JP6550768B2 - Method of manufacturing light emitting device - Google Patents

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Description

本開示は、発光装置の製造方法に関し、特に、薄型発光素子を用いた発光装置の製造方法に関する。   The present disclosure relates to a method of manufacturing a light emitting device, and more particularly to a method of manufacturing a light emitting device using a thin light emitting element.

従来から、電子機器には、種々の光源が使用されている。例えば、電子機器に用いられる表示パネルのバックライト用の光源としては、薄型の発光装置が使用される。このような薄型の発光装置の一例としては、導電パターンが設けられた基板の上に、薄型の半導体発光素子をフリップチップ実装した発光装置が知られている(例えば、特許文献1)。   Conventionally, various light sources are used in electronic devices. For example, a thin light-emitting device is used as a light source for a backlight of a display panel used in an electronic device. As an example of such a thin light-emitting device, a light-emitting device in which a thin semiconductor light-emitting element is flip-chip mounted on a substrate provided with a conductive pattern is known (for example, Patent Document 1).

薄型の半導体発光素子の製造方法として、透光性基板の第1主面上に半導体積層体を形成する工程と、透光性基板と半導体積層体を分割する工程と、透光性基板の第2主面を研磨する工程とを含むものが知られている(例えば、特許文献2〜5)。分割工程では、透光性基板の第2主面に分割溝を形成する。分割溝は、例えばレーザスクライブによって形成できる。レーザスクライブでは、透光性基板の分割線に沿って高エネルギーのレーザ光を照射する。レーザ光が照射された部分は変質する。この変質部分に沿って、透光性基板と半導体積層体を分割できる。   As a method for manufacturing a thin semiconductor light emitting device, a step of forming a semiconductor laminate on a first main surface of a translucent substrate, a step of dividing the translucent substrate and the semiconductor laminate, 2 including a step of polishing the two principal surfaces is known (for example, Patent Documents 2 to 5). In the dividing step, a dividing groove is formed on the second main surface of the translucent substrate. The dividing grooves can be formed, for example, by laser scribing. In laser scribing, high energy laser light is emitted along the dividing line of the light transmitting substrate. The portion irradiated with the laser light is degraded. The light transmissive substrate and the semiconductor laminate can be divided along the altered portion.

変質部分は、分割後も透光性基板に残る。この変質領域は、発光素子からの発光を吸収する光吸収領域となる。よって、発光素子の発光強度の低下を抑制するために、透光性基板を研磨する工程において、変質領域が除去されるまで、透光性基板を薄くしている   The altered portion remains on the translucent substrate even after the division. The altered region is a light absorbing region that absorbs light emitted from the light emitting element. Therefore, in order to suppress a decrease in light emission intensity of the light emitting element, the light transmissive substrate is thinned until the altered region is removed in the step of polishing the light transmissive substrate.

特開2008−521210号公報JP, 2008-521210, A 特開2012−104778号公報Unexamined-Japanese-Patent No. 2012-104778 特開2012−104779号公報JP 2012-104779 A 特開2012−104780号公報JP 2012-104780 A 特開2007−109822号公報JP 2007-109822 A

透光性基板が薄くなると、発光素子の強度が低下する。そのため、強度の低い発光素子を発光装置の基体に実装する際に、発光素子に欠陥が生じ得る。その結果、発光装置の歩留まりが低下する。   When the translucent substrate is thinned, the strength of the light emitting element is lowered. Therefore, when the light emitting element with low intensity is mounted on the base of the light emitting device, a defect may occur in the light emitting element. As a result, the yield of the light emitting device is reduced.

本発明の一実施形態は、透光性基板が薄くされた発光素子を備えた発光装置を、高い歩留まりで製造できる発光装置の製造方法を提供することを目的とする。   An object of one embodiment of the present invention is to provide a method for manufacturing a light-emitting device that can manufacture a light-emitting device including a light-emitting element having a thin light-transmitting substrate with high yield.

本発明の一実施形態に係る発光装置の製造方法は、第1の主面と、第2の主面と、透光部及び当該透光部より光透過率の低い光吸収部を有する側面とを備える透光性基板と、前記透光性基板の前記第1の主面上に備えられた半導体積層体と、を含む発光素子を準備する第1工程と、
基体の上面に、前記半導体積層体が設けられた側を対向させて前記発光素子を接合する第2工程と、
前記発光素子の側面と前記基体の一部とを被覆する支持部材を設ける第3工程と、
前記第3工程より後に、前記透光性基板を、前記第2の主面側から薄くして、前記光吸収部を除去する第4工程と、を含む。
A method of manufacturing a light emitting device according to an embodiment of the present invention includes a first main surface, a second main surface, a light transmitting portion, and a side surface having a light absorbing portion having a light transmittance lower than that of the light transmitting portion. A first step of preparing a light emitting device including a light transmitting substrate having the above-described structure, and a semiconductor laminate provided on the first main surface of the light transmitting substrate.
A second step of bonding the light emitting element to the upper surface of the base so that the side on which the semiconductor laminate is provided is opposed;
A third step of providing a support member that covers a side surface of the light emitting element and a part of the base;
And a fourth step of removing the light absorbing portion by thinning the light transmitting substrate from the second main surface side after the third step.

本発明の一実施形態に係る発光装置の製造方法によれば、透光性基板が薄くされた発光素子を備えた発光装置を高い歩留まりで製造することができる。   According to the method for manufacturing a light-emitting device according to an embodiment of the present invention, a light-emitting device including a light-emitting element in which a light-transmitting substrate is thinned can be manufactured with a high yield.

実施形態1に係る発光装置の概略斜視図である。1 is a schematic perspective view of a light emitting device according to Embodiment 1. FIG. 図1Aの発光装置の概略上面図である。It is a schematic top view of the light-emitting device of FIG. 1A. 図1Aの発光装置のA−A線での概略断面図である。It is a schematic sectional drawing in the AA line of the light-emitting device of FIG. 1A. 図1Cの概略断面図の部分拡大図である。It is the elements on larger scale of the schematic sectional drawing of FIG. 1C. 実施形態1に係る発光装置の製造工程を説明するための概略断面図である。5 is a schematic cross-sectional view for illustrating a manufacturing process of the light emitting device according to Embodiment 1. FIG. 実施形態1に係る発光装置の製造工程を説明するための概略断面図である。5 is a schematic cross-sectional view for illustrating a manufacturing process of the light emitting device according to Embodiment 1. FIG. 実施形態1に係る発光装置の製造工程を説明するための概略上面図である。FIG. 7 is a schematic top view for explaining a manufacturing process of the light emitting device according to the first embodiment. 図2CのB−C−E線での概略断面図である。It is a schematic sectional drawing in the BCE line of Drawing 2C. 図2CのB−C−E線での概略断面図である。It is a schematic sectional drawing in the BCE line of Drawing 2C. 実施形態1に係る発光装置の製造工程を説明するための概略斜視図である。5 is a schematic perspective view for explaining a manufacturing process of the light emitting device according to Embodiment 1. FIG. 図2FのF−F線での概略断面図である。It is a schematic sectional drawing in the FF line of FIG. 2F. 実施形態1に係る発光装置の製造工程を説明するための概略斜視図である。5 is a schematic perspective view for explaining a manufacturing process of the light emitting device according to Embodiment 1. FIG. 実施形態1に係る発光装置の製造工程を説明するための概略断面図である。5 is a schematic cross-sectional view for illustrating a manufacturing process of the light emitting device according to Embodiment 1. FIG. 実施形態1に係る発光装置の製造工程を説明するための概略断面図である。5 is a schematic cross-sectional view for illustrating a manufacturing process of the light emitting device according to Embodiment 1. FIG. 実施形態1に係る発光装置の製造工程を説明するための概略断面図である。5 is a schematic cross-sectional view for illustrating a manufacturing process of the light emitting device according to Embodiment 1. FIG. 実施形態1に係る発光装置の製造工程を説明するための概略断面図である。5 is a schematic cross-sectional view for illustrating a manufacturing process of the light emitting device according to Embodiment 1. FIG. 実施形態1に係る発光装置の製造工程を説明するための概略断面図である。5 is a schematic cross-sectional view for illustrating a manufacturing process of the light emitting device according to Embodiment 1. FIG. 実施形態1に係る発光装置の製造工程を説明するための概略断面図である。5 is a schematic cross-sectional view for illustrating a manufacturing process of the light emitting device according to Embodiment 1. FIG. 実施形態1に係る発光装置の製造工程を説明するための概略断面図である。5 is a schematic cross-sectional view for illustrating a manufacturing process of the light emitting device according to Embodiment 1. FIG. 変形例1に係る発光装置の製造工程を説明するための概略上面図である。12 is a schematic top view for explaining a manufacturing process for a light-emitting device according to Modification 1. FIG. 図3のF−F線における概略断面図である。It is a schematic sectional drawing in the FF line of FIG. 変形例2に係る発光装置の概略断面図である。6 is a schematic cross-sectional view of a light emitting device according to Modification 2. FIG. 変形例3に係る基板を示す概略断面図である。FIG. 10 is a schematic cross-sectional view showing a substrate according to Modification 3; 実施例2に係る発光装置の概略斜視図である。6 is a schematic perspective view of a light emitting device according to Example 2. FIG.

以下、本発明の実施形態について適宜図面を参照して説明する。ただし、各図面が示す部材の大きさや位置関係等は、説明を明確にするため、誇張していることがある。また、一実施形態、実施例において説明する内容は、他の実施形態、実施例にも適用可能である。
本明細書においては、発光装置の面について、光取り出し面を「上面」、光取り出し面と交差する面を「側面」、光取り出し面と反対側の面を「下面」と称する。また、発光装置を構成する各部材の面についても、発光装置の上面、側面、下面に対応する面を、各部材等の「上面」、「側面」、「下面」と称する。なお、必要に応じて、各部材の面を、「第1の主面」、「第2の主面」及び「端面」と称することがある。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings as appropriate. However, the size, positional relationship, and the like of the members shown in each drawing may be exaggerated for clarity of explanation. The contents described in one embodiment and examples are also applicable to the other embodiments and examples.
In this specification, regarding the surface of the light emitting device, the light extraction surface is referred to as “upper surface”, the surface intersecting with the light extraction surface is referred to as “side surface”, and the surface opposite to the light extraction surface is referred to as “lower surface”. In addition, regarding the surfaces of the respective members constituting the light emitting device, the surfaces corresponding to the upper surface, the side surface, and the lower surface of the light emitting device are referred to as “upper surface”, “side surface”, and “lower surface” of each member. In addition, as needed, the surface of each member may be called "1st main surface", "2nd main surface", and "end surface."

<実施形態1>
図1A〜図1Dに示すように、本実施形態に係る発光装置10は、基体11と、基体11の上面11uに実装された発光素子12と、その発光素子12の周囲を囲む支持部材13とを含んでいる。発光装置10は、発光素子12の上面12u(発光素子12の発光面12eに相当)側に、波長変換部材14を備えてもよい。
First Embodiment
As shown in FIGS. 1A to 1D, the light emitting device 10 according to this embodiment includes a base 11, a light emitting element 12 mounted on the upper surface 11 u of the base 11, and a support member 13 surrounding the light emitting element 12. Is included. The light emitting device 10 may include the wavelength conversion member 14 on the upper surface 12 u of the light emitting element 12 (corresponding to the light emitting surface 12 e of the light emitting element 12).

図1C〜図1Dに示すように、発光素子12は、透光性基板17と、その下面17d側に設けられた半導体積層体18とを含む。半導体積層体18は、透光性基板17の下面17d側から、第1導電型半導体層(例えばn型半導体層)18aと、活性層18bと、第2導電型半導体層(例えばp型半導体層)18cとが、この順に積層されている(図1D参照)。半導体積層体18の下面18d側には、一対の電極(第1電極19、第2電極20)が設けられている。   As shown in FIGS. 1C to 1D, the light emitting element 12 includes a translucent substrate 17 and a semiconductor stacked body 18 provided on the lower surface 17d side thereof. The semiconductor stacked body 18 includes a first conductive semiconductor layer (for example, an n-type semiconductor layer) 18a, an active layer 18b, and a second conductive semiconductor layer (for example, a p-type semiconductor layer) from the lower surface 17d side of the translucent substrate 17. ) 18c are stacked in this order (see FIG. 1D). A pair of electrodes (first electrode 19 and second electrode 20) is provided on the lower surface 18 d side of the semiconductor stacked body 18.

発光装置10の基体11は、発光素子12が載置される部材である。この実施形態では、基体11は、平面視で長方形の絶縁性板状体である母材11aと、母材11aの表面に設けた一対の接続端子15、16と、を含む。接続端子15、16は、母材11aの上面110の一部に覆うよう設けられている。図1Cに示すように、第1の接続端子15は発光素子12の第1電極19と、第2の接続端子16は発光素子12の第2電極20と、それぞれ接続される。そのため、第1の接続端子15と第2の接続端子16の端部が、発光素子12の第1電極19、第2電極20と対応する位置に形成されている。なお、図1C、図1Dに示すように、接続端子15、16は、母材11aの上面110から、側面111を通って下面112まで延長して設けられていてもよい。   The base 11 of the light emitting device 10 is a member on which the light emitting element 12 is mounted. In this embodiment, the base 11 includes a base material 11a that is a rectangular insulating plate in plan view, and a pair of connection terminals 15 and 16 provided on the surface of the base material 11a. The connection terminals 15 and 16 are provided so as to cover a part of the upper surface 110 of the base material 11a. As shown in FIG. 1C, the first connection terminal 15 is connected to the first electrode 19 of the light emitting element 12, and the second connection terminal 16 is connected to the second electrode 20 of the light emitting element 12. Therefore, end portions of the first connection terminal 15 and the second connection terminal 16 are formed at positions corresponding to the first electrode 19 and the second electrode 20 of the light emitting element 12. 1C and 1D, the connection terminals 15 and 16 may be provided so as to extend from the upper surface 110 of the base material 11a to the lower surface 112 through the side surface 111.

図1C、図1Dに示すように、発光素子12の電極19、20は、基体11の上面11uに設けられた接続端子15、16に、導電性の接合部材21によって接合される。これにより、接続端子15、16を通して、発光素子12に通電することができる。   As shown in FIGS. 1C and 1D, the electrodes 19 and 20 of the light emitting element 12 are joined to connection terminals 15 and 16 provided on the upper surface 11 u of the base 11 by a conductive joining member 21. Thus, the light emitting element 12 can be energized through the connection terminals 15 and 16.

