JP7345963B2 - processing equipment - Google Patents

processing equipment Download PDF

Info

Publication number
JP7345963B2
JP7345963B2 JP2019090893A JP2019090893A JP7345963B2 JP 7345963 B2 JP7345963 B2 JP 7345963B2 JP 2019090893 A JP2019090893 A JP 2019090893A JP 2019090893 A JP2019090893 A JP 2019090893A JP 7345963 B2 JP7345963 B2 JP 7345963B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
workpiece
dividing line
chips
planned
control unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2019090893A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2020188099A (en
Inventor
英明 田中
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Disco Corp
Original Assignee
Disco Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Disco Corp filed Critical Disco Corp
Priority to JP2019090893A priority Critical patent/JP7345963B2/en
Publication of JP2020188099A publication Critical patent/JP2020188099A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP7345963B2 publication Critical patent/JP7345963B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Description

本発明は、被加工物を複数のチップに分割する加工装置に関する。 The present invention relates to a processing device that divides a workpiece into a plurality of chips.

ガラス基板や半導体ウェーハに代表される被加工物を切断して複数のチップに分割することにより、様々な部品が製造される。例えば、円盤状のガラス基板を格子状に配列された複数の分割予定ライン(ストリート)に沿って分割することにより、複数の直方体状のガラスチップが得られる。このガラスチップは、デジタルカメラ、ビデオカメラ等に搭載される、CCD(Charged-Coupled Devices)イメージセンサ、CMOS(Complementary Metal-Oxide-Semiconductor)イメージセンサ等の撮像素子を保護するためのカバーガラスの製造や、光学フィルター等の光学部品の製造に用いられる。 Various parts are manufactured by cutting a workpiece, such as a glass substrate or a semiconductor wafer, into multiple chips. For example, a plurality of rectangular parallelepiped glass chips can be obtained by dividing a disk-shaped glass substrate along a plurality of dividing lines (street) arranged in a grid. This glass chip is used to manufacture cover glasses to protect image sensors such as CCD (Charged-Coupled Devices) image sensors and CMOS (Complementary Metal-Oxide-Semiconductor) image sensors installed in digital cameras, video cameras, etc. It is used in the manufacture of optical parts such as optical filters and optical filters.

被加工物の分割には、例えば切削装置が用いられる。切削装置は、被加工物を保持するチャックテーブル(保持テーブル)と、チャックテーブルによって保持された被加工物を切削する加工ユニット(切削ユニット)とを備える。また、加工ユニットには、被加工物を切削するための環状の切削ブレードが装着されるスピンドル(回転軸)が設けられている。切削ブレードは、例えばダイヤモンド等でなる砥粒をボンド材で固定することによって製造される。 For example, a cutting device is used to divide the workpiece. The cutting device includes a chuck table (holding table) that holds a workpiece, and a processing unit (cutting unit) that cuts the workpiece held by the chuck table. The processing unit is also provided with a spindle (rotary shaft) to which is attached an annular cutting blade for cutting the workpiece. The cutting blade is manufactured by fixing abrasive grains made of, for example, diamond with a bonding material.

スピンドルの先端部に切削ブレードを装着した状態でスピンドルを回転させると、切削ブレードが回転する。そして、切削ブレードを回転させて被加工物に切り込ませることにより、被加工物が切削され、分割される。例えば特許文献1には、切削装置を用いてガラス基板を分割することにより、カバーガラスを製造する手法が開示されている。 When the spindle is rotated with the cutting blade attached to the tip of the spindle, the cutting blade rotates. The workpiece is then cut and divided by rotating the cutting blade and cutting into the workpiece. For example, Patent Document 1 discloses a method of manufacturing a cover glass by dividing a glass substrate using a cutting device.

特開2004-142428号公報Japanese Patent Application Publication No. 2004-142428

被加工物を複数のチップに分割する際には、まず、加工条件(被加工物のサイズ、チップのサイズ、分割予定ラインの幅等)に応じて分割予定ラインを設定する必要がある。しかしながら、分割予定ラインの配列の仕方によって、被加工物の分割によって得られるチップの個数が変動する場合がある。例えば、円盤状のガラス基板を複数のガラスチップに分割する際、複数の分割予定ラインをガラス基板の中央から両端に向かって順に配列する場合と、ガラス基板の一端側から他端側に向かって順に配列する場合とで、製造されるガラスチップの個数が異なることがある。 When dividing a workpiece into a plurality of chips, it is first necessary to set a planned dividing line according to processing conditions (size of the workpiece, chip size, width of planned dividing line, etc.). However, depending on how the planned dividing lines are arranged, the number of chips obtained by dividing the workpiece may vary. For example, when dividing a disk-shaped glass substrate into multiple glass chips, there are two cases in which multiple dividing lines are arranged sequentially from the center of the glass substrate toward both ends, and one in which the lines are arranged sequentially from the center of the glass substrate toward both ends. The number of manufactured glass chips may differ depending on the case where they are arranged in order.

そのため、加工条件に応じて複数の分割予定ラインを配列しても、その配列が必ずしもチップ数が最大となるように設定されているとは限らず、実際に製造されるチップの数が、一の被加工物から製造可能なチップの最大数よりも少ない場合がある。この場合、チップの生産性が低下してしまう。 Therefore, even if multiple dividing lines are arranged according to the processing conditions, the arrangement is not necessarily set to maximize the number of chips, and the number of chips actually manufactured may be the same. may be less than the maximum number of chips that can be manufactured from a workpiece. In this case, chip productivity decreases.

本発明はかかる問題に鑑みてなされたものであり、被加工物の分割によって得られるチップの数を最大化することが可能な加工装置の提供を目的とする。 The present invention has been made in view of this problem, and an object of the present invention is to provide a processing device that can maximize the number of chips obtained by dividing a workpiece.

本発明の一態様によれば、被加工物を分割予定ラインに沿って複数のチップに分割する加工装置であって、加工条件として、該被加工物のサイズ、該チップのサイズ、及び該分割予定ラインの幅が入力される入力部と、該入力部に入力された該加工条件に基づいて、該被加工物の分割によって得られる該チップの個数が最大となるように、該分割予定ラインの位置を決定する制御部と、該制御部によって決定された該分割予定ラインの位置を表示する表示部と、を備え、該制御部は、該入力部に入力された該加工条件に従って、該チップに対応する領域と該分割予定ラインに対応する領域とを配列する処理と、該被加工物に対応する領域を該チップに対応する領域と重なるように配置する処理と、該被加工物に対応する領域の外周縁の内側に配置された該チップに対応する領域の数をカウントする処理と、を実行し、該制御部によって位置が決定された該分割予定ラインに沿って、該被加工物を複数の該チップに分割する加工装置が提供される。 According to one aspect of the present invention, there is provided a processing apparatus that divides a workpiece into a plurality of chips along a dividing line, the processing conditions including the size of the workpiece, the size of the chips, and the division. Based on the input section into which the width of the planned line is input and the processing conditions input into the input section, the planned dividing line is set so that the number of chips obtained by dividing the workpiece is maximized. and a display section that displays the position of the dividing line determined by the control section, and the control section determines the position of the planned dividing line according to the processing conditions input to the input section. A process of arranging a region corresponding to the chip and a region corresponding to the planned dividing line, a process of arranging the region corresponding to the workpiece so as to overlap with the region corresponding to the chip, and Counting the number of regions corresponding to the chip arranged inside the outer periphery of the corresponding region, and counting the number of regions corresponding to the chip placed inside the outer periphery of the corresponding region, A processing device is provided that divides an object into a plurality of such chips.

