JP7296201B2 - semiconductor light emitting device - Google Patents

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本開示は、半導体発光装置に関する。 The present disclosure relates to semiconductor light emitting devices.

特許文献1には、従来の半導体発光装置の一例が開示されている。同文献に開示された半導体発光装置は、基板、半導体発光素子および樹脂部を備えている。樹脂部は、半導体発光素子からの光を透過させる。 Patent Document 1 discloses an example of a conventional semiconductor light emitting device. The semiconductor light emitting device disclosed in the document includes a substrate, a semiconductor light emitting element and a resin portion. The resin portion transmits light from the semiconductor light emitting element.

特開2017-126743号公報JP 2017-126743 A

半導体発光装置からの発光状況は、樹脂部の形状等に影響を受ける。樹脂部の形状等によっては、半導体発光装置から発せられる光の色合いにばらつきが生じる。また、樹脂部の形状にばらつきが生じることは好ましくない。 The state of light emission from the semiconductor light emitting device is affected by the shape of the resin portion and the like. The color of the light emitted from the semiconductor light emitting device varies depending on the shape of the resin portion. Moreover, it is not preferable that the shape of the resin portion varies.

本開示は、上記した事情のもとで考え出されたものであって、色合いのばらつきを抑制することが可能な半導体発光装置を提供することをその課題とする。また、本開示は、樹脂部形状のばらつきを抑制することが可能な半導体発光装置を提供することをその課題とする。 An object of the present disclosure is to provide a semiconductor light-emitting device capable of suppressing variations in color tone. Another object of the present disclosure is to provide a semiconductor light emitting device capable of suppressing variation in the shape of the resin portion.

本開示によって提供される半導体発光装置は、厚さ方向一方側を向く基材表面および前記厚さ方向他方側を向く基材裏面を有する絶縁性の基材、前記基材に形成された導体層、および前記導体層の一部を覆う絶縁層を有する基板と、前記基板の前記基材表面側に搭載された半導体発光素子と、前記半導体発光素子を覆い且つ前記半導体発光素子からの光を透過させる樹脂部と、を備える半導体発光装置であって、前記基板の前記基材は、各々が前記基材表面および前記基材裏面を繋ぎ、且つ第1方向に離間した一対の基材第1側面と、各々が前記基材表面および前記基材裏面を繋ぎ、且つ前記厚さ方向視において前記基材第1側面よりも前記半導体発光素子側に凹む一対の基材第3側面と、を有し、前記導体層は、前記基材表面に形成された表面部および前記基材第3側面に形成された側面部を有し、前記表面部は、前記基材第3側面に対して前記半導体発光素子側に隣接し且つ前記側面部に繋がる表面第1部を有し、前記絶縁層は、前記厚さ方向視において前記基材第3側面に対して前記半導体発光素子とは反対側に位置する絶縁層第1部と、前記厚さ方向視において前記導体層の前記表面第1部に重なる絶縁層第2部とを有し、前記樹脂部は、前記絶縁層の前記絶縁層第1部および前記絶縁層第2部を覆っており、前記絶縁層第1部のうち前記樹脂部と接する絶縁層第1面に含まれる絶縁層第1領域と、前記樹脂部の樹脂表面のうち前記厚さ方向視において前記絶縁層第1領域に重なる樹脂第1領域と、の距離である第1距離は、前記絶縁層第2部のうち前記樹脂部と接する絶縁層第2面に含まれる絶縁層第2領域と、前記樹脂部の前記樹脂表面のうち前記厚さ方向視において前記絶縁層第2領域に重なる樹脂第2領域と、の距離である第2距離よりも大きい。 A semiconductor light-emitting device provided by the present disclosure includes an insulating substrate having a substrate surface facing one thickness direction side and a substrate back surface facing the thickness direction other side, and a conductor layer formed on the substrate. , and a substrate having an insulating layer covering a part of the conductor layer, a semiconductor light emitting element mounted on the substrate surface side of the substrate, and covering the semiconductor light emitting element and transmitting light from the semiconductor light emitting element. wherein the base material of the substrate includes a pair of base material first side surfaces each connecting the base surface and the base back surface and spaced apart in a first direction. and a pair of base material third side surfaces, each of which connects the base material surface and the base material back surface and is recessed toward the semiconductor light emitting element side from the base material first side surface when viewed in the thickness direction. , the conductor layer has a surface portion formed on the substrate surface and a side portion formed on the substrate third side surface, the surface portion facing the substrate third side surface to the semiconductor light emitting layer; It has a first surface portion adjacent to the element side and connected to the side surface portion, and the insulating layer is located on the side opposite to the semiconductor light emitting element with respect to the third side surface of the substrate when viewed in the thickness direction. An insulating layer first portion and an insulating layer second portion overlapping the first surface portion of the conductor layer when viewed in the thickness direction, and the resin portion includes the insulating layer first portion and the insulating layer second portion of the insulating layer. The insulating layer first region covering the insulating layer second portion and included in the insulating layer first surface in contact with the resin portion of the insulating layer first portion, and the thickness of the resin surface of the resin portion The first distance, which is the distance between the resin first region overlapping the insulation layer first region when viewed from the direction, is the insulation layer second surface included in the insulation layer second surface that is in contact with the resin portion of the insulation layer second portion. 2 region and a resin second region of the resin surface of the resin portion that overlaps the insulating layer second region when viewed in the thickness direction.

本開示の半導体発光装置によれば、色合いのばらつきを抑制することができる。 According to the semiconductor light emitting device of the present disclosure, variations in color tone can be suppressed.

本開示のその他の特徴および利点は、添付図面を参照して以下に行う詳細な説明によって、より明らかとなろう。 Other features and advantages of the present disclosure will become more apparent from the detailed description below with reference to the accompanying drawings.

本開示の第1実施形態に係る半導体発光装置を示す平面図である。1 is a plan view showing a semiconductor light emitting device according to a first embodiment of the present disclosure; FIG. 本開示の第1実施形態に係る半導体発光装置を示す要部平面図である。1 is a plan view of a main part showing a semiconductor light emitting device according to a first embodiment of the present disclosure; FIG. 本開示の第1実施形態に係る半導体発光装置を示す底面図である。1 is a bottom view showing a semiconductor light emitting device according to a first embodiment of the present disclosure; FIG. 図1のIV-IV線に沿う断面図である。2 is a cross-sectional view taken along line IV-IV of FIG. 1; FIG. 本開示の第1実施形態に係る半導体発光装置を示す要部拡大断面図である。1 is an enlarged cross-sectional view of a main part showing a semiconductor light emitting device according to a first embodiment of the present disclosure; FIG. 本開示の第1実施形態に係る半導体発光装置を示す正面図である。1 is a front view showing a semiconductor light emitting device according to a first embodiment of the present disclosure; FIG. 本開示の第1実施形態に係る半導体発光装置を示す要部拡大正面図である。1 is an enlarged front view of a main part showing a semiconductor light emitting device according to a first embodiment of the present disclosure; FIG. 本開示の第1実施形態に係る半導体発光装置を示す側面図である。1 is a side view showing a semiconductor light emitting device according to a first embodiment of the present disclosure; FIG. 本開示の第1実施形態に係る半導体発光装置を示す要部拡大側面図である。1 is an enlarged side view of a main part showing a semiconductor light emitting device according to a first embodiment of the present disclosure; FIG. 本開示の第1実施形態に係る半導体発光装置の基板を示す要部平面図である。1 is a plan view of a main part showing a substrate of a semiconductor light emitting device according to a first embodiment of the present disclosure; FIG. 本開示の第1実施形態に係る半導体発光装置の製造方法の一例を示す要部平面図である。FIG. 3 is a plan view of a main part showing an example of a method for manufacturing a semiconductor light emitting device according to the first embodiment of the present disclosure; 図11のXII-XII線に沿う要部断面図である。FIG. 12 is a cross-sectional view of a main part taken along line XII-XII in FIG. 11; 本開示の第1実施形態に係る半導体発光装置の製造方法の一例を示す要部平面図である。FIG. 3 is a plan view of a main part showing an example of a method for manufacturing a semiconductor light emitting device according to the first embodiment of the present disclosure; 図13のXIV-XIV線に沿う要部断面図である。FIG. 14 is a cross-sectional view of a main part taken along line XIV-XIV in FIG. 13; 本開示の第1実施形態に係る半導体発光装置の製造方法の一例を示す要部断面図である。FIG. 4A is a cross-sectional view of a main part showing an example of a method for manufacturing a semiconductor light emitting device according to the first embodiment of the present disclosure; 本開示の第1実施形態に係る半導体発光装置の製造方法の一例を示す要部平面図である。FIG. 3 is a plan view of a main part showing an example of a method for manufacturing a semiconductor light emitting device according to the first embodiment of the present disclosure; 図16のXVII-XVII線に沿う要部断面図である。FIG. 17 is a cross-sectional view of main parts along line XVII-XVII in FIG. 16; 本開示の第1実施形態に係る半導体発光装置の製造方法の一例を示す要部平面図である。FIG. 3 is a plan view of a main part showing an example of a method for manufacturing a semiconductor light emitting device according to the first embodiment of the present disclosure; 図18のXIX-XIX線に沿う要部断面図である。FIG. 19 is a cross-sectional view of the essential parts along line XIX-XIX in FIG. 18; 開示の第1実施形態に係る半導体発光装置の使用例を示す要部断面図である。1 is a cross-sectional view of a main part showing a usage example of a semiconductor light emitting device according to a first embodiment of the disclosure; FIG. 本開示の第1実施形態に係る半導体発光装置の第1変形例を示す要部拡大断面図である。FIG. 4 is an enlarged cross-sectional view of main parts showing a first modification of the semiconductor light emitting device according to the first embodiment of the present disclosure; 本開示の第1実施形態に係る半導体発光装置の第2変形例を示す要部拡大断面図である。FIG. 11 is an enlarged cross-sectional view of a main part showing a second modification of the semiconductor light emitting device according to the first embodiment of the present disclosure; 本開示の第1実施形態に係る半導体発光装置の第3変形例を示す要部拡大断面図である。FIG. 11 is an enlarged cross-sectional view of a main part showing a third modification of the semiconductor light emitting device according to the first embodiment of the present disclosure; 本開示の第1実施形態に係る半導体発光装置の第4変形例を示す要部平面図である。FIG. 11 is a plan view of a main part showing a fourth modification of the semiconductor light emitting device according to the first embodiment of the present disclosure; 本開示の第2実施形態に係る半導体発光装置を示す要部平面図である。FIG. 10 is a plan view of a main part showing a semiconductor light emitting device according to a second embodiment of the present disclosure; 図25のXXVI-XXVI線に沿う断面図である。FIG. 26 is a cross-sectional view along line XXVI-XXVI of FIG. 25; 本開示の第3実施形態に係る半導体発光装置を示す要部平面図である。FIG. 11 is a plan view of a main part showing a semiconductor light emitting device according to a third embodiment of the present disclosure; 図27のXXVIII-XXVIII線に沿う断面図である。FIG. 28 is a cross-sectional view along line XXVIII-XXVIII of FIG. 27; 本開示の第4実施形態に係る半導体発光装置を示す平面図である。FIG. 11 is a plan view showing a semiconductor light emitting device according to a fourth embodiment of the present disclosure; 本開示の第4実施形態に係る半導体発光装置を示す要部平面図である。FIG. 11 is a plan view of a main part showing a semiconductor light emitting device according to a fourth embodiment of the present disclosure; 本開示の第4実施形態に係る半導体発光装置を示す底面図である。It is a bottom view showing a semiconductor light emitting device according to a fourth embodiment of the present disclosure. 図29のXXXII-XXXII線に沿う断面図である。FIG. 30 is a cross-sectional view along line XXXII-XXXII of FIG. 29; 本開示の第4実施形態に係る半導体発光装置を示す要部拡大断面図である。FIG. 11 is an enlarged cross-sectional view of a main part showing a semiconductor light emitting device according to a fourth embodiment of the present disclosure; 本開示の第4実施形態に係る半導体発光装置を示す正面図である。FIG. 11 is a front view showing a semiconductor light emitting device according to a fourth embodiment of the present disclosure; 本開示の第4実施形態に係る半導体発光装置を示す要部拡大正面図である。FIG. 11 is an enlarged front view of a main part showing a semiconductor light emitting device according to a fourth embodiment of the present disclosure; 本開示の第4実施形態に係る半導体発光装置を示す側面図である。FIG. 11 is a side view showing a semiconductor light emitting device according to a fourth embodiment of the present disclosure; 本開示の第4実施形態に係る半導体発光装置を示す要部拡大側面図である。FIG. 11 is an enlarged side view of a main part showing a semiconductor light emitting device according to a fourth embodiment of the present disclosure; 本開示の第4実施形態に係る半導体発光装置の基板を示す要部平面図である。FIG. 11 is a plan view of a main part showing a substrate of a semiconductor light emitting device according to a fourth embodiment of the present disclosure; 本開示の第4実施形態に係る半導体発光装置の製造方法の一例を示す要部平面図である。FIG. 21 is a plan view of a main part showing an example of a method for manufacturing a semiconductor light emitting device according to a fourth embodiment of the present disclosure; 図39のXL-XL線に沿う断面図である。FIG. 40 is a cross-sectional view along line XL-XL in FIG. 39; 本開示の第4実施形態に係る半導体発光装置の製造方法の一例を示す要部平面図である。FIG. 21 is a plan view of a main part showing an example of a method for manufacturing a semiconductor light emitting device according to a fourth embodiment of the present disclosure; 図41のXLII-XLII線に沿う断面図である。FIG. 42 is a cross-sectional view along line XLII-XLII in FIG. 41; 本開示の第4実施形態に係る半導体発光装置の製造方法の一例を示す要部断面図である。FIG. 11 is a cross-sectional view of a main part showing an example of a method for manufacturing a semiconductor light emitting device according to a fourth embodiment of the present disclosure; 本開示の第4実施形態に係る半導体発光装置の製造方法の一例を示す要部断面図である。FIG. 11 is a cross-sectional view of a main part showing an example of a method for manufacturing a semiconductor light emitting device according to a fourth embodiment of the present disclosure; 本開示の第5実施形態に係る半導体発光装置を示す要部拡大断面図である。FIG. 11 is an enlarged cross-sectional view of a main part showing a semiconductor light emitting device according to a fifth embodiment of the present disclosure; 本開示の第6実施形態に係る半導体発光装置を示す要部平面図である。FIG. 11 is a plan view of a main part showing a semiconductor light emitting device according to a sixth embodiment of the present disclosure; 図46のXLVII-XLVII線に沿う断面図である。FIG. 47 is a cross-sectional view along line XLVII-XLVII in FIG. 46;

以下、本開示の好ましい実施の形態につき、図面を参照して具体的に説明する。 Preferred embodiments of the present disclosure will be specifically described below with reference to the drawings.

本開示における「第1」、「第2」、「第3」等の用語は、単にラベルを付して用いたものであり、必ずしもそれらの対象物に順列を付することを意図していない。 The terms "first", "second", "third", etc. in this disclosure are used merely as labels and are not intended to necessarily impose a permutation of their objects. .

<第1実施形態>
図1~図10は、本開示の第1実施形態に係る半導体発光装置を示している。本実施形態の半導体発光装置A1は、基板1、半導体発光素子2および樹脂部3を備えている。これらの図において、x方向は、第1方向に相当し、y方向は、第2方向に相当し、z方向は、厚さ方向に相当する。x方向、y方向およびz方向は、互いに直角である。半導体発光装置A1の形状や大きさは特に限定されず、本実施形態においては、x方向寸法が0.7~2.5mm程度、y方向寸法が0.4~1.0mm程度、z方向寸法が0.15~0.3mm程度とされ、z方向視矩形状である。
<First Embodiment>
1 to 10 show a semiconductor light emitting device according to a first embodiment of the present disclosure. A semiconductor light emitting device A1 of this embodiment includes a substrate 1, a semiconductor light emitting element 2, and a resin portion 3. As shown in FIG. In these figures, the x-direction corresponds to the first direction, the y-direction corresponds to the second direction, and the z-direction corresponds to the thickness direction. The x-, y- and z-directions are perpendicular to each other. The shape and size of the semiconductor light emitting device A1 are not particularly limited. is about 0.15 to 0.3 mm, and has a rectangular shape when viewed in the z direction.

図1は、半導体発光装置A1を示す平面図である。図2は、半導体発光装置A1を示す要部平面図である。図3は、半導体発光装置A1を示す底面図である。図4は、図1のIV-IV線に沿う断面図である。図5は、半導体発光装置A1を示す要部拡大断面図である。図6は、半導体発光装置A1を示す正面図である。図7は、半導体発光装置A1を示す要部拡大正面図である。図8は、半導体発光装置A1を示す側面図である。図9は、半導体発光装置A1を示す要部拡大側面図である。図10は、半導体発光装置A1の基板1を示す要部平面図である。図1のIV-IV線から理解されるように、図4の図中横方向は、概ねx方向に沿うものの、x方向と厳密に一致しない部分を含む。これは、図5も同様である。 FIG. 1 is a plan view showing a semiconductor light emitting device A1. FIG. 2 is a fragmentary plan view showing the semiconductor light emitting device A1. FIG. 3 is a bottom view showing the semiconductor light emitting device A1. FIG. 4 is a cross-sectional view taken along line IV-IV of FIG. FIG. 5 is an enlarged cross-sectional view of a main part showing the semiconductor light emitting device A1. FIG. 6 is a front view showing the semiconductor light emitting device A1. FIG. 7 is an enlarged front view of a main part showing the semiconductor light emitting device A1. FIG. 8 is a side view showing the semiconductor light emitting device A1. FIG. 9 is an enlarged side view of a main part showing the semiconductor light emitting device A1. FIG. 10 is a fragmentary plan view showing the substrate 1 of the semiconductor light emitting device A1. As can be understood from line IV-IV in FIG. 1, the horizontal direction in FIG. 4 generally follows the x-direction, but includes portions that do not exactly match the x-direction. This also applies to FIG.

基板1は、半導体発光素子2を支持するとともに、半導体発光素子2への導通経路を構成擦るものである。基板1は、基材11、導体層12および絶縁層13を有する。 The substrate 1 supports the semiconductor light emitting device 2 and also forms a conducting path to the semiconductor light emitting device 2 . The substrate 1 has a base material 11 , a conductor layer 12 and an insulating layer 13 .

基材11は、基板1の土台となる部位であり、たとえばガラスエポキシ樹脂等の絶縁材料からなる。基材11は、基材表面111、基材裏面112、一対の基材第1側面113、一対の基材第2側面114および複数の基材第3側面115を有する。 Base material 11 is a base of substrate 1 and is made of an insulating material such as glass epoxy resin. The substrate 11 has a substrate front surface 111 , a substrate back surface 112 , a pair of substrate first side surfaces 113 , a pair of substrate second side surfaces 114 and a plurality of substrate third side surfaces 115 .

基材表面111は、z方向一方側を向く面である。基材裏面112は、z方向において基材表面111とは反対側の他方側を向く面である。図示された例においては、基材表面111は、平坦な面である。 The substrate surface 111 is a surface facing one side in the z direction. The substrate back surface 112 is a surface facing the other side opposite to the substrate front surface 111 in the z direction. In the illustrated example, substrate surface 111 is a flat surface.

一対の基材第1側面113は、x方向に互いに離間しており、x方向に対して直角である。基材第1側面113は、基材表面111と基材裏面112とを繋いでいる。図示された例においては、基材裏面112は、平坦な面である。 The pair of substrate first side surfaces 113 are spaced apart from each other in the x direction and perpendicular to the x direction. The substrate first side surface 113 connects the substrate front surface 111 and the substrate rear surface 112 . In the illustrated example, substrate backside 112 is a flat surface.

一対の基材第2側面114は、y方向に互いに離間しており、y方向に対して直角である。基材第2側面114は、基材表面111と基材裏面112とを繋いでいる。 The pair of substrate second side surfaces 114 are spaced apart from each other in the y direction and perpendicular to the y direction. The substrate second side surface 114 connects the substrate front surface 111 and the substrate rear surface 112 .

基材第3側面115は、基材表面111および基材裏面112を繋いでおり、z方向視において基材第1側面113よりも内方に凹む面である。本実施形態においては、基材第3側面115は、基材第1側面113に対してx方向内方に凹んでいる。また、本実施形態においては、基材第3側面115は、隣り合う基材第1側面113と基材第2側面114との間に介在している。また、基材第3側面115は、z方向視において基材第2側面114よりも内方に凹む面であり、本実施形態においては、基材第2側面114に対してy方向内方に凹んでいる。本実施形態においては、複数の基材第3側面115の個数は、4である。4つの基材第3側面115は、一対の基材第3側面115を含ものである。基材第3側面115は、z方向視において略四半円形状である。 The substrate third side surface 115 connects the substrate front surface 111 and the substrate rear surface 112, and is a surface recessed inwardly from the substrate first side surface 113 when viewed in the z direction. In this embodiment, the substrate third side surface 115 is recessed inward in the x direction with respect to the substrate first side surface 113 . Further, in the present embodiment, the substrate third side surface 115 is interposed between the substrate first side surface 113 and the substrate second side surface 114 adjacent to each other. Further, the base material third side surface 115 is a surface that is recessed more inward than the base material second side surface 114 when viewed in the z direction. concave. In this embodiment, the number of the plurality of base material third side surfaces 115 is four. The four substrate third sides 115 include a pair of substrate third sides 115 . The base material third side surface 115 has a substantially quarter-circular shape when viewed in the z direction.

導体層12は、半導体発光素子2への導通経路を構成するものであり、基材11に形成されている。導体層12は、たとえば、めっきによって形成されたCu層等を有する。また、導体層12のうち絶縁層13から露出した部位には、たとえばめっきにより形成されたAu層が設けられていてもよい。導体層12は、表面部121、裏面部122および4つの側面部123を有する。 The conductor layer 12 constitutes a conducting path to the semiconductor light emitting device 2 and is formed on the base material 11 . The conductor layer 12 has, for example, a Cu layer or the like formed by plating. Moreover, an Au layer formed by plating, for example, may be provided on a portion of the conductor layer 12 exposed from the insulating layer 13 . The conductor layer 12 has a surface portion 121 , a back surface portion 122 and four side surface portions 123 .

表面部121は、基材11の基材表面111に形成された部位である。本実施形態においては、表面部121は、4つの表面第1部1211、表面第2部1212、一対の表面第3部1213、複数の連結部1214および連結部1215を有する。なお、図10における二点鎖線(想像線)は、4つの表面第1部1211、表面第2部1212、一対の表面第3部1213、複数の連結部1214および連結部1215の境界を便宜上示している。 The surface portion 121 is a portion formed on the substrate surface 111 of the substrate 11 . In this embodiment, the surface portion 121 has four first surface portions 1211 , second surface portions 1212 , a pair of third surface portions 1213 , and a plurality of connecting portions 1214 and 1215 . The two-dot chain lines (imaginary lines) in FIG. 10 indicate the boundaries of the four surface first portions 1211, the surface second portions 1212, the pair of surface third portions 1213, the plurality of connecting portions 1214, and the connecting portions 1215 for convenience. ing.

表面第1部1211は、基材11の基材第3側面115に隣接して設けられた部位であり、本実施形態においては、z方向視において略四半円環形状である。また、表面第1部1211は、基材第1側面113および基材第2側面114の双方に到達している。本実施形態においては、4つの基材第3側面115に対応して、4つの表面第1部1211が形成されている。 The surface first portion 1211 is a portion provided adjacent to the base material third side surface 115 of the base material 11, and in the present embodiment, has a substantially quarter-circle shape when viewed in the z direction. Moreover, the first surface portion 1211 reaches both the substrate first side surface 113 and the substrate second side surface 114 . In this embodiment, four front surface first portions 1211 are formed corresponding to the four base material third side surfaces 115 .

