JP7043030B2 - 光電センサ - Google Patents

光電センサ Download PDF

Info

Publication number
JP7043030B2
JP7043030B2 JP2018145203A JP2018145203A JP7043030B2 JP 7043030 B2 JP7043030 B2 JP 7043030B2 JP 2018145203 A JP2018145203 A JP 2018145203A JP 2018145203 A JP2018145203 A JP 2018145203A JP 7043030 B2 JP7043030 B2 JP 7043030B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal value
photoelectric sensor
unit
value
time range
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2018145203A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2020022092A (ja
Inventor
火炎 木焦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Omron Corp
Original Assignee
Omron Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Omron Corp filed Critical Omron Corp
Priority to JP2018145203A priority Critical patent/JP7043030B2/ja
Priority to PCT/JP2019/028272 priority patent/WO2020026833A1/ja
Priority to TW108127104A priority patent/TWI715133B/zh
Publication of JP2020022092A publication Critical patent/JP2020022092A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7043030B2 publication Critical patent/JP7043030B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • H04N25/76Addressed sensors, e.g. MOS or CMOS sensors
    • H04N25/78Readout circuits for addressed sensors, e.g. output amplifiers or A/D converters
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Geophysics And Detection Of Objects (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)

Description

本発明は、対象物の状態についての判定機能を備える光電センサに関する。
従来、対象物の有無を検出するセンサとして、対象物に光を照射し、対象物を透過する光を検出したり、対象物による光の遮蔽を検出したり、対象物により反射した光を検出したりする光電センサが用いられている。また、対象物の有無ではなく、対象物の状態を検出する場合には、カメラで対象物を撮像し、画像分析を行う視覚センサを用いることがある。
光電センサについて、例えば下記特許文献1には、背景レベルに相当する検出値をゼロリセット基準値として記憶させることにより、任意の検出値を、背景レベルを基準とした相対値で表示し得るように構成した光電センサが記載されている。
また、下記特許文献2には、鋼板表面をレーザ光で走査し、反射光波形を代表する複数個の特徴量を算出し、その特徴量を予め学習させた神経回路網に加えて疵有/無出力を行う検査方法が記載されている。
特開2001-124594号公報 特開平2-298840号公報
普及している光電センサ1つでできる対象物の有無の検出よりは難しいが、光電センサに比べれば大型、高価である視覚センサの多様な能力が必要というほどではないような対象物の状態の検出需要がある。例えば、形状や模様が大きく異なる対象物を見分ける場合、単に対象物の有無を検出するだけでは足りないが、視覚センサの多様な能力が必要というほどではない。
ここで、従来の光電センサと特許文献1に示されているような受光量波形を分析する手法とを組み合わせることで、原理的には対象物の状態についての判定が可能と考えられる。しかし、判定に必要な部分(特許文献2における疵の大きさに対応する部分)の波形のみを取得するための適切なトリガが得られないため、判定に必要な部分よりも長い時間範囲の波形の取得を完了してから波形分析を行うこととなり、例えば搬送ライン上を次々と運ばれてくる対象物に適用するにはリアルタイム性に欠ける。
そこで、本発明は、簡易な構成で、時間遅れ少なく、対象物の状態を判定する光電センサを提供する。
本開示の一態様に係る光電センサは、対象物が到来する検出範囲に向けて光を出射する投光部と、光の受光に基づく時系列の信号値を取得する受光部と、取得された順に順序付けて所定数の信号値を記憶し、周期的に、新たに取得された信号値により所定数の信号値を更新するFIFOメモリと、所定のパラメータを含む予測モデルにより、第1時間範囲に取得された信号値に基づいて、第1時間範囲より後の第2時間範囲に取得される信号値を予測する予測部と、FIFOメモリの更新を1回又は複数回行う毎に一度の頻度で、予測部により予測された信号値と、第2時間範囲に対応するFIFOメモリに記憶された信号値との一致度に基づいて、対象物の状態を判定する判定部と、を備える。
この態様によれば、FIFOメモリの更新を1回又は複数回行う毎に一度の頻度で、予測部により予測された信号値と、第1時間範囲より後の第2時間範囲に対応するFIFOメモリに記憶された信号値との一致度に基づいて、対象物の状態を判定することで、簡易な構成で、時間遅れ少なく、搬送ライン上を次々と運ばれてくる対象物の状態を判定することができる。
