JP7315486B2 - セラミック接合体およびその製造方法ならびに荷電粒子ビーム加速装置 - Google Patents

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Description

本開示は、セラミック接合体およびその製造方法ならびに荷電粒子ビーム加速装置に関する。
従来、大開口径のビームダクトは、複数のセラミックダクトの端面同士がガラス接合法によって接合され、長尺状に形成されている。しかしながら、陽子加速器のビームダクトは高強度の放射線に晒されるため、ガラス接合部は放射線劣化やこれに伴う経年劣化が進みやすく、高い気密性を維持することができないという懸念が生じている。
このような懸念を解消するために、特許文献1では、複数のセラミックダクトの端面を高融点金属法によりメタライズした後、ろう付けにより直接接合して長尺状に形成した加速器ビーム用のビームダクトが提案されている。
特開2003-324000号公報
焼結された長尺状のセラミックダクトをビームダクトとして用いようとすると、軸方向に垂直な方向に沿って生じる内壁面のうねりや反りが大きく、荷電粒子の軌道範囲を広く設定することができないという問題があった。
本開示のセラミック接合体は、軸方向に沿って、該軸方向に垂直な断面が多角形状、レーストラック形状または円状である、荷電粒子を加速するための内部空間を有し、該内部空間を挟んで対向配置する、セラミックスからなる長尺状の第1半体と第2半体とを備えてなり、前記第1半体と前記第2半体とが対向する面を、それぞれ第1対向面および第2対向面とした場合に、前記第1対向面と前記第2対向面とが拡散接合している。
さらに、本開示のセラミック接合体の製造方法は、軸方向に沿って、該軸方向に垂直な断面が多角形状、レーストラック形状、または楕円体状である、荷電粒子を加速するための内部空間を備え、該内部空間を挟んで対向配置する、セラミックスからなる長尺状の第1半体と第2半体と、前記第1半体と前記第2半体とが対向する面を、それぞれ第1対向面および第2対向面とした場合に、前記第1対向面と前記第2対向面とを吸着させた後に厚み方向から押圧して熱処理する。
本開示のセラミック接合体は、内壁面のうねりや反りを低減でき、荷電粒子の軌道範囲を広く設定することができる。
本開示のセラミック接合体の一例を示す、(a)は斜視図であり、(b)はAA’線における断面図である。 図1に示すセラミック接合体のB部を走査型電子顕微鏡で撮影した写真の一部である。 図1に示すセラミック接合体における第2半体の軸方向Xに垂直な断面の一部を示す模式図である。
以下、図面を参照して、本開示のセラミック接合体について詳細に説明する。
図1は、本開示のセラミック接合体の一例を示す、(a)は斜視図であり、(b)はAA’線における断面図である。
図1に示すセラミック接合体10は、軸方向Xに沿って、軸方向Xに垂直な断面が8角形状である、荷電粒子を加速するための内部空間Sを有し、内部空間Sを挟んで対向配置する、セラミックスからなる長尺状の第1半体1と第2半体2とを備えている。
第1半体1は、内部空間Sを形成する第1内底面1bと第1内底面1bに接続する第1内側面1cとを、第2半体2は、内部空間Sを形成する第2内底面2bと第2内底面2bに接続する第2内側面2cとを、それぞれ有している。
第1半体1および第2半体2の各寸法は、例えば、長さが350mm以上450mm以下、厚みが7mm以上9mm以下、幅が60mm以上65mm以下である。
内部空間Sは、第1半体1の第1内底面1b、第1内底面1bに接続する第1内側面1c、第2半体2の第2内底面2bおよび第2内底面2bに接続する第2内側面2cに取り囲まれている。
セラミック接合体10の軸方向Xに垂直な断面における内部空間Sの形状は8角形状であるが、8角形状以外の多角形状、レーストラック形状または円状であってもよい。なお、円状は楕円状も含んでいる。
そして、セラミック接合体10の両端は封着手段によってフランジ(図示しない)に気密に固定され、セラミック接合体10の一端から供給された荷電粒子は内部空間Sを通って他端から排出される。内部空間Sは、荷電粒子に抵抗を与えないよう高真空に保たれている。また、第1半体1の上側および第2半体2の下側には、荷電粒子を加速する加速器として、加速器用偏向電磁石(図示しない)が設置されている。
