JP7081176B2 - 電子機器システム、運用系/待機系切換方法及びプログラム - Google Patents
電子機器システム、運用系/待機系切換方法及びプログラム Download PDFInfo
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Description
20A、20B 主回路構成部
21A、21B HDD
22A、22B メモリ
23A、23B コンデンサ
30A、30B 経年劣化検出部
40A、40B 記憶部
50A、50B 判定部
60 運用/待機セレクタ
70A、70B ROM
80A、80B 制御部
100 電子機器システム
Claims (5)
- 冗長構成を有するN(Nは2以上の整数)個の電子機器のうちの少なくとも1つの電子機器を運用系、他の電子機器を待機系として動作する電子機器システムであって、
前記N個の電子機器各々の経年劣化度を検出する経年劣化検出部と、
前記経年劣化検出部にて検出された前記N個の電子機器に対応したN個の前記経年劣化度を記憶する記憶部と、
前記記憶部に記憶されている前記N個の前記経年劣化度のうちで最大の経年劣化度と最小の経年劣化度との差が所定の閾値より大であるか否かを判定し、前記差が前記閾値より大であると判定した場合に、前記最小の経年劣化度に対応した前記電子機器を前記運用系に切り換えると共に、前記最大の経年劣化度に対応した前記電子機器を前記待機系に切り換える切換制御部と、
前記N個の電子機器の内部の温度を検出する温度センサと、を含み、
前記経年劣化検出部は、前記N個の電子機器の累積通電時間を計測し、計測した前記累積通電時間に、前記温度に基づく重み付けを施して得られた時間を前記経年劣化度として算出することを特徴とする電子機器システム。 - 前記N個の電子機器に含まれる部品のデータレートを検出するデータレート検出部を含み、
前記経年劣化検出部は、前記データレート検出部で検出された前記データレートに基づく重み付けを前記累積通電時間に施すことを特徴とする請求項1に記載の電子機器システム。 - 冗長構成を有する第1及び第2の電子機器のうちの一方を運用系、他方を待機系として動作する電子機器システムであって、
前記第1及び第2の電子機器の各々は、
自機の経年劣化度を検出する経年劣化検出部と、
前記経年劣化検出部で検出された前記経年劣化度を表す自機経年劣化情報を記憶すると共に、前記経年劣化度を前記第1及び第2の電子機器のうちの他機に送信し、前記他機から送信された経年劣化度を受信した場合には受信した前記経年劣化度を表す他機経年劣化情報を記憶する記憶部と、
前記自機経年劣化情報にて表される前記経年劣化度と前記他機経年劣化情報にて表される前記経年劣化度との差が所定の閾値より大であるか否かを判定し、前記差が前記閾値より大であると判定した場合に、前記第1及び第2の電子機器のうちの前記他方を運用系、前記一方を待機系に切り換える切換制御部と、
前記第1及び第2の電子機器の内部の温度を検出する温度センサと、を含み、
前記経年劣化検出部は、前記第1及び第2の電子機器の累積通電時間を計測し、計測した前記累積通電時間に、前記温度に基づく重み付けを施して得られた時間を前記経年劣化度として算出することを特徴とする電子機器システム。 - 冗長構成を有するN(Nは2以上の整数)個の電子機器のうちの少なくとも1つの電子機器を運用系、他の電子機器を待機系として動作する電子機器システムにおける運用系/待機系切換方法であって、
前記N個の電子機器の累積通電時間を計測し、
計測した前記累積通電時間に、前記N個の電子機器の内部の温度に基づく重み付けを施して得られた時間を、前記N個の電子機器各々の経年劣化の度合いを表す経年劣化度として検出し、
検出された前記N個の電子機器に対応したN個の前記経年劣化度のうちで最大の経年劣化度と最小の経年劣化度との差が所定の閾値より大であるか否かを判定し、
前記差が前記閾値より大であると判定された場合に、前記最小の経年劣化度に対応した前記電子機器を前記運用系に切り換えると共に、前記最大の経年劣化度に対応した前記電子機器を前記待機系に切り換えることを特徴とする運用系/待機系切換方法。 - 冗長構成を有するN(Nは2以上の整数)個の電子機器のうちの少なくとも1つの電子機器を運用系、他の電子機器を待機系として動作する電子機器システムに含まれる制御部が実行するプログラムであって、
前記N個の電子機器の累積通電時間を計測するステップと、
計測した前記累積通電時間に、前記N個の電子機器の内部の温度に基づく重み付けを施して得られた時間を、前記N個の電子機器各々の経年劣化の度合いを表す経年劣化度として検出するステップと、
検出された前記N個の電子機器に対応したN個の前記経年劣化度のうちで最大の経年劣化度と最小の経年劣化度との差が所定の閾値より大であるか否かを判定するステップと、
前記差が前記閾値より大であると判定された場合に、前記最小の経年劣化度に対応した前記電子機器を前記運用系に切り換えると共に、前記最大の経年劣化度に対応した前記電子機器を前記待機系に切り換えるステップと、を実行させることを特徴とするプログラム。
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