JP7312766B2 - 放射パルス検出器の入力カウントレート推定 - Google Patents
放射パルス検出器の入力カウントレート推定 Download PDFInfo
- Publication number
- JP7312766B2 JP7312766B2 JP2020560264A JP2020560264A JP7312766B2 JP 7312766 B2 JP7312766 B2 JP 7312766B2 JP 2020560264 A JP2020560264 A JP 2020560264A JP 2020560264 A JP2020560264 A JP 2020560264A JP 7312766 B2 JP7312766 B2 JP 7312766B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- detector
- count rate
- input count
- pulse
- individual signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims description 49
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 67
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 50
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 12
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims description 12
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 7
- 229910052500 inorganic mineral Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 239000011707 mineral Substances 0.000 claims description 6
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 5
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims description 4
- 238000011895 specific detection Methods 0.000 claims description 3
- 238000001712 DNA sequencing Methods 0.000 claims description 2
- 238000002059 diagnostic imaging Methods 0.000 claims description 2
- SDIXRDNYIMOKSG-UHFFFAOYSA-L disodium methyl arsenate Chemical compound [Na+].[Na+].C[As]([O-])([O-])=O SDIXRDNYIMOKSG-UHFFFAOYSA-L 0.000 claims description 2
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims description 2
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims description 2
- 238000004422 calculation algorithm Methods 0.000 description 15
- 230000006870 function Effects 0.000 description 11
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 7
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 6
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 6
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 6
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 4
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 2
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 description 2
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 2
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 description 1
- 238000012512 characterization method Methods 0.000 description 1
- 230000001010 compromised effect Effects 0.000 description 1
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 238000009795 derivation Methods 0.000 description 1
- 230000004069 differentiation Effects 0.000 description 1
- 230000008030 elimination Effects 0.000 description 1
- 238000003379 elimination reaction Methods 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000007781 pre-processing Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 1
- 238000002604 ultrasonography Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T7/00—Details of radiation-measuring instruments
- G01T7/005—Details of radiation-measuring instruments calibration techniques
