２３０は、対物光学系１７０に関して、被検眼の瞳と共役な位置に配置される。これにより、被検眼の瞳には、第２光の旋回点が形成され、第２光は旋回点を中心として旋回される。

第２光の眼底反射光は、投光時の経路を遡って、ビームスプリッタ２２０へ導かれる。本実施例では、ビームスプリッタ２２０によって反射された光が、検出器２４０によって受光される。２次元スキャンタイプのＳＬＯ光学系において、検出器２４０は点受光素子であってもよい。また、検出器２４０とビームスプリッタ２２０との間の眼底共役位置には、図示なき共焦点絞りが配置されていてもよい。

検出器２４０からの受光信号は、制御部７０へと入力される。制御部７０は、検出器２４０からの受光信号に基づいて眼底の正面画像が生成され、取得される。

＜対応情報について＞
本実施例において、ダイクロイックミラー１６０は、各光学系１００，２００の光軸Ｌに対して傾斜配置されている。第２光がダイクロイックミラー１６０を通過する際、ダイクロイックミラー１６０の表面において、光線が屈折する。第２光学系２００において、ダイクロイックミラー１６０に対し、Ｙ走査方向に関して光軸Ｌ１に対称な２本の光束が入射した場合、２本の光線はダイクロイックミラー１６０において非対称に折れ曲がる。その結果、走査部２３０におけるＹガルバノミラーの振り角と正面画像の座標との対応関係が、Ｙ走査方向に関して非線形なものとなる。つまり、第２光学系２００における収差に対し、非対称な歪曲が与えられる。一方、測定光は、ダイクロイックミラー１６０の表面で反射される前後で、走査部１５０におけるＹガルバノミラーの振り角とＯＣＴデータの取得位置との対応関係は、Ｙ走査方向に関して線形である。よって、本実施例では、ＯＣＴ光学系１００における走査部１５０の振り角と、正面画像の座標との対応関係が、Ｙ走査方向に関して非線形なものとなっている。

これに対し、本実施例では、対応情報を利用することによって、正面画像の座標とＯＣＴデータの取得位置とが適正に対応付けられる。

本実施例では、対応情報として、ＯＣＴ用対応情報（本実施例における第１対応情報）と、ＳＬＯ用対応情報（本実施例における第２対応情報）と、が記憶部７２に記憶されている。

ＯＣＴ用対応情報は、ＯＣＴ光学系１００における走査部１５０の振り角（ｘ，ｙ）と画角（Θｘ，Θｙ）との対応関係を、画角毎に示す（図３参照）。同様に、ＳＬＯ用対応情報は、第２光学系２００における走査部２３０の振り角（ｘ，ｙ）と画角（Θｘ，Θｙ）との対応関係を、画角毎に示す。ＳＬＯ用対応情報における走査部２３０の振り角（ｘ，ｙ）は、正面画像上の座標と１対１で対応する。つまり、本実施例のＳＬＯ用対応情報は、画角（Θｘ，Θｙ）と正面画像上の座標との対応関係が示されている。

このようなＯＣＴ用対応情報と、ＳＬＯ用対応情報と、の各々は、振り角と画角との対応関係が、画角毎に各々規定されたルックアップテーブルであってもよい。また、振り角と画角との対応関係が規定された関数であってもよい。

本実施例における対応情報は、例えば、光線追跡法によるシミュレーションに基づく情報であってもよい。また、例えば、画角校正用の模型眼を用いたキャリブレーションに基づく情報であってもよい。この場合、対応情報は、装置毎に固有の情報であってもよい。

第２光学系２００における非対称な歪曲の影響（つまり、Ｙ方向に関する走査部２３０の振り角と正面画像の座標との対応関係の非線形性）は、ＳＬＯ用対応情報に基づいて補正できる。例えば、一定の振り角毎に走査線を取得した正面画像を、ＳＬＯ用対応情報に基づいて、画角（Θｘ，Θｙ）に関して対称な座標系で表現されるように、座標変換してもよい。このとき、少なくともＹ方向に関して非線形な座標変換が行われる。なお、画像処理に限らず、Ｙ方向に関する走査部２３０の制御パラメータにおいて、ＳＬＯ用対応情報が考慮されてもよい。この場合、画角（Θｘ，Θｙ）に関して対称な座標系で表現される眼底正面画像が取得されるように、Ｙ方向に関する走査部２３０の制御パラメータを、ＳＬＯ用対応情報に基づいて逆算してもよい。

なお、ＯＣＴ光学系１００と第２光学系２００との間における倍率色収差の相違も、正面画像の座標とＯＣＴデータの取得位置との対応関係の誤差に、影響を及ぼす。これに対し、上記の対応情報を利用することによって、倍率色収差の影響についてもまとめて補正され得る。第２光学系２００において第２光源２１０が複数の波長の光を出射する場合、波長成分毎（チャンネル毎）に倍率色収差の影響は異なるので、ＳＬＯ用対応情報は、波長成分毎に用意されていてもよい。