なお、該制御部は、該分割予定ラインの位置として、第1の方向に沿う複数の第1の分割予定ラインの位置と、該第1の方向と交差する第2の方向に沿う複数の第2の分割予定ラインの位置とを決定してもよく、該第1の分割予定ラインと該第2の分割予定ラインの両方が、連続した直線状であってもよい。また、該制御部は、該分割予定ラインの位置として、第1の方向に沿う複数の第1の分割予定ラインの位置と、該第1の方向と交差する第2の方向に沿う複数の第2の分割予定ラインの位置とを決定してもよく、該第1の分割予定ラインと該第2の分割予定ラインの一方又は両方が、非連続な線状であってもよい。また、該表示部は、該被加工物を該分割予定ラインに沿って分割した場合に得られるチップを強調して表示してもよい。 In addition , the control unit may set the positions of the plurality of first planned dividing lines along the first direction and the plurality of first scheduled dividing lines along the second direction intersecting the first direction as the positions of the planned dividing lines. The position of the second scheduled dividing line may be determined, and both the first scheduled dividing line and the second scheduled dividing line may be continuous and linear. In addition, the control unit includes, as the positions of the planned dividing lines, positions of a plurality of first planned dividing lines along a first direction, and positions of a plurality of first planned dividing lines along a second direction intersecting the first direction. The position of the second scheduled dividing line may be determined, and one or both of the first scheduled dividing line and the second scheduled dividing line may be discontinuous linear. Further, the display section may highlight and display chips obtained when the workpiece is divided along the planned dividing line.

本発明の一態様に係る加工装置は、被加工物の分割によって得られるチップの個数が最大となるように、分割予定ラインの位置を決定する制御部を備え、制御部によって位置が決定された分割予定ラインに沿って、被加工物を複数のチップに分割する。これにより、被加工物の分割によって得られるチップの数が最大化され、チップの生産性が向上する。 A processing apparatus according to one aspect of the present invention includes a control unit that determines the position of a dividing line so that the number of chips obtained by dividing a workpiece is maximized, and the position is determined by the control unit. Divide the workpiece into a plurality of chips along the planned dividing line. This maximizes the number of chips obtained by dividing the workpiece and improves chip productivity.

加工装置を示す斜視図である。It is a perspective view showing a processing device. 被加工物を示す斜視図である。It is a perspective view showing a workpiece. 制御部の処理を示すフローチャートである。5 is a flowchart showing processing by a control unit. 図4(A)は複数のチップが配列された状態を示す平面図であり、図4(B)は被加工物が複数のチップと重なるように配置された状態を示す平面図であり、図4(C)はチップの数がカウントされる様子を示す平面図である。FIG. 4(A) is a plan view showing a state in which a plurality of chips are arranged, and FIG. 4(B) is a plan view showing a state in which a workpiece is arranged so as to overlap with a plurality of chips. 4(C) is a plan view showing how the number of chips is counted. 図5(A)は被加工物の位置が変更される様子を示す平面図であり、図5(B)はチップの数がカウントされる様子を示す平面図である。FIG. 5(A) is a plan view showing how the position of the workpiece is changed, and FIG. 5(B) is a plan view showing how the number of chips is counted. 加工ユニット及びチャックテーブルを示す斜視図である。It is a perspective view showing a processing unit and a chuck table. 一部の分割予定ラインが非連続な線状となるように複数のチップが配列された状態を示す平面図である。FIG. 3 is a plan view showing a state in which a plurality of chips are arranged so that some of the dividing lines are discontinuous.

以下、添付図面を参照して本発明の一態様に係る実施形態を説明する。まず、本実施形態に係る加工装置の構成例について説明する。図1は、加工装置2を示す斜視図である。加工装置2は、被加工物11に対して切削加工を施す切削装置である。 Hereinafter, embodiments according to one aspect of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. First, a configuration example of a processing apparatus according to this embodiment will be described. FIG. 1 is a perspective view showing the processing device 2. As shown in FIG. The processing device 2 is a cutting device that performs cutting on the workpiece 11 .

加工装置2は、加工装置2を構成する各構成要素を支持する基台4を備える。基台4の上方には、基台4の上面側を覆うカバー6が設けられている。このカバー6の内側には、被加工物11に切削加工を施す加工ユニット(切削ユニット)8が設けられている。加工ユニット8は移動機構(不図示)に接続されており、この移動機構は加工ユニット8をY軸方向(割り出し送り方向、前後方向)及びZ軸方向(鉛直方向、上下方向)に沿って移動させる。 The processing device 2 includes a base 4 that supports each component that constitutes the processing device 2. A cover 6 is provided above the base 4 to cover the upper surface side of the base 4. A processing unit (cutting unit) 8 that performs cutting on the workpiece 11 is provided inside the cover 6 . The processing unit 8 is connected to a moving mechanism (not shown), and this moving mechanism moves the processing unit 8 along the Y-axis direction (index feed direction, front-back direction) and the Z-axis direction (vertical direction, up-down direction). let

図2は、加工装置2によって加工される被加工物11を示す斜視図である。被加工物11は、円盤状に形成されたガラス基板であり、表面11a及び裏面11bを備える。また、被加工物11は、例えば互いに交差するように格子状に配列された複数の分割予定ライン(ストリート)13によって、複数の領域に区画されている。 FIG. 2 is a perspective view showing the workpiece 11 processed by the processing device 2. As shown in FIG. The workpiece 11 is a glass substrate formed into a disk shape, and includes a front surface 11a and a back surface 11b. Further, the workpiece 11 is partitioned into a plurality of areas by a plurality of dividing lines (streets) 13 arranged in a grid pattern so as to intersect with each other, for example.

図2では、第1の方向(矢印Aで示す方向)に沿う複数の第1の分割予定ライン(第1のストリート)13aと、第1の方向と交差する第2の方向(矢印Bで示す方向)に沿う複数の第2の分割予定ライン(第2のストリート)13bとが配列されている例を示している。第1の方向と第2の方向とは、互いに垂直な方向である。 In FIG. 2, there are a plurality of first planned division lines (first streets) 13a along a first direction (direction indicated by arrow A) and a second direction (indicated by arrow B) that intersects the first direction. 13 shows an example in which a plurality of second planned division lines (second streets) 13b are arranged along the same direction. The first direction and the second direction are directions perpendicular to each other.

なお、被加工物11の材質、形状、構造、大きさ等に制限はない。例えば被加工物11は、半導体(Si、GaAs、InP、GaN、SiC等)、サファイア、セラミックス、樹脂、金属等の材料でなる任意の形状及び大きさの基板であってもよい。 Note that there are no restrictions on the material, shape, structure, size, etc. of the workpiece 11. For example, the workpiece 11 may be a substrate of any shape and size made of a material such as a semiconductor (Si, GaAs, InP, GaN, SiC, etc.), sapphire, ceramics, resin, metal, or the like.

被加工物11は、加工や搬送の便宜のため、環状のフレーム17によって支持される。具体的には、被加工物11の裏面11b側には被加工物11より径の大きい円形のテープ15が貼付される。なお、テープ15の材質に制限はない。例えばテープ15は、ポリオレフィン、ポリ塩化ビニル、ポリエチレンテレフタラート等の樹脂でなる基材上に、ゴム系やアクリル系の粘着層(糊層)を形成することによって得られる柔軟なフィルムである。 The workpiece 11 is supported by an annular frame 17 for convenience of processing and transportation. Specifically, a circular tape 15 having a larger diameter than the workpiece 11 is attached to the back surface 11b of the workpiece 11. Note that there is no restriction on the material of the tape 15. For example, the tape 15 is a flexible film obtained by forming a rubber-based or acrylic-based adhesive layer (glue layer) on a base material made of a resin such as polyolefin, polyvinyl chloride, or polyethylene terephthalate.