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/17—Circuit arrangements not adapted to a particular type of detector
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/17—Circuit arrangements not adapted to a particular type of detector
- G01T1/171—Compensation of dead-time counting losses
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Description
放射パルス検出器の入力カウントレートを測定する方法であって、
(1)放射源からの放射パルスを検出器において受信するステップと、
(2)受信された各放射パルスからの個別信号パルスの集合を含む、前記検出器からの検出器信号を受信するステップと、
(3)検出方法を用い、検出器信号内の個別信号パルスを検出し、対応する検出された個別信号パルス到着時間を特定するステップであって、その中のいくつかは最小信頼可能検出ギャップ未満で分離されている、ステップと、
(4)複数の間隔開始時間を画定するステップであって、そのうちの各隣り合う対は、検出された個別信号パルス到着時間のうちの少なくとも1つが挿入されており、各間隔開始時間は、少なくとも最小信頼可能検出ギャップだけ、対応する最新の検出された個別信号パルスよりも後に発生する、ステップと、
(5)各間隔開始時間と対応する次の検出された個別信号パルス到着時間との間の対応する複数の個別信号パルス到着間隔を算出するステップと、
(6)個別信号パルス到着間隔に基づいて入力カウントレートパラメータを計算するステップと、
を含み、
最小信頼可能検出ギャップは、検出されない個別信号パルス到着が各個別各信号パルス到着間隔内で発生することを除外する最小の期間である、方法が提供される。
放射パルス検出器の入力カウントレートを測定する方法であって、
(1)放射源からの放射パルスを検出器において受信するステップと、
(2)受信された各放射パルスからの個別信号パルスの集合を含む、前記検出器からの検出器信号を受信するステップと、
(3)検検出器信号内の個別信号パルスを検出し、対応する検出された個別信号パルス到着時間を特定するステップであって、そのうちのいくつかは、最小信頼可能検出ギャップ未満によって分離されている、ステップと、
(4)特定の検出ギャップよりもよりも大きな、隣り合う検出された個別信号パルス到着時間の間の選択された間隔のみに基づいて、特定の検出ギャップよりも大きな範囲で、入力カウントレートパラメータを計算するステップであって、特定の検出ギャップは最小信頼可能検出ギャップよりも大きく、最小信頼可能検出ギャップは、検出されない個別信号パルスの到着が各個別信号パルス到着間隔内で発生することを除外する最小の期間である、ステップと、を含む方法が提供される。
放射パルス検出器の入力カウントレートを推定する方法であって、
(1)放射源からの放射パルスをキャリブレーション期間にわたって検出器において受信するステップであって、単位時間当たりに受信された放射パルスはキャリブレーション期間中に入力カウントレートを画定する、ステップと、
(2)受信された各放射パルスからの個別信号パルスの集合を含む、検出器からの検出器信号をキャリブレーション期間にわたって測定するステップと、
を含み、
(A)キャリブレーションモードにおいて、
(3)キャリブレーション期間にわたってサンプリングされる検出器信号から派生するパラメータを算出するステップであって、パラメータは入力カウントレートの既知の関数である、ステップと、
(4)キャリブレーション入力カウントレートをキャリブレーション期間中に推定するステップであって、推定されるキャリブレーション入力カウントレートにおいて信頼可能であることが既知であるキャリブレーション期間にわたって、サンプリングされる検出器信号に適用される選択された入力カウントレート推定方法を用いる、ステップと、
(5)キャリブレーション期間にわたる算出パラメータ、前記キャリブレーション期間中の前記キャリブレーション入力カウントレート、及び既知の関数に基づいて、パラメータの測定を入力カウント値に関連づけるキャリブレーション関数を特定するステップと、
を含み、
(B)運転モードにおいて、
(6)測定期間にわたって検出器信号から派生するパラメータを算出するステップと、
(7)測定期間にわたって検出器信号から前記派生するパラメータに前記キャリブレーション関数を適用することによって前記測定期間中の入力カウントレートを推定するステップと、を含む方法が提供されている。
として、平均間隔μの項で表され、ここで、NGはyk>Gの基準を満たすサンプル数である。この量は、Gより大きい範囲(すなわち、yk-G)で、Gより大きく、隣接して検出された個別信号パルス到着yk間の全ての間隔の平均を効果的にとる。図1では、検出された5つの個別信号パルス到着時間の全てがシーケンスで使用されることが分かる。
Claims (13)
- 放射パルス検出器の入力カウントレートを測定する方法であって、
(1) 放射源からの放射パルスを検出器において受信するステップであって、単位時間当たりに受信された前記放射パルスは前記入力カウントレートを画定する、ステップと、
(2) 受信された各放射パルスからの個別信号パルスの集合を含む、前記検出器からの検出器信号を受信するステップと、
(3) 検出方法を用い、前記検出器信号内の個別信号パルスを検出し、対応する検出された個別信号パルス到着時間を特定するステップと、
(4) 複数の間隔開始時間を画定するステップであって、そのうちの各隣り合う対は、前記検出された個別信号パルス到着時間のうちの少なくとも1つが挿入されており、各間隔開始時間は、対応する最新の検出された個別信号パルス到着時間よりも、前記検出方法の最小信頼可能検出ギャップ以上の特定の検出ギャップだけ後に発生し、それによって、各間隔開始時間と対応する次の検出された個別信号パルス到着時間との間に個別信号パルスが発生せず、検出されないことが確実にされる、ステップと、
(5) 各前記間隔開始時間と対応する次の検出された前記個別信号パルス到着時間との間の対応する複数の個別信号パルス到着間隔を算出するステップと、
(6) 前記個別信号パルス到着間隔に基づいて入力カウントレートパラメータを計算するステップと、
を含む、方法。 - 前記検出器に対する既知の個別パルス波形に基づく、異なる既知の入力カウントレートの検出器信号をシミュレーションするステップと、
シミュレーションされた前記検出器信号について、前記検出するステップから前記計算するステップまでのステップを実行するステップと、
