JP7327299B2 - 破面形状評価方法、破面形状データ格納方法、及び破面形状評価装置 - Google Patents
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- 試験体の評価対象の破面全体の形状、及び該試験体の特定位置に設けられた、基準座標方向に対応する座標軸を備え、前記評価対象の破面の形状との相互相関性が低い形状を有する座標化補助具の形状を示す点群データを計測するステップを含むことを特徴とする破面形状評価方法。
- 前記点群データの中から前記座標化補助具の形状を示す点群データを抽出し、抽出された点群データに基づいて前記基準座標方向を特定するステップと、
特定された基準座標方向に基づいて前記点群データの中の前記評価対象の破面全体の形状を示す点群データの座標値を補正するステップと、
座標値が補正された前記評価対象の破面全体の形状を示す点群データを用いて前記評価対象の破面の形状を評価するステップと、
を含むことを特徴とする請求項1に記載の破面形状評価方法。 - 前記座標軸を前記基準座標方向に合わせて前記座標化補助具を前記試験体に取り付けるステップを含むことを特徴とする請求項1又は2に記載の破面形状評価方法。
- 前記座標化補助具は、半球体を一部に含み、xy平面、yz平面、及びzx平面が共に90°の関係にある治具であることを特徴とする請求項1~3のうち、いずれか1項に記載の破面形状評価方法。
- 前記座標化補助具は、磁石によって前記試験体に取り付けられることを特徴とする請求項1~4のうち、いずれか1項に記載の破面形状評価方法。
- 前記座標化補助具は、形状を評価する対象としない前記試験体の表面に取り付けられることを特徴とする請求項1~5のうち、いずれか1項に記載の破面形状評価方法。
- 試験体の評価対象の破面全体の形状、及び該試験体の特定位置に設けられた、基準座標方向に対応する座標軸を備え、前記評価対象の破面の形状との相互相関性が低い形状を有する座標化補助具の形状を示す点群データを計測するステップと、
前記点群データを格納するステップと、
を含むことを特徴とする破面形状データ格納方法。 - 前記点群データの中から前記座標化補助具の形状を示す点群データを抽出し、抽出された点群データに基づいて前記基準座標方向を特定するステップと、
特定された基準座標方向に基づいて前記点群データの中の前記評価対象の破面全体の形状を示す点群データの座標値を補正するステップと、
座標値が補正された前記評価対象の破面全体の形状を示す点群データを前記評価対象の破面の形状データとして格納するステップと、
を含むことを特徴とする請求項7に記載の破面形状データ格納方法。 - 試験体の評価対象の破面全体の形状、及び該試験体の特定位置に設けられた、基準座標方向に対応する座標軸を備え、前記評価対象の破面の形状との相互相関性が低い形状を有する座標化補助具の形状を示す点群データを計測する手段を備えることを特徴とする破面形状評価装置。
- 前記点群データの中から前記座標化補助具の形状を示す点群データを抽出し、抽出された点群データに基づいて前記基準座標方向を特定し、特定された基準座標方向に基づいて前記評価対象の破面全体の形状を示す点群データの座標値を補正し、座標値が補正された前記評価対象の破面全体の形状を示す点群データを用いて前記評価対象の破面の形状を評価する手段を備えることを特徴とする請求項9に記載の破面形状評価装置。
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