JP7344692B2 - 情報処理装置及び情報処理方法及びプログラム - Google Patents
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Description
グローバル座標に対応付けられた第一の画像から、当該第一の画像の一部である部分画像を第二の画像として作成する画像作成手段と、
前記第二の画像に対し、予め設定された特徴についての認識処理を実行し、前記第二の画像に関するローカル座標に対応付けた認識結果を作成する認識処理手段と、
前記認識結果の座標を前記ローカル座標から前記グローバル座標に変換する座標変換手段とを備える。
第1の実施形態として、検査対象の全体画像に対して認識を行い、認識結果を図面と対応付けて管理する処理の例を説明する。特に本実施形態では、橋梁などの構造物の経年劣化を点検するようないわゆるインフラ点検を行うため情報処理システムを例に説明する。
グローバル座標に対応付けられた第一の画像から、当該第一の画像の一部である部分画像を第二の画像として作成する第一の画像作成手段と、
前記第二の画像に対し、予め設定された特徴についての認識処理を実行し、前記第二の画像に関するローカル座標に対応付けた認識結果を作成する認識処理手段と、
前記認識結果の座標を前記ローカル座標から前記グローバル座標に変換する座標変換手段と、
複数の前記認識結果に基づいて、第一の画像から第二の部分画像を作成する第二の画像作成手段とを備える。
図2(a)は、本実施形態に係る情報処理装置200のハードウェア構成図である。図2(a)に示すように、情報処理装置200は、CPU201と、ROM202と、RAM203と、HDD204と、表示部205と、操作部206と、通信部207とを有している。CPU201は、中央演算装置(Central Processing Unit)であり、各種処理のための演算や論理判断等を行い、システムバス208に接続された各構成要素を制御する。ROM(Read-Only Memory)202は、プログラムメモリであって、後述する各種処理手順を含むCPU201による制御のためのプログラムを保持する。RAM(Random Access Memory)203は、CPU201の主メモリ、ワークエリア等の一時記憶領域として用いられる。尚、情報処理装置200に接続された外部記憶装置等からRAM203にプログラムをロードすることで、プログラムメモリを実現しても構わない。
図2(b)は、情報処理装置200の機能構成を示すブロック図の一例である。これらの各機能部は、CPU201が、ROM202に格納されたプログラムをRAM203に展開し、後述する各フローチャートに従った処理を実行することで実現されている。そして、各処理の実行結果をRAM203に保持する。また例えば、CPU201を用いたソフトウェア処理の代替としてハードウェアを構成する場合には、ここで説明する各機能部の処理に対応させた演算部や回路を構成すればよい。
本実施形態を説明するにあたって、グローバル座標と第一の画像について説明する。
図4は、本実施形態における情報処理装置のメイン処理の流れを表すフローチャートである。以下、各工程(ステップ)は、それら符号の先頭にはSを付与して説明することとする。本実施形態では、第一の画像は、図面に対応付けられた構造物全体の画像(以下、全体画像)とし、グローバル座標は、構造物の図面座標とする。第二の画像は、第一の画像から作成する部分画像とし、ローカル座標は、部分画像に対応する画像座標とする。本実施形態では、操作部206が、認識処理開始の入力を受け付けて、図4のフローチャートの処理を開始する。そして、認識結果の記憶が完了したら、処理が終了する。
まず、S401において、画像作成部222が、第一の画像から第二の画像を作成する。第二の画像は、第一の画像のうち、認識に適した範囲を指定した部分画像であり、画像作成部222は、この範囲を決定する処理を実行する。認識に適した範囲を決定する方法として、例えば、情報処理装置のメモリ等の制約に基づいて決定する方法がある。本実施形態では、後述するS403において、認識処理部223が、認識処理を実行する画像をRAM203に読み出し、認識処理を実行する。すなわち、認識処理を実行可能な画像サイズの上限は、RAM203に読み出し可能なサイズに依存する。そこで、実施形態では、RAM203のサイズに基づいて、読み出し可能な画像サイズを決定し、認識に適した範囲を決定する。
