JP7054021B2 - Printed circuit boards and light emitting devices and their manufacturing methods - Google Patents

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Description

本発明は、プリント基板及び発光装置並びにそれらの製造方法に関する。 The present invention relates to a printed circuit board, a light emitting device, and a method for manufacturing the same.

プリント基板では、絶縁性の基材としてエポキシ樹脂やポリイミド樹脂などの樹脂が用いられることが多く、ガラスエポキシ基板のように、更にガラスクロスなどの強化材が用いられているものもある。このような樹脂層を含むプリント基板には、様々な目的のために複数の貫通孔が設けられる。貫通孔は、従来はドリルやルーターなどの機械加工により形成されていたが、例えば、特許文献1に開示されているように、近年はレーザー加工により形成されることもある。 In printed circuit boards, resins such as epoxy resins and polyimide resins are often used as insulating base materials, and some printed circuit boards also use reinforcing materials such as glass cloth, such as glass epoxy boards. The printed circuit board including such a resin layer is provided with a plurality of through holes for various purposes. Conventionally, the through hole is formed by machining such as a drill or a router, but as disclosed in Patent Document 1, for example, it may be formed by laser machining in recent years.

特開2012-61480号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2012-61480

レーザー加工は貫通孔を高精度に形成できる利点があるが、特許文献1に開示されているように、形成する貫通孔の外縁に沿って周回するようにレーザー光の走査を複数回行う必要がある。このため、レーザー加工の所要時間を短縮するために走査回数の低減が望まれていた。
本開示に係る実施形態は、レーザー加工に要する時間を短縮できるプリント基板及びその製造方法を提供することを課題とする。
Laser machining has the advantage of being able to form through holes with high accuracy, but as disclosed in Patent Document 1, it is necessary to scan the laser beam multiple times so as to orbit along the outer edge of the through holes to be formed. be. Therefore, it has been desired to reduce the number of scans in order to shorten the time required for laser processing.
It is an object of the present embodiment to provide a printed circuit board capable of shortening the time required for laser processing and a method for manufacturing the printed circuit board.

本開示の実施形態に係るプリント基板の製造方法は、絶縁性を有する板状の基材と、前記基材の一方の面に設けられる第1金属層と、前記基材の他方の面に設けられる第2金属層と、を備える原基板に、前記第1金属層側からレーザー光を照射することで前記原基板に厚さ方向に貫通する貫通孔を形成するレーザー加工工程を含み、前記レーザー加工工程よりも前に、前記レーザー光の照射予定領域に配置されている前記第2金属層をエッチングすることによって除去するエッチング工程を有する。 The method for manufacturing a printed substrate according to the embodiment of the present disclosure includes a plate-shaped base material having an insulating property, a first metal layer provided on one surface of the base material, and a first metal layer provided on the other side of the base material. A laser processing step of forming a through hole penetrating in the thickness direction of the original substrate by irradiating the original substrate including the second metal layer with a laser beam from the first metal layer side is included. Prior to the processing step, there is an etching step of removing the second metal layer arranged in the area to be irradiated with the laser beam by etching.

本開示の実施形態に係るプリント基板は、絶縁性を有する板状の基材と、前記基材の一方の面に設けられている第1金属層と、前記基材の他方の面に設けられている第2金属層と、を備え、前記基材は、厚さ方向に貫通する、貫通孔を有し、前記第2金属層は、底面視において、前記貫通孔から、所定の距離以上離間して設けられている。 The printed circuit board according to the embodiment of the present disclosure is provided on a plate-shaped base material having an insulating property, a first metal layer provided on one surface of the base material, and the other surface of the base material. The base material has a through hole that penetrates in the thickness direction, and the second metal layer is separated from the through hole by a predetermined distance or more in a bottom view. It is provided.

本開示の実施形態に係るプリント基板及びその製造方法によれば、レーザー加工に要する時間を短縮することができる。 According to the printed circuit board and the manufacturing method thereof according to the embodiment of the present disclosure, the time required for laser processing can be shortened.

第1実施形態に係るプリント基板の製造方法の手順を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the procedure of the manufacturing method of the printed circuit board which concerns on 1st Embodiment. 第1実施形態に係るプリント基板の製造方法で用いられる原基板の構成を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the structure of the original board used in the manufacturing method of the printed circuit board which concerns on 1st Embodiment. 第1実施形態に係るプリント基板の製造方法におけるエッチング工程を示す平面図である。It is a top view which shows the etching process in the manufacturing method of the printed circuit board which concerns on 1st Embodiment. 第1実施形態に係るプリント基板の製造方法におけるエッチング工程を示す断面図であり、図3AのIIIB-IIIB線における断面を示す。It is sectional drawing which shows the etching process in the manufacturing method of the printed circuit board which concerns on 1st Embodiment, and shows the sectional drawing in line IIIB-IIIB of FIG. 3A. 第1実施形態に係るプリント基板の製造方法におけるレーザー加工工程を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the laser processing process in the manufacturing method of the printed circuit board which concerns on 1st Embodiment. 第1実施形態に係るプリント基板の製造方法におけるレーザー加工工程で用いられるレーザー加工装置の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the laser processing apparatus used in the laser processing process in the manufacturing method of the printed circuit board which concerns on 1st Embodiment. 第1実施形態に係るプリント基板の製造方法におけるメッキ工程を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the plating process in the manufacturing method of the printed circuit board which concerns on 1st Embodiment. 第1実施形態に係るプリント基板の製造方法における配線パターン形成工程を示す平面図である。It is a top view which shows the wiring pattern forming process in the manufacturing method of the printed circuit board which concerns on 1st Embodiment. 第1実施形態に係るプリント基板の製造方法における配線パターン形成工程を示す底面図である。It is a bottom view which shows the wiring pattern formation process in the manufacturing method of the printed circuit board which concerns on 1st Embodiment. 第1実施形態に係るプリント基板の製造方法における配線パターン形成工程を示す断面図であり、図6AのVIC-VIC線における断面を示す。It is sectional drawing which shows the wiring pattern formation process in the manufacturing method of the printed circuit board which concerns on 1st Embodiment, and shows the sectional drawing in the VIC-VIC line of FIG. 第1実施形態に係るプリント基板の製造方法におけるエッチング工程の第1変形例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the 1st modification of the etching process in the manufacturing method of the printed circuit board which concerns on 1st Embodiment. 第1実施形態に係るプリント基板の製造方法におけるエッチング工程の第2変形例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the 2nd modification of the etching process in the manufacturing method of the printed circuit board which concerns on 1st Embodiment. 第2実施形態に係る発光装置の製造方法の手順を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the procedure of the manufacturing method of the light emitting device which concerns on 2nd Embodiment. 第2実施形態に係る発光装置の製造方法における発光素子実装工程を示す平面図である。It is a top view which shows the light emitting element mounting process in the manufacturing method of the light emitting device which concerns on 2nd Embodiment. 第2実施形態に係る発光装置の製造方法における発光素子実装工程を示す断面図であり、図9AのIXB-IXB線における断面を示す。It is sectional drawing which shows the light emitting element mounting process in the manufacturing method of the light emitting device which concerns on 2nd Embodiment, and shows the sectional view in the IXB-IXB line of FIG. 第2実施形態に係る発光装置の製造方法における遮光性部材形成工程を示す平面図である。It is a top view which shows the light-shielding member forming process in the manufacturing method of the light emitting device which concerns on 2nd Embodiment. 第2実施形態に係る発光装置の製造方法における遮光性部材形成工程を示す断面図であり、図10AのXB-XB線における断面を示す。It is sectional drawing which shows the light-shielding member forming process in the manufacturing method of the light emitting device which concerns on 2nd Embodiment, and shows the sectional drawing in line XB-XB of FIG. 第2実施形態に係る発光装置の製造方法における透光性部材形成工程を示す平面図である。It is a top view which shows the translucent member forming process in the manufacturing method of the light emitting device which concerns on 2nd Embodiment. 第2実施形態に係る発光装置の製造方法における透光性部材形成工程を示す断面図であり、図11AのXIB-XIB線における断面を示す。It is sectional drawing which shows the translucent member forming process in the manufacturing method of the light emitting apparatus which concerns on 2nd Embodiment, and shows the sectional view in the XIB-XIB line of FIG. 11A.

以下、本発明の実施形態に係るプリント基板、発光装置及びこれらの製造方法について説明する。
なお、以下の説明において参照する図面は、本発明の実施形態を概略的に示したものであるため、各部材のスケールや間隔、位置関係などが誇張、あるいは、部材の一部の図示が省略されている場合がある。また、平面図や底面図とその断面図において、各部材のスケールや間隔が一致しない場合もある。また、以下の説明では、同一の名称及び符号については原則として同一又は同質の部材を示しており、詳細な説明を適宜省略することとする。
Hereinafter, the printed circuit board, the light emitting device, and the manufacturing method thereof according to the embodiment of the present invention will be described.
Since the drawings referred to in the following description schematically show the embodiment of the present invention, the scale, spacing, positional relationship, etc. of each member are exaggerated, or some of the members are not shown. May have been. In addition, the scales and spacing of the members may not match in the plan view, bottom view, and cross-sectional view thereof. Further, in the following description, the same or the same quality members are shown in principle for the same name and reference numeral, and detailed description thereof will be omitted as appropriate.

本明細書において、レーザー加工工程を行うよりも前の段階の基板を「原基板」と呼び、レーザー加工工程を行って貫通孔が形成された基板を「プリント基板」と呼ぶものとする。 In the present specification, a substrate at a stage prior to the laser processing step is referred to as a "original substrate", and a substrate on which a through hole is formed by performing the laser processing step is referred to as a "printed circuit board".

本明細書において、広義の「貫通孔」は、レーザー光を走査せずに形成されうる点状の狭義の「貫通孔」及びレーザー光を走査して形成されうる「開口部」を含むものである。更に「開口部」は、レーザー光を直線状及び/又は曲線状に走査して形成される「走査ラインと略同一形状の孔」、及び所定の領域を取り囲むようにパルスレーザー光を走査して形成される「前記所定の領域と略同一形状の孔」を含むものである。 As used herein, the broad "through hole" includes a point-like narrow "through hole" that can be formed without scanning the laser beam and an "opening" that can be formed by scanning the laser beam. Further, the "opening" is formed by scanning the laser beam linearly and / or curvedly into a "hole having substantially the same shape as the scanning line", and the pulsed laser beam is scanned so as to surround a predetermined region. It includes a "hole having substantially the same shape as the predetermined region" to be formed.

