JP7076518B2 - Transport equipment, transport method, die bonder, and bonding method - Google Patents

Transport equipment, transport method, die bonder, and bonding method Download PDF

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    • H01L21/52Mounting semiconductor bodies in containers

Description

本発明は、搬送装置、搬送方法、ダイボンダ、およびボンディング方法に関するものである。 The present invention relates to a transfer device, a transfer method, a die bonder, and a bonding method.

半導体装置の製造においては、多数個の素子を一括して造り込まれたウェハをダイシングして個々の半導体チップに分離し、これを一個ずつリードフレーム等の所定位置にボンディングするというチップボンディングの手法が採用されている。そして、このチップボンディングにはダイボンダ(ボンディング装置)が用いられる。 In the manufacture of semiconductor devices, a chip bonding method in which a wafer in which a large number of elements are built together is diced and separated into individual semiconductor chips, and these are bonded one by one to a predetermined position such as a lead frame. Has been adopted. A die bonder (bonding device) is used for this chip bonding.

ボンディング装置は、図29に示すように、供給部2の半導体チップ1を吸着するコレット3を有するボンディングアーム(図示省略)と、供給部2の半導体チップ1を観察する確認用カメラ(図示省略)と、ボンディング位置でリードフレーム4のアイランド部5を観察する確認用カメラ(図示省略)とを備える。 As shown in FIG. 29, the bonding apparatus includes a bonding arm (not shown) having a collet 3 for adsorbing the semiconductor chip 1 of the supply unit 2 and a confirmation camera (not shown) for observing the semiconductor chip 1 of the supply unit 2. And a confirmation camera (not shown) for observing the island portion 5 of the lead frame 4 at the bonding position.

供給部2は半導体ウェハ6(図30参照)を備え、半導体ウェハ6が多数の半導体チップ1に分割されている。すなわち、ウェハ6は粘着シート(ダイシングシート)に貼り付けられ、このダイシングシートが環状のフレームに保持される。そして、このダイシングシート上のウェハ6に対して、円形刃(ダイシング・ソー)等を用いて、個片化してチップ1を形成する。また、コレット3を保持しているボンディングアームは搬送機構を介して、ピックアップ位置とボンディング位置との間の移動が可能となっている。 The supply unit 2 includes a semiconductor wafer 6 (see FIG. 30), and the semiconductor wafer 6 is divided into a large number of semiconductor chips 1. That is, the wafer 6 is attached to an adhesive sheet (dicing sheet), and the dicing sheet is held in an annular frame. Then, the wafer 6 on the dicing sheet is individualized using a circular blade (dicing saw) or the like to form the chip 1. Further, the bonding arm holding the collet 3 can be moved between the pickup position and the bonding position via the transport mechanism.

また、このコレット3は、その下端面に開口した吸着孔を介してチップ1が真空吸引され、このコレット3の下端面にチップ1が吸着する。なお、この真空吸引(真空引き)が解除されれば、コレット3からチップ1が外れる。 Further, in the collet 3, the chip 1 is vacuum-sucked through a suction hole opened in the lower end surface of the collet 3, and the chip 1 is adsorbed on the lower end surface of the collet 3. If this vacuum suction (evacuation) is released, the chip 1 will be removed from the collet 3.

次にこのダイボンダを使用したダイボンディング方法を説明する。まず、供給部2の上方に配置される確認用カメラにてピックアップすべきチップ1を観察して、コレット3をこのピックアップすべきチップ1の上方に位置させた後、矢印Bのようにコレット3を下降させてこのチップ1をピックアップする。その後、矢印Aのようにコレット3を上昇させる。 Next, a die bonding method using this die bonder will be described. First, the chip 1 to be picked up is observed with a confirmation camera arranged above the supply unit 2, the collet 3 is positioned above the chip 1 to be picked up, and then the collet 3 is indicated by an arrow B. Is lowered to pick up this chip 1. After that, the collet 3 is raised as shown by the arrow A.

次に、ボンディング位置の上方に配置された確認用カメラにて、ボンディングすべきリードフレーム4のアイランド部5を観察して、コレット3を矢印E方向へ移動させて、このアイランド部5の上方に位置させた後、コレット3を矢印Dのように下降移動させて、このアイランド部5にチップ1を供給する。また、アイランド部5にチップを供給した後は、コレット3を矢印Cのように上昇させた後、矢印Fのように、ピックアップ位置の上方の待機位置に戻す。 Next, the island portion 5 of the lead frame 4 to be bonded is observed with a confirmation camera arranged above the bonding position, and the collet 3 is moved in the direction of arrow E to be above the island portion 5. After the position, the collet 3 is moved downward as shown by the arrow D to supply the chip 1 to the island portion 5. After supplying the chip to the island portion 5, the collet 3 is raised as shown by the arrow C and then returned to the standby position above the pickup position as shown by the arrow F.

コレット3は、搬送機構としての移動機構(図示省略)にて、ピックアップポジションP上での矢印A方向の上昇および矢印B方向の下降と、ボンディングポジションQ上での矢印C方向の上昇および矢印D方向の下降と、ピックアップポジションPとボンディングポジションQとの間の矢印E、F方向の往復動とが可能とされる。移動機構は図示省略の制御手段にて前記矢印A、B、C、D、E、Fの移動が制御される。なお、移動機構としては、シリンダ機構、ボールねじ機構、モーターリニア機構等の種々の機構にて構成することができ,XYZ軸ステージ(ステージ装置)を使用することができる。 The collet 3 is a moving mechanism (not shown) as a transport mechanism, and has an ascending arrow A direction and a descending arrow B direction on the pickup position P, and an ascending arrow C direction and an arrow D on the bonding position Q. It is possible to descend in the direction and reciprocate in the directions of arrows E and F between the pickup position P and the bonding position Q. The movement mechanism controls the movement of the arrows A, B, C, D, E, and F by a control means (not shown). The moving mechanism can be configured by various mechanisms such as a cylinder mechanism, a ball screw mechanism, and a motor linear mechanism, and an XYZ axis stage (stage device) can be used.

ところで、ピックアップするウェハ上のダイ(チップ)には、電気的特性により複数のグレードがある。このような複数のグレードを有するダイを基板に実装する場合、グレード毎にダイボンダを用いることになる。このため、作業時間が大となって、生産性に劣るものであった。 By the way, the die (chip) on the wafer to be picked up has a plurality of grades depending on the electrical characteristics. When mounting a die having such a plurality of grades on a substrate, a die bonder is used for each grade. For this reason, the working time is long and the productivity is inferior.

そこで、従来には、ウェハの有する電気的特性の異なるダイを複数のグレード毎に分類した分類ダイの分類マップを作成し、前記ウェハからダイをピックアップし、ボンディングヘッドで基板又はダイ上にボンディングし、搬送レーンによって前記分類ダイに対応した分類基板を前記分類基板の単位で搬送し、単一の前記搬送レーンと単一の前記ボンディングヘッドを有するダイボンダが提案されている(特許文献1)。 Therefore, conventionally, a classification map of a classification die in which dies having different electrical characteristics of a wafer are classified according to a plurality of grades is created, the die is picked up from the wafer, and the die is bonded onto a substrate or a die with a bonding head. A die bonder having a single transport lane and a single bonding head by transporting a classification substrate corresponding to the classification die by a transport lane in units of the classification substrate has been proposed (Patent Document 1).

すなわち、複数の基板を搬送する機能を備えた搬送ユニットが2つ装置内に設置され、それぞれの搬法ユニット上の固定位置に装備された加熱ステージ上に、基板搬送を行い、ウェハから第1グレード(最上グレード)チップをピックアップし、1つの搬送ユニット(第1レーン)上へ供給された基板に専用のボンディングヘッドでボンディングを行う。同じウェハ上にある第1グレード以外のチップは、もう一つの搬送ユニット(第2レーン)上に供給された複数枚の基板に同じく専用ボンディングヘッドにより、グレードごとに基板を交換しながらボンディングを行う。 That is, two transfer units having a function of transporting a plurality of substrates are installed in the apparatus, and the substrates are transported onto a heating stage equipped at a fixed position on each transport method unit, and the first is transferred from the wafer. The grade (highest grade) chip is picked up and bonded to the substrate supplied onto one transport unit (first lane) with a dedicated bonding head. Chips other than the first grade on the same wafer are bonded to multiple substrates supplied on the other transfer unit (second lane) while exchanging the substrates for each grade using the same dedicated bonding head. ..

特許第6124969号公報Japanese Patent No. 6124969

前記特許文献1では、ボンディング要素(ヘッド・アーム・認識機構・搬送機構)を2つずつ装備する必要がある。このため、コスト高となるとともに、2つのボンディング要素を調整統一する必要があり、精度悪化するおそれがある。また、コストに対して生産が低いものとなる。さらに、ウェハ上に同一グレードのチップだけの場合、他のグレードのチップの基板搬送でロスが生じる。 In Patent Document 1, it is necessary to equip two bonding elements (head, arm, recognition mechanism, transfer mechanism). Therefore, the cost becomes high, and it is necessary to adjust and unify the two bonding elements, which may deteriorate the accuracy. In addition, the production is low with respect to the cost. Further, when only chips of the same grade are used on the wafer, a loss occurs in the substrate transfer of chips of other grades.

本発明は、上記課題に鑑みて、装置全体のシンプル化を図ることができ、しかも、調整の複雑化を回避でき、ウェハ上のグレード毎のチップ残数、基板のボンディング残数情報を活用したボンディング作業を行うことができ生産性に優れる搬送装置、搬送方法、ダイボンダ、およびボンディング方法を提供する。 In view of the above problems, the present invention can simplify the entire apparatus, avoid complicated adjustment, and utilize information on the remaining number of chips for each grade on the wafer and the remaining number of bonding on the substrate. Provided are a transfer device, a transfer method, a die bonder, and a bonding method capable of performing a bonding operation and having excellent productivity.

本発明の搬送装置は、グレードが相違する複数種のワークをグレード毎に被供給部材の被供給部位に供給するために、ローダとアンローダとの間の供給ポジションに各被供給部材を搬送し、ワーク搭載が完了した被供給部材をアンローダへ搬出する搬送装置であって、供給ポジションに配置されるシャトルと、被供給部材をローダ側から供給ポジションのシャトルに搬送する上流側搬送機構と、搬送ライン上であって供給ポジションとアンローダとの間に配置される待機機構と、供給ポジションのシャトルから待機機構への被供給部材を搬送及び待機機構からの供給ポジションのシャトルへの被供給部材の戻しが可能な下流側搬送機構と、ワークの搭載が完了した被供給部材を、待機機構からアンローダへ搬出する搬出機構とを備え、待機機構へはチップの搭載が完了していない被供給部材を供給し、チップの搭載が完了した被供給部材のみをアンローダへ搬出し、チップの搭載が完了していない被供給部材を待機機構へ供給した際に、供給ポジションで他の被供給部材へのワークの搭載を可能としたものである。 The transport device of the present invention transports each of the supplied members to a supply position between the loader and the unloader in order to supply a plurality of types of workpieces of different grades to the supplied portion of the supplied member for each grade. , A transport device that carries out the supplied member for which work mounting has been completed to the unloader, and has a shuttle arranged at the supply position, an upstream transfer mechanism that transports the supplied member from the loader side to the shuttle at the supply position, and transport . A standby mechanism located on the line between the supply position and the unloader, transports the supplied member from the shuttle in the supply position to the standby mechanism, and returns the supplied member from the standby mechanism to the shuttle in the supply position. It is equipped with a downstream transfer mechanism capable of enabling the work to be carried out, and a carry-out mechanism for carrying out the supplied member whose work has been mounted from the standby mechanism to the unloader, and supplies the supplied member whose chip has not been mounted to the standby mechanism. Then, when only the supplied member for which the chip has been mounted is carried out to the unloader and the supplied member for which the chip has not been mounted is supplied to the standby mechanism, the work to the other supplied member is supplied at the supply position. It is possible to install it.

本発明の搬送装置によれば、被供給部材をローダ側から供給ポジションのシャト
ルに搬送することができる。このため、この被供給部材の被供給部位にワークを供給して
いくことができる。そして、ワークの搭載が完了した被供給部材を、待機機構を介してア
ンローダへ搬出することができる。
According to the transport device of the present invention, the supplied member can be transported from the loader side to the shuttle at the supply position. Therefore, the work can be supplied to the supplied portion of the supplied member. Then, the supplied member for which the work has been mounted can be carried out to the unloader via the standby mechanism.

また、被供給部材へのワークの搭載完了前にワーク供給源の供給すべきグレードのワークが無くなれば、この被供給部材をシャトルから待機機構に搬送し、空の状態となった供給ポジションへ他のグレード用の被供給部材を搬送するこができる。このため、この他のグレードのワークを被供給部材に供給することができる。そして、ワークの搭載が完了した被供給部材を、待機機構を介してアンローダへ搬出することができる。 If there is no work of the grade to be supplied from the work supply source before the work is mounted on the supplied member, the supplied member is transported from the shuttle to the standby mechanism and moved to the empty supply position. It is possible to transport the supplied member for the grade of. Therefore, other grades of workpieces can be supplied to the supplied member. Then, the supplied member for which the work has been mounted can be carried out to the unloader via the standby mechanism.

そして、ワーク供給源の全ワークが無くなれば、ワーク供給源に新しいワークを供給することになる。このため、待機機構に待機していた、ワークの搭載が完了していない被供給部材を、再度、供給ポジションのシャトルに戻すことができる。このように供給ポジションに戻った被供給部材の残りの被供給部位にワークを供給することができる。 Then, when all the works of the work supply source are exhausted, new work is supplied to the work supply source. Therefore, the supplied member whose work has not been mounted, which has been waiting in the standby mechanism, can be returned to the shuttle in the supply position again. The work can be supplied to the remaining supplied portion of the supplied member that has returned to the supply position in this way.

待機機構をローダ側に配置することによって、この待機ポジション上にステージを配置でき、さらには、予熱ステージの下方位置にシャトルの退避ポジションを設けることができる。 By arranging the standby mechanism on the loader side, the stage can be arranged on this standby position, and further, the shuttle retract position can be provided at a position below the preheating stage.

このため、本発明では、ワーク供給源(ワーク集合体)におけるグレード毎のワークの残数、被供給部材の被供給部位残数情報を活用できる。ワークのグレードが1種類であっても、複数種であっても対応できる。また、搬送機構としてシンプルレーンとでき、シャトルが複数個となる。 Therefore, in the present invention, it is possible to utilize the remaining number of works for each grade in the work supply source (work aggregate) and the remaining number of supplied parts of the supplied member. It can be used regardless of whether the work grade is one type or multiple types. In addition, the transport mechanism can be a simple lane, and there are multiple shuttles.

供給ポジション内において、ローダとアンローダとの間の搬送方向のシャトルの往復動を行うシャトル往復動機構を備えたものが好ましい。このように構成すれば、供給ポジション内においてシャトルを上流側に配置された状態で、ローダからの被供給部材を受けることができる。このため、被供給部材の被供給部位へのワーク供給時に、例えば、被供給部材の搬送方向と直交する方向に沿ってワークを供給し、一列に配設される複数個の被供給部位へのワーク供給が完了後、シャトルを下流側へ所定ピッチ移動させて、次の列の複数個の被供給部位へのワークを供給することができる。この動作を行うことによって、被供給部材の全被供給部位へワークを供給することがでる。しかも、ワークの供給が完了すれば、シャトルは下流側に位置することになり、アンローダ側へ迅速に搬出することができる。 It is preferable to have a shuttle reciprocating mechanism for reciprocating the shuttle in the transport direction between the loader and the unloader in the supply position. With this configuration, it is possible to receive the supplied member from the loader with the shuttle arranged on the upstream side in the supply position. Therefore, when the work is supplied to the supplied portion of the supplied member, for example, the work is supplied along the direction orthogonal to the transport direction of the supplied member, and the work is supplied to a plurality of supplied portions arranged in a row. After the work supply is completed, the shuttle can be moved downstream by a predetermined pitch to supply the work to a plurality of supplied parts in the next row. By performing this operation, the work can be supplied to all the supplied parts of the supplied member. Moreover, when the supply of the work is completed, the shuttle will be located on the downstream side and can be quickly carried out to the unloader side.

待機機構は、複数個の被供給部材を上下に収納する収納棚と、この収納棚を昇降させる昇降機構とを備えたもので構成できる。このように構成することによって、複数個の被供給部材を収納棚にコンパクトに収納でき、しかも、昇降機構にて、被供給部材を上昇させることができ、収納棚から被供給部材を搬出させる可能な高さに位置させることが可能となる。 The standby mechanism can be composed of a storage shelf for vertically storing a plurality of supplied members and an elevating mechanism for raising and lowering the storage shelf. With this configuration, a plurality of supplied members can be compactly stored in the storage shelf, and the supplied member can be raised by the elevating mechanism, so that the supplied member can be carried out from the storage shelf. It is possible to position it at a high height.

上流側搬送機構は、被供給部材をチャックする一対のチャック部材と、一対のチャック部材の上下動を行う上下動機構と、ローダとアンローダとの間の搬送方向の一対のチャック部材の往復動を行う往復動機構とを備えたものが好ましい。このように構成することによって、供給ポジションに被供給部材を搬送しようとする場合に、この被供給部材よりも上流側で供給ポジションに別の被供給部材が配置されていても、搬送しようとする被供給部材をこの別の被供給部材を越えて供給ポジションに搬送することができる。 The upstream transfer mechanism is a pair of chuck members that chuck the supplied member, a vertical motion mechanism that moves the pair of chuck members up and down, and a pair of chuck members in the transport direction between the loader and the unloader. Those provided with a reciprocating mechanism for performing are preferable. With this configuration, when the supplied member is to be conveyed to the supply position, even if another supplied member is arranged in the supply position on the upstream side of the supplied member, the supplied member is to be conveyed. The supplied member can be transported beyond this other supplied member to the supply position.

ローダから被供給部材を送出する送出機構を有し、ローダから送出された被供給部材を受けるステージを備えたものであってもよい。このようなものを備えることによって、ローダから安定して被供給部材を送出することができる。また、被供給部材を上流側搬送機構にて、供給ステージに搬送することになるが、この場合、ステージ上に被供給部材が受けられた状態であるので、被供給部材は安定した姿勢及び位置を維持することができ、上流側搬送機構によるこのステージ上におけるチャックが容易となる。 It may have a delivery mechanism for sending out the supplied member from the loader, and may be provided with a stage for receiving the supplied member sent from the loader. By providing such a device, the supplied member can be stably delivered from the loader. Further, the supplied member is transported to the supply stage by the upstream transfer mechanism. In this case, since the supplied member is received on the stage, the supplied member has a stable posture and position. Can be maintained, facilitating chucking on this stage by the upstream transfer mechanism.

シャトルは被供給部材を全面吸着する吸着機構を有するものが好ましい。ここで、全面吸着することによって、被供給部材が薄肉であっても変形させることなく平面状に保持することができ、この被供給部材へのワークの供給作業が安定する。 The shuttle preferably has a suction mechanism that sucks the supplied member on the entire surface. Here, by adsorbing the entire surface, even if the supplied member is thin, it can be held flat without being deformed, and the work of supplying the work to the supplied member is stable.