表面第2部1212は、基材表面111の略中央に設けられており、半導体発光素子2を搭載するための部位である。なお、半導体発光素子2を基材11に直接搭載する場合、表面部121は、表面第2部1212を有さない構成であってもよい。図示された例においては、表面第2部1212は、z方向視において略矩形状である。 The second surface portion 1212 is provided substantially in the center of the substrate surface 111 and is a portion for mounting the semiconductor light emitting device 2 thereon. When the semiconductor light emitting device 2 is directly mounted on the substrate 11 , the surface portion 121 may be configured without the second surface portion 1212 . In the illustrated example, the surface second portion 1212 has a substantially rectangular shape when viewed in the z direction.

一対の表面第3部1213は、表面第2部1212を挟んでx方向に離間して配置されている。表面第3部1213は、表面部121と半導体発光素子2とを導通させるために用いられる部位である。図示された例においては、表面第3部1213は、略矩形状である。また、図示された例においては、表面第3部1213は、基材11の基材第1側面113から離間している。 A pair of the third surface portions 1213 are spaced apart in the x direction with the second surface portion 1212 interposed therebetween. The third surface portion 1213 is a portion used to electrically connect the surface portion 121 and the semiconductor light emitting element 2 . In the illustrated example, the surface third portion 1213 is generally rectangular. Also, in the illustrated example, the surface third portion 1213 is spaced from the substrate first side surface 113 of the substrate 11 .

複数の連結部1214は、隣り合う表面第1部1211と表面第3部1213とを連結する部位である。図示された例においては、複数の連結部1214の個数は、4であり、各々がy方向に延びる帯状である。また、図示された例においては、連結部1214は、基材11の基材第1側面113から離間している。 A plurality of connecting portions 1214 are portions that connect the first surface portion 1211 and the third surface portion 1213 that are adjacent to each other. In the illustrated example, the number of connecting portions 1214 is four, each of which has a strip shape extending in the y direction. Also, in the illustrated example, the connecting portion 1214 is spaced apart from the substrate first side surface 113 of the substrate 11 .

連結部1215は、表面第2部1212と連結部1214とを連結している。図示された例においては、連結部1215は、x方向に長く延びている。図示された例においては、連結部1215は、基材11の基材第2側面114から離間している。 The connecting portion 1215 connects the second surface portion 1212 and the connecting portion 1214 . In the illustrated example, the connecting portion 1215 extends long in the x-direction. In the illustrated example, the connecting portion 1215 is spaced from the substrate second side surface 114 of the substrate 11 .

裏面部122は、基材11の基材裏面112に形成された部位である。本実施形態においては、裏面部122は、4つの裏面第1部1221および一対の裏面第2部1222を有する。なお、図3における二点鎖線(想像線)は、4つの裏面第1部1221および一対の裏面第2部1222の境界を便宜上示している。 The rear surface portion 122 is a portion formed on the substrate rear surface 112 of the substrate 11 . In this embodiment, the back surface portion 122 has four first back surface portions 1221 and a pair of second back surface portions 1222 . 3 indicate boundaries between the four back surface first portions 1221 and the pair of back surface second portions 1222 for convenience.

裏面第1部1221は、基材11の基材第3側面115に隣接して設けられた部位であり、本実施形態においては、z方向視において略四半円環形状である。また、裏面第1部1221は、基材第1側面113および基材第2側面114の双方に到達している。本実施形態においては、4つの基材第3側面115に対応して、4つの裏面第1部1221が形成されている。 The back surface first portion 1221 is a portion provided adjacent to the base material third side surface 115 of the base material 11, and in the present embodiment, has a substantially quarter-circle shape when viewed in the z direction. In addition, the back surface first portion 1221 reaches both the substrate first side surface 113 and the substrate second side surface 114 . In this embodiment, four rear surface first portions 1221 are formed corresponding to the four substrate third side surfaces 115 .

一対の裏面第2部1222は、x方向に互いに離間して設けられている。裏面第2部1222は、y方向に隣り合う裏面第1部1221に繋がっている。一対の裏面第2部1222は、たとえば半導体発光装置A1を回路基板(図示略)等に実装する際に、電極として用いられる。 The pair of back surface second portions 1222 are provided apart from each other in the x direction. The second rear surface portion 1222 is connected to the first rear surface portion 1221 adjacent in the y direction. The pair of second back surface portions 1222 are used as electrodes when, for example, the semiconductor light emitting device A1 is mounted on a circuit board (not shown) or the like.

4つの側面部123は、4つの基材第3側面115に形成されており、4つの基材第3側面115を各々が覆っている。本実施形態においては、側面部123は、基材第3側面115の略全体を覆っている。また、側面部123は、表面部121の表面第1部1211と裏面部122の裏面第1部1221とに繋がっている。 The four side portions 123 are formed on the four substrate third side surfaces 115 and respectively cover the four substrate third side surfaces 115 . In this embodiment, the side portion 123 covers substantially the entire third side surface 115 of the substrate. Moreover, the side surface portion 123 is connected to the front surface first portion 1211 of the front surface portion 121 and the rear surface first portion 1221 of the rear surface portion 122 .

絶縁層13は、絶縁性材料からなる層であり、導体層12の一部を覆い、その余の部分を露出させている。絶縁層13の材質等は特に限定されず、本実施形態においては、たとえばソルダーレジストである。また、図示された例においては、シート状(フィルム状)のソルダーレジストを基材11に圧着することにより絶縁層13が形成されている。絶縁層13は、4つの絶縁層第1部131、4つの絶縁層第2部132、複数の絶縁層第3部133および一対の連結部135を有する。なお、図2、図5、図7および図9における二点鎖線(想像線)は、4つの絶縁層第1部131、4つの絶縁層第2部132、複数の絶縁層第3部133および一対の連結部135の境界を便宜上示している。 The insulating layer 13 is a layer made of an insulating material, covers a portion of the conductor layer 12, and exposes the remaining portion. The material or the like of the insulating layer 13 is not particularly limited, and in this embodiment, it is, for example, a solder resist. In the illustrated example, the insulating layer 13 is formed by pressing a sheet-like (film-like) solder resist onto the substrate 11 . The insulating layer 13 has four first insulating layer portions 131 , four second insulating layer portions 132 , a plurality of third insulating layer portions 133 and a pair of connecting portions 135 . 2, FIG. 5, FIG. 7 and FIG. 9 indicate four insulating layer first parts 131, four insulating layer second parts 132, a plurality of insulating layer third parts 133 and Boundaries of the pair of connecting portions 135 are shown for convenience.

なお、本実施形態においては、基材11の基材裏面112に裏面絶縁層137が設けられている。裏面絶縁層137は、一対の裏面第2部1222の間に設けられており、たとえば半導体発光装置A1の極性を視認するために設けられている。裏面絶縁層137は、絶縁層13と同様の手法で形成されてもよいし、異なる手法で形成されてもよい。 In addition, in the present embodiment, a back surface insulating layer 137 is provided on the substrate back surface 112 of the substrate 11 . The back surface insulating layer 137 is provided between the pair of back surface second portions 1222, and is provided for viewing the polarity of the semiconductor light emitting device A1, for example. The back insulating layer 137 may be formed by a method similar to that of the insulating layer 13, or may be formed by a different method.

4つの絶縁層第1部131は、4つの基材第3側面115に対応して設けられている。絶縁層第1部131は、z方向視において基材第3側面115に対して外方に位置している。図示された例においては、絶縁層第1部131は、z方向視において四半円形状である。 The four insulating layer first portions 131 are provided corresponding to the four base material third side surfaces 115 . The insulating layer first portion 131 is positioned outward from the substrate third side surface 115 when viewed in the z direction. In the illustrated example, the insulating layer first portion 131 has a quarter-circular shape when viewed in the z-direction.

4つの絶縁層第2部132は、4つの基材第3側面115に対応して設けられている。絶縁層第2部132は、導体層12の表面部121の表面第1部1211に形成されており、z方向視において表面第1部1211に重なる部位であり、表面第1部1211を覆っている。図示された例においては、絶縁層第2部132は、z方向視において四半円環形状である。また、図示された例においては、絶縁層第2部132の厚さは、絶縁層第1部131の厚さよりも薄い。また、絶縁層第2部132の厚さは、導体層12の表面第1部1211の厚さよりも厚い。 The four insulating layer second portions 132 are provided corresponding to the four base material third side surfaces 115 . The insulating layer second part 132 is formed on the surface first part 1211 of the surface part 121 of the conductor layer 12, is a part overlapping the surface first part 1211 when viewed in the z direction, and covers the surface first part 1211. there is In the illustrated example, the insulating layer second portion 132 has a quarter ring shape when viewed in the z direction. Also, in the illustrated example, the thickness of the second insulating layer portion 132 is thinner than the thickness of the first insulating layer portion 131 . In addition, the thickness of the insulating layer second portion 132 is thicker than the thickness of the surface first portion 1211 of the conductor layer 12 .

絶縁層第3部133は、絶縁層第2部132に隣接しており、基材11の基材表面111に接している。言い換えると、絶縁層第3部133と基材11の基材表面111との間には、導体層12は介在していない。 The third insulating layer portion 133 is adjacent to the second insulating layer portion 132 and is in contact with the substrate surface 111 of the substrate 11 . In other words, the conductor layer 12 is not interposed between the insulating layer third portion 133 and the substrate surface 111 of the substrate 11 .

連結部135は、y方向に隣り合う絶縁層第3部133どうしを連結している。図示された例においては、連結部135は、y方向に延びる帯状である。また、図示された例においては、連結部135は、基材11の基材第1側面113に到達している。 The connecting portion 135 connects the insulating layer third portions 133 adjacent to each other in the y direction. In the illustrated example, the connecting portion 135 is strip-shaped extending in the y direction. Also, in the illustrated example, the connecting portion 135 reaches the substrate first side surface 113 of the substrate 11 .

絶縁層13は、1対の絶縁層第1側面171および二対の絶縁層第2側面172を有する。1対の絶縁層第1側面171は、x方向に互いに離間しており、x方向に直角である。1対の絶縁層第1側面171は、基材11の一対の基材第1側面113と面一である。二対の絶縁層第2側面172は、y方向に互いに離間しており、y方向に直角である。二対の絶縁層第2側面172は、基材11の一対の基材第2側面114と面一である。 The insulating layer 13 has a pair of insulating layer first side surfaces 171 and two pairs of insulating layer second side surfaces 172 . The pair of insulating layer first side surfaces 171 are spaced apart from each other in the x-direction and perpendicular to the x-direction. The pair of insulating layer first side surfaces 171 are flush with the pair of substrate first side surfaces 113 of the substrate 11 . The two pairs of insulating layer second side surfaces 172 are spaced apart from each other in the y-direction and perpendicular to the y-direction. The two pairs of insulating layer second side surfaces 172 are flush with the pair of substrate second side surfaces 114 of the substrate 11 .

図5、図7および図9に示すように、絶縁層13は、絶縁層第1面141、絶縁層第2面142、絶縁層第3面143、絶縁層第4面144、絶縁層第5面145、絶縁層第6面146、絶縁層第7面147、絶縁層第8面148および絶縁層第9面149を有する。 As shown in FIGS. 5, 7 and 9, the insulating layer 13 includes an insulating layer first surface 141, an insulating layer second surface 142, an insulating layer third surface 143, an insulating layer fourth surface 144, and an insulating layer fifth surface. It has a surface 145 , an insulating layer sixth surface 146 , an insulating layer seventh surface 147 , an insulating layer eighth surface 148 and an insulating layer ninth surface 149 .

絶縁層第1面141は、絶縁層第1部131のうちz方向一方側(図中上側)に位置する面である。図示された例においては、絶縁層第1面141は、z方向視において基材第3側面115から離間するほどz方向他方側に位置する凹曲面である。絶縁層第2面142は、絶縁層第2部132のうちz方向一方側(図中上側)に位置する面である。図示された例においては、絶縁層第2面142は、xy平面に沿う略平坦な面である。 The insulating layer first surface 141 is a surface of the insulating layer first portion 131 located on one side in the z direction (upper side in the figure). In the illustrated example, the insulating layer first surface 141 is a concave curved surface located on the other side in the z direction as the distance from the substrate third side surface 115 increases as viewed in the z direction. The insulating layer second surface 142 is a surface of the insulating layer second portion 132 located on one side in the z direction (upper side in the figure). In the illustrated example, the insulating layer second surface 142 is a substantially flat surface along the xy plane.

絶縁層第3面143は、絶縁層第3部133のうちz方向一方側に位置する面である。図示された例においては、絶縁層第3面143は、z方向視において絶縁層第2面142から離間するほどz方向他方側に位置するように緩やかに湾曲した曲面である。絶縁層第5面145は、絶縁層第3部133のうちz方向と直角である方向において絶縁層第2部132から離間する側を向く面であり、z方向に沿っている。絶縁層第4面144は、絶縁層第3面143と絶縁層第5面145との間に介在しており、凸曲面によって構成されている。絶縁層第6面146は、絶縁層第5面145と基材表面111との間に介在しており、基材表面111に接している。絶縁層第5面145は、斜め下方に凸である凸曲面によって構成されている。絶縁層第5面145と基材表面111との境界は、z方向視において絶縁層第5面145よりも基材第3側面115側に位置している。 The insulating layer third surface 143 is a surface of the insulating layer third portion 133 located on one side in the z direction. In the illustrated example, the insulating layer third surface 143 is a curved surface that is gently curved so as to be located on the other side in the z direction as the distance from the insulating layer second surface 142 increases as viewed in the z direction. The fifth insulating layer surface 145 is a surface of the third insulating layer portion 133 that faces the side away from the second insulating layer portion 132 in a direction perpendicular to the z direction, and extends along the z direction. The insulating layer fourth surface 144 is interposed between the insulating layer third surface 143 and the insulating layer fifth surface 145 and is configured by a convex curved surface. The insulating layer sixth surface 146 is interposed between the insulating layer fifth surface 145 and the substrate surface 111 and is in contact with the substrate surface 111 . The insulating layer fifth surface 145 is configured by a convex curved surface that is obliquely downwardly convex. The boundary between the insulating layer fifth surface 145 and the base material surface 111 is located closer to the base material third side surface 115 than the insulating layer fifth surface 145 when viewed in the z direction.

絶縁層第7面147および絶縁層第8面148は、絶縁層第1部131のうちz方向他方側(図中下側)に位置する面である。絶縁層第7面147は、z方向視において基材第3側面115から離間しており、絶縁層第1側面171と絶縁層第2側面172との境界に接している。図示された例においては、絶縁層第1側面171は、基材裏面112よりもz方向一方側に位置している。絶縁層第8面148は、絶縁層第7面147と基材第3側面115との間に介在している。図示された例においては、絶縁層第7面147は、絶縁層第8面148に対してz方向他方側に位置している。また、絶縁層第8面148は、絶縁層第7面147よりも曲率が小さい凸曲面である。絶縁層第8面148と基材第3側面115との境界は、絶縁層第7面147と絶縁層第8面148との境界よりもz方向一方側に位置している。 The insulating layer seventh surface 147 and the insulating layer eighth surface 148 are surfaces of the insulating layer first portion 131 located on the other side in the z direction (lower side in the drawing). The insulating layer seventh surface 147 is separated from the substrate third side surface 115 when viewed in the z direction, and is in contact with the boundary between the insulating layer first side surface 171 and the insulating layer second side surface 172 . In the illustrated example, the insulating layer first side surface 171 is located on one side in the z-direction from the substrate rear surface 112 . The insulating layer eighth surface 148 is interposed between the insulating layer seventh surface 147 and the substrate third side surface 115 . In the illustrated example, the insulating layer seventh surface 147 is positioned on the other side in the z direction with respect to the insulating layer eighth surface 148 . Further, the insulating layer eighth surface 148 is a convex curved surface having a smaller curvature than the insulating layer seventh surface 147 . The boundary between the insulating layer eighth surface 148 and the substrate third side surface 115 is positioned on one side in the z direction from the boundary between the insulating layer seventh surface 147 and the insulating layer eighth surface 148 .

図9に示すように、絶縁層第9面149は、連結部135のうちz方向一方側(図中上側)に位置する面である。絶縁層第9面149は、絶縁層第3面143に繋がっている。絶縁層第9面149は、絶縁層第3面143と比べてxy平面に沿う平坦な面である。 As shown in FIG. 9 , the insulating layer ninth surface 149 is a surface located on one side in the z direction (upper side in the drawing) of the connecting portion 135 . The insulating layer ninth surface 149 is connected to the insulating layer third surface 143 . The insulating layer ninth surface 149 is a flat surface along the xy plane compared to the insulating layer third surface 143 .

図2、図4~図9に示すように、基板1は、4つの絶縁層第1領域161、4つの絶縁層第2領域162、一対の絶縁層第3領域163および一対の絶縁層第4領域164を有する。 As shown in FIGS. 2 and 4-9, the substrate 1 includes four insulating layer first regions 161, four insulating layer second regions 162, a pair of insulating layer third regions 163 and a pair of insulating layer fourth regions. It has a region 164 .

絶縁層第1領域161は、絶縁層13の絶縁層第1面141に含まれる領域であり、本実施形態においては、絶縁層第1側面171、絶縁層第2側面172および絶縁層第1面141が交わる領域である。図示された例においては、絶縁層第1領域161は、z方向視において四半円形状の絶縁層第1部131(絶縁層第1面141)の半径が交わる中心に位置している。 The insulating layer first region 161 is a region included in the insulating layer first surface 141 of the insulating layer 13. In the present embodiment, the insulating layer first side surface 171, the insulating layer second side surface 172, and the insulating layer first surface 141 intersect. In the illustrated example, the insulating layer first region 161 is located at the center where the radii of the quarter-circular insulating layer first portion 131 (insulating layer first surface 141) intersect when viewed in the z direction.

絶縁層第2領域162は、絶縁層第2面142に含まれる領域である。図示された例においては、絶縁層第2領域162は、z方向視において基材第3側面115と重なる領域であり、z方向視において四半円形状である。 The insulating layer second region 162 is a region included in the insulating layer second surface 142 . In the illustrated example, the insulating layer second region 162 is a region that overlaps with the substrate third side surface 115 when viewed in the z direction, and has a quarter circle shape when viewed in the z direction.

絶縁層第3領域163は、基材表面111と基材第2側面114との境界において、y方向視において半導体発光素子2と重なる領域である。図示された例においては、絶縁層第3領域163は、基材表面111と基材第2側面114との境界のx方向中央に位置している。 The insulating layer third region 163 is a region that overlaps the semiconductor light emitting element 2 in the y-direction view at the boundary between the substrate surface 111 and the substrate second side surface 114 . In the illustrated example, the insulating layer third region 163 is located at the center of the boundary between the substrate surface 111 and the substrate second side surface 114 in the x direction.

絶縁層第4領域164は、絶縁層第1側面171のz方向一方側端縁において、x方向視において半導体発光素子2と重なる領域である。図示された例においては、絶縁層第4領域164は、絶縁層第1側面171のz方向一方側端縁のy方向中央に位置している。 The insulating layer fourth region 164 is a region overlapping the semiconductor light emitting element 2 when viewed in the x direction at one z-direction edge of the insulating layer first side surface 171 . In the illustrated example, the insulating layer fourth region 164 is positioned at the y-direction center of the z-direction one side edge of the insulating layer first side surface 171 .

図5、図7および図9に示すように、絶縁層第1領域161は、絶縁層第2領域162よりもz方向他方側に位置している。図示された例においては、絶縁層第1領域161は、導体層12の表面第1部1211の導体層第1面124よりもz方向他方側に位置している。また、図示された例においては、絶縁層第1領域161は、基材11の基材表面111よりもz方向他方側に位置している。 As shown in FIGS. 5, 7, and 9, the insulating layer first region 161 is positioned on the other side in the z direction from the insulating layer second region 162. As shown in FIGS. In the illustrated example, the insulating layer first region 161 is located on the other side in the z direction of the conductor layer first surface 124 of the surface first portion 1211 of the conductor layer 12 . Also, in the illustrated example, the insulating layer first region 161 is located on the other side in the z direction of the substrate surface 111 of the substrate 11 .

半導体発光素子2は、半導体発光装置A1の光源であり、本実施形態においては、素子本体21、第1電極22および第2電極23を有する。素子本体21は、たとえばInGan系半導体等からなる半導体層を有する。第1電極22は、たとえばカソード電極であり、第2電極23は、たとえばアノード電極である。 The semiconductor light emitting element 2 is the light source of the semiconductor light emitting device A1, and has an element body 21, a first electrode 22 and a second electrode 23 in this embodiment. The element body 21 has a semiconductor layer made of, for example, an InGa semiconductor. The first electrode 22 is, for example, a cathode electrode, and the second electrode 23 is, for example, an anode electrode.

本実施形態においては、半導体発光素子2は、導体層12の表面部121の表面第2部1212にたとえば接合材25によって接合されている。接合材25は、たとえばAgペーストやはんだである。 In the present embodiment, the semiconductor light emitting device 2 is bonded to the second surface portion 1212 of the surface portion 121 of the conductor layer 12 with a bonding material 25, for example. The joining material 25 is Ag paste or solder, for example.

第1電極22は、ワイヤ28によって一方の表面第3部1213に接続されている。ワイヤ28は、たとえばAuからなり、ファーストボンディング部281およびセカンドボンディング部282を有する。ファーストボンディング部281は、ワイヤ28のうち表面第3部1213に接合された部位である。セカンドボンディング部282は、ワイヤ28のうち第1電極22に接合された部位である。 The first electrode 22 is connected to one surface third portion 1213 by a wire 28 . The wire 28 is made of Au, for example, and has a first bonding portion 281 and a second bonding portion 282 . The first bonding portion 281 is a portion of the wire 28 that is bonded to the surface third portion 1213 . The second bonding portion 282 is a portion of the wire 28 that is bonded to the first electrode 22 .

第2電極23は、ワイヤ29によって他方の表面第3部1213に接続されている。ワイヤ29は、たとえばAuからなり、ファーストボンディング部291およびセカンドボンディング部292を有する。ファーストボンディング部291は、ワイヤ29のうち表面第3部1213に接合された部位である。セカンドボンディング部292は、ワイヤ29のうち第2電極23に接合された部位である。 The second electrode 23 is connected to the other surface third portion 1213 by a wire 29 . Wire 29 is made of Au, for example, and has a first bonding portion 291 and a second bonding portion 292 . The first bonding portion 291 is a portion of the wire 29 that is bonded to the surface third portion 1213 . The second bonding portion 292 is a portion of the wire 29 that is bonded to the second electrode 23 .

樹脂部3は、半導体発光素子2を覆っており、半導体発光素子2からの光を透過させる材質からなる。本実施形態においては、樹脂部3は、基板1の基材表面111側(z方向一方側)に形成されており、基材表面111、導体層12の表面部121および絶縁層13を覆っている。 The resin portion 3 covers the semiconductor light emitting element 2 and is made of a material that allows the light from the semiconductor light emitting element 2 to pass therethrough. In this embodiment, the resin portion 3 is formed on the substrate surface 111 side (one side in the z direction) of the substrate 1, and covers the substrate surface 111, the surface portion 121 of the conductor layer 12, and the insulating layer 13. there is

樹脂部3の材質は、特に限定されず、半導体発光素子2からの光を透過させる材質であればよく、たとえば透明なエポキシ樹脂やシリコーン樹脂等が適宜選択される。また、本実施形態においては、樹脂部3は、蛍光材料を含む。この蛍光材料は、半導体発光素子2からの光によって励起されることにより、半導体発光素子2からの光とは異なる波長の光を発する。たとえば、半導体発光素子2が青色光を発する場合、蛍光材料は、黄色光を発する。これにより、半導体発光装置A1は、たとえば白色光を発する。 The material of the resin portion 3 is not particularly limited as long as it allows the light from the semiconductor light emitting element 2 to pass therethrough. For example, a transparent epoxy resin, silicone resin, or the like is appropriately selected. Moreover, in the present embodiment, the resin portion 3 contains a fluorescent material. This fluorescent material is excited by the light from the semiconductor light emitting device 2 to emit light of a wavelength different from that of the light from the semiconductor light emitting device 2 . For example, when the semiconductor light emitting element 2 emits blue light, the fluorescent material emits yellow light. Thereby, the semiconductor light emitting device A1 emits, for example, white light.