また、テープ15の外周部は、被加工物11より径の大きい円形の開口17aを中央部に備える環状のフレーム17に貼付される。これにより、被加工物11は開口17aの内側に配置された状態で、テープ15を介してフレーム17によって支持される。 Further, the outer peripheral portion of the tape 15 is attached to an annular frame 17 having a circular opening 17a having a larger diameter than the workpiece 11 in the center. Thereby, the workpiece 11 is supported by the frame 17 via the tape 15 while being placed inside the opening 17a.

図1に示す加工ユニット8の下方には、被加工物11を保持するチャックテーブル(保持テーブル)10が設けられている。チャックテーブル10の上面は被加工物11を保持する保持面10aを構成しており、この保持面10aは、チャックテーブル10の内部に形成された吸引路(不図示)を介して吸引源(不図示)に接続されている。被加工物11をチャックテーブル10上に配置した状態で、保持面10aに吸引源の負圧を作用させることにより、被加工物11がチャックテーブル10によって吸引保持される。 A chuck table (holding table) 10 that holds a workpiece 11 is provided below the processing unit 8 shown in FIG. The upper surface of the chuck table 10 constitutes a holding surface 10a that holds the workpiece 11, and this holding surface 10a is connected to a suction source (not shown) through a suction path (not shown) formed inside the chuck table 10. (as shown). With the workpiece 11 placed on the chuck table 10, the workpiece 11 is suction-held by the chuck table 10 by applying negative pressure from a suction source to the holding surface 10a.

チャックテーブル10は移動機構(不図示)に接続されており、この移動機構はチャックテーブル10をX軸方向(加工送り方向、左右方向)に沿って移動させる。また、チャックテーブル10は回転機構(不図示)に接続されており、この回転機構はチャックテーブル10をZ軸方向と概ね平行な回転軸の周りで回転させる。 The chuck table 10 is connected to a moving mechanism (not shown), and this moving mechanism moves the chuck table 10 along the X-axis direction (processing feed direction, left-right direction). Further, the chuck table 10 is connected to a rotation mechanism (not shown), and this rotation mechanism rotates the chuck table 10 around a rotation axis that is generally parallel to the Z-axis direction.

基台4の前方の角部には、カセットエレベータ12が設置されている。カセットエレベータ12の上面には、複数の被加工物11を収容可能なカセット14が配置される。カセットエレベータ12は、Z軸方向に沿って昇降可能に構成されており、カセット14からの被加工物11の搬出、及びカセット14への被加工物11の搬入が適切に行われるように、カセット14の高さ(Z軸方向における位置)を調整する。 A cassette elevator 12 is installed at the front corner of the base 4. A cassette 14 that can accommodate a plurality of workpieces 11 is arranged on the upper surface of the cassette elevator 12 . The cassette elevator 12 is configured to be able to move up and down along the Z-axis direction, and the cassette elevator 12 is configured to be able to move up and down along the Z-axis direction. 14 (position in the Z-axis direction).

カセットエレベータ12の近傍には、被加工物11を搬送する搬送機構(不図示)が設けられている。例えば搬送機構は、カセット14に収容された加工前の被加工物11をチャックテーブル10上に搬送するとともに、加工ユニット8によって加工された被加工物11をカセット14に収容する。 A transport mechanism (not shown) for transporting the workpiece 11 is provided near the cassette elevator 12 . For example, the transport mechanism transports the unprocessed workpiece 11 housed in the cassette 14 onto the chuck table 10, and also stores the workpiece 11 processed by the processing unit 8 in the cassette 14.

カバー6の前面6a側には、モニター等によって構成される表示部(表示手段)16が設けられている。表示部16は、加工される被加工物11の画像や、加工条件等の情報を表示して、加工装置2のオペレーターに報知する。また、加工装置2は、加工装置2に所定の情報を入力するための入力部(入力手段)18を備える。入力部18は、例えば入力キー等によって構成され、加工装置2のオペレーターは入力部18を用いて加工装置2に加工条件等の情報を入力する。 On the front side 6a of the cover 6, a display section (display means) 16 including a monitor or the like is provided. The display unit 16 displays information such as an image of the workpiece 11 to be processed and processing conditions, and notifies the operator of the processing device 2 of the information. The processing device 2 also includes an input unit (input means) 18 for inputting predetermined information into the processing device 2. The input unit 18 includes, for example, input keys, and the operator of the processing device 2 uses the input unit 18 to input information such as processing conditions to the processing device 2.

なお、表示部16と入力部18とは、一体化されていてもよい。例えば、カバー6の前面6a側には、ユーザーインタフェースとなるタッチパネル式のモニターが設けられていてもよい。この場合、該タッチパネル式のモニターが、表示部16及び入力部18として機能する。 Note that the display section 16 and the input section 18 may be integrated. For example, a touch panel type monitor serving as a user interface may be provided on the front side 6a of the cover 6. In this case, the touch panel monitor functions as the display section 16 and the input section 18.

さらに、加工装置2は、加工装置2を構成する各構成要素の動作を制御する制御部(制御手段)20を備える。加工ユニット8、加工ユニット8に接続された移動機構、チャックテーブル10、チャックテーブル10に接続された移動機構及び回転機構、カセットエレベータ12、搬送機構、表示部16、入力部18等は、制御部20に接続されており、制御部20によってその動作が制御される。加工装置2による被加工物11の加工は、この20によって制御される。 Further, the processing device 2 includes a control unit (control means) 20 that controls the operation of each component that constitutes the processing device 2. The processing unit 8, the moving mechanism connected to the processing unit 8, the chuck table 10, the moving mechanism and rotation mechanism connected to the chuck table 10, the cassette elevator 12, the transport mechanism, the display section 16, the input section 18, etc. are controlled by the control section. 20, and its operation is controlled by the control unit 20. Processing of the workpiece 11 by the processing device 2 is controlled by this 20.

カセット14に収容された被加工物11は、搬送機構によってチャックテーブル10上に搬送され、チャックテーブル10によって吸引保持される。そして、加工ユニット8は、チャックテーブル10によって保持された被加工物11に対して切削加工を施す。加工後の被加工物11は、搬送機構によって搬送され、カセット14に収容される。 The workpiece 11 housed in the cassette 14 is transported onto the chuck table 10 by the transport mechanism, and is suction-held by the chuck table 10. The processing unit 8 then performs a cutting process on the workpiece 11 held by the chuck table 10. The processed workpiece 11 is transported by a transport mechanism and housed in a cassette 14 .

加工ユニット8は、Y軸方向に沿って配置された円筒状のスピンドル(不図示)を備えている。このスピンドルの先端部(一端側)には、被加工物11を切削するための環状の切削ブレード22が装着される。切削ブレード22は、例えば、ダイヤモンド、立方晶窒化ホウ素(cBN)等でなる砥粒を、金属、セラミックス、樹脂等でなるボンド材によって固定して形成される。ただし、切削ブレード22に含まれる砥粒やボンド材に制限はなく、被加工物11の材質等に応じて適宜選択される。 The processing unit 8 includes a cylindrical spindle (not shown) arranged along the Y-axis direction. An annular cutting blade 22 for cutting the workpiece 11 is attached to the tip (one end side) of the spindle. The cutting blade 22 is formed by fixing abrasive grains made of, for example, diamond, cubic boron nitride (cBN), or the like with a bonding material made of metal, ceramics, resin, or the like. However, the abrasive grains and bond material contained in the cutting blade 22 are not limited and are appropriately selected depending on the material of the workpiece 11 and the like.

