JP6960970B2 - Manufacturing method of fixed abrasive grain grindstone and glass substrate - Google Patents

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Description

本発明は、ハードディスクドライブ(HDD)等の磁気ディスク装置に搭載される磁気ディスク用ガラス基板の製造方法および磁気ディスクの製造方法に関する。 The present invention relates to a method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk mounted on a magnetic disk device such as a hard disk drive (HDD) and a method for manufacturing a magnetic disk.

ハードディスクドライブ(HDD)等の磁気ディスク装置に搭載される情報記録媒体の一つとして磁気ディスクがある。磁気ディスクは、基板上に磁性層等の薄膜を形成して構成されたものであり、その基板として従来はアルミ基板が用いられてきた。しかし、最近では、高記録密度化の追求に呼応して、アルミ基板と比べて磁気ヘッドと磁気ディスクとの間隔をより狭くすることが可能なガラス基板の占める比率が次第に高くなってきている。また、ガラス基板表面は磁気ヘッドの浮上高さを極力下げることができるように、高精度に研磨して高記録密度化を実現している。近年、HDDの更なる大記録容量化、低価格化の要求は増すばかりであり、これを実現するためには、磁気ディスク用ガラス基板においても更なる高品質化、低コスト化が必要になってきている。 A magnetic disk is one of the information recording media mounted on a magnetic disk device such as a hard disk drive (HDD). A magnetic disk is formed by forming a thin film such as a magnetic layer on a substrate, and an aluminum substrate has been conventionally used as the substrate. However, in recent years, in response to the pursuit of higher recording densities, the proportion of glass substrates capable of narrowing the distance between the magnetic head and the magnetic disk has gradually increased as compared with aluminum substrates. In addition, the surface of the glass substrate is polished with high precision to achieve a high recording density so that the floating height of the magnetic head can be reduced as much as possible. In recent years, the demand for further increasing the recording capacity and lowering the price of HDDs has only increased, and in order to realize this, it is necessary to further improve the quality and reduce the cost of glass substrates for magnetic disks. It's coming.

上述したように高記録密度化にとって必要な低フライングハイト(浮上量)化のために磁気ディスク表面の高い平滑性は必要不可欠である。磁気ディスク表面の高い平滑性を得るためには、結局、高い平滑性の基板表面が求められるため、高精度にガラス基板表面を研磨する必要がある。このようなガラス基板を作製するために、研削(ラッピング)処理にて板厚の調整と平坦度(平面度)を低減した後、さらに研磨処理を行って表面粗さや微小うねりを低減することによって、主表面における極めて高い平滑性を実現してきた。 As described above, high smoothness of the magnetic disk surface is indispensable for low flying height (floating amount) required for high recording density. In order to obtain high smoothness of the magnetic disk surface, a highly smooth substrate surface is required after all, so it is necessary to polish the glass substrate surface with high accuracy. In order to produce such a glass substrate, after adjusting the plate thickness and reducing the flatness (flatness) by grinding (wrapping) processing, further polishing treatment is performed to reduce surface roughness and minute waviness. , Has achieved extremely high smoothness on the main surface.

ところで、従来、遊離砥粒を用いていた研削(ラッピング)工程(例えば特許文献1等)において、ダイヤモンドパッドを用いた固定砥粒による研削方法が提案されている(例えば特許文献2、特許文献3等)。ダイヤモンドパッドとは、ダイヤモンド粒子や、いくつかのダイヤモンド粒子がガラス、セラミック、金属、または樹脂などのバインダーで固められた凝集体を、樹脂(例えばアクリル系樹脂等)などの支持材を用いて固定したペレットを樹脂等のシートに貼り付けたものである。これ以外にも、ダイヤモンドを含む樹脂の層をシート上に形成した後に、樹脂層に溝を形成して突起状としたものでもよい。なお、ここで言うダイヤモンドパッドは必ずしも一般的な呼び名ではないが、本明細書では便宜上「ダイヤモンドパッド」と呼ぶこととする。 By the way, conventionally, in a grinding (wrapping) step using free abrasive grains (for example, Patent Document 1 and the like), a grinding method using fixed abrasive grains using a diamond pad has been proposed (for example, Patent Document 2 and Patent Document 3). etc). A diamond pad is an agglomerate of diamond particles or some diamond particles hardened with a binder such as glass, ceramic, metal, or resin, and fixed using a support material such as resin (for example, acrylic resin). The pellets are pasted on a sheet of resin or the like. In addition to this, a resin layer containing diamond may be formed on the sheet, and then a groove may be formed in the resin layer to form a protrusion. The diamond pad referred to here is not necessarily a general name, but in the present specification, it is referred to as a "diamond pad" for convenience.

