JP7216218B2

JP7216218B2 - 眼科装置

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Description

この発明は、眼科装置に関する。

近年、眼科装置を用いたスクリーニング検査が行われる。このような眼科装置において、自己検診への応用も期待されており、より一層の小型化、軽量化が望まれる。その一方、被検眼の注目部位の詳細な観察には、様々な観点で注目部位が描出された複数の画像を取得することが有効である。

例えば、特許文献１、特許文献２、及び特許文献３には、スリット光を用いて被検眼をパターン照明し、その戻り光をＣＭＯＳ（ＣｏｍｐｌｅｍｅｎｔａｒｙＭｅｔａｌＯｘｉｄｅＳｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ）イメージセンサを用いて検出するように構成された眼科装置が開示されている。この眼科装置は、照明パターンと、ＣＭＯＳイメージセンサによる受光タイミングとを調整することにより、簡素な構成で被検眼の画像を取得することが可能である。

特に、特許文献２及び特許文献３には、スリット光を用いてパターン照明された被検眼の画像を取得するための光学系に光コヒーレンストモグラフィ光学系を組み合わせた光学系を備えた眼科装置が開示されている。

例えば、非特許文献１には、ライン状の測定光を用いて光コヒーレンストモグラフィを実行する手法が開示されている。

米国特許第７８３１１０６号明細書米国特許第８２３７８３５号明細書米国特許第１０４４１１６７号明細書

ＤａｎｉｅｌＪ．Ｆｅｃｈｔｉｇｅｔａｌ．， "Ｌｉｎｅ－ｆｉｅｌｄｐａｒａｌｌｅｌｓｗｅｐｔｓｏｕｒｃｅＭＨｚＯＣＴｆｏｒｓｔｒｕｃｔｕｒａｌａｎｄｆｕｎｃｔｉｏｎａｌｒｅｔｉｎａｌｉｍａｇｉｎｇ"，ＢＩＯＭＥＤＩＣＡＬＯＰＴＩＣＳＥＸＰＲＥＳＳ，２０１５年２月４日，Ｖｏｌ．６，Ｎｏ．３，ｐ．７１６－７３５

従来の手法では、被検眼の瞳孔が小瞳孔である場合、眼内に入射する光量が低下し、取得される被検眼の画像（特に中心部）が暗くなることが知られている。従って、計測信号の精度の低下や画質の劣化を招き、被検眼を詳細に観察することが困難になる場合がある。

また、被検眼の正面画像（又は計測信号）を取得するための光学系に、被検眼の断層像
（又は計測信号）を取得するための光学系を単純に組み合わせても、装置の大型化や制御の複雑化を招く。

本発明は、このような事情を鑑みてなされたものであり、その目的は、簡素な構成で、被検眼を詳細に観察するための新たな技術を提供することにある。

実施形態の第１の態様は、光源を含み、前記光源からの光を用いて測定光を生成する照射光学系と、前記測定光を偏向し、偏向された前記測定光を被検眼に導く光スキャナと、前記測定光を前記光スキャナに導くと共に、前記光源からの光から生成された参照光と前記被検眼からの前記測定光の戻り光との干渉光を生成する光分割合成部と、前記光分割合成部を介して前記戻り光及び前記干渉光を検出する検出器と、を含む眼科装置である。

実施形態の第２態様は、光源を含み、前記光源からの光を用いて測定光を生成する照射光学系と、前記測定光を偏向する光スキャナと、前記光スキャナにより偏向された前記測定光を被検眼に導くと共に、前記光源からの光から生成された参照光と前記被検眼からの前記測定光の戻り光との干渉光を生成する光分割合成部と、前記光分割合成部を介して前記戻り光及び前記干渉光を検出する検出器と、を含む眼科装置である。

実施形態の第３態様では、第１態様又は第２態様において、前記照射光学系は、前記光源からの光を前記測定光と前記参照光とに分割する。

実施形態の第４態様では、第１態様又は第２態様において、前記照射光学系は、前記光源からの光の光路を切り替えることにより前記測定光と前記参照光を出力する。

実施形態の第５態様は、第１態様～第４態様のいずれかにおいて、前記測定光及び前記参照光の少なくとも１つの光路に対して挿脱可能に構成された遮光板を含み、前記検出器は、前記少なくとも１つの光路に前記遮光板が配置された状態で前記戻り光を検出すると共に、前記少なくとも１つの光路から前記遮光板が退避された状態で前記干渉光を検出する。

実施形態の第６態様では、第１態様～第５態様のいずれかにおいて、前記光分割合成部は、前記測定光の光路と前記戻り光の光路とを分割する光分割部と、前記光分割部により分割された前記戻り光を第１戻り光と第２戻り光とに分割する第１スプリッタと、前記参照光と前記第２戻り光との干渉光を生成するビームコンバイナと、を含み、前記検出器は、前記第１スプリッタにより分割された前記第１戻り光と、前記ビームコンバイナにより生成された前記干渉光とを検出する。

実施形態の第７態様では、第６態様において、前記光分割部は、光軸が通過する穴部が形成された穴鏡を含み、前記穴部は、前記被検眼の虹彩と光学的に略共役な位置に配置される。

実施形態の第８態様では、第６態様又は第７態様において、前記検出器は、前記第１戻り光を検出する第１検出器と、前記干渉光を検出する第２検出器と、を含む。

実施形態の第９態様では、第６態様～第８態様のいずれかにおいて、前記光分割合成部は、前記第１スプリッタと前記ビームコンバイナとの間に配置され、前記第２戻り光の光路長を変更する第１光路長変更部を含む。

実施形態の第１０態様では、第３態様～第９態様のいずれかにおいて、前記光分割合成部は、前記参照光の光路に配置され、前記参照光の光路長を変更する第２光路長変更部を含む。

実施形態の第１１態様は、第１態様～第１０態様のいずれかにおいて、前記検出器により得られた前記戻り光の検出結果に基づいて前記被検眼の正面画像を形成する第１画像形成部と、前記検出器により得られた前記干渉光の検出結果に基づいて前記被検眼の断層像を形成する第２画像形成部と、を含む。

実施形態の第１２態様では、第１態様～第１１態様のいずれかにおいて、前記光源は、波長掃引光源を含む。

実施形態の第１３態様では、第１態様～第１１態様のいずれかにおいて、前記光源は、広帯域光源を含み、前記検出器は、前記干渉光を分光する分光器を含む。

実施形態の第１４態様では、第１態様～第１３態様のいずれかにおいて、前記照射光学系は、前記光源からの光を用いてスリット状の測定光を生成し、前記被検眼の計測部位における前記測定光の照射位置に対応した前記戻り光の受光結果を取得するようにローリングシャッター方式で前記検出器を制御する制御部を含む。

実施形態の第１５態様では、第１４態様において、前記照射光学系は、前記計測部位と光学的に略共役な位置に配置可能なスリット状の開口部が形成されたスリットと、前記光源と前記スリットとの間に配置され、前記被検眼の虹彩と光学的に略共役な位置に配置可能な虹彩絞りと、を含む。

実施形態の第１６態様は、第１５態様において、前記スリットを前記照射光学系の光軸方向に移動する第１移動機構を含み、前記制御部は、前記被検眼の屈折度数に基づいて前記第１移動機構を制御する。

実施形態の第１７態様は、第１６態様において、前記光源の位置及び向きの少なくとも１つを変更する第２移動機構を含み、前記制御部は、前記第１移動機構により移動された前記スリットの位置に応じて、前記第２移動機構を制御する。

実施形態の第１８態様は、第１５態様～第１７態様のいずれかにおいて、前記照射光学系は、前記光スキャナと前記スリットとの間に配置された第１リレーレンズ系を含み、前記第１リレーレンズ系の後側焦点位置が、前記虹彩と光学的に略共役な位置である。

実施形態の第１９態様では、第１８態様において、前記光スキャナは、前記後側焦点位置又はその近傍に配置される。

実施形態の第２０態様は、第１５態様～第１９態様のいずれかにおいて、前記スリットと前記虹彩絞りとに間に配置された第２リレーレンズ系を含み、前記第２リレーレンズ系の前側焦点位置又はその近傍に、前記虹彩絞りが配置される。

実施形態の第２１態様では、第１５態様～第２０態様のいずれかにおいて、前記虹彩絞りには、前記被検眼の角膜、水晶体前面、及び水晶体後面において前記測定光の光束断面と前記被検眼からの戻り光の光束断面とが分離するように、前記測定光が通過する１以上の開口部が形成されている。

実施形態の第２２態様では、第２１態様において、前記１以上の開口部のそれぞれは、弓形形状であり、前記弓形形状の弦の方向は、前記スリットを通過した光により形成されるスリット像の長手方向に略平行である。

なお、上記した複数の態様に係る構成を任意に組み合わせることが可能である。

この発明によれば、簡素な構成で、被検眼を詳細に観察するための新たな技術を提供することができる。

第１実施形態に係る眼科装置の構成例を示す概略図である。第１実施形態に係る眼科装置の制御系の構成例を示す概略図である。第１実施形態に係る眼科装置の光学系の構成例を示す概略図である。第１実施形態に係る眼科装置の光学系の構成例を示す概略図である。第１実施形態に係る眼科装置の光学系の構成例を示す概略図である。第１実施形態に係る眼科装置の光学系の構成例を示す図である。第１実施形態に係る眼科装置の光学系の構成例の説明図である。第１実施形態に係る眼科装置の光学系の構成例の説明図である。第１実施形態に係る眼科装置の動作説明図である。第１実施形態に係る眼科装置の動作説明図である。第１実施形態に係る眼科装置の動作説明図である。第１実施形態に係る眼科装置の光学系の構成例の説明図である。第１実施形態に係る眼科装置の光学系の構成例の説明図である。第１実施形態に係る眼科装置の制御系の構成例を示す図である。第１実施形態に係る眼科装置の動作説明図である。第１実施形態に係る眼科装置の動作説明図である。第１実施形態に係る眼科装置の動作説明図である。第１実施形態に係る眼科装置の動作例を示すフローである。第１実施形態の変形例に係る眼科装置の光学系の構成例を示す概略図である。第２実施形態に係る眼科装置の光学系の構成例を示す概略図である。第２実施形態に係る眼科装置の光学系の構成例を示す図である。第３実施形態に係る眼科装置の構成例を示す概略図である。第３実施形態に係る眼科装置の光学系の構成例を示す概略図である。第３実施形態に係る眼科装置の光学系の構成例を示す概略図である。第３実施形態に係る眼科装置の光学系の構成例を示す概略図である。第３実施形態に係る眼科装置の光学系の構成例を示す図である。第４実施形態に係る眼科装置の光学系の構成例を示す概略図である。第５実施形態に係る眼科装置の光学系の構成例を示す概略図である。第５実施形態に係る眼科装置の光学系の構成例を示す図である。第５実施形態に係る眼科装置の制御系の構成例を示す概略図である。第５実施形態に係る眼科装置の動作例を示すフロー図である。第５実施形態に係る眼科装置の動作例を示すフロー図である。第６実施形態に係る眼科装置の光学系の構成例を示す概略図である。第６実施形態に係る眼科装置の光学系の構成例を示す図である。第７実施形態に係る眼科装置の光学系の構成例を示す概略図である。第７実施形態に係る眼科装置の光学系の構成例を示す図である。第８実施形態に係る眼科装置の光学系の構成例を示す概略図である。第８実施形態に係る眼科装置の光学系の構成例を示す図である。第９実施形態に係る眼科装置の光学系の構成例を示す概略図である。第１０実施形態に係る眼科装置の光学系の構成例を示す概略図である。

この発明に係る眼科装置の実施形態の一例について、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、この明細書に記載された文献の記載内容を、以下の実施形態の内容として適宜援用することが可能である。

本明細書において、「スプリッタ」は、所定の分割比でパワーを分割することにより入射光を２つの光に分割する光学素子又は光学系、互いに異なる複数の波長成分を有する入射光を互いに異なる２つの波長範囲の光に分割する光学素子又は光学系、又は、入射光を時分割で２つの光に分割する光学素子又は光学系を意味する。例えば、５０：５０の分割比で入射光を分割する「スプリッタ」は、ハーフミラー（ビームスプリッタ）の機能を実現する。例えば、入射光を波長分割する「スプリッタ」は、ダイクロイックビームスプリッタの機能を実現する。例えば、入射光を時分割する「スプリッタ」は、フリップミラー等の光路切替素子の機能を実現する。

なお、本明細書において、入射光を２つの光に分割し、且つ、可逆的に２つの入射光を合成する光学素子又は光学系を「スプリッタ」と表記する場合がある。また、本明細書において、２つの入射光を合成する光学素子又は光学系を「スプリッタ」と表記する場合がある。

本明細書において「プロセッサ」は、例えば、ＣＰＵ（ＣｅｎｔｒａｌＰｒｏｃｅｓｓｉｎｇＵｎｉｔ）、ＧＰＵ（ＧｒａｐｈｉｃｓＰｒｏｃｅｓｓｉｎｇＵｎｉｔ）、ＡＳＩＣ（ＡｐｐｌｉｃａｔｉｏｎＳｐｅｃｉｆｉｃＩｎｔｅｇｒａｔｅｄＣｉｒｃｕｉｔ）、プログラマブル論理デバイス（例えば、ＳＰＬＤ（ＳｉｍｐｌｅＰｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅＬｏｇｉｃＤｅｖｉｃｅ）、ＣＰＬＤ（ＣｏｍｐｌｅｘＰｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅＬｏｇｉｃＤｅｖｉｃｅ）、ＦＰＧＡ（ＦｉｅｌｄＰｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅＧａｔｅＡｒｒａｙ））等の回路を意味する。プロセッサは、例えば、記憶回路や記憶装置に格納されているプログラムを読み出し実行することで、実施形態に係る機能を実現する。

実施形態に係る眼科装置は、光源からの光を用いて所定形状の測定光（照明光）を生成し、スプリッタにより光スキャナに導かれた測定光を偏向することにより測定光の照射位置（照射範囲）を移動させながら被検眼の所定部位を照射する（例えば、図１）。

被検眼からの測定光の戻り光は、スプリッタを介して、検出器を用いて受光される。戻り光の受光結果は、測定光の照射位置の移動タイミングに同期して、測定光の照射位置に対応した戻り光の受光位置における受光素子から読み出される。検出器により得られた測定光の戻り光の受光結果を用いて被検眼の所定部位のＳＬＯ画像（正面画像）を取得することが可能である。

また、スプリッタは、測定光を分割することにより得られた参照光と被検眼からの測定光の戻り光とを合成し（干渉させ）、合成光（干渉光）を生成する。検出器は、スプリッタにより生成された合成光を受光する。合成光の受光結果は、測定光の照射位置の移動タイミングに同期して、測定光の照射位置に対応した戻り光の受光位置における受光素子から読み出される。検出器により得られた合成光の受光結果を用いて被検眼の所定部位のＯＣＴ画像（断層像）を取得することが可能である。

これにより、光源、光スキャナ、及び検出器を共用化しつつ、被検眼の所定部位のＳＬＯ信号（又はＳＬＯ画像）とＯＣＴ信号（又はＯＣＴ画像）とを取得することが可能になる。特に、光源及び光スキャナを共用化することで、ＳＬＯ信号とＯＣＴ信号、又はＳＬＯ画像とＯＣＴ画像とを高精度に位置合わせすることが可能になる。

いくつかの実施形態では、光源からの光を分割することにより測定光と参照光とが生成される。いくつかの実施形態では、光源からの光の光路を切り替えることにより測定光と参照光とが生成される。

いくつかの実施形態では、参照光に対して遮光制御を行うことで、戻り光の受光結果と合成光の受光結果とが単一の検出器により取得される。これにより、眼科装置の構成を大幅に簡略化することができる。

いくつかの実施形態では、戻り光を第１戻り光と第２戻り光とに分割し、検出器は、第１戻り光を検出する第１検出器と、第２戻り光と参照光との合成光を検出する第２検出器とを含む。これにより、ＳＬＯ信号とＯＣＴ信号（又はＳＬＯ画像とＯＣＴ画像）を同時に取得することが可能になる。

いくつかの実施形態では、所定部位は、前眼部、又は後眼部である。前眼部には、角膜、虹彩、水晶体、毛様体、チン小帯などがある。後眼部には、硝子体、眼底又はその近傍（網膜、脈絡膜、強膜など）などがある。

実施形態に係る眼科装置の構成は、上記の構成に限定されるものではない。例えば、実施形態に係る眼科装置は、所定形状の測定光を偏向し、スプリッタを介して被検眼に導かれた測定光の照射位置（照射範囲）を移動させながら被検眼の所定部位に照射する（例えば、図２２）。

スプリッタは、測定光を分割することにより得られた参照光と被検眼からの測定光の戻り光とを合成し（干渉させ）、合成光（干渉光）を生成する。検出器は、スプリッタにより生成された合成光を受光する。合成光の受光結果は、測定光の照射位置の移動タイミングに同期して、測定光の照射位置に対応した戻り光の受光位置における受光素子から読み出される。検出器により得られた合成光の受光結果を用いて被検眼の所定部位のＯＣＴ画像（断層像）を取得することが可能である。

実施形態に係る眼科装置の制御方法は、実施形態に係る眼科装置においてプロセッサ（コンピュータ）により実行される処理を実現するための１以上のステップを含む。実施形態に係るプログラムは、プロセッサに実施形態に係る眼科装置の制御方法の各ステップを実行させる。

以下、実施形態に係る眼科装置が、主に、被検眼の眼底の画像を取得する場合について説明する。以下、実施形態に係る測定光を「照明光」と表記する。

＜第１実施形態＞
図１及び図２に、第１実施形態に係る眼科装置の構成例のブロック図を示す。図１は、第１実施形態に係る眼科装置の光学系の構成の概要を示すブロック図を表す。図２は、第１実施形態に係る眼科装置の制御系（処理系）の構成の概要を示すブロック図を表す。図２において、図１と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。

第１実施形態に係る眼科装置１は、パターン照明光学系ＰＩと、スプリッタＳＰと、ミラーＲＭと、スキャン光学系ＳＣと、対物レンズＯＢＪと、検出器ＤＥと、タイミング制御部ＴＣとを含む。

パターン照明光学系ＰＩは、所定形状の照明光（照明パターン、測定光）を生成する。パターン照明光学系ＰＩは、光源と、所定形状の開口が形成されたスリットとを含み、光源からの光でスリットを照明することにより所定形状の照明光を出力する。パターン照明光学系ＰＩは、可視領域又は赤外領域（近赤外領域）の照明光を生成する。

いくつかの実施形態では、パターン照明光学系ＰＩは、光源を備えたプロジェクタを含み、プロジェクタが所定形状の照明光を出力する。プロジェクタには、透過型液晶パネルを用いたＬＣＤ（ＬｉｑｕｉｄＣｒｙｓｔａｌＤｉｓｐｌａｙ）方式のプロジェクタ、反射型液晶パネルを用いたＬＣＯＳ（ＬｉｑｕｉｄＣｒｙｓｔａｌＯｎＳｉｌｉｃｏｎ）方式のプロジェクタ、ＤＭＤ（ＤｉｇｉｔａｌＭｉｒｒｏｒＤｅｖｉｃｅ）を用いたＤＬＰ（ＤｉｔｉｇａｌＬｉｇｈｔＰｒｏｃｅｓｓｉｎｇ）（登録商標）方式のプロジェクタなどがある。

また、パターン照明光学系ＰＩは、光源からの光を用いて照明光と参照光（分割光）とを生成する。いくつかの実施形態では、パターン照明光学系ＰＩは、光源からの光を分割することにより照明光と参照光とを生成する。いくつかの実施形態では、パターン照明光学系ＰＩは、照明光を分割することにより参照光を生成する。いくつかの実施形態では、パターン照明光学系ＰＩは、光源からの光の光路を切り替えることにより照明光と参照光とを出力する。

スプリッタＳＰは、パターン照明光学系ＰＩにより生成された照明光を照明光路（測定光路）に導くと共に、参照光を参照光路に導く。照明光路には、スキャン光学系ＳＣと、対物レンズＯＢＪとが配置されている。参照光路には、ミラーＲＭが配置されている。

