JP7289365B2 - 工作機械用工具測定装置 - Google Patents
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Description
工具検知領域に光を向けるための光源と、
工具検知領域からの光を検出するためのセンサーと、および
前記センサーを汚染から選択的に保護するシャッターアセンブリであって、前記シャッターアセンブリは、前記センサーが前記シャッターアセンブリによって覆われて前記センサの汚染を防止する閉鎖構成と、前記シャッターアセンブリの第1のアパーチャを介して前記センサに光が通過可能な開放構成とを提供するように構成されている、シャッターアセンブリと、を備え、
前記シャッターアセンブリは、光が前記シャッターアセンブリの前記第2のアパーチャを通ってセンサーに通過することができる狭窄構成をさらに提供するように構成され、前記第2のアパーチャは前記第1のアパーチャよりも小さいことを特徴とする、装置、が提供される。
Claims (15)
- 工作機械のための光学式工具測定装置であって、
工具検知領域に向けて光を照射する光源と、
前記工具検知領域からの光を検出するセンサーと、
前記センサーを汚染から選択的に保護するシャッターアセンブリであって、前記シャッターアセンブリは、前記センサーが前記シャッターアセンブリによって覆われて前記センサーの汚染を防止する閉鎖構成と、前記シャッターアセンブリの第1のアパーチャを介して前記センサーに光を通過させることができる開放構成と、を提供するように構成されている、シャッターアセンブリと、
を備え、
前記シャッターアセンブリは、さらに、前記シャッターアセンブリの第2のアパーチャを介して前記センサーに光を通過させる狭窄構成を提供するように構成され、前記第2のアパーチャは前記第1のアパーチャよりも小さいことを特徴とする装置。 - 前記センサーは、複数のピクセルからなる2次元イメージングアレイを備え、前記開放構成の第1のアパーチャは、前記複数のピクセルの第1のセットに光を通過させる大きさであり、前記狭窄構成の第2のアパーチャは、前記複数のピクセルの第2のセットに光を通過させる大きさであり、前記第2のセットは、前記第1のセットよりも少ないピクセルを含む、請求項1に記載の装置。
- 前記イメージングアレイは、複数のピクセルのうち第1のセットから画像を取り込むことができるイメージングモードと、第2のセットのピクセルに当たる結果として得られる光強度を測定するエミュレーションモードとで動作可能である、請求項2に記載の装置。
- 前記シャッターアセンブリは、光が前記センサーを通過するための通路を備えており、前記通路が第1のアパーチャを画定している、請求項1から3のいずれか一項に記載の装置。
- 前記シャッターアセンブリは、前記第2のアパーチャを画定する狭窄部材を備え、前記狭窄部材は、前記第2のアパーチャが前記通路を狭めるように、前記通路内に移動可能である、請求項4に記載の装置。
- 前記シャッターアセンブリは閉鎖部材を備え、前記閉鎖部材は前記通路内に移動可能であり、前記通路を閉鎖して前記センサーを覆うことができる、請求項5に記載の装置。
- 前記狭窄部材と前記閉鎖部材は共通の軸に沿って別々に移動可能であり、前記狭窄部材は、前記閉鎖部材が移動可能な中央キャビティを備えている、請求項6に記載の装置。
- 前記シャッターアセンブリが、前記第1のアパーチャを画定する第1の部分と、前記第2のアパーチャを画定する第2の部分と、アパーチャを有さない第3の部分と、を備える、シャッター部材を備え、前記シャッター部材は、前記第1、第2、および第3の部分が前記センサーに対して相対的に配置されて、それぞれ開放、狭窄、および閉鎖構成を提供するように、移動可能である、請求項1から4のいずれか一項に記載の装置。
- 前記シャッターアセンブリが前記閉鎖構成にあるときに、前記センサーが外部環境から実質的に密閉されている、請求項1から8のいずれか一項に記載の装置。
- 前記第1のアパーチャおよび前記第2のアパーチャは、それぞれ、前記センサーに対する反復可能な位置を採用することができる、請求項1から9のいずれか一項に記載の装置。
- 前記シャッターアセンブリは保護ユニット内に設けられ、前記センサーは受信ユニット内に設けられ、前記保護ユニットは前記受信ユニットに反復可能な位置で取り外し可能に取り付けられる、請求項1から10のいずれか一項に記載の装置。
- ガスの供給を受けるために少なくとも1つの入口が設けられており、前記シャッターアセンブリが前記狭窄構成にあるときに、装置内の内部導管によって、受けたガスが第2のアパーチャを介して排出されるようになっている、請求項1から11のいずれか一項に記載の装置。
- 前記シャッターアセンブリが前記開放構成、前記閉鎖構成、および前記狭窄構成のいずれかに入るように指示するコントローラーを備え、前記コントローラーは、前記シャッターアセンブリが前記狭窄構成にあるときにセンサーによって受信された光を分析し、そこから、前記装置の外部の環境が、前記シャッターアセンブリが前記開放構成に入ることができるほど十分に汚染物質から解放されているかどうかを判断する、請求項1から12のいずれか一項に記載の装置。
- 前記光源を汚染から選択的に保護する追加のシャッターアセンブリを備え、前記追加のシャッターアセンブリは、前記光源が前記追加のシャッターアセンブリによって覆われて前記光源の汚染を防止する閉鎖構成と、前記光源からの光が前記追加のシャッターアセンブリの第3のアパーチャを通過することができる開放構成とを提供するように構成され、前記追加のシャッターアセンブリは、さらに、前記光源からの光が前記追加のシャッターアセンブリの第4のアパーチャを通過することができる狭窄構成を提供するように構成され、前記第4のアパーチャは前記第3のアパーチャよりも小さい、
請求項1から13のいずれか一項に記載の装置。 - 前記光源は、工具検知領域を通過して前記センサーに至る光ビームを発するように配置され、前記光ビームに挿入された工具は、それによって前記センサーによって受信された光を覆い隠す、請求項1から14のいずれか一項に記載の装置。
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