JP7364383B2 - Manufacturing method of printed wiring board - Google Patents

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Description

本発明は、プリント配線板の製造方法に関する。 The present invention relates to a method for manufacturing a printed wiring board .

近年、プリント配線板には、高密度化、低背化が求められている。特に高密度化を実現するためには、ビア間の領域により多くの配線を配置する必要がある。従来、配線の本数を増やすために、配線の微細化への取り組みが行なっている。しかしながら、配線の微細化は、設備や部材等に依存することから、コストやプロセス難度が高くなる一方であり、対応が難しくなっている。 In recent years, printed wiring boards have been required to have higher density and lower height. In particular, in order to achieve high density, it is necessary to place more wiring in the area between vias. Conventionally, efforts have been made to miniaturize interconnects in order to increase the number of interconnects. However, since miniaturization of wiring depends on equipment, components, etc., costs and process difficulty are increasing, making it difficult to respond.

また、従来のプリント配線板では、ビアやランドの加工時における位置合わせ精度を考慮して、ランドがビア径よりも大きく形成されている。そのため、従来のプリント配線板において、ランド径を小さくするためには、ビア径を小さくする必要がある。ビア径を小さくすることは、配線の微細化と同様に、コストやプロセス難度が高くなる一方であり、対応が難しくなっている。 Furthermore, in conventional printed wiring boards, the lands are formed larger than the via diameters in consideration of alignment accuracy during machining of the vias and lands. Therefore, in conventional printed wiring boards, in order to reduce the land diameter, it is necessary to reduce the via diameter. Reducing the diameter of vias, like miniaturization of interconnects, increases cost and process difficulty, making it difficult to respond.

そこで、さらにプリント配線板を高密度化するために、配線の微細化や、ビアの小径化とは異なる解決手段として、ランドレス構造が検討されている。
ランドレス構造としては、例えば、ビア(ビア導体)に接続される上下の配線層の接続部のうち、いずれか一方の接続部をビアより大きなランドとして形成し、他方の接続部をビアと同一径またはそれより小さい径のランドレス配線部として形成する配線構造が開示されている(例えば、特許文献1参照)。
Therefore, in order to further increase the density of printed wiring boards, a landless structure is being considered as a solution different from miniaturization of wiring and reduction in the diameter of vias.
As a landless structure, for example, one of the connection parts of the upper and lower wiring layers connected to a via (via conductor) is formed as a land larger than the via, and the other connection part is formed as a land that is the same as the via. A wiring structure formed as a landless wiring portion having a diameter or a smaller diameter has been disclosed (see, for example, Patent Document 1).

特開2010-103435号公報Japanese Patent Application Publication No. 2010-103435

しかしながら、特許文献1の配線構造は、配線形成時のエッチングにおいて、ビアホールとビア導体の界面にエッチング液が浸入し、その界面において、ビアホールとビア導体が劣化することがあった。また、特許文献1の配線構造は、低背化するために絶縁層の厚さが薄くなると、外部応力によりビアホールの内壁面に亀裂が入り易くなることがあった。 However, in the wiring structure of Patent Document 1, during etching during wiring formation, an etching solution may infiltrate the interface between the via hole and the via conductor, and the via hole and the via conductor may deteriorate at the interface. Further, in the wiring structure of Patent Document 1, when the thickness of the insulating layer is reduced to reduce the height, cracks may easily occur in the inner wall surface of the via hole due to external stress.

本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであって、ビアホールとビア導体の界面における劣化を抑制すると共に、外部応力によりビアホールの内壁面に亀裂が入ることを抑制するプリント配線板およびその製造方法を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above circumstances, and includes a printed wiring board that suppresses deterioration at the interface between a via hole and a via conductor, and suppresses cracking in the inner wall surface of a via hole due to external stress, and its manufacture. The purpose is to provide a method.

本発明は、以下の態様を有する
[1]第1配線層上に絶縁層を形成する工程と、前記第1配線上に絶縁層とプライマー層がこの順に積層された積層構造を形成する工程と、前記プライマー層における前記第1配線層の接続部に対応する位置に貫通孔を形成する工程と、前記貫通孔を介して前記絶縁層に、前記貫通孔に連通し、前記貫通孔よりも大径であり、かつ、前記第1配線層を露出させるビアホールを形成する工程と、記貫通孔の内面および前記ビアホールの内面にシード層を形成する工程と、前記プライマー層上に、第2配線層が配置される部分に前記第2配線層の形状に相当する第1の開口部を有するめっきレジストを形成する工程と、前記ビアホール内から前記めっきレジストの第1の開口部に至る金属めっき層を形成する工程と、前記めっきレジストを除去する工程と、前記第2配線層よりも側方に突出している前記シード層をエッチングする工程と、を有することを特徴とするプリント配線板の製造方法。
]第1配線層上に絶縁層を形成する工程と、前記第1配線上に絶縁層とプライマー層と金属層とがこの順に積層された積層構造を形成する工程と、前記金属層をポイントエッチングした後、前記プライマー層をレーザーで加工することにより、前記第1配線層の接続部に対応する位置に貫通孔を形成する工程と、前記貫通孔を介して前記絶縁層を等方性エッチングし、前記絶縁層に、前記貫通孔に連通し、前記貫通孔よりも大径であり、かつ、前記第1配線層を露出させるビアホールを形成する工程と、前記絶縁層を完全硬化させる工程と、前記金属層の表面、前記貫通孔の内面および前記ビアホールの内面に、無電解めっきにより、シード層を形成する工程と、前記シード層を介して前記金属層上に、第2配線層が配置される部分に前記第2配線層の形状に相当する第1の開口部を有するめっきレジストを形成する工程と、前記シード層をめっき給電経路に利用する電解めっきにより、前記ビアホール内から前記めっきレジストの第1の開口部に至る金属めっき層を形成する工程と、前記めっきレジストを除去する工程と、前記第2配線層よりも側方に突出している前記シード層および前記金属層をエッチングする工程と、を有する[]に記載のプリント配線板の製造方法。
]第1配線層上に絶縁層を形成する工程と、前記第1配線上に絶縁層とプライマー層と金属層とがこの順に積層された積層構造を形成する工程と、前記絶縁層を完全硬化させる工程と、前記金属層をポイントエッチングまたはレーザーで加工することにより、前記第1配線層の接続部に対応する位置に貫通孔を形成する工程と、前記貫通孔を介して前記プライマー層および前記絶縁層をレーザーで加工することにより、前記絶縁層に、前記貫通孔に連通し、前記貫通孔よりも大径であり、かつ、前記第1配線層を露出させるビアホールを形成する工程と、前記金属層の表面、前記貫通孔の内面および前記ビアホールの内面に、無電解めっきにより、シード層を形成する工程と、前記シード層を介して前記金属層上に、第2配線層が配置される部分に前記第2配線層の形状に相当する第1の開口部を有するめっきレジストを形成する工程と、前記シード層をめっき給電経路に利用する電解めっきにより、前記ビアホール内から前記めっきレジストの第1の開口部に至る金属めっき層を形成する工程と、前記めっきレジストを除去する工程と、前記第2配線層よりも側方に突出している前記シード層および前記金属層をエッチングする工程と、を有する[]に記載のプリント配線板の製造方法。
]前記シード層を介して前記金属層上における前記第2配線層の間に第3配線層の形状に相当する第2の開口部を有するめっきレジストを形成する工程と、前記シード層をめっき給電経路に利用する電解めっきにより、前記めっきレジストの第2の開口部内に金属めっき層を形成する工程と、前記めっきレジストを除去する工程と、前記第3配線層よりも側方に突出している前記シード層および前記金属層をエッチングする工程と、を有する[]または[]に記載のプリント配線板の製造方法。
]第1配線層上に絶縁層を形成する工程と、前記第1配線上に絶縁層とプライマー層と金属層とがこの順に積層された積層構造を形成する工程と、前記金属層をポイントエッチングした後、前記プライマー層をレーザーで加工することにより、前記第1配線層の接続部に対応する位置に貫通孔を形成する工程と、前記貫通孔を介して前記絶縁層を等方性エッチングし、前記絶縁層に、前記貫通孔に連通し、前記貫通孔よりも大径であり、かつ、前記第1配線層を露出させるビアホールを形成する工程と、前記絶縁層を完全硬化させる工程と、前記金属層をエッチングする工程と、前記プライマー層の表面、前記貫通孔の内面および前記ビアホールの内面に、無電解めっきにより、シード層を形成する工程と、前記シード層を介して前記プライマー層上に、第2配線層が配置される部分に前記第2配線層の形状に相当する第1の開口部を有するめっきレジストを形成する工程と、前記シード層をめっき給電経路に利用する電解めっきにより、前記ビアホール内から前記めっきレジストの第1の開口部に至る金属めっき層を形成する工程と、前記めっきレジストを除去する工程と、前記第2配線層よりも側方に突出している前記シード層をエッチングする工程と、を有する[]に記載のプリント配線板の製造方法。
]第1配線層上に絶縁層を形成する工程と、前記第1配線上に絶縁層とプライマー層と金属層とがこの順に積層された積層構造を形成する工程と、前記絶縁層を完全硬化させる工程と、前記金属層をポイントエッチングまたはレーザーで加工することにより、前記第1配線層の接続部に対応する位置に貫通孔を形成する工程と、前記貫通孔を介して前記プライマー層および前記絶縁層をレーザーで加工することにより、前記絶縁層に、前記貫通孔に連通し、前記貫通孔よりも大径であり、かつ、前記第1配線層を露出させるビアホールを形成する工程と、前記金属層をエッチングする工程と、前記プライマー層の表面、前記貫通孔の内面および前記ビアホールの内面に、無電解めっきにより、シード層を形成する工程と、前記シード層を介して前記プライマー層上に、第2配線層が配置される部分に前記第2配線層の形状に相当する第1の開口部を有するめっきレジストを形成する工程と、前記シード層をめっき給電経路に利用する電解めっきにより、前記ビアホール内から前記めっきレジストの第1の開口部に至る金属めっき層を形成する工程と、前記めっきレジストを除去する工程と、前記第2配線層よりも側方に突出している前記シード層をエッチングする工程と、を有する[]に記載のプリント配線板の製造方法。
]前記シード層を介して前記金属層上における前記第2配線層の間に第3配線層の形状に相当する第2の開口部を有するめっきレジストを形成する工程と、前記シード層をめっき給電経路に利用する電解めっきにより、前記めっきレジストの第2の開口部内に金属めっき層を形成する工程と、前記めっきレジストを除去する工程と、前記第3配線層よりも側方に突出している前記シード層をエッチングする工程と、を有する[]または[]に記載のプリント配線板の製造方法。
The present invention has the following aspects .
[1] A step of forming an insulating layer on the first wiring layer, a step of forming a laminated structure in which an insulating layer and a primer layer are laminated in this order on the first wiring layer , and a step of forming an insulating layer on the first wiring layer. forming a through hole in the insulating layer through the through hole at a position corresponding to the connection portion of the wiring layer; a step of forming a via hole that exposes one wiring layer; a step of forming a seed layer on the inner surface of the through hole and the inner surface of the via hole; forming a plating resist having a first opening corresponding to the shape of a second wiring layer; forming a metal plating layer extending from inside the via hole to the first opening of the plating resist; A method for manufacturing a printed wiring board, comprising the steps of removing a resist, and etching the seed layer that protrudes laterally than the second wiring layer.
[ 2 ] A step of forming an insulating layer on the first wiring layer, a step of forming a laminated structure in which an insulating layer, a primer layer, and a metal layer are laminated in this order on the first wiring layer , and a step of forming an insulating layer on the first wiring layer. After point etching, the primer layer is processed with a laser to form a through hole at a position corresponding to the connection part of the first wiring layer, and the insulating layer is isotropically etched through the through hole. forming a via hole in the insulating layer that communicates with the through hole, has a larger diameter than the through hole, and exposes the first wiring layer; and completely hardens the insulating layer. a step of forming a seed layer on the surface of the metal layer, the inner surface of the through hole, and the inner surface of the via hole by electroless plating; and forming a second wiring layer on the metal layer via the seed layer. By forming a plating resist having a first opening corresponding to the shape of the second wiring layer in a portion where the via hole is to be placed, and by electrolytic plating using the seed layer as a plating power supply path, a step of forming a metal plating layer reaching the first opening of the plating resist, a step of removing the plating resist, and etching the seed layer and the metal layer that protrude laterally than the second wiring layer. The method for manufacturing a printed wiring board according to [ 1 ], comprising the step of:
[ 3 ] A step of forming an insulating layer on the first wiring layer, a step of forming a laminated structure in which an insulating layer, a primer layer, and a metal layer are laminated in this order on the first wiring layer , and a step of forming an insulating layer on the first wiring layer. a step of completely curing the metal layer, a step of forming a through hole at a position corresponding to the connection part of the first wiring layer by point etching or laser processing the metal layer, and a step of forming the primer through the through hole. forming a via hole in the insulating layer that communicates with the through hole, has a larger diameter than the through hole, and exposes the first wiring layer by processing the layer and the insulating layer with a laser; forming a seed layer by electroless plating on the surface of the metal layer, the inner surface of the through hole, and the inner surface of the via hole; and forming a second wiring layer on the metal layer via the seed layer. The plating is removed from within the via hole by forming a plating resist having a first opening corresponding to the shape of the second wiring layer in the portion to be placed, and electrolytic plating using the seed layer as a plating power supply path. forming a metal plating layer that reaches the first opening of the resist; removing the plating resist; and etching the seed layer and the metal layer that protrude laterally from the second wiring layer. The method for manufacturing a printed wiring board according to [ 1 ], comprising the steps of:
[ 4 ] forming a plating resist having a second opening corresponding to the shape of a third wiring layer between the second wiring layer on the metal layer via the seed layer; forming a metal plating layer within the second opening of the plating resist by electrolytic plating used as a plating power supply path; removing the plating resist; The method for manufacturing a printed wiring board according to [ 2 ] or [ 3 ], comprising the step of etching the seed layer and the metal layer.
[ 5 ] A step of forming an insulating layer on the first wiring layer ; a step of forming a laminated structure in which an insulating layer, a primer layer, and a metal layer are laminated in this order on the first wiring layer; After point etching, the primer layer is processed with a laser to form a through hole at a position corresponding to the connection part of the first wiring layer, and the insulating layer is isotropically etched through the through hole. forming a via hole in the insulating layer that communicates with the through hole, has a larger diameter than the through hole, and exposes the first wiring layer; and completely hardens the insulating layer. a step of etching the metal layer; a step of forming a seed layer by electroless plating on the surface of the primer layer, the inner surface of the through hole, and the inner surface of the via hole; and the step of etching the metal layer through the seed layer. forming a plating resist having a first opening corresponding to the shape of the second wiring layer in a portion where a second wiring layer is to be arranged on the primer layer; and using the seed layer as a plating power supply path. forming a metal plating layer from inside the via hole to the first opening of the plating resist by electrolytic plating; removing the plating resist; and protruding laterally from the second wiring layer. The method for manufacturing a printed wiring board according to [ 1 ], comprising the step of etching the seed layer.
[ 6 ] A step of forming an insulating layer on the first wiring layer, a step of forming a laminated structure in which an insulating layer, a primer layer, and a metal layer are laminated in this order on the first wiring layer , and a step of forming an insulating layer on the first wiring layer. a step of completely curing the metal layer, a step of forming a through hole at a position corresponding to the connection part of the first wiring layer by point etching or laser processing the metal layer, and a step of forming the primer through the through hole. forming a via hole in the insulating layer that communicates with the through hole, has a larger diameter than the through hole, and exposes the first wiring layer by processing the layer and the insulating layer with a laser; a step of etching the metal layer; a step of forming a seed layer by electroless plating on the surface of the primer layer, the inner surface of the through hole, and the inner surface of the via hole; and etching the primer through the seed layer. forming a plating resist having a first opening corresponding to the shape of the second wiring layer on the layer where the second wiring layer is to be placed; and electrolysis using the seed layer as a plating power supply path. forming a metal plating layer from inside the via hole to the first opening of the plating resist by plating; removing the plating resist; The method for manufacturing a printed wiring board according to [ 1 ], comprising the step of etching a seed layer.
[ 7 ] forming a plating resist having a second opening corresponding to the shape of a third wiring layer between the second wiring layer on the metal layer via the seed layer; forming a metal plating layer within the second opening of the plating resist by electrolytic plating used as a plating power supply path; removing the plating resist; The method for manufacturing a printed wiring board according to [ 5 ] or [ 6 ], comprising the step of etching the seed layer.