照明光路に導かれた照明光は、スキャン光学系ＳＣにより偏向される。スキャン光学系ＳＣは、１軸の光スキャナ、又は２軸の光スキャナを含む。例えば、パターン照明光学系ＰＩにより生成される照明光の光束断面形状が１次元方向に伸びる形状である場合、スキャン光学系ＳＣは、１軸又は２軸の光スキャナを含み、照明光を２次元的に偏向する。例えば、パターン照明光学系ＰＩにより生成される照明光の光束断面形状が２次元方向に伸びる形状である場合、スキャン光学系ＳＣは、１軸の光スキャナを含み、照明光を１次元的に偏向する。

スキャン光学系ＳＣにより偏向された照明光は、対物レンズＯＢＪにより屈折されて、被検眼Ｅの瞳孔を通じて眼内に入射し、被検眼Ｅの眼底Ｅｆに照射される。眼底Ｅｆに照射された照明光の戻り光は、対物レンズＯＢＪ及びスキャン光学系ＳＣを通過し、スプリッタＳＰに入射する。

参照光路に導かれた参照光は、ミラーＲＭにより反射され、スプリッタＳＰに戻る。ミラーＲＭは、参照光の光路に沿って移動可能である。ミラーＲＭを参照光の光路に沿って移動することにより、参照光の光路長を変更することが可能である。いくつかの実施形態では、参照光の光路長に代えて照明光の光路長が変更可能に構成される。いくつかの実施形態では、参照光の光路長及び照明光の光路長が変更可能に構成される。

スプリッタＳＰは、照明光路を経由した被検眼Ｅからの照明光の戻り光と、参照光路を経由した参照光との干渉光（合成光）を生成する。すなわち、スプリッタＳＰは、パターン照明光学系ＰＩからの照明光をスキャン光学系ＳＣに導くと共に、参照光と被検眼Ｅからの照明光の戻り光との干渉光を生成する。

検出器ＤＥは、ＣＭＯＳイメージセンサ、ＣＣＤ（ＣｈａｒｇｅＣｏｕｐｌｅｄＤｅｖｉｃｅ）イメージセンサ、又は時間遅延積分（ＴｉｍｅＤｅｌａｙｅｄＩｎｔｅｇｒａｔｉｏｎ：ＴＤＩ）センサを含む。検出器ＤＥは、スプリッタＳＰを介して、照明光路を経由した被検眼Ｅからの照明光の戻り光と、スプリッタＳＰにより生成された干渉光とを検出する。検出器ＤＥは、タイミング制御部ＴＣからの制御を受け、ローリングシャッター方式、グローバルシャッター方式、又はＴＤＩ方式により受光結果を出力することが可能である。

タイミング制御部ＴＣは、パターン照明光学系ＰＩ、スキャン光学系ＳＣ、及び検出器ＤＥを制御する。タイミング制御部ＴＣは、スキャン光学系ＳＣを制御することにより被検眼Ｅにおける照明光の照射位置を移動させつつ、照明光の照射位置の移動タイミングに同期して、照射位置に対応した戻り光の受光位置における検出器ＤＥの受光素子から戻り光又は合成光の受光結果を取得する。タイミング制御部ＴＣの機能は、１以上のプロセッサにより実現される。

図２に示すように、眼科装置１の制御系は、制御部１００を中心に構成されている。なお、制御系の構成の少なくとも一部が眼科装置１に含まれていてもよい。

制御部１００は、眼科装置１の各部を制御する。制御部１００は、主制御部１０１と、記憶部１０２とを含む。主制御部１０１は、プロセッサを含み、記憶部１０２に記憶されたプログラムに従って処理を実行することで、眼科装置１の各部の制御処理を実行する。例えば、制御部１００は、図１のタイミング制御部ＴＣの機能を実現する。

主制御部１０１は、パターン照明光学系ＰＩ、移動機構ＲＭＤ、スキャン光学系ＳＣ、検出器ＤＥ、画像形成部２００、及びデータ処理部２３０の各部を制御する。

パターン照明光学系ＰＩの制御には、光源の点灯と消灯の切り替え、光源の出力光の波長領域の切り替え、光源の光量の変更、照明光の光束断面形状の制御などが含まれる。

移動機構ＲＭＤは、公知の機構により、ミラーＲＭを参照光の光路に沿って移動する。

スキャン光学系ＳＣの制御には、照明光の偏向開始角度、偏向終了角度、偏向角度範囲、偏向速度、及び偏向周波数の少なくとも１つが含まれる。

検出器ＤＥの制御には、ローリングシャッター制御、グローバルシャッター制御、ＴＤＩ制御などがある。

画像形成部２００は、検出器ＤＥにより得られた戻り光又は干渉光の検出結果に基づいて、被検眼Ｅの画像を形成する。被検眼Ｅの画像には、正面画像と、断層像とが含まれる。

画像形成部２００は、ＳＬＯ画像形成部２１０と、ＯＣＴ画像形成部２２０とを含む。ＳＬＯ画像形成部２１０は、検出器ＤＥにより得られた戻り光の検出結果に基づいて被検眼ＥのＳＬＯ画像（正面画像）を形成する。例えば、ＳＬＯ画像形成部２１０は、戻り光の検出結果と、画素位置信号とに基づいてＳＬＯ画像を形成する。画素位置信号は、例えば、眼底Ｅｆにおける照明光の照射位置情報と、検出器ＤＥにおいて戻り光を受光した受光素子の位置情報とから生成される。照射位置情報は、例えば、スキャン光学系ＳＣの偏向制御情報から特定可能である。

ＯＣＴ画像形成部２２０は、検出器ＤＥにより得られた干渉光の検出結果に基づいて被検眼ＥのＯＣＴ画像（断層像）を形成する。例えば、ＯＣＴ画像形成部２２０は、被検眼Ｅにおける照明光の入射位置毎に、検出器ＤＥにより得られた干渉光の検出結果に基づくスペクトル分布にフーリエ変換等を施すことにより各Ａラインにおける反射強度プロファイルを形成し、各Ａラインの反射強度プロファイルを画像化することによりＯＣＴ画像を形成する。

データ処理部２３０は、各種のデータ処理を実行する。データ処理の例として、画像形成部２００により形成された画像に対するデータ処理がある。この処理の例として、画像処理、画像解析、画像評価、診断支援などがある。

また、データ処理部２３０は、画像形成部２００により形成された２以上のＳＬＯ画像を合成してＳＬＯ合成画像を形成することが可能である。ＳＬＯ合成画像には、パノラマ画像、カラーＳＬＯ画像などがある。同様に、データ処理部２３０は、画像形成部２００により形成された２以上の１次元ＯＣＴ画像から２次元又は３次元ＯＣＴ画像を形成することが可能である。

操作部１１０は、操作デバイスを含む。操作デバイスは、各種のハードウェアキー及び／又はソフトウェアキーを含む。制御部１００は、操作デバイスに対する操作内容を受け、この操作内容に対応した制御信号を各部に出力する。

表示部１２０は、表示デバイスを含む。表示デバイスは、液晶ディスプレイを含む。操作デバイスの少なくとも一部と表示デバイスの少なくとも一部とを一体的に構成することが可能である。タッチパネルディスプレイはその一例である。

照明光は、実施形態に係る「測定光」の一例である。パターン照明光学系ＰＩは、実施形態に係る「照射光学系」の一例である。スプリッタＳＰは、実施形態に係る「光分割合成部」の一例である。スキャン光学系ＳＣは、実施形態に係る「光スキャナ」の一例である。ＳＬＯ画像形成部２１０は、実施形態に係る「第１画像形成部」の一例である。ＯＣＴ画像形成部２２０は、実施形態に係る「第２画像形成部」の一例である。

図３に、図１の眼科装置１の構成例のブロック図を示す。図３において、図１と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。パターン照明光学系ＰＩ１は、図１のパターン照明光学系ＰＩの一例である。スプリッタＳＰ１は、図１のスプリッタＳＰの一例である。検出器ＤＥ１は、図１の検出器ＤＥの一例である。タイミング制御部ＴＣ１は、タイミング制御部ＴＣの一例である。

スプリッタＳＰ１は、穴鏡ＰＭと、スプリッタＢＳと、ビームコンバイナＢＣと、ミラーＭａ、Ｍｂとを含む。

穴鏡ＰＭには、照明光又は照明光の戻り光が通過する穴部が形成されている。穴鏡ＰＭは、パターン照明光学系ＰＩ１により生成された照明光の光路から、被検眼Ｅからの照明光の戻り光の光路を分離する。穴鏡ＰＭに形成された穴部は、被検眼Ｅの虹彩と光学的に共役な位置に配置される。これにより、被検眼Ｅに照射される光と、被検眼Ｅからの戻り光とが瞳分割される。

いくつかの実施形態では、パターン照明光学系ＰＩ１からの照明光が穴鏡ＰＭに形成された穴部を通過し、照明光の戻り光が穴部の周辺領域において反射されてスプリッタＢＳに導かれる。

いくつかの実施形態では、パターン照明光学系ＰＩ１からの照明光が穴部の周辺領域において反射されてスキャン光学系ＳＣに導かれ、照明光の戻り光が穴部を通過してスプリッタＢＳに導かれる。

スプリッタＢＳは、穴鏡ＰＭからの照明光の戻り光を第１戻り光と第２戻り光とに分割する。スプリッタＢＳの機能は、ビームスプリッタ、ダイクロイックビームスプリッタ、又はフリップミラー等の光路切替素子により実現される。

スプリッタＢＳにより分割された第１戻り光は、検出器ＤＥ１（ＳＬＯ検出器ＤＳ）により受光される。検出器ＤＥ１におけるＳＬＯ検出器ＤＳは、公知の走査型レーザー検眼鏡（ＳｃａｎｎｉｎｇＬａｓｅｒＯｐｈｔｈａｌｍｏｓｃｏｐｅ：ＳＬＯ）で用いられる検出器であってよい。スプリッタＢＳにより分割された第２戻り光は、ビームコンバイナＢＣに導かれる。

一方、パターン照明光学系ＰＩ１により生成された参照光もまた、スプリッタＳＰ１に入射する。スプリッタＳＰ１に入射した参照光は、ミラーＭａにより反射されてミラーＲＭに導かれる。ミラーＲＭは、入射光の進行方向と反対方向に入射光を反射する。ミラーＲＭにより反射された参照光は、ミラーＭｂにより反射されてビームコンバイナＢＣに導かれる。

ビームコンバイナＢＣは、スプリッタＢＳにより分割された第２戻り光とミラーＭｂにより反射された参照光との干渉光を生成する。ビームコンバイナＢＣにより生成された干渉光は、検出器ＤＥ１（ＯＣＴ検出器ＤＯ）により受光される。検出器ＤＥ１におけるＯＣＴ検出器ＤＯは、公知の光干渉断層計（ＯｐｔｉｃａｌＣｏｈｅｒｅｎｃｅＴｏｍｏｇｐｒａｈｙ：ＯＣＴ）で用いられる検出器であってよい。いくつかの実施形態では、ビームコンバイナＢＣの機能は、ファイバカプラにより実現される。いくつかの実施形態では、ビームコンバイナＢＣの機能は、ＯＣＴ検出器ＤＯの受光面に向けて第２戻り光を偏向する第１ミラーと、この受光面に向けて参照光を偏向する第２ミラーとにより実現される。

タイミング制御部ＴＣ１は、スキャン光学系ＳＣに対して制御信号Ｃｔｓｃを出力し、ＳＬＯ検出器ＤＳに対して制御信号Ｃｔｄｅｔ１を出力し、ＯＣＴ検出器ＤＯに対して制御信号Ｃｔｄｅｔ２を出力し、パターン照明光学系ＰＩ１に対して制御信号Ｃｔｌｓを出力する。それにより、被検眼Ｅにおける照明光の照射位置の移動タイミングに同期して、照明光の照射位置に対応した第２戻り光及び干渉光の受光位置における受光素子から受光結果が読み出される。

穴鏡ＰＭは、実施形態に係る「光分割部」の一例である。スプリッタＢＳは、実施形態に係る「第１スプリッタ」の一例である。ＳＬＯ検出器ＤＳは、実施形態に係る「第１検出器」の一例である。ＯＣＴ検出器ＤＯは、実施形態に係る「第２検出器」の一例である。ミラーＭａ、Ｍｂ、及びミラーＲＭは、実施形態に係る「第２光路長変更部」の一例である。

図４に、図１の眼科装置１の別の構成例のブロック図を示す。図４において、図３と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。スプリッタＳＰ２は、図１のスプリッタＳＰの一例である。

図４における眼科装置１の構成が図３における眼科装置１の構成と異なる点は、ミラーＲＭ、Ｍａ、Ｍｂの位置である。すなわち、図３では、パターン照明光学系ＰＩ１とビームコンバイナＢＣとの間の参照光路においてミラーＲＭが配置されるように、ミラーＭａ、Ｍｂが配置される。これに対して、図４では、スプリッタＢＳとビームコンバイナＢＣと間の照明光路（測定光路）においてミラーＲＭが配置されるように、ミラーＭａ、Ｍｂが配置される。

すなわち、図４において、スプリッタＢＳにより分割された第１戻り光は、検出器ＤＥ１（ＳＬＯ検出器ＤＳ）に導かれ、スプリッタＢＳにより分割された第２戻り光は、ミラーＭａに導かれる。第２戻り光は、ミラーＭａにより反射されてミラーＲＭに導かれる。ミラーＲＭにより反射された第２戻り光は、ミラーＭｂにより反射されてビームコンバイナＢＣに導かれる。

ビームコンバイナＢＣは、パターン照明光学系ＰＩ１からの参照光とミラーＭｂにより反射された第２戻り光との干渉光を生成する。ビームコンバイナＢＣにより生成された干渉光は、検出器ＤＥ１（ＯＣＴ検出器ＤＯ）に導かれる。

図４において、ミラーＭａ、Ｍｂ、及びミラーＲＭは、実施形態に係る「第１光路長変更部」の一例である。

第１実施形態に係る眼科装置１では、波長掃引光源を用いて照明光が生成される。以下では、眼科装置１が図３に示すようにミラーＲＭが配置される場合について説明するが、眼科装置１が図４に示すようにミラーＲＭが配置されていてもよい。

図５に、図３の眼科装置１の構成例のブロック図を示す。図５において、図３と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。

パターン照明光学系ＰＩ１は、波長掃引光源ＬＳａと、ビームスプリッタＢＳａと、虹彩絞りＩＡと、スリットＦＳとを含む。

波長掃引光源ＬＳａは、所定の波長範囲内で出射光の波長を時間的に変化させる。波長掃引光源ＬＳａは、スウェプトソースＯＣＴ（ＳｗｅｐｔＳｏｕｒｃｅＯＣＴ）に用いられる公知の波長掃引光源であってよい。

ビームスプリッタＢＳａは、波長掃引光源ＬＳａからの光を照明光と参照光とに分割する。ビームスプリッタＢＳａにより分割された照明光は、虹彩絞りＩＡに導かれる。ビームスプリッタＢＳａにより分割された参照光は、スプリッタＳＰ１のミラーＭａに導かれる。いくつかの実施形態では、ビームスプリッタＢＳａの機能は、フリップミラー等の光路切替素子により、波長掃引光源ＬＳａからの光を照明光と参照光とに時間的に分割することで実現される。

虹彩絞りＩＡは、被検眼Ｅの虹彩と光学的に略共役な位置に配置される。虹彩絞りＩＡには、例えば、光軸から外れた位置に開口部が形成されている。虹彩絞りＩＡに形成された開口部を通過した照明光は、スリットＦＳに導かれる。

スリットＦＳは、被検眼Ｅにおける計測部位と光学的に略共役な位置に配置される。スリットＦＳには、被検眼Ｅの計測部位における照射形状を規定する開口部が形成されている。スリットＦＳに形成された開口部を通過した照明光は、スプリッタＳＰ１の穴鏡ＰＭに導かれる。

なお、検出器ＤＥ１では、ＯＣＴ検出器ＤＯとして、スウェプトソースタイプのＯＣＴで用いられるＯＣＴ検出器ＤＯ１が用いられる。

以下、第１実施形態に係る眼科装置１の具体的な構成例について説明する。

［光学系の構成］
図６～図１３に、第１実施形態に係る眼科装置の構成例を示す。図６は、第１実施形態に係る眼科装置１の光学系の構成例を表す。図７は、光軸Ｏの方向からみたときの図６の虹彩絞り２１の構成例を模式的に表す。図８は、照明光の光束断面形状を模式的に表す。図９は、図６の虹彩絞り２１の説明図を表す。図１０は、側面又は上面からみたときの図６の虹彩絞り２１と図６のスリット２２の構成例を表す。図１１は、図６の波長掃引光源１０ａの説明図を表す。図１２は、図６のリレーレンズ系ＲＬ１の構成例を表す。図１３は、図６のリレーレンズ系ＲＬ２の構成例を表す。図１２及び図１３では、リレーレンズ系ＲＬ１が３つのレンズを含む場合を示すが、リレーレンズ系ＲＬ１を構成するレンズの数に限定されない。また、図１３では、リレーレンズ系ＲＬ２が２つのレンズを含む場合を示すが、リレーレンズ系ＲＬ２を構成するレンズの数に限定されない。図６～図１３において、同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。

眼科装置１は、波長掃引光源１０ａと、照明光学系２０と、光スキャナ３０と、投影光学系３５と、撮影光学系４０と、撮像装置５０とを含む。図６では、撮影光学系４０は、光スキャナ３０を含む。いくつかの実施形態では、光スキャナ３０（及び対物レンズ４６）は、撮影光学系４０の外部に設けられる。いくつかの実施形態では、照明光学系２０は、波長掃引光源１０ａ、及び投影光学系３５の少なくとも１つを含む。いくつかの実施形態では、撮影光学系４０は、撮像装置５０を含む。

（波長掃引光源１０ａ）
波長掃引光源１０ａは、共振器を含むレーザー光源を含み、所定の波長範囲内で出射光の波長を時間的に変化させる。例えば、波長掃引光源１０ａは、１０００ｎｍ～１１００ｎｍの波長範囲内で中心波長を高速で変化させる近赤外波長可変レーザーを含む。

波長掃引光源１０ａからの光は、ビームスプリッタ６５により照明光と参照光とに分割される。ビームスプリッタ６５により分割された照明光は、照明光学系２０に導かれる。ビームスプリッタ６５により分割された参照光は、ミラー６４に導かれる。なお、ビームスプリッタ６５は、照明光学系２０から穴鏡４５までの間の任意の位置に配置されてよい。

いくつかの実施形態では、ビームスプリッタ６５に代えてフリップミラーが配置される。フリップミラーは、波長掃引光源１０ａからの光の光路を所定の切り替えタイミング毎に交互に切り替えて、波長掃引光源１０ａからの光を照明光として照明光学系２０に導いたり、波長掃引光源１０ａからの光を参照光としてミラー６４に導いたりする。

（照明光学系２０）
照明光学系２０は、ビームスプリッタ６５により分割された照明光を用いてスリット状の照明光を生成する。照明光学系２０は、生成された照明光を投影光学系３５に導く。

照明光学系２０は、虹彩絞り２１と、スリット２２と、リレーレンズ系ＲＬ１、ＲＬ２とを含む。リレーレンズ系ＲＬ１は、投影光学系３５のリレーレンズ４１とスリット２２との間に配置されている。リレーレンズ系ＲＬ２は、虹彩絞り２１とスリット２２との間に配置されている。

虹彩絞り２１（具体的には、後述の開口部）は、被検眼Ｅの虹彩（瞳孔）と光学的に略共役な位置に配置可能である。虹彩絞り２１には、光軸Ｏから離れた位置に１以上の開口部が形成されている。

リレーレンズ系ＲＬ２は、１以上のレンズを含み、虹彩絞り２１に形成された開口部を通過した照明光をスリット２２に導く。

スリット２２（具体的には、後述の開口部）は、被検眼Ｅの眼底Ｅｆと光学的に略共役な位置に配置可能である。例えば、スリット２２には、後述するイメージセンサ５１Ａ又はイメージセンサ５１Ｂからローリングシャッター方式で読み出されるライン方向（ロウ方向）に対応した方向に開口部が形成されている。