<第1実施形態>
[プリント基板及びその製造方法]
第1実施形態に係るプリント基板及びその製造方法について、図1~図6Cを参照して説明する。
図1は、第1実施形態に係るプリント基板の製造方法の手順を示すフローチャートである。図2は、第1実施形態に係るプリント基板の製造方法で用いられる原基板の構成を示す断面図である。図3Aは、第1実施形態に係るプリント基板の製造方法におけるエッチング工程を示す平面図である。図3Bは、第1実施形態に係るプリント基板の製造方法におけるエッチング工程を示す断面図であり、図3AのIIIB-IIIB線における断面を示す。図4Aは、第1実施形態に係るプリント基板の製造方法におけるレーザー加工工程を示す断面図である。図4Bは、第1実施形態に係るプリント基板の製造方法におけるレーザー加工工程で用いられるレーザー加工装置の構成を示すブロック図である。図5は、第1実施形態に係るプリント基板の製造方法におけるメッキ工程を示す断面図である。図6Aは、第1実施形態に係るプリント基板の製造方法における配線パターン形成工程を示す平面図である。図6Bは、第1実施形態に係るプリント基板の製造方法における配線パターン形成工程を示す底面図である。図6Cは、第1実施形態に係るプリント基板の製造方法における配線パターン形成工程を示す断面図であり、図6AのVIC-VIC線における断面を示す。
<First Embodiment>
[Printed circuit board and its manufacturing method]
The printed circuit board and the manufacturing method thereof according to the first embodiment will be described with reference to FIGS. 1 to 6C.
FIG. 1 is a flowchart showing a procedure of a method for manufacturing a printed circuit board according to the first embodiment. FIG. 2 is a cross-sectional view showing the configuration of the original substrate used in the method for manufacturing a printed circuit board according to the first embodiment. FIG. 3A is a plan view showing an etching process in the method for manufacturing a printed circuit board according to the first embodiment. FIG. 3B is a cross-sectional view showing an etching process in the method for manufacturing a printed circuit board according to the first embodiment, and shows a cross-sectional view taken along the line IIIB-IIIB of FIG. 3A. FIG. 4A is a cross-sectional view showing a laser processing step in the method for manufacturing a printed circuit board according to the first embodiment. FIG. 4B is a block diagram showing a configuration of a laser processing apparatus used in a laser processing step in the method for manufacturing a printed circuit board according to the first embodiment. FIG. 5 is a cross-sectional view showing a plating process in the method for manufacturing a printed circuit board according to the first embodiment. FIG. 6A is a plan view showing a wiring pattern forming step in the method for manufacturing a printed circuit board according to the first embodiment. FIG. 6B is a bottom view showing a wiring pattern forming step in the method for manufacturing a printed circuit board according to the first embodiment. FIG. 6C is a cross-sectional view showing a wiring pattern forming step in the method for manufacturing a printed circuit board according to the first embodiment, and shows a cross section in the VIC-VIC line of FIG. 6A.

なお、図3Aは底面図であるが、便宜的に、レーザー光照射予定領域にハッチングを施して示している。また、図3B以降に示す各断面図において、基材の詳細な構成の記載を省略している。また、図6Aに示す平面図及び図6Bに示す底面図において、配線パターンとして第1金属層、第2金属層及び第3金属層が残されている領域に、便宜的にハッチングを施している。 Although FIG. 3A is a bottom view, it is shown by hatching the area to be irradiated with the laser beam for convenience. Further, in each cross-sectional view shown in FIGS. 3B and after, the description of the detailed configuration of the base material is omitted. Further, in the plan view shown in FIG. 6A and the bottom view shown in FIG. 6B, the region where the first metal layer, the second metal layer, and the third metal layer are left as the wiring pattern is hatched for convenience. ..

[プリント基板の構成]
第1実施形態に係る製造方法で製造されるプリント基板1は、最終工程である配線パターン形成工程を示す図6A~図6Cに示すように、絶縁性を有する板状の基材11の上面に第1金属層12を、下面に第2金属層13をそれぞれ備えており、プリント基板1の所定箇所に厚さ方向に貫通する開口部15が設けられている。プリント基板1は、更に、第1金属層12、第2金属層13及び開口部15の内側面を連続して被覆する第3金属層14が設けられ、第1金属層12と第2金属層13とを電気的に接続している。また、第1金属層12,第2金属層13及び第3金属層14は、プリント基板1の配線パターンを構成している。また、本実施形態のプリント基板1の角部には、プリント基板1の位置決めやハンドリングのための穴部18が設けられている。
プリント基板1の詳細な構成については、その製造方法とともに説明する。
[Printed circuit board configuration]
The printed circuit board 1 manufactured by the manufacturing method according to the first embodiment is formed on the upper surface of a plate-shaped base material 11 having an insulating property, as shown in FIGS. 6A to 6C showing the wiring pattern forming step which is the final step. A first metal layer 12 is provided on the lower surface thereof, and a second metal layer 13 is provided on the lower surface thereof, and an opening 15 penetrating the printed circuit board 1 in the thickness direction is provided at a predetermined position. The printed circuit board 1 is further provided with a third metal layer 14 that continuously covers the inner side surfaces of the first metal layer 12, the second metal layer 13, and the opening 15, and the first metal layer 12 and the second metal layer. It is electrically connected to 13. Further, the first metal layer 12, the second metal layer 13, and the third metal layer 14 constitute a wiring pattern of the printed circuit board 1. Further, the corner portion of the printed circuit board 1 of the present embodiment is provided with a hole portion 18 for positioning and handling of the printed circuit board 1.
The detailed configuration of the printed circuit board 1 will be described together with the manufacturing method thereof.

[プリント基板の製造方法]
第1実施形態に係るプリント基板の製造方法は、原基板準備工程S11と、エッチング工程S12と、レーザー加工工程S13と、メッキ工程S14と、配線パターン形成工程S15とが含まれている。
[Manufacturing method of printed circuit board]
The method for manufacturing a printed circuit board according to the first embodiment includes a raw circuit board preparation step S11, an etching step S12, a laser processing step S13, a plating step S14, and a wiring pattern forming step S15.

原基板準備工程S11は、プリント基板1の原材料である原基板10を準備する工程である。プリント基板1の原基板10は、絶縁性を有する板状の基材11と、基材11の一方の面である上面側に第1金属層12が設けられ、他方の面である下面側に第2金属層13が設けられている。 The original substrate preparation step S11 is a step of preparing the original substrate 10 which is the raw material of the printed circuit board 1. The original substrate 10 of the printed circuit board 1 is provided with an insulating plate-shaped base material 11 and a first metal layer 12 on the upper surface side, which is one surface of the base material 11, and on the lower surface side, which is the other surface. A second metal layer 13 is provided.

原基板10は、基材11の両面に金属箔を貼付したり、基材11の両面にメッキ、スパッタ、蒸着などにより金属膜を成膜することで製造することができる。原基板10は、自ら製造してもよいし、市販品を購入してもよい。原基板10は、例えば、リジッド基板であるが、フレキシブル基板であってもよい。
また、原基板10は、レーザー加工によって形成される開口部15とは別に、原基板10乃至プリント基板1の位置決めやハンドリングのための穴部18が設けられていてもよい。このような穴部18は、例えば、ドリルやルーターなどで形成することができる。
The original substrate 10 can be manufactured by attaching metal foils to both sides of the base material 11 or forming a metal film on both sides of the base material 11 by plating, sputtering, vapor deposition, or the like. The original substrate 10 may be manufactured by itself or may be purchased on the market. The original substrate 10 is, for example, a rigid substrate, but may be a flexible substrate.
Further, the original substrate 10 may be provided with a hole portion 18 for positioning and handling of the original substrate 10 to the printed circuit board 1 in addition to the opening portion 15 formed by laser processing. Such a hole 18 can be formed by, for example, a drill or a router.

基材11は、樹脂層111と、縦糸112aと横糸112bとで織られたガラスクロス112と、が交互にそれぞれ複数層積層されて構成されている。ガラスクロス112は例えばSiO-Al-CaO-BなどからなるEガラスや、SiO-Al-MgOなどからなるSガラスなどが用いられる。ガラスクロス112には樹脂層111を構成する樹脂が含浸されており、樹脂層111とガラスクロス112とは一体的に強固な基材11を構成している。基材11は、少なくとも3層以上のガラスクロス112を持つことが好ましい。複数のガラスクロスを積層することで、縦糸112aや横糸112bのガラスクロスの偏在が改善され均一性が増すためレーザーで加工した際に、加工面を均一に仕上げることができる。 The base material 11 is configured by alternately laminating a plurality of layers of a resin layer 111 and a glass cloth 112 woven by warp threads 112a and weft threads 112b. As the glass cloth 112, for example, E glass made of SiO 2 -Al 2 O 3 -CaO-B 2 O 3 or the like, S glass made of SiO 2 -Al 2 O 3 -MgO or the like, or the like is used. The glass cloth 112 is impregnated with the resin constituting the resin layer 111, and the resin layer 111 and the glass cloth 112 integrally form a strong base material 11. The base material 11 preferably has at least three or more layers of glass cloth 112. By laminating a plurality of glass cloths, the uneven distribution of the glass cloths of the warp threads 112a and the weft threads 112b is improved and the uniformity is increased, so that the processed surface can be uniformly finished when processed by a laser.

樹脂層111を構成する樹脂の種類は、特に限定されない。樹脂層111を構成する樹脂としては、エポキシ樹脂、ポリイミド樹脂、ポリエチレンテレフタレート樹脂、ポリエチレンナフタレート樹脂、ビスマレイミドトリアジン樹脂、フェノール樹脂、シリコーン樹脂、変性シリコーン樹脂、エポキシ変性シリコーン樹脂、ポリフェニレンエーテル樹脂、液晶ポリマー樹脂及びこれらの組み合わせを挙げることができる。 The type of resin constituting the resin layer 111 is not particularly limited. Examples of the resin constituting the resin layer 111 include epoxy resin, polyimide resin, polyethylene terephthalate resin, polyethylene naphthalate resin, bismaleimide triazine resin, phenol resin, silicone resin, modified silicone resin, epoxy-modified silicone resin, polyphenylene ether resin, and liquid crystal. Examples include polymer resins and combinations thereof.

また、基材11は、本実施形態のガラスクロス112のように、強度を向上させるための強化材を含んでいてもよいし、強化材を含んでいなくてもよい。強化材の材料としては、ガラス繊維、セラミックス繊維、カーボン繊維、アラミド繊維及びこれらの組み合わせを挙げることができる。強化材の形状としては、織られた布、不織布、紙、フェルトなどを挙げることができる。また、強化材をフィラーとして樹脂層111中に分散させるようにしてもよい。 Further, the base material 11 may or may not contain a reinforcing material for improving the strength, as in the glass cloth 112 of the present embodiment. Examples of the material of the reinforcing material include glass fiber, ceramic fiber, carbon fiber, aramid fiber, and a combination thereof. Examples of the shape of the reinforcing material include woven cloth, non-woven fabric, paper, and felt. Further, the reinforcing material may be dispersed in the resin layer 111 as a filler.

基材11の具体例としては、ガラスエポキシ基板やポリカーボネート基板を挙げることができる。基材11の厚さは、特に限定されないが、例えば200~500μm程度とすることができる。 Specific examples of the base material 11 include a glass epoxy substrate and a polycarbonate substrate. The thickness of the base material 11 is not particularly limited, but can be, for example, about 200 to 500 μm.

