JP7025012B2 - 電子部品の特性検出装置 - Google Patents

電子部品の特性検出装置 Download PDF

Info

Publication number
JP7025012B2
JP7025012B2 JP2018080511A JP2018080511A JP7025012B2 JP 7025012 B2 JP7025012 B2 JP 7025012B2 JP 2018080511 A JP2018080511 A JP 2018080511A JP 2018080511 A JP2018080511 A JP 2018080511A JP 7025012 B2 JP7025012 B2 JP 7025012B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
characteristic detection
detection device
substrate
band
electronic component
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2018080511A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2019190867A (ja
Inventor
景太 中俣
信治 大岡
敏弘 服部
剛宏 津田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Denso Corp
Original Assignee
Denso Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Denso Corp filed Critical Denso Corp
Priority to JP2018080511A priority Critical patent/JP7025012B2/ja
Priority to US16/279,165 priority patent/US10890617B2/en
Priority to DE102019204144.2A priority patent/DE102019204144A1/de
Publication of JP2019190867A publication Critical patent/JP2019190867A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7025012B2 publication Critical patent/JP7025012B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2886Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
    • G01R31/2891Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks related to sensing or controlling of force, position, temperature
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Force Measurement Appropriate To Specific Purposes (AREA)

Description

本発明は、電子部品の特性検出装置に関する。
従来、基板に設けられている電子部品の電気的特性を、基板に設けられている状態で検出可能な電子部品の特性検出装置が知られている。例えば、特許文献1には、基板に設けられている半導体に電気的に接続可能なバイパスコンデンサ、及び、半導体と電気的に接続する基板の電気配線にバイパスコンデンサが接触するようバイパスコンデンサに荷重を作用させるおもりを備える半導体装置の試験装置が記載されている。
特開2011-7619号公報
しかしながら、特許文献1に記載の半導体装置の試験装置では、おもりの重さによってバイパスコンデンサを電気配線に接触させているため、おもりの重さがかかるよう電気配線に対して天方向からしか接触させることができない。また、基板とおもりとの位置関係によっては電気配線とバイパスコンデンサとの電気的な接触を良好に保つことができない。このため、半導体の電気的特性を確実に検出することができない。
本発明は、上記の課題に鑑みてなされたものであり、その目的は、電子部品の電気的特性を確実に検出可能な電子部品の特性検出装置を提供することにある。
本発明は、基板(10)に設けられている電子部品(11,12,13,14)の電気的特性を検出可能な電子部品の特性検出装置であって、特性検出部(21)、押付部材(25,30,35,40,45,50,55)、接続用端子(231,232)、支持部(22)、及び、支持用端子(233)を備える。