リレーレンズ系ＲＬ１は、１以上のレンズを含み、スリット２２に形成された開口部を通過した照明光を投影光学系３５に導く。

以上のように、照明光学系２０では、ビームスプリッタ６５を透過した照明光は、虹彩絞り２１に形成された開口部を通過し、リレーレンズ系ＲＬ２を透過し、スリット２２に形成された開口部を通過し、リレーレンズ系ＲＬ１を透過する。リレーレンズ系ＲＬ１を透過した光は、投影光学系３５に導かれる。

（投影光学系３５）
投影光学系３５は、スリット状に形成された照明光を被検眼Ｅの眼底Ｅｆに導く。実施形態では、投影光学系３５は、後述の光路結合部材としての穴鏡４５により撮影光学系４０の光路と結合された光路を介して照明光を眼底Ｅｆに導く。

投影光学系３５は、リレーレンズ４１、黒点板４２、反射ミラー４３、リレーレンズ４４を含む。リレーレンズ４１、４４のそれぞれは、１以上のレンズを含む。

（黒点板４２）
黒点板４２は、対物レンズ４６のレンズ表面又はその近傍と光学的に略共役な位置に配置される。これにより、対物レンズ４６のレンズ表面からの反射光が波長掃引光源１０ａに導光されることを防ぐことができる。

このような投影光学系３５では、スリット状に形成された照明光は、リレーレンズ４１を透過し、黒点板４２を通過し、反射ミラー４３により反射され、リレーレンズ４４を通過して穴鏡４５に導かれる。

（撮影光学系４０）
撮影光学系４０は、投影光学系３５を導かれてきた照明光を被検眼Ｅの眼底Ｅｆに導くと共に、眼底Ｅｆからの照明光の戻り光を撮像装置５０に導く。

撮影光学系４０では、投影光学系３５からの照明光の光路と、眼底Ｅｆからの照明光の戻り光の光路とが結合される。これらの光路を結合する光路結合部材として穴鏡４５を用いることで、照明光とその戻り光とを瞳分割することが可能である。

撮影光学系４０は、穴鏡４５、対物レンズ４６、合焦レンズ４７、リレーレンズ４８、及び結像レンズ４９を含む。リレーレンズ４８は、１以上のレンズを含む。実施形態では、撮影光学系４０は、穴鏡４５と対物レンズ４６との間に配置された光スキャナ３０を含む。

穴鏡４５には、撮影光学系４０の光軸に配置される穴部が形成される。穴鏡４５の穴部は、被検眼Ｅの虹彩と光学的に略共役な位置に配置される。穴鏡４５は、穴部の周辺領域において、投影光学系３５からの照明光を対物レンズ４６に向けて反射する。このような穴鏡４５は、撮影絞りとして機能する。

すなわち、穴鏡４５は、照明光学系２０（投影光学系３５）の光路と穴部を通過する光軸の方向に配置された撮影光学系４０の光路とを結合すると共に、穴部の周辺領域において反射された照明光を眼底Ｅｆに導くように構成される。

光スキャナ３０は、被検眼Ｅの虹彩と光学的に略共役な位置に配置される。光スキャナ３０は、穴鏡４５により反射されたスリット状の照明光（スリット２２に形成された開口部を通過したスリット状の光）を偏向する。具体的には、光スキャナ３０は、被検眼Ｅの虹彩又はその近傍をスキャン中心位置として所定の偏向角度範囲内で偏向角度を変更しつつ、眼底Ｅｆの所定の照明範囲を順次に照明するためのスリット状の照明光を偏向し、対物レンズ４６に導く。光スキャナ３０は、照明光を１次元的又は２次元的に偏向することが可能である。

１次元的に偏向する場合、光スキャナ３０は、所定の偏向方向を基準に所定の偏向角度範囲で照明光を偏向するガルバノスキャナを含む。２次元的に偏向する場合、光スキャナ３０は、第１ガルバノスキャナと、第２ガルバノスキャナとを含む。第１ガルバノスキャナは、撮影光学系４０（照明光学系２０）の光軸に直交する水平方向に照明光の照射位置を移動するように照明光を偏向する。第２ガルバノスキャナは、撮影光学系４０（照明光学系２０）の光軸に直交する垂直方向に照明光の照射位置を移動するように、第１ガルバノスキャナにより偏向された照明光を偏向する。光スキャナ３０による照明光の照射位置を移動するスキャン態様としては、例えば、水平スキャン、垂直スキャン、十字スキャン、放射スキャン、円スキャン、同心円スキャン、螺旋スキャンなどがある。

合焦レンズ４７は、図示しない移動機構により撮影光学系４０の光軸方向に移動可能である。移動機構は、後述の制御部１００からの制御を受け、合焦レンズ４７を光軸方向に移動する。これにより、被検眼Ｅの状態に応じて、穴鏡４５の穴部を通過した照明光の戻り光を撮像装置５０のイメージセンサ５１Ａ又はイメージセンサ５１Ｂの受光面に結像させることができる。

このような撮影光学系４０では、投影光学系３５からの照明光は、穴鏡４５に形成された穴部の周辺領域において光スキャナ３０に向けて反射される。穴鏡４５の周辺領域において反射された照明光は、光スキャナ３０により偏向され、対物レンズ４６により屈折されて、被検眼Ｅの瞳孔を通じて眼内に入射し、被検眼Ｅの眼底Ｅｆを照明する。

眼底Ｅｆからの照明光の戻り光は、対物レンズ４６により屈折され、光スキャナ３０を通過し、穴鏡４５の穴部を通過し、合焦レンズ４７を透過し、リレーレンズ４８を透過し、結像レンズ４９により撮像装置５０に導かれる。

（撮像装置５０）
撮像装置５０は、イメージセンサ５１Ａ、５１Ｂを含む。イメージセンサ５１Ａは、例えば、１次元的又は２次元的に配列されたＣＭＯＳイメージセンサを含む。イメージセンサ５１Ｂは、例えば、１以上のバランスドフォトダイオード（ＢａｌａｎｃｅｄＰｈｏｔｏＤｉｏｄｅ）を含む。イメージセンサ５１Ａ、５１Ｂのそれぞれは、ピクセル化された受光器としての機能を実現する。イメージセンサ５１Ａ、５１それぞれの受光面（検出面、撮像面）は、計測部位としての眼底Ｅｆと光学的に略共役な位置に配置可能である。

撮影光学系４０と撮像装置５０との間には、ビームスプリッタ６１とビームコンバイナ６２とが配置されている。いくつかの実施形態では、撮像装置５０は、ビームスプリッタ６１及びビームコンバイナ６２の少なくとも１つを含む。いくつかの実施形態では、撮影光学系４０は、ビームスプリッタ６１及びビームコンバイナ５２の少なくとも１つを含む。

結像レンズ４９を透過した被検眼Ｅからの照明光の戻り光は、ビームスプリッタ６１により第１戻り光と第２戻り光とに分割される。第１戻り光は、イメージセンサ５１Ａにより受光される。イメージセンサ５１Ａにより得られた受光結果は、例えば、後述の制御部１００からの制御を受け、ローリングシャッター方式により読み出される。第２戻り光は、ビームコンバイナ６２に導かれる。

いくつかの実施形態では、ビームスプリッタ６１に代えてフリップミラーが配置される。フリップミラーは、戻り光の光路を切り替えて、戻り光を第１戻り光としてイメージセンサ５１Ａに導いたり、戻り光を第２戻り光としてビームコンバイナ６２に導いたりする。

一方、ビームスプリッタ６５により分割された参照光（分割光）は、ミラー６４によりリトロリフレクタ（ｒｅｔｒｏｒｅｆｌｅｃｔｏｒ）７０に導かれる。リトロリフレクタ７０は、入射光を、入射方向と平行に、入射方向の反対の方向に反射する。リトロリフレクタ７０は、後述の制御部１００からの制御を受け、入射光の入射方向に沿って移動可能である。リトロリフレクタ７０によって反射された参照光は、ミラー６３によってビームコンバイナ６２に導かれる。

ビームコンバイナ６２は、ビームスプリッタ６１からの第２戻り光とミラー６３からの参照光との干渉光を生成する。ビームコンバイナ６２の機能は、ファイバカプラにより実現される。いくつかの実施形態では、ビームコンバイナ６２は、第２戻り光を偏向する第１ミラーと参照光を偏向する第２ミラーとにより実現される。ビームコンバイナ６２により生成された干渉光は、イメージセンサ５１Ｂにより受光される。イメージセンサ５１Ｂにより得られた受光結果は、例えば、後述の制御部１００からの制御を受け、ローリングシャッター方式により読み出される。

図６において、波長掃引光源１０ａは、波長掃引光源ＬＳａに対応する。波長掃引光源１０ａ及び照明光学系２０は、パターン照明光学系ＰＩ又はパターン照明光学系ＰＩ１に対応する。ビームスプリッタＢＳａは、ビームスプリッタ６５に対応する。穴鏡４５は、穴鏡ＰＭに対応する。ビームスプリッタ６１は、スプリッタＢＳに対応する。ビームコンバイナ６２は、ビームコンバイナＢＣに対応する。ミラー６４、６３、及びリトロリフレクタ７０は、ミラーＭａ、Ｍｂ、ＲＭに対応する。イメージセンサ５１Ａは、ＳＬＯ検出器ＤＳに対応する。イメージセンサ５１Ｂは、ＯＣＴ検出器ＤＯ又はＯＣＴ検出器ＤＯ１に対応する。光スキャナ３０は、スキャン光学系ＳＣに対応する。

（虹彩絞り２１）
ここで、被検眼Ｅの虹彩における照明光の入射位置（入射形状）を規定する開口部が形成される虹彩絞り２１について説明する。

例えば、図７に示すように虹彩絞り２１に開口部を形成することにより、光軸Ｏに被検眼Ｅの瞳孔中心が配置されたとき、瞳孔中心から偏心した位置（具体的には、瞳孔中心を中心とする点対称の位置）から照明光を眼内に入射させることが可能である。

虹彩絞り２１には、被検眼Ｅにおける照明光の経路における反射部位において照明光の光束断面（照明光束断面）と被検眼Ｅ（眼底Ｅｆ）からの戻り光の光束断面（撮影光束断面）とが分離するように１以上の開口部が形成される。上記の反射部位において照明光束断面と撮影光束断面とが分離されていれば、虹彩絞りに形成される開口部の形状に限定されない。反射部位として、角膜（角膜前面、角膜後面）、水晶体前面、水晶体後面などがある。

例えば、虹彩絞り２１には、図７に示すように、１以上の開口部２１Ａ、２１Ｂが形成されている。開口部２１Ａ、２１Ｂは、光軸Ｏの位置を通りスリット２２の長手方向に対応した方向に伸びる直線に対して線対称に形成される。

開口部２１Ａ、２１Ｂのそれぞれは、弓形（ｃｉｒｃｕｌａｒｓｅｇｍｅｎｔ）形状である。弓形は、円又は楕円の劣弧と、この劣弧の弦とで囲まれた領域である。弓形形状の弦の方向は、スリット２２に形成される開口部の長手方向に対応した方向に略平行である。

虹彩絞り２１を用いて被検眼Ｅを照明する場合、被検眼Ｅの瞳上には、例えば、図８に示すように光束断面が形成される。

図８において、虹彩絞り２１に形成された開口部２１Ａ、２１Ｂを通過した光は、瞳上において、例えば光束断面ＩＲ１、ＩＲ２を形成するように眼内に入射する。光束断面ＩＲ１は、例えば、開口部２１Ａを通過した光の光束断面である。光束断面ＩＲ２は、例えば、開口部２１Ｂを通過した光の光束断面である。

眼内に入射し、眼底Ｅｆにより反射された戻り光（撮影光）は、瞳上において、例えば、光束断面ＰＲを形成し、撮影光学系４０に導かれる。

このとき、開口部２１Ａ、２１Ｂは、照明光の光束断面ＩＲ１、ＩＲ２と撮影光の光束断面ＰＲとが分離するように形成される。

被検眼Ｅの眼内の各部における照明光束断面と撮影光束断面とは、図９に示すように形成される。図９は、光スキャナ３０が所定の偏向角度で偏向するときのフットプリントＦＰ１～ＦＰ３を模式的に表す。フットプリントＦＰ１は、角膜面における光束断面を表す。フットプリントＦＰ２は、水晶体前面（虹彩面）（又は撮影絞り面）における光束断面を表す。フットプリントＦＰ３は、水晶体後面における光束断面を表す。

水晶体前面（虹彩面）（又は撮影絞り面）は虹彩絞り２１と光学的に略共役な位置に配置されるため、フットプリントＦＰ２に示すように、図９と同様の照明光束断面ＩＲ１２、ＩＲ２２と撮影光束断面ＰＲ２とが形成される。照明光束断面ＩＲ１２、ＩＲ２２の形状は、虹彩絞り２１に形成された開口部２１Ａ、２１Ｂの形状とほぼ同様である。撮影光束断面ＰＲ２の形状は、撮影絞り（穴鏡４５に形成された開口部）の形状とほぼ同様である。虹彩絞り２１と光学的に略共役な位置では、フットプリントＦＰ２のように照明光束断面と撮影光束断面とが分離される。

虹彩絞り２１と光学的に非共役な角膜面では、照明光束断面ＩＲ１１、ＩＲ２１と撮影光束断面ＰＲ１とがスリット２２の長手方向に対応した方向に広がる（フットプリントＦＰ１）。一方、スリット２２の短手方向に対応した方向における照明光束断面ＩＲ１１、ＩＲ２１と撮影光束断面ＰＲ１との相対関係は変化しない。

同様に、虹彩絞り２１と光学的に非共役な水晶体後面では、照明光束断面ＩＲ１３、ＩＲ２３と撮影光束断面ＰＲ３とがスリット２２の長手方向に対応した方向に広がる（フットプリントＦＰ３）。一方、スリット２２の短手方向に対応した方向における照明光束断面ＩＲ１３、ＩＲ２３と撮影光束断面ＰＲ３との相対関係は変化しない。

虹彩絞り２１と光学的に非共役な位置では、光スキャナ３０により照明光の偏向角度が変化すると、照明光束断面と撮影光束断面の位置がスリット２２の短手方向に対応した方向に移動する。偏向角度が変化しても、フットプリントＦＰ１、ＦＰ３に示すような照明光束断面と撮影光束断面との相対関係が維持される。

従って、虹彩絞り２１に形成される開口部２１Ａは、図９に示すように、照明光束断面（光束断面ＩＲ１）の下端と撮影光束断面（光束断面ＰＲ）の上端との距離（スリット２２の短手方向に対応した方向の距離）ｄ１が所定の第１距離以上になるように形成されることが求められる。同様に、虹彩絞り２１に形成される開口部２１Ｂは、図８に示すように、照明光束断面（光束断面ＩＲ２）の上端と撮影光束断面（光束断面ＰＲ）の下端との距離ｄ２が所定の第２距離以上であることが求められる。ここで、第１距離は第２距離と同じであってよい。更に、虹彩絞り２１に形成される開口部２１Ａ、２１Ｂは、図９に示すように、スリット２２の短手方向に対応した方向の距離ｄ３が所定の第３距離以上になるように形成されることが求められる。

すなわち、開口部２１Ａ、２１Ｂの内径の形状は、照明光束断面の形状及び撮影光束断面の形状に寄与しない。

以上のように、虹彩絞り２１に、被検眼Ｅの角膜、水晶体前面、及び水晶体後面において照明光束断面と撮影光束断面とが分離するように開口部２１Ａ、２１Ｂが形成される。それにより、不要な散乱光の影響を受けることなく、簡素な構成で、コントラストが強い眼底Ｅｆの高画質の画像を取得することが可能である。

特に、開口部２１Ａ、２１Ｂの形状を図７に示す形状にすることで、照明光の光量を増大させることができ、より高画質の画像を取得することが可能になる。

また、図１０に示すように、波長掃引光源１０ａ（ビームスプリッタ６５）と虹彩絞り２１との間には、光学素子２４が配置される。光学素子２４は、虹彩と光学的に略共役な位置に配置可能である。光学素子２４は、ビームスプリッタ６５を透過した照明光を偏向する。光学素子２４は、虹彩絞り２１に形成された開口部２１Ａ（又は開口部２１Ｂ）とスリット２２に形成された開口部とを結ぶ方向の光量分布が最大になるように照明光を偏向する。このような光学素子の例として、プリズム、マイクロレンズアレイ、又はフレネルレンズなどがある。図１０では、虹彩絞り２１に形成された開口部ごとに光学素子２４が設けられているが、１つの素子で虹彩絞り２１に形成された開口部２１Ａ、２１Ｂを通過する光を偏向するように構成されていてもよい。

また、波長掃引光源１０ａと虹彩絞り２１に形成された開口部との間の相対位置を変更することにより、虹彩絞り２１に形成された開口部を通過する光の光量分布を変更することが可能である。

（スリット２２）
次に、被検眼Ｅの眼底Ｅｆにおける照明光の照射パターンを規定する開口部が形成されるスリット２２について説明する。

スリット２２は、移動機構（後述の移動機構２２Ｄ）により照明光学系２０の光軸方向に移動可能である。移動機構は、後述の制御部１００からの制御を受け、スリット２２を光軸方向に移動する。例えば、制御部１００は、被検眼Ｅの状態に応じて移動機構を制御する。これにより、被検眼Ｅの状態（具体的には、屈折度数、眼底Ｅｆの形状）に応じてスリット２２の位置を移動することができる。

いくつかの実施形態では、スリット２２は、被検眼Ｅの状態に応じて、光軸方向に移動されることなく開口部の位置及び形状の少なくとも１つを変更可能に構成される。このようなスリット２２の機能は、例えば液晶シャッターにより実現される。

（リレーレンズ系ＲＬ１）
図６では、バーダル（Ｂａｄａｌ）の原理に従って光学系が構成される。具体的には、リレーレンズ系ＲＬ１、リレーレンズ４１、４４、及び対物レンズ４６は、バーダル光学系を構成する。これにより、被検眼Ｅの屈折度数にかかわらず、眼底Ｅｆにおけるスリット像の大きさを一定にすることができる。

図１２に示すように、リレーレンズ系ＲＬ１の後側焦点位置Ｆ１が、被検眼Ｅの虹彩と光学的に略共役な位置に配置される。

すなわち、上記のように被検眼Ｅの虹彩と略共役な位置に配置された光スキャナ３０が、リレーレンズ系ＲＬ１の後側焦点位置Ｆ１又はその近傍に配置される。従って、被検眼Ｅの屈折度数に応じてスリット２２が光軸方向に移動された場合でも、被検眼Ｅの屈折度数にかかわらず、眼底Ｅｆに投影されるスリット像（スリット２２に形成された開口部を通過した光により形成される像）の大きさは変化しない。これは、スリット２２が光軸方向に移動しても、眼底Ｅｆへのスリット像の投影倍率が変化しないことを意味する。

以上のように、第１実施形態によれば、リレーレンズ系ＲＬ１の後側焦点位置Ｆ１（又はその近傍）に光スキャナ３０を配置することにより、リレーレンズ系ＲＬ１、リレーレンズ４１、４２、及び対物レンズ４６でバーダル光学系が構成される。

それにより、被検眼Ｅの屈折度数にかかわらず、被検眼Ｅの視軸に対するスリット像の投影画角（投影倍率）（スリット２２の長手方向及び短手方向）を一定にすることができる。その結果、被検眼Ｅの屈折度数にかかわらず、スリット像の大きさが変化しないため、光スキャナ３０の偏向動作速度を一定にすることが可能になり、光スキャナ３０の制御を簡素化することができる。

また、被検眼Ｅの屈折度数にかかわらず、被検眼Ｅの視軸に対するスリット像の投影画角（投影倍率）が一定であるため、被検眼Ｅの屈折度数にかかわらず、眼底Ｅｆにおけるスリット像の照度を一定にすることができる。

