JP7189460B1 - Icパッケージの検査用ソケット - Google Patents
Icパッケージの検査用ソケット Download PDFInfo
- Publication number
- JP7189460B1 JP7189460B1 JP2021096202A JP2021096202A JP7189460B1 JP 7189460 B1 JP7189460 B1 JP 7189460B1 JP 2021096202 A JP2021096202 A JP 2021096202A JP 2021096202 A JP2021096202 A JP 2021096202A JP 7189460 B1 JP7189460 B1 JP 7189460B1
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- socket body
- contact pin
- socket
- contact
- package
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims description 8
- 238000003780 insertion Methods 0.000 claims description 41
- 230000037431 insertion Effects 0.000 claims description 41
- 238000007667 floating Methods 0.000 claims description 36
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 claims description 25
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 13
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 claims description 4
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 4
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 4
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 abstract description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 description 15
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 13
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 12
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 11
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 7
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 6
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 6
- 230000008569 process Effects 0.000 description 6
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 6
- 230000008859 change Effects 0.000 description 4
- 230000014759 maintenance of location Effects 0.000 description 4
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 3
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 3
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 3
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910000881 Cu alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 2
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 1
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 1
- 238000001746 injection moulding Methods 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 1
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 1
- 230000002195 synergetic effect Effects 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K5/00—Casings, cabinets or drawers for electric apparatus
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
- G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
- G01R1/0433—Sockets for IC's or transistors
- G01R1/0441—Details
- G01R1/0466—Details concerning contact pieces or mechanical details, e.g. hinges or cams; Shielding
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
- G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
- G01R1/0433—Sockets for IC's or transistors
- G01R1/0483—Sockets for un-leaded IC's having matrix type contact fields, e.g. BGA or PGA devices; Sockets for unpackaged, naked chips
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R12/00—Structural associations of a plurality of mutually-insulated electrical connecting elements, specially adapted for printed circuits, e.g. printed circuit boards [PCB], flat or ribbon cables, or like generally planar structures, e.g. terminal strips, terminal blocks; Coupling devices specially adapted for printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures; Terminals specially adapted for contact with, or insertion into, printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures
- H01R12/70—Coupling devices
- H01R12/7076—Coupling devices for connection between PCB and component, e.g. display
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R12/00—Structural associations of a plurality of mutually-insulated electrical connecting elements, specially adapted for printed circuits, e.g. printed circuit boards [PCB], flat or ribbon cables, or like generally planar structures, e.g. terminal strips, terminal blocks; Coupling devices specially adapted for printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures; Terminals specially adapted for contact with, or insertion into, printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures
- H01R12/70—Coupling devices
- H01R12/71—Coupling devices for rigid printing circuits or like structures
- H01R12/712—Coupling devices for rigid printing circuits or like structures co-operating with the surface of the printed circuit or with a coupling device exclusively provided on the surface of the printed circuit
- H01R12/714—Coupling devices for rigid printing circuits or like structures co-operating with the surface of the printed circuit or with a coupling device exclusively provided on the surface of the printed circuit with contacts abutting directly the printed circuit; Button contacts therefore provided on the printed circuit
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R12/00—Structural associations of a plurality of mutually-insulated electrical connecting elements, specially adapted for printed circuits, e.g. printed circuit boards [PCB], flat or ribbon cables, or like generally planar structures, e.g. terminal strips, terminal blocks; Coupling devices specially adapted for printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures; Terminals specially adapted for contact with, or insertion into, printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures
- H01R12/70—Coupling devices
- H01R12/91—Coupling devices allowing relative movement between coupling parts, e.g. floating or self aligning
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Connecting Device With Holders (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Manufacturing Of Electrical Connectors (AREA)
Abstract
Description
10 ソケット本体
16 導入穴
17 保持溝
20 信号コンタクトピン(第1コンタクトピン)
30 放熱コンタクトピン
40 接地コンタクトピン(第2コンタクトピン)
91 ソケット
Claims (11)
- ICパッケージの検査用ソケットであって、
前記ICパッケージが載置される絶縁性のソケット本体と、
前記ICパッケージの端子に電気的に接続可能なように前記ソケット本体の外周部に取り付けられた一群の第1コンタクトピンと、
前記ICパッケージの底面で露出した放熱用及び/又は接地用パッドに接触可能なように前記ソケット本体に取り付けられ、前記第1コンタクトピンよりも前記ソケット本体の内側に位置する1以上の第2コンタクトピンと、を備え、
前記ソケット本体には、前記ソケット本体の内側から前記ソケット本体の外周部に向かう前記第2コンタクトピンの横移動を許容する空間が設けられ、前記空間における前記第2コンタクトピンの前記横移動により前記第2コンタクトピンが前記ソケット本体に取り付けられ、前記ソケット本体により前記第2コンタクトピンの上下方向の変位が阻止され、
前記ソケット本体には、前記空間の形成のために少なくとも保持溝と導入穴が形成され、前記保持溝は、前記第2コンタクトピンを保持するべく形成され、かつ前記ソケット本体の内側から前記ソケット本体の角部に向けて延び、前記導入穴は、前記第2コンタクトピンの前記保持溝への導入を許すべく前記保持溝に空間的に連通する、ソケット。 - 前記導入穴は、前記ソケットの中心軸上に設けられる、請求項1に記載のソケット。
- 前記導入穴は、前記ソケット本体の内側部分を貫通する、請求項1又は2に記載のソケット。
- 複数個の前記第2コンタクトピンを個別に保持するように複数個の前記保持溝が設けられ、前記導入穴は、複数個の前記保持溝に共通に設けられることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか一項に記載のソケット。
- 前記ソケット本体は、前記保持溝を画定するべく対向配置された一対の壁面と、前記一対の壁面の少なくとも一方に連結した複数の連結部を有し、前記複数の連結部は、前記第2コンタクトピンの挿入部が挿入される挿入路を形成するように設けられることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか一項に記載のソケット。
- 前記複数の連結部は、前記挿入路の長さ方向に沿って前記挿入路の上下両側に互い違いに配置されることを特徴とする請求項5に記載のソケット。
- 前記複数の連結部は、前記第2コンタクトピンの挿入部が前記挿入路に圧入されるように設けられ、及び/又は、
前記第2コンタクトピンの挿入部は、前記挿入路に圧入されるように構成されることを特徴とする請求項5又は6に記載のソケット。 - ICパッケージの検査用ソケットであって、
前記ICパッケージが載置される絶縁性のソケット本体と、
前記ICパッケージの端子に電気的に接続可能なように前記ソケット本体の外周部に取り付けられた一群の第1コンタクトピンと、
前記ICパッケージの底面で露出した放熱用及び/又は接地用パッドに接触可能なように前記ソケット本体に取り付けられ、前記第1コンタクトピンよりも前記ソケット本体の内側に位置する1以上の第2コンタクトピンと、を備え、
前記ソケット本体には、前記ソケット本体の内側から前記ソケット本体の外周部に向かう前記第2コンタクトピンの横移動を許容する空間が設けられ、前記空間における前記第2コンタクトピンの前記横移動により前記第2コンタクトピンが前記ソケット本体に取り付けられ、前記ソケット本体により前記第2コンタクトピンの上下方向の変位が阻止され、
前記ソケット本体には、前記空間の少なくとも一部の形成のために少なくとも保持溝が形成され、前記保持溝は、前記第2コンタクトピンを保持するべく形成され、
前記ソケット本体は、前記保持溝を画定するべく対向配置された一対の壁面と、前記一対の壁面の少なくとも一方に連結した複数の連結部を有し、前記複数の連結部は、前記第2コンタクトピンの挿入部が挿入される挿入路を形成するように設けられ、
前記第2コンタクトピンは、前記放熱用及び/又は接地用パッドに接触可能な上部接触部と、前記ソケットが実装される実装基板に接触可能な下部接触部と、前記上部接触部と前記下部接触部の間に設けられた中間部を有し、前記上部接触部は、上方から付与される荷重に応じて下方に弾性的に変位可能であり、前記下部接触部は、下方から付与される荷重に応じて上方に弾性的に変位可能であり、前記第2コンタクトピンの挿入部が前記中間部から横方向に延在する、ソケット。 - 前記ソケット本体からの前記第2コンタクトピンの脱落を阻止するべく、前記ソケット本体及び前記第2コンタクトピンに相補的な抜け止め構造が設けられることを特徴とする請求項1乃至8のいずれか一項に記載のソケット。
- ICパッケージの検査用ソケットであって、
前記ICパッケージが載置される絶縁性のソケット本体と、
前記ICパッケージの端子に電気的に接続可能なように前記ソケット本体の外周部に取り付けられた一群の第1コンタクトピンと、
前記ICパッケージの底面で露出した放熱用及び/又は接地用パッドに接触可能なように前記ソケット本体に取り付けられ、前記第1コンタクトピンよりも前記ソケット本体の内側に位置する1以上の第2コンタクトピンと、を備え、
前記ソケット本体には、前記ソケット本体の内側から前記ソケット本体の外周部に向かう前記第2コンタクトピンの横移動を許容する空間が設けられ、前記空間における前記第2コンタクトピンの前記横移動により前記第2コンタクトピンが前記ソケット本体に取り付けられ、前記ソケット本体により前記第2コンタクトピンの上下方向の変位が阻止され、