特性検出部は、電子部品の電気的特性を検出可能である。押付部材は、特性検出部とは別体に設けられ、特性検出部と電子部品とが電気的に接続されるよう特性検出部を基板に押し付け可能な押付力を発生する。接続用端子は、電子部品と特性検出部とに電気的に接続可能に設けられる。支持部は、特性検出部及び接続用端子を支持可能である。支持用端子は、支持部の基板側に設けられる。押付部材は、支持部を介して基板に接続用端子を押し付け可能な押付力を発生する。特性検出装置は、接続用端子を二つ備える。
本発明の電子部品の特性検出装置では、押付部材は、特性検出部を基板に押し付け可能な押付力を発生する。これにより、特性検出部は、基板に対する特性検出部の位置に影響されることなく基板に設けられている電子部品と確実に接触することができる。したがって、本発明の電子部品の特性検出装置は、電子部品の電気的特性を確実に検出することができる。
第一実施形態による電子部品の特性検出装置の模式図である。 第一実施形態による電子部品の特性検出装置の部分拡大図である。 第一実施形態による電子部品の特性検出装置が備える筐体の基板側の面の模式図である。 第一実施形態による電子部品の特性検出装置の作用を説明する部分拡大図である。 第二実施形態による電子部品の特性検出装置の模式図である。 第三実施形態による電子部品の特性検出装置の模式図である。 第四実施形態による電子部品の特性検出装置の模式図である。 第五実施形態による電子部品の特性検出装置の模式図である。 第六実施形態による電子部品の特性検出装置の模式図である。 第七実施形態による電子部品の特性検出装置の模式図である。 第八実施形態による電子部品の特性検出装置の模式図である。 第九実施形態による電子部品の特性検出装置の模式図である。
以下、複数の実施形態について図面に基づいて説明する。なお、複数の実施形態において実質的に同一の部位には同一の符号を付し、説明を省略する。
(第一実施形態)
第一実施形態による電子部品の特性検出装置について、図1~4に基づいて説明する。「電子部品の特性検出装置」としての特性検出装置1は、図1に示すような抵抗11、IC12、及び、回路用コンデンサ13が設けられている基板10に対して用いられる。本実施形態では、特性検出装置1は、複数の抵抗11、複数のIC12、複数の回路用コンデンサ13、並びに、抵抗11、IC12及び回路用コンデンサ13を電気的に接続している電気配線14から構成される基板10の「電子部品」としての電気回路100において発生する「電気的特性」としての電気信号のノイズを抑制するためのコンデンサを選定するために用いられる。
特性検出装置1は、「特性検出部」としてのノイズ防止用コンデンサ21、「支持部」としてのハウジング22、接続用端子231,232、支持用端子233、回転部24、及び、「押付部材」としてバンド25を備える。本実施形態では、ノイズ防止用コンデンサ21、ハウジング22、接続用端子231,232、支持用端子233、及び、回転部24は、一体となっており、バンド25に対して交換可能となっている。ここで、便宜的に、ノイズ防止用コンデンサ21、ハウジング22、接続用端子231,232、支持用端子233、及び、回転部24で一体となっている構成をユニット20という。本実施形態では、ノイズ防止用コンデンサ21の電気的特性が異なる複数のユニット20が用意されている。
ノイズ防止用コンデンサ21は、ハウジング22に収容されている。本実施形態では、電気回路100の電気信号に含まれるノイズの特性に応じて電気容量が異なる種々のノイズ防止用コンデンサ21が電気配線14に電気的に接続できるよう、複数のユニット20のそれぞれに電気容量が異なるノイズ防止用コンデンサ21が収容されている。特性検出装置1の使用者は、複数のユニット20の中から電気回路100の電気信号に含まれるノイズを最も抑制できるノイズ防止用コンデンサ21を収容するユニット20を選択する。
ハウジング22は、矩形状に形成されている部材であって、開口220を有する。ハウジング22は、内部にノイズ防止用コンデンサ21及びノイズ防止用コンデンサ21と電気的に接続している導通配線23を有する。導通配線23は、ハウジング22の内壁に設けられている。導通配線23は、接続用端子231,232と電気的に接続されている。
接続用端子231,232は、図3に示すように、ハウジング22の外壁に設けられている略円錐状の部材である。接続用端子231,232のそれぞれは、電気配線14が有する基板側端子101,102に当接可能に設けられている。本実施形態では、接続用端子231,232は、ハウジング22の開口220を形成する角部であって隣り合う二つの角部221、222に設けられている。接続用端子231,232は、ノイズ防止用コンデンサ21と電気配線14とを電気的に接続する。
支持用端子233は、図3に示すように、ハウジング22の二つの角部221,222を結ぶ縁部223とは反対側の縁部224に設けられている。支持用端子233は、導通配線23とは電気的に接続されていない。支持用端子233は、接続用端子231,232と同じ略円錐状に形成されている。支持用端子233は、接続用端子231,232とともに、基板10に対してハウジング22を安定させる。