シャトルは被供給部材を加熱する加熱機構を有するものとすることができる。このように加熱機構を有するものでは、被供給部材を加熱することができ、ワークが被供給部材に接着剤を介して接着する場合、迅速にかつ安定して接着することができる。 The shuttle may have a heating mechanism that heats the supplied member. With such a heating mechanism, the supplied member can be heated, and when the work adheres to the supplied member via an adhesive, it can be bonded quickly and stably.

供給ポジションよりもローダ側に被供給部材に予熱を付与する予熱ステージを設けてもよい。このように予熱ステージを設けることによって、ワーク供給時に迅速に被供給部材
を所定温度に加熱することができ、作業時間の短縮化を図ることができる。
A preheating stage for applying preheating to the supplied member may be provided on the loader side of the supply position. By providing the preheating stage in this way, the supplied member can be quickly heated to a predetermined temperature when the work is supplied, and the working time can be shortened.

本発明のダイボンダは、ワークがウェハのチップであり、被供給部材がその被供給部位であるアイランド部となる基板であり、前記搬送装置を用いて、供給ポジションであるボンディングポジションに搬送されてきた基板のアイランド部に順次チップをボンディングするものである。 The die bonder of the present invention is a substrate in which the work is a chip of a wafer and the supplied member is an island portion which is a supplied portion thereof, and has been conveyed to a bonding position which is a supply position by using the transfer device. Chips are sequentially bonded to the island portion of the substrate.

本発明のダイボンダでは、前記搬送装置を用いて、ボンディングポジションに基板が搬送される。この場合、ワークとしてのチップに複数種のグレードを有しても、各グレードのチップをそのグレードのチップがボンディングされるべき基板に、順次チップをボンディングしていくことができる。 In the die bonder of the present invention, the substrate is conveyed to the bonding position by using the transfer device. In this case, even if the chip as a work has a plurality of grades, the chips of each grade can be sequentially bonded to the substrate to which the chip of that grade is to be bonded.

本発明の搬送方法は、グレードが相違する複数種のワークをグレード毎に被供給部材の被供給部位に供給するために、ローダとアンローダとの間の供給ポジションに各被供給部材を搬送し、ワーク搭載が完了した被供給部材をアンローダへ搬出する搬送方法であって、ローダから被供給部材を供給ポジションへ搬送し、ワークの搭載が完了した被供給部材をアンローダへ搬出し、被供給部材へのワークの搭載完了前にワーク供給源の供給すべきグレードのワークが無くなれば、この被供給部材をシャトルから、搬送ライン上であって、供給ポジションとアンローダとの間に設けられる待機ポジションに搬送し、空の状態となった供給ポジションへ、供給ポジションよりも上流側のローダから他の被供給部材を搬送するものである。 In the transport method of the present invention, in order to supply a plurality of types of workpieces having different grades to the supplied portion of the supplied member for each grade, each supplied member is transported to a supply position between the loader and the unloader. This is a transfer method in which the supplied member for which the work has been mounted is carried out to the unloader. The supplied member is conveyed from the loader to the supply position, and the supplied member for which the work has been mounted is carried out to the unloader and sent to the supplied member. If there is no work of the grade to be supplied from the work supply source before the mounting of the work is completed, this supplied member is transferred from the shuttle to the standby position provided between the supply position and the unloader on the transfer line. However, other supplied members are transported from the loader upstream of the supply position to the empty supply position.

本発明の搬送方法によれば、被供給部材に供給すべきグレードのワークを被供給部材に供給でき、被供給部材上に全てワークの搭載が完了した後は、搭載が完了した被供給部材を下流側のアンローダへ搬出することができる。また、被供給部材へのワークの搭載完了前にワーク供給源の供給すべきグレードのワークが無くなれば、この被供給部材をシャトルから待機ポジションに搬送し、空の状態となった供給ポジションへ他の被供給部材を搬送するので、この被供給部材に対してワークを供給することができる。 According to the transport method of the present invention, the work of the grade to be supplied to the supplied member can be supplied to the supplied member, and after all the workpieces have been mounted on the supplied member, the supplied member that has been mounted is used. It can be carried out to the unloader on the downstream side. If there is no work of the grade to be supplied from the work supply source before the work is mounted on the supplied member, the supplied member is transported from the shuttle to the standby position and moved to the empty supply position. Since the supplied member is conveyed, the work can be supplied to the supplied member.

ワーク供給源に供給すべきグレードのワークが供給された状態で、待機ポジションに待機させていた被供給部材を供給ポジションに戻して、戻した被供給部材の被供給部位に供給すべきグレードのワークを供給するのが好ましい。 With the work of the grade to be supplied to the work supply source, the work to be supplied that had been waiting in the standby position is returned to the supply position, and the work of the grade to be supplied to the supplied part of the returned member to be supplied. Is preferable to supply.

本発明のボンディング方法は、前記ワークがウェハのチップであり、被供給部材がその被供給部位であるアイランド部となる基板であり、前記搬送方法を用いて、供給ポジションであるボンディングポジションに搬送されてきた基板のアイランド部に順次チップをボンディングするものである。 In the bonding method of the present invention, the work is a chip of a wafer, the supplied member is a substrate serving as an island portion which is a supplied portion thereof, and the work is conveyed to a bonding position which is a supply position by using the conveying method. Chips are sequentially bonded to the island portion of the substrate.

本発明のボンディング方法によれば、搬送方法を用いて、ボンディングポジションに基板が搬送される。この場合、ワークとしてのチップに複数種のグレードを有しても、各グレードのチップをそのグレードのチップがボンディングされるべき基板に、順次チップをボンディングしていくことができる。 According to the bonding method of the present invention, the substrate is transported to the bonding position by using the transport method. In this case, even if the chip as a work has a plurality of grades, the chips of each grade can be sequentially bonded to the substrate to which the chip of that grade is to be bonded.

本発明は、ワーク供給源(ワーク集合体)におけるグレード毎のワークの残数、被供給部材の被供給部位残数情報を活用でき、搬送ロスの軽減を図ることが可能となる。ワークのグレードが1種類であっても、複数種であっても対応でき、生産効率の向上を図ることができる。また、搬送路として比較的短く設定でき、装置のコンパクト化を図ることができる。 INDUSTRIAL APPLICABILITY According to the present invention, it is possible to utilize information on the remaining number of works for each grade in the work supply source (work aggregate) and the remaining number of supplied parts of the supplied member, and it is possible to reduce the transfer loss. It is possible to handle either one type of work or multiple types of work, and it is possible to improve production efficiency. In addition, the transport path can be set relatively short, and the device can be made compact.

待機機構をローダ側に配置するようにしたものでは、この待機ポジション上にステージを配置でき、さらには、予熱ステージの下方位置にシャトル30に退避ポジションを設けことができる。このため、待機機構32をアンローダ側に配置した装置よりも、待機機構をローダ側に配置した装置の方が、ローダとアンローダとの間隔を小さくでき、装置全体としてコンパクト化を図ることができる。 If the standby mechanism is arranged on the loader side, the stage can be arranged on this standby position, and further, the shuttle 30 can be provided with a retract position below the preheating stage. Therefore, the distance between the loader and the unloader can be made smaller in the device in which the standby mechanism is arranged on the loader side than in the device in which the standby mechanism 32 is arranged on the unloader side, and the device as a whole can be made compact.

本発明の搬送装置の簡略ブロック図である。It is a simplified block diagram of the transport device of this invention. 本発明の搬送装置であって、第1グレード用に基板(被供給部材)のシャトル上に搬送された状態の簡略斜視図である。It is a simplified perspective view of the transport device of the present invention in a state of being transported on a shuttle of a substrate (supplied member) for the first grade. 上流側搬送機構又は下流側搬送機構の要部を示し、(a)は被供給部材を搬送している状態の斜視図であり、(b)は被供給部材をシャトルに載置した状態の斜視図である。The main part of the upstream side transport mechanism or the downstream side transport mechanism is shown, (a) is a perspective view in a state where the supplied member is conveyed, and (b) is a perspective view in a state where the supplied member is placed on the shuttle. It is a figure. 上流側搬送機構又は下流側搬送機構のチャック部材の簡略正面図である。It is a simplified front view of the chuck member of the upstream side transport mechanism or the downstream side transport mechanism. 上流側搬送機構の他のチャック部材の簡略正面図である。It is a simplified front view of the other chuck member of the upstream side transport mechanism. 下流側搬送機構の他のチャック部材の簡略正面図である。It is a simplified front view of the other chuck member of the downstream side transport mechanism. 上流側チャック装置の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the upstream side chuck device. 上流側チャック装置及び下流側チャック装置の制御部を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the control part of the upstream side chuck device and the downstream side chuck device. 本発明の搬送方法を示し、第1グレードのワークの搭載から第2グレードのワークの搭載工程図である。The transfer method of this invention is shown, and it is the mounting process diagram of the 1st grade work to the 2nd grade work. 本発明の搬送方法を示し、第3グレードのワークの搭載工程図である。The transport method of this invention is shown, and it is 3rd grade work mounting process diagram. 本発明の搬送装置であって、第1グレード用に基板(被供給部材)が予熱ステージ上に搬送された状態の簡略斜視図である。It is a simplified perspective view of the transport device of this invention, in a state where a substrate (supplied member) is transported on a preheating stage for the first grade. 本発明の搬送装置であって、第1グレード用の基板(被供給部材)がステージ上に搬送された状態の簡略斜視図である。It is a simplified perspective view of the transport device of the present invention in a state where a substrate (supplied member) for the first grade is transported on a stage. 本発明の搬送装置であって、第1グレード用の基板(被供給部材)をシャトルへ搬送する状態の簡略斜視図である。It is a simplified perspective view of the transport device of this invention, the state which transports the substrate (supplied member) for 1st grade to a shuttle. 本発明の搬送装置であって、第2グレード用の基板(被供給部材)を待機機構へ搬送する状態の簡略斜視図である。It is a simplified perspective view of the transport device of this invention, the state which transports the substrate (supplied member) for the 2nd grade to a standby mechanism. 本発明の他の搬送装置の簡略ブロック図である。It is a simplified block diagram of the other transfer apparatus of this invention. 図15に示す搬送装置の斜視図である。It is a perspective view of the transfer device shown in FIG. 上流側搬送機構のブロック図である。It is a block diagram of the upstream side transport mechanism. 上流側搬送機構のチャック装置の駆動機構のブロック図である。It is a block diagram of the drive mechanism of the chuck device of the upstream side transfer mechanism. 上流側搬送機構のチャック装置を示し、(a)は基板を予熱プレートに載置してチャック解除状態の簡略断面図であり、(b)は基板を押さえ部にて押さえている状態の簡略断面図であり、(c)は基板をチャックしている状態の簡略断面図である。The chuck device of the upstream transfer mechanism is shown. FIG. It is a figure, (c) is a simplified cross-sectional view of a state in which a substrate is chucked. 上流側搬送機構のチャック装置を示し、(a)は基板をシャトルに載置してチャック解除状態の簡略断面図であり、(b)は基板を押さえ部にて押さえている状態の簡略断面図であり、(c)は基板をチャックしている状態の簡略断面図である。The chuck device of the upstream transfer mechanism is shown. FIG. (C) is a simplified cross-sectional view of a state in which the substrate is chucked. 搬出機構のブロック図である。It is a block diagram of a carry-out mechanism. 受け部材の駆動機構のブロック図である。It is a block diagram of the drive mechanism of a receiving member. 搬出機構を用いた基板のアンローダへの搬出方法を示す簡略斜視図である。It is a simplified perspective view which shows the method of carrying out a substrate to an unloader using a carrying-out mechanism. アンローダと待機機構との切換機構を備えた搬送装置の要部斜視図である。It is a perspective view of the main part of the transport device provided with the switching mechanism between the unloader and the standby mechanism. 図24に示す搬送装置の要部ブロック図である。It is a block diagram of the main part of the transport device shown in FIG. 24. アンローダと待機機構とを示し、(a)は搬送ライン上にアンローダが配置された状態の簡略平面図であり、(b)は搬送ライン上に待機機構が配設された状態の簡略平面図である。The unloader and the standby mechanism are shown, (a) is a simplified plan view in a state where the unloader is arranged on the transfer line, and (b) is a simplified plan view in a state where the standby mechanism is arranged on the transfer line. be. ワークを示す斜視図である。It is a perspective view which shows the work. ボンディング装置の動作を示す簡略図である。It is a simplified diagram which shows the operation of a bonding apparatus. 一般的なボンディング装置の動作を示す簡略図である。It is a simplified diagram which shows the operation of a general bonding apparatus. ウェハを示す簡略図である。It is a simplified diagram which shows a wafer.

以下本発明の実施の形態を図1~図25に基づいて説明する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 to 25.

図1は本発明に係る搬送装置の簡略ブロック図を示し、この搬送装置は、図2に示すように、ローダ10とアンローダ11との間の供給ポジションQにローダ10から各被供給部材Sを搬送し、ワーク搭載が完了した被供給部材Sをアンローダ11へ搬出するものである。すなわち、グレードが相違する複数種のワークW(図27参照)をグレード毎に被供給部材Sの被供給部位Sa(図28参照)に供給するために、各被供給部材Sを供給ポジションQ(図28参照)に順次搬送するものである。ここで、ワークWとしては、図27に示すように、ウェハ(ワーク集合体)26から切り出されるチップ21であり、このウェハ26のチップ21には複数種のグレードを有する。この実施形態では、3種類のグレードを有し、この3種類のグレードを、第1グレードと第2グレードと第3グレードと呼ぶ。また、1枚のウェハ26においては、第1グレードが多く、第2グレード及び第3グレードが少ない。この場合、第2グレードが第3グレードよりも多くても、第3グレードが第2グレードよりも多くても、第2グレードと第3グレードとが同数であってもよい。 FIG. 1 shows a simplified block diagram of a transfer device according to the present invention, in which, as shown in FIG. 2, each supplied member S from the loader 10 is placed in a supply position Q between the loader 10 and the unloader 11. The supplied member S, which has been transported and whose work has been mounted, is carried out to the unloader 11. That is, in order to supply a plurality of types of workpieces W (see FIG. 27) having different grades to the supplied portion Sa (see FIG. 28) of the supplied member S for each grade, each supplied member S is supplied to the supply position Q (see FIG. 28). (See FIG. 28). Here, as shown in FIG. 27, the work W is a chip 21 cut out from the wafer (work aggregate) 26, and the chip 21 of the wafer 26 has a plurality of grades. In this embodiment, there are three grades, and these three grades are referred to as a first grade, a second grade, and a third grade. Further, in one wafer 26, there are many first grades and few second grades and third grades. In this case, the second grade may be more than the third grade, the third grade may be more than the second grade, and the second grade and the third grade may be the same number.

被供給部材Sとは、リードフレームなどの基板22であり、被供給部位Saとは、基板22上のアイランド部22aであり、各アイランド部22aにチップ21がボンディングされる。この際、図28に示すようなボンディング装置が用いられる。このようなボンディング装置は、ウェハ26から切り出されるチップ(半導体チップ)21をピックアップポジションPにてコレット(吸着コレット)23でピックアップして、リードフレームなどの基板22のボンディングポジションQに移送(搭載)するものである。ウェハ26は、金属製のリング(ウェハリング)に張設されたウェハシート(粘着シート25)上に粘着されており、ダイシング工程によって、多数のチップ21に分断(分割)される。 The supplied member S is a substrate 22 such as a lead frame, and the supplied portion Sa is an island portion 22a on the substrate 22, and a chip 21 is bonded to each island portion 22a. At this time, a bonding device as shown in FIG. 28 is used. In such a bonding device, the chip (semiconductor chip) 21 cut out from the wafer 26 is picked up by the collet (adsorption collet) 23 at the pickup position P and transferred (mounted) to the bonding position Q of the substrate 22 such as a lead frame. It is something to do. The wafer 26 is adhered to a wafer sheet (adhesive sheet 25) stretched on a metal ring (wafer ring), and is divided (divided) into a large number of chips 21 by a dicing process.

コレット23は、図28に示すように、ピックアップポジションP上での矢印A方向の上昇および矢印B方向の下降と、ボンディングポジションQ上での矢印C方向の上昇および矢印D方向の下降と、ピックアップポジションPとボンディングポジションQとの間の矢印E、F方向の往復動とが可能とされる。コレット23は、図示省略のボンディングヘッドに付設され、このボンディングヘッドはボンディングアーム(図示省略)に付設される。そこで、このボンディングアームが図示省略の制御手段にて制御されて、コレット23が前記矢印A、B、C、D、E、Fの移動が制御される。制御手段は、例えば、CPU(Central Processing Unit)を中心としてROM(Read Only Memory)やRAM(Random Access Memory)等がバスを介して相互に接続されたマイクロコンピューターである。なお、ROMには、CPUが実行するプログラムやデータが格納されている。 As shown in FIG. 28, the collet 23 picks up ascending in the arrow A direction and descending in the arrow B direction on the pickup position P, ascending in the arrow C direction and descending in the arrow D direction on the bonding position Q. Reciprocating movement in the directions of arrows E and F between the position P and the bonding position Q is possible. The collet 23 is attached to a bonding head (not shown), and the bonding head is attached to a bonding arm (not shown). Therefore, the bonding arm is controlled by a control means (not shown), and the collet 23 controls the movement of the arrows A, B, C, D, E, and F. The control means is, for example, a microcomputer in which a ROM (Read Only Memory), a RAM (Random Access Memory), and the like are connected to each other via a bus centering on a CPU (Central Processing Unit). The ROM stores programs and data executed by the CPU.

この搬送装置は、図1と図2に示すように、ローダ10とアンローダ11との間の供給ポジションQに配置されるシャトル30と、被供給部材Sをローダ10側から供給ポジションQのシャトル30に搬送する上流側搬送機構31と、供給ポジションQとアンローダ11との間に配置される待機機構32と、供給ポジションQのシャトル30から待機機構32への被供給部材を搬送及び待機機構32からの供給ポジションQのシャトル30への被供給部材Sの戻しが可能な下流側搬送機構33と、ワークWの搭載が完了した被供給部材Sを、待機機構32からアンローダ11へ搬出する搬出機構34とを備える。 As shown in FIGS. 1 and 2, this transfer device includes a shuttle 30 arranged at the supply position Q between the loader 10 and the unloader 11, and a shuttle 30 for supplying the supplied member S from the loader 10 side to the supply position Q. The upstream transfer mechanism 31 that conveys to the standby mechanism 31, the standby mechanism 32 that is arranged between the supply position Q and the unloader 11, and the members to be supplied from the shuttle 30 of the supply position Q to the standby mechanism 32 are conveyed from the transfer and standby mechanism 32. The downstream side transport mechanism 33 capable of returning the supplied member S to the shuttle 30 of the supply position Q of the above, and the carry-out mechanism 34 for carrying out the supplied member S for which the work W has been mounted from the standby mechanism 32 to the unloader 11. And.