更に、眼科装置においてあらかじめ決められた撮影画角で画像を取得する場合に、上記のように投影倍率が一定であるため、所定の大きさのスリット像を取得するために設けられたスリット２２の長手方向の長さにマージンを設ける必要がなくなる。

（リレーレンズ系ＲＬ２）
また、図６に示すように、リレーレンズ系ＲＬ２が、スリット２２と虹彩絞り２１との間に配置される。

図１３に示すように、リレーレンズ系ＲＬ２の前側焦点位置Ｆ２又はその近傍に、虹彩絞り２１が配置される。

すなわち、リレーレンズ系ＲＬ１の後側焦点位置Ｆ１は虹彩絞り２１と光学的に略共役な位置であり、リレーレンズ系ＲＬ２の前側焦点位置Ｆ２には虹彩絞り２１が配置される。従って、虹彩絞り２１から（後側焦点位置Ｆ１に配置された）光スキャナ３０までの投影倍率は、リレーレンズ系ＲＬ１の焦点距離ｆ１とリレーレンズ系ＲＬ２の焦点距離ｆ２で決定される。このとき、投影倍率は、（ｆ１／ｆ２）である。

実施形態に係る眼科装置は、被検眼Ｅの虹彩上に所定の大きさで虹彩絞り２１の像を形成する必要がある。被検眼Ｅの虹彩から対物レンズ４６を経由して光スキャナ３０までの投影倍率が既知の投影倍率であるとき、光スキャナ３０上に所定の大きさの虹彩絞り２１の像を投影すればよい。このとき、虹彩絞り２１から光スキャナ３０までの投影倍率は、リレーレンズ系ＲＬ１の焦点距離ｆ１とリレーレンズ系ＲＬ２の焦点距離ｆ２で決定される。従って、焦点距離ｆ１、ｆ２の少なくとも一方を変更することで、被検眼Ｅの虹彩上に所定の大きさで虹彩絞り２１の像を容易に形成することが可能になる。いくつかの実施形態では、焦点距離ｆ１を固定したまま、焦点距離ｆ２だけが変更される。

焦点距離ｆ１は、リレーレンズ系ＲＬ１の合成焦点距離である。いくつかの実施形態では、リレーレンズ系ＲＬ１は、屈折度が異なる複数のレンズを含み、リレーレンズ系ＲＬ１を構成するレンズの少なくとも１つを変更することにより焦点距離ｆ１を変更する。いくつかの実施形態では、リレーレンズ系ＲＬ１を構成するレンズの少なくとも１つは、屈折度が変更可能なレンズである。焦点距離が変更可能なレンズには、液晶レンズ、液体レンズ、アルバレツレンズなどがある。焦点距離ｆ１を変更する場合でも、リレーレンズ系ＲＬ１の後側焦点位置が被検眼Ｅの虹彩と光学的に略共役な位置（瞳共役位置）に配置される。

焦点距離ｆ２は、リレーレンズ系ＲＬ２の合成焦点距離である。いくつかの実施形態では、リレーレンズ系ＲＬ２は、屈折度が異なる複数のレンズを含み、リレーレンズ系ＲＬ２を構成するレンズの少なくとも１つを変更することにより焦点距離ｆ２を変更する。いくつかの実施形態では、リレーレンズ系ＲＬ２を構成するレンズの少なくとも１つは、屈折度が変更可能なレンズである。焦点距離ｆ２を変更する場合でも、リレーレンズ系ＲＬ２の前側焦点位置が被検眼Ｅの虹彩と光学的に略共役な位置（瞳共役位置）に配置される。

また、眼底Ｅｆの撮影のために、高輝度な光を発する光源であることが望ましい。しかしながら、汎用的に入手可能な光源（量産されている光源）は、発光面のサイズ（発光面積、出力光束断面サイズ）が限られており、光源の発光面のサイズに対応した投影倍率で虹彩絞り２１の像を光スキャナ３０上に投影する必要がある。

この実施形態によれば、焦点距離ｆ１、ｆ２の少なくとも一方を変更することで、虹彩絞り２１から光スキャナ３０までの投影倍率を変更することができるため、任意の大きさの虹彩絞り２１の像を光スキャナ３０上に所望の大きさで投影することができる。それにより、光源の発光面のサイズが異なる場合でも、焦点距離ｆ１、ｆ２の少なくとも一方を変更するだけで光スキャナ３０上に所望の大きさの虹彩絞り２１の像を投影することができ、光学系の設計自由度が向上する。特に、焦点距離ｆ１を固定し、焦点距離ｆ２だけを変更することで、被検眼Ｅの屈折度数の変化に対するスリット２２の移動量（屈折度数の変化に対するスリット２２の移動の感度）を固定することができ、光学系の設計自由度をより一層向上させることができる。

更に、実施形態によれば、リレーレンズ系ＲＬ１を構成する１以上のレンズの有効径を小さくすることができる。

その理由は、光スキャナ３０と虹彩絞り２１との間には、被検眼Ｅの眼底Ｅｆと光学的に略共役な位置に配置されるスリット２２が配置されている。スリット２２は、被検眼Ｅの屈折度数に応じて光軸方向に移動可能である。ここで、虹彩絞り２１から光スキャナ３０までの投影倍率は、光スキャナ３０とリレーレンズ系ＲＬ１との第１距離と、虹彩絞り２１とリレーレンズ系ＲＬ１との第２距離で決定されるため、第１距離を短くすると、第２距離も短くする必要がある。しかしながら、スリット２２の光軸方向の移動スペースを確保しつつ、虹彩との共役関係及び眼底Ｅｆとの共役関係を維持する必要があるため、第１距離が長くなり、リレーレンズ系ＲＬ１の有効径が大きくなる。この実施形態によれば、リレーレンズ系ＲＬ２を設けることにより、第１距離を短くしても、リレーレンズ系ＲＬ２を用いて投影倍率を調整することが可能になる。それにより、スリット２２の光軸方向の移動スペースを確保し、且つ、虹彩との共役関係及び眼底Ｅｆとの共役関係を維持しつつ、第１距離を短くすることが可能になり、リレーレンズ系ＲＬ１を構成する１以上のレンズの有効径を小さくすることができる。

また、リレーレンズ系ＲＬ１を構成する１以上のレンズの有効径を小さくすることができるので、光スキャナ３０から波長掃引光源１０ａまでの光学系の長さを小さくすることができる。

［制御系の構成］
図１４に、第１実施形態に係る眼科装置１の制御系の構成例のブロック図を示す。図１４において、図２又は図６と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。

図１４に示すように、眼科装置１の制御系は、制御部１００を中心に構成されている。なお、制御系の構成の少なくとも一部が眼科装置１の光学系に含まれていてもよい。

（制御部１００）
制御部１００は、眼科装置１の各部を制御する。制御部１００は、主制御部１０１と、記憶部１０２とを含む。制御部１００は、タイミング制御部ＴＣ、ＴＣ１の機能を実現する。主制御部１０１は、プロセッサを含み、記憶部１０２に記憶されたプログラムに従って処理を実行することで、眼科装置１の各部の制御処理を実行する。

（主制御部１０１）
主制御部１０１は、波長掃引光源１０ａ、移動機構１０Ｄ、７０Ｄの制御、照明光学系２０の制御、光スキャナ３０の制御、撮影光学系４０の制御、撮像装置５０の制御、画像形成部２００の制御、及びデータ処理部２３０の制御を行う。

波長掃引光源１０ａの制御には、光源の点灯や消灯の切り替え、光源の出力光の波長領域の切り替え、光源の光量の変更などが含まれる。

移動機構１０Ｄは、制御部１００からの制御を受け、公知の機構により、波長掃引光源１０ａの位置及び向きの少なくとも１つを変更する。主制御部１０１は、虹彩絞り２１及びスリット２２に対する波長掃引光源１０ａの相対位置及び相対向きの少なくとも１つを変更することが可能である。

移動機構７０Ｄは、制御部１００からの制御を受け、公知の機構により、リトロリフレクタ７０を参照光の光路に沿って移動する。これにより、参照光の光路長が変更される。従って、測定光の光路長と参照光の光路長との差を変更することが可能になり、ビームコンバイナ６２により生成される干渉光に基づいて生成されるＯＣＴ画像における注目部位をフレーム内の所望の位置に配置することが可能になる。

照明光学系２０の制御には、移動機構２２Ｄの制御が含まれる。移動機構２２Ｄは、スリット２２を照明光学系２０の光軸方向に移動する。主制御部１０１は、被検眼Ｅの状態に応じて移動機構２２Ｄを制御することにより、被検眼Ｅの状態に対応した位置にスリット２２を配置する。被検眼Ｅの状態として、眼底Ｅｆの形状、屈折度数、眼軸長などがある。屈折度数は、例えば、特開昭６１－２９３４３０号公報又は特開２０１０－２５９４９５号公報に開示されているような公知の眼屈折力測定装置から取得可能である。眼軸長は、公知の眼軸長測定装置、又は光干渉断層計の測定値から取得可能である。

例えば、屈折度数に対して照明光学系２０の光軸におけるスリット２２の位置があらかじめ関連付けられた第１制御情報が記憶部１０２に記憶されている。主制御部１０１は、第１制御情報を参照して屈折度数に対応したスリット２２の位置を特定し、特定された位置にスリット２２が配置されるように移動機構２２Ｄを制御する。

ここで、スリット２２の移動に伴い、スリット２２に形成された開口部を通過する光の光量分布が変化する。このとき、上記のように、主制御部１０１は、移動機構１０Ｄを制御することにより、波長掃引光源１０ａの位置及び向きを変更することが可能である。

例えば、図１１に示すように、被検眼Ｅの状態に応じて、移動前のスリット２２´の位置からスリット２２の位置が移動される。これにより、スリット２２に形成された開口部を通過する光の光量分布が変化する。

このとき、主制御部１０１が移動機構１０Ｄを制御することにより、虹彩絞り２１と波長掃引光源１０ａとの相対位置が変化する。虹彩絞り２１に形成された開口部２１Ａ、２１Ｂと波長掃引光源１０ａとの相対位置を変更することで、開口部２１Ａ、２１Ｂを通過する光の光量分布が変更される。更に、スリット２２に形成された開口部における、虹彩絞り２１の開口部２１Ａ、２１Ｂを通過した光の光量分布が変更される。

主制御部１０１は、被検眼Ｅの状態としての被検眼Ｅの屈折度数、スリット２２の移動後の位置（又は基準位置に対するスリット２２の移動方向及び移動量）に基づいて移動機構１０Ｄを制御することが可能である。

例えば、屈折度数、スリット２２の移動後の位置（又は基準位置に対するスリット２２の移動方向及び移動量）に対して波長掃引光源１０ａの位置及び向きの少なくとも１つがあらかじめ関連付けられた第２制御情報が記憶部１０２に記憶されている。主制御部１０１は、第２制御情報を参照して、屈折度数又はスリット２２の移動後の位置に対応した波長掃引光源１０ａの位置及び向きの少なくとも１つを特定し、特定された位置又は向きに波長掃引光源１０ａが配置されるように移動機構１０Ｄを制御する。

図１４において、光スキャナ３０の制御には、スキャン範囲（スキャン開始位置及びスキャン終了位置）及びスキャン速度の制御が含まれる。いくつかの実施形態では、スウェプトソースタイプのＯＣＴを実行する場合、制御部１００は、光スキャナ３０により偏向された照明光の照射位置が少なくとも所定の波長掃引範囲を掃引する時間だけ留まるように、光スキャナ３０を制御する。

撮影光学系４０の制御には、移動機構４７Ｄの制御が含まれる。移動機構４７Ｄは、合焦レンズ４７を撮影光学系４０の光軸方向に移動する。主制御部１０１は、イメージセンサ５１Ａ又はイメージセンサ５１Ｂを用いて取得された画像の解析結果に基づいて移動機構４７Ｄを制御することが可能である。また、主制御部１０１は、後述の操作部１１０を用いたユーザの操作内容に基づいて移動機構４７Ｄを制御することが可能である。

撮像装置５０の制御には、イメージセンサ５１Ａ、５１Ｂの制御（ローリングシャッター制御）が含まれる。イメージセンサ５１Ａ、５１Ｂの制御には、後述のリセット制御、露光制御、電荷転送制御、出力制御などが含まれる。また、リセット制御に要する時間Ｔｒ、露光制御に要する時間（露光時間）Ｔｅ、電荷転送制御に要する時間Ｔｃ、出力制御に要する時間Ｔｏｕｔ等を変更することが可能である。

以下、イメージセンサ５１Ａを例に、実施形態に係るローリングシャッター制御について説明する。

イメージセンサ５１Ａは、上記のように、ＣＭＯＳイメージセンサを含む。この場合、イメージセンサ５１Ａは、ロウ方向に配列された複数のピクセル（受光素子）群がカラム方向に配列された複数のピクセルを含む。具体的には、イメージセンサ５１Ａは、２次元的に配列された複数のピクセルと、複数の垂直信号線と、水平信号線とを含む。各ピクセルは、フォトダイオード（受光素子）と、キャパシタとを含む。複数の垂直信号線は、ロウ方向（水平方向）に直交するカラム方向（垂直方向）のピクセル群毎に設けられる。各垂直信号線は、受光結果に対応した電荷が蓄積されたピクセル群と選択的に電気的に接続される。水平信号線は、複数の垂直信号線と選択的に電気的に接続される。各ピクセルは、戻り光の受光結果に対応した電荷を蓄積し、蓄積された電荷は、例えばロウ方向のピクセル群毎に順次読み出される。例えば、ロウ方向のライン毎に、各ピクセルに蓄積された電荷に対応した電圧が垂直信号線に供給される。複数の垂直信号線は、選択的に水平信号線と電気的に接続される。垂直方向に順次に上記のロウ方向のライン毎の読み出し動作を行うことで、２次元的に配列された複数のピクセルの受光結果を読み出すことが可能である。

このようなイメージセンサ５１Ａに対してローリングシャッター方式で戻り光の受光結果を取り込む（読み出す）ことにより、ロウ方向に延びる所望の仮想的な開口形状に対応した受光像が取得される。このような制御については、例えば、米国特許第８２３７８３５号明細書等に開示されている。

図１５に、実施形態に係る眼科装置１の動作説明図を示す。図１５は、眼底Ｅｆに照射されるスリット状の照明光の照射範囲ＩＰと、イメージセンサ５１Ａの受光面ＳＲにおける仮想的な開口範囲ＯＰとを模式的に表す。

例えば、制御部１００は、照明光学系２０により形成されたスリット状の照明光を光スキャナ３０を用いて偏向する。それにより、眼底Ｅｆにおいて、スリット状の照明光の照射範囲ＩＰがスリット方向（例えば、ロウ方向、水平方向）と直交する方向（例えば、垂直方向）に順次に移動される。

イメージセンサ５１Ａの受光面ＳＲでは、制御部１００によって読み出し対象のピクセルをライン単位で変更することによって、仮想的な開口範囲ＯＰが設定される。開口範囲ＯＰは、受光面ＳＲにおける照明光の戻り光の受光範囲ＩＰ´又は受光範囲ＩＰ´より広い範囲であることが望ましい。制御部１００は、照明光の照射範囲ＩＰの移動制御に同期して、開口範囲ＯＰの移動制御を実行する。それにより、不要な散乱光の影響を受けることなく、簡素な構成で、コントラストが強い眼底Ｅｆの高画質の画像を取得することが可能である。

図１６及び図１７に、イメージセンサ５１Ａに対するローリングシャッター方式の制御タイミングの一例を模式的に示す。図１６は、イメージセンサ５１Ａに対する読み出し制御のタイミングの一例を表す。図１７は、照明光の照射範囲ＩＰ（受光範囲ＩＰ´）の移動制御タイミングを図１６の読み出し制御タイミングに重畳させて表したものである。図１６及び図１７において、横軸はイメージセンサ５１Ａのロウ数、縦軸は時間を表す。

なお、図１６及び図１７では、説明の便宜上、イメージセンサ５１Ａのロウ数が１９２０であるものとして説明するが、実施形態に係る構成はロウ数に限定されるものではない。また、図１７において、説明の便宜上、スリット状の照明光のスリット幅（ロウ方向の幅）が４０ロウ分であるものとする。

ロウ方向の読み出し制御は、リセット制御と、露光制御と、電荷転送制御と、出力制御とを含む。リセット制御は、ロウ方向のピクセルに蓄積されている電荷の蓄積量を初期化する制御である。露光制御は、フォトダイオードに光を当てて、受光量に対応した電荷をキャパシタに蓄積させる制御である。電荷転送制御は、ピクセルに蓄積された電荷量を垂直信号線に転送する制御である。出力制御は、複数の垂直信号線に蓄積された電荷量を水平信号線を介して出力する制御である。すなわち、図１６に示すように、ロウ方向のピクセルに蓄積された電荷量の読み出し時間Ｔは、リセット制御に要する時間Ｔｒ、露光制御に要する時間（露光時間）Ｔｅ、電荷転送制御に要する時間Ｔｃ、出力制御に要する時間Ｔｏｕｔの和である。

図１６では、ロウ単位で読み出し開始タイミング（時間Ｔｃの開始タイミング）をシフトさせることで、イメージセンサ５１Ａにおける所望の範囲のピクセルに蓄積された受光結果（電荷量）が取得される。例えば、図１６に示すピクセル範囲が１フレーム分の画像である場合、フレームレートＦＲが一意に決まる。

この実施形態では、複数のロウ数分のスリット幅を有する照明光の眼底Ｅｆにおける照射位置を、眼底Ｅｆにおいてカラム方向に対応する方向に順次にシフトさせる。

例えば、図１７に示すように、所定のシフト時間Δｔ毎に、照明光の眼底Ｅｆにおける照射位置をカラム方向に対応する方向にロウ単位でシフトさせる。シフト時間Δｔは、イメージセンサ５１Ａにおけるピクセルの露光時間Ｔｅを照明光のスリット幅（例えば、４０）で分割することにより得られる（Δｔ＝Ｔｅ／４０）。この照射位置の移動タイミングに同期させて、シフト時間Δｔ単位でロウ毎にピクセルの各ロウの読み出し開始タイミングを遅延させて開始させる。これにより、簡素な制御で、且つ、短時間に、コントラストが強い眼底Ｅｆの高画質の画像を取得することが可能になる。

いくつかの実施形態では、イメージセンサ５１Ａは、１以上のラインセンサにより構成される。

いくつかの実施形態では、イメージセンサ５１Ｂについても、イメージセンサ５１Ａと同様に、ローリングシャッター制御が行われる。

図１４において、画像形成部２００に対する制御には、ローリングシャッター方式により撮像装置５０から読み出された受光結果に基づいて任意の開口範囲に対応した受光像を形成させる制御が含まれる。

画像形成部２００は、主制御部１０１（制御部１００）からの制御を受けてローリングシャッター方式によりイメージセンサ５１Ａ又はイメージセンサ５１Ｂから読み出された受光結果に基づいて、任意の開口範囲に対応した受光像を形成する。画像形成部２００は、開口範囲に対応した受光像を順次に形成し、形成された複数の受光像から被検眼Ｅの画像を形成することが可能である。

画像形成部２００は、ＳＬＯ画像形成部２１０と、ＯＣＴ画像形成部２２０とを含む。

ＳＬＯ画像形成部２１０は、イメージセンサ５１Ａにより得られた受光結果に基づいて被検眼Ｅの正面画像（ＳＬＯ画像、例えば眼底像）を形成する。ＳＬＯ画像形成部２１０は、受光結果と、画素位置信号とに基づいて正面画像を形成する。

ＯＣＴ画像形成部２２０は、イメージセンサ５１Ｂにより得られた干渉光の受光結果に基づいて被検眼Ｅの断層像（ＯＣＴ画像）を形成する。例えば、波長掃引光源１０ａにより所定の波長範囲内で掃引される各波長の出力タイミングに同期して生成されたクロックに基づいて、イメージセンサ５１Ｂから入力される受光結果がサンプリングされる。ＯＣＴ画像形成部２２０は、例えば一連の波長走査毎に（Ａライン毎に）、サンプリングデータに基づくスペクトル分布にフーリエ変換等を施すことにより、各Ａラインにおける反射強度プロファイルを形成し、各Ａラインの反射強度プロファイルを画像化することにより断層像を形成する。