本発明によれば、ビアホールとビア導体の界面における劣化を抑制すると共に、外部応力によりビアホールの内壁面に亀裂が入ることを抑制するプリント配線板およびその製造方法を提供することができる。 According to the present invention, it is possible to provide a printed wiring board that suppresses deterioration at the interface between a via hole and a via conductor, and suppresses cracking of the inner wall surface of the via hole due to external stress, and a method for manufacturing the same.

本発明を適用した一実施形態であるプリント配線板の概略構成を示す平面図である。1 is a plan view showing a schematic configuration of a printed wiring board according to an embodiment of the present invention; FIG. 本発明を適用した第1の実施形態のプリント配線板の概略構成を示し、図1におけるA-A線に沿う断面図である。1 is a sectional view taken along line AA in FIG. 1, showing a schematic configuration of a printed wiring board according to a first embodiment of the present invention; FIG. 本発明を適用した第1の実施形態のプリント配線板の製造方法を示す断面図である。1 is a cross-sectional view showing a method for manufacturing a printed wiring board according to a first embodiment of the present invention; FIG. 本発明を適用した第1の実施形態のプリント配線板の製造方法を示す断面図である。1 is a cross-sectional view showing a method for manufacturing a printed wiring board according to a first embodiment of the present invention; FIG. 本発明を適用した第1の実施形態のプリント配線板の製造方法を示す断面図である。1 is a cross-sectional view showing a method for manufacturing a printed wiring board according to a first embodiment of the present invention; FIG. 本発明を適用した第1の実施形態のプリント配線板の製造方法を示す断面図である。1 is a cross-sectional view showing a method for manufacturing a printed wiring board according to a first embodiment of the present invention; FIG. 本発明を適用した第1の実施形態のプリント配線板の製造方法を示す断面図である。1 is a cross-sectional view showing a method for manufacturing a printed wiring board according to a first embodiment of the present invention; FIG. 本発明を適用した第1の実施形態のプリント配線板の製造方法を示す断面図である。1 is a cross-sectional view showing a method for manufacturing a printed wiring board according to a first embodiment of the present invention; FIG. 本発明を適用した第2の実施形態のプリント配線板の概略構成を示し、図1におけるA-A線に沿う断面図である。FIG. 2 is a cross-sectional view taken along line AA in FIG. 1, showing a schematic configuration of a printed wiring board according to a second embodiment of the present invention. 本発明を適用した第2の実施形態のプリント配線板の製造方法を示す断面図である。FIG. 7 is a cross-sectional view showing a method for manufacturing a printed wiring board according to a second embodiment of the present invention. 本発明を適用した第2の実施形態のプリント配線板の製造方法を示す断面図である。FIG. 7 is a cross-sectional view showing a method for manufacturing a printed wiring board according to a second embodiment of the present invention. 本発明を適用した第2の実施形態のプリント配線板の製造方法を示す断面図である。FIG. 7 is a cross-sectional view showing a method for manufacturing a printed wiring board according to a second embodiment of the present invention. 本発明を適用した第2の実施形態のプリント配線板の製造方法を示す断面図である。FIG. 7 is a cross-sectional view showing a method for manufacturing a printed wiring board according to a second embodiment of the present invention. 本発明を適用した第2の実施形態のプリント配線板の製造方法を示す断面図である。FIG. 7 is a cross-sectional view showing a method for manufacturing a printed wiring board according to a second embodiment of the present invention. 本発明を適用した第2の実施形態のプリント配線板の製造方法を示す断面図である。FIG. 7 is a cross-sectional view showing a method for manufacturing a printed wiring board according to a second embodiment of the present invention. 本発明を適用した第3の実施形態のプリント配線板の概略構成を示し、図1におけるA-A線に沿う断面図である。FIG. 2 is a cross-sectional view taken along line AA in FIG. 1, showing a schematic configuration of a printed wiring board according to a third embodiment of the present invention. 本発明を適用した第3の実施形態のプリント配線板の製造方法を示す断面図である。FIG. 7 is a cross-sectional view showing a method for manufacturing a printed wiring board according to a third embodiment of the present invention. 本発明を適用した第3の実施形態のプリント配線板の製造方法を示す断面図である。FIG. 7 is a cross-sectional view showing a method for manufacturing a printed wiring board according to a third embodiment of the present invention. 本発明を適用した第3の実施形態のプリント配線板の製造方法を示す断面図である。FIG. 7 is a cross-sectional view showing a method for manufacturing a printed wiring board according to a third embodiment of the present invention. 本発明を適用した第3の実施形態のプリント配線板の製造方法を示す断面図である。FIG. 7 is a cross-sectional view showing a method for manufacturing a printed wiring board according to a third embodiment of the present invention. 本発明を適用した第3の実施形態のプリント配線板の製造方法を示す断面図である。FIG. 7 is a cross-sectional view showing a method for manufacturing a printed wiring board according to a third embodiment of the present invention. 本発明を適用した第3の実施形態のプリント配線板の製造方法を示す断面図である。FIG. 7 is a cross-sectional view showing a method for manufacturing a printed wiring board according to a third embodiment of the present invention. 本発明を適用した第3の実施形態のプリント配線板の製造方法を示す断面図である。FIG. 7 is a cross-sectional view showing a method for manufacturing a printed wiring board according to a third embodiment of the present invention. 本発明を適用した第4の実施形態のプリント配線板の概略構成を示し、図1におけるA-A線に沿う断面図である。FIG. 2 is a cross-sectional view taken along line AA in FIG. 1, showing a schematic configuration of a printed wiring board according to a fourth embodiment of the present invention. 本発明を適用した第4の実施形態のプリント配線板の製造方法を示す断面図である。FIG. 7 is a cross-sectional view showing a method for manufacturing a printed wiring board according to a fourth embodiment of the present invention. 本発明を適用した第4の実施形態のプリント配線板の製造方法を示す断面図である。FIG. 7 is a cross-sectional view showing a method for manufacturing a printed wiring board according to a fourth embodiment of the present invention. 本発明を適用した第4の実施形態のプリント配線板の製造方法を示す断面図である。FIG. 7 is a cross-sectional view showing a method for manufacturing a printed wiring board according to a fourth embodiment of the present invention. 本発明を適用した第4の実施形態のプリント配線板の製造方法を示す断面図である。FIG. 7 is a cross-sectional view showing a method for manufacturing a printed wiring board according to a fourth embodiment of the present invention. 本発明を適用した第4の実施形態のプリント配線板の製造方法を示す断面図である。FIG. 7 is a cross-sectional view showing a method for manufacturing a printed wiring board according to a fourth embodiment of the present invention. 本発明を適用した第4の実施形態のプリント配線板の製造方法を示す断面図である。FIG. 7 is a cross-sectional view showing a method for manufacturing a printed wiring board according to a fourth embodiment of the present invention. 本発明を適用した第4の実施形態のプリント配線板の製造方法を示す断面図である。FIG. 7 is a cross-sectional view showing a method for manufacturing a printed wiring board according to a fourth embodiment of the present invention.

本発明のプリント配線板およびその製造方法の実施の形態について説明する。
なお、本実施の形態は、発明の趣旨をより良く理解させるために具体的に説明するものであり、特に指定のない限り、本発明を限定するものではない。
Embodiments of the printed wiring board and the manufacturing method thereof of the present invention will be described.
It should be noted that the present embodiment is specifically explained in order to better understand the gist of the invention, and is not intended to limit the invention unless otherwise specified.

(1)第1の実施形態
[プリント配線板]
以下、図1および図2を参照して、本実施形態のプリント配線板を説明する。
(1) First embodiment [printed wiring board]
The printed wiring board of this embodiment will be described below with reference to FIGS. 1 and 2.

図1は、本実施形態のプリント配線板の概略構成を示す平面図である。図2は、図1におけるA-A線に沿う断面図である。
本実施形態のプリント配線板1は、第1配線層10と、絶縁層20と、ビア導体30と、第2配線層40と、プライマー層50と、を備える。また、本実施形態のプリント配線板1は、第3配線層60を備えていてもよい。
FIG. 1 is a plan view showing a schematic configuration of a printed wiring board of this embodiment. FIG. 2 is a cross-sectional view taken along line AA in FIG.
The printed wiring board 1 of this embodiment includes a first wiring layer 10, an insulating layer 20, a via conductor 30, a second wiring layer 40, and a primer layer 50. Furthermore, the printed wiring board 1 of this embodiment may include a third wiring layer 60.

