JP2563314B2 - 放射線検出装置 - Google Patents
放射線検出装置Info
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- JP2563314B2 JP2563314B2 JP62071666A JP7166687A JP2563314B2 JP 2563314 B2 JP2563314 B2 JP 2563314B2 JP 62071666 A JP62071666 A JP 62071666A JP 7166687 A JP7166687 A JP 7166687A JP 2563314 B2 JP2563314 B2 JP 2563314B2
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Description
【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 （産業上の利用分野） 本発明は放射線検出器の校正を行う技術に関する。
（従来の技術） 本発明の従来例を第５図で説明する。
原子力発電所に存在する放射線量を監視するものとし
てエリア放射線モニタ（以下ARM）がある。従来のARMは
ガイガーミユラー計数管（以下GM管）を用いてγ線レベ
ルを測定するものである。これはGM管（１）と、補正用
放射線源を入れたバグソース（２）と、GM管（１）及び
バグソース（２）を納めたケース（３）と、GM管（１）
の出力を処理し表示を行う指示装置（４）より構成さ
れ、ケース（３）は原子力発電所の施設内に設置され
る。施設の内部におけるγ線はGM管（１）に入射される
と、パルス信号として出力される。指示装置（４）はこ
の信号を処理し、放射線レベルとして表示するものであ
る。
てエリア放射線モニタ（以下ARM）がある。従来のARMは
ガイガーミユラー計数管（以下GM管）を用いてγ線レベ
ルを測定するものである。これはGM管（１）と、補正用
放射線源を入れたバグソース（２）と、GM管（１）及び
バグソース（２）を納めたケース（３）と、GM管（１）
の出力を処理し表示を行う指示装置（４）より構成さ
れ、ケース（３）は原子力発電所の施設内に設置され
る。施設の内部におけるγ線はGM管（１）に入射される
と、パルス信号として出力される。指示装置（４）はこ
の信号を処理し、放射線レベルとして表示するものであ
る。
（従来技術の問題点） 従来のARMにおいて、指示装置はアラーム機能を持
ち、放射線レベルの上限と下限を設定し、この限界を越
えるとアラームを出すようになつている。下限のアラー
ムが出た時には、放射線レベルが低いのか、機器による
ものかを判断できない。そこで、バグソースを検出器に
取り付け、GM管に一定レベルの放射線を照射することに
よつて下限アラームが発生しないレベルまで引き上げて
いる。また検出器の校正を行うための誤差の測定は、検
出器を設定場所からはずし放射線照射室等に設置し、校
正線源による出力の直線性試験を行つている。このた
め、検出器の運搬が必要になつてしまい、オンラインに
よる操作室内からの校正ができなかつた。さらに、測定
値が下限レベルより下がつた時に検出器に取り付けるバ
グソースは放射線を出しているため被爆防止の点から好
ましい状態ではない。
ち、放射線レベルの上限と下限を設定し、この限界を越
えるとアラームを出すようになつている。下限のアラー
ムが出た時には、放射線レベルが低いのか、機器による
ものかを判断できない。そこで、バグソースを検出器に
取り付け、GM管に一定レベルの放射線を照射することに
よつて下限アラームが発生しないレベルまで引き上げて
いる。また検出器の校正を行うための誤差の測定は、検
出器を設定場所からはずし放射線照射室等に設置し、校
正線源による出力の直線性試験を行つている。このた
め、検出器の運搬が必要になつてしまい、オンラインに
よる操作室内からの校正ができなかつた。さらに、測定
値が下限レベルより下がつた時に検出器に取り付けるバ
グソースは放射線を出しているため被爆防止の点から好
ましい状態ではない。
本願発明は上記問題点を解決するべくなされたもの
で、バグソースを不用にすると共に、誤差の測定に放射
線を用いずオンラインによる遠隔地からの誤差の測定を
行うことを目的とする。
で、バグソースを不用にすると共に、誤差の測定に放射
線を用いずオンラインによる遠隔地からの誤差の測定を
行うことを目的とする。
（問題点を解決するための手段） 前記目的を達成するため、入射される放射線及び光を
検出し、その入射状態に応じた検出信号を出力する検出
手段と、この検出手段に光を入射させ得る位置に光源を
設けた発光手段と、前記検出手段に対して校正用の基準
放射線を入射し、得られる基準検出信号を記憶する記憶