S402において、画像作成部222は、グローバル座標上における第二の画像の位置を算出する。第二の画像の位置を算出するために、グローバル座標上の第一の画像の位置情報と、第一の画像と第二の画像の位置関係の情報を用いる。グローバル座標上の第一の画像の位置は、画像左上の頂点の座標で示され、本実施形態では既知である。第一の画像と第二の画像の位置関係は、画像解像度と、各画像の左上頂点間における、各軸方向の画素数から求める。これらの情報を用いて、グローバル座標の第二の画像の位置を算出する方法を、図7を用いて説明する。なお、グローバル座標上の単位はm(メートル)とし、画像解像度は、実物の構造物壁面の画像上のサイズを示し、ここでは定数R(mm/pixel)とする。図7は、グローバル座標700に対応づけられた、第一の画像711と第二の画像712を表示している図である。第一の画像711の位置は、画像左上の頂点座標721(Xg1、Yg1)とする。また、第二の画像712の位置は、画像左上の頂点座標722(Xg2、Yg2)とする。また、頂点座標721と頂点座標722の間の各軸方向の画素数(距離画素数)を(Xp,Yp)とする。このとき、グローバル座標上の第二の画像の頂点座標722(Xg2、Yg2)は、次式(1)、(2)で表される。
Xg2 = Xg1 + (Xp × R × 0.001) …(1)
Yg2 = Yg1 + (Yp × R × 0.001) …(2)
式(1)、(2)における数値の0.001は、画像解像度のmm(ミリメートル)からグローバル座標のm(メートル)へ単位変換する変換係数である。この変換係数は、画像解像度やグローバル座標の単位に合わせて変更する。式(1)、式(2)を用いることにより、グローバル座標における第二の画像の位置を求めることができる。
S403において、認識処理部223は、第二の画像に対して認識処理を実行し、認識結果を取得する。本実施形態では、1例として、認識対象がひび割れの場合の認識処理について図8を用いて説明する。
S404にて、座標変換部224は、ローカル座標に対応づけられた認識結果を、グローバル座標に変換する処理を行う。認識結果を座標変換する例として、図8のひび割れ811のベクターデータの点P1~Pmの座標を、グローバル座標へ変換する処理を説明する。点P1~Pmの座標は、ローカル座標に対応づけられた座標(Xlp1,Ylp1)~(Xlpm,Ylpm)とする。このとき、グローバル座標に変換した点P1~点Pの座標(Xgp1,Ygp1)~(Xgpm,Ygpm)は、次式(3)、(4)で求めることができる。
Xgpi = Xg2+(Xlpi × R × 0.001) (pi=p1,p2,…,pm) …(3)
Ygpi = Yg2+(Ylpi × R × 0.001) (pi=p1,p2,…,pm) …(4)
式(3)および(4)中のRは、第一の画像の画像解像度を示すパラメータであり、mm/pixel単位の数値で表す。末尾の数字0.001は、mmからmへの単位変換を行う変換係数である。この変換係数は、式(1)および(2)の変換係数と同じく、画像解像度の単位とグローバル座標の単位に合わせて変更する。Xg2とYg2は、式(1)および(2)により算出される、グローバル座標上の第二の画像の位置(画像左上の頂点座標)である。式(3)、(4)を用いることにより、ローカル座標上の認識結果を、グローバル座標へ変換することができる。
S405にて、データ管理部221は、グローバル座標に変換された認識結果を、記憶部225に記憶する処理を行う。認識結果は、グローバル座標、すなわち構造物全体の図面座標に対応づけられた座標を持つため、図面や第一の画像と対応づけて認識結果を記録、管理できるようになる。図9に、図面300と、図面に対応づけられた第一の画像901、および認識結果902を表示している状態を示す。
ここまで第1の実施形態では、部分画像ごとに認識結果を取得し、逐次座標変換する実施形態について説明した。しかし、複数の部分画像の認識結果を蓄積し、一括で座標変換して図面に対応づける処理を行ってもよい。座標変換前の認識結果は、座標変換パラメータとともにHDD204等に保持しておく。そして、例えば、ユーザが認識結果を参照する場合、認識結果と座標変換パラメータを読み込む。そして、参照に必要な認識結果のみ座標変換処理を実行し、図面に対応づけられた認識結果を取得する。このように、一括で座標変換を行うことにより、座標変換処理の回数を削減することができる。