第1配線層10は、例えば、絶縁基板200上、すなわち、絶縁基板200の一面(上面)200aに形成されている。なお、絶縁基板200の他面(下面)200bにも第1配線層10が形成されていてもよい。 The first wiring layer 10 is formed, for example, on the insulating substrate 200, that is, on one surface (upper surface) 200a of the insulating substrate 200. Note that the first wiring layer 10 may also be formed on the other surface (lower surface) 200b of the insulating substrate 200.

絶縁層20は、第1配線層10上および絶縁基板200上に形成されている。 The insulating layer 20 is formed on the first wiring layer 10 and on the insulating substrate 200.

ビア導体30は、絶縁層20の厚さ方向に貫通して充填され、第1配線層10に接続されている。詳細には、ビア導体30は、絶縁層20の厚さ方向に貫通し、第1配線層を露出させるようにして形成されたビアホール70内に、シード層80を介して充填された金属めっき層90で形成されている。また、ビア導体30は、第1配線層10のランド(接続部)L1に接続されている。 The via conductor 30 penetrates and is filled in the insulating layer 20 in the thickness direction, and is connected to the first wiring layer 10 . Specifically, the via conductor 30 is made of a metal plating layer that is filled with a seed layer 80 in a via hole 70 that is formed so as to penetrate through the insulating layer 20 in the thickness direction and expose the first wiring layer. 90. Further, the via conductor 30 is connected to a land (connection portion) L1 of the first wiring layer 10.

第2配線層40は、ビア導体30上に形成され、ビア導体30に接続されている。詳細には、第2配線層40は、絶縁層20上に形成されたプライマー層50および金属層100を厚さ方向に貫通する貫通孔110内に、シード層80を介して充填された金属めっき層90で形成された貫通導体120を介して、ビア導体30に接続されている。なお、貫通導体120は第2配線層40の一部であり、第2配線層40におけるビア導体30との接続部である。また、貫通孔110とビアホール70は連通している。 The second wiring layer 40 is formed on the via conductor 30 and connected to the via conductor 30. Specifically, the second wiring layer 40 includes metal plating that is filled in a through hole 110 that penetrates the primer layer 50 formed on the insulating layer 20 and the metal layer 100 in the thickness direction through the seed layer 80. It is connected to the via conductor 30 via a through conductor 120 formed of the layer 90. Note that the through conductor 120 is a part of the second wiring layer 40 and is a connection part with the via conductor 30 in the second wiring layer 40. Further, the through hole 110 and the via hole 70 are in communication.

第2配線層40におけるビア導体30との接続部(貫通導体120)の径は、ビア導体30の第2配線層40側の径よりも小さくなっている。言い換えれば、図2に示すように、第2配線層40とビア導体30を接続する貫通導体120の径dは、ビア導体30における貫通導体120と接する面の径Dよりも小さくなっている。 The diameter of the connecting portion (through conductor 120) with the via conductor 30 in the second wiring layer 40 is smaller than the diameter of the via conductor 30 on the second wiring layer 40 side. In other words, as shown in FIG. 2, the diameter d 1 of the through conductor 120 connecting the second wiring layer 40 and the via conductor 30 is smaller than the diameter D 1 of the surface of the via conductor 30 that is in contact with the through conductor 120. There is.

プライマー層50は、絶縁層20上に形成されている。プライマー層50は、ビア導体30の周辺部を覆い、かつ、第2配線層40の接続部(貫通導体120)まで延在している。言い換えれば、図2に示すように、プライマー層50は、絶縁層20上およびビア導体30における貫通導体120と接する面の周辺部上に形成されている。さらに、本実施形態のプリント配線板1では、図2に示すように、プライマー層50が、ビア導体30と第2配線層40との間に介在している。なお、図2では、ビア導体30と第2配線層40との間には、プライマー層50と金属層100が介在している。 Primer layer 50 is formed on insulating layer 20. The primer layer 50 covers the peripheral portion of the via conductor 30 and extends to the connection portion (through conductor 120) of the second wiring layer 40. In other words, as shown in FIG. 2, the primer layer 50 is formed on the insulating layer 20 and on the peripheral portion of the surface of the via conductor 30 that is in contact with the through conductor 120. Furthermore, in the printed wiring board 1 of this embodiment, as shown in FIG. 2, a primer layer 50 is interposed between the via conductor 30 and the second wiring layer 40. Note that in FIG. 2, a primer layer 50 and a metal layer 100 are interposed between the via conductor 30 and the second wiring layer 40.

第3配線層60は、第2配線層40の間のプライマー層50上に形成されていてもよい。なお、図2では、第3配線層60とプライマー層50との間には、シード層80と金属層100が介在している。 The third wiring layer 60 may be formed on the primer layer 50 between the second wiring layers 40. Note that in FIG. 2, a seed layer 80 and a metal layer 100 are interposed between the third wiring layer 60 and the primer layer 50.

第1配線層10の材質は、特に限定されないが、例えば、銅が挙げられる。 Although the material of the first wiring layer 10 is not particularly limited, copper can be used, for example.

第1配線層10の厚さ(プリント配線板1の厚さ方向の長さ)は、特に限定されず、プリント配線板1に要求される導電性等に応じて適宜調整される。 The thickness of the first wiring layer 10 (the length in the thickness direction of the printed wiring board 1) is not particularly limited, and is adjusted as appropriate depending on the electrical conductivity etc. required of the printed wiring board 1.

絶縁層20の材質は、特に限定されないが、例えば、エポキシ樹脂とシアネート樹脂およびシリカからなる絶縁樹脂やエポキシ樹脂とシリカまたはガラスクロスからなる絶縁樹脂が挙げられる。 The material of the insulating layer 20 is not particularly limited, and examples thereof include an insulating resin made of epoxy resin, cyanate resin, and silica, and an insulating resin made of epoxy resin, silica, or glass cloth.

絶縁層20の厚さ(プリント配線板1の厚さ方向の長さ)は、特に限定されず、絶縁層20に要求される絶縁性に応じて適宜調整される。 The thickness of the insulating layer 20 (the length in the thickness direction of the printed wiring board 1) is not particularly limited, and is adjusted as appropriate depending on the insulation required of the insulating layer 20.

ビア導体30の材質は、特に限定されないが、例えば、銅が挙げられる。 The material of the via conductor 30 is not particularly limited, but may be copper, for example.

ビア導体30の厚さ(プリント配線板1の厚さ方向の長さ)は、特に限定されず、プリント配線板1に要求される導電性等に応じて適宜調整される。 The thickness of the via conductor 30 (the length in the thickness direction of the printed wiring board 1) is not particularly limited, and is adjusted as appropriate depending on the electrical conductivity required of the printed wiring board 1.

第2配線層40の材質は、特に限定されないが、例えば、銅が挙げられる。 The material of the second wiring layer 40 is not particularly limited, and for example, copper may be used.

第2配線層40の厚さ(プリント配線板1の厚さ方向の長さ)は、特に限定されず、プリント配線板1に要求される導電性等に応じて適宜調整される。 The thickness of the second wiring layer 40 (the length in the thickness direction of the printed wiring board 1) is not particularly limited, and is adjusted as appropriate depending on the electrical conductivity etc. required of the printed wiring board 1.

プライマー層50の材質は、特に限定されないが、例えば、エポキシ樹脂をベースに形成されためっきプロセスに対応した樹脂が挙げられる。 The material of the primer layer 50 is not particularly limited, and examples include resins based on epoxy resins that are compatible with plating processes.

プライマー層50の厚さ(プリント配線板1の厚さ方向の長さ)は、特に限定されず、プライマー層50に要求されるエッチング耐性や外部応力に対する耐性等に応じて適宜調整される。 The thickness of the primer layer 50 (the length in the thickness direction of the printed wiring board 1) is not particularly limited, and is appropriately adjusted depending on the etching resistance, resistance to external stress, etc. required of the primer layer 50.

第3配線層60の材質は、特に限定されないが、例えば、銅が挙げられる。 The material of the third wiring layer 60 is not particularly limited, and for example, copper may be used.

第3配線層60の厚さ(プリント配線板1の厚さ方向の長さ)は、特に限定されず、プリント配線板1に要求される導電性等に応じて適宜調整される。 The thickness of the third wiring layer 60 (the length in the thickness direction of the printed wiring board 1) is not particularly limited, and is adjusted as appropriate depending on the electrical conductivity required of the printed wiring board 1.

金属層100の材質は、特に限定されないが、例えば、銅が挙げられる。 The material of the metal layer 100 is not particularly limited, and examples thereof include copper.

金属層100の厚さ(プリント配線板1の厚さ方向の長さ)は、特に限定されず、金属層100に要求されるエッチング耐性や外部応力に対する耐性等に応じて適宜調整される。 The thickness of the metal layer 100 (the length in the thickness direction of the printed wiring board 1) is not particularly limited, and is appropriately adjusted depending on the etching resistance, resistance to external stress, etc. required of the metal layer 100.

絶縁基板200の材質は、特に限定されないが、例えば、エポキシ樹脂とガラスクロスからなる絶縁樹脂が挙げられる。 The material of the insulating substrate 200 is not particularly limited, and examples thereof include an insulating resin made of epoxy resin and glass cloth.

絶縁基板200の厚さ(プリント配線板1の厚さ方向の長さ)は、特に限定されず、絶縁基板200に要求される絶縁性に応じて適宜調整される。 The thickness of the insulating substrate 200 (the length in the thickness direction of the printed wiring board 1) is not particularly limited, and is adjusted as appropriate depending on the insulation required of the insulating substrate 200.

本実施形態のプリント配線板1によれば、絶縁層20上にプライマー層50が形成され、プライマー層50が、ビア導体30の周辺部を覆い、かつ、第2配線層40の接続部(貫通導体120)まで延在し、第2配線層40の接続部(貫通導体120)の径dが、ビア導体30の第2配線層40側の径Dよりも小さいため、ビアホール70とビア導体30の界面にエッチング液が浸入することにより、その界面が劣化することを抑制できる。また、外部応力によりビアホール70の内壁面に亀裂が入ることを抑制できる。 According to the printed wiring board 1 of this embodiment, the primer layer 50 is formed on the insulating layer 20, and the primer layer 50 covers the peripheral part of the via conductor 30 and connects the second wiring layer 40 (through-hole). The diameter d 1 of the connecting portion (through conductor 120 ) of the second wiring layer 40 is smaller than the diameter D 1 of the via conductor 30 on the second wiring layer 40 side. Infiltration of the etching solution into the interface of the conductor 30 can suppress deterioration of the interface. Furthermore, it is possible to suppress cracks from forming in the inner wall surface of the via hole 70 due to external stress.

本実施形態のプリント配線板1によれば、プライマー層50が、ビア導体30と第2配線層40との間に介在しているため、ビアホール70とビア導体30の界面にエッチング液が浸入することにより、その界面が劣化することをより効果的に抑制できる。 According to the printed wiring board 1 of the present embodiment, since the primer layer 50 is interposed between the via conductor 30 and the second wiring layer 40, the etching solution penetrates into the interface between the via hole 70 and the via conductor 30. By doing so, deterioration of the interface can be more effectively suppressed.

本実施形態のプリント配線板1によれば、第2配線層40の間のプライマー層50上に第3配線層60を形成することもできるため、より高密度化することができる。 According to the printed wiring board 1 of this embodiment, since the third wiring layer 60 can be formed on the primer layer 50 between the second wiring layers 40, higher density can be achieved.

[プリント配線板の製造方法]
以下、図3~図8を参照して、本実施形態のプリント配線板の製造方法を説明する。
図3~図8は、本実施形態のプリント配線板の製造方法を示す断面図である。図3~図8において、図1および図2に示した構成と同一の構成には同じ符号を付して、その説明を省略する。
[Manufacturing method of printed wiring board]
The method for manufacturing the printed wiring board of this embodiment will be described below with reference to FIGS. 3 to 8.
3 to 8 are cross-sectional views showing the method for manufacturing the printed wiring board of this embodiment. In FIGS. 3 to 8, the same components as those shown in FIGS. 1 and 2 are denoted by the same reference numerals, and their explanations will be omitted.

本実施形態のプリント配線板の製造方法では、図3に示すように、まず、絶縁基板200上に第1配線層10が形成されたベース配線基板300を用意する。 In the printed wiring board manufacturing method of this embodiment, as shown in FIG. 3, first, a base wiring board 300 in which a first wiring layer 10 is formed on an insulating substrate 200 is prepared.

