KR100740594B1 - Bump forming apparatus - Google Patents

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KR100740594B1
KR100740594B1 KR1020060012496A KR20060012496A KR100740594B1 KR 100740594 B1 KR100740594 B1 KR 100740594B1 KR 1020060012496 A KR1020060012496 A KR 1020060012496A KR 20060012496 A KR20060012496 A KR 20060012496A KR 100740594 B1 KR100740594 B1 KR 100740594B1
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collet
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히로시 우시키
야스유키 고마치
후미히코 가토
가즈히로 이마이
가즈노리 오타
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가부시키가이샤 신가와
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Abstract

범프 형성 장치에서 칩을 들고 이동하는 유지 툴의 유지부의 종류를 늘리지 않고 생산성을 향상시키는 것이다. 범프 형성 장치(10)는 트레이 로더부(12), 공급 및 수납 트레이(14)를 구비하며, 또한 범프를 형성하기 위한 두 개의 본딩 스테이지(24, 26)를 갖는 범프 형성부(20), 범프 높이를 균일하게 맞추기 위한 두 개의 유지 스테이지를 갖는 레벨러 스테이지(44)를 포함하는 레벨러부(40), 칩을 유지하여 공급 및 수납 트레이(14)-범프 형성부(20)의 두 개의 본딩 스테이지(24, 26)-레벨러부(40)의 두 개의 유지 스테이지-공급 및 수납 트레이(14) 사이를 들고 이동하기 위한 칩 콜릿 반송부(60)을 구비한다.In the bump forming apparatus, productivity is improved without increasing the kind of the holding part of the holding tool which moves the chip. The bump forming apparatus 10 includes a tray loader portion 12, a supply and receiving tray 14, and also a bump forming portion 20 having two bonding stages 24 and 26 for forming bumps, bumps A leveler portion 40 comprising a leveler stage 44 having two holding stages for uniformly adjusting height, and two bonding stages of the supply and accommodation tray 14-bump forming portion 20 to hold a chip ( And a chip collet conveyance section 60 for holding and moving between the two holding stage-feeding and receiving trays 14 of the leveler section 40.

범프, 칩, 콜릿, 레벨러, 스테이지, 트레이, 본딩, 반송, 파지, 픽 앤 플레이스, 사이클 타임, 반도체 Bump, Chip, Collet, Leveler, Stage, Tray, Bonding, Carrying, Gripping, Pick & Place, Cycle Time, Semiconductor

Description

범프 형성 장치{BUMP FORMING APPARATUS}Bump Forming Apparatus {BUMP FORMING APPARATUS}

도 1은 본 발명에 따른 실시 형태에서 범프 형성 장치의 구성을 도시한 도면이고, 1 is a view showing the configuration of a bump forming apparatus in an embodiment according to the present invention,

도 2는 본 발명에 따른 실시 형태에서 범프 형성부에 관한 구성 요소를 도시한 도면이고, 2 is a view showing the components related to the bump forming portion in the embodiment according to the present invention,

도 3은 본 발명에 따른 실시 형태에서 두 개의 본딩 스테이지를 사용하여 효율적으로 범프 형성을 행하는 시퀸스의 일례를 도시한 도면이고, FIG. 3 is a diagram showing an example of a sequence in which bump formation is efficiently performed using two bonding stages in an embodiment according to the present invention.

도 4는 범프 높이를 균일하게 맞추는 개념을 도시한 도면이고, 4 is a view showing a concept of uniformly adjusting the bump height,

도 5는 본 발명에 따른 실시 형태에서 레벨러부의 구성 요소를 도시한 도면이고, 5 is a view showing the components of the leveler portion in the embodiment according to the present invention,

도 6은 본 발명에 따른 실시 형태에서 레벨러 스테이지의 두 개의 유지 스테이지를 사용하여 효율적으로 범프 높이 맞추기를 행하는 시퀸스의 일례를 도시한 도면이고, 6 is a diagram showing an example of a sequence for efficiently performing bump height matching using two holding stages of the leveler stage in the embodiment according to the present invention;

도 7은 본 발명에 따른 실시 형태에서 칩 콜릿의 단면도이고, 7 is a cross sectional view of a chip collet in an embodiment according to the invention,

도 8은 본 발명에 따른 실시 형태에서 범프 형성 장치의 동작 시퀸스의 일부를 도시한 도면이고, 8 is a view showing a part of the operation sequence of the bump forming apparatus in the embodiment according to the present invention,

도 9는 본 발명에 따른 실시 형태에서 칩 콜릿의 위치 및 픽(잡기) 앤 플레 이스(위치 결정 배치)에 관한 시간 변화를 설명하는 도면이다. FIG. 9 is a view for explaining the time variation regarding the position of the chip collet and the pick and place (positioning arrangement) in the embodiment according to the present invention.

<부호의 설명><Description of the code>

2, 3, 4, 6 : 칩 5 : 본딩 패드2, 3, 4, 6: chip 5: bonding pad

7, 9 : 범프 8 : 와이어7, 9: bump 8: wire

10 : 범프 형성 장치 12 : 트레이 로더부10 bump forming device 12 tray loader

14 : 공급 및 수납 트레이 15 : 공급 트레이14: supply and storage tray 15: supply tray

16 : 서브 트레이 17 : 수납 트레이16: sub tray 17: storage tray

18 : 대기 위치 20 : 범프 형성부18: waiting position 20: bump forming portion

22 : 본딩 헤드 24, 26 : 본딩 스테이지22: bonding head 24, 26: bonding stage

28 : 케이스 스테이지 30 : 스풀28: case stage 30: spool

32 : 와이어 클램퍼 34 : 캐필러리32: wire clamper 34: capillary

36 : 토치 40 : 레벨러부36: torch 40: leveler part

42 : 레벨러 헤드 44 : 레벨러 스테이지42: leveler head 44: leveler stage

46 : 회전 조심 기구 48 : 로드 셀46: rotational watch mechanism 48: load cell

50 : 상하 이동 기구 52, 54 : 유지 스테이지50: vertical movement mechanism 52, 54: holding stage

56 : 슬라이더 기구 58 : 안내 테이블56: slider mechanism 58: guide table

59 : 상하 이동대 60 : 칩 콜릿 반송부59: up and down moving table 60: chip collet conveying unit

62 : 칩 콜릿 64 : Y 이동 기구62: chip collet 64: Y moving mechanism

66 : X 이동 기구 68, 70 : 콜릿 헤드66: X moving mechanism 68, 70: collet head

80 : 제어부 82 : 로드 언로드 처리 모듈80: control unit 82: load unload processing module

84 : 범프 형성 처리 모듈 86 : 레벨러 처리 모듈84: bump formation processing module 86: leveler processing module

88 : 반송 처리 모듈 88: return processing module

본 발명은 범프 형성 장치에 관한 것으로서, 칩에 높이가 균일한 복수 개의 범프를 형성하는 범프 형성 장치에 관한 것이다. The present invention relates to a bump forming apparatus, and relates to a bump forming apparatus for forming a plurality of bumps having a uniform height on a chip.

칩의 표면에 전극 단자인 복수 개의 범프를 형성하여 범프 있는 칩을 형성하고, 이 복수 개의 범프를 통하여 회로 기판 등에 한 번의 본딩으로 접속하는 기술은 소위 페이스 다운 본딩으로 널리 알려져 있다. 칩의 표면에 범프를 형성하는 방법으로서, 범프 볼을 본딩 패드 상에 접합하는 방법, 땜납 도금 등에 의해 본딩 패드 상에 땜납층을 형성하고 가열에 의해 구상화(球狀化)하는 방법 등이 있으며, 또한 와이어를 이용한 본딩 기술을 이용할 수도 있다. Background Art A technique for forming a bumped chip by forming a plurality of bumps as electrode terminals on the surface of the chip, and connecting the circuit board or the like with one bonding through the plurality of bumps is widely known as face down bonding. As a method of forming a bump on the surface of a chip, there are a method of bonding a bump ball onto a bonding pad, a method of forming a solder layer on the bonding pad by solder plating, and spheroidizing by heating. It is also possible to use a bonding technique using a wire.

예를 들어 특허 문헌 1에서는, 초음파 열 압착에 의해 반도체 소자의 전극 상에 와이어에 의한 범프 본딩을 행하는 것이 설명되어 있다. 여기서는 와이어에 의한 범프 본딩을 행한 다음, 범프를 소정의 높이로 교정하는 레벨링도 행해진다. 그리고, 칩의 공급 트레이, 범프 본딩이 행해지는 본딩 스테이지, 범프 높이를 균일하게 맞추는 레벨링 스테이지, 높이가 균일한 범프 있는 칩을 수납하는 수납 트레이 등의 사이를 유지 툴을 이용하여 가공 전 칩 또는 가공 후의 칩을 유지하면서 차례대로 들고 이동하고 반송함으로써 높이가 균일한 범프 있는 칩이 생산된다. For example, Patent Document 1 describes that bump bonding with a wire is performed on an electrode of a semiconductor element by ultrasonic thermocompression. Here, bump bonding by wire is performed, and then leveling for correcting the bump to a predetermined height is also performed. Then, the chip is processed before or after processing using a holding tool between the supply tray of the chip, the bonding stage where bump bonding is performed, the leveling stage for uniformly adjusting the bump height, and the storage tray for accommodating the chip with uniform bump height. By holding, moving and conveying one after another while maintaining the subsequent chips, chips with uniform bumps are produced.

특허 문헌 1에서는 특히 범프 형성 및 레벨링의 생산성을 향상시키는 연구가 이루어져 있다. 즉, 두 개의 본딩 스테이지를 이용하고, 레벨링 스테이지는 하나로 하며, 칩을 들고 이동하면서 반송을 행하는 유지 툴로서 하나의 가공 전 유지 툴과 두 개의 가공 후 유지 툴의 총 세 개의 유지부를 갖는 것이 이용되고 있다. In patent document 1, the research which improves especially productivity of bump formation and leveling is made | formed. That is, using two bonding stages, one leveling stage, and a holding tool for carrying and conveying chips while having a total of three holding portions, one pre-processing holding tool and two post-processing holding tools, are used. have.

칩의 반송을 행하는 유지 툴이 하나가 아닌 이유는, 범프 형성이 행해지기 전(가공 전)의 칩은 박막 레벨의 두께 불균일 정도의 평탄성을 가지고 있는 데 반하여, 범프 형성 후(가공 후)에는 수 10μm 정도의 높이의 범프가 칩 표면으로부터 튀어 나오기 때문에, 범프의 변형을 방지하기 위하여 유지부의 형상에 연구가 요구되기 때문이다. 특허 문헌 1에서 가공 후 유지 툴을 두 개 구비하도록 한 것은, 본딩 스테이지가 두 개인 데 반하여 레벨링 스테이지는 하나이므로, 레벨링 스테이지의 대기 시간을 줄여서 생산성을 높이기 위함이다. The reason there is not one holding tool for conveying chips is that the chips before bump formation (before processing) have flatness of the thickness nonuniformity at the thin film level, but after the bump formation (after processing) This is because bumps with a height of about 10 μm protrude from the surface of the chip, and therefore, research is required for the shape of the holding part to prevent the deformation of the bumps. In Patent Document 1, two post-machining holding tools are provided in order to increase productivity by reducing the waiting time of the leveling stage since there are two bonding stages and one leveling stage.

[특허 문헌 1] 일본 특허 공개 2001-267353호 공보[Patent Document 1] Japanese Patent Application Laid-Open No. 2001-267353

특허 문헌 1의 구성에 의하면, 하나의 본딩 스테이지, 하나의 레벨링 스테이지의 구성에 비하여 현저하게 생산성이 향상되고, 또한 본딩 스테이지를 두 개로 늘렸을 때에도 두 종류의 유지부를 갖는 유지 툴을 사용하는 것에 비하여 생산성이 좋아질 것으로 사료된다. According to the structure of patent document 1, productivity improves remarkably compared with the structure of one bonding stage and one leveling stage, and compared with using the holding tool which has two types of holding | maintenance parts even when the bonding stage is extended to two. Productivity is expected to improve.