画像形成部２００は、１以上のプロセッサを含み、記憶部等に記憶されたプログラムに従って処理を行うことで、上記の機能を実現する。

データ処理部２３０の制御には、撮像装置５０から取得された受光結果に対する各種の画像処理や解析処理が含まれる。画像処理には、受光結果に対するノイズ除去処理、受光結果に基づく受光像に描出された所定の部位を識別しやすくするための輝度補正処理がある。解析処理には、合焦状態の特定処理などがある。

データ処理部２３０は、各種のデータ処理を実行する。データ処理の例として、画像形成部２００により形成された画像に対するデータ処理がある。この処理の例として、画像処理、画像解析、画像評価、診断支援などがある。データ処理部２３０は、例えば、画像の輝度補正や分散補正等の補正処理を実行する。また、データ処理部２３０は、正面画像や断層像に対して各種の画像処理や解析処理を施す。データ処理部２３０は、断層像の間の画素を補間する補間処理などの公知の画像処理を実行することにより、被検眼Ｅのボリュームデータ（ボクセルデータ）を形成することができる。ボリュームデータに基づく画像を表示させる場合、データ処理部２３０は、このボリュームデータに対してレンダリング処理を施して、特定の視線方向から見たときの擬似的な３次元画像を形成する。

また、データ処理部２３０は、ボリュームデータからＣモード画像、プロジェクション画像、シャドウグラムなどを形成することができる。Ｃモード画像は、例えば指定された断面上の画素（ピクセル、ボクセル）を３次元データセットから選択することにより形成される。プロジェクション画像は、３次元データセットを所定方向（Ｚ方向、深さ方向、軸方向）に投影することによって形成される。シャドウグラムは、３次元データセットの一部（例えば特定層に相当する部分データ）を所定方向に投影することによって形成される。

データ処理部２３０は、１以上のプロセッサを含み、記憶部等に記憶されたプログラムに従って処理を行うことで、上記の機能を実現する。

いくつかの実施形態では、光学素子２４は、虹彩絞り２１に形成された開口部に対して、位置及び向きの少なくとも１つを変更可能である。例えば、主制御部１０１は、光学素子２４を移動させる移動機構を制御することにより、位置及び向きの少なくとも１つを変更することが可能である。

（記憶部１０２）
記憶部１０２は、各種のコンピュータプログラムやデータを記憶する。コンピュータプログラムには、眼科装置１を制御するための演算プログラムや制御プログラムが含まれる。

（操作部１１０）
操作部１１０は、操作デバイス又は入力デバイスを含む。操作部１１０には、眼科装置１に設けられたボタンやスイッチ（たとえば操作ハンドル、操作ノブ等）や、操作デバイス（マウス、キーボード等）が含まれる。また、操作部１１０は、トラックボール、操作パネル、スイッチ、ボタン、ダイアルなど、任意の操作デバイスや入力デバイスを含んでいてよい。

（表示部１２０）
表示部１２０は、画像形成部２００により生成された被検眼Ｅの画像を表示させる。表示部１２０は、ＬＣＤ（ＬｉｑｕｉｄＣｒｙｓｔａｌＤｉｓｐｌａｙ）等のフラットパネルディスプレイなどの表示デバイスを含んで構成される。また、表示部１２０は、眼科装置１の筺体に設けられたタッチパネルなどの各種表示デバイスを含んでいてもよい。

なお、操作部１１０と表示部１２０は、それぞれ個別のデバイスとして構成される必要はない。例えばタッチパネルのように、表示機能と操作機能とが一体化されたデバイスを用いることも可能である。その場合、操作部１１０は、このタッチパネルとコンピュータプログラムとを含んで構成される。操作部１１０に対する操作内容は、電気信号として制御部１００に入力される。また、表示部１２０に表示されたグラフィカルユーザインターフェイス（ＧＵＩ）と、操作部１１０とを用いて、操作や情報入力を行うようにしてもよい。いくつかの実施形態では、表示部１２０及び操作部１１０の機能は、タッチスクリーンにより実現される。

（その他の構成）
いくつかの実施形態では、眼科装置１は、更に、固視投影系を含む。例えば、固視投影系の光路は、図１に示す光学系の構成において、撮影光学系４０の光路に結合される。固視投影系は、内部固視標又は外部固視標を被検眼Ｅに提示することが可能である。内部固視標を被検眼Ｅに提示する場合、固視投影系は、制御部１００からの制御を受けて内部固視標を表示するＬＣＤを含み、ＬＣＤから出力された固視光束を被検眼Ｅの眼底に投影する。ＬＣＤは、その画面上における固視標の表示位置を変更可能に構成されている。ＬＣＤにおける固視標の表示位置を変更することにより、被検眼Ｅの眼底における固視標の投影位置を変更することが可能である。ＬＣＤにおける固視標の表示位置は、操作部１１０を用いることによりユーザが指定可能である。

いくつかの実施形態では、眼科装置１は、アライメント系を含む。いくつかの実施形態では、アライメント系は、ＸＹアライメント系と、Ｚアライメント系とを含む。ＸＹアライメント系は、装置光学系（対物レンズ４６）の光軸に交差する方向に装置光学系と被検眼Ｅとの位置合わせを行うために用いられる。Ｚアライメント系は、眼科装置１（対物レンズ４６）の光軸の方向に装置光学系と被検眼Ｅとの位置合わせを行うために用いられる。

例えば、ＸＹアライメント系は、被検眼Ｅに輝点（赤外領域又は近赤外領域の輝点）を投影する。データ処理部２３０は、輝点が投影された被検眼Ｅの前眼部像を取得し、取得された前眼部像に描出された輝点像とアライメント基準位置との変位を求める。制御部１００は、求められた変位がキャンセルされるように図示しない移動機構により装置光学系と被検眼Ｅとを光軸の方向と交差する方向に相対的に移動させる。

例えば、Ｚアライメント系は、装置光学系の光軸から外れた位置から赤外領域又は近赤外領域のアライメント光を投影し、被検眼Ｅの前眼部で反射されたアライメント光を受光する。データ処理部２３０は、装置光学系に対する被検眼Ｅの距離に応じて変化するアライメント光の受光位置から、装置光学系に対する被検眼Ｅの距離を特定する。制御部１００は、特定された距離が所望の作動距離になるように図示しない移動機構により装置光学系と被検眼Ｅとを光軸の方向に相対的に移動させる。

いくつかの実施形態では、アライメント系の機能は、装置光学系の光軸から外れた位置に配置された２以上の前眼部カメラにより実現される。例えば、特開２０１３－２４８３７６号公報に開示されているように、データ処理部２３０は、２以上の前眼部カメラで実質的に同時に取得された被検眼Ｅの前眼部像を解析して、公知の三角法を用いて被検眼Ｅの３次元位置を特定する。制御部１００は、装置光学系の光軸が被検眼Ｅの軸に略一致し、かつ、被検眼Ｅに対する装置光学系の距離が所定の作動距離になるように図示しない移動機構により装置光学系と被検眼Ｅとを３次元的に相対的に移動させる。

なお、第１実施形態では、イメージセンサ５１Ａ及びイメージセンサ５１Ｂの少なくとも１つを用いてローリングシャッター方式により受光結果を取り込む場合について説明したが、実施形態に係る構成はこれに限定されるものではない。第１実施形態では、例えば、イメージセンサ５１Ａ及びイメージセンサ５１Ｂの少なくとも１つを用いてグローバルシャッター方式又はＴＤＩ方式により受光結果を取り込むように構成されていてもよい。

リレーレンズ系ＲＬ１は、実施形態に係る「第１リレーレンズ系」の一例である。リレーレンズ系ＲＬ２は、実施形態に係る「第２リレーレンズ系」の一例である。移動機構２２Ｄは、実施形態に係る「第１移動機構」の一例である。移動機構１０Ｄは、実施形態に係る「第２移動機構」の一例である。光学素子２４の位置及び向きの少なくとも１つを変更する移動機構（不図示）は、実施形態に係る「第３移動機構」の一例である。

［動作］
次に、眼科装置１の動作について説明する。

図１８に、第１実施形態に係る眼科装置１の動作例のフロー図を示す。記憶部１０２には、図１８に示す処理を実現するためのコンピュータプログラムが記憶されている。主制御部１０１は、このコンピュータプログラムに従って動作することにより、図１８に示す処理を実行する。

ここでは、図示しないアライメント系により被検眼Ｅに対して装置光学系のアライメントが完了し、図示しない固視投影系により所望の固視位置に導くように被検眼Ｅの眼底に対して固視標が投影されているものとする。

（Ｓ１：屈折度数を取得）
まず、主制御部１０１は、外部の眼科測定装置又は電子カルテから被検眼Ｅの屈折度数を取得する。

（Ｓ２：スリットの位置を変更）
次に、主制御部１０１は、ステップＳ１において取得された被検眼Ｅの屈折度数に応じて、照明光学系２０の光軸におけるスリット２２の位置を変更する。

具体的には、主制御部１０１は、記憶部１０２に記憶された第１制御情報を参照して屈折度数に対応したスリット２２の位置を特定し、特定された位置にスリット２２が配置されるように移動機構２２Ｄを制御する。

（Ｓ３：光源の位置又は向きを変更）
続いて、主制御部１０１は、ステップＳ２において光軸における位置が変更されたスリット２２の新たな位置に応じて、波長掃引光源１０ａの位置及び向きの少なくとも１つを変更する。

具体的には、主制御部１０１は、記憶部１０２に記憶された第２制御情報を参照して、屈折度数又はスリット２２の移動後の位置に対応した波長掃引光源１０ａの位置及び向きの少なくとも１つを特定する。その後、主制御部１０１は、特定された位置又は向きに波長掃引光源１０ａが配置されるように移動機構１０Ｄを制御する。

（Ｓ４：照明光を照射）
次に、主制御部１０１は、波長掃引光源１０ａ及び照明光学系２０によりスリット状の照明光を生成させ、光スキャナ３０の偏向制御を開始させることにより、眼底Ｅｆにおける所望の照射範囲に対する照明光の照射を開始させる。照明光の照射が開始されると、上記のように、スリット状の照明光が所望の照射範囲内で順次に照射される。

（Ｓ５：受光結果を取得）
主制御部１０１は、上記のように、ステップＳ４において実行された眼底Ｅｆにおける照明光の照射範囲に対応したイメージセンサ５１Ａ、５１Ｂの開口範囲におけるピクセルの受光結果を取得する。

（Ｓ６：次の照射位置？）
主制御部１０１は、次に照明光で照射すべき照射位置があるか否かを判定する。主制御部１０１は、順次に移動される照明光の照射範囲があらかじめ決められた眼底Ｅｆの撮影範囲を網羅したか否かを判定することにより、次に照明光で照射すべき照射位置があるか否かを判定することが可能である。

次に照明光で照射すべき照射位置があると判定されたとき（Ｓ６：Ｙ）、眼科装置１の動作はステップＳ４に移行する。次に照明光で照射すべき照射位置がないと判定されたとき（Ｓ６：Ｎ）、眼科装置１の動作はステップＳ７に移行する。

（Ｓ７：画像を形成）
ステップＳ６において、次に照明光で照射すべき照射位置がないと判定されたとき（Ｓ６：Ｎ）、主制御部１０１は、ステップＳ５において照明光の照射範囲を変更しつつ繰り返し取得された受光結果から被検眼Ｅの画像を画像形成部２００に形成させる。

例えば、画像形成部２００は、正面画像の形成と断層像の形成とを並列に実行する。この場合、ＳＬＯ画像形成部２１０は、ステップＳ４～ステップＳ６の処理の繰返し回数分の互いに照明光の照射範囲（イメージセンサ５１Ａの受光面ＳＲにおける開口範囲）が異なる複数の受光結果を照射範囲の移動順序に基づいて合成する。それにより、眼底Ｅｆの１フレーム分の眼底像が形成される。また、ＯＣＴ画像形成部２２０は、ステップＳ４～ステップＳ６の処理の繰返し回数分の互いに照明光の照射範囲が異なる複数の受光結果を照射範囲の移動順序に基づいて合成する。それにより、眼底Ｅｆの１フレーム分の断層像が形成される。

いくつかの実施形態では、ステップＳ７でにおいて、画像形成部２００は、正面画像及び断層像の一方を形成した後に、他方を形成する。いくつかの実施形態では、ステップＳ７でにおいて、画像形成部２００は、正面画像及び断層像のいずれか１つを形成する。

いくつかの実施形態では、ステップＳ４では、隣接する照射範囲との重複領域が設けられるように設定された照射範囲に照明光が照射される。それにより、ステップＳ７では、互いの重複領域が重なるように画像を合成することで１フレーム分の眼底像が形成される。

以上で、眼科装置１の動作は終了である（エンド）。

以上説明したように、第１実施形態によれば、光源、スキャン光学系、及び検出器を共用しつつ、照明光の戻り光及び干渉光に基づいて被検眼Ｅの正面画像及び断層像を形成するようにしたので、簡素な構成で、被検眼を詳細に観察することが可能になる。特に、ＳＬＯ検出器とＯＣＴ検出器とを別個に設けることで、戻り光及び干渉光を同時に受光しつつ、被検眼Ｅの正面画像及び断層像を形成することが可能になる。

また、正面画像及び断層像を取得するための光源等を共用するようにしたので、取得された被検眼Ｅの正面画像及び断層像を、高精度に位置合わせすることが可能になる。これにより、被検眼Ｅの注目部位を詳細に観察することが可能になる。

更に、ローリングシャッター方式により少なくともスキャン光学系及び検出器を同期制御するようにしたので、簡素な構成で、高画質の画像を取得することが可能になる。

＜第１実施形態の変形例＞
実施形態に係る眼科装置の構成は、第１実施形態で説明した構成に限定されない。例えば、ＳＬＯ検出器ＤＳは、互いに異なる２以上の波長領域の戻り光を個別に受光するように構成されていてもよい。

図１９に、第１実施形態の変形例に係るＳＬＯ検出器の構成例のブロック図を示す。第１実施形態の変形例に係る眼科装置は、ＳＬＯ検出器ＤＳ又はイメージセンサ５１Ａに代えて本変形例に係るＳＬＯ検出器ＤＳ１を含む。

ＳＬＯ検出器ＤＳ１は、イメージセンサ５１Ａａ、５１Ａｂ、５１Ａｃと、ダイクロイックビームスプリッタ５２Ａａ、５２Ａｂとを含む。ダイクロイックビームスプリッタ５２Ａａは、照明光の戻り光のうち第１波長領域の光をイメージセンサ５１Ａａに導き、第１波長領域と異なる第２波長領域の光を透過させる。ダイクロイックビームスプリッタ５２Ａｂは、第２波長領域の光のうち第３波長領域の光をイメージセンサ５１Ａｂに導き、第３波長領域と異なる第４波長領域の光を透過させる。これにより、イメージセンサ５１Ａａ、５１Ａｂ、５１Ａｃは、互いに異なる波長領域の光を受光する。

ＳＬＯ画像形成部２１０は、イメージセンサ５１Ａａにより得られた受光結果に基づいて第１正面画像を形成し、イメージセンサ５１Ａｂにより得られた受光結果に基づいて第２正面画像を形成し、イメージセンサ５１Ａｃにより得られた受光結果に基づいて第３正面画像を形成する。ＳＬＯ画像形成部２１０は、第１正面画像、第２正面画像、及び第３正面画像のうち２以上の画像を合成することにより合成画像を形成することが可能である。

いくつかの実施形態では、白色光源からの光を用いて照明光を生成することで、ＲＧＢの各色成分の正面画像が形成される。

＜第２実施形態＞
第１実施形態で説明したスウェプトソースタイプ以外の他のタイプ（スペクトラルドメインタイプ又はタイムドメインタイプ）のＯＣＴを用いる眼科装置に、実施形態に係る構成を適用することが可能である。

以下、第１実施形態との相違点を中心に、第２実施形態について説明する。

図２０に、第２実施形態に係る眼科装置１ａの構成例のブロック図を示す。図２０において、図５と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。

第２実施形態に係る眼科装置１ａの構成が図５に示す眼科装置１の構成と異なる点は、パターン照明光学系ＰＩ１に代えてパターン照明光学系ＰＩ２が設けられている点と、検出器ＤＥ１に代えて検出器ＤＥ２が設けられている点と、タイミング制御部ＴＣ１に代えてタイミング制御部ＴＣ２が設けられている点である。

パターン照明光学系ＰＩ２の構成が図５に示すパターン照明光学系ＰＩ１の構成と異なる点は、波長掃引光源ＬＳａに代えて広帯域光源ＬＳｂが設けられている点である。広帯域光源は、例えば、スーパールミネセントダイオード（ＳＬＤ）又は発光ダイオード（ＬＥＤ）を含む。広帯域光源は、例えば、近赤外領域の波長を有し、かつ、数十マイクロメートル程度の時間的コヒーレンス長を有する低コヒーレンス光を出力する。

検出器ＤＥ２の構成が図５に示す検出器ＤＥ１の構成と異なる点は、ＯＣＴ検出器ＤＯ１に代えて、分光器ＳＰＯ及びＯＣＴ検出器ＤＯ２が設けられている点である。

分光器ＳＰＯは、ビームコンバイナＢＣにより生成された干渉光を分光する。例えば、分光器ＳＰＯは、干渉光を回折格子によってスペクトル成分に分解する。分光器ＳＰＯによってスペクトル成分に分解された干渉光は、ＯＣＴ検出器ＤＯ２により受光される。

タイミング制御部ＴＣ２は、公知のスペクトラルドメインタイプのＯＣＴを実行するように各部を制御する。

以下、第２実施形態に係る眼科装置１ａの具体的な構成例について説明する。

図２１に、第２実施形態に係る眼科装置１ａの光学系の構成例を示す。図２１において、図６と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明する。

図２１では、図６の波長掃引光源１０ａに代えて広帯域光源１０ｂが設けられている。また、図６の撮像装置５０に代えて設けられた撮像装置５０ａが設けられている。撮像装置５０ａは、イメージセンサ５１Ａと、分光器５３Ｂと、イメージセンサ５１Ｂ１とを含む。

すなわち、広帯域光源１０ｂは、図２０の広帯域光源ＬＳｂに対応する。ビームスプリッタ６１により分割された第１戻り光は、イメージセンサ５１Ａにより受光される。分光器５３Ｂは、ビームコンバイナ６２により生成された干渉光を回折格子によってスペクトル成分に分解する。イメージセンサ５１Ｂ１は、分光器５３Ｂによってスペクトル成分に分解された干渉光を受光する。イメージセンサ５１Ｂ１は、例えば、ラインセンサであり、干渉光の複数のスペクトル成分を検出して電気信号（検出信号）を生成する。

なお、第２実施形態では、参照光の光路長を変更する図２０に示す構成を例に説明したが、第２実施形態に係る構成を、照明光の光路長を変更する図４に示す構成に適用することが可能である。

第２実施形態によれば、第１実施形態と同様の効果を得ることができる。

＜第３実施形態＞
上記の実施形態では、スプリッタＳＰを介して入射した照明光を偏向することで被検眼Ｅに照明光を照射する場合について説明したが、実施形態に係る構成はこれに限定されない。第３実施形態では、スキャン光学系ＳＣにより偏向された照明光がスプリッタＳＰを介して被検眼Ｅに照射される。

以下、第１実施形態との相違点を中心に、第３実施形態について説明する。

図２２に、第３実施形態に係る眼科装置の構成例のブロック図を示す。図２２において、図１と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。

第３実施形態に係る眼科装置１ｂは、第１実施形態に係る眼科装置１と同様に、パターン照明光学系ＰＩと、スキャン光学系ＳＣと、スプリッタＳＰと、ミラーＲＭと、対物レンズＯＢＪと、検出器ＤＥと、タイミング制御部ＴＣとを含む。

眼科装置１ｂの構成が図１に示す眼科装置１の構成と異なる点は、スキャン光学系ＳＣとスプリッタＳＰの配置である。すなわち、眼科装置１ｂでは、パターン照明光学系ＰＩにより生成された照明光が、スキャン光学系ＳＣにより偏向され、偏向された照明光がスプリッタＳＰにより対物レンズＯＢＪに導かれる光とミラーＲＭに導かれる光とに分割される。