以上の実施形態では、インフラ点検における検査対象を撮影した画像に対する認識結果を図面と対応付けて管理する実施形態について説明した。しかし、適用先は特定の分野に限定されない。例えば、超解像度画像を用いた検査点検処理などにも有効である。具体的に示すのであれば、工場における半導体ウエハ検査工程である。半導体ウエハの検査工程では、半導体ウエハを撮影した画像から傷などの欠陥を認識し、その認識結果を図面に対応付けて管理する。半導体ウエハ上の微細な傷を認識するためには、超高解像度で撮影した画像に対して認識処理を実行する必要があるため、画像サイズは非常に大きくなる。したがって、全体画像に対して一度に認識処理を実行することは難しい。そのため、全体画像から部分画像を切り出し、部分画像ごとに認識処理を実行する。ところで、半導体ウエハ製造工程では、ウエハ表面上の碁盤目状の境界に合わせて規則的に回路パターンを焼き付け、その後境界に沿ってダイシングを行う。つまり、認識処理を実行可能な部分画像を作成する際の区切りとして、碁盤目状の境界を使用することが好適な方法である。部分画像ごとに取得した傷などの認識結果を図面に座標変換することにより、ウエハ全体の欠陥情報を容易に管理できるようになる。
上記第1の実施形態では、部分画像ごとに認識結果を取得し、図面と対応付けて管理する例を説明した。変状が、部分画像境界をまたいで存在している場合、部分画像の境界付近で途切れた認識結果となる。そのため、ユーザは、画像と見比べながら認識結果の途切れを修正することになる。第2の実施形態では、部分画像境界付近の認識結果を合成し、認識結果の途切れを抑制する例を示す。具体的には、部分画像境界付近の、異なる部分画像に対応付けられた認識結果において、位置が近い認識結果同士を同一の変状の認識結果であるとみなし、合成する処理を行う。これにより、認識結果が連結され、管理および閲覧しやすくなる。以下、第1の実施形態との差分を中心に、第2の実施形態を説明する。
d={(Xg1-Xg2)2+(Yg1-Yg2 )2 }1/2 …(5)
式中のXg1、Yg1は端点1231の位置座標を示し、Xg2、Yg2は端点1232の位置座標を示すパラメータである。この端点間の距離dの算出処理を、ひび割れ1222は固定のままで、部分画像1213上の各ひび割れに対して実行する。これにより、ひび割れ1222に対して、最短距離となる部分画像1213上のひび割れを決定し、その時の最短距離dを取得する。以上の処理を、部分画像1212の各ひび割れに対して繰り返し実行することにより、各ひび割れに対応する最短距離を取得する。
D≧d …(6)
式中のDは、画像境界を跨いで認識結果を合成するか否かを判断する基準値を示す定数(閾値)である。この定数Dは、例えば、実験的に求めた値を使用する。
d’=(Xg1-Xg2)2+(Yg1-Yg2 )2 …(5’)
Θ≧θ …(7)
式7中のΘは、基準角度を示す定数(閾値)であり、例えば、実験的に求めた値を使用する。
本実施形態では、認識結果の例として、面積を持たないひび割れを連結する処理を説明したが、漏水や浮きなどのような面積を持つ認識結果に対しても有効である。ここで、面積をもつ認識結果がベクターデータであるとする。面積を持つ認識結果を連結するか否かを判断する方法は、例えば、認識結果を構成する境界のうち、一部の境界が近接し、かつ向きが揃っているかどうかを使用する方法がある。すなわち、各認識結果を構成する線分のうち、もっとも距離の近い線分の組合せを選択し、その時の線分間距離と線分のなす角度を算出する。算出した距離と角度が、いずれも基準値以下である場合に、認識結果を合成する処理を行う。領域を持つ認識結果を合成するかを判断する指標の算出処理の概要を、図13を参照して説明する。
上記第2の実施形態では、部分画像境界付近で途切れる認識結果を合成する方法について説明した。部分画像境界を跨ぐ認識結果の合成では、不自然な認識結果が作成されることがある。そこで、全体画像から、合成候補の認識結果を含む部分画像を新たに作成し、認識処理を実行して認識結果を取得しなおす。これにより、画像境界付近で途切れのない自然な認識結果を取得することができる。