回転部24は、ハウジング22とバンド25との間に設けられる。回転部24は、ハウジング22に固定されるハウジング側固定部241、及び、バンド25に固定されるベルト側固定部242を有する。ハウジング側固定部241とベルト側固定部242とは相対回転可能に形成されている。回転部24は、図4に示すように、バンド25に対するハウジング22の相対回転を可能とする。
バンド25は、環状に形成されている部材である。バンド25は、弾性力を有する絶縁材料から形成されている。バンド25は、図1に示すように、基板10に巻回されている。バンド25は、固定具251によってベルト側固定部242に固定されている。バンド25は、図1に示す状態において、ユニット20を基板10に押付可能な押付力を発生する。
第一実施形態による特性検出装置1では、バンド25は、ノイズ防止用コンデンサ21と電気的に接続する接続用端子231,232を基板10に押し付け可能な押付力を発生する。これにより、ノイズ防止用コンデンサ21は、基板10に対するノイズ防止用コンデンサ21の位置関係に影響されることなく基板10の電気配線14と確実に接触することができる。したがって、特性検出装置1は、基板10の電気回路100の電気信号に含まれるノイズを抑制するために最適なノイズ防止用コンデンサ21を選択することができる。すなわち、特性検出装置1は、基板10の電気的特性を確実に検出することができる。
バンド25は、接続用端子231,232を基板10に押し付け可能な押付力を発生するため、接続用端子231,232と基板側端子101,102との接触抵抗を小さくすることができる。これにより、特性検出装置1は、基板10の電気的特性を高精度に検出することができる。
ノイズ防止用コンデンサ21、ハウジング22、接続用端子231,232、支持用端子233、及び、回転部24は、一体となっており、バンド25に対して交換可能となっている。これにより、基板10の電気的特性に対して電気容量が異なるノイズ防止用コンデンサ21を容易に交換することができる。
ユニット20を基板10上に設けるとき、接続用端子231,232に加えて支持用端子233が基板10に当接する。これにより、ハウジング22は、三つの端子によって基板10上に設けられるため、ハウジング22を有するユニット20を安定させることができる。
ノイズ防止用コンデンサ21と基板10の電気回路100とは、略円錐状に形成されている接続用端子231,232によって電気的に接続されている。これにより、特性検出装置1は、ノイズ防止用コンデンサ21と基板10の電気回路100との接触抵抗を小さくすることができる。
第一実施形態による特性検出装置1は、ハウジング22とバンド25との間にバンド25に対するハウジング22の相対回転を可能とする回転部24を有する。これにより、バンド25の基板10に巻回する位置を任意に設定することができる。したがって、特性検出装置1は、基板10上の抵抗11やIC12などを避けてバンド25を設けることができる。
バンド25は、絶縁材料から形成されている。これにより、電気回路100の電気信号に、バンド25を介した意図しないノイズが流入することを防止することができる。
第一実施形態による特性検出装置1では、バンド25の押付力によってノイズ防止用コンデンサ21を基板側端子101,102に押し付けるため、基板10の電気的特性を検出するときの作業者の手による操作を排除することができる。これにより、特性検出装置1は、電気的特性の検出における人体の影響を排除することができる。
(第二実施形態)
次に、第二実施形態による電子部品の特性検出装置を図5に基づいて説明する。第二実施形態は、バンドの形状が第一実施形態と異なる。
第二実施形態による「電子部品の特性検出装置」としての特性検出装置2は、ノイズ防止用コンデンサ21、ハウジング22、接続用端子231,232、支持用端子233、回転部24、「押付部材」としてバンド30、及び、ベース31を備える。
バンド30は、帯状に形成されている部材である。バンド30は、図5に示すように、帯状部301、及び、二つの環状部302を有する。
帯状部301は、弾性力を有する絶縁材料から帯状に形成されている。帯状部301は、固定具251によってベルト側固定部242に固定されている。帯状部301は、図5に示す状態において、ユニット20を基板10に押付可能な押付力を発生する。
二つの環状部302は、それぞれ帯状部301の長手方向の二つの端部のそれぞれに設けられている。環状部302は、環状に形成され、後述する係合部312を挿通可能に形成されている。
ベース31は、基部311、及び、二つの係合部312を有する。
基部311は、板状の部材であって、基板10を載置可能に形成されている。基部311の基板10を載置可能な面に、二つの係合部312が設けられている。
