JP7079264B2 - コンピュータ断層撮影における単一エネルギーデータを用いたアーチファクト低減の方法 - Google Patents
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Description
A.背景
コンピュータ断層撮影デバイスは、対象物体を通じて検出器のセットに送信されるX線のソースを有する。各検出器は、ソースをその検出器に接続する経路に沿って生じるX線減衰の量を測定する。この減衰データは、場合によっては、検出されたX線強度が検出器の表面上に投影される物体の影を表す限り、投影データとして知られている。異なる視野角から取得された投影データの多くのセットを用いて、物体の完全な3D形状および減衰特性を数学的に再構築することができる。「逆投影」として知られている数学的変換は、X線投影の観測データを生成することになる物体の形状および組成を特定する本質的に幾何学的な問題を解決する。
対象物体を精査するのに用いられるX線が単一のエネルギー(色)である例では、式1は容易に反転される。
式2は、muが定数であると仮定して、IおよびI0を知ることによって、X線が通過した材料の幾何学的長さを特定することができることを暗に意味する。不都合なことに、物体を通る経路の材料特性(mu)および長さの双方が配向と共に変動し得る。この問題に対する近似解は、逆投影として知られる。X線検出器データを逆投影して、物体の近似画像を生成することができ、ここで、画像内の各点は、物体における対応する点のX線減衰の尺度である。
B.金属アーチファクトを生成する例示的なメカニズム
ここで、背景に関して、再構成画像内のアーチファクトの生成につながる2つのメカニズムが説明される。これらの2つのメカニズムは、飽和およびビームハードニングである。
1.飽和した減衰
単一の検出器を有するCT撮像システムを用いた以下の簡略化された例は、信号飽和のメカニズムが画像にどのように影響を及ぼし得るかを示す(実際のCTシステムは、複数の検出器のアレイを用いて、設計された視野内の任意の場所に位置する複雑な形状の物体を忠実に再構築するが、単一の検出器を用いる以下の例は、飽和概念を適切に実証することができる)。
2.ビームハードニング
CT産業では、X線ソースは通常、「スペクトルが広い」。全てのエネルギーのX線光子が同時に放出され、X線減衰の平均度合い(mu)は、X線が通過した材料の量と共に変動する。しかしながら、ソースの広いX線スペクトル内で、より高いエネルギーのX線(より低いmu)よりも、より低いエネルギーのX線がより迅速に減衰する(より高いmu)。より低いエネルギーのX線の減衰がより高いというこの問題は、「ビームハードニング」として知られる。
最も直接的な方法は、単一のX線エネルギーを生成する単一エネルギーX線ソースを用いることである。単一エネルギーソースを用いて取得されたデータは、ビームハードニングの効果にほとんど影響されない。しかしながら、この手法は高価であり、このためほとんどの用途に実際的でない。
C.金属アーチファクト補正
以下で、走査範囲内の金属の存在によってマイナスの影響を受けた走査データを補正するためのいくつかの一般的な手法が説明される。
つかのアーチファクトを低減するが、多くの場合に新たなアーチファクトを生成する。
この方法は、金属アーチファクトを低減するための、単純で計算コストの低い手段を表す。
本発明の1つの好ましい形態では、コンピュータ断層撮影におけるアーチファクト補正のための方法が提供され、この方法は、
(1)異なるX線エネルギーに関連付けられた複数のデータセット(すなわち、D1,D2,D3...Dn)を取得することと、
(2)ステップ(1)において取得された異なる複数のエネルギーのデータセットから複数の予備画像(すなわち、I1,I2,I3...In)を生成することと、
(3)数学関数を用いて、ステップ(2)において生成された予備画像に対し演算を行い、画像アーチファクトのソース(すなわち、アーチファクトソース画像(ASI)であり、ここで、ASI=f(I1,I2,I3...In)である)を識別することと、
(4)ASIを順投影してASD=fp(ASI)を生成することと、
(5)アーチファクトに関連付けられたデータの新たなサブセットを作成するために、元のデータセットD1,D2,D3...Dnを選択し、組み合わせることであって、それによって、アーチファクトが低減されたデータ(ARD)を作成し、ここで、ARD=f(ASD,D1,D2,D3...Dn)であることと、
(6)アーチファクトのないデータにおける低エネルギーデータを保持し、アーチファクトによって影響を受ける領域に高エネルギーデータを導入するように、修復されたデータセット(RpD)を生成することであって、ここで、RpD=f(ARD,D1,D2,D3...Dn)であることと、
(7)修復されたデータから最終的なアーチファクトが低減された画像(RAI)を生成することであって、RAI=bp(RpD)であり、ここで、関数bpは、データから画像を生成する任意の関数であることと、
を含む。
本発明の好ましい実施形態では、いくつかの単一エネルギーデータセット(近似により導出されるか、実験的に測定されるか、または合成により導出される)を共に用いて、アーチファクトを最小限にし、画像品質を最大限にする。より詳細には、低エネルギー単色X線ソースで撮像された物体は、X線不透過物体と透過物体との間の高度なコントラストを示す一方で、高エネルギー単色X線ソースで撮像された物体は、材料間の比較的低いコントラストを示す。これは、事例的には、高エネルギーのX線が全ての材料を単に通過する傾向が高いのに対し、低エネルギーのX線は、吸収または散乱により材料と相互作用する可能性がより高いことによって説明される。同様に、高エネルギーのX線は、金属によって妨害される可能性がより低く、高エネルギーX線データから生成された画像は、より少ない金属アーチファクトを被る。