第1の実施形態では、微細なひび割れの認識結果を取得するために、部分画像を作成し、認識処理を実行して認識結果を取得する例を説明したが、認識対象に応じて、使用する部分画像の解像度を変更してもよい。例えば、微細なひび割れを認識するためには、高解像度な画像を使用する必要がある。一方、広範囲に及ぶ漏水領域や太いひび割れなどの変状は、比較的低解像度な画像でも視認できるため、低解像度化した画像を使用しても、認識できることが多い。低解像度化した画像を用いることにより、認識処理における情報処理装置の負荷が軽減されるため、認識処理を高速化することができる。したがって、認識対象に応じて、認識処理を実行する画像の解像度を変換することにより、認識処理を高速化することができる。ただし、取得する認識結果は、低解像度画像に対応する認識結果である。そのため、取得した認識結果を、もとの解像度画像に対応づける処理を行う必要がある。以下、第1の実施形態との差分を中心に、第3の実施形態を説明する。
Xla = Xlb/C (C≠0) …(8)
Yla = Ylb/C (C≠0) …(9)
式(8)及び(9)中のパラメータ“C”は、解像度変換係数である。また、Xla、Ylaパラメータは、解像度変換前画像の画像座標に対応づけられた認識結果である。式(8)、(9)を用いることにより、元の解像度変換前の認識結果を取得することができる。
第1の実施形態では、2次元図面に対応づけられた画像から作成した部分画像の認識結果を、図面と対応づけて管理する例を説明したが、3次元図面に対応づけられた画像を用いてもよい。3次元図面データとは、例えば、3DCADソフトウェア等を用いて作成した3Dモデルに、構造物を様々な方向から撮影した画像を張り付けたデータである。このような場合、例えば、3次元図面における任意視点からの部分画像を作成して、認識処理を実行する。これにより、構造上劣化しやすい箇所を含む部分画像を作成して認識処理を行う、といった効率的な点検が可能となる。取得した認識結果は、3次元図面に対応づけて記憶することにより、3次元図面上で、画像と認識結果を容易に管理することができる。以下、第1の実施形態との差分を中心に、第4の実施形態を説明する。なお、本第4の実施形態において、第一の画像は、3Dモデルに張り付けられた壁面画像とし、第二の画像は、3次元図面上から切り出した部分画像であるとする。また、グローバル座標は、3次元図面に対応づけられた3次元図面座標とし、ローカル座標は部分画像に対応づけられた局所座標とする。
上記第4の実施形態では、3次元図面に対応づけられた画像に対して、3次元図面上のユーザが設定した視点から部分画像を作成する方法について説明した。3次元図面に対応づけられた画像から部分画像を作成する方法として、3Dモデルの展開図を使用してもよい。例えば、3次元図面上の任意視点から作成した部分画像は、隠れてしまう箇所は部分画像に表示されない。そのため、構造物が複雑な形状の場合、部分画像を複数作成することになり、作業が煩雑となる。このような場合、3Dモデルの展開図を使用して部分画像を作成することにより、効率的に部分画像を作成することができる。図19(c)に、展開図を用いて作成した、3Dモデル1911の橋脚1921における部分画像の例を示す。図19(c)は、橋脚1921の四方の壁面画像(1922、1923、1924、1925)を含む部分画像であり、1視点からでは隠れてしまう壁面も部分画像として容易に作成することができる。このように、3Dモデルの展開図を用いることにより、複数方向視点からの部分画像を容易に作成することができる。
本発明は、上述の実施形態の1以上の機能を実現するプログラムを、ネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピュータにおける1つ以上のプロセッサーがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能である。また、1以上の機能を実現する回路(例えば、ASIC)によっても実現可能である。
Claims (13)
- グローバル座標に対応付けられた第一の画像から、当該第一の画像の一部である部分画像を第二の画像として作成する第一の画像作成手段と、