セラミック接合体10は、第1半体1と第2半体2とが対向する面を、それぞれ第1対向面1aおよび第2対向面2aとした場合に、第1対向面1aと第2対向面2aとが拡散接合している。ここで、拡散接合しているとは、ガラスや樹脂からなる接合層を介さずに接合されてなる状態をいう。第1半体1および第2半体2の軸方向に垂直な方向に沿って生じるそれぞれの内壁面のうねりや反りは、拡散接合する前に、研磨によって低減することができるので、うねりや反りを研磨によって低減した場合、荷電粒子の軌道範囲を広く設定することができる。
セラミック接合体10の軸方向Xに垂直な断面における内部空間Sの形状は、厚み方向に短軸、厚み方向と垂直な方向に長軸がそれぞれ位置する偏平状の多角形状、レーストラック形状または楕円状であるとよい。内部空間Sの形状がこのような形状であると、セラミック接合体10の厚み方向の両側に設置する加速器用偏向電磁石の間隔を狭くすることができるので、電源が加速器用偏向電磁石に供給する電力を低減することができ、コストを抑制することができる。
特に、第1対向面1aおよび第2対向面2aの少なくともいずれかの算術平均粗さRa
は0.02μm以上0.4μm以下であるとよい。
算術平均粗さRaが0.02μm以上であると、アンカー効果が高くなるので、第1半体1および第2半体2が互いに分離するおそれが抑制される。一方、算術平均粗さRaが0.4μm以下であると、第1対向面1aおよび第2対向面2aに固着する異物が少なくなるため、高い接合力を維持することできる。
第1対向面1aおよび第2対向面2aの少なくともいずれかの粗さ曲線における25%の負荷長さ率での切断レベルと、粗さ曲線における75%の負荷長さ率での切断レベルとの差を表す、切断レベル差Rδcが0.03μm以上0.8μm以下であるとよい。
切断レベル差Rδcが0.03μm以上であると、アンカー効果がより高くなるので、第1半体1および第2半体2が互いに分離するおそれがさらに抑制される。一方、切断レベル差Rδcが0.8μm以下であると、第1対向面1aおよび第2対向面2aに固着する異物が少なくなるため、高い接合力を長期間に亘って維持することできる。
第1対向面1aおよび第2対向面2aの算術平均粗さRaおよび切断レベル差Rδcは、JIS B 0601:2001に準拠し、レーザー顕微鏡((株)キーエンス製、超深度カラー3D形状測定顕微鏡(VK-X1000またはその後継機種))を用いて測定することができる。測定条件としては、カットオフ値λsを無し、カットオフ値λcを0.08mm、第1対向面1aおよび第2対向面2aの未接合部分から、1か所当たりの測定範囲を1404μm×1053μmとして、各測定範囲毎に長手方向に沿って、略等間隔となるように4本測定対象とする線を引けばよい。
図2は、図1に示すセラミック接合体のB部を走査型電子顕微鏡で撮影した写真の一部である。
図2に示すように、第2半体2におけるセラミックスの結晶粒子3の一部が第1半体1に食い込んでいてもよい。このような構成であると、この結晶粒子3の一部が第1半体1からの分離防止を担うので、信頼性が向上する。
同様に、第1半体1におけるセラミックスの結晶粒子の一部が第2半体2に食い込んでいてもよい。このような構成であると、この結晶粒子の一部が第2半体2からの分離防止を担うので、信頼性が向上する。
図3は、図1に示すセラミック接合体における第2半体の軸方向Xに垂直な断面の一部を示す模式図である。
図3に示すように、第1対向面1a上および第2対向面2a上の少なくともいずれかに位置するセラミックスの結晶粒子3の最大高さの山頂部と、セラミックスの結晶粒子あるいは粒界相4の最低高さの谷底部との高低差(L)が0.08μm以上1.6μm以下であるとよい。
高低差(L)が0.08μm以上であると、アンカー効果がより高くなるので、第1半体1および第2半体2が互いに分離するおそれがさらに抑制される。一方、高低差(L)が1.6μm以下であると、第1対向面1aおよび第2対向面2aに固着する異物が少なくなるため、高い接合力を長期間に亘って維持することできる。
なお、図3に示す符号5は、未接合部を示す空隙5である。
高低差(L)の測定は、まず、軸方向Xに垂直な断面を平均粒径D50が3μmのダイヤモンド砥粒を用いて銅盤にて研磨する。その後、平均粒径D50が0.5μmのダイヤモンド砥粒を用いて錫盤にて研磨する。これらの研磨によって得られる研磨面を、セラミックスの主成分が酸化アルミニウムの場合、1480℃で結晶粒子と粒界層とが識別可能になるまで熱処理し、観察面としての断面を得る。熱処理の時間は、例えば30分程度である。そして、走査型電子顕微鏡を用い、倍率を6000倍として、第1対向面1aおよび第2対向面2aの少なくともいずれかを含む断面を撮影する。得られた写真の10μm×15μmの視野において、図3に示す高低差(L)を測定すればよい。測定の対象とする長さは、例えば、30μmである。
また、第1内底面1b、第1内側面1c、第2内底面2bおよび第2内側面2cの少なくともいずれかは、研削面および研磨面のいずれかであるとよい。
また、第1半体1および第2半体2の各端面1d、2dの少なくともいずれかは、研削面および研磨面のいずれかであるとよい。
このような構成であると、各面の平面度、算術平均粗さRaおよび切断レベル差Rδc等を所望の範囲に制御することができるため、気密性が向上する。
次に、本開示のセラミック接合体の製造方法の一例について説明する。
セラミックスの主成分が酸化アルミニウムである場合、主成分である酸化アルミニウム粉末(純度が99.9質量%以上)と、水酸化マグネシウム、酸化珪素および炭酸カルシウムの各粉末とを粉砕用ミルに溶媒(イオン交換水)とともに投入して、粉末の平均粒径(D50)が1.5μm以下になるまで粉砕した後、有機結合剤と、酸化アルミニウム粉末を分散させる分散剤とを添加、混合してスラリーを得る。
ここで、上記粉末の合計100質量%における水酸化マグネシウム粉末の含有量は0.3~0.42質量%、酸化珪素粉末の含有量は0.5~0.8質量%、炭酸カルシウム粉末の含有量は0.060~0.1質量%であり、残部が酸化アルミニウム粉末および不可避不純物である。
有機結合剤は、アクリルエマルジョン、ポリビニールアルコール、ポリエチレングリコール、ポリエチレンオキサイド等である。
次に、スラリーを噴霧造粒して顆粒を得た後、1軸プレス成形装置あるいは冷間静水圧プレス成形装置を用いて、成形圧を78Mpa以上128MPa以下として加圧することにより柱状の成形体を得る。
この成形体に、焼成後に内部空間Sとなる長溝を切削によって形成し、第1半体1の前駆体である第1成形体および第1半体2の前駆体である第2成形体を得る。
次に、第1成形体および第2成形体を焼成温度を1500℃以上1700℃以下、保持時間を4時間以上6時間以下として、焼成することによりそれぞれ第1焼結体および第2焼結体を得ることができる。
そして、第1焼結体の第1内底面および第1内側面と、第2焼結体の第2内底面および第2内側面とを対象にして、研削および研磨の少なくともいずれかを施すことにより、それぞれ第1半体、第2半体とすることができる。
ここで、平均粒径D50が、例えば、2μm以下のダイヤモンド砥粒を用いて研磨し、第1対向面および第2対向面の少なくとも一方に水を付着(例えば、水滴の噴霧)させてもよい。付着した水が第1対向面および第2対向面を表面張力により密着させることができ、かつ、水和反応(不純物が少ないHOによる局所的なOH基の加水分解反応で誘発されたAl以外の元素(Si、Mg、Ca)が電気陰性度の違いで、酸化アルミニウムと再結晶化され、強固な結合を得ることができる。
そして、第1対向面と第2対向面とを吸着させた後に厚み方向から押圧して熱処理することで、軸方向Xに沿って、軸方向Xに垂直な断面が多角形状、レーストラック形状または円体状である内部空間を備えた、本開示のセラミック接合体を得ることができる。熱処理の温度は、例えば、1000℃以上1800℃以下であり、特に1700℃以上1800℃以下であるとよく、熱処理の時間は、例えば、30分以上120分以下である。また、押圧に要する圧力は限定されず、第1半体1や第2半体2の大きさや材質などに応じて、適宜設定される。具体的には、1kgf~5kgf程度の圧力で押圧するのがよい。
