JP7081176B2 - 電子機器システム、運用系／待機系切換方法及びプログラム - Google Patents

Description

本発明は、電子機器システム、特に冗長構成を有する複数の電子機器を含む電子機器システム、当該電子機器システムにおける運用系／待機系切換方法、及びプログラムに関する。

電子機器の耐障害性を高めるために、同一の構成を有する複数の電子機器を設け、これら電子機器のうちの１つを実際に用いる運用系、他の電子機器を待機系として運用する多重構成制御装置が提案されている（特許文献１参照）。

当該多重構成制御装置では、全ての「系」が同時に故障となる状況を回避するために、各「系」毎に累積使用時間を計測し、「系」同士の累積使用時間の差が所定の一定時間以上となるように、各電子機器に対する運用系及び待機系の割り当てを切り換えている。

特開２００９－２００８５４号公報

上記した多重構成制御装置によれば、全ての「系」が同時に故障となる状況を回避できるが、運用系に割り当てられる頻度が高い電子機器については、累積使用時間が突出して長くなる虞があり、経年劣化によって故障に到るまでの期間が短くなる。

そこで、本発明は、冗長構成を有する複数の電子機器を含む電子機器システムの経年劣化に伴う寿命低下を抑制することが可能な電子機器システム、運用系／待機系切換方法、及びプログラムを提供することを目的とする。

本発明に係る電子機器システムは、冗長構成を有するＮ（Ｎは２以上の整数）個の電子機器のうちの少なくとも１つの電子機器を運用系、他の電子機器を待機系として動作する電子機器システムであって、前記Ｎ個の電子機器各々の経年劣化度を検出する経年劣化検出部と、前記経年劣化検出部にて検出された前記Ｎ個の電子機器に対応したＮ個の前記経年劣化度を記憶する記憶部と、前記記憶部に記憶されている前記Ｎ個の前記経年劣化度のうちで最大の経年劣化度と最小の経年劣化度との差が所定の閾値より大であるか否かを判定し、前記差が前記閾値より大であると判定した場合に、前記最小の経年劣化度に対応した前記電子機器を前記運用系に切り換えると共に、前記最大の経年劣化度に対応した前記電子機器を前記待機系に切り換える切換制御部と、前記Ｎ個の電子機器の内部の温度を検出する温度センサと、を含み、前記経年劣化検出部は、前記Ｎ個の電子機器の累積通電時間を計測し、計測した前記累積通電時間に、前記温度に基づく重み付けを施して得られた時間を前記経年劣化度として算出することを特徴とする。

また、本発明に係る電子機器システムは、冗長構成を有する第１及び第２の電子機器のうちの一方を運用系、他方を待機系として動作する電子機器システムであって、前記第１及び第２の電子機器の各々は、自機の経年劣化度を検出する経年劣化検出部と、前記経年劣化検出部で検出された前記経年劣化度を表す自機経年劣化情報を記憶すると共に、前記経年劣化度を前記第１及び第２の電子機器のうちの他機に送信し、前記他機から送信された経年劣化度を受信した場合には受信した前記経年劣化度を表す他機経年劣化情報を記憶する記憶部と、前記自機経年劣化情報にて表される前記経年劣化度と前記他機経年劣化情報にて表される前記経年劣化度との差が所定の閾値より大であるか否かを判定し、前記差が前記閾値より大であると判定した場合に、前記第１及び第２の電子機器のうちの前記他方を運用系、前記一方を待機系に切り換える切換制御部と、前記第１及び第２の電子機器の内部の温度を検出する温度センサと、を含み、前記経年劣化検出部は、前記第１及び第２の電子機器の累積通電時間を計測し、計測した前記累積通電時間に、前記温度に基づく重み付けを施して得られた時間を前記経年劣化度として算出することを特徴とする。

本発明に係る電子機器の運用系／待機系切換方法は、冗長構成を有するＮ（Ｎは２以上の整数）個の電子機器のうちの少なくとも１つの電子機器を運用系、他の電子機器を待機系として動作する電子機器システムにおける運用系／待機系切換方法であって、前記Ｎ個の電子機器の累積通電時間を計測し、計測した前記累積通電時間に、前記Ｎ個の電子機器の内部の温度に基づく重み付けを施して得られた時間を、前記Ｎ個の電子機器各々の経年劣化の度合いを表す経年劣化度として検出し、検出された前記Ｎ個の電子機器に対応したＮ個の前記経年劣化度のうちで最大の経年劣化度と最小の経年劣化度との差が所定の閾値より大であるか否かを判定し、前記差が前記閾値より大であると判定された場合に、前記最小の経年劣化度に対応した前記電子機器を前記運用系に切り換えると共に、前記最大の経年劣化度に対応した前記電子機器を前記待機系に切り換える。

