JP7306692B2 - 気体水素のオルト・パラ比を測定する光学装置 - Google Patents
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しかし、液相ではパラ水素の方がエネルギー的に安定であるため、発熱を伴うオルト→パラ変換が生じる。この発熱により、液体水素の蒸発が生じ(ボイルオフ)、液体水素の輸送や貯蔵における損失原因となる。このため、ボイルオフを避ける目的で、触媒を用いてパラ変換した気体水素を製造する技術の開発が活発に行われている(例えば、特許文献1、2参照)。
そこで、水素利用のための根幹技術である、製造、輸送、貯蔵の各プロセスで、2種の異性体の比率を測定・モニターする装置が不可欠である。
まず、レーザー20からレーザー光を照射し、集光レンズ22を介して試料10に照射する。すると、試料10からレイリー散乱とラマン散乱が散乱されるので、集光レンズ24、26でラマン散乱を分光器27に集光すると共に、帯域除去フィルター25でレイリー散乱を除去する。すると、ラマン散乱光は分光器27で分光され、CCDアレイ検出器28で波長毎に検出して、パーソナルコンピューター29でラマンシフト値に変換して、スペクトルを測定する。そして、パーソナルコンピューター29でラマン散乱光のスペクトル線の内、オルト水素の散乱によるピークとパラ水素の散乱によるピークの強度から、オルト・パラ比を測定する。
本発明は上記の課題を解決したもので、既存装置と比較して簡易且つ堅固な光学機構を有するオルト・パラ比測定装置を提供することである。
[6]本発明のオルト・パラ比測定装置において、好ましくは、さらに、試料10から散乱された散乱光から、レイリー散乱を除去する帯域除去フィルターを、前記コリメータレンズとビームスプリッタ31との間に設けるとよい。
[8]本発明のオルト・パラ比測定装置において、好ましくは、オルト水素による散乱光はラマンシフト波数589.54±2cm-1であり、前記パラ水素による散乱光はラマンシフト波数361.67±2cm-1であるとよい。
また、本発明のオルト・パラ比測定装置によれば、上記の構成[2]、[4]において比率測定部に第1及び第2のフォトダイオードを用いることにより、分光器・回折格子に加えてCCDアレイ検出器を用いることなく、簡単な電子回路構成により、従来装置と同様の原理でオルト・パラ比測定が可能となる。
図1は、本発明の一実施例を示すオルト・パラ比測定装置の要部構成図である。図において、本発明のオルト・パラ比測定装置は、レーザー20、集光レンズ22、34、44、コリメータレンズ24、ハーフミラー30、帯域通過フィルター32、42、フォトダイオード36、46、演算回路(演算部)50で構成される。比率測定部としては、フォトダイオード36、46及び演算回路(演算部)50が含まれる。
コリメータレンズ24は、波長532nmのレーザー光照射により試料10で生じたラマン散乱を平行光にする。
ハーフミラー30は、コリメータレンズ24で平行光に変換されたラマン散乱光を二方向に分枝するもので、分枝された光強度は1:1になっている。
集光レンズ34は、帯域通過フィルター32を透過したパラ水素による散乱光をフォトダイオード36に集光する。
フォトダイオード36は、第2の帯域通過フィルター32で波長選択したパラ水素のラマン散乱光の光強度を測定する。パラ水素による散乱光はラマンシフト波数361.67±2cm-1の帯域に含まれている。
集光レンズ44は、帯域通過フィルター42を透過したオルト水素による散乱光をフォトダイオード46に集光する。
フォトダイオード46は、第1の帯域通過フィルター42で波長選択したオルト水素のラマン散乱光の光強度を測定する。オルト水素による散乱光はラマンシフト波数589.54±2cm-1である。帯域通過フィルター42の材質としては、例えば誘電体多層膜が用いられる。
好ましくは、試料10の気体温度を測定する気体温度計を設けるとよい。
気体温度計を設ける場合は、比率測定部は、気体温度計で測定した試料10の気体温度と、第1の帯域通過フィルター42を透過した光強度と第2の帯域通過フィルター32を透過した光強度の比から、試料10に含まれるオルト水素とパラ水素の比率を測定する。
レーザー20の発生した波長532nmのレーザー光を、試料10である水素ガスに集光し、生じたラマン散乱をハーフミラー30で二つに分ける。一方の光路にパラ水素による散乱光(J=0)を選択的に透過する帯域通過フィルター32(バンド幅:5nm程度)を設置し、透過光をフォトダイオード36により検出する。もう一方の光路にオルト水素による散乱光(J=1)を透過する帯域通過フィルター42(バンド幅:5nm程度)を設置し、透過光をフォトダイオード46で検出する。比率測定部により、二つのフォトダイオード36、46の信号強度及び気体温度から、オルト・パラ比を算出する。
スペクトル中、360cm-1付近のピークはパラ水素のJ=0(J:角運動量子数)を始状態とする遷移に起因しており、590cm-1付近のピークはオルト水素のJ=1を始状態遷移に起因している。
例えば、試料10から散乱された散乱光から、レイリー散乱を除去する帯域除去フィルターを、コリメータレンズ24とハーフミラー30又はビームスプリッタ31との間に設けてもよい。
