JP7165904B2 - COMPONENT MOUNTING METHOD AND COMPONENT MOUNTING APPARATUS - Google Patents

COMPONENT MOUNTING METHOD AND COMPONENT MOUNTING APPARATUS Download PDF

Info

Publication number
JP7165904B2
JP7165904B2 JP2018101635A JP2018101635A JP7165904B2 JP 7165904 B2 JP7165904 B2 JP 7165904B2 JP 2018101635 A JP2018101635 A JP 2018101635A JP 2018101635 A JP2018101635 A JP 2018101635A JP 7165904 B2 JP7165904 B2 JP 7165904B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
component
component mounting
correction amount
thickness difference
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2018101635A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2019207920A (en
Inventor
宏 内山
康弘 岡田
高広 横前
裕一 高倉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd
Original Assignee
Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd filed Critical Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd
Priority to JP2018101635A priority Critical patent/JP7165904B2/en
Publication of JP2019207920A publication Critical patent/JP2019207920A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP7165904B2 publication Critical patent/JP7165904B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Description

本発明は、基板に電子部品などの実装対象物を実装して表示パネルなどを生成するための部品実装方法および部品実装装置に関する。 The present invention relates to a component mounting method and a component mounting apparatus for mounting a mounting object such as an electronic component on a substrate to produce a display panel or the like.

携帯電話などに用いられる表示パネルを組み立てる工程においては、パネル本体を構成するガラス製の基板にドライバ用の電子部品が実装される。この実装作業は、基板の縁部の実装位置に接着テープを介して電子部品を搭載し、この電子部品を基板に対して押圧して圧着する工程を経て行われる。近年生産効率を向上させるため、上記作業を行う各ステーションにおいて同時に複数の基板を対象として作業が可能な表示パネル組立装置が用いられるようになっている(例えば特許文献1参照)。このような構成の表示パネル組立装置を用いることにより、基板への電子部品の実装と基板の搬送動作とを効率よく行うことができる。 In the process of assembling a display panel used in a mobile phone or the like, electronic parts for drivers are mounted on a substrate made of glass that constitutes the panel body. This mounting operation is carried out through a process of mounting an electronic component at a mounting position on the edge of the substrate via an adhesive tape and pressing the electronic component against the substrate for pressure bonding. In recent years, in order to improve production efficiency, a display panel assembly apparatus capable of simultaneously working on a plurality of substrates at each station performing the above work has been used (see, for example, Patent Document 1). By using the display panel assembly apparatus having such a configuration, it is possible to efficiently mount electronic components on the substrate and carry the substrate.

特開2005-129753号公報JP-A-2005-129753

しかしながら、年々、携帯電話などの薄型化にともない基板の縁部の厚みが薄くなる中で、この縁部にある部品実装領域の厚みのばらつきにより、上記特許文献1の表示パネル組立装置による部品実装方法では、実装される部品の基板に対する位置精度を高く保つことが困難であるという課題がある。 However, as mobile phones and the like become thinner year by year, the thickness of the edge portion of the substrate becomes thinner. The method has a problem that it is difficult to maintain high positional accuracy of the component to be mounted with respect to the board.

そこで、本開示は、実装される部品の基板に対する位置精度を容易に高く保つことができる部品実装方法などを提供する。 Accordingly, the present disclosure provides a component mounting method and the like that can easily maintain high positional accuracy of the component to be mounted with respect to the board.

なお、これらの包括的または具体的な態様は、システム、方法、集積回路、コンピュータプログラムまたはコンピュータ読み取り可能なCD-ROMなどの記録媒体で実現されてもよく、システム、方法、集積回路、コンピュータプログラムおよび記録媒体の任意な組み合わせで実現されてもよい。 In addition, these general or specific aspects may be realized by a system, method, integrated circuit, computer program, or a recording medium such as a computer-readable CD-ROM. and any combination of recording media.

本開示の一態様に係る部品実装方法は、部品を基板に実装する部品実装方法であって、前記基板における2つの部位の厚みの差である厚み差に対応付けられている補正量を特定する補正量特定工程と、前記基板における前記部品の予め定められた部品実装位置を、特定された前記補正量に応じて補正する補正工程と、前記基板の補正された前記部品実装位置に前記部品を圧着ツールで圧着する圧着工程とを含む。 A component mounting method according to an aspect of the present disclosure is a component mounting method for mounting a component on a board, wherein a correction amount associated with a thickness difference that is a difference in thickness between two portions on the board is specified. a correction amount specifying step; a correction step of correcting a predetermined component mounting position of the component on the substrate according to the specified correction amount; and a crimping step of crimping with a crimping tool.

本開示の部品実装方法は、実装される部品の基板に対する位置精度を容易に高く保つことができる。 The component mounting method of the present disclosure can easily maintain high positional accuracy of the component to be mounted with respect to the board.

図1は、実施の形態における表示パネル組立装置の平面図である。FIG. 1 is a plan view of a display panel assembly apparatus according to an embodiment. 図2は、実施の形態における表示パネル組立装置の作業対象となる表示パネルの平面図である。FIG. 2 is a plan view of a display panel to be worked by the display panel assembly apparatus according to the embodiment. 図3は、実施の形態における表示パネル組立装置に含まれる仮圧着部の斜視図である。FIG. 3 is a perspective view of a temporary pressure-bonding portion included in the display panel assembly apparatus according to the embodiment. 図4は、実施の形態における仮圧着部に備えられている水平回転駆動機構の構成説明図である。FIG. 4 is an explanatory view of the configuration of a horizontal rotation drive mechanism provided in the temporary pressure-bonding portion according to the embodiment. 図5は、実施の形態の仮圧着部における制御系の構成を示すブロック図である。FIG. 5 is a block diagram showing the configuration of a control system in the temporary crimping section according to the embodiment. 図6は、実施の形態の仮圧着部による仮圧着動作の一例を示すフローチャートである。FIG. 6 is a flow chart showing an example of a temporary pressure bonding operation by the temporary pressure bonding unit according to the embodiment. 図7は、実施の形態の仮圧着部による仮圧着動作の一例を説明するための図である。7A and 7B are diagrams for explaining an example of a temporary pressure bonding operation by the temporary pressure bonding unit according to the embodiment. FIG. 図8は、実施の形態の仮圧着部による仮圧着動作の一例を説明するための図である。FIG. 8 is a diagram for explaining an example of a temporary pressure bonding operation by the temporary pressure bonding unit according to the embodiment. 図9は、基板の縁部の厚み差の一例を示す図である。FIG. 9 is a diagram showing an example of the thickness difference at the edge of the substrate. 図10は、実施の形態における仮圧着部における仮圧着の位置決めを説明するための図である。10A and 10B are diagrams for explaining positioning of temporary pressure bonding in the temporary pressure bonding portion in the embodiment. FIG. 図11は、実施の形態における基準テーブルおよび厚み差オフセットテーブルの一例を示す図である。FIG. 11 is a diagram showing an example of a reference table and a thickness difference offset table according to the embodiment. 図12は、実施の形態における実装位置テーブルの一例を示す図である。FIG. 12 is a diagram illustrating an example of a mounting position table according to the embodiment; 図13は、実施の形態における制御部が部品実装位置を補正して電子部品を圧着する処理の一例を示すフローチャートである。FIG. 13 is a flowchart showing an example of a process of correcting a component mounting position and crimping an electronic component by the control unit according to the embodiment. 図14は、実施の形態における制御部が厚み差オフセットテーブルを生成する処理の一例を示すフローチャートである。14 is a flowchart illustrating an example of processing for generating a thickness difference offset table by the control unit according to the embodiment; FIG. 図15は、実施の形態における仮圧着部が実装済の基板の検査結果に応じて部品実装位置の補正を行う処理の一例を示すフローチャートである。FIG. 15 is a flow chart showing an example of processing for correcting a component mounting position according to an inspection result of a board on which a temporary pressure-bonding unit has been mounted according to the embodiment. 図16は、表示パネル組立装置の他の例を示す平面図である。FIG. 16 is a plan view showing another example of the display panel assembly device. 図17は、表示パネルの他の例を示す平面図である。FIG. 17 is a plan view showing another example of the display panel.

(本発明の基礎となった知見)
本発明者は、「背景技術」の欄において記載した上記特許文献1の表示パネル組立装置に関し、以下の問題が生じることを見出した。
(Knowledge on which the present invention is based)
The inventors of the present invention have found that the display panel assembly apparatus of Patent Document 1 described in the "Background Art" section has the following problems.

上記特許文献1の表示パネル組立装置は、基板の上に貼り付けられた接着テープ上に電子部品を載せる処理を仮圧着として行う装置(すなわち仮圧着部)を備える。仮圧着部は、具体的には、接着テープを介して基板上に電子部品を載せて、その電子部品に圧着ツールを押し付ける。このとき、圧着ツールは、設定された温度、圧力および時間などのプロセスパラメータにしたがってその電子部品を押し付ける。これによって、その電子部品が基板に仮圧着される。 The display panel assembling apparatus of Patent Document 1 includes a device (that is, a temporary pressure-bonding unit) that performs a process of placing an electronic component on an adhesive tape stuck on a substrate as a temporary pressure-bonding process. Specifically, the temporary pressure-bonding unit places an electronic component on a substrate via an adhesive tape, and presses a pressure-bonding tool against the electronic component. The crimping tool then presses the electronic component according to set process parameters such as temperature, pressure and time. As a result, the electronic component is temporarily pressure-bonded to the substrate.

ここで、基板における縁部には、部品を実装するための部品実装領域が形成されている。この部品実装領域は、その縁部を水平にカットすることによって形成されている。しかし、表示パネルの薄型化にともなって、この部品実装領域の厚みにばらつきが生じることがある。つまり、1つの基板における縁部の長手方向の一端と他端とで厚みに差が生じることがある。その結果、電子部品の仮圧着では、そのような基板に対して押し付けられる電子部品において、上述のプロセスパラメータが均一にならないことが生じる。その結果、仮圧着される電子部品が、その基板の縁部の長手方向にシフトしてしまい、実装される部品の基板に対する位置精度が低下してしまう虞がある。また、その位置精度の低下によって、複数の実装済みの基板において、実装されている部品の位置にばらつきが生じる可能性がある。 Here, a component mounting area for mounting components is formed on the edge of the substrate. This component mounting area is formed by cutting the edge horizontally. However, as the display panel becomes thinner, the thickness of the component mounting area may vary. In other words, there may be a difference in thickness between one end and the other end in the longitudinal direction of the edge of one substrate. As a result, in the temporary crimping of electronic components, the aforementioned process parameters may not be uniform in the electronic components pressed against such a substrate. As a result, the electronic component to be temporarily crimped may be shifted in the longitudinal direction of the edge of the board, and the positional accuracy of the mounted component with respect to the board may be lowered. In addition, due to the decrease in positional accuracy, there is a possibility that the positions of the mounted components may vary on a plurality of mounted boards.

そこで、このような課題を解決するために、本開示の一態様に係る部品実装方法は、部品を基板に実装する部品実装方法であって、前記基板における2つの部位の厚みの差である厚み差に対応付けられている補正量を特定する補正量特定工程と、前記基板における前記部品の予め定められた部品実装位置を、特定された前記補正量に応じて補正する補正工程と、前記基板の補正された前記部品実装位置に前記部品を圧着ツールで圧着する圧着工程と、を含む。例えば、前記補正量は、前記基板における前記2つの部位の配列方向の距離であってもよい。なお、部品は、電子部品であってもよく、電子部品以外の他の部品であってもよい。また、基板における2つの部位は、例えば基板のX軸方向の両端部である。 Therefore, in order to solve such problems, a component mounting method according to an aspect of the present disclosure is a component mounting method for mounting a component on a substrate, wherein the thickness, which is the difference between the thicknesses of two portions of the substrate, is a correction amount specifying step of specifying a correction amount associated with the difference; a correction step of correcting a predetermined component mounting position of the component on the board according to the specified correction amount; and a crimping step of crimping the component to the corrected component mounting position with a crimping tool. For example, the correction amount may be the distance in the arrangement direction of the two parts on the substrate. Note that the component may be an electronic component, or may be a component other than the electronic component. The two parts of the substrate are, for example, both ends of the substrate in the X-axis direction.

これにより、基板における補正後の部品実装位置に部品が圧着される。したがって、基板における2つの部位に厚み差があることによって、その圧着された部品が、その2つの部位の配列方向(例えばX軸方向)にずれても、その部品を補正前の元の部品実装位置に近づけることができる。その結果、その部品を基板の適切な位置に実装することができる。つまり、実装される部品の基板に対する位置精度を容易に高く保つことができる。さらに、複数の実装済みの基板において、実装されている部品の位置のばらつきを抑えることができる。 As a result, the component is crimped to the corrected component mounting position on the board. Therefore, even if the crimped component deviates in the arrangement direction (for example, the X-axis direction) of the two parts due to the thickness difference between the two parts on the substrate, the part can be replaced with the original part mounting before correction. position can be approached. As a result, the component can be mounted at an appropriate position on the board. In other words, it is possible to easily maintain high positional accuracy of the component to be mounted with respect to the board. Furthermore, it is possible to suppress variations in the positions of the mounted components on a plurality of mounted boards.

また、前記補正量特定工程は、前記部品が実装される前記基板である実装対象基板の識別情報を取得する識別情報取得工程と、複数の基板のそれぞれについて、当該基板の識別情報と、当該基板の厚み差に応じた補正量とを対応付けて示す第1のデータテーブルを参照する第1のテーブル参照工程と、前記第1のデータテーブルから、前記実装対象基板の識別情報に対応付けられている補正量を抽出することによって、前記実装対象基板の補正量を特定する第1の抽出工程とを含んでもよい。 Further, the correction amount specifying step includes: an identification information obtaining step of obtaining identification information of a mounting target substrate, which is the substrate on which the component is mounted; a first table referencing step of referring to a first data table indicating the correction amount corresponding to the thickness difference of the substrate in association with the identification information of the mounting target board from the first data table; and a first extracting step of specifying the correction amount of the mounting target board by extracting the correction amount of the mounting target board.

これにより、実装対象基板の識別情報を取得すれば、その識別情報と第1のデータテーブルから、その実装対象基板の補正量を容易に特定することができる。なお、第1のデータテーブルは、例えば、厚み差オフセットテーブルである。 Accordingly, when the identification information of the mounting target board is acquired, the correction amount of the mounting target board can be easily specified from the identification information and the first data table. Note that the first data table is, for example, a thickness difference offset table.