本発明に係るプログラムは、冗長構成を有するＮ（Ｎは２以上の整数）個の電子機器のうちの少なくとも１つの電子機器を運用系、他の電子機器を待機系として動作する電子機器システムに含まれる制御部が実行するプログラムであって、前記Ｎ個の電子機器の累積通電時間を計測するステップと、計測した前記累積通電時間に、前記Ｎ個の電子機器の内部の温度に基づく重み付けを施して得られた時間を、前記Ｎ個の電子機器各々の経年劣化の度合いを表す経年劣化度として検出するステップと、検出された前記Ｎ個の電子機器に対応したＮ個の前記経年劣化度のうちで最大の経年劣化度と最小の経年劣化度との差が所定の閾値より大であるか否かを判定するステップと、前記差が前記閾値より大であると判定された場合に、前記最小の経年劣化度に対応した前記電子機器を前記運用系に切り換えると共に、前記最大の経年劣化度に対応した前記電子機器を前記待機系に切り換えるステップと、を実行させる。

本発明では、冗長構成を有する複数の電子機器のうちの少なくとも１つの電子機器を運用系、他の電子機器を待機系として動作させるにあたり、これら電子機器各々の経年劣化度を個別に検出する。そして、検出した電子機器毎の経年劣化度のうちで最大の経年劣化度と、最小の経年劣化度との差が所定の閾値より大である場合に、最小の経年劣化度に対応した電子機器を運用系に切り換え、最大の経年劣化度に対応した電子機器を待機系に切り換える。これにより、複数の電子機器の経年劣化度を均一化することができるので、経年劣化に伴う寿命低下を抑制することが可能となる。

本発明に係る電子機器システム１００の構成を示すブロック図である。 電子機器システム１００の他の構成を示すブロック図である。 運用系／待機系切換処理の手順を示すフローチャートである。 運用系／待機系切換処理の手順を示すフローチャートである。

図１は、本発明に係る電子機器システム１００の構成を示すブロック図である。通信システム１００は、冗長構成を有する電子機器１０Ａ及び１０Ｂと、運用／待機セレクタ６０と、を含む。通信システム１００では、電子機器１０Ａ及び１０Ｂのうちの一方が運用系、他方が待機系として動作する。尚、運用／待機セレクタ６０については、これを電子機器１０Ａ及び１０Ｂ各々の内部に組み込み、電子機器１０Ａ及び１０Ｂ間で連動して動作させるようにしても良い。

電子機器１０Ａ（１０Ｂ）は、主回路構成部２０Ａ（２０Ｂ）、経年劣化検出部３０Ａ（３０Ｂ）、データレート検出器３１Ａ（３１Ｂ）、温度センサ３２Ａ（３２Ｂ）、記憶部４０Ａ（４０Ｂ）、及び判定部５０Ａ（５０Ｂ）を含む。

尚、電子機器１０Ａ及び１０Ｂは互いに同一の内部構成を有するので、以下に、電子機器１０Ａを抜粋してその内部構成について説明する。

主回路構成部２０Ａは、電子機器１０Ａとしての機能を実現する各種のアナログ回路又はディジタル回路が形成されている。更に、主回路構成部２０Ａは、外部からの信号を受ける少なくとも１つの入力端子、及び生成した信号を外部に出力する少なくとも１つの出力端子を備える。これら入力端子及び出力端子は、ライン群Ｌａを介して運用／待機セレクタ６０に接続されている。尚、電子機器１０Ｂの主回路構成部２０Ｂに含まれる入力端子及び出力端子は、ライン群Ｌｂを介して運用／待機セレクタ６０に接続されている。

主回路構成部２０Ａは、例えばハードディスク装置（以下、ＨＤＤと称する）２１Ａ、メモリ２２Ａ、コンデンサ２３Ａ等の有寿命の回路部品を含む。

データレート検出器３１Ａは、ＨＤＤ２１Ａから読み出されたデータ、及びＨＤＤ２１Ａに書き込まれたデータのデータレートを検出し、当該データレートを表すデータレート信号Ｒｔを経年劣化検出部３０Ａに供給する。また、データレート検出器３１Ａは、メモリ２２Ａから読み出されたデータ、及びメモリ２２Ａに書き込まれたデータのデータレートを検出し、当該データレートを表すデータレート信号Ｍｔを経年劣化検出部３０Ａに供給する。