また、スピンドルの基端部(他端側)には、スピンドルを回転させるモータ等の回転駆動源(不図示)が連結されている。スピンドルの先端部に切削ブレードが装着された状態で、スピンドルを回転駆動源によって回転させると、回転駆動源からスピンドルを介して伝達される動力によって切削ブレード22が回転する。 Further, a rotational drive source (not shown) such as a motor that rotates the spindle is connected to the base end (other end side) of the spindle. When the spindle is rotated by a rotational drive source with the cutting blade attached to the tip of the spindle, the cutting blade 22 is rotated by the power transmitted from the rotational drive source via the spindle.

切削ブレード22を回転させて被加工物11に切り込ませることにより、被加工物11が切削される。そして、被加工物11を分割予定ライン13(図2参照)に沿って切削して分割すると、分割予定ライン13によって区画された領域が個片化され、被加工物11が複数のチップに分割される。 The workpiece 11 is cut by rotating the cutting blade 22 to cut into the workpiece 11. Then, when the workpiece 11 is cut and divided along the dividing line 13 (see FIG. 2), the area partitioned by the dividing line 13 is divided into pieces, and the workpiece 11 is divided into a plurality of chips. be done.

被加工物11がガラス基板である場合には、被加工物11の分割によって複数の直方体状のガラスチップが得られる。このガラスチップは、デジタルカメラ、ビデオカメラ等に搭載される、CCDイメージセンサ、CMOSイメージセンサ等の撮像素子を保護するためのカバーガラスの製造や、光学フィルター等の光学部品の製造に用いられる。 When the workpiece 11 is a glass substrate, a plurality of rectangular parallelepiped glass chips are obtained by dividing the workpiece 11. This glass chip is used to manufacture cover glasses for protecting imaging elements such as CCD image sensors and CMOS image sensors mounted on digital cameras, video cameras, etc., and to manufacture optical components such as optical filters.

加工装置2を用いて被加工物11を分割する際には、まず、図2に示すように分割予定ライン13が設定される。このとき、分割予定ライン13の位置は、加工条件(被加工物11のサイズ、チップのサイズ、分割予定ライン13の幅等)に応じて設定される。ただし、分割予定ライン13の数、幅、及び間隔が同一であっても、分割予定ライン13の位置によって、被加工物11の分割によって得られるチップの個数が異なる場合がある。 When dividing the workpiece 11 using the processing device 2, first, a planned division line 13 is set as shown in FIG. At this time, the position of the planned dividing line 13 is set according to processing conditions (size of the workpiece 11, size of the chip, width of the planned dividing line 13, etc.). However, even if the number, width, and interval of the dividing lines 13 are the same, the number of chips obtained by dividing the workpiece 11 may differ depending on the position of the dividing lines 13.

本実施形態に係る加工装置2では、被加工物11の分割によって得られるチップの個数が最大となるように、分割予定ライン13の位置が制御部20によって決定される。そして、加工装置2は、制御部20によって位置が決定された分割予定ライン13に沿って被加工物11を切断し、被加工物11を複数のチップに分割する。これにより、一の被加工物11から最大数のチップを得ることができ、チップの生産効率が向上する。以下、制御部20が分割予定ライン13の位置を決定する手順について説明する。 In the processing apparatus 2 according to the present embodiment, the position of the planned dividing line 13 is determined by the control unit 20 so that the number of chips obtained by dividing the workpiece 11 is maximized. Then, the processing device 2 cuts the workpiece 11 along the dividing line 13 whose position is determined by the control unit 20, and divides the workpiece 11 into a plurality of chips. Thereby, the maximum number of chips can be obtained from one workpiece 11, and chip production efficiency is improved. Hereinafter, a procedure in which the control unit 20 determines the position of the planned dividing line 13 will be described.

図3は、制御部20の処理を示すフローチャートである。図3に示す各処理は、制御部20によってソフトウェア上で実行される。なお、以下では一例として、第1の分割予定ライン13a及び第2の分割予定ライン13b(図2参照)が連続した直線状である場合について説明する。 FIG. 3 is a flowchart showing the processing of the control unit 20. Each process shown in FIG. 3 is executed by the control unit 20 on software. Note that, as an example, a case will be described below in which the first scheduled dividing line 13a and the second scheduled dividing line 13b (see FIG. 2) are continuous straight lines.

分割予定ライン13の位置を決定する際には、まず、入力部18(図1参照)に加工条件が入力される。例えば、被加工物11のサイズ(被加工物11の直径又は半径)、チップのサイズ(チップの縦横の長さ)、及び分割予定ライン13の幅が、加工条件として入力される。なお、チップのサイズは、隣接する分割予定ライン13間の距離に相当する。また、分割予定ライン13の幅は、切削ブレード22によって切削される領域の幅(カーフ幅)に相当し、被加工物11の分割後において隣接するチップ間の距離に相当する。 When determining the position of the planned dividing line 13, processing conditions are first input into the input section 18 (see FIG. 1). For example, the size of the workpiece 11 (the diameter or radius of the workpiece 11), the chip size (the vertical and horizontal lengths of the chip), and the width of the dividing line 13 are input as the processing conditions. Note that the chip size corresponds to the distance between adjacent dividing lines 13. Further, the width of the planned division line 13 corresponds to the width of the area cut by the cutting blade 22 (kerf width), and corresponds to the distance between adjacent chips after the workpiece 11 is divided.

なお、入力部18に入力される加工条件の内容に制限はない。例えば、被加工物11の形状やチップの形状等が更に加工条件として入力されてもよい。そして、これらの加工条件の情報が、入力部18から制御部20に出力される。 Note that there are no restrictions on the contents of the machining conditions input to the input section 18. For example, the shape of the workpiece 11, the shape of the chip, etc. may be further input as processing conditions. Information on these processing conditions is then output from the input section 18 to the control section 20.

制御部20は、まず、入力部18から入力された加工条件に従って複数のチップを配列する(ステップS1)。図4(A)は、複数のチップ30が配列された状態を示す平面図である。なお、チップ30は、被加工物11(図2参照)を分割予定ライン13に沿って分割した際に得られるチップに対応する、ソフトウェア上で表された領域に相当する。 The control unit 20 first arranges a plurality of chips according to the processing conditions input from the input unit 18 (step S1). FIG. 4(A) is a plan view showing a state in which a plurality of chips 30 are arranged. Note that the chip 30 corresponds to an area represented on software that corresponds to a chip obtained when the workpiece 11 (see FIG. 2) is divided along the planned dividing line 13.

隣接するチップ30の間には、複数の分割予定ライン(ストリート)32が配列されている。分割予定ライン32は、被加工物11の分割予定ライン13(図2参照)に対応する、ソフトウェア上で表された領域に相当する。また、分割予定ライン32の幅は、隣接するチップ30間の距離に相当する。 A plurality of dividing lines (street) 32 are arranged between adjacent chips 30 . The planned dividing line 32 corresponds to an area represented on software that corresponds to the planned dividing line 13 of the workpiece 11 (see FIG. 2). Further, the width of the planned division line 32 corresponds to the distance between adjacent chips 30.

図4(A)には、第1の方向(矢印Aで示す方向)に沿う第1の分割予定ライン(第1のストリート)32aと、第2の方向(矢印Bで示す方向)に沿う第2の分割予定ライン(第2のストリート)32bとを示している。第1の分割予定ライン32a、第2の分割予定ライン32bはそれぞれ、図2に示す第1の分割予定ライン13a、第2の分割予定ライン13bに対応する。 FIG. 4(A) shows a first planned dividing line (first street) 32a along a first direction (direction shown by arrow A) and a first dividing line (first street) 32a along a second direction (direction shown by arrow B). 2 (second street) 32b. The first scheduled dividing line 32a and the second scheduled dividing line 32b correspond to the first scheduled dividing line 13a and the second scheduled dividing line 13b shown in FIG. 2, respectively.