그러나, 유지 툴의 유지부의 형상은 유지할 대상인 칩의 크기 및 형상에 적합하게 일일이 개별적으로 맞출 필요가 있어, 크기나 형상이 다른 복수 종류의 칩의 범프 본딩을 행할 때에는 비용 상승의 요인이 된다. 또한, 두 개의 본딩 스테 이지, 하나의 레벨링 스테이지에 대하여, 3개의 유지부를 나누어 사용하므로 시퀸스가 복잡해지기 쉽다. However, the shape of the holding portion of the holding tool needs to be individually matched with each other to suit the size and shape of the chip to be held, which causes a cost increase when bump bonding a plurality of types of chips having different sizes or shapes. In addition, since two holding stages and one leveling stage use three holding portions separately, the sequence is likely to be complicated.

본 발명의 목적은 칩을 들고 이동하는 유지 툴의 유지부의 종류를 늘리지 않고 생산성을 향상시킬 수 있는 범프 형성 장치를 제공하는 것이다. It is an object of the present invention to provide a bump forming apparatus capable of improving productivity without increasing the type of holding portion of the holding tool for carrying and moving chips.

본 발명에 따른 범프 형성 장치는, 칩에 높이가 균일한 복수 개의 범프를 형성하는 범프 형성 장치에 있어서, 칩을 공급하는 공급 트레이와, 칩에 복수 개의 범프를 형성하는 범프 형성부로서, 둘 이상의 범프 스테이지를 가지며, 하나의 범프 스테이지에서 칩에 범프를 형성할 때 다른 범프 스테이지는 다음으로 범프 형성을 행할 칩 또는 이미 범프가 형성된 칩을 대기시키는 범프 형성부와, 형성된 복수 개의 범프의 높이를 균일하게 맞추는 레벨러부로서, 둘 이상의 레벨러 스테이지를 가지며, 하나의 레벨러 스테이지에서 범프의 높이를 균일하게 맞출 때 다른 레벨러 스테이지는 다음으로 높이를 균일하게 맞출 범프 있는 칩 또는 이미 높이를 균일하게 맞춘 범프 있는 칩을 대기시키는 레벨러부와, 범프의 높이가 균일한 칩을 수납하는 수납 트레이와, 공급 트레이와 범프 형성부와 레벨러부와 수납 트레이 사이에서 칩 콜릿을 이용하여 칩을 주고 받고 반송을 행하는 칩 콜릿 반송부 및 범프 형성의 사이클 타임을 제어하는 제어부를 구비하고, 제어부는, 공급 트레이에서 칩 콜릿이 제1 칩을 잡도록 하는 수단과, 제1 칩을 잡은 칩 콜릿을 이동시켜 범프 형성부의 이제부터 범프 형성을 행할 쪽의 범프 스테이지에 위치 결정 배치시키는 수단과, 비어 있는 칩 콜릿을 이미 범프 형성이 종료된 쪽의 범프 스테이지로 이동시 키고, 거기에서 이미 범프가 형성되어 대기하고 있는 제2 칩을 잡도록 하는 수단과 , 제2 칩을 잡은 칩 콜릿을 이동시켜 레벨러부의 이제부터 높이 맞추기를 행할 쪽의 레벨러 스테이지에 위치 결정 배치시키는 수단과, 비어 있는 칩 콜릿을 이미 범프 높이 맞추기가 종료된 쪽의 레벨러 스테이지로 이동시키고, 거기에서 이미 높이가 균일해져서 대기하고 있는 제3 칩을 잡도록 하는 수단 및 제3 칩을 잡은 칩 콜릿을 이동시키고 수납 트레이에 위치 결정 배치하여 수납시키는 수단을 포함하는 것을 특징으로 한다. A bump forming apparatus according to the present invention is a bump forming apparatus for forming a plurality of bumps having a uniform height on a chip, comprising: a supply tray for supplying a chip and a bump forming portion for forming a plurality of bumps on a chip; A bump stage having a bump stage, and when forming bumps on a chip in one bump stage, the other bump stage next waits for a chip to be bump-formed or a chip already formed with bumps; A leveler part that has a high level of fit, which has two or more leveler stages, and when one leveler stage evenly adjusts the height of the bumps, the other leveler stages next have the bumped chip or the heighted bumped chip. And a storage tray for storing chips having a uniform height of bumps And a chip collet conveying unit for exchanging and conveying chips using a chip collet between the supply tray, the bump forming unit, the leveler unit and the storage tray, and a control unit for controlling a cycle time of bump formation. Means for causing the chip collet to hold the first chip, moving the chip collet holding the first chip, positioning the bump collet in the bump stage on the side where bump formation is to be made, and the empty chip collet Means to move to the bump stage on which the bump formation is completed, and to move the chip collet catching the second chip and the level of the leveler part by moving the chip collet catching the second chip from there. Means for positioning on the leveler stage of the side, and the level of the side where the bump height matching has already been completed for the empty chip collet Means for moving to the stage, whereby the third chip is already uniform in height and catches the standby chip; and means for moving the chip collet holding the third chip and positioning and storing it in the storage tray. .

또한, 본 발명에 따른 범프 형성 장치에 있어서, 공급 트레이에서 출발하여 수납 트레이에 이르는 반송 사이클 타임보다, 하나의 범프 스테이지 당 범프 형성에 요구되는 사이클 타임 및 하나의 레벨러 스테이지 당 범프의 높이를 균일하게 맞추는 사이클 타임을 짧게 제어하는 것이 바람직하다. Further, in the bump forming apparatus according to the present invention, the cycle time required for bump formation per one bump stage and the height of the bump per one leveler stage are more uniform than the transfer cycle time starting from the supply tray to the storage tray. It is desirable to control the matching cycle time shortly.

또한, 본 발명에 따른 범프 형성 장치에 있어서, 칩 콜릿 반송부는, 범프가 아직 형성되지 않은 범프 없는 칩을 잡는 파지 형상을 갖는 범프 없는 칩용 칩 콜릿 및 범프가 이미 형성되어 있는 범프 있는 칩을 잡는 파지 형상을 갖는 범프 있는 칩용 칩 콜릿을 가지며, 제어부는 범프 없는 칩 및 범프 있는 칩에 따라 칩 콜릿 반송부가 사용할 칩 콜릿을 선택하는 것이 바람직하다. Further, in the bump forming apparatus according to the present invention, the chip collet conveying unit has a grip shape for holding a bumpless chip that does not have a bump formed yet, and a chip holding collet for a bumpless chip and a bumped chip for which a bump is already formed. It is preferable to have a chip collet for bumped chips having a shape, and the controller selects a chip collet for use by the chip collet conveying unit according to the bumpless chip and the bumped chip.

또한, 본 발명에 따른 범프 형성 장치에 있어서, 레벨러부는 복수 개의 레벨러 스테이지가 이동 방향으로 배열된 슬라이드식 레벨러대로서, 범프를 임의로 설정된 높이로 눌러 균일균일는 누름 기구의 작업 영역에 어느 하나의 레벨러 스테이지를 이동시키는 레벨러대를 갖는 것이 바람직하다. Further, in the bump forming apparatus according to the present invention, the leveler portion is a slide leveler stage in which a plurality of leveler stages are arranged in the moving direction, and the leveler stage is pressed into a work area of the pressing mechanism by pressing the bump to an arbitrarily set height. It is desirable to have a leveler band for moving.

(발명을 실시하게 위한 최량의 형태)(The best form to carry out invention)

이하, 도면을 이용하여 본 발명에 따른 실시 형태에 대하여 상세하게 설명한다. 이하에서는 범프 형성 장치로서 금 와이어를 이용하는 와이어 본딩에 의해 범프를 형성하고, 범프 높이를 레벨러부에서 균일하게 맞추는 것으로 설명하나, 와이어의 재질은 금 이외의 것, 예를 들어 알루미늄 등이어도 좋다. 또한 범프 형성은 와이어 본딩 이외의 방법, 예를 들어 도체 미소 볼을 칩에 접합하여 형성하는 방법 등이어도 좋다. 또한 범프 형성부의 본딩 스테이지, 레벨러부의 유지 스테이지는 각각 두 개씩으로 하였으나, 이들은 두 개 이상이면 그 수는 관계없다. 또한 이하의 설명에서는 칩을 공급하는 공급 트레이와 범프의 높이가 균일한 칩을 수납하는 수납 트레이를 하나의 공급 및 수납 트레이로 행하는 것으로 하였으나, 이를 기능에 따라 공급 트레이와 수납 트레이가 각각 별도인 트레이로 하여도 좋다. EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, embodiment which concerns on this invention is described in detail using drawing. In the following description, bumps are formed by wire bonding using gold wires as bump forming apparatuses, and the bump heights are uniformly adjusted at the leveler portion. However, the material of the wires may be other than gold, for example, aluminum. The bump formation may be a method other than wire bonding, for example, a method of joining and forming a conductive microball on a chip. In addition, although the bonding stage of the bump formation part and the holding stage of the leveler part were made into two pieces, respectively, they are two or more, and the number does not matter. In addition, in the following description, the supply tray for supplying the chip and the storage tray for accommodating the chip having a uniform height of bumps are performed as one supply and the storage tray. You may make it.

도 1은 범프 형성 장치(10)의 구성을 도시한 도면이다. 범프 형성 장치(10)는 반도체 칩의 표면에 복수 개의 범프를 형성하고, 그 범프의 높이를 소정의 범위로 균일하게 맞추는 장치로서, 범프의 높이가 균일해진 칩은 그 이후에 회로 기판 등에 대한 페이스 다운 본딩에 제공된다. 칩으로서는 1mm 사각형 정도에서 수 mm 사각형, 또는 10mm 사각형을 초과하는 크기의 LSI 칩이나 전자 부품 등을 대상으로 할 수 있고, 범프는 예컨대 지름 및 높이가 각각 수 10μm 정도인 금 볼을 눌러 찌끄러뜨린 형상인 것을 이용할 수 있다. 1 is a diagram illustrating the configuration of the bump forming apparatus 10. The bump forming apparatus 10 is a device which forms a plurality of bumps on the surface of a semiconductor chip and uniformly adjusts the heights of the bumps in a predetermined range. A chip having a uniform height of bumps thereafter faces a circuit board or the like. Provided for down bonding. As a chip, an LSI chip or an electronic component having a size of about 1 mm square to several mm square or more than 10 mm square can be used. The bump is, for example, pressed and crushed by a gold ball having a diameter of about 10 μm. A shape can be used.

따라서, 범프 형성 장치(10)는 범프 형성 전후의 시료를 수납하는 트레이를 넣거나 꺼내는 트레이 로더부(12), 작업 전의 칩을 공급하고, 또 높이가 균일해진 범프 있는 칩을 수납하는 공급 및 수납 트레이(14)를 구비한다. 또한 범프 형성 장치(10)는 칩에 와이어 본딩이라는 방법에 의해 범프를 형성하는 범프 형성부(20), 칩에 형성된 범프의 높이를 균일하게 맞추는 레벨러부(40), 칩을 유지하여 공급 및 수납 트레이(14), 범프 형성부(20), 레벨러부(40), 공급 및 수납 트레이(14) 사이를 들고 이동하기 위한 칩 콜릿 반송부(60)를 구비한다. 또한 이들 요소의 동작을 전체적으로 통일하고 효율적으로 높이가 균일한 범프 있는 칩을 생산하기 위한 제어를 행하는 제어부(80)를 구비한다. Therefore, the bump forming apparatus 10 supplies the tray loader part 12 which puts in or removes the tray which accommodates the sample before and behind bump formation, and the supply and storage tray which supplies the chip before operation, and accommodates the chip | tip with which the height became uniform. (14) is provided. In addition, the bump forming apparatus 10 includes a bump forming unit 20 for forming bumps by a method of wire bonding to a chip, a leveler unit 40 for uniformly matching the height of bumps formed on the chip, and holding and supplying the chip. The chip collet conveyance part 60 for carrying a tray 14, the bump formation part 20, the leveler part 40, and the supply and accommodation tray 14 for movement is provided. A control unit 80 is also provided to control the production of bumped chips having uniform height and uniformity in operation of these elements as a whole.

