JP7154336B2 - CUTTING DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING CUTTING GOODS - Google Patents
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Description
本発明は、切断装置、及び、切断品の製造方法に関する。 TECHNICAL FIELD The present invention relates to a cutting device and a method for manufacturing a cut product.
特開2020-161615号公報(特許文献1)は、パッケージチップの製造方法を開示する。この製造方法においては、パッケージ基板を分割予定ラインに沿って第1切削ブレードで切削し、ハーフカット溝を形成する(ハーフカットステップ)。その後、パッケージ基板の電極にメッキ処理を施すステップを経て、フルカットステップが実行される。フルカットステップでは、第2切削ブレードによってハーフカット溝が切削され、互いに分離された複数のパッケージチップが得られる。第2切削ブレードは、刃厚が第1切削ブレードよりも薄い。これにより、パッケージチップ間に残るバリの量を低減することができる(特許文献1参照)。 Japanese Patent Application Laid-Open No. 2020-161615 (Patent Document 1) discloses a method for manufacturing a package chip. In this manufacturing method, the package substrate is cut with the first cutting blade along the dividing line to form a half-cut groove (half-cut step). After that, the full cut step is performed through the step of plating the electrodes of the package substrate. In the full-cut step, half-cut grooves are cut by a second cutting blade to obtain a plurality of package chips separated from each other. The second cutting blade has a thinner blade thickness than the first cutting blade. As a result, the amount of burrs remaining between package chips can be reduced (see Patent Document 1).
パッケージ基板に例示される切断対象物にハーフカット溝を形成するステップでは、ばらつきが少ない深さのハーフカット溝を形成することが重要である。しかし、ハーフカット溝を形成するためのブレードは、予め定められたラインに沿って切削を行う間に摩耗し、同一の切断対象物におけるハーフカット溝の深さにばらつきが生じる。上記特許文献1においては、このような問題の解決手段が開示されていない。 In the step of forming half-cut grooves in an object to be cut, such as a package substrate, it is important to form half-cut grooves with less variation in depth. However, the blade for forming the half-cut grooves wears while cutting along a predetermined line, causing variations in the depth of the half-cut grooves in the same cutting object. Japanese Patent Application Laid-Open No. 2002-200001 does not disclose a means for solving such a problem.
本発明は、このような問題を解決するためになされたものであって、その目的は、ハーフカットによって切断対象物上に形成される溝の深さのばらつきを低減可能な切断装置、及び、切断品の製造方法を提供することである。 SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve such problems, and an object of the present invention is to provide a cutting apparatus capable of reducing variations in the depth of grooves formed on an object to be cut by half-cutting, and The object is to provide a method for manufacturing a cut product.
本発明の一側面に係る切断装置は、切断対象物を厚さ方向に切断することにより、切断対象物にハーフカット溝を形成するように構成された切断装置であって、テーブルと、ブレードが取り付けられるスピンドル部と、検出部と、制御部とを備える。テーブルは、切断対象物を保持する。ブレードは、切断対象物を切断しながらテーブルに対して相対的に移動することにより、ハーフカット溝により構成される溝パターンを切断対象物に形成する。検出部は、テーブルに対するブレードの高さを検出する。制御部は、ブレードの高さ方向の位置を制御する。制御部は、ブレードが1つの切断対象物に溝パターンを形成する間、ブレードが切断対象物を切断した長さに応じて検出部にブレードの高さを検出させ、検出された高さが予め定められた要件を充足していない場合に、ブレードの高さ方向の位置を補正する。 A cutting device according to one aspect of the present invention is a cutting device configured to form a half-cut groove in an object to be cut by cutting the object in the thickness direction, the table and the blade It comprises an attached spindle section, a detection section, and a control section. A table holds a cutting object. The blade forms a groove pattern composed of half-cut grooves in the object to be cut by moving relative to the table while cutting the object to be cut. The detector detects the height of the blade with respect to the table. The controller controls the position of the blade in the height direction. The control unit causes the detection unit to detect the height of the blade according to the length of the cutting object cut by the blade while the blade forms the groove pattern on one cutting object, and the detected height is stored in advance. Correct the vertical position of the blade if it does not meet the specified requirements.
本発明の他の側面に係る切断品の製造方法は、切断対象物を厚さ方向に切断することにより切断品を製造する製造方法であって、以下のステップを含む。
・切断対象物を切断しながら切断対象物に対して相対的に移動する第1ブレードを用いて、切断対象物にハーフカット溝から構成される溝パターンを形成するステップ。
・第1ブレードよりも厚みが薄い第2ブレードを用いて、切断対象物に形成された溝パターンに沿って切断対象物を切断することにより、互いに分離した切断品を得るステップ。
なお、溝パターンを形成するステップは、第1ブレードが切断対象物を切断した長さに応じてブレードの高さを検出するステップと、検出された高さが予め定められた要件を充足していない場合に、ブレードの高さ方向の位置を補正するステップとを含む。
A method for manufacturing a cut product according to another aspect of the present invention is a manufacturing method for manufacturing a cut product by cutting an object to be cut in the thickness direction, and includes the following steps.
A step of forming a groove pattern composed of half-cut grooves in the object to be cut by using the first blade that moves relative to the object to be cut while cutting the object to be cut.
- Using a second blade, which is thinner than the first blade, to cut the object to be cut along the groove pattern formed in the object to be cut, thereby obtaining cut pieces separated from each other.
The step of forming the groove pattern includes the step of detecting the height of the blade according to the length of the cutting object cut by the first blade, and the step of detecting whether the detected height satisfies a predetermined requirement. If not, correcting the height position of the blade.
本発明によれば、ハーフカットによって切断対象物上に形成される溝の深さのばらつきを低減可能な切断装置、及び、切断品の製造方法を提供することができる。 ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the cutting apparatus which can reduce the variation in the depth of the groove|channel formed on a cutting target by half cutting, and the manufacturing method of a cut product can be provided.
以下、本発明の一側面に係る実施形態について、図面を用いて詳細に説明する。なお、図中同一又は相当部分には同一符号を付してその説明は繰り返さない。また、各図面は、理解の容易のために、適宜対象を省略又は誇張して模式的に描かれている。また、各図面において各矢印が示す方向は、各図面において共通である。 Hereinafter, embodiments according to one aspect of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. The same or corresponding parts in the drawings are denoted by the same reference numerals, and the description thereof will not be repeated. In addition, each drawing is schematically drawn by appropriately omitting or exaggerating objects for easy understanding. Also, the direction indicated by each arrow in each drawing is common to each drawing.
