JP6964452B2 - Measuring machine management system and program - Google Patents

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Description

本発明は、測定機における各種記録データを管理・分析する測定機管理システムに関し、特に、各種記録データを分析することにより、測定機のメンテナンスや部品交換を推定して処理を実行する測定機管理システムに関する。 The present invention relates to a measuring machine management system that manages and analyzes various recorded data in a measuring machine, and in particular, a measuring machine management that estimates maintenance and parts replacement of the measuring machine by analyzing various recorded data and executes processing. Regarding the system.

従来から、被測定物の形状や寸法を測定する様々な測定機が用いられている。このような測定機として、例えば、真円度測定装置や表面性状測定機が知られている。真円度測定装置や表面性状測定機は、鋭い先端を持つスタイラスにより被測定物の表面をなぞったときに生じるスタイラスの上下動を検出し、これに基づき被測定物の表面の凹凸や性状を測定する。測定時、スタイラスは、被測定物の表面に物理的に接触した状態で移動するため、使用の履歴に応じてスタイラスの先端は摩耗することになる。スタイラスが摩耗すると測定精度が低下する。摩耗が進行すると、測定精度が許容できる限界よりも悪化するため、スタイラスには寿命があり、適切なタイミングでメンテナンスや交換をする必要がある。 Conventionally, various measuring machines for measuring the shape and dimensions of an object to be measured have been used. As such a measuring machine, for example, a roundness measuring device and a surface texture measuring machine are known. Roundness measuring devices and surface texture measuring machines detect the vertical movement of the stylus that occurs when the surface of the object to be measured is traced with a stylus with a sharp tip, and based on this, the unevenness and properties of the surface of the object to be measured are detected. taking measurement. At the time of measurement, the stylus moves in physical contact with the surface of the object to be measured, so that the tip of the stylus wears according to the history of use. Wearing the stylus reduces measurement accuracy. As the wear progresses, the measurement accuracy deteriorates beyond the acceptable limit, so the stylus has a limited life and needs to be maintained or replaced at the appropriate time.

そこで適切なタイミングでスタイラスを交換するよう促すべく、スタイラスの移動距離を検出し、累積移動距離が閾値を超えたときに交換時期を通知する測定機が提案されている(例えば特許文献1を参照)。しかし、このような通知に応じて交換をするか否かは測定機のユーザや管理者の判断に依存している。また、いざスタイラスを交換しようとしたときに、交換用のスタイラスが容易に入手できない場合もあり、このような場合には、測定精度を犠牲にするか、あるいは測定をあきらめざるを得ない場合もあった。 Therefore, in order to encourage the stylus to be replaced at an appropriate timing, a measuring device has been proposed that detects the moving distance of the stylus and notifies the replacement time when the cumulative moving distance exceeds the threshold value (see, for example, Patent Document 1). ). However, whether or not to exchange in response to such a notification depends on the judgment of the user or administrator of the measuring instrument. Also, when trying to replace the stylus, a replacement stylus may not be readily available, in which case the measurement accuracy may be sacrificed or the measurement may have to be abandoned. there were.

特開2011−169616号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2011-169616

このような問題に鑑みて、本発明は、測定機の管理を容易とすることができる測定機管理システムを提供することを目的とする。 In view of such a problem, an object of the present invention is to provide a measuring machine management system capable of facilitating the management of the measuring machine.

上記課題を解決すべく、本発明の測定機管理システムは、複数の測定装置から、各測定装置における交換部品の状態を示すコンディション情報を収集する収集手段と、収集手段が収取したコンディション情報に基づき交換部品の交換時期を予測する予測手段と、を備える。 In order to solve the above problems, the measuring machine management system of the present invention uses a collecting means for collecting condition information indicating the state of replacement parts in each measuring device and a collecting means for collecting the condition information collected by the collecting means from a plurality of measuring devices. It is provided with a prediction means for predicting the replacement time of replacement parts based on the above.

本発明では、予測手段による予測結果に基づき、交換部品が必要となる時期及び量に関する情報を生産部門に通知する通知手段をさらに備えるとよい。また、予測手段による予測結果と、交換部品の在庫量とに基づき、交換部品の生産計画に関する情報を生産部門に通知するとよい。コンディション情報は、測定装置における測定データそのものではないことが好ましい。 In the present invention, it is preferable to further provide a notification means for notifying the production department of information on the time and quantity of replacement parts required based on the prediction result by the prediction means. In addition, it is preferable to notify the production department of information on the production plan of the replacement parts based on the prediction result by the prediction means and the inventory amount of the replacement parts. It is preferable that the condition information is not the measurement data itself in the measuring device.

本発明では、測定装置は、例えば真円度測定装置であり、この場合、交換部品がスタイラスであるとよい。そして、コンディション情報は、スタイラスが被測定物に接触した状態で移動した距離を累積した接触移動距離であるとよい。 In the present invention, the measuring device is, for example, a roundness measuring device, in which case the replacement part may be a stylus. The condition information may be the contact movement distance obtained by accumulating the distance traveled by the stylus in contact with the object to be measured.

本発明に係るプログラムは、コンピュータを上記何れかの測定機管理システムとして機能させることを特徴とする。 The program according to the present invention is characterized in that the computer functions as any of the above-mentioned measuring machine management systems.

測定機管理システムの全体構成の一例を示す。An example of the overall configuration of the measuring machine management system is shown. サーバの構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of a server. 測定機管理システムでの管理対象とする真円度測定装置の外観図を示す。The external view of the roundness measuring device to be managed by the measuring machine management system is shown. 真円度測定装置の機械座標系を示す。The mechanical coordinate system of the roundness measuring device is shown. 真円度測定装置の制御装置本体の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the control device main body of a roundness measuring device. 被測定物上でのスタイラス先端の移動経路を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the movement path of the tip of a stylus on an object to be measured. 接触移動距離累積処理の手順を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the procedure of the contact movement distance accumulation processing. スタイラスへの付勢状態を例示する模式図である。It is a schematic diagram which illustrates the urging state to a stylus. 通知画面の一例を示す。An example of the notification screen is shown. リセット履歴表示画面の一例を示す。An example of the reset history display screen is shown.

以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。なお、以下の説明では、同一の部材には同一の符号を付し、一度説明した部材については適宜その説明を省略する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. In the following description, the same members are designated by the same reference numerals, and the description of the members once described will be omitted as appropriate.