係合部312は、柱状に形成されている部材である。係合部312は、基部311の基板10を載置可能な面から突出するよう形成されている。二つの係合部312の間隔は、基板10の長さに比べ長い。
第二実施形態による特性検出装置2では、バンド30は、ノイズ防止用コンデンサ21と電気的に接続する接続用端子231,232を基板10に押し付け可能な押付力を発生する。これにより、特性検出装置2は、第一実施形態と同じ効果を奏する。
また、第二実施形態による特性検出装置2では、バンド30は、両端にベース31が有する係合部312に係合可能な環状部302を有する。これにより、バンド30は、環状部302を係合部312に係合させることによってユニット20にバンド30の押付力を作用させることができる。したがって、特性検出装置2は、基板10にバンドを巻回できない場合でも接続用端子231,232を基板10に押し付け、基板10の電気的特性を確実に検出することができる。
(第三実施形態)
次に、第三実施形態による電子部品の特性検出装置を図6に基づいて説明する。第三実施形態は、バンドの形状が第一実施形態と異なる。
第三実施形態による「電子部品の特性検出装置」としての特性検出装置3は、ノイズ防止用コンデンサ21、ハウジング22、接続用端子231,232、支持用端子233、回転部24、「押付部材」としてバンド35、及び、ベース36を備える。
バンド35は、略帯状に形成されている部材である。バンド35は、図6に示すように、帯状部351、及び、二つのクリップ352を有する。
帯状部351は、弾性力を有する絶縁材料から帯状に形成されている。帯状部351は、固定具251によってベルト側固定部242に固定されている。帯状部351は、図6に示す状態において、ユニット20を基板10に押付可能な押付力を発生する。
二つのクリップ352は、それぞれ帯状部351の長手方向の二つの端部のそれぞれに設けられている。クリップ352は、後述する水平部363を把持可能に形成されている。
ベース36は、基部311、立ち上がり部362、及び、水平部363を有する。本実施形態では、立ち上がり部362と水平部363とは、一体に形成されている。
立ち上がり部362は、基部311の基板10を載置可能な面から突出するよう形成されている。立ち上がり部362は、図6に示すように、基板10の一方の側の近傍と他方の側の近傍とにそれぞれに二つずつ設けられる。
二つの水平部363は、基部311の基板10を載置可能な面に対して略平行となるよう形成されている。二つの水平部366の一方の水平部363は、基板10の一方の側に沿うよう設けられる二つの立ち上がり部362によって基部311の基板10を載置可能な面からある程度離れた位置に設けられる。二つの水平部366の他方の水平部363は、基板10の他方の側に沿うよう設けられる二つの立ち上がり部362によって基部311の基板10を載置可能な面からある程度離れた位置に設けられる。
第三実施形態による特性検出装置3では、バンド35は、ノイズ防止用コンデンサ21と電気的に接続する接続用端子231,232を基板10に押し付け可能な押付力を発生する。これにより、特性検出装置3は、第一実施形態と同じ効果を奏する。
また、第三実施形態による特性検出装置3では、バンド35が有する二つのクリップ352がそれぞれ一方の水平部363及び他方の水平部363を把持することによってユニット20にバンド35の押付力を作用させることができる。したがって、特性検出装置3は、基板10にバンドを巻回できない場合でも接続用端子231,232を基板10に押し付け、基板10の電気的特性を確実に検出することができる。
(第四実施形態)
次に、第四実施形態による電子部品の特性検出装置を図7に基づいて説明する。第四実施形態は、バンドの形状が第一実施形態と異なる。
第四実施形態による「電子部品の特性検出装置」としての特性検出装置4は、ノイズ防止用コンデンサ21、ハウジング22、接続用端子231,232、支持用端子233、回転部24、及び、「押付部材」としてバンド40を備える。
バンド40は、略帯状に形成されている部材である。バンド40は、図7に示すように、帯状部401、及び、二つの係合部402を有する。
帯状部401は、弾性力を有する絶縁材料から帯状に形成されている。帯状部401は、固定具251によってベルト側固定部242に固定されている。帯状部401は、図7に示す状態において、ユニット20を基板10に押付可能な押付力を発生する。
二つの係合部402は、それぞれ帯状部401の長手方向の端部に設けられている。係合部402は、基板10の縁部103に係合可能なよう折り曲げられている。
第四実施形態による特性検出装置4では、バンド40は、ノイズ防止用コンデンサ21と電気的に接続する接続用端子231,232を基板10に押し付け可能な押付力を発生する。これにより、特性検出装置4は、第一実施形態と同じ効果を奏する。