シャトル30には、加熱機構38及び吸着機構39が付設されている。すなわち、シャトル30は、図3に示すように、平板形状のシャトル本体30aと、このシャトル本体30aの上面に載置固定される副プレート30bとからなる。加熱機構38は、例えば、シャトル30に内蔵される電熱線と、この電熱線を加熱するための電源等とで構成することができるが、これに限るものではなく、蒸気を用いたものであっても、誘導加熱を用いたものであってもよい。すなわち、被供給部材Sとして加熱を必要とし、かつ、その加熱方法が被供給部材SやワークWに悪影響を与えないものであればよい。また、吸着機構39は、例えば、シャトル30に配設される吸引通路29と、この吸引通路に接続される真空発生器(図示省略)とで構成され、吸引通路29は、シャトル30の副プレート30bの上面(平坦面)28に開口する複数個の吸着口29aが形成されている。この場合、吸着口29aは上面28の全面にわたって配設され、被供給部材Sを全面吸着する。なお、真空発生器としては、真空ポンプを用いるものであっても、高圧空気を開閉制御してノズルよりディフューザに放出して拡散室に負圧を発生させるエジェクタ方式のものであってもよい。 The shuttle 30 is provided with a heating mechanism 38 and a suction mechanism 39. That is, as shown in FIG. 3, the shuttle 30 includes a flat plate-shaped shuttle main body 30a and an auxiliary plate 30b that is placed and fixed on the upper surface of the shuttle main body 30a. The heating mechanism 38 can be composed of, for example, a heating wire built in the shuttle 30 and a power source for heating the heating wire, but the heating mechanism 38 is not limited to this, and steam is used. Alternatively, it may be one using induction heating. That is, it suffices as long as the supplied member S requires heating and the heating method does not adversely affect the supplied member S or the work W. Further, the suction mechanism 39 is composed of, for example, a suction passage 29 arranged in the shuttle 30 and a vacuum generator (not shown) connected to the suction passage, and the suction passage 29 is a sub-plate of the shuttle 30. A plurality of suction ports 29a that open on the upper surface (flat surface) 28 of 30b are formed. In this case, the suction port 29a is arranged over the entire surface of the upper surface 28 and sucks the supplied member S on the entire surface. The vacuum generator may be a vacuum pump or an ejector type that controls opening and closing of high-pressure air and discharges it from a nozzle to a diffuser to generate a negative pressure in the diffusion chamber.

この場合、シャトル30のシャトル本体30aの長手方向寸法(搬送方向寸法)を副プレート30bの長手方向寸法(搬送方向寸法)よりも長く設定している。すなわちシャトル本体30aの長手方向寸法(搬送方向寸法)をL1とし、副プレート30bの長手方向寸法(搬送方向寸法)をL2とし、基板22の長手方向寸法(搬送方向寸法)をLとしたときに、L1>L2とされ、L>L2とされ、L≒L1とされる。 In this case, the longitudinal dimension (transporting direction dimension) of the shuttle body 30a of the shuttle 30 is set longer than the longitudinal dimension (transporting direction dimension) of the auxiliary plate 30b. That is, when the longitudinal dimension (transport direction dimension) of the shuttle body 30a is L1, the longitudinal dimension (transport direction dimension) of the sub-plate 30b is L2, and the longitudinal dimension (transport direction dimension) of the substrate 22 is L. , L1> L2, L> L2, and L≈L1.

ローダ10は、第1グレード用の被供給部材S(基板22A)を収納する第1ローダ10Aと、第2グレード用の被供給部材S(基板22B)を収納する第2ローダ10Bと、第3グレード用の被供給部材S(基板22C)を収納する第3ローダ10Bとを備える。そして、ローダ10は、被供給部材Sの搬送路T(ローダ10からアンローダ11を結ぶ直線方向の搬送路)と直交方向の矢印Y方向の往復動及びZ方向の往復動(上下動)が可能となっている。すなわち、これらの往復動には、シリンダ機構、ボールねじ機構、リニアガイド機構等の公知・公用の往復動機構を用いることができる。各第1・第2・第3ローダ10A,10B,10Cは、搬送路T上に配置された状態で、上下動させて所望の一の被供給部材Sが所定高さ位置に位置した際に、この被供給部材Sを図示省略のプッシャにて押圧して、図2に示すように、ローダ10から押し出すことができる。 The loader 10 includes a first loader 10A that houses the supplied member S (board 22A) for the first grade, a second loader 10B that stores the supplied member S (board 22B) for the second grade, and a third loader. A third loader 10B for accommodating the supplied member S (board 22C) for the grade is provided. Then, the loader 10 can reciprocate in the Y direction of the arrow in the orthogonal direction and reciprocate in the Z direction (vertical movement) with the transport path T of the supplied member S (the transport path in the linear direction connecting the loader 10 to the unloader 11). It has become. That is, known and public reciprocating mechanisms such as a cylinder mechanism, a ball screw mechanism, and a linear guide mechanism can be used for these reciprocating movements. Each of the first, second, and third loaders 10A, 10B, and 10C is moved up and down while being arranged on the transport path T, and when one desired supplied member S is positioned at a predetermined height position. The supplied member S can be pressed by a pusher (not shown) and pushed out from the loader 10 as shown in FIG.

アンローダ11は、第1グレード用の被供給部材S(基板22A)を収納する第1アンローダ11Aと、第2グレード用の被供給部材S(基板22B)を収納する第2アンローダ11Bと、第3グレード用の被供給部材S(基板22C)を収納する第3アンローダ11Bとを備える。そして、アンローダ11は、被供給部材Sの搬送路T(ローダ10からアンローダ11を結ぶ直線方向の搬送路)と直交方向の矢印Y方向の往復動及び矢印Z方向の往復動(上下動)が可能となっている。すなわち、これらの往復動には、シリンダ機構、ボールねじ機構、リニアガイド機構等の公知・公用の往復動機構を用いることができる。各第1・第2・第3アンローダ11A,11B,11Cは、搬送路T上に配置された状態で、上下動させて所望の一の被供給部材Sが所定高さ位置に位置した際に、被供給部材Sが待機機構32から搬出機構34にて押圧されることによって、被供給部材Sはアンローダ11に収納される。 The unloader 11 includes a first unloader 11A that houses the supplied member S (board 22A) for the first grade, a second unloader 11B that houses the supplied member S (board 22B) for the second grade, and a third. A third unloader 11B for accommodating the supplied member S (board 22C) for the grade is provided. Then, the unloader 11 has a reciprocating movement in the arrow Y direction and a reciprocating movement (vertical movement) in the arrow Y direction orthogonal to the transport path T (a linear transport path connecting the loader 10 and the unloader 11) of the supplied member S. It is possible. That is, known and public reciprocating mechanisms such as a cylinder mechanism, a ball screw mechanism, and a linear guide mechanism can be used for these reciprocating movements. Each of the first, second, and third unloaders 11A, 11B, and 11C is moved up and down while being arranged on the transport path T, and when one desired supplied member S is positioned at a predetermined height position. When the supplied member S is pressed from the standby mechanism 32 by the carry-out mechanism 34, the supplied member S is housed in the unloader 11.

また、ローダ10とアンローダ11とを結ぶ搬送路Tには、上流側(ローダ側)から、上流側ステージ41と、予熱ステージ42と、供給ポジションQに配置されているシャトル30と、待機機構32とが配設されている。 Further, in the transport path T connecting the loader 10 and the unloader 11, from the upstream side (loader side), the upstream side stage 41, the preheating stage 42, the shuttle 30 arranged at the supply position Q, and the standby mechanism 32 And are arranged.

上流側ステージ41は、ローダ10から送出された被供給部材Sを受けるものであって、いわゆる幅寄せや高さ検出等が行われる。この場合、ローダ10から、例えば、図2に示すように、被供給部材Sの下流端部が突出した頭出し状態において、後述する送出機構48にて引き出される。その後、幅寄せや高さ検出等が行われることになる。 The upstream stage 41 receives the supplied member S sent from the loader 10, and so-called width adjustment, height detection, and the like are performed. In this case, it is pulled out from the loader 10 by a delivery mechanism 48, which will be described later, in a cueing state in which the downstream end portion of the supplied member S protrudes, for example, as shown in FIG. After that, width adjustment, height detection, etc. will be performed.

ステージ41は、ステージ本体41aと、このステージ本体41a上に配設(配置)された副プレート41bとからなる。この場合、副プレート41bの長手方向寸法(搬送方向寸法)がステージ本体41aの長手方向寸法(搬送方向寸法)よりも短く設定されている。すなわち、ステージ本体41aの長手方向寸法(搬送方向寸法)をL3とし、副プレート41bの長手方向寸法(搬送方向寸法)をL4としたときに、L3>L4とし、また、基板22の長手方向寸法(搬送方向寸法)をLとしたときに、L>L2とし、L≒L4としている。 The stage 41 includes a stage main body 41a and an auxiliary plate 41b arranged (arranged) on the stage main body 41a. In this case, the longitudinal dimension (transport direction dimension) of the sub-plate 41b is set shorter than the longitudinal dimension (transport direction dimension) of the stage main body 41a. That is, when the longitudinal dimension (transporting dimension) of the stage body 41a is L3 and the longitudinal dimension (transporting direction dimension) of the sub-plate 41b is L4, L3> L4 and the longitudinal dimension of the substrate 22. When (the dimension in the transport direction) is L, L> L2 and L≈L4.

予熱ステージ42は、予熱ステージ本体42aとこの予熱ステージ本体42a上に配設される副プレート42bとを備える。予熱ステージ42は、シャトル30と同様の加熱機構38からなる予熱機構43(図1参照)及び図示省略の吸着手段が設けられている。すなわち、予熱ステージ42に電熱線等が埋設される。このため、予熱ステージ42に搬送された被供給部材Sに予熱が付与される。ここで、予熱とは、シャトル30にて加熱される程度乃至この加熱温度よりも所定温度だけ低い温度であって、この予熱ステージ42からシャトル30に搬送した場合に、ただちに所定の加熱温度に達することができる温度である。また、吸着手段はシャトル30と同様の構成で構成できる。このため、予熱ステージ42に基板22が搬送された際には、予熱ステージ42の上面40(副プレート42bの上面)に基板22を吸着することができる。 The preheating stage 42 includes a preheating stage main body 42a and an auxiliary plate 42b arranged on the preheating stage main body 42a. The preheating stage 42 is provided with a preheating mechanism 43 (see FIG. 1) having a heating mechanism 38 similar to that of the shuttle 30, and an adsorption means (not shown). That is, a heating wire or the like is embedded in the preheating stage 42. Therefore, preheating is applied to the supplied member S conveyed to the preheating stage 42. Here, the preheating is a temperature to which the shuttle 30 is heated or a temperature lower than this heating temperature by a predetermined temperature, and when the temperature is transferred from the preheating stage 42 to the shuttle 30, the predetermined heating temperature is immediately reached. The temperature that can be. Further, the suction means can be configured with the same configuration as that of the shuttle 30. Therefore, when the substrate 22 is conveyed to the preheating stage 42, the substrate 22 can be adsorbed on the upper surface 40 (upper surface of the sub-plate 42b) of the preheating stage 42.

この場合、予熱ステージ本体42aの長手方向寸法(搬送方向寸法)を副プレート42bの長手方向寸法(搬送方向寸法)よりも長く設定している。すなわち予熱ステージ本体42aの長手方向寸法(搬送方向寸法)をL5とし、副プレート42bの長手方向寸法(搬送方向寸法)をL6とし、基板22の長手方向寸法(搬送方向寸法)をLとしたときに、L5>L6とされ、L>L6とされ、L≒L5とされる。 In this case, the longitudinal dimension (transport direction dimension) of the preheating stage main body 42a is set longer than the longitudinal dimension (transport direction dimension) of the sub-plate 42b. That is, when the longitudinal dimension (transport direction dimension) of the preheating stage main body 42a is L5, the longitudinal dimension (transport direction dimension) of the sub-plate 42b is L6, and the longitudinal dimension (transport direction dimension) of the substrate 22 is L. In addition, L5> L6, L> L6, and L≈L5.

供給ポジションQには、シャトル30が配置され、このシャトル30が図1に示すシャトル往復動機構45を介して搬送路Tに沿った矢印X方向の往復動が可能とされる。すなわち、図2に示すように、予熱ステージ42側に配置される被供給部材Sの受け取り可能ポジションと待機機構32側に配設される被供給部材Sの排出可能ポジションとの往復が可能とされる。シャトル往復動機構45には、シリンダ機構、ボールねじ機構、リニアガイド機構等の公知・公用の往復動機構を用いることができる。 A shuttle 30 is arranged at the supply position Q, and the shuttle 30 can reciprocate in the arrow X direction along the transport path T via the shuttle reciprocating mechanism 45 shown in FIG. That is, as shown in FIG. 2, it is possible to reciprocate between the receiveable position of the supplied member S arranged on the preheating stage 42 side and the dischargeable position of the supplied member S arranged on the standby mechanism 32 side. To. As the shuttle reciprocating mechanism 45, known and public reciprocating mechanisms such as a cylinder mechanism, a ball screw mechanism, and a linear guide mechanism can be used.

待機機構32は、複数個の被供給部材Sを上下に収納する収納棚46と、この収納棚46を昇降させる昇降機構47とを備える。所定高さ位置に上昇させた被供給部材Sを搬出機構34にてアンローダ11に押し込むことができる。昇降機構47としては、エレベータ構造体を用いることができる。また、搬出機構34は、シリンダ機構、ボールねじ機構、リニアガイド機構等の公知・公用の往復動機構と、被供給部材Sに当接乃至挾持する基板押圧部とで構成できる。 The standby mechanism 32 includes a storage shelf 46 for vertically storing a plurality of supplied members S, and an elevating mechanism 47 for raising and lowering the storage shelf 46. The supplied member S raised to a predetermined height position can be pushed into the unloader 11 by the carry-out mechanism 34. An elevator structure can be used as the elevating mechanism 47. Further, the carry-out mechanism 34 can be composed of a known / public reciprocating mechanism such as a cylinder mechanism, a ball screw mechanism, and a linear guide mechanism, and a substrate pressing portion that abuts or holds the supplied member S.

ところで、前記上流側搬送機構31、待機機構32、下流側搬送機構33、搬出機構34、加熱機構38、吸着機構39、予熱機構43、シャトル往復動機構45、及び送出機構48等は、図1に示す制御手段50にて制御される。制御手段50としては、前記ボンディング装置と同様、例えば、CPU(Central Processing Unit)を中心としてROM(Read Only Memory)やRAM(Random Access Memory)等がバスを介して相互に接続されたマイクロコンピューターである。なお、ROMには、CPUが実行するプログラムやデータが格納されている。このため、この制御手段50でもって、ボンディング装置の制御手段を構成してもよい。 By the way, the upstream transport mechanism 31, the standby mechanism 32, the downstream transport mechanism 33, the carry-out mechanism 34, the heating mechanism 38, the suction mechanism 39, the preheating mechanism 43, the shuttle reciprocating mechanism 45, the delivery mechanism 48 and the like are shown in FIG. It is controlled by the control means 50 shown in 1. Similar to the bonding device, the control means 50 is, for example, a microcomputer in which a CPU (Central Processing Unit), a ROM (Read Only Memory), a RAM (Random Access Memory), and the like are connected to each other via a bus. be. The ROM stores programs and data executed by the CPU. Therefore, the control means 50 may be used to configure the control means of the bonding apparatus.

搬送機構31,33は、図3及び図4に示すに示すように、被供給部材Sの上流端をチャックする第1チャック部材51と、被供給部材Sの下流端をチャックする第2チャック部材52とを備える。そして、図3と図7に示すように、第1チャック部材51は、第1上下動機構54にて矢印Z1方向に上下動し、第1水平方向移動機構55にて水平方向に沿って矢印X1方向に往復動する。また、第1チャック部材52は、第2上下動機構56にて矢印Z1方向に上下動し、第2水平方向移動機構57にて水平方向に沿って矢印X1方向に往復動する。また、上下動機構54,56および移動機構55,57もシリンダ機構、ボールねじ機構、リニアガイド機構等の公知・公用の往復動機構で構成できる。 As shown in FIGS. 3 and 4, the transport mechanisms 31 and 33 have a first chuck member 51 that chucks the upstream end of the supplied member S and a second chuck member that chucks the downstream end of the supplied member S. 52 and. Then, as shown in FIGS. 3 and 7, the first chuck member 51 moves up and down in the arrow Z1 direction by the first vertical movement mechanism 54, and the first horizontal movement mechanism 55 moves the arrow along the horizontal direction. It reciprocates in the X1 direction. Further, the first chuck member 52 moves up and down in the arrow Z1 direction by the second vertical movement mechanism 56, and reciprocates in the arrow X1 direction along the horizontal direction by the second horizontal movement mechanism 57. Further, the vertical movement mechanism 54, 56 and the movement mechanism 55, 57 can also be composed of known and public reciprocating movement mechanisms such as a cylinder mechanism, a ball screw mechanism, and a linear guide mechanism.

各チャック部材51、52は、被供給部材の下面側を受ける受け部51a、52aと被供給部材の上面側を押さえる押さえ部51b、52bとを備える。受け部51a、52aと押さえ部51b、52bとの相対的な接近離間が可能とされ、第1チャック部材51が、受け部51aの受け片51a1と押さえ部51bの押さえ片51b1とで被供給部材Sの上流端を挾持し、第2チャック部材52が、受け部52aの受け片52a1と押さえ部52bの押さえ片52b1とで被供給部材Sの下流端を挾持することができる。 Each chuck member 51, 52 includes receiving portions 51a, 52a for receiving the lower surface side of the supplied member, and pressing portions 51b, 52b for pressing the upper surface side of the supplied member. The receiving portions 51a and 52a and the pressing portions 51b and 52b can be relatively close to each other, and the first chuck member 51 is supplied by the receiving piece 51a1 of the receiving portion 51a and the pressing piece 51b1 of the pressing portion 51b. The upstream end of S is held, and the second chuck member 52 can hold the downstream end of the supplied member S by the receiving piece 52a1 of the receiving portion 52a and the holding piece 52b1 of the holding portion 52b.

受け部51a、52aの受け片51a1、52a1の幅寸法を、押さえ部51b、52bの押さえ片51b1,52b1の幅寸法よりも長く設定している。すなわち、図4に示すように、受け片51a1、52a1の幅寸法をW1とし、押さえ片51b1,52b1の幅寸法をW2としたときに、W1>W2としている。 The width dimension of the receiving pieces 51a1 and 52a1 of the receiving portions 51a and 52a is set longer than the width dimension of the holding pieces 51b1 and 52b1 of the holding portions 51b and 52b. That is, as shown in FIG. 4, when the width dimension of the receiving pieces 51a1 and 52a1 is W1 and the width dimension of the holding pieces 51b1 and 52b1 is W2, W1> W2.