具体的には、パターン照明光学系ＰＩは、光源からの光を用いて照明光と参照光とを生成する。パターン照明光学系ＰＩにより生成された照明光は、スキャン光学系ＳＣに入射する。スキャン光学系ＳＣは、パターン照明光学系ＰＩからの照明光を偏向し、偏向された照明光をスプリッタＳＰに導く。スプリッタＳＰは、スキャン光学系ＳＣにより偏向された照明光を照明光路（測定光路）に導くと共に、参照光を参照光路に導く。照明光路には、対物レンズＯＢＪが配置されている。参照光路には、ミラーＲＭが配置されている

スプリッタＳＰを透過した照明光は、対物レンズＯＢＪにより屈折されて、被検眼Ｅの瞳孔を通じて眼内に入射し、被検眼Ｅの眼底Ｅｆに照射される。眼底Ｅｆに照射された照明光の戻り光は、対物レンズＯＢＪを通過し、スプリッタＳＰに入射する。

参照光路に導かれた参照光は、ミラーＲＭにより反射され、スプリッタＳＰに戻る。

スプリッタＳＰは、照明光路を経由した被検眼Ｅからの照明光の戻り光と、参照光路を経由した参照光との干渉光（合成光）を生成する。すなわち、スプリッタＳＰは、パターン照明光学系ＰＩからの照明光を被検眼Ｅに導くと共に、参照光と被検眼Ｅからの照明光の戻り光との干渉光を生成する。

検出器ＤＥは、スプリッタＳＰを介して、照明光路を経由した被検眼Ｅからの照明光の戻り光と、スプリッタＳＰにより生成された干渉光とを検出する。検出器ＤＥは、第１実施形態と同様に、タイミング制御部ＴＣからの制御を受け、ローリングシャッター方式、グローバルシャッター方式、又はＴＤＩ方式により受光結果を出力することが可能である。

図２３に、図２２の眼科装置１ｂの構成例のブロック図を示す。図２３において、図３又は図２２と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。

穴鏡ＰＭには、照明光又は照明光の戻り光が通過する穴部が形成されている。穴鏡ＰＭは、スキャン光学系ＳＣにより偏向された照明光の光路から、被検眼Ｅからの照明光の戻り光の光路を分離する。

いくつかの実施形態では、スキャン光学系ＳＣにより偏向された照明光が穴鏡ＰＭに形成された穴部を通過し、照明光の戻り光が穴部の周辺領域において反射されてスプリッタＢＳに導かれる。

いくつかの実施形態では、スキャン光学系ＳＣにより偏向された照明光が穴部の周辺領域において反射されて対物レンズＯＢＪに導かれ、照明光の戻り光が穴部を通過してスプリッタＢＳに導かれる。

スプリッタＢＳは、穴鏡ＰＭからの照明光の戻り光を第１戻り光と第２戻り光とに分割する。

スプリッタＢＳにより分割された第１戻り光は、検出器ＤＥ１（ＳＬＯ検出器ＤＳ）により受光される。スプリッタＢＳにより分割された第２戻り光は、ビームコンバイナＢＣに導かれる。

ビームコンバイナＢＣは、スプリッタＢＳにより分割された第２戻り光とミラーＭｂにより反射された参照光との干渉光を生成する。ビームコンバイナＢＣにより生成された干渉光は、検出器ＤＥ１（ＯＣＴ検出器ＤＯ）により受光される。

図２４に、図２２の眼科装置１ｂの別の構成例のブロック図を示す。図２４において、図４又は図２３と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。

図２４に示す眼科装置１ｂの構成が図２３に示す眼科装置１ｂの構成と異なる点は、図４と同様に、ミラーＲＭ、Ｍａ、Ｍｂの位置である。

すなわち、図２４において、スプリッタＢＳにより分割された第１戻り光は、検出器ＤＥ１（ＳＬＯ検出器ＤＳ）に導かれ、スプリッタＢＳにより分割された第２戻り光は、ミラーＭａに導かれる。第２戻り光は、ミラーＭａにより反射されてミラーＲＭに導かれる。ミラーＲＭにより反射された第２戻り光は、ミラーＭｂにより反射されてビームコンバイナＢＣに導かれる。

第３実施形態に係る眼科装置１ｂにおいても、第１実施形態と同様に、波長掃引光源を用いて照明光が生成される。以下では、眼科装置１ｂにおいて図２３に示すようにミラーＲＭが配置される場合について説明するが、眼科装置１ｂにおいて図２４に示すようにミラーＲＭが配置されていてもよい。

図２５に、図２３の眼科装置１ｂの構成例のブロック図を示す。図２５において、図５又は図２３と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。

図２５に示すように、第３実施形態においても、図５と同様に、波長掃引光源を用いて光学系が構成される。

以下、第３実施形態に係る眼科装置１ｂの具体的な構成例について説明する。

図２６に、第３実施形態に係る眼科装置１ｂの光学系の構成例を示す。図２６において、図６と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。

図２６に示す光学系の構成が図６に示す光学系の構成と異なる点は、光スキャナ３０の配置位置と、ビームスプリッタ６５とミラー６４との間にミラー６６が配置されている点である。具体的には、光スキャナ３０は、投影光学系３５と照明光学系２０との間に配置されている。

照明光学系２０では、ビームスプリッタ６５を透過した照明光は、虹彩絞り２１に形成された開口部を通過し、リレーレンズ系ＲＬ２を透過し、スリット２２に形成された開口部を通過し、リレーレンズ系ＲＬ１を透過する。リレーレンズ系ＲＬ１を透過した光は、光スキャナ３０により偏向され、投影光学系３５に導かれる。ここで、第１実施形態と同様に、リレーレンズ系ＲＬ１の後側焦点位置が被検眼Ｅの虹彩と光学的に略共役な位置に配置されるため、光スキャナ３０（偏向面）は、リレーレンズ系ＲＬ１の後側焦点位置又はその近傍に配置される。

投影光学系３５では、光スキャナ３０により偏向された照明光は、リレーレンズ４１を透過し、黒点板４２を通過し、反射ミラー４３により反射され、リレーレンズ４４を通過して穴鏡４５に導かれる。

撮影光学系４０では、投影光学系３５からの照明光は、穴鏡４５に形成された穴部の周辺領域において対物レンズ４６に向けて反射される。穴鏡４５の周辺領域において反射された照明光は、対物レンズ４６により屈折されて、被検眼Ｅの瞳孔を通じて眼内に入射し、被検眼Ｅの眼底Ｅｆを照明する。

眼底Ｅｆからの照明光の戻り光は、対物レンズ４６により屈折され、穴鏡４５の穴部を通過し、合焦レンズ４７を透過し、リレーレンズ４８を透過し、結像レンズ４９を通過し、ビームスプリッタ６１により第１戻り光と第２戻り光とに分割される。第１戻り光は、撮像装置５０のイメージセンサ５１Ａにより受光される。第２戻り光は、ビームコンバイナ６２に導かれる。ビームコンバイナ６２は、第２戻り光と参照光との干渉光を生成する。生成された干渉光は、撮像装置５０のイメージセンサ５１Ｂにより受光される。

第３実施形態に係る眼科装置１ｂの動作は第１実施形態と同様であるため、説明を省略する。

以上説明したように、第３実施形態によれば、第１実施形態と同様の効果を得ることができる。

＜第４実施形態＞
第３実施形態で説明したスウェプトソースタイプ以外の他のタイプ（スペクトラルドメインタイプ又はタイムドメインタイプ）のＯＣＴを用いる眼科装置に、実施形態に係る構成を適用することが可能である。

以下、第３実施形態との相違点を中心に、第４実施形態について説明する。

図２７は、第４実施形態に係る眼科装置の構成例のブロック図を示す。図２７において、図２０又は図２５と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。

第４実施形態に係る眼科装置１ｃの構成が図２５に示す眼科装置１ｂの構成と異なる点は、パターン照明光学系ＰＩ１に代えてパターン照明光学系ＰＩ２が設けられている点と、検出器ＤＥ１に代えて検出器ＤＥ２が設けられている点と、タイミング制御部ＴＣ１に代えてタイミング制御部ＴＣ２が設けられいる点である。

パターン照明光学系ＰＩ２の構成が図２５に示すパターン照明光学系ＰＩ１の構成と異なる点は、波長掃引光源ＬＳａに代えて広帯域光源ＬＳｂが設けられている点である。

検出器ＤＥ２の構成が図２５に示す検出器ＤＥ１の構成と異なる点は、ＯＣＴ検出器ＤＯ１に代えて、分光器ＳＰＯ及びＯＣＴ検出器ＤＯ２が設けられている点である。

なお、第４実施形態では、参照光の光路長を変更する図２７に示す構成を例に説明したが、第４実施形態に係る構成を、照明光の光路長を変更する図４に示す構成に適用することが可能である。

第４実施形態によれば、第１実施形態と同様の効果を得ることができる。

＜第５実施形態＞
実施形態に係る眼科装置の構成は、上記の実施形態で説明した構成に限定されるものではない。第５実施形態では、参照光に対する遮光制御を行うことにより、単一の検出器を用いて被検眼Ｅからの照明光の戻り光と干渉光とを検出することができる。

以下、第１実施形態との相違点を中心に、第５実施形態について説明する。

図２８に、第５実施形態に係る眼科装置の構成例のブロック図を示す。図２８において、図３と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。

第５実施形態に係る眼科装置１ｄの構成が図３に示す眼科装置１の構成と異なる点は、スプリッタＳＰ１に代えてスプリッタＳＰ３が設けられている点と、検出器ＤＥ１に代えて検出器ＤＥ３が設けられている点と、タイミング制御部ＴＣ１に代えてタイミング制御部ＴＣ３が設けられている点である。

スプリッタＳＰ３は、穴鏡ＰＭと、ビームコンバイナＢＣと、ミラーＭａ、Ｍｂと、遮光板ＳＨＤとを含む。

穴鏡ＰＭは、パターン照明光学系ＰＩ１により生成された照明光の光路から、被検眼Ｅからの照明光の戻り光の光路を分離する。穴鏡ＰＭに形成された穴部は、被検眼Ｅの虹彩と光学的に共役な位置に配置される。

いくつかの実施形態では、パターン照明光学系ＰＩ１からの照明光が穴鏡ＰＭに形成された穴部を通過し、照明光の戻り光が穴部の周辺領域において反射されてビームコンバイナＢＣに導かれる。

いくつかの実施形態では、パターン照明光学系ＰＩ１からの照明光が穴部の周辺領域において反射されてスキャン光学系ＳＣに導かれ、照明光の戻り光が穴部を通過してビームコンバイナＢＣに導かれる。

パターン照明光学系ＰＩ１により生成された参照光もまた、スプリッタＳＰ３に入射する。スプリッタＳＰ３に入射した参照光は、ミラーＭａにより反射されてミラーＲＭに導かれる。ミラーＲＭは、入射光の進行方向と反対方向に入射光を反射する。ミラーＲＭにより反射された参照光は、ミラーＭｂにより反射されてビームコンバイナＢＣに導かれる。

遮光板ＳＨＤは、参照光の光路に挿脱可能に設けられている。図２８では、遮光板ＳＨＤは、パターン照明光学系ＰＩ１とミラーＭａとの間の参照光の光路に対して挿脱可能に設けられている。遮光板ＳＨＤは、参照光の光路に配置されているとき参照光を遮断する。遮光板ＳＨＤの機能は、参照光を偏向してミラーＭａに到達しないようにするミラーにより実現されてもよい。

ビームコンバイナＢＣは、穴鏡ＰＭからの照明光の戻り光と、ミラーＭｂにより反射された参照光との干渉光を生成する。ビームコンバイナＢＣにより生成された干渉光は、検出器ＤＥ３により受光される。検出器ＤＥ３は、公知の光干渉断層計で用いられる検出器であってよい。

これにより、参照光の光路の遮光板ＳＨＤが配置されているとき、ビームコンバイナＢＣには戻り光のみが入射するため、ビームコンバイナＢＣは、被検眼Ｅからの照明光の戻り光を検出器ＤＥ３に導く。また、参照光の光路から遮光板ＳＨＤが退避されているとき、ビームコンバイナＢＣは、戻り光と参照光との干渉光を生成し、生成された干渉光を検出器ＤＥ３に導く。

タイミング制御部ＴＣ３は、スキャン光学系ＳＣに対して制御信号Ｃｔｓｃを出力し、検出器ＤＥ３に対して制御信号Ｃｔｄｅｔを出力し、パターン照明光学系ＰＩ１に対して制御信号Ｃｔｌｓを出力する。それにより、被検眼Ｅにおける照明光の照射位置の移動タイミングに同期して、照明光の照射位置に対応した戻り光及び干渉光の受光位置における受光素子から受光結果が読み出される。

図２９に、第５実施形態に係る眼科装置１ｄの光学系の構成例を示す。図２９において、図６と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。

図２９に示す光学系の構成が図６に示す光学系の構成と異なる点は、遮光板８０と、撮像装置５０ｂである。

遮光板８０は、公知の移動機構により、ビームスプリッタ６５により分割された参照光の光路に対して挿脱可能である。

撮像装置５０ｂは、イメージセンサ５１Ｃを含む。イメージセンサ５１Ｃは、イメージセンサ５１Ｂと同様に、１次元的又は２次元的に配列された１以上のバランスドフォトダイオードを含んでよい。

図３０に、第５実施形態に係る眼科装置１ｄの制御系の構成例のブロック図を示す。図３０において、図１４と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。

図３０に示すように、眼科装置１ｄの制御系は、制御部１００ｄを中心に構成されている。なお、制御系の構成の少なくとも一部が眼科装置１ｄの光学系に含まれていてもよい。

（制御部１００ｄ）
制御部１００ｄは、眼科装置１ｄの各部を制御する。制御部１００ｄは、主制御部１０１ｄと、記憶部１０２ｄとを含む。制御部１００ｄは、タイミング制御部ＴＣ３の機能を実現する。主制御部１０１ｄは、プロセッサを含み、記憶部１０２ｄに記憶されたプログラムに従って処理を実行することで、眼科装置１ｄの各部の制御処理を実行する。

（主制御部１０１ｄ）
主制御部１０１ｄは、波長掃引光源１０ａ、移動機構１０Ｄ、７０Ｄ、８０Ｄの制御、照明光学系２０の制御、光スキャナ３０の制御、撮影光学系４０の制御、撮像装置５０ｂの制御、画像形成部２００の制御、及びデータ処理部２３０の制御を行う。

図３０に示す制御系の構成が図１４に示す制御系の構成と異なる点は、移動機構８０Ｄに対して制御を行う点と、撮像装置５０に代えて撮像装置５０ｂに対して制御を行う点である。

移動機構８０Ｄは、制御部１００ｄからの制御を受け、公知の機構により、参照光の光路に対して挿脱されるように遮光板８０を移動する。いくつかの実施形態では、移動機構８０Ｄは、参照光の光路に対して交差する方向に遮光板８０を移動する。いくつかの実施形態では、移動機構８０Ｄは、参照光の光路に略平行な回動軸を中心とする円周上に穴部が形成されたターレット板を回動軸を中心に回動する。

撮像装置５０ｂの制御には、イメージセンサ５１Ｃの制御（ローリングシャッター制御）が含まれる。イメージセンサ５１Ｃの制御には、リセット制御、露光制御、電荷転送制御、出力制御などが含まれる。また、リセット制御に要する時間Ｔｒ、露光制御に要する時間（露光時間）Ｔｅ、電荷転送制御に要する時間Ｔｃ、出力制御に要する時間Ｔｏｕｔ等を変更することが可能である。

次に、眼科装置１ｄの動作について説明する。

図３１及び図３２に、第５実施形態に係る眼科装置１ｄの動作例のフロー図を示す。記憶部１０２ｄには、図３１及び図３２に示す処理を実現するためのコンピュータプログラムが記憶されている。主制御部１０１ｄは、このコンピュータプログラムに従って動作することにより、図３１及び図３２に示す処理を実行する。

ここでは、図１８と同様に、図示しないアライメント系により被検眼Ｅに対して装置光学系のアライメントが完了し、図示しない固視投影系により所望の固視位置に導くように被検眼Ｅの眼底に対して固視標が投影されているものとする。

（Ｓ１１：遮光板を配置）
まず、主制御部１０１ｄは、移動機構８０Ｄを制御することにより、遮光板８０を参照光の光路に配置させる。

（Ｓ１２：屈折度数を取得）
次に、主制御部１０１ｄは、ステップＳ１と同様に、外部の眼科測定装置又は電子カルテから被検眼Ｅの屈折度数を取得する。

（Ｓ１３：スリットの位置を変更）
続いて、主制御部１０１ｄは、ステップＳ２と同様に、ステップＳ１２において取得された被検眼Ｅの屈折度数に応じて、照明光学系２０の光軸におけるスリット２２の位置を変更する。

具体的には、主制御部１０１ｄは、記憶部１０２ｄに記憶された第１制御情報を参照して屈折度数に対応したスリット２２の位置を特定し、特定された位置にスリット２２が配置されるように移動機構２２Ｄを制御する。

（Ｓ１４：光源の位置又は向きを変更）
続いて、主制御部１０１ｄは、ステップＳ３と同様に、ステップＳ１３において光軸における位置が変更されたスリット２２の新たな位置に応じて、波長掃引光源１０ａの位置及び向きの少なくとも１つを変更する。

具体的には、主制御部１０１ｄは、記憶部１０２ｄに記憶された第２制御情報を参照して、屈折度数又はスリット２２の移動後の位置に対応した波長掃引光源１０ａの位置及び向きの少なくとも１つを特定する。その後、主制御部１０１ｄは、特定された位置又は向きに波長掃引光源１０ａが配置されるように移動機構１０Ｄを制御する。

（Ｓ１５：照明光を照射）
次に、主制御部１０１ｄは、ステップＳ４と同様に、照明光学系２０によりスリット状の照明光を生成させ、光スキャナ３０の偏向制御を開始させることにより、眼底Ｅｆにおける所望の照射範囲に対する照明光の照射を開始させる。照明光の照射が開始されると、上記のように、スリット状の照明光が所望の照射範囲内で順次に照射される。

（Ｓ１６：受光結果を取得）
主制御部１０１ｄは、ステップＳ５と同様に、ステップＳ１５において実行された眼底Ｅｆにおける照明光の照射範囲に対応したイメージセンサ５１Ｃの開口範囲におけるピクセルの受光結果を取得する。ステップＳ１６では、被検眼Ｅに照射された照明光の戻り光の受光結果が取得される。

（Ｓ１７：次の照射位置？）
主制御部１０１ｄは、ステップＳ６と同様に、次に照明光で照射すべき照射位置があるか否かを判定する。主制御部１０１ｄは、順次に移動される照明光の照射範囲があらかじめ決められた眼底Ｅｆの撮影範囲を網羅したか否かを判定することにより、次に照明光で照射すべき照射位置があるか否かを判定することが可能である。

次に照明光で照射すべき照射位置があると判定されたとき（Ｓ１７：Ｙ）、眼科装置１ｄの動作はステップＳ１５に移行する。次に照明光で照射すべき照射位置がないと判定されなかったとき（Ｓ１７：Ｎ）、眼科装置１ｄの動作はステップＳ１８に移行する。

（Ｓ１８：正面画像を形成）
ステップＳ１７において、次に照明光で照射すべき照射位置がないと判定されたとき（Ｓ１７：Ｎ）、主制御部１０１ｄは、ステップＳ１６において照明光の照射範囲を変更しつつ繰り返し取得された受光結果から被検眼Ｅの画像を画像形成部２００に形成させる。

具体的には、画像形成部２００は、正面画像を形成する。この場合、ＳＬＯ画像形成部２１０は、ステップＳ１５～ステップＳ１７の処理の繰返し回数分の互いに照明光の照射範囲（イメージセンサ５１Ｃの受光面における開口範囲）が異なる複数の受光結果を照射範囲の移動順序に基づいて合成する。それにより、眼底Ｅｆの１フレーム分の眼底像が形成される。