支持部材13は、接合部材21によって基体11上に接合された発光素子12の側面と基体11の一部とを被覆する。支持部材13を設けることにより、発光素子12を基体11上により強固に保持することができる。支持部材13は、発光素子12の一部と基体11の一部とを共に覆うことにより、発光素子12を基体11に固定する。支持部材13は、発光素子12の側面12sと、基体11の上面11uのうち発光素子12の周囲部分と、を覆う第1部分13aを含むことができる(図1C、図1D参照)。支持部材13の第1部分13aにより、発光素子12に横方向(x方向又はy方向)の力がかかったときに、発光素子12が基体11から剥離することや、発光素子12が損傷することを抑制できる。また、支持部材13は、発光素子12の下面12dと、基体11の上面11uとの隙間を埋める第2部分13bを含むことができる(図1C、図1D参照)。支持部材13の第2部分13bは、発光素子12を下面12d側から支持する。よって、発光素子12の上面12u側から下向き(−z方向)の力がかかったときに、発光素子12の受けるダメージを低減し得る。   The support member 13 covers the side surface of the light emitting element 12 bonded to the base 11 by the bonding member 21 and a part of the base 11. By providing the support member 13, the light emitting element 12 can be more firmly held on the base 11. The support member 13 fixes the light emitting element 12 to the base 11 by covering a part of the light emitting element 12 and a part of the base 11 together. The support member 13 can include a first portion 13a that covers the side surface 12s of the light emitting element 12 and the peripheral portion of the light emitting element 12 in the upper surface 11u of the base 11 (see FIGS. 1C and 1D). When the first portion 13a of the support member 13 applies a lateral force (x-direction or y-direction) to the light-emitting element 12, the light-emitting element 12 is peeled off from the base 11 or the light-emitting element 12 is damaged. Can be suppressed. In addition, the support member 13 can include a second portion 13b that fills a gap between the lower surface 12d of the light emitting element 12 and the upper surface 11u of the base 11 (see FIGS. 1C and 1D). The second portion 13b of the support member 13 supports the light emitting element 12 from the lower surface 12d side. Therefore, when a downward force (−z direction) is applied from the upper surface 12 u side of the light emitting element 12, damage to the light emitting element 12 can be reduced.

波長変換部材14は、例えば蛍光体を含有する透光性材料の膜又は板状体である。蛍光体としては、発光素子12からの発光の波長を変換できる蛍光体を使用する。波長変換部材14は、少なくとも発光素子12の発光面12e(上面12u)を覆う。発光素子12の発光面12eから出射される発光の一部は、波長変換部材14によって、波長が変換される。波長変換部材14は、支持部材13の第1部分13aの上面13uも覆ってもよい。   The wavelength conversion member 14 is, for example, a film or a plate of a translucent material containing a phosphor. As the phosphor, a phosphor capable of converting the wavelength of light emitted from the light emitting element 12 is used. The wavelength conversion member 14 covers at least the light emitting surface 12 e (upper surface 12 u) of the light emitting element 12. The wavelength conversion member 14 converts the wavelength of part of the light emitted from the light emitting surface 12 e of the light emitting element 12. The wavelength conversion member 14 may also cover the upper surface 13 u of the first portion 13 a of the support member 13.

次に、発光装置10の製造方法を説明する。本実施形態に係る製造方法は、以下の4工程を含んでいる。
第1工程:発光素子120を準備する。
第2工程:発光素子120を基体11の上面11uに接合する。
第3工程:支持部材13を設ける。
第4工程:発光素子120の透光性基板170を薄くする。
各工程について、以下に詳述する。
Next, a method for manufacturing the light emitting device 10 will be described. The manufacturing method according to the present embodiment includes the following four steps.
1st process: The light emitting element 120 is prepared.
Second step: The light emitting element 120 is bonded to the upper surface 11 u of the substrate 11.
Third step: The support member 13 is provided.
Fourth step: The translucent substrate 170 of the light emitting element 120 is thinned.
Each step will be described in detail below.

〔第1工程:発光素子120を準備する〕
第1工程において、発光素子120を準備する。準備される発光素子120としては、例えば、下記の方法で製造された発光素子120を使用することができる。
まず、透光性材料からなるウェーハ170Wを準備する(図2A参照)。ウェーハ170Wは、発光素子120の半導体積層体18を成長させるための成長基板である。ウェーハ170Wの第1の主面171W上に、半導体積層体180を形成する(図2B参照)。本実施形態では、半導体積層体180を形成するために、ウェーハ170Wの第1の主面171W側から、第1導電型半導体層180a、活性層180b及び第2導電型半導体層180cを、この順に積層する。各半導体層180a、180b、180cは、エピタキシャル成長法により形成できる。
[First Step: Preparing Light-Emitting Element 120]
In the first step, the light emitting element 120 is prepared. As the light emitting element 120 to be prepared, for example, the light emitting element 120 manufactured by the following method can be used.
First, a wafer 170W made of a translucent material is prepared (see FIG. 2A). The wafer 170 W is a growth substrate for growing the semiconductor stack 18 of the light emitting element 120. A semiconductor stacked body 180 is formed on the first main surface 171W of the wafer 170W (see FIG. 2B). In this embodiment, in order to form the semiconductor stacked body 180, the first conductive semiconductor layer 180a, the active layer 180b, and the second conductive semiconductor layer 180c are arranged in this order from the first main surface 171W side of the wafer 170W. Laminate. The semiconductor layers 180a, 180b, and 180c can be formed by epitaxial growth.

ウェーハ170W及び半導体積層体180を分割する。分割のために、レーザスクライブ法を用いてもよい。レーザスクライブ法の一例について、図を参照しながら説明する。   The wafer 170 W and the semiconductor stack 180 are divided. A laser scribing method may be used for the division. An example of the laser scribing method will be described with reference to the drawings.

図2Cは、レーザスクライブ中におけるウェーハ170Wの第2主面172Wの模式図である。破線で示した「分割線Div」は、ウェーハ170Wが分割されるべき線である。実線で示した「レーザスクライブ線Ls」は、分割線Divに沿ってレーザ光の照射を完了したスクライブ線を示している。レーザ光Lの照射位置を分割線Divに沿って移動させることにより、線状の照射跡(スクライブ線)を形成する。図2Cの例では、レーザ光Lの照射位置を、x方向に延びる分割線Divに沿って、x方向(矢印Lxの方向)に移動させている。   FIG. 2C is a schematic diagram of second main surface 172W of wafer 170W during laser scribing. A “partition line Div” indicated by a broken line is a line to which the wafer 170W is to be divided. The “laser scribe line Ls” indicated by a solid line indicates a scribe line that has completed the irradiation of the laser light along the dividing line Div. By moving the irradiation position of the laser light L along the dividing line Div, a linear irradiation mark (scribe line) is formed. In the example of FIG. 2C, the irradiation position of the laser beam L is moved in the x direction (the direction of the arrow Lx) along the dividing line Div extending in the x direction.

図2Dは、図2CのB−C−D−E線に沿った断面図である。レーザ光Lは、ウェーハ170Wの第2主面172W上に集光される。第2主面172Wの表面近傍には、レーザ光Lの照射によって変質部Mが形成される。図2Cに示すように、B−C線は、レーザスクライブ線Lsと1ヶ所だけ交差しているので、図2DのB−C間での断面図には、第2主面172Wの1箇所だけ、変質部Mが形成される。一方、図2CのD−E線はレーザスクライブ線Lsと重なっているので、図2DのD−E間での断面図には、y方向に延びる帯状の変質部Mが形成される。   FIG. 2D is a cross-sectional view taken along the line B-C-D-E of FIG. 2C. The laser beam L is condensed on the second major surface 172W of the wafer 170W. In the vicinity of the surface of the second main surface 172W, the altered portion M is formed by the irradiation of the laser light L. As shown in FIG. 2C, the line B-C intersects with the laser scribe line Ls only at one place, so in the cross-sectional view between B-C in FIG. 2D, only one place of the second main surface 172W. , The altered portion M is formed. On the other hand, since the D-E line in FIG. 2C overlaps the laser scribe line Ls, in the cross-sectional view between D-E in FIG. 2D, a band-shaped degenerated portion M extending in the y direction is formed.

なお、変質部Mの形成位置は、ウェーハ170Wの第2主面172W上に限られない。レーザ光Lの焦点位置に変質部Mが形成されるため、レーザ光Lの焦点位置をウェーハ170Wの内部に位置決めすれば、変質部Mをウェーハ170Wの内部に形成できる。この際、半導体層180a、180b、180cが損傷されることを防止するため、変質部Mは半導体層から所定の距離離間した位置に設けられる。図2Eは、図2Dと同様に、図2CのB−C−D−E線に沿った断面図である。ただし、図2Eでは、図2Dとは異なり、ウェーハ170Wの第2主面172Wから深さdzの位置に焦点を合わせて、レーザ光Lを照射している。変質部Mは、ウェーハ170Wの内部(第2主面172Wから深さdzの周辺)に形成される。   The formation position of the altered portion M is not limited to the second main surface 172W of the wafer 170W. Since the altered portion M is formed at the focal position of the laser beam L, if the focal position of the laser beam L is positioned inside the wafer 170W, the altered portion M can be formed inside the wafer 170W. At this time, in order to prevent the semiconductor layers 180a, 180b, and 180c from being damaged, the altered portion M is provided at a position separated from the semiconductor layer by a predetermined distance. FIG. 2E is a cross-sectional view taken along line B-C-D-E in FIG. 2C, similar to FIG. 2D. However, in FIG. 2E, unlike FIG. 2D, the laser beam L is emitted focusing on the position of the depth dz from the second main surface 172 </ b> W of the wafer 170 </ b> W. Deterioration part M is formed inside wafer 170W (periphery of depth dz from second major surface 172W).

図2Eでは、レーザ光として、パルスレーザLpを使用している。パルスレーザLpを使用すると、スポット状の変質部Mが形成される。パルスレーザLpを使用する場合は、まず、分割線Div上の所定位置で且つ深さdzに焦点を合わせて、1〜数パルスのパルスレーザLpを照射する。この照射により、焦点位置の周囲に1つのスポット状変質部Mが形成される。次いで、レーザ光の焦点位置を、深さdzを変化させずに、分割線Div(図2C参照)に沿って距離Δdだけ移動する。その移動後の焦点位置で、1〜数パルスのパルスレーザLpを照射する。この手順を繰り返すことにより、深さdzに、複数のスポット状変質部Mを形成できる。隣接する2つのスポット状変質部Mの中心位置は、距離Δdだけ離れている(図2EのD−E間の断面図を参照)。   In FIG. 2E, a pulse laser Lp is used as the laser light. When the pulse laser Lp is used, a spot-like altered portion M is formed. When the pulse laser Lp is used, first, the pulse laser Lp of one to several pulses is irradiated at a predetermined position on the dividing line Div and at a depth dz. By this irradiation, one spot-like altered portion M is formed around the focal position. Then, the focal position of the laser beam is moved by a distance Δd along the dividing line Div (see FIG. 2C) without changing the depth dz. The pulse laser Lp of one to several pulses is irradiated at the focal position after the movement. By repeating this procedure, a plurality of spot-shaped altered portions M can be formed at the depth dz. The center positions of two adjacent spot-like altered portions M are separated by a distance Δd (see the cross-sectional view between D and E in FIG. 2E).

図2Eにおいて、B−C間の断面図には、深さdzに、スポット状変質部Mが1つだけ形成される。図2Cに示すように、B−C線は、レーザスクライブ線Lsと1ヶ所だけ交差しているためである。一方、図2CのD−E線はレーザスクライブ線Lsと重なっているので、図2DのD−E間での断面図には、y方向に並んだ複数のスポット状変質部Mが形成される。   In FIG. 2E, only one spot-like altered portion M is formed at the depth dz in the cross-sectional view between B and C. As shown in FIG. 2C, the line B-C intersects the laser scribe line Ls at only one place. On the other hand, since the D-E line in FIG. 2C overlaps the laser scribe line Ls, a plurality of spot-shaped altered portions M aligned in the y direction are formed in the cross-sectional view between D-E in FIG. 2D. .

レーザスクライブ線Lsを形成した後、そのレーザスクライブ線Lsに沿って、ウェーハ170W及び半導体積層体180を分割する。その結果、個々の発光素子120が得られる(図2F参照)。図2Fには、深さdzにスポット状変質部Mを形成するレーザスクライブ法(図2E参照)を用いて分割した発光素子120を示している。発光素子120は、ウェーハ170Wから分割された透光性基板170と、半導体積層体180から分割された半導体積層体18とを含んでいる。透光性基板170は、第1の主面171と、第2の主面172と、側面173とを備えている。側面173は、2つの透光部Trと、それらの間に変質部Mとを有している。変質部Mは、透光部Trより光透過率の低い「光吸収部Abs」でもある。この変質部M(光吸収部Abs)は、側面173の表面上のみに形成されており、透光性基板170の内部には形成されていない(図2G参照)。   After forming the laser scribing line Ls, the wafer 170W and the semiconductor stack 180 are divided along the laser scribing line Ls. As a result, individual light emitting elements 120 are obtained (see FIG. 2F). FIG. 2F shows the light emitting element 120 divided by using a laser scribing method (see FIG. 2E) for forming the spot-like altered portion M at the depth dz. The light emitting element 120 includes a translucent substrate 170 divided from the wafer 170 </ b> W and a semiconductor stacked body 18 divided from the semiconductor stacked body 180. The translucent substrate 170 includes a first main surface 171, a second main surface 172, and a side surface 173. The side surface 173 has two light transmitting parts Tr and an altered part M between them. The altered portion M is also a “light absorbing portion Abs” having a light transmittance lower than that of the light transmitting portion Tr. The altered portion M (light absorbing portion Abs) is formed only on the surface of the side surface 173, and is not formed inside the translucent substrate 170 (see FIG. 2G).

図2F、図2Gに示すように、半導体積層体18は、透光性基板170の第1の主面171上に備えられている。半導体積層体18は、第1の主面171側から、第1導電型半導体層18aと、活性層18bと、第2導電型半導体層18cとをこの順に積層されている。   As shown in FIGS. 2F and 2G, the semiconductor stack 18 is provided on the first major surface 171 of the translucent substrate 170. The semiconductor stacked body 18 includes a first conductive semiconductor layer 18a, an active layer 18b, and a second conductive semiconductor layer 18c stacked in this order from the first main surface 171 side.

図2Hは、下面を上向きに配置した発光素子120を示している。図2Hにおいて、半導体積層体18の上を向いている面18dは、図1Dにおける半導体積層体18の下面18dに相当する。従って、図2Hにおいても、面18dを「下面18d」と称する。半導体積層体18の下面18dの一部分をエッチング等で除去して、凹んだ部分(これを切り欠き部18xと称する)を形成する。切り欠き部18xの深さ(z方向の寸法)は、少なくとも、活性層18bと第2導電型半導体層18cとの厚さ(z方向の寸法)の合計よりも大きく、半導体積層体18の厚さ(z方向の寸法)よりも小さくする。その結果、切り欠き部18xの底面から第1導電型半導体層18aが露出する。   FIG. 2H shows the light emitting element 120 with the bottom surface facing upward. In FIG. 2H, the surface 18d facing upward of the semiconductor stack 18 corresponds to the lower surface 18d of the semiconductor stack 18 in FIG. 1D. Therefore, also in FIG. 2H, the surface 18d is referred to as a “lower surface 18d”. A part of the lower surface 18d of the semiconductor stacked body 18 is removed by etching or the like to form a recessed portion (referred to as a notch portion 18x). The depth (dimension in the z direction) of the notch 18x is at least larger than the total thickness (dimension in the z direction) of the active layer 18b and the second conductivity type semiconductor layer 18c. Smaller than (dimension in z direction). As a result, the first conductivity type semiconductor layer 18a is exposed from the bottom surface of the notch 18x.