温度センサ３２Ａは、電子機器１０Ａ内の温度、特に主回路構成部２０Ａの周囲の温度を検出し、検出した温度を表す温度信号Ｔｅを経年劣化検出部３０Ａに供給する。

経年劣化検出部３０Ａは、主回路構成部２０Ａに含まれる回路部品毎に、その回路部品の経年劣化度を検出する。つまり、経年劣化検出部３０Ａは、回路部品毎に累積通電時間を計測し、この累積通電時間に、当該回路部品の使用負荷となるパラメータに基づく重みを付与した時間を経年劣化度として得る。経年劣化検出部３０Ａは、回路部品毎に検出した経年劣化度を、電子機器１０Ａの経年劣化度合を表す自機経年劣化情報として記憶部４０Ａに記憶させる。

すなわち、先ず、経年劣化検出部３０Ａは、回路部品としてのＨＤＤ２１Ａ、メモリ２２Ａ、及びコンデンサ２３Ａの各々毎に、使用負荷となるパラメータに基づく重み係数を所定の監視周期毎に設定する。尚、監視周期は、ＨＤＤ２１Ａ、メモリ２２Ａ、及びコンデンサ２３Ａの各々に個別に割り当てられる。例えば、ＨＤＤ２１Ａ、及びメモリ２２Ａには監視周期として１分間を割り当て、コンデンサ２３Ａには監視周期として１時間を割り当てる。

これにより、例えば経年劣化検出部３０Ａは、１分間の監視周期毎に、使用負荷となるパラメータとしてのデータレート信号Ｒｔ及びＭｔを取り込む。引き続き、経年劣化検出部３０Ａは、データレート信号Ｒｔにて表されるデータレートを、ＨＤＤ２１Ａの標準データレートで除算した結果を、ＨＤＤ２１Ａに対応した重み係数Ｐ１として設定する。また、経年劣化検出部３０Ａは、データレート信号Ｍｔにて表されるデータレートを、メモリ２２Ａの標準データレートで除算した結果を、メモリ２２Ａに対応した重み係数Ｐ２として設定する。尚、上記した重み係数Ｐ１、Ｐ２の設定は一例であり、回路部品の特性に基づき適切な値に設定される。

更に、経年劣化検出部３０Ａは、例えば１時間の監視周期毎に、使用負荷となるパラメータとしての温度信号Ｔｅを取り込む。引き続き、経年劣化検出部３０Ａは、温度信号Ｔｅで表される温度が例えば摂氏４０度の時に「１．０」となり、当該「１．０」を中心に、その温度が摂氏４０度以上であるか否かによって増減する係数を、コンデンサ２３Ａに対応した重み係数Ｐ３として設定する。つまり、温度信号Ｔｅで表される温度が摂氏４０度より高い場合には「１．０」より大となり、その温度が摂氏４０度より低い場合には「１．０」より小さくなる係数が、コンデンサ２３Ａに対応した重み係数Ｐ３として設定される。例えば、温度信号Ｔｅにて表される温度が摂氏５０度の場合には「１．１」の重み係数Ｐ３が設定される。

次に、経年劣化検出部３０Ａは、ＨＤＤ２１Ａ、メモリ２２Ａ、及びコンデンサ２３Ａの各々毎に、通電が行われる通電期間を検出する。

経年劣化検出部３０Ａは、ＨＤＤ２１Ａの通電期間中において、当該ＨＤＤ２１Ａに割り当てられている「１分」の監視周期毎に、その１分の監視周期に重み係数Ｐ１を乗算して重み付けした時間を、ＨＤＤ２１Ａに対応した周期通電時間ＣＣ１とする。例えば、ＨＤＤ２１Ａの実際の通電時間「１分」に対して、重み係数Ｐ１が「１．１」を示す場合には、周期通電時間ＣＣ１は「１．１分」となる。

また、経年劣化検出部３０Ａは、メモリ２２Ａの通電期間中において、当該メモリ２２Ａに割り当てられている「１分」の監視周期毎に、その１分の監視周期に重み係数Ｐ２を乗算して重み付けした時間を、メモリ２２Ａに対応した周期通電時間ＣＣ２とする。例えば、メモリ２２Ａの実際の通電時間が「１分」である場合に、重み係数Ｐ２が「０．９」を示す場合には、周期通電時間ＣＣ２は「０．９分」となる。

更に、経年劣化検出部３０Ａは、コンデンサ２３Ａの通電期間中において、当該コンデンサ２３Ａに割り当てられている「１時間」の監視周期毎に、その１時間の監視周期に重み係数Ｐ３を乗算して重み付けした時間を、コンデンサ２３Ａに対応した周期通電時間ＣＣ３とする。例えば、コンデンサ２３Ａの実際の通電時間が「１時間」である場合に、重み係数Ｐ３が「１．０」を示す場合には、周期通電時間ＣＣ３は「１時間」となる。