前記第二の画像に対し、予め設定された特徴についての認識処理を実行し、前記第二の画像に関するローカル座標に対応付けた認識結果を作成する認識処理手段と、
前記認識結果の座標を前記ローカル座標から前記グローバル座標に変換する座標変換手段と、
複数の前記認識結果に基づいて、第一の画像から第二の部分画像を作成する第二の画像作成手段と
を備えることを特徴とする情報処理装置。 - 前記第一の画像作成手段は、
前記認識処理を実行する情報処理装置のリソースに基づいて、前記第二の画像のサイズを決定する手段を含み、
前記第一の画像から前記サイズ以内の部分画像を前記第二の画像として作成することを特徴とする請求項1に記載の情報処理装置。 - 前記第一の画像作成手段は、
前記第一の画像から算出した画像の特徴に基づいて、前記第二の画像の範囲を決定する手段を含み、
前記第一の画像から前記範囲の部分画像を作成し第二の画像とすることを特徴とする請求項1又は2に記載の情報処理装置。 - 前記第一の画像作成手段は、
前記認識処理を実行する情報処理装置のリソースと前記第一の画像から算出した画像の特徴に基づいて、前記第二の画像のサイズ、及び、範囲を決定する手段を含み、
前記第一の画像から前記サイズ以内の前記範囲の部分画像を前記第二の画像として作成することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の情報処理装置。 - 複数の前記認識結果の位置と形状の少なくとも一方に基づいて、前記認識結果同士を合成する合成手段をさらに備えることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の情報処理装置。
- 前記グローバル座標は、検査対象となる構造物の図面に対応づけられた図面座標であり、
前記第一の画像は、前記構造物を撮影した前記グローバル座標に対応づけられた画像であり、
前記ローカル座標とは、前記第一の画像から作成する前記部分画像に対応づけられた局所座標であって、
前記第一の画像作成手段は、前記第一の画像から前記部分画像である、前記第二の画像を作成することを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の情報処理装置。 - 前記認識処理手段は、
構造物の表面に生じた変状の位置を含む情報を、前記第二の画像により抽出し、前記ローカル座標に対応づけて取得することを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載の情報処理装置。 - 前記変状は、前記構造物の表面に生じたひび割れを含むことを特徴とする請求項7に記載の情報処理装置。
- 前記認識処理手段の認識対象の種類に応じて、前記第二の画像の解像度を変換する変換手段を更に有することを特徴とする請求項1乃至8のいずれか1項に記載の情報処理装置。
- 前記図面は、前記構造物の2次元図面もしくは3次元図面であり、
前記第一の画像作成手段は、前記第一の画像の部分画像を前記第二の画像として作成する
ことを特徴とする請求項6に記載の情報処理装置。 - 前記座標変換手段は、前記図面に対応づけられた前記グローバル座標と前記認識結果に対応づけられた局所座標に基づいて、局所座標の前記認識結果を前記グローバル座標へ変換することを特徴とする請求項10に記載の情報処理装置。
- 情報処理装置が実行する情報処理方法であって、
グローバル座標に対応付けられた第一の画像から、当該第一の画像の一部である部分画像を第二の画像として作成する第一の画像作成工程と、
前記第二の画像に対し、予め設定された特徴についての認識処理を実行し、前記第二の画像に関するローカル座標に対応付けた認識結果を作成する認識処理工程と、
前記認識結果の座標を前記ローカル座標から前記グローバル座標に変換する座標変換工程と、
複数の前記認識結果に基づいて、第一の画像から第二の部分画像を作成する第二の画像作成工程と
を備えることを特徴とする情報処理方法。 - コンピュータが読み込み実行することで、前記コンピュータを、請求項1乃至11のいずれか1項に記載の情報処理装置の各手段として機能させるためのプログラム。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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