ベース配線基板300では、絶縁基板200の両面(一面(上面)200a、他面(下面)200b)にそれぞれ第1配線層10が形成されていてもよい。絶縁基板200の両面にそれぞれ第1配線層10が形成されている場合、それらの第1配線層10が絶縁基板200をその厚さ方向に貫通する貫通電極を介して接続されている。 In the base wiring board 300, the first wiring layer 10 may be formed on both surfaces (one surface (upper surface) 200a and the other surface (lower surface) 200b) of the insulating substrate 200. When the first wiring layers 10 are formed on both sides of the insulating substrate 200, the first wiring layers 10 are connected via a through electrode that penetrates the insulating substrate 200 in the thickness direction.

図3に示すように、絶縁基板200の一面(上面)200aには、第1配線層10のランド(接続部)L1が形成されている。ランドL1は、第1配線層10上に形成される絶縁層20にエッチングでビアホール70を形成する際のストッパとしても機能する。 As shown in FIG. 3, on one surface (upper surface) 200a of the insulating substrate 200, a land (connection portion) L1 of the first wiring layer 10 is formed. The land L1 also functions as a stopper when the via hole 70 is formed by etching in the insulating layer 20 formed on the first wiring layer 10.

次いで、図3に示すように、第1配線層10上に絶縁層20を形成する(絶縁層形成工程)。
詳細には、絶縁層形成工程では、ベース配線基板300上、すなわち、ベース配線基板300における第1配線層10が設けられている面側(絶縁基板200の上面200a側)に、絶縁性樹脂をコーティングすることにより、第1配線層10を被覆する絶縁層20を形成する。
Next, as shown in FIG. 3, an insulating layer 20 is formed on the first wiring layer 10 (insulating layer forming step).
Specifically, in the insulating layer forming step, an insulating resin is applied on the base wiring board 300, that is, on the side of the base wiring board 300 where the first wiring layer 10 is provided (the upper surface 200a side of the insulating substrate 200). By coating, an insulating layer 20 covering the first wiring layer 10 is formed.

絶縁性樹脂としては、エポキシ樹脂とシアネート樹脂およびシリカからなる絶縁樹脂やエポキシ樹脂とシリカまたはガラスクロスからなる絶縁樹脂等が挙げられる。 Examples of the insulating resin include insulating resins made of epoxy resin, cyanate resin, and silica, and insulating resins made of epoxy resin, silica, or glass cloth.

ベース配線基板300上に絶縁性樹脂をコーティングする方法は、特に限定されないが、例えば、ベース配線基板300上に絶縁性樹脂を真空中で加温加圧する方法等が挙げられる。
なお、本実施形態では、この時点では、絶縁層20は完全硬化していない。
The method for coating the base wiring board 300 with the insulating resin is not particularly limited, and examples thereof include a method of heating and pressurizing the insulating resin on the base wiring board 300 in a vacuum.
Note that in this embodiment, the insulating layer 20 is not completely cured at this point.

次いで、図3に示すように、絶縁層20上にプライマー層50が積層された金属箔400を、プライマー層50が絶縁層20に接するように積層する(積層工程)。すなわち、第1配線10上に、絶縁層20とプライマー層50と金属層100とがこの順に積層された積層構造を形成する。
金属箔400は、上記の金属層100をなす。
Next, as shown in FIG. 3, the metal foil 400 in which the primer layer 50 is laminated on the insulating layer 20 is laminated so that the primer layer 50 is in contact with the insulating layer 20 (lamination step). That is, a stacked structure in which the insulating layer 20 , the primer layer 50 , and the metal layer 100 are stacked in this order is formed on the first wiring 10 .
The metal foil 400 forms the metal layer 100 described above.

次いで、図4に示すように、金属箔400(金属層100)をポイントエッチングした後、プライマー層50をレーザーで加工することにより、第1配線層10のランドL1に対応する位置に貫通孔110を形成する(貫通孔形成工程)。
詳細には、貫通孔形成工程では、まず、ポイントエッチングにより、第1配線層10のランドL1に対応する位置の金属箔400を除去する。続いて、プライマー層50をレーザーで加工することにより、金属箔400から絶縁層20を露出させる貫通孔110を形成する。また、第1配線層10のランドL1に対応する位置とは、絶縁層20を介して第1配線層10と対向する位置である。
Next, as shown in FIG. 4, after point etching the metal foil 400 (metal layer 100), the primer layer 50 is processed with a laser to form through holes 110 at positions corresponding to the lands L1 of the first wiring layer 10. (through-hole formation step).
Specifically, in the through-hole forming step, first, the metal foil 400 at the position corresponding to the land L1 of the first wiring layer 10 is removed by point etching. Subsequently, the primer layer 50 is processed with a laser to form a through hole 110 that exposes the insulating layer 20 from the metal foil 400. Further, the position corresponding to the land L1 of the first wiring layer 10 is a position facing the first wiring layer 10 with the insulating layer 20 interposed therebetween.

次いで、図5に示すように、貫通孔110を介して絶縁層20を等方性エッチングし、絶縁層20に、貫通孔110に連通し、貫通孔110よりも大径であり、かつ、第1配線層10のランドL1を露出させるビアホール70を形成する(ビアホール形成工程)。
ビアホール形成工程では、等方性エッチングとしては、ウェットエッチングを行う。これにより、貫通孔110の下部(絶縁層20の厚さ方向の下部)の絶縁層20をサイドエッチングする。また、ビアホール70の径を貫通孔110の径よりも大きくする。
Next, as shown in FIG. 5, the insulating layer 20 is isotropically etched through the through-hole 110, and the insulating layer 20 has a second hole that is in communication with the through-hole 110 and has a larger diameter than the through-hole 110. A via hole 70 is formed to expose the land L1 of the first wiring layer 10 (via hole forming step).
In the via hole forming step, wet etching is performed as the isotropic etching. As a result, the insulating layer 20 below the through hole 110 (the lower part in the thickness direction of the insulating layer 20) is side-etched. Further, the diameter of the via hole 70 is made larger than the diameter of the through hole 110.

次いで、絶縁層20を完全硬化させる(絶縁層硬化工程)。
絶縁層20を完全硬化させる方法としては、例えば、絶縁層20を加熱する方法が挙げられる。
Next, the insulating layer 20 is completely cured (insulating layer curing step).
An example of a method for completely curing the insulating layer 20 is a method of heating the insulating layer 20.

次いで、図6に示すように、金属箔400の表面(上面)400a、貫通孔110の内面110aおよびビアホール70の内面70aに、無電解めっきにより、シード層80を形成する(シード層形成工程)。 Next, as shown in FIG. 6, a seed layer 80 is formed on the surface (upper surface) 400a of the metal foil 400, the inner surface 110a of the through hole 110, and the inner surface 70a of the via hole 70 by electroless plating (seed layer forming step). .

次いで、図7に示すように、シード層80を介して、金属箔400上に、上記の第2配線層40が配置される部分に上記の第2配線層40の形状に相当する第1の開口部500a、および、上記の第3配線層60が配置される部分に上記の第3配線層60の形状に相当する第2の開口部500bを有するめっきレジスト500を形成する(めっきレジスト形成工程)。
詳細には、めっきレジスト形成工程では、金属箔400上におけるビアホール70に対向する位置に第1の開口部500aを有するめっきレジスト500を形成する。なお、図7に示すように、第1の開口部500aの径dを、貫通孔110の径Dよりも大きくする。また、めっきレジスト形成工程では、金属箔400上における第2配線層40の間に第2の開口部500bを有するめっきレジスト500を形成する。
Next, as shown in FIG. 7, a first layer corresponding to the shape of the second wiring layer 40 is formed on the metal foil 400 via the seed layer 80 in a portion where the second wiring layer 40 is placed. A plating resist 500 having an opening 500a and a second opening 500b corresponding to the shape of the third wiring layer 60 is formed in a portion where the third wiring layer 60 is arranged (plating resist forming step). ).
Specifically, in the plating resist forming step, a plating resist 500 having a first opening 500a at a position facing the via hole 70 on the metal foil 400 is formed. Note that, as shown in FIG. 7, the diameter d2 of the first opening 500a is made larger than the diameter D2 of the through hole 110. Further, in the plating resist forming step, a plating resist 500 having a second opening 500b between the second wiring layers 40 on the metal foil 400 is formed.

次いで、図7に示すように、シード層80をめっき給電経路に利用する電解めっきにより、ビアホール70内から貫通孔110を通ってめっきレジスト500の第1の開口部500aに至る金属めっき層600を形成する(金属めっき層形成工程)。また、シード層80をめっき給電経路に利用する電解めっきにより、めっきレジスト500の第2の開口部500b内に金属めっき層600を形成する(金属めっき層形成工程)。 Next, as shown in FIG. 7, a metal plating layer 600 is formed from inside the via hole 70 through the through hole 110 to the first opening 500a of the plating resist 500 by electrolytic plating using the seed layer 80 as a plating power supply path. (metal plating layer formation process). Further, a metal plating layer 600 is formed in the second opening 500b of the plating resist 500 by electrolytic plating using the seed layer 80 as a plating power supply path (metal plating layer forming step).

次いで、図8に示すように、めっきレジスト500を除去する(めっきレジスト除去工程)。
この工程では、3.0質量%水酸化ナトリウム水溶液または2-アミノエタノールとTMAHの混合水溶液により、めっきレジスト500を除去する。
Next, as shown in FIG. 8, the plating resist 500 is removed (plating resist removal step).
In this step, the plating resist 500 is removed using a 3.0% by mass aqueous sodium hydroxide solution or a mixed aqueous solution of 2-aminoethanol and TMAH.

次いで、図8に示すように、シード層80および金属箔400をエッチングする(エッチング工程)。詳細には、エッチングにより、プライマー層50上において、第2配線層40(貫通導体120)よりも側方(金属めっき層600の厚さ方向と垂直方向)に突出しているシード層80および金属箔400を除去する。また、エッチングにより、プライマー層50上において、第3配線層60よりも側方(金属めっき層600の厚さ方向と垂直方向)に突出しているシード層80および金属箔400を除去する。 Next, as shown in FIG. 8, the seed layer 80 and the metal foil 400 are etched (etching step). Specifically, the seed layer 80 and the metal foil protrude laterally (in the thickness direction and perpendicular direction of the metal plating layer 600) from the second wiring layer 40 (through conductor 120) on the primer layer 50 by etching. Remove 400. Furthermore, by etching, the seed layer 80 and metal foil 400 that protrude laterally (in the direction perpendicular to the thickness direction of the metal plating layer 600) than the third wiring layer 60 on the primer layer 50 are removed.

以上の工程により、本実施形態のプリント配線板1が得られる。 Through the above steps, printed wiring board 1 of this embodiment is obtained.

本実施形態のプリント配線板の製造方法によれば、絶縁層20上にプライマー層50を形成した後、絶縁層20内にビアホール70とビア導体30となる金属めっき層600を形成するため、シード層80および金属箔400の余分な部分を除去する際に、ビアホール70とビア導体30の界面にエッチング液が浸入することを抑制できる。したがって、ビアホール70とビア導体30の界面にエッチング液が浸入することにより、その界面が劣化することを抑制できる。また、外部応力によりビアホール70の内壁面に亀裂が入ることを抑制した本実施形態のプリント配線板1を製造することができる。 According to the method for manufacturing a printed wiring board of the present embodiment, after forming the primer layer 50 on the insulating layer 20, the seed When removing excess portions of layer 80 and metal foil 400, it is possible to suppress the etching solution from entering the interface between via hole 70 and via conductor 30. Therefore, deterioration of the interface between the via hole 70 and the via conductor 30 due to infiltration of the etching solution can be suppressed. Furthermore, it is possible to manufacture the printed wiring board 1 of this embodiment in which cracks are suppressed from forming in the inner wall surface of the via hole 70 due to external stress.

(2)第2の実施形態
[プリント配線板]
以下、図1および図9を参照して、本実施形態のプリント配線板を説明する。
図9は、図1におけるA-A線に沿う断面図である。図9において、図2に示した構成と同一の構成には同じ符号を付して、その説明を省略する。
(2) Second embodiment [printed wiring board]
The printed wiring board of this embodiment will be described below with reference to FIGS. 1 and 9.
FIG. 9 is a sectional view taken along line AA in FIG. 1. In FIG. 9, the same components as those shown in FIG. 2 are denoted by the same reference numerals, and their explanations will be omitted.

本実施形態のプリント配線板1000では、第2配線層40が、絶縁層20上に形成されたプライマー層50を厚さ方向に貫通する貫通孔110内に、シード層80を介して充填された金属めっき層90で形成された貫通導体120を介して、ビア導体30に接続されている。 In the printed wiring board 1000 of the present embodiment, the second wiring layer 40 is filled in the through hole 110 that penetrates the primer layer 50 formed on the insulating layer 20 in the thickness direction through the seed layer 80. It is connected to the via conductor 30 via a through conductor 120 formed of a metal plating layer 90.