次に、経年劣化検出部３０Ａは、記憶部４０Ａから、電子機器１０Ａ（自機）の経年劣化度合を表す自機経年劣化情報を読み出す。尚、記憶部４０Ａには、この自機経年劣化情報として、電子機器１０Ａに含まれているＨＤＤ２１Ａ、メモリ２２Ａ及びコンデンサ２３Ａ各々の経年劣化度を表す情報が記憶されている。ここで、ＨＤＤ２１Ａの経年劣化度を経年劣化度ＡＣ１、メモリ２２Ａの経年劣化度を経年劣化度ＡＣ２、コンデンサ２３Ａの経年劣化度を経年劣化度ＡＣ３と称する。これら経年劣化度ＡＣ１～ＡＣ３は、製品出荷時には初期値としての例えばゼロに設定されている。記憶部４０Ａは、電源遮断後も記憶情報が消失されない不揮発性メモリからなる。

具体的には、経年劣化検出部３０Ａは、ＨＤＤ２１Ａの通電期間中において、当該ＨＤＤ２１Ａに割り当てられている「１分」の監視周期毎に、記憶部４０Ａから自機経年劣化情報を読み出す。そして、経年劣化検出部３０Ａは、この読み出した自機経年劣化情報にて表される経年劣化度ＡＣ１に、上記した周期通電時間ＣＣ１を加算したものを、新たな経年劣化度ＡＣ１として生成する。

また、経年劣化検出部３０Ａは、メモリ２２Ａの通電期間中において、当該メモリ２２Ａに割り当てられている「１分」の監視周期毎に、記憶部４０Ａから自機経年劣化情報を読み出す。そして、経年劣化検出部３０Ａは、この読み出した自機経年劣化情報にて表される経年劣化度ＡＣ２に、上記した周期通電時間ＣＣ２を加算したものを、新たな経年劣化度ＡＣ２として生成する。

更に、経年劣化検出部３０Ａは、コンデンサ２３Ａの通電期間中において、当該コンデンサ２３Ａに割り当てられている「１時間」の監視周期毎に、記憶部４０Ａから自機経年劣化情報を読み出す。そして、経年劣化検出部３０Ａは、この読み出した自機経年劣化情報にて表される経年劣化度ＡＣ３に、上記した周期通電時間ＣＣ３を加算したものを、新たな経年劣化度ＡＣ３として生成する。

経年劣化検出部３０Ａは、上記のように生成した経年劣化度ＡＣ１～ＡＣ３を、電子機器１０Ａの経年劣化度として検出し、当該経年劣化度ＡＣ１～ＡＣ３を表す新たな自機経年劣化情報として記憶部４０Ａに上書きする。

したがって、上述した一連の動作により、経年劣化検出部３０Ａは、電子機器１０Ａの累積通電時間を計測し、この累積通電時間に使用負荷（データレート、温度）に応じた重み付けを施して得られた時間を経年劣化度（ＡＣ１～ＡＣ３）として得る。

記憶部４０Ａは、経年劣化検出部３０Ａによって検出された、電子機器１０Ａの経年劣化度（ＡＣ１～ＡＣ３）を表す自機経年劣化情報を記憶すると共に、当該経年劣化度（ＡＣ１～ＡＣ３）を電子機器１０Ｂに送信する。

また、記憶部４０Ａは、電子機器１０Ｂ（他機）で検出された経年劣化度（ＡＣ１～ＡＣ３）を受信すると、この受信した経年劣化度を、電子機器１０Ｂ（他機）の経年劣化度を表す他機経年劣化情報として上書き記憶する。

そして、記憶部４０Ａは、自身に記憶された自機経年劣化情報及び他機経年劣化情報を判定部５０Ａに供給する。

判定部５０Ａは、自機経年劣化情報にて表されるＨＤＤ２１Ａの経年劣化度ＡＣ１と、他機経年劣化情報にて表されるＨＤＤ２１Ｂの経年劣化度ＡＣ１との差（以下、差ｔｓ１と称する）が所定の閾値Ｔｈ１より大きいか否かを判定する。そして、判定部５０Ａは、差ｔｓ１が閾値Ｔｈ１より大きいと判定した場合に、電子機器１０Ａ及び１０Ｂのうちで、ＨＤＤの経年劣化度ＡＣ１が大きい方を待機系、小さい方を運用系に切り換える切換指令信号ＳＣａを運用／待機セレクタ６０に供給する。