また、前記部品実装方法は、さらに、前記第1のデータテーブルを生成するテーブル生成工程を含み、前記テーブル生成工程は、前記複数の基板のそれぞれの厚み差を厚み差計測値として取得する厚み差取得工程と、基板の品種ごとに、当該品種の基板における複数の厚み差と、前記複数の厚み差のそれぞれに対応する補正量とを示す第2のデータテーブルを参照する第2のテーブル参照工程と、前記複数の基板のそれぞれについて、前記第2のデータテーブルによって示される、当該基板の品種に対する複数の補正量から、当該基板に対して取得された厚み差計測値に対応付けられている補正量を抽出する第2の抽出工程と、前記複数の基板のそれぞれの識別情報と、前記複数の基板のそれぞれに対して抽出された前記補正量とを対応付けることによって、前記第1のデータテーブルを生成する対応付け工程とを含んでもよい。 Further, the component mounting method further includes a table generation step of generating the first data table, wherein the table generation step acquires the thickness difference of each of the plurality of substrates as a thickness difference measurement value. a obtaining step; and a second table referring step of referring to a second data table showing, for each type of substrate, a plurality of thickness differences in the substrate of that type and correction amounts corresponding to each of the plurality of thickness differences. and, for each of the plurality of substrates, the correction associated with the thickness difference measurement value obtained for the substrate from the plurality of correction amounts for the type of the substrate indicated by the second data table. The first data table is created by associating a second extraction step of extracting the amount, identification information of each of the plurality of substrates, and the correction amount extracted for each of the plurality of substrates. and a matching step of generating.

第2のデータテーブルには、基板の各品種および各厚み差に対応する補正量が示されている。したがって、この第2のデータテーブルと厚み差計測値とに基づいて生成される第1のデータテーブルを参照することによって、基板の品種ごとに、その基板の厚み差計測値に対してより適切な補正量を特定することができる。なお、第2のデータテーブルは、例えば、基準テーブルである。 The second data table shows correction amounts corresponding to each type of substrate and each thickness difference. Therefore, by referring to the first data table generated based on the second data table and the thickness difference measurement value, a more appropriate thickness difference measurement value for each substrate type can be obtained. A correction amount can be specified. Note that the second data table is, for example, a reference table.

また、前記部品実装方法は、さらに、実装済みの基板における部品の位置のずれ量を取得するずれ量取得工程と、取得された前記位置のずれ量のうち、前記2つの部位の配列方向のずれ量が閾値を超えるか否かを判定する判定工程とを含み、前記補正量特定工程では、前記判定工程において、前記配列方向のずれ量が閾値を超えると判定される場合に、前記補正量を特定してもよい。 Further, the component mounting method further comprises: a deviation amount acquisition step of acquiring a positional deviation amount of the component on the mounted board; and determining whether or not the amount exceeds a threshold value, and in the correction amount specifying step, if it is determined in the determining step that the deviation amount in the arrangement direction exceeds the threshold value, the correction amount is determined. may be specified.

これにより、実装済みの基板における部品の位置のずれ量のうち、配列方向(例えばX軸方向)のずれ量が顕著な場合に、補正量が部品実装位置に適用される。したがって、その配列方向の位置のずれが僅かであって、実装済みの基板の品質に影響を与えない場合にまで、補正量を適用して処理負荷が高くなってしまうことを抑制することができる。 As a result, the correction amount is applied to the component mounting position when the amount of deviation in the arrangement direction (for example, the X-axis direction) is conspicuous among the amount of positional deviation of the component on the mounted board. Therefore, it is possible to suppress an increase in the processing load by applying the correction amount even when the positional deviation in the arrangement direction is slight and does not affect the quality of the mounted board. .

以下、実施の形態について、図面を参照しながら具体的に説明する。 Hereinafter, embodiments will be specifically described with reference to the drawings.

なお、以下で説明する実施の形態は、いずれも包括的または具体的な例を示すものである。以下の実施の形態で示される数値、形状、材料、構成要素、構成要素の配置位置及び接続形態、ステップ、ステップの順序などは、一例であり、本発明を限定する主旨ではない。また、以下の実施の形態における構成要素のうち、最上位概念を示す独立請求項に記載されていない構成要素については、任意の構成要素として説明される。 It should be noted that the embodiments described below are all comprehensive or specific examples. Numerical values, shapes, materials, components, arrangement positions and connection forms of components, steps, order of steps, and the like shown in the following embodiments are examples and are not intended to limit the present invention. In addition, among the constituent elements in the following embodiments, constituent elements that are not described in independent claims representing the highest concept will be described as arbitrary constituent elements.

また、各図は、模式図であり、必ずしも厳密に図示されたものではない。また、各図において、同じ構成部材については同じ符号を付している。 Each figure is a schematic diagram and is not necessarily strictly illustrated. Moreover, in each figure, the same code|symbol is attached|subjected about the same component.

(実施の形態)
図1は、本実施の形態における表示パネル組立装置の平面図である。また、図2は、本実施の形態における表示パネル組立装置によって組み立てられる表示パネルの平面図である。
(Embodiment)
FIG. 1 is a plan view of a display panel assembly apparatus according to this embodiment. Also, FIG. 2 is a plan view of a display panel assembled by the display panel assembly apparatus according to the present embodiment.

表示パネル組立装置は、ガラス基板(以下、単に「基板」と略称する)に接着テープを介してドライバ用の電子部品を圧着により実装することによって、表示パネルの組立を行う。図1において基台1上には、待機ステージ2、接着テープ貼付部3、仮圧着部4、本圧着部5および搬出ステージ6が横一列に配置されている。ここで、本実施の形態では、仮圧着部4が、実装対象物を基板に実装する部品実装装置である。なお、実装対象物は、例えば電子部品であるが、電子部品以外の物であってもよい。また、実装対象物は、圧着によって基板に実装されるため、圧着対象物ともいえる。実装対象物は、具体的には、IC(integrated circuit)またはフレキシブル基板などである。また、本実施の形態では、基板7の搬送方向をX軸方向といい、水平面においてそのX軸方向と垂直な方向をY軸方向という。さらに、X軸方向およびY軸方向に直交する方向をZ軸方向という。 A display panel assembly apparatus assembles a display panel by mounting electronic components for a driver on a glass substrate (hereinafter simply referred to as "substrate") by pressure bonding via an adhesive tape. In FIG. 1, on a base 1, a waiting stage 2, an adhesive tape sticking section 3, a temporary pressure bonding section 4, a final pressure bonding section 5, and an unloading stage 6 are arranged in a horizontal row. Here, in the present embodiment, the temporary pressure-bonding unit 4 is a component mounting device that mounts a mounting target on a board. The mounting object is, for example, an electronic component, but may be an object other than the electronic component. Moreover, since the mounting object is mounted on the substrate by crimping, it can also be said to be a crimping object. The mounting object is specifically an IC (integrated circuit), a flexible substrate, or the like. Further, in the present embodiment, the direction in which the substrate 7 is conveyed is called the X-axis direction, and the direction perpendicular to the X-axis direction on the horizontal plane is called the Y-axis direction. Furthermore, the direction orthogonal to the X-axis direction and the Y-axis direction is called the Z-axis direction.

待機ステージ2は、電子部品がボンディングされる基板7を2枚載置可能なパネル載置テーブル2aを備えている。2枚の基板7は、パネル載置テーブル2a上においてプリセンタ機構(図示せず)によって位置合わせされ、これにより2枚の基板7の相対位置が合わされる。 The standby stage 2 includes a panel mounting table 2a on which two substrates 7 to which electronic components are to be bonded can be mounted. The two substrates 7 are aligned on the panel mounting table 2a by a pre-centering mechanism (not shown), whereby the relative positions of the two substrates 7 are aligned.

図2に示すように、基板7は、表示パネルを構成するためのガラス基板を2枚重ね合わせた構成になっている。基板7の相直交する2つの縁部7aおよび7bは、ガラス基板の回路形成面が露呈した部品実装面(すなわち部品実装領域)となっている。縁部7aおよび7bに設けられた接続用端子には、ドライバ用の電子部品8が圧着により実装される。 As shown in FIG. 2, the substrate 7 has a structure in which two glass substrates for forming a display panel are superimposed. Two mutually orthogonal edges 7a and 7b of the substrate 7 serve as component mounting surfaces (that is, component mounting areas) where the circuit forming surface of the glass substrate is exposed. An electronic component 8 for a driver is mounted by crimping on the connection terminals provided on the edge portions 7a and 7b.

接着テープ貼付部3は、基板保持部30に保持された2枚の基板7に対して、電子部品接合用の接着テープを貼り付ける。接着テープは、例えば、ACF(Anisotropic conductive film)テープである。基板保持部30は、XYZθテーブル機構31を備えている。基板保持部30は、接着テープ貼り付けの際には、XYZθテーブル機構31を駆動して、2枚の基板7の縁部を、基板保持部30に隣接して設けられた第1の下受部33Aおよび第2の下受部33B上にそれぞれ位置させる。そして、接着テープ貼付部3は、2枚の基板7の縁部が、それらの基板7に対応する第1の下受部33Aおよび第2の下受部33Bによって下受けされた状態で、圧着機構32によって接着テープの貼り付けを行う。なお、圧着機構32は、テープ貼付ユニット32Aおよび32Bからなり、テープ貼付ユニット32Aおよび32Bのそれぞれが基板7に対する接着テープの貼り付けを行う。 The adhesive tape application unit 3 applies an adhesive tape for bonding electronic components to the two substrates 7 held by the substrate holding unit 30 . The adhesive tape is, for example, an ACF (Anisotropic conductive film) tape. The substrate holder 30 has an XYZθ table mechanism 31 . The substrate holding part 30 drives the XYZ.theta. Positioned on portion 33A and second support portion 33B respectively. Then, the adhesive tape application portion 3 is crimped in a state in which the edge portions of the two substrates 7 are supported by the first support portion 33A and the second support portion 33B corresponding to the substrates 7. A mechanism 32 applies the adhesive tape. The pressure bonding mechanism 32 is composed of tape applying units 32A and 32B, and each of the tape applying units 32A and 32B applies an adhesive tape to the substrate 7. As shown in FIG.

仮圧着部4は、接着テープ貼付部3にて接着テープが貼りつけられ、基板保持部40に保持された2枚の基板7に、ドライバ用の電子部品8を搭載して仮圧着する。基板保持部40は、XYZθテーブル機構41を備えている。基板保持部40は、電子部品8が搭載される際には、XYZθテーブル機構41を駆動して、2枚の基板7の縁部を、基板保持部40に隣接して設けられた下受部47上に順次位置させる。そして、仮圧着部4は、基板7の縁部が下受部47によって下受けされた状態で、電子部品搭載機構42によって電子部品8の搭載を行う。ここでは、仮圧着部4は、電子部品搭載機構42のインデックステーブル42aに設けられた保持ヘッド45を矢印方向に順次インデックス回転させることにより、電子部品供給部43から取り出された電子部品8を、下受部47上の圧着作業位置まで搬送する。 The temporary pressure-bonding portion 4 temporarily pressure-bonds the two substrates 7 to which the adhesive tape is applied by the adhesive tape applying portion 3 and the electronic component 8 for the driver is mounted on the two substrates 7 held by the substrate holding portion 40 . The substrate holder 40 has an XYZθ table mechanism 41 . When the electronic component 8 is mounted, the substrate holding portion 40 drives the XYZθ table mechanism 41 to hold the edge portions of the two substrates 7 against the support portion provided adjacent to the substrate holding portion 40 . 47 in sequence. The electronic component 8 is mounted on the temporary pressure-bonding portion 4 by the electronic component mounting mechanism 42 while the edge of the substrate 7 is supported by the lower receiving portion 47 . Here, the temporary crimping unit 4 sequentially index-rotates the holding head 45 provided on the index table 42a of the electronic component mounting mechanism 42 in the direction of the arrow, so that the electronic component 8 taken out from the electronic component supply unit 43 is It is conveyed to the crimping work position on the lower receiving portion 47 .

なお、仮圧着部4は、上述のように電子部品8を仮圧着することによって、その電子部品を基板7に実装する部品実装装置である。また、仮圧着部4における仮圧着を、本圧着部5における本圧着と区別する必要がない場合には、単に圧着ともいう。 The temporary crimping unit 4 is a component mounting device that mounts the electronic component 8 on the board 7 by temporarily crimping the electronic component 8 as described above. Further, when it is not necessary to distinguish the temporary pressure bonding in the temporary pressure bonding portion 4 from the final pressure bonding in the final pressure bonding portion 5, it is simply referred to as pressure bonding.

本圧着部5は、2つの圧着部5Aおよび5Bを備えている。圧着部5Aおよび5Bは、基板保持部50および60のそれぞれに保持された2枚の基板7に仮圧着された電子部品8を、圧着機構52および62によって本圧着する。すなわち、圧着装置としての本圧着部5においては、基板7に接着テープを介して搭載された電子部品8が圧着対象物となっている。圧着機構52には、第1の下受部53Aおよび第2の下受部53Bが配設され、圧着機構62には、第3の下受部63Aおよび第4の下受部63Bが配設されている。本圧着の際には、圧着機構52および62は、第1のXYZθテーブル機構51および第2のXYZθテーブル機構61を駆動して、基板保持部50および60に保持された4枚の基板7の縁部を、それぞれの下受部53A、53B、63A、および63B上に移動させる。 The main crimping section 5 includes two crimping sections 5A and 5B. The crimping units 5A and 5B use the crimping mechanisms 52 and 62 to actually crimp the electronic components 8 temporarily crimped to the two substrates 7 held by the substrate holding units 50 and 60, respectively. That is, in the main crimping unit 5 as a crimping device, the electronic component 8 mounted on the substrate 7 via the adhesive tape is the object to be crimped. The crimping mechanism 52 is provided with a first lower receiving portion 53A and a second lower receiving portion 53B, and the crimping mechanism 62 is provided with a third lower receiving portion 63A and a fourth lower receiving portion 63B. It is During the main pressure bonding, the pressure bonding mechanisms 52 and 62 drive the first XYZ.theta. The rims are moved onto their respective supporters 53A, 53B, 63A and 63B.

搬出ステージ6は、パネル搬出テーブル6aを備えており、パネル搬出テーブル6aには、本圧着部5によって本圧着が行われた後の基板7が載置される。また、上述の各作業ステージの手前側には、基板搬送機構70が配設されている。基板搬送機構70は、スライドテーブル71上で基板搬送方向(図1において左右方向、すなわちX軸方向)に往復動する移動部材72に、複数の基板搬送ヘッドを配設した構造となっている。そして移動部材72が移動することにより、複数の基板搬送ヘッドによって各作業ステージ間で基板7を同時に搬送できる。 The carry-out stage 6 includes a panel carry-out table 6a, and the substrate 7 after the main pressure bonding by the main pressure bonding section 5 is placed on the panel carry-out table 6a. A substrate transfer mechanism 70 is arranged in front of each work stage described above. The substrate transport mechanism 70 has a structure in which a plurality of substrate transport heads are arranged on a moving member 72 that reciprocates on a slide table 71 in the substrate transport direction (horizontal direction in FIG. 1, that is, the X-axis direction). By moving the moving member 72, the substrate 7 can be simultaneously transported between the work stages by a plurality of substrate transport heads.