図1、図4~図9に示すように、本実施形態においては、樹脂部3は、樹脂表面31、一対の樹脂第1側面32および一対の樹脂第2側面33を有する。 As shown in FIGS. 1 and 4 to 9, in this embodiment, the resin portion 3 has a resin surface 31, a pair of resin first side surfaces 32, and a pair of resin second side surfaces 33. As shown in FIGS.

樹脂表面31は、z方向一方側を向く面である。一対の樹脂第1側面32は、互いにx方向に離間しており、本実施形態においては、x方向に直角である面である。図示された例においては、樹脂第1側面32は、基材11の基材第1側面113および絶縁層13の絶縁層第1側面171と面一である。一対の樹脂第2側面33は、互いにy方向に離間しており、本実施形態においては、y方向に直角である面である。図示された例においては、樹脂第2側面33は、基材11の基材第2側面114および絶縁層13の絶縁層第2側面172と面一である。 The resin surface 31 is a surface facing one side in the z direction. The pair of resin first side surfaces 32 are spaced apart from each other in the x direction, and are surfaces perpendicular to the x direction in this embodiment. In the illustrated example, the resin first side surface 32 is flush with the substrate first side surface 113 of the substrate 11 and the insulating layer first side surface 171 of the insulating layer 13 . The pair of resin second side surfaces 33 are spaced apart from each other in the y direction, and are surfaces perpendicular to the y direction in this embodiment. In the illustrated example, the resin second side surface 33 is flush with the base material second side surface 114 of the base material 11 and the insulating layer second side surface 172 of the insulating layer 13 .

樹脂部3は、4つの樹脂第1領域361、4つの樹脂第2領域362、樹脂第3領域363、一対の樹脂第4領域364および一対の樹脂第5領域365を有する。 The resin portion 3 has four first resin regions 361 , four second resin regions 362 , a third resin region 363 , a pair of fourth resin regions 364 and a pair of fifth resin regions 365 .

樹脂第1領域361は、樹脂表面31のうちz方向視において絶縁層第1領域161と重なる領域である。樹脂第2領域362は、樹脂表面31のうちz方向視において絶縁層第2領域162と重なる領域である。絶縁層第1領域161の個数が4であることに対応して、樹脂第1領域361の個数は4である。また、絶縁層第2領域162の個数が4であることに対応して、樹脂第2領域362の個数は4である。 The resin first region 361 is a region of the resin surface 31 that overlaps with the insulating layer first region 161 when viewed in the z direction. The resin second region 362 is a region of the resin surface 31 that overlaps with the insulating layer second region 162 when viewed in the z direction. The number of resin first regions 361 is four corresponding to the number of insulating layer first regions 161 being four. In addition, the number of resin second regions 362 is four corresponding to the number of insulating layer second regions 162 being four.

樹脂第3領域363は、樹脂表面31のうちz方向視において半導体発光素子2と重なる領域である。図示された例においては、樹脂第3領域363は、樹脂表面31の中央に位置している。 The resin third region 363 is a region of the resin surface 31 that overlaps with the semiconductor light emitting element 2 when viewed in the z direction. In the illustrated example, the resin third region 363 is located in the center of the resin surface 31 .

一対の樹脂第4領域364は、樹脂表面31のうちz方向視において一対の絶縁層第3領域163と重なる領域である。図示された例においては、樹脂第4領域364は、樹脂表面31と樹脂第2側面33との境界にあり、x方向略中央に位置している。一対の樹脂第5領域365は、樹脂表面31のうちz方向視において一対の絶縁層第4領域164と重なる領域である。図示された例においては、樹脂第5領域365は、樹脂表面31と樹脂第1側面32との境界にあり、y方向略中央に位置している。 The pair of resin fourth regions 364 are regions of the resin surface 31 that overlap with the pair of insulating layer third regions 163 when viewed in the z direction. In the illustrated example, the fourth resin area 364 is located at the boundary between the resin surface 31 and the resin second side surface 33 and substantially in the center in the x direction. The pair of fifth resin regions 365 are regions of the resin surface 31 that overlap with the pair of fourth insulating layer regions 164 when viewed in the z direction. In the illustrated example, the fifth resin area 365 is located at the boundary between the resin surface 31 and the first resin side surface 32 and substantially in the center in the y direction.

図4~図9に示すように、絶縁層第1領域161と樹脂第1領域361とのz方向における距離である第1距離D1は、絶縁層第2領域162と樹脂第2領域362とのz方向における距離である第2距離D2よりも大きい。絶縁層第3領域163と樹脂第4領域364との距離である第3距離D3は、第1距離D1よりも小さく、第2距離D2よりも大きい。絶縁層第4領域164と樹脂第5領域365との距離である第4距離D4は、第1距離D1よりも小さく、第2距離D2よりも大きい。 As shown in FIGS. 4 to 9, the first distance D1, which is the distance in the z direction between the insulating layer first region 161 and the resin first region 361, is the distance between the insulating layer second region 162 and the resin second region 362. It is greater than the second distance D2, which is the distance in the z-direction. A third distance D3, which is the distance between the insulating layer third region 163 and the resin fourth region 364, is smaller than the first distance D1 and larger than the second distance D2. A fourth distance D4 between the fourth insulating layer region 164 and the fifth resin region 365 is smaller than the first distance D1 and larger than the second distance D2.

図4~図9に示すように、本実施形態においては、樹脂第1領域361は樹脂第2領域362よりもz方向一方側(z方向上側)に位置している。また、樹脂第1領域361および樹脂第2領域362は、樹脂第3領域363よりもz方向一方側(z方向上側)に位置している。これにより、図4に表れる樹脂表面31の断面形状(線形状)は、z方向他方側(z方向下側)に緩やかに凹む曲線である。 As shown in FIGS. 4 to 9, in the present embodiment, the first resin region 361 is located on one side in the z direction (upper side in the z direction) than the second resin region 362. As shown in FIGS. Also, the first resin region 361 and the second resin region 362 are located on one side in the z direction (upper side in the z direction) of the third resin region 363 . As a result, the cross-sectional shape (linear shape) of the resin surface 31 shown in FIG. 4 is a curved line gently recessed toward the other side in the z direction (downward in the z direction).

また、樹脂第1領域361および樹脂第2領域362は、樹脂第4領域364よりもz方向一方側(z方向上側)に位置している。これにより、図6に示すように、樹脂第2側面33の上端縁は、z方向他方側(z方向下側)に緩やかに凹む曲線である。 Also, the first resin region 361 and the second resin region 362 are located on one side in the z direction (upper side in the z direction) of the fourth resin region 364 . As a result, as shown in FIG. 6, the upper edge of the second resin side surface 33 is a curved line gently recessed toward the other side in the z direction (lower side in the z direction).

また、樹脂第1領域361および樹脂第2領域362は、樹脂第5領域365よりもz方向一方側(z方向上側)に位置している。これにより、図8に示すように、樹脂第1側面32の上端縁は、z方向他方側(z方向下側)に緩やかに凹む曲線である。 Also, the first resin region 361 and the second resin region 362 are located on one side in the z direction (upper side in the z direction) of the fifth resin region 365 . As a result, as shown in FIG. 8, the upper edge of the first resin side surface 32 is a curved line gently recessed toward the other side in the z direction (lower side in the z direction).

このように、本実施形態の樹脂表面31は、4つの樹脂第1領域361がz方向一方側に最も位置しており、樹脂第3領域363、一対の樹脂第4領域364および一対の樹脂第5領域365が4つの樹脂第1領域361に対してz方向他方側に位置する曲面である。また、4つの樹脂第2領域362は、z方向において、4つの樹脂第1領域361と樹脂第3領域363、一対の樹脂第4領域364および一対の樹脂第5領域365との間に位置している。 As described above, the resin surface 31 of the present embodiment has the four resin first regions 361 located closest to one side in the z direction, the resin third region 363, the pair of resin fourth regions 364, and the pair of resin third regions. A fifth area 365 is a curved surface located on the other side in the z direction with respect to the four resin first areas 361 . The four second resin regions 362 are located between the four first resin regions 361 and the third resin region 363, the pair of the fourth resin regions 364, and the pair of the fifth resin regions 365 in the z-direction. ing.

次に、半導体発光装置A1の製造方法の一例について、図11~図19を参照しつつ以下に説明する。 Next, an example of a method for manufacturing the semiconductor light emitting device A1 will be described below with reference to FIGS. 11 to 19. FIG.

まず、図11および図12に示す基板材料110を用意する。基板材料110は、複数の基材11となるものであり、複数の基材11がx方向およびy方向にマトリクス状に配置されたものと略同等である。基板材料110には、複数の貫通孔1150が形成されている。貫通孔1150は、基板材料110が切断されることにより、基材第3側面115となる部位である。 First, a substrate material 110 shown in FIGS. 11 and 12 is prepared. The substrate material 110 serves as a plurality of base materials 11, and is substantially equivalent to a plurality of base materials 11 arranged in a matrix in the x and y directions. A plurality of through holes 1150 are formed in the substrate material 110 . The through-hole 1150 is a portion that becomes the substrate third side surface 115 by cutting the substrate material 110 .

基板材料110には、導体層120および絶縁層130が形成されている。導体層120は、上述した導体層12の各部となるべき部位を有している。絶縁層130は、上述した絶縁層13の各部となるべき部位を有している。導体層120は、たとえばメッキによって形成される。絶縁層130は、たとえばシート状(フィルム状)のソルダーレジストを基板材料110に圧着することにより形成されている。 A conductor layer 120 and an insulating layer 130 are formed on the substrate material 110 . The conductor layer 120 has portions that are to become the respective portions of the conductor layer 12 described above. The insulating layer 130 has portions to be the respective portions of the insulating layer 13 described above. Conductive layer 120 is formed by plating, for example. The insulating layer 130 is formed, for example, by pressing a sheet-like (film-like) solder resist onto the substrate material 110 .

図12に示すように、絶縁層130の絶縁層第1部131は、貫通孔1150を塞いでいる。上述の圧着により、絶縁層第2部132は、絶縁層第1部131よりも薄い部位となっている。絶縁層第1部131は、厚さが概ね一定であり、xy平面に沿った平板形状である。 As shown in FIG. 12 , the insulating layer first portion 131 of the insulating layer 130 closes the through hole 1150 . Due to the crimping described above, the second insulating layer portion 132 is made thinner than the first insulating layer portion 131 . The insulating layer first portion 131 has a substantially constant thickness and has a flat plate shape along the xy plane.

次に、図13および図14に示すように、複数の半導体発光素子2をボンディングする。このボンディングは、半導体発光素子2の素子本体21を導体層120の表面第2部1212に接合材25によって接合することにより行う。また、素子本体21の第1電極22よび第2電極23と一対の表面第3部1213とをワイヤ28およびワイヤ29によって接続する。 Next, as shown in FIGS. 13 and 14, a plurality of semiconductor light emitting devices 2 are bonded. This bonding is performed by bonding the element body 21 of the semiconductor light emitting element 2 to the surface second portion 1212 of the conductor layer 120 with the bonding material 25 . Also, the first electrode 22 and the second electrode 23 of the element body 21 and the pair of surface third portions 1213 are connected by wires 28 and 29 .

次いで、図14に示すように、金型71をセットする。金型71は、基板材料110の基材表面111との間に樹脂成形のためのキャビティを構成するためのものである。 Next, as shown in FIG. 14, a mold 71 is set. The mold 71 is for constructing a cavity for resin molding between the substrate surface 111 of the substrate material 110 and the mold 71 .

次いで、図15に示すように、金型71のキャビティに樹脂材料を充填する。この際、比較的高温である樹脂材料によって絶縁層130が熱せられ軟化する。そして樹脂材料の充填圧が軟化した絶縁層130に作用する。これにより、絶縁層130の絶縁層第1部131がz方向他方側(z方向下側)に膨出するように変形される。これにより、絶縁層第1部131と金型71とが離間する。同図においては、絶縁層第1部131のうち金型71と最も離間した部位と金型71とのz方向における距離である距離D0は、上述した第2距離D2よりも大である。また、図示された例においては、絶縁層第1部131は、上面の一部が基材表面111よりもz方向他方側に位置する程度に変形している。樹脂材料が硬化することにより、樹脂材料30が形成される。 Next, as shown in FIG. 15, the cavity of the mold 71 is filled with a resin material. At this time, the insulating layer 130 is heated and softened by the relatively high temperature resin material. Then, the filling pressure of the resin material acts on the softened insulating layer 130 . As a result, the insulating layer first portion 131 of the insulating layer 130 is deformed so as to swell toward the other side in the z direction (downward in the z direction). Thereby, the insulating layer first part 131 and the mold 71 are separated from each other. In the figure, the distance D0, which is the distance in the z direction between the mold 71 and the portion of the insulating layer first portion 131 that is the farthest away from the mold 71, is greater than the above-described second distance D2. Also, in the illustrated example, the insulating layer first portion 131 is deformed to such an extent that a portion of the upper surface thereof is located on the other side in the z direction with respect to the substrate surface 111 . The resin material 30 is formed by curing the resin material.

樹脂材料の充填が終了すると、図16および図17に示すように、金型71を取り除く。図17は、金型71を取り除いた直後の状態に相当する。この状態では、樹脂材料30および絶縁層130は、常温等の環境温度に対して相対的に高い温度である。樹脂材料30の樹脂表面31は、金型71の形状を引き継いでおり、xy平面に広がる平坦な面である。 When the filling of the resin material is completed, the mold 71 is removed as shown in FIGS. 16 and 17. FIG. FIG. 17 corresponds to the state immediately after the mold 71 is removed. In this state, the temperature of the resin material 30 and the insulating layer 130 is relatively high with respect to the environmental temperature such as room temperature. A resin surface 31 of the resin material 30 inherits the shape of the mold 71 and is a flat surface extending in the xy plane.

この状態から、樹脂材料30および絶縁層130が冷却されるにつれて、絶縁層130の硬度が復帰し始める。この再硬化により、z方向他方側に膨出する形状に変形していた絶縁層第1部131が、xy平面に沿う平坦な形状に復帰する挙動を示す。これにより、樹脂材料30のうちz方向視において絶縁層第1部131に重なる部位およびその周辺部位が、z方向一方側(上側)に押し上げられる。この結果、樹脂材料30の樹脂表面31は、z方向視において絶縁層第1部131(基材第3側面1151)と重なる部位が周辺部位よりもz方向一方側に膨らんだ、曲面形状となる。 From this state, as the resin material 30 and the insulating layer 130 are cooled, the hardness of the insulating layer 130 begins to recover. Due to this re-curing, the insulating layer first part 131, which has been deformed into a shape that bulges out in the other z direction, exhibits behavior of returning to a flat shape along the xy plane. As a result, the portion of the resin material 30 that overlaps the insulating layer first portion 131 and its peripheral portion when viewed in the z direction are pushed up to one side (upper side) in the z direction. As a result, the resin surface 31 of the resin material 30 has a curved shape in which a portion overlapping the insulating layer first portion 131 (substrate third side surface 1151) swells to one side in the z direction as viewed in the z direction than the surrounding portions. .

この後は、たとえば、図中の切断線Cxおよび切断線Cyに沿って、基板材料110、導体層120、絶縁層130および樹脂材料30を切断する。これにより、複数の半導体発光装置A1が得られる。 After that, the substrate material 110, the conductor layer 120, the insulating layer 130 and the resin material 30 are cut, for example, along the cutting lines Cx and Cy in the drawing. Thereby, a plurality of semiconductor light emitting devices A1 are obtained.

次に、半導体発光装置A1の作用について説明する。 Next, the operation of the semiconductor light emitting device A1 will be described.

本実施形態によれば、図4~図9に示すように、第1距離D1が第2距離D2よりも大きい構成となっている。この種の半導体発光装置の発光試験の結果、第1距離D1を有する部分が半導体発光素子2に対して第2距離D2よりも遠い位置にあると、半導体発光装置A1のz方向視における中央部分と端部分とにおける光Lの色合いが、より均一化されるという現象を見出した。したがって、半導体発光装置A1によれば、色合いのばらつきを抑制することができる。 According to this embodiment, as shown in FIGS. 4 to 9, the first distance D1 is longer than the second distance D2. As a result of a light emission test of this type of semiconductor light emitting device, when the portion having the first distance D1 is located farther than the second distance D2 from the semiconductor light emitting element 2, the central portion of the semiconductor light emitting device A1 as viewed in the z direction The inventors have found a phenomenon that the color tone of the light L at the edge portion and the edge portion is more uniform. Therefore, according to the semiconductor light emitting device A1, it is possible to suppress variations in color tone.

樹脂部3には、蛍光材料が含まれており、半導体発光素子2からの光を拡散させつつ透過させる。樹脂部3のうち第1距離D1である部分は、半導体発光素子2に対してz方向視において端側に配置されている。半導体発光素子2からこの部分に進行してきた光は、z方向に対して大きく傾くか、z方向に対して直角に近い角度で進行してくる。樹脂部3の端側に第1距離D1である部分が設けられていることにより、このような光を拡散させ、z方向一方側へと向かわせる効果が期待できる。これは、半導体発光装置A1の高輝度化に好ましい。 The resin portion 3 contains a fluorescent material, and diffuses and transmits the light from the semiconductor light emitting element 2 . A portion of the resin portion 3 that is the first distance D1 is arranged on the end side of the semiconductor light emitting element 2 when viewed in the z direction. The light traveling from the semiconductor light emitting element 2 to this portion is largely inclined with respect to the z-direction or travels at an angle close to a right angle with respect to the z-direction. By providing the portion having the first distance D1 on the end side of the resin portion 3, the effect of diffusing such light and directing it to one side in the z direction can be expected. This is preferable for increasing the luminance of the semiconductor light emitting device A1.

本実施形態においては、樹脂第1領域361は、樹脂第3領域363よりもz方向一方側に位置している。これにより、樹脂表面31は、基材第3側面115が設けられた部分に対して半導体発光素子2が位置する中央寄り部分が凹んだ形状となる。これにより、図4および図5に示すように、樹脂部3から出射する光Lを樹脂表面31によって屈折させ、z方向一方側への指向性を高めることができる。 In the present embodiment, the first resin region 361 is located on one side in the z direction relative to the third resin region 363 . As a result, the resin surface 31 has a shape in which the central portion where the semiconductor light emitting element 2 is positioned is recessed with respect to the portion where the substrate third side surface 115 is provided. Thereby, as shown in FIGS. 4 and 5, the light L emitted from the resin portion 3 is refracted by the resin surface 31, and the directivity to one side in the z direction can be enhanced.

図20は、半導体発光装置A1の使用例を示している。本例においては、回路基板等への半導体発光装置A1の搭載に備えて、収容体8を用いて複数の半導体発光装置A1が搬送や保管される。収容体8は、ケース81およびシート82を有する。ケース81は、複数の凹部811を有している。凹部811は、半導体発光装置A1を収容可能な大きさおよび形状とされている。シート82は、ケース81に剥離可能に取り付けられており、複数の凹部811を塞いでいる。 FIG. 20 shows a usage example of the semiconductor light emitting device A1. In this example, a plurality of semiconductor light-emitting devices A1 are transported or stored using a container 8 in preparation for mounting the semiconductor light-emitting devices A1 on a circuit board or the like. The container 8 has a case 81 and a sheet 82 . Case 81 has a plurality of recesses 811 . The concave portion 811 has a size and shape that can accommodate the semiconductor light emitting device A1. The sheet 82 is detachably attached to the case 81 and closes the recesses 811 .

収容体8によって複数の半導体発光装置A1を運送や保管する場合、図中において最も左側に例示された半導体発光装置A1のように、凹部811の底部に接した状態をとったり、図中中央に例示された半導体発光装置A1のように、シート82に近接した状態をとったりする。仮に、樹脂部3の樹脂表面31が平坦な形状であると、シート82に近接した際に、シート82に樹脂表面31が密着する可能性がある。半導体発光装置A1を取り出す際には、図中において最も右側に例示された半導体発光装置A1のように、シート82が剥離され、凹部811が開封される。この際、半導体発光装置A1がシート82に張り付いていると、半導体発光装置A1の取り出しを適切に行うことが困難となる。特に、半導体発光装置A1を装置等によって自動的に取り出す場合、動作エラーの原因となる。 When a plurality of semiconductor light emitting devices A1 are transported or stored in the container 8, they may be in contact with the bottom of the concave portion 811, as illustrated in the leftmost semiconductor light emitting device A1 in the drawing, or may be in contact with the bottom of the recess 811, as illustrated in the center of the drawing. It is close to the sheet 82 like the semiconductor light emitting device A1 shown in FIG. If the resin surface 31 of the resin portion 3 has a flat shape, the resin surface 31 may come into close contact with the sheet 82 when the sheet 82 is approached. When the semiconductor light emitting device A1 is taken out, the sheet 82 is peeled off and the recess 811 is opened like the semiconductor light emitting device A1 illustrated on the rightmost side in the figure. At this time, if the semiconductor light emitting device A1 is stuck to the sheet 82, it becomes difficult to properly take out the semiconductor light emitting device A1. In particular, when the semiconductor light emitting device A1 is automatically taken out by a device or the like, it causes an operation error.

本実施形態によれば、樹脂部3の樹脂表面31は、樹脂第3領域363に対して樹脂第1領域361が上方に位置する形状である。また、図6および図8に示すように、樹脂第1領域361に対して樹脂第4領域364および樹脂第5領域365が下方に位置する形状である。このため、樹脂第3領域363、一対の樹脂第4領域364および一対の樹脂第5領域365とシート82との間に空間が形成される。この空間は密閉構造とはならないため、樹脂表面31がシート82に密着することを回避することが可能である。したがって、半導体発光装置A1の取り出しを適切に行うことができる。 According to the present embodiment, the resin surface 31 of the resin portion 3 has a shape in which the first resin region 361 is located above the third resin region 363 . Moreover, as shown in FIGS. 6 and 8 , the shape is such that the fourth resin region 364 and the fifth resin region 365 are positioned below the first resin region 361 . Therefore, spaces are formed between the third resin region 363 , the pair of fourth resin regions 364 and the pair of fifth resin regions 365 and the sheet 82 . Since this space does not have a closed structure, it is possible to prevent the resin surface 31 from adhering to the sheet 82 . Therefore, the semiconductor light emitting device A1 can be taken out appropriately.

本実施形態においては、z方向視における四隅に基材第3側面115が設けられており、対応する四隅に樹脂第1領域361が設けられている。このような構成は、色合いのばらつき抑制や適切な取り出しに好ましい。 In this embodiment, the substrate third side surfaces 115 are provided at the four corners when viewed in the z direction, and the resin first regions 361 are provided at the corresponding four corners. Such a configuration is preferable for suppression of variations in color tone and appropriate extraction.