原基板10において、第1金属層12は、板状の基材11の一方の面である上面を被覆するように設けられ、第2金属層13は、基材11の他方の面である下面を被覆するように設けられている。第1金属層12及び第2金属層13は、それぞれプリント基板1の配線パターンを形成するための金属層である。
また、第1金属層12及び第2金属層13は、基材11と比較して熱伝導率が高いため、レーザー加工時に原基板10の表面近傍に蓄積される過剰な熱エネルギーを効果的に散逸させる機能を担っている。また、第1金属層12及び第2金属層13は、外部から基材11の、特に樹脂層111への酸素の透過を遮断する機能も担っている。これらの機能の相乗効果により、第1金属層12及び第2金属層13は、レーザー加工時における焦げや抉れなどの好ましくない熱的損傷の発生を抑制する。このような観点からは、第1金属層12及び第2金属層13は、それぞれが設けられる基材11の面の略全面を被覆していることが好ましい。
In the original substrate 10, the first metal layer 12 is provided so as to cover the upper surface which is one surface of the plate-shaped base material 11, and the second metal layer 13 is the lower surface which is the other surface of the base material 11. It is provided to cover the. The first metal layer 12 and the second metal layer 13 are metal layers for forming the wiring pattern of the printed circuit board 1, respectively.
Further, since the first metal layer 12 and the second metal layer 13 have higher thermal conductivity than the base material 11, the excess heat energy accumulated in the vicinity of the surface of the original substrate 10 during laser processing is effectively used. It has the function of dissipating. Further, the first metal layer 12 and the second metal layer 13 also have a function of blocking the permeation of oxygen from the outside to the base material 11, particularly the resin layer 111. Due to the synergistic effect of these functions, the first metal layer 12 and the second metal layer 13 suppress the occurrence of undesired thermal damage such as charring and scooping during laser processing. From such a viewpoint, it is preferable that the first metal layer 12 and the second metal layer 13 cover substantially the entire surface of the base material 11 on which the first metal layer 12 and the second metal layer 13 are provided.

第1金属層12及び第2金属層13を構成する金属の種類は、特に限定されないが、電気回路の配線パターンとして用いられる観点からは電気抵抗が低いことが好ましい。また、第1金属層12及び第2金属層13を構成する金属の種類は、レーザー加工工程S13において好ましくない熱的損傷の発生を抑制する観点からは熱伝導率が高いものが好ましい。第1金属層12及び第2金属層13を構成する金属の例としては、Cu、Ag、Au、Ni及びAlからなる群から選択される1若しくは2以上の金属、又はこれらの金属を主成分として含む合金を挙げることができる。
第1金属層12及び第2金属層13の厚さは、特に限定されないが、配線として機能する厚さがあればよく、1μm以上とすることが好ましく、レーザー加工に要する時間やレーザー加工に伴うデブリの発生量が多くなり過ぎないように、18μm以下とすることが好ましい。また、レーザー加工の前にエッチングで第1金属層12又は/及び第2金属層13を除去する場合には、第1金属層12及び第2金属層13の厚さの上限は特に限定されないが、過剰に材料を使わないように、105μm以下とすることが好ましい。
The type of metal constituting the first metal layer 12 and the second metal layer 13 is not particularly limited, but it is preferable that the electric resistance is low from the viewpoint of being used as a wiring pattern of an electric circuit. Further, the type of metal constituting the first metal layer 12 and the second metal layer 13 is preferably one having a high thermal conductivity from the viewpoint of suppressing the occurrence of undesired thermal damage in the laser processing step S13. Examples of the metals constituting the first metal layer 12 and the second metal layer 13 are one or more metals selected from the group consisting of Cu, Ag, Au, Ni and Al, or these metals as main components. Can be mentioned as an alloy contained as.
The thicknesses of the first metal layer 12 and the second metal layer 13 are not particularly limited, but may be as long as they have a thickness that functions as wiring, and are preferably 1 μm or more, and are accompanied by the time required for laser processing and laser processing. It is preferably 18 μm or less so that the amount of debris generated does not become too large. Further, when the first metal layer 12 and / and the second metal layer 13 are removed by etching before laser processing, the upper limit of the thickness of the first metal layer 12 and the second metal layer 13 is not particularly limited. It is preferable that the thickness is 105 μm or less so as not to use an excessive amount of material.

また、第1金属層12及び第2金属層13に用いられる金属材料に応じて、第1金属層12及び第2金属層13と基材11との間に、接着力向上や金属材料のマイグレーション防止などを目的とする他の金属層が配置されていてもよい。このような金属層の例としては、厚さが数百nm程度のNi層、Cr層、NiCr合金層などを挙げることができる。 Further, depending on the metal material used for the first metal layer 12 and the second metal layer 13, the adhesive strength is improved and the metal material is migrated between the first metal layer 12 and the second metal layer 13 and the base material 11. Other metal layers for the purpose of prevention and the like may be arranged. Examples of such a metal layer include a Ni layer, a Cr layer, and a NiCr alloy layer having a thickness of about several hundred nm.

エッチング工程S12は、レーザー加工工程S13を行う前に、レーザー光20が照射される予定の領域であるレーザー光照射予定領域21及びその近傍に配置されている第2金属層13を、エッチングすることで除去する工程である。これによって、第2金属層13をレーザー加工によって除去する必要がなくなるため、その分だけレーザー光20を走査する回数を低減することができる。 In the etching step S12, before performing the laser processing step S13, the second metal layer 13 arranged in the laser light irradiation scheduled region 21 and its vicinity, which is the region to be irradiated with the laser light 20, is etched. It is a process of removing with. This eliminates the need to remove the second metal layer 13 by laser processing, so that the number of times the laser beam 20 is scanned can be reduced accordingly.

レーザー光20の走査回数を低減するためには、第2金属層13の除去に加えて、レーザー光照射予定領域21及びその近傍の第1金属層12を除去するようにしてもよいが、少なくとも、第2金属層13を除去することが好ましい。レーザー光20の入射面である上面側に設けられた第1金属層12に比べて、下面側に設けられた第2金属層13の方が、レーザー加工に必要なレーザー光20の走査回数が多く、また、熱の影響によって切断面に加工異常が発生し易い。このため、加工時間の低減及び加工品質の向上をするために、第2金属層13を除去することが好ましい。また、上面側に設けられた第1金属層12を除去することで、レーザー加工の際の走査回数の低減のほか、デブリの発生を低減することができる。 In order to reduce the number of scans of the laser beam 20, in addition to removing the second metal layer 13, the first metal layer 12 in the laser beam irradiation planned region 21 and its vicinity may be removed, but at least. , It is preferable to remove the second metal layer 13. Compared with the first metal layer 12 provided on the upper surface side which is the incident surface of the laser beam 20, the second metal layer 13 provided on the lower surface side requires more scanning times of the laser beam 20 for laser processing. In many cases, processing abnormalities are likely to occur on the cut surface due to the influence of heat. Therefore, it is preferable to remove the second metal layer 13 in order to reduce the processing time and improve the processing quality. Further, by removing the first metal layer 12 provided on the upper surface side, it is possible to reduce the number of scans during laser processing and also reduce the occurrence of debris.

第2金属層13のエッチングは、従来のプリント基板の製造方法において、配線パターンを形成するためのエッチングと同様の手法で行うことができる。
まず、エッチングを施して除去する領域である第2金属層除去領域23が露出するように、他の領域の第1金属層12及び第2金属層13をマスクする。次に、第2金属層13で用いられている金属の種類に応じて、適宜なエッチング液を用いて、マスクから露出した第2金属層13を除去する。
The etching of the second metal layer 13 can be performed by the same method as the etching for forming a wiring pattern in the conventional method for manufacturing a printed circuit board.
First, the first metal layer 12 and the second metal layer 13 in other regions are masked so that the second metal layer removal region 23, which is a region to be removed by etching, is exposed. Next, the second metal layer 13 exposed from the mask is removed by using an appropriate etching solution according to the type of metal used in the second metal layer 13.

本実施形態では、底面視において、第2金属層13がエッチングによって除去される第2金属層除去領域23は、開口部15を形成する領域である開口部形成予定領域24の形状に応じて長円形、円形、楕円形、多角形などの環状に設定されるレーザー光照射予定領域21を包含するように定められる。また、狭義の貫通孔を形成する場合は、第2金属層除去領域23は、その貫通孔を包含する領域に定められる。つまり、第2金属層除去領域23は、開口部形成予定領域24よりも広く形成される。より詳細には、第2金属層除去領域23の外縁が、開口部形成予定領域24の外縁であるレーザー光照射予定領域21から、所定の距離以上離間するように除去される。 In the present embodiment, in the bottom view, the second metal layer removing region 23 from which the second metal layer 13 is removed by etching is long according to the shape of the opening formation planned region 24 which is a region forming the opening 15. It is defined to include the laser beam irradiation scheduled area 21 set in a ring shape such as a circle, a circle, an ellipse, and a polygon. When forming a through hole in a narrow sense, the second metal layer removing region 23 is defined as a region including the through hole. That is, the second metal layer removing region 23 is formed wider than the region 24 where the opening is planned to be formed. More specifically, the outer edge of the second metal layer removing region 23 is removed so as to be separated from the laser light irradiation scheduled region 21 which is the outer edge of the opening planned opening region 24 by a predetermined distance or more.

ここで、レーザー光照射予定領域21から離間する所定の離間距離dは、レーザー光照射予定領域21であるレーザー光20が照射される位置精度と、エッチングによって第2金属層除去領域23を形成する際の位置精度とから定められる相対的な位置精度よりも大きくなるように定められる。離間距離dは、具体的には、10μm以上とすることが好ましく、20μm以上とすることがより好ましい。これによって、位置精度内でレーザー光20が照射された領域が位置ずれした場合であっても、レーザー光20が第2金属層13に照射されないようにすることができる。そのため、レーザー光20の走査回数を第2金属層13を除去する分だけ低減しても、開口部形成予定領域24の外縁に環状の貫通溝25を確実に形成することができる。また、その結果として、高い信頼性で開口部15を形成できる。
なお、レーザー加工時に基材11に蓄積される熱を効率的に散逸させるために、また、メッキ工程S14において開口部13の内側面に形成される第3金属層14に十分な被膜強度が得られるように、離間距離dは短いほど好ましく、例えば、500μm以下とすることが好ましい。
Here, the predetermined separation distance d that is separated from the laser light irradiation scheduled region 21 forms the second metal layer removal region 23 by the positional accuracy in which the laser light 20 which is the laser light irradiation scheduled region 21 is irradiated and by etching. It is determined to be larger than the relative positional accuracy determined from the positional accuracy of the case. Specifically, the separation distance d is preferably 10 μm or more, and more preferably 20 μm or more. Thereby, even if the region irradiated with the laser beam 20 is displaced within the positional accuracy, the laser beam 20 can be prevented from being irradiated to the second metal layer 13. Therefore, even if the number of scans of the laser beam 20 is reduced by the amount of removing the second metal layer 13, the annular through groove 25 can be surely formed on the outer edge of the region 24 where the opening is planned to be formed. Further, as a result, the opening 15 can be formed with high reliability.
In order to efficiently dissipate the heat accumulated in the base material 11 during laser processing, and in the plating step S14, sufficient film strength is obtained for the third metal layer 14 formed on the inner side surface of the opening 13. Therefore, the shorter the separation distance d is, the more preferable it is, and for example, it is preferably 500 μm or less.

レーザー加工工程S13は、第2金属層除去領域23が形成された原基板10に、レーザー光20を照射することで、広義の貫通孔を形成する工程である。広義の貫通孔として開口部15を形成する場合は、第2金属層除去領域23が形成された原基板10に、環状に設定されたレーザー光照射予定領域21に沿って第1金属層12側からレーザー光20を照射する。このレーザー光20の照射によって、原基板10を厚さ方向に貫通する環状の貫通溝25が形成され、貫通溝25によって分離された部分19が、自然落下や上面側又は下面側からエアブローなどで押し出されて除去されることで、原基板10に開口部15が形成される。これによって、プリント基板1を製造することができる。
なお、レーザー加工によって形成される広義の貫通孔が、レーザー光20の走査を伴わない場合は、平面視で環状の貫通溝25の代わりに点状の貫通孔が形成される。
The laser processing step S13 is a step of forming a through hole in a broad sense by irradiating the original substrate 10 on which the second metal layer removing region 23 is formed with a laser beam 20. When the opening 15 is formed as a through hole in a broad sense, the first metal layer 12 side is formed on the original substrate 10 on which the second metal layer removing region 23 is formed, along the laser light irradiation scheduled region 21 set in an annular shape. Is irradiated with laser light 20. By the irradiation of the laser beam 20, an annular through groove 25 penetrating the original substrate 10 in the thickness direction is formed, and the portion 19 separated by the through groove 25 is naturally dropped or air blown from the upper surface side or the lower surface side. By being extruded and removed, an opening 15 is formed in the original substrate 10. Thereby, the printed circuit board 1 can be manufactured.
When the through hole in a broad sense formed by laser processing is not accompanied by scanning of the laser beam 20, a point-shaped through hole is formed instead of the annular through groove 25 in a plan view.