接合後、第1半体および第2半体の各端面の少なくともいずれかを研削または研磨してもよく、このような加工をすることで、軸方向Xにおける気密性を向上させることができる。
上述した製造方法で得られるセラミック接合体は、荷電粒子の軌道範囲を広く設定することができるので、このセラミック接合体をビームダクトとして装着した荷電粒子ビーム加速装置は、荷電粒子の供給および排出の効率を高くすることができる。
10 セラミック接合体
1 第1半体
2 第2半体
3 結晶粒子
4 粒界相
5 空隙

Claims (12)

  1. 軸方向に沿って、該軸方向に垂直な断面が多角形状、レーストラック形状または円状である、荷電粒子を加速するための内部空間を有し、該内部空間を挟んで対向配置する、セラミックスからなる長尺状の第1半体と第2半体とを備えてなり、前記第1半体と前記第2半体とが対向する面を、それぞれ第1対向面および第2対向面とした場合に、前記第1対向面と前記第2対向面とが拡散接合している、セラミック接合体。
  2. 前記第1対向面および前記第2対向面の少なくともいずれかは算術平均粗さRaは0.02μm以上0.4μm以下である、請求項1に記載のセラミック接合体。
  3. 前記第1対向面および前記第2対向面の各粗さ曲線における25%の負荷長さ率での切断レベルと、前記粗さ曲線における75%の負荷長さ率での切断レベルとの差を表す、切断レベル差Rδcがいずれも0.03μm以上0.8μm以下である、請求項1または2に記載のセラミック接合体。
  4. 前記第2半体における前記セラミックスの結晶粒子の一部が前記第1半体に食い込んでいる、請求項1~3のいずれかに記載のセラミック接合体。
  5. 前記第1半体における前記セラミックスの結晶粒子の一部が前記第2半体に食い込んでいる、請求項1~4のいずれかに記載のセラミック接合体。
  6. 前記第1対向面上および前記第2対向面上の少なくともいずれかに位置する前記セラミックスの結晶粒子の最大高さの山頂部と、前記セラミックスの結晶粒子あるいは粒界相の最低高さの谷底部との高低差(L)が0.08μm以上1.6μm以下である、請求項1~5のいずれかに記載のセラミック接合体。
  7. 前記第1半体は、前記内部空間を形成する第1内底面と該第1内底面に接続する第1内側面とを、前記第2半体は、前記内部空間を形成する第2内底面と該第2内底面に接続する第2内側面とを、それぞれ有してなり、
    第1内底面、第1内側面、第2内底面および第2内側面の少なくともいずれかは、研削面および研磨面のいずれかである、請求項1~6のいずれかに記載のセラミック接合体。
  8. 前記第1半体および前記第2半体の各端面の少なくともいずれかは、研削面および研磨面のいずれかである、請求項1~7のいずれかに記載のセラミック接合体。
  9. 軸方向に沿って、該軸方向に垂直な断面が多角形状、レーストラック形状、または円体状である、荷電粒子を加速するための内部空間を備え、該内部空間を挟んで対向配置する、セラミックスからなる長尺状の第1半体と第2半体と、前記第1半体と前記第2半体とが対向する面を、それぞれ第1対向面および第2対向面とした場合に、前記第1対向面と前記第2対向面とを吸着させた後に厚み方向から押圧して熱処理する、セラミック接合体の製造方法。
  10. 前記第1対向面および前記第2対向面を研磨する、請求項9に記載のセラミック接合体の製造方法。
  11. 前記第1半体および前記第2半体の各端面の少なくともいずれかは、前記第1半体および前記第2半体を厚み方向から押圧して熱処理して押圧した後に、前記第1半体および前記第2半体の各端面の少なくともいずれかを研削または研磨する、請求項9または10に記載のセラミック接合体の製造方法。
  12. 請求項1~8のいずれかに記載のセラミック接合体をビームダクトとして装着されてなる、荷電粒子ビーム加速装置。
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