〔システムの構成〕
図1は、本実施形態に係る測定機管理システム1を当該測定機管理システム1による管理対象である複数の測定機4とともに示している。図1に示したように測定機管理システム1は、ネットワークNWを介して管理対象である測定機4と接続されたサーバ2を備える。本実施形態では、測定機管理システム1が管理する測定機4が真円度測定装置である場合を例に説明をする。なお、測定機4が真円度測定装置以外の測定機であってもよい。
[System configuration]
FIG. 1 shows the measuring machine management system 1 according to the present embodiment together with a plurality of measuring machines 4 to be managed by the measuring machine management system 1. As shown in FIG. 1, the measuring machine management system 1 includes a server 2 connected to the measuring machine 4 to be managed via a network NW. In the present embodiment, a case where the measuring machine 4 managed by the measuring machine management system 1 is a roundness measuring device will be described as an example. The measuring device 4 may be a measuring device other than the roundness measuring device.

サーバ2は、例えば、コンピュータシステムであり、キーボード、マウス、タッチパネル等の入出力装置、CPU(Central Processing Unit)等の演算部及びRAM(Random Access Memory)、ROM(read only memory)等の記憶装置を備えた本体、CRT(Cathode Ray Tube)やLCD(Liquid Crystal Display)等の表示装置等から構成される。 The server 2 is, for example, a computer system, and is an input / output device such as a keyboard, a mouse, and a touch panel, a calculation unit such as a CPU (Central Processing Unit), and a storage device such as a RAM (Random Access Memory) and a ROM (read only memory). It is composed of a main body equipped with a CRT (Cathode Ray Tube), a display device such as an LCD (Liquid Crystal Display), and the like.

図2に示すように、サーバ2は、少なくとも、記憶部201、制御部202及び通信部203を備える。サーバ2の記憶部201には、制御部202にて実行されるプログラムや、当該プログラムで用いられるデータ等が記憶されている。例えば、記憶部201は、測定機4から収集したコンディションデータ、コンディションデータを分析して交換部品の交換時期を予測する予測プログラム、予測プログラムによる予測結果に基づき各種のアクション(例えば交換時期の通知、交換部品の在庫確認、交換部品の発注等)を実行するアクションプログラム等を記憶する。 As shown in FIG. 2, the server 2 includes at least a storage unit 201, a control unit 202, and a communication unit 203. The storage unit 201 of the server 2 stores a program executed by the control unit 202, data used in the program, and the like. For example, the storage unit 201 has a condition data collected from the measuring device 4, a prediction program that analyzes the condition data to predict the replacement time of the replacement part, and various actions (for example, notification of the replacement time) based on the prediction result by the prediction program. Store the action program, etc. that executes the inventory check of replacement parts, ordering of replacement parts, etc.).

制御部202は、記憶部201に記憶されたプログラムに従った処理を実行する。通信部203は、測定機4との通信を行うためにネットワークNWに接続するための機能を提供する。 The control unit 202 executes processing according to the program stored in the storage unit 201. The communication unit 203 provides a function for connecting to the network NW in order to communicate with the measuring device 4.

なお、サーバ2は、上記の各構成が物理的に一体として構成されていなくてもよい。例えば、上記構成要素の一部または全部が分散して配置されていてもよく、それらが協働してサーバ2として機能するようにすればよい。 The server 2 does not have to be physically integrated with each of the above configurations. For example, some or all of the above components may be distributed and arranged, and they may cooperate with each other to function as the server 2.

〔真円度測定装置の構成〕
図3は、測定機管理システム1での管理対象とする真円度測定装置4の外観図を示している。同図において、真円度測定装置4は、測定手段としての真円度測定装置本体10と、制御装置50とから構成されている。
[Structure of roundness measuring device]
FIG. 3 shows an external view of the roundness measuring device 4 to be managed by the measuring machine management system 1. In the figure, the roundness measuring device 4 includes a roundness measuring device main body 10 as a measuring means and a control device 50.

真円度測定装置本体10は、基台12と、該基台12上に矢印A方向に回転可能に設置された回転テーブル14と、該回転テーブル14のX方向位置を調整する位置調整手段16及びY方向位置を調整する位置調整手段18と、載置面のX方向傾きを調整する傾斜調整手段20及びY方向傾き量を調整する傾斜調整手段22と、該回転テーブル14上に載置された被測定物24の表面位置を接触検出可能な測定子としてのスタイラス27を先端に備えた検出器26と、検出器26を保持する検出器ホルダ40と、検出器ホルダ40が先端に装着されたアーム42と、アーム42を矢印Bで示す水平(X軸)方向に駆動することでスタイラス27を水平方向に移動させるスタイラス移動手段28と、このスタイラス移動手段28を矢印Cで示す上下(Z軸)方向に移動させることでスタイラス27を上下方向に移動させるスタイラス移動手段30とを含む。 The roundness measuring device main body 10 includes a base 12, a rotary table 14 rotatably installed on the base 12 in the direction of arrow A, and a position adjusting means 16 for adjusting the position of the rotary table 14 in the X direction. The position adjusting means 18 for adjusting the Y-direction position, the tilt adjusting means 20 for adjusting the X-direction tilt of the mounting surface, the tilt adjusting means 22 for adjusting the Y-direction tilt amount, and the rotary table 14 are mounted. A detector 26 having a stylus 27 as a stylus 27 as a stylus 27 capable of contact-detecting the surface position of the object to be measured 24, a detector holder 40 holding the detector 26, and a detector holder 40 are attached to the tip. The arm 42, the stylus moving means 28 for moving the stylus 27 in the horizontal direction by driving the arm 42 in the horizontal (X-axis) direction indicated by the arrow B, and the vertical (Z) stylus moving means 28 indicated by the arrow C. Includes a stylus moving means 30 that moves the stylus 27 in the vertical direction by moving it in the axial direction.

検出器26では、スタイラス27がその軸線方向がZ軸方向に対して被測定物24側に若干傾くように付勢手段(図示省略)によって付勢されている。検出器26は、スタイラス27を被測定物24の表面に接触させて該表面に対して相対移動されたときのスタイラス27の変位を検出することで測定データを得る。検出器26で得られた測定データは、真円度測定装置4全体の動作を司る制御装置50に送られる。検出器26が検出する測定データの極性は、被測定物24の外周面にスタイラス27を接触させる測定において、スタイラス27の先端が被測定物24から離れる方向への変位を正として規定されるものとする。 In the detector 26, the stylus 27 is urged by an urging means (not shown) so that its axial direction is slightly tilted toward the object to be measured 24 with respect to the Z-axis direction. The detector 26 obtains measurement data by detecting the displacement of the stylus 27 when the stylus 27 is brought into contact with the surface of the object to be measured 24 and moved relative to the surface. The measurement data obtained by the detector 26 is sent to the control device 50 that controls the operation of the entire roundness measuring device 4. The polarity of the measurement data detected by the detector 26 is defined as a positive displacement of the tip of the stylus 27 in the direction away from the object 24 in the measurement in which the stylus 27 is brought into contact with the outer peripheral surface of the object 24 to be measured. And.

