JP7187384B2 - 検査装置 - Google Patents
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Description
Claims (12)
- 複数の検査スポットにおいて試料上に形成されたパターンを観察する検査装置であって、
荷電粒子線を放出する荷電粒子線源と、前記荷電粒子線を前記試料上に集束させる複数のレンズとを含む荷電粒子光学系と、
前記荷電粒子線と前記試料との相互作用により放出される2次荷電粒子を検出する検出器と、
前記荷電粒子光学系の視野が前記複数の検査スポットを移動するごとにオートフォーカスを実行する演算部とを有し、
前記演算部は、前記荷電粒子光学系が前記パターンを観察するための光学条件に所定仕様の非点収差を導入した光学条件で前記荷電粒子線を前記試料に照射し、前記検出器が前記2次荷電粒子を検出して出力した信号から形成した画像を用いて、前記オートフォーカスを実行し、
前記画像は閉曲線形状を有するパターン像を含み、
前記演算部は、前記パターン像の歪みに基づき、前記画像を取得したときの前記荷電粒子線の焦点位置とベストフォーカス位置との位置ずれ量を算出し、前記位置ずれ量が検査装置の焦点深度内である場合には前記荷電粒子線の焦点位置の調整を行わず、前記位置ずれ量が検査装置の焦点深度を超える場合には前記荷電粒子線の焦点位置を前記位置ずれ量が解消するように調整し、
前記演算部は、前記位置ずれ量に含まれる誤差を算出し、前記誤差が所定の範囲を超える場合には第1の焦点位置を中心として、前記ベストフォーカス位置の探索を行い、
前記第1の焦点位置は、前記位置ずれ量が検査装置の焦点深度内である場合には前記画像を取得したときの前記荷電粒子線の焦点位置とし、前記位置ずれ量が検査装置の焦点深度を超える場合には前記位置ずれ量が解消するよう調整した後の前記荷電粒子線の焦点位置とし、
前記ベストフォーカス位置の探索は、前記所定仕様の非点収差を解消した光学条件で、前記荷電粒子線の焦点位置を変化させつつ取得した複数の画像のシャープネスに基づき行う検査装置。 - 複数の検査スポットにおいて試料上に形成されたパターンを観察する検査装置であって、
荷電粒子線を放出する荷電粒子線源と、前記荷電粒子線を前記試料上に集束させる複数のレンズとを含む荷電粒子光学系と、
前記荷電粒子線と前記試料との相互作用により放出される2次荷電粒子を検出する検出器と、
前記荷電粒子光学系の視野が前記複数の検査スポットを移動するごとにオートフォーカスを実行する演算部とを有し、
前記演算部は、前記荷電粒子光学系が前記パターンを観察するための光学条件に所定仕様の非点収差を導入した光学条件で前記荷電粒子線を前記試料に照射し、前記検出器が前記2次荷電粒子を検出して出力した信号から形成した画像を用いて、前記オートフォーカスを実行し、
前記画像は閉曲線形状を有するパターン像を含み、
前記演算部は、前記パターン像の歪みに基づき、前記画像を取得したときの前記荷電粒子線の焦点位置とベストフォーカス位置との位置ずれ量を算出し、前記位置ずれ量の正負に応じて、前記画像を取得したときの前記荷電粒子線の焦点位置から前記位置ずれ量を解消する方向に前記ベストフォーカス位置の探索を行い、
前記ベストフォーカス位置の探索は、前記所定仕様の非点収差を解消した光学条件で、前記荷電粒子線の焦点位置を変化させつつ取得した複数の画像のシャープネスに基づき行う検査装置。 - 複数の検査スポットにおいて試料上に形成されたパターンを観察する検査装置であって、
荷電粒子線を放出する荷電粒子線源と、前記荷電粒子線を前記試料上に集束させる複数のレンズとを含む荷電粒子光学系と、
前記荷電粒子線と前記試料との相互作用により放出される2次荷電粒子を検出する検出器と、
前記荷電粒子光学系の視野が前記複数の検査スポットを移動するごとにオートフォーカスを実行する演算部と、