従来の遊離砥粒では形状が歪な砥粒が定盤とガラスとの間に介在し不均一に存在するために、砥粒への荷重が一定にならず荷重が集中した場合、定盤表面は鋳鉄による低弾性であるため、ガラスに深いクラックが入り、加工変質層が深く、またガラスの加工表面粗さも大きくなるので、後工程の鏡面研磨工程で多くの除去量が必要であったため、加工コストの削減が困難であった。これに対し、ダイヤモンドパッドを用いた固定砥粒による研削では、シート表面に砥粒が均一に存在しているため、荷重が集中することなく、加えて樹脂を用いて砥粒をシートに固定しているため、砥粒に荷重が加わっても砥粒を固定している樹脂の高弾性作用により、加工面のクラック(加工変質層)は浅く、加工表面粗さの低下が可能となり、後工程への負荷(取代など)が低減され、加工コストの削減が可能になる。
この研削(ラッピング)工程の終了後は、高精度な平面を得るための鏡面研磨加工を行っている。
In the conventional free abrasive grains, abrasive grains with a distorted shape intervene between the surface plate and the glass and exist unevenly. Therefore, when the load on the abrasive grains is not constant and the load is concentrated, the surface plate surface Because of the low elasticity of cast iron, deep cracks occur in the glass, the processed alteration layer is deep, and the processed surface roughness of the glass is also large, so a large amount of removal was required in the mirror polishing process in the subsequent process. It was difficult to reduce the processing cost. On the other hand, in grinding with fixed abrasive grains using a diamond pad, since the abrasive grains are uniformly present on the sheet surface, the abrasive grains are fixed to the sheet using resin in addition to the load not being concentrated. Therefore, even if a load is applied to the abrasive grains, the high elasticity of the resin that fixes the abrasive grains causes the cracks on the machined surface (working alteration layer) to be shallow, making it possible to reduce the machined surface roughness, which is a post-process. The load on the machine (replacement allowance, etc.) is reduced, and the processing cost can be reduced.
After the completion of this grinding (wrapping) process, mirror polishing is performed to obtain a highly accurate flat surface.

特開2001−6161号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2001-6161 特開2012−99173号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2012-99173 特開2009−99249号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2009-99249

上述のように、ダイヤモンドパッドを用いた固定砥粒による研削方法によれば、加工面の表面粗さの低下が可能となり、後の鏡面研磨工程への負荷が低減され、ガラス基板の加工コストの削減が可能になるものの、本発明者の検討によれば次のような課題があることが判明した。
例えばフロート法等により製造されたシート状ガラス板を所定の形状に切り出したガラス基板に対して、直接、上記特許文献2に開示されているような従来のダイヤモンドパッドを用いた固定砥粒による研削加工を行う場合、ガラス基板表面はいわゆる鏡面であるため、加工初期に、ダイヤモンド砥粒が基板表面になかなか食い込まず滑ってしまい、研削加工できない時間が発生するという問題がある。これにより生産性が大幅に低下してしまう。
As described above, according to the grinding method using fixed abrasive grains using a diamond pad, it is possible to reduce the surface roughness of the machined surface, reduce the load on the subsequent mirror polishing process, and reduce the processing cost of the glass substrate. Although it is possible to reduce the amount, according to the study by the present inventor, it has been found that there are the following problems.
For example, a sheet-shaped glass plate manufactured by a float method or the like is cut into a predetermined shape and directly ground with fixed abrasive grains using a conventional diamond pad as disclosed in Patent Document 2. When processing, since the surface of the glass substrate is a so-called mirror surface, there is a problem that diamond abrasive grains do not easily bite into the surface of the substrate and slip, resulting in a time during which grinding cannot be performed. This significantly reduces productivity.

なお、上記特許文献3には、鏡面板ガラスの固定砥粒研削工程の前に、固定砥粒が研磨作用する程度まで鏡面板ガラス表面を機械的または化学的方法で粗面化(例えばアルミナ等の遊離砥粒を用いたラッピング)する技術が開示されているが、別の工程を追加することになるため、生産性は低下する。しかも、遊離砥粒によるラッピングは、鏡面板ガラスに対して安定した加工が可能であるものの、切り込み(加工変質層)が深く入るため、後の工程の加工負荷が増大するという問題がある。 In Patent Document 3, the surface of the mirror plate glass is roughened by a mechanical or chemical method (for example, free of alumina and the like) before the process of grinding the fixed abrasive grains of the mirror plate glass to the extent that the fixed abrasive grains are polished. Although the technique of wrapping using abrasive grains) is disclosed, the productivity is lowered because another process is added. Moreover, although the wrapping with the free abrasive grains enables stable processing on the mirror surface plate glass, there is a problem that the processing load in the subsequent process increases because the cut (processed alteration layer) is deeply formed.