＜動作説明＞
次に、図４に示すフローチャートを参照しつつ、実施例に係る本装置１の動作を説明する。

まず、ＯＣＴ光学系１００および第２光学系２００の各々で眼底が撮像可能な状態となるように各部の調整が行われる（Ｓ１）。また、第２光学系２００を介して観察画像として眼底正面画像の取得が開始される（Ｓ２）。各部の調整（Ｓ１）では、例えば、アライメント調整、ＯＣＴ光学系１００および第２光学系２００におけるフォーカス調整、ＯＣＴ光学系１００における偏光調整、光路長調整等が適宜行われてもよい。

＜ＯＣＴデータの取得位置の計画＞
次に、ＯＣＴデータの取得位置が、設定されてもよい（Ｓ３）。本実施例では、スキャンラインとして取得位置が設定される。スキャンラインは、例えば、画面に表示される眼底の正面画像を介した操作入力に基づいて設定されてもよい。このとき表示される眼底の正面画像は、第２光学系２００を介して取得されたものである。また、眼底の正面画像として、観察画像が表示されてもよい。

眼底正面画像は、画角（Θｘ，Θｙ）に関して対称な座標系で表現されるように、ＳＬＯ用対応情報に基づいて補正されたうえで表示される。このような眼底正面画像では、座標と画角との対応関係が、ＳＬＯ用対応情報に基づいて既知の関係となる。一例として、本実施例では、画角に関して等間隔に画素が並べられた眼底正面画像が表示される。

操作入力は、正面画像上でスキャンラインの始点と終点とを少なくとも設定するものであってもよい。この場合、始点と終点との位置に応じて、ＯＣＴ光学系１００における走査部１５０の制御パラメータ（入力）が定められる。前述の通り、眼底正面画像における各座標と画角との対応関係は既知であるため、眼底正面画像上でスキャンラインが設定された場合、そのスキャンライン上の各座標と対応する画角の値を得ることができる。ＯＣＴ用対応情報には、ＯＣＴ光学系１００における走査部１５０の振り角（ｘ，ｙ）と画角（Θｘ，Θｙ）との対応関係が示されているので、スキャンライン上の各座標と対応する走査部１５０の振り角（ｘ，ｙ）を得ることができる。これを走査部１５０の制御パラメータとして取得することで、設定されたスキャンラインに対して測定光を精度よく走査できる。

また、予め定められた複数のスキャンパターンの中からいずれかが選択されてもよい。この場合、スキャンパターンの選択操作が、操作部７５を介して入力される。スキャンパターンとしては、例えば、ラスタースキャン（マップスキャン）、互いに離間した複数の走査ラインを走査するマルチスキャン、複数の走査ラインが互いに交差するクロススキャン、複数の走査ラインが放射状に形成されるラジアルスキャン等が挙げられる。本実施例において、走査部１５０の制御パラメータは、スキャンパターン毎にあらかじめ定められていてもよい。スキャンパターンを構成する各スキャンラインの始点および終点と対応する走査部１５０振り角、および、その間の駆動速度が、制御パラメータとして、あらかじめ定められている。

眼底の正面画像を介してスキャンラインを設定する際には、眼底の正面画像と共に、該正面画像に対してスキャンラインを示すグラフィック５０１が重畳表示される。本実施例では、このとき、グラフィック５０１は、必ずしも直線によって示されず、曲線として示される場合がある。すなわち、本実施例では、２つのガルバノスキャナの各々を等角速度に駆動するときの測定光の軌跡上にある正面画像の各座標を、ＯＣＴ用対応情報およびＳＬＯ用対応情報に基づいて求め、各座標を通過する直線または曲線を、グラフィック５０１として表示してもよい。これにより、本実施例では、走査部１５０における２つのガルバノスキャナの各々を等角速度に駆動させたときのスキャンラインが、グラフィック５０１よって精度よく表示される。

同様に、マップスキャンの範囲が、正面画像上の２次元領域に対して設定される場合は、マップスキャンの外延と対応する正面画像の各座標を、ＯＣＴ用対応情報およびＳＬＯ用対応情報に基づいて求め、各座標によって囲まれる領域を、グラフィック５０２として表示してもよい（図６参照）。

＜ＯＣＴデータの撮影＞
スキャンラインの設定後、設定されたスキャンラインに沿って、眼底上で測定光を走査させ、ＯＣＴデータを撮影する（Ｓ４）。このとき、本実施例では、スキャンラインの始点―終点間において、２つのガルバノスキャナの各々を等角速度に駆動させる。これにより、正面画像上でスキャンラインが重畳された眼底領域が、精度よく測定光によってトレースされる。