樹脂部3の一対の樹脂第1側面32および一対の樹脂第2側面33は、基材11の一対の基材第1側面113および一対の基材第2側面114と面一である。すなわち、樹脂部3は、z方向視において基材11のすべてと重なる構成である。これにより、樹脂部3の体積を増大させることが可能であり、基材11の大きさに対してより大きなサイズの半導体発光素子2を設けることができる。本実施形態においては、半導体発光素子2には、ワイヤ28およびワイヤ29が接続されている。x方向において互いに反対側に延出するワイヤ28およびワイヤ29を樹脂部3によって適切に覆いつつ、半導体発光装置A1の小型化を図ることができる。 The pair of resin first side surfaces 32 and the pair of resin second side surfaces 33 of the resin portion 3 are flush with the pair of base material first side surfaces 113 and the pair of base material second side surfaces 114 of the base material 11 . That is, the resin portion 3 is configured to overlap the entire base material 11 when viewed in the z direction. As a result, the volume of the resin portion 3 can be increased, and the semiconductor light emitting element 2 having a size larger than the size of the base material 11 can be provided. In this embodiment, wires 28 and 29 are connected to the semiconductor light emitting device 2 . The size of the semiconductor light emitting device A1 can be reduced while appropriately covering the wire 28 and the wire 29 extending on opposite sides in the x direction with the resin portion 3 .

図5に示すように、絶縁層第1領域161が基材表面111よりもz方向他方側に位置することにより、第1距離D1をより大きく確保しつつ、半導体発光装置A1のz方向寸法が過大になることを抑制することができる。 As shown in FIG. 5, the insulating layer first region 161 is located on the other side in the z direction of the substrate surface 111, thereby ensuring a larger first distance D1 and increasing the z-direction dimension of the semiconductor light emitting device A1. Excessive size can be suppressed.

絶縁層第1部131は、基材11によって支持されていない部分である。絶縁層第1部131の厚さは、絶縁層第2部132の厚さよりも厚い。このため、基材11によって支持されていなくても、半導体発光装置A1の製造過程等において絶縁層第1部131が誤って破損することを防止することができる。また、絶縁層第2部132の厚さが薄いことにより、半導体発光装置A1のz方向寸法を縮小しつつ、半導体発光素子2から絶縁層第2領域162および樹脂第2領域362を超えて絶縁層第1領域161および樹脂第1領域361へと光Lを向かわせることができる。 The first insulating layer portion 131 is a portion not supported by the base material 11 . The thickness of the first insulating layer portion 131 is greater than the thickness of the second insulating layer portion 132 . Therefore, even if it is not supported by the base material 11, it is possible to prevent the insulating layer first portion 131 from being accidentally damaged during the manufacturing process of the semiconductor light emitting device A1 or the like. In addition, since the thickness of the second insulating layer portion 132 is thin, the z-direction dimension of the semiconductor light emitting device A1 is reduced, and at the same time, it is insulated from the semiconductor light emitting element 2 beyond the insulating layer second region 162 and the resin second region 362. Light L can be directed to layer first region 161 and resin first region 361 .

絶縁層13は、絶縁層第3部133を有している。絶縁層第3部133は、基材11の基材表面111に直接接合されている。一般的に、樹脂等からなる絶縁層13は、金属からなる導体層12よりも樹脂等の絶縁性材料からなる基材11との接合強度が高い。このため、絶縁層第3部133によって、絶縁層13が基材11から剥離することを抑制することができる。 The insulating layer 13 has a third insulating layer portion 133 . The insulating layer third part 133 is directly bonded to the substrate surface 111 of the substrate 11 . In general, the insulating layer 13 made of resin or the like has higher bonding strength with the substrate 11 made of an insulating material such as resin than the conductor layer 12 made of metal. Therefore, the third insulating layer portion 133 can prevent the insulating layer 13 from peeling off from the base material 11 .

絶縁層第6面146は、基材11の基材表面111に向かうほど内方に回り込むような形状の曲面である。このため、絶縁層第6面146と基材表面111との間には、樹脂部3の一部が入り込む。これにより、樹脂部3が基材11の基材表面111から離間する挙動を抑制することができる。特に、絶縁層第3部133は、基材11への接合強度が高い部位であるため、樹脂部3の離間を抑制するのに適している。 The insulating layer sixth surface 146 is a curved surface with a shape that wraps inward toward the substrate surface 111 of the substrate 11 . Therefore, part of the resin portion 3 enters between the insulating layer sixth surface 146 and the substrate surface 111 . As a result, the resin portion 3 can be prevented from moving away from the substrate surface 111 of the substrate 11 . In particular, the insulating layer third portion 133 is a portion having high bonding strength to the base material 11, and is therefore suitable for suppressing separation of the resin portion 3. As shown in FIG.

絶縁層第8面148は、基材第3側面115に向かうほどz方向一方側に位置する曲面である。これにより、基材第3側面115のより大きい領域を絶縁層13から露出させることができる。これにより、半導体発光装置A1を回路基板等に実装する際に、はんだを裏面第1部1221に加えて基材第3側面115のより大きい領域に付着させることが可能であり、実装強度を高めることができる。 The insulating layer eighth surface 148 is a curved surface located on one side in the z direction toward the substrate third side surface 115 . This allows a larger area of the substrate third side surface 115 to be exposed from the insulating layer 13 . As a result, when the semiconductor light emitting device A1 is mounted on a circuit board or the like, the solder can be attached to a larger area of the substrate third side surface 115 in addition to the back surface first portion 1221, thereby increasing the mounting strength. be able to.

表面第1部1211の厚さは、絶縁層第2部132の厚さよりも薄い。これにより、半導体発光装置A1のz方向寸法を縮小することができる。また、絶縁層第2部132があまりに薄いと、意図せず表面第1部1211を露出させるおそれがある。本実施形態によればこのような事態を回避することができる。 The thickness of the surface first portion 1211 is thinner than the thickness of the insulating layer second portion 132 . Thereby, the z-direction dimension of the semiconductor light emitting device A1 can be reduced. In addition, if the insulating layer second part 132 is too thin, the surface first part 1211 may be unintentionally exposed. According to this embodiment, such a situation can be avoided.

図11~図19に示した製造方法によれば、平坦な形状を有する金型71を用いて、樹脂第1領域361、樹脂第2領域362、樹脂第3領域363、樹脂第4領域364および樹脂第5領域365を有する曲面の樹脂表面31を形成することが可能である。このため、樹脂表面31に対応した曲面形状の金型71を用意する必要がない。また、樹脂表面31を曲面に形成するための機械加工等を行う必要がない。これは、半導体発光装置A1の製造効率を高めるのに適している。なお、本実施形態とはことなり、機械加工等によって樹脂表面31を曲面に仕上げてもよい。また、図17に示す状態で硬化した場合、樹脂表面31は、本実施形態とは異なり平坦な形状となる。このような構成であっても、第1距離D1が第2距離D2よりも大きいことにより、色合いのばらつきを抑制する効果が期待できる。 According to the manufacturing method shown in FIGS. 11 to 19, using the mold 71 having a flat shape, the first resin region 361, the second resin region 362, the third resin region 363, the fourth resin region 364 and the It is possible to form a curved resin surface 31 with a resin fifth region 365 . Therefore, it is not necessary to prepare a curved mold 71 corresponding to the resin surface 31 . In addition, there is no need to perform machining or the like for forming the resin surface 31 into a curved surface. This is suitable for increasing the manufacturing efficiency of the semiconductor light emitting device A1. In addition, unlike the present embodiment, the resin surface 31 may be finished into a curved surface by machining or the like. Moreover, when cured in the state shown in FIG. 17, the resin surface 31 has a flat shape unlike the present embodiment. Even with such a configuration, the effect of suppressing variations in color tone can be expected because the first distance D1 is longer than the second distance D2.

図21~図28は、本開示の変形例および他の実施形態を示している。なお、これらの図において、上記実施形態と同一または類似の要素には、上記実施形態と同一の符号を付している。 Figures 21-28 illustrate variations and other embodiments of the present disclosure. In these figures, the same or similar elements as in the above embodiment are denoted by the same reference numerals as in the above embodiment.

<第1実施形態 第1変形例>
図21は、半導体発光装置A1の第1変形例を示している。本変形例の半導体発光装置A11は、絶縁層第1領域161のz方向における相対位置が、上述した例と異なっている。
<First embodiment, first modification>
FIG. 21 shows a first modification of the semiconductor light emitting device A1. The semiconductor light emitting device A11 of this modified example differs from the example described above in the relative position of the insulating layer first region 161 in the z direction.

本変形例においては、絶縁層第1領域161は、基材11の基材表面111よりもz方向一方側に位置しており、z方向において基材表面111と表面第1部1211の導体層第1面124との間に位置している。また、これに対応して、本例の樹脂第1領域361は、上述した例よりも基材表面111からz方向一方側にさらに離間している。 In this modification, the insulating layer first region 161 is located on one side in the z direction of the substrate surface 111 of the substrate 11, and the conductor layer of the substrate surface 111 and the surface first portion 1211 in the z direction. It is positioned between the first surface 124 and the first surface 124 . Corresponding to this, the resin first region 361 of this example is further spaced from the base material surface 111 to one side in the z direction than the example described above.

本変形例によれば、上述した例における効果に加えて、樹脂第1領域361を樹脂第3領域363に対してよりz方向一方側に位置させつつ、半導体発光装置A1のz方向寸法が大きくなり過ぎることを抑制することができる。 According to this modification, in addition to the effects of the above-described example, the first resin region 361 is located on one side in the z direction with respect to the third resin region 363, and the dimension of the semiconductor light emitting device A1 in the z direction is increased. You can prevent it from becoming too much.

<第1実施形態 第2変形例>
図22は、半導体発光装置A1の第2変形例を示している。本変形例の半導体発光装置A12は、絶縁層第1領域161のz方向における相対位置が、上述した例と異なっている。
<First Embodiment, Second Modification>
FIG. 22 shows a second modification of the semiconductor light emitting device A1. The semiconductor light emitting device A12 of this modified example differs from the example described above in the relative position of the insulating layer first region 161 in the z direction.

本変形例においては、絶縁層第1領域161は、表面第1部1211の導体層第1面124よりもz方向一方側に位置している。また、絶縁層第1領域161は、z方向において導体層第1面124と絶縁層第2領域162との間に位置している。また、これに対応して、本例の樹脂第1領域361は、上述した例よりも基材表面111からz方向一方側にさらに離間している。 In this modification, the insulating layer first region 161 is located on one side in the z direction of the conductor layer first surface 124 of the first surface portion 1211 . The insulating layer first region 161 is located between the conductor layer first surface 124 and the insulating layer second region 162 in the z-direction. Corresponding to this, the resin first region 361 of this example is further spaced from the base material surface 111 to one side in the z direction than the example described above.

本変形例によれば、上述した例における効果に加えて、樹脂第1領域361を樹脂第3領域363に対してよりz方向一方側へと位置させることが可能であり、光Lの指向性を高めるのに好ましい。 According to this modified example, in addition to the effects of the above-described example, it is possible to position the first resin region 361 on one side in the z direction with respect to the third resin region 363, and the directivity of the light L is It is preferable to increase

<第1実施形態 第3変形例>
図23は、半導体発光装置A1の第3変形例を示している。本変形例の半導体発光装置A13は、絶縁層第1領域161のz方向における相対位置が、上述した例と異なっている。
<Third Modification of First Embodiment>
FIG. 23 shows a third modification of the semiconductor light emitting device A1. The semiconductor light emitting device A13 of this modified example differs from the example described above in the relative position of the insulating layer first region 161 in the z direction.

本変形例においては、絶縁層第1領域161は、絶縁層第2領域162よりもz方向一方側に位置している。また、これに対応して、本例の樹脂第1領域361は、上述した例よりも基材表面111からz方向一方側にさらに離間している。 In this modified example, the insulating layer first region 161 is located on one side in the z direction of the insulating layer second region 162 . Corresponding to this, the resin first region 361 of this example is further spaced from the base material surface 111 to one side in the z direction than the example described above.

本変形例によれば、上述した例における効果に加えて、樹脂第1領域361を樹脂第3領域363に対してさらにz方向一方側へと位置させることが可能であり、光Lの指向性を高めるのに好適である。 According to this modified example, in addition to the effects of the above-described example, the first resin region 361 can be further positioned on one side in the z direction with respect to the third resin region 363, and the directivity of the light L is suitable for increasing

<第1実施形態 第4変形例>
図24は、半導体発光装置A1の第4変形例を示している。本変形例の半導体発光装置A14は、絶縁層13の構成が、上述した例と異なっている。
<First Embodiment Fourth Modification>
FIG. 24 shows a fourth modification of the semiconductor light emitting device A1. The semiconductor light emitting device A14 of this modified example differs from the example described above in the configuration of the insulating layer 13 .

本変形例においては、絶縁層13に上述した例の連結部135が設けられていない。このため、y方向両側に位置する2つの絶縁層第3部133は、連結されておらず、互いに離れている。 In this modification, the insulating layer 13 is not provided with the connecting portion 135 of the example described above. Therefore, the two insulating layer third portions 133 located on both sides in the y direction are not connected and are separated from each other.

本変形例によっても、上述した例における効果と同様の効果を奏することができる。 This modified example can also achieve the same effects as those of the above-described example.

<第2実施形態>
図25および図26は、本開示の第2実施形態に係る半導体発光装置を示している。本実施形態の半導体発光装置A2は、主に、基材第3側面115の個数、位置および形状が、上述した実施形態と異なっている。図25においては、理解の便宜上、樹脂部3を省略している。
<Second embodiment>
25 and 26 show a semiconductor light emitting device according to a second embodiment of the present disclosure. The semiconductor light-emitting device A2 of this embodiment differs from the above-described embodiments mainly in the number, position and shape of the third side surface 115 of the substrate. In FIG. 25, the resin portion 3 is omitted for convenience of understanding.

本実施形態においては、基材第3側面115の個数は、2である。すなわち、一対の基材第3側面115が、x方向に互いに離間して設けられている。基材第3側面115は、基材11のy方向略中央に形成されている。基材第3側面115のz方向視形状は、略半円形状である。 In this embodiment, the number of substrate third side surfaces 115 is two. That is, the pair of base material third side surfaces 115 are provided apart from each other in the x direction. The substrate third side surface 115 is formed substantially at the center of the substrate 11 in the y direction. The shape of the third side surface 115 of the substrate when viewed in the z-direction is substantially semicircular.

基材第3側面115の位置および形状に対応して、絶縁層13の絶縁層第1部131および絶縁層第2部132は、基材11のy方向略中央に位置している。また、絶縁層第1部131のz方向視形状は、略半円形状であり、絶縁層第2部132のz方向視形状は、略半円環形状である。 The first insulating layer portion 131 and the second insulating layer portion 132 of the insulating layer 13 are positioned substantially at the center of the base material 11 in the y direction, corresponding to the position and shape of the third side surface 115 of the base material. The shape of the first insulating layer portion 131 in the z direction is substantially semicircular, and the shape of the second insulating layer portion 132 in the z direction is substantially semicircular.

一対の絶縁層第1領域161は、基板1のx方向両端にあり、y方向略中央に位置している。絶縁層第2領域162は、z方向視において半円形状である。 The pair of insulating layer first regions 161 are located at both ends of the substrate 1 in the x direction and approximately in the center in the y direction. The insulating layer second region 162 has a semicircular shape when viewed in the z direction.

半導体発光素子2は、第1電極22と第2電極23とが、素子本体21のz方向上下面に分かれて設けられている。第1電極22は、導電性の接合材25によって表面部121に接合されている。第2電極23には、ワイヤ29が接続されている。 In the semiconductor light emitting device 2, the first electrode 22 and the second electrode 23 are separately provided on the upper and lower surfaces of the device main body 21 in the z direction. The first electrode 22 is bonded to the surface portion 121 with a conductive bonding material 25 . A wire 29 is connected to the second electrode 23 .

本実施形態における第1距離D1、第2距離D2、第3距離D3および第4距離D4の大小関係は、半導体発光装置A1と同様である。また、一対の樹脂第1領域361、一対の樹脂第2領域362および樹脂第3領域363のz方向における相対位置は、半導体発光装置A1と同様である。 The magnitude relationships among the first distance D1, the second distance D2, the third distance D3, and the fourth distance D4 in this embodiment are the same as those of the semiconductor light emitting device A1. Also, the relative positions in the z-direction of the pair of first resin regions 361, the pair of second resin regions 362 and the third resin region 363 are the same as in the semiconductor light emitting device A1.

本実施形態によっても、色合いのばらつきを抑制することができる。また、本実施形態から理解されるように、基材11における基材第3側面115の位置や個数は特に限定されない。 Variation in color tone can also be suppressed according to the present embodiment. Moreover, as understood from this embodiment, the position and the number of the substrate third side surfaces 115 on the substrate 11 are not particularly limited.

<第3実施形態>
図27および図28は、本開示の第3実施形態に係る半導体発光装置を示している。本実施形態の半導体発光装置A3は、z方向視において樹脂部3が基材第3側面115と重ならない構成とされている。図27においては、理解の便宜上、樹脂部3を想像線で示している。
<Third Embodiment>
27 and 28 show a semiconductor light emitting device according to a third embodiment of the present disclosure. The semiconductor light-emitting device A3 of this embodiment is configured such that the resin portion 3 does not overlap the substrate third side surface 115 when viewed in the z direction. In FIG. 27, the resin portion 3 is indicated by imaginary lines for convenience of understanding.

本実施形態の基材11は、半導体発光装置A1の基材11と略同じ構成である。樹脂部3の一対の樹脂第1側面32は、基材11の一対の基材第1側面113および4つの基材第3側面115に対してx方向内方に位置している。一対の樹脂第1側面32は、z方向一方側に向かうほど互いの距離が小さくなるようにz方向に対して傾いている。一対の樹脂第2側面33は、基材11の一対の基材第2側面114と面一である。 The base material 11 of this embodiment has substantially the same configuration as the base material 11 of the semiconductor light emitting device A1. The pair of resin first side surfaces 32 of the resin portion 3 are located inside the pair of base material first side surfaces 113 and the four base material third side surfaces 115 of the base material 11 in the x direction. The pair of resin first side surfaces 32 are inclined with respect to the z direction so that the distance between them decreases toward one side in the z direction. The pair of resin second side surfaces 33 are flush with the pair of base material second side surfaces 114 of the base material 11 .

半導体発光素子2は、たとえば半導体発光装置A2と同様の構成である。表面第2部1212と1つの表面第1部1211とが、連結部1215によって連結されている。連結部1214は、隣り合う表面第1部1211どうしを連結している。表面第3部1213は、連結部1215によって1つの表面第1部1211に連結されている。 The semiconductor light emitting element 2 has, for example, the same configuration as the semiconductor light emitting device A2. The second surface portion 1212 and one first surface portion 1211 are connected by a connecting portion 1215 . The connecting portion 1214 connects the adjacent first surface portions 1211 to each other. The third surface portion 1213 is connected to one first surface portion 1211 by a connecting portion 1215 .

本実施形態においては、基板1は、一対の絶縁層第7領域167および絶縁層第8領域168を有する。一対の絶縁層第7領域167は、基材表面111のうち樹脂部3の一対の樹脂第1側面32が接する領域であり、y方向に長く延びる線状の領域である。絶縁層第8領域168は、x方向において一対の絶縁層第7領域167の間に位置しており、y方向に長く延びる線状の領域である。図示された例においては、絶縁層第8領域168は、A3のx方向略中央に位置している。 In this embodiment, the substrate 1 has a pair of insulating layer seventh region 167 and insulating layer eighth region 168 . The pair of insulating layer seventh regions 167 are regions where the pair of resin first side surfaces 32 of the resin portion 3 are in contact with each other on the substrate surface 111, and are linear regions extending long in the y direction. The eighth insulating layer region 168 is located between the pair of seventh insulating layer regions 167 in the x direction and is a linear region elongated in the y direction. In the illustrated example, the insulating layer eighth region 168 is positioned substantially at the center of A3 in the x direction.

樹脂部3は、一対の樹脂第7領域367および樹脂第8領域368を有する。一対の樹脂第7領域367は、樹脂表面31と一対の樹脂第1側面32との境界を含む領域であり、y方向に長く延びる線状の領域である。樹脂第8領域368は、z方向視において絶縁層第8領域168と重なる領域であり、y方向に長く延びる線状の領域である。本実施形態においては、絶縁層第7領域167と樹脂第7領域367とのz方向における距離である第7距離D7は、絶縁層第8領域168と樹脂第8領域368とのz方向における距離である第8距離D8よりも大きい。また、一対の樹脂第7領域367は、樹脂第8領域368よりもz方向一方側に位置している。樹脂部3のy方向に直角である断面形状は一定である。すなわち、樹脂表面31は、y方向に延びる比較的浅い溝曲面である。 The resin portion 3 has a pair of a seventh resin region 367 and an eighth resin region 368 . The pair of seventh resin regions 367 is a region including the boundary between the resin surface 31 and the pair of resin first side surfaces 32, and is a linear region elongated in the y direction. The eighth resin region 368 is a region that overlaps with the eighth insulating layer region 168 when viewed in the z direction, and is a linear region that extends long in the y direction. In the present embodiment, the seventh distance D7, which is the distance in the z direction between the seventh insulating layer region 167 and the seventh resin region 367, is the distance in the z direction between the eighth insulating layer region 168 and the eighth resin region 368. is greater than the eighth distance D8. In addition, the pair of seventh resin regions 367 is located on one side in the z direction relative to the eighth resin region 368 . The cross-sectional shape of the resin portion 3 perpendicular to the y-direction is constant. That is, the resin surface 31 is a relatively shallow grooved curved surface extending in the y direction.

本実施形態によれば、樹脂表面31が溝曲面形状であることにより、図20を参照して説明した使用例において、半導体発光装置A3がシート82に密着してしまうことを回避可能であり、半導体発光装置A3適切に取り出すことができる。 According to this embodiment, since the resin surface 31 has a grooved curved surface shape, it is possible to avoid the semiconductor light emitting device A3 from coming into close contact with the sheet 82 in the usage example described with reference to FIG. The semiconductor light emitting device A3 can be properly taken out.

本開示に係る半導体発光装置は、上述した実施形態に限定されるものではない。本開示に係る半導体発光装置の各部の具体的な構成は、種々に設計変更自在である。 The semiconductor light emitting device according to the present disclosure is not limited to the embodiments described above. The specific configuration of each part of the semiconductor light emitting device according to the present disclosure can be changed in various ways.