より詳細には、レーザー光20の照射は、開口部形成予定領域24の外縁に環状に定められるレーザー光照射予定領域21に沿って周回するように、複数回走査することで行われる。レーザー光20の走査回数は、レーザー光20の種類やパワー、フルエンスなどの諸条件と、原基板10に用いられる第1金属層12の材質及び厚さ並びに基材11の材質及び厚さとに応じて定められる。本実施形態では、レーザー光照射予定領域21及びその近傍の第2金属層13は、エッチング工程S12において予め除去されているため、第2金属層13は本工程のレーザー加工の対象とはならない。つまり、第2金属層13をレーザー加工しない分だけ、レーザー光20の走査回数を低減することができる。 More specifically, the irradiation of the laser beam 20 is performed by scanning a plurality of times so as to orbit along the laser beam scheduled irradiation region 21 defined in a ring shape on the outer edge of the opening planned opening region 24. The number of scans of the laser beam 20 depends on various conditions such as the type, power, and fluence of the laser beam 20, the material and thickness of the first metal layer 12 used for the original substrate 10, and the material and thickness of the base material 11. Is determined. In the present embodiment, since the second metal layer 13 in the laser light irradiation scheduled region 21 and its vicinity is removed in advance in the etching step S12, the second metal layer 13 is not the target of the laser processing in this step. That is, the number of scans of the laser beam 20 can be reduced by the amount that the second metal layer 13 is not laser-processed.

例えば、原基板10が、第1金属層12及び第2金属層13として厚さがそれぞれ数μm程度の銅箔を有し、基材11の厚さが数百μm程度のガラスエポキシ基板である場合について説明する。この場合に、第2金属層13を除去せずにレーザー加工で貫通溝25を形成するには、レーザー光走査が約60回必要であるときに、第2金属層13を予め除去することで、走査回数を40~45回程度に低減することができる。走査回数を低減することで、例えば90分程度を要するレーザ加工時間を、60~70分程度に低減することができる。これに対して、第1金属層や第2金属層13のエッチングに要する時間は、連続で加工すると、例えば、1枚当たり1分程度の時間間隔で仕上げることができる。従って、エッチング工程S12を行った後でレーザー加工工程S13を行うようにすることで、トータルの生産性を上げることができる。 For example, the original substrate 10 is a glass epoxy substrate in which the first metal layer 12 and the second metal layer 13 each have a copper foil having a thickness of about several μm, and the base material 11 has a thickness of about several hundred μm. The case will be described. In this case, in order to form the through groove 25 by laser processing without removing the second metal layer 13, the second metal layer 13 is removed in advance when laser light scanning is required about 60 times. The number of scans can be reduced to about 40 to 45. By reducing the number of scans, the laser processing time, which requires about 90 minutes, for example, can be reduced to about 60 to 70 minutes. On the other hand, the time required for etching the first metal layer and the second metal layer 13 can be finished at a time interval of, for example, about 1 minute per sheet by continuous processing. Therefore, the total productivity can be increased by performing the laser processing step S13 after performing the etching step S12.

レーザー光20を環状に走査する際に、走査方向は時計回り、反時計回りの何れであってもよい。また、原基板10の厚さ方向についてのレーザー光20の集光点の位置である深さは、レーザー加工の進行度に関係なく一定であってもよいし、レーザー加工の進行度に応じて変化させてもよい。例えば、原基板10の厚さが不均一である場合は、レーザー光20の集光点の深さは、原基板10の加工位置における厚さに応じて変化させるようにしてもよい。 When scanning the laser beam 20 in an annular shape, the scanning direction may be either clockwise or counterclockwise. Further, the depth of the condensing point of the laser beam 20 in the thickness direction of the original substrate 10 may be constant regardless of the progress of the laser processing, or may be constant depending on the progress of the laser processing. It may be changed. For example, when the thickness of the original substrate 10 is non-uniform, the depth of the condensing point of the laser beam 20 may be changed according to the thickness at the processing position of the original substrate 10.

また、レーザー光20を複数回走査する場合において、レーザー光20を照射する各点における周回間の照射間隔が5ミリ秒以上となるようにレーザー光20を走査することが好ましい。このようにすることで、周回間の時間に基材11内に蓄積された過剰な熱エネルギーを第1金属層12及び第2金属層13に効果的に散逸させることが可能となり、基材11のレーザー加工部における熱的損傷の発生を抑制することができる。 Further, when scanning the laser beam 20 a plurality of times, it is preferable to scan the laser beam 20 so that the irradiation interval between the laps at each point where the laser beam 20 is irradiated is 5 milliseconds or more. By doing so, it becomes possible to effectively dissipate the excess heat energy accumulated in the base material 11 during the circuit time to the first metal layer 12 and the second metal layer 13, and the base material 11 can be dissipated. It is possible to suppress the occurrence of thermal damage in the laser-processed portion of the above.

レーザー光20は、原基板10に適切に貫通溝25を形成できるものであれば、種類は特に限定されないが、以下に示すものが好ましい。
レーザー光20は、原基板10への熱の影響を抑えるために、瞬間的に高いパワーを得られるパルスレーザーであることが好ましい。これによって、種々の材料や厚さの原基板10に対応しやすくなる。
The type of the laser beam 20 is not particularly limited as long as it can appropriately form the through groove 25 in the original substrate 10, but the laser light 20 shown below is preferable.
The laser light 20 is preferably a pulse laser that can instantaneously obtain high power in order to suppress the influence of heat on the original substrate 10. This makes it easier to handle raw substrates 10 of various materials and thicknesses.

また、レーザー光20としてパルスレーザーを用いる場合は、以下の条件とすることが好ましい。
レーザー光20の発信波長は、基材11のレーザー加工部における好ましくない熱的損傷の発生を抑制する観点からは、250~2000nmの範囲内であることが好ましく、250~1500nmの範囲内であることがより好ましい。例えば、レーザー光20の波長は、355nmである。
When a pulse laser is used as the laser beam 20, the following conditions are preferable.
The emission wavelength of the laser beam 20 is preferably in the range of 250 to 2000 nm, preferably in the range of 250 to 1500 nm, from the viewpoint of suppressing the occurrence of undesired thermal damage in the laser-processed portion of the base material 11. Is more preferable. For example, the wavelength of the laser beam 20 is 355 nm.

レーザー光20のパワーは、レーザー加工速度を高速化する観点からは、10W以上であることが好ましい。また、レーザー光20のパワーは、パルス周波数や走査速度と組み合わせたときに定められるトータルでの照射エネルギーが、加工対象とする原基板10に適するようにすれば、上限は特に限定されるものではない。従って、レーザー光20は、例えば、60W程度のパワーのものを利用することも可能である。
レーザー光20のパルス幅は、レーザー加工品質を向上させる観点からは、10ピコ秒~100ナノ秒の範囲内であることが好ましい。
レーザー光20のパルス周波数は、レーザー加工品質を向上させる観点からは、100kHz~3MHzであることが好ましく、1MHz~3MHzであることがより好ましい。
The power of the laser beam 20 is preferably 10 W or more from the viewpoint of increasing the laser processing speed. Further, the upper limit of the power of the laser beam 20 is not particularly limited as long as the total irradiation energy determined when combined with the pulse frequency and the scanning speed is suitable for the original substrate 10 to be processed. not. Therefore, as the laser beam 20, for example, a laser beam having a power of about 60 W can be used.
The pulse width of the laser beam 20 is preferably in the range of 10 picoseconds to 100 nanoseconds from the viewpoint of improving the laser processing quality.
The pulse frequency of the laser beam 20 is preferably 100 kHz to 3 MHz, more preferably 1 MHz to 3 MHz, from the viewpoint of improving the laser processing quality.

レーザー光20のパルスエネルギーは、例えば、レーザー光20の波長が355nmである場合、レーザー加工速度を高速化する観点からは、3μJ以上であることが好ましい。また、レーザー光20の波長が355nmである場合、レーザー加工速度を高速化する観点からは、レーザー光20の原基板10の上面におけるレーザー光20のフルエンスは、3J/cm以上であり、集光点におけるレーザー光20のフルエンスは、10J/cm以上であることが好ましい。
レーザー光20の幅であるビーム径は、レーザー加工の狭ピッチ化の観点からは、10~30μmであることが好ましい。
レーザー光20の走査速度は、レーザー加工速度を高速化する観点からは、1000~3000mm/秒であることが好ましい。
For example, when the wavelength of the laser light 20 is 355 nm, the pulse energy of the laser light 20 is preferably 3 μJ or more from the viewpoint of increasing the laser processing speed. Further, when the wavelength of the laser light 20 is 355 nm, the fluence of the laser light 20 on the upper surface of the original substrate 10 of the laser light 20 is 3 J / cm 2 or more from the viewpoint of increasing the laser processing speed. The fluence of the laser beam 20 at the light spot is preferably 10 J / cm 2 or more.
The beam diameter, which is the width of the laser beam 20, is preferably 10 to 30 μm from the viewpoint of narrowing the pitch of laser processing.
The scanning speed of the laser beam 20 is preferably 1000 to 3000 mm / sec from the viewpoint of increasing the laser processing speed.

なお、レーザー加工の際に、プリント基板1の上面や下面にドライフィルムを設けるようにしてもよい。これによって、レーザー加工時に発生するデブリが、原基板10の上面や下面に直接付着することを防止することができる。レーザー加工後に、ドライフィルムを除去することで、デブリを簡単に除去することができる。 A dry film may be provided on the upper surface or the lower surface of the printed circuit board 1 during laser processing. This makes it possible to prevent debris generated during laser processing from directly adhering to the upper surface or the lower surface of the original substrate 10. Debris can be easily removed by removing the dry film after laser processing.

(レーザー加工装置)
次に、レーザー加工工程S13で用いられるレーザー加工装置の例について説明する。レーザー加工装置200は、プリント基板1の基材11の上面及び下面に、それぞれ第1金属層12及び第2金属層13が設けられた原基板10に、レーザー光20を照射して広義の貫通孔を形成する装置である。また、原基板10は、レーザー光20が照射される予定の領域に、第2金属層除去領域23が設けられている。
(Laser processing equipment)
Next, an example of the laser processing apparatus used in the laser processing step S13 will be described. The laser processing apparatus 200 irradiates the original substrate 10 provided with the first metal layer 12 and the second metal layer 13 on the upper surface and the lower surface of the base material 11 of the printed circuit board 1 with laser light 20 to penetrate in a broad sense. It is a device that forms a hole. Further, the original substrate 10 is provided with a second metal layer removing region 23 in a region where the laser beam 20 is to be irradiated.