これらの基板搬送ヘッドのうち、第1の基板搬送ヘッド75および第2の基板搬送ヘッド76は、移動部材72に直接結合されている。第3の基板搬送ヘッド77および第4の基板搬送ヘッド78は、それぞれ第1の伸縮機構73および第2の伸縮機構74を介して移動部材72に結合されている。第1の基板搬送ヘッド75および第2の基板搬送ヘッド76は、待機ステージ2から接着テープ貼付部3へ、接着テープ貼付部3から仮圧着部4へ、それぞれ2枚の基板7を同時に搬送する。 Of these substrate transport heads, the first substrate transport head 75 and the second substrate transport head 76 are directly coupled to the moving member 72 . A third substrate transport head 77 and a fourth substrate transport head 78 are coupled to the moving member 72 via a first telescopic mechanism 73 and a second telescopic mechanism 74, respectively. The first substrate transport head 75 and the second substrate transport head 76 simultaneously transport two substrates 7 from the standby stage 2 to the adhesive tape applying section 3 and from the adhesive tape applying section 3 to the temporary pressure bonding section 4, respectively. .

第3の基板搬送ヘッド77および第4の基板搬送ヘッド78は、仮圧着部4から本圧着部5へ、本圧着部5から搬出ステージ6へそれぞれ2枚の基板7を同時に搬送する。このとき、第1の伸縮機構73のロッド73aを伸縮させることにより、第3の基板搬送ヘッド77によって本圧着部5へ基板7を搬送する際の搬送先を、基板保持部50および60のいずれかに切り換えることができる。また、第2の伸縮機構74のロッド74aを伸縮させることにより、第4の基板搬送ヘッド78によって本圧着部5から基板7を取り出す際の基板7の取り出し元を、基板保持部50および60のいずれかに切り換えることができる。 The third substrate transport head 77 and the fourth substrate transport head 78 simultaneously transport two substrates 7 from the temporary pressure bonding section 4 to the final pressure bonding section 5 and from the final pressure bonding section 5 to the unloading stage 6, respectively. At this time, by extending and contracting the rod 73 a of the first telescopic mechanism 73 , the transport destination when the substrate 7 is transported to the main pressure-bonding unit 5 by the third substrate transport head 77 can be selected from the substrate holding units 50 and 60 . You can switch between Further, by extending and retracting the rod 74 a of the second extension mechanism 74 , the substrate holding portions 50 and 60 can be selected as the substrate 7 picking-out source when the substrate 7 is taken out from the main pressure-bonding portion 5 by the fourth substrate conveying head 78 . You can switch to either.

図3は、本実施の形態の表示パネル組立装置に含まれる部品実装装置である仮圧着部4の斜視図である。 FIG. 3 is a perspective view of the temporary pressure bonding section 4, which is a component mounting device included in the display panel assembly device of the present embodiment.

上述のように、本実施の形態における仮圧着部4は、XYZθテーブル機構41を有する基板保持部40を備える。図3に示すように、基板保持部40のXYZθテーブル機構41は、下からXテーブル41X、Yテーブル41Y、Zテーブル41Zおよび水平回転駆動機構41θを順に段積みして構成されている。XYZθテーブル機構41上には、基板保持部40の第1の保持部44Aおよび第2の保持部44Bが設けられている。仮圧着部4は、XYZθテーブル機構41を駆動することにより、第1の保持部44Aおよび第2の保持部44Bに保持された基板7の縁部を、圧着ツール46による圧着作業位置に順次位置合わせすることができる。 As described above, the temporary pressure-bonding section 4 in this embodiment includes the substrate holding section 40 having the XYZθ table mechanism 41 . As shown in FIG. 3, the XYZθ table mechanism 41 of the substrate holding section 40 is configured by sequentially stacking an X table 41X, a Y table 41Y, a Z table 41Z and a horizontal rotation driving mechanism 41θ from the bottom. A first holding portion 44A and a second holding portion 44B of the substrate holding portion 40 are provided on the XYZθ table mechanism 41 . By driving the XYZθ table mechanism 41 , the temporary crimping unit 4 sequentially positions the edges of the substrate 7 held by the first holding unit 44A and the second holding unit 44B to the crimping operation position by the crimping tool 46 . can be matched.

圧着機構(電子部品搭載機構)42(図1参照)の保持ヘッド45は、下方に延出した圧着ツール46を備える。圧着ツール46は、圧着作業位置において下面に電子部品8を保持した状態で位置し、この電子部品8を圧着作業位置に位置する基板7の上面に圧着する。圧着ツール46による圧着作業位置には、透明体で製作されたブロック状の下受部47が配設されている。下受部47は、圧着作業位置において第1の保持部44Aおよび第2の保持部44Bのそれぞれに保持された基板7を下方から支持する。 A holding head 45 of a crimping mechanism (electronic component mounting mechanism) 42 (see FIG. 1) includes a crimping tool 46 extending downward. The crimping tool 46 is positioned while holding the electronic component 8 on its lower surface at the crimping position, and crimps the electronic component 8 onto the upper surface of the board 7 located at the crimping position. A block-shaped lower receiving portion 47 made of a transparent material is arranged at a crimping operation position of the crimping tool 46 . The lower receiving portion 47 supports from below the substrate 7 held by the first holding portion 44A and the second holding portion 44B at the crimping position.

下受部47の下方には、観察カメラA48Aおよび観察カメラB48Bが配設されている。観察カメラA48Aおよび観察カメラB48Bは、下受部47上に位置する基板7の縁部を下受部47を透して下方から観察し、基板7に形成された認識マークを認識する。また、観察カメラA48Aおよび観察カメラB48Bは、圧着ツール46によって搬送され下受部47の上方に位置する電子部品8を、下方から下受部47を透して観察する。 An observation camera A 48A and an observation camera B 48B are arranged below the support part 47. As shown in FIG. Observation camera A 48A and observation camera B 48B observe the edge of substrate 7 located on lower receiving portion 47 from below through lower receiving portion 47, and recognize the recognition mark formed on substrate 7. As shown in FIG. Further, the observation camera A 48A and the observation camera B 48B observe the electronic component 8 conveyed by the crimping tool 46 and positioned above the lower receiving portion 47 from below through the lower receiving portion 47 .

図4は、本実施の形態の仮圧着部4における水平回転駆動機構41θの構成説明図である。 FIG. 4 is an explanatory diagram of the configuration of the horizontal rotation driving mechanism 41θ in the temporary pressure-bonding section 4 of this embodiment.

図4の(a)に示すように、第1の保持部44Aおよび第2の保持部44Bのそれぞれの回転軸に結合されたプーリ35には、水平回転駆動機構41θに配設されたモータ36から、ベルト38およびプーリ37を介して回転が伝達される。したがって、モータ36を駆動することにより、第1の保持部44Aおよび第2の保持部44Bは水平面内でθ回転する。これにより、第1の保持部44Aおよび第2の保持部44Bのそれぞれに保持された基板7を、水平面内で回転させることができる。 As shown in FIG. 4A, the pulleys 35 coupled to the respective rotation shafts of the first holding portion 44A and the second holding portion 44B are provided with a motor 36 provided in the horizontal rotation drive mechanism 41θ. , the rotation is transmitted via belt 38 and pulley 37 . Therefore, by driving the motor 36, the first holding portion 44A and the second holding portion 44B rotate by θ in the horizontal plane. Thereby, the substrate 7 held by each of the first holding portion 44A and the second holding portion 44B can be rotated in the horizontal plane.

図4の(b)に示すように、第1の保持部44Aおよび第2の保持部44Bの上面の高さ位置は同一ではない。つまり、第1の保持部44Aの上面よりも、第2の保持部44Bの上面の方が、ΔHだけ高い。このΔHは、保持対象の基板7の厚みtよりも大きく設定されている。したがって、第1の保持部44Aおよび第2の保持部44Bを回転させるときには、互いに隣接する2枚の基板7がそれぞれ異なる高さで回転する。 As shown in FIG. 4B, the height positions of the upper surfaces of the first holding portion 44A and the second holding portion 44B are not the same. That is, the upper surface of the second holding portion 44B is higher than the upper surface of the first holding portion 44A by ΔH. This ΔH is set larger than the thickness t of the substrate 7 to be held. Therefore, when the first holding portion 44A and the second holding portion 44B are rotated, the two substrates 7 adjacent to each other are rotated at different heights.

このように、2枚の基板7を異なる高さ位置で保持することにより、第1の保持部44および第2の保持部44Bの間隔が狭くても、2枚の隣り合う基板7をθ回転させたときに、これらの基板7において干渉が発生することを抑えることができる。その結果、仮圧着部4の基板搬送方向(すなわちX軸方向)の寸法をコンパクト化することができる。 By holding the two substrates 7 at different height positions in this way, even if the distance between the first holding portion 44 and the second holding portion 44B is narrow, the two adjacent substrates 7 can be rotated by θ. It is possible to suppress the occurrence of interference in these substrates 7 when the substrates 7 are arranged in the same direction. As a result, the dimension of the temporary pressure-bonding portion 4 in the substrate transport direction (that is, the X-axis direction) can be made compact.

図5は、本実施の形態の部品実装装置である仮圧着部4における制御系の構成を示すブロック図である。 FIG. 5 is a block diagram showing the configuration of the control system in the temporary crimping section 4, which is the component mounting apparatus of this embodiment.

本実施の形態における仮圧着部4は、上述の各構成要素以外に、位置検出部83と、第1のバルブ84および第2のバルブ85と、格納部48と、真空源82と、制御部79とを備える。なお、格納部48、制御部79および真空源82は、接着テープ貼付部3および本圧着部5と共用されていてもよい。また、真空源82は、表示パネル組立装置による表示パネルの組み立てが行われているときには継続的に駆動している。 In addition to the components described above, the temporary crimping unit 4 in the present embodiment includes a position detection unit 83, a first valve 84 and a second valve 85, a storage unit 48, a vacuum source 82, a control unit 79. Note that the storage section 48 , the control section 79 and the vacuum source 82 may be shared with the adhesive tape application section 3 and the main pressure bonding section 5 . Further, the vacuum source 82 is continuously driven while the display panel is being assembled by the display panel assembly apparatus.

位置検出部83は、観察カメラA48Aおよび観察カメラB48Bの観察結果を取得し、その観察結果を認識処理する。これにより、位置検出部83は、第1の保持部44Aおよび第2の保持部44Bのそれぞれに保持された基板7の位置と、圧着ツール46に保持された電子部品8の位置とを認識する。位置認識結果は、制御部79に伝達される。 The position detection unit 83 acquires the observation results of the observation camera A 48A and the observation camera B 48B, and performs recognition processing on the observation results. Thereby, the position detection section 83 recognizes the position of the substrate 7 held by the first holding section 44A and the second holding section 44B and the position of the electronic component 8 held by the crimping tool 46. . The position recognition result is transmitted to the control section 79 .

制御部79は、圧着機構42と、XYZθテーブル機構41とを制御する。このとき、制御部79は、電子部品8および基板7の位置認識結果に基づいてXYZθテーブル機構41を制御する。これにより、圧着機構42の圧着ツール46に保持された電子部品8に対して、基板7を水平方向、高さ方向およびθ回転方向に位置合わせすることができる。すなわち、制御部79は、位置検出部83の認識結果に基づいて、少なくとも基板7のXY方向の位置を制御する。その制御によって、制御部79は、基板7と電子部品8との位置合わせを行う。 The control unit 79 controls the crimping mechanism 42 and the XYZθ table mechanism 41 . At this time, the control unit 79 controls the XYZθ table mechanism 41 based on the position recognition results of the electronic component 8 and the substrate 7 . Thereby, the substrate 7 can be aligned in the horizontal direction, the height direction, and the θ rotation direction with respect to the electronic component 8 held by the crimping tool 46 of the crimping mechanism 42 . That is, the controller 79 controls at least the position of the substrate 7 in the XY directions based on the recognition result of the position detector 83 . By this control, the control section 79 aligns the board 7 and the electronic component 8 .

第1の保持部44Aの上面に形成されている吸引孔と、第2の保持部44Bの上面に形成されている吸引孔とは、それぞれ第1のバルブ84および第2のバルブ85を介して真空源82に接続されている。制御部79は、第1のバルブ84および第2のバルブ85のそれぞれの開閉を制御する。これにより、制御部79は、第1の保持部44Aおよび第2の保持部44Bのそれぞれの上面に、基板7を真空吸引によって保持させたり、その保持を解除させたりする。 The suction hole formed on the upper surface of the first holding portion 44A and the suction hole formed on the upper surface of the second holding portion 44B are connected via a first valve 84 and a second valve 85, respectively. It is connected to a vacuum source 82 . The control unit 79 controls opening and closing of each of the first valve 84 and the second valve 85 . As a result, the control unit 79 holds the substrate 7 on the upper surface of each of the first holding unit 44A and the second holding unit 44B by vacuum suction, or releases the holding.

格納部48には、基板7に実装される電子部品8の位置に関する複数のデータテーブルが格納されている。例えば、格納部48は、ROM(Read Only Memory)もしくはRAM(Random Access Memory)などのメモリ、またはハードディスクによって構成されている。また、複数のデータテーブルは、基準テーブル48a、厚み差オフセットテーブル48b、および実装位置テーブル48cである。制御部79は、格納部48に格納されているこれらのデータテーブルを参照することによって、基板7に対する電子部品8の部品実装位置を補正する。この部品実装位置を補正するための処理の詳細については、後述する。 The storage unit 48 stores a plurality of data tables regarding the positions of the electronic components 8 mounted on the board 7 . For example, the storage unit 48 is configured by a memory such as ROM (Read Only Memory) or RAM (Random Access Memory), or a hard disk. The plurality of data tables are a reference table 48a, a thickness difference offset table 48b, and a mounting position table 48c. The control unit 79 corrects the component mounting position of the electronic component 8 with respect to the board 7 by referring to these data tables stored in the storage unit 48 . Details of the processing for correcting the component mounting position will be described later.

図6は、本実施の形態における仮圧着部4による圧着動作の一例を示すフローチャートである。図7および図8は、その仮圧着部4による圧着動作の一例を説明するための図である。なお、以下の説明では、基板保持部40に保持されている2枚の基板7をそれぞれ区別するために、その2枚の基板7をそれぞれ第1の基板7Aおよび第2の基板7Bと記述する。 FIG. 6 is a flow chart showing an example of the crimping operation by the temporary crimping part 4 in this embodiment. 7 and 8 are diagrams for explaining an example of the crimping operation by the temporary crimping portion 4. FIG. In the following description, in order to distinguish between the two substrates 7 held by the substrate holding portion 40, the two substrates 7 are referred to as the first substrate 7A and the second substrate 7B, respectively. .

まず、制御部79は、図6に示すように、第1の基板7Aを観察カメラA48Aおよび観察カメラB48Bによる観察位置へ移動させる。すなわち、制御部79は、XYZθテーブル機構41を駆動して、第1の保持部44Aおよび第2の保持部44Bを水平方向へ移動させる。これにより、下受部47と圧着ツール46との間に第1の保持部44Aに保持された第1の基板7Aが位置する。このとき、第1の基板7Aと第2の基板7Bとも、縁部7a(図2参照)側が圧着機構42側に位置している。そして、この状態では、第1の基板7Aに貼付けられた接着テープが圧着ツール46の直下に位置している。 First, as shown in FIG. 6, the control unit 79 moves the first substrate 7A to the observation position by the observation camera A48A and the observation camera B48B. That is, the control section 79 drives the XYZθ table mechanism 41 to horizontally move the first holding section 44A and the second holding section 44B. As a result, the first substrate 7A held by the first holding portion 44A is positioned between the lower receiving portion 47 and the crimping tool 46. As shown in FIG. At this time, both the first substrate 7A and the second substrate 7B have the edges 7a (see FIG. 2) on the crimping mechanism 42 side. In this state, the adhesive tape attached to the first substrate 7A is positioned directly below the crimping tool 46. As shown in FIG.

