JP7317209B2 - 処理ユニット並びにプログラム及び/又はデータメモリを含む被試験デバイスをテストするための自動試験機器、テストコントローラ、被試験デバイスへの1又は複数のインターフェース、共有メモリを含む自動試験機器、並びに被試験デバイスをテストするための方法 - Google Patents
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Description
・アップロードされたプログラムは、第2のインターフェースを介して追加のプログラムコード及び/又はデータをロードするために、DUT及び/又はDUTを使用する接続ブロック、例えばDUTのメモリを構成する。第2のインターフェースは、プログラムがDUTによって実行される場合、例えば、プログラムが自動試験機器の共有メモリから実行される場合、より高い(第1のインターフェースのデータレートよりも高い)データレートを含んでもよく、又はそれにより通信してもよい。第2のインターフェースは、更に、プログラム及び/若しくはデータメモリとして機能する可能性を有し、かつ/又は第1のインターフェースを使用して利用できない他の機能を提供し得る。
・アップロードされたプログラムは、1又は複数のプログラムの実行を制御する。
・アップロードされたプログラムは、DUTのレジスタを所望の値に設定する。
・アップロードされたプログラムは、ランダムアクセスなどのDUTのメモリアクセスを構成する。
好ましい実施形態(例えば、請求項23を参照)では、シリアルインターフェースは、ユニバーサルシリアルバス(USB)インターフェース、例えば、USB1.0インターフェース、若しくはUSB1.1インターフェース、若しくはUSB2.0インターフェース、若しくはUSB3.0インターフェース、若しくはUSB3.1インターフェース、若しくはUSB3.1Gen1インターフェース、若しくはUSB3.1Gen2インターフェース、若しくはUSB3.2インターフェース、若しくはUSB4インターフェース、又は、USB実装フォーラムによって標準化され、本明細書で説明されているインターフェースと後方互換性のあるその他のインターフェースである。
図1は、ATE110及びDUT120の一実施形態を含むテスト構成100の概略図を示している。
図2は、図1のATE110と同様のATE210、図1のDUT120と同様のDUT220の一実施形態を含むテスト構成200の概略図を示している。
図3は、例えば、図1のテスト構成100でテストされる典型的なDUT300を示している。DUT300又はSOC設計の典型的な基本要素は、処理ユニット、コンピュータインフラストラクチャ、周辺機器のロジック、及びシステムバス320によって接続された他のカスタムIPブロック360である。
図4は、例示的な従来のテスト構成400を示している。このテスト構成は、図3に示されるDUT300と同様のDUT420と、テストコントローラ430を有する図1上のATEと同様のATE410とを含む。ATE410のテストコントローラ430は、そのデバッグDfTインターフェース440を介してDUT420に接続されている。
図5は、例示的なテスト構成500を示している。テスト構成500は、図1のATE110と同様のATE510の一実施形態と、図3に示されるDUT300と同様のDUT520とを含む。ATE510は、テストコントローラ536及びATE処理ユニット533、ホストインターフェースクライアント549、及びアドレス仮想化546を用いた共有メモリ543を含む。共有メモリは、PCIe又はUSBなどのホストインターフェースクライアント549を介してテストコントローラ536及びDUT520によってアクセス可能である。ATE510のホストインターフェースクライアント549は、DUTのホストインターフェース523に接続されている。通常、インターフェースは、例えば、レイテイシ耐性を有するシリアルインターフェースである。
a.DUTデジタル半導体チップ及び/又は処理ユニットを初期化し、
b.HSIOインターフェース又はPCIeインターフェースなどのホストインターフェースを初期化及び構成し、ATEシステム510内の構成要素をリンクパートナーとして設定して、デジタル半導体システムメモリ及び/又は処理ユニットメモリの特定のメモリ範囲を提供し、
c.キャッシュされる「HSIOメモリ」を、例えば、同様にL2キャッシュ529によって、又は例えば処理ユニットによって初期化する。
図6は、本発明の一実施形態による方法のフローチャート600を示している。この方法は、第1のインターフェースを介して、図3のDUT300と同様に、プログラムをDUTにアップロードすること(610)を含む。この方法はまた、アップロードされたプログラムが、第2のインターフェースを介して追加のプログラムコード及び/又はデータをロードするようにDUTを構成する工程(620)を含む。