<1.第1実施形態>
[概要]
図1は、第1実施形態に係る切断装置1の平面の一部を模式的に示す図である。切断装置1は、切断対象物を切断するように構成される。ここで、「切断」という用語の概念は、切断対象物を分離して複数の個片化された切断品とすること、及び、切断対象物の一部を除去することを含む。以下、切断対象物を複数の個片化された切断品に分離する切断をフルカットと称し、切断対象物の一部を厚み方向に除去する切断をハーフカットと称することがある。
<1. First Embodiment>
[Overview]
FIG. 1 is a diagram schematically showing a part of the plane of the
本実施形態では、切断対象物はパッケージ基板4であり、切断品は半導体パッケージ40(図4参照)である。半導体パッケージ40については、後述する。
In this embodiment, the object to be cut is the
図1に示すように、切断装置1は、パッケージ基板4を切断することにより、複数の半導体パッケージ40を製造する。製造された複数の半導体パッケージ40は、さらに次の工程へと送られる。以下、切断装置1の構成について説明する。
As shown in FIG. 1 , the
<1-1.切断装置>
図2は側方から見た切断装置1の一部を模式的に示す図であり、図3は、切断装置1の電気的な構成を示すブロック図である。図1~3に示すように、切断装置1は、主に切断ユニット10と、保持ユニット20と、検出ユニット30と、制御ユニット50と備える。切断装置1は、上記以外のユニットを備えていてもよいことは言うまでもない。たとえば、切断装置1は、パッケージ基板4を供給する基板供給ユニット、パッケージ基板4および/または半導体パッケージ40検査する検査ユニット、切断された半導体パッケージ40を洗浄および/または乾燥させる洗浄ユニット、切断された半導体パッケージ40を収容部に搬送する搬送ユニット等を備えていてもよい。以下では、切断ユニット10と、保持ユニット20と、検出ユニット30と、制御ユニット50の構成について説明する。
<1-1. Cutting device>
FIG. 2 is a diagram schematically showing part of the
[切断ユニット]
図1及び図2に示すように、切断ユニット10は、保持ユニット20の上方に配置され、パッケージ基板4を切断するように構成される。切断ユニット10は、ブレード101と、スピンドル部102と、スピンドル部102を切断装置1内の所望の位置に移動させる図示しない移動機構とを含む。切断装置1は、一対のスピンドル部102を備えるツインスピンドル構成であってもよいし、1つのみのスピンドル部102を備えるシングルスピンドル構成であってもよい。スピンドル部102は、図示しない移動機構により、図1及び図2中のX軸及びZ軸に沿って移動する。移動機構の動作、つまりスピンドル部102の移動及びX軸及びZ軸方向の位置は、後述する制御部500によって制御される。以下では、図1及び図2中のZ軸方向を、スピンドル部102またはブレード101の高さ方向と称することがある。
[Cutting unit]
As shown in FIGS. 1 and 2 , the
ブレード101は、円環状の刃であり、スピンドル部102の先端部に着脱可能に取り付けられる。これにより、ブレード101は、スピンドル部102とともに図1及び図2中のX軸及びZ軸に沿って移動する。
The
スピンドル部102に取り付けられたブレード101は、スピンドル部102から回転を伝えられて高速回転することによって、パッケージ基板4にハーフカット及びフルカットを施すように構成される。以下では、ハーフカット用のブレードを第1ブレード101A、フルカット用のブレードを第2ブレード101Bと称する。第1ブレード101Aは第1の厚みを有し、第2ブレード101Bは第1の厚みよりも小さい第2の厚みを有する。つまり、第2ブレード101Bは第1ブレード101Aよりも厚みが薄い。なお、第1ブレード101A及び第2ブレード101Bのいずれにも該当する場合には、単にブレード101と称することとする。本実施形態では、スピンドル部102に対し、第1ブレード101A及び第2ブレード101Bのいずれかが取り付けられ、切断が行われる。
The
第1ブレード101Aは、導電性を有する材料から構成され、スピンドル部102に取り付けられた状態において、スピンドル部102と導通可能である。スピンドル部102は、後述する検出回路301に電気的に接続される。
The
パッケージ基板4にハーフカットを施す場合、第1ブレード101Aがパッケージ基板4を切断しながら後述するテーブル201に対して相対的に移動することによってパッケージ基板4の一部がその厚さ方向に除去される。これにより、第1ブレード101Aによってパッケージ基板4の一部がその厚さ方向に除去される。これにより、パッケージ基板4上には、パッケージ基板4の長手方向に延びるハーフカット溝G1及びパッケージ基板4の短手方向に延びるハーフカット溝G2が形成される(図5A参照)。一方、パッケージ基板4にフルカットを施す場合、第2ブレード101Bが溝パターンに沿ってパッケージ基板4を切断しながらテーブル201に対して相対的に移動する。これによってハーフカット溝G1,G2の部分が切り離され、パッケージ基板4が複数の分離した半導体パッケージ40に個片化される。
When half-cutting the
[保持ユニット]
保持ユニット20は、パッケージ基板4を保持するように構成される。保持ユニット20は、移動機構203と、テーブル201と、テーブル201上に配置されたラバー202とを含む。切断装置1は、2個の保持ユニット20を有するツインカットテーブル構成であってもよいし、1個の保持ユニット20を有してもよいし、3個以上の保持ユニット20を有してもよい。パッケージ基板4は、保持ユニット20によって保持され、ブレード101に対して相対的に移動しながら、その長手方向及び短手方向に沿って切断される。
[Holding unit]
The holding
ラバー202はゴム製の板状部材であり、ラバー202には複数の孔が形成されている。ラバー202上には、パッケージ基板4が配置される。保持ユニット20は、必ずしもラバー202を含む必要はなく、例えばラバー202を省略して構成されてもよいし、ラバー202の代わりに他の部材を含んでもよい。
The
テーブル201は、ラバー202上に配置されたパッケージ基板4を下方のパッケージ面側から吸着することによってパッケージ基板4を保持する。テーブル201は、図のθ方向に回転可能であるとともに、移動機構203によって図のY軸に沿って移動可能である。
The table 201 holds the
移動機構203は、テーブル201の下に配置され、テーブル201を図のY軸に沿って移動させるように構成される。テーブル201及び移動機構203の動作は、後述する制御ユニット50によって制御される。
A moving
[検出ユニット]
検出ユニット30は、スピンドル部102及び第1ブレード101Aの高さ方向(Z軸方向)の位置の検出に用いられる。検出ユニット30は、本発明の検出部の一例であり、CCS(Contact Cutter Setup)ブロック300と、検出回路301と、検出装置302とを含む。CCSブロック300は、本発明の接触子の一例であり、導電性を有する材料から構成される。本実施形態では、CCSブロック300は、その上面の高さがテーブル201の上面の高さと一致するように、テーブル201の側方に取り付けられている。つまり、本実施形態のCCSブロック300は、テーブル201とともに移動することが可能である。
[Detection unit]
The