レーザー加工装置200は、少なくとも、レーザー光20を出射するレーザー光源210と、ステージ250と、レーザー光源210から出射されたレーザー光20をステージ250上に載置された原基板10に導く光学系と、ステージ250上に載置された原基板10とレーザー光20の集光点とを相対的に移動させる走査部と、走査部の動作を制御する制御部と、を有する。以下、各構成要素について説明する。 The laser processing apparatus 200 includes at least a laser light source 210 that emits laser light 20, a stage 250, and an optical system that guides the laser light 20 emitted from the laser light source 210 to the original substrate 10 mounted on the stage 250. It has a scanning unit that relatively moves the original substrate 10 placed on the stage 250 and the condensing point of the laser beam 20, and a control unit that controls the operation of the scanning unit. Hereinafter, each component will be described.

レーザー光源210は、原基板10に照射するためのレーザー光20を出射する。レーザー光源210として用いるレーザーの種類は、特に限定されないが、原基板10の種類などに応じて適宜選択される。レーザーの例には、ファイバーレーザーなどが含まれる。 The laser light source 210 emits a laser beam 20 for irradiating the original substrate 10. The type of laser used as the laser light source 210 is not particularly limited, but is appropriately selected depending on the type of the original substrate 10 and the like. Examples of lasers include fiber lasers and the like.

本例では、光学系として、テレスコープ光学系220及びfθレンズ240を備えており、その他にミラーなどが適宜用いられている。走査部として、ステージ250及びガルバノスキャナ230を備えており、これらを駆動するためのXYステージコントローラ270やZコントローラ280なども含まれる。制御部として、コンピュータ290を備えている。
その他、レーザー加工装置200は、更にAFカメラ260などを備えることで、原基板10内の所望の位置にレーザー光20の集光点を位置させるための自動照準システムなどを有するようにしていてもよい。
In this example, the telescope optical system 220 and the fθ lens 240 are provided as the optical system, and a mirror or the like is appropriately used. As a scanning unit, a stage 250 and a galvano scanner 230 are provided, and an XY stage controller 270 and a Z controller 280 for driving these are also included. A computer 290 is provided as a control unit.
In addition, the laser processing apparatus 200 may further include an AF camera 260 or the like so as to have an automatic aiming system for locating the condensing point of the laser beam 20 at a desired position in the original substrate 10. good.

レーザー光源210は、所定の波長のレーザー光20を出射する。前記したとおり、レーザー光源210として用いるレーザーの種類は、加工対象の原基板10の種類などに応じて適宜選択される。 The laser light source 210 emits a laser beam 20 having a predetermined wavelength. As described above, the type of laser used as the laser light source 210 is appropriately selected according to the type of the original substrate 10 to be processed and the like.

テレスコープ光学系220は、好ましい加工形状を得るために、レーザー光源210から出射されたレーザー光20のビーム径を最適化する。 The telescope optical system 220 optimizes the beam diameter of the laser beam 20 emitted from the laser light source 210 in order to obtain a preferable processed shape.

ガルバノスキャナ230は、コンピュータ290の指示に基づいて、テレスコープ光学系220により最適化されたレーザー光20の進行方向を変化させる。ガルバノスキャナ230で進行方向を制御されたレーザー光20は、集光レンズであるfθレンズ240により原基板10内に集光される。このようにガルバノスキャナ230及びfθレンズ240を組み合わせることで、開口部形成予定領域24の外縁に沿って一定速度でレーザー光20の集光点を走査することができる。 The galvano scanner 230 changes the traveling direction of the laser beam 20 optimized by the telescope optical system 220 based on the instruction of the computer 290. The laser beam 20 whose traveling direction is controlled by the galvano scanner 230 is condensed in the original substrate 10 by the fθ lens 240 which is a condenser lens. By combining the galvano scanner 230 and the fθ lens 240 in this way, it is possible to scan the condensing point of the laser beam 20 at a constant speed along the outer edge of the planned opening region 24.

ステージ250は、原基板10が載置される載置台と、この載置台を移動させることができる駆動機構とを有する。駆動機構は、載置台をX軸又はY軸方向に移動させたり、X軸又はY軸を中心として回転させたりすることができる。ステージ250上の原基板10は、この駆動機構によってXY軸方向に移動させることができる。 The stage 250 has a mounting table on which the original substrate 10 is mounted, and a drive mechanism capable of moving the mounting table. The drive mechanism can move the mounting table in the X-axis or Y-axis direction, or rotate the mounting table around the X-axis or the Y-axis. The original substrate 10 on the stage 250 can be moved in the XY axis direction by this drive mechanism.

AFカメラ260は、原基板10のレーザー加工部位の表面プロファイルを取得するた
めのAF(自動焦点)機能付きのカメラである。取得されたプロファイルは、コンピュータ290に出力される。
The AF camera 260 is a camera with an AF (autofocus) function for acquiring the surface profile of the laser-processed portion of the original substrate 10. The acquired profile is output to the computer 290.

XYステージコントローラ270は、コンピュータ290の指示に基づいて、レーザー光20の集光点が原基板10の開口部形成予定領域24の外縁に位置するように、ステージ250をXY軸方向に移動させる。 Based on the instructions of the computer 290, the XY stage controller 270 moves the stage 250 in the XY axis direction so that the condensing point of the laser beam 20 is located at the outer edge of the opening formation planned region 24 of the original substrate 10.

Zコントローラ280は、コンピュータ290の指示に基づいて、レーザー光20の集光点が原基板10内に位置するように、fθレンズ240をZ軸方向に移動させる。 The Z controller 280 moves the fθ lens 240 in the Z-axis direction so that the focusing point of the laser beam 20 is located in the original substrate 10 based on the instruction of the computer 290.

コンピュータ290は、レーザー光源210、ガルバノスキャナ230、AFカメラ260、XYステージコントローラ270及びZコントローラ280に接続されており、これら各部を総合的に制御する。例えば、コンピュータ290は、AFカメラ260及びXYステージコントローラ270を制御して、原基板10の表面プロファイルを取得する。また、コンピュータ290は、ガルバノスキャナ230及びZコントローラ280を制御して、開口部形成予定領域24の外縁に沿って複数回周回するようにレーザー光20を走査させる。また、コンピュータ290は、XYステージコントローラ270を制御して、開口部形成予定領域24の外縁にレーザー光20を照射することができるようにステージ250を移動させる。 The computer 290 is connected to a laser light source 210, a galvano scanner 230, an AF camera 260, an XY stage controller 270 and a Z controller 280, and controls each of these parts comprehensively. For example, the computer 290 controls the AF camera 260 and the XY stage controller 270 to acquire the surface profile of the original substrate 10. Further, the computer 290 controls the galvano scanner 230 and the Z controller 280 to scan the laser beam 20 so as to make a plurality of orbits along the outer edge of the region for forming the opening. Further, the computer 290 controls the XY stage controller 270 to move the stage 250 so that the outer edge of the planned opening region 24 can be irradiated with the laser beam 20.

次に、レーザー加工工程S13として、レーザー加工装置200を用いて原基板10に開口部15を形成する手順を説明する。
まず、原基板10をステージ250の載置台に載置して、AFカメラ260及びXYステージコントローラ270により原基板10の表面プロファイルを取得する。
Next, as the laser processing step S13, a procedure for forming the opening 15 in the original substrate 10 by using the laser processing apparatus 200 will be described.
First, the original substrate 10 is placed on the mounting table of the stage 250, and the surface profile of the original substrate 10 is acquired by the AF camera 260 and the XY stage controller 270.

次いで、XYステージコントローラ270により原基板10を所定の位置に移動させた後、レーザー光源210からレーザー光20を出射して、レーザー光20を原基板10に照射する。このとき、ガルバノスキャナ230によりレーザー光20の進行方向を変化させることで、開口部形成予定領域24の外縁に沿って複数回周回するようにレーザー光20を走査する。また、開口部形成予定領域24の外縁上の各点における周回間の照射間隔が、好ましくは5ミリ秒以上となるようにレーザー光20を走査する。例えば、開口部形成予定領域24の外縁上の各点における周回間の照射間隔が5ミリ秒以上となるように、レーザー光20の走査を1周ごとに所定の時間止める。このようにレーザー光20を照射することで、焦げや抉れなどの好ましくない熱的損傷の発生を抑制しつつ、原基板10の裏面に到達する貫通溝25を開口部形成予定領域24の外縁に沿って形成することができる。原基板10に複数の開口部15を形成する場合は、XYステージコントローラ270により原基板10を移動させた後、上記工程を繰り返せばよい。 Next, after the original substrate 10 is moved to a predetermined position by the XY stage controller 270, the laser light 20 is emitted from the laser light source 210 to irradiate the original substrate 10 with the laser light 20. At this time, by changing the traveling direction of the laser beam 20 by the galvano scanner 230, the laser beam 20 is scanned so as to orbit a plurality of times along the outer edge of the region 24 where the opening is to be formed. Further, the laser beam 20 is scanned so that the irradiation interval between the laps at each point on the outer edge of the region 24 where the opening is to be formed is preferably 5 milliseconds or more. For example, the scanning of the laser beam 20 is stopped for a predetermined time for each round so that the irradiation interval between the rounds at each point on the outer edge of the region 24 where the opening is to be formed is 5 milliseconds or more. By irradiating the laser beam 20 in this way, the outer edge of the region 24 where the opening is planned to be formed is formed in the through groove 25 reaching the back surface of the original substrate 10 while suppressing the occurrence of undesired thermal damage such as charring and scooping. Can be formed along. When forming a plurality of openings 15 in the original substrate 10, the original substrate 10 may be moved by the XY stage controller 270, and then the above steps may be repeated.

メッキ工程S14は、開口部15を形成した後のプリント基板1にメッキ処理を施すことで、第1金属層12、第2金属層13及び開口部15の内側面を連続して被覆するメッキ膜である第3金属層14を形成する工程である。第3金属層14を形成することで、プリント基板1の上面側の配線パターンとなる第1金属層12と、下面側の配線パターンとなる第2金属層13とを、開口部15を介して電気的に接続することができる。 In the plating step S14, the printed circuit board 1 after forming the opening 15 is plated to continuously cover the inner side surfaces of the first metal layer 12, the second metal layer 13, and the opening 15. This is a step of forming the third metal layer 14. By forming the third metal layer 14, the first metal layer 12 which is the wiring pattern on the upper surface side of the printed circuit board 1 and the second metal layer 13 which is the wiring pattern on the lower surface side are connected to each other through the opening 15. Can be electrically connected.

第3金属層14は、第1金属層12及び第2金属層13と異種の金属を用いてもよいが、同種の金属を用いることが好ましい。例えば、第1金属層12及び第2金属層13としてCu又はCu合金を用いる場合は、Cuメッキ処理を施すことで、第3金属層14を形成することが好ましい。第3金属層14として、第1金属層12及び第2金属層13と同種の金属を用いることで、これらの金属層間の接合性を高めることができる。 The third metal layer 14 may use a metal different from that of the first metal layer 12 and the second metal layer 13, but it is preferable to use the same kind of metal. For example, when Cu or a Cu alloy is used as the first metal layer 12 and the second metal layer 13, it is preferable to perform a Cu plating treatment to form the third metal layer 14. By using the same kind of metal as the first metal layer 12 and the second metal layer 13 as the third metal layer 14, the bondability between these metal layers can be improved.