手段と、前記発光手段を発光させて前記基準検出信号を
得るための基準放射線の入射条件と同一条件で前記発光
手段を発光させる発光制御手段と、この発光制御手段に
よつて得られる検出信号と前記基準検出信号との差を求
める誤差検出手段と、この誤差検出手段で求めた差に基
づき前記手段の検出信号を補正する補正手段とを備える
ことを特徴とする放射線検出装置。
検出し、その入射状態に応じた検出信号を出力する検出
手段と、この検出手段に光を入射させ得る位置に光源を
設けた発光手段と、前記検出手段に対して校正用の基準
放射線を入射し、得られる基準検出信号を記憶する記憶
手段と、前記発光手段を発光させて前記基準検出信号を
得るための基準放射線の入射条件と同一条件で前記発光
手段を発光させる発光制御手段と、この発光制御手段に
よつて得られる検出信号と前記基準検出信号との差を求
める誤差検出手段と、この誤差検出手段で求めた差に基
づき前記手段の検出信号を補正する補正手段とを備える
ことを特徴とする放射線検出装置。
（作用） 前記構成において、放射線検出手段はその使用や経年
変化によつて劣化する。そこで、劣化していない時に校
正用の基準放射線によつて検出信号を出力し、この検出
信号を基準検出信号として記憶手段に記憶しておく。
変化によつて劣化する。そこで、劣化していない時に校
正用の基準放射線によつて検出信号を出力し、この検出
信号を基準検出信号として記憶手段に記憶しておく。
さらに、発光手段で光源を発光させ、検出手段で検出
した検出信号が記憶手段に記憶されている基準検出信号
と同一になるように光源を発光手段で制御する。この動
作は前に基準検出信号を記憶手段に記憶した直後に行わ
れるもので、検出信号と基準検出信号が同一になつた時
に発光手段が光源を制御するための発光条件である光の
強度や周波数等を記憶手段に記憶しておく。
した検出信号が記憶手段に記憶されている基準検出信号
と同一になるように光源を発光手段で制御する。この動
作は前に基準検出信号を記憶手段に記憶した直後に行わ
れるもので、検出信号と基準検出信号が同一になつた時
に発光手段が光源を制御するための発光条件である光の
強度や周波数等を記憶手段に記憶しておく。
次にある時間が経過した後に放射線検出装置を校正す
る必要の出た時に、誤差検出手段において記憶手段に記
憶してある発光条件で発光手段を発光させて検出信号を
得る。この検出信号と記憶手段に記憶されている基準検
出信号との差をとる。すなわち、この差が検出手段の劣
化によるものである。
る必要の出た時に、誤差検出手段において記憶手段に記
憶してある発光条件で発光手段を発光させて検出信号を
得る。この検出信号と記憶手段に記憶されている基準検
出信号との差をとる。すなわち、この差が検出手段の劣
化によるものである。
よつて補正手段によつてこの差を補正すべく、検出手
段の検出信号を増幅する。
段の検出信号を増幅する。
これら一連の動作は初めの基準検出信号を得るところ
までは従来のように放射線源を用いて行うが、後の動作
は全て遠隔操作によつて行うことが可能である。このた
め、原子力及び放射線関連設備におけるモニタリングポ
ストのみならず、一般環境における測定において、最初
に放射線源を使用するだけで以降は遠隔操作によつて校
正及び補正を行うことができる。
までは従来のように放射線源を用いて行うが、後の動作
は全て遠隔操作によつて行うことが可能である。このた
め、原子力及び放射線関連設備におけるモニタリングポ
ストのみならず、一般環境における測定において、最初
に放射線源を使用するだけで以降は遠隔操作によつて校
正及び補正を行うことができる。
（実施例） 本実施例は従来行つていた校正やバグソースによる補
正を、LEDを発光させることにより行うことができるよ
うにしたものである。そのための手段を以下に述べる。
正を、LEDを発光させることにより行うことができるよ
うにしたものである。そのための手段を以下に述べる。
一般にγ線感度８は式で表わされる。
Ｓ＝AR（cps） …… A:効率（cps/mRh-1） R:照射線量率（mRh-1） 一方、LEDを点滅させた時、検出器の計数特性は式
で表わされる。
で表わされる。
Ｓ′＝ …… :LEDの発光周波数（Hz） すなわち、線量率Ｒの放射線が入射したと同じ出力を
得るには、先ず工場試験によつて求められた効率Ａの検
出器に式で求められる周波数でLEDを点滅させる。
得るには、先ず工場試験によつて求められた効率Ａの検
出器に式で求められる周波数でLEDを点滅させる。
＝AR …… 以上、放射線が入射したのと同じ出力をLEDの発光に
よつて得る手段である。
よつて得る手段である。
次に先の手段を用いて校正を行うための手段とバグソ
ースなしで下限レベルの補正を行う手段について述べ
る。