検出回路301は、第1ブレード101AがCCSブロック300の上面に接触すると通電するように構成される回路であり、CCSブロック300及びスピンドル部102に電気的に接続され、検出装置302がこれに組み込まれる。検出回路301は、図示しない電源により、CCSブロック300及びスピンドル部102に一定の電圧を印加するように構成される。検出装置302は、検出回路301が通電することによる導通状態の変化、言い換えると第1ブレード101A(より正確には、第1ブレード101Aの縁端)とCCSブロック300との接触を検知し、後述する制御部500に通知する。制御部500は、スピンドル部102の高さ方向の位置を制御し、ある高さ方向の座標を始点として、スピンドル部102を徐々にCCSブロック300の上面に向かって近づける。制御部500は、第1ブレード101AとCCSブロック300との接触が検出されたときのスピンドル部102の高さ方向の座標を終点と認識する。これにより、CCSブロック300の上面を基準として、始点におけるスピンドル部102の、ひいては第1ブレード101Aの高さが検出される。なお、テーブル201に対するCCSブロック300の上面の高さは、予め切断装置1に記憶されている。
The
検出ユニット30によるスピンドル部102及び第1ブレード101Aの高さの検出は、例えば新規の第1ブレード101Aがスピンドル部102に取り付けられた後であって、ハーフカット開始前のタイミングで行われる。このタイミングで検出された高さは基準高さとして制御ユニット50に記憶される。これに加えて、検出ユニット30による高さの検出は、ハーフカットの最中の検出タイミングにおいても行われる。ハーフカットの最中に検出された高さの基準高さに対するずれ量は、第1ブレード101Aの径の変化量、すなわち第1ブレード101Aの摩耗量を示す。従って、検出ユニット30は、ハーフカット中における第1ブレード101Aの摩耗状態を検出するということができる。なお、本発明の「予め定められた要件」とは、例えば基準高さと検出タイミングにおいて検出された高さとのずれ量が、予め定められた閾値未満であることを意味する。
Detection of the heights of the
[制御ユニット]
制御ユニット50は、切断ユニット10、保持ユニット20、及び検出ユニット30に電気的に接続され、各ユニット10~30の動作を制御するように構成される。制御ユニット50は、各ユニット10~30と一体的に構成されてもよいし、各ユニット10~30とは別体として構成されてもよい。図3に示すように、制御ユニット50は、制御部500、表示部501、入力部502及び記憶部503を含む。
[Controller unit]
The
制御部500は、CPU(Central Processing Unit)、RAM(Random Access Memory)及びROM(Read Only Memory)等を含む。ROMには、各ユニット10~30の動作を制御するための動作プログラム5000が記憶される。CPUは、ROMから動作プログラム5000を読み出して実行する。ROMは、CPUの演算処理に適宜使用される。なお、動作プログラム5000はROMではなく、記憶部503に記憶されていてもよい。
The
表示部501は、例えば各種の情報をユーザに対して表示するように構成されるとともに、ユーザから後述する切断パラメータや検出パラメータの入力を受け付けるためのユーザインターフェース画面を表示するように構成される。表示部501は、液晶表示素子、液晶表示ディスプレイ、有機ELディスプレイ、及びタッチパネルディスプレイ等、任意の態様で実現することができる。
The
入力部502は、後述する切断パラメータ及び検出パラメータのユーザによる入力を受け付けるように構成される。入力部502は、キーボード、プッシュ式のボタン、タッチパネルディスプレイ等、任意の態様で実現することができる。入力部502がタッチパネルディスプレイで実現される場合、入力部502は表示部501を兼ねていてもよい。
The
切断パラメータは、パッケージ基板4が切断されるべき位置を指定するパラメータである。パッケージ基板4は、通常、格子状の切断パターンに従って切断されるため、切断パラメータを決定することにより格子状の切断パターンが定まる。これにより、切断パラメータに従ってハーフカットが行われると、パッケージ基板4にはハーフカット溝G1,G2から構成される、切断パターンに従う溝パターンが形成される。切断パラメータは、これに限定されないが、例えばパッケージ基板4の長手方向の長さ及び短手方向の長さ、パッケージ基板4の長手方向及び短手方向において形成すべきハーフカット溝G1,G2の本数、並びにハーフカット溝G1,G2の深さを指定する数値とすることができる。なお、パッケージ基板4の長手方向の長さは、ハーフカット溝G1の長さに一致し、短手方向の長さは、ハーフカット溝G2の長さに一致する。
The cutting parameter is a parameter that specifies the position where the
検出パラメータは、第1ブレード101Aの摩耗状態を検出する検出タイミングを設定するためのパラメータである。第1ブレード101Aの摩耗は、ハーフカットを施した長さ(切断距離)に応じて進行するため、本実施形態に係る検出パラメータは予め定められた長さとして指定される。つまり、切断装置1は、第1ブレード101Aが検出パラメータに相当する長さのハーフカットを施すごとに検出タイミングが到来するように構成される。検出パラメータとしての長さは適宜選択することができるが、例えば第1ブレード101Aの径が10μm程度摩耗するような長さとすることで、1つのパッケージ基板4に形成されるハーフカット溝G1,G2の深さのばらつきを好ましい範囲に抑制することができる。
The detection parameter is a parameter for setting the detection timing for detecting the wear state of the
切断パラメータ及び検出パラメータは、入力部502を介して入力され、RAMまたは記憶部503に記憶される。制御部500は、記憶された切断パラメータ及び検出パラメータに基づき、検出タイミングを予め割り出すことができる。例えば、制御部500は、ハーフカットの開始後に形成されるハーフカット溝G1,G2に対する切断距離の合計長さが、初めて予め定められた長さに達したタイミングを第1回目の検出タイミングとすることができる。また、制御部500は、第1回目の検出タイミング後において形成されるハーフカット溝G1,G2に対する切断距離の合計長さが、初めて予め定められた長さに達したタイミングを第2回目の検出タイミングとすることができる。このようにして、制御部500は、複数のハーフカット溝G1,G2から構成される溝パターンが形成される間の検出タイミングを、同一のパッケージ基板4に溝パターンを形成する間に、1回または複数回設定する。制御部500は、これにより、第1ブレード101Aがパッケージ基板4を切断した長さに応じて第1ブレード101Aの高さを検出ユニット30に検出させる。
Cutting parameters and detection parameters are input via the
上述の通り、検出パラメータは長さとすることができる。ただし、これに基づく検出タイミングは、1本のハーフカット溝G1またはG2が形成される途中のタイミングではなく、1本のハーフカット溝G1またはG2が形成された後のタイミングとすることが好ましい。つまり、第1ブレード101Aの摩耗検出は、1本のハーフカット溝G1またはG2の形成途中ではなく、1本のハーフカット溝G1またはG2の形成が終わってから、次のハーフカット溝G1またはG2の形成が始まるまでの間に行われることが好ましい。