配線パターン形成工程S15は、第1金属層12、第2金属層13及び第3金属層14をエッチングすることで所定の配線パターンを形成する工程である。配線電極として残す領域にマスクを施し、第1金属層12、第2金属層13及び第3金属層14として用いられている金属の種類に応じたエッチング液で、マスクから露出した第1金属層12、第2金属層13及び第3金属層14を除去することで、配線パターンを形成することができる。 The wiring pattern forming step S15 is a step of forming a predetermined wiring pattern by etching the first metal layer 12, the second metal layer 13, and the third metal layer 14. A mask is applied to the area to be left as a wiring electrode, and the first metal layer exposed from the mask is an etching solution according to the type of metal used as the first metal layer 12, the second metal layer 13, and the third metal layer 14. 12, The wiring pattern can be formed by removing the second metal layer 13 and the third metal layer 14.

本実施形態では、図6A~図6Cにおいて、縦長のスリット状の開口部15で挟まれた各領域において、上面側及び下面側で、横方向に2つの領域に離間するように、配線電極16及び配線電極17が形成されている。上面側において、配線電極16は、実装される発光素子の一方の電極と接合するための素子実装部16aを有し、配線電極17は、実装される発光素子の他方の電極と接合するための素子実装部17aを有している。また、他の回路基板に実装する際の実装面となる下面側において、配線電極16と配線電極17とは上面側よりも離間距離が大きく設けられている。 In the present embodiment, in FIGS. 6A to 6C, in each region sandwiched by the vertically long slit-shaped openings 15, the wiring electrodes 16 are laterally separated into two regions on the upper surface side and the lower surface side. And the wiring electrode 17 is formed. On the upper surface side, the wiring electrode 16 has an element mounting portion 16a for joining with one electrode of the light emitting element to be mounted, and the wiring electrode 17 is for joining with the other electrode of the light emitting element to be mounted. It has an element mounting portion 17a. Further, on the lower surface side which is the mounting surface when mounting on another circuit board, the wiring electrode 16 and the wiring electrode 17 are provided with a larger separation distance than the upper surface side.

また、本実施形態におけるプリント基板1は、縦方向に区画する境界線61と、横方向に区画する境界線62とによって区画される各領域が、1個の発光素子を実装するための実装基板として用いられる。つまり、プリント基板1は、発光装置用の複数の実装基板が集合した集合基板の形態で製造されている。詳細は後記するが、各領域の素子実装部16a,17aに発光素子を実装し、境界線61,62に沿って分割することで、発光装置を製造することができる。 Further, in the printed circuit board 1 in the present embodiment, each region partitioned by the boundary line 61 partitioned in the vertical direction and the boundary line 62 partitioned in the horizontal direction is a mounting substrate for mounting one light emitting element. Used as. That is, the printed circuit board 1 is manufactured in the form of an aggregate substrate in which a plurality of mounting substrates for a light emitting device are assembled. Although details will be described later, a light emitting device can be manufactured by mounting a light emitting element on the element mounting portions 16a and 17a of each region and dividing the light emitting element along the boundary lines 61 and 62.

なお、配線パターンはこれに限定されず、目的に応じて形成することができる。例えば、発光素子のほか、保護素子の搭載を考慮した回路が構成できるように配線パターンを形成してもよい。また、プリント基板1は、複数の発光装置を製造するための実装基板を集合した集合基板に限定されず、全体として1個の発光装置などを製造するためのものであってもよい。 The wiring pattern is not limited to this, and can be formed according to the purpose. For example, in addition to the light emitting element, a wiring pattern may be formed so that a circuit can be configured in consideration of mounting a protective element. Further, the printed circuit board 1 is not limited to a collective circuit board in which mounting boards for manufacturing a plurality of light emitting devices are assembled, and may be used for manufacturing one light emitting device or the like as a whole.

以上の工程を行うことにより、プリント基板1を製造することができる。 By performing the above steps, the printed circuit board 1 can be manufactured.

<変形例>
次に、プリント基板の製造方法の変形例について、図7A及び図7Bを参照して説明する。
図7Aは、第1実施形態に係るプリント基板の製造方法におけるエッチング工程の第1変形例を示す断面図である。図7Bは、第1実施形態に係るプリント基板の製造方法におけるエッチング工程の第2変形例を示す断面図である。
<Modification example>
Next, a modified example of the method for manufacturing a printed circuit board will be described with reference to FIGS. 7A and 7B.
FIG. 7A is a cross-sectional view showing a first modification of the etching process in the method for manufacturing a printed circuit board according to the first embodiment. FIG. 7B is a cross-sectional view showing a second modification of the etching process in the method for manufacturing a printed circuit board according to the first embodiment.

(第1変形例)
第1変形例に係るプリント基板の製造方法は、前記したエッチング工程S12において、平面視でレーザー光照射予定領域21及びその近傍領域について、第2金属層13に第2金属層除去領域23を形成することに加えて、上面側の第1金属層12に第1金属層除去領域22を形成するものである。その他の工程については、前記した第1実施形態に係るプリント基板の製造方法と同様に行われる。
(First modification)
In the method for manufacturing a printed circuit board according to the first modification, in the etching step S12 described above, the second metal layer removing region 23 is formed on the second metal layer 13 with respect to the laser light irradiation scheduled region 21 and the region in the vicinity thereof in plan view. In addition to the above, the first metal layer removing region 22 is formed on the first metal layer 12 on the upper surface side. Other steps are performed in the same manner as the method for manufacturing a printed circuit board according to the first embodiment described above.

レーザー光照射予定領域21及びその近傍領域について、第2金属層13に加えて、第1金属層12も予め除去することで、レーザー加工工程S16におけるレーザー光20の走査回数を更に低減することができる。 The number of scans of the laser beam 20 in the laser processing step S16 can be further reduced by removing the first metal layer 12 in advance in addition to the second metal layer 13 in the laser beam irradiation planned region 21 and the region in the vicinity thereof. can.

なお、本変形例では、第1金属層除去領域22は、平面視で、第2金属層除去領域23と重なるように形成されているが、これに限定されるものではない。前記した第2金属層除去領域23と同じ条件を満足すれば、第1金属層除去領域22と第2金属層除去領域23とが平面視で完全に重なるように形成しなくともよい。 In this modification, the first metal layer removing region 22 is formed so as to overlap the second metal layer removing region 23 in a plan view, but the present invention is not limited to this. If the same conditions as those of the second metal layer removing region 23 are satisfied, it is not necessary to form the first metal layer removing region 22 and the second metal layer removing region 23 so as to completely overlap each other in a plan view.

(第2変形例)
第2変形例に係るプリント基板の製造方法は、前記したエッチング工程S12において、平面視でレーザー光照射予定領域21及び所定の離間距離d以内の近傍領域について、第2金属層除去領域23を形成するものである。つまり、開口部形成予定領域24の内側の領域について、第2金属層13を除去しないで残すものである。その他の工程については、前記した第1実施形態に係るプリント基板の製造方法と同様に行われる。
(Second modification)
In the method for manufacturing a printed circuit board according to the second modification, in the etching step S12 described above, the second metal layer removing region 23 is formed in the planned laser beam irradiation region 21 and the vicinity region within a predetermined separation distance d in a plan view. It is something to do. That is, the second metal layer 13 is left unremoved in the region inside the region 24 in which the opening is to be formed. Other steps are performed in the same manner as the method for manufacturing a printed circuit board according to the first embodiment described above.

第2変形例においても、レーザー光照射予定領域21及びその近傍領域の第2金属層13を予め除去するため、レーザー光20の走査回数は、図3A及び図3Bに示した第1実施形態と同様に低減することができる。また、開口部形成予定領域24の内側の領域に第2金属層13が残されることで、レーザー加工の際に基材11内に蓄積した過剰な熱エネルギーを当該残された第2金属層13を介して効果的に散逸させることが可能となり、基材11のレーザー加工部における熱的損傷の発生を抑制することができる。 Also in the second modification, the number of scans of the laser beam 20 is the same as that of the first embodiment shown in FIGS. 3A and 3B in order to remove the second metal layer 13 in the region 21 scheduled to be irradiated with the laser beam and the region in the vicinity thereof in advance. It can be reduced as well. Further, since the second metal layer 13 is left in the region inside the region 24 where the opening is planned to be formed, the excess heat energy accumulated in the base material 11 during the laser processing is left behind in the second metal layer 13. It becomes possible to dissipate effectively through the base material 11, and it is possible to suppress the occurrence of thermal damage in the laser-processed portion of the base material 11.

また、第1変形例において、上面側の第1金属層12を除去する場合にも、第2変形例のようにレーザー光照射予定領域21及び所定の離間距離d以内の近傍領域のみを、第1金属層除去領域22としてもよい。 Further, in the first modification, even when the first metal layer 12 on the upper surface side is removed, only the laser light irradiation scheduled region 21 and the vicinity region within a predetermined separation distance d are the first as in the second modification. 1 The metal layer removal region 22 may be used.

<第2実施形態>
[発光装置及びその製造方法]
次に、第2実施形態に係る発光装置及びその製造方法について、図8~図11Bを参照して説明する。
図8は、第2実施形態に係る発光装置の製造方法の手順を示すフローチャートである。図9Aは、第2実施形態に係る発光装置の製造方法における発光素子実装工程を示す平面図である。図9Bは、第2実施形態に係る発光装置の製造方法における発光素子実装工程を示す断面図であり、図9AのIXB-IXB線における断面を示す。図10Aは、第2実施形態に係る発光装置の製造方法における遮光性部材形成工程を示す平面図である。図10Bは、第2実施形態に係る発光装置の製造方法における遮光性部材形成工程を示す断面図であり、図10AのXB-XB線における断面を示す。図11Aは、第2実施形態に係る発光装置の製造方法における透光性部材形成工程を示す平面図である。図11Bは、第2実施形態に係る発光装置の製造方法における透光性部材形成工程を示す断面図であり、図11AのXIB-XIB線における断面を示す。
<Second Embodiment>
[Light emitting device and its manufacturing method]
Next, the light emitting device and the manufacturing method thereof according to the second embodiment will be described with reference to FIGS. 8 to 11B.
FIG. 8 is a flowchart showing a procedure of a method for manufacturing a light emitting device according to a second embodiment. FIG. 9A is a plan view showing a light emitting element mounting process in the method for manufacturing a light emitting device according to a second embodiment. FIG. 9B is a cross-sectional view showing a light emitting element mounting process in the method for manufacturing a light emitting device according to a second embodiment, and shows a cross section taken along the line IXB-IXB of FIG. 9A. FIG. 10A is a plan view showing a light-shielding member forming step in the method for manufacturing a light emitting device according to a second embodiment. FIG. 10B is a cross-sectional view showing a light-shielding member forming step in the method for manufacturing a light emitting device according to a second embodiment, and shows a cross-sectional view taken along the line XB-XB of FIG. 10A. FIG. 11A is a plan view showing a translucent member forming step in the method for manufacturing a light emitting device according to a second embodiment. FIG. 11B is a cross-sectional view showing a translucent member forming step in the method for manufacturing a light emitting device according to a second embodiment, and shows a cross section taken along the line XIB-XIB of FIG. 11A.

