JP7145795B2 - 導体の検査装置及びその検査方法 - Google Patents
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Description
以下、本発明の実施形態を添付図面に基づいて説明する。図1は本発明の第1実施形態に係る導体の検査装置10A(以下、単に「検査装置10A」という)の構成図である。
次に図7から図10を参照して本発明における第2実施形態について説明する。図7は、第2実施形態に係る導体の検査装置10B(以下、単に「検査装置10B」という)の構成図である。なお、図7において図1と共通の構成又は機能を有する部分は、同一符号で示し、重複する説明を省略する。
Claims (8)
- パルス信号を発生させる発生器と、
導体の検査対象の一端に接続し前記パルス信号を伝搬させる接続部と、
前記発生器から前記パルス信号を入力するとともに前記検査対象に対する出力インピーダンスを調整する調整回路と、
前記接続部と前記調整回路との連結経路の途中から延びる分岐経路に接続し前記パルス信号を受信する受信器と、
前記パルス信号の受信強度及び検出時間を出力する波形処理部と、
前記受信強度に基づいて前記調整回路を第1設定から第2設定に操作し、前記出力インピーダンスを変更する設定操作部と、を備える導体の検査装置において、
前記調整回路から前記受信器に直接入射する前記パルス信号に着目し、
前記設定操作部は、前記第1設定で示す第1受信強度に対し、前記第2設定において第2受信強度の比率が予定値となるように前記調整回路を操作する導体の検査装置。 - パルス信号を発生させる発生器と、
導体の検査対象の一端に接続し前記パルス信号を伝搬させる接続部と、
前記発生器から前記パルス信号を入力するとともに前記検査対象に対する出力インピーダンスを調整する調整回路と、
前記接続部と前記調整回路との連結経路の途中から延びる分岐経路に接続し前記パルス信号を受信する受信器と、
前記パルス信号の受信強度及び検出時間を出力する波形処理部と、
前記受信強度に基づいて前記調整回路を第1設定から第2設定に操作し、前記出力インピーダンスを変更する設定操作部と、を備える導体の検査装置において、
前記設定操作部は、前記調整回路から直接入射する前記パルス信号の受信強度と前記検査対象の他端で反射する前記パルス信号の受信強度との比率が予定値をとるように前記調整回路を操作する導体の検査装置。 - 請求項1又は請求項2に記載の導体の検査装置において、
前記調整回路から直接入射する前記パルス信号の前記検出時間と前記検査対象の他端で反射する前記パルス信号の前記検出時間との時間差を検出する検出部を備える導体の検査装置。 - 請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の導体の検査装置において、
前記予定値をとるように操作した前記調整回路の設定状態を物理換算量にする換算部を備える導体の検査装置。 - 請求項3に記載の導体の検査装置において、
前記時間差の時系列に基づいて、前記検査対象の健全性を評価する評価部を備える導体の検査装置。 - 請求項4に記載の導体の検査装置において、
前記物理換算量の時系列に基づいて、前記検査対象の健全性を評価する評価部を備える導体の検査装置。 - パルス信号を発生させる発生器と、
導体の検査対象の一端に接続し前記パルス信号を伝搬させる接続部と、
前記発生器から前記パルス信号を入力するとともに前記検査対象に対する出力インピーダンスを調整する調整回路と、
前記接続部と前記調整回路との連結経路の途中から延びる分岐経路に接続し前記パルス信号を受信する受信器と、
前記パルス信号の受信強度及び検出時間を出力する波形処理部と、を備える導体の検査装置を用い、
前記受信強度に基づいて前記調整回路を第1設定から第2設定に操作し、前記出力インピーダンスを変更する導体の検査方法において、
前記調整回路から前記受信器に直接入射する前記パルス信号に着目し、
前記第1設定で示す第1受信強度に対し、前記第2設定において第2受信強度の比率が予定値となるように前記調整回路を操作する導体の検査方法。 - パルス信号を発生させる発生器と、
導体の検査対象の一端に接続し前記パルス信号を伝搬させる接続部と、
前記発生器から前記パルス信号を入力するとともに前記検査対象に対する出力インピーダンスを調整する調整回路と、
前記接続部と前記調整回路との連結経路の途中から延びる分岐経路に接続し前記パルス信号を受信する受信器と、
前記パルス信号の受信強度及び検出時間を出力する波形処理部と、を備える導体の検査装置を用い、
前記受信強度に基づいて前記調整回路を第1設定から第2設定に操作し、前記出力インピーダンスを変更する導体の検査方法において、
前記調整回路から直接入射する前記パルス信号の受信強度と前記検査対象の他端で反射する前記パルス信号の受信強度との比率が予定値をとるように前記調整回路を操作する導体の検査方法。
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JP2019048504A JP7145795B2 (ja) | 2019-03-15 | 2019-03-15 | 導体の検査装置及びその検査方法 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Citations (2)
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JP2009294101A (ja) | 2008-06-05 | 2009-12-17 | Mitsubishi Electric Corp | プリント基板検査装置およびプリント基板検査方法 |
JP2018031718A (ja) | 2016-08-26 | 2018-03-01 | 関西電力株式会社 | 架空配電系統探査システムおよび架空配電系統探査方法 |
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JPH01152376A (ja) * | 1987-12-09 | 1989-06-14 | Hitachi Ltd | ケーブル劣化診断システム |
JPH0333665A (ja) * | 1989-06-30 | 1991-02-13 | Mitsubishi Electric Corp | プリント配線板の導体欠陥検査装置 |
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