本発明はこのような従来の課題を解決すべくなされたものであって、その目的は、固定砥粒による研削加工において、研削加工できない時間を減らし、加工速度を落とさずに当該研削加工を行うことが可能で、高品質のガラス基板を低コストで製造可能な磁気ディスク用ガラス基板の製造方法、およびそれによって得られるガラス基板を利用した磁気ディスクの製造方法を提供することである。 The present invention has been made to solve such a conventional problem, and an object of the present invention is to reduce the time during which grinding cannot be performed in grinding with fixed abrasive grains, and to perform the grinding without slowing down the processing speed. It is possible to provide a method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk capable of manufacturing a high-quality glass substrate at low cost, and a method for manufacturing a magnetic disk using the glass substrate obtained thereby.

上記課題を解決するため、本発明は以下の構成を有する。
(構成1)
潤滑液と、ダイヤモンド粒子を含む固定砥粒が研削面に配備された定盤とを用いてガラス基板の主表面を研削する研削加工処理を含む磁気ディスク用ガラス基板の製造方法であって、前記ガラス基板は、主表面が鏡面のガラス基板であり、前記研削加工処理は、研削加工を行う荷重よりも高荷重で前記ガラス基板表面を粗面化する第一段階と、該第一段階の後、前記第一段階の荷重よりも低荷重で前記ガラス基板表面の研削加工を行う第二段階とを有し、前記第一段階と前記第二段階とを有する前記研削加工処理は、同一の装置を用いて行うことを特徴とする磁気ディスク用ガラス基板の製造方法である。
In order to solve the above problems, the present invention has the following configurations.
(Structure 1)
A method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk, which comprises a grinding process for grinding the main surface of the glass substrate using a lubricating liquid and a platen on which fixed abrasive grains containing diamond particles are arranged on the ground surface. The glass substrate is a glass substrate whose main surface is a mirror surface, and the grinding process is a first step of roughening the surface of the glass substrate with a load higher than the load for grinding, and after the first step. The grinding process having the first stage and the second stage for grinding the surface of the glass substrate with a load lower than the load of the first stage is the same device. This is a method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk, which is characterized by using the above method.

(構成2)
前記第一段階における荷重をP1(g/cm)、前記第二段階における荷重をP2(g/cm)としたとき、P1/P2=3.0以下であることを特徴とする構成1に記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法である。
(構成3)
前記第一段階における荷重P1を維持する時間をt1とし、前記第二段階における荷重P2を維持する時間をt2としたとき、t1<t2であることを特徴とする構成2に記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。
(Structure 2)
When the load in the first stage is P1 (g / cm 2 ) and the load in the second stage is P2 (g / cm 2 ), P1 / P2 = 3.0 or less. The method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk according to the above.
(Structure 3)
The magnetic disk according to configuration 2, wherein t1 <t2 when the time for maintaining the load P1 in the first stage is t1 and the time for maintaining the load P2 in the second stage is t2. Manufacturing method of glass substrate.

(構成4)
投入する前記ガラス基板の表面粗さが、Raで0.05μm以下であることを特徴とする構成1乃至3のいずれかに記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法である。
(Structure 4)
The method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk according to any one of configurations 1 to 3, wherein the surface roughness of the glass substrate to be charged is 0.05 μm or less in Ra.

(構成5)
前記研削加工処理における加工速度は、3.0μm/分〜9.0μm/分であることを特徴とする構成1乃至4のいずれかに記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法である。
(構成6)
前記第二段階終了後のガラス基板の表面粗さが、Raで0.080μm〜0.130μmであることを特徴とする構成1乃至5のいずれかに記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法である。
(Structure 5)
The method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk according to any one of configurations 1 to 4, wherein the processing speed in the grinding process is 3.0 μm / min to 9.0 μm / min.
(Structure 6)
The method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk according to any one of configurations 1 to 5, wherein the surface roughness of the glass substrate after the completion of the second step is 0.080 μm to 0.130 μm in Ra.

(構成7)
構成1乃至6のいずれかに記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法により製造された磁気ディスク用ガラス基板上に、少なくとも磁気記録層を形成することを特徴とする磁気ディスクの製造方法である。
(Structure 7)
It is a method for manufacturing a magnetic disk, characterized in that at least a magnetic recording layer is formed on the glass substrate for a magnetic disk manufactured by the method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk according to any one of the configurations 1 to 6.