As mentioned above, the detection parameter can be length. However, the detection timing based on this is preferably the timing after one half-cut groove G1 or G2 is formed, not the timing in the middle of forming one half-cut groove G1 or G2. That is, the wear of the
制御部500は、切断パラメータ及び検出パラメータに基づき、切断ユニット10及び保持ユニット20の切断動作を制御する。制御部500は、ハーフカット溝G1,G2の深さが、切断パラメータで指定した深さとなるように、スピンドル部102(第1ブレード101A)の高さ位置を制御する。この高さ位置は、後述するように、検出タイミングにおいて検出された第1ブレード101Aの摩耗状態に応じて補正されることがある。制御部500は、パッケージ基板4を保持した保持ユニット20を回転する第1ブレード101Aの下方に進入させ、Y軸方向に移動させることにより、1本目のハーフカット溝G1を形成する。次に、制御部500は、スピンドル部102を切断パターンにおける1格子分に相当する距離だけX軸方向に移動させる。そして、制御部500は、再び保持ユニット20を第1ブレード101Aの下方に進入させ、Y軸方向に移動させることにより、2本目のハーフカット溝G1を形成する。これを繰り返すことで、パッケージ基板4に切断パラメータに従う複数のハーフカット溝G1が形成される。
The
その後、制御部500は、テーブル201を90度回転させ、切断ユニット10及び保持ユニット20を同様に動作させる。これにより、パッケージ基板4に切断パラメータに従う複数のハーフカット溝G2がさらに形成される。なお、ハーフカット溝G1,G2を形成する順序は、逆であってもよい。
After that, the
制御部500は、例えばスピンドル部102の移動回数、保持ユニット20の移動回数及びテーブル201の回転回数に基づき、形成されたハーフカット溝G1,G2の数をカウントする。これにより、制御部500は、ハーフカット溝G1,G2が1本形成されるごとに、検出タイミングが到来したか否かを判断することができる。
The
<1-2.パッケージ基板>
本実施形態で対象とするパッケージ基板4は、その種類は特に限定されないが、例えばウェッタブルQFN(Quad Flat No-leaded)パッケージ基板である。パッケージ基板4にハーフカット及びフルカットを施すことで、図4に示すような半導体パッケージ40が製造される。ここで、パッケージ基板4とは、半導体チップ、抵抗素子、キャパシタ素子等の電子素子が接続された基板に対して、少なくとも電子素子を樹脂封止するように樹脂成形したものである。パッケージ基板4を構成する基板としては、リードフレーム、プリント配線板を用いることができ、これら以外にも、半導体製基板、金属製基板、セラミック製基板、ガラス製基板、樹脂製基板等を用いることができる。また、パッケージ基板4を構成する基板には、配線が施されていても施されていなくてもよい。
<1-2. Package substrate>
The type of the
図4に示されるように、半導体パッケージ40においては、図中の上面(端子42が形成されている面)と側面との境界部分に段差部41が形成されている。半導体パッケージ40が面実装された場合には、半田が段差部41に入り込む。これにより、半導体パッケージ40に関して、立体的な半田接続構造を実現することができる。また、半田が段差部41に入り込んでいるため、実装後の外観検査において、半導体パッケージ40の側面から半田フィレットを容易に観察することができる。このように、半導体パッケージ40には、様々な利点が存在する。
As shown in FIG. 4, in the
図5A及び5Bは、段差部41の形成方法を説明する図である。まず、第1の厚みを有する第1ブレード101Aが、既に述べた格子状の切断パターンに沿って、パッケージ基板4上にハーフカット溝G1,G2を形成する。すると、図5Aに示すように、パッケージ基板4上に複数のハーフカット溝G1,G2から構成される格子状の溝パターンが形成される。なお、図5Aに示す一点鎖線の外側の周縁部4Aは、フルカット後に半導体チップ等を含まず、半導体パッケージ40とはならない領域を示す。切断パラメータは、周縁部4Aが形成されるように適宜設定される。
5A and 5B are diagrams illustrating a method of forming the stepped
図5Bはハーフカット溝G1,G2の付近の断面模式図である。溝パターンの形成後、第2ブレード101Bが、位置P1においてパッケージ基板4をフルカットし、パッケージ基板4を個片化する。位置P1は、ハーフカット溝G1,G2の中心であることが好ましい。これにより、段差部41が形成された複数の半導体パッケージ40が製造される。なお、ハーフカット溝G1,G2の断面形状は、図5Bに示す形状に限定されない。
FIG. 5B is a schematic cross-sectional view of the vicinity of half-cut grooves G1 and G2. After forming the groove pattern, the
ハーフカットによりパッケージ基板4に溝パターンを形成する場合、なるべく均一な深さのハーフカット溝G1,G2がパッケージ基板4上に形成されることが重要であり、高い精度が求められる。しかしながら、ハーフカット溝G1,G2から構成される溝パターンを形成する間にも第1ブレード101Aの摩耗が進行するため、同一のパッケージ基板4においてもハーフカット溝G1,G2の深さがばらつくおそれがある。ここで、ハーフカット溝G1,G2の深さとは、パッケージ基板4の上面からハーフカット溝G1,G2の最下の位置までの長さをいうものとする。
When forming a groove pattern on the
切断装置1によれば、ハーフカットの間にも第1ブレード101Aの摩耗検出を行い、必要に応じて第1ブレード101Aの高さ調整の制御を行うため、ハーフカット溝G1,G2の深さのばらつきを一定の範囲内に抑えることができる。以下、切断装置1の動作について説明する。
According to the
<1-3.切断装置の動作>
図6は、切断装置1がパッケージ基板4に溝パターンを形成する際に行う、一連の切断動作の流れを示すフローチャートである。図6に示す切断動作は、例えば第1ブレード101Aがスピンドル部102に取り付けられたタイミングで開始する。
<1-3. Operation of Cutting Device>
FIG. 6 is a flow chart showing a series of cutting operations performed by the
ステップS1では、スピンドル部102、つまり第1ブレード101Aの高さ方向の基準高さが検出される。制御部500は、まずスピンドル部102を保持ユニット20に対して相対的に移動させ、CCSブロック300の上方に配置する。そして、図7に示すように、スピンドル部102の高さ方向の位置を徐々に下げ、第1ブレード101AをCCSブロック300の上面に接触させる。このとき、CCSブロック300の上面における接触箇所は、これまで第1ブレード101Aが接触したことがない箇所が選ばれる。第1ブレード101Aが接触したことがある箇所は、傷が付いて平坦ではない可能性があるためである。制御部500は、検出された基準高さの座標を、RAMまたは記憶部503に保存する。ステップS1は、本発明の「第1ブレードの基準高さを設定するステップ」の一例である。