第2配線層40におけるビア導体30との接続部(貫通導体120)の径は、ビア導体30の第2配線層40側の径よりも小さくなっている。言い換えれば、図9に示すように、第2配線層40とビア導体30を接続する貫通導体120の径dは、ビア導体30における貫通導体120と接する面の径Dよりも小さくなっている。 The diameter of the connecting portion (through conductor 120) with the via conductor 30 in the second wiring layer 40 is smaller than the diameter of the via conductor 30 on the second wiring layer 40 side. In other words, as shown in FIG. 9, the diameter d 3 of the through conductor 120 that connects the second wiring layer 40 and the via conductor 30 is smaller than the diameter D 3 of the surface of the via conductor 30 that is in contact with the through conductor 120. There is.

本実施形態のプリント配線板1000では、図9に示すように、第1の実施形態のプリント配線板1と同様に、プライマー層50が、ビア導体30の周辺部を覆い、かつ、第2配線層40の接続部(貫通導体120)まで延在している。また、本実施形態のプリント配線板1000では、図9に示すように、第1の実施形態のプリント配線板1と異なり、プライマー層50が、ビア導体30と第2配線層40との間に介在していない。 In the printed wiring board 1000 of this embodiment, as shown in FIG. 9, similarly to the printed wiring board 1 of the first embodiment, the primer layer 50 covers the peripheral part of the via conductor 30 and It extends to the connecting portion (through conductor 120) of layer 40. Furthermore, in the printed wiring board 1000 of this embodiment, as shown in FIG. 9, unlike the printed wiring board 1 of the first embodiment, a primer layer 50 is provided between the via conductor 30 and the second wiring layer 40. Not mediated.

本実施形態のプリント配線板1000によれば、絶縁層20上にプライマー層50が形成され、プライマー層50が、ビア導体30の周辺部を覆い、かつ、第2配線層40の接続部(貫通導体120)まで延在し、第2配線層40の接続部(貫通導体120)の径dが、ビア導体30の第2配線層40側の径Dよりも小さいため、ビアホール70とビア導体30の界面にエッチング液が浸入することにより、その界面が劣化することを抑制できる。また、外部応力によりビアホール70の内壁面に亀裂が入ることを抑制できる。 According to the printed wiring board 1000 of this embodiment, the primer layer 50 is formed on the insulating layer 20, and the primer layer 50 covers the peripheral part of the via conductor 30 and connects the second wiring layer 40 (through-hole). The diameter d 3 of the connecting portion (through conductor 120 ) of the second wiring layer 40 is smaller than the diameter D 3 of the via conductor 30 on the second wiring layer 40 side. Infiltration of the etching solution into the interface of the conductor 30 can suppress deterioration of the interface. Furthermore, it is possible to suppress cracks from forming in the inner wall surface of the via hole 70 due to external stress.

本実施形態のプリント配線板1000によれば、第2配線層40の間のプライマー層50上に第3配線層60を形成することもできるため、より高密度化することができる。 According to the printed wiring board 1000 of this embodiment, the third wiring layer 60 can be formed on the primer layer 50 between the second wiring layers 40, so that higher density can be achieved.

[プリント配線板の製造方法]
以下、図10~図15を参照して、本実施形態のプリント配線板の製造方法を説明する。
図10~図15は、本実施形態のプリント配線板の製造方法を示す断面図である。図10~図15において、図1および図2に示した構成と同一の構成には同じ符号を付して、その説明を省略する。
[Manufacturing method of printed wiring board]
The method for manufacturing the printed wiring board of this embodiment will be described below with reference to FIGS. 10 to 15.
10 to 15 are cross-sectional views showing the method for manufacturing the printed wiring board of this embodiment. In FIGS. 10 to 15, the same components as those shown in FIGS. 1 and 2 are denoted by the same reference numerals, and their explanations will be omitted.

本実施形態のプリント配線板の製造方法では、図10に示すように、まず、絶縁基板200上に第1配線層10が形成されたベース配線基板300を用意する。 In the printed wiring board manufacturing method of this embodiment, as shown in FIG. 10, first, a base wiring board 300 in which a first wiring layer 10 is formed on an insulating substrate 200 is prepared.

次いで、図10に示すように、第1配線層10上に絶縁層20を形成する(絶縁層形成工程)。 Next, as shown in FIG. 10, an insulating layer 20 is formed on the first wiring layer 10 (insulating layer forming step).

次いで、絶縁層20を完全硬化させる(絶縁層硬化工程)。 Next, the insulating layer 20 is completely cured (insulating layer curing step).

次いで、図10に示すように、絶縁層20上にプライマー層50が積層された金属箔400を、プライマー層50が絶縁層20に接するように積層する(積層工程)。 Next, as shown in FIG. 10, a metal foil 400 having a primer layer 50 laminated on the insulating layer 20 is laminated so that the primer layer 50 is in contact with the insulating layer 20 (lamination step).

次いで、図11に示すように、金属箔400(金属層100)をポイントエッチングまたはレーザーで加工することにより、第1配線層10のランドL1に対応する位置に貫通孔110を形成する(貫通孔形成工程)。
詳細には、貫通孔形成工程では、金属箔400をポイントエッチングまたはレーザーで加工することにより、金属箔400からプライマー層50を露出させる貫通孔110を形成する。
Next, as shown in FIG. 11, by point etching or laser processing the metal foil 400 (metal layer 100), a through hole 110 is formed at a position corresponding to the land L1 of the first wiring layer 10 (through hole forming process).
Specifically, in the through-hole forming step, the through-hole 110 that exposes the primer layer 50 is formed from the metal foil 400 by processing the metal foil 400 by point etching or laser processing.

次いで、図12に示すように、貫通孔110を介してプライマー層50および絶縁層20をレーザーで加工することにより、絶縁層20に、貫通孔110に連通し、貫通孔110よりも大径であり、かつ、第1配線層10のランドL1を露出させるビアホール70を形成する(ビアホール形成工程)。 Next, as shown in FIG. 12, by laser processing the primer layer 50 and the insulating layer 20 through the through hole 110, a hole is formed in the insulating layer 20 that communicates with the through hole 110 and has a larger diameter than the through hole 110. A via hole 70 is formed to expose the land L1 of the first wiring layer 10 (via hole forming step).

次いで、図13に示すように、金属箔400の表面(上面)400a、貫通孔110の内面110aおよびビアホール70の内面70aに、無電解めっきにより、シード層80を形成する(シード層形成工程)。 Next, as shown in FIG. 13, a seed layer 80 is formed by electroless plating on the surface (upper surface) 400a of the metal foil 400, the inner surface 110a of the through hole 110, and the inner surface 70a of the via hole 70 (seed layer forming step). .

次いで、図14に示すように、シード層80を介して、金属箔400上に、上記の第2配線層40が配置される部分に上記の第2配線層40の形状に相当する第1の開口部500a、および、上記の第3配線層60が配置される部分に上記の第3配線層60の形状に相当する第2の開口部500bを有するめっきレジスト500を形成する(めっきレジスト形成工程)。
詳細には、めっきレジスト形成工程では、金属箔400上におけるビアホール70に対向する位置に第1の開口部500aを有するめっきレジスト500を形成する。なお、図14に示すように、第1の開口部500aの径dを、貫通孔110の径Dよりも小さくする。
Next, as shown in FIG. 14, a first layer corresponding to the shape of the second wiring layer 40 is formed on the metal foil 400 via the seed layer 80 in a portion where the second wiring layer 40 is placed. A plating resist 500 having an opening 500a and a second opening 500b corresponding to the shape of the third wiring layer 60 is formed in a portion where the third wiring layer 60 is arranged (plating resist forming step). ).
Specifically, in the plating resist forming step, a plating resist 500 having a first opening 500a at a position facing the via hole 70 on the metal foil 400 is formed. Note that, as shown in FIG. 14, the diameter d4 of the first opening 500a is made smaller than the diameter D4 of the through hole 110.

次いで、図14に示すように、シード層80をめっき給電経路に利用する電解めっきにより、ビアホール70内から貫通孔110を通ってめっきレジスト500の第1の開口部500aに至る金属めっき層600を形成する(金属めっき層形成工程)。また、シード層80をめっき給電経路に利用する電解めっきにより、めっきレジスト500の第2の開口部500b内に金属めっき層600を形成する(金属めっき層形成工程)。 Next, as shown in FIG. 14, a metal plating layer 600 is formed from inside the via hole 70 through the through hole 110 to the first opening 500a of the plating resist 500 by electrolytic plating using the seed layer 80 as a plating power supply path. (metal plating layer formation process). Further, a metal plating layer 600 is formed in the second opening 500b of the plating resist 500 by electrolytic plating using the seed layer 80 as a plating power supply path (metal plating layer forming step).

次いで、図15に示すように、めっきレジスト500を除去する(めっきレジスト除去工程)。 Next, as shown in FIG. 15, the plating resist 500 is removed (plating resist removal step).

次いで、図15に示すように、シード層80および金属箔400をエッチングする(エッチング工程)。詳細には、エッチングにより、プライマー層50上において、第2配線層40(貫通導体120)よりも側方(金属めっき層600の厚さ方向と垂直方向)に突出しているシード層80および金属箔400を除去する。また、エッチングにより、プライマー層50上において、第3配線層60よりも側方(金属めっき層600の厚さ方向と垂直方向)に突出しているシード層80および金属箔400を除去する。 Next, as shown in FIG. 15, the seed layer 80 and the metal foil 400 are etched (etching step). Specifically, the seed layer 80 and the metal foil protrude laterally (in the thickness direction and perpendicular direction of the metal plating layer 600) from the second wiring layer 40 (through conductor 120) on the primer layer 50 by etching. Remove 400. Furthermore, by etching, the seed layer 80 and metal foil 400 that protrude laterally (in the direction perpendicular to the thickness direction of the metal plating layer 600) than the third wiring layer 60 on the primer layer 50 are removed.

以上の工程により、本実施形態のプリント配線板1000が得られる。 Through the above steps, printed wiring board 1000 of this embodiment is obtained.

本実施形態のプリント配線板の製造方法によれば、絶縁層20上にプライマー層50を形成した後、絶縁層20内にビアホール70とビア導体30となる金属めっき層600を形成するため、シード層80および金属箔400の余分な部分を除去する際に、ビアホール70とビア導体30の界面にエッチング液が浸入することを抑制できる。したがって、ビアホール70とビア導体30の界面にエッチング液が浸入することにより、その界面が劣化することを抑制できる。また、外部応力によりビアホール70の内壁面に亀裂が入ることを抑制した本実施形態のプリント配線板1000を製造することができる。 According to the method for manufacturing a printed wiring board of the present embodiment, after forming the primer layer 50 on the insulating layer 20, the seed When removing excess portions of layer 80 and metal foil 400, it is possible to suppress the etching solution from entering the interface between via hole 70 and via conductor 30. Therefore, deterioration of the interface between the via hole 70 and the via conductor 30 due to infiltration of the etching solution can be suppressed. Moreover, it is possible to manufacture the printed wiring board 1000 of this embodiment in which cracks are suppressed from forming in the inner wall surface of the via hole 70 due to external stress.

(3)第3の実施形態
[プリント配線板]
以下、図1および図16を参照して、本実施形態のプリント配線板を説明する。
図16は、図1におけるA-A線に沿う断面図である。図16において、図2に示した構成と同一の構成には同じ符号を付して、その説明を省略する。
(3) Third embodiment [printed wiring board]
The printed wiring board of this embodiment will be described below with reference to FIGS. 1 and 16.
FIG. 16 is a cross-sectional view taken along line AA in FIG. In FIG. 16, the same components as those shown in FIG. 2 are denoted by the same reference numerals, and the description thereof will be omitted.

本実施形態のプリント配線板1100では、第2配線層40が、絶縁層20上に形成されたプライマー層50を厚さ方向に貫通する貫通孔110内に、シード層80を介して充填された金属めっき層90で形成された貫通導体120を介して、ビア導体30に接続されている。 In the printed wiring board 1100 of the present embodiment, the second wiring layer 40 is filled in the through hole 110 that penetrates the primer layer 50 formed on the insulating layer 20 in the thickness direction through the seed layer 80. It is connected to the via conductor 30 via a through conductor 120 formed of a metal plating layer 90.