次いで、観察カメラA48Aおよび観察カメラB48B(図3参照)は、第1の基板7Aと、圧着ツール46に保持された電子部品8とを観察する。そして、位置検出部83は、観察結果を認識処理することにより、第1の基板7Aと電子部品8の位置を認識する。そして、制御部79は、位置認識結果に基づき、図7の(a)に示すように、XYZθテーブル機構41を制御することにより、第1の基板7Aを圧着作業位置に位置決めする(S101)。 Observation camera A 48 A and observation camera B 48 B (see FIG. 3) then observe first substrate 7 A and electronic component 8 held by crimping tool 46 . Then, the position detection unit 83 recognizes the positions of the first board 7A and the electronic component 8 by recognizing the observation result. Based on the position recognition result, the control unit 79 controls the XYZθ table mechanism 41 to position the first substrate 7A at the crimping position (S101), as shown in FIG. 7A.

次いで、制御部79は、図7の(b)に示すように、第1の基板7Aを下受部47上に着地させる(ステップS102)。そして、図7の(c)に示すように、制御部79は、圧着ツール46を下降させて、圧着ツール46で電子部品8を第1の基板7Aに仮圧着する(ステップS103)。この後、制御部79は、仮圧着時間を計時し、所定の仮圧着時間が経過したか否かを判定する(ステップS104)、ここで、制御部79は、所定の仮圧着時間が経過したと判定すると(ステップS104のYes)、圧着ツール46を上昇させる(ステップS105)。次いで、制御部79は、第1の保持部44Aおよび第2の保持部44Bを上昇させる(ステップS106)。 Next, as shown in FIG. 7B, the control section 79 causes the first substrate 7A to land on the lower receiving section 47 (step S102). Then, as shown in FIG. 7C, the control unit 79 lowers the crimping tool 46 to temporarily crimp the electronic component 8 to the first substrate 7A with the crimping tool 46 (step S103). Thereafter, the control unit 79 counts the temporary pressure bonding time and determines whether or not the predetermined temporary pressure bonding time has elapsed (step S104). (Yes in step S104), the crimping tool 46 is raised (step S105). Next, the control section 79 raises the first holding section 44A and the second holding section 44B (step S106).

次に、制御部79は、第2の基板7Bに対する仮圧着が終了した否かを判定する(ステップS107)。仮圧着が終了していないと制御部79によって判定されると(ステップS107のNo)、位置検出部83は、第2の基板7Bおよび電子部品8に対する観察結果を認識処理する。そして、制御部79は、その認識処理に基づき、図8の(a)に示すように、XYZθテーブル機構41を制御することにより、第2の基板7Bを圧着作業位置に位置決めする(S108)。 Next, the control unit 79 determines whether or not the temporary press-bonding to the second substrate 7B is completed (step S107). When the control unit 79 determines that the temporary pressure-bonding has not been completed (No in step S107), the position detection unit 83 recognizes the observation results of the second board 7B and the electronic component 8. FIG. Based on the recognition process, the control unit 79 controls the XYZθ table mechanism 41 to position the second substrate 7B at the crimping position (S108), as shown in FIG. 8A.

次に、制御部79は、図8の(b)に示すように、第2の基板7Bを下受部47上に着地させる(ステップS102)。そして、図8の(c)に示すように、制御部79は、圧着ツール46を下降させて、圧着ツール46で電子部品8を第2の基板7Bに仮圧着する(ステップS103)。この後、制御部79は、仮圧着時間を計時し、所定の仮圧着時間が経過したか否かを判定する(ステップS104)、ここで、制御部79は、所定の仮圧着時間が経過したと判定すると(ステップS104のYes)、圧着ツール46を上昇させる(ステップS105)。次いで、制御部79は、第1の保持部44Aおよび第2の保持部44Bを上昇させる(ステップS106)。 Next, as shown in FIG. 8B, the control section 79 causes the second substrate 7B to land on the lower receiving section 47 (step S102). Then, as shown in FIG. 8C, the control unit 79 lowers the crimping tool 46 to temporarily crimp the electronic component 8 to the second substrate 7B with the crimping tool 46 (step S103). Thereafter, the control unit 79 counts the temporary pressure bonding time and determines whether or not the predetermined temporary pressure bonding time has elapsed (step S104). (Yes in step S104), the crimping tool 46 is raised (step S105). Next, the control section 79 raises the first holding section 44A and the second holding section 44B (step S106).

そして、制御部79は、第1の保持部44Aと第2の保持部44Bを90°回転することにより、縁部7a側に直交する縁部7b側を対象とした圧着動作を同様に行う。そして全ての動作が完了したならば、制御部79は、第1の保持部44Aと第2の保持部44Bを90°逆方向に回転することによって、第1の基板7Aおよび第2の基板7Bの向きを搬入時の向きに合わせる。そして、第1の基板7Aおよび第2の基板7Bは、この状態で第3の基板搬送ヘッド77によって本圧着部5へ搬送される。 Then, the control unit 79 rotates the first holding portion 44A and the second holding portion 44B by 90° to similarly perform the crimping operation targeting the edge portion 7b side orthogonal to the edge portion 7a side. When all the operations are completed, the control section 79 rotates the first holding section 44A and the second holding section 44B by 90 degrees in opposite directions, thereby separating the first substrate 7A and the second substrate 7B. Align the orientation of the Then, the first substrate 7A and the second substrate 7B are transported to the main pressure bonding section 5 by the third substrate transport head 77 in this state.

ここで、基板7の縁部7aおよび7bは、部品実装領域として形成されている。つまり、基板7の縁部7aおよび7bを水平にカットすることによって部品実装領域が形成されている。しかし、そのカットの加工精度によって、これらの縁部7aおよび7bのそれぞれの長手方向の一端と他端とで厚みに差が生じることがある。 Here, edge portions 7a and 7b of substrate 7 are formed as component mounting regions. That is, the component mounting area is formed by horizontally cutting the edges 7a and 7b of the substrate 7. As shown in FIG. However, depending on the processing accuracy of the cut, there may be a difference in thickness between one end and the other end in the longitudinal direction of each of these edge portions 7a and 7b.

図9は、基板7の縁部7aの厚み差の一例を示す図である。なお、図9の(a)は、基板保持部40に保持されている基板7におけるZ軸方向プラス側(すなわち上側)の外観を示す。また、図9の(b)は、基板保持部40に保持されている基板7におけるY軸方向プラス側(すなわち奥側)の面の外形を示す。 FIG. 9 is a diagram showing an example of the thickness difference of the edge portion 7a of the substrate 7. As shown in FIG. 9A shows the appearance of the substrate 7 held by the substrate holding portion 40 on the Z-axis direction plus side (that is, the upper side). 9B shows the outer shape of the surface of the substrate 7 held by the substrate holding portion 40 on the Y-axis direction plus side (that is, the back side).

基板7には、図9の(a)に示すように、基板7の一辺に沿う縁部7aと、その一辺に直交する辺に沿う縁部7bとが、それぞれ部品実装領域として形成されている。なお、図9の(a)に示す例では、基板7の縁部7aが、電子部品搭載機構42に向けられている。したがって、この場合には、縁部7aの長手方向はX軸方向に平行であって、縁部7bの長手方向はY軸方向に平行である。 As shown in FIG. 9A, the substrate 7 is formed with an edge portion 7a along one side of the substrate 7 and an edge portion 7b along a side orthogonal to the one side as component mounting areas. . In the example shown in FIG. 9A, the edge 7a of the substrate 7 faces the electronic component mounting mechanism 42. As shown in FIG. Therefore, in this case, the longitudinal direction of the edge portion 7a is parallel to the X-axis direction, and the longitudinal direction of the edge portion 7b is parallel to the Y-axis direction.

また、縁部7aには、それぞれ電子部品8に対する接続用端子を有する領域として、端子領域8aおよび8bが設定され、縁部7bにも同様に、電子部品8に対する接続用端子を有する領域として、端子領域8cが設定される。仮圧着部4は、これらの端子領域8a、8bおよび8cのそれぞれに接着テープを介して電子部品8が実装されるように、上述の基板7の位置決めを行う。 Terminal regions 8a and 8b are set in the edge portion 7a as regions having connection terminals for the electronic component 8, respectively. A terminal area 8c is set. The temporary pressure-bonding portion 4 positions the substrate 7 so that the electronic component 8 is mounted on each of the terminal regions 8a, 8b, and 8c via the adhesive tape.

しかし、上述のように、部品実装領域の加工精度によって、図9の(b)に示すように、縁部7aには厚み差dが生じることがある。この厚み差dは、縁部7aの長手方向の一端と他端とにおけるZ軸方向の厚みの差である。縁部7bについても、縁部7aと同様に、このような厚み差が生じることがある。なお、縁部7aおよび7bのそれぞれの長手方向は、その縁部に対する仮圧着が行われるときには、表示パネル組立装置における基板7の搬送方向、すなわちX軸方向と平行である。したがって、縁部7aおよび7bのそれぞれの長手方向を、以下、X軸方向という。 However, as described above, depending on the processing accuracy of the component mounting area, the edge portion 7a may have a thickness difference d as shown in FIG. 9B. This thickness difference d is the difference in thickness in the Z-axis direction between one end and the other end in the longitudinal direction of the edge portion 7a. Similar to the edge portion 7a, the edge portion 7b may also have such a thickness difference. The longitudinal direction of each of the edges 7a and 7b is parallel to the transport direction of the substrate 7 in the display panel assembly apparatus, that is, the X-axis direction, when the edges are temporarily pressure-bonded. Therefore, the longitudinal direction of each of the edges 7a and 7b is hereinafter referred to as the X-axis direction.

図10は、本実施の形態における仮圧着部4における仮圧着の位置決めを説明するための図である。なお、図10の(a)、すなわち(a1)~(a3)は、仮圧着部4とは異なる他の仮圧着装置による仮圧着の工程を示す。また、図10の(b)、すなわち(b1)~(b3)は、本実施の形態における仮圧着部4による仮圧着の工程を示す。 FIG. 10 is a diagram for explaining the positioning of temporary pressure bonding in the temporary pressure bonding portion 4 in this embodiment. FIG. 10(a), ie, (a1) to (a3), shows the process of temporary pressure bonding by another temporary pressure bonding device different from the temporary pressure bonding unit 4. FIG. FIG. 10(b), ie, (b1) to (b3), shows the process of temporary pressure bonding by the temporary pressure bonding portion 4 in this embodiment.

例えば、仮圧着装置は、基板7を位置決めするときには、図10の(a1)に示すように、電子部品8を保持する圧着ツール146を、下受部147の上面に配置されている基板7の端子領域に対向させる。なお、端子領域には、接着テープ22aが貼り付けられている。次に、仮圧着装置は、図10の(a2)に示すように、その圧着ツール146を下降させて、接着テープ22aを介して、電子部品8を基板7の端子領域に押し付ける。つまり、仮圧着装置は、基板7の端子領域の位置を部品実装位置として認識し、その部品実装位置に圧着ツール146を下降させて、電子部品8を基板7に圧着する。そして、仮圧着装置は、図10の(a3)に示すように、その圧着ツール146を上昇させる。ここで、基板7の端子領域を有する縁部には厚み差dがある。つまり、基板7の縁部の上面は傾いている。その結果、電子部品8は、基板7の端子領域に対して適切に仮圧着されず、X軸方向にずれてしまうことがある。 For example, when positioning the substrate 7, the temporary crimping device places the crimping tool 146 holding the electronic component 8 on the substrate 7 placed on the upper surface of the lower receiving portion 147, as shown in FIG. Opposite the terminal area. An adhesive tape 22a is attached to the terminal area. Next, the temporary crimping device lowers its crimping tool 146 to press the electronic component 8 against the terminal area of the substrate 7 via the adhesive tape 22a, as shown in FIG. 10(a2). That is, the temporary crimping device recognizes the position of the terminal area of the board 7 as the component mounting position, lowers the crimping tool 146 to the component mounting position, and crimps the electronic component 8 onto the board 7 . Then, the temporary crimping device raises the crimping tool 146 as shown in FIG. 10(a3). Here, there is a thickness difference d at the edge of the substrate 7 having the terminal area. That is, the upper surface of the edge of the substrate 7 is inclined. As a result, the electronic component 8 may not be properly pre-compression-bonded to the terminal area of the substrate 7 and may be displaced in the X-axis direction.

一方、本実施の形態における仮圧着部4は、基板7を位置決めするときには、図10の(b1)に示すように、電子部品8を保持する圧着ツール46を、下受部47の上面に配置されている基板7の端子領域に対向させず、X軸方向にずらす。つまり、仮圧着部4は、端子領域の位置に予め設定されている部品実装位置をX軸方向に補正する。なお、このような基板7に対する圧着ツール46のX軸方向のずれ幅または補正量を、以下、Xオフセットという。このXオフセットは、上述の基板7の厚み差dによって決定される。 On the other hand, in the temporary crimping portion 4 of the present embodiment, when positioning the substrate 7, the crimping tool 46 for holding the electronic component 8 is arranged on the upper surface of the lower receiving portion 47 as shown in FIG. 10(b1). It is shifted in the X-axis direction so as not to face the terminal area of the substrate 7 where the substrate 7 is located. That is, the temporary crimping portion 4 corrects the component mounting position preset in the position of the terminal area in the X-axis direction. In addition, the displacement width or correction amount of the crimping tool 46 with respect to the substrate 7 in the X-axis direction is hereinafter referred to as an X offset. This X offset is determined by the thickness difference d of the substrate 7 described above.

そして、仮圧着部4は、図10の(b2)に示すように、その補正された部品実装位置に圧着ツール146を下降させて、接着テープ22aを介して、電子部品8を基板7に押し付ける。つまり、電子部品8は、基板7における補正後の部品実装位置に接着テープ22aを介して圧着される。そして、仮圧着部4は、図10の(b3)に示すように、その圧着ツール46を上昇させる。このとき、基板7に厚み差dがあっても、本実施の形態では、基板7における補正後の部品実装位置に電子部品8が圧着されるため、その圧着された電子部品8がX軸方向にずれても、その電子部品8を基板7の端子領域に適切に仮圧着することができる。 Then, as shown in FIG. 10(b2), the temporary crimping unit 4 lowers the crimping tool 146 to the corrected component mounting position, and presses the electronic component 8 against the substrate 7 via the adhesive tape 22a. . That is, the electronic component 8 is pressure-bonded to the corrected component mounting position on the substrate 7 via the adhesive tape 22a. Then, the temporary crimping part 4 raises the crimping tool 46 as shown in FIG. 10(b3). At this time, even if the substrate 7 has a thickness difference d, in the present embodiment, the electronic component 8 is crimped onto the corrected component mounting position on the substrate 7. Even if it deviates, the electronic component 8 can be appropriately temporarily crimped to the terminal area of the substrate 7 .