記憶装置とを有し、
前記演算部は、前記荷電粒子光学系が前記パターンを観察するための光学条件に所定仕様の非点収差を導入した光学条件で前記荷電粒子線を前記試料に照射し、前記検出器が前記2次荷電粒子を検出して出力した信号から形成した画像を用いて、前記オートフォーカスを実行し、
前記画像は閉曲線形状を有するパターン像を含み、
前記演算部は、前記パターン像の歪みに基づき、前記画像を取得したときの前記荷電粒子線の焦点位置とベストフォーカス位置との位置ずれ量を算出し、
前記記憶装置は、前記パターン像の輪郭線に基づき定義された前記パターン像の歪みを示す指標の大きさと前記位置ずれ量との関係をあらかじめ記憶し、
前記演算部は、取得した前記画像における前記パターン像の前記指標を算出し、算出した前記指標から前記位置ずれ量を求める検査装置。 - 複数の検査スポットにおいて試料上に形成されたパターンを観察する検査装置であって、
荷電粒子線を放出する荷電粒子線源と、前記荷電粒子線を前記試料上に集束させる複数のレンズとを含む荷電粒子光学系と、
前記荷電粒子線と前記試料との相互作用により放出される2次荷電粒子を検出する検出器と、
前記荷電粒子光学系の視野が前記複数の検査スポットを移動するごとにオートフォーカスを実行する演算部とを有し、
前記演算部は、前記荷電粒子光学系が前記パターンを観察するための光学条件に所定仕様の非点収差を導入した光学条件で前記荷電粒子線を前記試料に照射し、前記検出器が前記2次荷電粒子を検出して出力した信号から形成した画像を用いて、前記オートフォーカスを実行し、
前記画像は閉曲線形状を有するパターン像を含み、
前記演算部は、前記パターン像の歪みに基づき、前記画像を取得したときの前記荷電粒子線の焦点位置とベストフォーカス位置との位置ずれ量を算出し、
前記演算部は、取得した前記画像における前記パターン像または前記パターン像の輪郭線から人工知能を用いて前記位置ずれ量を求める検査装置。 - 請求項4において、
前記演算部は、学習済みのコンボリューショナルニューラルネットワークを用いて前記位置ずれ量を求め、
前記コンボリューショナルニューラルネットワークは、前記荷電粒子光学系が前記パターンを観察するための光学条件に前記所定仕様の非点収差を導入した光学条件で、前記荷電粒子線の焦点位置を変化させつつ取得したドットパターン像またはホールパターン像を用いて学習を行い、
前記演算部は、前記位置ずれ量を求めるにあたり、前記パターン像から複数部分を切り出して接続することにより、学習を行った前記ドットパターン像または前記ホールパターン像に相当する合成パターン像を作成し、前記合成パターン像について前記コンボリューショナルニューラルネットワークにより前記位置ずれ量を推論させる検査装置。 - 請求項4において、
前記演算部は、学習済みのコンボリューショナルニューラルネットワークを用いて前記位置ずれ量を求め、
前記コンボリューショナルニューラルネットワークは、前記荷電粒子光学系が前記パターンを観察するための光学条件に前記所定仕様の非点収差を導入した光学条件で、前記荷電粒子線の焦点位置を変化させつつ取得したドットパターン像の分割像またはホールパターン像の分割像を用いて学習を行い、
前記演算部は、前記位置ずれ量を求めるにあたり、前記パターン像から切り出した部分パターン像について前記コンボリューショナルニューラルネットワークにより前記位置ずれ量を推論させる検査装置。 - 複数の検査スポットにおいて試料上に形成されたパターンを観察する検査装置であって、
荷電粒子線を放出する荷電粒子線源と、前記荷電粒子線を前記試料上に集束させる複数のレンズとを含む荷電粒子光学系と、
前記荷電粒子線と前記試料との相互作用により放出される2次荷電粒子を検出する検出器と、
前記荷電粒子光学系の視野が前記複数の検査スポットを移動するごとにオートフォーカスを実行する演算部とを有し、