前記入力カウントレートパラメータが、前記異なる既知の入力カウントレートのそれぞれのバイアスされない推定を生成することを確認するステップと、
さらに含む、請求項1記載の方法。 - 全て同一のスペクトルを有するが異なるカウントレートを有する実際の検出器信号のデータセットの収集を処理するステップであって、それぞれが、入力カウントレートにスケールすることが既知であることから計算された派生パラメータを有する、ステップと、
各データセットについて、前記検出するステップから前記計算するステップまでのステップを実行するステップと、
計算された前記入力カウントレートパラメータが、前記派生パラメータに対応してスケールすることを確認するステップと、
さらに含む、請求項1記載の方法。 - 各データセットから計算された前記派生パラメータは、各データセットの平均検出器信号値である、
請求項3記載の方法。 - 前記特定の検出ギャップは前記最小信頼可能検出ギャップである、
請求項1乃至4いずれか1項記載の方法。 - 前記特定の検出ギャップは一定値Gである、
さらに含む、請求項1乃至4いずれか1項記載の方法。 - 放射パルス検出器の入力カウントレートを推定する方法であって、
(1) 放射源からの放射パルスを検出器においてキャリブレーション期間にわたって受信するステップであって、単位時間当たりに受信された前記放射パルスはキャリブレーション期間中の入力カウントレートを画定する、ステップと、
(2) 受信された各放射パルスからの個別信号パルスの集合を含む、前記検出器からの検出器信号を前記キャリブレーション期間にわたって測定するステップであって、ステップと、
を含み、さらに、
(A)キャリブレーションモードにおいて、
(3) 前記キャリブレーション期間にわたってサンプリングされる前記検出器信号から派生するパラメータを算出するステップであって、前記パラメータは前記入力カウントレートの既知の関数である、ステップと、
(4) キャリブレーション入力カウントレートを前記キャリブレーション期間中に推定するステップであって、推定される前記キャリブレーション入力カウントレートにおいて信頼可能であることが既知である前記キャリブレーション期間にわたって、サンプリングされる検出器信号に適用される選択された入力カウントレート推定方法を用いる、ステップと、
(5) キャリブレーション期間にわたる算出されたパラメータ、前記キャリブレーション期間中の前記キャリブレーション入力カウントレート、及び既知の関数に基づいて、前記パラメータの測定値を前記入力カウントレートに関連づけるキャリブレーション関数を特定するステップと、
を含み、さらに、
(B)運転モードにおいて、
(6) 測定期間にわたって前記検出器信号から派生するパラメータを算出するステップと、
(7) 前記測定期間にわたって前記検出器信号から前記派生するパラメータに前記キャリブレーション関数を適用することによって前記測定期間中の入力カウントレートを推定するステップと、
を含む、方法。 - 前記入力カウントレートの前記既知の関数は、比例し、前記キャリブレーション関数であり、前記キャリブレーション関数を特定するステップは比例定数を特定するステップを含む、
請求項7記載の方法。 - 前記パラメータは、前記キャリブレーション期間又は前記測定期間にわたる前記検出器信号の平均サンプル値に基づく、
請求項8記載の方法。 - 選択された前記入力カウントレート推定方法は、請求項1乃至6いずれか1項記載の方法である、
請求項7乃至9いずれか1項記載の方法。 - 前記放射パルス検出器は、
光子、亜原子粒子、イオン又は原子を含む量子機械的粒子、
地震波、SONAR、SODAR、レーダー又はLiDARにおける古典的パルス、
のうちの1つ以上を検出する、
請求項1乃至10いずれか1項記載の方法。 - セキュリティスキャン、荷物スキャン、医学画像、材料分析、気象センシング、鉱物処理、セキュリティスキャン、ミネラル処理、鉱物分析、反射地震学又はDNA配列決定のうちの1つ以上の方法であって、
請求項1乃至6のいずれか1項記載による、放射パルス検出器の入力カウントレートを測定するステップ、又は
請求項7乃至11いずれか1項記載による、放射パルス検出器の入力カウントレートを推定するステップを含む、
方法。 - 請求項1乃至12いずれか1項記載の方法を実施する放射パルス検出器を備える装置。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
AU2018202912 | 2018-04-27 | ||
AU2018202912A AU2018202912B1 (en) | 2018-04-27 | 2018-04-27 | Input count rate estimation in radiation pulse detectors |
PCT/AU2019/050366 WO2019204872A1 (en) | 2018-04-27 | 2019-04-25 | Input count rate estimation in radiation pulse detectors |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2021522500A JP2021522500A (ja) | 2021-08-30 |
JPWO2019204872A5 JPWO2019204872A5 (ja) | 2022-05-02 |
JP7312766B2 true JP7312766B2 (ja) | 2023-07-21 |
Family
ID=66823778
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020560264A Active JP7312766B2 (ja) | 2018-04-27 | 2019-04-25 | 放射パルス検出器の入力カウントレート推定 |
Country Status (10)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11199638B2 (ja) |
EP (1) | EP3785051A4 (ja) |
JP (1) | JP7312766B2 (ja) |
CN (1) | CN112384826B (ja) |
AU (2) | AU2018202912B1 (ja) |
BR (1) | BR112020021958A2 (ja) |
CA (1) | CA3098309A1 (ja) |
CL (1) | CL2020002784A1 (ja) |
IL (1) | IL278251B2 (ja) |
WO (1) | WO2019204872A1 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