真円度測定装置4では、図4に示すように、校正により回転テーブル14の上面とテーブル回転中心軸の交点をXZ原点とした機械座標系を構築する。スタイラス移動手段28及びスタイラス移動手段30により移動させるスタイラス27の位置と、検出器26により検出する変位とに基づき、スタイラス27先端のX位置及びZ位置(合わせてXZ位置という)が取得できる。 As shown in FIG. 4, the roundness measuring device 4 constructs a mechanical coordinate system with the intersection of the upper surface of the rotary table 14 and the center axis of rotation of the table as the XZ origin by calibration. The X position and Z position (collectively referred to as XZ position) of the tip of the stylus 27 can be acquired based on the position of the stylus 27 moved by the stylus moving means 28 and the stylus moving means 30 and the displacement detected by the detector 26.

制御装置50は、各種の演算処理や制御処理を実行する制御装置本体52、操作部54、表示部56から構成されており、制御装置本体52は、図5に示すように、主に、CPU60、RAM62、ROM64、HDD66、表示制御部68を有する。HDD66はI/F70を介してCPU60と接続されている。また、操作部54もI/F72を介してCPU60に接続されており、操作部54から入力されるコード情報及び位置情報は、I/F72を介してCPU60に入力される。CPU60は、表示制御部68を介して表示部56とも接続されており、CPU60からの表示指示に基づき表示制御部68の制御によって表示部56に各種画面や測定結果等が表示される。また、CPU60はI/F74を介して真円度測定装置本体10とも接続されており、I/F74を介して回転テーブル14、スタイラス移動手段28、30、及び検出器26等の駆動を制御する制御信号が真円度測定装置本体10に送信され、検出器26で得られた測定データがCPU60に入力される。入力された測定データは、RAM62、あるいはI/F70を介してHDD66に格納される。制御装置50では、この測定データを解析して、真円度や真直度等の幾何公差を求める。 The control device 50 is composed of a control device main body 52, an operation unit 54, and a display unit 56 that execute various arithmetic processes and control processes. As shown in FIG. 5, the control device main body 52 is mainly a CPU 60. , RAM 62, ROM 64, HDD 66, and display control unit 68. The HDD 66 is connected to the CPU 60 via the I / F 70. Further, the operation unit 54 is also connected to the CPU 60 via the I / F 72, and the code information and the position information input from the operation unit 54 are input to the CPU 60 via the I / F 72. The CPU 60 is also connected to the display unit 56 via the display control unit 68, and various screens, measurement results, and the like are displayed on the display unit 56 under the control of the display control unit 68 based on the display instruction from the CPU 60. The CPU 60 is also connected to the roundness measuring device main body 10 via the I / F 74, and controls the drive of the rotary table 14, the stylus moving means 28, 30, the detector 26, etc. via the I / F 74. The control signal is transmitted to the roundness measuring device main body 10, and the measurement data obtained by the detector 26 is input to the CPU 60. The input measurement data is stored in the HDD 66 via the RAM 62 or the I / F 70. The control device 50 analyzes this measurement data to obtain geometrical tolerances such as roundness and straightness.

RAM62、ROM64、HDD66には、真円度測定装置4を制御するための制御プログラム等の各種のプログラムが格納されている。本実施形態では、制御プログラムに接触移動距離累積処理を実行する機能が組み込まれている。また、HDD66には、ユーザにより作成された一連の測定手順を指示するパートプログラムPも格納される。本実施形態においては、CPU60がこれらのプログラムやパートプログラムPを適宜読み出して実行することにより、真円度測定装置4における測定動作を制御する測定制御手段60A、及びスタイラス27の使用履歴を管理する履歴管理手段60Bとして機能する。 Various programs such as a control program for controlling the roundness measuring device 4 are stored in the RAM 62, the ROM 64, and the HDD 66. In the present embodiment, the control program incorporates a function of executing the contact movement distance accumulation process. The HDD 66 also stores a part program P for instructing a series of measurement procedures created by the user. In the present embodiment, the CPU 60 appropriately reads and executes these programs and the part program P to manage the usage history of the measurement control means 60A that controls the measurement operation in the roundness measuring device 4 and the stylus 27. It functions as a history management means 60B.

なお、パートプログラムPは、各軸の移動及び測定の操作を制御装置50による数値制御で行うためのプログラムであり、該プログラム中で複数種類の測定を定義することで、複数種類の測定を順番に行って複数の幾何公差を求めることも可能である。真円度測定装置4は、例えば、回転外面の真円度、回転内面の真円度、回転上面の平面度、回転下面の平面度、直動外面の真直度、直動内面の真直度、直動上面の真直度、直動下面の真直度、スパイラル外内面の円筒度、及びスパイラル上下面の平面度といった幾何公差を測定することができる。 The part program P is a program for numerically controlling the movement and measurement of each axis by the control device 50. By defining a plurality of types of measurements in the program, a plurality of types of measurements can be performed in order. It is also possible to go to and find multiple geometrical tolerances. The roundness measuring device 4 includes, for example, the roundness of the rotating outer surface, the roundness of the rotating inner surface, the flatness of the rotating upper surface, the flatness of the rotating lower surface, the straightness of the linear motion outer surface, and the straightness of the linear motion inner surface. It is possible to measure geometrical tolerances such as the straightness of the upper surface of the linear motion, the straightness of the lower surface of the linear motion, the cylindricity of the outer and inner surfaces of the spiral, and the flatness of the upper and lower surfaces of the spiral.

すなわち、スタイラス移動手段28によってスタイラス27を水平方向に移動させると、回転テーブル14上に載置された被測定物24の外周面に接触する。この状態で回転テーブル14を回転させる、あるいはスタイラス移動手段30によってスタイラス27を上下方向に移動させることによって、検出器26では被測定物24の外周面を測定することができる。制御装置50では、このようにスタイラス27を被測定物24の外周面に接触させ、回転テーブル14を回転させて得られた測定データから真円度(回転外面の真円度)、スタイラス27を上下方向に移動させて得られた測定データから真直度(直動外面の真直度)を求める。 That is, when the stylus 27 is moved in the horizontal direction by the stylus moving means 28, it comes into contact with the outer peripheral surface of the object to be measured 24 placed on the rotary table 14. By rotating the rotary table 14 in this state or moving the stylus 27 in the vertical direction by the stylus moving means 30, the detector 26 can measure the outer peripheral surface of the object to be measured 24. In the control device 50, the stylus 27 is brought into contact with the outer peripheral surface of the object to be measured 24 in this way, and the roundness (roundness of the rotating outer surface) and the stylus 27 are obtained from the measurement data obtained by rotating the rotary table 14. The straightness (straightness of the linear motion outer surface) is obtained from the measurement data obtained by moving the stylus in the vertical direction.