この場合、図3に示すように、水平方向移動機構55、57にて往復動する基部60a、60bと、この基部60a、60bから突設されるアーム部61a、61bとを有し、アーム部61a、61bに、受け部51a、52aと押さえ部51b、52bとが付設される。そして、押さえ部51b、52bが、押さえ部上下動機構63(図7参照)にてアーム部61a、61bに対して上下動する。また、受け部51a、52aも、受け部上下動機構64(図7参照)にてアーム部61a、61bに対して上下動するように構成してもよい。上下動機構63,64もシリンダ機構、ボールねじ機構、リニアガイド機構等の公知・公用の往復動機構で構成できる。 In this case, as shown in FIG. 3, it has bases 60a and 60b reciprocating by the horizontal movement mechanisms 55 and 57, and arm portions 61a and 61b projecting from the bases 60a and 60b. The receiving portions 51a and 52a and the pressing portions 51b and 52b are attached to the 61a and 61b. Then, the pressing portions 51b and 52b move up and down with respect to the arm portions 61a and 61b by the pressing portion vertical movement mechanism 63 (see FIG. 7). Further, the receiving portions 51a and 52a may also be configured to move up and down with respect to the arm portions 61a and 61b by the receiving portion vertical movement mechanism 64 (see FIG. 7). The vertical movement mechanisms 63 and 64 can also be composed of known and public reciprocating mechanisms such as a cylinder mechanism, a ball screw mechanism, and a linear guide mechanism.

このため、上流側搬送機構31は、1つの第1チャック部材51と1つの第2チャック部材52とを有する上流側チャック装置M1を備え、下流側搬送機構33は、1つの第1チャック部材51と1つの前記第2チャック部材52とを有する下流側チャック装置M2とを備える。そして、各チャック装置M1、M2は、図8に示すように、上下動機構65および水平方向往復動機構66を有する駆動機構67にて矢印Z方向の上下動及び矢印X方向の水平方向の往復動が可能となっている。駆動機構67の上下動機構65および水平方向往復動機構66としても、シリンダ機構、ボールねじ機構、リニアガイド機構等の公知・公用の往復動機構で構成できる。 Therefore, the upstream transfer mechanism 31 includes an upstream chuck device M1 having one first chuck member 51 and one second chuck member 52, and the downstream transfer mechanism 33 has one first chuck member 51. A downstream chuck device M2 having the second chuck member 52 and the second chuck member 52 is provided. Then, as shown in FIG. 8, each chuck device M1 and M2 moves up and down in the arrow Z direction and reciprocates in the horizontal direction in the arrow X direction by the drive mechanism 67 having the vertical movement mechanism 65 and the horizontal reciprocating mechanism 66. It is possible to move. The vertical movement mechanism 65 and the horizontal reciprocating mechanism 66 of the drive mechanism 67 can also be configured by known and public reciprocating mechanisms such as a cylinder mechanism, a ball screw mechanism, and a linear guide mechanism.

これらの第1・第2上下動機構54,56、第1・第2水平方向移動機構55.57、押さえ部上下動機構63、受け部上下動機構64は、図7に示すように、前記制御手段70にて制御され、各チャック装置M1、M2における、上下動機構65および水平方向往復動機構66を有する駆動機構67は制御手段71にて制御される。なお、制御手段70及び制御手段71は、前記制御手段50と同様マイクロコンピューター等にて構成でき、これらの制御手段70,71として、前記制御手段50にて構成することも可能である。 As shown in FIG. 7, the first and second vertical movement mechanisms 54 and 56, the first and second horizontal movement mechanisms 55.57, the holding portion vertical movement mechanism 63, and the receiving portion vertical movement mechanism 64 are described above. The drive mechanism 67, which is controlled by the control means 70 and has the vertical movement mechanism 65 and the horizontal reciprocating mechanism 66 in each of the chuck devices M1 and M2, is controlled by the control means 71. The control means 70 and the control means 71 can be configured by a microcomputer or the like like the control means 50, and can be configured by the control means 50 as these control means 70 and 71.

ところで、チャック部材51,52の基本構成は、図4に示すように、それぞれ、一つずつの受け部51a、52aと一つずつの押さえ部51b、52bとを有するものであるが、上流側チャック装置M1の第1チャック部材51に、図5に示すように、上流側に、受け片51c1を有する受け部51c及び押さえ片51d1を有する押さえ部51dを有するチャック部53Aを設けてもよい。また、下流側チャック装置M2の第2チャック部材52に、図6に示すように、下流側に、受け片52c1を有する受け部52c及び押さえ片52d1を有する押さえ部52dを有するチャック部53Bを設けてもよい。 By the way, as shown in FIG. 4, the basic configuration of the chuck members 51 and 52 has one receiving portion 51a and 52a and one holding portion 51b and 52b, respectively, on the upstream side. As shown in FIG. 5, the first chuck member 51 of the chuck device M1 may be provided with a chuck portion 53A having a receiving portion 51c having a receiving piece 51c1 and a holding portion 51d having a holding piece 51d1 on the upstream side. Further, as shown in FIG. 6, the second chuck member 52 of the downstream chuck device M2 is provided with a chuck portion 53B having a receiving portion 52c having a receiving piece 52c1 and a pressing portion 52d having a holding piece 52d1 on the downstream side. You may.

すなわち、第1のチャック部材51のチャック部53Aと、第1のチャック部材51を上下させる上下動機構54と、第1のチャック部材51を水平方向に往復動させる水平方向移動機構57とで、前記送出機構48を構成することも可能である。また、第2のチャック部材53Bと、第2のチャック部材52を上下させる上下動機構54と、第2のチャック部材51を水平方向に往復動させる水平方向移動機構57とで、搬出機構34を構成することも可能である。 That is, the chuck portion 53A of the first chuck member 51, the vertical movement mechanism 54 that moves the first chuck member 51 up and down, and the horizontal movement mechanism 57 that reciprocates the first chuck member 51 in the horizontal direction. It is also possible to configure the delivery mechanism 48. Further, the unloading mechanism 34 is provided by the second chuck member 53B, the vertical movement mechanism 54 that moves the second chuck member 52 up and down, and the horizontal movement mechanism 57 that reciprocates the second chuck member 51 in the horizontal direction. It is also possible to configure.

次に前記のように構成された搬送装置による搬送方法を図9~図14等を用いて説明する。第1のグレードのチップを搭載する基板22を基板22Aとし、第2のグレードのチップを搭載する基板22を基板22Bとし、第3のグレードのチップを搭載する基板22を基板22Cとする。 Next, a transport method using the transport device configured as described above will be described with reference to FIGS. 9 to 14 and the like. The substrate 22 on which the first grade chip is mounted is the substrate 22A, the substrate 22 on which the second grade chip is mounted is the substrate 22B, and the substrate 22 on which the third grade chip is mounted is the substrate 22C.

まず図11に示すように、ステージ41上に第1グレード用に被供給部材Sとしての基板22Aを搬送する。この場合、上流側チャック装置M1の第1チャック部材51に図5に示すように上流側のチャック部53Aを備えたものであれば、この受け部51cと押さえ部51dとで、ローダ10から頭出しされた基板22Aの下流端をチャックすることができ、このチャック状態で、第1チャック部材51をアンローダ側へ移動させることによって、基板22をステージ41上に搬送することができる。ステージ41上に搬送されてきた基板22に対して、位置合わせ及び高さ検知が行われる。このため、このチャック部53Aと、上下動機構54と水平方向移動機構55とで、送出機構48を構成している。なお、図2では、第2ローダ10Bからの基板22Bの頭出し状態を示している。 First, as shown in FIG. 11, the substrate 22A as the supplied member S is conveyed onto the stage 41 for the first grade. In this case, if the first chuck member 51 of the upstream chuck device M1 is provided with the upstream chuck portion 53A as shown in FIG. 5, the receiving portion 51c and the pressing portion 51d are headed from the loader 10. The downstream end of the ejected substrate 22A can be chucked, and in this chucked state, the substrate 22 can be conveyed onto the stage 41 by moving the first chuck member 51 to the unloader side. Alignment and height detection are performed on the substrate 22 conveyed onto the stage 41. Therefore, the chuck portion 53A, the vertical movement mechanism 54, and the horizontal movement mechanism 55 form a delivery mechanism 48. Note that FIG. 2 shows a cueing state of the substrate 22B from the second loader 10B.

そして、図11に示すように、ステージ上に搬送されてステージ上に載置された基板22を上流側チャック装置M1にてチャックする。この場合、図3(a)(b)に示すように、第1チャック部材51にて基板22の上流端をチャック(挾持)し、第2チャック部材52にて基板22の下流端をチャック(挾持)する。 Then, as shown in FIG. 11, the substrate 22 conveyed on the stage and placed on the stage is chucked by the upstream chuck device M1. In this case, as shown in FIGS. 3A and 3B, the upstream end of the substrate 22 is chucked (held) by the first chuck member 51, and the downstream end of the substrate 22 is chucked by the second chuck member 52 (holding). Hold on).

すなわち、図4(a)に示すように、第1チャック部材51と第2チャック部材52とを、基板22の長手方向長さ(長辺)よりも広い間隔として、図4(b)に示すように、第1チャック部材51と第2チャック部材52を下降させる。この場合、副プレート41bの長手方向寸法(搬送方向寸法)がステージ本体41aの長手方向寸法(搬送方向寸法)よりも短く設定されているので、受け片51a1,52a1を副プレート41bよりも下方に位置させるとともに、ステージ本体41aよりも上位に位置させ、また、押え片51b1、52b1を基板22の上面よりも上方に位置させることができる。 That is, as shown in FIG. 4 (a), the first chuck member 51 and the second chuck member 52 are shown in FIG. 4 (b) with a distance wider than the longitudinal length (long side) of the substrate 22. As described above, the first chuck member 51 and the second chuck member 52 are lowered. In this case, since the longitudinal dimension (transporting direction dimension) of the sub-plate 41b is set shorter than the longitudinal dimension (transporting direction dimension) of the stage body 41a, the receiving pieces 51a1, 52a1 are set below the sub-plate 41b. In addition to being positioned, it can be positioned above the stage body 41a, and the presser pieces 51b1 and 52b1 can be positioned above the upper surface of the substrate 22.

この状態で、図4(c)に示すように、第1チャック部材51と第2チャック部材52を接近させ、第1チャック部材51の受け片51a1と押さえ片51b1との間に基板22の上流端部を介在させるとともに、第2チャック部材52の受け片52a1と押さえ片52b1との間に基板22の下流端部を介在させる。その後、第1チャック部材51および第2チャック部材52を上昇させるとともに、押さえ片51b1、52b1を下降させて、図4(d)のように、受け片51a1と押さえ片51b1とで基板22の上流端部を挾持し、受け片52a1と押さえ片52b1とで基板22の下流端部を挾持する。 In this state, as shown in FIG. 4C, the first chuck member 51 and the second chuck member 52 are brought close to each other, and the upstream of the substrate 22 is between the receiving piece 51a1 and the holding piece 51b1 of the first chuck member 51. An end portion is interposed, and a downstream end portion of the substrate 22 is interposed between the receiving piece 52a1 and the pressing piece 52b1 of the second chuck member 52. After that, the first chuck member 51 and the second chuck member 52 are raised, and the holding pieces 51b1 and 52b1 are lowered, and as shown in FIG. 4D, the receiving piece 51a1 and the holding piece 51b1 are upstream of the substrate 22. The end portion is held, and the downstream end portion of the substrate 22 is held by the receiving piece 52a1 and the holding piece 52b1.

この図4(d)に示すように、第1チャック部材51と第2チャック部材52とで基板22(22A)をチャックした状態の上流側チャック装置M1を下流側へ搬送して、図12に示すように、予熱ステージ42に搬送する。この場合、上流側チャック装置M1を予熱ステージ上に位置させた後、下降させて、基板22を予熱ステージ42上に載置する。すなわち、第1チャック部材51にて基板22の上流端部を挾持するとともに、第2チャック部材52にて基板22(22A)の下流端部を挾持している状態で、この上流側チャック装置M1を下降させて基板22(22A)を予熱ステージ42上に載置する。 As shown in FIG. 4D, the upstream chuck device M1 in a state where the substrate 22 (22A) is chucked by the first chuck member 51 and the second chuck member 52 is conveyed to the downstream side, and is shown in FIG. As shown, it is conveyed to the preheating stage 42. In this case, the upstream chuck device M1 is positioned on the preheating stage and then lowered to place the substrate 22 on the preheating stage 42. That is, the upstream chuck device M1 is in a state where the first chuck member 51 holds the upstream end portion of the substrate 22 and the second chuck member 52 holds the downstream end portion of the substrate 22 (22A). 22 (22A) is placed on the preheating stage 42 by lowering.

この際、予熱ステージ42の副プレート42bの長手方向寸法(搬送方向寸法)L6が、本体42aの長手方向寸法(搬送方向寸法)L5より短く設定されているので、受け片51a1、52a1が基板22に接触することなく、予熱ステージ42上に載置することができる。その後は、押さえ片51b1,52b1を上昇させて第1チャック部材51と第2チャック部材52とを相対的に離間させた後、このチャック装置M1を上昇させる。これによって、チャック装置M1が予熱ステージ42上に載置された基板22の上方位置にチャック装置M1が配置された状態となる。 At this time, since the longitudinal dimension (conveyance direction dimension) L6 of the sub-plate 42b of the preheating stage 42 is set shorter than the longitudinal direction dimension (conveyance direction dimension) L5 of the main body 42a, the receiving pieces 51a1 and 52a1 are the substrate 22. It can be placed on the preheating stage 42 without contacting the preheating stage 42. After that, the holding pieces 51b1 and 52b1 are raised to relatively separate the first chuck member 51 and the second chuck member 52, and then the chuck device M1 is raised. As a result, the chuck device M1 is placed at a position above the substrate 22 on which the chuck device M1 is placed on the preheating stage 42.

そして、予熱ステージ42にて所定予熱温度に加熱された基板22を、供給ポジションQの下流側に位置されたシャトル30に搬送する。この場合、予熱ステージ42上の基板22は、図4に示す工程を行うことで、上流側チャック装置M1にてチャックできる。このため、基板22をチャックした状態で、図13に示すように、上流側チャック装置M1をアンローダ11側へ移動させる。この場合、シャトル30は、ローダ側に位置させて、上流側チャック装置M1を上昇させた状態で、アンローダ側へ搬送し、上流側チャック装置M1をシャトル30上方に位置させる。 Then, the substrate 22 heated to the predetermined preheating temperature in the preheating stage 42 is conveyed to the shuttle 30 located on the downstream side of the supply position Q. In this case, the substrate 22 on the preheating stage 42 can be chucked by the upstream chuck device M1 by performing the process shown in FIG. Therefore, with the substrate 22 chucked, the upstream chuck device M1 is moved to the unloader 11 side as shown in FIG. In this case, the shuttle 30 is positioned on the loader side, and in a state where the upstream chuck device M1 is raised, the shuttle 30 is conveyed to the unloader side, and the upstream chuck device M1 is positioned above the shuttle 30.

すなわち、図3(a)に示す状態であるシャトル30上方に位置させる。その後、上流側チャック装置M1を下降させて、基板22をシャトル30の上面、すなわち、副プレート30bの上面30b1に載置する。この際、副プレート30bの長手方向寸法(搬送方向寸法)L1を、シャトル本体30aの長手方向寸法L(搬送方向寸法)よりも短く設定している。このため、上流側チャック装置M1の両チャック部材51,52の受け片51a1、52a1が副プレート30bに接触することなく、図3(b)に示すように、基板22をシャトル30の上面に載置することができる。このように、載置する際には、チャック部材51,52を相対的に離間する方向に水平移動させる。これによって、基板22に対して、長手方向の張力を付与し、この張力付与状態で、シャトル30は基板22を全面吸着する。 That is, it is located above the shuttle 30 in the state shown in FIG. 3 (a). After that, the upstream chuck device M1 is lowered to place the substrate 22 on the upper surface of the shuttle 30, that is, the upper surface 30b1 of the sub-plate 30b. At this time, the longitudinal dimension (transport direction dimension) L1 of the sub-plate 30b is set shorter than the longitudinal dimension L (transport direction dimension) of the shuttle body 30a. Therefore, as shown in FIG. 3B, the substrate 22 is placed on the upper surface of the shuttle 30 without the receiving pieces 51a1 and 52a1 of the chuck members 51 and 52 of the upstream chuck device M1 coming into contact with the sub-plate 30b. Can be placed. In this way, when the chuck members 51 and 52 are placed, the chuck members 51 and 52 are horizontally moved in a direction in which they are relatively separated from each other. As a result, tension in the longitudinal direction is applied to the substrate 22, and in this tension-applied state, the shuttle 30 completely adsorbs the substrate 22.

シャトル30に基板22が吸着されれば、上流側チャック装置M1を基板22から離間させる。すなわち、予熱ステージ42に載置された状態から上流側チャック装置M1を離間させる工程と同様の工程を行うことによって、シャトル30に吸着保持された基板22の上方位置に上流側チャック装置M1が配置された状態となる。その後は、上流側チャック装置M1が上流側に戻る。 When the substrate 22 is attracted to the shuttle 30, the upstream chuck device M1 is separated from the substrate 22. That is, by performing the same process as the step of separating the upstream chuck device M1 from the state mounted on the preheating stage 42, the upstream chuck device M1 is arranged at an upper position of the substrate 22 adsorbed and held by the shuttle 30. It will be in the state of being. After that, the upstream side chuck device M1 returns to the upstream side.

そして、シャトル30に吸着保持された基板22は加熱されて、この基板22のアイランド部22aにワークWとしてのチップ21がボンディングされる。この状態で、図9に示すように、第1グレードのチップ21のボンディングを開始する(ステップS1)。その後、ステップS2へ移行して、第1グレードのチップ21の搭載が完了したか否かを判断する(この場合、基板22Aへのチップの搭載が完了したか否かを判断する)。ステップS2で完了していれば、ステップS3へ移行して、第2グレードのチップ21のボンディングを開始する。この際、第1グレードのチップ21の搭載が完了した基板22Aを、待機機構32へ図14に示すように下流側チャック装置M2にて搬送する。 Then, the substrate 22 attracted and held by the shuttle 30 is heated, and the chip 21 as the work W is bonded to the island portion 22a of the substrate 22. In this state, as shown in FIG. 9, bonding of the first grade chip 21 is started (step S1). After that, the process proceeds to step S2, and it is determined whether or not the mounting of the first grade chip 21 is completed (in this case, it is determined whether or not the mounting of the chip on the substrate 22A is completed). If it is completed in step S2, the process proceeds to step S3 to start bonding the second grade chip 21. At this time, the substrate 22A on which the first grade chip 21 has been mounted is conveyed to the standby mechanism 32 by the downstream chuck device M2 as shown in FIG.

ボンディング工程は、搬送方向(長手方向)と直交する方向の一列のアイランド部22a(図10参照)へのボンディングが完了した後に、このボンディングしている基板22を受けているシャトル30を下流側へ所定量だけシャトル往復動機構45を介して移動させて、次の一列のアイランド部22aへのボンディングを可能とする。 In the bonding step, after bonding to a row of island portions 22a (see FIG. 10) in a direction orthogonal to the transport direction (longitudinal direction) is completed, the shuttle 30 receiving the bonded substrate 22 is moved downstream. It is moved by a predetermined amount via the shuttle reciprocating mechanism 45 to enable bonding to the next row of island portions 22a.

下流側チャック装置M2も上流側チャック装置M1と同一構成であるので、ボンディングによって、下流側に位置するシャトル30の上方位置に下流側チャック装置M2を位置させる。すなわち、図4(a)に示す状態とする。その後は、図4(b)から図4(d)に示す工程を行うことによって、下流側チャック装置M2にて、第1のグレードのチップの搭載が完了した基板22Aをチャックすることができる。そして、下流側チャック装置M2にてこの基板22Aを図13に示すように、待機機構32に搬送できる。 Since the downstream side chuck device M2 has the same configuration as the upstream side chuck device M1, the downstream side chuck device M2 is positioned above the shuttle 30 located on the downstream side by bonding. That is, the state shown in FIG. 4A is used. After that, by performing the steps shown in FIGS. 4 (b) to 4 (d), the substrate 22A on which the first grade chip has been mounted can be chucked by the downstream chuck device M2. Then, the substrate 22A can be conveyed to the standby mechanism 32 by the downstream side chuck device M2 as shown in FIG.

ところで、下流側チャック装置M2として、図6に示すように、第2チャック部材52の下流側に、ローダ側チャック部53Aとを有するものを用いれば、このチャック部53Aで基板22Aの上流端部をチャックして、アンローダ11へ押し込むことができる。すなわち、下流側チャック装置M2の第2チャック部材52のチャック部53Bと、この第2チャック部材52を上下動させる上下動機構54と、水平移動機構55とで、搬出機構34を構成でき、これによって、アンローダ11へ基板22Aを排出することができる。 By the way, as shown in FIG. 6, if a downstream side chuck device M2 having a loader side chuck portion 53A on the downstream side of the second chuck member 52 is used, the chuck portion 53A is the upstream end portion of the substrate 22A. Can be chucked and pushed into the unloader 11. That is, the carry-out mechanism 34 can be configured by the chuck portion 53B of the second chuck member 52 of the downstream chuck device M2, the vertical movement mechanism 54 that moves the second chuck member 52 up and down, and the horizontal movement mechanism 55. Therefore, the substrate 22A can be discharged to the unloader 11.

ステップS2で完了していなければ、ステップS4へ移行する。ステップS4では、第1グレードのチップ21がウェハ26に残っているか否かを判断する(残があるか否かを判断する)。残があれば、ステップS2へ戻り、第1グレードのチップ21のボンディングを続行する。ステップS4で、残が無ければ、第1グレード用の基板22Aを待機機構32に搬送して第1グレード用の基板22を退避状態とする。(ステップS5)。 If it is not completed in step S2, the process proceeds to step S4. In step S4, it is determined whether or not the first grade chip 21 remains on the wafer 26 (determines whether or not there is a residue). If there is a residue, the process returns to step S2 and the bonding of the first grade chip 21 is continued. In step S4, if there is no residue, the substrate 22A for the first grade is conveyed to the standby mechanism 32 to put the substrate 22 for the first grade in the retracted state. (Step S5).

この場合、第1のクレード用の基板22Aへのボンディング中、上流側チャック装置M1を用いて、予熱ステージ42に第2のグレード用の基板22Bを搬送しておき、この基板22Bに予熱を付与しておく。そして、空の状態となって上流側に位置しているシャトル30にこの基板22Bを搬送して、シャトル30の上面に基板22Bが全面吸着される状態とする。これによって、第2のグレードのチップ21を第2グレード用の基板22Bに搭載していくことができる。 In this case, during bonding to the substrate 22A for the first clade, the substrate 22B for the second grade is conveyed to the preheating stage 42 by using the upstream chuck device M1 to apply preheating to the substrate 22B. I will do it. Then, the substrate 22B is conveyed to the shuttle 30 located on the upstream side in an empty state, and the substrate 22B is fully adsorbed on the upper surface of the shuttle 30. As a result, the second grade chip 21 can be mounted on the second grade substrate 22B.

第2グレードのチップ21のボンディングを開始すれば、ステップS6へ移行して、第2グレードのチップ21の搭載が完了したか否かが判断される。完了していれば、図6のステップS7へ移行する。すなわち、この搭載が完了した基板22Bを下流側チャック装置M2を用いて、待機機構32に搬送し、その後、アンローダ11へ搬出する。 When the bonding of the second grade chip 21 is started, the process proceeds to step S6, and it is determined whether or not the mounting of the second grade chip 21 is completed. If it is completed, the process proceeds to step S7 in FIG. That is, the board 22B having been mounted is conveyed to the standby mechanism 32 by using the downstream chuck device M2, and then carried out to the unloader 11.

ステップS6で完了していなければ、ステップS8へ移行する。ステップS8では、第2グレードのチップ21がウェハ26に残っているか否かを判断する(残がある否かを判断する)。残があれば、ステップS6へ戻り、第2グレードのチップ21のボンディングを続行する。ステップS8で、残が無ければ、第2グレード用の基板22Bを退避状態とする。すなわち、基板22Bを待機機構32に搬送する。 If it is not completed in step S6, the process proceeds to step S8. In step S8, it is determined whether or not the second grade chip 21 remains on the wafer 26 (determines whether or not there is a residue). If there is a residue, the process returns to step S6 and the bonding of the second grade chip 21 is continued. In step S8, if there is no residue, the second grade substrate 22B is put into a retracted state. That is, the substrate 22B is conveyed to the standby mechanism 32.

ステップS7では、第3のグレードのチップ21を第3のグレード用の基板22Cに対して、ボンディングを開始する。この場合、第2のグレードのチップ21を第2のグレード用の基板22Bのボンディング中、上流側チャック装置M1を用いて、予熱ステージ42に第2のグレード用の基板22Cを搬送しておき、この基板22Cに予熱を付与しておく。そして、空の状態となって上流側に位置しているシャトル30にこの基板22Cを搬送して、シャトル30の上面に基板22Cが全面吸着される状態とする。これによって、第3のグレードのチップ21を第3グレード用の基板22Cに搭載していくことができる。 In step S7, bonding of the third grade chip 21 to the third grade substrate 22C is started. In this case, while the second grade chip 21 is being bonded to the second grade substrate 22B, the second grade substrate 22C is conveyed to the preheating stage 42 by using the upstream chuck device M1. Preheating is applied to the substrate 22C. Then, the substrate 22C is conveyed to the shuttle 30 located on the upstream side in an empty state, and the substrate 22C is fully adsorbed on the upper surface of the shuttle 30. As a result, the third grade chip 21 can be mounted on the third grade substrate 22C.

第3のグレードのチップ21のボンディングを開始した後は、ステップS11へ移行して、第3グレードのチップ21の搭載が完了したか否かが判断される。完了していれば、ステップS12へ移行する。この際、この基板22Cをアンローダ11へ搬送(排出)する。ステップS11で搭載が完了していれば、ステップS12へ移行して、この作業を終了するか否かが判断され、終了する場合は終了し、終了しない場合は図9のステップS1に戻る。 After starting the bonding of the third grade chip 21, the process proceeds to step S11, and it is determined whether or not the mounting of the third grade chip 21 is completed. If it is completed, the process proceeds to step S12. At this time, the substrate 22C is conveyed (discharged) to the unloader 11. If the mounting is completed in step S11, the process proceeds to step S12, and it is determined whether or not to end this work. If it ends, it ends, and if it does not end, the process returns to step S1 in FIG.

ステップS11で搭載が完了していなければ、ステップS13へ移行して、第3グレードのチップ21がウェハ26に残っているか否かを判断する(残があるか否かを判断する)。残があれば、ステップS11へ戻り、第3グレードのチップ21のボンディングを続行する。ステップS13で、残が無ければ、ステップS14へ移行して、ウェハ26のすべてのチップ21がピックアップされたか否かが判断される。全てのチップ21がピックアップされた場合、ステップS15へ移行して、ピックアップポジションのウェハ26を交換して、図5のステップS1に移行する。 If the mounting is not completed in step S11, the process proceeds to step S13, and it is determined whether or not the third grade chip 21 remains on the wafer 26 (determines whether or not there is a residue). If there is a residue, the process returns to step S11 and the bonding of the third grade chip 21 is continued. In step S13, if there is no residue, the process proceeds to step S14, and it is determined whether or not all the chips 21 of the wafer 26 have been picked up. When all the chips 21 are picked up, the process proceeds to step S15, the wafer 26 at the pickup position is replaced, and the process proceeds to step S1 in FIG.

ステップS14で、全てのチップ21がピックアップされていない場合、ステップS16へ移行して、残っているチップ21をピックアップして、ボンディングすることになる。この場合、第1グレードのチップ21が残っていれば、待機機構32に待機していた第1グレード用の基板22Aがシャトル30に戻され、第1グレードのチップ21をボンディングすることになる。第2グレードのチップ21が残っていれば、待機機構32に待機していた第2グレード用の基板22Bがシャトル30に戻され、第2グレードのチップ21をボンディングすることになる。第3グレードのチップ21が残っていれば、待機機構32に待機していた第3グレード用の基板22Cがシャトル30に戻され、第3グレードのチップ21をボンディングすることになる。全てのチップ21がピックアップされるまで、ボンディング作業を行うことになる。 If not all the chips 21 have been picked up in step S14, the process proceeds to step S16, and the remaining chips 21 are picked up and bonded. In this case, if the first grade chip 21 remains, the first grade substrate 22A waiting in the standby mechanism 32 is returned to the shuttle 30, and the first grade chip 21 is bonded. If the second grade chip 21 remains, the second grade substrate 22B waiting in the standby mechanism 32 is returned to the shuttle 30, and the second grade chip 21 is bonded. If the third grade chip 21 remains, the third grade substrate 22C waiting in the standby mechanism 32 is returned to the shuttle 30, and the third grade chip 21 is bonded. Bonding work will be performed until all the chips 21 are picked up.

このように、グレードが相違するチップ21を、この搭載すべき基板22A,22B,22Cに順次ボンディングしていくことができ、しかも、搭載が完了した基板22A,22B,を下流側のアンローダ11へ搬出していくことができる。 In this way, the chips 21 of different grades can be sequentially bonded to the boards 22A, 22B, 22C to be mounted, and the boards 22A, 22B, which have been mounted, are transferred to the unloader 11 on the downstream side. It can be carried out.

本発明の搬送装置では、被供給部材Sをローダ側から供給ポジションQのシャトル30に搬送することができる。このため、この被供給部材Sの被供給部位SaにワークWを供給していくことができる。そして、ワークWの搭載が完了した被供給部材Sを、待機機構32を介してアンローダ11へ搬出することができる。 In the transport device of the present invention, the supplied member S can be transported from the loader side to the shuttle 30 at the supply position Q. Therefore, the work W can be supplied to the supplied portion Sa of the supplied member S. Then, the supplied member S for which the work W has been mounted can be carried out to the unloader 11 via the standby mechanism 32.

また、被供給部材SへのワークWの搭載完了前にワーク供給源の供給すべきグレードのワークWが無くなれば、この被供給部材SをシャトルSから待機機構32に搬送し、空の状態となった供給ポジションQへ他のグレード用の被供給部材Sを搬送するこができる。このため、この他のグレードのワークWを被供給部材Sに供給することができる。そして、ワークWの搭載が完了した被供給部材Sを、待機機構32を介してアンローダ11へ搬出することができる。 Further, if there is no work W of the grade to be supplied from the work supply source before the work W is mounted on the supplied member S, the supplied member S is transported from the shuttle S to the standby mechanism 32 to be in an empty state. It is possible to transport the supplied member S for another grade to the supply position Q that has become. Therefore, the work W of another grade can be supplied to the supplied member S. Then, the supplied member S for which the work W has been mounted can be carried out to the unloader 11 via the standby mechanism 32.

そして、ワーク供給源の全ワークが無くなれば、ワーク供給源に新しいワークWを供給することになる。このため、待機機構32に待機していた、ワークWの搭載が完了していない被供給部材Sを、再度、供給ポジションQのシャトル30に戻すことができる。このように供給ポジションQに戻った被供給部材Sの残りの被供給部位SaにワークWを供給することができる。 Then, when all the works of the work supply source are exhausted, a new work W is supplied to the work supply source. Therefore, the supplied member S for which the work W has not been mounted, which has been waiting in the standby mechanism 32, can be returned to the shuttle 30 at the supply position Q again. The work W can be supplied to the remaining supplied portion Sa of the supplied member S that has returned to the supply position Q in this way.

このため、本発明では、ワーク供給源(ワーク集合体)におけるグレード毎のワークの残数、被供給部材の被供給部位残数情報を活用でき、搬送ロスの軽減を図ることが可能となる。ワークのグレードが1種類であっても、複数種であっても対応でき、生産効率の向上を図ることができる。また、搬送路Tとして比較的短く設計でき、装置のコンパクト化を図ることができる。 Therefore, in the present invention, it is possible to utilize the information on the remaining number of works for each grade in the work supply source (work aggregate) and the remaining number of supplied parts of the supplied member, and it is possible to reduce the transfer loss. It is possible to handle either one type of work or multiple types of work, and it is possible to improve production efficiency. Further, the transport path T can be designed to be relatively short, and the device can be made compact.

供給ポジションQ内において、ローダ10とアンローダ11との間の搬送方向のシャトル30の往復動を行うシャトル往復動機構45を備えたものが好ましい。このように構成すれば、供給ポジションQ内においてシャトル30を上流側に配置した状態で、ローダ10からの被供給部材Sを受けることができる。このため、被供給部材Sの被供給部位Saへのワーク供給時に、例えば、被供給部材Sの搬送方向と直交する方向に沿ってワークWを供給し、一列に配設される複数個の被供給部位Sへのワーク供給が完了後、シャトル30を下流側へ所定ピッチ移動させて、次の列の複数個の被供給部位SへのワークWを供給することができる。この動作を行うことによって、被供給部材Sの全被供給部位へワークWを供給することがでる。しかも、ワークWの供給が完了すれば、シャトルSは下流側に位置することになり、アンローダ側へ迅速に搬出することができる。 It is preferable that the supply position Q is provided with a shuttle reciprocating mechanism 45 that reciprocates the shuttle 30 in the transport direction between the loader 10 and the unloader 11. With this configuration, it is possible to receive the supplied member S from the loader 10 with the shuttle 30 arranged on the upstream side in the supply position Q. Therefore, when the work is supplied to the supplied portion Sa of the supplied member S, for example, the work W is supplied along a direction orthogonal to the transport direction of the supplied member S, and a plurality of coated members arranged in a row. After the work supply to the supply portion S is completed, the shuttle 30 can be moved downstream by a predetermined pitch to supply the work W to the plurality of supply portions S in the next row. By performing this operation, the work W can be supplied to all the supplied parts of the supplied member S. Moreover, when the supply of the work W is completed, the shuttle S will be located on the downstream side and can be quickly carried out to the unloader side.

待機機構32は、複数個の被供給部材Sを上下に収納する収納棚46と、この収納棚46を昇降させる昇降機構47とを備えたもので構成できる。このように構成することによって、複数個の被供給部材Sを収納棚46にコンパクトに収納でき、しかも、昇降機構47にて、被供給部材Sを上昇させることができ、収納棚46から被供給部材Sを搬出させる可能な高さに位置させることが可能となる。 The standby mechanism 32 can be configured to include a storage shelf 46 for vertically storing a plurality of supplied members S and an elevating mechanism 47 for raising and lowering the storage shelf 46. With this configuration, a plurality of supplied members S can be compactly stored in the storage shelf 46, and the supplied member S can be raised by the elevating mechanism 47, and is supplied from the storage shelf 46. It is possible to position the member S at a height at which it can be carried out.

上流側搬送機構31は、被供給部材Sをチャックする一対のチャック部材51,52と、チャック部材51,52の上下動を行う上下動機構54,56と、ローダ10とアンローダ11との間の搬送方向のチャック部材51,52の往復動を行う往復動機構55,57とを備えたものが好ましい。このように構成することによって、供給ポジションQに被供給部材Sを搬送しようとする場合に、この被供給部材Sよりも上流側で供給ポジションQに別の被供給部材Sが配置されていても、搬送しようとする被供給部材Sをこの別の被供給部材Sを越えて供給ポジションに搬送することができる。 The upstream transfer mechanism 31 is between a pair of chuck members 51, 52 that chuck the supplied member S, a vertical movement mechanism 54, 56 that moves the chuck members 51, 52 up and down, and a loader 10 and an unloader 11. Those provided with the reciprocating movement mechanisms 55 and 57 that reciprocate the chuck members 51 and 52 in the transport direction are preferable. With this configuration, when the supplied member S is to be conveyed to the supply position Q, even if another supplied member S is arranged at the supply position Q on the upstream side of the supplied member S. , The supplied member S to be transported can be transported to the supply position beyond the other supplied member S.

ローダ10から被供給部材Sを送出する送出機構48を有し、ローダ10から送出された被供給部材Sを受けるステージ41を備えたものであってもよい。このようなものを備えることによって、ローダ10から安定して被供給部材Sを送出することができる。また、被供給部材Sを上流側搬送機構31にて、ステージ41に搬送することになるが、この場合、ステージ41上に被供給部材Sが受けられた状態であるので、被供給部材Sは安定した姿勢及び位置を維持することができ、上流側搬送機構31によるこのステージ41上におけるチャックが容易となる。 It may have a delivery mechanism 48 that sends out the supplied member S from the loader 10, and may include a stage 41 that receives the supplied member S sent from the loader 10. By providing such a device, the supplied member S can be stably delivered from the loader 10. Further, the supplied member S is transported to the stage 41 by the upstream transport mechanism 31, but in this case, since the supplied member S is received on the stage 41, the supplied member S is A stable posture and position can be maintained, and chucking on the stage 41 by the upstream transfer mechanism 31 becomes easy.

シャトル30は被供給部材Sを全面吸着する吸着機構39を有するものが好ましい。ここで、全面吸着することによって、被供給部材Sが薄肉であっても変形させることなく平面状に保持することができ、この被供給部材SへのワークWの供給作業が安定する。 The shuttle 30 preferably has a suction mechanism 39 that completely sucks the supplied member S. Here, by adsorbing the entire surface, even if the supplied member S is thin, it can be held flat without being deformed, and the work of supplying the work W to the supplied member S is stable.

シャトル30は被供給部材Sを加熱する加熱機構38を有するものとすることができる。このように加熱機構38を有するものでは、被供給部材Sを加熱することができ、ワークWを被供給部材Sに接着剤を介して接着する場合、迅速にかつ安定して接着することができる。 The shuttle 30 may have a heating mechanism 38 for heating the supplied member S. In the device having the heating mechanism 38 as described above, the supplied member S can be heated, and when the work W is bonded to the supplied member S via an adhesive, it can be quickly and stably bonded. ..

供給ポジションQよりもローダ側に被供給部材Sに予熱を付与する予熱ステージ42を設けてもよい。このように予熱ステージ42を設けることによって、ワーク供給時に迅速に被供給部材Sを所定温度に加熱することができ、作業時間の短縮化を図ることができる。 A preheating stage 42 for applying preheating to the supplied member S may be provided on the loader side of the supply position Q. By providing the preheating stage 42 in this way, the supplied member S can be quickly heated to a predetermined temperature when the work is supplied, and the working time can be shortened.

本発明のダイボンダでは、前記搬送装置を用いて、ボンディングポジションに基板22が搬送される。この場合、ワークWとしてのチップ21に複数種のグレードを有しても、各グレードのチップ21をそのグレードのチップ21がボンディングされるべき基板22に、順次チップをボンディングしていくことができる。 In the die bonder of the present invention, the substrate 22 is conveyed to the bonding position by using the transfer device. In this case, even if the chip 21 as the work W has a plurality of grades, the chips 21 of each grade can be sequentially bonded to the substrate 22 to which the chip 21 of that grade is to be bonded. ..

本発明の搬送方法によれば、被供給部材Sに供給すべきグレードのワークを被供給部材Sに供給でき、被供給部材S上に全てワークWの搭載が完了した後は、搭載が完了した被供給部材Sを下流側のアンローダ11へ搬出することができる。また、被供給部材SへのワークWの搭載完了前にワーク供給源の供給すべきグレードのワークWが無くなれば、この被供給部材Sをシャトル30から待機ポジションに搬送し、空の状態となった供給ポジションQへ他の被供給部材Sを搬送するので、この被供給部材Sに対してワークWを供給することができる。 According to the transport method of the present invention, the work of the grade to be supplied to the supplied member S can be supplied to the supplied member S, and after all the work W has been mounted on the supplied member S, the mounting is completed. The supplied member S can be carried out to the unloader 11 on the downstream side. Further, if there is no work W of the grade to be supplied from the work supply source before the work W is mounted on the supplied member S, the supplied member S is transported from the shuttle 30 to the standby position and becomes empty. Since the other supplied member S is conveyed to the supplied position Q, the work W can be supplied to the supplied member S.

ワーク供給源に供給すべきグレードのワークWが供給された状態で、待機ポジション(待機機構32)に待機させていた被供給部材Sを供給ポジションQに戻して、戻した被供給部材Sの被供給部位Saに供給すべきグレードのワークWを供給することができる。このように構成することによって、効率のよい搬送を行うことができる。 In a state where the work W of the grade to be supplied to the work supply source is supplied, the supplied member S that has been made to stand by in the standby position (standby mechanism 32) is returned to the supply position Q, and the supplied member S is returned. It is possible to supply the work W of the grade to be supplied to the supply site Sa. With such a configuration, efficient transportation can be performed.

前記実施形態では、第1チャック部材51にて被供給部材Sの上流端をチャックし、第2チャック部材52にて、被供給部材Sの下流端をチャックすることによって、被供給部材Sを保持することができる。そして、この保持状態で、第1チャック部材51と第2チャック部材52との一体状の上下動及び水平方向往復動が可能であるので、被供給部材Sを持ち上げた状態で、水平方向に沿って往復動させることができる。このため、搬送レールを用いることなく、基板22を所定の位置まで搬送することができる。また、各チャック部材51,52は上下動及び水平方向往復動が可能であるで、種々のサイズの被供給部材Sに対応することができる。 In the embodiment, the supplied member S is held by chucking the upstream end of the supplied member S with the first chuck member 51 and chucking the downstream end of the supplied member S with the second chuck member 52. can do. Then, in this holding state, the first chuck member 51 and the second chuck member 52 can be integrally moved up and down and reciprocated in the horizontal direction. Therefore, the supplied member S is lifted and along the horizontal direction. Can be reciprocated. Therefore, the substrate 22 can be transported to a predetermined position without using a transport rail. Further, since the chuck members 51 and 52 can move up and down and reciprocate in the horizontal direction, they can correspond to the supplied members S of various sizes.

受け部51a,52aの受け片51a1,52a1の幅寸法W1を押さえ部51b、52bの押さえ片51b1、52b2の幅寸法W2よりも長く設定することができる。これによって、安定して被供給部材Sを受けることができる。 The width dimension W1 of the receiving pieces 51a1 and 52a1 of the receiving portions 51a and 52a can be set longer than the width dimension W2 of the holding pieces 51b1 and 52b2 of the holding portions 51b and 52b. As a result, the supplied member S can be stably received.

第1チャック部材51にて被供給部材Sの上流端を挾持するとともに、第2チャック部材52にて被供給部材Sの下流端を挾持した状態での被供給部材Sへのテンションの付与を可能とするのが好ましい。このようにテンション付与することによって、押さえ機構を用いることなく、被供給部材Sの反りや撓みを矯正することができる。 It is possible to apply tension to the supplied member S while the first chuck member 51 holds the upstream end of the supplied member S and the second chuck member 52 holds the downstream end of the supplied member S. Is preferable. By applying tension in this way, it is possible to correct the warp or bending of the supplied member S without using a pressing mechanism.

上流側チャック装置M1と下流側チャック装置M2を備えたものであれば、上流側チャック装置M1にてローダ10からの被供給部材Sをローダ10とアンローダ11との間の所定部位(例えば、ポンディングポジション)に搬送でき、この部位にて、被供給部材Sに対して所定の動作(例えば、チップを搭載するマウント動作)を行い、この動作終了後に、動作が完了した被供給部材Sを下流側チャック装置M2でアンローダ側へ搬送できる。このため、効率のよい搬送作業を行うことができる。 If the upstream side chuck device M1 and the downstream side chuck device M2 are provided, the upstream side chuck device M1 places the supplied member S from the loader 10 at a predetermined portion between the loader 10 and the unloader 11 (for example, a pong). It can be conveyed to the ding position), and at this site, a predetermined operation (for example, a mounting operation for mounting a chip) is performed on the supplied member S, and after this operation is completed, the supplied member S whose operation is completed is downstream. It can be conveyed to the unloader side by the side chuck device M2. Therefore, efficient transport work can be performed.

上流側チャック装置M1の第1チャック部材51にローダ側チャック部53Aを設けたものでは、第1チャック部材51は上下動及び水平方向の往復動が可能であるので、このチャック部53Aにて被供給部材Sの下流端を挾持すれば、ローダ10に収納されている被供給部材Sを引き出すことができる。 In the case where the loader side chuck portion 53A is provided on the first chuck member 51 of the upstream chuck device M1, the first chuck member 51 can move up and down and reciprocate in the horizontal direction. If the downstream end of the supply member S is held, the supplied member S housed in the loader 10 can be pulled out.

下流側チャック装置M2の第2チャック部材52に、アンローダ側チャック部53Bを設けたものでは、第2チャック部材52は上下動及び水平方向の往復動が可能であるので、このチャック部53Bにて被供給部材Sの上流端を挾持すれば、被供給部材Sをアンローダ11に押し込むことができる。 In the case where the unloader side chuck portion 53B is provided on the second chuck member 52 of the downstream side chuck device M2, the second chuck member 52 can move up and down and reciprocate in the horizontal direction. By holding the upstream end of the supplied member S, the supplied member S can be pushed into the unloader 11.

実施形態のダイボンダによれば、搬送レールを用いることなく、基板22を所定の位置まで搬送することができる。また、各チャック部材51,52は上下動及び水平方向往復動が可能であるで、種々のサイズの被供給部材に対応することができる。すなわち、搬送レールを用いることなく、被供給部材Sである基板22を所定の位置まで搬送することができるので、いわゆる「こぜ」を生じさせず、安定した搬送を行うことができ、基板22に擦れ等が生じて基板が損傷するおそれもない。さらに、種々のサイズの基板に対応でき、汎用性に優れる。 According to the die bonder of the embodiment, the substrate 22 can be transported to a predetermined position without using a transport rail. Further, since the chuck members 51 and 52 can move up and down and reciprocate in the horizontal direction, they can correspond to the members to be supplied of various sizes. That is, since the substrate 22 which is the supplied member S can be transported to a predetermined position without using a transport rail, stable transport can be performed without causing so-called "kneading", and the substrate 22 can be transported. There is no possibility that the substrate will be damaged due to rubbing or the like. Furthermore, it can be used for substrates of various sizes and is excellent in versatility.

図15及び図16は、他の実施形態を示し、この場合、待機機構32をアンローダ11側に配置せずに、ローダ10側に配置している。そして、待機機構32の下流側に予熱ステージ42を配置し、この予熱ステージ42の下方に、シャトル30の待機(退避)スペースが設けられる。ローダ10は、第1ローダ10A、第2ローダ10B、及び第3ローダ10Cに加え、第4のグレード用の基板22Dを収納する第4ローダ10Dを備えている。このため、アンローダ11は、第1アンローダ11A、第2アンローダ11B、及び第3アンローダ11Cに加え、第4のグレード用の基板22Dを収納する第4アンローダ11Dを備えている。 15 and 16 show another embodiment, in which case the standby mechanism 32 is not arranged on the unloader 11 side but is arranged on the loader 10 side. Then, a preheating stage 42 is arranged on the downstream side of the standby mechanism 32, and a standby (evacuation) space for the shuttle 30 is provided below the preheating stage 42. The loader 10 includes a first loader 10A, a second loader 10B, a third loader 10C, and a fourth loader 10D for accommodating a substrate 22D for a fourth grade. Therefore, the unloader 11 includes a fourth unloader 11D for accommodating the substrate 22D for the fourth grade, in addition to the first unloader 11A, the second unloader 11B, and the third unloader 11C.

この場合の上流側搬送機構31は、図19に示すように、被供給部材Sの一方の側辺部(長辺側)をチャックする第3チャック部材81と、被供給部材Sの他方の側縁部(長辺側)をチャックする第4チャック部材82とを備える。そして、図17と図19に示すように、第3チャック部材81は、第3上下動機構84にて矢印Z1方向に上下動し、第3水平方向移動機構85にて水平方向に沿って矢印Y1方向に往復動する。また、第4チャック部材52は、第4上下動機構86にて矢印Z1方向に上下動し、第4水平方向移動機構87にて水平方向に沿って矢印Y1方向に往復動する。また、上下動機構84,86および移動機構85,87もシリンダ機構、ボールねじ機構、リニアガイド機構等の公知・公用の往復動機構で構成できる。 In this case, as shown in FIG. 19, the upstream transfer mechanism 31 has a third chuck member 81 that chucks one side side portion (long side side) of the supplied member S and the other side of the supplied member S. A fourth chuck member 82 for chucking the edge portion (long side side) is provided. Then, as shown in FIGS. 17 and 19, the third chuck member 81 moves up and down in the arrow Z1 direction by the third vertical movement mechanism 84, and the third horizontal movement mechanism 85 moves the arrow along the horizontal direction. It reciprocates in the Y1 direction. Further, the fourth chuck member 52 moves up and down in the arrow Z1 direction by the fourth vertical movement mechanism 86, and reciprocates in the arrow Y1 direction along the horizontal direction by the fourth horizontal movement mechanism 87. Further, the vertical movement mechanism 84, 86 and the movement mechanism 85, 87 can also be composed of known and public reciprocating movement mechanisms such as a cylinder mechanism, a ball screw mechanism, and a linear guide mechanism.

各チャック部材81、82は、被供給部材の下面側を受ける受け部81a、82aと被供給部材の上面側を押さえる押さえ部81b、82bとを備える。受け部81a、82aと押さえ部81b、82bとの相対的な接近離間が可能とされ、第3チャック部材81が、受け部81aの受け片81a1と押さえ部81bの押さえ片81b1とで被供給部材Sの一方の側辺部を挾持し、第4チャック部材82が、受け部82aの受け片82a1と押さえ部82bの押さえ片82b1とで被供給部材Sの他方の側辺部を挾持することができる。 Each chuck member 81, 82 includes receiving portions 81a, 82a for receiving the lower surface side of the supplied member, and holding portions 81b, 82b for pressing the upper surface side of the supplied member. The receiving portions 81a, 82a and the pressing portions 81b, 82b can be relatively close to each other, and the third chuck member 81 is supplied by the receiving piece 81a1 of the receiving portion 81a and the pressing piece 81b1 of the pressing portion 81b. One side side portion of S may be held, and the fourth chuck member 82 may hold the other side side portion of the supplied member S between the receiving piece 82a1 of the receiving portion 82a and the holding piece 82b1 of the holding portion 82b. can.

受け部81a、82aの受け片81a1、82a1の幅寸法を、押さえ部81b、82bの押さえ片81b1,82b1の幅寸法よりも長く設定している。すなわち、図19に示すように、受け片81a1、82a1の幅寸法をW3とし、押さえ片81b1,82b1の幅寸法をW4としたときに、W4>W3としている。 The width dimension of the receiving pieces 81a1 and 82a1 of the receiving portions 81a and 82a is set longer than the width dimension of the holding pieces 81b1 and 82b1 of the holding portions 81b and 82b. That is, as shown in FIG. 19, when the width dimension of the receiving pieces 81a1 and 82a1 is W3 and the width dimension of the holding pieces 81b1 and 82b1 is W4, W4> W3.

この場合、押さえ部81b、82bが、押さえ部上下動機構75を介して矢印Z2に示すように上下動する。また、受け部81a、82aも、受け部上下動機構76を介して上下動するように構成している。上下動機構75,76もシリンダ機構、ボールねじ機構、リニアガイド機構等の公知・公用の往復動機構で構成できる。 In this case, the pressing portions 81b and 82b move up and down as shown by the arrow Z2 via the pressing portion vertical movement mechanism 75. Further, the receiving portions 81a and 82a are also configured to move up and down via the receiving portion vertical movement mechanism 76. The vertical movement mechanisms 75 and 76 can also be composed of known and public reciprocating mechanisms such as a cylinder mechanism, a ball screw mechanism, and a linear guide mechanism.

また、各チャック部材81、82を備えたチャック装置M3は、図18に示すように、
上下動機構90および水平方向往復動機構91を有する駆動機構92にて矢印Z方向の上下動及び矢印X方向の水平方向の往復動が可能となっている。駆動機構92の上下動機構90および水平方向往復動機構91としても、シリンダ機構、ボールねじ機構、リニアガイド機構等の公知・公用の往復動機構で構成できる。
Further, as shown in FIG. 18, the chuck device M3 provided with the chuck members 81 and 82 is as shown in FIG.
The drive mechanism 92 having the vertical movement mechanism 90 and the horizontal reciprocating mechanism 91 enables vertical movement in the arrow Z direction and horizontal reciprocating movement in the arrow X direction. The vertical movement mechanism 90 and the horizontal reciprocating mechanism 91 of the drive mechanism 92 can also be configured by known and public reciprocating mechanisms such as a cylinder mechanism, a ball screw mechanism, and a linear guide mechanism.

この上流側搬送機構31は、図16に示すようにローダ10から押し出された基板22をチャックして、待機機構32の上部に配設された上流側ステージ94上には搬送することができる。すなわち、基板22の各側辺部が第3・第4チャック部材81,82の受け片81a1、82a1と押さえ片81b1、82b1とで挾持され、上流側ステージ94上に搬送され、ここで、例えば、クリーニング等が行われる。この場合、上流側ステージ94の幅寸法H1が基板22の幅寸法Hよりも小さく設定され、第3・第4チャック部材81,82のチャック動作及チャック解除動作時にこの上流側ステージ94が邪魔にならない。 As shown in FIG. 16, the upstream transfer mechanism 31 can chuck the substrate 22 extruded from the loader 10 and transport it onto the upstream stage 94 disposed above the standby mechanism 32. That is, each side portion of the substrate 22 is held by the receiving pieces 81a1, 82a1 and the holding pieces 81b1, 82b1 of the third and fourth chuck members 81, 82, and is conveyed onto the upstream stage 94, for example. , Cleaning etc. are performed. In this case, the width dimension H1 of the upstream stage 94 is set smaller than the width dimension H of the substrate 22, and the upstream stage 94 is an obstacle during the chuck operation and the chuck release operation of the third and fourth chuck members 81 and 82. It doesn't become.

また、予熱ステージ42は前記実施形態と同様、予熱ステージ本体42aとこの予熱ステージ本体42a上に配設される副プレート42bとを備える。この場合、図19に示すように、副プレート42bの幅寸法H2を基板22の幅寸法Hよりも小さくしている。そして、図19に示すように、第3チャック部材81と第4チャック部材82とを最接近させた状態で、受け片81a1、82a1が副プレート42bに接触しないとともに、基板22の側辺部の下方に位置する状態とすることができ、さらに、押さえ片81b1、82b1が基板22の側辺部の上方に位置する状態とすることができる。 Further, the preheating stage 42 includes a preheating stage main body 42a and an auxiliary plate 42b arranged on the preheating stage main body 42a, as in the above embodiment. In this case, as shown in FIG. 19, the width dimension H2 of the sub-plate 42b is made smaller than the width dimension H of the substrate 22. Then, as shown in FIG. 19, in a state where the third chuck member 81 and the fourth chuck member 82 are closest to each other, the receiving pieces 81a1 and 82a1 do not come into contact with the sub-plate 42b, and the side portions of the substrate 22 are formed. It can be in a state where it is located below, and further, it can be in a state where the holding pieces 81b1 and 82b1 are located above the side side portion of the substrate 22.

この上流側搬送機構31を用いて基板22を予熱ステージ42に供給する方法を説明する。まず。図19(c)に示すように、チャック装置M3(第3チャック部材81及び第4チャック部材82)にて基板22をチャックした状態で、予熱ステージ42の上方に位置させる。この状態で、チャック装置M3を下降させて、図19(b)に示すうように、基板22を予熱ステージ42の上面40に載置する。この場合、受け片81a1、82a1が基板22に接触することなく、予熱ステージ42上に載置することができる。その後は、図19(a)に示すように、押さえ片81b1,82b1を上昇させて、第3チャック部材81と第4チャック部材82とを相対的に離間させた後、このチャック装置M3を上昇させる。これによって、チャック装置M3が予熱ステージ42上に載置された基板22の上方位置にチャック装置M3が配置された状態となる。 A method of supplying the substrate 22 to the preheating stage 42 by using the upstream transfer mechanism 31 will be described. first. As shown in FIG. 19C, the substrate 22 is chucked by the chuck device M3 (third chuck member 81 and fourth chuck member 82) and is positioned above the preheating stage 42. In this state, the chuck device M3 is lowered, and the substrate 22 is placed on the upper surface 40 of the preheating stage 42 as shown in FIG. 19B. In this case, the receiving pieces 81a1 and 82a1 can be placed on the preheating stage 42 without contacting the substrate 22. After that, as shown in FIG. 19A, the holding pieces 81b1 and 82b1 are raised to relatively separate the third chuck member 81 and the fourth chuck member 82, and then the chuck device M3 is raised. Let me. As a result, the chuck device M3 is placed at a position above the substrate 22 on which the chuck device M3 is placed on the preheating stage 42.

逆に図19(a)に示すように、予熱ステージ42上に載置された基板22をピックアップする方法を説明する。まず、図19(a)に示すように、受け片81a1、82a1と押さえ片81b1,82b1との間にそれぞれ基板22の側辺部が介在する状態とする。その後、図19(b)に示すように、押さえ片81b1,82b1を下降させるとともに、受け片81a1、82a1を上昇させて、押さえ片81b1,82b1と受け片81a1、82a1とで、それぞれ基板22の側辺部を挾持して、図19(c)に示すように、このチャック装置M3を上昇させれば、予熱ステージ42が基板をピックアップすることができる。 On the contrary, as shown in FIG. 19A, a method of picking up the substrate 22 mounted on the preheating stage 42 will be described. First, as shown in FIG. 19A, the side edges of the substrate 22 are interposed between the receiving pieces 81a1 and 82a1 and the holding pieces 81b1 and 82b1, respectively. After that, as shown in FIG. 19B, the holding pieces 81b1 and 82b1 are lowered, and the receiving pieces 81a1 and 82a1 are raised, so that the holding pieces 81b1, 82b1 and the receiving pieces 81a1 and 82a1 are used on the substrate 22, respectively. The preheating stage 42 can pick up the substrate by holding the side side portion and raising the chuck device M3 as shown in FIG. 19 (c).

ところで、被供給部材待機機構43は昇降(上下動)するものであるので、この昇降と連動して、ローダ側の送出機構48を上下動するようにできる。このように、送出機構48が上下動すれば、ローダ10を上下動させることなく、所望の高さ位置の基板22をローダ10から送出することができる。もちろん、被供給部材待機機構21と送出機構45とを連動させなくてもよい。 By the way, since the supplied member standby mechanism 43 moves up and down (moves up and down), the delivery mechanism 48 on the loader side can be moved up and down in conjunction with this up and down movement. In this way, if the delivery mechanism 48 moves up and down, the board 22 at a desired height position can be sent out from the loader 10 without moving the loader 10 up and down. Of course, it is not necessary to interlock the supplied member standby mechanism 21 and the delivery mechanism 45.

前記のチャック機構M3を介して、シャトル30へ基板22を搬送する方法を説明する。まず、図20(c)に示すように、チャック装置M3(第3チャック部材81及び第4チャック部材82)にて基板22をチャックした状態で、シャトル30の上方に位置させる。この状態で、チャック装置M3を下降させて、図20(b)に示すうように、基板22をシャトル30の上面に載置する。 A method of transporting the substrate 22 to the shuttle 30 via the chuck mechanism M3 will be described. First, as shown in FIG. 20 (c), the substrate 22 is chucked by the chuck device M3 (third chuck member 81 and fourth chuck member 82) and is positioned above the shuttle 30. In this state, the chuck device M3 is lowered, and the substrate 22 is placed on the upper surface of the shuttle 30 as shown in FIG. 20 (b).

この場合、副プレート30bの幅寸法H3を基板22の幅寸法Hよりも小さくしている。そして、図20に示すように、第3チャック部材81と第4チャック部材82とを最接近させた状態で、受け片81a1、82a1が副プレート30bに接触しないとともに、基板22の側辺部の下方に位置する状態となり、さらに、押さえ片81b1、82b1が基板22の側辺部の上方に位置する状態となる。これによって、受け片81a1、82a1が基板22に接触することなく、シャトル30上に載置することができる。 In this case, the width dimension H3 of the sub-plate 30b is made smaller than the width dimension H of the substrate 22. Then, as shown in FIG. 20, in a state where the third chuck member 81 and the fourth chuck member 82 are closest to each other, the receiving pieces 81a1 and 82a1 do not come into contact with the sub-plate 30b, and the side portions of the substrate 22 are formed. The pressing pieces 81b1 and 82b1 are positioned below the side portions of the substrate 22. As a result, the receiving pieces 81a1 and 82a1 can be placed on the shuttle 30 without coming into contact with the substrate 22.

その後は、図20(a)に示すように、押さえ片81b1,82b1を上昇させて、第3チャック部材81と第4チャック部材82とを相対的に離間させた後、このチャック装置M3を上昇させる。これによって、シャトル30上に載置された基板22の上方位置にチャック装置M3が配置された状態となる。 After that, as shown in FIG. 20A, the holding pieces 81b1 and 82b1 are raised to relatively separate the third chuck member 81 and the fourth chuck member 82, and then the chuck device M3 is raised. Let me. As a result, the chuck device M3 is arranged at a position above the substrate 22 mounted on the shuttle 30.

逆に図20(a)に示すように、シャトル30上に載置された基板22をピックアプする方法を説明する。まず、図20(a)に示すように、受け片81a1、82a1と押さえ片81b1,82b1との間にそれぞれ基板22の側辺部が介在する状態とする。その後、図20(b)に示すように、押さえ片81b1,82b1を下降させるとともに、受け片81a1、82a1を上昇させて、押さえ片81b1,82b1と受け片81a1、82a1とで、それぞれ基板22の側辺部を挾持して、図20(c)に示すように、このチャック装置M3を上昇させれば、シャトル30が基板22をピックアップすることができる。なお、この実施形態では、2連(2個)のシャトル30を用いている。 On the contrary, as shown in FIG. 20A, a method of picking up the substrate 22 mounted on the shuttle 30 will be described. First, as shown in FIG. 20A, the side edges of the substrate 22 are interposed between the receiving pieces 81a1 and 82a1 and the holding pieces 81b1 and 82b1, respectively. After that, as shown in FIG. 20 (b), the holding pieces 81b1, 82b1 are lowered and the receiving pieces 81a1 and 82a1 are raised, so that the holding pieces 81b1, 82b1 and the receiving pieces 81a1 and 82a1 are used on the substrate 22, respectively. As shown in FIG. 20 (c), if the chuck device M3 is raised while holding the side side portion, the shuttle 30 can pick up the substrate 22. In this embodiment, two shuttles (two) shuttles 30 are used.

ところで、この実施形態の搬出機構34は、図21に示すように、第3チャック部材81と第4チャック部材82とを備えたチャック機構M3と同一構造のチャック機構M4と、押し込み機構92とを備える。 By the way, as shown in FIG. 21, the carry-out mechanism 34 of this embodiment includes a chuck mechanism M4 having the same structure as the chuck mechanism M3 provided with the third chuck member 81 and the fourth chuck member 82, and a pushing mechanism 92. Be prepared.

押し込み機構92は、図22に示すように、基板22を受ける受け部材93と、受け部材93をX方向に往復動させるX方向往復動機構95と、受け部材93をY方向に往復動させるY方向往復動機構96とを備える。受け部材93は、基板22よりも一回り大きい平板板からなる受け板93aと、この受け板93aの上流側の短辺部中央部に立設される押圧用突起93bとからなる。なお、受け部材93を上下方向(Z方向)に往復動させるZ方向往復動機構(図示省略)を設けてもよい。 As shown in FIG. 22, the pushing mechanism 92 includes a receiving member 93 that receives the substrate 22, an X-direction reciprocating mechanism 95 that reciprocates the receiving member 93 in the X direction, and Y that reciprocates the receiving member 93 in the Y direction. It is provided with a directional reciprocating mechanism 96. The receiving member 93 includes a receiving plate 93a made of a flat plate plate one size larger than the substrate 22, and a pressing protrusion 93b erected at the center of a short side portion on the upstream side of the receiving plate 93a. A Z-direction reciprocating mechanism (not shown) that reciprocates the receiving member 93 in the vertical direction (Z-direction) may be provided.

このように構成された搬出機構34にて基板22をアンローダ11へ搬出する方法を説明する。図23(a)に示すように、チャック装置M4の高さをシャトル30に載置固定されている基板22の高さ位置に合わせる。そして、矢印X3のように、シャトル30をX方向に沿ってアンローダ11側へ移動させて、図23(b)に示すように、シャトル30上の基板22を、受け片81a1、82a1と押さえ片81b1,82b1との間にそれぞれ基板22の側辺部が介在する状態とする。その後、受け片81a1、82a1と押さえ片81b1,82b1との間にそれぞれ基板22の側辺部を挾持した状態(チャックした状態)として、図20(c)に示すように、このチャック装置M4を矢印Z3方向に上昇させるとともに、シャトル30を矢印X4のように上流側へ搬送する。 A method of unloading the board 22 to the unloader 11 by the unloading mechanism 34 configured in this way will be described. As shown in FIG. 23A, the height of the chuck device M4 is adjusted to the height position of the substrate 22 mounted and fixed on the shuttle 30. Then, as shown by the arrow X3, the shuttle 30 is moved to the unloader 11 side along the X direction, and as shown in FIG. 23B, the substrate 22 on the shuttle 30 is pressed into the receiving pieces 81a1 and 82a1 and the holding pieces. The side portions of the substrate 22 are interposed between the 81b1 and 82b1, respectively. After that, as shown in FIG. 20C, the chuck device M4 is set as a state in which the side portions of the substrate 22 are held between the receiving pieces 81a1 and 82a1 and the holding pieces 81b1 and 82b1, respectively (chucked state). While ascending in the direction of arrow Z3, the shuttle 30 is transported to the upstream side as shown by arrow X4.

その後、搬送路Tから矢印Y4方向に逃げていた受け部材93が図23(d)の矢印Y3のように移動して、この搬送路T内に侵入させる。この場合、受け部材93の受け板93aを第3チャック部材81及び第4チャック部材82よりも下方に位置させるとともに、押圧用突起93bを基板22よりも上流側に位置させる。この場合、押圧用突起93bの基板22の上流側短辺の中央部に対応する位置とする。 After that, the receiving member 93 that has escaped from the transport path T in the direction of the arrow Y4 moves as shown by the arrow Y3 in FIG. 23 (d) and is made to enter the transport path T. In this case, the receiving plate 93a of the receiving member 93 is positioned below the third chuck member 81 and the fourth chuck member 82, and the pressing protrusion 93b is positioned upstream of the substrate 22. In this case, the position corresponds to the central portion of the short side on the upstream side of the substrate 22 of the pressing protrusion 93b.

この状態で、受け部材93を図23(e)の矢印X5のように、下流側へ移動させる。これによって、基板22を押圧用突起93bを介して、下流側、すなわち、アンローダ11側へ押し出すことができ、この基板22をアンローダ11に収納することができる。 In this state, the receiving member 93 is moved to the downstream side as shown by the arrow X5 in FIG. 23 (e). As a result, the substrate 22 can be pushed out to the downstream side, that is, the unloader 11 side via the pressing protrusion 93b, and the substrate 22 can be housed in the unloader 11.

この場合、搬出機構34にて押し出す基板22の高さに応じて、アンローダ側を上下動させることによって、基板22の収納する高さ位置を変更できるが、第3チャック部材と第4チャック部材4と受け部材93とが上下動するものであれば、アンローダ側を上下動させる必要がない。なお、図16の仮想線で示すBHはボンディング装置のボンディングスペースを示している。 In this case, the height position in which the substrate 22 is stored can be changed by moving the unloader side up and down according to the height of the substrate 22 pushed out by the carry-out mechanism 34, but the third chuck member and the fourth chuck member 4 If the receiving member 93 and the receiving member 93 move up and down, it is not necessary to move the unloader side up and down. The BH shown by the virtual line in FIG. 16 indicates the bonding space of the bonding apparatus.

次に、この図16に示す搬送装置の動作(工程)を説明する。まず、第1グレードのワークW(チップ21)を基板22Aのアイランド部22aに搭載する場合を説明する。ローダ10がこの基板22Aを送出して、送出機構48(図15参照)及び上流側搬送機構31を介してステージ94に搬送した後、この基板22Aを上流側搬送機構31を介して予熱ステージ42に供給する。 Next, the operation (process) of the transfer device shown in FIG. 16 will be described. First, a case where the first grade work W (chip 21) is mounted on the island portion 22a of the substrate 22A will be described. The loader 10 sends out the substrate 22A and conveys the substrate 22A to the stage 94 via the delivery mechanism 48 (see FIG. 15) and the upstream transfer mechanism 31, and then transfers the substrate 22A to the stage 42 via the upstream transfer mechanism 31. Supply to.

予熱が付与された基板22Aを、この予熱ステージ42からシャトル30に供給する。この場合、平面的に見て予熱ステージ42に隣接する位置のシャトル30に供給することになる。このため、2個のシャトル30の内、下流側のシャトル30に基板22を供給する場合、このシャトル30を予熱ステージ42に隣接する位置に配置する必要がある。このため上流側のシャトル30を、予熱ステージ42の下方に待機させる。 The preheated substrate 22A is supplied to the shuttle 30 from the preheating stage 42. In this case, it will be supplied to the shuttle 30 at a position adjacent to the preheating stage 42 when viewed in a plane. Therefore, when the substrate 22 is supplied to the shuttle 30 on the downstream side of the two shuttles 30, it is necessary to arrange the shuttle 30 at a position adjacent to the preheating stage 42. Therefore, the shuttle 30 on the upstream side is made to stand by below the preheating stage 42.

シャトル30上に搬送された基板22Aは、シャトル30の上面28に吸着されるとともに、所定温度まで加熱される。そして、この基板22Aのアイランド部22aにチップ21がボンディングされていく。この場合、基板22Aの搬送方向と直交する方向に沿ってチップ21を供給し、一列に配設される複数個のアイランド部22aへのチップ供給が完了後、シャトル30を下流側へ所定ピッチ移動させて、次の列の複数個のアイランド部22aへのチップ21を供給することができる。この動作を行うことによって、基板22Aの全アイランド部へワークWを供給することができる。しかも、チップ21の供給が完了すれば、シャトル30は下流側に位置することになり、アンローダ側へ迅速に搬出することができる。 The substrate 22A conveyed onto the shuttle 30 is adsorbed on the upper surface 28 of the shuttle 30 and heated to a predetermined temperature. Then, the chip 21 is bonded to the island portion 22a of the substrate 22A. In this case, the chips 21 are supplied along the direction orthogonal to the transport direction of the substrate 22A, and after the chip supply to the plurality of island portions 22a arranged in a row is completed, the shuttle 30 is moved to the downstream side by a predetermined pitch. Then, the chips 21 can be supplied to the plurality of island portions 22a in the next row. By performing this operation, the work W can be supplied to all the island portions of the substrate 22A. Moreover, when the supply of the chip 21 is completed, the shuttle 30 will be located on the downstream side and can be quickly carried out to the unloader side.

チップ21の搭載が完了した基板22Aは、図23で説明したように、シャトル30を搬出機構34へ移動させることによって、この搬出機構34を介して、アンローダ11へ供給できる。 As described with reference to FIG. 23, the substrate 22A on which the chip 21 has been mounted can be supplied to the unloader 11 via the unloading mechanism 34 by moving the shuttle 30 to the unloading mechanism 34.

また、基板22Aへの第1のグレードのチップ21がウェハ26に無くなって、第2のグレードのチップ21がウェハ26にある場合、この基板22Aをボンディングポジションから待機させる必要がある。この場合、上流側搬送機構31によって、この基板22Aを待機ポション、つまり待機機構32に搬送して待機させることになる。また、第2のグレードのチップ21が搭載される基板22Bが、ローダ10からステージ94を介して予熱ステージ42に供給されており、この予熱ステージ42の基板22Bがシャトル30に供給される。そして、基板22Bに第2グレードのチップ21を搭載(ボンディング)することになる。基板22Bへのチップ21の搭載が完了すれば、この基板22Bはアンローダ11へ供給される。 Further, when the first grade chip 21 to the substrate 22A is lost on the wafer 26 and the second grade chip 21 is on the wafer 26, it is necessary to make the substrate 22A stand by from the bonding position. In this case, the upstream transfer mechanism 31 conveys the substrate 22A to the standby position, that is, the standby mechanism 32, and causes the substrate 22A to stand by. Further, the substrate 22B on which the second grade chip 21 is mounted is supplied from the loader 10 to the preheating stage 42 via the stage 94, and the substrate 22B of the preheating stage 42 is supplied to the shuttle 30. Then, the second grade chip 21 is mounted (bonded) on the substrate 22B. When the mounting of the chip 21 on the board 22B is completed, the board 22B is supplied to the unloader 11.

第2のグレードのチップ21の搭載が完了していないのにもかかわらず、第2グレードのチップ21がウェハ26に無くなって、第3のグレードのチップ21があれば、この基板22Bを、上流側搬送機構31によって、待機ポション、つまり待機機構32に搬送して待機させることになる。この際、第3のグレードのチップ21を搭載すべき基板22Cをボンディングポジション(すなわち、ボンディングポジションに配置されたシャトル30上)に配置する。 If the second grade chip 21 is missing from the wafer 26 and the third grade chip 21 is present even though the mounting of the second grade chip 21 has not been completed, the substrate 22B is upstream. The side transport mechanism 31 transports the chip to the standby position, that is, the standby mechanism 32, and makes the standby mechanism stand by. At this time, the substrate 22C on which the third grade chip 21 should be mounted is arranged at the bonding position (that is, on the shuttle 30 arranged at the bonding position).

そして、この基板22Cに第3のグレードのチップ21を搭載(ボンディング)し、チップ21の搭載が完了した基板22Cを、(シャトル30を搬出機構34へ移動させることによって、)この搬出機構34を介して、アンローダ11へ供給する。 Then, the third grade chip 21 is mounted (bonded) on the substrate 22C, and the substrate 22C on which the chip 21 has been mounted is moved to the carry-out mechanism 34 (by moving the shuttle 30 to the carry-out mechanism 34). It is supplied to the unloader 11 via.

また、第3のグレードのチップ21の搭載が完了していないのにもかかわらず、第3グレードのチップ21がウェハ26に無くなって、このウェハ26に第4のグレードのチップ21があれば、この基板22Cを、上流側搬送機構31によって、待機ポション、つまり待機機構32に搬送して待機させることになる。この際、第4のグレードのチップ21を搭載すべき基板22Cをボンディングポジションに配置する。 Further, if the third grade chip 21 disappears from the wafer 26 and the wafer 26 has the fourth grade chip 21 even though the mounting of the third grade chip 21 has not been completed. The substrate 22C is conveyed to the standby position, that is, the standby mechanism 32 by the upstream transfer mechanism 31 and is made to stand by. At this time, the substrate 22C on which the fourth grade chip 21 should be mounted is arranged at the bonding position.

そして、この基板22Dに第4のグレードのチップ21を搭載(ボンディング)し、チップ21の搭載が完了した基板22Dを、(シャトル30を搬出機構34へ移動させることによって、)この搬出機構34を介して、アンローダ11へ供給する。 Then, the fourth grade chip 21 is mounted (bonded) on the substrate 22D, and the substrate 22D on which the chip 21 has been mounted is transferred to the carry-out mechanism 34 (by moving the shuttle 30 to the carry-out mechanism 34). It is supplied to the unloader 11 via.