また、判定部５０Ａは、自機経年劣化情報にて表されるメモリ２２Ａの経年劣化度ＡＣ２と、他機経年劣化情報にて表されるメモリ２２Ｂの経年劣化度ＡＣ２との差（以下、差ｔｓ２と称する）が所定の閾値Ｔｈ２より大きいか否かを判定する。そして、判定部５０Ａは、差ｔｓ２が閾値Ｔｈ２より大きいと判定した場合に、電子機器１０Ａ及び１０Ｂのうちで、メモリの経年劣化度ＡＣ２が大きい方を待機系、小さい方を運用系に切り換える切換指令信号ＳＣａを運用／待機セレクタ６０に供給する。

また、判定部５０Ａは、自機経年劣化情報にて表されるコンデンサ２３Ａの経年劣化度ＡＣ３と、他機経年劣化情報にて表されるコンデンサ２３Ｂの経年劣化度ＡＣ３との差（以下、差ｔｓ３と称する）が所定の閾値Ｔｈ３より大きいか否かを判定する。そして、判定部５０Ａは、差ｔｓ３が閾値Ｔｈ３より大きいと判定した場合に、電子機器１０Ａ及び１０Ｂのうちで、コンデンサの経年劣化度ＡＣ３が大きい方を待機系、小さい方を運用系に切り換える切換指令信号ＳＣａを運用／待機セレクタ６０に供給する。

このように、判定部５０Ａは、先ず、記憶部５０Ａに記憶されている、電子機器１０Ａに対応した自機経年劣化情報にて表される経年劣化度（ＡＣ１～ＡＣ３）と、電子機器１０Ｂに対応した他機経年劣化情報にて表される経年劣化度（ＡＣ１～ＡＣ３）との差（ｔｓ１～ｔｓ３）を求める。そして、判定部５０Ａは、この差（ｔｓ１～ｔｓ３）が閾値（Ｔｈ１～Ｔｈ３）より大であるか否かを判定し、大であると判定した場合に、電子機器１０Ａ及び１０Ｂのうちで経年劣化度が小さい方を運用系、大きい方を待機系に切り換える切換指令信号ＳＣａを運用／待機セレクタ６０に供給する。尚、判定部５０Ａは、その判定結果が電子機器１０Ａ及び１０Ｂ内の回路部品により異なる場合には、予め決めておいた回路部品毎の優先度のうちで、優先度が高い回路部品での判定結果に基づき、切換指令信号ＳＣａを得る。

尚、電子機器１０Ｂの判定部５０Ｂは、上記した判定部５０Ａと同様な判定動作によって切換指令信号ＳＣｂを生成し、これを運用／待機セレクタ６０に供給する。

運用／待機セレクタ６０は、初期状態時には、例えば電子機器１０Ａを運用系、電子機器１０Ｂを待機系に割り当てる。この際、運用／待機セレクタ６０は、電子機器１０Ａ及び１０Ｂのうちで運用系に割り当てられた方に含まれる主回路構成部（２０Ａ又は２０Ｂ）に接続されているライン群（Ｌａ又はＬｂ）を、外部機器（図示せず）に接続されている伝送ライン群ＬＱと接続する。尚、待機系に割り当てられた電子機器については、主回路構成部に対する電源供給が停止するものの、経年劣化検出部、データレート検出器、温度センサ、記憶部、及び判定部に対しては電源供給が行われる。

運用／待機セレクタ６０は、切換指令信号ＳＣａ又はＳＣｂに応じて、電子機器１０Ａ及び１０Ｂのうちで経年劣化度が小さい方を運用系、大きい方を待機系に切り換える。例えば、電子機器１０Ａの方が１０Ｂよりも経年劣化度が小さい場合には、運用／待機セレクタ６０は、電子機器１０Ａの主回路構成部２０Ａに接続されているライン群Ｌａを伝送ライン群ＬＱを介して外部機器と接続する。一方、電子機器１０Ｂの方が１０Ａよりも経年劣化度が小さい場合には、運用／待機セレクタ６０は、電子機器１０Ｂの主回路構成部２０Ｂに接続されているライン群Ｌｂを伝送ライン群ＬＱを介して外部機器と接続する。

上記したように、図１に示す電子機器システム１００では、電子機器１０Ａ及び１０Ｂに夫々含まれる同一の回路部品同士（例えば２１Ａと２１Ｂ）の経年劣化度の差（例えばｔｓ１）が所定閾値（例えばＴｈ１）を超えた場合に、運用系及び待機系の切換を行う。つまり、電子機器１０Ａ及び１０Ｂのうちで経年劣化度が大きい方を待機系、小さい方を運用系に切り換える。