また、第四実施形態による特性検出装置4は、バンド40が有する二つの係合部402が基板10の縁部103に係合することによってユニット20にバンド40の押付力を作用させることができる。したがって、特性検出装置4は、基板10にバンドを巻回できない場合でも接続用端子231,232を基板10に押し付け、基板10の電気的特性を確実に検出することができる。
(第五実施形態)
次に、第五実施形態による電子部品の特性検出装置を図8に基づいて説明する。第五実施形態は、バンドを構成する材料が第一実施形態と異なる。
第五実施形態による「電子部品の特性検出装置」としての特性検出装置5は、ノイズ防止用コンデンサ21、ハウジング22、接続用端子231,232、支持用端子233、回転部24、及び、「押付部材」としてバンド45を備える。
バンド45は、環状に形成されている部材である。バンド45は、図8に示すように、非弾性部451、及び、弾性部452を有する。
非弾性部451は、非弾性材料から帯状に形成されている。非弾性部451は、固定具251によってベルト側固定部242に固定されている。
弾性部452は、弾性材料から帯状に形成されている部材である。弾性部452は、長手方向の両端が非弾性部451の長手方向の両端に接続部材453によって接続されている。弾性部452は、図8に示すように、基板10のユニット20が設けられる面とは反対側の面において、基板10に巻回されている。
第五実施形態による特性検出装置5では、バンド45は、ノイズ防止用コンデンサ21と電気的に接続する接続用端子231,232を基板10に押し付け可能な押付力を発生する。これにより、特性検出装置5は、第一実施形態と同じ効果を奏する。
また、第五実施形態による特性検出装置5では、バンド45は、非弾性材料から形成されている非弾性部451と弾性材料から形成されている弾性部452とを有する。これにより、バンド45は、適度な弾性力と適度な押付力との両方を発生することができる。したがって、特性検出装置5は、接続用端子231,232を安定して基板10に押し付け、基板10の電気的特性を確実に検出することができる。
(第六実施形態)
次に、第六実施形態による電子部品の特性検出装置を図9に基づいて説明する。第六実施形態は、バンドの構成が第一実施形態と異なる。
第六実施形態による「電子部品の特性検出装置」としての特性検出装置6は、ノイズ防止用コンデンサ21、ハウジング22、接続用端子231,232、支持用端子233、回転部24、及び、「押付部材」としてバンド50を備える。
バンド50は、環状に形成されている部材である。バンド50は、図9に示すように、帯状部501、及び、長さ調整部502を有する。
帯状部501は、弾性力を有する絶縁材料から帯状に形成されている。帯状部501は、固定具251によってベルト側固定部242に固定されている。帯状部501は、図9に示す状態において、ユニット20を基板10に押付可能な押付力を発生する。
長さ調整部502は、帯状部501の両端を保持するよう形成されている。長さ調整部502は、基板10に巻回されている帯状部501の長さを調整可能である。
第六実施形態による特性検出装置6では、バンド50は、ノイズ防止用コンデンサ21と電気的に接続する接続用端子231,232を基板10に押し付け可能な押付力を発生する。これにより、特性検出装置5は、第一実施形態と同じ効果を奏する。
また、第六実施形態による特性検出装置6は、バンド50の長さを調整可能な長さ調整部502を有する。これにより、長さ調整部502は、バンド50の長さをユニット20に適度な押付力を作用させることが可能な長さとすることができる。したがって、特性検出装置6は、接続用端子231,232を適度に基板10に押し付け、基板10の電気的特性を確実に検出することができる。
(第七実施形態)
次に、第七実施形態による電子部品の特性検出装置を図10に基づいて説明する。第七実施形態は、バンドの使用方法が第一実施形態と異なる。
第七実施形態による「電子部品の特性検出装置」としての特性検出装置7は、ノイズ防止用コンデンサ21、ハウジング22、接続用端子231,232、支持用端子233、回転部24、及び、「押付部材」としてバンド55を備える。
バンド55は、図10に示すように、「第一の部位」としての第一バンド部551、「第二の部位」としての第二バンド部552、及び、交差部553を有する。
第一バンド部551は、図10に示すように、弾性力を有する絶縁材料から帯状に形成されている。第一バンド部551は、基板10の略平行な二つの縁部103を通って基板10を巻回するよう設けられている。
第二バンド部552は、図10に示すように、弾性力を有する絶縁材料から帯状に形成されている。第二バンド部552は、第一バンド部551に非平行となるよう設けられている。具体的には、基板10の略平行な二つの縁部104を通って基板10を巻回するよう設けられている。
交差部553は、第一バンド部551と第二バンド部552とが交差する部位であってユニット20の基板10とは反対側に位置する。交差部553は、図10に示す状態において、ユニット20を基板10に押付可能な押付力を発生する。