また、スタイラス移動手段28、30によって、スタイラス27を水平方向、上下方向に移動させて被測定物24の上面に接触させ、この状態で回転テーブル14を回転させる、あるいはスタイラス移動手段28によってスタイラス27を水平方向に移動させることによって、検出器26では被測定物24の上面を測定できる。制御装置50では、このようにスタイラス27を被測定物24の上面に接触させ、回転テーブル14を回転させて得られた測定データから平面度(回転上面の平面度)、スタイラス27を上下方向に移動させて得られた測定データから真直度(直動上面の真直度)を求める。 Further, the stylus moving means 28 and 30 move the stylus 27 in the horizontal direction and the vertical direction to bring it into contact with the upper surface of the object to be measured 24, and the rotary table 14 is rotated in this state, or the stylus 27 is moved by the stylus moving means 28. By moving the stylus in the horizontal direction, the detector 26 can measure the upper surface of the object to be measured 24. In the control device 50, the stylus 27 is brought into contact with the upper surface of the object to be measured 24 in this way, and the flatness (flatness of the rotating upper surface) and the stylus 27 are moved in the vertical direction from the measurement data obtained by rotating the rotary table 14. The straightness (straightness of the linear motion upper surface) is obtained from the measurement data obtained by moving.

また、本実施形態においては、検出器26は回転機構(図示省略)によって矢印Dに示す方向、すなわちZ軸方向を中心に所定角度の範囲(例えば、0度から270度まで1度単位で)回転可能になっている。これにより、円筒状の被測定物24の内周面にもスタイラス27を接触させることができ、回転テーブル14を回転させる、あるいはスタイラス移動手段30によってスタイラス27を上下方向に移動させることによって、検出器26では被測定物24の内周面の測定も可能である。そして、制御装置50では、このように被測定物24の内周面にスタイラス27を接触させ、回転テーブル14を回転させて得られた測定データから真円度(回転内面の真円度)、スタイラス27を上下方向に移動させて得られた測定データから真直度(直動内面の真直度)を求める。 Further, in the present embodiment, the detector 26 has a rotation mechanism (not shown) in a predetermined angle range (for example, from 0 degrees to 270 degrees in 1 degree units) about the direction indicated by the arrow D, that is, the Z-axis direction. It is rotatable. As a result, the stylus 27 can also be brought into contact with the inner peripheral surface of the cylindrical object to be measured 24, and the stylus 27 can be detected by rotating the rotary table 14 or moving the stylus 27 in the vertical direction by the stylus moving means 30. The device 26 can also measure the inner peripheral surface of the object to be measured 24. Then, in the control device 50, the stylus 27 is brought into contact with the inner peripheral surface of the object to be measured 24 in this way, and the roundness (roundness of the rotating inner surface) is determined from the measurement data obtained by rotating the rotary table 14. The straightness (straightness of the linear motion inner surface) is obtained from the measurement data obtained by moving the stylus 27 in the vertical direction.

さらに、検出器ホルダ40はX軸を中心に90度回転可能にアーム42に装着されており、検出器ホルダ40の姿勢を縦横に変更することもできる。なお、図3は検出器ホルダ40の姿勢が縦になっている状態を示している。検出器ホルダ40の姿勢を横にし、且つ検出器26を回転させることで、被測定物24の下面(例えば、円筒または円柱の中央部に下端面よりも大径の大径部を設けたような被測定物24であれば、該大径部の下側の面のことを下面と称す)にもスタイラス27を接触させることができ、回転テーブル14を回転させる、あるいはスタイラス移動手段28によってスタイラス27を水平方向に移動させることによって、検出器26では被測定物24の下面の測定も可能である。そして、制御装置50では、このように被測定物24の下面にスタイラス27を接触させ、回転テーブル14を回転させて得られた測定データから平面度(回転下面の平面度)、スタイラス27を上下方向に移動させて得られた測定データから真直度(直動下面の真直度)を求める。 Further, the detector holder 40 is mounted on the arm 42 so as to be rotatable 90 degrees about the X axis, and the posture of the detector holder 40 can be changed vertically and horizontally. Note that FIG. 3 shows a state in which the posture of the detector holder 40 is vertical. By laying the posture of the detector holder 40 sideways and rotating the detector 26, it seems that the lower surface of the object to be measured 24 (for example, a cylinder or a central portion of the cylinder is provided with a large diameter portion having a diameter larger than the lower end surface). The stylus 27 can also be brought into contact with the lower surface of the large-diameter portion of the object to be measured 24), and the stylus 27 is rotated or the stylus is moved by the stylus moving means 28. By moving 27 in the horizontal direction, the detector 26 can also measure the lower surface of the object to be measured 24. Then, in the control device 50, the stylus 27 is brought into contact with the lower surface of the object to be measured 24 in this way, and the flatness (flatness of the rotating lower surface) and the stylus 27 are moved up and down from the measurement data obtained by rotating the rotary table 14. The straightness (straightness of the lower surface of the linear motion) is obtained from the measurement data obtained by moving in the direction.

制御装置50では、測定した面の種類(外面/内面/上面/下面等)と移動の種類(回転/直動等)とに応じて適切な幾何公差を選択して計算する。なお、真円度測定装置4の測定は上記以外の幾何公差に限定されず、他の幾何公差等を測定してもよい。 In the control device 50, an appropriate geometrical tolerance is selected and calculated according to the type of the measured surface (outer surface / inner surface / upper surface / lower surface, etc.) and the type of movement (rotation / linear motion, etc.). The measurement of the roundness measuring device 4 is not limited to geometrical tolerances other than the above, and other geometrical tolerances and the like may be measured.

〔履歴の記録〕
本実施形態の真円度測定装置4では、上記のような各種の測定とともに、スタイラス27が被測定物24に接触した状態で移動した距離を累積した接触移動距離を求め、HDD66に記録する。なお、真円度測定装置4では、接触移動距離は、個々のスタイラス27毎に記録される。検出器26に取り付けられているスタイラス27の識別は、ユーザの設定により行うとよい。なお、接触移動距離はコンディションデータの一例である。
[History record]
In the roundness measuring device 4 of the present embodiment, in addition to various measurements as described above, the contact movement distance obtained by accumulating the distance traveled by the stylus 27 in contact with the object 24 to be measured is obtained and recorded in the HDD 66. In the roundness measuring device 4, the contact movement distance is recorded for each individual stylus 27. The stylus 27 attached to the detector 26 may be identified by a user setting. The contact movement distance is an example of condition data.