これにより、各回路部品の経年変化に伴う劣化度合を、電子機器１０Ａと電子機器１０Ｂとで均一化することができるので、経年劣化に伴う寿命低下を抑制することが可能となる。

尚、上記実施例では、電子機器１０Ａ又は１０Ｂから送出された切換指令信号ＳＣａ又はＳＣｂに応じて、運用／待機セレクタ６０が運用系及び待機系の切換を自動的に行っているが、これを手動操作で行うようにしても良い。すなわち、電子機器１０Ａ又は１０Ｂから切換指令信号ＳＣａ又はＳＣｂが送出された場合に、その旨を表示する表示装置（図示せず）を設ける。電子機器システム１００の保守者は、当該表示装置の表示内容に基づき、手動で運用／待機セレクタ６０の切換操作を行う。尚、保守者は、回路部品（２１Ａ～２３Ａ、２１Ｂ～２３Ｂ）を新品に交換した場合には、記憶部４０Ａ及び４０Ｂに記憶されている回路部品毎の経年劣化度（ＡＣ１～ＡＣ３）のうちで、交換した回路部品に対応した経年劣化度ゼロに初期化する。

また、図１に示す実施例では、２つの電子機器１０Ａ及び１０Ｂを互いの近傍位置に設置しているが、各電子機器の経年劣化度を示す情報をシステム内で共有できるのであれば、互いに異なる部屋、建造物、又は地域（国を含む）に設置されていても良い。

また、図１に示す経年劣化検出部３０Ａ、３０Ｂ、及び判定部５０Ａ、５０Ｂの動作をソフトウェア制御によって行うようにしても良い。

図２は、かかる点に鑑みて為された電子機器システム１００の他の構成を示すブロック図である。尚、図２に示す構成では、経年劣化検出部３０Ａ、３０Ｂ、及び判定部５０Ａ、５０Ｂに代えて、ＲＯＭ（read only memory）７０Ａ、７０Ｂ、及び制御部８０Ａ、８０Ｂを採用した点を除く他の構成は図１に示すものと同一である。

ＲＯＭ７０Ａ（７０Ｂ）には、図１に示す経年劣化検出部３０Ａ（３０Ｂ）及び判定部５０Ａ（５０Ｂ）の動作を担うプログラムが格納されている。制御部８０Ａ（８０Ｂ）は、ＲＯＭ７０Ａ（７０Ｂ）に格納されているプログラムに従って、図１に示す経年劣化検出部３０Ａ（３０Ｂ）及び判定部５０Ａ（５０Ｂ）と同様な処理、つまり運用系／待機系切換処理を行う。

以下に、電子機器１０Ａの制御部８０Ａ、及び電子機器１０Ｂの制御部８０Ｂのうちから制御部８０Ａを抜粋して、当該制御部８０Ａによる運用系／待機系切換処理について説明する。

図３及び図４は、かかる運用系／待機系切換処理の手順を示すフローチャートである。

図３において、先ず、制御部８０Ａは、温度信号Ｔｅ、データレート信号Ｒｔ及びＭｔに基づき、回路部品（２１Ａ～２３Ａ）毎に、使用負荷に応じた重み係数（Ｐ１～Ｐ３）を監視周期毎に設定する（ステップＳ１１）。

次に、制御部８０Ａは、回路部品（２１Ａ～２３Ａ）毎に、その回路部品の通電期間を検出する（ステップＳ１２）。

次に、制御部８０Ａは、各回路部品の通電期間中において、その回路部品に割り当てられている監視周期毎に、その監視周期に重み係数を乗算することにより周期通電時間（ＣＣ１～ＣＣ３）を算出する（ステップＳ１３）。

次に、制御部８０Ａは、記憶部４０Ａから自機経年劣化情報を読み出す（ステップＳ１４）。

次に、制御部８０Ａは、自機経年劣化情報で表される回路部品毎の経年劣化度を示す情報（ＡＣ１～ＡＣ３）に、その回路部品に対応した周期通電時間を加算することで新たな経年劣化度を検出し、この経年劣化度を表す新たな自機経年劣化情報を記憶部４０Ａに上書きする（ステップＳ１５）。

次に、制御部８０Ａは、記憶部４０Ａに上書きされた自機経年劣化情報にて表される経年劣化度を電子機器１０Ｂに送信する（ステップＳ１６）。

次に、制御部８０Ａは、電子機器１０Ｂ（他機）から送信された経年劣化度を表す情報を受信したか否かを判定する（ステップＳ１７）。

ステップＳ１７において、電子機器１０Ｂ（他機）から送信された経年劣化度を表す情報を受信したと判定された場合、制御部８０Ａは、受信した情報を他機経年劣化情報として記憶部４０Ａに上書きする（ステップＳ１８）。