上記態様において、判定部は、一致度が所定値よりも高い場合に、対象物の状態は特定の状態であると判定してもよい。
上記態様において、予測モデルは、機械学習によって生成されたモデルであってもよい。
この態様によれば、学習済みモデルによって、第1時間範囲に取得された信号値に基づいて、第1時間範囲より後の第2時間範囲に取得される信号値を予測することで、信号値の予測精度を向上させ、搬送ライン上を次々と運ばれてくる対象物の状態をより柔軟に判定することができる。
上記態様において、信号値に基づいて予測モデルを生成する動作制御部をさらに備えてもよい。
この態様によれば、光電センサが自ら予測モデルを生成できるので、予測モデルを外部から取得することなく、実際の対象物に応じて生成された予測モデルを使用することができる。
上記態様において、動作制御部は、時系列の信号値の変動が比較的小さい安定期に続いて、時系列の信号値の変動が比較的大きい変動期が現れた場合に、変動期に属する信号値に基づいて予測モデルを生成してもよい。
この態様によれば、信号値の中から対象物によって生じた信号値を選択的に使用して予測モデルを生成することができる。
上記態様において、動作制御部は、予測モデルを外部に出力可能であってもよい。
この態様によれば、生成した予測モデルを他の光電センサで用いることができるので、同様の対象物及び設置状況で使用される複数の光電センサごとに予測モデルの生成を繰り返す必要が無くなる。
上記態様において、動作制御部は、時系列の信号値を外部に出力可能であってもよい。
この態様によれば、信号値を外部に出力し、外部機器で予測モデルを生成することができる。これにより、予測モデルを生成する処理に関する計算資源を光電センサ自身で持つ必要がない。
上記態様において、予測モデルを外部から取得する動作制御部をさらに備えてもよい。
この態様によれば、他の装置、例えば他の光電センサにより生成された予測モデルを流用することで予測モデルの生成を省略することができる。
本発明によれば、簡易な構成で、時間遅れ少なく、対象物の状態を判定する光電センサが提供される。
本発明の実施形態に係る光電センサを含む検出システムの概要を示す図である。 本実施形態に係る光電センサの構成を示す図である。 本実施形態に係る光電センサの処理部の構成の一例を示す図である。 本実施形態に係る光電センサの学習モード及び判定モードの処理のフローチャートである。 本実施形態に係る光電センサの第nサイクルに測定された信号値の一例を示す図である。 本実施形態に係る光電センサの第n+1サイクルに測定された信号値の一例を示す図である。 本実施形態に係る光電センサの第nサイクルに測定された信号値の他の例を示す図である。 本実施形態に係る光電センサの処理部の構成の他の例を示す図である。
以下、本発明の一側面に係る実施の形態(以下、「本実施形態」と表記する。)を、図面に基づいて説明する。なお、各図において、同一の符号を付したものは、同一又は同様の構成を有する。
[構成例]
図1から図3を参照しつつ、本実施形態に係る光電センサ10の構成の一例について説明する。図1は、本実施形態に係る光電センサ10を含む検出システム1の概要を示す図である。検出システム1は、光電センサ10と、コントローラ20と、コンピュータ30と、ロボット40と、搬送装置50とを備える。
光電センサ10は、取得される信号値に基づいて、光電センサ10の検出範囲10aに対象物100が到来したことを検出し、その対象物100の状態を判定する装置である。光電センサ10は、反射型の光電センサであったり、透過型の光電センサであったり、回帰反射型の光電センサであったりしてよい。また、光電センサ10は、対象物100にレーザビームを投光し、三角測距の原理に基づいて対象物100までの距離に対応する信号値を得る変位センサであってもよい。また、光電センサ10は、対象物100で反射される光の往復時間に基づいて対象物100までの距離に対応する信号値を得る測距センサであってもよい。本明細書において、「信号値」は、受光量の値のほか、対象物100までの距離に対応する信号値も含むものとする。
対象物100は、光電センサ10による検出の対象となる物であり、例えば生産される製品の完成品であったり、部品等の未完成品であったりしてよい。図1に例示する対象物100は、ベースの上に突起が付いた形状の対象物である。また、異種対象物として、同じベースを有するが突起が付いていない形状の対象物も混入して搬送されるものとする。光電センサ10が、例えば反射型の光電センサである場合、対象物100が光電センサ10の検出範囲10aに到来すると、検出される反射光量が増加する。また、対象物100がベースの上に突起が付いた形状の場合、検出範囲10aに対象物100の突起があるとさらに反射光量が増加する。
コントローラ20は、ロボット40及び搬送装置50を制御する。コントローラ20は、例えばPLC(Programmable Logic Controller)で構成されてよい。コントローラ20は、光電センサ10からの出力により対象物100が到来したことを検知し、さらに、判定された対象物100の状態に応じてロボット40を制御する。
コンピュータ30は、光電センサ10、コントローラ20及びロボット40の設定を行う。また、コンピュータ30は、コントローラ20から、コントローラ20による制御の実行結果を取得する。さらに、コンピュータ30は、光電センサ10により対象物100の状態を判定するための判定モデルを機械学習により生成する学習装置を含んでよい。ここで、判定モデルは、例えばニューラルネットワークにより構成されたり、決定木により構成されたりしてよい。
ロボット40は、コントローラ20による制御に従って、対象物100を操作したり加工したりする。ロボット40は、例えば対象物100をピックアップして別の場所に移動させたり、対象物100を切削したり、組み立てたりしてよい。また、ロボット40は、対象物100に突起が有るか無いかによって、加工内容又は移動先を変えてもよい。
搬送装置50は、コントローラ20による制御に従って、対象物100を搬送する装置である。搬送装置50は、例えばベルトコンベアであってよく、コントローラ20により設定された速度で対象物100を搬送してよい。