図6に示したように、真円度測定装置4において、スタイラス27の先端が被測定物24に接触した状態で、回転テーブル14が時計台に回転し、スタイラス移動手段30によりスタイラス27が上方向(Z軸方向)に移動されたとする。このときにスタイラス27が被測定物24に接触した状態で移動した経路が破線で表される。このスタイラス27が被測定物24に接触した状態で移動した経路の長さを累積したものが接触移動距離となる。 As shown in FIG. 6, in the roundness measuring device 4, the rotary table 14 rotates to the clock tower with the tip of the stylus 27 in contact with the object to be measured 24, and the stylus 27 is raised by the stylus moving means 30. It is assumed that the stylus is moved in the direction (Z-axis direction). At this time, the path that the stylus 27 traveled in contact with the object to be measured 24 is represented by a broken line. The contact movement distance is the sum of the lengths of the paths that the stylus 27 has moved in contact with the object to be measured 24.

真円度測定装置4は、所定の周期でスタイラス27の先端のXZ位置及び回転テーブル14の回転角度θ(以下では、これらを合わせて相対位置データと呼ぶ)を取得し続ける。図6においては、相対位置データを取得する位置が黒丸印にて例示されている。そして連続する2組の相対位置データを取得したタイミングでいずれもスタイラス27の先端が被測定物24に接触している場合に、当該2組の相対位置データでそれぞれ示されるスタイラス先端の位置の間の距離を累積することで接触移動距離を算出する。なお、相対位置データを取得する周期が短いほど、算出される移動距離は実際の移動距離に近い値となる。測定周期は必要とされる精度に応じて決定すればよく、例えば100ms周期程度とするとよい。 The roundness measuring device 4 continues to acquire the XZ position of the tip of the stylus 27 and the rotation angle θ of the rotary table 14 (hereinafter, these are collectively referred to as relative position data) at a predetermined cycle. In FIG. 6, the position where the relative position data is acquired is illustrated by a black circle. When the tip of the stylus 27 is in contact with the object to be measured 24 at the timing when two consecutive sets of relative position data are acquired, between the positions of the stylus tips indicated by the two sets of relative position data. The contact movement distance is calculated by accumulating the distances of. The shorter the cycle for acquiring the relative position data, the closer the calculated movement distance is to the actual movement distance. The measurement cycle may be determined according to the required accuracy, and may be, for example, about 100 ms cycle.

続いて、図7に示すフローチャートを参照しつつ、接触移動距離累積処理の手順を説明する。以下の処理は制御装置50のCPU60が制御プログラムを実行することにより実施される。処理の主体が明記されない場合には、制御装置50のCPU60が制御プログラムを実行することによる処理であると理解されたい。真円度測定装置4の電源が投入後、制御プログラムが起動されると、これに伴い制御プログラムに組み込まれた接触移動距離累積処理を実行する機能が開始される。したがって、接触移動距離は、測定を実施しているか否かに関わらず常時監視され、累積される。真円度測定装置4の電源投入後、制御プログラムが起動されてから、一連の測定を行い、電源を遮断する前に制御プログラムが終了されるまでの間に、スタイラス27は、被測定物24に接触したり、被測定物24から離れたりを繰り返すことが想定される。本実施形態の真円度測定装置4は、下記のフローにより、正確な接触移動距離を記録するために、スタイラス27が被測定物24に接触していた期間の移動距離だけを累積する。 Subsequently, the procedure of the contact movement distance accumulation processing will be described with reference to the flowchart shown in FIG. The following processing is executed by the CPU 60 of the control device 50 executing the control program. If the subject of the process is not specified, it should be understood that the process is performed by the CPU 60 of the control device 50 executing the control program. When the control program is started after the power of the roundness measuring device 4 is turned on, the function of executing the contact movement distance accumulation process incorporated in the control program is started accordingly. Therefore, the contact movement distance is constantly monitored and accumulated regardless of whether or not the measurement is performed. After the power of the roundness measuring device 4 is turned on, the stylus 27 is the object to be measured 24 between the time when the control program is started and the time when the control program is terminated before the power is turned off after performing a series of measurements. It is assumed that they repeatedly come into contact with the object to be measured and move away from the object to be measured 24. The roundness measuring device 4 of the present embodiment accumulates only the moving distance during the period in which the stylus 27 is in contact with the object to be measured 24 in order to record the accurate contact moving distance according to the following flow.

接触移動距離累積処理が開始されると、CPU60が実行する制御プログラムは、これまでに累積した接触移動距離に新たな測定における接触移動距離を累積するために、諸条件を初期化する。具体的には、制御プログラムは、これまでに累積した接触移動距離をHDD66から読み出し、直前の相対位置データを取得したタイミングにおける接触状態を示す前回接触フラグをオフとし、相対位置データを初期状態(例えばスタイラス27の先端のXZ位置及びテーブルの回転角度θを共にゼロ)とする(ステップS100)。続いて、最新の相対位置データを取得する(ステップS110)。 When the contact movement distance accumulation process is started, the control program executed by the CPU 60 initializes various conditions in order to accumulate the contact movement distance in the new measurement with the contact movement distance accumulated so far. Specifically, the control program reads the contact movement distance accumulated so far from the HDD 66, turns off the previous contact flag indicating the contact state at the timing when the immediately preceding relative position data is acquired, and sets the relative position data to the initial state (the initial state (). For example, the XZ position at the tip of the stylus 27 and the rotation angle θ of the table are both zero) (step S100). Subsequently, the latest relative position data is acquired (step S110).