ースなしで下限レベルの補正を行う手段について述べ
る。
先づ第４図を用いて校正のための誤差測定について説
明を行う。第４図において、縦軸は計数率であり、横軸
は照射線量率である。一般にある効率のSSDの計数率と
照射線量率の関係はグラフ上でＡ線のように表わせられ
る。これは、ある放射線量がSSDに入射した時にどれだ
けのカウント値となるかを単位時間当りで表わしたもの
である。SSDにおいて、Ａ線はほぼ直続と見なすことが
できるため、Ａ線は照射線量率がｘのカウン値xbと照射
線量率がｙのカウント値ydの点を結ぶことによつて描く
ことができる。次にある期間使用したSSDを同じ照射線
量率のｘとｙでカウント値を測定すると、それぞれxaと
ycになつており、得られる直線はＢ線になる。よつてSS
Dから出てきた信号はydとyc及びxbとxaの差だけ補正を
かけるようにすることで校正を行う。この誤差測定にお
いて、ｘ及びｙをある程度大きな値を取ることによつて
バツクグラウンドの放射線による影響を無視することが
できる。すなわち、工場試験で使用した照射線量率x,y
より、式で計算される周波数でLEDを発光させ、計数
した値がどれだけ変化しているかを調べ、その変化量に
よつて補正する量を決めるものである。
明を行う。第４図において、縦軸は計数率であり、横軸
は照射線量率である。一般にある効率のSSDの計数率と
照射線量率の関係はグラフ上でＡ線のように表わせられ
る。これは、ある放射線量がSSDに入射した時にどれだ
けのカウント値となるかを単位時間当りで表わしたもの
である。SSDにおいて、Ａ線はほぼ直続と見なすことが
できるため、Ａ線は照射線量率がｘのカウン値xbと照射
線量率がｙのカウント値ydの点を結ぶことによつて描く
ことができる。次にある期間使用したSSDを同じ照射線
量率のｘとｙでカウント値を測定すると、それぞれxaと
ycになつており、得られる直線はＢ線になる。よつてSS
Dから出てきた信号はydとyc及びxbとxaの差だけ補正を
かけるようにすることで校正を行う。この誤差測定にお
いて、ｘ及びｙをある程度大きな値を取ることによつて
バツクグラウンドの放射線による影響を無視することが
できる。すなわち、工場試験で使用した照射線量率x,y
より、式で計算される周波数でLEDを発光させ、計数
した値がどれだけ変化しているかを調べ、その変化量に
よつて補正する量を決めるものである。
次に、バグソースなしで下限レベルの補正を行う手段
について説明する。従来のバグソースは測定レベルが下
限レベル以下になつてしまつた時に測定レベルを下限レ
ベル以上に保つために設置するためのものである。そこ
で本発明においては実際の測定レベルと下限レベルとの
差を取り、その差に相当する周波数でLEDを発光させる
ことによつて測定レベルを下限レベル以上に保つことが
できる。
について説明する。従来のバグソースは測定レベルが下
限レベル以下になつてしまつた時に測定レベルを下限レ
ベル以上に保つために設置するためのものである。そこ
で本発明においては実際の測定レベルと下限レベルとの
差を取り、その差に相当する周波数でLEDを発光させる
ことによつて測定レベルを下限レベル以上に保つことが
できる。
次に本実施例を第１図及び第２図を用いて説明する。
本実施例の放射線検出装置は、放射線を検出し、検出
信号を出力する放射線検出器（５）と、放射線検出器
（５）の検出信号から検出器の補正及び前記検出信号か
ら得られる検出値の表示等を行う指示装置（４）から構
成される。放射線検出器（５）において、SSD（６）の
陰極側の端子は抵抗（７）を介して直流電圧V0のライン
に接続されている。他端子はアースに接続されている。
同時にSSD（６）の陰極側はコンデンサ（８）を介し
て、コンデンサ（９）を並列に接続したチヤージアンプ
（10）の入力側に接続されている。チヤージアンプ（1
0）の出力側は指示装置（４）のカウンタ（11）に接続
されている。
信号を出力する放射線検出器（５）と、放射線検出器
（５）の検出信号から検出器の補正及び前記検出信号か
ら得られる検出値の表示等を行う指示装置（４）から構
成される。放射線検出器（５）において、SSD（６）の
陰極側の端子は抵抗（７）を介して直流電圧V0のライン
に接続されている。他端子はアースに接続されている。
同時にSSD（６）の陰極側はコンデンサ（８）を介し
て、コンデンサ（９）を並列に接続したチヤージアンプ
（10）の入力側に接続されている。チヤージアンプ（1
0）の出力側は指示装置（４）のカウンタ（11）に接続
されている。
また、LED（12）が発光時にSSD（６）に光が入るよう
に取り付けられており、このLED（12）は指示装置
（４）の発振器（13）からの信号に基づき発光する。
に取り付けられており、このLED（12）は指示装置