本発明のATEは、従来の解決策に比べて以下の利点を有し得る。
本発明は、以下の特徴を含み得るセキュリティ機能を本発明に追加することによって更に改善され得る。
ATE及び/又はテスタは、例えば通信を確立するために必要とされるそのアイデンティティを証明するために、例えば暗号手段及び/又は秘密クレデンシャルを使用して、第1のインターフェース及び/又は第2のインターフェースに対してそれ自体を認証するように要求され得る。
ATE及び/又はテスタは、例えば、暗号化手段及び/又は秘密クレデンシャルを使用して、第1のインターフェース又は第2のインターフェースに対してそれ自体を認可して、例えば、別様で制限された機能にアクセスするためのデバイス上の特権を得るように要求され得る。
DUTとATE及び/又はテスタ及び/又はATEの第1のインターフェース及び/又は第2のインターフェースとの間の通信は、例えばハッシュなどの標準及び/又は独自のデータ完全性チェック方法を用いて、変更に対して保護することができる。
DUTとATE及び/又はテスタ及び/又はATEのインターフェースとの間の通信は、標準の暗号化スキーム及び/又は独自の暗号化方法を使用して暗号化することができる。
DUTとATE及び/又はテスタ又はATEのプライマリインターフェース及び/又はセカンダリインターフェース間の通信は、標準的な又は独自の損失性又は無損失性のコンパクション手段を用いて圧縮することができ、ここで、ATE及び/又はテスタがデータを圧縮してデバイスに送信し、デバイスによって解凍され、かつ/又はデバイスが送信されたデータ若しくはテスタに送信するデータを圧縮し、かつ/又はテスタがデータを解凍する。
一部の態様を装置の文脈で説明したが、これらの態様はまた、ブロック又はデバイスが方法工程又は方法工程の特徴に対応する、対応する方法の説明を表すことは明らかである。同様に、方法工程の文脈で説明される態様はまた、対応するブロック又はアイテム、又は対応する装置の特徴の説明を表している。
Claims (33)
- 処理ユニット並びにプログラム及び/又はデータメモリを含む被試験デバイスをテストするための自動試験機器であって、
前記自動試験機器が、第1のインターフェースを用いて前記被試験デバイスにプログラムをアップロードするように構成され、
前記第1のインターフェースを介して前記被試験デバイスにアップロードされた前記プログラムが、追加の通信のために、より高いデータレートで動作する第2のインターフェースを開放するように前記被試験デバイスを構成する、
自動試験機器。 - 前記第1のインターフェースを介して前記被試験デバイスにアップロードされた前記プログラムが、
前記被試験デバイスによる実行のために、前記第1のインターフェースよりも高いデータレートを含む第2のインターフェースを介して追加のプログラムコード及び/若しくはデータをロードするように前記被試験デバイスを構成すること、並びに/又は
1若しくは複数のプログラムの実行を制御すること、並びに/又は
前記被試験デバイスのレジスタを所望の値に設定すること、並びに/又は
前記被試験デバイスのメモリアクセスを構成すること、
を行う、請求項1に記載の自動試験機器。 - 前記第1のインターフェースを介して前記被試験デバイスにアップロードされた前記プログラムが、メモリマッピングを使用して前記第2のインターフェースにアクセスするように前記被試験デバイスを構成する、
請求項1又は請求項2に記載の自動試験機器。 - 前記第1のインターフェースを介して前記被試験デバイスにアップロードされた前記プログラムが、前記第2のインターフェースへのアクセスのために、前記被試験デバイスの前記処理ユニットによってアドレス指定可能なメモリ範囲のメモリサブ範囲を割り当てるように、前記被試験デバイスのリソースマネージャを構成する、
請求項1~3のいずれか一項に記載の自動試験機器。 - 前記デバイスにアップロードされた前記プログラムが、アプリケーションプロトコルを利用して、クライアント又はホストのいずれかとして前記自動試験機器に通信して、その相手とデータを交換する、
請求項1~4のいずれか一項に記載の自動試験機器。 - 前記自動試験機器が、前記第1のインターフェース及び/又は第2のインターフェースに対して、それ自体を認証及び/又は認可するように構成されている、
請求項1~5のいずれか一項に記載の自動試験機器。 - 前記自動試験機器が、暗号化された方法及び/又は変更に対して保護された方法で、前記被試験デバイスと通信するように構成されている、