IT201900001225A1 (it) * | 2019-01-28 | 2020-07-28 | General Medical Merate S P A | Metodo predittivo per controllare un'apparecchiatura radiologica e apparecchiatura radiologica che lo implementa |
GB202203570D0 (en) * | 2022-03-15 | 2022-04-27 | Johnson Matthey Plc | Methods and apparatus for processing a counting output |
WO2024130309A1 (en) * | 2022-12-22 | 2024-06-27 | Southern Innovation International Pty Ltd | Input count rate measurement |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008513740A (ja) | 2004-09-16 | 2008-05-01 | サザン イノヴェーション インターナショナル プロプライアトリー リミテッド | 検出器出力データ内の個別信号分離装置および方法 |
JP2009139229A (ja) | 2007-12-06 | 2009-06-25 | Hitachi Ltd | 放射線検出器校正装置 |
JP2012512396A (ja) | 2008-12-18 | 2012-05-31 | サザン イノヴェーション インターナショナル プロプライアトリー リミテッド | 数学的変換を使用することによってパイルアップされたパルスを分離する方法および装置 |
JP2013134182A (ja) | 2011-12-27 | 2013-07-08 | Jvc Kenwood Corp | 放射線測定装置及び放射線測定方法 |
Family Cites Families (29)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3814937A (en) * | 1972-04-24 | 1974-06-04 | Kevex Corp | Pulse pile-up rejector with live-time corrector circuit |
US3732422A (en) * | 1972-05-23 | 1973-05-08 | Atomic Energy Commission | Counter for radiation monitoring |
JPS5366273A (en) * | 1976-11-26 | 1978-06-13 | Toshiba Corp | Counter |
SE402356B (sv) * | 1977-01-19 | 1978-06-26 | Wallac Oy | Forfarande for att vid ett instrument for metning av stralningen fran radioaktiva prover optimera mettiden |
JPS60102690U (ja) * | 1983-12-19 | 1985-07-12 | 富士電機株式会社 | 放射線測定器雑音防止回路 |
FR2579767B1 (fr) * | 1985-04-02 | 1987-05-07 | Commissariat Energie Atomique | Systeme de suppression du bruit et de ses variations pour la detection d'un signal pur dans un signal discret bruite mesure |
JP2563314B2 (ja) * | 1987-03-27 | 1996-12-11 | 株式会社東芝 | 放射線検出装置 |
NL8700949A (nl) * | 1987-04-22 | 1988-11-16 | Philips Nv | Inrichting voor het meten van stralingsquanta, impulsonderscheidingsinrichting geschikt voor gebruik in en spectrometer voorzien van een dergelijke inrichting. |
US4968889A (en) * | 1989-02-01 | 1990-11-06 | The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy | Pulser injection with subsequent removal for gamma-ray spectrometry |
EP0410828A3 (en) * | 1989-06-28 | 1993-03-17 | Schlumberger Limited | Dead time correction and regulation method and apparatus for nuclear spectroscopy |
JP2921923B2 (ja) * | 1990-05-25 | 1999-07-19 | 株式会社東芝 | 放射線検出器の感度校正装置 |
JPH05341048A (ja) * | 1992-06-09 | 1993-12-24 | Hitachi Building Syst Eng & Service Co Ltd | 計数率計装置 |
JP3565973B2 (ja) * | 1996-02-02 | 2004-09-15 | 株式会社東芝 | 放射線計数装置 |
WO1998032032A1 (en) * | 1997-01-16 | 1998-07-23 | Herr Mher Partnership | Method of determining mean intensity of pulse stream from ionizing-radiation detectors |
US6008493A (en) | 1997-05-30 | 1999-12-28 | Adac Laboratories | Method and apparatus for performing correction of emission contamination and deadtime loss in a medical imaging system |
DE10357187A1 (de) * | 2003-12-08 | 2005-06-30 | Siemens Ag | Verfahren zum Betrieb eines zählenden Strahlungsdetektors mit verbesserter Linearität |