複数のチップ30は、入力部18に入力された加工条件に従って配列される。具体的には、チップ30のサイズは、加工条件として入力されたチップのサイズ(隣接する分割予定ライン間の距離)と同一に設定される。また、複数のチップ30は、隣接するチップ30間の距離が、加工条件として入力された分割予定ラインの幅と同一となるように配列される。 The plurality of chips 30 are arranged according to the processing conditions input to the input section 18. Specifically, the size of the chip 30 is set to be the same as the chip size (distance between adjacent planned dividing lines) input as the processing condition. Further, the plurality of chips 30 are arranged so that the distance between adjacent chips 30 is the same as the width of the dividing line input as the processing condition.

チップ30が平面視で矩形状である場合は、例えば図4(A)に示すように、一のチップ30の一辺と他のチップ30の一辺とが対向するように、複数のチップ30が配列される。その結果、第1の分割予定ライン32a及び第2の分割予定ライン32bはそれぞれ、連続した直線状になる。ただし、チップ30の配列方法は、チップ30の形状等に応じて適宜変更できる。 When the chips 30 are rectangular in plan view, the plurality of chips 30 are arranged such that one side of one chip 30 faces one side of the other chip 30, as shown in FIG. 4(A), for example. be done. As a result, the first planned dividing line 32a and the second scheduled dividing line 32b each become a continuous straight line. However, the method of arranging the chips 30 can be changed as appropriate depending on the shape of the chips 30 and the like.

次に、制御部20は、複数のチップ30と重なるように被加工物34を配置する(ステップS2)。図4(B)は、被加工物34が複数のチップ30と重なるように配置された状態を示す平面図である。なお、被加工物34は、被加工物11(図2参照)と形状が同一である、ソフトウェア上で表された領域に相当する。また、図4(B)では、被加工物34の外周縁(輪郭)のみを示している。 Next, the control unit 20 arranges the workpiece 34 so as to overlap the plurality of chips 30 (step S2). FIG. 4(B) is a plan view showing a state in which the workpiece 34 is arranged so as to overlap a plurality of chips 30. Note that the workpiece 34 corresponds to an area represented on software that has the same shape as the workpiece 11 (see FIG. 2). Moreover, in FIG. 4(B), only the outer peripheral edge (outline) of the workpiece 34 is shown.

被加工物34は、入力部18(図1参照)から入力された加工条件に従って配置される。具体的には、被加工物34のサイズは、加工条件として入力された被加工物11のサイズと同一に設定される。被加工物11(図2参照)が平面視で円形である場合には、被加工物11と直径が同一である円形の被加工物34が配置される。 The workpiece 34 is arranged according to the processing conditions input from the input section 18 (see FIG. 1). Specifically, the size of the workpiece 34 is set to be the same as the size of the workpiece 11 input as the processing conditions. When the workpiece 11 (see FIG. 2) is circular in plan view, a circular workpiece 34 having the same diameter as the workpiece 11 is arranged.

次に、制御部20は、被加工物34の外周縁の内側に配置されたチップ30(被加工物34と重なる位置に配置されたチップ30)の数をカウントする(ステップS3)。図4(C)は、チップ30の数がカウントされる様子を示す平面図である。なお、図4(C)では、被加工物34の外周縁の内側に配置されたチップ30にハッチングを付している。そして、被加工物34の外周縁の内側に配置されたチップ30の数が、例えば制御部20が備えるメモリ(記憶部)に記憶される。 Next, the control unit 20 counts the number of chips 30 arranged inside the outer peripheral edge of the workpiece 34 (chips 30 arranged at a position overlapping the workpiece 34) (step S3). FIG. 4C is a plan view showing how the number of chips 30 is counted. In addition, in FIG. 4(C), the chip 30 arranged inside the outer peripheral edge of the workpiece 34 is hatched. Then, the number of chips 30 arranged inside the outer peripheral edge of the workpiece 34 is stored, for example, in a memory (storage unit) included in the control unit 20.

その後、被加工物34の他の配置でチップ30の数のカウントが続行される(ステップS4でYES)。具体的には、制御部20は、複数のチップ30に対して被加工物34を水平方向に移動させて、被加工物34の位置を変更する(ステップS5)。図5(A)は、被加工物34の位置が変更される様子を示す平面図である。例えば図5(A)に示すように、被加工物34が複数のチップ30に対して第2の方向(矢印Bで示す方向)に沿って移動する。なお、被加工物34の移動量は、第2の方向におけるチップ30のピッチ未満であり、その具体的な数値は適宜設定される。 Thereafter, counting of the number of chips 30 is continued in other arrangements of the workpiece 34 (YES in step S4). Specifically, the control unit 20 moves the workpiece 34 in the horizontal direction with respect to the plurality of chips 30 to change the position of the workpiece 34 (step S5). FIG. 5(A) is a plan view showing how the position of the workpiece 34 is changed. For example, as shown in FIG. 5A, the workpiece 34 moves along the second direction (the direction indicated by arrow B) relative to the plurality of chips 30. Note that the amount of movement of the workpiece 34 is less than the pitch of the chips 30 in the second direction, and its specific value is set as appropriate.

そして、制御部20は、位置が変更された被加工物34の外周縁の内側に配置されたチップ30の数をカウントする(ステップS3)。図5(B)は、チップ30の数がカウントされる様子を示す平面図である。このようにして、複数のチップ30と被加工物34との位置関係が異なる複数の状況下で、チップ30の数のカウントが行われる。 Then, the control unit 20 counts the number of chips 30 placed inside the outer periphery of the workpiece 34 whose position has been changed (step S3). FIG. 5(B) is a plan view showing how the number of chips 30 is counted. In this way, the number of chips 30 is counted under a plurality of situations in which the positional relationships between the plurality of chips 30 and the workpiece 34 are different.

その後、被加工物34の位置の変更(ステップS5)とチップ30の数のカウント(ステップS3)とが、所定の回数繰り返される。例えば、被加工物34の第1の方向(矢印Aで示す方向)における位置を固定した状態で、被加工物34を第2の方向(矢印Bで示す方向)に沿って所定の距離ずつ移動させて、各位置におけるチップ30の数を順次カウントする。その後、被加工物34の第1の方向における位置を変え、同様にチップ30の数を順次カウントする。 Thereafter, changing the position of the workpiece 34 (step S5) and counting the number of chips 30 (step S3) are repeated a predetermined number of times. For example, while the position of the workpiece 34 in a first direction (direction shown by arrow A) is fixed, the workpiece 34 is moved by a predetermined distance in a second direction (direction shown by arrow B). The number of chips 30 at each position is sequentially counted. Thereafter, the position of the workpiece 34 in the first direction is changed, and the number of chips 30 is sequentially counted in the same manner.

上記の手順を繰り返すことにより、複数のチップ30と被加工物34とが様々な位置関係にある場合それぞれについて、被加工物34の外周縁の内側に配置されたチップ30の数がカウントされる。そして、予定された全ての位置関係においてチップ30の数のカウントが終了すると(ステップS4でNO)、制御部20によるチップ30の数のカウントが完了する。 By repeating the above procedure, the number of chips 30 arranged inside the outer periphery of the workpiece 34 is counted for each case where the plurality of chips 30 and the workpiece 34 are in various positional relationships. . Then, when the counting of the number of chips 30 in all the planned positional relationships is completed (NO in step S4), the counting of the number of chips 30 by the control unit 20 is completed.