＜撮影結果の表示＞
撮影されたＯＣＴデータは、モニタ８０上に表示されてもよい（Ｓ５）。このとき、ＯＣＴデータと共に、眼底正面画像およびＯＣＴデータの取得位置（ここではスキャンライン）を示すグラフィックが示されてもよい。グラフィックは、撮影の際にＯＣＴデータと対応付けられた取得位置情報、および予め記憶部７２に記憶される対応情報に基づいて表示されてもよい。グラフィックは、＜ＯＣＴデータの取得位置の計画＞と同様にして、眼底正面画像上に重畳表示されてもよい。例えば、取得位置情報として、スキャンラインの始点と終点とに対応する振り角が、撮影の際に取得され、ＯＣＴデータと対応付けられていてもよい。該振り角と対応する正面画像上の座標位置および、該振り角の中間値と対応する正面画像上の座標位置、を通過する線を求めてもよい。該線を示すグラフィックを、眼底正面画像上に重畳表示してもよい。

複数ラインのＯＣＴデータが撮影され、そのうち一部がモニタ８０上に表示される場合、モニタ上には、その一部のＯＣＴデータのスキャンラインを示すグラフィックが、少なくとも表示される。例えば、図７において示すように、複数のスキャンラインのそれぞれを示す複数のグラフィック６０１～６０５が重畳表示されてもよく、この場合、モニタ８０においてＯＣＴデータとして表示中と対応するグラフィック（図７では符号６０４で示す）が、他のグラフィックに対して異なる態様で表示されてもよい。

「変容例」
以上、実施形態および実施例に基づいて説明を行ったが、本開示を実施するうえで、実施形態および実施例の内容は、適宜変更することができる。

例えば、上記実施例における＜ＯＣＴデータの取得位置の計画＞、＜撮影結果の表示＞において、ＯＣＴデータの取得位置を示すグラフィックが重畳表示される眼底正面画像として、観察画像を例示したが、必ずしもこれに限られるものではない。観察画像に限らず、第２光学系による撮影画像上にＯＣＴデータの取得位置を示すグラフィックが重畳表示されてもよい。また、他の撮影装置によって撮影された被検眼の眼底正面画像が、本装置１へ予めインポートされていることで、その眼底正面画像上にＯＣＴデータの取得位置を示すグラフィックが重畳表示されてもよい。この場合、他の撮影装置による眼底正面画像における各領域（座標）は、第２光学系による眼底正面画像における各領域（座標）と、対応付けられており、対応関係を示す情報（第３対応情報という）を有していることが望ましい。第１～第３対応情報を利用して、他の撮影装置による眼底正面画像上の座標と、ＯＣＴデータの取得位置との対応関係を特定できる。

また、上記実施例において正面画像は、画角に関して等間隔に画素が並べられるものとして説明した。画角に関して等間隔に画素が並べられる場合、正面画像は、図８に示すような３次元眼底モデルによって表示されてもよい。３次元眼底モデルの各領域は、予め各領域と画角とが対応付けられている。３次元眼底モデルを介して表示されることによって、眼底に対するスキャンラインの位置をより適切に検者に把握させることができる。

また、例えば、上記実施例において、第２光学系は、観察面上でスポット状に集光される光を、２次元的に走査するものであった。但し、必ずしもこれに限られるものではなく、第２光学系は、いわゆるスリットスキャン（ラインスキャン）光学系であってもよいし、非走査型の光学系であってもよい。

１ 眼科撮影装置
７０ 演算制御部
１００ ＯＣＴ光学系
１６０ ダイクロイックミラー
２００ 第２光学系
Ｅ 被検眼

Claims (3)

1. 被検眼の組織に照射される測定光と参照光とのスペクトル干渉信号に基づいて前記組織のＯＣＴデータを取得するためのＯＣＴ光学系であって、前記組織上で前記測定光を走査するための光スキャナを有するＯＣＴ光学系と、
   前記組織の正面画像を取得するための第２光学系と、
   前記ＯＣＴ光学系と前記第２光学系との共通光路上に配置されていることによって、前記ＯＣＴ光学系と前記第２光学系との間に歪曲の相違を生じさせる、非対称性を持つ光学素子と、
   前記光スキャナにおける振り角毎にあらかじめ定められた、前記振り角と前記正面画像上の座標との対応関係であって前記歪曲の相違に応じた非線形な対応関係、を表す対応情報に基づいて、指定されたスキャンラインに対して前記振り角を制御することによって、又は、
   前記振り角の値と前記対応情報とに基づいてスキャンラインを示す曲線の前記正面画像上の位置情報を取得し更に前記曲線を前記正面画像上に重畳表示することによって、前記正面画像の座標上に前記ＯＣＴデータの取得位置を対応付ける演算制御手段と、を備える眼科撮影装置。
2. 前記対応情報は、前記光スキャナにおける振り角と画角との対応関係を表す第１対応情報と、前記正面画像上の座標と画角との対応関係を表す第２対応情報と、を含み、前記画角を介して前記光スキャナにおける振り角が前記正面画像の座標と対応付け可能となる、請求項１記載の眼科撮影装置。
3. 前記演算制御手段は、前記正面画像の座標上に前記ＯＣＴデータの取得位置を対応付けることによって、前記正面画像上に前記取得位置を示すグラフィックを重畳表示させる、請求項１又は２記載の眼科撮影装置。

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