ステップＳ１８の実行後、又はステップＳ１７で電子機器１０Ｂ（他機）から送信された経年劣化度を示す情報を受信していないと判定された場合、制御部８０Ａは、記憶部４０Ａから自機経年劣化情報及び他機経年劣化情報を読み出す（ステップＳ１９）。

次に、制御部８０Ａは、自機経年劣化情報にて表される経年劣化度（ＡＣ１～ＡＣ３）と、他機経年劣化情報にて表される経年劣化度（ＡＣ１～ＡＣ３）との差（ｔｓ）を算出する（ステップＳ２０）。

次に、制御部８０Ａは、算出された差（ｔｓ）が閾値（Ｔｈ）より大きいか否かを判定する（ステップＳ２１）。

ステップＳ２１において、この差（ｔｓ）が閾値（Ｔｈ）より大きいと判定された場合に、制御部８０Ａは、電子機器１０Ａ及び１０Ｂのうちで経年劣化度が小さい方を運用系、大きい方を待機系に切り換える切換指令信号（ＳＣａ）を運用／待機セレクタ６０に供給する（ステップＳ２２）。

かかるステップＳ２２の実行後、又はステップＳ２１で差（ｔｓ）が閾値（Ｔｈ）以下であると判定された場合、制御部８０Ａは、上記ステップＳ１１の実行に戻り、前述した動作を再び実行する。

また、図１に示される実施例では、冗長構成を有する電子機器として２つの電子機器１０Ａ及び１０Ｂを有するシステムの動作を説明している、冗長構成を有する３つ以上の複数の電子機器に対しても、同様に本発明を適用可能である。

要するに、冗長構成を有するＮ（Ｎは２以上の整数）個の電子機器のうちの少なくとも１つの電子機器を運用系、他の電子機器を待機系として動作する電子機器システムとしては、以下の経年劣化検出部、記憶部、及び切換制御部を含むものであれば良い。

すなわち、経年劣化検出部（３０Ａ又は３０Ｂ）は、Ｎ個の電子機器各々の経年劣化度（ＡＣ）を検出する。記憶部（４０Ａ又は４０Ｂ）は、経年劣化検出部にて検出されたＮ個の電子機器に対応した経年劣化度を夫々表すＮ個の経年劣化情報を記憶する。切換制御部（５０Ａ又は５０Ｂ、６０）は、記憶部に記憶されているＮ個の経年劣化度のうちで最大の経年劣化度と最小の経年劣化度との差（ｔｓ）が所定の閾値（Ｔｈ）より大であるか否かを判定する。ここで、この差（ｔｓ）が閾値（Ｔｈ）より大であると判定した場合に、切換制御部は、最小の経年劣化度に対応した電子機器（１０Ａ又は１０Ｂ）を運用系に切り換えると共に、最大の経年劣化度に対応した電子機器（１０Ｂ又は１０Ａ）を待機系に切り換える。

換言すると、以下のような方法で、上記した電子機器システムにおいて運用系／待機系の切り換えを行えば良いのである。

先ず、Ｎ個の電子機器各々の経年劣化度を検出し（Ｓ１１～Ｓ１８）、検出したＮ個の電子機器に対応したＮ個の経年劣化度のうちで最大の経年劣化度と最小の経年劣化度との差が所定の閾値より大であるか否かを判定する（Ｓ１９～Ｓ２１）。そして、この差が閾値より大であると判定された場合に、最小の経年劣化度に対応した電子機器を運用系に切り換えると共に、最大の経年劣化度に対応した電子機器を待機系に切り換える（Ｓ２２）。

１０Ａ、１０Ｂ 電子機器
２０Ａ、２０Ｂ 主回路構成部
２１Ａ、２１Ｂ ＨＤＤ
２２Ａ、２２Ｂ メモリ
２３Ａ、２３Ｂ コンデンサ
３０Ａ、３０Ｂ 経年劣化検出部
４０Ａ、４０Ｂ 記憶部
５０Ａ、５０Ｂ 判定部
６０ 運用／待機セレクタ
７０Ａ、７０Ｂ ＲＯＭ
８０Ａ、８０Ｂ 制御部
１００ 電子機器システム

Claims (5)