（４）の発振器（13）からの信号に基づき発光する。
指示装置（４）において、チヤージアンプ（10）から
の出力信号を入力して計数するカウンタ（11）と、カウ
ンタ（11）の出力は校正部（14）と補正部（15）に入力
される。校正部（14）においては、予め求められ、図示
していない入力手段から入力されるＡと、校正時に入力
されるＲとから、式により周波数を求める。この周
波数でドライバ（16）は発振器（13）を発振させLED（1
2）を点滅させる。そしてこの点滅で得られたチヤージ
アンプ（10）の出力はカウンタ（11）でカウントされ、
カウント値として出力され、校正部（14）で式で示す
演算を行う。
の出力信号を入力して計数するカウンタ（11）と、カウ
ンタ（11）の出力は校正部（14）と補正部（15）に入力
される。校正部（14）においては、予め求められ、図示
していない入力手段から入力されるＡと、校正時に入力
されるＲとから、式により周波数を求める。この周
波数でドライバ（16）は発振器（13）を発振させLED（1
2）を点滅させる。そしてこの点滅で得られたチヤージ
アンプ（10）の出力はカウンタ（11）でカウントされ、
カウント値として出力され、校正部（14）で式で示す
演算を行う。
このＬの値が許容誤差以内であれば異常なしとし、許
容誤差より大きければ、自己診断により指示装置（４）
に異常がないことを確認した後、検出器異常アラームを
指示出力部（17）が発生する。また、放射線測定中には
補正部（15）が設定された下限レベルよりも大きい放射
線レベル（通常は下限レベルの２倍程度）に相当する周
波数でLED（12）を点滅させる。
容誤差より大きければ、自己診断により指示装置（４）
に異常がないことを確認した後、検出器異常アラームを
指示出力部（17）が発生する。また、放射線測定中には
補正部（15）が設定された下限レベルよりも大きい放射
線レベル（通常は下限レベルの２倍程度）に相当する周
波数でLED（12）を点滅させる。
この一連の動作の流れ図を第３図に示す。第３図にお
いて、校正部（14）と補正部（15）の切換え等は図示し
ない制御部によつて制御されている。
いて、校正部（14）と補正部（15）の切換え等は図示し
ない制御部によつて制御されている。
以上によつて、本実施例ではLEDの発光を制御するこ
とによつて校正時には、校正に必要な誤差の大きさを知
ることができると共に、放射線測定中には、検出レベル
が設定した下限よりも下がることによつてアラームが不
用に鳴ることを防止できる。
とによつて校正時には、校正に必要な誤差の大きさを知
ることができると共に、放射線測定中には、検出レベル
が設定した下限よりも下がることによつてアラームが不
用に鳴ることを防止できる。
本発明によつて、今まではレベル下限を補正するため
に用いていたバグソースを必要としないため被爆の危険
を無くすことができると共に、放射線検出器を校正する
ための誤差を、放射線検出器を設置したままオンライン
によつて測定することができるようになつた。これらは
メンテナンスを容易にする点で大きなメリツトである。
に用いていたバグソースを必要としないため被爆の危険
を無くすことができると共に、放射線検出器を校正する
ための誤差を、放射線検出器を設置したままオンライン
によつて測定することができるようになつた。これらは
メンテナンスを容易にする点で大きなメリツトである。
【図面の簡単な説明】 第１図は本発明における実施例の構成図、第２図は本実
施例における放射線検出器の構成図、第３図は本実施例
における処理の流れを示すフローチヤート、第４図は本
実施例における一定期間経過前後の計数率と照射線量率
の関係を説明する図、第５図は従来例を説明する図であ
る。 １……GM管 ２……バグソース ３……ケース ４……指示装置 ５……放射線検出器 ６……SSD ７……抵抗 8,9……コンデンサ 10……チヤージアンプ 11……カウンタ 12……LED 13……発振器 14……校正部 15……補正部 16……ドライバ 17……指示出力部
施例における放射線検出器の構成図、第３図は本実施例
における処理の流れを示すフローチヤート、第４図は本
実施例における一定期間経過前後の計数率と照射線量率
の関係を説明する図、第５図は従来例を説明する図であ
る。 １……GM管 ２……バグソース ３……ケース ４……指示装置 ５……放射線検出器 ６……SSD ７……抵抗 8,9……コンデンサ 10……チヤージアンプ 11……カウンタ 12……LED 13……発振器 14……校正部 15……補正部 16……ドライバ 17……指示出力部
Claims (1)
- 【請求項１】原子力発電所の敷地内等の放射線を測定す
る放射線検出装置において、入射される放射線及び光を
検出し、その入射状態に応じた検出信号を出力する検出