（Ｓ１９：遮光板を退避）
続いて、主制御部１０１ｄは、移動機構８０Ｄを制御することにより、参照光の光路から遮光板８０を退避させる。

（Ｓ２０：照明光を照射）
次に、主制御部１０１ｄは、ステップＳ１５と同様に、照明光学系２０によりスリット状の照明光を生成させ、光スキャナ３０の偏向制御を開始させることにより、眼底Ｅｆにおける所望の照射範囲に対する照明光の照射を開始させる。照明光の照射が開始されると、上記のように、スリット状の照明光が所望の照射範囲内で順次に照射される。

（Ｓ２１：受光結果を取得）
主制御部１０１ｄは、ステップＳ１６と同様に、ステップＳ２０において実行された眼底Ｅｆにおける照明光の照射範囲に対応したイメージセンサ５１Ｃの開口範囲におけるピクセルの受光結果を取得する。ステップＳ２１では、被検眼Ｅに照射された照明光の戻り光と参照光との干渉光の受光結果が取得される。

（Ｓ２２：次の照射位置？）
主制御部１０１ｄは、ステップＳ１７と同様に、次に照明光で照射すべき照射位置があるか否かを判定する。

次に照明光で照射すべき照射位置があると判定されたとき（Ｓ２２：Ｙ）、眼科装置１ｄの動作はステップＳ２０に移行する。次に照明光で照射すべき照射位置がないと判定されなかったとき（Ｓ２２：Ｎ）、眼科装置１ｄの動作はステップＳ２３に移行する。

（Ｓ２３：正面画像を形成）
ステップＳ２２において、次に照明光で照射すべき照射位置がないと判定されたとき（Ｓ２２：Ｎ）、主制御部１０１ｄは、ステップＳ２１において照明光の照射範囲を変更しつつ繰り返し取得された受光結果から被検眼Ｅの画像を画像形成部２００に形成させる。

具体的には、画像形成部２００は、断層像を形成する。この場合、ＯＣＴ画像形成部２２０は、ステップＳ２０～ステップＳ２２の処理の繰返し回数分の互いに照明光の照射範囲（イメージセンサ５１Ｃの受光面における開口範囲）が異なる複数の受光結果を照射範囲の移動順序に基づいて合成する。それにより、眼底Ｅｆの１フレーム分の断層像が形成される。

以上で、眼科装置１ｄの動作は終了である（エンド）。

以上説明したように、第５実施形態によれば、光源、スキャン光学系、及び検出器（特に、イメージセンサ）を共用しつつ、照明光の戻り光及び干渉光に基づいて被検眼Ｅの正面画像及び断層像を形成するようにしたので、簡素な構成で、被検眼を詳細に観察することが可能になる。

＜第６実施形態＞
第５実施形態で説明したスウェプトソースタイプ以外の他のタイプ（スペクトラルドメインタイプ又はタイムドメインタイプ）のＯＣＴを用いる眼科装置に、実施形態に係る構成を適用することが可能である。

以下、第５実施形態との相違点を中心に、第６実施形態について説明する。

図３３に、第６実施形態に係る眼科装置１ｅの構成例のブロック図を示す。図３３において、図２０又は図２８と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。

第６実施形態に係る眼科装置１ｅの構成が図２８に示す眼科装置１ｄの構成と異なる点は、パターン照明光学系ＰＩ１に代えてパターン照明光学系ＰＩ２が設けられている点と、検出器ＤＥ３に代えて検出器ＤＥ４が設けられている点と、タイミング制御部ＴＣ３に代えてタイミング制御部ＴＣ４が設けられている点である。

検出器ＤＥ４の構成が図２８に示す検出器ＤＥ３の構成と異なる点は、分光器ＳＰＯ及び検出器ＤＯ３が設けられている点である。

分光器ＳＰＯは、ビームコンバイナＢＣからの照明光の戻り光又は干渉光を分光する。例えば、分光器ＳＰＯは、戻り光又は干渉光を回折格子によってスペクトル成分に分解する。分光器ＳＰＯによってスペクトル成分に分解された干渉光は、検出器ＤＯ３により受光される。

タイミング制御部ＴＣ４は、公知のスペクトラルドメインタイプのＯＣＴを実行するように各部を制御する。

以下、第６実施形態に係る眼科装置１ｅの具体的な構成例について説明する。

図３４に、第６実施形態に係る眼科装置１ｅの光学系の構成例を示す。図３４において、図２９又は図３３と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明する。

図３４では、図２９の波長掃引光源１０ａに代えて広帯域光源１０ｂが設けられている。また、図２９の撮像装置５０ｂに代えて設けられた撮像装置５０ｄが設けられている。撮像装置５０ｄは、分光器５３Ｂと、イメージセンサ５１Ｃ１とを含む。

すなわち、広帯域光源１０ｂは、図２９の広帯域光源ＬＳｂに対応する。分光器５３Ｂは、図３３の分光器ＳＰＯに対応する。イメージセンサ５１Ｃ１は、図３３の検出器ＤＯ３に対応する。

参照光の光路に遮光板８０が配置されているとき、ビームコンバイナ６２は、撮影光学系４０からの照明光の戻り光をそのまま撮像装置５０ｄに導く。一方、参照光の光路から遮光板８０が退避されているとき、ビームコンバイナ６２は、ミラー６３からの参照光と撮影光学系４０からの照明光の戻り光とを干渉させて干渉光を生成し、生成された干渉光を撮像装置５０ｄに導く。

分光器５３Ｂは、ビームコンバイナ６２からの照明光の戻り光又は干渉光を回折格子によってスペクトル成分に分解する。イメージセンサ５１Ｃ１は、分光器５３Ｂによってスペクトル成分に分解された干渉光を受光する。イメージセンサ５１Ｃ１は、例えば、ラインセンサであり、干渉光の複数のスペクトル成分を検出して電気信号（検出信号）を生成する。

例えば、ＳＬＯ画像形成部２１０は、イメージセンサ５１Ｃ１により得られた受光結果に対して、分光器５３Ｂにより分解されたスペクトル成分を再合成し、再合成された結果に基づいてＳＬＯ画像を形成する。例えば、ＯＣＴ画像形成部２２０は、イメージセンサ５１Ｃ１により得られた受光結果に対して、フーリエ変換処理等を施し、画像化することでＯＣＴ画像を形成する。

なお、第６実施形態では、参照光の光路長を変更する図３４に示す構成を例に説明したが、第６実施形態に係る構成を、照明光の光路長を変更する図４に示す構成に適用することが可能である。

第６実施形態によれば、第５実施形態と同様の効果を得ることができる。

＜第７実施形態＞
第５の実施形態又は第６の実施形態では、スプリッタＳＰを介して入射した照明光を偏向することで被検眼Ｅに照明光を照射する場合について説明したが、実施形態に係る構成はこれに限定されない。第７実施形態では、第３実施形態と同様に、スキャン光学系ＳＣにより偏向された照明光がスプリッタＳＰを介して被検眼Ｅに照射される。

以下、第５実施形態との相違点を中心に、第７実施形態について説明する。

図３５に、第７実施形態に係る眼科装置１ｆの構成例のブロック図を示す。図３５において、図２８と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。

第７実施形態に係る眼科装置１ｆの構成が図２８に示す眼科装置１ｄの構成と異なる点は、スキャン光学系ＳＣとスプリッタＳＰ３の配置である。すなわち、眼科装置１ｆでは、パターン照明光学系ＰＩ１により生成された照明光が、スキャン光学系ＳＣにより偏向され、偏向された照明光がスプリッタＳＰ３により対物レンズＯＢＪに導かれる光とミラーＲＭに導かれる光とに分割される。

いくつかの実施形態では、スキャン光学系ＳＣにより偏向された照明光が穴鏡ＰＭに形成された穴部を通過し、照明光の戻り光が穴部の周辺領域において反射されてビームコンバイナＢＣに導かれる。

いくつかの実施形態では、スキャン光学系ＳＣにより偏向された照明光が穴部の周辺領域において反射されて対物レンズＯＢＪに導かれ、照明光の戻り光が穴部を通過してビームコンバイナＢＣに導かれる。

ビームコンバイナＢＣは、穴鏡ＰＭからの照明光の戻り光と、ミラーＭｂにより反射された参照光との干渉光を生成する。ビームコンバイナＢＣにより生成された干渉光は、検出器ＤＥ３により受光される。

以下、第７実施形態に係る眼科装置１ｆの具体的な構成例について説明する。

図３６に、第７実施形態に係る眼科装置１ｆの光学系の構成例を示す。図３６おいて、図３４又は図３５と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明する。

図３６に示す光学系の構成が図３４に示す光学系の構成と異なる点は、光スキャナ３０の配置位置と、ビームスプリッタ６５とミラー６４との間にミラー６６が配置されている点である。具体的には、光スキャナ３０は、投影光学系３５と照明光学系２０との間に配置されている。

眼底Ｅｆからの照明光の戻り光は、対物レンズ４６により屈折され、穴鏡４５の穴部を通過し、合焦レンズ４７を透過し、リレーレンズ４８を透過し、結像レンズ４９を通過し、ビームコンバイナ６２を介して撮像装置５０ｂのイメージセンサ５１Ｃにより受光される。

遮光板８０がビームスプリッタ６５とミラー６４との間の参照光の光路に配置されているとき、ビームコンバイナ６２は、照明光の戻り光をイメージセンサ５１Ｃに導く。遮光板がビームスプリッタ６５とミラー６４との間の参照光の光路から退避されているとき、ビームコンバイナ６２は、照明光の戻り光と参照光との干渉光を生成し、生成された干渉光をイメージセンサ５１Ｃに導く。

第７実施形態に係る眼科装置１ｆの動作は第５実施形態と同様であるため、説明を省略する。

以上説明したように、第７実施形態によれば、第５実施形態と同様の効果を得ることができる。

＜第８実施形態＞
第７実施形態で説明したスウェプトソースタイプ以外の他のタイプ（スペクトラルドメインタイプ又はタイムドメインタイプ）のＯＣＴを用いる眼科装置に、実施形態に係る構成を適用することが可能である。

以下、第７実施形態との相違点を中心に、第８実施形態について説明する。

図３７に、第８実施形態に係る眼科装置１ｇの構成例のブロック図を示す。図３７において、図３３又は図３５と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。

第８実施形態に係る眼科装置１ｇの構成が図３５に示す眼科装置１ｆの構成と異なる点は、パターン照明光学系ＰＩ１に代えてパターン照明光学系ＰＩ２が設けられている点と、検出器ＤＥ３に代えて検出器ＤＥ４が設けられている点と、タイミング制御部ＴＣ３に代えてタイミング制御部ＴＣ４が設けられている点である。

検出器ＤＥ４の構成が図３５に示す検出器ＤＥ３の構成と異なる点は、分光器ＳＰＯ及び検出器ＤＯ３が設けられている点である。

以下、第８実施形態に係る眼科装置１ｇの具体的な構成例について説明する。

図３８に、第８実施形態に係る眼科装置１ｇの光学系の構成例を示す。図３８において、図３６又は図３７と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明する。

図３８では、図３６の波長掃引光源１０ａに代えて広帯域光源１０ｂが設けられている。また、図３６の撮像装置５０ｂに代えて設けられた撮像装置５０ｄが設けられている。撮像装置５０ｄは、分光器５３Ｂと、イメージセンサ５１Ｃ１とを含む。

すなわち、広帯域光源１０ｂは、図３７の広帯域光源ＬＳｂに対応する。分光器５３Ｂは、図３７の分光器ＳＰＯに対応する。イメージセンサ５１Ｃ１は、図３７の検出器ＤＯ３に対応する。

なお、第８実施形態では、参照光の光路長を変更する図３８に示す構成を例に説明したが、第８実施形態に係る構成を、照明光の光路長を変更する図４に示す構成に適用することが可能である。

第８実施形態によれば、第７実施形態と同様の効果を得ることができる。

＜第９実施形態＞
実施形態に係る眼科装置の構成は、上記の実施形態又はその変形例に係る眼科装置の構成に限定されるものではない。

以下、第１実施形態との相違点を中心に、第９実施形態について説明する。

図３９に、第９実施形態に係る眼科装置の構成例のブロック図を示す。図３９において、図１と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。

第９実施形態に係る眼科装置１ｈの構成が図１に示す眼科装置１の構成と異なる点は、スプリッタＳＰに代えてスプリッタＳＰ４が設けられている点と、ＯＣＴ光学系３００及びダイクロイックミラーＤＭが設けられている点と、タイミング制御部ＴＣに代えてタイミング制御部ＴＣ５が設けられている点である。

スプリッタＳＰ４は、パターン照明光学系ＰＩからの照明光を透過してスキャン光学系ＳＣに導くと共に、スキャン光学系ＳＣからの照明光の戻り光を検出器ＤＥに向けて反射する。

ダイクロイックミラーＤＭは、スキャン光学系ＳＣと対物レンズＯＢＪとの間に配置されている。ダイクロイックミラーＤＭは、スキャン光学系ＳＣからの照明光を透過して対物レンズＯＢＪに導くと共に、対物レンズＯＢＪからの照明光の戻り光をスキャン光学系ＳＣに導く。ダイクロイックミラーＤＭは、ＯＣＴ光学系３００からの測定光を反射して対物レンズＯＢＪに導くと共に、対物レンズＯＢＪからの測定光の戻り光を反射してＯＣＴ光学系３００に導く。

ＯＣＴ光学系３００は、光源からの光を測定光と参照光とに分割し、測定光をダイクロイックミラーＤＭに導き、測定光の戻り光と参照光との干渉光を検出する。ＯＣＴ光学系３００は、公知のスウェプトソースタイプのＯＣＴを実行するための光学系、又は公知のスペクトラルドメインタイプのＯＣＴを実行するための光学系を含む。

第９実施形態によれば、例えばローリングシャッター方式により、不要な散乱光の影響を受けることなく、簡素な構成で、コントラストが強い眼底Ｅｆの高画質の画像を取得することができる。更に、このような高画質の画像を取得可能な眼科装置において、ＯＣＴも実行することができる。

＜第１０実施形態＞
第１実施形態～第８実施形態では、正面画像を取得するための光源と断層像を取得するための光源とを共用する場合について説明したが、実施形態に係る構成はこれに限定されるものではない。

以下、第１実施形態との相違点を中心に、第１０実施形態について説明する。

図４０に、第１０実施形態に係る眼科装置１ｊの構成例のブロック図を示す。図４０において、図１と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。

第１０実施形態に係る眼科装置１ｊの構成が図１に示す眼科装置１の構成と異なる点は、パターン照明光学系ＰＩに代えてパターン照明光学系ＰＩ３が設けられている点である。

パターン照明光学系ＰＩ３は、観察用光源ＬＳ１と、ＯＣＴ光源ＬＳ２とを含む。観察用光源ＬＳ１は、可視領域の波長成分を有する光を出力する。ＯＣＴ光源ＬＳ２は、近赤外領域の波長成分を有する光を出力する。パターン照明光学系ＰＩ３は、観察用光源ＬＳ１からの出力光とＯＣＴ光源ＬＳ２からの出力光とを切り替えて出力することで、図１と同様のスリット状の照明光を生成する。いくつかの実施形態では、パターン照明光学系ＰＩ３は、観察用光源ＬＳ１からの出力光とＯＣＴ光源ＬＳ２からの出力光とを同時に出力して生成された合成照明光から図１と同様のスリット状の照明光を生成する。この場合、観察用光源ＬＳ１は、例えば、赤外領域の波長成分（ＯＣＴ光源ＬＳ２からの出力光の波長領域に対して波長分離可能な波長成分）を有する光を出力する。例えば、上記の実施形態と同様に、観察用光源ＬＳ１からの出力光の戻り光の検出結果が得られる。例えば、従来の眼底カメラと同様の手法で観察用光源ＬＳ１からの出力光の戻り光を波長分離して検出することで観察画像が得られる。

スプリッタＳＰは、パターン照明光学系ＰＩ３により生成された照明光を照明光路（測定光路）に導くと共に、参照光を参照光路に導く。照明光路には、スキャン光学系ＳＣと、対物レンズＯＢＪとが配置されている。参照光路には、ミラーＲＭが配置されている。

照明光路に導かれた照明光は、スキャン光学系ＳＣにより偏向される。

参照光路に導かれた参照光は、ミラーＲＭにより反射され、スプリッタＳＰに戻る。ミラーＲＭは、参照光の光路に沿って移動可能である。

スプリッタＳＰは、照明光路を経由した被検眼Ｅからの照明光の戻り光と、参照光路を経由した参照光との干渉光（合成光）を生成する。すなわち、スプリッタＳＰは、パターン照明光学系ＰＩ３からの照明光をスキャン光学系ＳＣに導くと共に、参照光と被検眼Ｅからの照明光の戻り光との干渉光を生成する。

検出器ＤＥは、スプリッタＳＰを介して、照明光路を経由した被検眼Ｅからの照明光の戻り光と、スプリッタＳＰにより生成された干渉光とを検出する。検出器ＤＥは、タイミング制御部ＴＣ５からの制御を受け、ローリングシャッター方式、グローバルシャッター方式、又はＴＤＩ方式により受光結果を出力することが可能である。

タイミング制御部ＴＣ５は、少なくともパターン照明光学系ＰＩ３、スキャン光学系ＳＣ、及び検出器ＤＥを制御する。タイミング制御部ＴＣ５は、スキャン光学系ＳＣを制御することにより被検眼Ｅにおける照明光の照射位置を移動させつつ、照明光の照射位置の移動タイミングに同期して、照射位置に対応した戻り光の受光位置における検出器ＤＥの受光素子から戻り光又は合成光の受光結果を取得する。

［作用］
実施形態に係る眼科装置について説明する。

いくつかの実施形態に係る眼科装置（例えば、眼科装置１）は、照射光学系（例えば、パターン照明光学系ＰＩ）と、光スキャナ（例えば、光スキャナ３０、スキャン光学系ＳＣ）と、光分割合成部（例えば、スプリッタＳＰ）と、検出器とを含む。照射光学系は、光源（波長掃引光源、広帯域光源）を含み、光源からの光を用いて測定光（照明光）を生成する。光スキャナは、測定光を偏向し、偏向された測定光を被検眼（Ｅ）に導く。光分割合成部は、測定光を光スキャナに導くと共に、光源からの光から生成された参照光（分割光）と被検眼からの測定光の戻り光との干渉光を生成する。検出器は、光分割合成部を介して戻り光及び干渉光を検出する。

このような態様によれば、照射光学系により光源からの光を用いて生成された照明光は、光分割合成部により光スキャナに導かれ、光スキャナにより偏向されて被検眼に照射される。被検眼からの照明光の戻り光は、光分割合成部に入射する。光分割合成部は、照明光の戻り光と光源からの光から生成された参照光との干渉光を生成する。検出器は、光分割合成部を介して戻り光及び干渉光を検出する。それにより、光源と光スキャナと検出器とを共用しつつ、種々の観点で被検眼を観察するための戻り光と干渉光とを検出することができるので、簡素な構成で、被検眼を詳細に観察することが可能な眼科装置を提供することができる。

いくつかの実施形態に係る眼科装置（例えば、眼科装置１ｂ）は、照射光学系（例えば、パターン照明光学系ＰＩ）と、光スキャナ（例えば、光スキャナ３０、スキャン光学系ＳＣ）と、光分割合成部（例えば、スプリッタＳＰ）と、検出器（例えば、検出器ＤＥ）とを含む。照射光学系は、光源（波長掃引光源、広帯域光源）を含み、光源からの光を用いて測定光（照明光）を生成する。光スキャナは、測定光を偏向する。光分割合成部は、光スキャナにより偏向された測定光を被検眼（Ｅ）に導くと共に、光源からの光から生成された参照光（分割光）と被検眼からの測定光の戻り光との干渉光を生成する。検出器は、光分割合成部を介して戻り光及び干渉光を検出する。