請求項1~6のいずれか一項に記載の自動試験機器。 - 前記自動試験機器が、コンパクション手段を用いて圧縮された方法で前記被試験デバイスと通信するように構成され、
前記自動試験機器が、データを圧縮して前記被試験デバイスに送信し、前記被試験デバイスから受信した前記データを解凍するように構成されている、
請求項1~7のいずれか一項に記載の自動試験機器。 - 前記第1のインターフェース及び/又は第2のインターフェースを介して前記被試験デバイスにアップロードされた前記プログラムが、コンパクション方法及び/又はデコンパクション方法を実行して、前記圧縮及び/又は解凍を実行するためのプログラムコードを含む、
請求項8に記載の自動試験機器。 - 前記自動試験機器が、前記被試験デバイスの前記処理ユニットに、前記自動試験機器の共有メモリに記憶され、前記第2のインターフェースを介して前記被試験デバイスにロードされるテストケースコードを実行させるように構成されている、
請求項1~9のいずれか一項に記載の自動試験機器。 - 前記自動試験機器が、前記自動試験機器の共有メモリに記憶され、前記第2のインターフェースを介して前記被試験デバイスにロードされるテストケースコードを前記被試験デバイスが実行する前に、キャッシュ又はキャッシュ領域の無効化を引き起こすように構成されている、
請求項1~10のいずれか一項に記載の自動試験機器。 - 前記第1のインターフェースを使用して前記被試験デバイスにアップロードされた前記プログラムが、
前記被試験デバイスの前記処理ユニットを初期化することと、
前記被試験デバイスの前記第2のインターフェースを初期化することと、
前記自動試験機器のメモリに接続し、前記自動試験機器の前記メモリのメモリ範囲を前記被試験デバイスの前記処理ユニットによって使用可能なメモリ範囲として提供するように、前記被試験デバイスの前記第2のインターフェースを構成することと、を行う、
請求項1~11のいずれか一項に記載の自動試験機器。 - 前記第1のインターフェースを使用して前記被試験デバイスにアップロードされた前記プログラムが、前記自動試験機器の前記メモリの前記メモリ範囲がマッピングされる前記メモリ範囲を、前記被試験デバイスのキャッシュによってキャッシュされるように初期化する、
請求項12に記載の自動試験機器。 - 前記第1のインターフェースを使用して前記被試験デバイスにアップロードされた前記プログラムは、前記第2のインターフェースによって提供される拡張メモリが、アクセス時間が遅くなる可能性があることを除いて、通常のシステムメモリとして前記被試験デバイスの前記処理ユニットに提示されるように、前記自動試験機器の前記メモリの前記メモリ範囲がマッピングされる前記メモリ範囲を初期化する、
請求項12又は13に記載の自動試験機器。 - 前記第1のインターフェースを使用して前記被試験デバイスにアップロードされた前記プログラムが、前記被試験デバイスに、プログラム実行の結果を前記第2のインターフェースを介して前記自動試験機器に転送させる、
請求項1~14のいずれか一項に記載の自動試験機器。 - 前記自動試験機器が、前記第2のインターフェースを介して前記自動試験機器のメモリに記憶された前記結果に基づいてデータ分析を実行するように構成され、かつ/又は
前記自動試験機器が、前記第2のインターフェースを介して前記自動試験機器の前記メモリに記憶された前記結果に基づいて前記被試験デバイスの特性評価を実行するように構成され、かつ/又は
前記自動試験機器が、前記第2のインターフェースを介して前記自動試験機器の前記メモリへのデータアクセスパターンを評価するように構成され、かつ/又は
前記自動試験機器が、前記被試験デバイスを特性評価するために、前記第2のインターフェースを介して前記被試験デバイスから受信した情報を分析するように構成されている、
請求項15に記載の自動試験機器。 - 前記自動試験機器が、前記自動試験機器のメモリの異なるメモリ範囲に記憶され、前記第2のインターフェースを介して前記被試験デバイスによってアクセスされる複数のテストケースプログラムを、前記被試験デバイスに順次又は並列に実行させるように構成されている、請求項1~16のいずれか一項に記載の自動試験機器。
- 前記第1のインターフェースを介して前記被試験デバイスにアップロードされた前記プログラムが、所与のテストケースプログラムの実行中に、前記第2のインターフェースを介して前記所与のテストケースプログラムのプログラムコード及び/又はデータをロードするように前記被試験デバイスを構成する、
請求項1~17のいずれか一項に記載の自動試験機器。 - 前記自動試験機器が、テストコントローラを含み、
前記自動試験機器が、前記被試験デバイスにテストデータを提供するための前記第1のインターフェースを含み、