切り欠き部18xを形成した後に、発光素子120に一対の電極19、20を形成する(図2H参照)。第1電極19は、第1導電型半導体層18aと電気的に接続するために、半導体積層体18の下面18d上に形成される。第2電極20は、第2電極20と第2導電型半導体層18cとを電気的に接続するために、切り欠き部18x内に露出した第2導電型半導体層18cの露出部分に形成される。   After forming the notch 18x, the pair of electrodes 19 and 20 are formed on the light emitting element 120 (see FIG. 2H). The first electrode 19 is formed on the lower surface 18 d of the semiconductor stack 18 to be electrically connected to the first conductive semiconductor layer 18 a. The second electrode 20 is formed on the exposed portion of the second conductive semiconductor layer 18c exposed in the notch 18x in order to electrically connect the second electrode 20 and the second conductive semiconductor layer 18c. .

図2Hでは、第1電極19は第1導電型半導体層18aと直接接触し、第2電極20は第2導電型半導体層18cと直接接触しているが、これに限られない。例えば、第1電極19と第1導電型半導体層18aとの間に、導電性材料を配置してもよい。別の例としては、切り欠き部18xの側面(活性層18bと第2導電型半導体層18cが露出している)から、半導体積層体18の下面18dの一部までを覆う絶縁膜を形成し、その絶縁膜の上に第2電極20を設けてもよい。この第2電極20と、切り欠き部18x内に露出した第2導電型半導体層18cの露出部分とを金属配線等で接続すれば、第2電極20と第2導電型半導体層18cとを電気的に接続できる。   In FIG. 2H, the first electrode 19 is in direct contact with the first conductivity type semiconductor layer 18a and the second electrode 20 is in direct contact with the second conductivity type semiconductor layer 18c. For example, a conductive material may be disposed between the first electrode 19 and the first conductivity type semiconductor layer 18a. As another example, an insulating film is formed to cover the side surface of the notch 18x (the active layer 18b and the second conductivity type semiconductor layer 18c are exposed) to a part of the lower surface 18d of the semiconductor stacked body 18. The second electrode 20 may be provided on the insulating film. If the second electrode 20 and the exposed portion of the second conductivity type semiconductor layer 18c exposed in the notch portion 18x are connected by metal wiring or the like, the second electrode 20 and the second conductivity type semiconductor layer 18c are electrically connected. Can be connected.

透光性基板170、半導体積層体18、電極19、20を含めた発光素子120の最大厚さ(z方向の寸法)は、800μm〜150μmにすることができ、500μm〜150μm、400μm〜150μm、300μm〜150μm、200μm〜150μmであるのが好ましい。   The maximum thickness (dimension in the z direction) of the light emitting element 120 including the light transmitting substrate 170, the semiconductor laminate 18, the electrodes 19 and 20 can be 800 μm to 150 μm, 500 μm to 150 μm, 400 μm to 150 μm, It is preferable that they are 300 micrometers-150 micrometers, 200 micrometers-150 micrometers.

〔第2工程:発光素子120を基体11の上面11uに接合する〕
第2工程では、基体11を準備し、その基体11に、工程1で準備した発光素子120を接合する。
[Second Step: Joining Light-Emitting Element 120 to Upper Surface 11u of Base 11]
In the second step, the substrate 11 is prepared, and the light emitting element 120 prepared in the step 1 is bonded to the substrate 11.

本実施形態の基体11は、図1Aに示すように、上面が長方形の板状体からなる母材11aと、母材11aの表面に設けられた接続端子15、16を備えている。   As shown in FIG. 1A, the base body 11 of the present embodiment includes a base material 11a made of a plate-like body whose upper surface is rectangular, and connection terminals 15 and 16 provided on the surface of the base material 11a.

本実施形態の基体11は、例えば下記のような方法で製造することができる。
まず、絶縁性の母材11aを準備する。図3Aに示すように、母材11aは、絶縁性材料(例えば、セラミック、樹脂等)を長方形の板状部材に成型したものを用いる。樹脂製の母材11aの製造では、熱硬化性樹脂をモールド加工等により成型してもよく、樹脂ブロックを機械加工して成形してもよい。
The base 11 of the present embodiment can be manufactured, for example, by the following method.
First, an insulating base material 11a is prepared. As shown in FIG. 3A, as the base material 11a, one obtained by molding an insulating material (for example, ceramic, resin, etc.) into a rectangular plate-like member is used. In the production of the resin base material 11a, the thermosetting resin may be molded by molding or the like, or the resin block may be machined and molded.

母材11aの表面に、所定形状の金属膜からなる接続端子15、16を設ける(図3B参照)。図1B及び図3Bに示すように、接続端子15、16は、素子接続部15a、16aと外部接続部15b、16bとを含み得る。素子接続部15a、16aは、発光素子12、120の電極19、20と接続するための部分である。平面視において、発光素子12、120を実装したときに、素子接続部15a、16aは発光素子12、120によって覆われる(図1B参照)。素子接続部15a、16aは外部接続部15b、16bに接続している。   Connection terminals 15 and 16 made of a metal film having a predetermined shape are provided on the surface of the base material 11a (see FIG. 3B). As shown in FIGS. 1B and 3B, the connection terminals 15 and 16 may include element connection portions 15a and 16a and external connection portions 15b and 16b. The element connection portions 15 a and 16 a are portions for connecting to the electrodes 19 and 20 of the light emitting elements 12 and 120. In plan view, when the light emitting elements 12 and 120 are mounted, the element connecting portions 15a and 16a are covered with the light emitting elements 12 and 120 (see FIG. 1B). The element connection parts 15a and 16a are connected to the external connection parts 15b and 16b.

素子接続部15a、16aは、外部接続部15b、16bを通って外部電極に導通する。言い換えれば、外部接続部15b、16bは、発光素子12、120を実装したときに、外部電極と接続できる必要がある。従って、外部接続部15b、16bは、発光素子12、120を実装したときに、発光素子12、120または支持部材13で覆われない位置に形成される。例えば、図1Bにおいて、接続端子15の外部接続部15bは、素子接続部15aから、発光素子12よりも外側まで、−x方向に延在する。接続端子16の外部接続部16bは、素子接続部16aから、発光素子12よりも外側まで、x方向に延在する。   The element connection parts 15a and 16a are electrically connected to the external electrodes through the external connection parts 15b and 16b. In other words, the external connection parts 15 b and 16 b need to be able to connect to the external electrodes when the light emitting elements 12 and 120 are mounted. Accordingly, the external connection portions 15 b and 16 b are formed at positions that are not covered with the light emitting elements 12 and 120 or the support member 13 when the light emitting elements 12 and 120 are mounted. For example, in FIG. 1B, the external connection portion 15 b of the connection terminal 15 extends in the −x direction from the element connection portion 15 a to the outside of the light emitting element 12. The external connection portion 16 b of the connection terminal 16 extends in the x direction from the element connection portion 16 a to the outside of the light emitting element 12.

外部接続部15b、16bは、幅(y方向の寸法)が一定でなくてもない。図1Bに示す外部接続部15b、16bは、素子接続部15a、16aに接続し且つ素子接続部15a、16aよりも幅の狭い幅狭部分と、幅狭部分に接続し且つ幅狭部分及び素子接続部15a、16aよりも幅の広い幅広部分とを含む。
図1A,図1Bに示すように、支持部材13の外側面が幅狭部分を横切るように、幅狭部分が配置されることがより好ましい。
The external connection parts 15b and 16b do not need to have a constant width (dimension in the y direction). The external connection parts 15b and 16b shown in FIG. 1B are connected to the element connection parts 15a and 16a and are connected to a narrow part narrower than the element connection parts 15a and 16a and to a narrow part and the narrow part and element And wide portions wider than the connecting portions 15a and 16a.
As shown in FIGS. 1A and 1B, it is more preferable that the narrow portion be disposed such that the outer surface of the support member 13 crosses the narrow portion.

図1D、図3Bに示すように、外部接続部15b、16bは、基体11の上面11uから、側面11sを通って下面11dまで延在してもよい。   As shown in FIGS. 1D and 3B, the external connection portions 15b and 16b may extend from the upper surface 11u of the base 11 to the lower surface 11d through the side surface 11s.

母材11aがセラミック材料から形成される場合には、グリーンシートを成型し、グリーンシートの表面に接続端子15、16を形成するための金属膜を印刷し、焼結するのが好ましい。セラミック材料の母材11aと接続端子15、16との接合力が向上する。また、母材11aは、絶縁材料で被覆した導電性部材から形成できる。例えば、長方形の金属板を準備し、その表面をアルミナ膜などの絶縁膜で被覆して、母材11aとすることもできる。   When the base material 11a is formed from a ceramic material, it is preferable to mold a green sheet, print a metal film for forming the connection terminals 15 and 16 on the surface of the green sheet, and sinter. The joining force between the base material 11a of the ceramic material and the connection terminals 15 and 16 is improved. The base material 11a can be formed from a conductive member covered with an insulating material. For example, a rectangular metal plate may be prepared, and the surface thereof may be covered with an insulating film such as an alumina film to form the base material 11a.

上述した方法で作製された基体11に、発光素子120を接合する。基体11の第1の接続端子15の素子接続部15a及び第2の接続端子16の素子接続部16aの上に、接合部材21を塗布する(図3C参照)。接合部材21としては、導電性ペースト、又はリフロー可能な材料(半田、ロウ材等)が好適である。   The light emitting element 120 is bonded to the base 11 manufactured by the method described above. A bonding member 21 is applied on the element connection portion 15a of the first connection terminal 15 and the element connection portion 16a of the second connection terminal 16 of the base 11 (see FIG. 3C). As the bonding member 21, a conductive paste or a reflowable material (solder, brazing material, etc.) is suitable.

第1工程で準備した発光素子120は、半導体積層体18が設けられた側(つまり、半導体積層体18の下面18d側)を下に向ける。そして、半導体積層体18の下面18d側を、基体11の上面11uに対向させる。半導体積層体18の下面18d側に設けた電極19、20を、基体11の接続端子15、16の素子接続部15a、16a上に塗布した接合部材21と接触させる。   The light emitting element 120 prepared in the first step has the side where the semiconductor stacked body 18 is provided (that is, the lower surface 18d side of the semiconductor stacked body 18) facing down. Then, the lower surface 18 d side of the semiconductor stacked body 18 is opposed to the upper surface 11 u of the base body 11. The electrodes 19 and 20 provided on the lower surface 18d side of the semiconductor stacked body 18 are brought into contact with the bonding member 21 applied on the element connection portions 15a and 16a of the connection terminals 15 and 16 of the base 11.

接合部材21として導電性ペーストを使用する場合、発光素子120の透光性基板170の第2の主面172を軽く押す。接合部材21は、発光素子120の電極19、20と基体11の接続端子15、16の間で均一に広がる。一方、接合部材21として半田等のリフロー可能な材料を使用した場合、発光素子120を接合部材21の上に載置したまま、基体11をリフロー炉に入れる。接合部材21は溶融して、発光素子120の電極19、20と基体11の接続端子15、16の間で均一に広がる。リフロー炉から取り出すと、接合部材21は冷却されて硬化する。このようにして、接合部材21により、発光素子120は基体11にフリップチップ実装される(図3D参照)。発光素子120を基体11にフリップチップ実装した時、接合部材21の厚さ(z方向の寸法)は、約2〜50μmであるのが好ましい。   In the case of using a conductive paste as the bonding member 21, the second main surface 172 of the translucent substrate 170 of the light emitting element 120 is lightly pressed. The bonding member 21 spreads uniformly between the electrodes 19 and 20 of the light emitting element 120 and the connection terminals 15 and 16 of the base 11. On the other hand, when a reflowable material such as solder is used as the bonding member 21, the base 11 is placed in a reflow furnace while the light emitting element 120 is placed on the bonding member 21. The bonding member 21 melts and spreads uniformly between the electrodes 19 and 20 of the light emitting element 120 and the connection terminals 15 and 16 of the base 11. When removed from the reflow furnace, the bonding member 21 is cooled and hardened. In this manner, the light emitting element 120 is flip-chip mounted on the base 11 by the bonding member 21 (see FIG. 3D). When the light emitting element 120 is flip-chip mounted on the substrate 11, the thickness (dimension in the z direction) of the bonding member 21 is preferably about 2 to 50 μm.

〔第3工程:支持部材13を設ける〕
図3Eに示すように、発光素子120を基体11に接合した後、発光素子120と基体11を被覆する支持部材13を設ける。支持部材13は、絶縁性材料から形成されているのが好ましい。これにより、支持部材13が、発光素子120の半導体積層体18の側面に接触しても、短絡を回避することができる。支持部材13に適した絶縁性材料としては樹脂、ガラス又はこれらの組み合わせが挙げられる。特に樹脂材料は、成形性と機械加工性に優れているので好ましい。
[Third Step: Provide Support Member 13]
As shown in FIG. 3E, after the light emitting element 120 is bonded to the base 11, a support member 13 for covering the light emitting element 120 and the base 11 is provided. The support member 13 is preferably formed from an insulating material. Thereby, even if the support member 13 contacts the side surface of the semiconductor laminate 18 of the light emitting element 120, a short circuit can be avoided. Examples of the insulating material suitable for the support member 13 include resin, glass, or a combination thereof. In particular, resin materials are preferable because they are excellent in moldability and machinability.

支持部材13は、周知の方法によって成形することができる。支持部材13を樹脂材料から形成する場合には、スクリーン印刷、ポッティング、トランスファーモールド、コンプレッションモールド等の成形方法を利用できる。特に、熱硬化性樹脂材料を用いる場合は、トランスファーモールドが好ましい。   The support member 13 can be formed by a known method. When the support member 13 is formed of a resin material, molding methods such as screen printing, potting, transfer molding, compression molding and the like can be used. In particular, when a thermosetting resin material is used, transfer molding is preferable.

支持部材13は、第1部分13aと第2部分13bを含み得る。第1部分13aは、発光素子120の透光性基板170の少なくとも1つの側面173の一部を被覆する。支持部材13は、発光素子120の全ての側面173の少なくとも一部を被覆するのが好ましく、全ての側面173の全部を被覆するのが特に好ましい。支持部材13の第2部分13bは、発光素子120と基体11との隙間を充填する。支持部材13として第1部分13aのみを形成してもよいが、両方とも形成することが好ましい。これにより、支持部材13による発光素子120の保持能力を向上させることができる。第1部分13aと第2部分13bとは、同じ材料から形成してもよい。これにより、第1部分13aと第2部分13bを同時に形成することができる。一方、第1部分13aと第2部分13bとは、異なる材料から形成してもよい。第1部分13aと第2部分13bとに異なる機能を付与することができる。例えば、第1部分13aは反射率の高い材料から形成し、第2部分13bは接合力の高い材料から形成してもよい。   The support member 13 may include a first portion 13a and a second portion 13b. The first portion 13 a covers a part of at least one side surface 173 of the translucent substrate 170 of the light emitting device 120. The support member 13 preferably covers at least a part of all the side surfaces 173 of the light emitting element 120, and particularly preferably covers all the side surfaces 173. The second portion 13 b of the support member 13 fills the gap between the light emitting element 120 and the base body 11. Although only the first portion 13a may be formed as the support member 13, it is preferable to form both. Thereby, the holding capability of the light emitting element 120 by the support member 13 can be improved. The first portion 13a and the second portion 13b may be formed from the same material. Thereby, the 1st part 13a and the 2nd part 13b can be formed simultaneously. On the other hand, the first portion 13a and the second portion 13b may be formed of different materials. Different functions can be imparted to the first portion 13a and the second portion 13b. For example, the first portion 13a may be formed of a material having high reflectance, and the second portion 13b may be formed of a material having high bonding strength.

図3Eでは、支持部材13は、基体11の上面11uの一部を覆っている。これに限られず、支持部材13は、基体11の上面11uの略全面を覆ってもよい。つまり、平面視において、第1部分13aの外形と基体11の外形が略同一であってもよい。図3Eに示すように、支持部材13は、透光性基板170の第2の主面172を覆っていてもよい。   In FIG. 3E, the support member 13 covers a part of the upper surface 11 u of the base 11. The invention is not limited to this, and the support member 13 may cover substantially the entire top surface 11 u of the base 11. That is, in a plan view, the outer shape of the first portion 13a and the outer shape of the base 11 may be substantially the same. As shown in FIG. 3E, the support member 13 may cover the second main surface 172 of the translucent substrate 170.

〔第4工程:発光素子12の透光性基板170を薄くする〕
支持部材13で発光素子120を被覆した後、発光素子12の透光性基板170を、第1の主面171と対向する第2の主面172側から薄くする。図3Eでは、第2の主面172は支持部材13で覆われている。よって、第2の主面172上の支持部材13を除去した後に、さらに透光性基板170を薄くする。なお、薄くした後の透光性基板を符号17で示す。また、薄くした透光性基板17を備えた発光素子は符号12で示す。
[Fourth Step: Thinning Translucent Substrate 170 of Light-Emitting Element 12]
After covering the light emitting element 120 with the support member 13, the light transmitting substrate 170 of the light emitting element 12 is thinned from the side of the second main surface 172 facing the first main surface 171. In FIG. 3E, the second major surface 172 is covered by the support member 13. Therefore, after the support member 13 on the second main surface 172 is removed, the translucent substrate 170 is further thinned. In addition, the translucent board | substrate after making thin is shown with the code | symbol 17. In FIG. In addition, a light emitting element provided with a thinned light transmitting substrate 17 is denoted by reference numeral 12.

透光性基板170は、その側面173の変質部M(すなわち、光吸収部Abs)が完全に除去されるまで、薄くされることが好ましい。例えば、透光性基板170は、図3EのX−X線まで薄くされる。光吸収部Absの除去によって光吸収部Absによる光吸収が回避されるので、発光素子12の光取出し効率が向上する。また、発光素子12全体の厚さも薄くなるので、発光装置10の厚さを薄くできる。   The translucent substrate 170 is preferably thinned until the altered portion M (that is, the light absorbing portion Abs) on the side surface 173 is completely removed. For example, the translucent substrate 170 is thinned to the line XX in FIG. 3E. Since the light absorption by the light absorption part Abs is avoided by removing the light absorption part Abs, the light extraction efficiency of the light emitting element 12 is improved. Further, since the thickness of the entire light emitting element 12 is also reduced, the thickness of the light emitting device 10 can be reduced.

加工前の透光性基板170の厚さは、例えば110〜500μmである。この透光性基板170を厚さ1μm〜100μm程度まで薄くするのが好ましい。加工後の透光性基板17の光取り出し効率を向上させることができる。基板をすべて除去しないことにより、光取り出し効率を高めつつ、発光素子の強度も必要とされる程度に確保することができる。   The thickness of the translucent substrate 170 before processing is, for example, 110 to 500 μm. The translucent substrate 170 is preferably thinned to a thickness of about 1 μm to 100 μm. The light extraction efficiency of the translucent substrate 17 after processing can be improved. By not removing all the substrate, it is possible to secure the strength of the light emitting element to a required extent while enhancing the light extraction efficiency.

透光性基板170を薄くする加工方法は、化学的又は物理的、湿式又は乾式、圧力転写方式又は運動転写方式等の種々の原理/方式を利用することができる。例えば、化学エッチング(ウェットエッチング、ドライエッチング)、研磨(ラップ定盤及び遊離砥粒等)、研削(研削盤及び固定砥粒等)、切削(サーフェスプレーナー等)、ブラスト、及びこれらを組み合わせが挙げられる。研磨、研削及び切削は、材質と硬度が異なる透光性基板170と支持部材13とを、同時に、同程度の薄さに加工できるので好ましい。研磨及び研削は、乾式法、湿式法のいずれも利用できる。特に、湿式法が好ましく、研磨又は研削時における熱の発生を抑制でき、また、研磨くずを洗い流すことができる。   As a processing method for thinning the translucent substrate 170, various principles / methods such as chemical or physical, wet or dry, pressure transfer method, or motion transfer method can be used. For example, chemical etching (wet etching, dry etching), polishing (lapping plate and free abrasive etc), grinding (grinding machine and fixed abrasive etc), cutting (surface planar etc), blasting, and combinations thereof are mentioned. Be Polishing, grinding, and cutting are preferable because the translucent substrate 170 and the support member 13 having different materials and hardness can be simultaneously processed to the same degree of thinness. Polishing and grinding can use either a dry method or a wet method. In particular, a wet method is preferable, which can suppress the generation of heat during polishing or grinding, and can wash away abrasive debris.

本実施形態の製造方法によれば、厚い透光性基板170を備えた発光素子120(発光素子120の強度は相対的に高い)を基体11上に実装し、その後に透光性基板170を薄くしている。つまり、薄い透光性基板17を備えた発光素子12(発光素子12の強度は相対的に低い)を基体11上に実装する工程が不要である。そのため、強度の低い発光素子12の実装に起因した発光装置10の歩留まり低下を、抑制することができる。   According to the manufacturing method of the present embodiment, the light emitting element 120 including the thick light transmissive substrate 170 (the light emitting element 120 has a relatively high strength) is mounted on the base 11, and then the light transmissive substrate 170 is mounted. It is thinner. That is, a process of mounting the light emitting element 12 (the light emitting element 12 is relatively low in strength) provided with the thin translucent substrate 17 on the base body 11 is unnecessary. Therefore, the yield reduction of the light emitting device 10 due to the mounting of the light emitting element 12 having low strength can be suppressed.

さらに、本実施形態の製造方法によれば、図3Eのように発光素子120を基体11上に支持部材13で保持した後に、透光性基板170を薄く加工する。その結果、透光性基板170の加工中に、発光素子120が切削ホイール等の工具により横方向(図3Eのx方向)の力を受けたときに、発光素子120が損傷したり基体11から剥離したりするのを抑制できる。また、発光素子120と基体11との隙間に支持部材13の第2部分13bを満たしてもよい。発光素子120が工具により下向き(図3Eの−z方向)の力を受けたときに、第2部分13bが発光素子120を支える。その結果、発光素子120の破損を抑制できる。   Furthermore, according to the manufacturing method of this embodiment, the light-emitting element 120 is held on the base 11 by the support member 13 as shown in FIG. As a result, when the light-emitting element 120 receives a force in the lateral direction (x direction in FIG. 3E) by a tool such as a cutting wheel during the processing of the light-transmitting substrate 170, the light-emitting element 120 may be damaged or removed from the substrate 11. Peeling can be suppressed. Further, the second portion 13 b of the support member 13 may be filled in the gap between the light emitting element 120 and the base 11. The second portion 13 b supports the light emitting element 120 when the light emitting element 120 receives a downward force (−z direction in FIG. 3E) by the tool. As a result, damage to the light emitting element 120 can be suppressed.

支持部材13が発光素子12の半導体積層体18の側面を覆っていると、透光性基板170の加工中に半導体積層体18がダメージを受けるのを抑制できる。支持部材13が発光素子12の透光性基板170の側面173全体を覆っていると、切削工具等が最初に接触する外周縁(切削工具による衝撃を受けやすい部分)に透光性基板170が露出しづらい。その結果、加工中に透光性基板170に欠け(チッピング)が生じるのを抑制できる。   When the support member 13 covers the side surface of the semiconductor stacked body 18 of the light emitting element 12, the semiconductor stacked body 18 can be prevented from being damaged during the processing of the translucent substrate 170. When the support member 13 covers the entire side surface 173 of the light-transmissive substrate 170 of the light emitting element 12, the light-transmissive substrate 170 is located on the outer peripheral edge (a portion susceptible to impact by the cutting tool) Hard to expose. As a result, it is possible to suppress chipping of the light transmitting substrate 170 during processing.

発光素子12の透光性基板170の側面173全体が、支持部材13の第1部分13aで覆われている場合、透光性基板170を薄くする加工を行うと、第1部分13aも薄くされる。研磨、研削及び切削などの機械加工では、加工後の加工面(図3FのX−X線に位置する面)はほぼ面一になる。言い換えれば、図1Dに示すように、透光性基板17の上面17uと、第1部分13aの上面13uとはほぼ面一になる。ここで、「ほぼ面一」とは、2つの上面17u、13uが完全に面一であるか、それらの面の高さの差(z方向の相対的な位置の差)が±5μm程度以内であることを意味する。第1部分13aの上面13uは、透光性基板17の上面17uよりも高くしても、低くしてもよい。   When the entire side surface 173 of the translucent substrate 170 of the light emitting element 12 is covered with the first portion 13 a of the support member 13, when the translucent substrate 170 is processed to be thin, the first portion 13 a is also thinned Ru. In machining such as grinding, grinding and cutting, the machined surface after machining (the surface located on line X-X in FIG. 3F) is substantially flush. In other words, as shown in FIG. 1D, the upper surface 17u of the translucent substrate 17 and the upper surface 13u of the first portion 13a are substantially flush with each other. Here, “substantially flush” means that the two upper surfaces 17u and 13u are completely flush, or the height difference between them (the difference in relative position in the z direction) is within about ± 5 μm. Means to be. The upper surface 13u of the first portion 13a may be higher or lower than the upper surface 17u of the translucent substrate 17.

加工後の透光性基板17の上面17uは、例えば、表面粗さRaが1μm程度以下、もしくは上面のうち高い部分と低い部分の高さの差が500nm程度以下になるよう、平滑に加工がされるのが好ましい。また、透光性基板17の上面17uは、薄くされる加工の痕にさらに表面処理してもよい。例えば、透光性基板17の上面17uを格子状又は複数の線状の凹凸、複数の多角形状の凹凸、レンズ形状等に加工してもよい。これにより、透光性基板17の上面17u(発光素子12の発光面12eに相当)からの光取り出し効率を向上させることができる。表面処理は、例えば、エッチング、ブラスト、レーザ加工等によって行うことができる。エッチングでは、エッチング液で透光性基板17の上面17uをエッチングすると、上面17uに残存する研磨くず等を除去できる。なお、透光性基板17の上面17uの表面処理の際に、支持部材13の第1部分13aの上面13uも同時に処理され得る。透光性基板17の上面17uのみを選択的に表面処理するには、レーザ加工が好適である。   The processed upper surface 17u of the translucent substrate 17 is processed smoothly so that, for example, the surface roughness Ra is about 1 μm or less, or the difference in height between the high and low portions of the upper surface is about 500 nm or less. Is preferred. Further, the upper surface 17 u of the translucent substrate 17 may be further surface-treated to be a mark of processing to be thinned. For example, the upper surface 17u of the translucent substrate 17 may be processed into a lattice shape or a plurality of linear irregularities, a plurality of polygonal irregularities, a lens shape, or the like. Thereby, the light extraction efficiency from the upper surface 17 u (corresponding to the light emitting surface 12 e of the light emitting element 12) of the translucent substrate 17 can be improved. The surface treatment can be performed by, for example, etching, blasting, laser processing or the like. In the etching, when the upper surface 17 u of the light transmitting substrate 17 is etched with an etching solution, polishing debris and the like remaining on the upper surface 17 u can be removed. In the surface treatment of the upper surface 17 u of the translucent substrate 17, the upper surface 13 u of the first portion 13 a of the support member 13 may also be treated at the same time. In order to selectively surface-treat only the upper surface 17 u of the translucent substrate 17, laser processing is preferable.

図3Gに示すように、透光性基板17の上面17uに、波長変換部材14や透光性部材を設ける工程をさらに備えてもよい。これにより、支持部材13から露出した発光素子12を保護することができる。波長変換部材14は、発光素子12からの光で励起される蛍光体を含有する。波長変換部材14は、支持部材13の第1部分13aの上面13uにも形成されていてもよい。   As shown to FIG. 3G, you may further provide the process of providing the wavelength conversion member 14 and a translucent member in the upper surface 17u of the translucent board | substrate 17. As shown in FIG. Thereby, the light emitting element 12 exposed from the support member 13 can be protected. The wavelength conversion member 14 contains a phosphor that is excited by light from the light emitting element 12. The wavelength conversion member 14 may also be formed on the upper surface 13 u of the first portion 13 a of the support member 13.

波長変換部材14は、蛍光体を含む透光性樹脂から形成することができる。波長変換部材14の形成方法としては、蛍光体を含む透光性樹脂から成るシートを、ホットメルト又は接着剤により透光性基板17の上面17uに接着する方法、電気泳動堆積法で透光性基板17の上面17uに蛍光体を付着させた後で当該堆積した蛍光体に透光性樹脂を含浸させる方法、蛍光体を含む透光性樹脂を、ポッティング、トランスファー成形、圧縮成形、キャスティングケースによる成形、スプレー法、静電塗布法、印刷法などの既知の技術により塗布する方法が挙げられる。これらの方法のうちで、スプレー法が好ましく、特に、間欠的にスプレーを噴射するパルススプレー法が好ましい。   The wavelength conversion member 14 can be formed of a translucent resin containing a phosphor. As a method for forming the wavelength conversion member 14, a sheet made of a translucent resin containing a phosphor is adhered to the upper surface 17u of the translucent substrate 17 by hot melt or adhesive, or translucent by electrophoretic deposition. Method of impregnating the deposited phosphor with a translucent resin after depositing the phosphor on the upper surface 17 u of the substrate 17, potting, transfer molding, compression molding, casting case of the translucent resin containing the phosphor Examples of the method include coating by a known technique such as molding, spraying, electrostatic coating, and printing. Among these methods, the spray method is preferable, and the pulse spray method in which spray is intermittently ejected is particularly preferable.

図3Gに、パルススプレー法による波長変換部材14の形成工程を示す。基体11の上面11uと支持部材13の外側面とを覆う保護部材Pを設ける。保護部材Pの上端は、支持部材13の第1部分13aの上面13uよりも高くするのが好ましい。次に、スプレーノズルSnから、蛍光体を含む透光性樹脂Rを、透光性基板17の上面17u及び支持部材13の第1部分13aの上面13uに間欠的にスプレーする。上面17u、13uの面積がスプレーノズルSnの噴射範囲よりも広い場合には、スプレーノズルSnを水平方向(x方向)に移動しながらスプレーする。上面17u、13uの全面にほぼ均一に透光性樹脂Rをスプレーしたら、保護部材Pを除去する。支持部材13で覆われていない(つまり、支持部材13から露出している)基体11の上面11uと、支持部材13の外側面とは、保護部材Pで保護されていたので、波長変換部材14が形成されない。このようにして、図1Cに示す発光装置10が得られる。   FIG. 3G shows a process of forming the wavelength conversion member 14 by the pulse spray method. A protective member P is provided to cover the upper surface 11 u of the base 11 and the outer surface of the support member 13. The upper end of the protective member P is preferably higher than the upper surface 13 u of the first portion 13 a of the support member 13. Next, the translucent resin R containing a phosphor is intermittently sprayed from the spray nozzle Sn onto the upper surface 17 u of the translucent substrate 17 and the upper surface 13 u of the first portion 13 a of the support member 13. When the area of the upper surfaces 17u and 13u is wider than the spray range of the spray nozzle Sn, the spray nozzle Sn is sprayed while moving in the horizontal direction (x direction). When the translucent resin R is sprayed almost uniformly on the entire upper surfaces 17u and 13u, the protective member P is removed. Since the upper surface 11u of the base 11 that is not covered by the support member 13 (that is, exposed from the support member 13) and the outer surface of the support member 13 are protected by the protection member P, the wavelength conversion member 14 is protected. Is not formed. In this way, the light emitting device 10 shown in FIG. 1C is obtained.

また、波長変換部材14は、蛍光体を含むガラスから形成することができる。蛍光体を含むガラス板から成る波長変換部材14は、透光性基板17の上面17uに接着剤で接着できる。   Moreover, the wavelength conversion member 14 can be formed from the glass containing fluorescent substance. The wavelength conversion member 14 made of a glass plate containing a phosphor can be adhered to the upper surface 17 u of the translucent substrate 17 with an adhesive.

波長変換部材14の厚さは、例えば、1〜300μm程度にすることができ、1〜100μm程度が好ましく、5〜100μm程度、20〜60μm程度、30〜40μm程度がより好ましい。   The thickness of the wavelength conversion member 14 can be, for example, about 1 to 300 μm, preferably about 1 to 100 μm, more preferably about 5 to 100 μm, about 20 to 60 μm, and more preferably about 30 to 40 μm.

(変形例1)
上述した発光装置の製造方法において、第2工程では、複数の発光装置10を同時に製造できる基体(複合基体)を準備する。図4A、図4Bに示す複合基体24は、各発光装置10に使用される基体11(図1C、図3B)が複数連なっている。例えば、図4Aの複合基体24では、x方向に3列(xi〜xiii)、y方向に6行(yi〜yvi)、合計18個の基体11を含む。
(Modification 1)
In the method of manufacturing a light emitting device described above, in the second step, a substrate (composite substrate) capable of simultaneously manufacturing a plurality of light emitting devices 10 is prepared. In the composite substrate 24 shown in FIGS. 4A and 4B, a plurality of substrates 11 (FIGS. 1C and 3B) used for each light emitting device 10 are connected in series. For example, the composite substrate 24 in FIG. 4A includes a total of 18 substrates 11 in three columns (x i to x iii ) in the x direction and six rows (y i to y vi ) in the y direction.

複合基体24の母材24aは、上面24uから下面24dに貫通し、y方向に伸びるスリット25を有している。母材24aには、複合接続端子22が設けられている。複合接続端子22は、母材24aの上面24uから、スリット25の内面を通って、下面24dまで延在している。   The base material 24 a of the composite base 24 has a slit 25 extending from the upper surface 24 u to the lower surface 24 d and extending in the y direction. A composite connection terminal 22 is provided on the base material 24a. The composite connection terminal 22 extends from the upper surface 24 u of the base material 24 a to the lower surface 24 d through the inner surface of the slit 25.

このように作製された複合基体24に、発光素子120(図3D)を結合する。具体的には、18対の接続端子を含む複合接続端子22上に、18個の発光素子120を、接合部材21で接合する。   The light emitting element 120 (FIG. 3D) is bonded to the composite substrate 24 thus manufactured. Specifically, 18 light emitting elements 120 are joined by the joining member 21 on the composite connection terminal 22 including 18 pairs of connection terminals.

第3工程では、複合基体24の上面24uに、複数の支持部材13が形成される。各支持部材13は、y方向において隣接する発光素子120の間を満たすよう、6つの発光素子120を全て覆う(図4A参照)。つまり、図4Aに示す複合基体24では、y方向に伸びる3つの支持部材13が形成される。第4工程では、研削により、18個の発光素子120の透光性基板170を一括で薄くする(図3E〜図3F参照)。その後、18個の発光素子12の透光性基板17の上面17uに波長変換部材14を形成する(図3G参照)。   In the third step, the plurality of support members 13 are formed on the upper surface 24 u of the composite substrate 24. Each support member 13 covers all six light emitting elements 120 so as to fill between the adjacent light emitting elements 120 in the y direction (see FIG. 4A). That is, in the composite substrate 24 shown in FIG. 4A, three support members 13 extending in the y direction are formed. In the fourth step, the translucent substrates 170 of the eighteen light emitting elements 120 are collectively thinned by grinding (see FIGS. 3E to 3F). Thereafter, the wavelength conversion member 14 is formed on the upper surface 17u of the light transmissive substrate 17 of the 18 light emitting elements 12 (see FIG. 3G).

次に、複合基体24を個々の発光装置10(図1A)に分割する。複合基体24には、y方向に6個、x方向に3個の発光装置が並んでいる。図4Aの破線Lに沿って、支持部材13及び複合基体24をダイサー、レーザなどで分割する。その結果、y方向に沿って並んだ発光装置が6つに分割される。また、この分割によって、スリット25の両側が切断されるので、x方向に並んだ3つの発光装置10も、スリットの位置で分離される。最終的に、18個の発光装置が得られる。   The composite substrate 24 is then divided into individual light emitting devices 10 (FIG. 1A). In the composite substrate 24, six light emitting devices are arranged in the y direction and three light emitting devices are arranged in the x direction. The support member 13 and the composite substrate 24 are divided by a dicer, a laser or the like along the broken line L in FIG. 4A. As a result, the light emitting devices aligned along the y direction are divided into six. Moreover, since both sides of the slit 25 are cut by this division, the three light emitting devices 10 arranged in the x direction are also separated at the position of the slit. Finally, 18 light emitting devices are obtained.

この変形例1では、複合基体24により、比較的少ない工数で複数の発光装置を同時に製造できる。なお、本変形例1では、18個の発光素子120を同時に形成できる複合基体24を例示した。しかし、これに限られず、より多数(数百〜数千個)の発光素子120を同時に形成できる複合基体24を用いてもよい。本実施形態のように、複数の発光素子120を1つの支持部材13で被覆することで、複数の発光素子120を個々に被覆する複数の支持部材13を形成する場合に比べて、複数の発光素子120を密集して配置することができる。そのため、上述の第4工程(透光性基板170を薄くする工程)において、透光性基板170と同時に支持部材13を薄くする加工の際に、加工(例えば研磨、研削及び切削)の効率が向上する。その結果として、発光装置10の製造の効率を高めることができる。また、支持部材13を研削等で薄くする場合、支持部材13の上方(切削面側)の角部に切削工具が接触したときに、当該角部が損傷するおそれがある。複数の発光素子120を1つの支持部材13で被覆することで、支持部材13の角部(すなわち、損傷しやすい部分)を少なくすることができる。これにより、支持部材13を薄くする加工の際に支持部材13の角部の欠けが発生するのを抑制し、安定した加工を行うことができる。   In the first modification, a plurality of light emitting devices can be simultaneously manufactured with a relatively small number of steps by the composite substrate 24. In the first modification, the composite base 24 capable of simultaneously forming the eighteen light emitting elements 120 is illustrated. However, the present invention is not limited to this, and a composite substrate 24 capable of simultaneously forming a larger number (several hundreds to several thousands) of light emitting elements 120 may be used. As in the present embodiment, a plurality of light emitting elements 120 are covered with one support member 13, and a plurality of light emitting elements 120 are emitted as compared with the case where a plurality of support members 13 that individually cover the plurality of light emitting elements 120 are formed. The elements 120 can be arranged densely. Therefore, in the above-mentioned fourth step (step of thinning the light transmitting substrate 170), the processing efficiency (for example, grinding, grinding and cutting) is increased in the process of thinning the support member 13 simultaneously with the light transmitting substrate 170. improves. As a result, the manufacturing efficiency of the light emitting device 10 can be increased. Further, when the support member 13 is thinned by grinding or the like, the corner may be damaged when the cutting tool comes into contact with the upper (cutting surface side) corner of the support member 13. By covering the plurality of light emitting elements 120 with one support member 13, it is possible to reduce the corners (that is, the portions that are easily damaged) of the support member 13. Thereby, it is possible to suppress the occurrence of chipping at the corners of the support member 13 during the process of thinning the support member 13 and perform stable processing.

(変形例2)
本実施の形態の変形例として、図5に示すように、複数の発光素子12を含む発光装置40を製造する。第2工程では、母材43に複数の発光素子12を接続するための接続端子45、45a、46を設けた複合基体44を形成する。図5の複合基体44では、複数の発光素子12(図5では5個)を載置できる寸法の母材43を含む。接続端子45、45a、46は、複数の発光素子12を、直列接続するようにパターニングされている。なお、接続端子45、45a、46は、複数の発光素子12を、並列接続するようにパターニングされてもよい。
(Modification 2)
As a modification of the present embodiment, as shown in FIG. 5, a light emitting device 40 including a plurality of light emitting elements 12 is manufactured. In the second step, a composite base 44 provided with connection terminals 45, 45a, 46 for connecting the plurality of light emitting elements 12 to the base material 43 is formed. 5 includes a base material 43 having a size on which a plurality of light emitting elements 12 (five in FIG. 5) can be placed. The connection terminals 45, 45a, and 46 are patterned so that the plurality of light emitting elements 12 are connected in series. The connection terminals 45, 45a, and 46 may be patterned so as to connect the plurality of light emitting elements 12 in parallel.

このように作製された複合基体44に、発光素子120(図3D)を結合する。接続端子45、45a、46上に、5個の発光素子120を、接合部材21で接合する。   The light emitting device 120 (FIG. 3D) is bonded to the composite substrate 44 fabricated in this manner. On the connection terminals 45, 45 a, 46, the five light emitting elements 120 are joined by the joining member 21.

第3工程では、複合基体44の上面44uに支持部材13が形成される。支持部材13は、x方向に並んだ5つの発光素子120を全て覆う(図5参照)。第4工程では、5個の発光素子120の透光性基板170を同時に薄くする(図3E〜図3F参照)。その後、5個の発光素子12の透光性基板17の上面17uに波長変換部材14を形成する(図3G参照)。最終的に、図5に示す発光装置40が得られる。   In the third step, the support member 13 is formed on the upper surface 44 u of the composite substrate 44. The support member 13 covers all five light emitting elements 120 aligned in the x direction (see FIG. 5). In the fourth step, the translucent substrates 170 of the five light emitting elements 120 are simultaneously thinned (see FIGS. 3E to 3F). After that, the wavelength conversion member 14 is formed on the upper surface 17u of the translucent substrate 17 of the five light emitting elements 12 (see FIG. 3G). Finally, the light emitting device 40 shown in FIG. 5 is obtained.

複数の発光素子12は、全て同じ種類の発光素子12であっても、互いに異なる発光素子12であってもよい。例えば、発光波長の異なる複数の発光素子を、1つの発光装置40に含んでもよい。   The plurality of light emitting elements 12 may be all the same type of light emitting elements 12 or may be mutually different light emitting elements 12. For example, one light emitting device 40 may include a plurality of light emitting elements having different light emission wavelengths.

(変形例3)
本実施の形態の変形例として、図6に示すように、スルーホール11cを有する基体11’を形成する。なお、本変形例では、基体11’の形態が異なる以外は、実施形態1と同一である。
(Modification 3)
As a modification of the present embodiment, as shown in FIG. 6, a base body 11 ′ having a through hole 11c is formed. The present modification is the same as the first embodiment except that the form of the base 11 'is different.

基体11’の母材11bは、例えば、まず絶縁性材料を長方形の板状部材に成型し(図3A参照)、さらに2つのスルーホール11c、11dを貫通させることにより形成できる(図6参照)。接続端子15、16の形成では、まず、スルーホール11c、11dに導電材料を満たす。次いで、スルーホール11c、11dを覆い且つその中の導電性材料と接触するように、母材11bの上面110bと下面112bに金属膜を形成する。スルーホール11c、11d内の導電材料と金属膜とから、接続端子15、16が形成される。   The base material 11b of the base 11 'can be formed, for example, by first forming an insulating material into a rectangular plate-like member (see FIG. 3A) and further penetrating two through holes 11c and 11d (see FIG. 6) . In the formation of the connection terminals 15 and 16, first, the through holes 11c and 11d are filled with a conductive material. Next, a metal film is formed on the upper surface 110b and the lower surface 112b of the base material 11b so as to cover the through holes 11c and 11d and come into contact with the conductive material therein. The connection terminals 15 and 16 are formed of the conductive material in the through holes 11 c and 11 d and the metal film.

以下に、各部材に適した材料等を詳述する。   Hereinafter, materials suitable for each member will be described in detail.

(発光素子12)
発光素子12としては、例えば発光ダイオード等の半導体発光素子を用いることができる。
(Light emitting element 12)
For example, a semiconductor light emitting element such as a light emitting diode can be used as the light emitting element 12.

(透光性基板17)
発光素子12の透光性基板17に適した材料としては、例えば、サファイア(Al)、スピネル(MgA1)のような絶縁性材料、窒化物系の半導体材料等が挙げられる。ウェーハ170Wの厚さは、通常、100〜500μm程度であり、150〜300μm程度であるのが好ましい。
透光性基板17は、第1の主面17d(図1D参照)に複数の凸部又は凹凸を有してもよい。透光性基板17は、C面、A面等の所定の結晶面に対して0〜10度程度のオフ角を有してもよい。
(Translucent substrate 17)
As a material suitable for the translucent substrate 17 of the light emitting element 12, for example, an insulating material such as sapphire (Al 2 O 3 ), spinel (MgAl 2 O 4 ), a nitride-based semiconductor material, etc. may be mentioned. . The thickness of the wafer 170W is usually about 100 to 500 μm, and preferably about 150 to 300 μm.
The translucent substrate 17 may have a plurality of convex portions or irregularities on the first main surface 17d (see FIG. 1D). The translucent substrate 17 may have an off angle of about 0 to 10 degrees with respect to a predetermined crystal plane such as the C plane or the A plane.

(半導体積層体18)
第1導電型半導体層18a、活性層18b及び第2導電型半導体層18cに適した材料としては、例えば、III−V族化合物半導体、II−VI族化合物半導体等の半導体材料が挙げられる。具体的には、InAlGa1−X−YN(0≦X、0≦Y、X+Y≦1)等の窒化物系の半導体材料、例えばInN、AlN、GaN、InGaN、AlGaN、InGaAlN等を用いることができる。
(Semiconductor laminate 18)
Examples of materials suitable for the first conductive semiconductor layer 18a, the active layer 18b, and the second conductive semiconductor layer 18c include semiconductor materials such as III-V compound semiconductors and II-VI compound semiconductors. Specifically, In X Al Y Ga 1- X-Y N (0 ≦ X, 0 ≦ Y, X + Y ≦ 1) nitride-based semiconductor material such as, for example InN, AlN, GaN, InGaN, AlGaN, InGaAlN Etc. can be used.

発光素子12の平面視における形状は特に限定されないが、例えば四角形が好ましい。発光素子12の大きさは、平面視の形状が正方形の場合には、例えば、一辺100μm〜2000μm程度である。平面視の形状が長方形の場合には、長辺と短辺の比が2:1〜50:1程度であることが好ましい。   The shape of the light emitting element 12 in a plan view is not particularly limited, but for example, a quadrangle is preferable. The size of the light emitting element 12 is, for example, about 100 μm to 2000 μm per side when the shape in plan view is a square. When the shape in plan view is rectangular, the ratio of the long side to the short side is preferably about 2: 1 to 50: 1.

発光素子12は、透光性基板17と半導体積層体18との間に、半導体積層体18とは別の半導体層(例えば中間層、バッファ層、下地層)又は絶縁層を設けてもよい。   In the light emitting element 12, a semiconductor layer (for example, an intermediate layer, a buffer layer, a base layer) or an insulating layer different from the semiconductor stacked body 18 may be provided between the translucent substrate 17 and the semiconductor stacked body 18.

(基体11)
基体11は、母材11aと接続端子15、16とを含んでいる。
(Substrate 11)
The base 11 includes a base material 11 a and connection terminals 15 and 16.

(母材11a)
母材11aは、例えば、セラミック、樹脂、パルプ、ガラス、及びこれらの複合材料(例えば、複合樹脂)、あるいはこれら材料と導電材料(例えば、金属、カーボン等)との複合材料が挙げられる。
(Base material 11a)
Examples of the base material 11a include ceramic, resin, pulp, glass, and composite materials thereof (for example, composite resins), or composite materials of these materials and conductive materials (for example, metals, carbon, and the like).

母材11aに好適なセラミックとしては、酸化アルミニウム、窒化アルミニウム、酸化ジルコニウム、窒化ジルコニウム、酸化チタン、窒化チタン又はこれらの混合物を含むものが挙げられる。複合樹脂としては、ガラスエポキシ樹脂等が挙げられる。   Suitable ceramics for the base material 11a include those containing aluminum oxide, aluminum nitride, zirconium oxide, zirconium nitride, titanium oxide, titanium nitride or mixtures thereof. Glass epoxy resin etc. are mentioned as composite resin.

母材11aに好適な樹脂としては、例えば、エポキシ樹脂、ビスマレイミドトリアジン(BT)樹脂、ポリイミド樹脂、シアネート樹脂、ポリビニルアセタール樹脂、フェノキシ樹脂、アクリル樹脂、アルキッド樹脂、ウレタン樹脂等が挙げられる。ナフタレン系のエポキシ樹脂が含有されたBT樹脂及びそれらを含む組成物、液晶ポリマー及びそれらを含む組成物を利用してもよい。特に、BT樹脂を含む組成物が好ましい。   Examples of the resin suitable for the base material 11a include epoxy resin, bismaleimide triazine (BT) resin, polyimide resin, cyanate resin, polyvinyl acetal resin, phenoxy resin, acrylic resin, alkyd resin, and urethane resin. BT resins containing naphthalene-based epoxy resins and compositions containing them, liquid crystal polymers and compositions containing them may be used. In particular, a composition containing a BT resin is preferred.

母材11aには、ガラスエポキシ、ガラスシリコーン、ガラス変性シリコーンのプリプレグ基板を用いることができる。   As the base material 11a, a glass epoxy, glass silicone, or glass-modified silicone prepreg substrate can be used.

母材11aの厚さは、500μm程度以下が好ましく、470μm程度以下、300μm程度以下がより好ましく、200μm程度以下がさらに好ましい。また、強度等を考慮すると、20μm程度以上が好ましく、40μm程度以上がより好ましい。   About 500 micrometers or less are preferable, as for the thickness of the base material 11a, about 470 micrometers or less, about 300 micrometers or less are more preferable, and about 200 micrometers or less are more preferable. In consideration of strength and the like, it is preferably about 20 μm or more, more preferably about 40 μm or more.

母材の平面形状は、例えば、円形、四角形等の多角形又はこれらに近い形状が挙げられる。なかでも長方形が好ましい。   The planar shape of the base material may, for example, be a circle, a polygon such as a square, or a shape close to these. Among them, rectangular is preferable.

長方形の母材11aの場合、長さ(x方向の寸法)と幅(y方向の寸法)は、基体11に接合される発光素子12の大きさ及び個数によって決定される。例えば、基体11に上面視が長方形の発光素子12が1つ接合される場合は、母材11aの長さは、発光素子12の長辺の1.5〜5倍程度が好ましく、母材11aの幅は、発光素子12の短辺の1.0〜2.0倍程度であるのが好ましい。例えば、基体11に複数の発光素子12が接合される場合は、発光素子12の個数、配置に合わせて、基体11の長さと幅を適宜調整する。長手方向(x方向)に沿って複数の発光素子12を接合する場合には、母材11aの幅は変更せず、長さを長くすることができる。具体的には、2個の発光素子12を接合する場合には、母材11aの長さは、発光素子12の一辺の2.4〜6.0倍程度であるのが好ましい。また、長手方向に沿って3個の発光素子12を接合する場合には、母材11aの長さは、発光素子12の一辺の3.6〜6.0倍程度が好ましい。
母材11aは、コンデンサ、バリスタ、ツェナーダイオード、ブリッジダイオード等の保護素子を含むことができる。例えば、母材11aの一部に多層構造又は積層構造を設けて、これらの保護素子として機能させてもよい。
基体11は、母材11aと接続端子15、16とを備えるものに限られず、例えば、接続端子15、16となる金属膜又は金属板のみから形成することもできる。成型樹脂と金属のリードが一体に成形されたものであってもよい。
基体11は、その上面11u側に設けられた配線と、下面11d側に設けられて前記配線を支持する母材11aとを含み、第4工程より後に、母材11aを除去する工程を有していてもよい。発光装置が母材11aを備えないことで、発光装置を薄型化もしくは小型化することができる。
In the case of the rectangular base material 11 a, the length (dimension in the x direction) and the width (dimension in the y direction) are determined by the size and number of the light emitting elements 12 bonded to the base body 11. For example, when one light emitting element 12 having a rectangular top view is bonded to the base 11, the length of the base material 11a is preferably about 1.5 to 5 times as long as the long side of the light emitting element 12; The width of the light emitting element 12 is preferably about 1.0 to 2.0 times the short side of the light emitting element 12. For example, when a plurality of light emitting elements 12 are bonded to the base 11, the length and width of the base 11 are appropriately adjusted according to the number and arrangement of the light emitting elements 12. When bonding a plurality of light emitting elements 12 along the longitudinal direction (x direction), the width of the base material 11a is not changed, and the length can be increased. Specifically, when two light emitting elements 12 are joined, the length of the base material 11 a is preferably about 2.4 to 6.0 times as long as one side of the light emitting elements 12. When three light emitting elements 12 are joined along the longitudinal direction, the length of the base material 11 a is preferably about 3.6 to 6.0 times as long as one side of the light emitting element 12.
The base material 11a can include protective elements such as a capacitor, a varistor, a zener diode, and a bridge diode. For example, a multilayer structure or a laminated structure may be provided in a part of the base material 11a to function as these protective elements.
The base 11 is not limited to one including the base material 11 a and the connection terminals 15 and 16, and may be formed only of, for example, a metal film or a metal plate to be the connection terminals 15 and 16. The molding resin and the metal lead may be integrally molded.
The base 11 includes a wiring provided on the upper surface 11 u side and a base material 11 a provided on the lower surface 11 d side to support the wiring, and has a step of removing the base material 11 a after the fourth step. It may be. Since the light emitting device does not include the base material 11a, the light emitting device can be thinned or miniaturized.

(接続端子15、16)
一対の接続端子15、16は、少なくとも、基体11の上面11u(つまり、発光素子12が実装される面)上に設けられる。さらに、基体11の側面11sを通って下面11dまで延在してもよい(図1C参照)。接続端子15、16は、金属膜の配線、リードフレームを利用できる。金属膜の配線は、メッキ、印刷等によって形成できる。接続端子15、16の厚さは、数μmから数十μmが好ましい。
(Connection terminals 15, 16)
The pair of connection terminals 15 and 16 are provided at least on the upper surface 11u of the base 11 (that is, the surface on which the light emitting element 12 is mounted). Further, the base 11 may extend to the lower surface 11d through the side surface 11s (see FIG. 1C). As the connection terminals 15 and 16, a metal film wiring or a lead frame can be used. The metal film wiring can be formed by plating, printing, or the like. The thickness of the connection terminals 15 and 16 is preferably several μm to several tens of μm.

接続端子15、16は、例えば、Au、Pt、Pd、Rh、Ni、W、Mo、Cr、Ti、Fe、Cu、Al、Ag又はこれらの合金の膜を1層又は複数層積層して形成することができる。接続端子15、16の表面には、例えばAg、Pt、Sn、Au、Cu、Rh又はこれらの合金の層が形成されていてもよい。接続端子15、16は、具体的には、W/Ni/Au、W/Ni/Pd/Au、W/NiCo/Pd/Au、Cu/Ni/Cu/Ni/Pd/Au、Cu/Ni/Pd/Au、Cu/Ni/Au、Cu/Ni/Ag、Cu/Ni/Au/Agなどの積層構造とすることができる。   The connection terminals 15 and 16 are formed, for example, by laminating one or more layers of Au, Pt, Pd, Rh, Ni, W, Mo, Cr, Ti, Fe, Cu, Al, Ag, or an alloy thereof. can do. For example, a layer of Ag, Pt, Sn, Au, Cu, Rh, or an alloy thereof may be formed on the surfaces of the connection terminals 15 and 16. Specifically, the connection terminals 15 and 16 are W / Ni / Au, W / Ni / Pd / Au, W / NiCo / Pd / Au, Cu / Ni / Cu / Ni / Pd / Au, Cu / Ni / A layered structure of Pd / Au, Cu / Ni / Au, Cu / Ni / Ag, Cu / Ni / Au / Ag or the like can be employed.

(支持部材13)
支持部材13に好適な材料としては、樹脂、セラミック、パルプ、ガラスがあり、特に樹脂が好ましい。支持部材13に好適な樹脂としては、熱硬化性樹脂、熱可塑性樹脂、これらの変性樹脂又はこれらの樹脂を1種以上含むハイブリッド樹脂等などが挙げられる。具体的には、エポキシ樹脂組成物、変性エポキシ樹脂組成物(シリコーン変性エポキシ樹脂等)、シリコーン樹脂組成物、変性シリコーン樹脂組成物(エポキシ変性シリコーン樹脂等)、ハイブリッドシリコーン樹脂、ポリイミド樹脂組成物、変性ポリイミド樹脂組成物、ポリアミド樹脂、ポリエチレンテレフタレート樹脂、ポリブチレンテレフタレート樹脂、ポリシクロヘキサンテレフタレート樹脂、ポリフタルアミド(PPA)、ポリカーボネート樹脂、ポリフェニレンサルファイド(PPS)、不飽和ポリエステル、液晶ポリマー(LCP)、ABS樹脂、フェノール樹脂、アクリル樹脂、PBT樹脂、ユリア樹脂、BTレジン、ポリウレタン樹脂等の樹脂が挙げられる。実施形態1の第4工程において、発光素子12の透光性基板170と支持部材13とを薄く加工するのを、研削で行う場合には、支持部材13は、研削で発生する熱で軟化し難い熱硬化性樹脂が好ましい。これにより、支持部材13の除去を容易に行うことができる。
(Supporting member 13)
Suitable materials for the support member 13 include resin, ceramic, pulp, and glass, and resin is particularly preferable. Examples of the resin suitable for the support member 13 include a thermosetting resin, a thermoplastic resin, a modified resin thereof, a hybrid resin containing one or more of these resins, and the like. Specifically, an epoxy resin composition, a modified epoxy resin composition (silicone-modified epoxy resin etc.), a silicone resin composition, a modified silicone resin composition (epoxy-modified silicone resin etc.), a hybrid silicone resin, a polyimide resin composition, Modified polyimide resin composition, polyamide resin, polyethylene terephthalate resin, polybutylene terephthalate resin, polycyclohexane terephthalate resin, polyphthalamide (PPA), polycarbonate resin, polyphenylene sulfide (PPS), unsaturated polyester, liquid crystal polymer (LCP), ABS Examples thereof include resins such as resins, phenol resins, acrylic resins, PBT resins, urea resins, BT resins, and polyurethane resins. In the fourth step of the first embodiment, when the light-transmitting substrate 170 and the support member 13 of the light emitting element 12 are thinly processed by grinding, the support member 13 is softened by heat generated by the grinding. Difficult thermosetting resins are preferred. Thereby, the support member 13 can be easily removed.

支持部材13は、透光性であってもよいが、発光素子12からの光に対する反射率が60%以上の反射性材料が好ましく、70%、80%又は90%以上の反射性材料がより好ましい。これにより、支持部材13を透過する光を低減し、発光素子12の発光面12eからの光取出し効率を高めることができる。支持部材13の反射率が基体11よりも高くすると(例えば、基体11に窒化アルミニウムを用い、支持部材13として二酸化チタンを95重量%含有するシリコーン樹脂を用いる)、発光装置の光取出し効率を特に高めることができる。反射性材料としては、支持部材13の材料(例えば、樹脂)に、二酸化チタン、二酸化ケイ素、二酸化ジルコニウム、チタン酸カリウム、アルミナ、窒化アルミニウム、窒化ホウ素、ムライト、酸化ニオブ、硫酸バリウム、各種希土類酸化物(例えば、酸化イットリウム、酸化ガドリニウム)などの光反射材をあげることができる。   The support member 13 may be translucent, but is preferably a reflective material having a reflectance of 60% or more with respect to light from the light emitting element 12, and more preferably a reflective material having 70%, 80%, or 90% or more. preferable. Thereby, the light transmitted through the support member 13 can be reduced, and the light extraction efficiency from the light emitting surface 12 e of the light emitting element 12 can be enhanced. When the reflectance of the support member 13 is higher than that of the base 11 (for example, aluminum nitride is used for the base 11 and a silicone resin containing 95% by weight of titanium dioxide is used as the support member 13), the light extraction efficiency of the light emitting device is particularly increased. It can be enhanced. Examples of the reflective material include titanium dioxide, silicon dioxide, zirconium dioxide, potassium titanate, alumina, aluminum nitride, boron nitride, mullite, niobium oxide, barium sulfate, and various rare earth oxides. Light reflecting materials such as yttrium oxide (eg, yttrium oxide, gadolinium oxide).

支持部材13は、添加物として、ガラスファイバー、ワラストナイトなどの繊維状フィラー、カーボン等の無機フィラー、放熱性の高い材料(例えば、窒化アルミニウム等)を含有させてもよい。これにより、支持部材13の強度、硬度、放熱性を高めることができる。これらの添加物は、例えば、支持部材13の全重量に対して、10〜95重量%程度含有させることが好ましい。   The support member 13 may contain a fiber filler such as glass fiber and wollastonite, an inorganic filler such as carbon, and a material having high heat dissipation (for example, aluminum nitride) as an additive. Thereby, the intensity | strength of the support member 13, hardness, and heat dissipation can be improved. These additives are preferably contained, for example, in an amount of about 10 to 95% by weight with respect to the total weight of the support member 13.

支持部材13の外形は、例えば、円柱、四角柱等の多角柱、円錐台、四角錐台等の多角錐台にすることができ、さらに、一部が凸レンズ状又は凹レンズ状であってもよい。特に、基体11の長手方向(x方向)に細長い形状を有していることが好ましい(図1A参照)。基体11の短手方向(y方向)に沿った面を有することが好ましい。   The outer shape of the support member 13 may be, for example, a polygonal prism such as a cylinder or a square prism, a truncated cone, or a truncated pyramid, and a part may be a convex lens shape or a concave lens shape. . In particular, it is preferable that the base 11 has an elongated shape in the longitudinal direction (x direction) (see FIG. 1A). It is preferable to have a surface along the short direction (y direction) of the substrate 11.

平面視において、支持部材13の長手方向(x方向)に沿った側面の少なくとも一方、好ましくは両方が、基体11の長手方向(x方向)に沿った側面と同一面を形成することが好ましい。支持部材13のx方向に沿った側面自体が発光装置10の外面となり、発光装置10を小型にすることができる。   In plan view, it is preferable that at least one of the side surfaces along the longitudinal direction (x direction) of the support member 13, preferably both, form the same surface as the side surface along the longitudinal direction (x direction) of the substrate 11. The side surface itself along the x direction of the support member 13 becomes the outer surface of the light emitting device 10, and the light emitting device 10 can be reduced in size.

平面視において、支持部材13は、発光素子12よりも大きいことが好ましい。特に、支持部材13の最外形の長手方向の長さは、発光素子の一辺の1.1〜4.0倍程度好ましい。具体的には、100〜1000μm程度が好ましく、200〜800μm程度がより好ましい。支持部材13の厚さ(平面視したときの発光素子12の側面から支持部材13幅)は、例えば、1〜100μm程度が挙げられ、5〜80μm程度、10〜50μm程度が好ましい。   In plan view, the support member 13 is preferably larger than the light emitting element 12. In particular, the length in the longitudinal direction of the outermost shape of the support member 13 is preferably about 1.1 to 4.0 times one side of the light emitting element. Specifically, about 100 to 1000 μm is preferable, and about 200 to 800 μm is more preferable. The thickness of the support member 13 (the width of the support member 13 from the side surface of the light emitting element 12 when viewed in plan) is, for example, about 1 to 100 μm, and preferably about 5 to 80 μm and about 10 to 50 μm.

(第1電極19及び第2電極20)
第1電極19及び第2電極20は、例えば、Au、Pt、Pd、Rh、Ni、W、Mo、Cr、Ti又はこれらの合金の膜を1層又は複数層積層して形成することができる第1電極19及び第2電極20は。具体的には、半導体積層体18側からTi/Rh/Au、W/Pt/Au、Rh/Pt/Au、W/Pt/Au、Ni/Pt/Au、Ti/Rh等のように積層された積層膜が挙げられる。
(First electrode 19 and second electrode 20)
The first electrode 19 and the second electrode 20 can be formed, for example, by laminating one or more films of Au, Pt, Pd, Rh, Ni, W, Mo, Cr, Ti, or an alloy thereof. The first electrode 19 and the second electrode 20. Specifically, lamination is performed from the semiconductor laminate 18 side such as Ti / Rh / Au, W / Pt / Au, Rh / Pt / Au, W / Pt / Au, Ni / Pt / Au, Ti / Rh, and the like. And a laminated film.

第1電極19及び第2電極20は、それぞれ第1導電型半導体層18a及び第2導電型半導体層18cに近い側に、活性層18bから出射される光に対する反射率の高い材料層が配置されることが好ましい。反射率が高い材料層としては、例えば、Ag、Ag合金、Alの層が挙げられる。Ag層又はAg合金層を用いる場合には、Agのマイグレーションを抑制するために、その表面を被覆層で覆うのが好ましい。被覆層としては、例えば、Al、Cu、Ni又はその合金の層が利用できる。   In the first electrode 19 and the second electrode 20, a material layer having a high reflectance with respect to light emitted from the active layer 18b is disposed on the side close to the first conductive semiconductor layer 18a and the second conductive semiconductor layer 18c, respectively. Is preferred. Examples of the material layer having a high reflectance include an Ag layer, an Ag alloy layer, and an Al layer. In the case of using an Ag layer or an Ag alloy layer, in order to suppress migration of Ag, it is preferable to cover the surface with a covering layer. As the covering layer, for example, a layer of Al, Cu, Ni or an alloy thereof can be used.

(接合部材21)
発光素子12の電極19、20と基体11の接続端子15、16とは、接合部材21で接合される。接合部材21に好適な材料としては、例えば、錫-ビスマス系、錫-銅系、錫-銀系、金-錫系などの半田(具体的には、AgとCuとSnとを主成分とする合金、CuとSnとを主成分とする合金、BiとSnとを主成分とする合金等)、共晶合金(AuとSnとを主成分とする合金、AuとSiとを主成分とする合金、AuとGeとを主成分とする合金等)銀、金、パラジウムなどの導電性ペースト、バンプ、異方性導電材、低融点金属などのろう材等が挙げられる。
(Jointing member 21)
The electrodes 19 and 20 of the light emitting element 12 and the connection terminals 15 and 16 of the base 11 are bonded by a bonding member 21. Suitable materials for the bonding member 21 include, for example, tin-bismuth, tin-copper, tin-silver, gold-tin solders (specifically, Ag, Cu and Sn as main components) Alloys, alloys containing Cu and Sn as main components, alloys containing Bi and Sn as main components, eutectic alloys (alloys containing Au and Sn as main components, Au and Si as main components Alloys, alloys containing Au and Ge as main components, and the like) conductive pastes such as silver, gold and palladium, bumps, anisotropic conductive materials, brazing materials such as low melting point metals, and the like.

(波長変換部材14)
波長変換部材14は、蛍光体と、透光性材料とを含む。透光性材料は、発光素子12から出射される光の60%以上を透過する材料、より好ましくは、70%、80%又は90%以上を透過する材料である。透光性材料としては、樹脂材料が好ましく、例えば、シリコーン樹脂、シリコーン変性樹脂、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、ポリカーボネート樹脂、アクリル樹脂、TPX樹脂、ポリノルボルネン樹脂、又はこれらの樹脂を1種以上含むハイブリッド樹脂等の樹脂、ガラス等が挙げられる。シリコーン樹脂又はエポキシ樹脂が好ましく、特に耐光性、耐熱性に優れるシリコーン樹脂がより好ましい。
(Wavelength conversion member 14)
The wavelength conversion member 14 includes a phosphor and a translucent material. The translucent material is a material which transmits 60% or more of the light emitted from the light emitting element 12, more preferably a material which transmits 70%, 80% or 90% or more. As the translucent material, a resin material is preferable. For example, a silicone resin, a silicone-modified resin, an epoxy resin, a phenol resin, a polycarbonate resin, an acrylic resin, a TPX resin, a polynorbornene resin, or a hybrid containing one or more of these resins Resins such as resin, glass and the like can be mentioned. A silicone resin or an epoxy resin is preferable, and in particular, a silicone resin excellent in light resistance and heat resistance is more preferable.

蛍光体は、発光素子12からの光で励起されるものを用いる。例えば、セリウムで賦活されたイットリウム・アルミニウム・ガーネット(YAG)系蛍光体、セリウムで賦活されたルテチウム・アルミニウム・ガーネット(LAG)、ユウロピウム及び/又はクロムで賦活された窒素含有アルミノ珪酸カルシウム(CaO−Al−SiO)系蛍光体、ユウロピウムで賦活されたシリケート((Sr,Ba)SiO)系蛍光体、βサイアロン蛍光体、CASN系又はSCASN系蛍光体等の窒化物系蛍光体、KSF系蛍光体(KSiF:Mn)、硫化物系蛍光体などが挙げられる。これらの蛍光体を、青色光又は紫外線を発する発光素子12と適宜組み合わせることにより、様々な色の発光装置(例えば白色系の発光装置)を製造することができる。 A phosphor that is excited by light from the light emitting element 12 is used. For example, a cerium-activated yttrium aluminum garnet (YAG) phosphor, a cerium-activated lutetium aluminum garnet (LAG), a europium and / or a chromium-activated nitrogen-containing calcium aluminosilicate (CaO- Al 2 O 3 -SiO 2 ) phosphors, europium-activated silicate ((Sr, Ba) 2 SiO 4 ) phosphors, β sialon phosphors, nitride phosphors such as CASN or SCASN phosphors, etc. , KSF phosphors (K 2 SiF 6 : Mn), sulfide phosphors and the like. By appropriately combining these phosphors with the light emitting element 12 that emits blue light or ultraviolet light, light emitting devices of various colors (for example, white light emitting devices) can be manufactured.

波長変換部材14は、充填材(例えば、拡散剤、着色剤等)を含んでいてもよい。例えば、シリカ、酸化チタン、酸化ジルコニウム、酸化マグネシウム、ガラスが挙げられる。   The wavelength conversion member 14 may contain a filler (for example, a diffusing agent, a colorant, etc.). Examples thereof include silica, titanium oxide, zirconium oxide, magnesium oxide, and glass.

蛍光体及び/又は充填材の含有量は、例えば、波長変換部材14の全重量に対して10〜80重量%程度が好ましい。   The content of the phosphor and / or filler is preferably about 10 to 80% by weight with respect to the total weight of the wavelength conversion member 14, for example.

以下に本発明の一実施形態に係る発光装置の製造方法の実施例を、具体的に説明する。   Examples of the method for manufacturing a light emitting device according to an embodiment of the present invention will be specifically described below.

実施例1
この実施例で製造する発光装置10は、図1A及び1Bに示すように、基体11、発光素子12、支持部材13、及び波長変換部材14を備える。
Example 1
The light emitting device 10 manufactured in this embodiment includes a base 11, a light emitting element 12, a support member 13, and a wavelength conversion member 14 as shown in FIGS. 1A and 1B.

基体11の母材11aは、ナフタレン系のエポキシ樹脂を含有するBT樹脂組成物を、市販のガラスクロスに含浸させて形成する。接続端子15、16は、母材11a側から、Cu/Ni/Au(合計厚さ:20μm)を積層して形成する。   The base material 11a of the base 11 is formed by impregnating a commercially available glass cloth with a BT resin composition containing a naphthalene-based epoxy resin. The connection terminals 15 and 16 are formed by laminating Cu / Ni / Au (total thickness: 20 μm) from the side of the base material 11 a.

発光素子12は、透光性基板17としてサファイア基板(厚さ:50μm)と、その上に形成された半導体積層体(厚さ:8〜12μm程度)18とを含む。半導体積層体18は、サファイア基板17とは反対側の表面(図1Dの下面18d)に、正負一対の電極19、20を有する。発光素子12は、その正負一対の電極19、20が、基体11の一対の接続端子15、16に、それぞれ、接合部材21としてAu−Sn共晶半田(厚さ:20μm)によって接続されている。
発光素子12は、青色光(発光中心波長455nm)を発光するLEDを用いる。LEDは、長さ(長手方向(x方向)の寸法)が1100μm、幅(短手方向(y方向)の寸法)230μm、厚さ(z方向の寸法)が100μmの直方体状である。
The light emitting element 12 includes a sapphire substrate (thickness: 50 μm) as a translucent substrate 17 and a semiconductor laminate (thickness: about 8 to 12 μm) 18 formed thereon. The semiconductor laminate 18 has a pair of positive and negative electrodes 19 and 20 on the surface (the lower surface 18 d in FIG. 1D) opposite to the sapphire substrate 17. The light emitting element 12 has its positive and negative electrodes 19 and 20 connected to the pair of connection terminals 15 and 16 of the base 11 by Au-Sn eutectic solder (thickness: 20 μm) as the bonding member 21 respectively. .
The light emitting element 12 uses an LED that emits blue light (emission center wavelength 455 nm). The LED is a rectangular parallelepiped having a length (dimension in the longitudinal direction (x direction)) of 1100 μm, a width (dimension in the short direction (y direction)) 230 μm, and a thickness (dimension in the z direction) of 100 μm.

支持部材13は、外形寸法が、長さが1200μm、幅が300μm、厚さが150μmの略直方体状に成形されている。支持部材13の長手方向(x方向)に沿った側面は、基体11の長手方向(x方向)に沿った側面と同一面を形成している。支持部材13の第1部分13aにより、発光素子12の側面の全周を被覆する。発光素子12と基体11との隙間には、支持部材13の第2部分13bが、第1部分13aと一体的に設けられている。支持部材13の上面13uは、発光素子12の上面12uと略一致している(図1D参照)。支持部材13は、平均粒径14μmのシリカと、平均粒径0.25〜0.3μmの酸化チタンとを含むシリコーン樹脂から形成した。シリカと酸化チタンは、支持部材13の全重量に対して、それぞれ2〜2.5wt%及び40〜50wt%で含有する。   The supporting member 13 is formed in a substantially rectangular parallelepiped shape having an outer dimension of 1200 μm in length, 300 μm in width, and 150 μm in thickness. The side surface along the longitudinal direction (x direction) of the support member 13 forms the same surface as the side surface along the longitudinal direction (x direction) of the base body 11. The first portion 13 a of the support member 13 covers the entire circumference of the side surface of the light emitting element 12. In the gap between the light emitting element 12 and the base 11, the second portion 13b of the support member 13 is provided integrally with the first portion 13a. The upper surface 13 u of the support member 13 substantially coincides with the upper surface 12 u of the light emitting element 12 (see FIG. 1D). The support member 13 was formed of a silicone resin containing silica having an average particle diameter of 14 μm and titanium oxide having an average particle diameter of 0.25 to 0.3 μm. Silica and titanium oxide are contained at 2 to 2.5 wt% and 40 to 50 wt%, respectively, with respect to the total weight of the support member 13.

発光素子12の上面12uに波長変換部材14(厚さ:20μm)が配置されている。この波長変換部材14は、YAG:Ce蛍光体を含有するシリコーン樹脂により形成されている。波長変換部材14は、支持部材13の上面13uも被覆している。波長変換部材14の外周縁は、支持部材13の上面13uの外周縁と一致している。   A wavelength conversion member 14 (thickness: 20 μm) is disposed on the upper surface 12 u of the light emitting element 12. The wavelength conversion member 14 is formed of a silicone resin containing a YAG: Ce phosphor. The wavelength conversion member 14 also covers the upper surface 13 u of the support member 13. The outer peripheral edge of the wavelength conversion member 14 matches the outer peripheral edge of the upper surface 13 u of the support member 13.

本実施例の発光装置10は、以下の製造方法によって製造することができる。まず、実施形態1の第1工程に従って、透光性基板170と、その第1の主面171上に配置された半導体積層体18と、半導体積層体18の下面18dに配置された一対の電極19、20とを備える発光素子120を準備する(図1D、図2H)。透光性基板170の側面173には、レーザスクライブによる変質部M(光吸収部Abs)が形成されている。図2Fにおいて、z方向の各寸法は、透光性基板170が約125μm、第1の主面171側の透光部Trが約80μm、変質部Mが約24μm、第2の主面172側の透光部Trが21μmである。図3A、図3Bに示したように、一対の接続端子15、16を備える基体11を準備する。この基体11に、図3Cに示すように、接続端子15、16の上に、接合部材21(半田)のバンプを形成する。発光素子120の一対の電極19、20をそれぞれ接続端子15、16上の接合部材21に対向するように、フリップチップで配置し、250℃で加熱して接合部材21をリフローし、冷却する。このようにして、基体11の上面11u上に発光素子12が接合される(図3D参照)。   The light emitting device 10 of this embodiment can be manufactured by the following manufacturing method. First, according to the first step of the first embodiment, the translucent substrate 170, the semiconductor stacked body 18 disposed on the first main surface 171 and the pair of electrodes disposed on the lower surface 18d of the semiconductor stacked body 18 The light emitting element 120 provided with 19 and 20 is prepared (FIG. 1D, FIG. 2H). On the side surface 173 of the translucent substrate 170, a degenerated portion M (light absorbing portion Abs) by laser scribing is formed. In FIG. 2F, each dimension in the z direction is about 125 μm for the translucent substrate 170, about 80 μm for the translucent portion Tr on the first main surface 171 side, about 24 μm for the altered portion M, and about the second main surface 172 side. The light transmission part Tr of is 21 .mu.m. As shown in FIGS. 3A and 3B, the base 11 including the pair of connection terminals 15 and 16 is prepared. As shown in FIG. 3C, bumps of the joining member 21 (solder) are formed on the base 11 on the connection terminals 15 and 16. The pair of electrodes 19 and 20 of the light emitting element 120 are arranged in a flip chip so as to face the bonding member 21 on the connection terminals 15 and 16 respectively, and heated at 250 ° C. to reflow and cool the bonding member 21. In this way, the light emitting element 12 is bonded onto the upper surface 11u of the base 11 (see FIG. 3D).

その後、図3Eに示すように、発光素子120の全体を支持部材13で被覆する。支持部材13の被覆は、トランスファーモールドによって行う。このようなモールド法によって、発光素子120の側面に、支持部材13の第1部分13aを形成し、発光素子120と基体11との隙間に支持部材13の第2部分13bを配置することができる。   Thereafter, as shown in FIG. 3E, the entire light emitting element 120 is covered with the support member 13. The support member 13 is coated by transfer molding. By such a molding method, the first portion 13 a of the support member 13 can be formed on the side surface of the light emitting element 120, and the second portion 13 b of the support member 13 can be disposed in the gap between the light emitting element 120 and the base body 11. .

図3E〜図3Fに示すように、発光素子120の基板170の第2の主面172側から、発光素子12の基板170と支持部材13の第1部分13aを、研削装置を用いて薄くする。研削用砥石としては、基板17よりも硬い材料(例えばダイヤモンド、SiC)から形成された研削ホイールを用い、加工レートを、例えば0.05〜5μm/秒程度に設定する。この実施例では、基板17が厚さ50μmになるまで、基板170と支持部材13とを同時に薄くする。光性基板170の側面173の変質部M(図2F)は除去される。研削後の発光素子12では、支持部材13の上面13uと発光素子12の基板17の上面17uとが面一となる(図3F)。   As shown in FIGS. 3E to 3F, the substrate 170 of the light emitting element 12 and the first portion 13a of the support member 13 are thinned from the second main surface 172 side of the substrate 170 of the light emitting element 120 using a grinding device. . As a grinding wheel for grinding, a grinding wheel formed from a material (for example, diamond, SiC) harder than the substrate 17 is used, and a processing rate is set to, for example, about 0.05 to 5 μm / second. In this embodiment, the substrate 170 and the support member 13 are simultaneously thinned until the substrate 17 has a thickness of 50 μm. The altered portion M (FIG. 2F) on the side surface 173 of the optical substrate 170 is removed. In the light emitting element 12 after grinding, the upper surface 13u of the support member 13 and the upper surface 17u of the substrate 17 of the light emitting element 12 are flush with each other (FIG. 3F).

基板17の上面17uに表面処理を施す。例えば、基板17の上面に格子状又は線状の溝又は山を形成する加工、レンズ形状への加工などが挙げられる。これらの表面処理は、公知の方法及び条件を適宜設定して利用することができる。次に、図3Gに示すように、基体11の上面11uと支持部材13の外側面とを覆う保護部材Pを設ける。と発光素子12の基板17の上面17uと支持部材13の上面に、波長変換部材14をパルススプレー法によって被覆する。   The top surface 17 u of the substrate 17 is subjected to surface treatment. For example, the process which forms a grid | lattice-like or linear groove | channel or peak in the upper surface of the board | substrate 17, processing to a lens shape, etc. are mentioned. These surface treatments can be used by appropriately setting known methods and conditions. Next, as shown in FIG. 3G, a protective member P that covers the upper surface 11u of the base 11 and the outer surface of the support member 13 is provided. The wavelength conversion member 14 is coated on the upper surface 17u of the substrate 17 of the light emitting element 12 and the upper surface of the support member 13 by a pulse spray method.

最後に、保護部材Pを除去して、発光装置10を得る(図1C)。   Finally, the protective member P is removed to obtain the light emitting device 10 (FIG. 1C).

実施例2
実施例2における発光装置10Aの製造方法では、発光素子12の透光性基板170と支持部材13とを薄くするのに、支持部材13が削れやすく、透光性基板170が削れにくい砥石(例えばアルミナ砥石)を用いて研削する。その結果、図7に示すように、支持部材13の上面13uが、発光素子12の透光性基板17の上面17uよりも若干(例えば、5μm程度)低くすることができる。
Example 2
In the manufacturing method of the light-emitting device 10A in Example 2, although the light-transmitting substrate 170 and the support member 13 of the light-emitting element 12 are made thin, the support member 13 is easily scraped and the light-transmitting substrate 170 is difficult to scrape (for example, Grind using an alumina grindstone. As a result, as shown in FIG. 7, the upper surface 13 u of the support member 13 can be slightly lower (for example, about 5 μm) than the upper surface 17 u of the translucent substrate 17 of the light emitting element 12.

なお、本発明は、実施形態及び実施例で例示した側面発光型(サイドビュータイプと称される)の発光装置10以外にも、上面発光型(トップビュータイプと称される)の発光装置にも適用することができる。   In addition to the side light emitting type (referred to as a side view type) light emitting device 10 exemplified in the embodiments and examples, the present invention is applied to a light emitting device of an upper surface light emitting type (referred to as a top view type). Can also be applied.

本発明の実施形態に係る発光装置の製造方法は、液晶ディスプレイのバックライト光源、各種照明器具、大型ディスプレイ、広告、行き先案内等の各種表示装置、さらには、デジタルビデオカメラ、ファクシミリ、コピー機、スキャナ等における画像読取装置、プロジェクタ装置などに用いることができる発光装置を製造するために利用することができる。   A method of manufacturing a light emitting device according to an embodiment of the present invention includes a backlight light source of a liquid crystal display, various lighting fixtures, a large display, various display devices such as an advertisement and a destination guide, and a digital video camera, a facsimile machine, a copier, The present invention can be used to manufacture a light emitting device that can be used for an image reading device in a scanner or the like, a projector device, or the like.

10、10A、40 発光装置
11 基体
11a、11b、82 母材
11c、11d スルーホール
12 発光素子
120 加工前の発光素子
13 支持部材
14 波長変換部材
15、15a、16、16a、 接続端子
17 透光性基板
170 加工前の透光性基板
18 半導体積層体
19、20 電極
21 接合部材
22 複合接続端子
24 複合基体
24a 母材
25 スリット
44 複合基体
45、45a、46 複合接続端子
Tr 透光部
M 変質部
Abs 光吸収部
10, 10A, 40 Light-emitting device 11 Base body 11a, 11b, 82 Base material 11c, 11d Through hole 12 Light-emitting element 120 Light-emitting element before processing 13 Support member 14 Wavelength converting member 15, 15a, 16, 16a, Connection terminal 17 Translucent light Transparent substrate 170 translucent substrate before processing 18 semiconductor laminate 19, 20 electrode 21 bonding member 22 composite connection terminal 24 composite substrate 24a base material 25 slit 44 composite substrate 45, 45a, 46 composite connection terminal Tr light transmitting portion M deterioration Part Abs light absorption part

Claims (7)

第1の主面と、第2の主面と、透光部及び当該透光部より光透過率の低い光吸収部を有する側面とを備える透光性基板と、前記透光性基板の前記第1の主面上に備えられた半導体積層体と、を含む発光素子を準備する第1工程と、
上面に接続端子を備えた基体の上面に、前記半導体積層体が設けられた側を対向させて前記発光素子を接合する第2工程と、
前記発光素子の側面と前記基体の一部とを覆い、前記基体の上面の接続端子の一部を露出する支持部材を設ける第3工程と、
前記第3工程より後に、前記透光性基板を、前記第2の主面側から、1μm〜100μmの厚みまで薄くして、前記光吸収部を除去する第4工程と、
前記第4工程より後に、前記支持部材の側面及び前記支持部材から露出する前記接続端子の上面を保護部材で被覆した状態で前記発光素子の上面に波長変換部材を形成する第5工程とを含む発光装置の製造方法。
A translucent substrate comprising a first main surface, a second main surface, a translucent portion and a side surface having a light absorbing portion having a light transmittance lower than that of the translucent portion, and the translucent substrate A first step of preparing a light emitting device including a semiconductor laminate provided on the first main surface;
A second step of bonding the light emitting element such that the side provided with the semiconductor laminate is opposed to the upper surface of the base having the connection terminal on the upper surface;
Have covered a part of the side surface and the base of the light emitting element, a third step of providing a support member to expose a portion of the connection terminals of the upper surface of the substrate,
After the third step, reducing the thickness of the light-transmissive substrate to a thickness of 1 μm to 100 μm from the second main surface side, and removing the light absorbing portion;
And a fifth step of forming a wavelength conversion member on the upper surface of the light emitting element in a state where the side surface of the support member and the upper surface of the connection terminal exposed from the support member are covered with a protective member after the fourth step. Manufacturing method of light-emitting device.
前記支持部材は、前記透光性基板の前記第2の主面まで覆っている請求項1に記載の製造方法。   The manufacturing method according to claim 1, wherein the support member covers up to the second main surface of the translucent substrate. 前記支持部材は、前記発光素子と前記基体の前記上面との間の隙間を満たしている、請求項1又は2に記載の製造方法。   The method according to claim 1, wherein the support member fills a gap between the light emitting element and the upper surface of the base. 前記発光素子は、
前記透光性基板を形成するためのウェーハ上に、複数の半導体層を積層する工程と、
前記ウェーハの分割線に沿って、前記透光性基板にレーザを照射して前記光吸収部を形成する工程と、
前記光吸収部に沿って複数の前記発光素子に分割する工程と、を含む方法によって製造された発光素子である、請求項1〜3のいずれか1項に記載の製造方法。
The light emitting element is
Laminating a plurality of semiconductor layers on the wafer for forming the translucent substrate;
Irradiating the light-transmitting substrate with a laser along the dividing line of the wafer to form the light absorbing portion;
The manufacturing method according to any one of claims 1 to 3, wherein the light emitting element is manufactured by a method including: a step of dividing the light absorbing portion into a plurality of the light emitting elements.
前記光吸収部は、前記第1工程においては、前記透光性基板の前記第2の主面から離れた位置に設けられている、請求項1〜4のいずれか1項に記載の製造方法。   The said light absorption part is a manufacturing method of any one of Claims 1-4 provided in the position away from the said 2nd main surface of the said translucent board | substrate in the said 1st process. . 前記支持部材は、光反射材を含有する樹脂である、請求項1〜5のいずれか1項に記載の製造方法。   The manufacturing method according to any one of claims 1 to 5, wherein the support member is a resin containing a light reflecting material. 前記第2工程において、前記基体の前記上面に、複数の前記発光素子が載置され、
前記第3工程において、隣接する前記発光素子の間が前記支持部材によって満たされており、
前記第4工程より後に、前記基体を、1つの前記発光素子を備えた発光装置に分割する工程をさらに含む、請求項1〜のいずれか1項に記載の製造方法。

In the second step, a plurality of the light emitting elements are mounted on the upper surface of the base,
In the third step, the space between the adjacent light emitting elements is filled with the support member,
The manufacturing method according to any one of claims 1 to 6 , further comprising the step of dividing the substrate into a light emitting device provided with one light emitting element after the fourth step.

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