JP7294564B1 - 検査治具 - Google Patents
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Abstract
Description
本開示にかかる第2の検査治具は、複数のリードピンを備える半導体装置の検査治具であって、複数のリードピンとピッチが等しい第1の鋸歯が形成され、第1の鋸歯の谷にはコンタクト電極が形成されたコンタクト部と、複数のリードピンとピッチが等しい第2の鋸歯が形成された押さえ部と、を備え、半導体装置の検査時に、第1の鋸歯の谷と複数のリードピンとが対応するようにコンタクト部を配置し、第2の鋸歯を第1の鋸歯と対向させ、第2の鋸歯が、第1の鋸歯の谷へと向かう押圧を複数のリードピンに与えるように押さえ部を配置することで、複数のリードピンをコンタクト電極に電気的に接続させ、押さえ部がコンタクト部に複数のリードピンが延びる方向に押圧を与えることで、押さえ部とコンタクト部が一体となって、複数のリードピンが延びる方向に移動し、押さえ部に、第2の鋸歯の谷を覆う覆い部が形成され、半導体装置の検査時に、複数のリードピンに押圧を与えるのは第2の鋸歯の山であり、覆い部が第1の鋸歯の山に押圧を与えることで、押さえ部とコンタクト部が一体となって、複数のリードピンが延びる方向に移動する。
実施の形態1にかかる検査治具10を図1および図2に示す。図1および図2は、検査治具10および検査対象である半導体装置12の側面図および上面図である。検査治具10は、コンタクト部16、押さえ部22、ガイドレール26を備えている。半導体装置12は、外部に飛び出すように一列に並ぶ複数のリードピン14を備えている。
実施の形態2では、実施の形態1と異なり、図6に示すように、複数のリードピン44の断面形状は、複数のリードピン44が並ぶ方向(図6の左右方向)に平行な辺を有する長方形であるとし、第1の鋸歯48と第2の鋸歯54の谷が平面形状を持つ。ここで長方形は正方形を含むとする。また、平面形状とは、鋸歯の歯が突出する方向(図6の上下方向)と垂直な平面の形状をいう。
実施の形態3では、実施の形態1と異なり、図7に示すように、第1の鋸歯78の山にガイドピン90が形成され、第2の鋸歯84の谷にガイドホール92が形成されている。検査時に複数のリードピン14に押圧を与えるのは第2の鋸歯84の山である。また第2の鋸歯84の山が複数のリードピン14に押圧を与える際に、ガイドピン90がガイドホール92にはまる。
実施の形態4では、実施の形態3と異なり、ガイドピンおよびガイドホールがなく、図9に示すように、押さえ部112に、複数のリードピン14が延びる方向(図9の紙面手前)から見て第2の鋸歯114の奥に第2の鋸歯114の谷を覆う覆い部124が形成されている。検査時は、覆い部124が第1の鋸歯108の山に押圧を与えることで、押さえ部112とコンタクト部16が一体となって、複数のリードピン14が延びる方向に移動する。
Claims (2)
- 複数のリードピンを備える半導体装置の検査治具であって、
前記複数のリードピンとピッチが等しい第1の鋸歯が形成され、前記第1の鋸歯の谷にはコンタクト電極が形成されたコンタクト部と、
前記複数のリードピンとピッチが等しい第2の鋸歯が形成された押さえ部と、
を備え、
前記半導体装置の検査時に、
前記第1の鋸歯の谷と前記複数のリードピンとが対応するように前記コンタクト部を配置し、
前記第2の鋸歯を前記第1の鋸歯と対向させ、前記第2の鋸歯が、前記第1の鋸歯の谷へと向かう押圧を前記複数のリードピンに与えるように前記押さえ部を配置することで、前記複数のリードピンを前記コンタクト電極に電気的に接続させ、
前記押さえ部が前記コンタクト部に前記複数のリードピンが延びる方向に押圧を与えることで、前記押さえ部と前記コンタクト部が一体となって、前記複数のリードピンが延びる方向に移動し、
前記第1の鋸歯の山にはガイドピンが形成され、
前記第2の鋸歯の谷にはガイドホールが形成され、
前記半導体装置の検査時に、
前記複数のリードピンに押圧を与えるのは前記第2の鋸歯の山であり、
前記第2の鋸歯の山が前記複数のリードピンに押圧を与える際に、前記ガイドピンが前記ガイドホールにはまり、
前記ガイドピンが前記ガイドホールの側面に押圧を与えることで、前記押さえ部と前記コンタクト部が一体となって、前記複数のリードピンが延びる方向に移動する
検査治具。 - 複数のリードピンを備える半導体装置の検査治具であって、
前記複数のリードピンとピッチが等しい第1の鋸歯が形成され、前記第1の鋸歯の谷にはコンタクト電極が形成されたコンタクト部と、
前記複数のリードピンとピッチが等しい第2の鋸歯が形成された押さえ部と、
を備え、
前記半導体装置の検査時に、
前記第1の鋸歯の谷と前記複数のリードピンとが対応するように前記コンタクト部を配置し、
前記第2の鋸歯を前記第1の鋸歯と対向させ、前記第2の鋸歯が、前記第1の鋸歯の谷へと向かう押圧を前記複数のリードピンに与えるように前記押さえ部を配置することで、前記複数のリードピンを前記コンタクト電極に電気的に接続させ、
前記押さえ部が前記コンタクト部に前記複数のリードピンが延びる方向に押圧を与えることで、前記押さえ部と前記コンタクト部が一体となって、前記複数のリードピンが延びる方向に移動し、
前記押さえ部に、前記第2の鋸歯の谷を覆う覆い部が形成され、
前記半導体装置の検査時に、
前記複数のリードピンに押圧を与えるのは前記第2の鋸歯の山であり、
前記覆い部が前記第1の鋸歯の山に押圧を与えることで、前記押さえ部と前記コンタクト部が一体となって、前記複数のリードピンが延びる方向に移動する
検査治具。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/JP2022/042646 WO2024105836A1 (ja) | 2022-11-17 | 2022-11-17 | 検査治具 |
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JP7294564B1 true JP7294564B1 (ja) | 2023-06-20 |
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ID=86772712
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2023518218A Active JP7294564B1 (ja) | 2022-11-17 | 2022-11-17 | 検査治具 |
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WO (1) | WO2024105836A1 (ja) |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62185400A (ja) * | 1986-02-10 | 1987-08-13 | ロ−ム株式会社 | 電子装置の端子ピン矯正装置 |
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JPH0618614A (ja) * | 1992-07-03 | 1994-01-28 | Seiko Epson Corp | ハンドラー |
JPH07106798A (ja) * | 1993-10-01 | 1995-04-21 | Ike Denki Kk | 部品端子の曲がり矯正方法 |
JPH11354997A (ja) * | 1998-06-09 | 1999-12-24 | Sony Corp | 電子部品のピン矯正用治具 |
-
2022
- 2022-11-17 WO PCT/JP2022/042646 patent/WO2024105836A1/ja unknown
- 2022-11-17 JP JP2023518218A patent/JP7294564B1/ja active Active
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2024105836A1 (ja) | 2024-05-23 |
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