チップ30の数のカウントが完了すると、制御部20はメモリにアクセスし、カウントされたチップ30の数を参照する。そして、制御部20は、被加工物34の外周縁の内側に配置されたチップ30の数が最大となる被加工物34の配置を選択する。なお、チップ30の数が最大となる被加工物34の配置が複数存在する場合は、そのうち一の配置を選択する。 When the counting of the number of chips 30 is completed, the control unit 20 accesses the memory and refers to the counted number of chips 30. Then, the control unit 20 selects the arrangement of the workpiece 34 in which the number of chips 30 arranged inside the outer periphery of the workpiece 34 is maximized. Note that if there are a plurality of layouts of the workpieces 34 in which the number of chips 30 is maximum, one of the layouts is selected.

そして、制御部20は、被加工物34の外周縁の内側に配置されたチップ30の数が最大となるように配置された被加工物34を、複数のチップ30とともに表示部16(図1参照)に表示させる(ステップS6)。例えば、図4(C)に示す被加工物34の配置が、被加工物34の外周縁の内側に配置されたチップ30の数が最大となる配置である場合には、図4(C)に示す複数のチップ30、第1の分割予定ライン32a、第2の分割予定ライン32b、及び被加工物34が、表示部16に表示される。 Then, the control unit 20 displays the workpiece 34 arranged so that the number of chips 30 arranged inside the outer periphery of the workpiece 34 becomes maximum, along with the plurality of chips 30 on the display unit 16 (FIG. (see step S6). For example, if the arrangement of the workpiece 34 shown in FIG. 4(C) is such that the number of chips 30 arranged inside the outer periphery of the workpiece 34 is maximum, A plurality of chips 30 , a first dividing line 32 a , a second dividing line 32 b , and a workpiece 34 shown in FIG. 1 are displayed on the display unit 16 .

このとき表示部16に表示される第1の分割予定ライン32a及び第2の分割予定ライン32bの位置は、被加工物11(図2参照)の分割によって得られるチップの数が最大となる第1の分割予定ライン13a及び第2の分割予定ライン13b(図2参照)の位置に相当する。すなわち、上記の制御部20による処理によって、被加工物11の分割によって得られるチップの数が最大となる分割予定ライン13の位置が特定される。そして、加工装置2のオペレーターは、表示部16の表示を参照することにより、チップの製造に適した分割予定ライン13の位置を確認できる。 At this time, the positions of the first scheduled dividing line 32a and the second scheduled dividing line 32b displayed on the display unit 16 are the positions where the number of chips obtained by dividing the workpiece 11 (see FIG. 2) is the maximum. This corresponds to the positions of the first scheduled dividing line 13a and the second scheduled dividing line 13b (see FIG. 2). That is, through the processing by the control unit 20 described above, the position of the planned dividing line 13 where the number of chips obtained by dividing the workpiece 11 is maximized is specified. Then, by referring to the display on the display unit 16, the operator of the processing device 2 can confirm the position of the planned dividing line 13 suitable for manufacturing chips.

なお、表示部16は、被加工物34を分割予定ライン32に沿って分割した場合に得られるチップ30を強調して表示してもよい。例えば、表示部16は、図4(C)に示す被加工物34の外周縁の内側に配置されたチップ30の色を変える(着色)、該チップ30の輪郭を太くする、該チップ30を点滅させる等の方法により、該チップ30を強調して表示してもよい。これにより、被加工物34の分割によって得られるチップ30の数や配置が、オペレーターに容易に認識される。 Note that the display unit 16 may highlight and display the chips 30 obtained when the workpiece 34 is divided along the planned dividing line 32. For example, the display unit 16 may change the color (coloring) of the chip 30 disposed inside the outer periphery of the workpiece 34 shown in FIG. 4(C), thicken the outline of the chip 30, or The chip 30 may be highlighted and displayed by blinking or the like. Thereby, the number and arrangement of chips 30 obtained by dividing the workpiece 34 can be easily recognized by the operator.

上記のように、チップの数が最大となる分割予定ライン13の位置が特定された後、加工装置2は、この分割予定ライン13の位置に基づいて被加工物11を加工ユニット8で加工する。図6は、加工ユニット8及びチャックテーブル10を示す斜視図である。なお、図6ではフレーム17(図2参照)の図示を省略している。 As described above, after the position of the dividing line 13 with the maximum number of chips is specified, the processing device 2 processes the workpiece 11 with the processing unit 8 based on the position of this dividing line 13. . FIG. 6 is a perspective view showing the processing unit 8 and the chuck table 10. Note that in FIG. 6, illustration of the frame 17 (see FIG. 2) is omitted.

例えば被加工物11は、表面11a側が上方に露出し、裏面11b側(テープ15側)がチャックテーブル10の保持面10aと対向するように、テープ15を介してチャックテーブル10上に配置される。この状態でチャックテーブル10の保持面10aに吸引源(不図示)の負圧を作用させると、被加工物11がチャックテーブル10によって吸引保持される。 For example, the workpiece 11 is placed on the chuck table 10 via the tape 15 so that the front surface 11a side is exposed upward and the back surface 11b side (tape 15 side) faces the holding surface 10a of the chuck table 10. . In this state, when negative pressure from a suction source (not shown) is applied to the holding surface 10a of the chuck table 10, the workpiece 11 is suction-held by the chuck table 10.

チャックテーブル10の上方には、加工ユニット8が配置されている。加工ユニット8には、被加工物11を切削するための切削ブレード22が装着される。また、加工ユニット8には、チャックテーブル10によって保持された被加工物11等を撮像するための撮像ユニット(カメラ)24が装着されている。撮像ユニット24によって取得された画像に基づいて、加工ユニット8とチャックテーブル10との位置合わせが行われる。 A processing unit 8 is arranged above the chuck table 10. A cutting blade 22 for cutting the workpiece 11 is attached to the processing unit 8 . Further, the processing unit 8 is equipped with an imaging unit (camera) 24 for taking an image of the workpiece 11 etc. held by the chuck table 10. Based on the image acquired by the imaging unit 24, the processing unit 8 and the chuck table 10 are aligned.

まず、チャックテーブル10を回転させ、分割予定ライン13がX軸方向に沿うように被加工物11の角度を調整する。また、切削ブレード22の下端を、被加工物11の裏面11b(テープ15の上面)よりも下方で、且つチャックテーブル10の保持面10a(テープ15の下面)よりも上方に位置付ける。この状態で、切削ブレード22を回転させるとともにチャックテーブル10をX軸方向移動させることにより、切削ブレード22が被加工物11に切り込み、被加工物11が分割予定ライン13に沿って切断される。 First, the chuck table 10 is rotated and the angle of the workpiece 11 is adjusted so that the planned dividing line 13 is along the X-axis direction. Further, the lower end of the cutting blade 22 is positioned below the back surface 11b of the workpiece 11 (the upper surface of the tape 15) and above the holding surface 10a of the chuck table 10 (the lower surface of the tape 15). In this state, by rotating the cutting blade 22 and moving the chuck table 10 in the X-axis direction, the cutting blade 22 cuts into the workpiece 11, and the workpiece 11 is cut along the dividing line 13.

ここで、分割予定ライン13の位置は、制御部20の処理(図3参照)によって位置が特定された分割予定ライン32(図4(C)等参照)と同一の位置に設定され、被加工物11の分割によって得られるチップの数が最大となるように設定されている。そのため、分割予定ライン13に沿って被加工物11を分割することにより、多くのチップを製造することができる。 Here, the position of the planned dividing line 13 is set to the same position as the planned dividing line 32 (see FIG. 4(C), etc.) whose position is specified by the processing of the control unit 20 (see FIG. 3), and The number of chips obtained by dividing the object 11 is set to be the maximum. Therefore, by dividing the workpiece 11 along the dividing line 13, many chips can be manufactured.