続いて、制御プログラムは、スタイラス27と被測定物24が接触しているか否かを判定する(ステップS120)。接触しているか否かの判定方法の一例を以下で説明する。検出器26に取り付けられているスタイラス27は、上述の通りばね等に被測定物24側に若干傾くように付勢されている。図8は、被測定物24の外周面にスタイラス27を接触させる測定におけるスタイラス27への付勢状態を例示している。図8に示したように、スタイラス27が被測定物24に接触していない状態では、スタイラス27の先端は、付勢力によって被測定物24のある方向(図8の例では左方向、変位量の測定データにおけるマイナスの方向)に変位しており、スタイラス27の変位量は、検出器26による検出範囲Rの外(最大の測定レンジを選択したとしても被測定物24と接触する方向(マイナス側)に振り切れた値)となる。そこで、制御プログラムは、最大の(つまり、倍率が最も低い)測定レンジにおいて、スタイラス27の変位量を検出する変位検出器の出力値が、被測定物24と接触する方向に振り切れた値である場合に、スタイラス27と被測定物24が接触していないと判定する。 Subsequently, the control program determines whether or not the stylus 27 and the object to be measured 24 are in contact with each other (step S120). An example of a method for determining whether or not they are in contact will be described below. As described above, the stylus 27 attached to the detector 26 is urged by a spring or the like so as to be slightly tilted toward the object to be measured 24. FIG. 8 illustrates an urging state of the stylus 27 in the measurement in which the stylus 27 is brought into contact with the outer peripheral surface of the object to be measured 24. As shown in FIG. 8, when the stylus 27 is not in contact with the object to be measured 24, the tip of the stylus 27 is displaced by the urging force in the direction in which the object to be measured 24 is located (leftward in the example of FIG. 8, displacement amount). The displacement amount of the stylus 27 is outside the detection range R by the detector 26 (even if the maximum measurement range is selected, the direction of contact with the object to be measured 24 (minus direction)). It becomes the value) that is completely displaced to the side). Therefore, in the control program, the output value of the displacement detector that detects the displacement amount of the stylus 27 in the maximum measurement range (that is, the lowest magnification) is a value that swings in the direction of contact with the object 24 to be measured. In this case, it is determined that the stylus 27 and the object to be measured 24 are not in contact with each other.

なお、図8では、被測定物24の外周面にスタイラス27を接触させる測定の場合を例示したが、被測定物24の内周面にスタイラス27を接触させる測定の場合には、付勢の向き及び非接触状態と判断するための測定レンジを振り切れる方向が適宜選択される。例えば、被測定物24の内周面を測定する場合には、付勢の向き及び非接触状態と判断するための測定レンジを振り切れる方向は図8の例とは反対になる。また、被測定物24の上面や下面を測定する場合には、検出器ホルダ40を90度回転した状態として、スタイラス27を下方向又は上方向に付勢力を加えるとともに、付勢力が加えられている方向(つまり被測定物24がある方向)に変位量が振り切れている場合にスタイラス27が被測定物24に接触していないと判定すればよい。 In addition, in FIG. 8, the case of the measurement in which the stylus 27 is brought into contact with the outer peripheral surface of the object to be measured 24 is illustrated, but in the case of the measurement in which the stylus 27 is brought into contact with the inner peripheral surface of the object to be measured 24, the stylus 27 is urged. The direction and the direction in which the measurement range for determining the non-contact state can be shaken off are appropriately selected. For example, when measuring the inner peripheral surface of the object to be measured 24, the direction of urging and the direction of swinging the measurement range for determining the non-contact state are opposite to those in FIG. Further, when measuring the upper surface or the lower surface of the object to be measured 24, the stylus 27 is subjected to a downward or upward urging force while the detector holder 40 is rotated 90 degrees, and the urging force is applied. It may be determined that the stylus 27 is not in contact with the object to be measured 24 when the displacement amount is completely shaken in the direction in which the object to be measured 24 is located (that is, the direction in which the object to be measured 24 is located).

図7に戻って、スタイラス27と被測定物24が接触していないと判定した場合(S120;No)、制御プログラムは、前回接触フラグをオフとし(ステップS130)、処理をS170に移す。前回接触フラグがオフである場合には、スタイラス27と被測定物24が現在接触しているか否かに関わらず、接触移動距離を累積しない。また、スタイラス27と被測定物24が接触していない場合に前回接触フラグをオフとすることで、次回の相対位置データを取得するタイミングでスタイラス27が被測定物24に接触していたとしても、接触移動距離を累積しないようにする。 Returning to FIG. 7, when it is determined that the stylus 27 and the object to be measured 24 are not in contact with each other (S120; No), the control program turns off the previous contact flag (step S130) and shifts the process to S170. When the contact flag is off last time, the contact movement distance is not accumulated regardless of whether the stylus 27 and the object to be measured 24 are currently in contact with each other. Further, by turning off the previous contact flag when the stylus 27 and the object to be measured 24 are not in contact with each other, even if the stylus 27 is in contact with the object to be measured 24 at the timing of acquiring the next relative position data. , Avoid accumulating contact movement distances.

一方、スタイラス27と被測定物24が接触していると判定した場合(S120;Yes)、制御プログラムは、前回接触フラグがオンか否かを判定する(ステップS140)。前回接触フラグがオンでない(オフである)場合(S140;No)、制御プログラムは、処理をステップS160に移す。すなわち、現時点でスタイラス27が被測定物24に接触していたとしても、前回接触していない場合には、接触移動距離を累積しない。 On the other hand, when it is determined that the stylus 27 and the object to be measured 24 are in contact with each other (S120; Yes), the control program determines whether or not the previous contact flag is on (step S140). If the previous contact flag is not on (off) (S140; No), the control program moves the process to step S160. That is, even if the stylus 27 is in contact with the object to be measured 24 at the present time, the contact movement distance is not accumulated if the stylus 27 is not in contact with the object 24 last time.

一方、接触フラグがオンである場合(S140;Yes)、制御プログラムは、現在と前回の相対位置データから、移動距離を算出し、当該移動距離を接触移動距離に加算し(ステップS150)、その後、処理をステップS160に移す。なお、現在と前回の相対位置データを測定する間にスタイラス27の先端が被測定物24の表面を移動する軌跡は、スタイラス移動手段28、30、及び回転テーブル14のいずれが動いたかに応じて、表1に示すように直線、弧、円弧のいずれかとなる。

Figure 0006964452
On the other hand, when the contact flag is on (S140; Yes), the control program calculates the movement distance from the current and previous relative position data, adds the movement distance to the contact movement distance (step S150), and then , The process is moved to step S160. The locus of the tip of the stylus 27 moving on the surface of the object to be measured 24 during the measurement of the current and previous relative position data depends on which of the stylus moving means 28, 30 and the rotary table 14 has moved. , As shown in Table 1, it can be a straight line, an arc, or an arc.
Figure 0006964452

そこで、制御プログラムは、ステップS150において、前回及び現在の相対位置データ及びスタイラス移動手段28、30、及び回転テーブル14のいずれが動いていたか、に基づき、移動距離を算出する。 Therefore, the control program calculates the moving distance based on the previous and current relative position data and which of the stylus moving means 28 and 30 and the rotary table 14 was moving in step S150.