20:レーザー
22、26、34、44:集光レンズ
24:コリメータレンズ
25:帯域除去フィルター(レーザー照射光用)
30:ハーフミラー
31:ビームスプリッタ
32:帯域通過フィルター(パラ水素ラマン散乱光透過用)
36、46:フォトダイオード
42:帯域通過フィルター(オルト水素ラマン散乱光透過用)
50:演算回路
Claims (9)
- 試料に含まれるオルト水素とパラ水素の比率を測定するオルト・パラ比測定装置であって、
前記試料に照射するレーザー光を発生するレーザー光源と、
前記レーザー光源から照射されたレーザー光に対して、前記試料から散乱されたラマン散乱光を平行光に変換するコリメータレンズと、
前記コリメータレンズで平行光に変換されたラマン散乱光を二方向に分枝するハーフミラーと、
前記ハーフミラーで分岐された一方のラマン散乱光のうち、オルト水素による散乱光を透過する第1の帯域通過フィルターと、
前記ハーフミラーで分岐された他方のラマン散乱光のうち、パラ水素による散乱光を透過する第2の帯域通過フィルターと、
前記第1の帯域通過フィルターを透過した光強度と、前記第2の帯域通過フィルターを透過した光強度の比から、前記試料に含まれるオルト水素とパラ水素の比率を測定する比率測定部と、
を備えるオルト・パラ比測定装置。 - 前記比率測定部は、 前記第1の帯域通過フィルターで波長選択したオルト水素のラマン散乱光の光強度を測
定する第1のフォトダイオードと、
前記第2の帯域通過フィルターで波長選択したパラ水素のラマン散乱光の光強度を測定する第2のフォトダイオードと、
前記第1及び第2のフォトダイオードの信号強度比を演算する演算部と、
を備えることを特徴とする請求項1に記載のオルト・パラ比測定装置。 - 試料に含まれるオルト水素とパラ水素の比率を測定するオルト・パラ比測定装置であって、
前記試料に照射するレーザー光を発生するレーザー光源と、
前記レーザー光源から照射されたレーザー光に対して、前記試料から散乱されたラマン散乱光を平行光に変換するコリメータレンズと、
前記コリメータレンズで平行光に変換されたラマン散乱光を二方向に分枝するビームスプリッタと、
前記ビームスプリッタで分岐された一方のラマン散乱光のうち、オルト水素による散乱光を透過する第1の帯域通過フィルターと、
前記ビームスプリッタで分岐された他方のラマン散乱光のうち、パラ水素による散乱光を透過する第2の帯域通過フィルターと、
前記ビームスプリッタで前記第1の帯域通過フィルター側に分岐した光強度、前記第2の帯域通過フィルター側に分岐した光強度、並びに前記第1の帯域通過フィルターを透過した光強度と前記第2の帯域通過フィルターを透過した光強度の比から、前記試料に含まれるオルト水素とパラ水素の比率を測定する比率測定部と、
を備えるオルト・パラ比測定装置。 - 前記比率測定部は、
前記第1の帯域通過フィルターで波長選択したオルト水素のラマン散乱光の光強度を測定する第1のフォトダイオードと、
前記第2の帯域通過フィルターで波長選択したパラ水素のラマン散乱光の光強度を測定する第2のフォトダイオードと、
前記第1及び第2のフォトダイオードの信号強度比を演算する演算部と、
を備え、前記ビームスプリッタで前記第1の帯域通過フィルター側に分岐した光強度と前記第2の帯域通過フィルター側に分岐した光強度との比率、並びに前記演算部で演算した前記第1及び第2のフォトダイオードの信号強度比から、前記試料に含まれるオルト水素とパラ水素の比率を測定することを特徴とする請求項3に記載のオルト・パラ比測定装置。 - さらに前記試料の気体温度を測定する気体温度計を備え、
前記比率測定部は、前記気体温度計で測定した前記試料の気体温度と、前記第1及び第2のフォトダイオードの信号強度比から、前記試料に含まれるオルト水素とパラ水素の比率を測定することを特徴とする請求項2に記載のオルト・パラ比測定装置。 - さらに前記試料の気体温度を測定する気体温度計を備え、
前記比率測定部は、前記気体温度計で測定した前記試料の気体温度と、前記第1及び第2のフォトダイオードの信号強度比から、前記試料に含まれるオルト水素とパラ水素の比率を測定することを特徴とする請求項4に記載のオルト・パラ比測定装置。 - さらに、前記試料から散乱された散乱光から、レイリー散乱を除去する帯域除去フィルターを、前記コリメータレンズと前記ビームスプリッタとの間に設けたことを特徴とする請求項3乃至4、又は6の何れか1項に記載のオルト・パラ比測定装置。
- 前記レーザー光源はNd:YVO4(ネオジウム:イットリウム・四酸化バナジウム)又はイットリビウム(Y)とアルミニウム(Al)の複合酸化物(Y3Al5O12)から組成されるガーネット(G)構造の結晶であり、前記レーザー光は波長532nmであることを特徴とする請求項1乃至7の何れか1項に記載のオルト・パラ比測定装置。
- 前記オルト水素による散乱光はラマンシフト波数589.54±2cm-1であり、前記パラ水素による散乱光はラマンシフト波数361.67±2cm-1であることを特徴とする請求項8に記載のオルト・パラ比測定装置。
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