In step S1, the reference height in the height direction of the
ステップS2では、入力部502を介して、ユーザから検出パラメータ及び切断パラメータが入力される。制御部500は、入力されたこれらのパラメータを、RAMまたは記憶部503に保存する。また、制御部500は、これらのパラメータに基づいて検出タイミングを割り出す。
In step S<b>2 , the user inputs detection parameters and cutting parameters via the
ステップS3では、切断装置1において、制御部500が切断ユニット10及び保持ユニット20の動作を制御し、切断パターンに従う溝パターンを形成するためのハーフカットが行われる。つまり、ステップS3では、切断装置1がパッケージ基板4を切断しながらパッケージ基板4に対して相対的に移動する第1ブレード101Aを用いて、パッケージ基板4にハーフカット溝G1またはG2を形成する。第1ブレード101Aによりハーフカット溝G1またはG2が1本形成されると、ステップS4が実行される。
In step S3, in the
ステップS4では、制御部500が、検出タイミングが到来したか否か、言い換えると、第1ブレード101Aがパッケージ基板4を切断した長さが検出パラメータとして予め定められた長さに達したか否かを判断する。制御部500が検出タイミングは未だ到来していないと判断する場合は、ステップS3に戻り、次のハーフカット溝G1またはG2が形成される。一方、制御部500が検出タイミングが到来したと判断する場合は、次のステップS5が実行される。
In step S4, the
ステップS5では、切断装置1において、ハーフカット(溝パターンを形成する工程)が中断される。具体的には、制御部500が、ハーフカットを中断するための信号を切断ユニット10及び保持ユニット20に送信し、切断ユニット10及び保持ユニット20をハーフカットの一時中断状態とする。
In step S5, half-cutting (the process of forming a groove pattern) in the
ステップS6では、制御部500が、検出ユニット30にスピンドル部102(第1ブレード101A)の高さを検出させる。制御部500は、ステップS1での制御と同様にして、第1ブレード101AをCCSブロック300の上面に接触させる。このとき、上述した理由により、CCSブロック300の上面における接触箇所は、これまで第1ブレード101Aが接触したことがない箇所が選ばれる。制御部500は、検出された高さの座標を、RAMまたは記憶部503に保存する。
In step S6, the
続くステップS7では、制御部500が、検出タイミングにおけるスピンドル部102(第1ブレード101A)の高さの座標と、ステップS1で検出された基準高さの座標とに基づいて、第1ブレード101Aの摩耗量である、検出された高さの基準高さからのずれ量を算出する。
In subsequent step S7, the
続くステップS8では、制御部500が、検出された高さが予め定められた要件を充足するか否か、つまり算出された第1ブレード101Aの摩耗量(高さのずれ量)が予め定められた閾値未満であるか否かを判断する。摩耗量が閾値以上であり、検出された高さが要件を充足しないと判断される場合は、次のステップS9が実行される。閾値は、同一のパッケージ基板4内において許容されるハーフカット溝G1,G2の深さのばらつきの範囲に基づいて適宜設定することができ、例えば10μmである。閾値は、予め記憶部503またはRAMに保存される。
In subsequent step S8, the
ステップS9では、制御部500が、摩耗量に応じてスピンドル部102(第1ブレード101A)の高さ方向の位置を補正する。つまり、制御部500が、スピンドル部102を、第1ブレード101Aの摩耗量の分だけ下方に移動させる。その後、ステップS10が実行される。
In step S9, the
一方、ステップS8において、検出された高さが予め定められた要件を充足する、つまり摩耗量が閾値未満であると判断される場合は、制御部500はスピンドル部102の高さ方向の位置の補正を行わない。制御部500は、ハーフカット(溝パターンを形成する工程)を再開するための信号を切断ユニット10及び保持ユニット20に送信し、切断ユニット10及び保持ユニット20の一時中断状態を解除する。そして、ステップS3に戻り、次のハーフカット溝G1またはG2が形成される。
On the other hand, if it is determined in step S8 that the detected height satisfies the predetermined requirement, that is, the amount of wear is less than the threshold value, the
ステップS10では、切断装置1において、ハーフカット(溝パターンを形成する工程)が再開される。具体的には、制御部500が、ハーフカットを再開するための信号を切断ユニット10及び保持ユニット20に送信し、切断ユニット10及び保持ユニット20の一時中断状態を解除する。
In step S10, the
ステップS11では、制御部500が、ハーフカットを終了するか否かを判断する。切断パラメータにより予定されていた溝パターンの形成が完了した場合、制御部500はハーフカットを終了すると判断し、切断装置1による切断操作が終了する。一方、溝パターンの形成が完了していない場合、制御部500はハーフカットを継続すると判断する。そして、再びステップS3が実行される。その場合は、ステップS11でハーフカットを終了すると制御部500により判断されるまで、すなわち切断パターンに従う溝パターンの形成が完了するまで、ステップS3~ステップS11が繰り返される。ステップS3~ステップS11は、本発明の「切断対象物を切断しながら切断対象物に対して相対的に移動する第1ブレードを用いて、切断対象物にハーフカット溝から構成される溝パターンを形成するステップ」の一例である。
In step S11, the
切断装置1は、図6に示す切断動作の終了後に、さらにフルカットを行うことができる。この場合、ブレード交換が行われ、スピンドル部102には第1ブレード101Aに代えて第2ブレード101Bが取り付けられる。そして、交換後の第2ブレード101Bによるフルカットが行われる。第2ブレード101Bは、形成された溝パターンに従って厚さ方向にパッケージ基板4を切断し、分離する。これにより、個片化された複数の半導体パッケージ40が得られる。このフルカット工程は、本発明の「第1ブレードよりも厚みが薄い第2ブレードを用いて、切断対象物に形成された溝パターンに沿って切断対象物を切断することにより、互いに分離した切断品を得るステップ」の一例である。フルカット終了後の半導体パッケージ40は、パッケージ基板4の周縁部4Aであった部分も含め、切断装置1が備える他のユニットに送られてもよい。
The
<1-4.特徴>
以上のように、第1実施形態に係る切断装置1では、第1ブレード101Aがパッケージ基板4に溝パターンを形成する途中、検出タイミングで第1ブレード101Aの摩耗量が検出され、必要に応じて第1ブレード101Aの高さ位置が補正される。これにより、第1ブレード101Aの摩耗量を適切に管理することができ、同一のパッケージ基板4に形成されるハーフカット溝G1,G2の深さのばらつきを抑えることができる。
<1-4. Features>
As described above, in the