図11および図12は、仮圧着部4の格納部48に格納されている複数のデータテーブルの一例を示す図である。具体的には、図11は、基準テーブル48aおよび厚み差オフセットテーブル48bの一例を示し、図12は、実装位置テーブル48cの一例を示す。 11 and 12 are diagrams showing examples of a plurality of data tables stored in the storage section 48 of the temporary crimping section 4. FIG. Specifically, FIG. 11 shows an example of the reference table 48a and the thickness difference offset table 48b, and FIG. 12 shows an example of the mounting position table 48c.

基準テーブル48aは、図11の(a)に示すように、基板7の複数の品種のそれぞれについて、その品種の基板7における複数の厚み差dと、それらの厚み差dに対応するXオフセットとを関連付けて示す。例えば、基準テーブル48aは、品種Aの基板7について、厚み差dがd<d01(μm)の範囲内であれば、その厚み差dに対するXオフセットとして、xa01(μm)を示す。また、基準テーブル48aは、厚み差dがd01≦d<d02(μm)の範囲内であれば、その厚み差dに対するXオフセットとして、xa02(μm)を示す。さらに、基準テーブル48aは、厚み差dがd02≦d<d03(μm)の範囲内であれば、その厚み差dに対するXオフセットとして、xa03(μm)を示す。 As shown in FIG. 11(a), the reference table 48a stores, for each of a plurality of types of substrates 7, a plurality of thickness differences d in the substrates 7 of that type, and X offsets corresponding to the thickness differences d. are shown in association with each other. For example, the reference table 48a indicates xa01 (.mu.m) as the X offset for the thickness difference d for the substrate 7 of product A if the thickness difference d is within the range of d<d01 (.mu.m). Further, the reference table 48a indicates xa02 (μm) as the X offset for the thickness difference d if the thickness difference d is within the range of d01≦d<d02 (μm). Further, the reference table 48a indicates xa03 (μm) as the X offset for the thickness difference d if the thickness difference d is within the range of d02≦d<d03 (μm).

厚み差オフセットテーブル48bは、図11の(b)に示すように、複数の基板7のそれぞれについて、その基板7の識別情報である基板IDと、その基板7の品種と、その基板7に対して計測された厚み差と、その厚み差に対応するXオフセットとを関連付けて示す。例えば、厚み差オフセットテーブル48bは、基板ID「001」の基板7について、その基板ID「001」と、その基板7の品種「A」と、その基板7に対して計測された厚み差「dm1」と、その厚み差に対応するXオフセット「xa03」とを示す。なお、計測された厚み差は、厚み差計測値ともいう。このような厚み差計測値は、計測装置による基板7の計測によって得られた値である。また、その計測装置は、表示パネル組立装置に備えられていてもよく、表示パネル組立装置の外部にあってもよい。 The thickness difference offset table 48b, as shown in FIG. The measured thickness difference and the X offset corresponding to the thickness difference are shown in association with each other. For example, the thickness difference offset table 48b stores, for the substrate 7 with the substrate ID “001”, the substrate ID “001”, the type “A” of the substrate 7, and the thickness difference “dm1” measured with respect to the substrate 7. ” and the X offset “xa03” corresponding to the thickness difference. In addition, the measured thickness difference is also called thickness difference measurement value. Such a thickness difference measurement value is a value obtained by measuring the substrate 7 with a measuring device. Moreover, the measuring device may be provided in the display panel assembling apparatus or may be outside the display panel assembling apparatus.

このような厚み差オフセットテーブル48bは、制御部79によって生成される。つまり、制御部79は、複数の基板のそれぞれの基板ID、品種および厚み差計測値を計測装置から取得し、それらを厚み差オフセットテーブル48bに書き込む。そして、制御部79は、複数の基板のそれぞれについて、その品種および厚み差計測値に対応するXオフセットを、基準テーブル48aを参照することによって特定し、そのXオフセットを厚み差オフセットテーブル48bに書き込む。 Such a thickness difference offset table 48 b is generated by the controller 79 . That is, the control unit 79 acquires the substrate ID, product type, and thickness difference measurement value of each of the plurality of substrates from the measuring device, and writes them in the thickness difference offset table 48b. Then, for each of the plurality of substrates, the control unit 79 specifies the type and the X offset corresponding to the thickness difference measurement value by referring to the reference table 48a, and writes the X offset to the thickness difference offset table 48b. .

具体的には、制御部79は、上述の計測装置から、例えば基板ID「001」、品種「A」および厚み差計測値「dm1」を取得する。そして、制御部79は、その取得された基板ID「001」、品種「A」および厚み差計測値「dm1」を互いに対応付けて厚み差オフセットテーブル48bに書き込む。次に、制御部79は、その品種「A」と厚み差計測値「dm1」とに対応するXオフセットを、基準テーブル48aを参照することによって特定する。例えば、制御部79は、厚み差計測値「dm1」がd02≦dm1<d03の範囲内であれば、Xオフセットとしてxa03(μm)を特定する。その結果、制御部79は、Xオフセット「xa03」を基板ID「001」に対応付けて厚み差オフセットテーブル48bに書き込む。制御部79は、このようなXオフセットの厚み差オフセットテーブル48bへの書き込みを、複数の基板のそれぞれに対して行う。 Specifically, the control unit 79 acquires, for example, the substrate ID “001”, the product type “A”, and the thickness difference measurement value “dm1” from the measuring device described above. Then, the control unit 79 associates the acquired substrate ID "001", product type "A" and thickness difference measurement value "dm1" with each other and writes them in the thickness difference offset table 48b. Next, the control unit 79 identifies the X offset corresponding to the product type "A" and the thickness difference measurement value "dm1" by referring to the reference table 48a. For example, if the thickness difference measurement value “dm1” is within the range of d02≦dm1<d03, the control unit 79 specifies xa03 (μm) as the X offset. As a result, the control unit 79 associates the X offset "xa03" with the substrate ID "001" and writes it in the thickness difference offset table 48b. The control unit 79 writes such an X offset into the thickness difference offset table 48b for each of the plurality of substrates.

実装位置テーブル48cは、図12に示すように、基板7の複数の品種のそれぞれについて、その品種の基板7に実装される電子部品ごとに、その電子部品の識別情報である部品IDと、その電子部品が実装される位置である部品実装位置とを示す。部品実装位置は、基板7におけるX軸上の位置xと、Y軸上の位置yと、Z軸上の位置zと、XY平面上の回転角度θとによって表される。 As shown in FIG. 12, the mounting position table 48c includes, for each of a plurality of types of the board 7, for each electronic component mounted on the board 7 of that type, a component ID, which is identification information of the electronic component, and its A component mounting position, which is a position where an electronic component is mounted, is shown. A component mounting position is represented by a position x on the X-axis, a position y on the Y-axis, a position z on the Z-axis, and a rotation angle θ on the XY plane on the board 7 .

例えば、実装位置テーブル48cは、品種Aの基板7について、部品ID「p01」と、その部品ID「p01」の部品が実装される部品実装位置(x1,y1,z1,θ)とを示す。この実装位置テーブル48cによって示される部品実装位置は、基板7の端子領域の位置であって予め定められた位置である。 For example, the mounting position table 48c indicates the component ID “p01” and the component mounting position (x1, y1, z1, θ) where the component with the component ID “p01” is mounted for the board 7 of the product type A. The component mounting positions indicated by the mounting position table 48c are the positions of the terminal areas of the board 7 and are predetermined positions.

図13は、制御部79が部品実装位置を補正して電子部品8を圧着する処理の一例を示すフローチャートである。 FIG. 13 is a flow chart showing an example of processing for correcting the component mounting position and crimping the electronic component 8 by the control unit 79 .

まず、制御部79は、電子部品8が実装される基板7である実装対象基板の識別情報である基板IDを取得する(ステップS201)。次に、制御部79は、格納部48に格納されている厚み差オフセットテーブル48bを読み出して、その厚み差オフセットテーブル48bを参照する。この厚み差オフセットテーブル48bは、図11の(b)に示すように、複数の基板7のそれぞれについて、当該基板7の基板IDと、当該基板7の厚み差に応じたXオフセットとを対応付けて示す第1のデータテーブルである。そして、制御部79は、その厚み差オフセットテーブル48bから、実装対象基板の基板IDに対応付けられているXオフセットを抽出することによって、その実装対象基板のXオフセットを特定する(ステップS202)。つまり、制御部79は、実装対象基板である基板7における2つの部位の厚みの差である厚み差に対応付けられている補正量を特定する。 First, the control unit 79 acquires a board ID, which is identification information of the board to be mounted, which is the board 7 on which the electronic component 8 is mounted (step S201). Next, the control unit 79 reads the thickness difference offset table 48b stored in the storage unit 48 and refers to the thickness difference offset table 48b. As shown in FIG. 11B, the thickness difference offset table 48b associates the substrate ID of each of the plurality of substrates 7 with the X offset corresponding to the thickness difference of the substrate 7. It is a first data table shown in FIG. Then, the control unit 79 specifies the X offset of the mounting target board by extracting the X offset associated with the board ID of the mounting target board from the thickness difference offset table 48b (step S202). In other words, the control unit 79 specifies the correction amount associated with the difference in thickness between the two portions of the board 7, which is the mounting target board.

次に、制御部79は、基板7における電子部品8の予め定められた部品実装位置を、特定されたXオフセットに応じて補正する(ステップS203)。つまり、制御部79は、格納部48に格納されている実装位置テーブル48cにおいて、ステップS201で取得された基板IDに対応付けられている部品実装位置に、Xオフセットを加算することによって、その部品実装位置を補正する。なお、このXオフセットである補正量は、基板7における2つの部位の配列方向(すなわちX軸方向)の距離である。 Next, the control unit 79 corrects the predetermined component mounting position of the electronic component 8 on the board 7 according to the specified X offset (step S203). In other words, the control unit 79 adds the X offset to the component mounting position associated with the board ID acquired in step S201 in the mounting position table 48c stored in the storage unit 48, thereby obtaining the component Correct the mounting position. The correction amount, which is the X offset, is the distance in the arrangement direction (that is, the X-axis direction) of the two parts on the substrate 7 .

そして、制御部79は、圧着機構42を制御することによって、基板7の補正された部品実装位置に電子部品8を圧着ツール46で圧着する(ステップS204)。 Then, the control unit 79 controls the crimping mechanism 42 to crimp the electronic component 8 onto the corrected component mounting position of the board 7 with the crimping tool 46 (step S204).

このように本実施の形態では、基板7における補正後の部品実装位置に電子部品8が圧着される。したがって、基板7におけるX軸方向の両端部に厚み差があることによって、その圧着された電子部品8がX軸方向にずれても、その電子部品8を補正前の元の部品実装位置、すなわち基板7の端子領域に近づけることができる。つまり、電子部品8を基板7の適切な位置に実装することができる。 As described above, in the present embodiment, the electronic component 8 is pressure-bonded to the corrected component mounting position on the substrate 7 . Therefore, even if the crimped electronic component 8 is displaced in the X-axis direction due to the thickness difference at both ends of the substrate 7 in the X-axis direction, the electronic component 8 can be moved to the original component mounting position before correction, that is, to the original component mounting position before correction. It can be brought closer to the terminal area of the substrate 7 . In other words, the electronic component 8 can be mounted at an appropriate position on the board 7 .

なお、基準テーブル48aは、例えば、厚み差dが大きいほど、つまり、部品実装領域の傾斜が大きいほど、長いXオフセットを示す。また、厚み差dは、絶対値ではなく、正または負の値であってもよい。例えば、基板7の搬送方向、すなわちX軸方向において、搬送元の向きを負側、搬送先の向きを正側とする場合、厚み差dは、基板7のX軸方向正側の端部の厚みから、基板7のX軸方向負側の端部の厚みを減算することによって得られる値であってもよい。例えば、図10の(b)に示す例の場合、厚み差dは、負の値である。この場合、基準テーブル48aは、その負の厚み差dに対して、負のXオフセットを示してもよい。このような基準テーブル48aに基づいて生成された厚み差オフセットテーブル48bによって、実装位置テーブル48cに示される部品実装位置は、図10の(b)に示す例の場合、負のXオフセットによって補正される。この際に生産状態に応じ、ある特定の処理を上記負のXオフセットに加える補正してもよい。つまり、制御部79は、負のXオフセットを部品実装位置に加算することによって、部品実装位置のX座標位置を小さい値に補正する。これにより、基板7に圧着された電子部品8がX軸方向正側にずれても、その電子部品8は補正前の元の部品実装位置、すなわち端子領域に近づくため、その電子部品8を基板7の端子領域に適切に実装することができる。 Note that the reference table 48a indicates a longer X offset, for example, as the thickness difference d is larger, that is, as the inclination of the component mounting area is larger. Also, the thickness difference d may be a positive or negative value instead of an absolute value. For example, in the transport direction of the substrate 7, that is, in the X-axis direction, when the direction of the transport source is the negative side and the direction of the transport destination is the positive side, the thickness difference d is the thickness of the end of the substrate 7 on the positive side in the X-axis direction. It may be a value obtained by subtracting the thickness of the end of the substrate 7 on the negative side in the X-axis direction from the thickness. For example, in the example shown in FIG. 10(b), the thickness difference d is a negative value. In this case, reference table 48a may indicate a negative X offset for that negative thickness difference d. In the case of the example shown in FIG. 10B, the component mounting position shown in the mounting position table 48c is corrected by a negative X offset by the thickness difference offset table 48b generated based on the reference table 48a. be. At this time, depending on the production state, a correction may be made by adding a specific process to the negative X offset. That is, the control unit 79 adds a negative X offset to the component mounting position to correct the X coordinate position of the component mounting position to a small value. As a result, even if the electronic component 8 crimped to the substrate 7 shifts to the positive side in the X-axis direction, the electronic component 8 approaches the original component mounting position before correction, that is, the terminal area. 7 can be suitably mounted in the terminal area.

図14は、制御部79が厚み差オフセットテーブル48bを生成する処理の一例を示すフローチャートである。 FIG. 14 is a flow chart showing an example of processing for the control unit 79 to generate the thickness difference offset table 48b.

まず、制御部79は、複数の基板7のそれぞれの厚み差を厚み差計測値として取得する(ステップS211)。つまり、制御部79は、複数の基板7のそれぞれについて、上述の計測装置から、基板7の厚み差計測値を基板IDおよび品種とともに取得する。 First, the control unit 79 acquires the thickness difference of each of the plurality of substrates 7 as a thickness difference measurement value (step S211). That is, the control unit 79 acquires the thickness difference measurement value of the substrate 7 together with the substrate ID and the product type from the above-described measuring device for each of the plurality of substrates 7 .