FR2870603B1 (fr) * | 2004-05-19 | 2006-07-28 | Commissariat Energie Atomique | Mesure et traitement d'un signal comprenant des empilements d'impulsions elementaires |
US20060011849A1 (en) * | 2004-07-13 | 2006-01-19 | Institute Of Nuclear Energy Research, Atomic Energy Council | Gate monitoring system and method for instant gamma analysis |
FR2888644B1 (fr) * | 2005-07-12 | 2007-09-14 | Commissariat Energie Atomique | Traitement ameliore d'un signal representatif de rayonnement |
WO2009121131A1 (en) * | 2008-03-31 | 2009-10-08 | Southern Innovation International Pty Ltd | Method and apparatus for borehole logging |
FR2953603A1 (fr) * | 2009-12-09 | 2011-06-10 | Commissariat Energie Atomique | Procede et dispositif de reconnaissance d'un materiau a l'aide de sa fonction de transmission |
AU2012292250A1 (en) * | 2011-07-20 | 2014-01-23 | Dectris Ltd. | Photon counting imaging method and device with instant retrigger capability |
CN104220900B (zh) * | 2012-03-27 | 2017-05-17 | 皇家飞利浦有限公司 | 高通量光子计数探测器电子器件 |
WO2015085372A1 (en) * | 2013-12-11 | 2015-06-18 | Southern Innovation International Pty Ltd | Method and apparatus for resolving signals in data |
CN106471393B (zh) * | 2014-06-27 | 2019-11-26 | 皇家飞利浦有限公司 | 用于光子计数应用的谱材料分解 |
AU2014268284A1 (en) * | 2014-11-30 | 2016-06-16 | Southern Innovation International Pty Ltd | Method and apparatus for material identification |
US9869791B2 (en) * | 2015-06-17 | 2018-01-16 | Baker Hughes, A Ge Company, Llc | Measurement of downhole radiation |
US10168435B2 (en) * | 2016-02-26 | 2019-01-01 | Thermo Eberline Llc | Dead-time correction system and method |
US10627532B2 (en) * | 2016-06-07 | 2020-04-21 | Koninklijke Philips N.V. | Dead-time calibration for a radiation detector |
-
2018
- 2018-04-27 AU AU2018202912A patent/AU2018202912B1/en active Active
-
2019
- 2019-04-25 WO PCT/AU2019/050366 patent/WO2019204872A1/en active Application Filing
- 2019-04-25 EP EP19792344.4A patent/EP3785051A4/en active Pending
- 2019-04-25 JP JP2020560264A patent/JP7312766B2/ja active Active
- 2019-04-25 CN CN201980038699.1A patent/CN112384826B/zh active Active
- 2019-04-25 CA CA3098309A patent/CA3098309A1/en active Pending
- 2019-04-25 US US17/049,921 patent/US11199638B2/en active Active
- 2019-04-25 BR BR112020021958-4A patent/BR112020021958A2/pt active Search and Examination
- 2019-09-11 AU AU2019229361A patent/AU2019229361B2/en active Active
-
2020
- 2020-10-22 IL IL278251A patent/IL278251B2/en unknown
- 2020-10-27 CL CL2020002784A patent/CL2020002784A1/es unknown
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008513740A (ja) | 2004-09-16 | 2008-05-01 | サザン イノヴェーション インターナショナル プロプライアトリー リミテッド | 検出器出力データ内の個別信号分離装置および方法 |
JP2009139229A (ja) | 2007-12-06 | 2009-06-25 | Hitachi Ltd | 放射線検出器校正装置 |
JP2012512396A (ja) | 2008-12-18 | 2012-05-31 | サザン イノヴェーション インターナショナル プロプライアトリー リミテッド | 数学的変換を使用することによってパイルアップされたパルスを分離する方法および装置 |
JP2013134182A (ja) | 2011-12-27 | 2013-07-08 | Jvc Kenwood Corp | 放射線測定装置及び放射線測定方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP3785051A1 (en) | 2021-03-03 |