第七実施形態による特性検出装置7では、バンド55は、ノイズ防止用コンデンサ21と電気的に接続する接続用端子231,232を基板10に押し付け可能な押付力を発生する。これにより、特性検出装置7は、第一実施形態と同じ効果を奏する。
また、第七実施形態による特性検出装置7は、バンド55は、交差する二つの第一バンド部551と第二バンド部552とによって交差部553がハウジング22を基板10に押し付けている。これにより、基板10上でのユニット20の横ずれを防止することができる。
(第八実施形態)
次に、第八実施形態による電子部品の特性検出装置を図11に基づいて説明する。第八実施形態は、ずれ防止部材を備える点が第一実施形態と異なる。
第八実施形態による「電子部品の特性検出装置」としての特性検出装置8は、ノイズ防止用コンデンサ21、ハウジング22、接続用端子231,232、支持用端子233、回転部24、バンド25、及び、ずれ防止部材61を備える。
ずれ防止部材61は、ユニット20と基板10との間に設けられる。ずれ防止部材61は、比較的摩擦係数が高い弾性材料から形成されており、ハウジング22の基板10側の面及び基板10のハウジング22側の面に当接している。ずれ防止部材61は、基板10に対するユニット20の相対位置の変化を抑制する。
第八実施形態による特性検出装置8は、基板10に対するユニット20の横ずれを防止するずれ防止部材61を備える。これにより、特性検出装置8は、第一実施形態と同じ効果を奏するとともに、接続用端子231,232と基板側端子101,102との確実な接続を維持することができる。
(第九実施形態)
次に、第九実施形態による電子部品の特性検出装置を図12に基づいて説明する。第九実施形態は、高さ調整部を備える点が第一実施形態と異なる。
第九実施形態による「電子部品の特性検出装置」としての特性検出装置9は、ノイズ防止用コンデンサ21、ハウジング22、接続用端子231,232、支持用端子233、回転部24、バンド25、及び、高さ調整部材66を備える。
高さ調整部材66は、ハウジング22と回転部24との間に設けられる略円柱状の部材である。高さ調整部材66は、図12に示すように、第一実施形態に比べ回転部24の位置を基板10から離れた位置で支持する。
第九実施形態による特性検出装置9は、回転部24の位置を基板10から離れた位置に支持する高さ調整部材66を備える。これにより、特性検出装置9では、図12に示すように、基板側端子101,102の近傍に位置する回路用コンデンサ13にバンド25が接触することを防止することができる。したがって、特性検出装置9は、第一実施形態と同じ効果を奏するとともに、バンド25による基板10上の電気回路100の破損を防止することができる。
(他の実施形態)
上述の実施形態では、「特性検出部」として、電気配線のノイズを低減するノイズ防止用コンデンサであるした。しかしながら、「特性検出部」は、これに限定されない。電気配線の抵抗を変更可能な抵抗や、電気配線の信号を検出可能なオシロスコープなど、電気回路の電気的特性を間接的にでも検出するものであってもよい。
上述の実施形態では、「電子部品」は、複数の抵抗、複数のIC、複数の回路用コンデンサ、並びに、抵抗、IC及び回路用コンデンサを電気的に接続している電気配線から構成される基板の電気回路」であるとした。また、「電子部品の電気的特性」を電気回路のノイズであるとした。しかしながら、「電子部品」及び「電子部品の電気的特性」はこれに限定されない。「電子部品の電気的特性」電気回路の抵抗や、電気回路で発生する電気信号の周波数などであってもよい。
上述の実施形態では、ノイズ防止用コンデンサ、ハウジングなどが一体となりユニットされているとした。しかしながら、これらが一体となっていることに限定されない。ハウジングのみが設けられており、ハウジングに収容される「特性検出部」が交換可能であってもよい。
上述の実施形態では、ユニットは、二つの接続用端子と一つの支持用端子とが設けられるとした。しかしながら、端子の数は、これに限定されない。また、接続用端子だけあってもよい。
上述の実施形態では、「押付部材」は、環状または帯状に形成されるとした。しかしながら、「押付部材」の形状は、これに限定されない。例えば、縦の長さと横の長さとが比較的近い平面状であってもよい。
第九実施形態では、高さ調整部材は、ハウジングと回転部との間に設けられるとした。しかしながら、高さ調整部材は、回転部とベルトとの間に設けられてもよい。
以上、本発明はこのような実施形態に限定されるものではなく、発明の趣旨を逸脱しない範囲において、種々の形態で実施することができる。
1,2,3,4,5,6,7,8,9・・・特性検出装置(電子部品の特性検出装置)
21・・・ノイズ防止用コンデンサ(特性検出部)
22・・・ハウジング(支持部)
24・・・回転部
25,30,35,40,45,50,55・・・バンド(押付部材)
100・・・電気回路(電子部品)
231,232・・・接続用端子
233・・・支持用端子