第2配線層40におけるビア導体30との接続部(貫通導体120)の径は、ビア導体30の第2配線層40側の径よりも小さくなっている。言い換えれば、図16に示すように、第2配線層40とビア導体30を接続する貫通導体120の径dは、ビア導体30における貫通導体120と接する面の径Dよりも小さくなっている。 The diameter of the connecting portion (through conductor 120) with the via conductor 30 in the second wiring layer 40 is smaller than the diameter of the via conductor 30 on the second wiring layer 40 side. In other words, as shown in FIG. 16, the diameter d 5 of the through conductor 120 that connects the second wiring layer 40 and the via conductor 30 is smaller than the diameter D 5 of the surface of the via conductor 30 that is in contact with the through conductor 120. There is.

本実施形態のプリント配線板1100では、図16に示すように、第1の実施形態のプリント配線板1と同様に、プライマー層50が、ビア導体30の周辺部を覆い、かつ、第2配線層40の接続部(貫通導体120)まで延在している。また、本実施形態のプリント配線板1100では、プライマー層50が、ビア導体30と第2配線層40との間に介在している。また、本実施形態のプリント配線板1100では、第1の実施形態のプリント配線板1と異なり、金属層100が、第3配線層60とプライマー層50との間に介在していない。 In the printed wiring board 1100 of this embodiment, as shown in FIG. 16, similarly to the printed wiring board 1 of the first embodiment, the primer layer 50 covers the peripheral part of the via conductor 30 and It extends to the connecting portion (through conductor 120) of layer 40. Furthermore, in the printed wiring board 1100 of this embodiment, the primer layer 50 is interposed between the via conductor 30 and the second wiring layer 40. Further, in the printed wiring board 1100 of this embodiment, unlike the printed wiring board 1 of the first embodiment, the metal layer 100 is not interposed between the third wiring layer 60 and the primer layer 50.

本実施形態のプリント配線板1100によれば、絶縁層20上にプライマー層50が形成され、プライマー層50が、ビア導体30の周辺部を覆い、かつ、第2配線層40の接続部(貫通導体120)まで延在し、第2配線層40の接続部(貫通導体120)の径dが、ビア導体30の第2配線層40側の径Dよりも小さいため、ビアホール70とビア導体30の界面にエッチング液が浸入することにより、その界面が劣化することを抑制できる。また、外部応力によりビアホール70の内壁面に亀裂が入ることを抑制できる。 According to the printed wiring board 1100 of this embodiment, the primer layer 50 is formed on the insulating layer 20, and the primer layer 50 covers the peripheral part of the via conductor 30 and connects the second wiring layer 40 (through-hole). The diameter d 5 of the connecting portion (through conductor 120 ) of the second wiring layer 40 is smaller than the diameter D 5 of the via conductor 30 on the second wiring layer 40 side. Infiltration of the etching solution into the interface of the conductor 30 can suppress deterioration of the interface. Furthermore, it is possible to suppress cracks from forming in the inner wall surface of the via hole 70 due to external stress.

本実施形態のプリント配線板1100によれば、第2配線層40の間のプライマー層50上に第3配線層60を形成することもできるため、より高密度化することができる。 According to the printed wiring board 1100 of this embodiment, the third wiring layer 60 can be formed on the primer layer 50 between the second wiring layers 40, so that higher density can be achieved.

[プリント配線板の製造方法]
以下、図17~図23を参照して、本実施形態のプリント配線板の製造方法を説明する。
図17~図23は、本実施形態のプリント配線板の製造方法を示す断面図である。図17~図23において、図1および図2に示した構成と同一の構成には同じ符号を付して、その説明を省略する。
[Manufacturing method of printed wiring board]
The method for manufacturing the printed wiring board of this embodiment will be described below with reference to FIGS. 17 to 23.
17 to 23 are cross-sectional views showing the method for manufacturing the printed wiring board of this embodiment. In FIGS. 17 to 23, the same components as those shown in FIGS. 1 and 2 are denoted by the same reference numerals, and their explanations will be omitted.

本実施形態のプリント配線板の製造方法では、図17に示すように、まず、絶縁基板200上に第1配線層10が形成されたベース配線基板300を用意する。 In the printed wiring board manufacturing method of this embodiment, as shown in FIG. 17, first, a base wiring board 300 in which a first wiring layer 10 is formed on an insulating substrate 200 is prepared.

次いで、図17に示すように、第1配線層10上に絶縁層20を形成する(絶縁層形成工程)。 Next, as shown in FIG. 17, an insulating layer 20 is formed on the first wiring layer 10 (insulating layer forming step).

次いで、図17に示すように、絶縁層20上にプライマー層50が積層された金属箔400を、プライマー層50が絶縁層20に接するように積層する(積層工程)。 Next, as shown in FIG. 17, a metal foil 400 having a primer layer 50 laminated on the insulating layer 20 is laminated so that the primer layer 50 is in contact with the insulating layer 20 (lamination step).

次いで、図18に示すように、金属箔400(金属層100)をポイントエッチングした後、プライマー層50をレーザーで加工することにより、第1配線層10のランドL1に対応する位置に貫通孔110を形成する(貫通孔形成工程)。
詳細には、貫通孔形成工程では、まず、ポイントエッチングにより、第1配線層10のランドL1に対応する位置の金属箔400を除去する。続いて、プライマー層50をレーザーで加工することにより、金属箔400から絶縁層20を露出させる貫通孔110を形成する。
Next, as shown in FIG. 18, after point etching the metal foil 400 (metal layer 100), the primer layer 50 is processed with a laser to form through holes 110 at positions corresponding to the lands L1 of the first wiring layer 10. (through-hole formation step).
Specifically, in the through-hole forming step, first, the metal foil 400 at the position corresponding to the land L1 of the first wiring layer 10 is removed by point etching. Subsequently, the primer layer 50 is processed with a laser to form a through hole 110 that exposes the insulating layer 20 from the metal foil 400.

次いで、図19に示すように、貫通孔110を介して絶縁層20を等方性エッチングし、絶縁層20に、貫通孔110に連通し、貫通孔110よりも大径であり、かつ、第1配線層10のランドL1を露出させるビアホール70を形成する(ビアホール形成工程)。 Next, as shown in FIG. 19, the insulating layer 20 is isotropically etched through the through hole 110, and the insulating layer 20 has a second hole that communicates with the through hole 110 and has a larger diameter than the through hole 110. A via hole 70 is formed to expose the land L1 of the first wiring layer 10 (via hole forming step).

次いで、絶縁層20を完全硬化させる(絶縁層硬化工程)。 Next, the insulating layer 20 is completely cured (insulating layer curing step).

次いで、図20に示すように、金属箔400をエッチングする。すなわち、エッチングにより金属箔400を除去する(金属除去工程)。 Next, as shown in FIG. 20, the metal foil 400 is etched. That is, the metal foil 400 is removed by etching (metal removal step).

次いで、図21に示すように、プライマー層50の表面(上面)50a、貫通孔110の内面110aおよびビアホール70の内面70aに、無電解めっきにより、シード層80を形成する(シード層形成工程)。 Next, as shown in FIG. 21, a seed layer 80 is formed on the surface (upper surface) 50a of the primer layer 50, the inner surface 110a of the through hole 110, and the inner surface 70a of the via hole 70 by electroless plating (seed layer forming step). .

次いで、図22に示すように、シード層80を介して、プライマー層50上に、上記の第2配線層40が配置される部分に上記の第2配線層40の形状に相当する第1の開口部500a、および、上記の第3配線層60が配置される部分に上記の第3配線層60の形状に相当する第2の開口部500bを有するめっきレジスト500を形成する(めっきレジスト形成工程)。
詳細には、めっきレジスト形成工程では、金属箔400上におけるビアホール70に対向する位置に第1の開口部500aを有するめっきレジスト500を形成する。なお、図22に示すように、第1の開口部500aの径dを、貫通孔110の径Dよりも大きくする。
Next, as shown in FIG. 22, a first layer corresponding to the shape of the second wiring layer 40 is formed on the primer layer 50 via the seed layer 80 in a portion where the second wiring layer 40 is placed. A plating resist 500 having an opening 500a and a second opening 500b corresponding to the shape of the third wiring layer 60 is formed in a portion where the third wiring layer 60 is arranged (plating resist forming step). ).
Specifically, in the plating resist forming step, a plating resist 500 having a first opening 500a at a position facing the via hole 70 on the metal foil 400 is formed. Note that, as shown in FIG. 22, the diameter d6 of the first opening 500a is made larger than the diameter D6 of the through hole 110.

次いで、図22に示すように、シード層80をめっき給電経路に利用する電解めっきにより、ビアホール70内から貫通孔110を通ってめっきレジスト500の第1の開口部500aに至る金属めっき層600を形成する(金属めっき層形成工程)。また、シード層80をめっき給電経路に利用する電解めっきにより、めっきレジスト500の第2の開口部500b内に金属めっき層600を形成する(金属めっき層形成工程)。 Next, as shown in FIG. 22, a metal plating layer 600 is formed from inside the via hole 70 through the through hole 110 to the first opening 500a of the plating resist 500 by electrolytic plating using the seed layer 80 as a plating power supply path. (metal plating layer formation process). Further, a metal plating layer 600 is formed in the second opening 500b of the plating resist 500 by electrolytic plating using the seed layer 80 as a plating power supply path (metal plating layer forming step).

次いで、図23に示すように、めっきレジスト500を除去する(めっきレジスト除去工程)。 Next, as shown in FIG. 23, the plating resist 500 is removed (plating resist removal step).

次いで、図23に示すように、シード層80をエッチングする。詳細には、エッチングにより、プライマー層50上において、第2配線層40(貫通導体120)よりも側方(金属めっき層600の厚さ方向と垂直方向)に突出しているシード層80を除去する。また、エッチングにより、プライマー層50上において、第3配線層60よりも側方(金属めっき層600の厚さ方向と垂直方向)に突出しているシード層80を除去する。 Next, as shown in FIG. 23, the seed layer 80 is etched. Specifically, on the primer layer 50, the seed layer 80 that protrudes laterally (in the direction perpendicular to the thickness direction of the metal plating layer 600) than the second wiring layer 40 (through conductor 120) is removed by etching. . Further, by etching, the seed layer 80 that protrudes laterally (in the direction perpendicular to the thickness direction of the metal plating layer 600) than the third wiring layer 60 on the primer layer 50 is removed.

以上の工程により、本実施形態のプリント配線板1100が得られる。 Through the above steps, printed wiring board 1100 of this embodiment is obtained.

本実施形態のプリント配線板の製造方法によれば、絶縁層20上にプライマー層50を形成した後、絶縁層20内にビアホール70とビア導体30となる金属めっき層600を形成するため、シード層80の余分な部分を除去する際に、ビアホール70とビア導体30の界面にエッチング液が浸入することを抑制できる。したがって、ビアホール70とビア導体30の界面にエッチング液が浸入することにより、その界面が劣化することを抑制できる。また、外部応力によりビアホール70の内壁面に亀裂が入ることを抑制した本実施形態のプリント配線板1100を製造することができる。 According to the method for manufacturing a printed wiring board of the present embodiment, after forming the primer layer 50 on the insulating layer 20, the seed When removing the excess portion of the layer 80, it is possible to suppress the etching solution from entering the interface between the via hole 70 and the via conductor 30. Therefore, deterioration of the interface between the via hole 70 and the via conductor 30 due to infiltration of the etching solution can be suppressed. Moreover, it is possible to manufacture the printed wiring board 1100 of this embodiment in which cracks are suppressed from forming in the inner wall surface of the via hole 70 due to external stress.

(4)第4の実施形態
[プリント配線板]
以下、図1および図24を参照して、本実施形態のプリント配線板を説明する。
図24は、図1におけるA-A線に沿う断面図である。図24において、図2に示した構成と同一の構成には同じ符号を付して、その説明を省略する。
(4) Fourth embodiment [Printed wiring board]
The printed wiring board of this embodiment will be described below with reference to FIGS. 1 and 24.
FIG. 24 is a sectional view taken along line AA in FIG. 1. In FIG. 24, the same components as those shown in FIG. 2 are denoted by the same reference numerals, and the description thereof will be omitted.

本実施形態のプリント配線板1200では、第2配線層40が、絶縁層20上に形成されたプライマー層50を厚さ方向に貫通する貫通孔110内に、シード層80を介して充填された金属めっき層90で形成された貫通導体120を介して、ビア導体30に接続されている。 In the printed wiring board 1200 of the present embodiment, the second wiring layer 40 is filled in the through hole 110 that penetrates the primer layer 50 formed on the insulating layer 20 in the thickness direction through the seed layer 80. It is connected to the via conductor 30 via a through conductor 120 formed of a metal plating layer 90.