〔付記A1〕
厚さ方向一方側を向く基材表面および前記厚さ方向他方側を向く基材裏面を有する絶縁性の基材、前記基材に形成された導体層、および前記導体層の一部を覆う絶縁層を有する基板と、
前記基板の前記基材表面側に搭載された半導体発光素子と、
前記半導体発光素子を覆い且つ前記半導体発光素子からの光を透過させる樹脂部と、を備え、
前記基板の前記基材は、各々が前記基材表面および前記基材裏面を繋ぎ、且つ第1方向に離間した一対の基材第1側面と、各々が前記基材表面および前記基材裏面を繋ぎ、且つ前記厚さ方向視において前記基材第1側面よりも前記半導体発光素子側に凹む一対の基材第3側面と、を有し、
前記導体層は、前記基材表面に形成された表面部および前記基材第3側面に形成された側面部を有し、
前記表面部は、前記基材第3側面に対して前記半導体発光素子側に隣接し且つ前記側面部に繋がる表面第1部を有し、
前記絶縁層は、前記厚さ方向視において前記基材第3側面に対して前記半導体発光素子とは反対側に位置する絶縁層第1部と、前記厚さ方向視において前記導体層の前記表面第1部に重なる絶縁層第2部とを有し、
前記樹脂部は、前記絶縁層の前記絶縁層第1部および前記絶縁層第2部を覆っており、
前記絶縁層第1部のうち前記樹脂部と接する絶縁層第1面に含まれる絶縁層第1領域と、前記樹脂部の樹脂表面のうち前記厚さ方向視において前記絶縁層第1領域に重なる樹脂第1領域と、の距離である第1距離は、前記絶縁層第2部のうち前記樹脂部と接する絶縁層第2面に含まれる絶縁層第2領域と、前記樹脂部の前記樹脂表面のうち前記厚さ方向視において前記絶縁層第2領域に重なる樹脂第2領域と、の距離である第2距離よりも大きい、半導体発光装置。
〔付記A2〕
前記樹脂部の前記樹脂表面は、前記厚さ方向視において前記半導体発光素子と重なる樹脂第3領域を有しており、
前記樹脂第1領域は、前記厚さ方向において前記樹脂第3領域よりも前記厚さ方向一方側に位置している、付記A1に記載の半導体発光装置。
〔付記A3〕
前記樹脂第1領域は、前記厚さ方向において前記樹脂第2領域よりも前記厚さ方向一方側に位置している、付記A2に記載の半導体発光装置。
〔付記A4〕
前記基板の前記基材は、各々が前記基材表面および前記基材裏面を繋ぎ、且つ第1方向および前記厚さ方向に直角である第2方向に離間した一対の基材第2側面と、4つの前記基材第3側面を有し、
前記基材第3側面は、前記基材第1側面と前記基材第2側面との間に介在している、付記A1ないしA3のいずれかに記載の半導体発光装置。
〔付記A5〕
前記樹脂部は、前記一対の基材第1側面と面一である一対の樹脂第1側面と、前記一対の基材第2側面と面一である一対の樹脂第2側面と、を有する、付記A4に記載の半導体発光装置。
〔付記A6〕
前記絶縁層は、前記基材第1側面と面一である絶縁層第1側面と、前記基材第2側面と面一である絶縁層第2側面と、を有する、付記A5に記載の半導体発光装置。
〔付記A7〕
前記絶縁層第1領域は、前記絶縁層第1側面、前記絶縁層第2側面および前記絶縁層第1面が交わる領域であり、
前記絶縁層第2領域は、前記厚さ方向視において前記基材第3側面と重なる、付記A6に記載の半導体発光装置。
〔付記A8〕
前記樹脂部の前記樹脂表面は、前記樹脂第2側面との境界であって前記第1方向において前記半導体発光素子と重なる樹脂第4領域を有しており、
前記樹脂第1領域は、前記厚さ方向において前記樹脂第4領域よりも前記厚さ方向一方側に位置している、付記A7に記載の半導体発光装置。
〔付記A9〕
前記樹脂部の前記樹脂表面は、前記樹脂第1側面との境界であって前記第2方向において前記半導体発光素子と重なる樹脂第5領域を有しており、
前記樹脂第1領域は、前記厚さ方向において前記樹脂第5領域よりも前記厚さ方向一方側に位置している、付記A7またはA8に記載の半導体発光装置。
〔付記A10〕
前記絶縁層第1領域は、前記絶縁層第2領域よりも前記厚さ方向他方側に位置する、付記A7ないしA9のいずれかに記載の半導体発光装置。
〔付記A11〕
前記絶縁層第1領域は、前記基材表面よりも前記厚さ方向他方側に位置する、付記A10に記載の半導体発光装置。
〔付記A12〕
前記絶縁層第1領域は、前記厚さ方向において前記基材表面と前記表面第1部の導体層第1面との間に位置する、付記A10に記載の半導体発光装置。
〔付記A13〕
前記絶縁層第1領域は、前記基材表面と前記表面第1部の導体層第1面よりも前記厚さ方向一方側に位置する、付記A10に記載の半導体発光装置。
〔付記A14〕
前記絶縁層第1領域は、前記絶縁層第2領域よりも前記厚さ方向一方側に位置する、付記A7ないしA9のいずれかに記載の半導体発光装置。
〔付記A15〕
前記絶縁層は、前記絶縁層第2部に隣接し、且つ前記基材表面に接する絶縁層第3部を有する、付記A1ないしA14のいずれかに記載の半導体発光装置。
〔付記A16〕
前記絶縁層第3部の厚さは、前記絶縁層第2部の厚さよりも厚い、付記A15に記載の半導体発光装置。
〔付記A17〕
前記絶縁層第2部の厚さは、前記導体層の前記表面部の前記表面第1部の厚さよりも厚い、付記A16に記載の半導体発光装置。
[Appendix A1]
An insulating base material having a base surface facing one thickness direction side and a base back surface facing the other thickness direction side, a conductor layer formed on the base material, and insulation covering a part of the conductor layer a substrate having a layer;
a semiconductor light emitting element mounted on the base material surface side of the substrate;
a resin part that covers the semiconductor light emitting element and transmits light from the semiconductor light emitting element,
The base material of the substrate includes a pair of base first side surfaces each connecting the base surface and the base back surface and spaced apart in a first direction, and each connecting the base surface and the base back surface. a pair of base material third side surfaces that connect and are recessed closer to the semiconductor light emitting element side than the base material first side surfaces when viewed in the thickness direction;
The conductor layer has a surface portion formed on the base material surface and a side surface portion formed on the third side surface of the base material,
The surface portion has a surface first portion adjacent to the semiconductor light emitting element side with respect to the substrate third side surface and connected to the side surface portion,
The insulating layer includes a first insulating layer portion located on the side opposite to the semiconductor light emitting element with respect to the third side surface of the substrate when viewed in the thickness direction, and the surface of the conductor layer when viewed in the thickness direction. an insulating layer second portion overlapping the first portion;
The resin portion covers the insulating layer first portion and the insulating layer second portion of the insulating layer,
An insulating layer first region included in the insulating layer first surface in contact with the resin portion of the insulating layer first portion, and a resin surface of the resin portion overlapping the insulating layer first region when viewed in the thickness direction. The first distance, which is the distance between the first resin region and the resin surface of the resin portion, is the distance between the second insulating layer region included in the second surface of the insulating layer in contact with the resin portion of the second insulating layer portion. and a resin second region that overlaps with the insulating layer second region when viewed in the thickness direction.
[Appendix A2]
The resin surface of the resin portion has a resin third region overlapping with the semiconductor light emitting element when viewed in the thickness direction,
The semiconductor light emitting device according to appendix A1, wherein the first resin region is located on one side in the thickness direction of the third resin region in the thickness direction.
[Appendix A3]
The semiconductor light emitting device according to appendix A2, wherein the first resin region is located on one side in the thickness direction of the second resin region in the thickness direction.
[Appendix A4]
the base material of the substrate includes a pair of base material second side surfaces each connecting the base material surface and the base material back surface and spaced apart in a first direction and a second direction perpendicular to the thickness direction; having four substrate third side surfaces,
The semiconductor light emitting device according to any one of Appendices A1 to A3, wherein the third side surface of the substrate is interposed between the first side surface of the substrate and the second side surface of the substrate.
[Appendix A5]
The resin portion has a pair of resin first side surfaces that are flush with the pair of base material first side surfaces, and a pair of resin second side surfaces that are flush with the pair of base material second side surfaces, The semiconductor light emitting device according to Appendix A4.
[Appendix A6]
The semiconductor according to Appendix A5, wherein the insulating layer has an insulating layer first side surface that is flush with the substrate first side surface, and an insulating layer second side surface that is flush with the substrate second side surface. Luminescent device.
[Appendix A7]
the insulating layer first region is a region where the insulating layer first side surface, the insulating layer second side surface, and the insulating layer first surface intersect;
The semiconductor light-emitting device according to Appendix A6, wherein the insulating layer second region overlaps with the third side surface of the substrate when viewed in the thickness direction.
[Appendix A8]
The resin surface of the resin portion has a fourth resin region which is a boundary with the second resin side surface and overlaps with the semiconductor light emitting element in the first direction,
The semiconductor light emitting device according to appendix A7, wherein the first resin region is located on one side in the thickness direction of the fourth resin region in the thickness direction.
[Appendix A9]
The resin surface of the resin portion has a fifth resin region that is a boundary with the resin first side surface and overlaps the semiconductor light emitting element in the second direction,
The semiconductor light emitting device according to appendix A7 or A8, wherein the first resin region is positioned on one side in the thickness direction of the fifth resin region in the thickness direction.
[Appendix A10]
The semiconductor light emitting device according to any one of Appendices A7 to A9, wherein the insulating layer first region is located on the other side in the thickness direction of the insulating layer second region.
[Appendix A11]
The semiconductor light-emitting device according to Appendix A10, wherein the insulating layer first region is positioned on the other side in the thickness direction with respect to the surface of the base material.
[Appendix A12]
The semiconductor light emitting device according to Appendix A10, wherein the insulating layer first region is located between the base surface and the conductor layer first surface of the first surface portion in the thickness direction.
[Appendix A13]
The semiconductor light-emitting device according to Appendix A10, wherein the insulating layer first region is located on one side in the thickness direction of the substrate surface and the conductor layer first surface of the surface first portion.
[Appendix A14]
The semiconductor light-emitting device according to any one of Appendices A7 to A9, wherein the insulating layer first region is located on one side in the thickness direction of the insulating layer second region.
[Appendix A15]
The semiconductor light-emitting device according to any one of Appendices A1 to A14, wherein the insulating layer has a third insulating layer portion adjacent to the second insulating layer portion and in contact with the surface of the substrate.
[Appendix A16]
The semiconductor light emitting device according to Appendix A15, wherein the thickness of the third insulating layer portion is thicker than the thickness of the second insulating layer portion.
[Appendix A17]
The semiconductor light emitting device according to appendix A16, wherein the thickness of the insulating layer second portion is thicker than the thickness of the surface first portion of the surface portion of the conductor layer.

<第4実施形態>
図29~図38は、本開示の第4実施形態に係る半導体発光装置を示している。本実施形態の半導体発光装置A4は、基板1、半導体発光素子2および樹脂部3を備えている。これらの図において、x方向は、第1方向に相当し、y方向は、第2方向に相当し、z方向は、厚さ方向に相当する。x方向、y方向およびz方向は、互いに直角である。半導体発光装置A4の形状や大きさは特に限定されず、本実施形態においては、x方向寸法が0.7~2.5mm程度、y方向寸法が0.4~1.0mm程度、z方向寸法が0.15~0.3mm程度とされ、z方向視矩形状である。
<Fourth Embodiment>
29 to 38 show a semiconductor light emitting device according to a fourth embodiment of the present disclosure. A semiconductor light-emitting device A4 of this embodiment includes a substrate 1, a semiconductor light-emitting element 2, and a resin portion 3. As shown in FIG. In these figures, the x-direction corresponds to the first direction, the y-direction corresponds to the second direction, and the z-direction corresponds to the thickness direction. The x-, y- and z-directions are perpendicular to each other. The shape and size of the semiconductor light emitting device A4 are not particularly limited. is about 0.15 to 0.3 mm, and has a rectangular shape when viewed in the z direction.

図29は、半導体発光装置A4を示す平面図である。図30は、半導体発光装置A4を示す要部平面図である。図31は、半導体発光装置A4を示す底面図である。図32は、図29のIV-IV線に沿う断面図である。図33は、半導体発光装置A4を示す要部拡大断面図である。図34は、半導体発光装置A4を示す正面図である。図35は、半導体発光装置A4を示す要部拡大正面図である。図36は、半導体発光装置A4を示す側面図である。図37は、半導体発光装置A4を示す要部拡大側面図である。図38は、半導体発光装置A4の基板1を示す要部平面図である。図29のIV-IV線から理解されるように、図32の図中横方向は、概ねx方向に沿うものの、x方向と厳密に一致しない部分を含む。これは、図33も同様である。 FIG. 29 is a plan view showing the semiconductor light emitting device A4. FIG. 30 is a fragmentary plan view showing the semiconductor light emitting device A4. FIG. 31 is a bottom view showing the semiconductor light emitting device A4. 32 is a cross-sectional view taken along line IV-IV of FIG. 29. FIG. FIG. 33 is an enlarged cross-sectional view of a main part showing a semiconductor light emitting device A4. FIG. 34 is a front view showing the semiconductor light emitting device A4. FIG. 35 is an enlarged front view of a main part showing a semiconductor light emitting device A4. FIG. 36 is a side view showing the semiconductor light emitting device A4. FIG. 37 is an enlarged side view of a main portion showing a semiconductor light emitting device A4. FIG. 38 is a fragmentary plan view showing the substrate 1 of the semiconductor light emitting device A4. As can be understood from line IV-IV in FIG. 29, the horizontal direction in FIG. 32 generally follows the x-direction, but includes portions that do not exactly match the x-direction. This also applies to FIG. 33 .

基板1は、半導体発光素子2を支持するとともに、半導体発光素子2への導通経路を構成擦るものである。基板1は、基材11、導体層12および絶縁層13を有する。 The substrate 1 supports the semiconductor light emitting device 2 and also forms a conducting path to the semiconductor light emitting device 2 . The substrate 1 has a base material 11 , a conductor layer 12 and an insulating layer 13 .

基材11は、基板1の土台となる部位であり、たとえばガラスエポキシ樹脂等の絶縁材料からなる。基材11は、基材表面111、基材裏面112、一対の基材第1側面113、一対の基材第2側面114および複数の基材第3側面115を有する。 Base material 11 is a base of substrate 1 and is made of an insulating material such as glass epoxy resin. The substrate 11 has a substrate front surface 111 , a substrate back surface 112 , a pair of substrate first side surfaces 113 , a pair of substrate second side surfaces 114 and a plurality of substrate third side surfaces 115 .

基材表面111は、z方向一方側を向く面である。基材裏面112は、z方向において基材表面111とは反対側の他方側を向く面である。図示された例においては、基材表面111は、平坦な面である。 The substrate surface 111 is a surface facing one side in the z direction. The substrate back surface 112 is a surface facing the other side opposite to the substrate front surface 111 in the z direction. In the illustrated example, substrate surface 111 is a flat surface.

一対の基材第1側面113は、x方向に互いに離間しており、x方向に対して直角である。基材第1側面113は、基材表面111と基材裏面112とを繋いでいる。図示された例においては、基材裏面112は、平坦な面である。 The pair of substrate first side surfaces 113 are spaced apart from each other in the x direction and perpendicular to the x direction. The substrate first side surface 113 connects the substrate front surface 111 and the substrate rear surface 112 . In the illustrated example, substrate backside 112 is a flat surface.

一対の基材第2側面114は、y方向に互いに離間しており、y方向に対して直角である。基材第2側面114は、基材表面111と基材裏面112とを繋いでいる。 The pair of substrate second side surfaces 114 are spaced apart from each other in the y direction and perpendicular to the y direction. The substrate second side surface 114 connects the substrate front surface 111 and the substrate rear surface 112 .

基材第3側面115は、基材表面111および基材裏面112を繋いでおり、z方向視において基材第1側面113よりも内方に凹む面である。本実施形態においては、基材第3側面115は、基材第1側面113に対してx方向内方に凹んでいる。また、本実施形態においては、基材第3側面115は、隣り合う基材第1側面113と基材第2側面114との間に介在している。また、基材第3側面115は、z方向視において基材第2側面114よりも内方に凹む面であり、本実施形態においては、基材第2側面114に対してy方向内方に凹んでいる。本実施形態においては、複数の基材第3側面115の個数は、4である。4つの基材第3側面115は、一対の基材第3側面115を含むものである。基材第3側面115は、z方向視において略四半円形状である。 The substrate third side surface 115 connects the substrate front surface 111 and the substrate rear surface 112, and is a surface recessed inwardly from the substrate first side surface 113 when viewed in the z direction. In this embodiment, the substrate third side surface 115 is recessed inward in the x direction with respect to the substrate first side surface 113 . Further, in the present embodiment, the substrate third side surface 115 is interposed between the substrate first side surface 113 and the substrate second side surface 114 adjacent to each other. Further, the base material third side surface 115 is a surface that is recessed more inward than the base material second side surface 114 when viewed in the z direction. concave. In this embodiment, the number of the plurality of base material third side surfaces 115 is four. The four substrate third side surfaces 115 include a pair of substrate third side surfaces 115 . The base material third side surface 115 has a substantially quarter-circular shape when viewed in the z direction.

導体層12は、半導体発光素子2への導通経路を構成するものであり、基材11に形成されている。導体層12は、たとえば、めっきによって形成されたCu層等を有する。また、導体層12のうち絶縁層13から露出した部位には、たとえばめっきにより形成されたAu層が設けられていてもよい。導体層12は、表面部121、裏面部122および4つの側面部123を有する。 The conductor layer 12 constitutes a conducting path to the semiconductor light emitting device 2 and is formed on the base material 11 . The conductor layer 12 has, for example, a Cu layer or the like formed by plating. Moreover, an Au layer formed by plating, for example, may be provided on a portion of the conductor layer 12 exposed from the insulating layer 13 . The conductor layer 12 has a surface portion 121 , a back surface portion 122 and four side surface portions 123 .

表面部121は、基材11の基材表面111に形成された部位である。本実施形態においては、表面部121は、4つの表面第1部1211、表面第2部1212、一対の表面第3部1213、複数の連結部1214および連結部1215を有する。なお、図38における二点鎖線(想像線)は、4つの表面第1部1211、表面第2部1212、一対の表面第3部1213、複数の連結部1214および連結部1215の境界を便宜上示している。 The surface portion 121 is a portion formed on the substrate surface 111 of the substrate 11 . In this embodiment, the surface portion 121 has four first surface portions 1211 , second surface portions 1212 , a pair of third surface portions 1213 , and a plurality of connecting portions 1214 and 1215 . The two-dot chain lines (imaginary lines) in FIG. 38 indicate the boundaries of the four surface first portions 1211, the surface second portions 1212, the pair of surface third portions 1213, the plurality of connecting portions 1214 and the connecting portions 1215 for convenience. ing.

表面第1部1211は、基材11の基材第3側面115に隣接して設けられた部位であり、本実施形態においては、z方向視において略四半円環形状である。また、表面第1部1211は、基材第1側面113および基材第2側面114の双方に到達している。本実施形態においては、4つの基材第3側面115に対応して、4つの表面第1部1211が形成されている。 The surface first portion 1211 is a portion provided adjacent to the base material third side surface 115 of the base material 11, and in the present embodiment, has a substantially quarter-circle shape when viewed in the z direction. Moreover, the first surface portion 1211 reaches both the substrate first side surface 113 and the substrate second side surface 114 . In this embodiment, four front surface first portions 1211 are formed corresponding to the four base material third side surfaces 115 .

表面第2部1212は、基材表面111の略中央に設けられており、半導体発光素子2を搭載するための部位である。なお、半導体発光素子2を基材11に直接搭載する場合、表面部121は、表面第2部1212を有さない構成であってもよい。図示された例においては、表面第2部1212は、z方向視において略矩形状である。 The second surface portion 1212 is provided substantially in the center of the substrate surface 111 and is a portion for mounting the semiconductor light emitting device 2 thereon. When the semiconductor light emitting device 2 is directly mounted on the substrate 11 , the surface portion 121 may be configured without the second surface portion 1212 . In the illustrated example, the surface second portion 1212 has a substantially rectangular shape when viewed in the z direction.

一対の表面第3部1213は、表面第2部1212を挟んでx方向に離間して配置されている。表面第3部1213は、表面部121と半導体発光素子2とを導通させるために用いられる部位である。図示された例においては、表面第3部1213は、略矩形状である。また、図示された例においては、表面第3部1213は、基材11の基材第1側面113から離間している。 A pair of the third surface portions 1213 are spaced apart in the x direction with the second surface portion 1212 interposed therebetween. The third surface portion 1213 is a portion used to electrically connect the surface portion 121 and the semiconductor light emitting element 2 . In the illustrated example, the surface third portion 1213 is generally rectangular. Also, in the illustrated example, the surface third portion 1213 is spaced from the substrate first side surface 113 of the substrate 11 .

複数の連結部1214は、隣り合う表面第1部1211と表面第3部1213とを連結する部位である。図示された例においては、複数の連結部1214の個数は、4であり、各々がy方向に延びる帯状である。また、図示された例においては、連結部1214は、基材11の基材第1側面113から離間している。 A plurality of connecting portions 1214 are portions that connect the first surface portion 1211 and the third surface portion 1213 that are adjacent to each other. In the illustrated example, the number of connecting portions 1214 is four, each of which has a strip shape extending in the y direction. Also, in the illustrated example, the connecting portion 1214 is spaced apart from the substrate first side surface 113 of the substrate 11 .

連結部1215は、表面第2部1212と連結部1214とを連結している。図示された例においては、連結部1215は、x方向に長く延びている。図示された例においては、連結部1215は、基材11の基材第2側面114から離間している。 The connecting portion 1215 connects the second surface portion 1212 and the connecting portion 1214 . In the illustrated example, the connecting portion 1215 extends long in the x-direction. In the illustrated example, the connecting portion 1215 is spaced from the substrate second side surface 114 of the substrate 11 .

裏面部122は、基材11の基材裏面112に形成された部位である。本実施形態においては、裏面部122は、4つの裏面第1部1221および一対の裏面第2部1222を有する。なお、図31における二点鎖線(想像線)は、4つの裏面第1部1221および一対の裏面第2部1222の境界を便宜上示している。 The rear surface portion 122 is a portion formed on the substrate rear surface 112 of the substrate 11 . In this embodiment, the back surface portion 122 has four first back surface portions 1221 and a pair of second back surface portions 1222 . 31 indicate boundaries between the four first rear surface portions 1221 and the pair of second rear surface portions 1222 for convenience.

裏面第1部1221は、基材11の基材第3側面115に隣接して設けられた部位であり、本実施形態においては、z方向視において略四半円環形状である。また、裏面第1部1221は、基材第1側面113および基材第2側面114の双方に到達している。本実施形態においては、4つの基材第3側面115に対応して、4つの裏面第1部1221が形成されている。 The back surface first portion 1221 is a portion provided adjacent to the base material third side surface 115 of the base material 11, and in the present embodiment, has a substantially quarter-circle shape when viewed in the z direction. In addition, the back surface first portion 1221 reaches both the substrate first side surface 113 and the substrate second side surface 114 . In this embodiment, four rear surface first portions 1221 are formed corresponding to the four substrate third side surfaces 115 .

一対の裏面第2部1222は、x方向に互いに離間して設けられている。裏面第2部1222は、y方向に隣り合う裏面第1部1221に繋がっている。一対の裏面第2部1222は、たとえば半導体発光装置A4を回路基板(図示略)等に実装する際に、電極として用いられる。 The pair of back surface second portions 1222 are provided apart from each other in the x direction. The second rear surface portion 1222 is connected to the first rear surface portion 1221 adjacent in the y direction. The pair of second back surface portions 1222 are used as electrodes when, for example, the semiconductor light emitting device A4 is mounted on a circuit board (not shown) or the like.

4つの側面部123は、4つの基材第3側面115に形成されており、4つの基材第3側面115を各々が覆っている。本実施形態においては、側面部123は、基材第3側面115の略全体を覆っている。また、側面部123は、表面部121の表面第1部1211と裏面部122の裏面第1部1221とに繋がっている。 The four side portions 123 are formed on the four substrate third side surfaces 115 and respectively cover the four substrate third side surfaces 115 . In this embodiment, the side portion 123 covers substantially the entire third side surface 115 of the substrate. Moreover, the side surface portion 123 is connected to the front surface first portion 1211 of the front surface portion 121 and the rear surface first portion 1221 of the rear surface portion 122 .

絶縁層13は、絶縁性材料からなる層であり、導体層12の一部を覆い、その余の部分を露出させている。絶縁層13の材質等は特に限定されない。本実施形態においては、絶縁層13は、第1絶縁層13Aおよび第2絶縁層13Bを有する。なお、絶縁層13は、第1絶縁層13Aおよび第2絶縁層13B以外の他の層をさらに備えることにより、3層以上によって構成されていてもよい。 The insulating layer 13 is a layer made of an insulating material, covers a portion of the conductor layer 12, and exposes the remaining portion. The material and the like of the insulating layer 13 are not particularly limited. In this embodiment, the insulating layer 13 has a first insulating layer 13A and a second insulating layer 13B. Insulating layer 13 may be composed of three or more layers by further including layers other than first insulating layer 13A and second insulating layer 13B.