図2は、本実施形態に係る光電センサ10の構成を示す図である。光電センサ10は、投光部11、受光部12、処理部13、操作部14及び出力部15を備える。
<投光部>
投光部11は、対象物100が到来する検出範囲10aに向けて光を出射する。投光部11は、投光素子11a及び駆動回路11bを含んでよい。投光素子11aは、LED(Light Emitting Diode)やレーザダイオードで構成されてよく、駆動回路11bは、投光素子11aを発光させるための電流を制御する。駆動回路11bは、投光素子11aを間欠的に、例えば0.1ms周期でパルス発光させてよい。投光素子11aから出射した光は、図示しないレンズ又は光ファイバを介して、検出範囲10aに照射されてよい。
<受光部>
受光部12は、光の受光に基づく時系列の信号値を取得する。受光部12は、受光素子12a、増幅器12b、サンプル/ホールド回路12c及びA/D変換器12dを含んでよい。受光素子12aは、フォトダイオードによって構成されてよく、受光量を電気的な出力信号に変換する。受光部12は、検出範囲10aにおいて反射又は透過した光を、図示しないレンズ又は光ファイバを介して受光素子12aに入射させてよい。増幅器12bは、受光素子12aの出力信号を増幅する。サンプル/ホールド回路12cは、投光部11によるパルス発光のタイミングに同期して、増幅器12bにより増幅された受光素子12aの出力信号を保持する。これにより外乱光の影響が低減される。A/D変換器12dは、サンプル/ホールド回路12cにより保持されたアナログの信号値をデジタル値である受光量の値に変換する。
<処理部>
処理部13は、動作制御部13a、FIFO(First In First Out)メモリ13b、予測値記憶部13c、判定部13d及び予測部13eを含む。処理部13は、例えば、マイクロプロセッサ、メモリ及びメモリに格納されたプログラム等から構成されるコンピュータとして構成されてよい。
動作制御部13aは、後述する予測モデルを取り扱う処理の他、光電センサ10全体の動作を統括制御してよい。
FIFOメモリ13bは、取得された順に順序付けて所定数の信号値を記憶し、周期的に、新たに取得された信号値により所定数の信号値を更新する。ここで、FIFOメモリ13bに記憶される信号値の数、すなわち所定数は、任意であるが、例えば100程度であってよい。FIFOメモリ13bは、専用のハードウェアによって実現できるほか、処理部13のメモリ上に処理部13のプログラムに従って実現されてもよい。その場合、FIFOメモリ13bの後段への信号値のシフトは、格納されているデータの物理的なシフトではなく、メモリ上のアクセス箇所の更新によって行うことができる。
予測値記憶部13cは、予測部13eにより予測された予測値を少なくとも一時的に記憶する。ここで、予測値は、予測部13eにより予測された直後に判定部13dによる判定に用いられてもよいし、予測部13eにより予測された後、FIFOメモリ13bの更新を1回又は複数回行った後に判定部13dによる判定に用いられてもよい。
予測部13eは、所定のパラメータを含む予測モデルにより、第1時間範囲に取得された信号値に基づいて、第1時間範囲より後の第2時間範囲に取得される信号値を予測する。ここで、第1時間範囲及び第2時間範囲は、固定的な時刻の範囲(例えば0時0分0秒から0時0分1秒)を意味しない。第1時間範囲は、所定の継続時間を有する時間範囲であって、時刻は問わない。第2時間範囲は、第1時間範囲と所定の時間関係(第1時間範囲の終了直後からの時間範囲等)をもって所定時間継続する時間範囲であってよい。予測部13eにより予測される第2時間範囲における信号値の数は、単一でもよいし複数でもよい。
予測部13eは、機械学習によって生成された予測モデルにより、第1時間範囲に取得された信号値に基づいて、第1時間範囲より後の第2時間範囲に取得される信号値を予測してもよい。予測モデルは、学習済みのニューラルネットワークや決定木により構成されてよい。予測モデルが学習済みのニューラルネットワークの場合、予測モデルに含まれる所定のパラメータは、ノード間の重みパラメータやバイアス値を含んでよい。学習済みモデルによって、第1時間範囲に取得された信号値に基づいて、第1時間範囲より後の第2時間範囲に取得される信号値を予測することで、信号値の予測精度を向上させ、搬送ライン上を次々と運ばれてくる対象物100の状態をより柔軟に判定することができる。
判定部13dは、FIFOメモリ13bの更新を1回又は複数回行う毎に一度の頻度で、第1時間範囲に対応するFIFOメモリ13bに記憶された信号値に基づいて予測部13eにより予測された信号値と、第2時間範囲に対応するFIFOメモリ13bに記憶された信号値との一致度に基づいて、対象物の状態を判定する。例えば、対象物100が、ベースに突起が付いた対象物である場合、予測部13eは、第1時間範囲に取得されたベースの部分の信号値に基づいて、第2時間範囲に取得される突起の部分の信号値を予測する。そして、判定部13dは、第2時間範囲に実際に取得された信号値と、予測値との一致度が十分に高い場合に、対象物100は、ベースに突起が付いた状態であると判定してよい。このように、FIFOメモリ13bの更新を1回又は複数回行う毎に一度の頻度で、第1時間範囲に対応するFIFOメモリ13bに記憶された信号値に基づいて予測部13eにより予測された値と、第1時間範囲より後の第2時間範囲に対応するFIFOメモリ13bに記憶された信号値との一致度に基づいて、対象物100の状態を判定することで、簡易な構成で、時間遅れ少なく、搬送ライン上を次々と運ばれてくる対象物100の状態を判定することができる。これにより、普及している光電センサに近い簡易な構成で、すなわち画像処理や別途のトリガ手段を必要としないで、時間遅れ少なく、対象物100の状態を判定することができる。
より具体的には、判定部13dは、一致度が所定値よりも高い場合に、対象物の状態は特定の状態であると判定してもよい。