트레이 로더부(12)는 작업 전의 칩을 정렬하여 배치하는 복수 개의 공급 트레이(15)를 쌓아 올리고, 또한 높이가 균일해진 범프 있는 칩을 정렬하여 수납하는 복수 개의 수납 트레이(17)를 쌓아 올리며, 범프 형성 작업의 진척에 따라 각 트레이를 이동시키는 기능을 갖는 시료 출입부이다. 그 제어는 제어부(80)의 로드 언로드 처리 모듈(82)의 제어 하에서 이루어진다. The tray loader 12 stacks up a plurality of supply trays 15 for aligning and arranging chips before the work, and also stacks up a plurality of storage trays 17 for aligning and storing bumped chips having a uniform height, It is a sample entrance part which has a function which moves each tray with progress of bump forming operation. The control is performed under the control of the load unload processing module 82 of the control unit 80.

트레이 로더부(12)에서 작업 시작 전에는 이제부터 범프가 형성될 작업 전의 칩이 나열된 복수 개의 공급 트레이(15)만이 격납되고, 수납 트레이(17)는 아직 없는 상태이다. 그리고, 쌓아 올려진 공급 트레이(15)로부터 첫 번째의 공급 트레이가 벨트 반송 기구 등에 의해 소정의 칩 잡기 위치로 반송되고 위치 결정되어 작업용 공급 및 수납 트레이(14)가 된다. 이 칩 잡기 위치는, 여기부터 칩이 칩 콜릿 반송부(60)에 의해 범프 형성부(20)로 옮겨지는 스타트 위치 및 레벨러부(40)로부터 높이가 균일해진 범프 있는 칩이 옮겨져 오는 종착 위치에 해당한다. 따라서, 칩 잡기 위치에서의 트레이는 작업 전의 칩을 정렬하여 배치해 두는 기능과 높이가 균일해진 범프 있는 칩을 정렬하여 수납하는 기능을 모두 구비하며, 그러한 의미에서 공급 및 수납 트레이(14)라 불린다. Prior to the start of the operation in the tray loader section 12, only a plurality of supply trays 15 in which chips before the operation to which bumps are to be formed are stored are stored, and the storage tray 17 is not yet present. Then, the first feed tray from the stacked feed trays 15 is conveyed to a predetermined chip holding position by a belt conveying mechanism or the like and positioned to become a work supply and storage tray 14. This chip catching position is a start position where a chip is moved to the bump formation part 20 by the chip collet conveyance part 60 from here, and a terminal position where the bumped chip from which the height became uniform from the leveler part 40 is moved. Corresponding. Therefore, the tray at the chip holding position has both a function of aligning and arranging chips before the operation and a function of aligning and storing bumped chips having a uniform height, and in that sense, are referred to as supply and storage trays 14. .

작업이 진행되어 작업용 공급 및 수납 트레이(14)의 높이가 균일해진 범프 있는 칩으로 가득차게 되면, 벨트 반송 기구 등에 의해 트레이 로더부(12)의 수납 트레이(17)의 위치로 반송되어 쌓아 올려진다. 그 때 대기가 필요할 때에는 대기 위치(18)에서 일단 대기할 수 있다. 또한 공급 및 수납 트레이(14)는 일반적으로 높이가 균일해진 범프 있는 칩으로 가득 차기 전에 작업 전의 칩이 없어지므로, 이를 위하여 예비 공급 트레이인 서브 트레이(16)가 본래의 공급 및 수납 트레이(14)의 배후에 대기한다. 이와 같이 하여 범프 형성의 진행에 따라 트레이 로더부(12) 중의 각 트레이의 이동이 효율적으로 행해진다. When the work progresses and the height of the work supply and the storage tray 14 is filled with the bumped chips which are uniform, the belt is transported to the position of the storage tray 17 of the tray loader part 12 by the belt conveying mechanism or the like and stacked. . At that time, when waiting is necessary, the waiting position 18 can be waited once. In addition, since the feeding and receiving tray 14 generally eliminates the chips before the operation before it is filled with bumped chips having a uniform height, for this purpose, the sub tray 16, which is a preliminary feeding tray, is used as the original feeding and receiving tray 14. Wait behind the scenes. In this manner, as the bumps are formed, the respective trays in the tray loader 12 are moved efficiently.

범프 형성부(20)는 제어부(80)의 범프 형성 처리 모듈(84)의 제어 하에서 칩 표면에 복수 개의 범프를 형성하는 기능을 갖는 작업 스테이션이다. 범프 형성부(20)는 와이어 본딩을 행하는 본딩 헤드(22)와 두 개의 본딩 스테이지(24, 26)를 포함한다. 두 개의 본딩 스테이지(24, 26)는 본딩 작업을 위하여 칩을 유지하는 기능을 갖는 작업 스테이지로서, 도 1에 도시한 Y 방향으로 이동 가능하다. 본딩 헤드(22)는 어느 본딩 스테이지(24, 26)에서도 본딩 작업이 가능하도록 도 1에 도시한 XY 평면 내에서 이동 가능하며, 또한 XY 평면에 수직인 Z 방향으로도 이동 가능하다. 본딩 스테이지가 두 개 있는 것은, 하나의 본딩 스테이지에서 본딩 작업을 행하고 있을 때, 다른 하나의 본딩 스테이지에서 다음 범프를 형성할 칩 또는 이미 범프가 형성된 칩을 대기시키기 위함이다. The bump forming unit 20 is a work station having a function of forming a plurality of bumps on the chip surface under the control of the bump forming processing module 84 of the control unit 80. The bump forming portion 20 includes a bonding head 22 for performing wire bonding and two bonding stages 24 and 26. The two bonding stages 24 and 26 are work stages having a function of holding a chip for the bonding operation and are movable in the Y direction shown in FIG. The bonding head 22 is movable in the XY plane shown in FIG. 1 so that the bonding operation can be performed at any bonding stages 24 and 26, and also in the Z direction perpendicular to the XY plane. The two bonding stages are for waiting for a chip to form the next bump or a chip having bumps already formed in another bonding stage when the bonding operation is performed in one bonding stage.

도 2는 범프 형성부(20)에 관한 구성 요소를 도시한 도면이다. 여기서는 범프 형성부(20)의 구성 요소는 아니지만, 범프 형성 대상인 칩(2)이 각각의 본딩 스테이지(24, 26) 상에 유지되어 있는 상태로 도시되어 있다. 본딩 스테이지(24, 26)는 범프 형성 장치(10)의 케이스 스테이지(28) 상에 배치되며, 상기한 바와 같이 도 1의 Y 방향으로 이동 가능하게 지지되어 있다. 또한 본딩 작업의 필요에 따라 케이스 스테이지(28) 또는 본딩 스테이지(24, 26)에는 가열용 히터가 설치된다.2 is a diagram illustrating components of the bump forming unit 20. Although not a component of the bump forming unit 20, the chip 2, which is a bump forming target, is held on each of the bonding stages 24 and 26. The bonding stages 24 and 26 are arrange | positioned on the case stage 28 of the bump forming apparatus 10, and are supported so that a movement to the Y direction of FIG. 1 is possible as mentioned above. Moreover, the heater for a heating is installed in the case stage 28 or the bonding stages 24 and 26 as needed of a bonding operation.

본딩 헤드(22)는 여기서는 넓은 의미로 범프 형성 작업을 행하는 기구 전반을 가리키는 의미로 사용되고 있다. 즉, 본딩 헤드(22)는 범프를 구성하기 위한 와이어(8)를 감고 있는 스풀(30)과, 와이어(8)를 끼우거나 또는 개방하여 그 이동을 제어하는 와이어 클램퍼(32)와, 와이어(8)를 삽입 통과하고, 도시하지 않은 초음파 장치로부터 와이어 본딩을 위한 초음파 에너지를 공급받는 캐필러리(34)를 포함하여 구성된다. 와이어(8)로서는 예를 들어 수 10μm 직경의 금 와이어를 사용할 수 있다. 또한 캐필러리(34)의 끝단에 대향하여 와이어(8)의 끝단을 볼 형상으로 형성하기 위한 토치(36)가 설치되며, 토치(36)는 도시하지 않은 토치 전원에 접속된다. The bonding head 22 is used by the meaning which points here with the whole mechanism which performs bump formation work in a wide meaning here. That is, the bonding head 22 includes a spool 30 wound around the wire 8 for constituting the bump, a wire clamper 32 to control the movement by inserting or opening the wire 8, and a wire ( And a capillary 34 through which 8) is inserted and receives ultrasonic energy for wire bonding from an ultrasonic device (not shown). As the wire 8, for example, a gold wire having a diameter of several 10 μm can be used. In addition, a torch 36 for forming the end of the wire 8 into a ball shape is provided opposite to the end of the capillary 34, and the torch 36 is connected to a torch power source (not shown).

본딩 헤드(22)에 의한 범프 형성은 와이어 본딩 기술을 이용하여 다음과 같이 행해진다. 캐필러리(34)에 와이어(8)를 삽입 통과하고, 캐필러리(34)의 끝단으로부터 와이어(8)의 끝단이 나오게 한다. 그리고, 도시하지 않은 고압 전원인 토치 전원의 하나의 극성 측을 토치(36)에, 다른 하나의 극성측을 와이어(8), 구체적으로는 스풀(30) 등에 접속하고, 토치(36)와 와이어(8)의 끝단을 적당한 공간 거리 만큼 떨어뜨리고, 그 사이에 고압을 인가하고, 방전 등에 의해 와이어(8)의 끝단을 용융시켜 볼과 같은 형상을 형성한다. 이와 같이 하여 와이어(8)의 끝단을 볼 형상으로 형성한 후, 이것을 칩(2)의 본딩 패드에 캐필러리(34)에 의해 누르고, 도시하지 않은 초음파 장치로부터 초음파 에너지를 공급하고, 본딩 패드와 와이어(8)를 접합한다. 이 때 필요하면 상기한 바와 같이 가열 히터를 사용할 수 있다. 칩(2)의 본딩 패드와 와이어(8)간 접합이 이루어지면, 와이어 클램퍼(32)를 닫고, 캐필러리(34)를 끌어 올려 와이어(8)를 끊는다. Bump formation by the bonding head 22 is performed as follows using a wire bonding technique. The wire 8 is inserted into the capillary 34 and the end of the wire 8 comes out from the end of the capillary 34. One polarity side of the torch power source, which is a high voltage power source (not shown), is connected to the torch 36, and the other polarity side is connected to the wire 8, specifically, the spool 30, or the like. The end of (8) is dropped by a suitable space distance, high pressure is applied therebetween, and the end of the wire 8 is melted by discharge or the like to form a ball-like shape. In this manner, the ends of the wires 8 are formed in a ball shape, and then pressed by the capillary 34 to the bonding pads of the chip 2, ultrasonic energy is supplied from an ultrasonic device (not shown), and the bonding pads are pressed. And wire 8 are bonded together. At this time, if necessary, a heating heater can be used as described above. When bonding between the bonding pads of the chip 2 and the wire 8 is made, the wire clamper 32 is closed and the capillary 34 is pulled up to break the wire 8.

이와 같이 하여 칩(2)의 표면에 금 볼 형상인 것이 하나 형성되므로, 이를 하나의 범프로서 사용할 수 있다. 이를 하나의 칩(2)의 각 본딩 패드에 대하여 반복하여 복수 개의 범프를 갖는 칩을 얻을 수 있다. In this way, since one gold ball shape is formed on the surface of the chip 2, it can be used as one bump. This can be repeated for each bonding pad of one chip 2 to obtain a chip having a plurality of bumps.