第1絶縁層13Aは、基材11の基材表面111に接している。第1絶縁層13Aの形成例としては、たとえば、シート状(フィルム状)のソルダーレジストを基材11に圧着することが挙げられる。 The first insulating layer 13A is in contact with the substrate surface 111 of the substrate 11 . As an example of forming the first insulating layer 13</b>A, for example, a sheet-like (film-like) solder resist is pressure-bonded to the base material 11 .

第2絶縁層13Bは、第1絶縁層13Aに対してz方向一方側に積層されている。図示された例においては、第2絶縁層13Bは、第1絶縁層13Aに接している。第1絶縁層13Aと第2絶縁層13Bとの間に、さらに他の層が介在する構成であってもよい。第2絶縁層13Bは、たとえばソルダーレジストの樹脂材料を第1絶縁層13Aに塗布し、これを硬化させることにより形成されている。 The second insulating layer 13B is stacked on one side in the z direction with respect to the first insulating layer 13A. In the illustrated example, the second insulating layer 13B is in contact with the first insulating layer 13A. Another layer may be interposed between the first insulating layer 13A and the second insulating layer 13B. Second insulating layer 13B is formed by, for example, applying a resin material such as a solder resist to first insulating layer 13A and curing it.

図示された例においては、図33に示すように、第1絶縁層13Aの厚さtaは、第2絶縁層13Bの厚さtbよりも厚い。 In the illustrated example, as shown in FIG. 33, the thickness ta of the first insulating layer 13A is thicker than the thickness tb of the second insulating layer 13B.

第1絶縁層13Aは、1対の絶縁層第1側面171および二対の絶縁層第2側面172を有する。1対の絶縁層第1側面171は、x方向に互いに離間しており、x方向に直角である。1対の絶縁層第1側面171は、基材11の一対の基材第1側面113と面一である。二対の絶縁層第2側面172は、y方向に互いに離間しており、y方向に直角である。二対の絶縁層第2側面172は、基材11の一対の基材第2側面114と面一である。 The first insulating layer 13A has a pair of insulating layer first side surfaces 171 and two pairs of insulating layer second side surfaces 172 . The pair of insulating layer first side surfaces 171 are spaced apart from each other in the x-direction and perpendicular to the x-direction. The pair of insulating layer first side surfaces 171 are flush with the pair of substrate first side surfaces 113 of the substrate 11 . The two pairs of insulating layer second side surfaces 172 are spaced apart from each other in the y-direction and perpendicular to the y-direction. The two pairs of insulating layer second side surfaces 172 are flush with the pair of substrate second side surfaces 114 of the substrate 11 .

第2絶縁層13Bは、二対の絶縁層第3側面191および二対の絶縁層第4側面192を有する。二対の絶縁層第3側面191は、x方向に互いに離間しており、x方向に直角である。二対の絶縁層第3側面191は、第1絶縁層13Aの一対の絶縁層第1側面171および基材11の一対の基材第1側面113と面一である。二対の絶縁層第4側面192は、y方向に互いに離間しており、y方向に直角である。二対の絶縁層第4側面192は、第1絶縁層13Aの二対の絶縁層第2側面172および基材11の一対の基材第2側面114と面一である。 The second insulating layer 13B has two pairs of insulating layer third side surfaces 191 and two pairs of insulating layer fourth side surfaces 192 . The two pairs of insulating layer third side surfaces 191 are spaced apart from each other in the x direction and perpendicular to the x direction. The two pairs of insulating layer third side surfaces 191 are flush with the pair of insulating layer first side surfaces 171 of the first insulating layer 13A and the pair of base material first side surfaces 113 of the base material 11 . The two pairs of insulating layer fourth side surfaces 192 are spaced apart from each other in the y-direction and perpendicular to the y-direction. The two pairs of insulating layer fourth side surfaces 192 are flush with the two pairs of insulating layer second side surfaces 172 of the first insulating layer 13A and the pair of substrate second side surfaces 114 of the substrate 11 .

図30および図33に示すように、本実施形態においては、第2絶縁層13Bの端縁199は、z方向視において基材11の基材第3側面115と導体層12の表面部121の表面第1部1211の端縁1219との間に位置している。すなわち、端縁199は、z方向視において表面部121と重なっており、基材表面111のうち表面部121から露出した部分とは重なっていない。 As shown in FIGS. 30 and 33, in the present embodiment, the edge 199 of the second insulating layer 13B is located between the substrate third side surface 115 of the substrate 11 and the surface portion 121 of the conductor layer 12 when viewed in the z direction. It is positioned between the edge 1219 of the first surface portion 1211 . That is, the edge 199 overlaps the surface portion 121 when viewed in the z direction, and does not overlap the portion of the substrate surface 111 exposed from the surface portion 121 .

本実施形態においては、絶縁層13は、4つの絶縁層第1部131、4つの絶縁層第2部132、複数の絶縁層第3部133、複数の絶縁層第4部134および一対の連結部135を有する。なお、図30、図33、図35および図37における二点鎖線(想像線)は、4つの絶縁層第1部131、4つの絶縁層第2部132、複数の絶縁層第3部133および一対の連結部135の境界を便宜上示している。 In this embodiment, the insulating layer 13 includes four insulating layer first parts 131, four insulating layer second parts 132, a plurality of insulating layer third parts 133, a plurality of insulating layer fourth parts 134 and a pair of connecting layers. A portion 135 is provided. 30, 33, 35 and 37, two-dot chain lines (imaginary lines) indicate four insulating layer first parts 131, four insulating layer second parts 132, a plurality of insulating layer third parts 133 and Boundaries of the pair of connecting portions 135 are shown for convenience.

なお、本実施形態においては、基材11の基材裏面112に裏面絶縁層137が設けられている。裏面絶縁層137は、一対の裏面第2部1222の間に設けられており、たとえば半導体発光装置A4の極性を視認するために設けられている。裏面絶縁層137は、絶縁層13と同様の手法で形成されてもよいし、異なる手法で形成されてもよい。 In addition, in the present embodiment, a back surface insulating layer 137 is provided on the substrate back surface 112 of the substrate 11 . The back surface insulating layer 137 is provided between the pair of second back surface portions 1222, and is provided, for example, for viewing the polarity of the semiconductor light emitting device A4. The back insulating layer 137 may be formed by a method similar to that of the insulating layer 13, or may be formed by a different method.

4つの絶縁層第1部131は、4つの基材第3側面115に対応して設けられている。絶縁層第1部131は、z方向視において基材第3側面115に対して外方に位置している。図示された例においては、絶縁層第1部131は、z方向視において四半円形状である。本実施形態においては、絶縁層第1部131は、第1絶縁層13Aおよび第2絶縁層13Bの一部ずつによって構成されている。 The four insulating layer first portions 131 are provided corresponding to the four base material third side surfaces 115 . The insulating layer first portion 131 is positioned outward from the substrate third side surface 115 when viewed in the z direction. In the illustrated example, the insulating layer first portion 131 has a quarter-circular shape when viewed in the z-direction. In the present embodiment, the first insulating layer portion 131 is composed of parts of the first insulating layer 13A and parts of the second insulating layer 13B.

4つの絶縁層第2部132は、4つの基材第3側面115に対応して設けられている。絶縁層第2部132は、導体層12の表面部121の表面第1部1211に形成されており、z方向視において表面第1部1211に重なる部位である。また、本実施形態においては、絶縁層第2部132は、第1絶縁層13Aおよび第2絶縁層13Bの一部ずつによって構成されている。図示された例においては、絶縁層第2部132は、z方向視において四半円環形状である。絶縁層第1部131の厚さである第1厚さt1は、絶縁層第2部132の厚さである第2厚さt2よりも厚い。また、絶縁層第2部132の第2厚さt2は、導体層12の表面第1部1211の厚さよりも厚い。 The four insulating layer second portions 132 are provided corresponding to the four base material third side surfaces 115 . The insulating layer second portion 132 is formed on the surface first portion 1211 of the surface portion 121 of the conductor layer 12 and is a portion that overlaps with the surface first portion 1211 when viewed in the z direction. Further, in the present embodiment, the second insulating layer portion 132 is composed of parts of the first insulating layer 13A and parts of the second insulating layer 13B. In the illustrated example, the insulating layer second portion 132 has a quarter ring shape when viewed in the z direction. A first thickness t<b>1 that is the thickness of the first insulating layer portion 131 is thicker than a second thickness t<b>2 that is the thickness of the second insulating layer portion 132 . In addition, the second thickness t2 of the insulating layer second portion 132 is thicker than the thickness of the surface first portion 1211 of the conductor layer 12 .

絶縁層第3部133は、表面第1部1211に隣接しており、基材11の基材表面111に接している。言い換えると、絶縁層第3部133と基材11の基材表面111との間には、導体層12は介在していない。本実施形態においては、絶縁層第3部133は、第1絶縁層13Aの一部のみによって構成されている。 The insulating layer third part 133 is adjacent to the surface first part 1211 and is in contact with the substrate surface 111 of the substrate 11 . In other words, the conductor layer 12 is not interposed between the insulating layer third portion 133 and the substrate surface 111 of the substrate 11 . In this embodiment, the third insulating layer portion 133 is composed of only a portion of the first insulating layer 13A.

絶縁層第4部134は、表面部121(表面第1部1211)上において絶縁層第2部132と絶縁層第3部133との間に介在する部位である。絶縁層第4部134は、第1絶縁層13Aの一部のみによって構成されている。絶縁層第4部134の厚さである第4厚さt4は、絶縁層第2部132の第2厚さt2よりも薄い。また、絶縁層第4部134の第4厚さt4は、絶縁層第3部133の厚さである第3厚さt3よりも薄い。 The fourth insulating layer portion 134 is a portion interposed between the second insulating layer portion 132 and the third insulating layer portion 133 on the surface portion 121 (the first surface portion 1211). The fourth insulating layer portion 134 is composed of only a portion of the first insulating layer 13A. A fourth thickness t<b>4 that is the thickness of the fourth insulating layer portion 134 is thinner than the second thickness t<b>2 of the second insulating layer portion 132 . Also, the fourth thickness t4 of the fourth insulating layer portion 134 is thinner than the third thickness t3, which is the thickness of the third insulating layer portion 133 .

連結部135は、y方向に隣り合う絶縁層第3部133どうしを連結している。図示された例においては、連結部135は、y方向に延びる帯状である。また、図示された例においては、連結部135は、基材11の基材第1側面113に到達している。図示された例においては、連結部135は、第1絶縁層13Aの一部のみによって構成されている。 The connecting portion 135 connects the insulating layer third portions 133 adjacent to each other in the y direction. In the illustrated example, the connecting portion 135 is strip-shaped extending in the y direction. Also, in the illustrated example, the connecting portion 135 reaches the substrate first side surface 113 of the substrate 11 . In the illustrated example, the connecting portion 135 is made up of only a portion of the first insulating layer 13A.

図33、図35および図37に示すように、絶縁層13は、絶縁層第1面141、絶縁層第2面142、絶縁層第3面143、絶縁層第4面144、絶縁層第5面145、絶縁層第6面146、絶縁層第7面147、絶縁層第8面148および絶縁層第9面149を有する。 As shown in FIGS. 33, 35 and 37, the insulating layer 13 includes an insulating layer first surface 141, an insulating layer second surface 142, an insulating layer third surface 143, an insulating layer fourth surface 144, and an insulating layer fifth surface. It has a surface 145 , an insulating layer sixth surface 146 , an insulating layer seventh surface 147 , an insulating layer eighth surface 148 and an insulating layer ninth surface 149 .

絶縁層第1面141は、絶縁層第1部131のうちz方向一方側(図中上側)に位置する面である。図示された例においては、絶縁層第1面141は、おおむねxy平面に沿った平坦な面である。絶縁層第2面142は、絶縁層第2部132のうちz方向一方側(図中上側)に位置する面である。図示された例においては、絶縁層第2面142は、xy平面に沿う略平坦な面である。 The insulating layer first surface 141 is a surface of the insulating layer first portion 131 located on one side in the z direction (upper side in the figure). In the illustrated example, the insulating layer first surface 141 is generally a flat surface along the xy plane. The insulating layer second surface 142 is a surface of the insulating layer second portion 132 located on one side in the z direction (upper side in the figure). In the illustrated example, the insulating layer second surface 142 is a substantially flat surface along the xy plane.

絶縁層第3面143は、絶縁層第3部133および絶縁層第4部134のうちz方向一方側に位置する面である。図示された例においては、絶縁層第3面143は、z方向視において絶縁層第2面142から離間するほどz方向他方側に位置するように緩やかに湾曲した曲面である。絶縁層第5面145は、絶縁層第3部133のうちz方向と直角である方向において絶縁層第2部132から離間する側を向く面であり、z方向に沿っている。絶縁層第4面144は、絶縁層第3面143と絶縁層第5面145との間に介在しており、凸曲面によって構成されている。絶縁層第6面146は、絶縁層第5面145と基材表面111との間に介在しており、基材表面111に接している。絶縁層第5面145は、斜め下方に凸である凸曲面によって構成されている。絶縁層第5面145と基材表面111との境界は、z方向視において絶縁層第5面145よりも基材第3側面115側に位置している。 The insulating layer third surface 143 is a surface located on one side in the z direction between the insulating layer third portion 133 and the insulating layer fourth portion 134 . In the illustrated example, the insulating layer third surface 143 is a curved surface that is gently curved so as to be located on the other side in the z direction as the distance from the insulating layer second surface 142 increases as viewed in the z direction. The fifth insulating layer surface 145 is a surface of the third insulating layer portion 133 that faces the side away from the second insulating layer portion 132 in a direction perpendicular to the z direction, and extends along the z direction. The insulating layer fourth surface 144 is interposed between the insulating layer third surface 143 and the insulating layer fifth surface 145 and is configured by a convex curved surface. The insulating layer sixth surface 146 is interposed between the insulating layer fifth surface 145 and the substrate surface 111 and is in contact with the substrate surface 111 . The insulating layer fifth surface 145 is configured by a convex curved surface that is obliquely downwardly convex. The boundary between the insulating layer fifth surface 145 and the base material surface 111 is located closer to the base material third side surface 115 than the insulating layer fifth surface 145 when viewed in the z direction.

絶縁層第7面147および絶縁層第8面148は、絶縁層第1部131のうちz方向他方側(図中下側)に位置する面である。絶縁層第7面147は、z方向視において基材第3側面115から離間しており、絶縁層第1側面171と絶縁層第2側面172との境界に接している。図示された例においては、絶縁層第1側面171は、基材表面111よりもz方向他方側に位置しており、基材裏面112よりもz方向一方側に位置している。絶縁層第7面147は、おおむねxy平面に沿った平坦な面である。絶縁層第8面148は、絶縁層第7面147と基材第3側面115との間に介在している。図示された例においては、絶縁層第7面147は、絶縁層第8面148に対してz方向他方側に位置している。また、絶縁層第8面148は、緩やかに湾曲した凸曲面である。絶縁層第8面148と基材第3側面115との境界は、絶縁層第7面147と絶縁層第8面148との境界よりもz方向一方側に位置している。 The insulating layer seventh surface 147 and the insulating layer eighth surface 148 are surfaces of the insulating layer first portion 131 located on the other side in the z direction (lower side in the drawing). The insulating layer seventh surface 147 is separated from the substrate third side surface 115 when viewed in the z direction, and is in contact with the boundary between the insulating layer first side surface 171 and the insulating layer second side surface 172 . In the illustrated example, the insulating layer first side surface 171 is positioned on the other side in the z direction from the front surface 111 of the base material, and is positioned on the one side in the z direction from the rear surface 112 of the base material. The insulating layer seventh surface 147 is generally a flat surface along the xy plane. The insulating layer eighth surface 148 is interposed between the insulating layer seventh surface 147 and the substrate third side surface 115 . In the illustrated example, the insulating layer seventh surface 147 is positioned on the other side in the z direction with respect to the insulating layer eighth surface 148 . The insulating layer eighth surface 148 is a gently curved convex surface. The boundary between the insulating layer eighth surface 148 and the substrate third side surface 115 is positioned on one side in the z direction from the boundary between the insulating layer seventh surface 147 and the insulating layer eighth surface 148 .

図37に示すように、絶縁層第9面149は、連結部135のうちz方向一方側(図中上側)に位置する面である。絶縁層第9面149は、絶縁層第3面143に繋がっている。絶縁層第9面149は、絶縁層第3面143と比べてxy平面に沿う平坦な面である。 As shown in FIG. 37, the insulating layer ninth surface 149 is a surface located on one side in the z direction (upper side in the figure) of the connecting portion 135 . The insulating layer ninth surface 149 is connected to the insulating layer third surface 143 . The insulating layer ninth surface 149 is a flat surface along the xy plane compared to the insulating layer third surface 143 .

図33、図35および図37に示すように、基材表面111と絶縁層第1面141とのz方向における距離に相当する第5厚さt5は、絶縁層第2部132の第2厚さt2および絶縁層第3部133の第3厚さt3および絶縁層第4部134の第4厚さt4よりも厚い As shown in FIGS. 33, 35 and 37, the fifth thickness t5 corresponding to the distance in the z direction between the substrate surface 111 and the insulating layer first surface 141 is the second thickness of the insulating layer second portion 132. thicker than the thickness t2, the third thickness t3 of the third insulating layer portion 133 and the fourth thickness t4 of the fourth insulating layer portion 134

半導体発光素子2は、半導体発光装置A4の光源であり、本実施形態においては、素子本体21、第1電極22および第2電極23を有する。素子本体21は、たとえばInGan系半導体等からなる半導体層を有する。第1電極22は、たとえばカソード電極であり、第2電極23は、たとえばアノード電極である。 The semiconductor light emitting element 2 is the light source of the semiconductor light emitting device A4, and has an element body 21, a first electrode 22 and a second electrode 23 in this embodiment. The element body 21 has a semiconductor layer made of, for example, an InGa semiconductor. The first electrode 22 is, for example, a cathode electrode, and the second electrode 23 is, for example, an anode electrode.

本実施形態においては、半導体発光素子2は、導体層12の表面部121の表面第2部1212にたとえば接合材25によって接合されている。接合材25は、たとえばAgペーストやはんだである。 In the present embodiment, the semiconductor light emitting device 2 is bonded to the second surface portion 1212 of the surface portion 121 of the conductor layer 12 with a bonding material 25, for example. The joining material 25 is Ag paste or solder, for example.

第1電極22は、ワイヤ28によって一方の表面第3部1213に接続されている。ワイヤ28は、たとえばAuからなり、ファーストボンディング部281およびセカンドボンディング部282を有する。ファーストボンディング部281は、ワイヤ28のうち表面第3部1213に接合された部位である。セカンドボンディング部282は、ワイヤ28のうち第1電極22に接合された部位である。 The first electrode 22 is connected to one surface third portion 1213 by a wire 28 . The wire 28 is made of Au, for example, and has a first bonding portion 281 and a second bonding portion 282 . The first bonding portion 281 is a portion of the wire 28 that is bonded to the surface third portion 1213 . The second bonding portion 282 is a portion of the wire 28 that is bonded to the first electrode 22 .

第2電極23は、ワイヤ29によって他方の表面第3部1213に接続されている。ワイヤ29は、たとえばAuからなり、ファーストボンディング部291およびセカンドボンディング部292を有する。ファーストボンディング部291は、ワイヤ29のうち表面第3部1213に接合された部位である。セカンドボンディング部292は、ワイヤ29のうち第2電極23に接合された部位である。 The second electrode 23 is connected to the other surface third portion 1213 by a wire 29 . Wire 29 is made of Au, for example, and has a first bonding portion 291 and a second bonding portion 292 . The first bonding portion 291 is a portion of the wire 29 that is bonded to the surface third portion 1213 . The second bonding portion 292 is a portion of the wire 29 that is bonded to the second electrode 23 .

樹脂部3は、半導体発光素子2を覆っており、半導体発光素子2からの光を透過させる材質からなる。本実施形態においては、樹脂部3は、基板1の基材表面111側(z方向一方側)に形成されており、基材表面111、導体層12の表面部121および絶縁層13を覆っている。 The resin portion 3 covers the semiconductor light emitting element 2 and is made of a material that allows the light from the semiconductor light emitting element 2 to pass therethrough. In this embodiment, the resin portion 3 is formed on the substrate surface 111 side (one side in the z direction) of the substrate 1, and covers the substrate surface 111, the surface portion 121 of the conductor layer 12, and the insulating layer 13. there is

樹脂部3の材質は、特に限定されず、半導体発光素子2からの光を透過させる材質であればよく、たとえば透明なエポキシ樹脂やシリコーン樹脂等が適宜選択される。また、本実施形態においては、樹脂部3は、蛍光材料を含む。この蛍光材料は、半導体発光素子2からの光によって励起されることにより、半導体発光素子2からの光とは異なる波長の光を発する。たとえば、半導体発光素子2が青色光を発する場合、蛍光材料は、黄色光を発する。これにより、半導体発光装置A4は、たとえば白色光を発する。 The material of the resin portion 3 is not particularly limited as long as it allows the light from the semiconductor light emitting element 2 to pass therethrough. For example, a transparent epoxy resin, silicone resin, or the like is appropriately selected. Moreover, in the present embodiment, the resin portion 3 contains a fluorescent material. This fluorescent material is excited by the light from the semiconductor light emitting device 2 to emit light of a wavelength different from that of the light from the semiconductor light emitting device 2 . For example, when the semiconductor light emitting element 2 emits blue light, the fluorescent material emits yellow light. Thereby, the semiconductor light emitting device A4 emits, for example, white light.

図29、図32~図37に示すように、本実施形態においては、樹脂部3は、樹脂表面31、一対の樹脂第1側面32および一対の樹脂第2側面33を有する。 As shown in FIGS. 29 and 32 to 37, in this embodiment, the resin portion 3 has a resin surface 31, a pair of resin first side surfaces 32, and a pair of resin second side surfaces 33. As shown in FIGS.

樹脂表面31は、z方向一方側を向く面である。本実施形態においては、樹脂表面31は、おおむねxy平面に沿った平坦な面である。一対の樹脂第1側面32は、互いにx方向に離間しており、本実施形態においては、x方向に直角である面である。図示された例においては、樹脂第1側面32は、基材11の基材第1側面113、第1絶縁層13Aの絶縁層第1側面171および第2絶縁層13Bの絶縁層第3側面191と面一である。一対の樹脂第2側面33は、互いにy方向に離間しており、本実施形態においては、y方向に直角である面である。図示された例においては、樹脂第2側面33は、基材11の基材第2側面114、第1絶縁層13Aの絶縁層第2側面172および第2絶縁層13Bの絶縁層第4側面192と面一である。 The resin surface 31 is a surface facing one side in the z direction. In this embodiment, the resin surface 31 is generally a flat surface along the xy plane. The pair of resin first side surfaces 32 are spaced apart from each other in the x direction, and are surfaces perpendicular to the x direction in this embodiment. In the illustrated example, the resin first side surface 32 includes the substrate first side surface 113 of the substrate 11, the insulating layer first side surface 171 of the first insulating layer 13A, and the insulating layer third side surface 191 of the second insulating layer 13B. It is flush with. The pair of resin second side surfaces 33 are spaced apart from each other in the y direction, and are surfaces perpendicular to the y direction in this embodiment. In the illustrated example, the resin second side surface 33 includes the substrate second side surface 114 of the substrate 11, the insulating layer second side surface 172 of the first insulating layer 13A, and the insulating layer fourth side surface 192 of the second insulating layer 13B. It is flush with.