[発光装置の構成]
第2実施形態に係る発光装置100は、実装基板として第1実施形態に係るプリント基板1を用い、プリント基板1に発光素子3を実装することで構成されるものである。また、発光装置100は、発光素子3の側面を覆う遮光性部材51と発光素子3の上面を覆う透光性部材52とからなる封止部材5で封止される。
発光装置100の詳細な構成については、その製造方法とともに説明する。
[Configuration of light emitting device]
The light emitting device 100 according to the second embodiment is configured by using the printed circuit board 1 according to the first embodiment as a mounting board and mounting the light emitting element 3 on the printed circuit board 1. Further, the light emitting device 100 is sealed with a sealing member 5 including a light shielding member 51 that covers the side surface of the light emitting element 3 and a translucent member 52 that covers the upper surface of the light emitting element 3.
The detailed configuration of the light emitting device 100 will be described together with the manufacturing method thereof.

[発光装置の製造方法]
第2実施形態に係る発光装置の製造方法は、プリント基板準備工程S21と、発光素子実装工程S22と、封止工程S23と、個片化工程S24と、が含まれている。また、封止工程S23は、遮光性部材形成工程S231と透光性部材形成工程S232とが含まれている。
[Manufacturing method of light emitting device]
The method for manufacturing a light emitting device according to the second embodiment includes a printed circuit board preparation step S21, a light emitting element mounting step S22, a sealing step S23, and an individualization step S24. Further, the sealing step S23 includes a light-shielding member forming step S231 and a translucent member forming step S232.

プリント基板準備工程S21は、前記した第1実施形態又はその変形例に係るプリント基板の製造方法によって、プリント基板1を準備する工程である。
本実施形態で準備されるプリント基板1は、前記したように、レーザー加工によって開口部15を形成する前に、レーザー光照射予定領域に配置されている第1金属層12又は/及び第2金属層13がエッチングによって除去される。このため、第1金属層12及び第2金属層13の膜厚を厚く形成してもレーザー加工に要する時間の増加を抑制することができる。また、膜厚の厚い第1金属層12及び第2金属層13を用いることで、配線パターンの熱抵抗を低くすることができ、配線パターン上に実装される発光素子3からの熱を効率よく放熱して、発光素子3の温度上昇を抑制することができる。その結果、発光素子3の発光効率を高めて、発光装置100の光束を向上させることができる。
The printed circuit board preparation step S21 is a step of preparing the printed circuit board 1 by the method for manufacturing a printed circuit board according to the first embodiment or a modification thereof.
As described above, the printed circuit board 1 prepared in the present embodiment has the first metal layer 12 and / and the second metal arranged in the laser light irradiation planned region before the opening 15 is formed by laser processing. The layer 13 is removed by etching. Therefore, even if the first metal layer 12 and the second metal layer 13 are formed to have a thick film thickness, it is possible to suppress an increase in the time required for laser processing. Further, by using the thick first metal layer 12 and the second metal layer 13, the thermal resistance of the wiring pattern can be lowered, and the heat from the light emitting element 3 mounted on the wiring pattern can be efficiently transferred. It is possible to dissipate heat and suppress the temperature rise of the light emitting element 3. As a result, the luminous efficiency of the light emitting element 3 can be increased and the light flux of the light emitting device 100 can be improved.

発光素子実装工程S22は、発光装置100の実装基板であるプリント基板1に、発光素子3を実装する工程である。発光素子3は、特に限定されるものではないが、例えば、窒化物半導体を用いた、LED(発光ダイオード)などの半導体発光素子を用いることができる。本実施形態では、発光素子3は、その一方の面側に一対の電極としてn側電極31及びp側電極32が設けられており、n側電極31及びp側電極32は、半田や異方導電性接着剤などの導電性を有する接合部材4を用いて、プリント基板1の各素子領域の素子実装部16a,17aに接合されている。 The light emitting element mounting step S22 is a step of mounting the light emitting element 3 on the printed circuit board 1 which is the mounting board of the light emitting device 100. The light emitting element 3 is not particularly limited, but for example, a semiconductor light emitting device such as an LED (light emitting diode) using a nitride semiconductor can be used. In the present embodiment, the light emitting element 3 is provided with an n-side electrode 31 and a p-side electrode 32 as a pair of electrodes on one surface side thereof, and the n-side electrode 31 and the p-side electrode 32 are soldered or anisotropic. A bonding member 4 having conductivity such as a conductive adhesive is used to bond to the element mounting portions 16a and 17a of each element region of the printed circuit board 1.

なお、発光素子3の実装形態は特に限定されるものではなく、本実施形態のようにフリップチップ実装のほか、発光素子3をダイボンド樹脂を用いてフェイスアップ型で実装し、導電性のワイヤを用いて配線電極16,17と電気的に接続するようにしてもよい。 The mounting form of the light emitting element 3 is not particularly limited, and in addition to the flip chip mounting as in the present embodiment, the light emitting element 3 is mounted face-up using a die bond resin, and a conductive wire is mounted. It may be used to electrically connect to the wiring electrodes 16 and 17.

封止工程S23は、発光素子3を、封止部材5を用いて封止する工程である。前記したように遮光性部材形成工程S231と透光性部材形成工程S232とが含まれている。 The sealing step S23 is a step of sealing the light emitting element 3 by using the sealing member 5. As described above, the light-shielding member forming step S231 and the translucent member forming step S232 are included.

遮光性部材形成工程S231は、発光素子3の側面を覆うように、遮光性部材51を形成する工程である。遮光性部材51としては、光反射性材料からなる光反射性部材としてもよく、光吸収性材料からなる光吸収性部材としてもよい。遮光性部材51として光反射性部材を用いると、発光素子3から放出される光を、発光装置100の上面側から効率よく出射させることができるため、光取り出し効率を高めることができる。また、遮光性部材51として光吸収性部材を用いると、発光装置100の発光面と非発光面との輝度コントラストを高くすることができる。 The light-shielding member forming step S231 is a step of forming the light-shielding member 51 so as to cover the side surface of the light emitting element 3. The light-shielding member 51 may be a light-reflecting member made of a light-reflecting material or a light-absorbing member made of a light-absorbing material. When a light-reflecting member is used as the light-shielding member 51, the light emitted from the light-emitting element 3 can be efficiently emitted from the upper surface side of the light-emitting device 100, so that the light extraction efficiency can be improved. Further, when the light absorbing member is used as the light blocking member 51, the luminance contrast between the light emitting surface and the non-light emitting surface of the light emitting device 100 can be increased.

光反射性材料としては、例えば、シリコーン樹脂やエポキシ樹脂などの透光性を有する樹脂にTiOなどの白色顔料を含有させた白色樹脂を用いることができる。また、光吸収性材料としては、前記した透光性を有する樹脂に、カーボンブラックなどの黒色顔料を含有させた黒色樹脂を用いることができる。
遮光性部材51は、これらの材料を、金型を用いた成形法や、スクリーン印刷法などの各種の塗布法などによって形成することができる。
As the light-reflecting material, for example, a white resin in which a white pigment such as TiO 2 is contained in a translucent resin such as a silicone resin or an epoxy resin can be used. Further, as the light-absorbing material, a black resin containing a black pigment such as carbon black in the above-mentioned translucent resin can be used.
The light-shielding member 51 can be formed of these materials by a molding method using a mold, various coating methods such as a screen printing method, and the like.

透光性部材形成工程S232は、発光素子3の上面及び遮光性部材51の上面を覆うように、透光性部材52を形成する工程である。プリント基板1上に実装された発光素子3は、側面を覆う遮光性部材51と上面を覆う透光性部材52とからなる封止部材5によって封止される。 The translucent member forming step S232 is a step of forming the translucent member 52 so as to cover the upper surface of the light emitting element 3 and the upper surface of the light-shielding member 51. The light emitting element 3 mounted on the printed circuit board 1 is sealed by a sealing member 5 including a light-shielding member 51 that covers the side surface and a translucent member 52 that covers the upper surface.

透光性部材52は、遮光性部材51に用いたものと同様の透光性を有する樹脂を用いることができる。また、透光性部材52に、発光素子3からの光の一部又は全部を吸収して、異なる波長の光に変換する蛍光体の粒子などを含有させるようにしてもよい。
透光性部材52は、金型を用いた成形法や、各種の塗布法などによって形成することができる。また、板状の透光性部材52を、発光素子3の上面及び遮光性部材51の上面に貼付するようにしてもよい。
As the translucent member 52, a resin having the same translucency as that used for the light-shielding member 51 can be used. Further, the translucent member 52 may contain particles of a phosphor that absorbs a part or all of the light from the light emitting element 3 and converts it into light having a different wavelength.
The translucent member 52 can be formed by a molding method using a mold, various coating methods, or the like. Further, the plate-shaped translucent member 52 may be attached to the upper surface of the light emitting element 3 and the upper surface of the light-shielding member 51.

本実施形態では、遮光性部材51と透光性部材52とで封止部材5を構成するようにしたが、封止部材5の構成及び製造方法はこれに限定されるものではない。例えば、透光性部材52に用いられる材料をポッティング法などで発光素子3の全体を覆うように供給して、封止部材5とすることもできる。
また、封止部材5は設けないようにしてもよく、封止部材5に代えて、発光素子3の一部を覆う部材を設けるようにしてもよい。
In the present embodiment, the sealing member 5 is configured by the light-shielding member 51 and the translucent member 52, but the configuration and manufacturing method of the sealing member 5 are not limited to this. For example, the material used for the translucent member 52 may be supplied so as to cover the entire light emitting element 3 by a potting method or the like to form the sealing member 5.
Further, the sealing member 5 may not be provided, or a member covering a part of the light emitting element 3 may be provided instead of the sealing member 5.

個片化工程S24は、集合基板であるプリント基板1を、素子領域ごとに分割することで、発光装置100を個片化する工程である。
本実施形態では、境界線61に沿ってプリント基板1及び封止部材5をダイシング法などによって切断することにより、発光装置100を個片化することができる。プリント基板1は、境界線62に沿って設けられている開口部15によって、横方向に隣接する素子領域同士が元々分離されているため、境界線62に沿った切断作業は不要である。
The individualization step S24 is a step of individualizing the light emitting device 100 by dividing the printed circuit board 1 which is an assembly substrate into each element region.
In the present embodiment, the light emitting device 100 can be individualized by cutting the printed circuit board 1 and the sealing member 5 along the boundary line 61 by a dicing method or the like. In the printed circuit board 1, since the element regions adjacent to each other in the lateral direction are originally separated by the opening 15 provided along the boundary line 62, the cutting work along the boundary line 62 is unnecessary.

以上の工程を行うことで、第2実施形態に係る発光装置100を製造することができる。 By performing the above steps, the light emitting device 100 according to the second embodiment can be manufactured.

以上、本発明に係るプリント基板、発光装置及びそれらの製造方法について、発明を実施するための形態により具体的に説明したが、本発明の趣旨はこれらの記載に限定されるものではなく、特許請求の範囲の記載に基づいて広く解釈されなければならない。また、これらの記載に基づいて種々変更、改変などしたものも本発明の趣旨に含まれることはいうまでもない。 The printed circuit board, the light emitting device, and the method for manufacturing the same according to the present invention have been specifically described above in terms of the mode for carrying out the invention, but the gist of the present invention is not limited to these descriptions, and the patent. It must be broadly interpreted based on the statement of claims. Needless to say, various changes and modifications based on these descriptions are also included in the gist of the present invention.

本開示の実施形態に係る発光装置は、照明用装置、車載用発光装置などに利用することができる。 The light emitting device according to the embodiment of the present disclosure can be used for a lighting device, an in-vehicle light emitting device, and the like.