切断装置1によれば、検出タイミングにおける第1ブレード101Aの摩耗検出が、CCSブロック300による接触式高さ検出を利用して行われる。これにより、第1ブレード101Aの摩耗量をより精度よく検出することができる。また、CCSブロック300がテーブル201の側方に取り付けられていることにより、効率的に摩耗検出を行うことができる。さらに、CCSブロック300の上面の高さとテーブル201の上面の高さとが一致するようにCCSブロック300が配置されていることにより、より高い精度で高さを検出することができる。
According to the
<2.第2実施形態>
上記第1実施形態に係る切断装置1は、検出部として、CCSブロック300、検出回路301及び検出装置302を含む検出ユニット30を備えていた。しかし、第2実施形態に係る切断装置1Aは、検出部として発光部303及び受光部304を含む検出ユニット31を備える点で、第1実施形態と相違する。すなわち、第1ブレード101Aの摩耗が、切断装置1では接触子を用いた接触方式で検出されたが、切断装置1Aでは第1ブレード101Aを接触子に接触させない非接触方式で第1ブレード101Aの摩耗が検出される。以下、切断装置1Aの構成について説明するが、切断装置1と共通の構成については同一の符号を付して説明を省略する。
<2. Second Embodiment>
The
<2-1.構成>
図7に示すように、切断装置1Aにおいては、発光部303及び受光部304がX軸方向に間隔を空けて、互いに向かい合うようにそれぞれ取り付けられている。発光部303及び受光部304の間の間隔は、第1ブレード101Aが通過できる程度の間隔である。発光部303は、受光部304に向かって光を発するように構成され、受光部304には発光部303が発した光線が到達する。
<2-1. Configuration>
As shown in FIG. 7, in the
発光部303は、発光素子を含む。発光素子の例としては、ファイバセンサの投光側ファイバやLED等が挙げられる。発光素子は、後述する受光部304の受光素子と向かい合うように配置され、X軸と実質的に平行な光線を発する。
受光部304は、受光素子を含む。受光素子の例としては、ファイバセンサの受光側ファイバやLEDが発した光を受光する受光素子等が挙げられる。受光素子は、発光部303の発光素子と向かい合い、かつ発光素子とZ軸方向の位置が一致するように配置される。発光素子と受光素子との間が物体によって遮られていない状態において、受光素子には、発光素子が発した光線が到達する。受光素子は、自身に到達する光線の変化を電気信号に変換するように構成される。
The
発光素子と受光素子との間に物体が存在すると、発光素子が発した光線は、物体によって遮断され、受光素子には到達しないか殆ど到達しなくなる。これにより、受光素子の発する電気信号が変化し、光線のZ軸方向の位置に物体が存在することが検出される。物体が第1ブレード101Aであるとき、検出ユニット31は、受光部304に到達する光線の変化を検出することにより、第1ブレード101Aの縁端が光線のZ軸方向の位置に存在することを検出する。検出ユニット31による光線の変化の検出状態は、制御部500に通知される。制御部500は、第1実施形態と同様、ある高さ方向の座標を始点として、スピンドル部102を徐々に発光部303及び受光部304の間の光線に向かって近づける。制御部500は、検出ユニット31からの通知に基づき、第1ブレード101Aによる光線の遮断が検出されたときのスピンドル部102の高さ方向の座標を終点と認識する。これにより、始点におけるスピンドル部102の、ひいては第1ブレード101Aの高さが検出される。
If an object exists between the light-emitting element and the light-receiving element, the light beam emitted by the light-emitting element is blocked by the object and does not or hardly reaches the light-receiving element. As a result, the electrical signal emitted by the light-receiving element changes, and the existence of an object at the position of the light beam in the Z-axis direction is detected. When the object is the
発光部303が発する光線の高さは、予め記憶部503またはRAMに記憶される。
The height of the light beam emitted by the
制御部500は、検出タイミングにおいて、第1ブレード101AがX軸方向において発光部303と受光部304との間に存在する状態で、第1ブレード101Aを徐々に下方に移動させる。第1ブレード101Aの縁端によって発光部303が発する光線が遮断されると、受光部304がこれを検出する。制御部500は、検出ユニット31からの通知に基づき、スピンドル部102(第1ブレード101A)の高さを導出する。制御部500は、第1ブレード101Aがハーフカットを行う前に検出されたスピンドル部102の基準高さと、検出タイミングにおいて検出されたスピンドル部102の高さとに基づいて、第1ブレード101Aの摩耗量を算出する。その後、制御部500は、切断装置1と同様に、必要な場合はスピンドル部102の高さ位置を補正する。
At the detection timing, the
なお、切断装置1Aにおいて、ハーフカットの開始前に検出されるスピンドル部102の基準高さは、検出ユニット30により検出されてもよい。つまり、切断装置1Aは、検出ユニット30に加えて検出ユニット31を備えていてもよい。また、切断装置1Aにおいて、ハーフカットの開始前に検出されるスピンドル部102の基準高さは、検出ユニット31により検出されてもよい。つまり、切断装置1Aは、検出ユニット30に代えて検出ユニット31を備えていてもよい。
In the
<2-2.特徴>
切断装置1Aによれば、検出タイミングにおける第1ブレード101Aの摩耗検出が、第1ブレード101Aを接触子に接触させない非接触方式により行われる。これにより、第1ブレード101Aに負担をかけることなく第1ブレード101Aの摩耗状態が管理され、ハーフカット溝G1,G2の深さのばらつきが低減される。
<2-2. Features>
According to the
<3.変形例>
以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、その趣旨を逸脱しない限りにおいて、種々の変更が可能である。例えば、以下の変更が可能である。また、以下の変形例の要旨は、適宜組み合わせることができる。
<3. Variation>
Although one embodiment of the present invention has been described above, the present invention is not limited to the above-described embodiment, and various modifications are possible without departing from the scope of the invention. For example, the following changes are possible. Also, the gist of the following modified examples can be combined as appropriate.