このような態様によれば、照射光学系により光源からの光を用いて生成された照明光は、光スキャナにより偏向され、光分割合成部を介して被検眼に照射される。被検眼からの照明光の戻り光は、光分割合成部に入射する。光分割合成部は、照明光の戻り光と、光源からの光から生成された参照光との干渉光を生成する。検出器は、光分割合成部を介して戻り光及び干渉光を検出する。それにより、光源と光スキャナと検出器とを共用しつつ、種々の観点で被検眼を観察するための戻り光と干渉光とを検出することができるので、簡素な構成で、被検眼を詳細に観察することが可能な眼科装置を提供することができる。

いくつかの実施形態では、照射光学系は、光源からの光を測定光と参照光とに分割する
。

このような態様によれば、パワーを分割したり、波長範囲を分割したりすることで参照光を生成することができる。それにより、眼科装置の構成をより簡素化することができる。

いくつかの実施形態では、照射光学系は、光源からの光の光路を切り替えることにより測定光と参照光を出力する。

このような態様によれば、光路を切り替えることで測定光と参照光とを生成することができる。それにより、眼科装置の構成をより簡素化することができる。

いくつかの実施形態は、測定光及び参照光の少なくとも１つの光路に対して挿脱可能に構成された遮光板（例えば、遮光板ＳＨＤ、８０）を含み、検出器は、上記少なくとも１つの光路に遮光板が配置された状態で戻り光を検出すると共に、上記少なくとも１つの光路から遮光板が退避された状態で干渉光を検出する。

このような態様によれば、測定光及び参照光の少なくとも１つの光路に対して遮光板が配置されているとき、光分割合成部は戻り光を検出器に導き、測定光及び参照光の少なくとも１つの光路から遮光板が退避されているとき、光分割合成部は干渉光を検出器に導く。それにより、戻り光と干渉光とを単一の検出器を用いて検出することが可能になる。従って、眼科装置の構成をより簡素化することができる。

いくつかの実施形態では、光分割合成部は、測定光の光路と戻り光の光路とを分割する光分割部（例えば、穴鏡ＰＭ）と、光分割部により分割された戻り光を第１戻り光と第２戻り光とに分割する第１スプリッタ（例えば、スプリッタＢＳ）と、参照光と第２戻り光との干渉光を生成するビームコンバイナ（例えば、ビームコンバイナＢＣ）と、を含み、検出器は、第１スプリッタにより分割された第１戻り光と、ビームコンバイナにより生成された干渉光とを検出する。

このような態様によれば、検出器は、第１スプリッタにより戻り光を分割することにより得られた第１戻り光を検出し、参照光と第１スプリッタにより戻り光を分割することにより得られた第２戻り光との干渉光を検出する。それにより、簡素な構成で、第１戻り光と干渉光とを生成することが可能になり、眼科装置の構成をより簡素化することができる。

いくつかの実施形態では、光分割部は、光軸が通過する穴部が形成された穴鏡（例えば、穴鏡ＰＭ、４５）を含み、穴部は、被検眼の虹彩と光学的に略共役な位置に配置される。

このような態様によれば、簡素な構成で照明光と戻り光を瞳分割することが可能になり、眼内に入射する照明光の光量と被検眼からの照明光の戻り光の光量とを十分に確保し、高精細な画像又は高精度な計測信号を取得可能な眼科装置を提供することができる。

いくつかの実施形態では、検出器は、第１戻り光を検出する第１検出器（例えば、ＳＬＯ検出器ＤＳ）と、干渉光を検出する第２検出器（例えば、ＯＣＴ検出器ＤＯ）と、を含む。

このような態様によれば、第１戻り光と干渉光とを並列に検出することが可能になり、構成を簡素化しつつ、短時間で被検眼の注目部位を詳細に観察可能な眼科装置を提供することができる。

いくつかの実施形態では、光分割合成部は、第１スプリッタとビームコンバイナとの間に配置され、第２戻り光の光路長を変更する第１光路長変更部（例えば、ミラーＭａ、Ｍｂ、ＲＭ）を含む。

このような態様によれば、簡素な構成で、測定光の光路長と参照光の光路長との差を変更することが可能な眼科装置を提供することができる。

いくつかの実施形態では、光分割合成部は、参照光の光路に配置され、参照光の光路長を変更する第２光路長変更部（例えば、ミラーＭａ、Ｍｂ、ＲＭ）を含む。

いくつかの実施形態は、検出器により得られた戻り光の検出結果に基づいて被検眼の正面画像（ＳＬＯ画像）を形成する第１画像形成部（例えば、ＳＬＯ画像形成部２１０）と、検出器により得られた干渉光の検出結果に基づいて被検眼の断層像（ＯＣＴ画像）を形成する第２画像形成部（例えば、ＯＣＴ画像形成部２２０）と、を含む。

このような態様によれば、被検眼の正面画像と断層像とを取得することが可能になり、簡素な構成で、被検眼を詳細に観察することが可能な眼科装置を提供することができる。

いくつかの実施形態では、光源は、波長掃引光源を含む。

このような態様によれば、スウェプトソースタイプのＯＣＴを実行することにより被検眼の断層像を取得することが可能な眼科装置を提供することができる。

いくつかの実施形態では、光源は、広帯域光源を含み、検出器は、干渉光を分光する分光器（例えば、分光器ＳＰＯ）を含む。

このような態様によれば、スペクトラルドメインイプのＯＣＴを実行することにより被検眼の断層像を取得することが可能な眼科装置を提供することができる。

いくつかの実施形態では、照射光学系は、光源からの光を用いてスリット状の測定光を生成し、被検眼の計測部位における測定光の照射位置に対応した戻り光の受光結果を取得するようにローリングシャッター方式で検出器を制御する制御部（例えば、制御部１００）を含む。

このような態様によれば、ローリングシャッター方式により、不要な散乱光の影響を受けることなく、簡素な構成で、コントラストが強い被検眼の高画質の画像を取得することが可能な眼科装置を提供することができる。

いくつかの実施形態では、照射光学系は、計測部位と光学的に略共役な位置に配置可能なスリット状の開口部が形成されたスリット（例えば、スリット２２）と、光源とスリットとの間に配置され、被検眼の虹彩と光学的に略共役な位置に配置可能な虹彩絞り（例えば、虹彩絞り２１）と、を含む。

このような態様によれば、照明光と照明光の戻り光とを瞳分割することができる。それにより、簡素な構成で、注目部位の計測に必要な照度を確保し、被検眼の高画質の画像を取得することが可能な眼科装置を提供することができる。

いくつかの実施形態は、スリットを照射光学系の光軸方向に移動する第１移動機構（例えば、移動機構２２Ｄ）を含み、制御部は、被検眼の屈折度数に基づいて第１移動機構を制御する。

このような態様によれば、スリットを被検眼の屈折度数に応じて移動するようにしたので、照明光を効率よく被検眼の注目部位に導くことが可能になる。それにより、広がり角が広い安価な光源を用いた場合でも、簡素な構成で、注目部位の計測に必要な照度を確保し、被検眼の状態に影響されることなく被検眼の高画質の画像を取得することが可能になる。

いくつかの実施形態は、光源の位置及び向きの少なくとも１つを変更する第２移動機構（移動機構１０Ｄ）を含み、制御部は、第１移動機構により移動されたスリットの位置に応じて、第２移動機構を制御する。

このような態様によれば、被検眼の屈折度数に応じて光源とスリットとの位置関係が変更された場合でも、光源とスリットの開口部とを結ぶ方向の光量分布を変更することができる。それにより、被検眼の屈折度数に影響されることなく、所望の照度で被検眼の
注目部位を照明することが可能になる。

いくつかの実施形態では、照射光学系は、光スキャナとスリットとの間に配置された第１リレーレンズ系（例えば、リレーレンズ系ＲＬ１）を含み、第１リレーレンズ系の後側焦点位置が、虹彩と光学的に略共役な位置である。

このような態様によれば、バーダルの原理に従って第１リレーレンズ系から被検眼の虹彩に至る光学系を構成することができる。それにより、被検眼の屈折度数に応じてスリットが光軸方向に移動された場合でも、被検眼の屈折度数にかかわらず、被検眼の注目部位に投影されるスリット像の大きさは変化しない。これは、スリットが光軸方向に移動しても、注目部位へのスリット像の投影倍率が変化しないことを意味する。その結果、被検眼の屈折度数にかかわらず、光スキャナの偏向動作速度を一定にすることが可能になり、光スキャナの制御を簡素化することができる。また、被検眼の屈折度数にかかわらず、被検眼の視軸に対するスリット像の投影画角（投影倍率）が一定であるため、被検眼の屈折度数にかかわらず、注目部位におけるスリット像の照度を一定にすることができる。更に、眼科装置においてあらかじめ決められた撮影画角で画像を取得する場合に、投影倍率が一定であるため、スリットの長手方向の長さにマージンを設ける必要がなくなる。

いくつかの実施形態では、光スキャナは、後側焦点位置又はその近傍に配置される。

このような態様によれば、光学系のサイズを小型化しつつ被検眼の屈折度数にかかわらず、光スキャナの偏向動作速度を一定にすることが可能になり、光スキャナの制御を簡素化することができる。

いくつかの実施形態は、スリットと虹彩絞りとに間に配置された第２リレーレンズ系（リレーレンズ系ＲＬ２）を含み、第２リレーレンズ系の前側焦点位置又はその近傍に、虹彩絞りが配置される。

このような態様によれば、第１リレーレンズ系の焦点距離又は第２リレーレンズ系の焦点距離を変更することで、虹彩絞りから光スキャナまでの投影倍率を変更することができるため、任意の大きさの虹彩絞りの像を光スキャナ上に所望の大きさで投影することができる。それにより、光源の発光面のサイズが異なる場合でも、光スキャナ上に所望の大きさの虹彩絞りの像を投影することができ、光学系の設計自由度が向上する。

いくつかの実施形態では、虹彩絞りには、被検眼の角膜、水晶体前面、及び水晶体後面において測定光の光束断面と被検眼からの戻り光の光束断面とが分離するように、測定光が通過する１以上の開口部が形成されている。

このような態様によれば、被検眼に入射する照明光と被検眼からの戻り光とを高精度に瞳分割することで、簡素な構成で、被検眼の注目部位の計測に必要な照度を確保し、被検眼の状態に影響されることなく被検眼の高画質の画像を取得することが可能になる。

いくつかの実施形態では、１以上の開口部のそれぞれは、弓形形状であり、弓形形状の弦の方向は、スリットを通過した光により形成されるスリット像の長手方向に略平行である。

このような態様によれば、簡素な構成で、照明光の光量を増大させ、よりコントラストが強い高画質の画像を取得することが可能である。

以上に示された実施形態又はその変形例は、この発明を実施するための一例に過ぎない。この発明を実施しようとする者は、この発明の要旨の範囲内において任意の変形、省略、追加等を施すことが可能である。

上記の実施形態において、眼科装置は、例えば、眼軸長測定機能、眼圧測定機能、光干渉断層撮影（ＯＣＴ）機能、超音波検査機能など、眼科分野において使用可能な任意の機能を有していてもよい。なお、眼軸長測定機能は、光干渉断層計等により実現される。また、眼軸長測定機能は、被検眼に光を投影し、当該被検眼に対する光学系のＺ方向（前後方向）の位置を調整しつつ眼底からの戻り光を検出することにより、当該被検眼の眼軸長を測定するようにしてもよい。眼圧測定機能は、眼圧計等により実現される。ＯＣＴ機能は、光干渉断層計等により実現される。超音波検査機能は、超音波診断装置等により実現される。また、このような機能のうち２つ以上を具備した装置（複合機）に対してこの発明を適用することも可能である。

いくつかの実施形態では、上記の眼科装置の制御方法をコンピュータに実行させるためのプログラムが提供される。このようなプログラムを、コンピュータによって読み取り可能な非一時的な（ｎｏｎ－ｔｒａｎｓｉｔｏｒｙ）任意の記録媒体に記憶させることができる。この記録媒体としては、たとえば、半導体メモリ、光ディスク、光磁気ディスク（ＣＤ－ＲＯＭ／ＤＶＤ－ＲＡＭ／ＤＶＤ－ＲＯＭ／ＭＯ等）、磁気記憶媒体（ハードディスク／フロッピー（登録商標）ディスク／ＺＩＰ等）などを用いることが可能である。また、インターネットやＬＡＮ等のネットワークを通じてこのプログラムを送受信することも可能である。

第１実施形態～第１０実施形態、及び第１実施形態の変形例において説明した構成を任意に組み合わせることが可能である。

１、１ａ、１ｂ、１ｃ、１ｄ、１ｅ、１ｆ、１ｇ、１ｈ、１ｊ眼科装置
１０ａ、ＬＳａ波長掃引光源
１０ｂ、ＬＳｂ広帯域光源
２０照明光学系
２１虹彩絞り
２２スリット
４１、４４、４８リレーレンズ
３０光スキャナ
３５投影光学系
４０撮影光学系
４２黒点板
４３反射ミラー
４５穴鏡
４６対物レンズ
４７合焦レンズ
４９結像レンズ
５０撮像装置
５１Ａ、５１Ｂイメージセンサ
６１ビームスプリッタ
６２、ＢＣビームコンバイナ
６３、６４ミラー
７０リトロリフレクタ
ＢＳスプリッタ
ＤＥ、ＤＥ１、ＤＥ２、ＤＥ３検出器
ＤＯ、ＤＯ１、ＤＯ２ＯＣＴ検出器
ＤＳＳＬＯ検出器
Ｅ被検眼
Ｅｆ眼底
ＯＢＪ対物レンズ
ＰＩ、ＰＩ１、ＰＩ２、ＰＩ３パターン照明光学系
ＰＭ穴鏡
ＲＬ１、ＲＬ２リレーレンズ系
ＲＭミラー
ＳＨＤ遮光板
ＳＰ、ＳＰ１、ＳＰ２、ＳＰ３スプリッタ
ＳＰＯ分光器
ＴＣ、ＴＣ１、ＴＣ２、ＴＣ３、ＴＣ４、ＴＣ５タイミング制御部

Claims

光源を含み、前記光源からの光を用いて測定光を生成する照射光学系と、
前記測定光を偏向し、偏向された前記測定光を被検眼に導く光スキャナと、
前記測定光を前記光スキャナに導くと共に、前記光源からの光から生成された参照光と前記被検眼からの前記測定光の戻り光との干渉光を生成する光分割合成部と、
前記光分割合成部を介して前記戻り光及び前記干渉光を検出する検出器と、
を含み、
前記光分割合成部は、
前記測定光の光路と前記戻り光の光路とを分割する光分割部と、
前記光分割部により分割された前記戻り光を第１戻り光と第２戻り光とに分割する第１スプリッタと、
前記参照光と前記第２戻り光との干渉光を生成するビームコンバイナと、
を含み、
前記検出器は、前記第１スプリッタにより分割された前記第１戻り光と、前記ビームコンバイナにより生成された前記干渉光とを検出する、眼科装置。
光源を含み、前記光源からの光を用いてスリット状の測定光を生成する照射光学系と、
前記測定光を偏向し、偏向された前記測定光を被検眼に導く光スキャナと、
前記測定光を前記光スキャナに導くと共に、前記光源からの光から生成された参照光と前記被検眼からの前記測定光の戻り光との干渉光を生成する光分割合成部と、
前記光分割合成部を介して前記戻り光及び前記干渉光を検出する検出器と、
前記被検眼の計測部位における前記測定光の照射位置に対応した前記戻り光の受光結果を取得するようにローリングシャッター方式で前記検出器を制御する制御部と、
を含み、
前記照射光学系は、
前記計測部位と光学的に略共役な位置に配置可能なスリット状の開口部が形成されたスリットと、
前記光源と前記スリットとの間に配置され、前記被検眼の虹彩と光学的に略共役な位置に配置可能な虹彩絞りと、
を含む、眼科装置。
光源を含み、前記光源からの光を用いて測定光を生成する照射光学系と、
前記測定光を偏向する光スキャナと、
前記光スキャナにより偏向された前記測定光を被検眼に導くと共に、前記光源からの光から生成された参照光と前記被検眼からの前記測定光の戻り光との干渉光を生成する光分割合成部と、
前記光分割合成部を介して前記戻り光及び前記干渉光を検出する検出器と、
を含む眼科装置。
前記照射光学系は、前記光源からの光を前記測定光と前記参照光とに分割する
ことを特徴とする請求項１～請求項３のいずれか一項に記載の眼科装置。
前記照射光学系は、前記光源からの光の光路を切り替えることにより前記測定光と前記参照光を出力する
ことを特徴とする請求項１～請求項３のいずれか一項に記載の眼科装置。
前記測定光及び前記参照光の少なくとも１つの光路に対して挿脱可能に構成された遮光板を含み、
前記検出器は、前記少なくとも１つの光路に前記遮光板が配置された状態で前記戻り光を検出すると共に、前記少なくとも１つの光路から前記遮光板が退避された状態で前記干渉光を検出する
ことを特徴とする請求項１～請求項５のいずれか一項に記載の眼科装置。
前記光分割部は、光軸が通過する穴部が形成された穴鏡を含み、
前記穴部は、前記被検眼の虹彩と光学的に略共役な位置に配置される
ことを特徴とする請求項１に記載の眼科装置。
前記検出器は、
前記第１戻り光を検出する第１検出器と、
前記干渉光を検出する第２検出器と、
を含む
ことを特徴とする請求項１又は請求項７に記載の眼科装置。
前記光分割合成部は、前記第１スプリッタと前記ビームコンバイナとの間に配置され、前記第２戻り光の光路長を変更する第１光路長変更部を含む
ことを特徴とする請求項１、請求項７、又は請求項８に記載の眼科装置。
前記光分割合成部は、前記参照光の光路に配置され、前記参照光の光路長を変更する第２光路長変更部を含む
ことを特徴とする請求項４～請求項９のいずれか一項に記載の眼科装置。
前記検出器により得られた前記戻り光の検出結果に基づいて前記被検眼の正面画像を形成する第１画像形成部と、
前記検出器により得られた前記干渉光の検出結果に基づいて前記被検眼の断層像を形成する第２画像形成部と、
を含む
ことを特徴とする請求項１～請求項１０のいずれか一項に記載の眼科装置。
前記光源は、波長掃引光源を含む
ことを特徴とする請求項１～請求項１１のいずれか一項に記載の眼科装置。
前記光源は、広帯域光源を含み、
前記検出器は、前記干渉光を分光する分光器を含む
ことを特徴とする請求項１～請求項１１のいずれか一項に記載の眼科装置。
前記スリットを前記照射光学系の光軸方向に移動する第１移動機構を含み、
前記制御部は、前記被検眼の屈折度数に基づいて前記第１移動機構を制御する
ことを特徴とする請求項２に記載の眼科装置。
前記光源の位置及び向きの少なくとも１つを変更する第２移動機構を含み、
前記制御部は、前記第１移動機構により移動された前記スリットの位置に応じて、前記第２移動機構を制御する
ことを特徴とする請求項１４に記載の眼科装置。
前記照射光学系は、前記光スキャナと前記スリットとの間に配置された第１リレーレンズ系を含み、
前記第１リレーレンズ系の後側焦点位置が、前記虹彩と光学的に略共役な位置である
ことを特徴とする請求項２、請求項１４、請求項１５に記載の眼科装置。
前記光スキャナは、前記後側焦点位置又はその近傍に配置される
ことを特徴とする請求項１６に記載の眼科装置。
前記スリットと前記虹彩絞りとに間に配置された第２リレーレンズ系を含み、
前記第２リレーレンズ系の前側焦点位置又はその近傍に、前記虹彩絞りが配置される
ことを特徴とする請求項２、請求項１４～請求項１７のいずれか一項に記載の眼科装置。
前記虹彩絞りには、前記被検眼の角膜、水晶体前面、及び水晶体後面において前記測定光の光束断面と前記被検眼からの戻り光の光束断面とが分離するように、前記測定光が通過する１以上の開口部が形成されている
ことを特徴とする請求項２、請求項１４～請求項１８のいずれか一項に記載の眼科装置。
前記１以上の開口部のそれぞれは、弓形形状であり、
前記弓形形状の弦の方向は、前記スリットを通過した光により形成されるスリット像の長手方向に略平行である
ことを特徴とする請求項１９に記載の眼科装置。