ステップS160において、制御プログラムは、前回接触フラグをオンにするとともに、前回スタイラス先端位置と前回テーブル角度を現在の値で更新する。(ステップS160)。ステップS160では、ステップS110〜S170を繰り返し実行するループにおいて、次回での処理に備えてデータを更新する。続いて、制御プログラムは、制御プログラムが終了のプロセスに入ったか否かを判定する(ステップS170)。終了のプロセスに入っている場合(ステップS170;Yes)、制御プログラムは、最新の接触移動距離をHDD66に保存し(ステップS180)、処理を終了する。一方、終了のプロセスに入っていない場合(ステップS170;No)、制御プログラムは、処理をステップS110に戻して処理を続行する。なお、制御プログラムは、ステップS180以外のタイミングでも、累積移動距離を随時(例えばステップS150を実行する都度)、HDD66に保存してもよい。 In step S160, the control program turns on the previous contact flag and updates the previous stylus tip position and the previous table angle with the current values. (Step S160). In step S160, in the loop in which steps S110 to S170 are repeatedly executed, the data is updated in preparation for the next processing. Subsequently, the control program determines whether or not the control program has entered the termination process (step S170). When entering the termination process (step S170; Yes), the control program saves the latest contact movement distance in the HDD 66 (step S180) and terminates the process. On the other hand, if the process has not been completed (step S170; No), the control program returns the process to step S110 and continues the process. The control program may save the cumulative movement distance in the HDD 66 at any time (for example, each time step S150 is executed) at a timing other than step S180.

以上のようにして、真円度測定装置4は、スタイラス27が被測定物24に接触した状態で移動した距離を累積した接触移動距離を求め、記録することができる。 As described above, the roundness measuring device 4 can obtain and record the contact movement distance by accumulating the distance traveled by the stylus 27 in contact with the object to be measured 24.

〔接触移動距離の活用〕
記録した接触移動距離は、ユーザによる操作に基づき、あるいは、自動的に、表示部56に表示される。例えば、ユーザが真円度測定装置4の操作プログラムで接触移動距離表示メニューを選択すると、図9のような通知画面が表示される。すなわち、通知画面ではスタイラス27とその接触移動距離が対応付けて表示される。このようにすれば、ユーザは所望のタイミングで各スタイラス27の使用履歴を参照でき摩耗による劣化の程度を推し量ることができる。また、個々のスタイラス27毎に閾値を設けておき、接触移動距離が対応する閾値に達したときに自動的に図9のような画面を表示するとよい。このようにすれば、スタイラス27を交換すべきタイミングでユーザに交換を促すことができる。通知画面は、現在取り付けられているスタイラス27が選択された状態で表示されるとよい。スタイラス27を交換したとき等に、通知画面のリセットボタンB1を押すことにより、接触移動距離をゼロにリセットするとよい。真円度測定装置4では、リセットされたときの日時と接触移動距離を、リセット操作の都度、記録するとよい。通知画面でリセット履歴表示ボタンB2を押すと、図10のようなリセット履歴表示画面により、選択されているスタイラス27について、過去にリセットをした日時とリセット時の接触移動距離とを対応づけて表示するとよい。このようにすれば、ユーザはリセット履歴を知ることができ、さらには過去に行った測定で使っていたスタイラス27の劣化状況を推し量ることができる。
[Utilization of contact movement distance]
The recorded contact movement distance is displayed on the display unit 56 based on the operation by the user or automatically. For example, when the user selects the contact movement distance display menu in the operation program of the roundness measuring device 4, the notification screen as shown in FIG. 9 is displayed. That is, on the notification screen, the stylus 27 and its contact movement distance are displayed in association with each other. In this way, the user can refer to the usage history of each stylus 27 at a desired timing and estimate the degree of deterioration due to wear. Further, it is preferable to set a threshold value for each stylus 27 and automatically display the screen as shown in FIG. 9 when the contact movement distance reaches the corresponding threshold value. In this way, the user can be prompted to replace the stylus 27 at the timing when the stylus 27 should be replaced. The notification screen may be displayed with the currently installed stylus 27 selected. When the stylus 27 is replaced or the like, the contact movement distance may be reset to zero by pressing the reset button B1 on the notification screen. The roundness measuring device 4 may record the date and time when the reset is performed and the contact movement distance each time the reset operation is performed. When the reset history display button B2 is pressed on the notification screen, the reset history display screen as shown in FIG. 10 displays the date and time when the selected stylus 27 was reset in the past and the contact movement distance at the time of reset in association with each other. It is good to do it. In this way, the user can know the reset history, and can estimate the deterioration status of the stylus 27 used in the measurement performed in the past.

測定機管理システム1では、サーバ2が、複数の測定機(真円度測定装置)4から、接触移動距離を収集し、管理する。サーバ2は、各測定機から収集した接触移動距離を分析し、個々のスタイラス27の交換予定時期を予測する。また、サーバ2は、予想したスタイラス27の交換時期に基づき、スタイラスが必要となる時期及び量に関する情報を生産部門に通知するとよい。また、サーバ2は、ネットワークNWを介して接続されたスタイラスの在庫管理システム(不図示)に照会し、スタイラスの在庫量に応じてスタイラスの生産計画に関する情報を生産部門に通知するとよい。例えば、交換時期に在庫がないと予想される場合には、当該交換時期における入手可能性を高めるべく、スタイラスの増産等を促す通知をするとよい。このように複数の測定機の測定履歴情報を総合して管理することで、消耗品の提供時期を予測することができ、在庫数を抑制しつつ交換までのリードタイムの短縮することが可能となる。 In the measuring machine management system 1, the server 2 collects and manages the contact movement distance from a plurality of measuring machines (roundness measuring devices) 4. The server 2 analyzes the contact movement distance collected from each measuring device and predicts the scheduled replacement time of each stylus 27. Further, the server 2 may notify the production department of information regarding the time and amount of the stylus required based on the expected replacement time of the stylus 27. Further, the server 2 may refer to the stylus inventory management system (not shown) connected via the network NW, and notify the production department of information on the stylus production plan according to the stylus inventory amount. For example, if it is expected that the stylus will be out of stock at the time of replacement, it is advisable to give a notice urging the production of the stylus to be increased in order to increase the availability at the time of replacement. By comprehensively managing the measurement history information of multiple measuring machines in this way, it is possible to predict when consumables will be provided, and it is possible to shorten the lead time until replacement while suppressing the number of inventories. Become.

また、サーバ2で収集するデータを測定機のコンディションに関する情報に限定することで、ユーザの顧客情報や機密性を有する測定データのセキュリティ管理に係る労力やコストを抑制することができ、さらに、通信及び記録するデータ量を減少させることができる。 Further, by limiting the data collected by the server 2 to the information related to the condition of the measuring machine, it is possible to reduce the labor and cost related to the security management of the user's customer information and the confidential measurement data, and further, communication. And the amount of data to be recorded can be reduced.