<3-1>
検出ユニット30の構成は、上記実施形態の構成に限定されず、適宜変更することができる。例えば、テーブル201自体が接触子として構成されてもよい。また、接触子としてのCCSブロック300を配置する位置は、上記実施形態に限られず、例えばテーブル201と離れていてもよく、適宜変更することができる。また、切断装置が備えるCCSブロック300の数も特に限定されない。また、検出回路301の構成も適宜変更されてよい。
<3-1>
The configuration of the
<3-2>
切断パラメータは、上記実施形態で例示したパラメータに限定されず、切断パターンを指定可能なパラメータであれば、どのような種類のパラメータを用いてもよい。また、パッケージ基板4の種類と切断パターンとが対応している場合は、この対応関係を示す対応関係データを予め制御ユニット50に記憶させておくこともできる。この場合、ユーザがパッケージ基板4の種類を入力すると、制御部500が対応関係データから該当の切断パラメータを呼び出し、これに基づいて制御を行うように構成されてもよい。
<3-2>
The cutting parameters are not limited to the parameters exemplified in the above embodiments, and any type of parameters may be used as long as they can specify a cutting pattern. Further, when the type of the
<3-3>
検出タイミングは、制御部500によって予め割り出されていなくてもよい。制御部500は、ハーフカットの最中、スピンドル部102及びテーブル201の移動回数、及びテーブル201の回転回数等に基づいて第1ブレード101Aがハーフカットを施した長さをモニタリングし、この長さと検出パラメータとに応じ、検出タイミングを適時に決定してもよい。
<3-3>
The detection timing does not have to be calculated in advance by the
<3-4>
発光部303及び受光部304による光線の検出方法は、適宜変更することができる。例えば、発光部303及び受光部304は、発光素子と受光素子とがともにX軸方向に向くように、X軸方向において同じ位置に設置されてもよい。この場合、例えば発光部303により発せられた後に第1ブレード101Aによって反射され、受光部304に到達する光線を受光部304が検出することにより、第1ブレード101Aの摩耗が検出されてもよい。また例えば、発光部303が発した光線を受光部304に向かって反射する反射体が切断装置1A内の適当な位置に設けられ、受光部304に到達する反射光が第1ブレード101Aにより遮断されたことを検出するようにしてもよい。
<3-4>
The method of detecting light rays by the
<3-5>
ステップS1及びステップS2が実行される順序は、逆であってもよい。つまり、検出パラメータが入力された後に、スピンドル部102の基準高さの検出が行われてもよい。
<3-5>
The order in which steps S1 and S2 are performed may be reversed. That is, the detection of the reference height of the
<3-6>
切断ユニット10及び保持ユニット20の動作は、上記実施形態において例示された動作に限定されない。例えば、テーブル201が可能な動作は回転動作のみとし、スピンドル部102をY軸方向に移動させることによって、パッケージ基板4の切断が行なわれてもよい。すなわち、テーブル201とブレード101とを相対的に移動させることにより、パッケージ基板4の切断が行われればよい。
<3-6>
Operations of the cutting
<3-7>
上記実施形態では、切断対象物はパッケージ基板4、切断品は半導体パッケージ40としてそれぞれ例示された。しかしながら、切断対象物及び切断品の例はこれに限られない。
<3-7>
In the above embodiments, the
<3-8>
上記実施形態では、ハーフカットの終了後、第1ブレード101Aが第2ブレード101Bに交換された。しかし、切断装置1及び1Aがスピンドル部102を2つ以上備える場合は、予め別のスピンドル部102に第2ブレード101Bを取り付けておき、ブレード101の交換を行うことなくフルカットを行ってもよい。また、ハーフカットの終了後であって、フルカットが開始される前のタイミングでは、例えばメッキ処理等、切断とは別のパッケージ基板4に対する処理が行われてもよい。
<3-8>
In the above embodiment, the
<3-9>
上記実施形態では、本発明における「溝パターンを形成する工程」とは、例えば、上述したステップS3~S11の間を意味する。この場合「溝パターンを形成する工程」とは、フルカットが行われる前に予定している全てのハーフカットが行われる工程の間を意味する。ただし、切断装置1及び1Aは、1本のハーフカット溝G1またはG2が形成されている途中に第1ブレード101Aの高さ検出を行うように構成されてもよい。この場合、「溝パターンを形成する工程」とは、1本のハーフカット溝G1またはG2が形成されている間を意味する。
<3-9>
In the above embodiment, the "step of forming a groove pattern" in the present invention means, for example, steps S3 to S11 described above. In this case, "the step of forming a groove pattern" means a period between steps in which all half-cuts scheduled before full-cutting are performed. However, the
切断装置1及び1Aは、ハーフカットのみを行うハーフカット専用装置として構成されてもよい。この場合、切断装置1及び1Aのブレード交換は省略することができる。そして、第2ブレード101Bを用いたフルカットは、別の装置を用いて行われてもよい。すなわち、本発明の「第1ブレードよりも厚みが薄い第2ブレードを用いて、切断対象物に形成された溝パターンに沿って切断対象物を切断することにより、互いに分離した切断品を得るステップ」は、切断装置1及び1Aとは別の装置により行われてもよい。
The
以上、本発明のいくつかの実施形態について例示的に説明した。すなわち、例示的な説明のために、詳細な説明及び添付の図面が開示された。よって、詳細な説明及び添付の図面に記載された構成要素の中には、課題解決のために必須でない構成要素が含まれることがある。従って、それらの必須でない構成要素が詳細な説明及び添付の図面に記載されているからといって、それらの必須でない構成要素が必須であると直ちに認定されるべきではない。 A number of embodiments of the invention have been illustratively described above. Accordingly, the detailed description and accompanying drawings have been disclosed for the purpose of illustrative description. Therefore, the components described in the detailed description and the attached drawings may include components that are not essential for solving the problem. Therefore, the inclusion of such non-essential elements in the detailed description and accompanying drawings should not be construed as immediately identifying them as essential.