도 3은 두 개의 본딩 스테이지(24, 26)를 이용하여 효율적으로 범프를 형성하는 시퀸스의 일례를 도시한 도면이다. 두 개의 본딩 스테이지(24, 26)는 제어부(80)의 제어 하에서 도 1에 도시한 Y 방향으로 이동 가능하다. 또한 본딩 헤드(22)는 도 1에 도시한 XY 평면 내에서 이동 가능하며, 또한 본딩 작업에서 XY 평면에 수직인 Z 방향으로 이동 가능하다. 이들 도면은 본딩 헤드(22), 두 개의 본딩 스테이지(24, 26) 및 칩(2, 3, 4)의 위치 관계가 범프 형성의 시간적 경과와 함께 이동 변화하는 모습을 범프 형성부(20)에서의 평면도를 이용하여 도시한 것이다. 범프 형성이 진전됨에 따라 칩의 내용이 변화되므로, 여기서는 범프 형성이 아직 시작되지 않은 칩(2), 범프 형성 중인 칩(3), 복수 개의 범프 형성이 종료된 칩(4)으로 부호를 바꾸고, 범프 형성 전의 칩(2)의 도형은 단순한 사각 도형으로 하고, 범프 형성 후의 칩(4)에는 비스듬한 십자 선을 붙인 사각 도형으로 하여 도시하기로 한다. FIG. 3 shows an example of a sequence for efficiently forming bumps using two bonding stages 24 and 26. The two bonding stages 24 and 26 are movable in the Y direction shown in FIG. 1 under the control of the controller 80. Moreover, the bonding head 22 is movable in the XY plane shown in FIG. 1, and can also move to the Z direction perpendicular | vertical to an XY plane in a bonding operation. These figures show that the positional relationship of the bonding head 22, the two bonding stages 24, 26, and the chips 2, 3, 4 moves and changes with the passage of time of the bump formation in the bump forming section 20. It is shown using a plan view of the. Since the contents of the chip change as the bump formation progresses, the code is changed to a chip 2 in which bump formation has not yet started, a chip 3 in bump formation, and a chip 4 in which a plurality of bump formations are completed, The figure of the chip | tip 2 before bump formation is shown as the simple square figure, and the chip 4 after bump formation is shown as the rectangular figure which attached the oblique cross line.

도 3(a)는 처음 상태에서, 본딩 헤드(22)는 중립 상태의 배치이고, 도시를 생략한 공급 및 수납 트레이(14)로부터 칩(2)이 본딩 스테이지(26)로 옮겨져서 유지된 상태이다. 이를 받아 본딩 헤드(22)는 본딩 스테이지(26)의 방향으로 이동한다. Fig. 3 (a) shows a state in which the bonding head 22 is in a neutral state in the initial state, and the chip 2 is moved to the bonding stage 26 from the supply and accommodation tray 14, which is not shown, and is held. to be. In response, the bonding head 22 moves in the direction of the bonding stage 26.

도 3(b)는 칩(2)을 유지하는 본딩 스테이지(26)가 Y 방향으로 이동하고, 본딩 헤드(22)에 의해 칩(3)에 대하여 범프 형성이 행해지고 있는 상태이다. 이 동안에 비어 있는 본딩 스테이지(24)에 도시를 생략한 공급 및 수납 트레이(14)로부터 칩(2)이 옮겨져서 유지된다. In FIG. 3B, the bonding stage 26 holding the chip 2 moves in the Y direction, and bump formation is performed on the chip 3 by the bonding head 22. During this time, the chip 2 is moved from the supply and storage tray 14 (not shown) to the empty bonding stage 24 to be retained.

도 3(c)는 본딩 스테이지(26)에서 범프 형성이 종료되고, 본딩 스테이지(26)가 Y 방향으로 이동하여 원래의 위치로 돌아간 상태를 도시한다. 본딩 헤드(22)는 본딩 스테이지(26)의 위치에서 중립 상태를 거쳐 본딩 스테이지(24)의 방향으로 이동한다. 또한 범프 형성이 종료된 칩(4)은 본딩 스테이지(26)에서 도시를 생략한 레벨러부(40)로 옮겨진다. FIG. 3C shows a state in which bump formation is completed in the bonding stage 26 and the bonding stage 26 moves in the Y direction to return to its original position. The bonding head 22 moves in the direction of the bonding stage 24 via the neutral state at the position of the bonding stage 26. In addition, the chip 4 after bump formation is completed is transferred to the leveler portion 40 (not shown) in the bonding stage 26.

도 3(d)는 칩(2)을 유지하는 본딩 스테이지(24)가 Y 방향으로 이동하고, 본딩 헤드(22)에 의해 칩(3)에 대하여 범프 형성이 행해지고 있는 상태이다. 이 동안, 비어 있는 본딩 스테이지(26)에 도시를 생략한 공급 및 수납 트레이(14)로부터 칩(2)이 옮겨져서 유지된다. 이 공정은 도 3(b)의 공정과 본딩 스테이지만 다를 뿐 내용은 동일하다. In FIG. 3D, the bonding stage 24 holding the chip 2 moves in the Y direction, and bump formation is performed on the chip 3 by the bonding head 22. In the meantime, the chip | tip 2 is moved and hold | maintained from the supply and accommodation tray 14 which abbreviate | omits illustration to the empty bonding stage 26. FIG. This process is the same except that only the bonding stage and the process of FIG.

도 3(e)는 본딩 스테이지(24)에서 범프 형성이 종료되고, 본딩 스테이지(24)가 Y 방향으로 이동하여 원래의 위치로 되돌아간 상태를 나타낸다. 본딩 헤드(22)는 본딩 스테이지(24)의 위치에서 중립 상태를 거쳐 본딩 스테이지(26)의 방향으로 이동한다. 또한 범프 형성이 종료된 칩(4)은 본딩 스테이지(24)에서 도시를 생략한 레벨러부(40)로 옮겨진다. 이러한 공정은 도 3(c)의 공정과 본딩 스테이지만 다를 뿐 내용은 동일하다. 3 (e) shows a state in which bump formation is completed in the bonding stage 24, and the bonding stage 24 moves in the Y direction to return to its original position. The bonding head 22 moves in the direction of the bonding stage 26 via the neutral state at the position of the bonding stage 24. In addition, the chip 4 in which bump formation is completed is transferred to the leveler part 40 (not shown) in the bonding stage 24. This process is the same except that only the bonding stage and the process of Figure 3 (c).

상기 공정을 반복함으로써 두 개의 본딩 스테이지(24, 26)를 효율적으로 이용하여 범프 형성을 순차적으로 행할 수 있다. By repeating the above process, bump formation can be performed sequentially using the two bonding stages 24 and 26 efficiently.

레벨러부(40)는 제어부(80)의 레벨러 처리 모듈(86)의 제어 하에서 범프가 형성된 칩(4)에 대하여 그 칩(4)의 각 범프의 높이를 균일하게 맞추는 기능을 갖는 작업 스테이션이다. 도 4에 범프 높이를 균일하게 맞추는 개념을 나타내었다. 도 4(a)는 범프 형성 전의 칩(2)의 모습을 나타내며, 칩(2)의 본딩 패드(5) 상에는 아직 범프가 형성되어 있지 않다. 도 4(b)는 범프 형성부(20)에서 범프(7)가 형성된 칩(4)의 모습을 나타낸다. 이와 같이 범프 형성 후의 상태인 범프(7)는 끊겨져 나간 와이어의 남겨진 형상 등으로 인해 그 높이가 범프(7)에 따라 다르고, 또한 그 꼭대기부는 평탄하지 않아, 후속 공정인 페이스 다운 본딩에 반드시 적합한 것이 아닐 수도 있다. 도 4(c)는 레벨러부(40)에서 범프 높이를 균일한 H로 하고, 그 꼭대기부도 평탄화하여 높이가 균일해진 범프(9) 있는 칩(6)으로 한 후의 모습을 도시한 도면이다. The leveler section 40 is a work station having a function of uniformly matching the height of each bump of the chip 4 with respect to the chip 4 with bumps under the control of the leveler processing module 86 of the control unit 80. 4 shows the concept of uniformly adjusting the bump height. 4A shows the state of the chip 2 before bump formation, and no bump is formed on the bonding pad 5 of the chip 2 yet. FIG. 4B illustrates the chip 4 in which the bumps 7 are formed in the bump forming unit 20. As such, the bump 7 in the state after the bump formation has a different height depending on the bump 7 due to the remaining shape of the broken wire, etc., and the top thereof is not flat, so it is necessarily suitable for face down bonding, which is a subsequent process. It may not be. FIG. 4C is a view showing a state in which the bump height is made to be uniform H in the leveler portion 40, and the top portion thereof is also flattened to form the chip 6 with the bump 9 having a uniform height.

레벨러부(40)는 범프의 높이를 균일하게 맞추기 위하여 칩의 각 범프의 꼭대 기부에 접촉하여 가압력을 주는 레벨러 헤드(42)와 두 개의 레벨러 스테이지(44)를 포함한다. 도 1에서는 두 개의 레벨러 스테이지(44)를 하나의 부재로서 도시하고 있으나, 이 하나의 부재에 범프 있는 칩을 유지할 두 곳의 유지 스테이지가 설치된다. 두 개의 레벨러 스테이지(44)는 높이 맞추기 작업을 위하여 칩을 유지하는 기능을 갖는 작업 스테이지로서, 도 1에 도시한 Y 방향으로 이동 가능하고, 두 곳의 유지 스테이지 중 어느 하나를 레벨러 헤드(42)의 바로 아래에 배치할 수 있으며, 나아가 Z 방향으로 상승, 하강이 가능하다. 레벨러 헤드(42)는 두 곳의 유지 스테이지 중 어느 하나를 바로 아래에서 이를 상승시킴으로써 가압력을 레벨러 스테이지(44)에 대하여 주어 범프의 높이를 교정할 수 있다. 레벨러 스테이지(44)가 두 개의 유지 스테이지를 갖는 것은, 하나의 유지 스테이지에서 높이 맞추기 작업을 행하고 있을 때, 다른 하나의 유지 스테이지에서 다음으로 높이 맞추기를 행할 범프 있는 칩 또는 이미 높이가 균일해진 범프 있는 칩을 대기시키기 위함이다. The leveler portion 40 includes a leveler head 42 and two leveler stages 44 that apply pressure to the top of each bump of the chip to uniformly adjust the height of the bumps. Although two leveler stages 44 are shown as one member in FIG. 1, two holding stages for holding bumped chips are provided in this one member. The two leveler stages 44 are working stages having a function of holding chips for height matching operations, which are movable in the Y direction shown in FIG. 1, and one of the two holding stages is used as the leveler head 42. It can be placed directly below, and further up and down in the Z direction is possible. The leveler head 42 can correct the height of the bump by giving a pressing force against the leveler stage 44 by raising one of the two holding stages directly below it. The leveler stage 44 has two holding stages, with bumped chips or bumps that are already uniform in height, when the leveling work is being performed in one holding stage, the next leveling in another holding stage. This is to wait for the chip.

도 5는 레벨러부(40)의 구성 요소를 도시한 도면이다. 레벨러부(40)는 범프 형성 장치(10)의 케이스 스테이지(28)에 고정하여 설치되는 일종의 가압 장치로서, 레벨러 헤드(42)에 대하여 레벨러 스테이지(44)가 Z 방향으로 상하 이동할 수 있는 기구를 갖는다. 레벨러 헤드(42)는 가압력을 계측할 수 있는 로드 셀(48)을 사이에 두고 스위블 기구라 불리는 회전 조심 기구(46)를 가지며, 케이스 스테이지(28)에 대하여 고정 위치에 설정되고 Z 방향으로는 이동하지 않는다. 레벨러부(40)는 Z 방향으로 이동 가능한 상하 이동대(59)를 가지며, 그 위에 레벨러 스테이지(44)가 설치된다. 상하 이동대(59)의 상하 구동은 쐐기형의 경사면 대의 평면 이동 구 동을 이용한 상하 이동 기구(50)에 의해 행할 수 있다. 레벨러 스테이지(44)는 두 개의 유지 스테이지(52, 54)를 갖는 칩 유지 부재이다. 레벨러 스테이지(44)는 슬라이더 기구(56)를 사이에 두고 안내 테이블(58)의 면 내에서 도 1에 도시한 Y 방향으로 이동 가능하다. 5 is a diagram illustrating the components of the leveler portion 40. The leveler part 40 is a kind of pressing device fixed to the case stage 28 of the bump forming apparatus 10. The leveler part 40 is a mechanism for allowing the leveler stage 44 to move up and down in the Z direction with respect to the leveler head 42. Have The leveler head 42 has a rotational watch mechanism 46 called a swivel mechanism with a load cell 48 capable of measuring the pressing force therebetween, and is set in a fixed position with respect to the case stage 28 and in the Z direction. Do not move. The leveler part 40 has the vertical movement table 59 which can move to a Z direction, and the leveler stage 44 is provided on it. Up-and-down movement of the up-and-down movement stand 59 can be performed by the up-and-down movement mechanism 50 which used the plane movement drive of the wedge-shaped slope surface stand. The leveler stage 44 is a chip holding member having two holding stages 52, 54. The leveler stage 44 is movable in the Y direction shown in FIG. 1 in the surface of the guide table 58 with the slider mechanism 56 interposed.