第2配線層40におけるビア導体30との接続部(貫通導体120)の径は、ビア導体30の第2配線層40側の径よりも小さくなっている。言い換えれば、図24に示すように、第2配線層40とビア導体30を接続する貫通導体120の径dは、ビア導体30における貫通導体120と接する面の径Dよりも小さくなっている。 The diameter of the connecting portion (through conductor 120) with the via conductor 30 in the second wiring layer 40 is smaller than the diameter of the via conductor 30 on the second wiring layer 40 side. In other words, as shown in FIG. 24, the diameter d 7 of the through conductor 120 connecting the second wiring layer 40 and the via conductor 30 is smaller than the diameter D 7 of the surface of the via conductor 30 in contact with the through conductor 120. There is.

本実施形態のプリント配線板1200では、図24に示すように、第1の実施形態のプリント配線板1と同様に、プライマー層50が、ビア導体30の周辺部を覆い、かつ、第2配線層40の接続部(貫通導体120)まで延在している。また、本実施形態のプリント配線板1200では、第1の実施形態のプリント配線板1と異なり、プライマー層50が、ビア導体30と第2配線層40との間に介在していない。また、本実施形態のプリント配線板1200では、第1の実施形態のプリント配線板1と異なり、金属層100が、第3配線層60とプライマー層50との間に介在していない。 In the printed wiring board 1200 of this embodiment, as shown in FIG. 24, similarly to the printed wiring board 1 of the first embodiment, the primer layer 50 covers the peripheral part of the via conductor 30 and It extends to the connecting portion (through conductor 120) of layer 40. Further, in the printed wiring board 1200 of this embodiment, unlike the printed wiring board 1 of the first embodiment, the primer layer 50 is not interposed between the via conductor 30 and the second wiring layer 40. Further, in the printed wiring board 1200 of this embodiment, unlike the printed wiring board 1 of the first embodiment, the metal layer 100 is not interposed between the third wiring layer 60 and the primer layer 50.

本実施形態のプリント配線板1200によれば、絶縁層20上にプライマー層50が形成され、プライマー層50が、ビア導体30の周辺部を覆い、かつ、第2配線層40の接続部(貫通導体120)まで延在し、第2配線層40の接続部(貫通導体120)の径dが、ビア導体30の第2配線層40側の径Dよりも小さいため、ビアホール70とビア導体30の界面にエッチング液が浸入することにより、その界面が劣化することを抑制できる。また、外部応力によりビアホール70の内壁面に亀裂が入ることを抑制できる。 According to the printed wiring board 1200 of this embodiment, the primer layer 50 is formed on the insulating layer 20, and the primer layer 50 covers the peripheral part of the via conductor 30 and connects the second wiring layer 40 (through-hole). The diameter d 7 of the connecting portion (through conductor 120 ) of the second wiring layer 40 is smaller than the diameter D 7 of the via conductor 30 on the second wiring layer 40 side. Infiltration of the etching solution into the interface of the conductor 30 can suppress deterioration of the interface. Furthermore, it is possible to suppress cracks from forming in the inner wall surface of the via hole 70 due to external stress.

本実施形態のプリント配線板1200によれば、第2配線層40の間のプライマー層50上に第3配線層60を形成することもできるため、より高密度化することができる。 According to the printed wiring board 1200 of this embodiment, the third wiring layer 60 can be formed on the primer layer 50 between the second wiring layers 40, so that higher density can be achieved.

[プリント配線板の製造方法]
以下、図25~図31を参照して、本実施形態のプリント配線板の製造方法を説明する。
図25~図31は、本実施形態のプリント配線板の製造方法を示す断面図である。図25~図31において、図1および図2に示した構成と同一の構成には同じ符号を付して、その説明を省略する。
[Manufacturing method of printed wiring board]
The method for manufacturing the printed wiring board of this embodiment will be described below with reference to FIGS. 25 to 31.
25 to 31 are cross-sectional views showing the method for manufacturing the printed wiring board of this embodiment. In FIGS. 25 to 31, the same components as those shown in FIGS. 1 and 2 are denoted by the same reference numerals, and their explanations will be omitted.

本実施形態のプリント配線板の製造方法では、図25に示すように、まず、絶縁基板200上に第1配線層10が形成されたベース配線基板300を用意する。 In the printed wiring board manufacturing method of this embodiment, as shown in FIG. 25, first, a base wiring board 300 in which a first wiring layer 10 is formed on an insulating substrate 200 is prepared.

次いで、図26に示すように、第1配線層10上に絶縁層20を形成する(絶縁層形成工程)。 Next, as shown in FIG. 26, an insulating layer 20 is formed on the first wiring layer 10 (insulating layer forming step).

次いで、絶縁層20を完全硬化させる(絶縁層硬化工程)。 Next, the insulating layer 20 is completely cured (insulating layer curing step).

次いで、図26に示すように、絶縁層20上にプライマー層50が積層された金属箔400を、プライマー層50が絶縁層20に接するように積層する(積層工程)。 Next, as shown in FIG. 26, the metal foil 400 in which the primer layer 50 is laminated on the insulating layer 20 is laminated so that the primer layer 50 is in contact with the insulating layer 20 (lamination step).

次いで、図26に示すように、金属箔400(金属層100)をポイントエッチングまたはレーザーで加工することにより、第1配線層10のランドL1に対応する位置に貫通孔110を形成する(貫通孔形成工程)。
詳細には、貫通孔形成工程では、金属箔400をポイントエッチングまたはレーザーで加工することにより、金属箔400からプライマー層50を露出させる貫通孔110を形成する。
Next, as shown in FIG. 26, the metal foil 400 (metal layer 100) is processed by point etching or laser processing to form a through hole 110 at a position corresponding to the land L1 of the first wiring layer 10 (through hole forming process).
Specifically, in the through-hole forming step, the through-hole 110 that exposes the primer layer 50 is formed from the metal foil 400 by processing the metal foil 400 by point etching or laser processing.

次いで、図27に示すように、貫通孔110を介してプライマー層50および絶縁層20をレーザーで加工することにより、絶縁層20に、貫通孔110に連通し、貫通孔110よりも大径であり、かつ、第1配線層10のランドL1を露出させるビアホール70を形成する(ビアホール形成工程)。 Next, as shown in FIG. 27, by laser processing the primer layer 50 and the insulating layer 20 through the through hole 110, a hole is formed in the insulating layer 20 that communicates with the through hole 110 and has a larger diameter than the through hole 110. A via hole 70 is formed to expose the land L1 of the first wiring layer 10 (via hole forming step).

次いで、図28に示すように、金属箔400をエッチングする。すなわち、エッチングにより金属箔400を除去する(金属除去工程)。 Next, as shown in FIG. 28, the metal foil 400 is etched. That is, the metal foil 400 is removed by etching (metal removal step).

次いで、図29に示すように、プライマー層50の表面(上面)50a、貫通孔110の内面110aおよびビアホール70の内面70aに、無電解めっきにより、シード層80を形成する(シード層形成工程)。 Next, as shown in FIG. 29, a seed layer 80 is formed on the surface (upper surface) 50a of the primer layer 50, the inner surface 110a of the through hole 110, and the inner surface 70a of the via hole 70 by electroless plating (seed layer forming step). .

次いで、図30に示すように、シード層80を介して、プライマー層50上に、上記の第2配線層40が配置される部分に上記の第2配線層40の形状に相当する第1の開口部500a、および、上記の第3配線層60が配置される部分に上記の第3配線層60の形状に相当する第2の開口部500bを有するめっきレジスト500を形成する(めっきレジスト形成工程)。
詳細には、めっきレジスト形成工程では、金属箔400上におけるビアホール70に対向する位置に第1の開口部500aを有するめっきレジスト500を形成する。なお、図30に示すように、第1の開口部500aの径dを、貫通孔110の径Dよりも小さくする。
Next, as shown in FIG. 30, a first layer corresponding to the shape of the second wiring layer 40 is formed on the primer layer 50 via the seed layer 80 in a portion where the second wiring layer 40 is placed. A plating resist 500 having an opening 500a and a second opening 500b corresponding to the shape of the third wiring layer 60 is formed in a portion where the third wiring layer 60 is arranged (plating resist forming step). ).
Specifically, in the plating resist forming step, a plating resist 500 having a first opening 500a at a position facing the via hole 70 on the metal foil 400 is formed. Note that, as shown in FIG. 30, the diameter d8 of the first opening 500a is made smaller than the diameter D8 of the through hole 110.

次いで、図30に示すように、シード層80をめっき給電経路に利用する電解めっきにより、ビアホール70内から貫通孔110を通ってめっきレジスト500の第1の開口部500aに至る金属めっき層600を形成する(金属めっき層形成工程)。また、シード層80をめっき給電経路に利用する電解めっきにより、めっきレジスト500の第2の開口部500b内に金属めっき層600を形成する(金属めっき層形成工程)。 Next, as shown in FIG. 30, a metal plating layer 600 is formed from inside the via hole 70 through the through hole 110 to the first opening 500a of the plating resist 500 by electroplating using the seed layer 80 as a plating power supply path. (metal plating layer formation process). Further, a metal plating layer 600 is formed in the second opening 500b of the plating resist 500 by electrolytic plating using the seed layer 80 as a plating power supply path (metal plating layer forming step).

次いで、図31に示すように、めっきレジスト500を除去する(めっきレジスト除去工程)。 Next, as shown in FIG. 31, the plating resist 500 is removed (plating resist removal step).

次いで、図31に示すように、シード層80をエッチングする。詳細には、エッチングにより、プライマー層50上において、第2配線層40(貫通導体120)よりも側方(金属めっき層600の厚さ方向と垂直方向)に突出しているシード層80を除去する。また、エッチングにより、プライマー層50上において、第3配線層60よりも側方(金属めっき層600の厚さ方向と垂直方向)に突出しているシード層80を除去する。 Next, as shown in FIG. 31, the seed layer 80 is etched. Specifically, on the primer layer 50, the seed layer 80 that protrudes laterally (in the direction perpendicular to the thickness direction of the metal plating layer 600) than the second wiring layer 40 (through conductor 120) is removed by etching. . Further, by etching, the seed layer 80 that protrudes laterally (in the direction perpendicular to the thickness direction of the metal plating layer 600) than the third wiring layer 60 on the primer layer 50 is removed.

以上の工程により、本実施形態のプリント配線板1200が得られる。 Through the above steps, printed wiring board 1200 of this embodiment is obtained.

本実施形態のプリント配線板の製造方法によれば、絶縁層20上にプライマー層50を形成した後、絶縁層20内にビアホール70とビア導体30となる金属めっき層600を形成するため、シード層80の余分な部分を除去する際に、ビアホール70とビア導体30の界面にエッチング液が浸入することを抑制できる。したがって、ビアホール70とビア導体30の界面にエッチング液が浸入することにより、その界面が劣化することを抑制できる。また、外部応力によりビアホール70の内壁面に亀裂が入ることを抑制した本実施形態のプリント配線板1200を製造することができる。 According to the method for manufacturing a printed wiring board of the present embodiment, after forming the primer layer 50 on the insulating layer 20, the seed When removing the excess portion of the layer 80, it is possible to suppress the etching solution from entering the interface between the via hole 70 and the via conductor 30. Therefore, deterioration of the interface between the via hole 70 and the via conductor 30 due to infiltration of the etching solution can be suppressed. Further, it is possible to manufacture the printed wiring board 1200 of this embodiment in which cracks are suppressed from forming in the inner wall surface of the via hole 70 due to external stress.