以上の通り、本実施形態に係る加工装置2は、被加工物11の分割によって得られるチップの個数が最大となるように、分割予定ライン13の位置を決定する制御部20を備え、制御部20によって位置が決定された分割予定ライン13に沿って、被加工物11を複数のチップに分割する。これにより、被加工物11の分割によって得られるチップの数が最大化され、チップの生産性が向上する。 As described above, the processing apparatus 2 according to the present embodiment includes the control section 20 that determines the position of the dividing line 13 so that the number of chips obtained by dividing the workpiece 11 is maximized. The workpiece 11 is divided into a plurality of chips along the dividing line 13 whose position is determined by the dividing line 20. Thereby, the number of chips obtained by dividing the workpiece 11 is maximized, and chip productivity is improved.

なお、上記の実施形態では、第1の分割予定ライン13a及び第2の分割予定ライン13b(図2参照)が連続した直線状であるという条件下で、チップの数が最大となるように第1の分割予定ライン13a及び第2の分割予定ライン13bの位置を特定する例について説明した。ただし、第1の分割予定ライン13aと第2の分割予定ライン13bの一方又は両方は、非連続な線状であってもよい。 In the above embodiment, under the condition that the first dividing line 13a and the second dividing line 13b (see FIG. 2) are continuous straight lines, the number of chips is maximized. An example of specifying the positions of the first scheduled dividing line 13a and the second scheduled dividing line 13b has been described. However, one or both of the first scheduled dividing line 13a and the second scheduled dividing line 13b may be discontinuous linear.

図7は、一部の分割予定ライン32が非連続な線状となるように複数のチップ30が配列された状態を示す平面図である。図3におけるステップS5では、被加工物34の位置の変更に加え、又は被加工物34の位置の変更に代えて、分割予定ライン32の一部が非連続な線状となるように複数のチップ30の位置を変更してもよい。 FIG. 7 is a plan view showing a state in which a plurality of chips 30 are arranged so that some of the planned dividing lines 32 are discontinuous lines. In step S5 in FIG. 3, in addition to changing the position of the workpiece 34, or instead of changing the position of the workpiece 34, a plurality of The position of the chip 30 may be changed.

例えば、図4(C)に示すチップ30の配置でチップ数のカウントが完了した後、図7に示すように、第1の方向(矢印Aで示す方向)に沿って配列された複数のチップ30を、一列おきに第1の方向に沿ってずらしてもよい。図7では、第1の方向におけるチップ30の半ピッチ分だけ、チップ30の位置が変更された例を示している。その結果、第2の分割予定ライン32bが非連続な線状(破線状)となる。 For example, after counting the number of chips is completed with the arrangement of the chips 30 shown in FIG. 4(C), as shown in FIG. 30 may be shifted along the first direction every other row. FIG. 7 shows an example in which the position of the chip 30 is changed by a half pitch of the chip 30 in the first direction. As a result, the second planned dividing line 32b becomes a discontinuous line (dashed line).

その後、上記のようにチップ30が配列された状態で、チップ30の数のカウントが行われる。このように、分割予定ライン32の形状が連続した直線状に限定されない場合、チップ30の配列の自由度が増し、より多くのチップ30が得られる分割予定ライン32の配置が見つかりやすくなる。 Thereafter, with the chips 30 arranged as described above, the number of chips 30 is counted. In this way, when the shape of the dividing line 32 is not limited to a continuous straight line, the degree of freedom in arranging the chips 30 increases, and it becomes easier to find an arrangement of the dividing line 32 that allows more chips 30 to be obtained.

そして、例えば図7に示す第2の分割予定ライン32bが非連続な線状となった状態が、チップ30の数が最大となる分割予定ライン32の配置であることが確認されると、加工装置2によって被加工物11を切削する際(図6参照)、非連続な線状の分割予定ライン13に沿って被加工物11が分割される。 For example, when it is confirmed that the state in which the second planned dividing line 32b shown in FIG. When the workpiece 11 is cut by the device 2 (see FIG. 6), the workpiece 11 is divided along the discontinuous linear dividing line 13.

また、上記の実施形態では、切削ブレード22によって被加工物11を加工する加工装置2が用いられる例について説明したが、被加工物11の分割に用いられる加工装置の種類に制限はない。例えば、被加工物11を保持するチャックテーブル(保持テーブル)と、レーザービームの照射によって被加工物11を加工する加工ユニット(レーザー照射ユニット)とを備えるレーザー加工装置を用いることもできる。 Further, in the above embodiment, an example has been described in which the processing device 2 that processes the workpiece 11 with the cutting blade 22 is used, but there is no restriction on the type of processing device used to divide the workpiece 11. For example, it is also possible to use a laser processing device that includes a chuck table (holding table) that holds the workpiece 11 and a processing unit (laser irradiation unit) that processes the workpiece 11 by irradiating the workpiece 11 with a laser beam.

レーザー照射ユニットから照射されるレーザービームの波長は、例えば、レーザービームの少なくとも一部が被加工物11に吸収されるように設定される。この場合、被加工物11に対して吸収性を有するレーザービームが、チャックテーブルによって保持された被加工物11に照射される。これにより、被加工物11にアブレーション加工が施され、被加工物11が分割される。 The wavelength of the laser beam irradiated from the laser irradiation unit is set, for example, so that at least a portion of the laser beam is absorbed by the workpiece 11. In this case, the workpiece 11 held by the chuck table is irradiated with a laser beam that absorbs the workpiece 11 . Thereby, the ablation process is performed on the workpiece 11, and the workpiece 11 is divided.

特に、被加工物11の分割予定ライン13が非連続な線状(図7参照)である場合は、切削ブレード22によって被加工物11を分割予定ライン13に沿って分割しにくいことがある。そのため、分割予定ライン13が非連続な線状である場合は、レーザー加工装置を用いたレーザー加工等によって被加工物11を分割することが好ましい。 In particular, when the planned dividing line 13 of the workpiece 11 is a discontinuous linear shape (see FIG. 7), it may be difficult to divide the workpiece 11 along the planned dividing line 13 with the cutting blade 22. Therefore, when the planned division line 13 is a discontinuous line, it is preferable to divide the workpiece 11 by laser processing using a laser processing device or the like.

その他、上記実施形態に係る構造、方法等は、本発明の目的の範囲を逸脱しない限りにおいて適宜変更して実施できる。 In addition, the structure, method, etc. according to the above embodiments can be modified and implemented as appropriate without departing from the scope of the objective of the present invention.

11 被加工物
11a 表面
11b 裏面
13 分割予定ライン(ストリート)
13a 第1の分割予定ライン(第1のストリート)
13b 第2の分割予定ライン(第2のストリート)
15 テープ
17 フレーム
17a 開口
2 加工装置
4 基台
6 カバー
6a 前面
8 加工ユニット(切削ユニット)
10 チャックテーブル(保持テーブル)
10a 保持面
12 カセットエレベータ
14 カセット
16 表示部(表示手段)
18 入力部(入力手段)
20 制御部(制御手段)
22 切削ブレード
24 撮像ユニット(カメラ)
30 チップ
32 分割予定ライン(ストリート)
32a 第1の分割予定ライン(第1のストリート)
32b 第2の分割予定ライン(第2のストリート)
34 被加工物
11 Workpiece 11a Front side 11b Back side 13 Planned dividing line (street)
13a First planned dividing line (first street)
13b Second planned dividing line (second street)
15 tape 17 frame 17a opening 2 processing device 4 base 6 cover 6a front 8 processing unit (cutting unit)
10 Chuck table (holding table)
10a holding surface 12 cassette elevator 14 cassette 16 display unit (display means)
18 Input section (input means)
20 Control unit (control means)
22 Cutting blade 24 Imaging unit (camera)
30 Chip 32 Scheduled dividing line (street)
32a First planned dividing line (first street)
32b Second planned dividing line (second street)
34 Workpiece