도 6은 레벨러 스테이지(44)의 두 개의 유지 스테이지(52, 54)를 이용하여 효율적으로 범프 높이 맞추기를 행하는 시퀸스의 일례를 도시한 도면이다. 이들 도면은 레벨러 헤드(42), 레벨러 스테이지(44)의 두 개의 유지 스테이지(52, 54) 및 칩(4, 6)의 위치 관계가 범프 높이 맞추기의 시간적 경과와 함께 이동 변화하는 모습을 레벨러부(40)에서의 평면도, 정면도를 이용하여 도시한 것이다. 범프 높이 맞추기가 진전됨에 따라 칩의 내용이 변화되므로, 여기서는 높이 맞추기가 아직 시작되지 않은 범프 있는 칩(4), 높이 맞추기가 종료된 칩(6)으로 부호를 바꾸고, 높이 맞추기가 아직 시작되지 않은 범프 있는 칩(4)의 도형을 도 3과 동일하게 비스듬한 십자 선을 붙인 사각 도형으로 하고, 높이 맞추기가 종료된 범프 있는 칩(6)을 검정색 사각 도형으로 도시하기로 한다. FIG. 6 is a diagram showing an example of a sequence for efficiently performing bump height matching using two holding stages 52 and 54 of the leveler stage 44. As shown in FIG. These figures show how the positional relationship of the leveler head 42, the two holding stages 52 and 54 of the leveler stage 44, and the chips 4 and 6 move and change with the passage of time of the bump height adjustment. It shows using the top view and front view in 40. As shown to FIG. As the bump height adjustment progresses, the contents of the chip change, so here we change the sign to the bumped chip (4) where the height alignment has not yet begun, and the chip (6) where the height alignment has finished, and that the height adjustment has not yet started. As shown in Fig. 3, the bumped chip 4 is a square shape with oblique cross lines, and the bumped chip 6 whose height alignment is finished is shown as a black square shape.

도 6(a)는 처음 상태에서 상하 이동대(59)는 중립 상태, 즉 하방으로 내려가 있는 배치로서, 도시를 생략한 범프 형성부(20)에서 칩(4)이 제2 유지 스테이지(54)로 옮겨져서 유지된 상태이다. 제1 유지 스테이지(52)은 도 6(a)에서는 아직 비어 있는 상태이다. FIG. 6A illustrates an arrangement in which the up-and-down moving table 59 is in a neutral state, that is, lowered in the initial state, in which the chip 4 has the second holding stage 54 in the bump forming unit 20 (not shown). Has been moved to and maintained. The first holding stage 52 is still empty in Fig. 6A.

도 6(b)는 칩(4)을 유지하는 레벨러 스테이지(44)가 도면에 도시한 화살표 방향으로, 즉 Y 방향으로 슬라이드 이동하고, 제2 유지 스테이지(54)를 레벨러 헤 드(42)의 바로 아래로 이동시키고, 거기서 상하 이동대(59)가 상승하여 레벨러 헤드(42)가 칩(4)의 범프를 가압하여 범프의 높이 맞추기가 행해지고 있는 상태이다. FIG. 6B shows that the leveler stage 44 holding the chip 4 slides in the direction of the arrow shown in the drawing, that is, in the Y direction, and moves the second holding stage 54 of the leveler head 42. It moves to just below, and the up-and-down moving stand 59 raises there, and the leveler head 42 presses the bump of the chip 4, and the height of bump is adjusted.

도 6(c)는 레벨러 헤드(42)에 의해 범프의 높이 맞추기가 종료되고, 상하 이동대(59)가 하강하고, 이어서 레벨러 스테이지(44)가 Y 방향으로 이동하여 원래의 위치로 돌아간 상태를 나타낸다. 여기서 지금까지 비어 있던 제1 유지 스테이지(52)의 위치로 도시를 생략한 범프 형성부(20)에서 범프 있는 칩(4)이 옮겨져서 유지된다. 또한 높이 맞추기가 종료된 칩(6)은 제2 유지 스테이지(54)에서 도시를 생략한 공급 및 수납 트레이(14)로 옮겨진다. 따라서, 제2 유지 스테이지(54)는 여기서 비게 된다. 6C shows a state where the height adjustment of the bump is completed by the leveler head 42, the vertical movement table 59 descends, and the leveler stage 44 moves in the Y direction to return to the original position. Indicates. Here, the bumped chip 4 is moved to the position of the first holding stage 52 which has been empty so far from the bump forming portion 20 (not shown). In addition, the chip 6 whose height alignment is completed is transferred to the supply and accommodation tray 14 not shown in the second holding stage 54. Thus, the second holding stage 54 is empty here.

도 6(d)는 칩(4)을 유지하는 레벨러 스테이지(44)가 도면에 도시한 화살표 방향으로, 즉 Y 방향으로 슬라이드 이동하고, 제1 유지 스테이지(52)를 레벨러 헤드(42)의 바로 아래로 이동시키고, 거기서 상하 이동대(59)가 상승하여 레벨러 헤드(42)가 칩(4)의 범프를 가압하여 범프의 높이 맞추기가 행해지고 있는 상태이다. 이 공정은 도 6(b)의 공정과 유지 스테이지만 다를 뿐 내용은 동일하다. 6 (d) shows that the leveler stage 44 holding the chip 4 slides in the direction of the arrow shown in the drawing, that is, in the Y direction, and moves the first holding stage 52 directly to the leveler head 42. It moves to the bottom, and the up-and-down moving stand 59 raises there, and the leveler head 42 presses the bump of the chip 4, and the height of a bump is performed. This process is the same except that the process and the holding stage of Fig. 6B differ.

도 6(e)는 레벨러 헤드(42)에 의해 범프의 높이 맞추기가 종료되고, 상하 이동대(59)가 하강하고, 이어서 레벨러 스테이지(44)가 Y 방향으로 이동하여 원래의 위치로 돌아간 상태를 나타낸다. 여기서 지금까지 비어 있던 제2 유지 스테이지(54)의 위치로 도시를 생략한 범프 형성부(20)에서 범프 있는 칩(4)이 옮겨져서 유지된다. 또한 높이 맞추기가 종료된 칩(6)은 제1 유지 스테이지(52)에서 도시를 생략한 공급 및 수납 트레이(14)로 옮겨진다. 이 공정은, 도 6(c)의 공정과 유지 스테이지만 다를 뿐 내용은 동일하다. 6E shows a state where the height adjustment of the bump is completed by the leveler head 42, the vertical movement table 59 descends, and the leveler stage 44 moves in the Y direction to return to its original position. Indicates. Here, the bumped chip 4 is moved and held in the bump formation part 20 (not shown) to the position of the second holding stage 54 which has been empty so far. In addition, the chip 6 whose height alignment is completed is transferred to the supply and accommodation tray 14 not shown in the first holding stage 52. This process is the same in content except that only the process of FIG.6 (c) and a maintenance stage differ.

상기 공정을 반복함으로써 레벨러 스테이지(44)의 두 개의 유지 스테이지 (52, 54)를 효율적으로 이용하여 범프의 높이 맞추기를 차례대로 행할 수 있다. By repeating the above process, it is possible to efficiently use the two holding stages 52 and 54 of the leveler stage 44 to sequentially adjust the height of the bumps.

칩 콜릿 반송부(60)는 제어부(80)의 반송 처리 모듈(88)의 제어 하에서 칩을 유지하여 공급 및 수납 트레이(14), 범프 형성부(20), 레벨러부(40), 공급 및 수납 트레이(14) 사이를 들고 이동하는 기능을 갖는다. 칩 콜릿 반송부(60)은 칩을 픽(잡기) 앤 플레이스(위치 결정 배치)하기 위한 칩 콜릿(62)과, 칩 콜릿(62)을 Y 방향으로 이동 가능하게 지지하는 Y 이동 기구(64) 및 Y 이동 기구(64)를 X 방향으로 이동 가능하게 지지하는 X 이동 기구(66)를 포함한다. X 이동 기구(64), Y 이동 기구(66)는 예를 들어 리니어 모터를 이용한 이동 기구 등을 사용할 수 있다. The chip collet conveying unit 60 holds the chips under the control of the conveyance processing module 88 of the control unit 80 to supply and receive the tray 14, the bump forming unit 20, the leveler unit 40, and supply and store the chips. It has a function of moving between the trays 14. The chip collet conveying unit 60 includes a chip collet 62 for picking (grabbing) and placing a chip (positioning arrangement) and a Y moving mechanism 64 for supporting the chip collet 62 to be movable in the Y direction. And an X moving mechanism 66 that supports the Y moving mechanism 64 to be movable in the X direction. As the X moving mechanism 64 and the Y moving mechanism 66, for example, a moving mechanism using a linear motor can be used.

칩 콜릿(62)은 칩을 잡거나 또는 잡기를 해제할 수 있는 기능을 갖는 칩 유지 부재이다. 구체적으로는, 칩을 진공 흡인에 의해 잡고, 진공을 차단함으로써 잡기를 해제하는 기구를 사용할 수 있다. 도 7은 칩 콜릿(62)의 단면도로서, 여기에 도시된 바와 같이, 칩 콜릿(62)은 두 개의 콜릿 헤드(68, 70)를 갖는다. 콜릿 헤드(68)는 범프가 형성되지 않은 칩(2), 즉 범프 없는 칩(2)을 잡고, 그 잡기를 해제할 수 있는 범프 없는 칩용 콜릿 헤드이다. 콜릿 헤드(70)는 범프 형성 후의 칩(4), 즉 범프 있는 칩(4)을 잡고, 그 잡기를 해제할 수 있는 범프 있는 칩용 콜릿 헤드이다. 콜릿 헤드(68, 70)는 칩 콜릿(62)에 끼워 넣기 등으로 교환 가능하게 조립할 수 있다. The chip collet 62 is a chip holding member having a function of holding or releasing a chip. Specifically, a mechanism for releasing the catch by holding the chip by vacuum suction and blocking the vacuum can be used. 7 is a cross sectional view of the chip collet 62, as shown herein, the chip collet 62 has two collet heads 68, 70. As shown in FIG. The collet head 68 is a bumpless chip collet head capable of holding a chip 2 without bumps, that is, a bumpless chip 2 and releasing the grip. The collet head 70 is a bumped chip collet head capable of holding the chip 4 after bump formation, that is, the bumped chip 4, and releasing the grip. The collet heads 68 and 70 can be assembled so as to be interchangeable by inserting them into the chip collet 62 or the like.

범프 없는 칩용 콜릿 헤드(68)는 칩(2)의 외주를 지지하는 턱부를 가지며, 턱부와 칩(2)으로 둘러싸인 공간을 진공으로 만듦으로써 칩(2)을 진공 흡인에 의해 잡는다. 잡기를 해제하기 위해서는 진공을 차단하거나, 또는 해제용 기체를 도입함으로써 행할 수 있다. 또한 범프 있는 칩용 콜릿 헤드(70)는 단순히 평탄한 판의 중앙에 진공 흡인용 구멍을 설치한 것을 이용할 수 있다. 칩(4)의 잡기는 콜릿 헤드(70)의 평판부와 복수 개의 범프로 둘러싸인 공간을 진공으로 만듦으로써 행할 수 있고, 잡기의 해제는 진공을 차단하거나 또는 해제용 기체를 도입함으로써 행할 수 있다. The bumpless chip collet head 68 has a jaw portion for supporting the outer periphery of the chip 2 and holds the chip 2 by vacuum suction by vacuuming a space surrounded by the jaw portion and the chip 2. In order to release a catch, it can carry out by interrupting a vacuum or introducing a gas for release. In addition, the bumped chip collet head 70 can use what provided the vacuum suction hole simply in the center of a flat plate. The holding of the chip 4 can be performed by vacuuming a space surrounded by the flat plate portion of the collet head 70 and a plurality of bumps, and the catching can be performed by blocking the vacuum or introducing a gas for release.