前記演算部は、前記荷電粒子光学系が前記パターンを観察するための光学条件に所定仕様の非点収差を導入した光学条件で前記荷電粒子線を前記試料に照射し、前記検出器が前記2次荷電粒子を検出して出力した信号から形成した画像を用いて、前記オートフォーカスを実行し、
前記画像は、第1方向に延在する第1ラインパターン像または第1スペースパターン像と前記第1方向と直交する第2方向に延在する第2ラインパターン像または第2スペースパターン像とを含み、
前記演算部は、前記第1ラインパターン像または前記第1スペースパターン像の第1のぼけと前記第2ラインパターン像または前記第2スペースパターン像の第2のぼけとの大小関係に基づき、前記画像を取得したときの前記荷電粒子線の焦点位置とベストフォーカス位置との位置ずれを解消する方向を判定する検査装置。 - 請求項1乃至6のいずれか一項において、
前記パターン像は、前記試料上に形成されたオートフォーカス用パターンの像、または観察対象である前記パターンの像、または前記パターンの近傍に位置する閉曲線形状を有するパターンの像である検査装置。 - 請求項1乃至7のいずれか一項において、
前記荷電粒子光学系は非点収差補正器を有し、
前記演算部は、前記荷電粒子光学系が前記パターンを観察するための光学条件における前記非点収差補正器の制御量に前記所定仕様の非点収差を導入するための制御量を付加した条件で、前記オートフォーカスのための前記画像を取得し、前記オートフォーカスの実行後に、前記非点収差補正器の制御量を前記荷電粒子光学系が前記パターンを観察するための光学条件における制御量に戻す検査装置。 - 請求項1乃至7のいずれか一項において、
前記検出器が前記2次荷電粒子を検出して出力した信号から形成した画像を表示するモニタを有し、
前記演算部は、前記所定仕様の非点収差を導入した光学条件で取得した前記画像を、オートフォーカス実施中であることを示すアラームとともに前記モニタに表示する検査装置。 - 複数の検査スポットにおいて試料上に形成されたパターンを観察する検査装置であって、
荷電粒子線を放出する荷電粒子線源と、前記荷電粒子線を前記試料上に集束させる複数のレンズとを含む荷電粒子光学系と、
前記荷電粒子線と前記試料との相互作用により放出される2次荷電粒子を検出する検出器と、
前記荷電粒子光学系の視野が前記複数の検査スポットを移動するごとにオートフォーカスを実行する演算部とを有し、
前記演算部は、前記オートフォーカスを実行するにあたり、前記荷電粒子光学系が前記パターンを観察するための光学条件で前記荷電粒子線を前記試料に照射し、前記検出器が前記2次荷電粒子を検出して出力した信号から形成した第1の画像と、前記第1の画像を取得したときとは前記荷電粒子線の焦点位置をずらした第2の画像とを取得し、前記第1の画像及び前記第2の画像は、一方向に延在するラインパターン像またはスペースパターン像を含んでおり、前記第1の画像における前記ラインパターン像または前記スペースパターン像の幅と前記第2の画像における前記ラインパターン像または前記スペースパターン像の幅との大小関係に基づき、前記第1の画像を取得したときの前記荷電粒子線の焦点位置とベストフォーカス位置との位置ずれを解消する方向を判定し、
前記第1の画像を取得したときの前記荷電粒子線の焦点位置と前記第2の画像を取得したときの前記荷電粒子線の焦点位置との間のずらし量は検査装置の焦点深度内とする検査装置。 - 請求項11において、
前記第2の画像は、前記荷電粒子光学系が前記パターンを観察するための光学条件に所定仕様の非点収差を導入した光学条件で前記荷電粒子線を前記試料に照射し、前記検出器が前記2次荷電粒子を検出して出力した信号から形成した画像である検査装置。
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