また、学習済みモデルを生成するための学習用データは、1種類の対象物について第1時間範囲に取得された信号値と第2時間範囲に取得された信号値とを含んでよいが、特定の複数種類の対象物が混合搬送される場合には、複数種類の対象物について第1時間範囲に取得された信号値と第2時間範囲に取得された信号値とを含んでよい。複数種類の対象物が混合搬送される場合、学習済みモデルは、第1時間範囲に取得された信号値から予測された第2時間範囲に取得される信号値の予測値により構成される波形と、複数種類の対象物に対応する第2時間範囲に取得された信号値との一致度に基づいて、搬送されている対象物の状態を判定してもよい。
例えば、第1種の対象物と第2種の対象物とが混合搬送される場合、学習済みモデルは、第1時間範囲に取得された信号値から第2時間範囲に取得される信号値を予測し、判定部13dは、予測された信号値と第1種の対象物に対応する信号値との一致度が所定値より高い場合に、搬送されている対象物の状態は、第1種の対象物の特定の状態であると判定してよい。また、学習済みモデルは、第1時間範囲に取得された信号値から第2時間範囲に取得される信号値を予測し、判定部13dは、予測された信号値と第2種の対象物に対応する信号値との一致度が所定値より高い場合に、搬送されている対象物の状態は、第2種の対象物の特定の状態であると判定してよい。
<操作部>
操作部14は、光電センサ10の操作を行うためのものであり、操作スイッチ、表示器などを含んでよい。光電センサ10の操作者は、操作部14を用いて、光電センサ10の動作モードの設定等の指示の入力や動作状態の確認を行うことができる。なお、本実施形態に係る光電センサ10は、動作モードとして、予測モデルを生成するための学習モードと、生成された予測モデルを用いて対象物100の状態を判定するための判定モードを備えてよい。
<出力部>
出力部15は、判定部13dによる判定結果を含む様々なデータの出力を行う。出力部15は、最も簡単には判定部13dによる判定結果の2値出力を行ってよい。なお、光電センサ10は、出力部15に代えて通信部を備え、大量のデータの入出力を行えるようにしてもよい。
図3は、本実施形態に係る光電センサ10の処理部13の構成の一例を示す図である。処理部13は、第1周期で、FIFOメモリ13bの各ステージに記憶されている信号値を1つ後方のステージにシフトして、A/D変換器12dから出力された受光量のデジタル値を初段q0に記憶する。なお、同図では、原理を説明するために、FIFOメモリ13bの段数をq0~q9の10段としているが、FIFOメモリ13bの段数はさらに多くてもよく、例えば100段程度であってもよい。
FIFOメモリ13bの更新を行う第1周期は、投光部11によるパルス発光の周期と同じであってもよいし、異なっていてもよい。また、FIFOメモリ13bの更新を行う第1周期は、投光部11のパルス発光及びA/D変換器12dによる変換の周期(第2周期とする)と同じであってもよいし、異なっていてもよい。例えば、第2周期は、光電センサ10に固有の値(例えば0.1ms)に固定されていてもよい。第1周期は、図1に示すコンピュータ30からコントローラ20経由で設定可能であってもよい。第1周期は、同時に処理したい信号値波形の範囲がFIFOメモリ13bに収まるように決められる必要がある。第1周期は、第2周期よりも長い場合が多く、例えば1msであってよい。
予測部13eは、第1時間範囲に対応するFIFOメモリ13bのq6、q7、q8及びq9に記憶された信号値s0、s1、s2及びs3に基づいて、第2時間範囲に取得される信号値r0、r1、r2及びr3を予測する。判定部13dは、FIFOメモリ13bの更新を1回又は複数回行う毎に一度の頻度で、予測部13eにより予測された値r0、r1、r2及びr3と、第2時間範囲に対応するFIFOメモリ13bのq2、q3、q4及びq5に記憶された信号値との一致度に基づいて、対象物100の状態を判定して、判定結果を第1周期で動作制御部13aに対して出力する。
予測値記憶部13cは、予測部13eにより予測された値r0、r1、r2及びr3を記憶する。判定部13dは、これらの予測値r0、r1、r2及びr3と、FIFOメモリ13bのq2、q3、q4及びq5に記憶された信号値との差の絶対値の総和を算出し、その値が小さいほど一致度が大きくなるように一致度を算出して、一致度が所定の値より大きい場合に、対象物100の状態が特定の状態であると判定してよい。
動作制御部13aは、判定部13dによる判定を実行する前に、信号値に基づいて予測モデルを生成する。例えば、動作制御部13aは、取得された信号値に基づいて学習モデルの機械学習を実行し、学習済みモデルを生成して、生成した学習済みモデルを予測部13eに実装してよい。このように、光電センサ10が自ら予測モデルを生成できるので、予測モデルを外部から取得することなく、実際の対象物に応じて生成された予測モデルを使用することができる。
動作制御部13aは、予測モデルを外部に出力可能であってよい。これにより、生成した予測モデルを他の光電センサで用いることができるので、同様の対象物及び設置状況で使用される複数の光電センサごとに予測モデルの生成を繰り返す必要が無くなる。そのため、対象物の状態を判定する光電センサを効率良く準備することができる。
動作制御部13aは、時系列の信号値の変動が比較的小さい安定期に続いて、時系列の信号値の変動が比較的大きい変動期が現れた場合に、変動期に属する信号値に基づいて予測モデルを生成してよい。ここで、時系列の信号値の変動が比較的小さい安定期は、ノイズの影響を差し引いた場合に、実質的に時系列の信号値の変動が無い期間であってよい。また、時系列の信号値の変動が比較的大きい変動期は、ノイズの影響を差し引いた場合に、実質的に時系列の信号値の変動が有る期間であってよい。このように、信号値の中から対象物によって生じた信号値を選択的に使用して予測モデルを生成することができる。なお、時系列の信号値の変動が比較的小さい安定期と、時系列の信号値の変動が比較的大きい変動期との具体例は、図5a及び図5bを用いて説明する。
図4は、本実施形態に係る光電センサ10の学習モード及び判定モードの処理のフローチャートである。はじめに、光電センサ10は、予測モデルの生成を行う学習モードであるか否かを判定する(S10)。なお、学習モード及び判定モードの切り替えは、操作部14によって行われてよい。
光電センサ10が学習モードである場合(S10:YES)、光電センサ10は、時系列の信号値を取得し、予測モデルを生成する(S11)。予測モデルの生成は、動作制御部13aにより、任意の機械学習の手法により行われてよい。
一方、光電センサ10が学習モードでない場合(S10:NO)、すなわち光電センサ10が判定モードである場合、光電センサ10は、新しい信号値によりFIFOメモリ13bを更新し(S12)、第1時間範囲において取得した信号値に対して予測モデルを適用することにより、第2時間範囲における信号値を予測する(S13)。そして、第2時間範囲において取得した信号値の実測値と、予測した信号値との一致度に基づいて対象物100の状態を判定する(S14)。
その後、光電センサ10は、判定モードを終了するか否かを判定する(S15)。判定モードの終了は、光電センサ10の稼働を終了する場合や、判定モードから学習モードに切り替えられる場合に生じてよい。判定モードを終了しない場合(S15:NO)、光電センサ10は、再び新しい信号値を取得し(S12)、信号値の予測(S13)と対象物100の状態の判定(S14)とを実行する。一方、判定モードを終了する場合(S15:YES)、学習モード及び判定モードの処理が終了する。
図5aは、本実施形態に係る光電センサ10の第nサイクルに測定された信号値の一例を示す図である。また、図5bは、本実施形態に係る光電センサ10の第n+1サイクルに測定された信号値の一例を示す図である。図5a及び図5bでは、縦軸に受光量の値を示し、横軸に時間とそれに対応するFIFOメモリ13bのステージを示している。両図に示すように、最新の受光量の値(時間t9の値)は、FIFOメモリ13bの初段q0に記憶されており、最も過去の受光量の値(時間t0の値)は、FIFOメモリ13bの最終段q9に記憶されている。本例では、FIFOメモリ13bは、取得された順に順序付けて10の信号値を記憶している。
破線により示す対象物の形状S1は、各受光量の値が得られるタイミングに合わせて対象物の形状を模式的に示すものである。対象物の形状S1によれば、対象物は、ベースに突起の付いた形状であることが読み取れる。
図5aにおいて実線により示す波形W1は、第nサイクルに取得され、FIFOメモリ13bに記憶された信号値により構成された波形である。また、図5bにおいて実線により示す波形W2は、第n+1サイクルに取得され、FIFOメモリ13bに記憶された信号値により構成された波形である。両図に示すように、第nサイクルにFIFOメモリ13bに記憶されていた信号値は、第n+1サイクルにおいて1つ後段にシフトされてFIFOメモリ13bに記憶されている。
検出範囲10aには一定の広がりがあるため、対象物100の段差に対応するタイミング付近では段差の上面と下面との両方からの反射光が受光され、波形W1及び波形W2を構成する信号値は中間的な値となる。中間的な受光量の値は、わずかな取得タイミングの違いで大きく変動しやすい。したがって、同一形状の対象物100についても毎回受光量の値は変動し得る。判定モデルの生成にあたっては、平均化の効果が得られるように、ある程度の回数にわたって対象物100を搬送させて、受光量の値の取得を繰り返すことが好ましい。
動作制御部13aは、時系列の信号値の変動が比較的小さい安定期に続いて、時系列の信号値の変動が比較的大きい変動期が現れた場合に、変動期に属する信号値に基づいて予測モデルを生成してよい。図5aの例の場合、時系列の信号値の変動が比較的小さい安定期は、時間t0からt1までであり、時系列の信号値の変動が比較的大きい変動期は、時間t2からt8までである。また、図5bの例の場合、時系列の信号値の変動が比較的小さい安定期は、時間t8以降であり、時系列の信号値の変動が比較的大きい変動期は、時間t2からt7までである。動作制御部13aは、FIFOメモリ13bの最終段から初段に向かって隣り合うステージに記憶された値を比較して、その差が閾値以上である隣り合うステージが存在する場合に、隣り合うステージのうち初段に近い側のステージから初段に向かって変動期に属する信号値が記憶されていると判定し、隣り合うステージのうち最終段に近い側のステージから最終段に向かって安定期に属する信号値が記憶されていると判定してもよい。具体的には、動作制御部13aは、図7aの例の場合、最終段q9と第8段q8に記憶された値を比較して、その差が0であり閾値以下であるため、第8段q8と第7段q7に記憶された値を比較して、その差が2であり閾値以上であると判定してよい。ここで、閾値は、例えば1であってよい。そして、動作制御部13aは、記憶された値の差が閾値以上である第8段q8と第7段q7のうち初段q0に近い側の第7段q7から初段q0に向かって変動期に属する信号値が記憶されていると判定し、第8段q8と第7段q7のうち最終段に近い側の第8段q8から最終段q9に向かって安定期に属する信号値が記憶されていると判定してよい。
予測部13eは、所定のパラメータを含む予測モデルにより、第1時間範囲に取得された信号値に基づいて、第1時間範囲より後の第2時間範囲に取得される信号値を予測する。図5aに示す例の場合、第1時間範囲はt0~t3であり、第2時間範囲はt4~t7である。予測部13eは、第1時間範囲t0~t3に取得され、FIFOメモリ13bのq9~q6に記憶された信号値に基づいて、第2時間範囲t4~t7に取得される信号値を予測する。判定モードで動作している時に搬送されてきた対象物100が突起のある対象物である場合、FIFOメモリ13bの特定のシフトサイクル(第nサイクル)において、第1時間範囲(t0~t3)において取得される受光量の値で構成される波形と、予測モデル生成時における受光量の値で構成される波形との一致の程度が高くなる。そうすると、第2時間範囲(t4~t7)における受光量の値を誤差少なく予測することができる。そして、判定部13dは、FIFOメモリの更新を1回又は複数回行う毎に一度の頻度で、予測部13eにより予測された値と、第2時間範囲(t4~t7)に対応するFIFOメモリ13bに記憶された信号値(q5~q2に記憶された信号値)との一致度に基づいて、対象物の状態を判定する。予測部13eによって誤差少なく第2時間範囲(t4~t7)における受光量の値を予測できる場合、一致度が高くなり、判定部13dによって、対象物100は、突起がある対象物であると判定される。
一方、図5bに示す第n+1サイクルの例の場合、第1時間範囲はt1~t4となり、第2時間範囲はt5~t8となる。この際も、予測部13eに入力する信号値は、FIFOメモリ13bのq9~q6の段に記憶されている受光量の値である。この場合、予測部13eに入力される受光量の値の波形は、予測モデル生成時における受光量の値の波形と時間的にずれるので、正しい予測はできず、予測部13eにより予測された値と、第2時間範囲に対応するFIFOメモリ13bに記憶された信号値(q5~q2に記憶された信号値)との一致度は小さくなる。そのため、第n+1サイクルにおいて、判定部13dは、対象物100の状態を突起がある対象物の状態であると判定しない。
図6は、本実施形態に係る光電センサ10の第nサイクルに測定された信号値の他の例を示す図である。同図では、縦軸に受光量の値を示し、横軸に時間とそれに対応するFIFOメモリ13bのステージを示している。
図6において実線により示す波形W3は、第nサイクルに取得され、FIFOメモリ13bに記憶された信号値により構成された波形である。また、破線により示す対象物の形状S2は、各受光量の値が得られるタイミングに合わせて対象物の形状を模式的に示すものである。対象物の形状S2によれば、対象物は、突起が無いベースのみの形状であることが読み取れる。
波形W3を図5aに示す波形W1と比較すると、時間t4からt6までの間の受光量の値に差異がある。判定モードで動作しているときに搬送されるものが突起のない対象物である場合、FIFOメモリ13bのあるシフトサイクルにおいて第1時間範囲(t0~t3)の受光量の値が図6のようになったとすると、これは予測モデル生成時の受光量の値と実質的に同じであるから、第2時間範囲(t4~t7)について一点鎖線で示すような予測値Pが得られる。これをFIFOメモリ13bのq5~q2に記憶されている実測値と比較すると差異が大きく、一致度が小さいため、判定部13dは、この対象物は突起のある対象物ではないと判定してよい。
図7は、本実施形態に係る光電センサ10の処理部13の構成の他の例を示す図である。同図に示す処理部13の構成の例は、図3に示す処理部13の構成の例と比較して、第1時間範囲に対応するFIFOメモリ13bのステージと、第2時間範囲に対応するFIFOメモリ13bのステージとが重畳しており、さらに、動作制御部13aが、時系列の受光量の値を外部に出力し、それに基づいて外部のコンピュータで生成された予測モデルを入力させる点で相違し、それ以外の構成について共通する。
本例において、予測部13eは、予測値記憶部13cに記憶させる予測値をFIFOメモリ13bの更新が1回又は複数回行われる毎に更新する。予測値記憶部13cに記憶させる予測値は、第1の時間範囲と第2の時間範囲との時間差である4シフトサイクル前にFIFOメモリ13bのq9~q6の段に記憶されていた受光量の値から得られた予測値である。この4シフトサイクルの間にFIFOメモリ13bのq0~q3に記憶されている受光量の値は、第2時間範囲における値に入れ替わっているので、正しく判定ができる。このように構成することで、FIFOメモリ13bの所要段数が少なくなる。代わりに、予測部13eの中で、予測値を求めてからその予測値により予測値記憶部13cを更新するまでの間、予測値を記憶しておくためのFIFOメモリが必要になるが、受光量の値のためのFIFOメモリ13bは複数段おきに予測や判定に使う場合があるので、そのような場合には所要段数の削減効果は大きい。このように、FIFOメモリ13bの初段に近い部分を使って予測を行う方が、時間遅れが少なくなる。
動作制御部13aは、時系列の信号値を外部に出力可能であってよい。外部に出力される信号値は、FIFOメモリ13bに記憶されている信号値であってよい。信号値を外部に出力し、外部機器で予測モデルを生成することができる。これにより、予測モデルを生成する処理に関する計算資源を光電センサ自身で持つ必要がない。
動作制御部13aは、予測モデルを外部から取得してよい。動作制御部13aは、外部のコンピュータで生成された予測モデルを取得したり、他の光電センサにより生成された予測モデルを取得したりしてよい。他の装置、例えば他の光電センサにより生成された予測モデルを流用することで予測モデルの生成を省略することができる。
なお、動作制御部13aは、時系列の信号値を外部に出力することなく、他の光電センサにおいて生成されたモデル、又は他の光電センサで取得された時系列の信号値に基づいて外部のコンピュータで生成されたモデルを入力して使用するようにしてもよい。
以上説明した実施形態は、本発明の理解を容易にするためのものであり、本発明を限定して解釈するためのものではない。実施形態が備える各要素並びにその配置、材料、条件、形状及びサイズ等は、例示したものに限定されるわけではなく適宜変更することができる。また、異なる実施形態で示した構成同士を部分的に置換し又は組み合わせることが可能である。
[附記]
対象物(100)が到来する検出範囲(10a)に向けて光を出射する投光部(11)と、
前記光の受光に基づく時系列の信号値を取得する受光部(12)と、
取得された順に順序付けて所定数の前記信号値を記憶し、周期的に、新たに取得された前記信号値により所定数の前記信号値を更新するFIFOメモリ(13b)と、
所定のパラメータを含む予測モデルにより、第1時間範囲に取得された前記信号値に基づいて、前記第1時間範囲より後の第2時間範囲に取得される前記信号値を予測する予測部(13e)と、
前記FIFOメモリ(13b)の更新を1回又は複数回行う毎に一度の頻度で、前記予測部(13e)により予測された値と、前記第2時間範囲に対応する前記FIFOメモリ(13b)に記憶された前記信号値との一致度に基づいて、前記対象物(100)の状態を判定する判定部(13d)と、
を備える光電センサ(10)。
1…検出システム、10…光電センサ、10a…検出範囲、11…投光部、11a…投光素子、11b…駆動回路、12…受光部、12a…受光素子、12b…増幅器、12c…サンプル/ホールド回路、12d…A/D変換器、13…処理部、13a…動作制御部、13b…FIFOメモリ、13c…予測値記憶部、13d…判定部、13e…予測部、14…操作部、15…出力部、20…コントローラ、30…コンピュータ、40…ロボット、50…搬送装置、100…対象物

Claims (8)

  1. 対象物が到来する検出範囲に向けて光を出射する投光部と、
    前記光の受光に基づく時系列の信号値を取得する受光部と、
    取得された順に順序付けて所定数の前記信号値を記憶し、周期的に、新たに取得された前記信号値により所定数の前記信号値を更新するFIFOメモリと、
    所定のパラメータを含む予測モデルにより、第1時間範囲に取得された前記信号値に基づいて、前記第1時間範囲より後の第2時間範囲に取得される前記信号値を予測する予測部と、
    前記FIFOメモリの更新を1回又は複数回行う毎に一度の頻度で、前記予測部により予測された信号値と、前記第2時間範囲に対応する前記FIFOメモリに記憶された前記信号値との一致度に基づいて、前記対象物の状態を判定する判定部と、
    を備える光電センサ。
  2. 前記判定部は、前記一致度が所定値よりも高い場合に、前記対象物の状態は特定の状態であると判定する、
    請求項1に記載の光電センサ。
  3. 前記予測モデルは、機械学習によって生成されたモデルである、
    請求項1又は2に記載の光電センサ。
  4. 前記信号値に基づいて前記予測モデルを生成する動作制御部をさらに備える、
    請求項1から3のいずれか一項に記載の光電センサ。
  5. 前記動作制御部は、時系列の前記信号値の変動が比較的小さい安定期に続いて、時系列の前記信号値の変動が比較的大きい変動期が現れた場合に、前記変動期に属する前記信号値に基づいて前記予測モデルを生成する、
    請求項4に記載の光電センサ。
  6. 前記動作制御部は、前記予測モデルを外部に出力可能である、
    請求項4又は5に記載の光電センサ。
  7. 前記動作制御部は、時系列の前記信号値を外部に出力可能である、
    請求項4又は5に記載の光電センサ。
  8. 前記予測モデルを外部から取得する動作制御部をさらに備える、
    請求項1から3のいずれか一項に記載の光電センサ。
JP2018145203A 2018-08-01 2018-08-01 光電センサ Active JP7043030B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018145203A JP7043030B2 (ja) 2018-08-01 2018-08-01 光電センサ
PCT/JP2019/028272 WO2020026833A1 (ja) 2018-08-01 2019-07-18 光電センサ
TW108127104A TWI715133B (zh) 2018-08-01 2019-07-31 光電感測器