(1)高エネルギー単一エネルギーX線ソースおよび低エネルギー単一エネルギーX線ソースを用いて物体を走査し、2つの単一エネルギーデータセットを作成すること(図6B)、
(2)高エネルギー単一エネルギー画像および低エネルギー単一エネルギー画像を生成すること(図6C)、
(3)ピクセル閾値を用いて、高エネルギー単一エネルギー画像および低エネルギー単一エネルギー画像を金属部分および非金属部分に分離すること(図6D)、
(4)金属による影響を受けたデータのマップを生成するために、金属に関連付けられたデータの領域を順投影すること(図6E)、
(5)金属による影響を受けたデータのマップを用いて、高エネルギー単一エネルギー画像および低エネルギー単一エネルギー画像の要素を選択し、組み合わせて、アーチファクトに関連付けられた領域のための画像データの新たなサブセットを生成すること(図6F)、
(6)上記でステップ(5)において識別された「修復されたデータ」を金属による影響を受けていない領域の画像データと統合して、完全なデータセットを作成すること(図6G)と、および、
(7)完全なデータセットを用いて、アーチファクトの影響が低減された新たな画像を作成すること(図6H)。
単一エネルギーおよび/または多エネルギーデータを用いた金属アーチファクト補正(「一般化された補正」)
上記の論考において、金属アーチファクト補正は、単一エネルギーデータの2つのセット(すなわち、高エネルギー単一エネルギーデータおよび低エネルギー単一エネルギーデータ)を用いて達成された。しかしながら、2つの異なるエネルギーレベルの多エネルギーデータを用いて金属アーチファクト補正を達成することも可能である。
(1)異なるエネルギーに関連付けられた任意の数のデータセット(D1,D2,D3...Dn)を生成または取得する。これらのデータセットは、単一エネルギーであってもよく、または異なるエネルギー分布(すなわち、多色の高、中、および低エネルギー)を有する多エネルギーであってもよい。図7Bを参照されたい。
(3)ステップ(2)の予備画像に対し演算を行う数学関数を用いて画像アーチファクトのソースを識別する。この関数は、バイナリ画像(アーチファクトを生成する物体の領域を位置特定する)、またはアーチファクトの影響の度合いの尺度、すなわち、物体がより大きなマイナスの影響を有する場合により強い値を生成することができる。これは、アーチファクトソース画像(ASI)と呼ぶことができる。ここで、ASI=f(I1,I2,I3...In)である。図7Dを参照されたい。
変更形態
本発明のまた更なる実施形態は、本開示を鑑みて当業者には明らかとなることが認識されよう。本発明は、本明細書に開示され、かつ/または図面に示された特定の構造にいかなる形でも限定されるものではなく、本発明の範囲内で任意の変更形態または等価物も含むことを理解されたい。
Claims (8)
- コンピュータ断層撮影におけるアーチファクト補正のための方法であって、
(1)異なるX線エネルギーに関連付けられた複数のデータセット(すなわち、D1,D2,D3...Dn)を取得するステップと、
(2)ステップ(1)において取得された前記異なるエネルギーのデータセットから、複数の予備画像(すなわち、I1,I2,I3...In)を生成するステップと、
(3)数学関数を用いて、ステップ(2)において生成された前記予備画像に対し演算を行い(operate on)、画像アーチファクトのソース(すなわち、アーチファクトソース画像(ASI)、ここでASI=f(I1,I2,I3...In)である)を識別するステップと、
(4)前記ASIを順投影(forward projecting)してASD=fp(ASI)を生成するステップと、
(5)前記アーチファクトに関連付けられたデータの新たなサブセットを作成するために、元のデータセットD1,D2,D3...Dnを選択し、組み合わせ、それによってアーチファクトが低減されたデータ(ARD)を作成するステップであって、ここでARD=f(ASD,D1,D2,D3...Dn)である、ステップと、
(6)修復されたデータセット(RpD)を生成して、アーチファクトのないデータにおける低エネルギーデータを保持し、前記アーチファクトによる影響を受ける領域に高エネルギーデータを導入するステップであって、ここでRpD=f(ARD,D1,D2,D3...Dn)である、ステップと、
(7)前記修復されたデータから最終的なアーチファクトが低減された画像(RAI)を生成するステップであって、RAI=bp(RpD)であり、ここで、関数bpはデータから画像を生成する任意の関数である、ステップと、
を含む、方法。 - 前記異なるX線エネルギーに関連付けられた複数のデータセット(D1,D2,D3...Dn)は、単一エネルギー(monoenergetic)である、請求項1に記載の方法。
- 前記異なるX線エネルギーに関連付けられた複数のデータセット(D1,D2,D3...Dn)は、異なるエネルギー分布を有する多エネルギー(polyenergetic)である、請求項1に記載の方法。
- 前記異なるX線エネルギーに関連付けられた複数のデータセット(D1,D2,D3...Dn)は、多色の高、中、および低エネルギーのエネルギー分布を有する多エネルギーである、請求項3に記載の方法。
- 前記ステップ(3)において用いられる数学関数は、アーチファクトを生成する物体の領域を位置特定するバイナリ画像を作成する、請求項1に記載の方法。
- 前記ステップ(3)において用いられる数学関数は、アーチファクトの影響(impact)の度合い(degree)の尺度(measure)を作成し、ここで、物体がより大きなマイナスの影響(impact)を有する場合、より強い値が生じる、請求項1に記載の方法。
- 前記画像アーチファクトは、物体における高X線減衰を有する点において生じる、請求項1に記載の方法。
- 前記物体における点は金属を含む、請求項7に記載の方法。
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