図32~図37に示すように、樹脂表面31および樹脂第1側面32の境界における絶縁層第1面141と樹脂表面31とのz方向における距離(樹脂部3の厚さ)である第1距離D1は、絶縁層第2面142と樹脂表面31とのz方向における距離(樹脂部3の厚さ)である第2距離D2と略同じである。また、絶縁層第3面143と樹脂表面31とのz方向における距離(樹脂部3の厚さ)である第3距離D3は、第1距離D1および第2距離D2よりも大きい。基材表面111と樹脂表面31とのz方向における距離(樹脂部3の厚さ)である第4距離D4は、第1距離D1、第2距離D2および第3距離D3よりも大きい。 As shown in FIGS. 32 to 37, the first thickness, which is the distance (thickness of the resin portion 3) in the z direction, between the insulating layer first surface 141 and the resin surface 31 at the boundary between the resin surface 31 and the resin first side surface 32. The distance D1 is substantially the same as the second distance D2, which is the distance in the z direction between the insulating layer second surface 142 and the resin surface 31 (thickness of the resin portion 3). A third distance D3, which is the distance in the z direction between the insulating layer third surface 143 and the resin surface 31 (thickness of the resin portion 3), is longer than the first distance D1 and the second distance D2. A fourth distance D4, which is the distance in the z direction between the substrate surface 111 and the resin surface 31 (thickness of the resin portion 3), is longer than the first distance D1, the second distance D2 and the third distance D3.

次に、半導体発光装置A4の製造方法の一例について、図39~図44を参照しつつ以下に説明する。 Next, an example of a method for manufacturing the semiconductor light emitting device A4 will be described below with reference to FIGS. 39 to 44. FIG.

まず、図39および図40に示す基板材料110を用意する。基板材料110は、複数の基材11となるものであり、複数の基材11がx方向およびy方向にマトリクス状に配置されたものと略同等である。基板材料110には、複数の貫通孔1150が形成されている。貫通孔1150は、基板材料110が切断されることにより、基材第3側面115となる部位である。 First, substrate material 110 shown in FIGS. 39 and 40 is prepared. The substrate material 110 serves as a plurality of base materials 11, and is substantially equivalent to a plurality of base materials 11 arranged in a matrix in the x and y directions. A plurality of through holes 1150 are formed in the substrate material 110 . The through-hole 1150 is a portion that becomes the substrate third side surface 115 by cutting the substrate material 110 .

基板材料110には、導体層120および第1絶縁層130Aが形成されている。導体層120は、上述した導体層12の各部となるべき部位を有している。第1絶縁層130Aは、上述した第1絶縁層13Aの各部となるべき部位を有している。導体層120は、たとえばメッキによって形成される。第1絶縁層130Aは、たとえばシート状(フィルム状)のソルダーレジストを基板材料110に圧着することにより形成されている。 A conductor layer 120 and a first insulating layer 130A are formed on the substrate material 110 . The conductor layer 120 has portions that are to become the respective portions of the conductor layer 12 described above. 130 A of 1st insulating layers have the site|part which should become each part of 13 A of 1st insulating layers mentioned above. Conductive layer 120 is formed by plating, for example. The first insulating layer 130A is formed by pressing a sheet-like (film-like) solder resist onto the substrate material 110, for example.

図40に示すように、第1絶縁層130Aは、貫通孔1150を塞いでいる。上述の圧着により、第1絶縁層130Aは、表面第1部1211上の部分が、貫通孔1150を塞ぐ部分よりも薄い部位となっている。第1絶縁層130Aのうち貫通孔1150を塞ぐ部分は、厚さが概ね一定であり、xy平面に沿った平板形状である。 As shown in FIG. 40, the first insulating layer 130A closes the through hole 1150. As shown in FIG. As a result of the crimping described above, the portion of the first insulating layer 130</b>A on the surface first portion 1211 becomes thinner than the portion closing the through hole 1150 . A portion of the first insulating layer 130A that closes the through hole 1150 has a substantially uniform thickness and has a flat plate shape along the xy plane.

次に、図41および図42に示すように、第2絶縁層130Bを形成する。第2絶縁層130Bは、たとえば第1絶縁層130A上にソルダーレジストの樹脂材料を塗布し、これを硬化させることにより行う。本実施形態においては、z方向視において貫通孔1150に内包される複数の円形要素を有するように、第2絶縁層130Bが形成されている。これにより、上述した絶縁層第1部131、絶縁層第2部132、絶縁層第3部133および絶縁層第4部134となる部位が形成される。 Next, as shown in FIGS. 41 and 42, a second insulating layer 130B is formed. The second insulating layer 130B is formed, for example, by applying a solder resist resin material onto the first insulating layer 130A and curing it. In this embodiment, the second insulating layer 130B is formed so as to have a plurality of circular elements enclosed in the through holes 1150 when viewed in the z direction. As a result, portions to be the first insulating layer portion 131, the second insulating layer portion 132, the third insulating layer portion 133, and the fourth insulating layer portion 134 are formed.

次に、複数の半導体発光素子2をボンディングする。このボンディングは、半導体発光素子2の素子本体21を導体層120の表面第2部1212に接合材25によって接合することにより行う。また、素子本体21の第1電極22よび第2電極23と一対の表面第3部1213とをワイヤ28およびワイヤ29によって接続する。 Next, a plurality of semiconductor light emitting devices 2 are bonded. This bonding is performed by bonding the element body 21 of the semiconductor light emitting element 2 to the surface second portion 1212 of the conductor layer 120 with the bonding material 25 . Also, the first electrode 22 and the second electrode 23 of the element body 21 and the pair of surface third portions 1213 are connected by wires 28 and 29 .

次いで、金型71をセットする。金型71は、基板材料110の基材表面111との間に樹脂成形のためのキャビティを構成するためのものである。 Next, the mold 71 is set. The mold 71 is for constructing a cavity for resin molding between the substrate surface 111 of the substrate material 110 and the mold 71 .

次いで、図43に示すように、金型71のキャビティに樹脂材料を充填する。この際、基材第3側面115を塞ぐ絶縁層第1部131は、第1厚さt1が第2厚さt2よりも厚く、剛性が高められている。このため、樹脂材料の充填圧が作用しても絶縁層第1部131は、平坦な形状を維持する。そして、樹脂材料が硬化することにより、樹脂材料30が形成される。 Next, as shown in FIG. 43, the cavity of the mold 71 is filled with a resin material. At this time, the first thickness t1 of the insulating layer first portion 131 covering the third side surface 115 of the base material is thicker than the second thickness t2 to increase the rigidity. Therefore, the insulating layer first portion 131 maintains a flat shape even when the filling pressure of the resin material acts. Then, the resin material 30 is formed by curing the resin material.

樹脂材料の充填が終了すると、図44に示すように、金型71を取り除く。この後は、たとえば、図中のy方向に沿った切断線Cyおよび図示しないx方向に沿った切断線に沿って、基板材料110、導体層120、第1絶縁層130A、第2絶縁層130Bおよび樹脂材料30を切断する。これにより、複数の半導体発光装置A4が得られる。 After filling the resin material, the mold 71 is removed as shown in FIG. After that, the substrate material 110, the conductor layer 120, the first insulating layer 130A, and the second insulating layer 130B are cut along, for example, a cutting line Cy along the y direction in the drawing and a cutting line along the x direction (not shown). and the resin material 30 is cut. Thereby, a plurality of semiconductor light emitting devices A4 are obtained.

次に、半導体発光装置A4の作用について説明する。 Next, the operation of the semiconductor light emitting device A4 will be described.

本実施形態によれば、図32~図37に示すように、絶縁層第1部131の第1厚さt1が、絶縁層第2部132の第2厚さt2よりも厚い。このため、絶縁層第1部131の剛性が高められている。これにより、たとえば、半導体発光装置A4の製造において、図43に示す樹脂材料を充填する際に、絶縁層第1部131がz方向他方側に撓んでしまうことや絶縁層第1部131が破損してしまうことを抑制することが可能である。したがって、半導体発光装置A4によれば、樹脂部3の形状のばらつきを抑制することができる。この結果、半導体発光装置A4は、本実施形態の樹脂部3が平坦な面である樹脂表面31を有する構成が実現されている。 According to the present embodiment, the first thickness t1 of the first insulating layer portion 131 is thicker than the second thickness t2 of the second insulating layer portion 132, as shown in FIGS. Therefore, the rigidity of the insulating layer first portion 131 is enhanced. As a result, for example, in the manufacture of the semiconductor light emitting device A4, when filling the resin material shown in FIG. It is possible to prevent it from happening. Therefore, according to the semiconductor light emitting device A4, variations in the shape of the resin portion 3 can be suppressed. As a result, in the semiconductor light emitting device A4, the resin portion 3 of the present embodiment has a resin surface 31 that is a flat surface.

本実施形態の絶縁層13は、第1絶縁層13Aおよび第2絶縁層13Bからなる。第1絶縁層13Aに第2絶縁層13Bを積層させることによって絶縁層第1部131を形成することにより、絶縁層第1部131の剛性を容易且つ確実に高めることが可能である。これは、樹脂部3の形状のばらつきを抑制するのに好ましい。 The insulating layer 13 of this embodiment consists of a first insulating layer 13A and a second insulating layer 13B. By forming the insulating layer first portion 131 by laminating the second insulating layer 13B on the first insulating layer 13A, the rigidity of the insulating layer first portion 131 can be easily and reliably increased. This is preferable for suppressing variations in the shape of the resin portion 3 .

第1絶縁層13Aの厚さが第2絶縁層13Bよりも厚いことにより、第2絶縁層13Bの製造時に、第1絶縁層13Aが誤って破損してしまうことなどを回避することができる。 Since the first insulating layer 13A is thicker than the second insulating layer 13B, it is possible to avoid accidental breakage of the first insulating layer 13A during manufacturing of the second insulating layer 13B.

また、絶縁層第2部132が第1絶縁層13Aおよび第2絶縁層13Bを含んでいる。これにより、絶縁層第1部131に対して絶縁層第2部132の剛性が極端に低くなることを抑制できる。これは、絶縁層第2部132が破損することにより、絶縁層第1部131がz方向他方側に脱落してしまうことを防止するのに好ましい。 Insulating layer second part 132 includes first insulating layer 13A and second insulating layer 13B. Accordingly, it is possible to prevent the rigidity of the second insulating layer portion 132 from becoming extremely low with respect to the first insulating layer portion 131 . This is preferable for preventing the first insulating layer portion 131 from dropping to the other side in the z direction due to the second insulating layer portion 132 being damaged.

第2絶縁層13Bの端縁199は、z方向視において基材第3側面115と表面第1部1211の端縁1219との間に位置しており、z方向視において表面第1部1211からはみ出さない構成となっている。これにより、たとえばワイヤ28のファーストボンディング部281やワイヤ29のファーストボンディング部291を形成するためのキャピラリが、第2絶縁層13Bに干渉することを回避することが可能である。これは、半導体発光装置A4の小型化に好ましい。 The edge 199 of the second insulating layer 13B is located between the substrate third side surface 115 and the edge 1219 of the first surface portion 1211 when viewed in the z direction, and is positioned from the first surface portion 1211 when viewed in the z direction. It has a structure that does not protrude. This makes it possible to prevent the capillary for forming the first bonding portion 281 of the wire 28 and the first bonding portion 291 of the wire 29 from interfering with the second insulating layer 13B. This is preferable for miniaturization of the semiconductor light emitting device A4.

絶縁層13は、絶縁層第3部133を有している。絶縁層第3部133は、基材11の基材表面111に直接接合されている。一般的に、樹脂等からなる絶縁層13は、金属からなる導体層12よりも樹脂等の絶縁性材料からなる基材11との接合強度が高い。このため、絶縁層第3部133によって、絶縁層13が基材11から剥離することを抑制することができる。 The insulating layer 13 has a third insulating layer portion 133 . The insulating layer third part 133 is directly bonded to the substrate surface 111 of the substrate 11 . In general, the insulating layer 13 made of resin or the like has higher bonding strength with the substrate 11 made of an insulating material such as resin than the conductor layer 12 made of metal. Therefore, the third insulating layer portion 133 can prevent the insulating layer 13 from peeling off from the base material 11 .

絶縁層第6面146は、基材11の基材表面111に向かうほど内方に回り込むような形状の曲面である。このため、絶縁層第6面146と基材表面111との間には、樹脂部3の一部が入り込む。これにより、樹脂部3が基材11の基材表面111から離間する挙動を抑制することができる。特に、絶縁層第3部133は、基材11への接合強度が高い部位であるため、樹脂部3の離間を抑制するのに適している。 The insulating layer sixth surface 146 is a curved surface with a shape that wraps inward toward the substrate surface 111 of the substrate 11 . Therefore, part of the resin portion 3 enters between the insulating layer sixth surface 146 and the substrate surface 111 . As a result, the resin portion 3 can be prevented from moving away from the substrate surface 111 of the substrate 11 . In particular, the insulating layer third portion 133 is a portion having high bonding strength to the base material 11, and is therefore suitable for suppressing separation of the resin portion 3. As shown in FIG.

絶縁層第8面148は、基材第3側面115に向かうほどz方向一方側に位置する曲面である。これにより、基材第3側面115のより大きい領域を絶縁層13から露出させることができる。これにより、半導体発光装置A4を回路基板等に実装する際に、はんだを裏面第1部1221に加えて基材第3側面115のより大きい領域に付着させることが可能であり、実装強度を高めることができる。 The insulating layer eighth surface 148 is a curved surface located on one side in the z direction toward the substrate third side surface 115 . This allows a larger area of the substrate third side surface 115 to be exposed from the insulating layer 13 . As a result, when the semiconductor light emitting device A4 is mounted on a circuit board or the like, the solder can be attached to a larger area of the substrate third side surface 115 in addition to the back surface first portion 1221, thereby increasing the mounting strength. be able to.

樹脂部3の一対の樹脂第1側面32および一対の樹脂第2側面33は、基材11の一対の基材第1側面113および一対の基材第2側面114と面一である。すなわち、樹脂部3は、z方向視において基材11のすべてと重なる構成である。これにより、樹脂部3の体積を増大させることが可能であり、基材11の大きさに対してより大きなサイズの半導体発光素子2を設けることができる。本実施形態においては、半導体発光素子2には、ワイヤ28およびワイヤ29が接続されている。x方向において互いに反対側に延出するワイヤ28およびワイヤ29を樹脂部3によって適切に覆いつつ、半導体発光装置A4の小型化を図ることができる。 The pair of resin first side surfaces 32 and the pair of resin second side surfaces 33 of the resin portion 3 are flush with the pair of base material first side surfaces 113 and the pair of base material second side surfaces 114 of the base material 11 . That is, the resin portion 3 is configured to overlap the entire base material 11 when viewed in the z direction. As a result, the volume of the resin portion 3 can be increased, and the semiconductor light emitting element 2 having a size larger than the size of the base material 11 can be provided. In this embodiment, wires 28 and 29 are connected to the semiconductor light emitting device 2 . The size of the semiconductor light emitting device A4 can be reduced while appropriately covering the wire 28 and the wire 29 extending on opposite sides in the x direction with the resin portion 3 .

図33に示すように、第5厚さt5は、第2厚さt2と表面第1部1211の厚さとの合計と略同程度である。そして、第1厚さt1は、第5厚さt5よりも厚い。このような第1厚さt1を有する絶縁層第1部131は、剛性を十分に高められており、樹脂部3の形状のばらつきを抑制するのに有利である。 As shown in FIG. 33, the fifth thickness t5 is approximately the same as the sum of the second thickness t2 and the thickness of the first surface portion 1211. As shown in FIG. The first thickness t1 is thicker than the fifth thickness t5. The insulating layer first portion 131 having such a first thickness t1 has sufficiently high rigidity, and is advantageous in suppressing variation in the shape of the resin portion 3 .

表面第1部1211の厚さは、絶縁層第2部132の第2厚さt2さよりも薄い。これにより、半導体発光装置A4のz方向寸法を縮小することができる。また、絶縁層第2部132の第2厚さt2があまりに薄いと、意図せず表面第1部1211を露出させるおそれがある。本実施形態によればこのような事態を回避することができる。 The thickness of the surface first portion 1211 is thinner than the second thickness t2 of the insulating layer second portion 132 . Thereby, the z-direction dimension of the semiconductor light emitting device A4 can be reduced. Also, if the second thickness t2 of the insulating layer second portion 132 is too thin, the first surface portion 1211 may be unintentionally exposed. According to this embodiment, such a situation can be avoided.

図45~図47は、本開示の他の実施形態を示している。なお、これらの図において、上記実施形態と同一または類似の要素には、上記実施形態と同一の符号を付している。 Figures 45-47 illustrate another embodiment of the present disclosure. In these figures, the same or similar elements as in the above embodiment are denoted by the same reference numerals as in the above embodiment.

<第5実施形態>
図45は、本開示の第5実施形態に係る半導体発光装置を示している。本実施形態の半導体発光装置A5は、絶縁層13の構成が上述した実施形態と異なっている。
<Fifth Embodiment>
FIG. 45 shows a semiconductor light emitting device according to a fifth embodiment of the present disclosure. The semiconductor light emitting device A5 of this embodiment differs from the embodiment described above in the configuration of the insulating layer 13 .

本実施形態においては、絶縁層13は、明瞭に区別される複数の層を有しておらず、全体が単一の層によって構成されている。ただし、絶縁層13が、絶縁層第1部131および絶縁層第2部132を有し、第1厚さt1が第2厚さt2よりも厚い点は、上述した実施形態と同様である。また、図示された例においては、絶縁層13の各部の形状は、上述した実施形態と同様とされているが、細部の構成が上述した実施形態と異なっていてもよい。 In this embodiment, the insulating layer 13 does not have a plurality of distinct layers, and is entirely composed of a single layer. However, the insulating layer 13 has a first insulating layer portion 131 and a second insulating layer portion 132, and the first thickness t1 is thicker than the second thickness t2, as in the above-described embodiment. Also, in the illustrated example, the shape of each part of the insulating layer 13 is the same as in the above-described embodiment, but the detailed configuration may differ from the above-described embodiment.

このような絶縁層13は、たとえば厚さが異なる複数の領域が予め形成されたシート状(フィルム状)ソルダーレジストを基材11に接合することによって形成することができる。あるいは、貫通孔1150を覆うように形成した絶縁層に、樹脂材料を塗布し、絶縁層と一体化させることにより、完成後において明瞭に区別される複数の層を有さない、単一の層からなると認められる構成を形成してもよい。 Such an insulating layer 13 can be formed, for example, by bonding a sheet-like (film-like) solder resist in which a plurality of regions with different thicknesses are formed in advance to the base material 11 . Alternatively, by applying a resin material to the insulating layer formed so as to cover the through hole 1150 and integrating it with the insulating layer, a single layer that does not have a plurality of clearly distinguishable layers after completion can be formed. A recognized configuration may be formed comprising:

本実施形態によっても、樹脂部3の形状のばらつきを抑制することをはじめ上述した実施形態の効果を奏することができる。また、本実施形態から理解されるように、絶縁層13の形成手法は特に限定されない。 According to this embodiment as well, it is possible to obtain the effects of the above-described embodiment, including suppressing variations in the shape of the resin portion 3 . Moreover, as understood from this embodiment, the method of forming the insulating layer 13 is not particularly limited.

<第6実施形態>
図46および図47は、本開示の第6実施形態に係る半導体発光装置を示している。本実施形態の半導体発光装置A6は、主に、基材第3側面115の個数、位置および形状が、上述した実施形態と異なっている。図46においては、理解の便宜上、樹脂部3を省略している。
<Sixth embodiment>
46 and 47 show a semiconductor light emitting device according to a sixth embodiment of the present disclosure. The semiconductor light-emitting device A6 of this embodiment differs from the above-described embodiments mainly in the number, position and shape of the third side surface 115 of the substrate. In FIG. 46, the resin portion 3 is omitted for convenience of understanding.

本実施形態においては、基材第3側面115の個数は、2である。すなわち、一対の基材第3側面115が、x方向に互いに離間して設けられている。基材第3側面115は、基材11のy方向略中央に形成されている。基材第3側面115のz方向視形状は、略半円形状である。 In this embodiment, the number of substrate third side surfaces 115 is two. That is, the pair of base material third side surfaces 115 are provided apart from each other in the x direction. The substrate third side surface 115 is formed substantially at the center of the substrate 11 in the y direction. The shape of the third side surface 115 of the substrate when viewed in the z-direction is substantially semicircular.

基材第3側面115の位置および形状に対応して、絶縁層13の絶縁層第1部131および絶縁層第2部132は、基材11のy方向略中央に位置している。また、絶縁層第1部131のz方向視形状は、略半円形状であり、絶縁層第2部132のz方向視形状は、略半円環形状である。 The first insulating layer portion 131 and the second insulating layer portion 132 of the insulating layer 13 are positioned substantially at the center of the base material 11 in the y direction, corresponding to the position and shape of the third side surface 115 of the base material. The shape of the first insulating layer portion 131 in the z direction is substantially semicircular, and the shape of the second insulating layer portion 132 in the z direction is substantially semicircular.

半導体発光素子2は、第1電極22と第2電極23とが、素子本体21のz方向上下面に分かれて設けられている。第1電極22は、導電性の接合材25によって表面部121に接合されている。第2電極23には、ワイヤ29が接続されている。 In the semiconductor light emitting device 2, the first electrode 22 and the second electrode 23 are separately provided on the upper and lower surfaces of the device main body 21 in the z direction. The first electrode 22 is bonded to the surface portion 121 with a conductive bonding material 25 . A wire 29 is connected to the second electrode 23 .

本実施形態における第1厚さt1、第2厚さt2、第3厚さt3、第4厚さt4、第5厚さt5、第1距離D1、第2距離D2および第3距離D3および第4距離D4の大小関係は、半導体発光装置A4,A5と同様である。 The first thickness t1, the second thickness t2, the third thickness t3, the fourth thickness t4, the fifth thickness t5, the first distance D1, the second distance D2 and the third distance D3 and the third 4 The magnitude relationship of the distance D4 is the same as that of the semiconductor light emitting devices A4 and A5.

本実施形態によっても、樹脂部3の形状のばらつきを抑制することをはじめ上述した実施形態の効果を奏することができる。また、本実施形態から理解されるように、基材11における基材第3側面115の位置や個数は特に限定されない。 According to this embodiment as well, it is possible to obtain the effects of the above-described embodiment, including suppressing variations in the shape of the resin portion 3 . Moreover, as understood from this embodiment, the position and the number of the substrate third side surfaces 115 on the substrate 11 are not particularly limited.

本開示に係る半導体発光装置は、上述した実施形態に限定されるものではない。本開示に係る半導体発光装置の各部の具体的な構成は、種々に設計変更自在である。 The semiconductor light emitting device according to the present disclosure is not limited to the embodiments described above. The specific configuration of each part of the semiconductor light emitting device according to the present disclosure can be changed in various ways.