〔実施形態の変形例〕
なお、上記に本実施形態を説明したが、本発明はこの例に限定されるものではない。例えば、上記実施形態では、測定機として真円度測定装置を用いる場合を例に説明したが、測定機はこれ以外の者であっても構わない。例えば、真円度測定装置と同様にスタイラスを用いた測定を行う表面性状測定装置であってもよいし、探針を被測定物の表面に沿って移動させて測定を行うプローブ顕微鏡(走査型トンネル顕微鏡、原子間力顕微鏡等)であってもよい。その他、交換部品やメンテナンスが必要な測定機であれば如何なる測定機であってもよい。メンテナンスや交換を要する部品の例としては、例えばレーザ、LED、管球類等の発光部品、摺動により摩耗が生じる可動部品、化学変化により劣化が生じる部品、衝撃等の物理的な外力により劣化が生じる部品等が考えられる。いかなる測定機であっても、メンテナンスや交換を要する部品等の劣化の程度を反映するコンディションデータを記録するとともに、コンディションデータをサーバで収集し、サーバにて収集したコンディションデータに基づいた処理を行えばよい。
[Modified example of the embodiment]
Although the present embodiment has been described above, the present invention is not limited to this example. For example, in the above embodiment, the case where the roundness measuring device is used as the measuring machine has been described as an example, but the measuring machine may be a person other than this. For example, it may be a surface texture measuring device that performs measurement using a stylus like a roundness measuring device, or a probe microscope (scanning type) that performs measurement by moving a probe along the surface of an object to be measured. It may be a tunneling microscope, an atomic force microscope, etc.). In addition, any measuring machine may be used as long as it requires replacement parts and maintenance. Examples of parts that require maintenance or replacement include light emitting parts such as lasers, LEDs, and tubes, moving parts that wear due to sliding, parts that deteriorate due to chemical changes, and deterioration due to physical external forces such as impact. Is conceivable. Regardless of the measuring instrument, condition data that reflects the degree of deterioration of parts that require maintenance or replacement is recorded, condition data is collected by the server, and processing is performed based on the condition data collected by the server. Just do it.

また、上記の実施形態では、サーバが一体として構成される場合を例に説明したが、サーバは、物理的に離間された複数の装置が協働してその機能を実現するように構成されてもよい。 Further, in the above embodiment, the case where the server is configured as one is described as an example, but the server is configured so that a plurality of physically separated devices cooperate to realize the function. May be good.

また、上記の実施形態では、真円度測定装置4を制御するための制御プログラムに接触移動距離累積処理を実行する機能が組み込まれている構成を例に説明したが、接触移動距離累積処理を実行する機能は、制御プログラムとは別のプログラムとしてRAM62、ROM64、又はHDD66に格納され、CPU60により実行されるようにしてもよい。 Further, in the above embodiment, the configuration in which the function for executing the contact movement distance accumulation process is incorporated in the control program for controlling the roundness measuring device 4 has been described as an example, but the contact movement distance accumulation process is described. The function to be executed may be stored in the RAM 62, ROM 64, or HDD 66 as a program separate from the control program, and may be executed by the CPU 60.

また、上記の実施形態では、検出器26に取り付けられているスタイラス27をユーザの入力に基づき識別したが、スタイラス27を識別するための識別情報を、視覚的、光学的又は磁気的に読み取り可能なデータとして個々のスタイラス27に付し、この識別情報を真円度測定装置4が読み取ることで、取り付けられているスタイラス27を自動的に識別するように構成してもよい。 Further, in the above embodiment, the stylus 27 attached to the detector 26 is identified based on the user's input, but the identification information for identifying the stylus 27 can be visually, optically or magnetically read. The stylus 27 may be attached to each stylus 27 as data, and the attached stylus 27 may be automatically identified by reading the identification information by the roundness measuring device 4.

また、前述の各実施形態に対して、当業者が適宜、構成要素の追加、削除、設計変更を行ったものや、各実施形態の特徴を適宜組み合わせたものも、本発明の要旨を備えている限り、本発明の範囲に含有される。 In addition, those skilled in the art appropriately adding, deleting, or changing the design of each of the above-described embodiments, and those in which the features of each embodiment are appropriately combined are also provided with the gist of the present invention. As long as it is, it is included in the scope of the present invention.

1 測定機管理システム
2 サーバ
4 測定機
NW ネットワーク
1 Measuring machine management system 2 Server 4 Measuring machine NW network

Claims (5)

複数の測定装置から、各測定装置における交換部品の状態を示すコンディション情報を収集する収集手段と、
前記収集手段が収集したコンディション情報に基づき前記交換部品の交換時期を予測する予測手段と、
前記予測手段による予測結果と、前記交換部品の在庫量とに基づき、前記交換部品の生産計画に関する情報を生産部門に通知する通知手段と
を備える測定機管理システム。
A collecting means for collecting condition information indicating the state of replacement parts in each measuring device from a plurality of measuring devices, and a collecting means.
A prediction means for predicting the replacement time of the replacement part based on the condition information collected by the collection means, and a prediction means.
A measuring machine management system including a notification means for notifying a production department of information on a production plan of the replacement part based on a prediction result by the prediction means and an inventory amount of the replacement part.
前記通知手段は、前記予測手段による予測結果に基づき、前記交換部品が必要となる時期及び量に関する情報を生産部門に通知することを特徴とする請求項1に記載の測定機管理システム。 The measuring machine management system according to claim 1, wherein the notification means notifies a production department of information regarding a time and quantity in which the replacement part is required based on a prediction result by the prediction means. 前記コンディション情報は、前記測定装置における測定データそのものではないことを特徴とする請求項1または2に記載の測定機管理システム。 The measuring machine management system according to claim 1 or 2 , wherein the condition information is not the measurement data itself in the measuring device. 前記測定装置が真円度測定装置であり、前記交換部品がスタイラスであり、前記コンディション情報が、前記スタイラスが被測定物に接触した状態で移動した距離を累積した接触移動距離であることを特徴とする請求項1からの何れか1項に記載の測定機管理システム。 The measuring device is a roundness measuring device, the replacement part is a stylus, and the condition information is a contact movement distance obtained by accumulating the distance traveled by the stylus in contact with an object to be measured. The measuring machine management system according to any one of claims 1 to 3. コンピュータを請求項1から4の何れか1項に記載の測定機管理システムとして機能させることを特徴とするプログラム。 A program characterized in that a computer functions as the measuring machine management system according to any one of claims 1 to 4.
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