Claims (4)

被加工物を分割予定ラインに沿って複数のチップに分割する加工装置であって、
加工条件として、該被加工物のサイズ、該チップのサイズ、及び該分割予定ラインの幅が入力される入力部と、
該入力部に入力された該加工条件に基づいて、該被加工物の分割によって得られる該チップの個数が最大となるように、該分割予定ラインの位置を決定する制御部と、
該制御部によって決定された該分割予定ラインの位置を表示する表示部と、を備え、
該制御部は、該入力部に入力された該加工条件に従って、該チップに対応する領域と該分割予定ラインに対応する領域とを配列する処理と、該被加工物に対応する領域を該チップに対応する領域と重なるように配置する処理と、該被加工物に対応する領域の外周縁の内側に配置された該チップに対応する領域の数をカウントする処理と、を実行し、
該制御部によって位置が決定された該分割予定ラインに沿って、該被加工物を複数の該チップに分割することを特徴とする加工装置。
A processing device that divides a workpiece into a plurality of chips along a dividing line,
an input section into which the size of the workpiece, the size of the chip, and the width of the planned dividing line are input as processing conditions;
a control unit that determines the position of the dividing line so that the number of chips obtained by dividing the workpiece is maximized based on the processing conditions input to the input unit;
a display unit that displays the position of the planned dividing line determined by the control unit,
The control unit performs a process of arranging a region corresponding to the chip and a region corresponding to the dividing line according to the processing conditions input to the input unit, and arranging the region corresponding to the workpiece on the chip. and counting the number of regions corresponding to the chip arranged inside the outer periphery of the region corresponding to the workpiece,
A processing device that divides the workpiece into a plurality of chips along the division line whose position is determined by the control unit.
該制御部は、該分割予定ラインの位置として、第1の方向に沿う複数の第1の分割予定ラインの位置と、該第1の方向と交差する第2の方向に沿う複数の第2の分割予定ラインの位置とを決定し、
該第1の分割予定ラインと該第2の分割予定ラインの両方が、連続した直線状であることを特徴とする請求項1記載の加工装置。
The control unit includes, as the positions of the planned dividing lines, positions of a plurality of first planned dividing lines along a first direction, and positions of a plurality of second planned dividing lines along a second direction intersecting the first direction. Determine the position of the planned dividing line,
2. The processing apparatus according to claim 1, wherein both the first scheduled dividing line and the second scheduled dividing line are continuous and linear.
該制御部は、該分割予定ラインの位置として、第1の方向に沿う複数の第1の分割予定ラインの位置と、該第1の方向と交差する第2の方向に沿う複数の第2の分割予定ラインの位置とを決定し、
該第1の分割予定ラインと該第2の分割予定ラインの一方又は両方が、非連続な線状であることを特徴とする請求項1記載の加工装置。
The control unit includes, as the positions of the planned dividing lines, positions of a plurality of first planned dividing lines along a first direction, and positions of a plurality of second planned dividing lines along a second direction intersecting the first direction. Determine the position of the planned dividing line,
2. The processing apparatus according to claim 1, wherein one or both of the first scheduled dividing line and the second scheduled dividing line are discontinuous lines.
該表示部は、該被加工物を該分割予定ラインに沿って分割した場合に得られるチップを強調して表示することを特徴とする請求項1記載の加工装置。 2. The processing apparatus according to claim 1, wherein the display section emphasizes and displays chips obtained when the workpiece is divided along the planned dividing line.
JP2019090893A 2019-05-13 2019-05-13 processing equipment Active JP7345963B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019090893A JP7345963B2 (en) 2019-05-13 2019-05-13 processing equipment

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019090893A JP7345963B2 (en) 2019-05-13 2019-05-13 processing equipment

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2020188099A JP2020188099A (en) 2020-11-19
JP7345963B2 true JP7345963B2 (en) 2023-09-19

Family

ID=73223114

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2019090893A Active JP7345963B2 (en) 2019-05-13 2019-05-13 processing equipment

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP7345963B2 (en)

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000195824A (en) 1998-12-25 2000-07-14 Texas Instr Japan Ltd Method for arranging semiconductor chips
JP2001015455A (en) 1999-06-30 2001-01-19 Seiko Epson Corp Method and apparatus for producing semiconductor device
JP2006041005A (en) 2004-07-23 2006-02-09 Matsushita Electric Ind Co Ltd Method and equipment for determining arrangement of semiconductor element forming region, program for determining arrangement of the semiconductor element forming region, and method for manufacturing semiconductor element
JP2010021542A (en) 2008-06-12 2010-01-28 Tokyo Seimitsu Co Ltd Dicing apparatus, dicing apparatus unit and dicing method
JP2012158098A (en) 2011-01-31 2012-08-23 Konica Minolta Advanced Layers Inc Method and device for manufacturing mold
JP2016036040A (en) 2013-02-27 2016-03-17 株式会社東京精密 Probe device
JP2016058684A (en) 2014-09-12 2016-04-21 株式会社ディスコ Laser processing apparatus

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000195824A (en) 1998-12-25 2000-07-14 Texas Instr Japan Ltd Method for arranging semiconductor chips
JP2001015455A (en) 1999-06-30 2001-01-19 Seiko Epson Corp Method and apparatus for producing semiconductor device
JP2006041005A (en) 2004-07-23 2006-02-09 Matsushita Electric Ind Co Ltd Method and equipment for determining arrangement of semiconductor element forming region, program for determining arrangement of the semiconductor element forming region, and method for manufacturing semiconductor element
JP2010021542A (en) 2008-06-12 2010-01-28 Tokyo Seimitsu Co Ltd Dicing apparatus, dicing apparatus unit and dicing method
JP2012158098A (en) 2011-01-31 2012-08-23 Konica Minolta Advanced Layers Inc Method and device for manufacturing mold
JP2016036040A (en) 2013-02-27 2016-03-17 株式会社東京精密 Probe device
JP2016058684A (en) 2014-09-12 2016-04-21 株式会社ディスコ Laser processing apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
JP2020188099A (en) 2020-11-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9649775B2 (en) Workpiece dividing method
JP5208644B2 (en) Processing method and processing apparatus
JP5975723B2 (en) Cutting equipment
JP7345963B2 (en) processing equipment
CN107919274B (en) Processing method
JP2018082116A (en) Method for manufacturing device chip package
KR20180057545A (en) Processing method of a wafer
JP6812079B2 (en) Processing method of work piece
TWI772593B (en) Processing device and installation method of processing mechanism
JP6203011B2 (en) Cutting method
JP6969944B2 (en) Cutting method and cutting measures for plate-shaped objects
JP7171131B2 (en) Workpiece grinding method
JP7286233B2 (en) Chip manufacturing method
JP3222301U (en) Processing device
JP2024049497A (en) Resin substrate processing method
JP7242129B2 (en) Cutting device and cutting blade dressing method
JP7262304B2 (en) Cutting method and cutting device
JP7368110B2 (en) Cutting blade manufacturing method and cutting blade
JP7144200B2 (en) Machining method for rectangular workpiece
JP2019145583A (en) Cutting device and cutting method
JP6938160B2 (en) Processing method of work piece
JP2023144397A (en) Alignment method for wafer
JP6770902B2 (en) Processing method of work piece
TW202105488A (en) Processing method for more easily determining replacement timing of cutting tool to prevent continuously manufacturing of defective wafers
JP6543525B2 (en) Chuck table manufacturing method

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20220311

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20230213

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20230221

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20230331

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20230627

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20230821

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20230905

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20230905

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7345963

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150