〔付記B1〕
厚さ方向一方側を向く基材表面および前記厚さ方向他方側を向く基材裏面を有する絶縁性の基材、前記基材に形成された導体層、および前記導体層の一部を覆う絶縁層を有する基板と、
前記基板の前記基材表面側に搭載された半導体発光素子と、
前記半導体発光素子を覆い且つ前記半導体発光素子からの光を透過させる樹脂部と、を備え、
前記基板の前記基材は、各々が前記基材表面および前記基材裏面を繋ぎ、且つ第1方向に離間した一対の基材第1側面と、各々が前記基材表面および前記基材裏面を繋ぎ、且つ前記厚さ方向視において前記基材第1側面よりも前記半導体発光素子側に凹む基材第3側面と、を有し、
前記導体層は、前記基材表面に形成された表面部および前記基材第3側面に形成された側面部を有し、
前記表面部は、前記基材第3側面に対して前記半導体発光素子側に隣接し且つ前記側面部に繋がる表面第1部を有し、
前記絶縁層は、前記厚さ方向視において前記基材第3側面に対して前記半導体発光素子とは反対側に位置する絶縁層第1部と、前記厚さ方向視において前記導体層の前記表面第1部に重なる絶縁層第2部とを有し、
前記樹脂部は、前記絶縁層の前記絶縁層第1部および前記絶縁層第2部を覆っており、
前記絶縁層第1部の厚さである第1厚さは、前記絶縁層第2部の厚さである第2厚さよりも厚い、半導体発光装置。
〔付記B2〕
前記絶縁層は、第1絶縁層と、前記第1絶縁層に対して前記厚さ方向一方側に積層された第2絶縁層と、を有し、
前記絶縁層第1部は、前記第1絶縁層および前記第2絶縁層を含む、付記B1に記載の半導体発光装置。
〔付記B3〕
前記第1絶縁層の厚さは、前記第2絶縁層の厚さよりも厚い、付記B2に記載の半導体発光装置。
〔付記B4〕
前記絶縁層第2部は、前記第1絶縁層および前記第2絶縁層を含む、付記B2またはB3に記載の半導体発光装置。
〔付記B5〕
前記第2絶縁層の端縁は、前記厚さ方向視において前記基材第3側面と前記表面第1部の端縁との間に位置する、付記B3に記載の半導体発光装置。
〔付記B6〕
前記絶縁層は、前記表面第1部に隣接し、且つ前記基材表面に接する絶縁層第3部を有する、付記B2ないしB4のいずれかに記載の半導体発光装置。
〔付記B7〕
前記絶縁層第1部と前記樹脂部の表面との距離である第1距離は、前記絶縁層第3部と前記樹脂部の表面との距離である第3距離よりも小さい、付記B6に記載の半導体発光装置。
〔付記B8〕
前記絶縁層第2部と前記樹脂部の表面との距離である第2距離は、前記第3距離よりも小さい、付記B7に記載の半導体発光装置。
〔付記B9〕
前記絶縁層は、前記表面第1部上において前記絶縁層第2部と前記絶縁層第3部との間に介在し、且つ前記第2絶縁層からなる絶縁層第4部を有する、付記B6ないしB8のいずれかに記載の半導体発光装置。
〔付記B10〕
前記絶縁層第4部の厚さである第4厚さは、前記絶縁層第3部の厚さである第3厚さよりも薄い、付記B9に記載の半導体発光装置。
〔付記B11〕
前記第2厚さは、前記導体層の前記表面部の前記表面第1部の厚さよりも厚い、付記B10に記載の半導体発光装置。
〔付記B12〕
前記第4厚さは、前記導体層の前記表面部の前記表面第1部の厚さよりも厚い、付記B11に記載の半導体発光装置。
〔付記B13〕
前記基板の前記基材は、各々が前記基材表面および前記基材裏面を繋ぎ、且つ第1方向および前記厚さ方向に直角である第2方向に離間した一対の基材第2側面と、4つの前記基材第3側面を有し、
前記基材第3側面は、前記基材第1側面と前記基材第2側面との間に介在している、付記B2ないしB12のいずれかに記載の半導体発光装置。
〔付記B14〕
前記樹脂部は、前記一対の基材第1側面と面一である一対の樹脂第1側面と、前記一対の基材第2側面と面一である一対の樹脂第2側面と、を有する、付記B13に記載の半導体発光装置。
〔付記B15〕
前記第1絶縁層は、前記基材第1側面と面一である絶縁層第1側面と、前記基材第2側面と面一である絶縁層第2側面と、を有する、付記B14に記載の半導体発光装置。
〔付記B16〕
前記第2絶縁層は、前記基材第1側面および絶縁層第1側面と面一である絶縁層第3側面と、前記基材第2側面および絶縁層第2側面と面一である絶縁層第4側面と、を有する、付記B15に記載の半導体発光装置。
〔付記B17〕
前記基材表面と前記絶縁層第1部の前記厚さ方向一方側に位置する絶縁層第1面との距離に相当する第5厚さは、前記第2厚さよりも厚い、付記B1ないしB16のいずれかに記載の半導体発光装置。
[Appendix B1]
An insulating base material having a base surface facing one thickness direction side and a base back surface facing the other thickness direction side, a conductor layer formed on the base material, and insulation covering a part of the conductor layer a substrate having a layer;
a semiconductor light emitting element mounted on the base material surface side of the substrate;
a resin part that covers the semiconductor light emitting element and transmits light from the semiconductor light emitting element,
The base material of the substrate includes a pair of base first side surfaces each connecting the base surface and the base back surface and spaced apart in a first direction, and each connecting the base surface and the base back surface. a base material third side surface that connects and is recessed closer to the semiconductor light emitting element than the base material first side surface when viewed in the thickness direction;
The conductor layer has a surface portion formed on the base material surface and a side surface portion formed on the third side surface of the base material,
The surface portion has a surface first portion adjacent to the semiconductor light emitting element side with respect to the substrate third side surface and connected to the side surface portion,
The insulating layer includes a first insulating layer portion located on the side opposite to the semiconductor light emitting element with respect to the third side surface of the substrate when viewed in the thickness direction, and the surface of the conductor layer when viewed in the thickness direction. an insulating layer second portion overlapping the first portion;
The resin portion covers the insulating layer first portion and the insulating layer second portion of the insulating layer,
A semiconductor light-emitting device, wherein a first thickness, which is the thickness of the insulating layer first portion, is thicker than a second thickness, which is the thickness of the insulating layer second portion.
[Appendix B2]
The insulating layer has a first insulating layer and a second insulating layer laminated on one side in the thickness direction with respect to the first insulating layer,
The semiconductor light-emitting device according to Appendix B1, wherein the insulating layer first part includes the first insulating layer and the second insulating layer.
[Appendix B3]
The semiconductor light-emitting device according to appendix B2, wherein the thickness of the first insulating layer is thicker than the thickness of the second insulating layer.
[Appendix B4]
The semiconductor light-emitting device according to appendix B2 or B3, wherein the insulating layer second part includes the first insulating layer and the second insulating layer.
[Appendix B5]
The semiconductor light emitting device according to appendix B3, wherein the edge of the second insulating layer is positioned between the edge of the third side surface of the substrate and the edge of the first surface portion when viewed in the thickness direction.
[Appendix B6]
The semiconductor light-emitting device according to any one of Appendices B2 to B4, wherein the insulating layer has a third insulating layer portion adjacent to the first surface portion and in contact with the surface of the substrate.
[Appendix B7]
According to Appendix B6, wherein a first distance that is the distance between the first insulating layer portion and the surface of the resin portion is smaller than a third distance that is the distance between the third insulating layer portion and the surface of the resin portion semiconductor light emitting device.
[Appendix B8]
The semiconductor light emitting device according to appendix B7, wherein a second distance, which is a distance between the second insulating layer portion and the surface of the resin portion, is smaller than the third distance.
[Appendix B9]
Appendix B6, wherein the insulating layer has a fourth insulating layer portion interposed between the second insulating layer portion and the third insulating layer portion on the first surface portion and formed of the second insulating layer. 1 to B8.
[Appendix B10]
The semiconductor light-emitting device according to appendix B9, wherein a fourth thickness, which is the thickness of the fourth insulating layer portion, is thinner than a third thickness, which is the thickness of the third insulating layer portion.
[Appendix B11]
The semiconductor light emitting device according to appendix B10, wherein the second thickness is thicker than the thickness of the first surface portion of the surface portion of the conductor layer.
[Appendix B12]
The semiconductor light emitting device according to appendix B11, wherein the fourth thickness is thicker than the thickness of the first surface portion of the surface portion of the conductor layer.
[Appendix B13]
the base material of the substrate includes a pair of base material second side surfaces each connecting the base material surface and the base material back surface and spaced apart in a first direction and a second direction perpendicular to the thickness direction; having four substrate third side surfaces,
The semiconductor light emitting device according to any one of Appendices B2 to B12, wherein the third side surface of the base material is interposed between the first side surface of the base material and the second side surface of the base material.
[Appendix B14]
The resin portion has a pair of resin first side surfaces that are flush with the pair of base material first side surfaces, and a pair of resin second side surfaces that are flush with the pair of base material second side surfaces, The semiconductor light emitting device according to Appendix B13.
[Appendix B15]
According to Appendix B14, the first insulating layer has an insulating layer first side surface that is flush with the substrate first side surface, and an insulating layer second side surface that is flush with the substrate second side surface. semiconductor light emitting device.
[Appendix B16]
The second insulating layer includes an insulating layer third side surface flush with the substrate first side surface and the insulating layer first side surface, and an insulating layer flush with the substrate second side surface and the insulating layer second side surface. and a fourth side surface. The semiconductor light emitting device according to Appendix B15.
[Appendix B17]
A fifth thickness corresponding to a distance between the substrate surface and the insulating layer first surface located on one side in the thickness direction of the insulating layer first portion is thicker than the second thickness, appendices B1 to B16 The semiconductor light emitting device according to any one of 1.

A1,A11,A12,A13,A2,A3,A4,A5,A6:半導体発光装置
1 :基板
2 :半導体発光素子
3 :樹脂部
8 :収容体
11 :基材
12 :導体層
13 :絶縁層
13A :第1絶縁層
13B :第2絶縁層
21 :素子本体
22 :第1電極
23 :第2電極
25 :接合材
28 :ワイヤ
29 :ワイヤ
30 :樹脂材料
31 :樹脂表面
32 :樹脂第1側面
33 :樹脂第2側面
71 :金型
81 :ケース
82 :シート
110 :基板材料
111 :基材表面
112 :基材裏面
113 :基材第1側面
114 :基材第2側面
115 :基材第3側面
120 :導体層
121 :表面部
122 :裏面部
123 :側面部
124 :導体層第1面
130 :絶縁層
130A :第1絶縁層
130B :第2絶縁層
131 :絶縁層第1部
132 :絶縁層第2部
133 :絶縁層第3部
134 :絶縁層第4部
135 :連結部
137 :裏面絶縁層
141 :絶縁層第1面
142 :絶縁層第2面
143 :絶縁層第3面
144 :絶縁層第4面
145 :絶縁層第5面
146 :絶縁層第6面
147 :絶縁層第7面
148 :絶縁層第8面
149 :絶縁層第9面
161 :絶縁層第1領域
162 :絶縁層第2領域
163 :絶縁層第3領域
164 :絶縁層第4領域
167 :絶縁層第7領域
168 :絶縁層第8領域
171 :絶縁層第1側面
172 :絶縁層第2側面
191 :絶縁層第3側面
192 :絶縁層第4側面
199 :端縁
281 :ファーストボンディング部
282 :セカンドボンディング部
291 :ファーストボンディング部
292 :セカンドボンディング部
361 :樹脂第1領域
362 :樹脂第2領域
363 :樹脂第3領域
364 :樹脂第4領域
365 :樹脂第5領域
367 :樹脂第7領域
368 :樹脂第8領域
811 :凹部
1150 :貫通孔
1151 :基材第3側面
1211 :表面第1部
1212 :表面第2部
1213 :表面第3部
1214 :連結部
1215 :連結部
1219 :端縁
1221 :裏面第1部
1222 :裏面第2部
Cx :切断線
Cy :切断線
D0 :距離
D1 :第1距離
D2 :第2距離
D3 :第3距離
D4 :第4距離
D7 :第7距離
D8 :第8距離
L :光
A1, A11, A12, A13, A2, A3, A4, A5, A6: semiconductor light emitting device 1: substrate 2: semiconductor light emitting element 3: resin part 8: container 11: base material 12: conductor layer 13: insulating layer 13A : first insulating layer 13B : second insulating layer 21 : element body 22 : first electrode 23 : second electrode 25 : bonding material 28 : wire 29 : wire 30 : resin material 31 : resin surface 32 : resin first side surface 33 : Resin second side 71 : Mold 81 : Case 82 : Sheet 110 : Substrate material 111 : Base material front surface 112 : Base material back surface 113 : Base material first side 114 : Base material second side 115 : Base material third side 120 : Conductor layer 121 : Front surface 122 : Back surface 123 : Side surface 124 : Conductor layer first surface 130 : Insulating layer 130A : First insulating layer 130B : Second insulating layer 131 : Insulating layer first part 132 : Insulating layer Second part 133 : Insulating layer Third part 134 : Insulating layer Fourth part 135 : Connecting part 137 : Back insulating layer 141 : Insulating layer first surface 142 : Insulating layer second surface 143 : Insulating layer third surface 144 : Insulation Layer Fourth surface 145: Insulating layer Fifth surface 146: Insulating layer Sixth surface 147: Insulating layer Seventh surface 148: Insulating layer Eighth surface 149: Insulating layer Ninth surface 161: Insulating layer First region 162: Insulating layer Second region 163 : insulating layer Third region 164 : insulating layer Fourth region 167 : insulating layer Seventh region 168 : insulating layer Eighth region 171 : insulating layer first side 172 : insulating layer second side 191 : insulating layer 3rd side 192 : insulating layer 4th side 199 : edge 281 : first bonding portion 282 : second bonding portion 291 : first bonding portion 292 : second bonding portion 361 : resin first region 362 : resin second region 363 : resin third Region 364 : Fourth resin region 365 : Fifth resin region 367 : Seventh resin region 368 : Eighth resin region 811 : Recess 1150 : Through hole 1151 : Third base material side surface 1211 : First surface part 1212 : Second surface Part 1213 : Third front part 1214 : Connecting part 1215 : Connecting part 1219 : Edge 1221 : First back part 1222 : Second back part Cx : Cutting line Cy : Cutting line D0 : Distance D1 : First distance D2 : Third 2 distance D3: third distance D4: fourth distance D7: seventh distance D8: eighth distance L: light

Claims (17)

厚さ方向一方側を向く基材表面および前記厚さ方向一方側とは反対側の厚さ方向他方側を向く基材裏面を有する絶縁性の基材、前記基材に形成された導体層、および前記導体層の一部を覆う絶縁層を有する基板と、
前記基板の前記基材表面側に搭載された半導体発光素子と、
前記半導体発光素子を覆い且つ前記半導体発光素子からの光を透過させる樹脂部と、を備え、
前記基板の前記基材は、各々が前記基材表面および前記基材裏面を繋ぎ、且つ第1方向に離間した一対の基材第1側面と、各々が前記基材表面および前記基材裏面を繋ぎ、且つ前記第1方向および前記厚さ方向に直角である第2方向に離間した一対の基材第2側面と、前記基材表面および前記基材裏面を繋ぎ、且つ前記厚さ方向視において前記基材第1側面よりも前記半導体発光素子側に凹む基材第3側面と、を有し、
前記導体層は、前記基材表面に形成された表面部および前記基材第3側面に形成された側面部を有し、
前記表面部は、前記基材第3側面に対して前記半導体発光素子側に隣接し且つ前記側面部に繋がる表面第1部を有し、
前記絶縁層は、前記厚さ方向視において前記基材第3側面に対して前記半導体発光素子とは反対側に位置する絶縁層第1部と、前記厚さ方向視において前記導体層の前記表面第1部に重なる絶縁層第2部とを有し、
前記樹脂部は、前記絶縁層の前記絶縁層第1部および前記絶縁層第2部を覆っており、
前記絶縁層第1部の厚さである第1厚さは、前記絶縁層第2部の厚さである第2厚さよりも厚い、半導体発光装置。
An insulating substrate having a substrate surface facing one thickness direction side and a substrate back surface facing the other thickness direction side opposite to the one thickness direction side, a conductor layer formed on the substrate; and a substrate having an insulating layer covering a portion of the conductor layer;
a semiconductor light emitting element mounted on the base material surface side of the substrate;
a resin part that covers the semiconductor light emitting element and transmits light from the semiconductor light emitting element,
The base material of the substrate includes a pair of base first side surfaces each connecting the base surface and the base back surface and spaced apart in a first direction, and each connecting the base surface and the base back surface. A pair of substrate second side surfaces that are connected and separated in a second direction perpendicular to the first direction and the thickness direction, and the substrate front surface and the substrate back surface, and in the thickness direction view a third side surface of the substrate recessed toward the semiconductor light emitting element from the first side surface of the substrate;
The conductor layer has a surface portion formed on the base material surface and a side surface portion formed on the third side surface of the base material,
The surface portion has a surface first portion adjacent to the semiconductor light emitting element side with respect to the substrate third side surface and connected to the side surface portion,
The insulating layer includes a first insulating layer portion located on the side opposite to the semiconductor light emitting element with respect to the third side surface of the substrate when viewed in the thickness direction, and the surface of the conductor layer when viewed in the thickness direction. an insulating layer second portion overlapping the first portion;
The resin portion covers the insulating layer first portion and the insulating layer second portion of the insulating layer,
A semiconductor light-emitting device, wherein a first thickness, which is the thickness of the insulating layer first portion, is thicker than a second thickness, which is the thickness of the insulating layer second portion.
前記絶縁層は、第1絶縁層と、前記第1絶縁層に対して前記厚さ方向一方側に積層された第2絶縁層と、を有し、
前記絶縁層第1部は、前記第1絶縁層および前記第2絶縁層を含む、請求項1に記載の半導体発光装置。
The insulating layer has a first insulating layer and a second insulating layer laminated on one side in the thickness direction with respect to the first insulating layer,
2. The semiconductor light emitting device according to claim 1, wherein said insulating layer first part includes said first insulating layer and said second insulating layer.
前記第1絶縁層の厚さは、前記第2絶縁層の厚さよりも厚い、請求項2に記載の半導体発光装置。 3. The semiconductor light emitting device according to claim 2, wherein said first insulating layer is thicker than said second insulating layer. 前記絶縁層第2部は、前記第1絶縁層および前記第2絶縁層を含む、請求項2または3に記載の半導体発光装置。 4. The semiconductor light emitting device according to claim 2, wherein said insulating layer second portion includes said first insulating layer and said second insulating layer. 前記第2絶縁層の端縁は、前記厚さ方向視において前記基材第3側面と前記表面第1部の端縁との間に位置する、請求項3に記載の半導体発光装置。 4. The semiconductor light emitting device according to claim 3, wherein the edge of said second insulating layer is located between said third side surface of said substrate and said edge of said first surface portion when viewed in said thickness direction. 前記絶縁層は、前記表面第1部に隣接し、且つ前記基材表面に接する絶縁層第3部を有する、請求項2ないし4のいずれかに記載の半導体発光装置。 5. The semiconductor light emitting device according to claim 2, wherein said insulating layer has a third insulating layer portion adjacent to said first surface portion and in contact with said substrate surface. 前記絶縁層第1部と前記樹脂部の表面との距離である第1距離は、前記絶縁層第3部と前記樹脂部の表面との距離である第3距離よりも小さい、請求項6に記載の半導体発光装置。 7. The method according to claim 6, wherein a first distance between the first insulating layer portion and the surface of the resin portion is smaller than a third distance between the third insulating layer portion and the surface of the resin portion. The semiconductor light emitting device described. 前記絶縁層第2部と前記樹脂部の表面との距離である第2距離は、前記第3距離よりも小さい、請求項7に記載の半導体発光装置。 8. The semiconductor light-emitting device according to claim 7, wherein a second distance between said insulating layer second portion and the surface of said resin portion is smaller than said third distance. 前記絶縁層は、前記表面第1部上において前記絶縁層第2部と前記絶縁層第3部との間に介在し、且つ前記第絶縁層からなる絶縁層第4部を有する、請求項6ないし8のいずれかに記載の半導体発光装置。 3. The insulating layer has a fourth insulating layer portion interposed between the second insulating layer portion and the third insulating layer portion on the first surface portion and comprising the first insulating layer. 9. The semiconductor light emitting device according to any one of 6 to 8. 前記絶縁層第4部の厚さである第4厚さは、前記絶縁層第3部の厚さである第3厚さよりも薄い、請求項9に記載の半導体発光装置。 10. The semiconductor light-emitting device according to claim 9, wherein a fourth thickness , which is the thickness of said fourth insulating layer portion, is thinner than a third thickness, which is the thickness of said third insulating layer portion. 前記第2厚さは、前記表面第1部の厚さよりも厚い、請求項10に記載の半導体発光装置。 11. The semiconductor light emitting device according to claim 10 , wherein said second thickness is thicker than the thickness of said first surface portion. 前記第4厚さは、前記表面第1部の厚さよりも厚い、請求項11に記載の半導体発光装置。 12. The semiconductor light emitting device according to claim 11 , wherein said fourth thickness is thicker than the thickness of said first surface portion. 前記基板の前記基材は、4つの前記基材第3側面を有し、
前記基材第3側面は、前記基材第1側面と前記基材第2側面との間に介在している、請求項2ないし12のいずれかに記載の半導体発光装置。
the substrate of the substrate has four substrate third sides;
13. The semiconductor light emitting device according to claim 2, wherein said substrate third side surface is interposed between said substrate first side surface and said substrate second side surface.
前記樹脂部は、前記一対の基材第1側面と面一である一対の樹脂第1側面と、前記一対の基材第2側面と面一である一対の樹脂第2側面と、を有する、請求項13に記載の半導体発光装置。 The resin portion has a pair of resin first side surfaces that are flush with the pair of base material first side surfaces, and a pair of resin second side surfaces that are flush with the pair of base material second side surfaces, 14. The semiconductor light emitting device according to claim 13. 前記第1絶縁層は、前記基材第1側面と面一である絶縁層第1側面と、前記基材第2側面と面一である絶縁層第2側面と、を有する、請求項14に記載の半導体発光装置。 15. The method according to claim 14, wherein the first insulating layer has an insulating layer first side surface that is flush with the substrate first side surface, and an insulating layer second side surface that is flush with the substrate second side surface. The semiconductor light emitting device described. 前記第2絶縁層は、前記基材第1側面および絶縁層第1側面と面一である絶縁層第3側面と、前記基材第2側面および絶縁層第2側面と面一である絶縁層第4側面と、を有する、請求項15に記載の半導体発光装置。 The second insulating layer includes an insulating layer third side surface flush with the substrate first side surface and the insulating layer first side surface, and an insulating layer flush with the substrate second side surface and the insulating layer second side surface. and a fourth side surface. 前記基材表面と前記絶縁層第1部の前記厚さ方向一方側に位置する絶縁層第1面との距離に相当する第5厚さは、前記第2厚さよりも厚い、請求項1ないし16のいずれかに記載の半導体発光装置。 2. A fifth thickness corresponding to a distance between the surface of the base material and the first surface of the insulating layer located on one side in the thickness direction of the first insulating layer is thicker than the second thickness . 17. The semiconductor light emitting device according to any one of 16 to 16.
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Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004281994A (en) 2003-01-24 2004-10-07 Kyocera Corp Package for storing light emitting element and light emitting device
US20060138437A1 (en) 2004-12-29 2006-06-29 Tien-Fu Huang Lens and LED using the lens to achieve homogeneous illumination
JP2010028043A (en) 2008-07-24 2010-02-04 Sony Corp Light emitting element assembly, planar light source device, liquid crystal display device assembly, and light emitting member
JP2016004946A (en) 2014-06-18 2016-01-12 ローム株式会社 Optical device, mounting structure for optical device and method of manufacturing optical device
JP2017126743A (en) 2016-01-12 2017-07-20 シチズン電子株式会社 LED package

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101322454B1 (en) * 2007-03-30 2013-10-25 서울반도체 주식회사 Light emitting diode package

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004281994A (en) 2003-01-24 2004-10-07 Kyocera Corp Package for storing light emitting element and light emitting device
US20060138437A1 (en) 2004-12-29 2006-06-29 Tien-Fu Huang Lens and LED using the lens to achieve homogeneous illumination
JP2010028043A (en) 2008-07-24 2010-02-04 Sony Corp Light emitting element assembly, planar light source device, liquid crystal display device assembly, and light emitting member
JP2016004946A (en) 2014-06-18 2016-01-12 ローム株式会社 Optical device, mounting structure for optical device and method of manufacturing optical device
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