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018145203A JP7043030B2 (ja) 2018-08-01 2018-08-01 光電センサ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2020022092A JP2020022092A (ja) 2020-02-06
JP7043030B2 true JP7043030B2 (ja) 2022-03-29

Family

ID=69231727

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2018145203A Active JP7043030B2 (ja) 2018-08-01 2018-08-01 光電センサ

Country Status (3)

Country Link
JP (1) JP7043030B2 (ja)
TW (1) TWI715133B (ja)
WO (1) WO2020026833A1 (ja)

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014024048A (ja) 2012-07-30 2014-02-06 National Institute Of Advanced Industrial & Technology 使用済み小型電気製品の識別方法及び選別装置

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9129505B2 (en) * 1995-06-07 2015-09-08 American Vehicular Sciences Llc Driver fatigue monitoring system and method
JPH09170913A (ja) * 1995-10-16 1997-06-30 Omron Corp 光電センサ
US6236908B1 (en) * 1997-05-07 2001-05-22 Ford Global Technologies, Inc. Virtual vehicle sensors based on neural networks trained using data generated by simulation models
JPH11101620A (ja) * 1997-09-26 1999-04-13 Toyota Central Res & Dev Lab Inc 半田付け検査装置
US8198576B2 (en) * 2003-03-28 2012-06-12 Aprolase Development Co., Llc Three-dimensional LADAR module with alignment reference insert circuitry comprising high density interconnect structure
US9760806B1 (en) * 2016-05-11 2017-09-12 TCL Research America Inc. Method and system for vision-centric deep-learning-based road situation analysis
US10139827B2 (en) * 2016-06-28 2018-11-27 Ford Global Technologies, Llc Detecting physical threats approaching a vehicle

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014024048A (ja) 2012-07-30 2014-02-06 National Institute Of Advanced Industrial & Technology 使用済み小型電気製品の識別方法及び選別装置

Also Published As

Publication number Publication date
WO2020026833A1 (ja) 2020-02-06
TWI715133B (zh) 2021-01-01
TW202021336A (zh) 2020-06-01
JP2020022092A (ja) 2020-02-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US11389956B2 (en) System, method and product for utilizing prediction models of an environment
CN105572681B (zh) 飞行时间传感器的绝对距离测量
JP5974561B2 (ja) 光学式センサおよび感度調整制御のための設定方法
US12007739B2 (en) Method and system for executing an event-oriented control program
JP7035890B2 (ja) 光電センサ
JP7043030B2 (ja) 光電センサ
US11262716B2 (en) Method for the parameterization of a sensor
US20130235365A1 (en) Distance-measuring sensor and method for synchronizing measurement value generation and measurement value output
TWI702380B (zh) 檢測方法以及檢測裝置的設定方法
JP6121488B2 (ja) 物体の認識及び距離測定のための距離測定センサ
JP7406724B2 (ja) 光電センサ
KR101929955B1 (ko) 인공지능 기반 역공학을 이용한 공장 자동화 시스템의 분석 방법
US10621455B2 (en) Image processing system, information processing device, information processing method, and information processing program
US20220387853A1 (en) System and method for a quantitative detection of a movement
JP7486843B2 (ja) 光飛行時間測定において距離決定をテストするためのテストデータを生成する装置及び方法
JPH1123710A (ja) 測距装置
JP7021631B2 (ja) 光電センサ
JP7100826B2 (ja) 検出装置
WO2022176372A1 (ja) 入出力装置
TWI774959B (zh) 檢測裝置
US20190033486A1 (en) Optoelectronic sensor
JP7483205B2 (ja) 光電センサ
JP2732915B2 (ja) 物品検出方式

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20201214

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20220214

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20220227

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7043030

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150