1 プリント基板
10 原基板
11 基材
111 樹脂層
112 強化材
112a 縦糸
112b 横糸
12 第1金属層
13 第2金属層
14 第3金属層
15 開口部(貫通孔)
16,17 配線電極(配線パターン)
16a,17a 素子実装部
18 穴部
19 分離された部分
20 レーザー光
21 レーザー光照射領域
22 第1金属層除去領域
23 第2金属層除去領域
24 開口部形成予定領域
25 貫通溝
3 発光素子
31 n側電極
32 p側電極
4 接合部材
5 封止部材
51 遮光性部材
52 透光性部材
61,62 境界線
100 発光装置
200 レーザー加工装置
210 レーザー光源
220 テレスコープ光学系
230 ガルバノスキャナ
240 fθレンズ
250 XYステージ
260 AFカメラ
270 XYステージコントローラ
280 Zコントローラ
290 コンピュータ
1 Printed circuit board 10 Original board 11 Base material 111 Resin layer 112 Reinforcing material 112a Warp 112b Weft 12 First metal layer 13 Second metal layer 14 Third metal layer 15 Opening (through hole)
16,17 Wiring electrode (wiring pattern)
16a, 17a Element mounting part 18 Hole part 19 Separated part 20 Laser light 21 Laser light irradiation area 22 First metal layer removal area 23 Second metal layer removal area 24 Opening planned area 25 Through groove 3 Light source 31 n Side electrode 32 p Side electrode 4 Joining member 5 Sealing member 51 Light-shielding member 52 Translucent member 61, 62 Boundary line 100 Light emitting device 200 Laser processing device 210 Laser light source 220 Telescope optical system 230 Galvano scanner 240 fθ lens 250 XY Stage 260 AF Camera 270 XY Stage Controller 280 Z Controller 290 Computer

Claims (17)

絶縁性を有する板状の基材と、前記基材の一方の面に設けられる第1金属層と、前記基材の他方の面に設けられる第2金属層と、を備える原基板に、前記第1金属層側からレーザー光を照射することで前記原基板に厚さ方向に貫通する貫通孔を形成するレーザー加工工程を含み、
前記レーザー加工工程よりも前に、前記レーザー光の照射予定領域に配置されている前記第2金属層をエッチングすることによって除去するエッチング工程を有し、
前記エッチング工程において、開口部形成予定領域の内側の前記第2金属層を残す、プリント基板の製造方法。
The original substrate comprising a plate-shaped base material having an insulating property, a first metal layer provided on one surface of the base material, and a second metal layer provided on the other surface of the base material, said. A laser processing step of forming a through hole penetrating in the thickness direction in the original substrate by irradiating a laser beam from the first metal layer side is included.
Prior to the laser processing step, there is an etching step of removing the second metal layer arranged in the area to be irradiated with the laser beam by etching.
A method for manufacturing a printed circuit board, which leaves the second metal layer inside the region where an opening is planned to be formed in the etching step.
絶縁性を有する板状の基材と、前記基材の一方の面に設けられる第1金属層と、前記基材の他方の面に設けられる第2金属層と、を備える原基板に、前記第1金属層側からレーザー光を照射することで前記原基板に厚さ方向に貫通する貫通孔を形成するレーザー加工工程を含み、
前記レーザー加工工程は、前記レーザー光を照射する各点における周回間の照射間隔が5ミリ秒以上として、周回するように複数回走査して環状の貫通溝により前記貫通孔をスリット状に形成し、
前記レーザー加工工程よりも前に、前記レーザー光の照射予定領域に配置されている前記第2金属層をエッチングすることによって除去するエッチング工程を有し、
前記エッチング工程の後で、かつ、前記レーザー加工工程の前に、第1金属層と第2金属層にドライフィルムを設ける工程を有する、プリント基板の製造方法。
The original substrate comprising a plate-shaped base material having an insulating property, a first metal layer provided on one surface of the base material, and a second metal layer provided on the other surface of the base material, said. A laser processing step of forming a through hole penetrating in the thickness direction in the original substrate by irradiating a laser beam from the first metal layer side is included.
In the laser processing step, the irradiation interval between the laps at each point to be irradiated with the laser beam is set to 5 milliseconds or more, and the scanning is performed a plurality of times so as to circulate, and the through hole is formed in a slit shape by the annular through groove. ,
Prior to the laser processing step, there is an etching step of removing the second metal layer arranged in the area to be irradiated with the laser beam by etching.
A method for manufacturing a printed circuit board, comprising a step of providing a dry film on a first metal layer and a second metal layer after the etching step and before the laser processing step .
前記エッチング工程において、前記第2金属層は、前記レーザー光の照射予定領域から所定の距離以上離間するように除去される、請求項1又は請求項2に記載のプリント基板の製造方法。 The method for manufacturing a printed circuit board according to claim 1 or 2, wherein in the etching step, the second metal layer is removed so as to be separated from the planned irradiation region of the laser beam by a predetermined distance or more. 前記レーザー光の照射予定領域から離間する前記所定の距離が10μm以上500μm以下である請求項3に記載のプリント基板の製造方法。 The method for manufacturing a printed circuit board according to claim 3, wherein the predetermined distance away from the planned irradiation area of the laser beam is 10 μm or more and 500 μm or less. 前記エッチング工程において、前記レーザー光の照射予定領域に配置されている前記第1金属層を更に除去する、請求項1乃至4の何れか一項に記載のプリント基板の製造方法。 The method for manufacturing a printed circuit board according to any one of claims 1 to 4, further removing the first metal layer arranged in the area to be irradiated with the laser beam in the etching step. 前記エッチング工程において、前記第1金属層は、前記レーザー光の照射予定領域から所定の距離以上離間するように除去される、請求項5に記載のプリント基板の製造方法。 The method for manufacturing a printed circuit board according to claim 5, wherein in the etching step, the first metal layer is removed so as to be separated from the planned irradiation region of the laser beam by a predetermined distance or more. 前記レーザー加工工程において、前記レーザー光は、前記貫通孔の形成予定領域の外縁に沿って照射する、請求項1乃至請求項6の何れか一項に記載のプリント基板の製造方法。 The method for manufacturing a printed circuit board according to any one of claims 1 to 6, wherein in the laser processing step, the laser light is irradiated along the outer edge of the region where the through hole is to be formed. 前記基材を構成する材料は、エポキシ樹脂、ポリイミド樹脂、ポリエチレンテレフタレート樹脂、ポリエチレンナフタレート樹脂、ビスマレイミドトリアジン樹脂、フェノール樹脂、シリコーン樹脂、変性シリコーン樹脂及びエポキシ変性シリコーン樹脂からなる群から選択される1又は2以上の樹脂である、請求項1乃至請求項7の何れか一項に記載のプリント基板の製造方法。 The material constituting the base material is selected from the group consisting of epoxy resin, polyimide resin, polyethylene terephthalate resin, polyethylene naphthalate resin, bismaleimide triazine resin, phenol resin, silicone resin, modified silicone resin and epoxy-modified silicone resin. The method for manufacturing a printed substrate according to any one of claims 1 to 7, which is one or more resins. 前記基材は、ガラス繊維、セラミックス繊維、カーボン繊維及びアラミド繊維からなる群から選択される1又は2以上の強化材を含有する、請求項8に記載のプリント基板の製造方法。 The method for producing a printed circuit board according to claim 8, wherein the substrate contains one or more reinforcing materials selected from the group consisting of glass fiber, ceramic fiber, carbon fiber and aramid fiber. 前記第1金属層及び前記第2金属層を構成する金属は、それぞれ、Cu,Ag,Au,Ni及びAlからなる群から選択される1若しくは2以上の金属、又はこれらの金属を主成分として含む合金である、請求項1乃至請求項9の何れか一項に記載のプリント基板の製造方法。 The metal constituting the first metal layer and the second metal layer is one or more metals selected from the group consisting of Cu, Ag, Au, Ni and Al, respectively, or these metals as main components. The method for manufacturing a printed substrate according to any one of claims 1 to 9, which is an alloy containing the mixture. 前記第1金属層の厚さは、1μm以上18μm以下である、請求項1乃至請求項10の何れか一項に記載のプリント基板の製造方法。 The method for manufacturing a printed circuit board according to any one of claims 1 to 10, wherein the thickness of the first metal layer is 1 μm or more and 18 μm or less. 前記基材の厚さは、200μm以上500μm以下である、請求項1乃至請求項11の何れか一項に記載のプリント基板の製造方法。 The method for manufacturing a printed circuit board according to any one of claims 1 to 11, wherein the thickness of the base material is 200 μm or more and 500 μm or less. 前記レーザー加工工程において、
前記レーザー光は、発振波長が250nm以上2000nm以下であり、パワーが10W以上60W以下であり、周波数が100kHz以上3000kHz以下のパルス光であり、パルス幅が10ピコ秒以上100ナノ秒以下であり、パルスエネルギが3μJ以上であり、前記原基板の表面におけるフルエンスが3J/cm2以上であり、集光点におけるフルエンスが10J/cm2以上であり、前記原基板の平面視における同じ位置に繰り返し照射する場合の照射間隔が5m秒以上であり、走査速度が1000mm/秒以上3000mm/秒以下である、請求項1乃至請求項12の何れか一項に記載のプリント基板の製造方法。
In the laser processing process
The laser light has an oscillation wavelength of 250 nm or more and 2000 nm or less, a power of 10 W or more and 60 W or less, a frequency of 100 kHz or more and 3000 kHz or less, and a pulse width of 10 picoseconds or more and 100 nanoseconds or less. When the pulse energy is 3 μJ or more, the fluence on the surface of the original substrate is 3 J / cm2 or more, the fluence at the condensing point is 10 J / cm2 or more, and the same position in the plan view of the original substrate is repeatedly irradiated. The method for manufacturing a printed substrate according to any one of claims 1 to 12, wherein the irradiation interval is 5 msec or more and the scanning speed is 1000 mm / sec or more and 3000 mm / sec or less.
前記レーザー加工工程において、
前記レーザー光の幅は10μm以上30μm以下である、請求項1乃至請求項13の何れか一項に記載のプリント基板の製造方法。
In the laser processing process
The method for manufacturing a printed circuit board according to any one of claims 1 to 13, wherein the width of the laser beam is 10 μm or more and 30 μm or less.
前記レーザー加工工程よりも後に、前記第1金属層と、前記第2金属層と、前記貫通孔の内側面とを連続して覆う第3金属層をメッキによって形成するメッキ工程を有する、請求項1乃至請求項14の何れか一項に記載のプリント基板の製造方法。 A claim comprising a plating step of forming a third metal layer that continuously covers the first metal layer, the second metal layer, and the inner side surface of the through hole by plating after the laser processing step. The method for manufacturing a printed circuit board according to any one of 1 to 14. 前記メッキ工程よりも後に、前記第1金属層、前記第2金属層及び前記第3金属層をエッチングすることで配線パターンを形成する工程を有する、請求項15に記載のプリント基板の製造方法。 The method for manufacturing a printed circuit board according to claim 15, further comprising a step of forming a wiring pattern by etching the first metal layer, the second metal layer, and the third metal layer after the plating step. 請求項16に記載のプリント基板の製造方法によってプリント基板を準備する工程と、
前記配線パターンと電気的に接続されるように発光素子を前記プリント基板に実装する工程と、を含む発光装置の製造方法。
A step of preparing a printed circuit board according to the method for manufacturing a printed circuit board according to claim 16.
A method for manufacturing a light emitting device, comprising a step of mounting a light emitting element on the printed circuit board so as to be electrically connected to the wiring pattern.
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