前記第2コンタクトピンは、前記放熱用及び/又は接地用パッドに接触可能な上部接触部と、前記ソケットが実装される実装基板に接触可能な下部接触部を有し、前記上部接触部は、上方から付与される荷重に応じて下方に弾性的に変位可能であり、前記下部接触部は、下方から付与される荷重に応じて上方に弾性的に変位可能である、ソケット。 - 前記第1コンタクトピンの状態を切り替えるべく前記ソケット本体に対して上下動可能に設けられたカバーと、
前記第2コンタクトピンの状態を切り替えるべく前記カバーの上下動に連動して前記ソケット本体に対して上下動可能に設けられた浮動部材を更に備えることを特徴とする請求項1乃至10のいずれか一項に記載のソケット。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2021096202A JP7189460B1 (ja) | 2021-06-08 | 2021-06-08 | Icパッケージの検査用ソケット |
PCT/JP2022/020244 WO2022259818A1 (ja) | 2021-06-08 | 2022-05-13 | Icパッケージの検査用ソケット及びその製造方法 |
DE112022002955.2T DE112022002955T5 (de) | 2021-06-08 | 2022-05-13 | Prüfsockel für ic-gehäuse und verfahren zur herstellung desselben |
TW111118222A TW202314256A (zh) | 2021-06-08 | 2022-05-16 | Ic封裝體之檢查用插座及其製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2021096202A JP7189460B1 (ja) | 2021-06-08 | 2021-06-08 | Icパッケージの検査用ソケット |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP7189460B1 true JP7189460B1 (ja) | 2022-12-14 |
JP2022188786A JP2022188786A (ja) | 2022-12-22 |
Family
ID=84424856
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2021096202A Active JP7189460B1 (ja) | 2021-06-08 | 2021-06-08 | Icパッケージの検査用ソケット |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP7189460B1 (ja) |
DE (1) | DE112022002955T5 (ja) |
TW (1) | TW202314256A (ja) |
WO (1) | WO2022259818A1 (ja) |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001110537A (ja) | 1999-10-06 | 2001-04-20 | Texas Instr Japan Ltd | ソケット |
JP2004228042A (ja) | 2003-01-27 | 2004-08-12 | Enplas Corp | 電気部品用ソケット |
JP2005302345A (ja) | 2004-04-07 | 2005-10-27 | Renesas Technology Corp | 電気部品用ソケット |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4347027B2 (ja) | 2003-11-28 | 2009-10-21 | 株式会社エンプラス | 電気部品用ソケット |
JP2020055130A (ja) | 2018-09-28 | 2020-04-09 | 富士フイルム株式会社 | 光学用積層フィルム |
-
2021
- 2021-06-08 JP JP2021096202A patent/JP7189460B1/ja active Active
-
2022
- 2022-05-13 WO PCT/JP2022/020244 patent/WO2022259818A1/ja active Application Filing
- 2022-05-13 DE DE112022002955.2T patent/DE112022002955T5/de active Pending
- 2022-05-16 TW TW111118222A patent/TW202314256A/zh unknown
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001110537A (ja) | 1999-10-06 | 2001-04-20 | Texas Instr Japan Ltd | ソケット |
JP2004228042A (ja) | 2003-01-27 | 2004-08-12 | Enplas Corp | 電気部品用ソケット |
JP2005302345A (ja) | 2004-04-07 | 2005-10-27 | Renesas Technology Corp | 電気部品用ソケット |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2022259818A1 (ja) | 2022-12-15 |
TW202314256A (zh) | 2023-04-01 |
DE112022002955T5 (de) | 2024-03-21 |
JP2022188786A (ja) | 2022-12-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3742742B2 (ja) | 電気部品用ソケット | |
US6821131B2 (en) | IC socket for a fine pitch IC package | |
US6937045B2 (en) | Shielded integrated circuit probe | |
JP4857046B2 (ja) | 電気接触子及び電気部品用ソケット | |
JP4838522B2 (ja) | 電気接触子及び電気部品用ソケット | |
US6069481A (en) | Socket for measuring a ball grid array semiconductor | |
JP2007500923A (ja) | 金属コンタクトlgaソケット | |
JP4911495B2 (ja) | 半導体集積回路用ソケット | |
JP4683993B2 (ja) | Icソケット用接触装置 | |
JP2002246132A (ja) | 電気部品用ソケット | |
US6283780B1 (en) | Test socket lattice | |
KR100581237B1 (ko) | 테스트용 소켓의 격자 배열 | |
JP2010129505A (ja) | Icソケットおよびicソケット用ガイドプレート | |
US4919623A (en) | Burn-in socket for integrated circuit device | |
JP7189460B1 (ja) | Icパッケージの検査用ソケット | |
US7658620B2 (en) | Electrical connector having an improved frame | |
US7371075B2 (en) | Electrical connector with dual-function housing protrusions | |
JP2554409B2 (ja) | 熱移動部材とこの熱移動部材を含む電気構成要素組立物 | |
US20080009148A1 (en) | Guided pin and plunger | |
US6827599B1 (en) | IC socket having urging mechanism | |
US6017234A (en) | ZIF PGA socket | |
US20050233626A1 (en) | IC socket | |
JPH11317270A (ja) | コンタクトピン及びこのコンタクトピンを用いた電気部品用ソケット | |
JP6669533B2 (ja) | コンタクトピンおよび電気部品用ソケット | |
KR200325737Y1 (ko) | 프로브핀 및 이를 포함하는 테스트소켓 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20210608 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20220628 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20220825 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20221101 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20221114 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7189460 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |