JP7343664B2 - 測量システム - Google Patents
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Description
2 ターゲット装置
3 レーザスキャナ
5 ポール
6 ターゲット
7 稜線
8 軸心
11 演算制御部
12 測距部
13 測距光偏向部
17 スキャン軌跡
18 ターゲット
19 ターゲット
20 ターゲット
Claims (6)
- 測距光をスキャンし点群データを取得するレーザスキャナと、測距光を反射するターゲットを有するターゲット装置とを具備し、該ターゲット装置は、ポールと該ポールに設けられ、測距光を反射するターゲットとを有し、該ターゲットは前記ポールの軸心を中心とした回転体の形状を有すると共に既知の曲面を有し、該曲面は前記軸心上の一点を基準点として有し、該基準点とポール下端との距離が既知であり、前記レーザスキャナは、測距光を射出し、反射光を受光して測距を行う測距部と、測距光を2次元に偏向可能な測距光偏向部と、該測距光偏向部を制御する演算制御部とを具備し、該演算制御部は、前記測距光偏向部により前記ターゲットの表面、及び該ターゲットの上下のポール部分を通過する様測距光をスキャンし、前記ターゲットの表面のスキャンで得られる点群データに基づき前記ターゲット表面の曲面を演算し、該曲面に基づき基準点を求め、該基準点を測距し、前記上下のポール部分で得られる点群データに基づき前記ポールの傾斜角、傾斜方向を演算し、前記基準点の測距結果と前記ポールの傾斜角、傾斜方向と前記基準点とポール下端との距離に基づき前記ポール下端の3次元座標を演算する様構成され、
更に前記演算制御部は、前記測距光偏向部により前記測距光を8の字スキャンパターンでスキャンする様構成された測量システム。 - 測距光をスキャンし点群データを取得するレーザスキャナと、測距光を反射するターゲットを有するターゲット装置とを具備し、該ターゲット装置は、ポールと該ポールに設けられ、測距光を反射するターゲットとを有し、該ターゲットは前記ポールの軸心を中心とした回転体の形状を有すると共に既知の曲面を有し、該曲面は前記軸心上の一点を基準点として有し、該基準点とポール下端との距離が既知であり、前記レーザスキャナは、測距光を射出し、反射光を受光して測距を行う測距部と、測距光を2次元に偏向可能な測距光偏向部と、該測距光偏向部を制御する演算制御部とを具備し、該演算制御部は、前記測距光偏向部により前記ターゲットの表面、及び該ターゲットの上下のポール部分を通過する様測距光をスキャンし、前記ターゲットの表面のスキャンで得られる点群データに基づき前記ターゲット表面の曲面を演算し、該曲面に基づき基準点を求め、該基準点を測距し、前記上下のポール部分で得られる点群データに基づき前記ポールの傾斜角、傾斜方向を演算し、前記基準点の測距結果と前記ポールの傾斜角、傾斜方向と前記基準点とポール下端との距離に基づき前記ポール下端の3次元座標を演算する様構成され、
前記ターゲットは、底面で合体する上下2つの円錐台で構成された測量システム。 - 測距光をスキャンし点群データを取得するレーザスキャナと、測距光を反射するターゲットを有するターゲット装置とを具備し、該ターゲット装置は、ポールと該ポールに設けられ、測距光を反射するターゲットとを有し、該ターゲットは前記ポールの軸心を中心とした回転体の形状を有すると共に既知の曲面を有し、該曲面は前記軸心上の一点を基準点として有し、該基準点とポール下端との距離が既知であり、前記レーザスキャナは、測距光を射出し、反射光を受光して測距を行う測距部と、測距光を2次元に偏向可能な測距光偏向部と、該測距光偏向部を制御する演算制御部とを具備し、該演算制御部は、前記測距光偏向部により前記ターゲットの表面、及び該ターゲットの上下のポール部分を通過する様測距光をスキャンし、前記ターゲットの表面のスキャンで得られる点群データに基づき前記ターゲット表面の曲面を演算し、該曲面に基づき基準点を求め、該基準点を測距し、前記上下のポール部分で得られる点群データに基づき前記ポールの傾斜角、傾斜方向を演算し、前記基準点の測距結果と前記ポールの傾斜角、傾斜方向と前記基準点とポール下端との距離に基づき前記ポール下端の3次元座標を演算する様構成され、
前記ターゲットは、上面で合体する上下2つの円錐台で構成された測量システム。 - 前記ターゲットは、円錐台で構成される請求項1に記載の測量システム。
- 前記ターゲットは、球体で構成される請求項1に記載の測量システム。
- 前記ターゲットは、上円錐台の円錐角と下円錐台の円錐角が異る様構成された請求項2又は請求項3に記載の測量システム。
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