JP7245476B2 - 電子黒体材料及び電子検出構造体 - Google Patents
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- B82Y30/00—Nanotechnology for materials or surface science, e.g. nanocomposites
Description
100 電子プローブ
102 電気信号検出要素
104 第一端子
106 第二端子
200 電子黒体材料
300 絶縁基板
Claims (5)
- 電子プローブと、電気信号検出要素と、を含む電子検出構造体であって、
前記電気信号検出要素は第一端子および第二端子を含み、
前記第一端子は前記電子プローブと電気的に接続され、
前記第二端子は接地され、
前記電子プローブは多孔炭素材料層を含む電子黒体材料を含み、
前記多孔炭素材料層は複数の炭素材料粒子を含み、
複数の前記炭素材料粒子の間に微小な間隙があり、複数の前記炭素材料粒子間の間隙はナノメートルスケールまたはマイクロメートルスケールであり、
前記炭素材料粒子のサイズはナノメートルスケールまたはマイクロメートルスケールであることを特徴とする電子検出構造体。 - 前記電子黒体材料は純粋な炭素構造を有し、複数の炭素材料粒子のみからなることを特徴とする、請求項1に記載の電子検出構造体。
- 前記電子黒体材料が炭素元素のみからなることを特徴とする、請求項1に記載の電子検出構造体。
- 前記多孔炭素材料層はカーボンナノチューブアレイ、カーボンナノチューブネットワーク構造体或いは炭素繊維ネットワーク構造体であることを特徴とする、請求項1に記載の電子検出構造体。
- 多孔炭素材料層を含む電子黒体材料であって、
前記多孔炭素材料層は複数の炭素材料粒子を含み、
複数の前記炭素材料粒子の間に微小な間隙があり、複数の前記炭素材料粒子間の間隙は
ナノメートルスケールまたはマイクロメートルスケールであり、
前記炭素材料粒子のサイズはナノメートルスケールまたはマイクロメートルスケールであり、
前記炭素材料粒子は、カーボンナノチューブであり、
前記カーボンナノチューブの延伸方向は、前記多孔炭素材料層の表面に垂直であり、
前記多孔炭素材料層の厚さは、200μm~600μmであることを特徴とする電子黒体材料。
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JP2015196640A (ja) | 2014-03-31 | 2015-11-09 | ツィンファ ユニバーシティ | カーボンナノチューブアレイの転移方法及びカーボンナノチューブ構造体の製造方法 |
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