다음, 상기 구성의 범프 형성 장치(10)에서의 전체 동작에 대하여 설명한다. 도 8은 범프 형성 장치(10)에서의 연속적 동작의 시퀸스의 일부를 발췌하여 도시한 도면이다. 도 8은 가로 축을 공통되는 시각으로 잡아 각 구성 요소의 동작 상태를 도시한 6개의 그래프와 하나의 상태 변화도를 나타내고 있다. 6개의 그래프는 위로부터 순서대로 본딩 스테이지 BSL(도 1 상에서 좌측의 본딩 스테이지(24))의 동작 그래프, 본딩 스테이지 BSR(도 1 상에서 우측의 본딩 스테이지(26))의 동작 그래프, 레벨러 스테이지 LV1(도 6 상에서 좌측의 유지 스테이지(52))의 동작 그래프, 레벨러 스테이지 LV2(도 6 상에서 우측의 유지 스테이지(54))의 동작 그래프, 칩 콜릿(62)의 이동 위치를 도시한 그래프, 칩 콜릿(62)의 XY 이동을 도시한 그래프이다. 하나의 상태 변화도는 칩 콜릿(62)의 픽(잡기) 앤 플레이스(위치 결정 배치)의 상태 변화를 도시한 도면이다. Next, the whole operation | movement in the bump forming apparatus 10 of the said structure is demonstrated. FIG. 8 is a diagram illustrating a part of a sequence of continuous operation in the bump forming apparatus 10. Fig. 8 shows six graphs and one state change diagram showing the operating states of the respective components by holding the horizontal axis at a common time. The six graphs are the operation graph of the bonding stage BSL (the bonding stage 24 on the left side in FIG. 1), the operation graph of the bonding stage BSR (the bonding stage 26 on the right side in FIG. 1), and the leveler stage LV1 (in order from the top). 6, the operation graph of the holding stage 52 on the left side, the operation graph of the leveler stage LV2 (the holding stage 54 on the right side on FIG. 6), the graph showing the moving position of the chip collet 62, and the chip collet ( Fig. 62 is a graph showing the XY shift. One state diagram is a diagram showing a state change of the pick (grab) and place (positioning arrangement) of the chip collet 62.

본딩 스테이지 BSL 및 본딩 스테이지 BSR의 동작 그래프는 도 8에서 맨 위의 두 개의 그래프이다. 이 그래프에서, L 상태는 범프 형성이 행해지지 않은 상태를 나타내고, H 상태는 범프 형성이 행해져 있는 상태인 것을 나타낸다. H와 L간의 천이 상태는 범프 형성 작업의 상승, 하강을 나타낸다. 따라서, 이들 그래프에서 L 상태에서 상승하여 H 상태가 되고, 다시 L 상태로 돌아가는 동안의 L 상태가 아닌 기간이 범프 형성 작업 기간이다. 도 8의 예에서는 범프 형성 작업 기간이 약 3.O sec이고, 하나의 본딩 스테이지 당 범프 형성 작업 사이클 타임은 약 8.2 sec이다. 따라서, 두 개의 본딩 스테이지를 사용함으로써 범프 형성 장치(10)의 전체적인 범프 형성 작업 사이클 타임은 그 절반 정도인 약 4.1 sec가 된다. The operation graphs of the bonding stage BSL and the bonding stage BSR are the two top graphs in FIG. 8. In this graph, the L state represents a state in which bump formation is not performed, and the H state represents a state in which bump formation is performed. The transition state between H and L indicates the rise and fall of the bump forming operation. Therefore, in these graphs, the bump forming operation period is a period other than the L state while rising from the L state to the H state and returning to the L state again. In the example of FIG. 8, the bump forming operation period is about 3.O sec, and the bump forming operation cycle time per one bonding stage is about 8.2 sec. Thus, by using two bonding stages, the overall bump forming work cycle time of the bump forming apparatus 10 is about half that, about 4.1 sec.

레벨러 스테이지 LV1, LV2의 동작 그래프는 도 8에서 위로부터 3, 4번 째인 두 개의 그래프이다. 이 그래프에서 L 상태는 범프의 높이 맞추기가 행해지지 않은 상태를 나타내고, H 상태는 범프의 높이 맞추기가 행해져 있는 상태인 것을 나타낸다. H와 L간의 천이 상태는 높이 맞추기 작업의 상승, 하강을 나타낸다. 따라서, 이들 그래프에서 L 상태에서 상승하여 H 상태가 되고, 다시 L 상태에 돌아가는 동안의 L 상태가 아닌 기간이 범프 높이 맞추기 작업 기간이다. 도 8의 예에서는 범프 높이 맞추기 작업 기간은 약 2.5 sec이다. 하나의 유지 스테이지 당 범프 높이 맞추기 작업 사이클 타임은 범프 형성 작업 사이클 타임과 동일한 약 8.2 sec로서, 두 개의 유지 스테이지를 사용함으로써 범프 형성 장치(10) 전체적인 범프 높이 맞추기 작업 사이클 타임은 그 절반 정도인 약 4.1 sec가 된다. The operation graphs of the leveler stages LV1 and LV2 are two graphs, 3rd and 4th, from above in FIG. 8. In this graph, the L state represents a state in which bump height matching is not performed, and the H state represents a state in which bump height matching is performed. The transition state between H and L indicates the rise and fall of the height matching operation. Therefore, in these graphs, the non-L period during the rising from the L state to the H state and returning to the L state is the bump height matching operation period. In the example of FIG. 8, the bump height fitting operation period is about 2.5 sec. The bump height matching work cycle time per one holding stage is about 8.2 sec, which is the same as the bump forming work cycle time. By using two holding stages, the bump forming apparatus 10 overall bump height matching work cycle time is about half that. 4.1 sec.

칩 콜릿(62)의 이동 위치를 도시한 그래프는 도 8에서 위로부터 5번 째인 가장 복잡한 그래프이다. 이 그래프에서 세로 축은 칩 콜릿(62)의 위치를 나타내는 것으로서, 세로 축의 하방에서 상방 쪽으로 TRAY(공급 및 수납 트레이(14))의 위 치, BSR(본딩 스테이지(26))의 위치, BSL(본딩 스테이지(24))의 위치, LV2(유지 스테이지(54))의 위치, LV1(유지 스테이지(52))의 위치를 나타낸다. The graph showing the moving position of the chip collet 62 is the fifth most complicated graph from the top in FIG. In this graph, the vertical axis indicates the position of the chip collet 62, the position of the TRAY (feeding and receiving tray 14) from below the vertical axis, the position of the BSR (bonding stage 26), and the BSL (bonding). The position of the stage 24), the position of the LV2 (holding stage 54), and the position of the LV1 (holding stage 52) are shown.

도 8에서 칩 콜릿(62)의 이동 위치를 도시한 그래프 바로 아래의 그래프는 칩 콜릿(62)의 XY 이동을 도시한 그래프이다. 여기서는 H 상태에서 XY 이동이 이루어지고 있는 것으로 도시되었다. 즉, 이 그래프와 그 바로 위의 칩 콜릿(62)의 이동 위치 그래프를 대응시켜 보면, XY 이동을 나타내는 H 상태에 대응하여 칩 콜릿(62)은 TRAY, BSL, BSR, LV1, LV2의 사이에서 위치를 변경하고 있음을 알 수 있다. In FIG. 8, the graph immediately below the graph showing the moving position of the chip collet 62 is a graph showing the XY movement of the chip collet 62. Here, it is shown that the XY movement is made in the H state. That is, when this graph is matched with the movement position graph of the chip collet 62 immediately above, the chip collet 62 corresponds to TRAY, BSL, BSR, LV1, and LV2 corresponding to the H state indicating XY movement. You can see that we are changing the location.

도 8에서 맨 아래에 도시되어 있는 상태 변화도는 칩 콜릿(62)이 칩을 흡인하여 잡는 소위 픽업을 행하고 있거나(pick), 칩 콜릿(62)이 칩을 소정의 장소로 옮긴 다음 거기서 위치 결정하고 잡기를 해제하여 배치하고 있는(place) 것을 나타내고 있다. 이러한 상태 변화도와 칩 콜릿(62)의 XY 이동 그래프를 대응시켜 보면, 칩 콜릿(62)의 픽 앤 플레이스는 XY 이동이 행해지지 않고 있을 때에 이루어지고 있음을 알 수 있다. 따라서, 칩 콜릿(62)은 XY 이동에 따라 그 위치를 변경하고, 변경한 곳에서 반드시 픽(잡기) 또는 플레이스(위치 결정 배치) 중 어느 하나를 정해진 순서대로 행하고 있음을 알 수 있다. The state diagram shown at the bottom in FIG. 8 shows that the chip collet 62 is performing a so-called pickup where the chip is attracted and held, or the chip collet 62 moves the chip to a predetermined place and then positions it there. It shows that the catch is released and placed. When the state variation and the XY shift graph of the chip collet 62 are associated with each other, it can be seen that the pick and place of the chip collet 62 is performed when the XY shift is not performed. Accordingly, it can be seen that the chip collet 62 changes its position in accordance with the XY movement, and always performs either a pick (grabbing) or a place (positioning arrangement) in a predetermined order at the changed position.

도 9는 칩 콜릿(62)의 위치 및 픽(잡기) 앤 플레이스(위치 결정 배치)에 대한 시간 변화를 설명하는 도면이다. 여기서는 도 8에 도시한 시각에서 약 10 sec부터 15 sec 사이의 칩 콜릿(62)의 동작을 범프 형성 장치(10)의 평면도를 사용하여 설명한다. FIG. 9 is a diagram for explaining the position of the chip collet 62 and the time variation with respect to picking and placing (positioning arrangement). Here, the operation of the chip collet 62 between about 10 sec and 15 sec at the time shown in FIG. 8 will be described using the plan view of the bump forming apparatus 10.

도 9(a)는 시각 10 sec의 직후에 칩 콜릿(62)이 공급 및 수납 트레이(14) 내에서 이동하여 작업 전의 칩(2)을 잡는 상태이다. 이 때, 본딩 헤드(22)는 본딩 스테이지(24)(BSL)에서 범프 형성이 종료되려고 하고 있다. 또한 레벨러 헤드(42)는 그 바로 아래에 유지 스테이지(54)(LV2)가 배치되어 범프 높이 맞추기가 행해지고 있다. 9A shows a state in which the chip collet 62 moves in the supply and storage tray 14 immediately after the time 10 sec to hold the chip 2 before the operation. At this time, the bonding head 22 is going to finish bump formation in the bonding stage 24 (BSL). In addition, the leveler head 42 has the holding stage 54 (LV2) just below it, and bump height matching is performed.

도 9(b)는 칩 콜릿(62)이 공급 및 수납 트레이(14)에서 본딩 스테이지(26)(BSR)로 칩(2)을 옮기는 상태를 도시한 도면으로서, 도 8의 칩 콜릿 이동 위치 그래프에서 (b)로 나타낸 상태에 대응한다. 여기서 칩 콜릿(62)은 비어 있는 상태가 된다. FIG. 9B is a view showing a state in which the chip collet 62 moves the chip 2 from the supply and accommodation tray 14 to the bonding stage 26 (BSR), and the chip collet movement position graph of FIG. 8. Corresponds to the state indicated by (b). Here, the chip collet 62 is empty.

도 9(c)는 범프 형성이 종료된 본딩 스테이지(24)(BSL)가 이동하여 원래의 위치로 돌아간 상태이다. 그리고, 비어 있는 칩 콜릿(62)은 본딩 스테이지(26)(BSR)에서 본딩 스테이지(24)(BSL)로 이동하고, 거기서 범프 형성이 종료된 범프 있는 칩(4)을 잡는다. 이 상태는 도 8의 칩 콜릿 이동 위치 그래프에서 (c)로 나타낸 상태에 대응한다. FIG. 9C shows a state in which the bonding stage 24 (BSL) in which bump formation is completed is moved and returned to its original position. The empty chip collet 62 then moves from the bonding stage 26 (BSR) to the bonding stage 24 (BSL), where it grabs the bumped chip 4 where bump formation is complete. This state corresponds to the state shown by (c) in the chip collet movement position graph of FIG.