基板22Dへの第4のグレードのチップ21がウェハ26に無くなった場合、前記工程が順次行われていれば、このウェハ26の全チップ21が無くなったことになる。このため、新しいウェハ26をピックアップポジションに供給することになる。 When the fourth grade chip 21 on the substrate 22D is lost on the wafer 26, if the steps are sequentially performed, all the chips 21 on the wafer 26 are lost. Therefore, the new wafer 26 will be supplied to the pickup position.

そして、基板22Aが待機機構32にある場合、この基板22Aへのチップ21の搭載が完了していないので、待機機構32から基板22Aを上流側搬送機構31を介してボンディングポジションのシャトル30に供給して、残りのアイランド部22aに第1グレードのチップ21をボンディングしていく。そして、チップ21の搭載が完了した基板22Aをアンローダ11へ搬出する。また、第1グレードのチップ21が無くなれば、この基板22Aを待機機構32に搬送することになり、第1グレードのチップ21がウェハ26にあれば、次の基板22Aをピックアップポジションに供給することになる。 When the substrate 22A is on the standby mechanism 32, since the mounting of the chip 21 on the substrate 22A is not completed, the substrate 22A is supplied from the standby mechanism 32 to the shuttle 30 at the bonding position via the upstream transfer mechanism 31. Then, the first grade chip 21 is bonded to the remaining island portion 22a. Then, the board 22A on which the chip 21 has been mounted is carried out to the unloader 11. Further, if the first grade chip 21 disappears, the substrate 22A will be transported to the standby mechanism 32, and if the first grade chip 21 is on the wafer 26, the next substrate 22A will be supplied to the pickup position. become.

また、第1グレードのチップ21が無くなって、基板22Bが待機機構32にある場合、この基板22Bへのチップ21の搭載が完了していないので、待機機構32から基板22Bを上流側搬送機構31を介してボンディングポジションのシャトル30に供給して、残りのアイランド部22aに第2グレードのチップ21をボンディングしていく。そして、チップ21の搭載が完了した基板22Bをアンローダ11へ搬出する。また、第2グレードのチップ21が無くなれば、この基板22Bを待機機構32に搬送することになり、第2グレードのチップ21があれば、次の基板22Bをピックアップポジションに供給することになる。 Further, when the first grade chip 21 disappears and the substrate 22B is on the standby mechanism 32, the chip 21 has not been mounted on the substrate 22B, so that the substrate 22B is transferred from the standby mechanism 32 to the upstream transfer mechanism 31. The second grade chip 21 is bonded to the remaining island portion 22a by supplying the shuttle 30 to the shuttle 30 at the bonding position. Then, the board 22B on which the chip 21 has been mounted is carried out to the unloader 11. Further, if the second grade chip 21 disappears, the substrate 22B will be conveyed to the standby mechanism 32, and if the second grade chip 21 is present, the next substrate 22B will be supplied to the pickup position.

また、第2グレードのチップ21が無くなって、基板22Cが待機機構32にある場合、この基板22Cへのチップ21の搭載が完了していないので、待機機構32から基板22Cを上流側搬送機構31を介してボンディングポジションのシャトル30に供給して、残りのアイランド部22aに第3グレードのチップ21をボンディングしていく。そして、チップ21の搭載が完了した基板22Cをアンローダ11へ搬出する。また、第3グレードのチップ21が無くなれば、この基板22Cを待機機構32に搬送することになり、第3グレードのチップ21があれば、次の基板22Cをピックアップポジションに供給することになる。 Further, when the second grade chip 21 disappears and the substrate 22C is on the standby mechanism 32, the chip 21 has not been mounted on the substrate 22C, so that the substrate 22C is transferred from the standby mechanism 32 to the upstream transfer mechanism 31. It is supplied to the shuttle 30 at the bonding position via the above, and the third grade chip 21 is bonded to the remaining island portion 22a. Then, the board 22C on which the chip 21 has been mounted is carried out to the unloader 11. Further, if the third grade chip 21 disappears, the substrate 22C will be conveyed to the standby mechanism 32, and if there is a third grade chip 21, the next substrate 22C will be supplied to the pickup position.

また、第3グレードのチップ21が無くなって、基板22Dが待機機構32にある場合、この基板22Dへのチップ21の搭載が完了していないので、待機機構32から基板22Dを上流側搬送機構31を介してボンディングポジションのシャトル30に供給して、残りのアイランド部22aに第4グレードのチップ21をボンディングしていく。そして、チップ21の搭載が完了した基板22Dをアンローダ11へ搬出する。また、第4グレードのチップ21が無くなれば、この基板22Dを待機機構32に搬送することになり、第4グレードのチップ21があれば、次の基板22Dをピックアップポジションに供給することになる。 Further, when the third grade chip 21 disappears and the substrate 22D is on the standby mechanism 32, the chip 21 has not been mounted on the substrate 22D, so that the substrate 22D is transferred from the standby mechanism 32 to the upstream transfer mechanism 31. It is supplied to the shuttle 30 at the bonding position via the above, and the fourth grade chip 21 is bonded to the remaining island portion 22a. Then, the board 22D on which the chip 21 has been mounted is carried out to the unloader 11. Further, if the fourth grade chip 21 disappears, the substrate 22D will be conveyed to the standby mechanism 32, and if the fourth grade chip 21 is present, the next substrate 22D will be supplied to the pickup position.

このような動作を行うことによって、図1等に示す前記実施形態と同様、ワーク供給源(ワーク集合体)におけるグレード毎のワークの残数、被供給部材の被供給部位残数情報を活用できる。ワークのグレードが1種類であっても、複数種であっても対応できる。また、搬送機構としてシンプルレーンとでき、シャトルが複数個となる。 By performing such an operation, as in the above embodiment shown in FIG. 1 and the like, it is possible to utilize the remaining number of works for each grade in the work supply source (work aggregate) and the remaining number of supplied parts of the supplied member. .. It can be used regardless of whether the work grade is one type or multiple types. In addition, the transport mechanism can be a simple lane, and there are multiple shuttles.

特に、待機機構32をローダ側に配置することによって、この待機ポジション上にステージを配置でき、さらには、予熱ステージの下方位置にシャトル30の退避ポジションを設けことができる。このため、図2に示すように、待機機構32をアンローダ側に配置した装置よりも、待機機構32をローダ側に配置した装置の方が、ローダ10とアンローダ11との間隔を小さくでき、装置全体としてコンパクト化を図ることができる。 In particular, by arranging the standby mechanism 32 on the loader side, the stage can be arranged on this standby position, and further, the retracted position of the shuttle 30 can be provided at a position below the preheating stage. Therefore, as shown in FIG. 2, the device in which the standby mechanism 32 is arranged on the loader side can make the distance between the loader 10 and the unloader 11 smaller than the device in which the standby mechanism 32 is arranged on the unloader side. It can be made compact as a whole.

また、チャック部材81,82は、基板22の側辺部(長辺部)を挾持するものであり、しかも、そのチャック長さを大きくとることができ、各基板22を平面形状に維持させやすく、シャトル30の上面28に安定して密着でき、ボンディング作業が安定する。 Further, the chuck members 81 and 82 hold the side side portion (long side portion) of the substrate 22, and the chuck length can be increased, so that each substrate 22 can be easily maintained in a planar shape. , It can be stably adhered to the upper surface 28 of the shuttle 30, and the bonding work is stable.

ところで、前記実施形態では、搬送ライン100(図2参照)上に、アンローダ11と待機機構32とが配置されていた。しかしながら、図24に示すように、搬送ライン100上にアンローダ11と待機機構32とのいずれか一方が配置されるものであってもよい。 By the way, in the above-described embodiment, the unloader 11 and the standby mechanism 32 are arranged on the transport line 100 (see FIG. 2). However, as shown in FIG. 24, either the unloader 11 or the standby mechanism 32 may be arranged on the transport line 100.

すなわち、この場合、図25に示すように、搬送ライン100の下流側において、待機機構32が搬送ライン100上に配置される状態(図26(b)の状態)とアンローダ11が搬送ライン100上に配置される状態(図26(a)の状態)との切換を行う切換機構101を備える。切換機構101としては、シリンダ機構、ボールねじ機構、モーターリニア機構等の種々の機構にて構成することができ,XYZ軸ステージ(ステージ装置)を使用することができる。 That is, in this case, as shown in FIG. 25, on the downstream side of the transport line 100, the standby mechanism 32 is arranged on the transport line 100 (state of FIG. 26B) and the unloader 11 is on the transport line 100. The switching mechanism 101 for switching from the state arranged in (the state of FIG. 26A) is provided. The switching mechanism 101 can be configured by various mechanisms such as a cylinder mechanism, a ball screw mechanism, and a motor linear mechanism, and an XYZ axis stage (stage device) can be used.

このように、切替機構101を備えたものでは、搬送ライン100上にアンローダ11と待機機構32とを配置する必要がなく、搬送ライン100を短く設定でき、装置のコンパクトを達成できる。 As described above, in the case of the one provided with the switching mechanism 101, it is not necessary to arrange the unloader 11 and the standby mechanism 32 on the transport line 100, the transport line 100 can be set short, and the device can be made compact.

本発明は前記実施形態に限定されることなく種々の変形が可能であって、例えば、搬送する被供給部材Sとして、前記実施形態では、ウェハ26から切り出されたチップ21をボンディングする基板22であったが、このような基板22ではなく、クレジットカード、キャッシュカード、ICカード等のカードや、板金等の平板体であってもよい。このため、被供給部材Sに供給するワークWとして、チップ21に限るものではなく、被供給部材Sに応じた部品となる。また、被供給部材Sとして、基板22でなく加熱を必要としないものであれば、予熱ステージ及びシャトルの加熱機構を省略することができる。 The present invention is not limited to the above embodiment, and various modifications can be made. For example, as the supplied member S to be conveyed, in the above embodiment, the substrate 22 for bonding the chip 21 cut out from the wafer 26 is used. However, instead of such a substrate 22, a card such as a credit card, a cash card, an IC card, or a flat plate such as a sheet metal may be used. Therefore, the work W supplied to the supplied member S is not limited to the chip 21, but is a component corresponding to the supplied member S. Further, if the supplied member S is not the substrate 22 and does not require heating, the heating mechanism of the preheating stage and the shuttle can be omitted.

10、10A,10B,10C ローダ
11、11A,11B,11C アンローダ
12 供給ポジション
21 チップ
22、22A,22B,22C 基板
22a アイラド部
26 ウェハ
30 シャトル
31 上流側搬送機構
32 待機機構
33 下流側搬送機構
34 搬出機構
38 加熱機構
39 吸着機構
42 予熱ステージ
45 シャトル往復動機構
46 収納棚
47 昇降機構
48 送出機構
51,52 チャック部材
54 上下動機構
55 第1水平方向移動機構
56 第2上下動機構
57 第2水平方向移動機構
S 被供給部材
Sa 被供給部位
W ワーク
10, 10A, 10B, 10C Loader 11, 11A, 11B, 11C Unloader 12 Supply position 21 Chip 22, 22A, 22B, 22C Board 22a Irad part 26 Wafer 30 Shuttle 31 Upstream side transfer mechanism 32 Standby mechanism 33 Downstream side transfer mechanism 34 Carrying out mechanism 38 Heating mechanism 39 Suction mechanism 42 Preheating stage 45 Shuttle reciprocating mechanism 46 Storage shelf 47 Elevating mechanism 48 Sending mechanism 51, 52 Chuck member 54 Vertical movement mechanism 55 1st horizontal movement mechanism 56 2nd vertical movement mechanism 57 2nd Horizontal movement mechanism S Supply member Sa Supply part W Work

Claims (13)

グレードが相違する複数種のワークをグレード毎に被供給部材の被供給部位に供給するために、ローダとアンローダとの間の供給ポジションに各被供給部材を搬送し、ワーク搭載が完了した被供給部材をアンローダへ搬出する搬送装置であって、
供給ポジションに配置されるシャトルと、被供給部材をローダ側から供給ポジションのシャトルに搬送する上流側搬送機構と、搬送ライン上であって供給ポジションとアンローダとの間に配置される待機機構と、供給ポジションのシャトルから待機機構への被供給部材を搬送及び待機機構からの供給ポジションのシャトルへの被供給部材の戻しが可能な下流側搬送機構と、ワークの搭載が完了した被供給部材を、待機機構からアンローダへ搬出する搬出機構とを備え、待機機構へはワークの搭載が完了していない被供給部材を供給し、ワークの搭載が完了した被供給部材のみをアンローダへ搬出し、ワークの搭載が完了していない被供給部材を待機機構へ供給した際に、供給ポジションで他の被供給部材へのワークの搭載を可能としたことを特徴とする搬送装置。
In order to supply multiple types of workpieces of different grades to the supplied parts of the supplied members for each grade, each supplied member is transported to the supply position between the loader and the unloader, and the workpieces have been mounted. A transport device that carries out members to the unloader.
A shuttle arranged at the supply position, an upstream transfer mechanism for transporting the supplied member from the loader side to the shuttle at the supply position, and a standby mechanism arranged between the supply position and the unloader on the transfer line . A downstream transfer mechanism that can transport the supplied member from the shuttle in the supply position to the standby mechanism and return the supplied member from the standby mechanism to the shuttle in the supply position, and the supplied member for which the work has been mounted. Equipped with a unloading mechanism to unload from the standby mechanism to the unloader, the supplied member whose work has not been mounted is supplied to the standby mechanism, and only the supplied member whose work has been mounted is carried out to the unloader to carry out the work. A transport device characterized in that when a supplied member that has not been mounted is supplied to the standby mechanism, the work can be mounted on another supplied member at the supply position .
供給ポジション内において、搬送方向のシャトルの往復動を行うシャトル往復動機構を備えたことを特徴とする請求項1に記載の搬送装置。 The transport device according to claim 1 , further comprising a shuttle reciprocating mechanism for reciprocating the shuttle in the transport direction in the supply position. 待機機構は、複数個の被供給部材を上下に収納する収納棚と、この収納棚を昇降させる昇降機構とを備えたことを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の搬送装置。 The transport device according to claim 1 or 2 , wherein the standby mechanism includes a storage shelf for vertically storing a plurality of supplied members and an elevating mechanism for raising and lowering the storage shelf. 上流側搬送機構は、被供給部材をチャックする一対のチャック部材と、一対のチャック部材の上下動を行う上下動機構と、ローダとアンローダとの間の搬送方向の一対のチャック部材の往復動を行う往復動機構とを備えたことを特徴とする請求項1~請求項3のいずれか1項に記載の搬送装置。 The upstream transfer mechanism is a pair of chuck members that chuck the supplied member, a vertical motion mechanism that moves the pair of chuck members up and down, and a pair of chuck members in the transport direction between the loader and the unloader. The transport device according to any one of claims 1 to 3 , further comprising a reciprocating mechanism for performing the reciprocating motion. ローダから被供給部材を送出する送出機構を有し、ローダから送出された被供給部材を受けるステージを備えたことを特徴とする請求項1~請求項4のいずれか1項に記載の搬送装置。 The transport device according to any one of claims 1 to 4 , further comprising a delivery mechanism for delivering the supplied member from the loader and a stage for receiving the supplied member transmitted from the loader. .. シャトルは被供給部材を全面吸着する吸着機構を有することを特徴とする請求項1~請求項5のいずれか1項に記載の搬送装置。 The transport device according to any one of claims 1 to 5 , wherein the shuttle has a suction mechanism that sucks the supplied member on the entire surface. シャトルは被供給部材を加熱する加熱機構を有することを特徴とする請求項1~請求項6のいずれか1項に記載の搬送装置。 The transport device according to any one of claims 1 to 6 , wherein the shuttle has a heating mechanism for heating the supplied member. 供給ポジションよりもローダ側に被供給部材に予熱を付与する予熱ステージを設けたことを特徴とする請求項7に記載の搬送装置。 The transfer device according to claim 7 , wherein a preheating stage for applying preheating to the supplied member is provided on the loader side of the supply position. 搬送ラインの下流側において、待機機構が前記搬送ライン上に配置される状態とアンローダが前記搬送ライン上に配置される状態との切換を行う切換機構を備えたことを特徴とする請求項1~請求項8のいずれか1項に記載の搬送装置。 1 . The transport device according to any one of claims 8 . 前記ワークがウェハのチップであり、被供給部材がその被供給部位であるアイランド部となる基板であり、前記請求項1~請求項9のいずれか1項に記載の搬送装置を用いて、供給ポジションであるボンディングポジションに搬送されてきた基板のアイランド部に順次チップをボンディングすることを特徴とするダイボンダ。 The work is a chip of a wafer, and the supplied member is a substrate serving as an island portion which is a supplied portion thereof, and is supplied by using the transport device according to any one of claims 1 to 9 . A die bonder characterized in that chips are sequentially bonded to the island portion of the substrate that has been conveyed to the bonding position, which is the position. グレードが相違する複数種のワークをグレード毎に被供給部材の被供給部位に供給するために、ローダとアンローダとの間の供給ポジションに各被供給部材を搬送し、ワーク搭載が完了した被供給部材をアンローダへ搬出する搬送方法であって、
ローダから被供給部材を供給ポジションへ搬送し、ワークの搭載が完了した被供給部材をアンローダへ搬出し、被供給部材へのワークの搭載完了前にワーク供給源の供給すべきグレードのワークが無くなれば、この被供給部材をシャトルから、搬送ライン上であって、供給ポジションとアンローダとの間に設けられる待機ポジションに搬送し、空の状態となった供給ポジションへ、供給ポジションよりも上流側のローダから他の被供給部材を搬送することを特徴とする搬送方法。
In order to supply multiple types of workpieces of different grades to the supplied parts of the supplied members for each grade, each supplied member is transported to the supply position between the loader and the unloader, and the workpieces have been mounted. It is a transportation method to carry out the member to the unloader.
The supplied member is transported from the loader to the supply position, the supplied member for which the work has been mounted is carried out to the unloader, and the work of the grade to be supplied from the work supply source disappears before the work has been mounted on the supplied member. For example, this supplied member is transported from the shuttle to a standby position provided between the supply position and the unloader on the transfer line, and is transferred to the empty supply position on the upstream side of the supply position. A transport method characterized by transporting other supplied members from a loader .
ワーク供給源に供給すべきグレードのワークが供給された状態で、待機ポジションに待機させていた被供給部材を供給ポジションに戻して、戻した被供給部材の被供給部位に供給すべきグレードのワークを供給することを特徴とする請求項11に記載の搬送方法。 With the work of the grade to be supplied to the work supply source, the work to be supplied that had been waiting in the standby position is returned to the supply position, and the work of the grade to be supplied to the supplied part of the returned member to be supplied. 11. The transport method according to claim 11 . 前記ワークがウェハのチップであり、被供給部材がその被供給部位であるアイランド部となる基板であり、前記請求項11又は請求項12に記載の搬送方法を用いて、ボンディングポジションに搬送されてきた基板のアイランド部に順次チップをボンディングすることを特徴とするボンディング方法。 The work is a chip of a wafer, and the supplied member is a substrate serving as an island portion which is a supplied portion thereof, and has been transported to a bonding position by using the transport method according to claim 11 or 12 . A bonding method characterized by sequentially bonding chips to the island portion of the substrate.
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