次に、制御部79は、格納部48に格納されている基準テーブル48aを読み出して、その基準テーブル48aを参照する(ステップS212)。この基準テーブル48aは、図11の(a)に示すように、基板7の品種ごとに、当該品種の基板7における複数の厚み差と、その複数の厚み差のそれぞれに対応するXオフセットとを示す第2のデータテーブルである。 Next, the control unit 79 reads the reference table 48a stored in the storage unit 48 and refers to the reference table 48a (step S212). As shown in FIG. 11A, the reference table 48a stores, for each type of substrate 7, a plurality of thickness differences in the substrate 7 of the type and the X offset corresponding to each of the plurality of thickness differences. 2 is a second data table shown;

次に、制御部79は、厚み差計測値が取得された上述の複数の基板7のそれぞれについて、基準テーブル48aによって示される、当該基板7の品種に対する複数の補正量から、当該基板7に対して取得された厚み差計測値に対応付けられているXオフセットを抽出する(ステップS213)。 Next, the control unit 79 determines, for each of the plurality of substrates 7 for which the thickness difference measurement values have been acquired, from the plurality of correction amounts for the type of the substrate 7 indicated by the reference table 48a. Then, the X offset associated with the thickness difference measurement value obtained by step S213 is extracted.

そして、制御部79は、厚み差計測値が取得された上述の複数の基板7のそれぞれの基板IDと、その複数の基板7のそれぞれに対して抽出されたXオフセットとを対応付けることによって、厚み差オフセットテーブル48bを生成する(ステップS214)。このとき、制御部79は、品種および厚み差計測値も厚み差オフセットテーブル48bに書き込んでもよい。 Then, the control unit 79 associates the substrate ID of each of the plurality of substrates 7 for which the thickness difference measurement value is acquired with the X offset extracted for each of the plurality of substrates 7 to determine the thickness. A difference offset table 48b is generated (step S214). At this time, the control unit 79 may also write the product type and the thickness difference measurement value to the thickness difference offset table 48b.

本実施の形態における基準テーブル48aには、基板7の各品種および各厚み差に対応する補正量が示されている。したがって、この基準テーブル48aと厚み差計測値とに基づいて生成される厚み差オフセットテーブル48bを参照することによって、基板7の品種ごとに、その基板7の厚み差計測値に対してより適切な補正量を特定することができる。 The reference table 48a in the present embodiment shows the correction amount corresponding to each type of substrate 7 and each thickness difference. Therefore, by referring to the thickness difference offset table 48b generated based on the reference table 48a and the thickness difference measurement value, a more appropriate thickness difference measurement value of the substrate 7 can be obtained for each type of the substrate 7. A correction amount can be specified.

また、制御部79は、複数の基板7の全てに対する仮圧着を行う前に、それらの複数の基板7に対する厚み差オフセットテーブル48bを生成しておいてよい。または、制御部79は、複数の基板7に対する仮圧着を順次行いながら、厚み差オフセットテーブル48bを生成してもよい。つまり、制御部79は、表示パネル組立装置に基板7が搬入されると、その基板7に対する仮圧着が行われる前に、計測装置からフィードフォワードによってその基板7の基板ID、品種および厚み差計測値を取得する。次に、制御部79は、その基板ID、品種および厚み差計測値を、厚み差オフセットテーブル48bに書き込み、その品種および厚み差計測値に対応するXオフセットを、基準テーブル48aを参照することによって特定する。次に、制御部79は、その特定されたXオフセットを、上述の基板IDに対応付けて厚み差オフセットテーブル48bに書き込む。そして、制御部79は、その基板7が実装対象基板として仮圧着部4に搬送されてきたときに、その厚み差オフセットテーブル48bに示される実装対象基板に対するXオフセットを、部品実装位置の補正に用いる。 Further, the control unit 79 may generate the thickness difference offset table 48b for the plurality of substrates 7 before performing temporary pressure bonding on all of the plurality of substrates 7 . Alternatively, the control unit 79 may generate the thickness difference offset table 48b while sequentially performing temporary pressure bonding on a plurality of substrates 7 . In other words, when the substrate 7 is loaded into the display panel assembly apparatus, the control unit 79 measures the substrate ID, product type, and thickness difference of the substrate 7 by feedforward from the measuring device before the substrate 7 is temporarily pressure-bonded. get the value. Next, the control unit 79 writes the substrate ID, product type, and thickness difference measurement value to the thickness difference offset table 48b, and calculates the X offset corresponding to the product type and thickness difference measurement value by referring to the reference table 48a. Identify. Next, the control unit 79 writes the specified X offset to the thickness difference offset table 48b in association with the substrate ID described above. Then, when the board 7 is transported to the temporary crimping section 4 as a mounting target board, the control section 79 uses the X offset for the mounting target board shown in the thickness difference offset table 48b to correct the component mounting position. use.

本実施の形態では、このように厚み差オフセットテーブル48bを生成することによって、基板7の基板IDを取得すれば、その基板7のXオフセットを容易に特定することができる。 In the present embodiment, by generating the thickness difference offset table 48b in this manner, the X offset of the substrate 7 can be easily identified by acquiring the substrate ID of the substrate 7. FIG.

また、本実施の形態における部品実装装置である仮圧着部4は、実装済みの基板7における電子部品8の位置のずれ量が検査機によって検査される場合には、その検査結果に応じて部品実装位置の補正を行ってもよい。 Further, the temporary crimping unit 4, which is the component mounting apparatus according to the present embodiment, is configured such that when the amount of positional deviation of the electronic component 8 on the mounted board 7 is inspected by an inspection machine, the component is mounted according to the inspection result. The mounting position may be corrected.

図15は、仮圧着部4が実装済の基板7の検査結果に応じて部品実装位置の補正を行う処理を示すフローチャートである。 FIG. 15 is a flow chart showing the process of correcting the component mounting position according to the inspection result of the board 7 on which the temporary pressure bonding section 4 has been mounted.

まず、仮圧着部4は、基板7に対して電子部品8の仮圧着を行う(ステップS301)。これによって、電子部品8が実装された基板7が、実装済みの基板7として生成される。 First, the temporary pressure-bonding unit 4 temporarily pressure-bonds the electronic component 8 to the substrate 7 (step S301). As a result, the board 7 on which the electronic component 8 is mounted is generated as the mounted board 7 .

次に、仮圧着部4の制御部79は、その実装済みの基板7における電子部品8の位置のずれ量を検査機から取得する(ステップS302)。例えば、制御部79は、電子部品8の位置のずれ量を、X軸方向のずれ量Δx、Y軸方向のずれ量Δy、Z軸方向のずれ量Δz、および回転角度θのずれ量Δθとして取得する。また、複数の電子部品8が基板7に実装されている場合には、制御部79は、その複数の電子部品8のずれ量の平均値を取得してもよい。 Next, the control unit 79 of the temporary crimping unit 4 acquires the displacement amount of the electronic component 8 on the mounted board 7 from the inspection machine (step S302). For example, the control unit 79 defines the amount of positional deviation of the electronic component 8 as a deviation amount Δx in the X-axis direction, a deviation amount Δy in the Y-axis direction, a deviation amount Δz in the Z-axis direction, and a deviation amount Δθ in the rotation angle θ. get. Moreover, when a plurality of electronic components 8 are mounted on the substrate 7 , the control section 79 may acquire the average value of the deviation amounts of the plurality of electronic components 8 .

次に、制御部79は、その基板7の電子部品8に対してXオフセットが適用されていたか否かを判定する(ステップS303)。ここで、Xオフセットが適用されていなかったと判定すると(ステップS303のNo)、制御部79は、さらに、その位置のずれ量のうちX軸方向のずれ量Δxが閾値Thよりも大きいか否かを判定する(ステップS304)。ここで、制御部79は、X軸方向のずれ量Δxが閾値Thよりも大きいと判定すると(ステップS304のYes)、実装位置テーブル48cに示される部品実装位置に、Xオフセットを適用する(ステップS305)。つまり、制御部79は、その実装済みの基板7と同じ品種の次の基板7に対しては、Xオフセットを適用するように設定しておく。このXオフセットは、厚み差オフセットテーブル48bに示される上記次の基板7の基板IDに対応付けられているXオフセットである。 Next, the control unit 79 determines whether or not the X offset has been applied to the electronic component 8 on the board 7 (step S303). Here, if it is determined that the X offset has not been applied (No in step S303), the control unit 79 further determines whether the shift amount Δx in the X-axis direction out of the shift amount of the position is larger than the threshold value Th. is determined (step S304). Here, when the controller 79 determines that the deviation amount Δx in the X-axis direction is larger than the threshold value Th (Yes in step S304), it applies the X offset to the component mounting position shown in the mounting position table 48c (step S305). In other words, the control unit 79 is set so as to apply the X offset to the next board 7 of the same type as the mounted board 7 . This X offset is the X offset associated with the board ID of the next board 7 shown in the thickness difference offset table 48b.

そして、制御部79は、次に仮圧着される基板7があるか否かを判定し(ステップS306)、その基板7があると判定すると(ステップS306のYes)、ステップS301からの処理を実行する。つまり、ステップS305において既にXオフセットの適用が設定されている場合、ステップS301における仮圧着では、制御部79は、次の基板7における補正後の部品実装位置に対して電子部品8を仮圧着する。より具体的には、制御部79は、実装位置テーブル48cに示される、次の基板7の品種および電子部品8に対応付けられている部品実装位置に、Xオフセットを加算することによって、その部品実装位置を補正する。そして、制御部79は、補正後の部品実装位置に対して電子部品8を圧着する。 Then, the control unit 79 determines whether or not there is a substrate 7 to be temporarily pressure-bonded next (step S306), and when determining that there is the substrate 7 (Yes in step S306), executes the processing from step S301. do. That is, when the application of the X offset has already been set in step S305, in the temporary crimping in step S301, the control unit 79 temporarily crimps the electronic component 8 to the corrected component mounting position on the next board 7. . More specifically, the control unit 79 adds the X offset to the component mounting position associated with the next type of substrate 7 and electronic component 8 shown in the mounting position table 48c, so that the component Correct the mounting position. Then, the control unit 79 crimps the electronic component 8 onto the corrected component mounting position.

このように、仮圧着部4は、実装済みの基板7における電子部品8の位置のずれ量を取得し、取得された位置のずれ量のうち、X軸方向のずれ量が閾値を超えるか否かを判定する。そして、仮圧着部4は、X軸方向のずれ量が閾値を超えると判定される場合に、Xオフセットを特定して部品実装位置を補正する。 In this way, the temporary crimping unit 4 acquires the positional deviation amount of the electronic component 8 on the mounted board 7, and determines whether the deviation amount in the X-axis direction out of the acquired positional deviation amount exceeds the threshold value. determine whether Then, when it is determined that the deviation amount in the X-axis direction exceeds the threshold value, the temporary pressure-bonding unit 4 specifies the X-offset and corrects the component mounting position.

これにより、本実施の形態では、実装済みの基板7における電子部品8のX軸方向の位置のずれが顕著な場合に、Xオフセットが適用される。したがって、そのX軸方向の位置のずれが僅かであって、実装済みの基板7の品質に影響を与えない場合にまで、Xオフセットを適用して処理負荷が高くなってしまうことを抑制することができる。 As a result, in the present embodiment, the X offset is applied when the electronic component 8 on the mounted substrate 7 is significantly displaced in the X-axis direction. Therefore, even when the positional deviation in the X-axis direction is slight and does not affect the quality of the mounted substrate 7, it is possible to suppress the processing load from increasing by applying the X-offset. can be done.

以上、本実施の形態における仮圧着部4による部品実装方法では、基板7における部品実装位置がその基板7の厚み差に応じて補正されるため、電子部品8を基板7の適切な位置に実装することができる。つまり、実装される電子部品8の基板7に対する位置精度を容易に高く保つことができる。さらに、複数の実装済みの基板7において、実装されている電子部品8の位置のばらつきを抑えることができる。 As described above, in the component mounting method using the temporary crimping portion 4 according to the present embodiment, the component mounting position on the board 7 is corrected according to the thickness difference of the board 7 , so that the electronic component 8 is mounted at an appropriate position on the board 7 . can do. That is, it is possible to easily maintain high positional accuracy of the mounted electronic component 8 with respect to the substrate 7 . Furthermore, variations in the positions of the mounted electronic components 8 can be suppressed on a plurality of mounted substrates 7 .

また、本実施の形態における仮圧着部4である部品実装装置は、電子部品8を基板7に実装する部品実装装置であって、その電子部品8を基板7に圧着するための圧着ツール46と、圧着ツール46を制御する制御部79とを備える。そして、制御部79は、図6および図13~図15のフローチャートに示される各ステップを実行する。これにより、叙述と同様、実装される電子部品8の基板7に対する位置精度を容易に高く保つことができる。 Further, the component mounting apparatus that is the temporary crimping unit 4 in the present embodiment is a component mounting apparatus that mounts the electronic component 8 on the substrate 7, and includes a crimping tool 46 for crimping the electronic component 8 onto the substrate 7. , and a control unit 79 that controls the crimping tool 46 . Then, the control unit 79 executes each step shown in the flow charts of FIGS. 6 and 13-15. This makes it possible to easily maintain high positional accuracy of the electronic component 8 to be mounted with respect to the substrate 7, as described above.

また、本開示の一態様に係る部品実装方法および部品実装装置について、実施の形態に基づいて説明したが、本開示は、この実施の形態に限定されるものではない。本開示の趣旨を逸脱しない限り、当業者が思いつく各種変形を本実施の形態に施したものも、本開示の範囲内に含まれてもよい。 Moreover, although the component mounting method and the component mounting apparatus according to one aspect of the present disclosure have been described based on the embodiment, the present disclosure is not limited to this embodiment. As long as they do not deviate from the gist of the present disclosure, various modifications conceived by those skilled in the art may also be included within the scope of the present disclosure.

例えば、上記実施の形態における実装位置テーブル48cには、電子部品8の部品IDごとに、部品実装位置が示されているが、この部品実装位置だけでなく、その部品実装位置に対する調整量(Δx,Δy,Δz,Δθ)も示されていてもよい。この場合、制御部79は、実装位置テーブル48cに示される部品実装位置、例えば(x1,y1,z1,θ1)に、調整量(Δx,Δy,Δz,Δθ)を加算する。そして、制御部79は、圧着機構42を制御することにより、基板7における調整量が加算された部品実装位置(x1+Δx,y1+Δy,z1+Δz,θ1+Δθ)に電子部品8を圧着する。ここで、Xオフセットが適用される場合には、制御部79は、そのX軸方向の位置(x1+Δx)に対してXオフセットを加算することによって、その位置(x1+Δx)を補正する。 For example, the mounting position table 48c in the above embodiment indicates the component mounting position for each component ID of the electronic component 8, but not only the component mounting position but also the adjustment amount (Δx , Δy, Δz, Δθ) may also be shown. In this case, the control unit 79 adds the adjustment amount (Δx, Δy, Δz, Δθ) to the component mounting position shown in the mounting position table 48c, eg, (x1, y1, z1, θ1). Then, the controller 79 controls the crimping mechanism 42 to crimp the electronic component 8 to the component mounting position (x1+Δx, y1+Δy, z1+Δz, θ1+Δθ) on the substrate 7 to which the adjustment amount has been added. Here, when the X offset is applied, the control unit 79 corrects the position (x1+Δx) by adding the X offset to the position (x1+Δx) in the X-axis direction.