IL278251B2 (en) | 2023-05-01 |
AU2019229361A1 (en) | 2019-10-03 |
AU2018202912B1 (en) | 2019-06-20 |
IL278251A (ja) | 2020-12-31 |
US20210239866A1 (en) | 2021-08-05 |
WO2019204872A1 (en) | 2019-10-31 |
CL2020002784A1 (es) | 2021-02-12 |
AU2019229361B2 (en) | 2021-06-24 |
IL278251B1 (en) | 2023-01-01 |
US11199638B2 (en) | 2021-12-14 |
EP3785051A4 (en) | 2022-04-20 |
CA3098309A1 (en) | 2019-10-31 |
CN112384826B (zh) | 2024-07-12 |
BR112020021958A2 (pt) | 2021-01-26 |
CN112384826A (zh) | 2021-02-19 |
JP2021522500A (ja) | 2021-08-30 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP7312766B2 (ja) | 放射パルス検出器の入力カウントレート推定 | |
CN102141632B (zh) | 提高γ射线检测中的定时分辨率的装置和相关方法 | |
CN102160307B (zh) | 数字脉冲处理器倾斜度修正 | |
US8227759B2 (en) | Semiconductor radiation detection apparatus | |
Amiri et al. | Quick algorithms for real-time discrimination of neutrons and gamma rays | |
US9029769B2 (en) | Dose rate measuring apparatus | |
EP3662307B1 (en) | Method and system for pulse multiplicity counting with dead time correction | |
JP6550376B2 (ja) | 粒子スペクトルを処理する方法 | |
WO2015177534A1 (en) | Analysis of signals from pixellated detectors of ionizing radiation | |
US20120318998A1 (en) | On-line measurement method for ionizing radiation | |
JP4828962B2 (ja) | 放射能検査方法および装置 | |
US7610822B2 (en) | Method and apparatus for obtaining information about the size distribution of macroscopic particles in a liquid | |
US7161153B2 (en) | Apparatus and method for detecting α-ray | |
RU2787743C2 (ru) | Оценка скорости счета на входе в детекторах импульсов излучения | |
US10078145B1 (en) | Methods and systems for calibration of particle detectors | |
WO2024130309A1 (en) | Input count rate measurement | |
JP6499850B2 (ja) | 放射線計測装置、放射線計測における偶発同時計数成分算定方法、及び放射線計測方法 | |
JPWO2019204872A5 (ja) | ||
RU2020138540A (ru) | Оценка скорости счета на входе в детекторах импульсов излучения | |
US20230228888A1 (en) | Quantitative pulse selection for photon-counting computed tomography scanning systems | |
US20240188918A1 (en) | Timer-based amplitude correction method for photon counting computed tomography | |
RU2524349C2 (ru) | Способ обнаружения импульса от цели и измерения его паметров | |
CN112926280A (zh) | 基于matlab的核脉冲信号的仿真与测试方法 | |
CN118707442A (zh) | 基于包络幅度判决的信号到达时间估计方法、介质及装置 | |
Park et al. | Radiation imaging from multiple readout of a monolithic scintillator |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20220421 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20220421 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20230222 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20230228 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20230529 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20230628 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20230704 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20230710 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7312766 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |