JP7045614B2 - Bonding equipment - Google Patents

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本発明は、ボンディングツールによってチップを保持して基板のボンディング装置に関する。 The present invention relates to a substrate bonding apparatus in which a chip is held by a bonding tool.

半導体デバイスの製造過程では、半導体チップ(以下、単に「チップ」と略記する。)を超音波接合などによって基板に接合するボンディング工程が実行される。ボンディングには高い位置精度が求められるため、ボンディング時の位置誤差を画像認識によって補正する方法が広く用いられている。ボンディングの対象となるチップが下面に接続用のバンプを有するフリップチップである場合には、ボンディングに先立って基板の上面とチップの下面の両面を同時に撮像して位置補正を行う技術が知られている(例えば特許文献1)。 In the process of manufacturing a semiconductor device, a bonding step of bonding a semiconductor chip (hereinafter, simply abbreviated as "chip") to a substrate by ultrasonic bonding or the like is executed. Since high position accuracy is required for bonding, a method of correcting a position error during bonding by image recognition is widely used. When the chip to be bonded is a flip chip having a bump for connection on the lower surface, a technique is known in which both the upper surface of the substrate and the lower surface of the chip are simultaneously imaged and position-corrected prior to bonding. (For example, Patent Document 1).

この特許文献例に示す先行技術では、半導体装置の製造に用いられるフリップチップボンダに、ボンディング直前の対向した状態のチップとキャリアテープとに設けられた接続用の電極を同時に観察する電極位置観察機構を設けている。この電極位置観察機構では、退避可能に設けられたプリズム型ミラーをチップとキャリアテープとの間に進出させ、プリズム型ミラーの二つの反射面に映じた画像をカメラによって取り込むようにしている。 In the prior art shown in this example of the patent document, an electrode position observation mechanism for simultaneously observing a connection electrode provided on a carrier tape and a chip in a state facing each other immediately before bonding on a flip chip bonder used for manufacturing a semiconductor device. Is provided. In this electrode position observation mechanism, a prism-type mirror provided so as to be retractable is advanced between the chip and the carrier tape, and the image reflected on the two reflecting surfaces of the prism-type mirror is captured by the camera.

特開2001-176934号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2001-176934

しかしながら、上述の特許文献例に示す先行技術には、高い位置精度を確保しながら高生産性を実現する上で以下のような課題があった。すなわち、ボンディング装置において生産性を向上させるためには、個々のボンディング動作におけるボンディングツールの昇降高さを小さくして、タクトタイムを短縮することが求められる。ところが上述の電極位置観察機構では、ボンディングツールに保持されたチップとキャリアテープとの間にプリズム型ミラーを進出させる必要があることから、ボンディング直前におけるボンディングツールの待機高さはプリズム型ミラーの厚み寸法によって制約される。このため、個々のボンディング動作におけるボンディングツールの昇降高さを小さくしてタクトタイムを短縮することが難しく、生産性の向上を阻害する結果となる。このように従来技術のボンディング装置には、高い位置精度を確保しながら高生産性を実現することが難しいという課題があった。 However, the prior art shown in the above-mentioned example of the patent document has the following problems in achieving high productivity while ensuring high position accuracy. That is, in order to improve the productivity of the bonding apparatus, it is required to reduce the ascending / descending height of the bonding tool in each bonding operation to shorten the tact time. However, in the above-mentioned electrode position observation mechanism, since it is necessary to advance the prism type mirror between the chip held by the bonding tool and the carrier tape, the standby height of the bonding tool immediately before bonding is the thickness of the prism type mirror. Constrained by dimensions. For this reason, it is difficult to reduce the elevating height of the bonding tool in each bonding operation to shorten the tact time, which results in hindering the improvement of productivity. As described above, the conventional bonding apparatus has a problem that it is difficult to realize high productivity while ensuring high position accuracy.

そこで本発明は、高い位置精度を確保しながら高生産性を実現することができるボンディング装置を提供することを目的とする。 Therefore, an object of the present invention is to provide a bonding apparatus capable of achieving high productivity while ensuring high position accuracy.

本発明のボンディング装置は、ボンディングツールがチップを保持し、前記チップと対向するように基板が載置されるステージの方向に前記ボンディングツールを下降させて前記チップを前記基板のボンディング位置に接合するボンディング装置において、前記ボンディング位置の上方に位置する前記チップと前記基板との間に位置した際に、前記チップの像を前記チップに対向する第1の入射口から入射させ前記第1の入射口から水平方向に離間した第1の出射口から上方に出射させるとともに、前記基板の前記ボンディング位置の像を前記ボンディング位置と対向する第2の入射口から入射させ前記第1の入射口から水平方向に離間した第2の出射口から上方に出射させる可動導光体と、前記第1の出射口から出射された前記チップの像を入射させ出射させる第1の導光体と、前記第1の導光体から出射された前記チップの像を撮像する第1の撮像部と、前記第2の出射口から出射された前記ボンディング位置の像を入射させ出射させる第2の導光体と、前記第2の導光体から出射された前記ボンディング位置の像を撮像する第2の撮像部と、前記第1の撮像部によって撮像された前記チップの像と前記第2の撮像部によって撮像された前記ボンディング位置の像に基づいて、前記チップと前記ボンディング位置の相対的な位置ずれを検出する検出手段と、前記検出手段によって検出された前記位置ずれに基づいて、前記ボンディングツールと前記ステージを相対的に移動させるアライメント手段と、前記ボンディング位置の上方に位置する前記チップと前記基板との間の空間に前記可動導光体を進退させる移動手段と、前記第1の撮像部と前記第2の撮像部とを前記第1の導光体と前記第2の導光体に対して相対的に移動させる撮像部移動手段と、を備える。 In the bonding apparatus of the present invention, the bonding tool holds the chip, and the bonding tool is lowered in the direction of the stage on which the substrate is placed so as to face the chip, and the chip is bonded to the bonding position of the substrate. In the bonding apparatus, when the image of the chip is incident between the chip located above the bonding position and the substrate, the image of the chip is incident from the first incident port facing the chip and the first incident port is used. The light is emitted upward from the first exit port horizontally separated from the light source, and the image of the bonding position of the substrate is incident from the second incident port facing the bonding position in the horizontal direction from the first incident port. A movable light guide body that emits light upward from a second exit port separated from the above, a first light guide body that incidents and emits an image of the chip emitted from the first exit port, and the first light guide body. A first image pickup unit that captures an image of the chip emitted from the light guide, a second light guide that incidents and emits an image of the bonding position emitted from the second outlet, and the above. The image of the chip imaged by the second imaging unit, the image of the chip imaged by the first imaging unit, and the image captured by the second imaging unit are captured by the second imaging unit that captures the image of the bonding position emitted from the second light guide. The bonding tool and the stage are relative to each other based on the detection means for detecting the relative positional deviation between the chip and the bonding position based on the image of the bonding position and the positional deviation detected by the detecting means. The alignment means for moving the movable light guide body in the space between the chip and the substrate located above the bonding position, the first image pickup unit and the second image pickup unit, and the second image pickup unit. The image pickup unit moving means for moving the image pickup unit relative to the first light guide body and the second light guide body is provided.

本発明のボンディング装置は、ボンディングツールがチップを保持し、前記チップと対向するように基板が載置されるステージの方向に前記ボンディングツールを下降させて前記チップを前記基板のボンディング位置に接合するボンディング装置において、前記ボンディング位置の上方に位置する前記チップと前記基板との間に位置した際に、前記チップの像を前記チップに対向する第1の入射口から入射させ前記第1の入射口から水平方向に離間した第1の出射口から上方に出射させるとともに、前記基板の前記ボンディング位置の像を前記ボンディング位置と対向する第2の入射口から入射させ前記第1の入射口から水平方向に離間した第2の出射口から上方に出射させる可動導光体と、前記第1の出射口から出射された前記チップの像の一部である第1の部分像を入射させ出射させる第1の導光体と、前記第1の導光体から出射された前記第1の部分像を撮像する第1の撮像部と、前記第2の出射口から出射された前記ボンディング位置の像の一部である第2の部分像を入射させ出射させる第2の導光体と、前記第2の導光体から出射された前記第2の部分像を撮像する第2の撮像部と、前記第1の出射口から出射された前記チップの像の前記第1の部分像とは異なる一部である第3の部分像を入射させ出射させる第3の導光体と、前記第3の導光体から出射された前記第3の部分像を撮像する第3の撮像部と、前記第2の出射口から出射された前記ボンディング位置の像の前記第2の部分像とは異なる一部である第4の部分像を入射させ出射させる第4の導光体と、前記第4の導光体から出射された前記第4の部分像を撮像する第4の撮像部と、前記第1の撮像部によって撮像された前記第1の部分像と前記第2の撮像部によって撮像された前記第2の部分像と前記第3の撮像部によって撮像された前記第3の部分像と前記第4の撮像部によって撮像された前記第4の部分像に基づいて、前記チップと前記ボンディング位置の相対的な位置ずれを検出する検出手段と、前記検出手段によって検出された前記位置ずれに基づいて、前記ボンディングツールと前記ステージを相対的に移動させるアライメント手段と、前記ボンディング位置の上方に位置する前記チップと前記基板との間の空間に前記可動導光体を進退させる移動手段と、前記第1の撮像部と前記第2の撮像部と前記第3の撮像部と前記第4の撮像部とを、前記第1の導光体と前記第2の導光体と前記第3の導光体と前記第4の導光体に対して相対的に移動させる撮像部移動手段と、を備える。 In the bonding apparatus of the present invention, the bonding tool holds the chip, and the bonding tool is lowered in the direction of the stage on which the substrate is placed so as to face the chip, and the chip is bonded to the bonding position of the substrate. In the bonding apparatus, when the image of the chip is incident between the chip located above the bonding position and the substrate, the image of the chip is incident from the first incident port facing the chip and the first incident port is used. The light is emitted upward from the first exit port horizontally separated from the light source, and the image of the bonding position of the substrate is incident from the second incident port facing the bonding position in the horizontal direction from the first incident port. A movable light guide body that emits light upward from a second exit port that is separated from the above, and a first partial image that is a part of an image of the chip emitted from the first exit port are incident and emitted. One of the light guide body, the first image pickup unit that captures the first partial image emitted from the first light guide body, and the image of the bonding position emitted from the second exit port. A second light guide body that incidents and emits a second partial image, which is a unit, a second image pickup unit that captures the second partial image emitted from the second light guide body, and the second image pickup unit. A third light guide body that incidents and emits a third partial image that is a part different from the first partial image of the image of the chip emitted from the exit port 1, and the third light guide. The third image pickup unit that captures the third partial image emitted from the body and the second partial image of the bonding position image emitted from the second exit port are different parts. A fourth light guide body that incidents and emits a fourth partial image, a fourth image pickup unit that captures the fourth partial image emitted from the fourth light guide body, and the first image pickup. The first partial image captured by the unit, the second partial image captured by the second imaging unit, the third partial image captured by the third imaging unit, and the fourth partial image. The detection means for detecting the relative positional deviation between the chip and the bonding position based on the fourth partial image captured by the imaging unit, and the positional deviation detected by the detection means. The first alignment means for relatively moving the bonding tool and the stage, and the moving means for moving the movable light guide body back and forth in the space between the chip and the substrate located above the bonding position. The image pickup unit, the second image pickup unit, the third image pickup unit, and the fourth image pickup unit The first light guide body, the second light guide body, the third light guide body, and the image pickup unit moving means for relatively moving the third light guide body and the fourth light guide body are provided.

本発明によれば、ボンディング装置において高い位置精度を確保しながら高生産性を実現することができる。 According to the present invention, high productivity can be realized while ensuring high position accuracy in the bonding apparatus.

本発明の一実施の形態のボンディング装置の斜視図Perspective view of the bonding apparatus according to the embodiment of the present invention. 本発明の一実施の形態のボンディング装置の側面図Side view of the bonding apparatus according to the embodiment of the present invention 本発明の一実施の形態のボンディング装置の正面図Front view of the bonding apparatus according to the embodiment of the present invention. 本発明の一実施の形態のボンディング装置に装備された撮像ユニットの下面図Bottom view of the image pickup unit equipped in the bonding apparatus according to the embodiment of the present invention. 本発明の一実施の形態のボンディング装置に装備された撮像ユニットの断面図Sectional drawing of the image pickup unit equipped in the bonding apparatus of one Embodiment of this invention 本発明の一実施の形態のボンディング装置の動作説明図An operation explanatory view of the bonding apparatus according to the embodiment of the present invention. 本発明の一実施の形態のボンディング装置における可動導光体の構成を示す斜視図A perspective view showing the configuration of a movable light guide body in the bonding apparatus according to the embodiment of the present invention. 本発明の一実施の形態のボンディング装置によるチップおよびボンディング位置の撮像に用いられる撮像部および取得される撮像視野の説明図Explanatory drawing of an image pickup unit used for image pickup of a chip and a bonding position by the bonding apparatus of one Embodiment of this invention, and an image pickup field of view acquired. 本発明の一実施の形態のボンディング装置によるチップおよびボンディング位置の撮像における画像取得経路の説明図Explanatory drawing of image acquisition path in image pickup of chip and bonding position by bonding apparatus of one Embodiment of this invention 本発明の一実施の形態のボンディング装置の光学ヘッドの構成説明図Schematic diagram of the configuration of the optical head of the bonding apparatus according to the embodiment of the present invention. 本発明の一実施の形態のボンディング装置における可動導光体に装備された上側照明部および下側照明部の構成説明図Schematic diagram of the configuration of the upper lighting unit and the lower lighting unit mounted on the movable light guide in the bonding apparatus according to the embodiment of the present invention. 本発明の一実施の形態のボンディング装置における可動光学ユニットの断面図Sectional drawing of the movable optical unit in the bonding apparatus of one Embodiment of this invention 本発明の一実施の形態のボンディング装置の制御系の構成を示すブロック図A block diagram showing a configuration of a control system of a bonding apparatus according to an embodiment of the present invention.

次に本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。まず図1、図2、図3を参照して、半導体チップなどのチップを基板のボンディング位置に接合する機能を有するボンディング装置1の構成を説明する。図1において、ボンディング装置1は、チップ供給部2、基板保持部3、ボンディング機構4およびこれらの各部を制御する制御部5を備えている。 Next, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. First, the configuration of the bonding apparatus 1 having a function of bonding chips such as semiconductor chips to the bonding positions of the substrate will be described with reference to FIGS. 1, 2, and 3. In FIG. 1, the bonding apparatus 1 includes a chip supply unit 2, a substrate holding unit 3, a bonding mechanism 4, and a control unit 5 that controls each of these units.

チップ供給部2はボンディング対象の部品であるチップを供給する機能を有している。図2に示すように、チップ供給部2は第1のXYテーブル10の上面に配置された供給ステージ11を備えている。供給ステージ11の上面にはウェハシート13が展張状態で保持されており、ウェハシート13の上面には個片に分割された状態のチップ14が、バンプが形成された能動面を上向きにした姿勢で貼着されている。第1のXYテーブル10を駆動することにより供給ステージ11はX方向、Y方向に移動し、取出対象の任意のチップ14を取出し位置[P1]に位置させることができる。 The chip supply unit 2 has a function of supplying a chip, which is a component to be bonded. As shown in FIG. 2, the chip supply unit 2 includes a supply stage 11 arranged on the upper surface of the first XY table 10. The wafer sheet 13 is held in a stretched state on the upper surface of the supply stage 11, and the chip 14 in a state of being divided into individual pieces is placed on the upper surface of the wafer sheet 13 in a posture in which the active surface on which the bump is formed faces upward. It is pasted with. By driving the first XY table 10, the supply stage 11 can move in the X direction and the Y direction, and can be positioned at the extraction position [P1] of any chip 14 to be extracted.

図1に示すように、ピックアップヘッド駆動部16から延出したアーム部の先端にはピックアップヘッド15が結合されている。ピックアップヘッド駆動部16を駆動することにより、ピックアップヘッド15は供給ステージ11の上方のチップ14の取出し位置[P1]とボンディング機構4への受渡位置ピックアップ位置[P2]との間で移動する。チップ14のピックアップにおいては、ウェハシート13の下面側に配置されたエジェクタ12を作動させることにより、ピックアップ対象のチップ14がウェハシート13から剥離される。剥離されたチップ14は、ピックアップヘッド15によって能動面を上向きにした姿勢で保持される。 As shown in FIG. 1, a pickup head 15 is coupled to the tip of an arm portion extending from the pickup head drive portion 16. By driving the pickup head drive unit 16, the pickup head 15 moves between the take-out position [P1] of the chip 14 above the supply stage 11 and the delivery position pickup position [P2] to the bonding mechanism 4. In the pickup of the chip 14, the chip 14 to be picked up is peeled off from the wafer sheet 13 by operating the ejector 12 arranged on the lower surface side of the wafer sheet 13. The peeled chip 14 is held by the pickup head 15 in a posture in which the active surface faces upward.

取出し位置[P1]にてチップ14を保持したピックアップヘッド15は上昇して、ボンディング機構4のボンディングヘッド26によるピックアップ位置[P2]まで移動する(矢印c)。この移動途中でピックアップヘッド15を上下反転させる(矢印d)ことにより、ピックアップヘッド15はピックアップ位置[P2]にてチップ14を能動面を下向きにした姿勢で保持した状態となる。ピックアップヘッド15およびピックアップヘッド駆動部16は、取出し位置[P1]にてチップ供給部2から取り出したチップ14を光学ヘッド30によるピックアップ位置[P2]に移送するチップ移送部17を構成する。 The pickup head 15 holding the chip 14 at the take-out position [P1] rises and moves to the pickup position [P2] by the bonding head 26 of the bonding mechanism 4 (arrow c). By turning the pickup head 15 upside down (arrow d) during this movement, the pickup head 15 is in a state of holding the chip 14 in a posture in which the active surface is facing downward at the pickup position [P2]. The pickup head 15 and the pickup head drive unit 16 constitute a chip transfer unit 17 that transfers the chip 14 taken out from the chip supply unit 2 at the take-out position [P1] to the pickup position [P2] by the optical head 30.

次に、基板保持部3の構成を説明する。図1,図2に示すように、第2のXYテーブル20の上面には、ボンディング対象の基板22を保持した基板保持ステージ21が配置されている。第2のXYテーブル20を駆動することにより基板保持ステージ21はX方向、Y方向に移動する。これにより、基板22に設定されたボンディング位置22a(図6参照)を作業位置[P3]に位置させることができる。このようにして作業位置[P3]に位置合わせされたボンディング位置22aに対して、以下に説明するボンディング機構4のボンディングツール29によってチップ14がボンディングされる。 Next, the configuration of the substrate holding portion 3 will be described. As shown in FIGS. 1 and 2, a substrate holding stage 21 holding the substrate 22 to be bonded is arranged on the upper surface of the second XY table 20. By driving the second XY table 20, the substrate holding stage 21 moves in the X direction and the Y direction. As a result, the bonding position 22a (see FIG. 6) set on the substrate 22 can be positioned at the working position [P3]. The chip 14 is bonded to the bonding position 22a aligned with the working position [P3] by the bonding tool 29 of the bonding mechanism 4 described below.

ボンディング機構4の構成を説明する。図1、図2に示すように、チップ供給部2および基板保持部3の上方には、Y軸フレーム23がY方向に水平に配置されている。Y軸フレーム23には2列のガイドレール25を備えたリニアモータ24が側面に沿って配置されている。ガイドレール25は基板保持ステージ21(ステージ)の上方で水平に延びている。ガイドレール25には、スライダ25a(図3)を介して第1の移動ベース26aがガイドレール25に沿って移動可能に装着されている。さらにガイドレール25には、第1の移動ベース26aとは独立してガイドレール25に沿って移動可能な第2の移動ベース30aが装着されている。 The configuration of the bonding mechanism 4 will be described. As shown in FIGS. 1 and 2, the Y-axis frame 23 is horizontally arranged in the Y direction above the chip supply unit 2 and the substrate holding unit 3. A linear motor 24 having two rows of guide rails 25 is arranged along the side surface of the Y-axis frame 23. The guide rail 25 extends horizontally above the substrate holding stage 21 (stage). A first moving base 26a is movably mounted on the guide rail 25 via the slider 25a (FIG. 3). Further, the guide rail 25 is equipped with a second moving base 30a that can move along the guide rail 25 independently of the first moving base 26a.

第1の移動ベース26aにはボンディングヘッド26が装着されている。ボンディングヘッド26は、ボンディングツール駆動部27により駆動されるボンディングツール保持部28によって、ボンディングツール29を保持した構成となっている。ボンディングツール29にチップ14を保持した状態でボンディングツール駆動部27を駆動することにより、ボンディングツール29は下降して、保持したチップ14を基板22のボンディング位置22aに接合する(図6参照)。すなわち本実施の形態に示すボンディング装置1では、ボンディングツール29がチップ14を保持し、チップ14と対向するように基板22が載置された基板保持ステージ21の方向にボンディングツール29を下降させて、チップ14を基板22のボンディング位置22aに接合する作業を行う。 A bonding head 26 is attached to the first moving base 26a. The bonding head 26 has a configuration in which the bonding tool 29 is held by the bonding tool holding unit 28 driven by the bonding tool driving unit 27. By driving the bonding tool driving unit 27 while the chip 14 is held by the bonding tool 29, the bonding tool 29 is lowered and the held chip 14 is bonded to the bonding position 22a of the substrate 22 (see FIG. 6). That is, in the bonding apparatus 1 shown in the present embodiment, the bonding tool 29 holds the chip 14, and the bonding tool 29 is lowered in the direction of the substrate holding stage 21 on which the substrate 22 is placed so as to face the chip 14. , The work of joining the chip 14 to the bonding position 22a of the substrate 22 is performed.

第2の移動ベース30aには、光源ボックス31が装着されている。図2に示すように、光源ボックス31の下部から下方に延出したアーム部31aには、可動導光体である可動プリズム32a(図7参照)を内蔵した可動光学ユニット32が結合されている。ここでアーム部31aはボンディングヘッド26側へ屈曲して設けられており、可動プリズム32aは、光学ヘッド30の中心に対してボンディングヘッド26側にオフセットした形態となっている。 A light source box 31 is mounted on the second moving base 30a. As shown in FIG. 2, a movable optical unit 32 having a movable prism 32a (see FIG. 7), which is a movable light guide, is coupled to an arm portion 31a extending downward from the lower part of the light source box 31. .. Here, the arm portion 31a is provided so as to be bent toward the bonding head 26, and the movable prism 32a is offset toward the bonding head 26 with respect to the center of the optical head 30.

リニアモータ24を駆動することにより、第1の移動ベース26aおよび第2の移動ベース30aはガイドレール25に沿って移動し、これによりボンディングヘッド26および光学ヘッド30はY方向に移動する。したがってリニアモータ24およびガイドレール25は、ボンディングヘッド26および光学ヘッド30を移動させる移動手段となっている。 By driving the linear motor 24, the first moving base 26a and the second moving base 30a move along the guide rail 25, whereby the bonding head 26 and the optical head 30 move in the Y direction. Therefore, the linear motor 24 and the guide rail 25 are moving means for moving the bonding head 26 and the optical head 30.

すなわちこの移動手段は、ボンディングヘッド26をボンディングツール29がチップ14をピックアップするピックアップ位置[P2]とチップ14のボンディングを行う作業位置[P3]との間を移動させ、可動プリズム32aを内蔵した可動光学ユニット32を作業位置[P3]に出し入れさせるために光学ヘッド30を移動させる。 That is, this moving means moves the bonding head 26 between the pickup position [P2] where the bonding tool 29 picks up the chip 14 and the working position [P3] where the chip 14 is bonded, and is movable with a movable prism 32a built-in. The optical head 30 is moved in order to move the optical unit 32 in and out of the working position [P3].

そして光学ヘッド30を移動させることにより、ボンディング位置22aの上方に位置するチップ14と基板22との間の空間に、可動光学ユニット32に内蔵された可動導光体である可動プリズム32aを進退させる機能を有している。このように、ボンディングヘッド26および光学ヘッド30を同一の移動手段によって動作させる構成とすることにより、ボンディング装置の機構を簡素化して設備コストを低減することが可能となっている。 Then, by moving the optical head 30, the movable prism 32a, which is a movable light guide body built in the movable optical unit 32, is moved back and forth in the space between the chip 14 located above the bonding position 22a and the substrate 22. It has a function. As described above, by configuring the bonding head 26 and the optical head 30 to operate by the same moving means, it is possible to simplify the mechanism of the bonding apparatus and reduce the equipment cost.

図3に示すように、Y軸フレーム23およびリニアモータ24の下面には、図4に示す撮像ユニット34が、撮像部移動手段である撮像部移動機構35のベース部35aを介してX方向、Y方向に移動自在に装着されている。撮像ユニット34は、カメラを個別に備えた4つの撮像部を有している。さらにリニアモータ24の下面には、図8,図9に示す上左プリズム45(第1の導光体)、上右プリズム46(第3の導光体)、下左プリズム47(第2の導光体)、下右プリズム48(第4の導光体)を内蔵した固定光学ユニット33が配置されている。本実施の形態においては、撮像ユニット34を可動光学ユニット32およびチップ14と基板22との間に進退する可動光学ユニット32と組み合わせることにより、チップ14と基板22とを撮像ユニット34によって撮像するようにしている。 As shown in FIG. 3, on the lower surfaces of the Y-axis frame 23 and the linear motor 24, the image pickup unit 34 shown in FIG. 4 is placed in the X direction via the base portion 35a of the image pickup section moving mechanism 35 which is the image pickup section moving means. It is mounted so that it can be moved in the Y direction. The image pickup unit 34 has four image pickup units individually provided with a camera. Further, on the lower surface of the linear motor 24, the upper left prism 45 (first light guide body), the upper right prism 46 (third light guide body), and the lower left prism 47 (second light guide body) shown in FIGS. A fixed optical unit 33 incorporating a light guide) and a lower right prism 48 (fourth light guide) is arranged. In the present embodiment, by combining the image pickup unit 34 with the movable optical unit 32 and the movable optical unit 32 that moves back and forth between the chip 14 and the substrate 22, the chip 14 and the substrate 22 are imaged by the image pickup unit 34. I have to.

図2,図3に示すように、Y軸フレーム23の上部には、作業位置[P3]を両側から挟む配置で1対のスポット照明36が配置されている。スポット照明36はY軸フレーム23から延出した保持ブラケット36aの先端部に保持されて、照射方向を作業位置[P3]に位置する可動光学ユニット32に向けた姿勢で配置されている。スポット照明36から照射された照明光は、可動光学ユニット32内の可動プリズム32aに入射し、基板22のボンディング位置22aに照射される(図12参照)。すなわちスポット照明36は、上方から基板22に照明用の光を照射する照明手段となっている。 As shown in FIGS. 2 and 3, a pair of spot lights 36 are arranged on the upper part of the Y-axis frame 23 so as to sandwich the work position [P3] from both sides. The spot illumination 36 is held by the tip of the holding bracket 36a extending from the Y-axis frame 23, and is arranged in a posture in which the irradiation direction is directed toward the movable optical unit 32 located at the working position [P3]. The illumination light emitted from the spot illumination 36 is incident on the movable prism 32a in the movable optical unit 32 and is irradiated to the bonding position 22a of the substrate 22 (see FIG. 12). That is, the spot illumination 36 is an illumination means for irradiating the substrate 22 with illumination light from above.

次に図4,図5を参照して、撮像ユニット34および撮像ユニット34を移動させる撮像部移動機構35の構造を説明する。図4は図3に示す撮像ユニット34の下面を示しており、図5は図4におけるA-A断面を示している。図4に示すベース部35aは矩形状のベースプレートであり、Y軸フレーム23、リニアモータ24の下面に装着される(図3参照)。すなわち本実施の形態においては、撮像ユニット34を構成する第1の撮像手段、第2の撮像手段(図8における説明参照)を、ボンディングヘッド26および光学ヘッド30を移動させる移動手段であるリニアモータ24またはこの移動手段を支持するY軸フレーム23の下面に装着する構成となっている。 Next, with reference to FIGS. 4 and 5, the structure of the image pickup unit moving mechanism 35 for moving the image pickup unit 34 and the image pickup unit 34 will be described. FIG. 4 shows the lower surface of the image pickup unit 34 shown in FIG. 3, and FIG. 5 shows a cross section taken along the line AA in FIG. The base portion 35a shown in FIG. 4 is a rectangular base plate, and is mounted on the lower surface of the Y-axis frame 23 and the linear motor 24 (see FIG. 3). That is, in the present embodiment, the first image pickup means and the second image pickup means (see the description in FIG. 8) constituting the image pickup unit 34 are the moving means for moving the bonding head 26 and the optical head 30. It is configured to be mounted on the lower surface of the Y-axis frame 23 that supports the 24 or the moving means.

撮像部移動機構35の構成を説明する。ベース部35aのY方向の両端部にX方向に配列された1対のガイドレール37には、略矩形状のX方向移動テーブル35Xに固定されたスライダ37aがスライド自在に嵌着されている。X方向移動テーブル35XのY方向の一方側の端部に設けられた延出部には、X軸ナット部材39Xが配置されている。X軸ナット部材39Xには、撮像ユニットX軸モータ34Xによって回転駆動される送りねじ39Xaが螺合している。撮像ユニットX軸モータ34Xを正逆駆動することにより、X方向移動テーブル35XはX方向に往復移動する。撮像ユニットX軸モータ34X、X軸ナット部材39Xおよび送りねじ39Xaは、撮像部移動機構35に含まれる第1の移動機構を構成する。 The configuration of the image pickup unit moving mechanism 35 will be described. A slider 37a fixed to a substantially rectangular X-direction moving table 35X is slidably fitted to a pair of guide rails 37 arranged in the X direction at both ends of the base portion 35a in the Y direction. An X-axis nut member 39X is arranged at an extension portion provided at one end of the X-direction moving table 35X in the Y direction. A feed screw 39Xa rotationally driven by the image pickup unit X-axis motor 34X is screwed into the X-axis nut member 39X. By driving the image pickup unit X-axis motor 34X in the forward and reverse directions, the X-direction moving table 35X reciprocates in the X direction. The image pickup unit X-axis motor 34X, the X-axis nut member 39X, and the feed screw 39Xa constitute a first movement mechanism included in the image pickup unit movement mechanism 35.

X方向移動テーブル35Xに配置された1対のガイドレール38には、第1Y方向移動テーブル35Y1、第2Y方向移動テーブル35Y2に固定された複数のスライダ38aがスライド自在に嵌着されている。第1Y方向移動テーブル35Y1、第2Y方向移動テーブル35Y2のそれぞれにおいて、X方向の一方側の端部に設けられた延出部には、それぞれ第1Y軸ナット部材39Y1、第2Y軸ナット部材39Y2が配置されている。第1Y軸ナット部材39Y1、第2Y軸ナット部材39Y2には、撮像ユニットY軸モータ34Yによって回転駆動される送りねじ39Yaが螺合している。 A plurality of sliders 38a fixed to the first Y-direction moving table 35Y1 and the second Y-direction moving table 35Y2 are slidably fitted to the pair of guide rails 38 arranged on the X-direction moving table 35X. In each of the first Y-direction moving table 35Y1 and the second Y-direction moving table 35Y2, a first Y-axis nut member 39Y1 and a second Y-axis nut member 39Y2 are provided at the extending portions provided at one end in the X direction, respectively. Have been placed. A feed screw 39Ya rotationally driven by the image pickup unit Y-axis motor 34Y is screwed into the first Y-axis nut member 39Y1 and the second Y-axis nut member 39Y2.

ここで送りねじ39Yaに形成された送り溝は、第1Y軸ナット部材39Y1に螺合する範囲と第2Y軸ナット部材39Y2に螺合する範囲とで、ピッチ方向が逆になっている。撮像ユニットY軸モータ34Yを正逆駆動することにより、第1Y方向移動テーブル35Y1、第2Y方向移動テーブル35Y2は、Y方向に相互に接近または離隔する方向に移動する。撮像ユニットY軸モータ34Y、第1Y軸ナット部材39Y1、第2Y軸ナット部材39Y2、送りねじ39Yaは、撮像部移動機構35に含まれる第2の移動機構を構成する。 Here, the feed groove formed in the feed screw 39Ya has opposite pitch directions in the range screwed into the first Y-axis nut member 39Y1 and the range screwed into the second Y-axis nut member 39Y2. By driving the image pickup unit Y-axis motor 34Y in the forward and reverse directions, the first Y-direction moving table 35Y1 and the second Y-direction moving table 35Y2 move in directions that approach or separate from each other in the Y direction. The image pickup unit Y-axis motor 34Y, the first Y-axis nut member 39Y1, the second Y-axis nut member 39Y2, and the lead screw 39Ya constitute a second movement mechanism included in the image pickup unit moving mechanism 35.

上記構成において、第1Y方向移動テーブル35Y1、第2Y方向移動テーブル35Y2は、X方向移動テーブル35Xに固定して配置されていることから、上述の第1の移動機構を駆動することにより、第1Y方向移動テーブル35Y1、第2Y方向移動テーブル35Y2は同一方向に同一距離移動する。また上述の第2の移動機構を駆動することにより、第1Y方向移動テーブル35Y1、第2Y方向移動テーブル35Y2を、反対方向に同一距離移動させることができる。 In the above configuration, since the first Y-direction moving table 35Y1 and the second Y-direction moving table 35Y2 are fixedly arranged on the X-direction moving table 35X, the first Y is driven by driving the above-mentioned first moving mechanism. The direction moving table 35Y1 and the second Y direction moving table 35Y2 move in the same direction and the same distance. Further, by driving the above-mentioned second moving mechanism, the first Y-direction moving table 35Y1 and the second Y-direction moving table 35Y2 can be moved by the same distance in opposite directions.

第1Y方向移動テーブル35Y1、第2Y方向移動テーブル35Y2には、それぞれ撮像ユニット34を構成する上左撮像部41(第1の撮像部)、上右撮像部43(第3の撮像部)および下左撮像部42(第2の撮像部)、下右撮像部44(第4の撮像部)がX方向に配列されている。 In the first Y-direction moving table 35Y1 and the second Y-direction moving table 35Y2, the upper left image pickup unit 41 (first image pickup unit), the upper right image pickup unit 43 (third image pickup unit), and the lower right image pickup unit 43 constituting the image pickup unit 34, respectively. The left imaging unit 42 (second imaging unit) and the lower right imaging unit 44 (fourth imaging unit) are arranged in the X direction.

ここで撮像ユニット34を構成する撮像部の構成について説明する。これらの撮像部は、円筒形状の鏡筒部の両端部に入射部およびカメラを装着し、入射部およびカメラの中間に位置する鏡筒部の側面に同軸照明を配置した構成となっている。この構成において、入射部に垂直方向に入射した撮像対象の象は鏡筒部内を水平方向に透過してカメラに入射し、これにより撮像対象の画像が取得される。このとき、同軸照明による照明光がハーフミラーによって撮像光軸に沿って撮像対象に向う方向に照射され、同軸方向から撮像対象に入射する。 Here, the configuration of the imaging unit constituting the imaging unit 34 will be described. These image pickup units are configured such that incident portions and cameras are attached to both ends of a cylindrical lens barrel portion, and coaxial illumination is arranged on the side surface of the lens barrel portion located between the incident portion and the camera. In this configuration, the elephant to be imaged that is vertically incident on the incident portion is transmitted horizontally through the lens barrel and is incident on the camera, whereby the image to be imaged is acquired. At this time, the illumination light from the coaxial illumination is irradiated by the half mirror in the direction toward the image pickup target along the image pickup optical axis, and is incident on the image pickup target from the coaxial direction.

具体的には、第1の撮像部である上左撮像部41は、上左鏡筒部41a、上左同軸照明41b、第1のカメラである上左カメラ41cおよび上左入射部41dを有しており、第3の撮像部である上右撮像部43は、上右鏡筒部43a、上右同軸照明43b、第3のカメラである上右カメラ43cおよび上右入射部43dを有している。同様に、第2の撮像部である下左撮像部42は、下左鏡筒部42a、下左同軸照明42b、第2のカメラである下左カメラ42cおよび下左入射部42dを有しており、下右撮像部44は鏡筒部44a、下右同軸照明44b、第4のカメラである下右カメラ44cおよび下右入射部44dを有している。 Specifically, the upper left image pickup unit 41, which is the first image pickup unit, has an upper left lens barrel unit 41a, an upper left coaxial illumination 41b, an upper left camera 41c, which is the first camera, and an upper left incident unit 41d. The upper right image pickup unit 43, which is the third image pickup unit, has an upper right lens barrel unit 43a, an upper right coaxial illumination 43b, an upper right camera 43c, which is a third camera, and an upper right incident unit 43d. ing. Similarly, the lower left image pickup unit 42, which is the second image pickup unit, has a lower left lens barrel unit 42a, a lower left coaxial illumination 42b, a lower left camera 42c, which is a second camera, and a lower left incident unit 42d. The lower right image pickup unit 44 has a lens barrel unit 44a, a lower right coaxial illumination 44b, a lower right camera 44c which is a fourth camera, and a lower right incident unit 44d.

図5における上左撮像部41、上右撮像部43の例に示すように、上左鏡筒部41a、上右鏡筒部43aは、第1Y方向移動テーブル35Y1の下面に結合された保持ブラケット41e、43eによって保持されている。上左入射部41d、上右入射部43dの上方には、ベース部35aに固定された固定光学ユニット33が位置している。固定光学ユニット33は、収納部33aの内部に上左プリズム45、上右プリズム46、下左プリズム47、下右プリズム48を内蔵した構成となっている。上左プリズム45、上右プリズム46、下左プリズム47、下右プリズム48は、入射縁部45a、46a、47a、48aから入射した像を内部で反射して出射縁部45b、46b、47b、48bから下方へ出射させる機能を有している(図8参照)。 As shown in the example of the upper left image pickup unit 41 and the upper right image pickup unit 43 in FIG. 5, the upper left lens barrel portion 41a and the upper right lens barrel portion 43a are holding brackets coupled to the lower surface of the first Y direction moving table 35Y1. It is held by 41e and 43e. A fixed optical unit 33 fixed to the base portion 35a is located above the upper left incident portion 41d and the upper right incident portion 43d. The fixed optical unit 33 has a configuration in which an upper left prism 45, an upper right prism 46, a lower left prism 47, and a lower right prism 48 are built in the storage portion 33a. The upper left prism 45, the upper right prism 46, the lower left prism 47, and the lower right prism 48 internally reflect images incident from the incident edges 45a, 46a, 47a, and 48a, and the exit edges 45b, 46b, 47b, It has a function of emitting downward from 48b (see FIG. 8).

固定光学ユニット33は、以下に説明する可動光学ユニット32によって取り込まれたチップ14およびボンディング位置22aの上下2視野画像を、左右2つのチップ画像、左右2つのボンディング位置画像に区分して前述の4つの撮像部に伝達する機能を有する。すなわち上左入射部41d、下左入射部42d、上右入射部43d、下右入射部44dが、それぞれ図8に示す出射縁部45b、47b、46b、48bの下方に位置するように、上左撮像部41、下左撮像部42、上右撮像部43、下右撮像部44が位置合わせされる。この位置合わせは、前述の撮像部移動機構35の機能を用いて行われる。 The fixed optical unit 33 divides the upper and lower two-field images of the chip 14 and the bonding position 22a captured by the movable optical unit 32 described below into two left and right chip images and two left and right bonding position images. It has a function of transmitting to one image pickup unit. That is, the upper left incident portion 41d, the lower left incident portion 42d, the upper right incident portion 43d, and the lower right incident portion 44d are located above the exit edge portions 45b, 47b, 46b, and 48b shown in FIG. 8, respectively. The left image pickup unit 41, the lower left image pickup unit 42, the upper right image pickup unit 43, and the lower right image pickup unit 44 are aligned. This alignment is performed using the function of the image pickup unit moving mechanism 35 described above.

すなわち、撮像部移動手段である撮像部移動機構35は、上左撮像部41(第1の撮像部)と下左撮像部42(第2の撮像部)と上右撮像部43(第3の撮像部)と下右撮像部44(第4の撮像部)とを、上左プリズム45(第1の導光体)と下左プリズム47(第2の導光体)と上右プリズム46(第3の導光体)と下右プリズム48(第4の導光体)に対して相対的に移動させる。これにより、上左入射部41d、下左入射部42d、上右入射部43d、下右入射部44dは、出射縁部45b、47b、46b、48bに位置合わせされる。 That is, the image pickup unit moving mechanism 35, which is an image pickup unit moving means, includes an upper left image pickup unit 41 (first image pickup unit), a lower left image pickup unit 42 (second image pickup unit), and an upper right image pickup unit 43 (third image pickup unit). The upper left prism 45 (first light guide), the lower left prism 47 (second light guide), and the upper right prism 46 (the image pickup unit) and the lower right image pickup unit 44 (fourth image pickup unit). The third light guide body) and the lower right prism 48 (fourth light guide body) are moved relative to each other. As a result, the upper left incident portion 41d, the lower left incident portion 42d, the upper right incident portion 43d, and the lower right incident portion 44d are aligned with the exit edge portions 45b, 47b, 46b, 48b.

図6は、ボンディング装置1において実行されるボンディング作業における上下2方向認識およびそれに引き続いて実行されるボンディング動作を示している。すなわちボンディング動作の実行に先立って、図6(a)に示すように、チップ14を保持したボンディングツール29をボンディング位置22aの上方に位置させ、ボンディング位置22aとチップ14との間に可動光学ユニット32を進出させる。 FIG. 6 shows the vertical two-direction recognition in the bonding operation performed by the bonding device 1 and the subsequent bonding operation. That is, prior to the execution of the bonding operation, as shown in FIG. 6A, the bonding tool 29 holding the chip 14 is positioned above the bonding position 22a, and the movable optical unit is located between the bonding position 22a and the chip 14. Advance 32.

ここで、可動光学ユニット32は、光学ヘッド30の中心に対してボンディングヘッド26側にオフセットした形態となっていることから、光学ヘッド30とボンディングヘッド26との干渉を生じること無く、ボンディング位置22aとチップ14との間に可動光学ユニット32を位置させることが可能となっている。撮像ユニット34によるチップ14およびボンディング位置22aの撮像および位置認識はこの状態で行われる。可動光学ユニット32に入射したチップ14およびボンディング位置22aの象は、上方に固定された固定光学ユニット33を介して撮像ユニット34に入射する(図8参照)。 Here, since the movable optical unit 32 is offset toward the bonding head 26 with respect to the center of the optical head 30, the bonding position 22a does not cause interference between the optical head 30 and the bonding head 26. It is possible to position the movable optical unit 32 between the chip 14 and the chip 14. Imaging and position recognition of the chip 14 and the bonding position 22a by the imaging unit 34 are performed in this state. The chip 14 and the elephant at the bonding position 22a incident on the movable optical unit 32 are incident on the image pickup unit 34 via the fixed optical unit 33 fixed upward (see FIG. 8).

1つのチップ14を対象とした撮像および位置認識が終えると、図6(b)に示すように、光学ヘッド30を退避方向(矢印e)に移動させる。これにより可動光学ユニット32はボンディング位置22aとチップ14との間から退避し(矢印f)、ボンディング位置22aとチップ14との間の空間はフリーな状態となる。そしてこの状態で、ボンディングツール駆動部27を駆動してボンディングツール29を下降させる(矢印g)ことにより、ボンディングヘッド26はボンディングツール29に保持したチップ14を基板22のボンディング位置22aに接合する。 When the imaging and position recognition for one chip 14 are completed, the optical head 30 is moved in the retracting direction (arrow e) as shown in FIG. 6 (b). As a result, the movable optical unit 32 retracts from between the bonding position 22a and the chip 14 (arrow f), and the space between the bonding position 22a and the chip 14 becomes free. Then, in this state, by driving the bonding tool driving unit 27 to lower the bonding tool 29 (arrow g), the bonding head 26 joins the chip 14 held by the bonding tool 29 to the bonding position 22a of the substrate 22.

このとき、上述の位置認識結果を反映させてチップ14のボンディング位置22aに対する位置合わせが行われる。この位置認識においては、チップ14の装着直前にチップ14とボンディング位置22aを同時に撮像してこれらの相対的な位置ずれを検出するようにしている。これにより、位置ずれ状態を高精度で検出することが可能となり、高精度のボンディング結果を確保することができる。 At this time, the positioning of the chip 14 with respect to the bonding position 22a is performed to reflect the above-mentioned position recognition result. In this position recognition, the chip 14 and the bonding position 22a are simultaneously imaged immediately before the chip 14 is mounted to detect these relative positional deviations. As a result, it is possible to detect the misaligned state with high accuracy, and it is possible to secure a highly accurate bonding result.

次に図7を参照して、可動光学ユニット32に内蔵された可動プリズム32aの構成および機能を説明する。上述のように可動光学ユニット32はチップ14と基板22との間に進退自在となっている。可動プリズム32aは、基板22のボンディング位置22aの上方に位置するチップ14と基板22の間に位置した際に、チップ14の像およびボンディング位置22aの像を、上方に位置する固定光学ユニット33に伝達する機能を有する。 Next, with reference to FIG. 7, the configuration and function of the movable prism 32a incorporated in the movable optical unit 32 will be described. As described above, the movable optical unit 32 is free to move back and forth between the chip 14 and the substrate 22. When the movable prism 32a is located between the chip 14 located above the bonding position 22a of the substrate 22 and the substrate 22, the image of the chip 14 and the image of the bonding position 22a are transferred to the fixed optical unit 33 located above. Has the function of transmitting.

図7において、可動プリズム32aは透光性部材よりなる多面反射プリズムであり、対をなす略菱形形状の第1のブロック体53(第1導光体)および第2のブロック体54(第2導光体)の鋭角側端部を、直方体形状の反射体50を介して結合したプリズム体を主体としている。反射体50は、直角三角柱形状の第1導光体51および第2導光体52の斜辺面を合わせて結合した構成となっており、結合面の上面および下面は光を反射する反射面(第1反射面71、第5反射面75)として機能する。第1のブロック体53、第2のブロック体54の左右端に設けられた斜辺面は、部材内部の光を反射する反射面(第2反射面72、第3反射面73、第6反射面76、第7反射面77)として機能する。 In FIG. 7, the movable prism 32a is a multi-faceted reflective prism made of a translucent member, and is a pair of substantially rhombic first block bodies 53 (first light guide body) and second block body 54 (second). The main body is a prism body in which the sharp-angled end portions of the light guide body) are connected via a rectangular parallelepiped reflector 50. The reflector 50 has a configuration in which the hypotenuses of the first light guide 51 and the second light guide 52 having a right-angled triangular column shape are combined and combined, and the upper surface and the lower surface of the combined surface are reflective surfaces that reflect light ( It functions as a first reflecting surface 71 and a fifth reflecting surface 75). The hypotenuse surfaces provided at the left and right ends of the first block body 53 and the second block body 54 are reflective surfaces (second reflective surface 72, third reflective surface 73, sixth reflective surface) that reflect light inside the member. 76, functioning as the seventh reflecting surface 77).

第1導光体51の上面および第2導光体52の下面は、それぞれ撮像対象の像を入射させる第1の入射口61、第2の入射口62となっている。可動プリズム32aをチップ14と基板22との間に位置させる際には、反射体50がチップ14と基板22との間に位置するように位置合わせする。この状態では、第1の入射口61、第2の入射口62はそれぞれチップ14および基板22のボンディング位置22a(図6参照)に対向する位置にある。 The upper surface of the first light guide body 51 and the lower surface of the second light guide body 52 are a first incident port 61 and a second incident port 62 for incident an image to be imaged, respectively. When the movable prism 32a is positioned between the chip 14 and the substrate 22, the reflector 50 is aligned so as to be located between the chip 14 and the substrate 22. In this state, the first incident port 61 and the second incident port 62 are located at positions facing the bonding positions 22a (see FIG. 6) of the chip 14 and the substrate 22, respectively.

第1のブロック体53および第2のブロック体54の右側の端部の外側面には、それぞれ直角三角柱形状の第5導光体55、第6導光体56が、一方の直角面を第1のブロック体53、第2のブロック体54の上面と面一にした姿勢で設けられている。第5導光体55、第6導光体56の斜辺面は、第1のブロック体53、第2のブロック体54側から入射する光を上方に反射する反射面(第4反射面74、第8反射面78)として機能する。そして第5導光体55、第6導光体56の上面は、反射された光を出射させる第1の出射口63、第2の出射口64となっている。ここでは、第1の出射口63、第2の出射口64は、第1の入射口61、第2の入射口62から水平方向に離間した位置に設けられている。 On the outer surface of the right end of the first block body 53 and the second block body 54, a fifth light guide body 55 and a sixth light guide 56 having a right-angled triangular column shape are formed on one right-angled surface, respectively. It is provided so as to be flush with the upper surface of the block body 53 of 1 and the upper surface of the second block body 54. The oblique side surfaces of the fifth light guide body 55 and the sixth light guide body 56 are reflective surfaces (fourth reflective surface 74,) that upwardly reflect light incident from the side of the first block body 53 and the second block body 54. It functions as an eighth reflecting surface 78). The upper surfaces of the fifth light guide body 55 and the sixth light guide body 56 are a first outlet 63 and a second outlet 64 that emit the reflected light. Here, the first exit port 63 and the second exit port 64 are provided at positions horizontally separated from the first incident port 61 and the second incident port 62.

さらに、第1のブロック体53および第2のブロック体54の左側の端部の外側面には、それぞれ直角三角柱形状の第7導光体57、第8導光体58が、一方の直角面を第1のブロック体53、第2のブロック体54の下面と面一にした姿勢で設けられている。第7導光体57、第8導光体58は、前述のスポット照明36から照射された照明光をボンディング位置22aに導く機能を有する。 Further, on the outer surface of the left end portion of the first block body 53 and the second block body 54, a seventh light guide body 57 and an eighth light guide 58 having a right-angled triangular column shape are formed on one right-angled surface, respectively. Is provided so as to be flush with the lower surface of the first block body 53 and the second block body 54. The seventh light guide body 57 and the eighth light guide body 58 have a function of guiding the illumination light emitted from the spot illumination 36 to the bonding position 22a.

チップ14とボンディング位置22aの撮像における可動プリズム32aの機能の詳細を説明する。可動プリズム32aがチップ14と基板22との間に位置した際には、チップ14の像をチップ14に対向する第1の入射口61から入射させるとともに、ボンディング位置22aの象をボンディング位置22aと対向する第2の入射口62から入射させる。 Details of the function of the movable prism 32a in imaging the chip 14 and the bonding position 22a will be described. When the movable prism 32a is located between the chip 14 and the substrate 22, the image of the chip 14 is incident from the first incident port 61 facing the chip 14, and the elephant of the bonding position 22a is referred to as the bonding position 22a. It is incident from the opposite second incident port 62.

次いで、第1の入射口61から入射したチップ14の像を、反射体50の第1反射面71によって第1の水平方向(矢印h1)に反射する。これとともに、第2の入射口62から入射したボンディング位置22aの像を、反射体50の第5反射面75によって第1の水平方向とは反対の第2の水平方向(矢印h2)に反射する(図9(b)も参照)。 Next, the image of the chip 14 incident from the first incident port 61 is reflected in the first horizontal direction (arrow h1) by the first reflecting surface 71 of the reflector 50. At the same time, the image of the bonding position 22a incident from the second incident port 62 is reflected by the fifth reflecting surface 75 of the reflector 50 in the second horizontal direction (arrow h2) opposite to the first horizontal direction. (See also FIG. 9 (b)).

次に、第1の水平方向に反射されたチップ14の像を、複数のチップ像反射面(第2反射面72、第3反射面73および第4反射面74)によって順次反射して第1の出射口63に導く。これとともに、第2の水平方向に反射されたボンディング位置22aの像を、複数の基板像反射面(第6反射面76、第7反射面77および第8反射面78)によって順次反射して第2の出射口64に導く。 Next, the image of the chip 14 reflected in the first horizontal direction is sequentially reflected by a plurality of chip image reflecting surfaces (second reflecting surface 72, third reflecting surface 73, and fourth reflecting surface 74), and first. It leads to the exit port 63 of. At the same time, the image of the bonding position 22a reflected in the second horizontal direction is sequentially reflected by the plurality of substrate image reflecting surfaces (sixth reflecting surface 76, seventh reflecting surface 77, and eighth reflecting surface 78). It leads to the exit port 64 of 2.

第1のブロック体53に設けられた上述の複数のチップ像反射面は、第1の出射口63の真下に配置され、水平に入射したチップ14の像を真上に反射する第1の最終反射面(第4反射面74)と、第1反射面71によって水平方向に反射されたチップ14の像を第1の最終反射面に導く、少なくとも一つの第1の直立反射面(第2反射面72、第3反射面73)とを含む形態となっている。 The plurality of chip image reflecting surfaces provided on the first block body 53 are arranged directly below the first exit port 63, and the first final image of the horizontally incident chip 14 is reflected directly above. At least one first upright reflecting surface (second reflection) that guides the image of the reflecting surface (fourth reflecting surface 74) and the chip 14 horizontally reflected by the first reflecting surface 71 to the first final reflecting surface. It has a form including a surface 72 and a third reflecting surface 73).

また第2のブロック体54に設けられた上述の基板像反射面は、第2の出射口64の真下に配置され、水平に入射したボンディング位置22aの像を真上に反射する第2の最終反射面(第8反射面78)と、第5反射面75によって水平方向に反射されたボンディング位置22aの像を第2の最終反射面に導く、少なくとも一つの第2の直立反射面(第6反射面76、第7反射面77)とを含む形態となっている。 Further, the above-mentioned substrate image reflecting surface provided on the second block body 54 is arranged directly below the second exit port 64, and the second final image reflecting the horizontally incident image of the bonding position 22a is directly above. At least one second upright reflecting surface (sixth) that guides the image of the reflecting surface (eighth reflecting surface 78) and the bonding position 22a horizontally reflected by the fifth reflecting surface 75 to the second final reflecting surface. It has a form including a reflecting surface 76 and a seventh reflecting surface 77).

上記構成を有する可動プリズム32aにおいて、第1のブロック体53と第2のブロック体54、第1の最終反射面(第4反射面74)と第2の最終反射面(第8反射面78)、並びに第1の直立反射面(第2反射面72、第3反射面73)と第2の直立反射面(第6反射面76、第7反射面77)とは、反射体50の中心を通過して第1の水平方向(矢印h1)と第2の水平方向(矢印h2)と水平面内で直交する直線(中心線CL)を基準に線対称になっている。 In the movable prism 32a having the above configuration, the first block body 53 and the second block body 54, the first final reflection surface (fourth reflection surface 74) and the second final reflection surface (eighth reflection surface 78). , And the first upright reflecting surface (second reflecting surface 72, third reflecting surface 73) and the second upright reflecting surface (sixth reflecting surface 76, seventh reflecting surface 77) are centered on the reflector 50. It is line-symmetrical with respect to a straight line (center line CL) that passes through and is orthogonal to the first horizontal direction (arrow h1) and the second horizontal direction (arrow h2) in the horizontal plane.

上記の可動プリズム32aの機能を総括すると、可動プリズム32aは、ボンディング位置22aの上方に位置するチップ14と基板22との間に位置した際に、チップ14の像をチップ14に対向する第1の入射口61から入射させ第1の入射口61から水平方向に離間した第1の出射口63から上方に出射させる。これともに可動プリズム32aは、基板22のボンディング位置22aの像をボンディング位置22aと対向する第2の入射口62から入射させ第2の入射口62から水平方向に離間した第2の出射口64から上方に出射させる機能を有する。 Summarizing the functions of the movable prism 32a, when the movable prism 32a is located between the chip 14 located above the bonding position 22a and the substrate 22, the image of the chip 14 faces the chip 14 first. Is incident from the incident port 61 of the above, and is emitted upward from the first exit port 63 horizontally separated from the first incident port 61. In both cases, the movable prism 32a has an image of the bonding position 22a of the substrate 22 incident on the second incident port 62 facing the bonding position 22a and horizontally separated from the second incident port 62 from the second exit port 64. It has a function to emit upward.

このように、ボンディングツール29に保持されたチップ14と基板22のボンディング位置22aとの間に進退させて上下2視野の認識を同時に行うために用いられる可動導光体として、本実施の形態に示すような構成の可動プリズム32aを用いることにより、以下に述べるような効果を得る。まず、可動プリズム32aは、第1のブロック体53、第2のブロック体54などのプリズムを組み合わせて構成されていることから、可動光学ユニット32の全体形状における厚み寸法を極力小さくできるとともに、重量の軽量化が可能となっている。 As described above, as a movable light guide body used for simultaneously recognizing two upper and lower fields of view by advancing and retreating between the chip 14 held by the bonding tool 29 and the bonding position 22a of the substrate 22, the present embodiment is used. By using the movable prism 32a having the configuration as shown below, the effects described below can be obtained. First, since the movable prism 32a is configured by combining prisms such as the first block body 53 and the second block body 54, the thickness dimension in the overall shape of the movable optical unit 32 can be made as small as possible and the weight can be reduced as much as possible. It is possible to reduce the weight of the.

したがって、図6(a)に示す撮像動作において、チップ14を保持したボンディングツール29を待機させる待機高さを極力低く設定することが可能となっている。これにより、図6(b)に示すボンディング動作において、ボンディングツール29が昇降するボンディング動作ストロークを小さくすることが可能となり、動作タクトタイムが短縮されている。加えて可動光学ユニット32を進退させる進退動作において、重量の軽量化が図られていることから高速動作が可能になり、動作タクトタイムの更なる短縮が実現される。 Therefore, in the imaging operation shown in FIG. 6A, it is possible to set the standby height for holding the bonding tool 29 holding the chip 14 as low as possible. As a result, in the bonding operation shown in FIG. 6B, the bonding operation stroke in which the bonding tool 29 moves up and down can be reduced, and the operation tact time is shortened. In addition, in the advancing / retreating operation of moving the movable optical unit 32, the weight is reduced, so that high-speed operation becomes possible and the operation tact time is further shortened.

なお、本実施の形態では、可動導光体として多面反射プリズムを用いた可動プリズム32aを用いる例を示しているが、本発明は可動プリズム32aには限定されない。すなわち、上述の機能を実現可能な構成であれば、ミラーなどの反射体やレンズなどの光学要素を組み込んで可動導光体を構成するようにしてもよい。 Although the present embodiment shows an example in which a movable prism 32a using a multi-faceted reflection prism is used as the movable light guide, the present invention is not limited to the movable prism 32a. That is, a movable light guide body may be configured by incorporating a reflector such as a mirror or an optical element such as a lens as long as the above-mentioned function can be realized.

また本実施の形態では、第1の入射口61、第2の入射口62から水平方向に離間した位置に、第1の出射口63、第2の出射口64を配置する構成を採用しているが、本発明はこのような構成には限定されない。すなわち、第1の入射口61、第2の入射口62から取り込まれたチップ14の像、ボンディング位置22aの像を、上左撮像部41(第1の撮像部)と下左撮像部42(第2の撮像部)と上右撮像部43(第3の撮像部)と下右撮像部44(第4の撮像部)とに伝達可能なように、可動プリズム32aと固定光学ユニット33および撮像ユニット34との取合い部が設定されていればよい。 Further, in the present embodiment, a configuration is adopted in which the first outlet 63 and the second outlet 64 are arranged at positions horizontally separated from the first incident port 61 and the second incident port 62. However, the present invention is not limited to such a configuration. That is, the image of the chip 14 captured from the first incident port 61, the second incident port 62, and the image of the bonding position 22a are captured by the upper left imaging unit 41 (first imaging unit) and the lower left imaging unit 42 (the lower left imaging unit 42). The movable prism 32a, the fixed optical unit 33, and the image pickup so as to be transmitted to the second image pickup unit), the upper right image pickup unit 43 (third image pickup unit), and the lower right image pickup unit 44 (fourth image pickup unit). It suffices if the connection portion with the unit 34 is set.

次に上述構成の可動プリズム32aと固定光学ユニット33との組み合わせを使用して、撮像ユニット34によってチップ14とボンディング位置22aを撮像する際の撮像視野および撮像経路について、図8、図9を参照して説明する。図8において、可動プリズム32aの反射体50の上方に示す上左画像UL、上右画像URは、撮像対象となるチップ14の画像を示しており、反射体50の下方に示す下左画像DL、下右画像DRは、撮像対象となるボンディング位置22aの画像を示している。なお太線の破線にて示すC1~C11は、チップ14の像が撮像ユニット34に導かれる撮像の経路を示しており、また太線の一点鎖線にて示すB1~B11は、ボンディング位置22aの像が撮像ユニット34に導かれる撮像の経路を示している。 Next, refer to FIGS. 8 and 9 for an imaging field of view and an imaging path when imaging the chip 14 and the bonding position 22a by the imaging unit 34 using the combination of the movable prism 32a and the fixed optical unit 33 having the above configuration. I will explain. In FIG. 8, the upper left image UL and the upper right image UR shown above the reflector 50 of the movable prism 32a show an image of the chip 14 to be imaged, and the lower left image DL shown below the reflector 50. The lower right image DR shows an image of the bonding position 22a to be imaged. Note that C1 to C11 shown by the broken line of the thick line indicate the image pickup path in which the image of the chip 14 is guided to the image pickup unit 34, and B1 to B11 shown by the alternate long and short dash line of the thick line indicate the image of the bonding position 22a. The image pickup path guided to the image pickup unit 34 is shown.

ここで、上左画像ULは、チップ14の像の一部(左半分)である第1の部分像に該当し、上右画像URはチップ14の像の第1の部分像とは異なる一部(右半分)である第3の部分像に該当する。また下左画像DLは、ボンディング位置22aの像の第1の部分像に対応する一部(左半分)である第2の部分像に該当し、下右画像DRはボンディング位置22aの像の第3の部分像に対応する一部(右半分)である第4の部分像に該当する。ここで、「対応する」とは、これらの部分像を取得する際の撮像視野が上下に重なった状態であることを意味している。 Here, the upper left image UL corresponds to the first partial image which is a part (left half) of the image of the chip 14, and the upper right image UR is different from the first partial image of the image of the chip 14. It corresponds to the third partial image which is a part (right half). Further, the lower left image DL corresponds to a second partial image which is a part (left half) corresponding to the first partial image of the image of the bonding position 22a, and the lower right image DR corresponds to the second image of the bonding position 22a. It corresponds to the fourth partial image which is a part (right half) corresponding to the partial image of 3. Here, "corresponding" means that the imaging fields of view when acquiring these partial images are in a state of being overlapped vertically.

チップ14 の上左画像UL、上右画像URは、反射体50の上面の第1の入射口61に入射し(経路C1)、第1のブロック体53内を導かれて第5導光体55の上面の第1の出射口63から上方へ出射する(経路C5)。ボンディング位置22aの下左画像DL、下右画像DRは、反射体50の下面の第2の入射口62に入射し(経路B1)、第2のブロック体54内を導かれて第6導光体56の上面の第2の出射口64から上方へ出射する(経路B5)。 The upper left image UL and the upper right image UR of the chip 14 are incident on the first incident port 61 on the upper surface of the reflector 50 (path C1), and are guided in the first block body 53 to be a fifth light guide body. It exits upward from the first outlet 63 on the upper surface of the 55 (path C5). The lower left image DL and the lower right image DR of the bonding position 22a are incident on the second incident port 62 on the lower surface of the reflector 50 (path B1), and are guided in the second block body 54 to guide the sixth light guide. It exits upward from the second outlet 64 on the upper surface of the body 56 (path B5).

図9(a)に示すように、第1のブロック体53内では、反射体50から入射したチップ14の像(経路C2)は、第2反射面72に入射してX方向に反射され(経路C3)、さらに第3反射面73に入射してY方向に反射される(経路C4)。次いで第5導光体55の第4反射面74に入射して上方に反射され(図9(b))、第1の出射口63に至る。また第2のブロック体54内では、反射体50から入射したボンディング位置22aの像(経路B2)は第6反射面76に入射してX方向に反射され(経路B3)、さらに第7反射面77に入射してY方向に反射される(経路B4)。次いで第6導光体56の第8反射面78に入射して上方に反射され(図9(b))、第2の出射口64に至る。 As shown in FIG. 9A, in the first block body 53, the image of the chip 14 (path C2) incident from the reflector 50 is incident on the second reflecting surface 72 and reflected in the X direction (). Path C3), and further incident on the third reflecting surface 73 and reflected in the Y direction (path C4). Next, it is incident on the fourth reflecting surface 74 of the fifth light guide 55 and reflected upward (FIG. 9 (b)) to reach the first exit port 63. Further, in the second block body 54, the image of the bonding position 22a (path B2) incident from the reflector 50 is incident on the sixth reflecting surface 76 and reflected in the X direction (path B3), and further, the seventh reflecting surface. It is incident on 77 and reflected in the Y direction (path B4). Next, it is incident on the eighth reflecting surface 78 of the sixth light guide 56 and reflected upward (FIG. 9 (b)) to reach the second exit port 64.

第5導光体55の上方には、上左プリズム45の入射縁部45a、上右プリズム46の入射縁部46aが位置しており、第6導光体56の上方には、下左プリズム47の入射縁部47a、下右プリズム48の入射縁部48aが位置している(図8参照)。ここで上左プリズム45、上右プリズム46は、入射縁部45a、入射縁部46aが、第5導光体55の上面の第1の出射口63を左右方向に2つに区分した第1の左出射口63L、第1の右出射口63Rの上方にそれぞれ位置するように配置されている。また下左プリズム47、下右プリズム48は、入射縁部47a、入射縁部48aが、第6導光体56の上面の第2の出射口64を左右方向に2つに区分した第2の左出射口64L、第2の右出射口64Rの上方にそれぞれ位置するように配置されている。 The incident edge portion 45a of the upper left prism 45 and the incident edge portion 46a of the upper right prism 46 are located above the fifth light guide body 55, and the lower left prism is located above the sixth light guide body 56. The incident edge portion 47a of 47 and the incident edge portion 48a of the lower right prism 48 are located (see FIG. 8). Here, in the upper left prism 45 and the upper right prism 46, the incident edge portion 45a and the incident edge portion 46a are the first in which the first exit port 63 on the upper surface of the fifth light guide body 55 is divided into two in the left-right direction. It is arranged so as to be located above the left exit port 63L and the first right exit port 63R. Further, in the lower left prism 47 and the lower right prism 48, the incident edge portion 47a and the incident edge portion 48a divide the second outlet 64 on the upper surface of the sixth light guide 56 into two in the left-right direction. It is arranged so as to be located above the left exit port 64L and the second right exit port 64R, respectively.

このような構成により、チップ14の像、ボンディング位置22aの像を左右2つに区分した4つの部分像のそれぞれを、撮像ユニット34を構成する4つの撮像部によって取り込むことができるようになっている。すなわち第1の出射口63から出射されたチップ14の像のうち、第1の左出射口63Lから出射される上左画像UL、第1の右出射口63Rから出射される上右画像URは、上左プリズム45の入射縁部45a、上右プリズム46の入射縁部46aにそれぞれ入射する(経路C6,C7)。 With such a configuration, each of the four partial images obtained by dividing the image of the chip 14 and the image of the bonding position 22a into two on the left and right can be captured by the four imaging units constituting the imaging unit 34. There is. That is, among the images of the chip 14 emitted from the first exit port 63, the upper left image UL emitted from the first left outlet 63L and the upper right image UR emitted from the first right exit 63R are , The incident edge portion 45a of the upper left prism 45 and the incident edge portion 46a of the upper right prism 46 are incident on each (paths C6 and C7).

そして上左プリズム45の入射縁部45a、上右プリズム46の入射縁部46aにそれぞれ入射した上左画像UL、上右画像URは、上左プリズム45、上右プリズム46内でそれぞれ出射縁部45b、出射縁部46b側に反射され(図9に示す経路C8、C10参照)、ここで下方に反射されて上左撮像部41、上右撮像部43に入射する(経路C9、C11)。 The upper left image UL and the upper right image UR incident on the incident edge portion 45a of the upper left prism 45 and the incident edge portion 46a of the upper right prism 46 are the emission edge portions in the upper left prism 45 and the upper right prism 46, respectively. 45b is reflected toward the exit edge portion 46b (see paths C8 and C10 shown in FIG. 9), where it is reflected downward and incident on the upper left image pickup unit 41 and the upper right image pickup section 43 (pathways C9 and C11).

また第2の出射口64から出射されたボンディング位置22aの像のうち、第2の左出射口64Lから出射される下左画像DL、第2の右出射口64Rから出射される下右画像DRは、下左プリズム47の入射縁部47a、下右プリズム48の入射縁部48aにそれぞれ入射する(経路B6,B7)。そして下左プリズム47の入射縁部47a、下右プリズム48の入射縁部48aにそれぞれ入射した下左画像DL、下右画像DRは、下左プリズム47、下右プリズム48内でそれぞれ出射縁部47b、出射縁部48b側に反射され(図9に示す経路B8、B10参照)、ここで下方に反射されて下左撮像部42、下右撮像部44に入射する(経路B9、B11)。 Further, among the images of the bonding position 22a emitted from the second exit port 64, the lower left image DL emitted from the second left exit port 64L and the lower right image DR emitted from the second right exit port 64R. Is incident on the incident edge portion 47a of the lower left prism 47 and the incident edge portion 48a of the lower right prism 48, respectively (paths B6 and B7). The lower left image DL and the lower right image DR incident on the incident edge portion 47a of the lower left prism 47 and the incident edge portion 48a of the lower right prism 48 are the emission edge portions in the lower left prism 47 and the lower right prism 48, respectively. 47b is reflected toward the exit edge portion 48b (see paths B8 and B10 shown in FIG. 9), where it is reflected downward and incident on the lower left image pickup unit 42 and the lower right image pickup section 44 (pathways B9 and B11).

上記構成において、上左撮像部41は、第1の出射口63から出射されたチップ14の像の一部である第1の部分像(上左画像UL)を撮像し、下左撮像部42は第2の出射口64から出射されたボンディング位置22aの像の第1の部分像(上左画像UL)に対応する一部である第2の部分像(下左画像DL)を撮像する。また上右撮像部43は、第1の出射口63から出射されたチップ14の像の第1の部分像(上左画像UL)とは異なる一部である第3の部分像(上右画像UR)を撮像し、下右撮像部44は、第2の出射口64から出射されたボンディング位置22aの像の第3の部分像(上右画像UR)に対応する一部である第4の部分像(DR)を撮像する。 In the above configuration, the upper left image pickup unit 41 captures a first partial image (upper left image UL) which is a part of the image of the chip 14 emitted from the first exit port 63, and the lower left image pickup unit 42. Takes a second partial image (lower left image DL) which is a part corresponding to the first partial image (upper left image UL) of the image of the bonding position 22a emitted from the second exit port 64. Further, the upper right image pickup unit 43 is a third partial image (upper right image) which is a part different from the first partial image (upper left image UL) of the image of the chip 14 emitted from the first exit port 63. UR) is imaged, and the lower right image pickup unit 44 is a part corresponding to the third partial image (upper right image UR) of the image of the bonding position 22a emitted from the second exit port 64. A partial image (DR) is imaged.

さらに詳細に述べると、ボンディング装置1が備えた固定光学ユニット33は、第1の出射口63から出射されたチップ14の像の一部である第1の部分像(上左画像UL)を入射させ出射させる第1の導光体(上左プリズム45)と、第2の出射口64から出射されたボンディング位置22aの像の一部である第2の部分像(下左画像DL)を入射させ出射させる第2の導光体(下左プリズム47)と、第1の出射口63から出射されたチップ14の像の第1の部分像(上左画像UL)とは異なる一部である第3の部分像(上右画像UR)を入射させ出射させる第3の導光体(上右プリズム46)と、第2の出射口64から出射されたボンディング位置22aの像の第2の部分像(下左画像DL)とは異なる一部である第4の部分像(下右画像DR)を入射させ出射させる第4の導光体(下右プリズム48)とを備えている。 More specifically, the fixed optical unit 33 provided in the bonding device 1 incidents a first partial image (upper left image UL) which is a part of the image of the chip 14 emitted from the first exit port 63. The first light guide body (upper left prism 45) to be emitted is incident, and the second partial image (lower left image DL) which is a part of the image of the bonding position 22a emitted from the second emission port 64 is incident. The second light guide body (lower left prism 47) to be emitted is a different part from the first partial image (upper left image UL) of the image of the chip 14 emitted from the first exit port 63. The second part of the image of the third light guide body (upper right prism 46) that incidents and emits the third partial image (upper right image UR) and the bonding position 22a emitted from the second exit port 64. It is provided with a fourth light guide body (lower right prism 48) that incidents and emits a fourth partial image (lower right image DR) that is a part different from the image (lower left image DL).

そして上左撮像部41は第1の導光体(上左プリズム45)から出射された第1の部分像(上左画像UL)を撮像し、下左撮像部42は、第2の導光体(下左プリズム47)から出射された第2の部分像(下左画像DL)を撮像する。また上右撮像部43は、第3の導光体(上右プリズム46)から出射された第3の部分像(上右画像UR)を撮像し、下右撮像部44は、第4の導光体(下右プリズム48)から出射された第4の部分像(下右画像DR)を撮像する。 Then, the upper left image pickup unit 41 takes an image of the first partial image (upper left image UL) emitted from the first light guide body (upper left prism 45), and the lower left image pickup unit 42 takes a second light guide. A second partial image (lower left image DL) emitted from the body (lower left prism 47) is imaged. Further, the upper right image pickup unit 43 takes an image of a third partial image (upper right image UR) emitted from the third light guide body (upper right prism 46), and the lower right image pickup unit 44 takes a fourth guide. The fourth partial image (lower right image DR) emitted from the light body (lower right prism 48) is imaged.

上述構成の撮像ユニット34によるチップ14 とボンディング位置22aの撮像において、撮像対象のチップ14、ボンディング位置22aの形状、サイズ、認識点の位置などによって撮像視野の位置を調整する必要が生じる場合がある。このような場合には、撮像部移動機構35によって、上左撮像部41、下左撮像部42、上右撮像部43、下右撮像部44を、上左プリズム45、下左プリズム47、上右プリズム46、下右プリズム48に対して相対的に移動させることにより、各撮像部の撮像視野の位置を調整する。 In imaging the chip 14 and the bonding position 22a by the imaging unit 34 having the above configuration, it may be necessary to adjust the position of the imaging field of view depending on the shape, size, position of the recognition point, etc. of the chip 14 to be imaged and the bonding position 22a. .. In such a case, the upper left image pickup unit 41, the lower left image pickup unit 42, the upper right image pickup unit 43, and the lower right image pickup unit 44 are combined with the upper left prism 45, the lower left prism 47, and the upper side by the image pickup unit moving mechanism 35. By moving the prism 46 relative to the right prism 46 and the lower right prism 48, the position of the imaging field of view of each imaging unit is adjusted.

ここで、図8に示すように、チップ14における上左撮像部41の視野(上左画像UL)とボンディング位置22aにおける下左撮像部42の視野(下左画像DL)は上下に重なった位置関係にある。また同様に、チップ14における上右撮像部43の視野(上右画像UR)とボンディング位置22aにおける下右撮像部44の視野(下右画像DR)は上下に重なった位置関係にある。 Here, as shown in FIG. 8, the field of view of the upper left image pickup unit 41 in the chip 14 (upper left image UL) and the field of view of the lower left image pickup unit 42 at the bonding position 22a (lower left image DL) are vertically overlapped positions. There is a relationship. Similarly, the field of view of the upper right image pickup unit 43 (upper right image UR) on the chip 14 and the field of view of the lower right image pickup unit 44 at the bonding position 22a (lower right image DR) are in a vertically overlapping positional relationship.

前述のように、撮像部移動機構35の構成において、上左撮像部41と下左撮像部42と上右撮像部43と下右撮像部44とは、第1の移動機構によってX方向には同一方向に同一距離だけ移動する。そして第2の移動機構によって、上左撮像部41と上右撮像部43とを同一方向に同一距離移動させるとともに、下左撮像部42と下右撮像部44とを、上左撮像部41と上右撮像部43とは反対方向に同一距離だけ移動させることができるようになっている。 As described above, in the configuration of the image pickup unit moving mechanism 35, the upper left image pickup unit 41, the lower left image pickup unit 42, the upper right image pickup unit 43, and the lower right image pickup unit 44 are moved in the X direction by the first movement mechanism. Move the same distance in the same direction. Then, by the second moving mechanism, the upper left image pickup unit 41 and the upper right image pickup unit 43 are moved in the same direction by the same distance, and the lower left image pickup unit 42 and the lower right image pickup unit 44 are moved to the upper left image pickup unit 41. It can be moved by the same distance in the direction opposite to the upper right image pickup unit 43.

上左撮像部41、上右撮像部43、下左撮像部42、下右撮像部44をこのような条件で移動させることにより、撮像部移動機構35は、上左撮像部41の視野と下左撮像部42の視野が重なった状態と上右撮像部43の視野と下右撮像部44の視野が重なった状態とを維持しながら、上左撮像部41と下左撮像部42と上右撮像部43と下右撮像部44とを移動させることができる。これにより、チップ14とボンディング位置22aの上下2つの撮像対象のそれぞれを区分した4つの部分像の位置関係を正しく維持した状態で、各撮像部の撮像視野の位置を調整することが可能となっている。 By moving the upper left image pickup unit 41, the upper right image pickup unit 43, the lower left image pickup unit 42, and the lower right image pickup unit 44 under such conditions, the image pickup unit moving mechanism 35 can see the field of view and the lower side of the upper left image pickup unit 41. While maintaining the state in which the fields of view of the left image pickup unit 42 overlap and the field of view of the upper right image pickup unit 43 and the field of view of the lower right image pickup unit 44 overlap, the upper left image pickup unit 41, the lower left image pickup unit 42, and the upper right The image pickup unit 43 and the lower right image pickup unit 44 can be moved. This makes it possible to adjust the position of the imaging field of view of each imaging unit while correctly maintaining the positional relationship of the four partial images that divide each of the two upper and lower imaging targets of the chip 14 and the bonding position 22a. ing.

上述のチップ14とボンディング位置22aの撮像に用いられる構成要素を、撮像対象毎に区分すると、上左プリズム45と上左撮像部41との第1の組み合わせ、または上右プリズム46と上右撮像部43との第3の組み合わせは、可動プリズム32aの第1の出射口63から出射されたチップ14の像を撮像する第1の撮像手段を構成する。また下左プリズム47と下左撮像部42との第2の組み合わせ、または下右プリズム48と下右撮像部44との第4の組み合わせは、可動プリズム32aの第2の出射口64から出射されたボンディング位置22aの像を撮像する第2の撮像手段を構成する。 When the components used for imaging the chip 14 and the bonding position 22a are classified for each imaging target, the first combination of the upper left prism 45 and the upper left imaging unit 41 or the upper right prism 46 and the upper right imaging is performed. The third combination with the unit 43 constitutes a first imaging means for capturing an image of the chip 14 emitted from the first ejection port 63 of the movable prism 32a. Further, the second combination of the lower left prism 47 and the lower left image pickup unit 42, or the fourth combination of the lower right prism 48 and the lower right image pickup unit 44 is emitted from the second outlet 64 of the movable prism 32a. A second imaging means for imaging the image of the bonding position 22a is configured.

なお、第1の撮像手段、第2の撮像手段において、それぞれの2つの組み合わせのうちのいずれか一方のみを用いてもよく、また双方を用いてもよい。一方の組み合わせのみを用いる場合とは、例えば第1の撮像手段として第1の組み合わせを用い、第2の撮像手段として第2の組み合わせを用いる場合のように、撮像視野の片側の部分像のみを撮像する場合を云う。 In the first imaging means and the second imaging means, only one of the two combinations may be used, or both may be used. When only one combination is used, for example, when the first combination is used as the first imaging means and the second combination is used as the second imaging means, only a partial image on one side of the imaging field of view is used. This refers to the case of imaging.

すなわちボンディング対象が小型のチップ14であってボンディング動作時の認識が、チップ中心の一点認識で足りるような場合には、片側の撮像部のみを用いる。これに対し、ボンディング対象が大型のチップ14であってボンディング動作時の認識において、チップの対角位置などの2点を認識することが必要な場合には、前述の2つの組み合わせの双方を用いるようにする。すなわち、チップ14、ボンディング位置22aの双方のそれぞれを、2つの撮像部によって撮像する。このように、本実施の形態に示すボンディング装置1では、小型のチップから大型のチップまで多品種のチップに対応可能であり、汎用性に優れたボンディング装置が実現されている。 That is, when the bonding target is a small chip 14 and the recognition at the time of the bonding operation is sufficient for the recognition of one point at the center of the chip, only the image pickup unit on one side is used. On the other hand, when the bonding target is a large chip 14 and it is necessary to recognize two points such as the diagonal position of the chip in recognition during the bonding operation, both of the above two combinations are used. To do so. That is, both the chip 14 and the bonding position 22a are imaged by the two imaging units. As described above, the bonding device 1 shown in the present embodiment can handle a wide variety of chips from small chips to large chips, and a bonding device having excellent versatility is realized.

そして上述の第1の撮像手段によって撮像されたチップ14の像と、第2の撮像手段によって撮像されたボンディング位置22aの像に基づいて、チップ14とボンディング位置22aとの相対的な位置ずれが、画像認識により検出される。この画像認識による位置ずれ検出は、制御部5が備えた画像認識部93(図13)の処理機能によって実行される。したがって制御部5の画像認識部93は、チップ14の像と、ボンディング位置22aの像に基づいて、チップ14とボンディング位置22aとの相対的な位置ずれを検出する検出手段となっている。 Then, based on the image of the chip 14 imaged by the above-mentioned first imaging means and the image of the bonding position 22a imaged by the second imaging means, the relative positional deviation between the chip 14 and the bonding position 22a is generated. , Detected by image recognition. The position shift detection by image recognition is executed by the processing function of the image recognition unit 93 (FIG. 13) provided in the control unit 5. Therefore, the image recognition unit 93 of the control unit 5 is a detection means for detecting the relative positional deviation between the chip 14 and the bonding position 22a based on the image of the chip 14 and the image of the bonding position 22a.

このようにして検出手段によって検出されたチップ14とボンディング位置22aとの相対的な位置ずれに基づいて、制御部5のアライメント処理部92(図13)が第2のXYテーブル20を制御することにより、チップ14を保持したボンディングツール29と基板22を保持した基板保持ステージ21とを相対的に移動させて、チップ14とボンディング位置22aとを位置合わせするアライメント処理が行われる。したがって制御部5のアライメント処理部92は、ボンディングツール29と基板保持ステージ21とを相対的に移動させるアライメント手段を構成する。 The alignment processing unit 92 (FIG. 13) of the control unit 5 controls the second XY table 20 based on the relative positional deviation between the chip 14 and the bonding position 22a detected by the detection means in this way. As a result, the bonding tool 29 holding the chip 14 and the substrate holding stage 21 holding the substrate 22 are relatively moved to perform an alignment process for aligning the chip 14 with the bonding position 22a. Therefore, the alignment processing unit 92 of the control unit 5 constitutes an alignment means for relatively moving the bonding tool 29 and the substrate holding stage 21.

ボンディング装置1における撮像手段の定義は複数の定義が可能であり、以下に示すような定義を用いてもよい。すなわち上左プリズム45と上左撮像部41との組み合わせを、第1の出射口63から出射されたチップ14の像の一部である第1の部分像(上左画像UL)を撮像する第1の撮像手段と定義し、下左プリズム47と下左撮像部42との組み合わせを、第2の出射口64から出射されたボンディング位置22aの像の第1の部分像(上左画像UL)に対応する一部である第2の部分像(下左画像DL)を撮像する第2の撮像手段と定義する。 A plurality of definitions of the image pickup means in the bonding apparatus 1 can be defined, and the following definitions may be used. That is, the combination of the upper left prism 45 and the upper left image pickup unit 41 captures a first partial image (upper left image UL) which is a part of the image of the chip 14 emitted from the first exit port 63. The combination of the lower left prism 47 and the lower left image pickup unit 42 is defined as the image pickup means of 1, and the first partial image of the image of the bonding position 22a emitted from the second exit port 64 (upper left image UL). It is defined as a second image pickup means for capturing a second partial image (lower left image DL) which is a part corresponding to the above.

また上右プリズム46と上右撮像部43との組み合わせを、第1の出射口63から出射されたチップ14の像の第1の部分像(上左画像UL)とは異なる一部である第3の部分像(上右画像UR)を撮像する第3の撮像手段と定義し、下右プリズム48と下右撮像部44との組み合わせを、第2の出射口64から出射されたボンディング位置22aの像の第3の部分像(上右画像UR)に対応する一部である第4の部分像(下右画像DR)を撮像する第4の撮像手段と定義する。 Further, the combination of the upper right prism 46 and the upper right image pickup unit 43 is a part different from the first partial image (upper left image UL) of the image of the chip 14 emitted from the first exit port 63. It is defined as a third image pickup means for capturing a partial image of 3 (upper right image UR), and the combination of the lower right prism 48 and the lower right image pickup unit 44 is combined with the bonding position 22a emitted from the second outlet 64. It is defined as a fourth image pickup means for capturing a fourth partial image (lower right image DR) which is a part corresponding to the third partial image (upper right image UR) of the image.

そして上述の第1の撮像手段によって撮像された第1の部分像(上左画像UL)と、第2の撮像手段によって撮像された第2の部分像(下左画像DL)と、第3の撮像手段によって撮像された第3の部分像(上右画像UR)と、第4の撮像手段によって撮像された第4の部分像(下右画像DR)と、に基づいて、チップ14とボンディング位置22aの相対的な位置ずれが、前述の検出手段によって検出される。そしてこのようにして検出手段によって検出されたチップ14とボンディング位置22aとの相対的な位置ずれに基づいて、前述のアライメント手段によってボンディングツール29と基板保持ステージ21とを相対的に移動させることにより、チップ14とボンディング位置22aとを位置合わせするアライメント処理が行われる。 Then, the first partial image (upper left image UL) captured by the above-mentioned first imaging means, the second partial image (lower left image DL) captured by the second imaging means, and the third. The chip 14 and the bonding position based on the third partial image (upper right image UR) captured by the imaging means and the fourth partial image (lower right image DR) captured by the fourth imaging means. The relative misalignment of 22a is detected by the detection means described above. Then, based on the relative positional deviation between the chip 14 and the bonding position 22a detected by the detecting means in this way, the bonding tool 29 and the substrate holding stage 21 are relatively moved by the above-mentioned alignment means. , The alignment process for aligning the chip 14 and the bonding position 22a is performed.

次に図10を参照して、光学ヘッド30の構成を説明する。図10において、ガイドレール25(図2参照)に沿って移動する第2の移動ベース30aには、光源ボックス31が装着されている。第2の移動ベース30aは、図2にて説明する移動手段によってY方向に移動する。光源ボックス31には、図11に示す上側照明部85、下側照明部86を構成する上側光源81および下側光源82が収納されている。 Next, the configuration of the optical head 30 will be described with reference to FIG. In FIG. 10, a light source box 31 is attached to the second moving base 30a that moves along the guide rail 25 (see FIG. 2). The second movement base 30a moves in the Y direction by the moving means described with reference to FIG. The light source box 31 houses the upper light source 85 shown in FIG. 11, the upper light source 81 constituting the lower light unit 86, and the lower light source 82.

上側光源81、下側光源82からは、それぞれ複数の光ファイバを結束して構成された上側光ファイバケーブル83、下側光ファイバケーブル84が延出している。上側光ファイバケーブル83、下側光ファイバケーブル84は、アーム部31aの内部を経由して可動光学ユニット32に接続されている。上側光源81、下側光源82を作動させることにより、上側光ファイバケーブル83、下側光ファイバケーブル84を介して可動光学ユニット32の内部において照明光が照射される。 From the upper light source 81 and the lower light source 82, an upper optical fiber cable 83 and a lower optical fiber cable 84, which are configured by bundling a plurality of optical fibers, respectively, extend. The upper optical fiber cable 83 and the lower optical fiber cable 84 are connected to the movable optical unit 32 via the inside of the arm portion 31a. By operating the upper light source 81 and the lower light source 82, the illumination light is irradiated inside the movable optical unit 32 via the upper optical fiber cable 83 and the lower optical fiber cable 84.

図11は、可動光学ユニット32の内部に収納された可動プリズム32aおよび可動プリズム32aが備えた上側照明部85、下側照明部86を示している。可動導光体である可動プリズム32aの上面側には、上側照明部85が設けられており、可動プリズム32aの下面側には、下側照明部86が設けられている。上側照明部85、下側照明部86は、いずれも前述の移動手段(リニアモータ24およびガイドレール25)によって可動プリズム32aとともに移動する。上側照明部85は、可動プリズム32aがチップ14と基板22との間に位置する際に、チップ14を照明する。また下側照明部86は、可動プリズム32aがチップ14と基板22との間に位置する際に、基板22を照明する。 FIG. 11 shows a movable prism 32a housed inside the movable optical unit 32, an upper lighting unit 85 and a lower lighting unit 86 included in the movable prism 32a. An upper lighting unit 85 is provided on the upper surface side of the movable light guide 32a, and a lower lighting unit 86 is provided on the lower surface side of the movable prism 32a. Both the upper lighting unit 85 and the lower lighting unit 86 move together with the movable prism 32a by the above-mentioned moving means (linear motor 24 and guide rail 25). The upper illumination unit 85 illuminates the chip 14 when the movable prism 32a is located between the chip 14 and the substrate 22. Further, the lower illumination unit 86 illuminates the substrate 22 when the movable prism 32a is located between the chip 14 and the substrate 22.

上側光ファイバケーブル83、下側光ファイバケーブル84は、可動光学ユニット32の内部において光ファイバの結束を解かれて終端部が平らに成形され、端面が線状にそろえられた照射部83a、84aを形成する。上側光ファイバケーブル83、下側光ファイバケーブル84を構成する光ファイバの先端面が開口した端面は、それぞれ上側光源81、下側光源82が発光し上側光ファイバケーブル83、下側光ファイバケーブル84により導光された照明光を、反射体50の上面および下面において照射する上側発光部83b、下側発光部84bとなっている。 In the upper optical fiber cable 83 and the lower optical fiber cable 84, the optical fiber is untied inside the movable optical unit 32 and the end portions are formed flat, and the end faces are aligned linearly in the irradiation portions 83a and 84a. To form. The upper light source 81 and the lower light source 82 emit light at the end faces of the optical fibers constituting the upper optical fiber cable 83 and the lower optical fiber cable 84, respectively, and the upper optical fiber cable 83 and the lower optical fiber cable 84 are emitted. The upper light emitting unit 83b and the lower light emitting unit 84b irradiate the illumination light guided by the above on the upper surface and the lower surface of the reflector 50.

すなわち上側照明部85は、上側光源81と複数の光ファイバの束であり上側光源81の光をチップ14へ導く上側光ファイバケーブル83とを有し、下側照明部86は、下側光源82と複数の光ファイバの束であり下側光源82の光を基板22へ導く下側光ファイバケーブル84とを有する構成となっている。 That is, the upper lighting unit 85 has an upper light source 81 and an upper optical fiber cable 83 which is a bundle of a plurality of optical fibers and guides the light of the upper light source 81 to the chip 14, and the lower lighting unit 86 has a lower light source 82. It is a bundle of a plurality of optical fibers and has a lower optical fiber cable 84 that guides the light of the lower light source 82 to the substrate 22.

そして上側光ファイバケーブル83を構成する複数の光ファイバの端面が反射体50の上面の第1の入射口61を取り囲むように、上側光ファイバケーブル83の終端部が平らに成形されて照射部83aとなっている。また下側光ファイバケーブル84を構成する複数の光ファイバの端面が反射体50の下面の第2の入射口62を取り囲むように下側光ファイバケーブル84の終端部が平らに成形されて照射部84aとなっている。 Then, the end portion of the upper optical fiber cable 83 is formed flat so that the end faces of the plurality of optical fibers constituting the upper optical fiber cable 83 surround the first incident port 61 on the upper surface of the reflector 50, and the irradiation portion 83a is formed. It has become. Further, the end portion of the lower optical fiber cable 84 is formed flat so that the end faces of the plurality of optical fibers constituting the lower optical fiber cable 84 surround the second incident port 62 on the lower surface of the reflector 50 to form an irradiation unit. It is 84a.

可動プリズム32aを形成する第1のブロック体53、第2のブロック体54の外側面において、反射体50を挟む位置には、それぞれ三角柱状の導光体である第7導光体57、第8導光体58が、外側方に延出して可動プリズム32aと一体に設けられている。可動プリズム32aを挟んで設けられた第7導光体57、第8導光体58は、可動プリズム32aがチップ14と基板22との間に位置した際、上方に設けられた照明手段である1対のスポット照明36(図2,図3参照)により異なる2方向から下方へ照射された照明光を、基板22のボンディング位置22aに導く集光部として機能する。 On the outer surfaces of the first block body 53 and the second block body 54 forming the movable prism 32a, the seventh light guide body 57 and the seventh light guide body 57, which are triangular columnar light guide bodies, are located at positions sandwiching the reflector 50, respectively. The 8 light guide body 58 extends outward and is provided integrally with the movable prism 32a. The seventh light guide body 57 and the eighth light guide body 58 provided with the movable prism 32a interposed therebetween are lighting means provided above when the movable prism 32a is located between the chip 14 and the substrate 22. It functions as a condensing unit that guides the illumination light radiated downward from two different directions by the pair of spot illuminations 36 (see FIGS. 2 and 3) to the bonding position 22a of the substrate 22.

図12は、ボンディングツール29に保持されたチップ14と基板22との間に可動光学ユニット32を位置させて、チップ14と基板22とを撮像する際のチップ14および基板22の照明状態を示している。まずスポット照明36を作動させることにより、可動光学ユニット32を挟む両側の上方から照明光が第7導光体57、第8導光体58に対して斜め上方向の異なる2方向から照射される(矢印i,j)。照射された照明光は第7導光体57、第8導光体58によって集光されて、基板22の上面のボンディング位置22aに入射して照明する。 FIG. 12 shows the illumination state of the chip 14 and the substrate 22 when the movable optical unit 32 is positioned between the chip 14 held by the bonding tool 29 and the substrate 22 and the chip 14 and the substrate 22 are imaged. ing. First, by operating the spot illumination 36, illumination light is emitted from above on both sides of the movable optical unit 32 with respect to the seventh light guide body 57 and the eighth light guide body 58 from two different diagonally upward directions. (Arrows i, j). The irradiated illumination light is collected by the 7th light guide body 57 and the 8th light guide body 58, and is incident on the bonding position 22a on the upper surface of the substrate 22 to illuminate.

また上側照明部85、下側照明部86を作動させることにより、上側光源81、下側光源82から、照明光が上側光ファイバケーブル83、下側光ファイバケーブル84を介して照射部83a、84aに導光される。そしてこの照明光は、上側発光部83b、下側発光部84bからそれぞれチップ14、基板22に対して間接照明光として照射される(矢印k、矢印m)。さらに、各撮像部に備えられた同軸照明からの照明光が撮像部位に対して照射される。 Further, by operating the upper lighting unit 85 and the lower lighting unit 86, the illumination light is emitted from the upper light source 81 and the lower light source 82 via the upper optical fiber cable 83 and the lower optical fiber cable 84, and the irradiation units 83a and 84a. Guided to. Then, this illumination light is emitted from the upper light emitting unit 83b and the lower light emitting unit 84b to the chip 14 and the substrate 22 as indirect illumination light (arrow k, arrow m), respectively. Further, the illumination light from the coaxial illumination provided in each imaging unit is applied to the imaging portion.

すなわち上左撮像部41や上右撮像部43の同軸照明からの照明光は、反射体50の第1導光体51に入射して(矢印n)、第1反射面71(図7参照)によって上方に反射されてチップ14に同軸方向から入射する(矢印o)。また下左撮像部42や下右撮像部44の同軸照明からの照明光は、反射体50の第2導光体52に入射して(矢印p)、第5反射面75(図7参照)によって下方に反射されて基板22に同軸方向から入射する(矢印q)。 That is, the illumination light from the coaxial illumination of the upper left image pickup unit 41 and the upper right image pickup unit 43 is incident on the first light guide body 51 of the reflector 50 (arrow n), and the first reflection surface 71 (see FIG. 7). It is reflected upward by the light and enters the chip 14 from the coaxial direction (arrow o). Further, the illumination light from the coaxial illumination of the lower left image pickup unit 42 and the lower right image pickup unit 44 is incident on the second light guide body 52 of the reflector 50 (arrow p), and the fifth reflection surface 75 (see FIG. 7). It is reflected downward by the light and enters the substrate 22 from the coaxial direction (arrow q).

このように本実施の形態のボンディング装置1においては、図7に示す構成の可動プリズム32aを内蔵した可動光学ユニット32をチップ14と基板22との間に位置させて上下2方向の撮像を行う方式において、以下に述べる複数の照明手段を備えるようにしている。 As described above, in the bonding apparatus 1 of the present embodiment, the movable optical unit 32 incorporating the movable prism 32a having the configuration shown in FIG. 7 is positioned between the chip 14 and the substrate 22 to perform imaging in two directions, up and down. In the method, a plurality of lighting means described below are provided.

まず、撮像ユニット34の各撮像部が備えた同軸照明によってチップ14と基板22に照明光を同軸方向から照射する。そしてチップ14と基板22を周囲から照明する間接照明として、可動プリズム32aの上側および下側に配置され光ファイバケーブルによって導かれた照明光を照射する上側照明部85、下側照明部86を備えている。さらに加えて、上方に設けられた1対のスポット照明36により下方へ照射された照明光を第7導光体57、第8導光体58によって集光して、基板22の上面のボンディング位置22aを照明するようにしている。このように複数の照明手段を備えることにより、ボンディング対象の基板22に基板押さえ部材など正常な照明を妨げる干渉物が存在する場合にあっても、良好な撮像のために必要な適正な照明条件を満たすことができる。 First, the chip 14 and the substrate 22 are irradiated with the illumination light from the coaxial direction by the coaxial illumination provided in each imaging unit of the imaging unit 34. As indirect lighting that illuminates the chip 14 and the substrate 22 from the surroundings, an upper lighting unit 85 and a lower lighting unit 86 that are arranged on the upper and lower sides of the movable prism 32a and irradiate the illumination light guided by the optical fiber cable are provided. ing. Furthermore, the illumination light radiated downward by the pair of spot illuminations 36 provided above is collected by the seventh light guide body 57 and the eighth light guide body 58, and the bonding position on the upper surface of the substrate 22 is obtained. I am trying to illuminate 22a. By providing a plurality of lighting means in this way, even if the substrate 22 to be bonded has an interfering object such as a substrate holding member that interferes with normal lighting, appropriate lighting conditions necessary for good imaging are required. Can be met.

次に図13を参照して、制御系の構成を説明する。図13において、制御部5は内部処理機能部としてのボンディング動作制御部91、アライメント処理部92、画像認識部93、視野位置設定部94および記憶部95を備えている。また制御部5には、リニアモータ24、第1のXYテーブル10、第2のXYテーブル20、ボンディングヘッド26、ピックアップヘッド15、撮像ユニットX軸モータ34X、撮像ユニットY軸モータ34Y、上左カメラ41c、下左カメラ42c、上右カメラ43c、下右カメラ44c、上側光源81、下側光源82、スポット照明36、上左同軸照明41b、下左同軸照明42b、上右同軸照明43b、下右同軸照明44bおよびタッチパネル96が接続されている。タッチパネル96は、画像認識部93による認識画面や制御部5への操作入力やデータ入力用の操作画面などを表示する。 Next, the configuration of the control system will be described with reference to FIG. In FIG. 13, the control unit 5 includes a bonding operation control unit 91, an alignment processing unit 92, an image recognition unit 93, a visual field position setting unit 94, and a storage unit 95 as internal processing function units. Further, the control unit 5 includes a linear motor 24, a first XY table 10, a second XY table 20, a bonding head 26, a pickup head 15, an image pickup unit X-axis motor 34X, an image pickup unit Y-axis motor 34Y, and an upper left camera. 41c, lower left camera 42c, upper right camera 43c, lower right camera 44c, upper light source 81, lower light source 82, spot lighting 36, upper left coaxial lighting 41b, lower left coaxial lighting 42b, upper right coaxial lighting 43b, lower right The coaxial illumination 44b and the touch panel 96 are connected. The touch panel 96 displays a recognition screen by the image recognition unit 93, an operation input to the control unit 5, an operation screen for data input, and the like.

ボンディング動作制御部91は、リニアモータ24、第1のXYテーブル10、第2のXYテーブル20、ボンディングヘッド26、ピックアップヘッド15を制御することにより、ピックアップヘッド15によってチップ供給部2から取り出したチップ14をボンディングヘッド26によって基板22にボンディングするボンディング動作を制御する。 The bonding operation control unit 91 controls the linear motor 24, the first XY table 10, the second XY table 20, the bonding head 26, and the pickup head 15, so that the chip taken out from the chip supply unit 2 by the pickup head 15 The bonding operation of bonding 14 to the substrate 22 by the bonding head 26 is controlled.

画像認識部93は、上左カメラ41c、下左カメラ42c、上右カメラ43c、下右カメラ44cによってチップ14とボンディング位置22aを撮像して得られた画像を認識処理することにより、チップ14とボンディング位置22aとの位置ずれを検出する。すなわち画像認識部93はチップ14とボンディング位置22aとの相対的な位置ずれを検出する検出手段となっている。上左カメラ41c、下左カメラ42c、上右カメラ43c、下右カメラ44cによる撮像時には、画像認識部93が備えた照明制御機能によって上側光源81、下側光源82、スポット照明36、上左同軸照明41b、下左同軸照明42b、上右同軸照明43b、下右同軸照明44bの点灯が制御される。 The image recognition unit 93 recognizes and processes the image obtained by imaging the chip 14 and the bonding position 22a by the upper left camera 41c, the lower left camera 42c, the upper right camera 43c, and the lower right camera 44c, thereby forming the chip 14 and the chip 14. The positional deviation from the bonding position 22a is detected. That is, the image recognition unit 93 is a detection means for detecting the relative positional deviation between the chip 14 and the bonding position 22a. At the time of imaging by the upper left camera 41c, the lower left camera 42c, the upper right camera 43c, and the lower right camera 44c, the upper light source 81, the lower light source 82, the spot illumination 36, and the upper left coaxial are provided by the lighting control function provided in the image recognition unit 93. The lighting of the illumination 41b, the lower left coaxial illumination 42b, the upper right coaxial illumination 43b, and the lower right coaxial illumination 44b is controlled.

視野位置設定部94は、撮像ユニットX軸モータ34X、撮像ユニットY軸モータ34Yの駆動を制御することにより、撮像ユニット34を移動させる。これにより、上左撮像部41、下左撮像部42、上右撮像部43、下右撮像部44の撮像視野の位置が撮像対象に応じて設定される。記憶部95はボンディング動作制御部91によるボンディング動作の制御に用いられるボンディングデータや、画像認識部93による認識処理に用いられる認識データ、さらに視野位置設定部94による視野位置の設定に用いられる撮像視野データなどのデータを記憶する。 The field of view position setting unit 94 moves the image pickup unit 34 by controlling the drive of the image pickup unit X-axis motor 34X and the image pickup unit Y axis motor 34Y. As a result, the positions of the image pickup fields of the upper left image pickup unit 41, the lower left image pickup unit 42, the upper right image pickup unit 43, and the lower right image pickup unit 44 are set according to the image pickup target. The storage unit 95 includes bonding data used for controlling the bonding operation by the bonding operation control unit 91, recognition data used for recognition processing by the image recognition unit 93, and an imaging field of view used for setting the visual field position by the visual field position setting unit 94. Store data such as data.

上記説明したように、本実施の形態では、ボンディングツール29に保持したチップ14を基板22のボンディング位置22aに接合するボンディング装置1を、チップ14と基板22との間に進出した際に、チップ14の像、ボンディング位置22aの像をそれぞれ第1の入射口61、第2の入射口62から入射させ、第1の出射口63、第2の出射口64から上方に出射させる機能を有する可動導光体と、出射されたチップの像、ボンディング位置の像を、2回反射ミラーとして機能する4つのプリズムを備えた固定光学ユニット33を介して4つの撮像部によって撮像する撮像ユニット34とを備える構成とし、可動導光体として薄型の多面反射プリズムより成る可動プリズム32aを用いるようにしている。これにより、ボンディング作業において高い位置精度を確保しながら高生産性を実現することができる。 As described above, in the present embodiment, when the bonding device 1 for bonding the chip 14 held by the bonding tool 29 to the bonding position 22a of the substrate 22 is advanced between the chip 14 and the substrate 22, the chip is inserted. Movable having a function of incident the image of 14 and the image of the bonding position 22a from the first incident port 61 and the second incident port 62, respectively, and eject them upward from the first exit port 63 and the second exit port 64, respectively. An image pickup unit 34 that captures an image of the emitted chip, an image of a bonding position, and an image of a bonding position by four image pickup units via a fixed optical unit 33 having four prisms that function as a double reflection mirror. A movable prism 32a made of a thin multi-faceted reflection prism is used as the movable light guide. As a result, high productivity can be realized while ensuring high position accuracy in the bonding work.

そして固定光学ユニット33により、第1の出射口63から出射されたチップ14の上左画像UL、上右画像UR、第2の出射口64から出射されたボンディング位置22aのチップ14の下左画像DL、下右画像DRを、4つのプリズムによって下方に反射する。反射されたこれらの画像を撮像ユニット34の4つの撮像部に入射させて撮像する構成において、4つの撮像部を撮像部移動手段によって固定光学ユニット33の4つのプリズムに対して相対的に移動させることにより、4つの撮像部による撮像視野の位置を調整する。これにより、サイズや認識点の位置が異なる多品種のチップ14を対象とすることができる。 Then, by the fixed optical unit 33, the upper left image UL, the upper right image UR, and the lower left image of the chip 14 at the bonding position 22a emitted from the second exit 64 are the upper left image UL and the upper right image UR of the chip 14 emitted from the first exit 63. The DL and the lower right image DR are reflected downward by four prisms. In a configuration in which these reflected images are incident on the four image pickup units of the image pickup unit 34 and imaged, the four image pickup units are moved relative to the four prisms of the fixed optical unit 33 by the image pickup unit moving means. This adjusts the position of the imaging field of view by the four imaging units. This makes it possible to target a wide variety of chips 14 having different sizes and positions of recognition points.

上述構成のボンディング装置1のボンディング機構4において、共通のリニアモータ24によって駆動されてガイドレール25に沿って移動する第1の移動ベース26a、第2の移動ベース30aに、ボンディングツール29を備えたボンディングヘッド26および可動光学ユニット32を備えた光学ヘッド30とを装着する。光学ヘッド30を移動させて可動光学ユニット32をチップ14と基板22との間に位置させた状態で、撮像ユニット34によってチップ14の像とボンディング位置22aの像を撮像する。これにより、ボンディング装置の機構を簡素化して設備コストを低減することが可能となっている。 In the bonding mechanism 4 of the bonding device 1 having the above configuration, the bonding tool 29 is provided on the first moving base 26a and the second moving base 30a driven by a common linear motor 24 and moving along the guide rail 25. The bonding head 26 and the optical head 30 provided with the movable optical unit 32 are attached. With the optical head 30 moved and the movable optical unit 32 positioned between the chip 14 and the substrate 22, the image pickup unit 34 captures an image of the chip 14 and an image of the bonding position 22a. This makes it possible to simplify the mechanism of the bonding device and reduce the equipment cost.

上述の可動光学ユニット32が備えた可動プリズム32aには、上側光源からの照明光を上側光ファイバケーブル83によって照射部83aに導いて上側発光部83bから照射してチップ14を照明する上側照明部85と、下側光源からの照明光を下側光ファイバケーブル84によって照射部84aに導いて下側発光部84bから照射して基板22のボンディング位置22a照明する下側照明部86とが設けられている。この構成により、チップ14およびボンディング位置22aを適正な照明条件で照明し、高精度の位置認識を行うことが可能となっている。 In the movable prism 32a provided in the above-mentioned movable optical unit 32, the illumination light from the upper light source is guided to the irradiation unit 83a by the upper optical fiber cable 83 and irradiated from the upper light emitting unit 83b to illuminate the chip 14. 85 and a lower lighting unit 86 that guides the illumination light from the lower light source to the irradiation unit 84a by the lower optical fiber cable 84 and irradiates the illumination light from the lower light emitting unit 84b to illuminate the bonding position 22a of the substrate 22 are provided. ing. With this configuration, it is possible to illuminate the chip 14 and the bonding position 22a under appropriate lighting conditions and perform highly accurate position recognition.

さらに本実施の形態に示すボンディング装置1においては、ボンディング機構4のY軸フレーム23に配置された1対のスポット照明36からの照明光を、チップ14と基板22との間に位置した可動光学ユニット32に照射し、照射光を可動プリズム32aの側面に設けられた第7の導光体57,第8の導光体58によって集光して基板22のボンディング位置に導くようにしている。これにより、基板22上に干渉物が存在する場合にあっても、基板22のボンディング位置22aを適正な照明条件で照明することができる。 Further, in the bonding apparatus 1 shown in the present embodiment, the illumination light from the pair of spot illuminations 36 arranged on the Y-axis frame 23 of the bonding mechanism 4 is the movable optics located between the chip 14 and the substrate 22. The unit 32 is irradiated, and the irradiation light is focused by the seventh light guide body 57 and the eighth light guide body 58 provided on the side surface of the movable prism 32a and guided to the bonding position of the substrate 22. As a result, even if an interfering object is present on the substrate 22, the bonding position 22a of the substrate 22 can be illuminated under appropriate lighting conditions.

なお、本実施の形態に示すボンディング装置1では、1対のスポット照明36がY軸フレーム23に配置されているが、Y軸フレーム23とは異なる部材に配置されてもよい。 In the bonding device 1 shown in the present embodiment, the pair of spot lights 36 are arranged on the Y-axis frame 23, but they may be arranged on a member different from the Y-axis frame 23.

本発明のボンディング装置は、高い位置精度を確保しながら高生産性を実現することができるという効果を有し、チップを基板のボンディング位置に接合する技術分野において有用である。 The bonding apparatus of the present invention has the effect of being able to realize high productivity while ensuring high position accuracy, and is useful in the technical field of bonding chips to the bonding position of a substrate.

1 ボンディング装置
2 チップ供給部
3 基板保持部
4 ボンディング機構
14 チップ
21 基板保持ステージ
22 基板
22a ボンディング位置
24 リニアモータ
25 ガイドレール
26 ボンディングヘッド
26a 第1の移動ベース
29 ボンディングツール
30 光学ヘッド
30a 第2の移動ベース
31 光源ボックス
32 可動光学ユニット
32a 可動プリズム
33 固定光学ユニット
34 撮像ユニット
35 撮像部移動機構
36 スポット照明
41 上左撮像部
41c 上左カメラ
42 下左撮像部
42c 下左カメラ
43 上右撮像部
43c 上右カメラ
44 下右撮像部
44c 下右カメラ
45 上左プリズム
46 上右プリズム
47 下左プリズム
48 下右プリズム
50 反射体
53 第1のブロック体
54 第2のブロック体
61 第1の入射口
62 第2の入射口
63 第1の出射口
64 第2の出射口
81 上側光源
82 下側光源
83 上側光ファイバケーブル
84 下側光ファイバケーブル
85 上側照明部
86 下側照明部
UL 上左画像
UR 上右画像
DL 下左画像
DR 下右画像
[P1] 取出し位置
[P2] ピックアップ位置
[P3] 作業位置
1 Bonding device 2 Chip supply part 3 Board holding part 4 Bonding mechanism 14 Chip 21 Board holding stage 22 Board 22a Bonding position 24 Linear motor 25 Guide rail 26 Bonding head 26a First moving base 29 Bonding tool 30 Optical head 30a Second Moving base 31 Light source box 32 Movable optical unit 32a Movable prism 33 Fixed optical unit 34 Imaging unit 35 Imaging unit Moving mechanism 36 Spot lighting 41 Upper left imaging unit 41c Upper left camera 42 Lower left imaging unit 42c Lower left camera 43 Upper right imaging unit 43c Upper right camera 44 Lower right image pickup unit 44c Lower right camera 45 Upper left prism 46 Upper right prism 47 Lower left prism 48 Lower right prism 50 Reflector 53 First block body 54 Second block body 61 First incident port 62 Second incident port 63 First exit port 64 Second exit port 81 Upper light source 82 Lower light source 83 Upper optical fiber cable 84 Lower optical fiber cable 85 Upper lighting unit 86 Lower lighting unit UL Upper left image UR Top right image DL Bottom left image DR Bottom right image [P1] Extraction position [P2] Pickup position [P3] Working position

Claims (8)

ボンディングツールがチップを保持し、前記チップと対向するように基板が載置されるステージの方向に前記ボンディングツールを下降させて前記チップを前記基板のボンディング位置に接合するボンディング装置において、
前記ボンディング位置の上方に位置する前記チップと前記基板との間に位置した際に、前記チップの像を前記チップに対向する第1の入射口から入射させ前記第1の入射口から水平方向に離間した第1の出射口から上方に出射させるとともに、前記基板の前記ボンディング位置の像を前記ボンディング位置と対向する第2の入射口から入射させ前記第1の入射口から水平方向に離間した第2の出射口から上方に出射させる可動導光体と、
前記第1の出射口から出射された前記チップの像を入射させ出射させる第1の導光体と、
前記第1の導光体から出射された前記チップの像を撮像する第1の撮像部と、
前記第2の出射口から出射された前記ボンディング位置の像を入射させ出射させる第2の導光体と、
前記第2の導光体から出射された前記ボンディング位置の像を撮像する第2の撮像部と、
前記第1の撮像部によって撮像された前記チップの像と前記第2の撮像部によって撮像された前記ボンディング位置の像に基づいて、前記チップと前記ボンディング位置の相対的な位置ずれを検出する検出手段と、
前記検出手段によって検出された前記位置ずれに基づいて、前記ボンディングツールと前記ステージを相対的に移動させるアライメント手段と、
前記ボンディング位置の上方に位置する前記チップと前記基板との間の空間に前記可動導光体を進退させる移動手段と、
前記第1の撮像部と前記第2の撮像部とを前記第1の導光体と前記第2の導光体に対して相対的に移動させる撮像部移動手段と、
を備える、ボンディング装置。
In a bonding apparatus in which the bonding tool holds the chip and lowers the bonding tool toward the stage on which the substrate is placed so as to face the chip to bond the chip to the bonding position of the substrate.
When it is located between the chip located above the bonding position and the substrate, the image of the chip is incident from the first incident port facing the chip and horizontally from the first incident port. The image of the bonding position of the substrate is incident from the second incident port facing the bonding position and horizontally separated from the first incident port while being emitted upward from the separated first ejection port. A movable light guide that emits upward from the exit port of 2 and
A first light guide body that incidents and emits an image of the chip emitted from the first exit port, and
A first imaging unit that captures an image of the chip emitted from the first light guide, and a first imaging unit.
A second light guide body that incidents and emits an image of the bonding position emitted from the second exit port, and
A second imaging unit that captures an image of the bonding position emitted from the second light guide, and a second imaging unit.
Detection to detect the relative positional deviation between the chip and the bonding position based on the image of the chip imaged by the first imaging unit and the image of the bonding position imaged by the second imaging unit. Means and
An alignment means for relatively moving the bonding tool and the stage based on the misalignment detected by the detection means, and an alignment means.
A moving means for advancing and retreating the movable light guide body into the space between the chip and the substrate located above the bonding position.
An image pickup unit moving means for moving the first image pickup unit and the second image pickup unit relative to the first light guide body and the second light guide body.
A bonding device.
前記チップにおける前記第1の撮像部の視野と前記ボンディング位置における前記第2の撮像部の視野は上下に重なっており、
前記撮像部移動手段は前記第1の撮像部の視野と前記第2の撮像部の視野が重なった状態を維持しながら前記第1の撮像部と前記第2の撮像部とを移動させる、請求項1に記載のボンディング装置。
The field of view of the first image pickup unit on the chip and the field of view of the second image pickup unit at the bonding position are vertically overlapped with each other.
The image pickup unit moving means moves the first image pickup unit and the second image pickup unit while maintaining a state in which the field of view of the first image pickup unit and the field of view of the second image pickup unit overlap. Item 1. The bonding apparatus according to Item 1.
前記撮像部移動手段は、前記第1の撮像部と前記第2の撮像部とを同一方向に同一距離移動させる第1の移動機構を含む、請求項1に記載のボンディング装置。 The bonding apparatus according to claim 1, wherein the image pickup unit moving means includes a first movement mechanism for moving the first image pickup unit and the second image pickup unit by the same distance in the same direction. 前記撮像部移動手段は、前記第1の撮像部と前記第2の撮像部とを反対方向に同一距離移動させることができる第2の移動機構を含む、請求項1に記載のボンディング装置。 The bonding apparatus according to claim 1, wherein the image pickup unit moving means includes a second moving mechanism capable of moving the first image pickup unit and the second image pickup unit by the same distance in opposite directions. ボンディングツールがチップを保持し、前記チップと対向するように基板が載置されるステージの方向に前記ボンディングツールを下降させて前記チップを前記基板のボンディング位置に接合するボンディング装置において、
前記ボンディング位置の上方に位置する前記チップと前記基板との間に位置した際に、前記チップの像を前記チップに対向する第1の入射口から入射させ前記第1の入射口から水平方向に離間した第1の出射口から上方に出射させるとともに、前記基板の前記ボンディング位置の像を前記ボンディング位置と対向する第2の入射口から入射させ前記第1の入射口から水平方向に離間した第2の出射口から上方に出射させる可動導光体と、
前記第1の出射口から出射された前記チップの像の一部である第1の部分像を入射させ出射させる第1の導光体と、
前記第1の導光体から出射された前記第1の部分像を撮像する第1の撮像部と、
前記第2の出射口から出射された前記ボンディング位置の像の一部である第2の部分像を入射させ出射させる第2の導光体と、
前記第2の導光体から出射された前記第2の部分像を撮像する第2の撮像部と、
前記第1の出射口から出射された前記チップの像の前記第1の部分像とは異なる一部である第3の部分像を入射させ出射させる第3の導光体と、
前記第3の導光体から出射された前記第3の部分像を撮像する第3の撮像部と、
前記第2の出射口から出射された前記ボンディング位置の像の前記第2の部分像とは異なる一部である第4の部分像を入射させ出射させる第4の導光体と、
前記第4の導光体から出射された前記第4の部分像を撮像する第4の撮像部と、
前記第1の撮像部によって撮像された前記第1の部分像と前記第2の撮像部によって撮像された前記第2の部分像と前記第3の撮像部によって撮像された前記第3の部分像と前記第4の撮像部によって撮像された前記第4の部分像に基づいて、前記チップと前記ボンディング位置の相対的な位置ずれを検出する検出手段と、
前記検出手段によって検出された前記位置ずれに基づいて、前記ボンディングツールと前記ステージを相対的に移動させるアライメント手段と、
前記ボンディング位置の上方に位置する前記チップと前記基板との間の空間に前記可動導光体を進退させる移動手段と、
前記第1の撮像部と前記第2の撮像部と前記第3の撮像部と前記第4の撮像部とを、前記第1の導光体と前記第2の導光体と前記第3の導光体と前記第4の導光体に対して相対的に移動させる撮像部移動手段と、
を備える、ボンディング装置。
In a bonding apparatus in which the bonding tool holds the chip and lowers the bonding tool toward the stage on which the substrate is placed so as to face the chip to bond the chip to the bonding position of the substrate.
When it is located between the chip located above the bonding position and the substrate, the image of the chip is incident from the first incident port facing the chip and horizontally from the first incident port. The image of the bonding position of the substrate is incident from the second incident port facing the bonding position and horizontally separated from the first incident port while being emitted upward from the separated first ejection port. A movable light guide that emits upward from the exit port of 2 and
A first light guide body that incidents and emits a first partial image that is a part of an image of the chip emitted from the first exit port.
A first imaging unit that captures the first partial image emitted from the first light guide, and a first imaging unit.
A second light guide body that incidents and emits a second partial image that is a part of the image of the bonding position emitted from the second exit port.
A second imaging unit that captures the second partial image emitted from the second light guide, and a second imaging unit.
A third light guide body that incidents and emits a third partial image that is a part different from the first partial image of the image of the chip emitted from the first exit port.
A third imaging unit that captures the third partial image emitted from the third light guide, and a third imaging unit.
A fourth light guide body that incidents and emits a fourth partial image that is a part different from the second partial image of the image of the bonding position emitted from the second exit port.
A fourth imaging unit that captures the fourth partial image emitted from the fourth light guide, and a fourth imaging unit.
The first partial image captured by the first imaging unit, the second partial image captured by the second imaging unit, and the third partial image captured by the third imaging unit. And a detection means for detecting the relative positional deviation between the chip and the bonding position based on the fourth partial image captured by the fourth imaging unit.
An alignment means for relatively moving the bonding tool and the stage based on the misalignment detected by the detection means, and an alignment means.
A moving means for advancing and retreating the movable light guide body into the space between the chip and the substrate located above the bonding position.
The first image pickup unit, the second image pickup unit, the third image pickup unit, and the fourth image pickup unit are combined with the first light guide body, the second light guide body, and the third light guide body. An image pickup unit moving means for moving the light guide body relative to the fourth light guide body, and
A bonding device.
前記チップにおける前記第1の撮像部の視野と前記ボンディング位置における前記第2の撮像部の視野は上下に重なっており、
前記チップにおける前記第3の撮像部の視野と前記ボンディング位置における前記第4の撮像部の視野は上下に重なっており、
前記撮像部移動手段は、前記第1の撮像部の視野と前記第2の撮像部の視野が重なった状態と前記第3の撮像部の視野と前記第4の撮像部の視野が重なった状態とを維持しながら、前記第1の撮像部と前記第2の撮像部と前記第3の撮像部と前記第4の撮像部とを移動させる、請求項5に記載のボンディング装置。
The field of view of the first image pickup unit on the chip and the field of view of the second image pickup unit at the bonding position are vertically overlapped with each other.
The field of view of the third image pickup unit on the chip and the field of view of the fourth image pickup unit at the bonding position are vertically overlapped with each other.
The image pickup unit moving means has a state in which the field of view of the first image pickup unit and the field of view of the second image pickup unit overlap, and a state in which the field of view of the third image pickup unit and the field of view of the fourth image pickup unit overlap. The bonding apparatus according to claim 5, wherein the first image pickup unit, the second image pickup unit, the third image pickup unit, and the fourth image pickup unit are moved while maintaining the above.
前記撮像部移動手段は、前記第1の撮像部と前記第2の撮像部と前記第3の撮像部と前記第4の撮像部とを同一方向に同一距離移動させる第1の移動機構を含む、請求項5に記載のボンディング装置。 The image pickup unit moving means includes a first moving mechanism that moves the first image pickup unit, the second image pickup unit, the third image pickup unit, and the fourth image pickup unit by the same distance in the same direction. , The bonding apparatus according to claim 5. 前記撮像部移動手段は、前記第1の撮像部と前記第3の撮像部とを同一方向に同一距離移動させるとともに、前記第2の撮像部と前記第4の撮像部とを前記第1の撮像部と前記第3の撮像部とは反対方向に同一距離移動させることができる第2の移動機構を含む、請求項5に記載のボンディング装置。 The image pickup unit moving means moves the first image pickup unit and the third image pickup unit by the same distance in the same direction, and moves the second image pickup unit and the fourth image pickup unit to the first image pickup unit. The bonding apparatus according to claim 5, further comprising a second moving mechanism capable of moving the image pickup unit and the third image pickup unit by the same distance in opposite directions.
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JPH074917A (en) * 1993-06-16 1995-01-10 Matsushita Electric Ind Co Ltd Apparatus for observing electronic part
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