1 切断装置
1A 切断装置
4 パッケージ基板
10 切断ユニット
20 保持ユニット
30 検出ユニット
40 半導体パッケージ
50 制御ユニット
101 ブレード
101A 第1ブレード
102B 第2ブレード
201 テーブル
300 CCSブロック
301 検出装置
302 検出回路
303 発光部
304 受光部
500 制御部
G1,G2 ハーフカット溝
1 cutting
Claims (6)
前記切断対象物を保持するテーブルと、
前記切断対象物を切断しながら前記テーブルに対して相対的に移動することにより、ハーフカット溝により構成される溝パターンを前記切断対象物に形成するブレードが取り付けられるスピンドル部と、
前記ブレードの高さを検出する検出部と、
前記ブレードの前記高さ方向の位置を制御する制御部と
を備え、
前記制御部は、前記ブレードが1つの前記切断対象物に前記溝パターンを形成する工程の間、前記ブレードが前記切断対象物を切断した長さに応じて前記検出部に前記ブレードの前記高さを検出させ、前記検出された高さが予め定められた要件を充足していない場合に、前記ブレードの前記高さ方向の位置を補正し、
前記検出部は、導電性を有する接触子と、前記接触子に前記ブレードを接触させると通電するように構成される検出回路とを有し、
前記検出部は、前記検出回路の通電を検出することにより、前記ブレードの高さを検出するように構成される、
切断装置。 A cutting device configured to form half-cut grooves in an object to be cut by cutting the object in the thickness direction,
a table holding the object to be cut;
a spindle unit to which a blade is mounted that forms a groove pattern composed of half-cut grooves in the object to be cut by moving relative to the table while cutting the object to be cut;
a detection unit that detects the height of the blade;
A control unit that controls the position of the blade in the height direction,
During the step of forming the groove pattern in one of the cutting objects, the control unit causes the detection unit to detect the height of the blade according to the length of the cutting object cut by the blade. and correcting the position of the blade in the height direction when the detected height does not satisfy a predetermined requirement ;
The detection unit has a contact having conductivity and a detection circuit configured to be energized when the blade is brought into contact with the contact,
The detection unit is configured to detect the height of the blade by detecting energization of the detection circuit.
cutting device.
請求項1に記載の切断装置。 The contact is arranged on the side of the table,
2. A cutting device according to claim 1 .
前記切断対象物を保持するテーブルと、
前記切断対象物を切断しながら前記テーブルに対して相対的に移動することにより、ハーフカット溝により構成される溝パターンを前記切断対象物に形成するブレードが取り付けられるスピンドル部と、
前記ブレードの高さを検出する検出部と、
前記ブレードの前記高さ方向の位置を制御する制御部と
を備え、
前記制御部は、前記ブレードが1つの前記切断対象物に前記溝パターンを形成する工程の間、前記ブレードが前記切断対象物を切断した長さに応じて前記検出部に前記ブレードの前記高さを検出させ、前記検出された高さが予め定められた要件を充足していない場合に、前記ブレードの前記高さ方向の位置を補正し、
前記検出部は、光線を発する発光部と、前記発光部により発せられた光線が到達する受光部とを有し、
前記検出部は、前記ブレードによる前記光線の遮断または前記ブレードによる前記光線の反射によって前記受光部に到達する光線の変化を検出することにより、前記ブレードの高さを検出するように構成される、
切断装置。 A cutting device configured to form half-cut grooves in an object to be cut by cutting the object in the thickness direction,
a table holding the object to be cut;
a spindle unit to which a blade is mounted that forms a groove pattern composed of half-cut grooves in the object to be cut by moving relative to the table while cutting the object to be cut;
a detection unit that detects the height of the blade;
a control unit that controls the position of the blade in the height direction;
with
During the step of forming the groove pattern in one of the cutting objects, the control unit causes the detection unit to detect the height of the blade according to the length of the cutting object cut by the blade. and correcting the position of the blade in the height direction when the detected height does not satisfy a predetermined requirement;
The detection unit has a light emitting unit that emits a light beam and a light receiving unit that the light beam emitted by the light emitting unit reaches,
The detection unit is configured to detect the height of the blade by detecting a change in the light beam reaching the light receiving unit due to blocking of the light beam by the blade or reflection of the light beam by the blade.
cutting device.
前記切断対象物を切断しながら前記切断対象物に対して相対的に移動する第1ブレードを用いて、前記切断対象物にハーフカット溝から構成される溝パターンを形成するステップと、
前記第1ブレードよりも厚みが薄い第2ブレードを用いて、前記切断対象物に形成された前記溝パターンに沿って前記切断対象物を切断することにより、互いに分離した切断品を得るステップと、
を含み、
前記溝パターンを形成するステップは、
前記第1ブレードが前記切断対象物を切断した長さに応じて前記第1ブレードの前記高さを検出するステップと、
前記検出された高さが予め定められた要件を充足していない場合に、前記第1ブレードの前記高さ方向の位置を補正するステップとを含み、
前記高さを検出するステップは、前記第1ブレードが前記切断対象物を切断した長さが、予め定められた長さに達すると行われる、
製造方法。 A manufacturing method for manufacturing a cut product by cutting an object to be cut in the thickness direction,
forming a groove pattern composed of half-cut grooves in the object to be cut using a first blade that moves relatively to the object to be cut while cutting the object to be cut;
obtaining cut products separated from each other by cutting the object to be cut along the groove pattern formed in the object using a second blade that is thinner than the first blade;
including
Forming the groove pattern includes:
detecting the height of the first blade according to the length of the cutting object cut by the first blade;
correcting the height direction position of the first blade when the detected height does not satisfy a predetermined requirement ;
The step of detecting the height is performed when the length of the cutting object cut by the first blade reaches a predetermined length.
Production method.
請求項4に記載の製造方法。 The predetermined requirement is that the amount of deviation of the detected height from the reference height is less than a predetermined threshold,
The manufacturing method according to claim 4 .
をさらに含み、
前記基準高さを設定するステップは、前記溝パターンを形成するステップよりも前に実行される、
請求項5に記載の製造方法。
further comprising setting the reference height of the first blade;
The step of setting the reference height is performed before the step of forming the groove pattern,
The manufacturing method according to claim 5 .
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