Claims (10)

  1. 基板(10)に設けられている電子部品(11,12,13,14)の電気的特性を検出可能な電子部品の特性検出装置であって、
    前記電子部品の電気的特性を検出可能な特性検出部(21)と、
    前記特性検出部とは別体に設けられ、前記特性検出部と前記電子部品とが電気的に接続されるよう前記特性検出部を前記基板に押し付け可能な押付力を発生する押付部材(25,30,35,40,45,50,55)と、
    前記電子部品と前記特性検出部とに電気的に接続可能に設けられる接続用端子(231,232)と、
    前記特性検出部及び前記接続用端子を支持可能な支持部(22)と、
    前記支持部の前記基板側に設けられる支持用端子(233)と、
    を備え
    前記押付部材は、前記支持部を介して前記基板に前記接続用端子を押し付け可能な押付力を発生し、
    前記接続用端子を二つ備える電子部品の特性検出装置。
  2. 前記支持部と前記押付部材との間に設けられ、前記押付部材に対する前記支持部の相対回転を可能とする回転部(24)をさらに備える請求項に記載の電子部品の特性検出装置。
  3. 前記支持部、前記特性検出部、及び、前記接続用端子は、ユニット化されている請求項1または2に記載の電子部品の特性検出装置。
  4. 前記基板と前記支持部との間に設けられ、前記基板に対する前記支持部のずれを防止するずれ防止部材(61)をさらに備える請求項のいずれか一項に記載の電子部品の特性検出装置。
  5. 前記押付部材の前記基板からの高さを変更可能な高さ調整部(66)をさらに備える請求項1~のいずれか一項に記載の電子部品の特性検出装置。
  6. 前記押付部材は、環状または帯状に形成されている請求項1~のいずれか一項に記載の電子部品の特性検出装置。
  7. 前記押付部材は、絶縁材料から形成されている請求項に記載の電子部品の特性検出装置。
  8. 前記押付部材は、弾性材料と非弾性材料とから形成されている請求項またはに記載の電子部品の特性検出装置。
  9. 前記押付部材は、前記押付部材の長さを調整可能な長さ調整部(502)を有する請求項のいずれか一項に記載の電子部品の特性検出装置。
  10. 前記押付部材は、帯状に形成されている第一の部位(551)、及び、前記第一の部位に非平行となるよう位置し帯状に形成されている第二の部位(552)、前記第一の部位と前記第二の部位とが交差する部位であって前記特性検出部の前記基板とは反対側に位置する交差部(553)を有する請求項のいずれか一項に記載の電子部品の特性検出装置。
JP2018080511A 2018-04-19 2018-04-19 電子部品の特性検出装置 Active JP7025012B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018080511A JP7025012B2 (ja) 2018-04-19 2018-04-19 電子部品の特性検出装置
US16/279,165 US10890617B2 (en) 2018-04-19 2019-02-19 Electronic component characteristic detection apparatus
DE102019204144.2A DE102019204144A1 (de) 2018-04-19 2019-03-26 Elektronikkomponenten-charakteristikerfassungsvorrichtung

