JP7366729B2 - 軸受検査装置、検査方法、および検査プログラム - Google Patents
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Description
本発明の上記および他の目的、特徴、局面および利点は、添付の図面と関連して理解される本発明に関する次の詳細な説明から明らかとなるであろう。
図1は、検査システム50の装置構成を説明するための図である。図1に示されるように、検査システム50は、ワークホルダ1と、回転機構3と、ラインセンサ4と、レンズ5と、照明6と、表示装置8と、検査装置100とを含む。
図3は、検査装置100による検査処理の概要を説明するための図である。図3に示されるように、検査装置100は、機能構成として、画像生成部152と、前処理部154と、検査処理部160と、判別部162とを含む。
図4を参照して、図3に示される画像生成部152の機能について説明する。図4は、画像IM1の生成過程を示す図である。
次に、図5を参照して、図3に示される切出部156の機能について説明する。図5は、画像IM1から部分画像IM2を切り出す過程を示す図である。
次に、図6を参照して、図3に示される正規化部158の機能について説明する。図6は、正規化部158が部分画像IM2から正規化画像IM3を生成する過程を示す図である。
式(1)に示される<xj>は、j列目の輝度値群の平均値を示す。たとえば、図6に示される部分画像IM2を例にすると、<x1>は、輝度値群x01~x71の平均値を示す。このような正規化が部分画像IM2の全列の輝度値群に対して実行される。その結果、部分画像IM2から正規化画像IM3が生成される。生成された正規化画像IM3は、検査処理部160に出力される。
次に、図7および図8を参照して、図3に示される検査処理部160の機能について説明する。図7は、学習済みモデル124の演算過程を示す図である。
次に、図3に示される判別部162の機能について説明する。
図9を参照して、検査装置100のハードウェア構成について順に説明する。図9は、検査装置100のハードウェア構成の一例を示す模式図である。
図10を参照して、検査装置100による検査処理のフローについて説明する。図10は、検査装置100が実行する検査処理を表わすフローチャートである。
上述の検査処理で用いられる学習済みモデル124(図7参照)は、CNNを用いた学習処理により生成される。
Claims (7)
- 超仕上げ加工された軸受部品の軌道面を検査するための検査装置であって、
前記軸受部品が固定されたワークホルダを回転することによって前記軸受部品を回転するための回転機構と、
前記軸受部品の軌道面を撮像するように配置されたラインセンサとを備え、前記ラインセンサは、一列に並べられた撮像素子群を含み、
前記回転機構が前記軸受部品を回転している間に当該軸受部品の軌道面を照明で照らしながら前記ラインセンサに順次撮像させることで、前記撮像素子群から一列の輝度値群を複数取得し、当該取得した複数列の各々の輝度値群を撮影順に並べた画像を生成するための画像生成部と、
前記画像または当該画像の部分画像における各列の輝度値群に対して列ごとに正規化処理を実行し、正規化画像を生成するための正規化部と、
前記正規化画像の入力を受けて、前記軸受部品の軌道面の検査結果を出力する学習済みモデルとを備える、検査装置。 - 前記検査装置は、前記画像生成部によって生成された画像から、予め定められたサイズの画像を前記部分画像として切り出すための切出部をさらに備え、
前記正規化部は、前記部分画像に対して前記正規化処理を実行する、請求項1に記載の検査装置。 - 前記正規化処理は、前記部分画像を構成する各列の輝度値群の平均値が所定値になるように当該各列の輝度値群を調整する処理を含む、請求項2に記載の検査装置。
- 前記学習済みモデルは、CNN(Convolutional Neural Network)を用いた学習処理により生成されている、請求項1~3のいずれか1項に記載の検査装置。
- 前記軸受部品は、軸受けの外輪と、軸受けの転動体と、軸受けの内輪との少なくとも1つを含む、請求項1~4のいずれか1項に記載の検査装置。
- 超仕上げ加工された軸受部品の軌道面を検査するための検査方法であって、
前記軸受部品が固定されたワークホルダを回転することによって前記軸受部品を回転するステップと、
前記軸受部品が回転している間に、照明で前記軸受部品の軌道面を照らしながらラインセンサが前記軸受部品の軌道面を順次撮像するステップとを備え、前記ラインセンサは、一列に並べられた撮像素子群を含み、さらに、
前記撮像するステップで前記撮像素子群から一列の輝度値群を複数取得し、当該取得した複数列の各々の輝度値群を撮影順に並べた画像を生成するステップと、
前記画像または当該画像の部分画像における各列の輝度値群に対して列ごとに正規化処理を実行し、正規化画像を生成するステップと、
前記正規化画像を学習済みモデルに入力し、当該学習済みモデルから得られる前記軸受部品の軌道面の検査結果を出力するステップとを備える、検査方法。 - 超仕上げ加工された軸受部品の軌道面を検査するための検査プログラムであって、
前記検査プログラムは、検査装置に、
ワークホルダに固定された前記軸受部品を回転するステップと、
前記軸受部品が回転している間に、照明で前記軸受部品の軌道面を照らしながらラインセンサが前記軸受部品の軌道面を順次撮像するステップとを実行させ、前記ラインセンサは、一列に並べられた撮像素子群を含み、
前記検査プログラムは、前記検査装置に、さらに、
前記撮像するステップで前記撮像素子群から一列の輝度値群を複数取得し、当該取得した複数列の各々の輝度値群を撮影順に並べた画像を生成するステップと、
前記画像または当該画像の部分画像における各列の輝度値群に対して列ごとに正規化処理を実行し、正規化画像を生成するステップと、
前記正規化画像を学習済みモデルに入力し、当該学習済みモデルから得られる前記軸受部品の軌道面の検査結果を出力するステップとを実行させる、検査プログラム。
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004301787A (ja) | 2003-04-01 | 2004-10-28 | Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd | 基板またはパネル検査装置と基板またはパネル検査方法と基板またはパネル検査プログラム |
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Family Cites Families (1)
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---|---|---|---|---|
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Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004301787A (ja) | 2003-04-01 | 2004-10-28 | Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd | 基板またはパネル検査装置と基板またはパネル検査方法と基板またはパネル検査プログラム |
JP6099563B2 (ja) | 2010-09-03 | 2017-03-22 | エボニック デグサ ゲーエムベーハーEvonik Degussa GmbH | p型ドープされたシリコン層 |
JP2019152979A (ja) | 2018-03-01 | 2019-09-12 | 国立大学法人大阪大学 | 欠陥検出システム、欠陥モデル作成プログラム、および欠陥検出プログラム |
JP2019204321A (ja) | 2018-05-24 | 2019-11-28 | 株式会社ジェイテクト | 情報処理方法、情報処理装置、及びプログラム |
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