1. 冗長構成を有するＮ（Ｎは２以上の整数）個の電子機器のうちの少なくとも１つの電子機器を運用系、他の電子機器を待機系として動作する電子機器システムであって、
   前記Ｎ個の電子機器各々の経年劣化度を検出する経年劣化検出部と、
   前記経年劣化検出部にて検出された前記Ｎ個の電子機器に対応したＮ個の前記経年劣化度を記憶する記憶部と、
   前記記憶部に記憶されている前記Ｎ個の前記経年劣化度のうちで最大の経年劣化度と最小の経年劣化度との差が所定の閾値より大であるか否かを判定し、前記差が前記閾値より大であると判定した場合に、前記最小の経年劣化度に対応した前記電子機器を前記運用系に切り換えると共に、前記最大の経年劣化度に対応した前記電子機器を前記待機系に切り換える切換制御部と、
   前記Ｎ個の電子機器の内部の温度を検出する温度センサと、を含み、
   前記経年劣化検出部は、前記Ｎ個の電子機器の累積通電時間を計測し、計測した前記累積通電時間に、前記温度に基づく重み付けを施して得られた時間を前記経年劣化度として算出することを特徴とする電子機器システム。
2. 前記Ｎ個の電子機器に含まれる部品のデータレートを検出するデータレート検出部を含み、
   前記経年劣化検出部は、前記データレート検出部で検出された前記データレートに基づく重み付けを前記累積通電時間に施すことを特徴とする請求項１に記載の電子機器システム。
3. 冗長構成を有する第１及び第２の電子機器のうちの一方を運用系、他方を待機系として動作する電子機器システムであって、
   前記第１及び第２の電子機器の各々は、
   自機の経年劣化度を検出する経年劣化検出部と、
   前記経年劣化検出部で検出された前記経年劣化度を表す自機経年劣化情報を記憶すると共に、前記経年劣化度を前記第１及び第２の電子機器のうちの他機に送信し、前記他機から送信された経年劣化度を受信した場合には受信した前記経年劣化度を表す他機経年劣化情報を記憶する記憶部と、
   前記自機経年劣化情報にて表される前記経年劣化度と前記他機経年劣化情報にて表される前記経年劣化度との差が所定の閾値より大であるか否かを判定し、前記差が前記閾値より大であると判定した場合に、前記第１及び第２の電子機器のうちの前記他方を運用系、前記一方を待機系に切り換える切換制御部と、
   前記第１及び第２の電子機器の内部の温度を検出する温度センサと、を含み、
   前記経年劣化検出部は、前記第１及び第２の電子機器の累積通電時間を計測し、計測した前記累積通電時間に、前記温度に基づく重み付けを施して得られた時間を前記経年劣化度として算出することを特徴とする電子機器システム。
4. 冗長構成を有するＮ（Ｎは２以上の整数）個の電子機器のうちの少なくとも１つの電子機器を運用系、他の電子機器を待機系として動作する電子機器システムにおける運用系／待機系切換方法であって、
   前記Ｎ個の電子機器の累積通電時間を計測し、
   計測した前記累積通電時間に、前記Ｎ個の電子機器の内部の温度に基づく重み付けを施して得られた時間を、前記Ｎ個の電子機器各々の経年劣化の度合いを表す経年劣化度として検出し、
   検出された前記Ｎ個の電子機器に対応したＮ個の前記経年劣化度のうちで最大の経年劣化度と最小の経年劣化度との差が所定の閾値より大であるか否かを判定し、
   前記差が前記閾値より大であると判定された場合に、前記最小の経年劣化度に対応した前記電子機器を前記運用系に切り換えると共に、前記最大の経年劣化度に対応した前記電子機器を前記待機系に切り換えることを特徴とする運用系／待機系切換方法。
5. 冗長構成を有するＮ（Ｎは２以上の整数）個の電子機器のうちの少なくとも１つの電子機器を運用系、他の電子機器を待機系として動作する電子機器システムに含まれる制御部が実行するプログラムであって、
   前記Ｎ個の電子機器の累積通電時間を計測するステップと、
   計測した前記累積通電時間に、前記Ｎ個の電子機器の内部の温度に基づく重み付けを施して得られた時間を、前記Ｎ個の電子機器各々の経年劣化の度合いを表す経年劣化度として検出するステップと、
   検出された前記Ｎ個の電子機器に対応したＮ個の前記経年劣化度のうちで最大の経年劣化度と最小の経年劣化度との差が所定の閾値より大であるか否かを判定するステップと、
   前記差が前記閾値より大であると判定された場合に、前記最小の経年劣化度に対応した前記電子機器を前記運用系に切り換えると共に、前記最大の経年劣化度に対応した前記電子機器を前記待機系に切り換えるステップと、を実行させることを特徴とするプログラム。

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