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018080511A JP7025012B2 (ja) 2018-04-19 2018-04-19 電子部品の特性検出装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2019190867A JP2019190867A (ja) 2019-10-31
JP7025012B2 true JP7025012B2 (ja) 2022-02-24

Family

ID=68105192

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2018080511A Active JP7025012B2 (ja) 2018-04-19 2018-04-19 電子部品の特性検出装置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US10890617B2 (ja)
JP (1) JP7025012B2 (ja)
DE (1) DE102019204144A1 (ja)

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004228332A (ja) 2003-01-23 2004-08-12 Yamaha Fine Technologies Co Ltd 電気検査装置
WO2010109740A1 (ja) 2009-03-27 2010-09-30 株式会社アドバンテスト 試験装置、試験方法および製造方法

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1019978A (ja) * 1996-07-05 1998-01-23 Advantest Corp Icデバイス検査用治具
JP2011007619A (ja) 2009-06-25 2011-01-13 Fujitsu Semiconductor Ltd 半導体装置の試験方法および試験装置
JP2013079860A (ja) * 2011-10-04 2013-05-02 Advantest Corp ソケット及び電子部品試験装置
DE102015010776B4 (de) * 2015-08-20 2018-05-30 Tdk-Micronas Gmbh Kontaktiervorrichtungssystem
SG11202000620SA (en) * 2017-09-13 2020-02-27 Kokusai Electric Corp Substrate treatment apparatus, method for manufacturing semiconductor device, and program

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004228332A (ja) 2003-01-23 2004-08-12 Yamaha Fine Technologies Co Ltd 電気検査装置
WO2010109740A1 (ja) 2009-03-27 2010-09-30 株式会社アドバンテスト 試験装置、試験方法および製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
US10890617B2 (en) 2021-01-12
DE102019204144A1 (de) 2019-10-24
JP2019190867A (ja) 2019-10-31
US20190324079A1 (en) 2019-10-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5219383B2 (ja) 電子装置のテストセット
JP2007248460A5 (ja)
US10338100B2 (en) Test socket
KR20110101986A (ko) 반도체 테스트 소켓
JP4829306B2 (ja) 電子コンポーネント保持用フレームパッケージ化アレーデバイス
US4835464A (en) Decoupling apparatus for use with integrated circuit tester
JP6490600B2 (ja) 検査ユニット
WO2013037056A1 (en) In-grid on-device decoupling for bga
JP7025012B2 (ja) 電子部品の特性検出装置
JP4403428B2 (ja) プリント配線板
TWI466599B (zh) 電路板及電路板內建之元件的測試方法
EP1498948A3 (en) A reconnectable chip interface and chip package
US10219379B1 (en) Stacked flexible printed circuit board assembly with side connection section
TWI353693B (ja)
JP2008044047A (ja) デバイス搬送高さ基準位置設定方法及びハンドラ装置
US20190081420A1 (en) Stacked insertion structure for flexible circuit board
KR101828547B1 (ko) 전자 부품 검사 장치
TW526692B (en) A method of repairing a printed circuit assembly on a printed circuit board by attaching a flexible circuit to said circuit board and flexible circuits for repair of a printed circuit assembly and for reparing defects in a circuit assembly
US8248814B2 (en) Printed circuit board and voltage/current measuring method using the same
US9188605B2 (en) Integrated circuit (IC) test socket with Faraday cage
WO2016017334A1 (ja) 電流検出装置
EP3297006A1 (en) Integration of inductor and damper for power filters
EP2375257A2 (en) Resistive probing tip system for logic analyzer probing systems
JP2003337158A (ja) 電気特性測定治具および電気特性測定方法
JP2015012210A (ja) 部品保持機構、実装基板および測定装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20210119

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20211029

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20211102

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20211220

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20220111

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20220203

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7025012

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150