手段と、この検出手段に光を入射させ得る位置に光源を
設けた発光手段と、前記検出手段に対して校正用の基準
放射線を入射し得られる基準検出信号を記憶する記憶手
段と、前記発光手段を発光させて前記基準検出信号を得
るための基準放射線の入射条件と同一条件で前記発光手
段を発光させる発光制御手段と、この発光制御手段によ
つて得られる検出信号と前記基準検出信号との差を求め
る誤差検出手段と、この誤差検出手段で求めた差に基づ
き前記検出手段の検出信号を補正する補正手段とを備え
ることを特徴とする放射線検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62071666A JP2563314B2 (ja) | 1987-03-27 | 1987-03-27 | 放射線検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62071666A JP2563314B2 (ja) | 1987-03-27 | 1987-03-27 | 放射線検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63238579A JPS63238579A (ja) | 1988-10-04 |
| JP2563314B2 true JP2563314B2 (ja) | 1996-12-11 |
Family
ID=13467150
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62071666A Expired - Lifetime JP2563314B2 (ja) | 1987-03-27 | 1987-03-27 | 放射線検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2563314B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05199604A (ja) * | 1992-01-17 | 1993-08-06 | Nabco Ltd | 鉄道車両用応荷重装置 |
| KR100357742B1 (ko) * | 2000-09-18 | 2002-10-25 | 한국전기연구원 | 평판 디지털 엑스-레이 검출기의 특성 오류 정정 방법 |
| DE10114303A1 (de) * | 2001-03-23 | 2002-09-26 | Philips Corp Intellectual Pty | Verfahren zur Bestimmung der von einem Strahlungssensor absorbierten Strahlungsmenge |
| JP5509002B2 (ja) * | 2010-09-09 | 2014-06-04 | 株式会社千代田テクノル | 電離箱式放射線測定器の確認校正方法及び電離箱式放射線測定器 |
| AU2018202912B1 (en) * | 2018-04-27 | 2019-06-20 | Southern Innovation International Pty Ltd | Input count rate estimation in radiation pulse detectors |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS545484A (en) * | 1977-06-14 | 1979-01-16 | Mitsubishi Electric Corp | Checking device of radiation monitor |
| JPS5946573A (ja) * | 1982-09-09 | 1984-03-15 | Fuji Electric Co Ltd | 自己チエツク可能な半導体放射線検出器 |
| DE3328256C2 (de) * | 1983-08-04 | 1986-08-28 | Endress U. Hauser Gmbh U. Co, 7867 Maulburg | Verfahren und Anordnung zur automatischen Stabilisierung eines Szintillationsdetektors |
-
1987
- 1987-03-27 JP JP62071666A patent/JP2563314B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63238579A (ja) | 1988-10-04 |
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