1,1000,1100,1200 プリント配線板
10 第1配線層
20 絶縁層
30 ビア導体
40 第2配線層
50 プライマー層
60 第3配線層
70 ビアホール
80 シード層
90 金属めっき層
100 金属層
110 貫通孔
120 貫通導体(接続部)
200 絶縁基板
300 ベース配線基板
400 金属箔
500 めっきレジスト
500a 第1の開口部
500b 第2の開口部
600 金属めっき層
700 レジスト
1,1000,1100,1200 Printed wiring board 10 First wiring layer 20 Insulating layer 30 Via conductor 40 Second wiring layer 50 Primer layer 60 Third wiring layer 70 Via hole 80 Seed layer 90 Metal plating layer 100 Metal layer 110 Through hole 120 Through conductor (connection part)
200 Insulating substrate 300 Base wiring board 400 Metal foil 500 Plating resist 500a First opening 500b Second opening 600 Metal plating layer 700 Resist

Claims (7)

第1配線層上に絶縁層を形成する工程と、
前記第1配線上に絶縁層とプライマー層がこの順に積層された積層構造を形成する工程と、
前記プライマー層における前記第1配線層の接続部に対応する位置に貫通孔を形成する工程と、
前記貫通孔を介して前記絶縁層に、前記貫通孔に連通し、前記貫通孔よりも大径であり、かつ、前記第1配線層を露出させるビアホールを形成する工程と、
記貫通孔の内面および前記ビアホールの内面にシード層を形成する工程と、
前記プライマー層上に、第2配線層が配置される部分に前記第2配線層の形状に相当する第1の開口部を有するめっきレジストを形成する工程と、
前記ビアホール内から前記めっきレジストの第1の開口部に至る金属めっき層を形成する工程と、
前記めっきレジストを除去する工程と、
前記第2配線層よりも側方に突出している前記シード層をエッチングする工程と、を有することを特徴とするプリント配線板の製造方法。
forming an insulating layer on the first wiring layer;
forming a laminated structure in which an insulating layer and a primer layer are laminated in this order on the first wiring layer ;
forming a through hole in the primer layer at a position corresponding to the connection portion of the first wiring layer;
forming a via hole in the insulating layer via the through hole, communicating with the through hole, having a larger diameter than the through hole, and exposing the first wiring layer;
forming a seed layer on the inner surface of the through hole and the inner surface of the via hole;
forming, on the primer layer, a plating resist having a first opening corresponding to the shape of the second wiring layer in a portion where the second wiring layer is arranged;
forming a metal plating layer from inside the via hole to the first opening of the plating resist;
removing the plating resist;
A method for manufacturing a printed wiring board, comprising the step of etching the seed layer that protrudes laterally than the second wiring layer.
第1配線層上に絶縁層を形成する工程と、
前記第1配線上に絶縁層とプライマー層と金属層とがこの順に積層された積層構造を形成する工程と、
前記金属層をポイントエッチングした後、前記プライマー層をレーザーで加工することにより、前記第1配線層の接続部に対応する位置に貫通孔を形成する工程と、
前記貫通孔を介して前記絶縁層を等方性エッチングし、前記絶縁層に、前記貫通孔に連通し、前記貫通孔よりも大径であり、かつ、前記第1配線層を露出させるビアホールを形成する工程と、
前記絶縁層を完全硬化させる工程と、
前記金属層の表面、前記貫通孔の内面および前記ビアホールの内面に、無電解めっきにより、シード層を形成する工程と、
前記シード層を介して前記金属層上に、第2配線層が配置される部分に前記第2配線層の形状に相当する第1の開口部を有するめっきレジストを形成する工程と、
前記シード層をめっき給電経路に利用する電解めっきにより、前記ビアホール内から前記めっきレジストの第1の開口部に至る金属めっき層を形成する工程と、
前記めっきレジストを除去する工程と、
前記第2配線層よりも側方に突出している前記シード層および前記金属層をエッチングする工程と、を有することを特徴とする請求項に記載のプリント配線板の製造方法。
forming an insulating layer on the first wiring layer;
forming a laminated structure in which an insulating layer, a primer layer, and a metal layer are laminated in this order on the first wiring layer ;
After point etching the metal layer, processing the primer layer with a laser to form a through hole at a position corresponding to a connection portion of the first wiring layer;
The insulating layer is isotropically etched through the through hole, and a via hole is formed in the insulating layer, communicating with the through hole, having a larger diameter than the through hole, and exposing the first wiring layer. a step of forming;
Completely curing the insulating layer;
forming a seed layer on the surface of the metal layer, the inner surface of the through hole, and the inner surface of the via hole by electroless plating;
forming a plating resist having a first opening corresponding to the shape of the second wiring layer in a portion where a second wiring layer is arranged on the metal layer via the seed layer;
forming a metal plating layer from inside the via hole to the first opening of the plating resist by electrolytic plating using the seed layer as a plating power supply path;
removing the plating resist;
2. The method of manufacturing a printed wiring board according to claim 1 , further comprising the step of etching the seed layer and the metal layer that protrude laterally than the second wiring layer.
第1配線層上に絶縁層を形成する工程と、
前記第1配線上に絶縁層とプライマー層と金属層とがこの順に積層された積層構造を形成する工程と、
前記絶縁層を完全硬化させる工程と、
前記金属層をポイントエッチングまたはレーザーで加工することにより、前記第1配線層の接続部に対応する位置に貫通孔を形成する工程と、
前記貫通孔を介して前記プライマー層および前記絶縁層をレーザーで加工することにより、前記絶縁層に、前記貫通孔に連通し、前記貫通孔よりも大径であり、かつ、前記第1配線層を露出させるビアホールを形成する工程と、
前記金属層の表面、前記貫通孔の内面および前記ビアホールの内面に、無電解めっきにより、シード層を形成する工程と、
前記シード層を介して前記金属層上に、第2配線層が配置される部分に前記第2配線層の形状に相当する第1の開口部を有するめっきレジストを形成する工程と、
前記シード層をめっき給電経路に利用する電解めっきにより、前記ビアホール内から前記めっきレジストの第1の開口部に至る金属めっき層を形成する工程と、
前記めっきレジストを除去する工程と、
前記第2配線層よりも側方に突出している前記シード層および前記金属層をエッチングする工程と、を有することを特徴とする請求項に記載のプリント配線板の製造方法。
forming an insulating layer on the first wiring layer;
forming a laminated structure in which an insulating layer, a primer layer, and a metal layer are laminated in this order on the first wiring layer ;
Completely curing the insulating layer;
forming a through hole at a position corresponding to a connection portion of the first wiring layer by point etching or laser processing the metal layer;
By processing the primer layer and the insulating layer through the through-hole with a laser, the insulating layer has a layer that communicates with the through-hole, has a larger diameter than the through-hole, and has a shape in the first wiring layer. forming a via hole exposing the
forming a seed layer on the surface of the metal layer, the inner surface of the through hole, and the inner surface of the via hole by electroless plating;
forming a plating resist having a first opening corresponding to the shape of the second wiring layer in a portion where a second wiring layer is arranged on the metal layer via the seed layer;
forming a metal plating layer from inside the via hole to the first opening of the plating resist by electrolytic plating using the seed layer as a plating power supply path;
removing the plating resist;
2. The method of manufacturing a printed wiring board according to claim 1 , further comprising the step of etching the seed layer and the metal layer that protrude laterally than the second wiring layer.
前記シード層を介して前記金属層上における前記第2配線層の間に第3配線層の形状に相当する第2の開口部を有するめっきレジストを形成する工程と、
前記シード層をめっき給電経路に利用する電解めっきにより、前記めっきレジストの第2の開口部内に金属めっき層を形成する工程と、
前記めっきレジストを除去する工程と、
前記第3配線層よりも側方に突出している前記シード層および前記金属層をエッチングする工程と、を有することを特徴とする請求項またはに記載のプリント配線板の製造方法。
forming a plating resist having a second opening corresponding to the shape of a third wiring layer between the second wiring layer on the metal layer via the seed layer;
forming a metal plating layer within the second opening of the plating resist by electrolytic plating using the seed layer as a plating power supply path;
removing the plating resist;
4. The method of manufacturing a printed wiring board according to claim 2 , further comprising the step of etching the seed layer and the metal layer that protrude laterally than the third wiring layer.
第1配線層上に絶縁層を形成する工程と、
前記第1配線上に絶縁層とプライマー層と金属層とがこの順に積層された積層構造を形成する工程と、
前記金属層をポイントエッチングした後、前記プライマー層をレーザーで加工することにより、前記第1配線層の接続部に対応する位置に貫通孔を形成する工程と、
前記貫通孔を介して前記絶縁層を等方性エッチングし、前記絶縁層に、前記貫通孔に連通し、前記貫通孔よりも大径であり、かつ、前記第1配線層を露出させるビアホールを形成する工程と、
前記絶縁層を完全硬化させる工程と、
前記金属層をエッチングする工程と、
前記プライマー層の表面、前記貫通孔の内面および前記ビアホールの内面に、無電解めっきにより、シード層を形成する工程と、
前記シード層を介して前記プライマー層上に、第2配線層が配置される部分に前記第2配線層の形状に相当する第1の開口部を有するめっきレジストを形成する工程と、
前記シード層をめっき給電経路に利用する電解めっきにより、前記ビアホール内から前記めっきレジストの第1の開口部に至る金属めっき層を形成する工程と、
前記めっきレジストを除去する工程と、
前記第2配線層よりも側方に突出している前記シード層をエッチングする工程と、を有することを特徴とする請求項に記載のプリント配線板の製造方法。
forming an insulating layer on the first wiring layer;
forming a laminated structure in which an insulating layer, a primer layer, and a metal layer are laminated in this order on the first wiring layer ;
After point etching the metal layer, processing the primer layer with a laser to form a through hole at a position corresponding to a connection portion of the first wiring layer;
The insulating layer is isotropically etched through the through hole, and a via hole is formed in the insulating layer, communicating with the through hole, having a larger diameter than the through hole, and exposing the first wiring layer. a step of forming;
Completely curing the insulating layer;
etching the metal layer;
forming a seed layer on the surface of the primer layer, the inner surface of the through hole, and the inner surface of the via hole by electroless plating;
forming a plating resist having a first opening corresponding to the shape of the second wiring layer in a portion where a second wiring layer is placed on the primer layer via the seed layer;
forming a metal plating layer from inside the via hole to the first opening of the plating resist by electrolytic plating using the seed layer as a plating power supply path;
removing the plating resist;
2. The method of manufacturing a printed wiring board according to claim 1 , further comprising the step of etching the seed layer that protrudes laterally than the second wiring layer.
第1配線層上に絶縁層を形成する工程と、
前記第1配線上に絶縁層とプライマー層と金属層とがこの順に積層された積層構造を形成する工程と、
前記絶縁層を完全硬化させる工程と、
前記金属層をポイントエッチングまたはレーザーで加工することにより、前記第1配線層の接続部に対応する位置に貫通孔を形成する工程と、
前記貫通孔を介して前記プライマー層および前記絶縁層をレーザーで加工することにより、前記絶縁層に、前記貫通孔に連通し、前記貫通孔よりも大径であり、かつ、前記第1配線層を露出させるビアホールを形成する工程と、
前記金属層をエッチングする工程と、
前記プライマー層の表面、前記貫通孔の内面および前記ビアホールの内面に、無電解めっきにより、シード層を形成する工程と、
前記シード層を介して前記プライマー層上に、第2配線層が配置される部分に前記第2配線層の形状に相当する第1の開口部を有するめっきレジストを形成する工程と、
前記シード層をめっき給電経路に利用する電解めっきにより、前記ビアホール内から前記めっきレジストの第1の開口部に至る金属めっき層を形成する工程と、
前記めっきレジストを除去する工程と、
前記第2配線層よりも側方に突出している前記シード層をエッチングする工程と、を有することを特徴とする請求項に記載のプリント配線板の製造方法。
forming an insulating layer on the first wiring layer;
forming a laminated structure in which an insulating layer, a primer layer, and a metal layer are laminated in this order on the first wiring layer ;
Completely curing the insulating layer;
forming a through hole at a position corresponding to a connection portion of the first wiring layer by point etching or laser processing the metal layer;
By processing the primer layer and the insulating layer through the through-hole with a laser, the insulating layer has a layer that communicates with the through-hole, has a larger diameter than the through-hole, and has a shape in the first wiring layer. forming a via hole exposing the
etching the metal layer;
forming a seed layer on the surface of the primer layer, the inner surface of the through hole, and the inner surface of the via hole by electroless plating;
forming a plating resist having a first opening corresponding to the shape of the second wiring layer in a portion where a second wiring layer is placed on the primer layer via the seed layer;
forming a metal plating layer from inside the via hole to the first opening of the plating resist by electrolytic plating using the seed layer as a plating power supply path;
removing the plating resist;
2. The method of manufacturing a printed wiring board according to claim 1 , further comprising the step of etching the seed layer that protrudes laterally than the second wiring layer.
前記シード層を介して前記金属層上における前記第2配線層の間に第3配線層の形状に相当する第2の開口部を有するめっきレジストを形成する工程と、
前記シード層をめっき給電経路に利用する電解めっきにより、前記めっきレジストの第2の開口部内に金属めっき層を形成する工程と、
前記めっきレジストを除去する工程と、
前記第3配線層よりも側方に突出している前記シード層をエッチングする工程と、を有することを特徴とする請求項またはに記載のプリント配線板の製造方法。
forming a plating resist having a second opening corresponding to the shape of a third wiring layer between the second wiring layer on the metal layer via the seed layer;
forming a metal plating layer within the second opening of the plating resist by electrolytic plating using the seed layer as a plating power supply path;
removing the plating resist;
7. The method of manufacturing a printed wiring board according to claim 5 , further comprising the step of etching the seed layer that protrudes laterally than the third wiring layer.
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