도 9 (d)는 범프 높이 맞추기가 종료된 유지 스테이지(54)(LV2)가 이동하여 원래의 위치로 돌아간 상태이다. 여기서 유지 스테이지(52)(LV1)는 빈 상태이다. 그리고, 칩 콜릿(62)은 범프 있는 칩(4)을 본딩 스테이지(24)(BSL)에서 이 유지 스테이지(52)(LV1)로 옮긴다. 여기서 칩 콜릿(62)은 빈 상태가 된다. 또한 이 때 본딩 스테이지(26)(BSR)는 이동하여 본딩 헤드(22)에 의해 범프 형성이 시작된다. 이 상태는 도 8의 칩 콜릿 이동 위치 그래프에서 (d)로 나타낸 상태에 대응한다. 9 (d) shows a state in which the holding stage 54 (LV2) in which bump height matching is finished has moved and returned to its original position. Here, the holding stage 52 (LV1) is empty. The chip collet 62 then transfers the bumped chip 4 from the bonding stage 24 (BSL) to this holding stage 52 (LV1). Here, the chip collet 62 is empty. At this time, the bonding stage 26 (BSR) is moved to start the bump formation by the bonding head 22. This state corresponds to the state indicated by (d) in the chip collet movement position graph of FIG.

도 9(e)는 비어 있는 칩 콜릿(62)이 유지 스테이지(52)(LV1)에서 유지 스테이지(54)(LV2)로 이동하고, 거기서 높이가 균일해진 범프 있는 칩(6)을 잡는다. 이 상태는, 도 8의 칩 콜릿 이동 위치 그래프에서 (e)로 나타낸 상태에 대응한다. In Fig. 9E, the empty chip collet 62 moves from the holding stage 52 (LV1) to the holding stage 54 (LV2), where it holds the bumped chip 6 whose height is uniform. This state corresponds to the state shown by (e) in the chip collet movement position graph of FIG.

도 9(f)는 칩 콜릿(62)이 높이가 균일해진 범프 있는 칩(6)을 유지 스테이지(54)(LV2)에서 공급 및 수납 트레이(14)로 옮기는 상태를 도시한 도면이다. 이 상태는 도 8의 칩 콜릿 이동 위치 그래프에서 (f)로 나타낸 상태에 대응한다. FIG. 9 (f) shows a state in which the chip collet 62 moves the bumped chip 6 with a uniform height from the holding stage 54 (LV2) to the supply and accommodation tray 14. This state corresponds to the state indicated by (f) in the chip collet movement position graph of FIG.

도 9(a)에서 (f)의 동작에서 공급 및 수납 트레이(14)-본딩 스테이지(26)-본딩 스테이지(24)-유지 스테이지(52)-유지 스테이지(54)-공급 및 수납 트레이(14)의 일순의 동작이 종료된다. 이 사이클 타임은 도 8의 예에서 약 4.1 sec이다. Supply and storage tray 14-bonding stage 26-bonding stage 24-holding stage 52-holding stage 54-supplying and receiving tray 14 in the operation of (f) in FIG. A sequence of operations ends). This cycle time is about 4.1 sec in the example of FIG. 8.

도 9(g)는 도 9(a)에 대응하는 도면으로서, 시각 15 sec 전후의 상태에서 칩 콜릿(62)은 공급 및 수납 트레이(14) 내에서 이동하여 작업 전의 칩(2)을 잡는 상태이다. 도 9(a)와의 차이는 본딩 헤드(22)는 본딩 스테이지(26)(BSR)에서 범프 형성이 종료되려고 하고 있고, 또 레벨러 헤드(42)는 그 바로 아래에 유지 스테이지(52)(LV1)가 배치되어 범프 높이 맞추기가 행해지고 있다는 것이다. 즉, 본딩 스테이지와 유지 스테이지가 도 9(a)의 경우인 것의 다른 쪽으로 교체되어 있다.Fig. 9 (g) is a view corresponding to Fig. 9 (a), in which the chip collet 62 is moved in the supply and receiving tray 14 to hold the chip 2 before the operation in a state before and after 15 sec. to be. 9 (a), the bonding head 22 is about to end bump formation at the bonding stage 26 (BSR), and the leveler head 42 has the holding stage 52 (LV1) immediately below it. Is arranged so that bump height matching is performed. That is, the bonding stage and the holding stage are replaced on the other side of the case of Fig. 9A.

도 9(h)는 도 9(b)에 대응하는 도면으로서, 칩 콜릿(62)이 공급 및 수납 트레이(14)에서 본딩 스테이지(24)(BSL)로 칩(2)을 옮기는 상태를 도시한 도면이며, 도 9(b)와는 본딩 스테이지가 다른 쪽으로 교체되어 있다. 이와 같이 본딩 스테이지와 유지 스테이지를 다른 쪽으로 교체하여 범프 형성 작업은 계속된다. 그리고, 도 9(a)부터 카운트하여 약 8.2 sec 후에 다시 도 9(a)의 상태로 돌아온다. 이 동 안 범프 형성 작업 및 높이 맞추기 작업은 두 개씩 행해져, 결국 범프 형성 장치(10) 전체의 사이클 타임은 약 4.1 sec가 된다. FIG. 9 (h) is a view corresponding to FIG. 9 (b), showing the state in which the chip collet 62 moves the chip 2 from the supply and receiving tray 14 to the bonding stage 24 (BSL). It is a figure and the bonding stage is replaced with the other side in FIG.9 (b). Thus, the bump forming operation is continued by replacing the bonding stage and the holding stage with the other side. Then, counting starts from FIG. 9 (a), and returns to the state of FIG. 9 (a) after about 8.2 sec. During this time, the bump forming operation and the height matching operation are performed two by two, so that the cycle time of the entire bump forming apparatus 10 is about 4.1 sec.

또한, 칩 콜릿(62)은 상기한 바와 같이 범프 없는 칩용 콜릿 헤드(68)와 범프 있는 칩용 콜릿 헤드(70)를 구비하므로, 공급 및 수납 트레이(14)-본딩 스테이지(26) 사이의 칩(2)의 반송은 범프 없는 칩용 콜릿 헤드(68)를 이용하고, 그 이외의 반송에는 범프 있는 칩용 콜릿 헤드(70)를 이용하도록 교체하는 것이 바람직하다. In addition, the chip collet 62 includes the bumpless chip collet head 68 and the bumped chip collet head 70 as described above, so that the chip between the supply and accommodation tray 14-the bonding stage 26 ( It is preferable to replace so that the conveyance of 2) may use the bumpless chip collet head 68, and other conveyances may use the bumped chip collet head 70.

상기 구성에 의하면, 범프 형성 작업 시간의 약 3 sec, 범프 높이 맞추기 작업 시간의 약 2.5 sec에 비하여 범프 형성 및 높이 맞추기의 전체 사이클 타임은 약 4.1 sec이면 되므로, 단순히 범프 형성 작업 시간과 범프 높이 맞추기 작업 시간을 직렬로 처리하는 것에 비하여 대폭으로 생산성이 향상된다. 또한 특별히 칩 콜릿(62)의 유지부의 수를 증가시킬 필요도 없다. According to the above configuration, the total cycle time of bump formation and height alignment should be about 4.1 sec, compared to about 3 sec of bump formation operation time and about 2.5 sec of bump height adjustment operation time. Significantly improved productivity compared to serial working time. In addition, there is no need to increase the number of the holding portions of the chip collet 62 in particular.

상기 시퀸스에는 몇 가지 특징이 있다. 첫째, 칩을 들고 이동하는 칩 콜릿은 공급(및 수납) 트레이-본딩 스테이지-레벨러 스테이지-(공급 및) 수납 트레이의 순으로 칩 등의 픽(잡기) 앤 플레이스(위치 결정 배치)를 효율적으로 반복한다. 즉, 공급 트레이에서 칩 잡기-범프 형성을 행할 본딩 스테이지로 칩 옮기기-범프 형성이 끝난 본딩 스테이지에서 범프 있는 칩 잡기-높이 맞추기를 행할 레벨러 스테이지로 범프 있는 칩 옮기기-높이 맞추기가 끝난 레벨러 스테이지에서 범프 있는 칩 잡기-수납 트레이로 높이가 균일해진 범프 있는 칩 옮기기의 순으로 칩 등을 들고 이동한다. The sequence has several features. First, the chip collet carrying the chip efficiently repeats the pick and place (positioning arrangement) of chips, etc. in the order of supply (and storage) tray-bonding stage-leveler stage- (feed and) storage tray. do. That is, catching chips in the supply tray-moving chips to the bonding stage where bump formation is to be performed-catching chips with bumps from the bump forming bonding stage-moving the bumped chips to the leveler stage which will perform the height adjustment-bumping at the leveler stage where the height alignment is finished Holding chips-Move chips and other chips in order of transferring bumped chips with uniform height to the storage tray.

둘째, 범프 형성이 종료된 칩은 곧바로 레벨러 스테이지로 옮겨지고, 높이가 균일해진 범프 있는 칩은 바로 수납 트레이로 옮겨지며, 공급 트레로부터는 범프 형성을 이제부터 행할 본딩 스테이지로 바로 칩이 옮겨진다. 따라서, 각 작업에 대한 순서 대기 등의 낭비가 없다. Secondly, the chip after the bump formation is completed is immediately transferred to the leveler stage, the bumped chip having a uniform height is directly transferred to the storage tray, and the chip is transferred directly to the bonding stage where bump formation is to be made from now on. Therefore, there is no waste of waiting for each job or the like.

셋째, 공급 트레이-본딩 스테이지-레벨러 스테이지-수납 트레이의 기본적인 흐름을 그대로 유지하면서 들고 이동하며, 픽 앤 플레이스를 도중에 끊기지 않게 하기 위하여 실제로는 공급 트레이-본딩 스테이지에서 제1 픽 앤 플레이스, 본딩 스테이지-레벨러 스테이지에서 제2 픽 앤 플레이스, 레벨러 스테이지-수납 트레이에서 제3 픽 앤 플레이스를 구성시킨다. 그리고, 제1 픽 앤 플레이스의 본딩 스테이지와 제2 픽 앤 플레이스의 본딩 스테이지는 다른 것으로 하여, 전자는 이제부터 본딩을 행할 것, 후자는 본딩이 종료된 것으로 한다. 마찬가지로, 제2 픽 앤 플레이스의 레벨러 스테이지와 제3 픽 앤 플레이스의 레벨러 스테이지는 다른 것으로 하여, 전자는 이제부터 높이 맞추기를 행할 것, 후자는 높이 맞추기가 종료된 것으로 한다. Third, the first pick and place, the bonding stage- in the feed tray-bonding stage, in order to hold and move while maintaining the basic flow of the supply tray-bonding stage-leveler stage-storage tray and not to interrupt the pick and place. Configure a second pick and place in the leveler stage and a third pick and place in the leveler stage-storing tray. Then, the bonding stage of the first pick and place is different from the bonding stage of the second pick and place, so that the former will bond from now on, and the latter will end. Similarly, the leveler stage of the second pick-and-place and the leveler stage of the third pick-and-place are different, so that the former adjusts the height from now on and the latter adjusts the height.