また、上記実施の形態における厚み差オフセットテーブル48bには、基板IDに対応付けて品種および厚み差計測値が示されているが、これらが示されていなくてもよい。つまり、厚み差オフセットテーブル48bは、複数の基板7のそれぞれの基板IDと、その基板IDに対応付けられたXオフセットとを示していればよく、その他の情報を示していなくてもよい。 In addition, although the thickness difference offset table 48b in the above-described embodiment shows the type and thickness difference measurement value in association with the board ID, these need not be shown. That is, the thickness difference offset table 48b only needs to indicate the substrate IDs of the plurality of substrates 7 and the X offsets associated with the substrate IDs, and does not have to indicate other information.

また、上記実施の形態における部品実装装置は、図1に示す表示パネル組立装置に含まれるいわゆるロータリー型の仮圧着部4として構成されているが、いわゆる固定型の装置として構成されていてもよい。 Further, the component mounting apparatus in the above-described embodiment is configured as a so-called rotary temporary crimping unit 4 included in the display panel assembly apparatus shown in FIG. 1, but may be configured as a so-called fixed type device. .

つまり、仮圧着部4は、図1に示すように、電子部品搭載機構42のインデックステーブル42aに設けられた保持ヘッド45を順次インデックス回転させるロータリー型に構成されている。このインデックス回転によって、電子部品供給部43から取り出された電子部品8が、下受部47上の圧着作業位置まで搬送される。 That is, as shown in FIG. 1, the temporary pressure-bonding unit 4 is configured as a rotary type in which the holding head 45 provided on the index table 42a of the electronic component mounting mechanism 42 is sequentially index-rotated. By this index rotation, the electronic component 8 taken out from the electronic component supply section 43 is transported to the crimping work position on the lower receiving section 47 .

しかし、本実施の形態における部品実装装置は、このようなインデックス回転を行うことがない固定型の装置として構成されていてもよい。 However, the component mounting apparatus according to the present embodiment may be configured as a fixed type apparatus that does not perform such index rotation.

図16は、表示パネル組立装置の他の例を示す平面図である。 FIG. 16 is a plan view showing another example of the display panel assembly device.

表示パネル組立装置は、左方基台111a、中央基台111bおよび右方基台111cからなる基台111を備える。これらの3つの基台は、オペレータOPから見た左右方向(図16における紙面左右方向、すなわちX軸方向)の左側から、左方基台111a、中央基台111b、右方基台111cの順に配置されている。左方基台111aには搬入基板載置部121が備えられ、中央基台111bには部品実装実行部122が備えられ、右方基台111cには搬出基板載置部123が備えられている。基板7は、X軸方向を左側から右側に、すなわち搬入基板載置部121、部品実装実行部122、搬出基板載置部123の順に流れて順次作業が施される。 The display panel assembly apparatus includes a base 111 consisting of a left base 111a, a center base 111b and a right base 111c. These three bases are arranged in order of the left base 111a, the center base 111b, and the right base 111c from the left side in the left-right direction viewed from the operator OP (the left-right direction in FIG. 16, that is, the X-axis direction). are placed. The left base 111a is provided with a carry-in board placement section 121, the center base 111b is provided with a component mounting execution section 122, and the right base 111c is provided with a carry-out board placement section 123. . The board 7 is processed in order from the left side to the right side in the X-axis direction, that is, the carry-in board placement section 121, the component mounting execution section 122, and the carry-out board placement section 123. As shown in FIG.

搬入基板載置部121は、2つの基板載置ステージ121sを有している。これらの2つの基板載置ステージ121sには、表示パネル組立装置の上流工程側から送られてきた2枚の基板7が載置される。 The carry-in substrate platform 121 has two substrate platform stages 121s. Two substrates 7 sent from the upstream process side of the display panel assembly apparatus are placed on these two substrate placement stages 121s.

搬出基板載置部123は、2つの基板載置ステージ123sを有している。これらの2つの基板載置ステージ123sには、部品実装実行部122によって電子部品8の圧着作業が終了した2枚の基板7が載置される。 The carry-out substrate platform 123 has two substrate platform stages 123s. Two substrates 7 on which the electronic components 8 have been crimped by the component mounting execution unit 122 are placed on these two substrate placement stages 123s.

部品実装実行部122は、ACF貼着作業部122aと、部品搭載作業部122bと、部品圧着作業部122cと、部品圧着作業部122dとを備える。 The component mounting executing section 122 includes an ACF attaching working section 122a, a component mounting working section 122b, a component crimping working section 122c, and a component crimping working section 122d.

ここで、中央基台111bには、第1のベース部131および第2のベース部132が配置されている。第1のベース部131には、2つの基板搭載ステージ136を有する左方基板移送部133Lが設けられている。また、第2のベース部132には、それぞれ2つの基板搭載ステージ153を有する中央基板移送部133Cと右方基板移送部133Rとが設けられている。左方基板移送部133Lは、2つの基板搭載ステージ136のそれぞれに保持された基板7をACF貼着作業部122aの作業位置に移動させる。中央基板移送部133Cは、2つの基板搭載ステージ153のそれぞれに保持された基板7を、部品搭載作業部122bの作業位置と、部品圧着作業部122cの作業位置とに移動させる。右方基板移送部133Rは、2つの基板搭載ステージ153のそれぞれに保持された基板7を、部品搭載作業部122bの作業位置と、部品圧着作業部122dの作業位置とに移動させる。 Here, a first base portion 131 and a second base portion 132 are arranged on the central base 111b. A left substrate transfer section 133L having two substrate mounting stages 136 is provided on the first base section 131 . Further, the second base portion 132 is provided with a central substrate transfer portion 133C and a right substrate transfer portion 133R each having two substrate mounting stages 153 . The left substrate transfer section 133L moves the substrates 7 respectively held by the two substrate mounting stages 136 to the working position of the ACF bonding working section 122a. The central board transfer section 133C moves the board 7 held by each of the two board mounting stages 153 to the working position of the component mounting working section 122b and the working position of the component crimping working section 122c. The right board transfer section 133R moves the board 7 held by each of the two board mounting stages 153 to the working position of the component mounting working section 122b and the working position of the component crimping working section 122d.

また、基台111には、移動ベース181が配置されている。この移動ベース181上には、左方基板移載部182aと、中央基板移載部182bと、右方基板移載部182cとが設けられている。これらの左方基板移載部182a、中央基板移載部182b、および右方基板移載部182cによって、2つの基板7は移送される。つまり、2つの基板7は、搬入基板載置部121から、左方基板移送部133Lに移送され、左方基板移送部133Lから、中央基板移送部133Cまたは右方基板移送部133Rに移送される。さらに、2つの基板7は、中央基板移送部133Cまたは右方基板移送部133Rから、搬出基板載置部123に移送される。 A moving base 181 is arranged on the base 111 . On this moving base 181, a left substrate transfer section 182a, a central substrate transfer section 182b, and a right substrate transfer section 182c are provided. The two substrates 7 are transferred by the left substrate transfer section 182a, the central substrate transfer section 182b, and the right substrate transfer section 182c. That is, the two substrates 7 are transferred from the carry-in substrate placement portion 121 to the left substrate transfer portion 133L, and transferred from the left substrate transfer portion 133L to the central substrate transfer portion 133C or the right substrate transfer portion 133R. . Further, the two substrates 7 are transferred to the unloading substrate placement portion 123 from the central substrate transfer portion 133C or the right substrate transfer portion 133R.

ACF貼着作業部122aは、左方基板移送部133Lの2つの基板搭載ステージ136のそれぞれに保持され、作業位置に配置されている基板7の縁部に接着テープ(具体的にはACFテープ)を貼着する。 The ACF sticking working part 122a is held by each of the two substrate mounting stages 136 of the left substrate transfer part 133L, and applies an adhesive tape (specifically, an ACF tape) to the edge of the substrate 7 placed at the working position. affixed.

部品搭載作業部122bは、上記実施の形態における仮圧着部4に相当する部品実装装置であって、基板7への電子部品8の搭載作業を行う。つまり、部品搭載作業部122bは、基板7への電子部品8の仮圧着を行う。具体的には、部品搭載作業部122bは、中央基板移送部133Cまたは右方基板移送部133Rの2つの基板搭載ステージ153のそれぞれに保持され、部品搭載作業部122bの作業位置に配置されている基板7の縁部に、接着テープを介して、電子部品8を搭載する。より具体的には、部品搭載作業部122bは、基板搭載ステージ153に保持され、かつ、バックアップステージ164に下方から支持されている基板7の縁部に、接着テープを介して電子部品8を搭載する。 The component mounting work unit 122b is a component mounting device corresponding to the temporary crimping unit 4 in the above-described embodiment, and performs the work of mounting the electronic component 8 on the substrate 7. FIG. In other words, the component mounting work section 122b temporarily crimps the electronic component 8 onto the board 7 . Specifically, the component mounting work section 122b is held by each of the two board mounting stages 153, the central board transfer section 133C and the right board transfer section 133R, and is arranged at the work position of the component mounting work section 122b. An electronic component 8 is mounted on the edge of the substrate 7 via an adhesive tape. More specifically, the component mounting work unit 122b mounts the electronic component 8 via an adhesive tape on the edge of the substrate 7 held by the substrate mounting stage 153 and supported from below by the backup stage 164. do.

部品圧着作業部122cおよび122dはそれぞれ、部品搭載作業部122bによって電子部品8の搭載作業が行われた基板7に、その電子部品8を圧着する。つまり、部品圧着作業部122cおよび122dはそれぞれ、基板7への電子部品8の本圧着を行う。 The component crimping working units 122c and 122d respectively crimp the electronic component 8 onto the board 7 on which the electronic component 8 has been mounted by the component mounting working unit 122b. In other words, the component pressure-bonding working units 122c and 122d perform the final pressure-bonding of the electronic component 8 onto the substrate 7, respectively.

ここで、上述の部品搭載作業部122bは、電子部品8を仮圧着するための搭載ヘッド163を備えている。この部品搭載作業部122bは、上記実施の形態における仮圧着部4とは異なり、電子部品8を仮圧着するときには、その搭載ヘッド163をインデックス回転させることなく、搭載ヘッド移動機構162によってX軸方向およびY軸方向に移動させる。具体的には、搭載ヘッド163は、中央基台111bの後方にある部品供給部161に移動し、その部品供給部161から供給される電子部品8を上方から吸着する。次に、搭載ヘッド163は、バックアップステージ164に支持されている基板7の上方に、電子部品8を吸着した状態で移動し、降下することによって、電子部品8をその基板7に仮圧着する。 Here, the component mounting work section 122b described above has a mounting head 163 for temporarily pressure-bonding the electronic component 8. As shown in FIG. Unlike the temporary pressure-bonding unit 4 in the above-described embodiment, this component mounting working unit 122b is moved by the mounting head moving mechanism 162 in the X-axis direction without index-rotating the mounting head 163 when temporarily pressure-bonding the electronic component 8 . and move in the Y-axis direction. Specifically, the mounting head 163 moves to the component supply section 161 behind the central base 111b and picks up the electronic component 8 supplied from the component supply section 161 from above. Next, the mounting head 163 moves above the substrate 7 supported by the backup stage 164 while sucking the electronic component 8 , and descends to temporarily press the electronic component 8 onto the substrate 7 .

このとき、部品搭載作業部122bは、上記実施の形態の仮圧着部4と同様に、基板7における部品実装位置を、その基板7の厚み差に応じて補正する。具体的には、部品搭載作業部122bは、図12に示す実装位置テーブル48cにおいて、基板7の基板IDに対応付けられている部品実装位置に、Xオフセットを加算することによって、その部品実装位置を補正する。そして、部品搭載作業部122bは、搭載ヘッド移動機構162を制御することによって、基板7の補正された部品実装位置に電子部品8を搭載ヘッド163で圧着する。 At this time, the component mounting working section 122b corrects the component mounting position on the board 7 according to the thickness difference of the board 7, like the temporary pressure bonding section 4 of the above-described embodiment. Specifically, the component mounting working unit 122b adds an X offset to the component mounting position associated with the board ID of the board 7 in the mounting position table 48c shown in FIG. correct. Then, by controlling the mounting head moving mechanism 162, the component mounting working section 122b crimps the electronic component 8 onto the corrected component mounting position of the board 7 with the mounting head 163. FIG.

このように、本開示における部品実装装置および部品実装方法は、図1に示すロータリー型の装置およびその装置を用いた方法に限定されることなく、どのようなタイプの装置および方法にも適用することができる。 Thus, the component mounting apparatus and component mounting method in the present disclosure are not limited to the rotary type apparatus shown in FIG. 1 and the method using the apparatus, and can be applied to any type of apparatus and method. be able to.

また、上記実施の形態では、図2に示すように、基板7の2辺、すなわち、縁部7aおよび7bに電子部品8が仮圧着部4によって仮圧着されるが、仮圧着される部位は、縁部7aおよび7bに限定されない。例えば、電子部品8は、基板7の4辺に仮圧着されてもよい。 In the above-described embodiment, as shown in FIG. 2, the electronic component 8 is temporarily crimped by the temporary crimping portion 4 to two sides of the substrate 7, that is, the edge portions 7a and 7b. , edges 7a and 7b. For example, the electronic component 8 may be temporarily pressure-bonded to four sides of the substrate 7 .

図17は、表示パネル組立装置によって組み立てられる表示パネルの他の例を示す平面図である。 FIG. 17 is a plan view showing another example of the display panel assembled by the display panel assembly device.

仮圧着部4は、表示パネルを構成する基板7の4辺を含む周縁部7cに、4つの電子部品8を仮圧着してもよい。つまり、電子部品8は、周縁部7cにおける4辺のそれぞれに仮圧着される。このときにも、仮圧着部4は、それぞれの辺における基板7の両端部の厚み差に応じて、その辺における部品実装位置を補正する。これにより、それぞれの辺に厚み差があっても、電子部品8を基板7の適切な位置に実装することができる。なお、電子部品8は、基板7の3辺または1辺のみに仮圧着されてもよい。 The temporary pressure-bonding portion 4 may temporarily pressure-bond four electronic components 8 to a peripheral edge portion 7c including four sides of a substrate 7 constituting a display panel. That is, the electronic component 8 is temporarily pressure-bonded to each of the four sides of the peripheral portion 7c. At this time as well, the temporary pressure-bonding section 4 corrects the component mounting position on each side according to the thickness difference between the two ends of the substrate 7 on each side. Thereby, the electronic component 8 can be mounted at an appropriate position on the board 7 even if there is a thickness difference between the sides. Note that the electronic component 8 may be temporarily pressure-bonded to only one side or three sides of the substrate 7 .