前記自動試験機器が、前記テストコントローラによってアクセス可能であり、前記被試験デバイスによってアクセス可能である共有メモリを含む、
請求項1~18のいずれか一項に記載の自動試験機器。 - 被試験デバイスをテストするための自動試験機器であって、
前記自動試験機器が、テストコントローラを含み、
前記自動試験機器が、前記被試験デバイスにテストデータを提供するための第1のインターフェースを含み、
前記自動試験機器が、前記テストコントローラによってアクセス可能であり、前記被試験デバイスによってアクセス可能である共有メモリを含む、
自動試験機器。 - 前記自動試験機器が、前記共有メモリへの前記被試験デバイスのアクセスを可能にするように構成されたシリアルインターフェースを含む、
請求項19又は請求項20に記載の自動試験機器。 - 前記シリアルインターフェースが、PCI-Expressインターフェース又はPCI-Express準拠インターフェースである、
請求項21に記載の自動試験機器。 - 前記シリアルインターフェースが、ユニバーサルシリアルバス(USB)インターフェースである、
請求項21に記載の自動試験機器。 - 前記シリアルインターフェースが、サンダーボルトインターフェース若しくはイーサネットインターフェース若しくはIEEE-1394インターフェース若しくはSATA-インターフェースであり、又は前記シリアルインターフェースが、IEEE-1149インターフェースであり、又は前記シリアルインターフェースが、IEEE-1500インターフェースであり、又は前記シリアルインターフェースは、IEEE-1687インターフェースであり、又は前記シリアルインターフェースが、前記第1のインターフェースの一部であり得る、
請求項21に記載の自動試験機器。 - 前記自動試験機器が、前記共有メモリが複数の被試験デバイスによってアクセス可能であるように構成されている、
請求項19~24のいずれか一項に記載の自動試験機器。 - 前記自動試験機器が、前記共有メモリに結合された複数のインターフェースを含み、複数の被試験デバイスによる前記共有メモリへのアクセスを可能にする、
請求項25に記載の自動試験機器。 - 前記テストコントローラが、前記共有メモリのどの部分が前記被試験デバイスによってアクセス可能であるかを選択するように構成され、又は
前記テストコントローラが、複数の被試験デバイスへの前記共有メモリの部分の割り当てを選択するように構成されている、
請求項19~26のいずれか一項に記載の自動試験機器。 - 前記テストコントローラは、前記共有メモリの第1の部分が、テストランの第1の部分中に所与の被試験デバイスに割り当てられるように、かつ
前記共有メモリの第2の部分が、前記テストランの第2の部分中に所与の被試験デバイスに割り当てられるように、
前記テストラン中に前記所与の被試験デバイスに対する前記共有メモリの部分の割り当てを変更するように構成されている、
請求項19~27のいずれか一項に記載の自動試験機器。 - 前記自動試験機器が、前記被試験デバイスが前記共有メモリの別の部分にアクセスしている間に、前記共有メモリの現在使用されていない部分を変更して、新しいテストケースプログラムを設定するように構成されている、
請求項19~28のいずれか一項に記載の自動試験機器。 - 前記自動試験機器が、前記被試験デバイスが前記共有メモリの他の部分にアクセスしている間に、前記被試験デバイスによって前記共有メモリに記憶されたデータを前記共有メモリから読み出すように構成されている、
請求項19~29のいずれか一項に記載の自動試験機器。 - 前記自動試験機器が、テスト結果を得るために、前記被試験デバイスによって前記共有メモリに記憶された前記データを分析するように構成されている、
請求項30に記載の自動試験機器。 - 処理ユニット並びにプログラム及び/又はデータメモリを含む被試験デバイスをテストするための方法であって、
前記方法が、第1のインターフェースを使用して前記被試験デバイスにプログラムをアップロードすることを含み、
前記第1のインターフェースを介して前記被試験デバイスにアップロードされた前記プログラムが、前記被試験デバイスによる実行のために、前記第1のインターフェースよりも高いデータレートを含む第2のインターフェースを介して追加のプログラムコード及び/又はデータをロードするように前記被試験デバイスを構成する、
方法。 - コンピュータプログラムがコンピュータ上で実行されるときに、請求項32に記載の方法を実行するためのコンピュータプログラム。
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