넷째, 공급 트레이에서 출발하여 수납 트레이에 이르는 반송 사이클 타임보다 하나의 범프 스테이지 당 범프 형성에 필요한 사이클 타임 및 하나의 레벨러 스테이지 당 범프의 높이를 균일하게 맞추는 사이클 타임 쪽이 짧다. 상기한 예에서 말하면, 공급 트레이에서 출발하여 수납 트레이에 이르는 반송 사이클 타임은 약4.1 sec로서, 범프 형성 작업 시간의 약 3.O sec, 범프 높이 맞추기 작업 시간의 약 2.5 sec보다 짧다. 따라서, 높이가 균일해진 범프 있는 칩의 생산 사이클 타임 은 범프 형성에 필요한 사이클 타임이나 높이 맞추기에 요구되는 사이클 타임에 영향을 받지 않고 단순히 반송 사이클 타임으로 결정된다. 즉, 그 범위 내에서 범프 형성의 시간이나 높이 맞추기의 시간에 의존하지 않고 반송 사이클 타임을 단축함으로써 생산성을 향상시킬 수 있다. Fourth, the cycle time for uniformly matching the height of the bump per one leveler stage and the bump time per one bumper stage is shorter than the transfer cycle time from the supply tray to the storage tray. In the above example, the transfer cycle time from the supply tray to the storage tray is about 4.1 sec, which is shorter than about 3.O sec of the bump forming operation time and about 2.5 sec of the bump height matching operation time. Therefore, the production cycle time of bumped chips with uniform height is determined by simply the transfer cycle time without being affected by the cycle time required for bump formation or the cycle time required for height matching. That is, productivity can be improved by shortening a conveyance cycle time, regardless of the time of bump formation and the time of height matching in the range.

상기 구성에 의해 둘 이상의 범프 스테이지와 둘 이상의 레벨러부를 구비하고, 그 사이에서 칩을 들고 이동하는 칩 콜릿은 공급 트레이-본딩 스테이지-레벨러 스테이지-수납 트레이의 순서로 칩 등의 픽(잡기) 앤 플레이스(위치 결정 배치)를 효율적으로 반복한다. 즉, 공급 트레이에서 칩을 잡기-범프 형성을 행할 본딩 스테이지로 칩을 옮기기-범프 형성이 끝난 본딩 스테이지에서 범프 있는 칩을 잡기-높이 맞추기를 행할 레벨러 스테이지로 범프 있는 칩을 옮기기-높이 맞추기가 끝난 레벨러 스테이지에서 범프 있는 칩을 잡기-수납 트레이로 높이가 균일해진 범프 있는 칩을 옮기기의 순서로 칩 등을 들고 이동한다. The chip collet which has two or more bump stages and two or more leveler parts by the above structure, and picks up and moves chips between them is picked and placed such as chips in the order of supply tray-bonding stage-leveler stage-storing tray. (Positioning arrangement) is repeated efficiently. That is, grab the chip from the supply tray-move the chip to the bonding stage where bump formation will occur-grab the bumped chip from the bump forming bonding stage-move the bumped chip to the leveler stage that will do the height adjustment-finish the height alignment Catch bumped chips in the leveler stage-pick up the chips and move them in the order of moving the bumped chips with uniform height to the storage tray.

즉, 범프 형성이 종료된 칩은 곧바로 레벨러 스테이지로 옮겨지고, 높이가 균일균일 있는 칩은 곧바로 수납 트레이로 옮겨지고, 공급 트레이로부터는 범프 형성을 이제부터 행할 본딩 스테이지로 곧바로 칩이 옮겨진다. 따라서, 각 작업에 대한 순번 대기 등의 낭비가 없다. 여기서, 칩을 들고 이동하는 유지부는 물론 범프 형성 전후에 범프 형상의 보호를 위하여 유지부의 형상이 다른 것으로 바꾸어 들어도 좋지만, 기본적으로 하나면 된다. 따라서, 칩을 들고 이동하는 유지 툴의 유지부의 종류를 늘리지 않고 생산성을 향상시킬 수 있다. That is, the chip after the bump formation is completed is immediately transferred to the leveler stage, the chip having a uniform uniform height is immediately transferred to the storage tray, and the chip is immediately transferred to the bonding stage where bump formation is to be performed from now on. Therefore, there is no waste of turn waiting for each job. Here, the shape of the holding part may be changed to another one for the protection of the bump shape before and after the bump formation, as well as the holding part for holding and moving the chip. Therefore, productivity can be improved, without increasing the kind of holding | maintenance part of the holding tool which carries a chip | tip and moves.

또한 공급 트레이에서 출발하여 수납 트레이에 이르는 반송 사이클 타임보다 하나의 범프 스테이지 당 범프 형성에 요구되는 사이클 타임 및 하나의 레벨러 스테이지 당 범프의 높이가 균일해지는 사이클 타임을 짧게 제어하므로 높이가 균일한 범프 있는 칩의 생산의 사이클 타임은 범프 형성에 요구되는 사이클 타임이나 높이 맞추기에 요구되는 사이클 타임에 영향을 받지 않고 단지 반송 사이클 타임으로 결정된다. 따라서, 그 범위 내에서 범프 형성의 시간이나 높이 맞추기의 시간에 의존하지 않고 반송 사이클 타임을 단축함으로써 생산성을 향상시킬 수 있다. In addition, since the cycle time required for bump formation per one bump stage and the cycle time during which the height of the bumps per one leveler stage are uniformly controlled are shorter than the transfer cycle time from the supply tray to the storage tray, the bump height is uniform. The cycle time of the production of the chip is determined by only the transfer cycle time without being affected by the cycle time required for bump formation or the cycle time required for height matching. Therefore, productivity can be improved by shortening a conveyance cycle time without depending on the time of bump formation or the time of height matching in the range.

또한 범프 없는 칩용 칩 콜릿과 범프 있는 칩용 칩 콜릿의 선택을 행하므로 범프의 형상의 변형 등을 방지할 수 있다. In addition, since the chip chip collet for bumpless chips and the chip collet for bumped chips are selected, deformation of the bump shape and the like can be prevented.

또한 복수 개의 레벨러 스테이지가 이동 방향으로 배열된 슬라이드식의 레벨러 한 대를 가지므로, 높이 맞추기를 위한 가압 장치는 하나면 되어, 간단한 구성으로 생산성을 향상시킬 수 있다. In addition, since the plurality of leveler stages have one slide type leveler arranged in the moving direction, one pressurizing device for height matching is required, so that the productivity can be improved with a simple configuration.

상기한 바와 같이 본 발명에 따른 범프 형성 장치에 의하면, 칩을 들고 이동하는 유지 툴의 유지부의 종류를 늘리지 않고 생산성을 향상시킬 수 있다. As mentioned above, according to the bump forming apparatus which concerns on this invention, productivity can be improved, without increasing the kind of holding part of the holding tool which carries a chip | tip and moves.

Claims (4)

칩에 높이가 균일한 복수 개의 범프를 형성하는 범프 형성 장치에 있어서, In a bump forming apparatus for forming a plurality of bumps having a uniform height on the chip, 칩을 공급하는 공급 트레이,Supply tray for supplying chips, 칩에 복수 개의 범프를 형성하는 범프 형성부로서, 둘 이상의 범프 스테이지를 가지며, 하나의 범프 스테이지에서 칩에 범프를 형성할 때 다른 범프 스테이지는 다음으로 범프 형성을 행할 칩 또은 이미 범프가 형성된 칩을 대기시키는 범프 형성부, A bump forming unit for forming a plurality of bumps on a chip, the bump forming unit having two or more bump stages, and when bumps are formed on a chip in one bump stage, another bump stage is next to a chip or a chip in which bumps are to be formed. Atmospheric bump formation, 형성된 복수 개의 범프의 높이를 균일하게 맞추는 레벨러부로서, 둘 이상의 레벨러 스테이지를 가지며, 하나의 레벨러 스테이지에서 범프의 높이를 균일하게 맞출 때 다른 레벨러 스테이지는 다음으로 높이를 균일하게 맞출 범프 있는 칩 또은 이미 높이를 균일하게 맞춘 범프 있는 칩을 대기시키는 레벨러부, A leveler section that uniformly matches the heights of a plurality of bumps formed, wherein the leveler section has two or more leveler stages, and when one of the leveler stages uniformly adjusts the height of the bumps, another leveler stage is next bumped chip or already The leveler part which waits the chip with the bump which matched the height uniformly, 범프의 높이가 균일한 칩을 수납하는 수납 트레이, A storage tray for storing chips with a uniform height of bumps, 공급 트레이와 범프 형성부와 레벨러부와 수납 트레이 사이에서 칩 콜릿을 이용하여 칩을 주고 받고 반송을 행하는 칩 콜릿 반송부, 및A chip collet conveying unit for exchanging and conveying chips using a chip collet between a supply tray, a bump forming unit, a leveler unit and a storage tray, and 범프 형성의 사이클 타임을 제어하는 제어부, 를 구비하고, A control unit for controlling a cycle time of bump formation, 제어부는,   The control unit, 공급 트레이에서 칩 콜릿이 제1 칩을 잡도록 하는 수단,  Means for causing the chip collet to hold the first chip in the feed tray, 제1 칩을 잡은 칩 콜릿을 이동시켜 범프 형성부의 이제부터 범프 형성을 행할 쪽의 범프 스테이지에 위치 결정 배치시키는 수단,  Means for moving the chip collet holding the first chip and positioning the bump collet in the bump stage on the side where bump formation is to be made; 비어 있는 칩 콜릿을 이미 범프 형성이 종료된 쪽의 범프 스테이지로 이동시키고, 거기에서 이미 범프가 형성되어 대기하고 있는 제2 칩을 잡도록 하는 수단,  Means for moving the empty chip collet to the bump stage on the side where bump formation has already been completed, and catching the second chip which is already formed and waiting for bumps, 제2 칩을 잡은 칩 콜릿을 이동시켜 레벨러부의 이제부터 높이 맞추기를 행할 쪽의 레벨러 스테이지에 위치 결정 배치시키는 수단,  A means for moving the chip collet holding the second chip and positioning the chip collet on the leveler stage on the side where the leveler portion is to be height-adjusted from now on, 비어 있는 칩 콜릿을 이미 범프 높이 맞추기가 종료된 쪽의 레벨러 스테이지로 이동시키고, 거기에서 이미 높이가 균일해져서 대기하고 있는 제3 칩을 잡도록 하는 수단, 및   Means for moving the empty chip collet to the leveler stage on the side where bump height matching has already been completed, whereby the height is uniform and held to hold the third chip waiting; and 제3 칩을 잡은 칩 콜릿을 이동시키고, 수납 트레이에 위치 결정 배치하여 수납시키는 수단, 을 포함하는 것을 특징으로 하는 범프 형성 장치.   And a means for moving the chip collet catching the third chip, positioning and storing the chip collet in the storage tray. 제 1 항에 있어서, 공급 트레이에서 출발하여 수납 트레이에 이르는 반송 사이클 타임보다, 하나의 범프 스테이지 당 범프 형성에 요구되는 사이클 타임 및 하나의 레벨러 스테이지 당 범프의 높이를 균일하게 맞추는 사이클 타임을 짧게 제어하는 것을 특징으로 하는 범프 형성 장치. The method according to claim 1, wherein the cycle time for uniformly matching the height of the bumps per one bumper stage and the height of the bumps per one leveler stage is shorter than the transfer cycle time starting from the supply tray to the storage tray. Bump forming apparatus, characterized in that. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 칩 콜릿 반송부는,Chip collet conveying unit, 범프가 아직 형성되지 않은 범프 없는 칩을 잡는 파지 형상을 갖는 범프 없는 칩용 칩 콜릿, 및 A chip collet for a bumpless chip having a grip shape for holding a bumpless chip in which bumps have not yet been formed, and 범프가 이미 형성되어 있는 범프 있는 칩을 잡는 파지 형상을 갖는 범프 있는 칩용 칩 콜릿, 을 가지며, A bump chip chip collet having a grip shape for holding a bumped chip in which bumps are already formed, 제어부는 범프 없는 칩 및 범프 있는 칩에 따라 칩 콜릿 반송부가 사용할 칩 콜릿을 선택하는 것을 특징으로 하는 범프 형성 장치. And the control unit selects a chip collet to be used by the chip collet conveying unit according to the bumpless chip and the bumped chip. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 레벨러부는 복수 개의 레벨러 스테이지가 이동 방향으로 배열된 슬라이드식 레벨러대로서, 범프를 임의로 설정된 높이로 눌러 균일하게 맞추는 누름 기구의 작업 영역에 어느 하나의 레벨러 스테이지를 이동시키는 레벨러대를 갖는 것을 특징으로 하는 범프 형성 장치. The leveler section is a slide leveler stage in which a plurality of leveler stages are arranged in a moving direction, and has a leveler stage for moving any one leveler stage in a work area of a pressing mechanism to uniformly press a bump at a predetermined height. Bump forming device.
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