また、上記実施の形態において、制御部79は、専用のハードウェアで構成されるか、制御部79に適したソフトウェアプログラムを実行することによって実現されてもよい。制御部79は、CPU(Central Processing Unit)またはプロセッサなどのプログラム実行部が、ハードディスクまたは半導体メモリなどの記録媒体に記録されたソフトウェアプログラムを読み出して実行することによって実現されてもよい。ここで、上記実施の形態の制御部79などを実現するソフトウェアは、図6、および図13~図16のうちの何れかのフローチャートに含まれる各ステップをコンピュータに実行させる。 Further, in the above-described embodiment, the control unit 79 may be configured by dedicated hardware, or realized by executing a software program suitable for the control unit 79 . Control unit 79 may be implemented by a program execution unit such as a CPU (Central Processing Unit) or processor reading and executing a software program recorded in a recording medium such as a hard disk or semiconductor memory. Here, the software that implements the control unit 79 and the like of the above-described embodiment causes the computer to execute each step included in any one of the flowcharts of FIGS. 6 and 13 to 16. FIG.

本開示の部品実装方法は、実装される部品の基板に対する位置精度を容易に高く保つことができるという効果を有し、ガラス基板に電子部品を圧着により実装して表示パネルを組み立てる装置等に利用可能である。 The component mounting method of the present disclosure has the effect that it is possible to easily maintain high positional accuracy of the components to be mounted with respect to the substrate, and is used in devices such as those for assembling display panels by mounting electronic components on a glass substrate by crimping. It is possible.

3 接着テープ貼付部
4 仮圧着部
5 本圧着部
7 基板
7A 第1の基板
7B 第2の基板
8 電子部品
8a~8c 端子領域
40 基板保持部
41 XYZθテーブル機構
42 圧着機構(電子部品搭載機構)
44A 第1の保持部
44B 第2の保持部
46 圧着ツール
47 下受部
48 格納部
48a 基準テーブル
48b 厚み差オフセットテーブル
48c 実装位置テーブル
79 制御部
3 Adhesive Tape Applied Section 4 Temporary Pressure Bonding Section 5 Final Pressure Bonding Section 7 Board 7A First Board 7B Second Board 8 Electronic Components 8a to 8c Terminal Area 40 Board Holding Section 41 XYZθ Table Mechanism 42 Crimp Mechanism (Electronic Component Mounting Mechanism)
44A first holding portion 44B second holding portion 46 crimping tool 47 lower receiving portion 48 storage portion 48a reference table 48b thickness difference offset table 48c mounting position table 79 control portion

Claims (8)

部品を基板に実装する部品実装方法であって、
前記基板における2つの部位の厚みの差である厚み差に対応付けられている補正量を特定する補正量特定工程と、
前記基板における前記部品の予め定められた部品実装位置を、特定された前記補正量に応じて補正する補正工程と、
前記基板の補正された前記部品実装位置に前記部品を圧着ツールで圧着する圧着工程とを含み、
前記補正量は、前記基板における前記2つの部位の配列方向の距離である、
部品実装方法。
A component mounting method for mounting a component on a substrate,
a correction amount specifying step of specifying a correction amount associated with a thickness difference that is a difference in thickness between two portions of the substrate;
a correction step of correcting a predetermined component mounting position of the component on the board according to the identified correction amount;
a crimping step of crimping the component to the corrected component mounting position of the substrate with a crimping tool ;
The correction amount is the distance in the arrangement direction of the two parts on the substrate,
Component mounting method.
前記補正量特定工程は、
前記部品が実装される前記基板である実装対象基板の識別情報を取得する識別情報取得工程と、
複数の基板のそれぞれについて、当該基板の識別情報と、当該基板の厚み差に応じた補正量とを対応付けて示す第1のデータテーブルを参照する第1のテーブル参照工程と、
前記第1のデータテーブルから、前記実装対象基板の識別情報に対応付けられている補正量を抽出することによって、前記実装対象基板の補正量を特定する第1の抽出工程とを含む、
請求項1に記載の部品実装方法。
The correction amount specifying step includes:
an identification information acquisition step of acquiring identification information of a mounting target board, which is the board on which the component is mounted;
a first table referencing step of referencing a first data table indicating, for each of a plurality of substrates, identification information of the substrate and a correction amount according to the thickness difference of the substrate in association with each other;
a first extracting step of specifying the correction amount of the mounting target board by extracting the correction amount associated with the identification information of the mounting target board from the first data table;
The component mounting method according to claim 1 .
前記部品実装方法は、さらに、
前記第1のデータテーブルを生成するテーブル生成工程を含み、
前記テーブル生成工程は、
前記複数の基板のそれぞれの厚み差を厚み差計測値として取得する厚み差取得工程と、
基板の品種ごとに、当該品種の基板における複数の厚み差と、前記複数の厚み差のそれぞれに対応する補正量とを示す第2のデータテーブルを参照する第2のテーブル参照工程と、
前記複数の基板のそれぞれについて、前記第2のデータテーブルによって示される、当該基板の品種に対する複数の補正量から、当該基板に対して取得された厚み差計測値に対応付けられている補正量を抽出する第2の抽出工程と、
前記複数の基板のそれぞれの識別情報と、前記複数の基板のそれぞれに対して抽出された前記補正量とを対応付けることによって、前記第1のデータテーブルを生成する対応付け工程とを含む、
請求項に記載の部品実装方法。
The component mounting method further comprises:
including a table generation step of generating the first data table;
The table generation step includes:
a thickness difference acquiring step of acquiring the thickness difference of each of the plurality of substrates as a thickness difference measurement value;
a second table referring step of referring to a second data table indicating, for each type of substrate, a plurality of thickness differences in the substrate of the type and correction amounts corresponding to each of the plurality of thickness differences;
For each of the plurality of substrates, the correction amount associated with the thickness difference measurement value obtained for the substrate is determined from the plurality of correction amounts for the type of the substrate indicated by the second data table. a second extraction step of extracting;
an associating step of generating the first data table by associating the identification information of each of the plurality of substrates with the correction amount extracted for each of the plurality of substrates;
The component mounting method according to claim 2 .
前記部品実装方法は、さらに、
実装済みの基板における部品の位置のずれ量を取得するずれ量取得工程と、
取得された前記位置のずれ量のうち、前記2つの部位の配列方向のずれ量が閾値を超えるか否かを判定する判定工程とを含み、
前記補正量特定工程では、
前記判定工程において、前記配列方向のずれ量が閾値を超えると判定される場合に、前記補正量を特定する、
請求項1~の何れか1項に記載の部品実装方法。
The component mounting method further comprises:
a deviation amount acquiring step of acquiring a deviation amount of the position of the component on the mounted board;
a determination step of determining whether or not the amount of misalignment in the arrangement direction of the two sites out of the amount of misalignment obtained exceeds a threshold;
In the correction amount specifying step,
specifying the correction amount when it is determined in the determining step that the deviation amount in the arrangement direction exceeds a threshold;
A component mounting method according to any one of claims 1 to 3 .
部品を基板に実装する部品実装装置であって、
前記部品を前記基板に圧着するための圧着ツールと、
前記圧着ツールを制御する制御部とを備え、
前記制御部は、
前記基板における2つの部位の厚みの差である厚み差に対応付けられている補正量を特定する補正量特定ステップと、
前記基板における前記部品の予め定められた部品実装位置を、特定された前記補正量に応じて補正する補正ステップと、
前記基板の補正された前記部品実装位置への前記部品の圧着を前記圧着ツールに実行させる実装ステップとを行い、
前記補正量は、前記基板における前記2つの部位の配列方向の距離である、
部品実装装置。
A component mounting apparatus for mounting components on a substrate,
a crimping tool for crimping the component to the substrate;
A control unit that controls the crimping tool,
The control unit
a correction amount specifying step of specifying a correction amount associated with a thickness difference that is a difference in thickness between two portions of the substrate;
a correction step of correcting a predetermined component mounting position of the component on the board according to the identified correction amount;
causing the crimping tool to crimp the component onto the corrected component mounting position of the substrate ;
The correction amount is the distance in the arrangement direction of the two parts on the substrate,
Component mounting equipment.
前記補正量特定ステップは、
前記部品が実装される前記基板である実装対象基板の識別情報を取得する識別情報取得ステップと、
複数の基板のそれぞれについて、当該基板の識別情報と、当該基板の厚み差に応じた補正量とを対応付けて示す第1のデータテーブルを参照する第1のテーブル参照ステップと、
前記第1のデータテーブルから、前記実装対象基板の識別情報に対応付けられている補正量を抽出することによって、前記実装対象基板の補正量を特定する第1の抽出ステップとを含む、
請求項に記載の部品実装装置。
The correction amount specifying step includes:
an identification information acquiring step of acquiring identification information of a mounting target board, which is the board on which the component is mounted;
a first table referencing step of referring to a first data table indicating, for each of the plurality of substrates, identification information of the substrate and a correction amount according to the thickness difference of the substrate in association with each other;
a first extraction step of specifying the correction amount of the mounting target board by extracting the correction amount associated with the identification information of the mounting target board from the first data table;
The component mounting apparatus according to claim 5 .
前記制御部は、さらに、
前記第1のデータテーブルを生成するテーブル生成ステップを行い、
前記テーブル生成ステップは、
前記複数の基板のそれぞれの厚み差を厚み差計測値として取得する厚み差取得ステップと、
基板の品種ごとに、当該品種の基板における複数の厚み差と、前記複数の厚み差のそれぞれに対応する補正量とを示す第2のデータテーブルを参照する第2のテーブル参照ステップと、
前記複数の基板のそれぞれについて、前記第2のデータテーブルによって示される、当該基板の品種に対する複数の補正量から、当該基板に対して取得された厚み差計測値に対応付けられている補正量を抽出する第2の抽出ステップと、
前記複数の基板のそれぞれの識別情報と、前記複数の基板のそれぞれに対して抽出された前記補正量とを対応付けることによって、前記第1のデータテーブルを生成する対応付けステップとを含む、
請求項に記載の部品実装装置。
The control unit further
performing a table generation step of generating the first data table;
The table generation step includes:
a thickness difference acquisition step of acquiring the thickness difference of each of the plurality of substrates as a thickness difference measurement value;
a second table referring step of referring to a second data table showing, for each type of substrate, a plurality of thickness differences in the substrate of the type and correction amounts corresponding to each of the plurality of thickness differences;
For each of the plurality of substrates, the correction amount associated with the thickness difference measurement value obtained for the substrate is determined from the plurality of correction amounts for the type of the substrate indicated by the second data table. a second extraction step of extracting;
an associating step of generating the first data table by associating the identification information of each of the plurality of substrates with the correction amount extracted for each of the plurality of substrates;
The component mounting apparatus according to claim 6 .
前記制御部は、さらに、
実装済みの基板における部品の位置のずれ量を取得するずれ量取得ステップと、
取得された前記位置のずれ量のうち、前記2つの部位の配列方向のずれ量が閾値を超えるか否かを判定する判定ステップとを行い、
前記制御部は、前記補正量特定ステップでは、
前記判定ステップにおいて、前記配列方向のずれ量が閾値を超えると判定される場合に、前記補正量を特定する、
請求項の何れか1項に記載の部品実装装置。
The control unit further
a deviation amount acquisition step of acquiring a deviation amount of the position of the component on the mounted board;
a determination step of determining whether or not the amount of misalignment in the arrangement direction of the two sites out of the obtained amounts of misalignment of the positions exceeds a threshold;
The control unit, in the correction amount specifying step,
specifying the correction amount when it is determined in the determining step that the deviation amount in the arrangement direction exceeds a threshold;
A component mounting apparatus according to any one of claims 5 to 7 .
JP2018101635A 2018-05-28 2018-05-28 COMPONENT MOUNTING METHOD AND COMPONENT MOUNTING APPARATUS Active JP7165904B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018101635A JP7165904B2 (en) 2018-05-28 2018-05-28 COMPONENT MOUNTING METHOD AND COMPONENT MOUNTING APPARATUS

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018101635A JP7165904B2 (en) 2018-05-28 2018-05-28 COMPONENT MOUNTING METHOD AND COMPONENT MOUNTING APPARATUS

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2019207920A JP2019207920A (en) 2019-12-05
JP7165904B2 true JP7165904B2 (en) 2022-11-07

Family

ID=68767780

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2018101635A Active JP7165904B2 (en) 2018-05-28 2018-05-28 COMPONENT MOUNTING METHOD AND COMPONENT MOUNTING APPARATUS

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP7165904B2 (en)

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003075115A (en) 2001-09-03 2003-03-12 Shibaura Mechatronics Corp Substrate inspection device and substrate inspection method
JP2003289199A (en) 2002-01-25 2003-10-10 Fuji Mach Mfg Co Ltd Working system for board
JP2012033829A (en) 2010-08-03 2012-02-16 Fuji Mach Mfg Co Ltd Component mounting machine and image processing method
JP2014030007A (en) 2012-07-06 2014-02-13 Tdk Corp Mounting method, and mounting device

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003075115A (en) 2001-09-03 2003-03-12 Shibaura Mechatronics Corp Substrate inspection device and substrate inspection method
JP2003289199A (en) 2002-01-25 2003-10-10 Fuji Mach Mfg Co Ltd Working system for board
JP2012033829A (en) 2010-08-03 2012-02-16 Fuji Mach Mfg Co Ltd Component mounting machine and image processing method
JP2014030007A (en) 2012-07-06 2014-02-13 Tdk Corp Mounting method, and mounting device

Also Published As

Publication number Publication date
JP2019207920A (en) 2019-12-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4367524B2 (en) Electronic component mounting system and electronic component mounting method
WO2016125518A1 (en) Cutting device and cutting method
KR102132094B1 (en) Electronic component mounting device and electronic component mounting method
KR20050113576A (en) Flux reservoir and flux transferring method
JP7224695B2 (en) Semiconductor device manufacturing apparatus and semiconductor device manufacturing method
JP7165904B2 (en) COMPONENT MOUNTING METHOD AND COMPONENT MOUNTING APPARATUS
JP4515814B2 (en) Mounting accuracy measurement method
JP2009180911A (en) Substrate lamination method, substrate lamination apparatus, and display device manufactured by using method or apparatus
JP6442707B2 (en) Component mounting apparatus and component mounting method
WO2019097675A1 (en) Component mounter, component inspection method, component inspection program, and recording medium
JP6405522B2 (en) Component mounting apparatus and component mounting method
JP2016164902A (en) Preparation method for inspection board and crimping operation inspection method for component crimping device
JP2003249794A (en) Camera unit, table unit, method and apparatus for mounting component
JP7129645B2 (en) Crimping method and crimping device
JP2003174061A (en) Bonder and bonding method
JP5372366B2 (en) Mounting method and mounting apparatus
JP5855866B2 (en) Dummy chip and component mounting accuracy inspection method using the same
JP2010093168A (en) Optical module manufacturing apparatus, manufacturing device system, manufacture direction, and manufacturing processing program
JP5181383B2 (en) Bonding equipment
WO2022158122A1 (en) Bonding method and bonding device use method
CN112677467A (en) Automatic laminating machine and laminating method thereof
JP6259616B2 (en) Die bonder and semiconductor manufacturing method
KR101146319B1 (en) Semiconductor chip supplying Method of bonder
JP2022050128A (en) Component crimping device and component crimping method
JP2006253384A (en) Bonding equipment and method for manufacturing semiconductor device

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20210309

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20220210

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20220405

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20220527

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20220927

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20221013

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 7165904

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151