本発明によれば、従来の固定砥粒を用いた研削加工における研削加工できない時間の発生による生産性の低下を改善することができる。また、本発明によれば、加工速度を落とさずに、しかも加工面の表面粗さを低く抑えることが可能となり、後の工程の加工負荷も減らすことができる。これにより、高品質のガラス基板を低コストで製造することが可能である。さらに、それによって得られるガラス基板を利用し、信頼性の高い磁気ディスクを得ることができる。 According to the present invention, it is possible to improve the decrease in productivity due to the occurrence of time during which grinding cannot be performed in the conventional grinding process using fixed abrasive grains. Further, according to the present invention, it is possible to suppress the surface roughness of the processed surface to a low level without reducing the processing speed, and it is possible to reduce the processing load in the subsequent process. This makes it possible to manufacture a high quality glass substrate at low cost. Further, the glass substrate thus obtained can be used to obtain a highly reliable magnetic disk.

本発明に用いられるダイヤモンドパッドの構成を示す概略断面図である。It is a schematic cross-sectional view which shows the structure of the diamond pad used in this invention. 研削加工時の状態を説明するための模式図である。It is a schematic diagram for demonstrating the state at the time of grinding. 本発明の研削加工処理における印加荷重のシーケンスの一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the sequence of the applied load in the grinding process of this invention. 本発明に用いられるダイヤモンドパッドの構成を示す概略断面図である。It is a schematic cross-sectional view which shows the structure of the diamond pad used in this invention.

以下、本発明の実施の形態を詳述する。
本発明は、上記構成1にあるように、潤滑液と、ダイヤモンド粒子を含む固定砥粒が研削面に配備された定盤とを用いてガラス基板の主表面を研削する研削加工処理を含む磁気ディスク用ガラス基板の製造方法であって、前記ガラス基板は、主表面が鏡面のガラス基板であり、前記研削加工処理は、研削加工を行う荷重よりも高荷重で前記ガラス基板表面を粗面化する第一段階と、該第一段階の後、前記第一段階の荷重よりも低荷重で前記ガラス基板表面の研削加工を行う第二段階とを有し、前記第一段階と前記第二段階とを有する前記研削加工処理は、同一の装置を用いて行うことを特徴とする磁気ディスク用ガラス基板の製造方法である。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail.
The present invention includes a grinding process for grinding the main surface of a glass substrate using a lubricating liquid and a platen in which fixed abrasive grains containing diamond particles are arranged on a grinding surface, as shown in the above configuration 1. A method for manufacturing a glass substrate for a disk, wherein the glass substrate is a glass substrate whose main surface is a mirror surface, and the grinding process roughens the surface of the glass substrate with a load higher than the load for grinding. The first step and the second step of grinding the surface of the glass substrate with a load lower than the load of the first step after the first step are provided. The grinding process having the above is a method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk, which is performed by using the same apparatus.

磁気ディスク用ガラス基板は、通常、粗研削工程(粗ラッピング工程)、形状加工工程、精研削工程(精ラッピング工程)、端面研磨工程、主表面研磨工程、化学強化工程、等を経て製造される。
本発明の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法においては、フロート法やダウンドロー法で製造されたシート状ガラスから所定の大きさに切り出して主表面が鏡面のガラス基板を得る。また、これ以外に、溶融ガラスからプレスで作製した主表面が鏡面のガラス基板を用いてもよい。
A glass substrate for a magnetic disk is usually manufactured through a rough grinding process (rough wrapping process), a shape processing process, a fine grinding process (fine wrapping process), an end face polishing process, a main surface polishing process, a chemical strengthening process, and the like. ..
In the method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk of the present invention, a glass substrate having a mirror surface as a main surface is obtained by cutting out a sheet-shaped glass manufactured by a float method or a downdraw method into a predetermined size. In addition to this, a glass substrate having a mirror-finished main surface prepared by pressing from molten glass may be used.

次に、このガラス基板に寸法精度及び形状精度を向上させるための研削加工(ラッピング)を行う。この研削加工は、通常両面ラッピング装置を用い、ダイヤモンド等の硬質砥粒を用いてガラス基板主表面の研削を行う。こうしてガラス基板主表面を研削加工することにより、所定の板厚、平坦度に加工するとともに、所定の表面粗さを得る。 Next, the glass substrate is subjected to grinding (wrapping) to improve dimensional accuracy and shape accuracy. In this grinding process, a double-sided lapping device is usually used to grind the main surface of the glass substrate using hard abrasive grains such as diamond. By grinding the main surface of the glass substrate in this way, a predetermined plate thickness and flatness are processed, and a predetermined surface roughness is obtained.

本発明は、この研削加工の改善に関わるものである。本発明における研削加工処理は、ダイヤモンド粒子を含む固定砥粒を用いた研削加工であり、たとえば、両面ラッピング装置において、研削工具(固定砥粒砥石)であるダイヤモンドパッドが貼り付けられた上下定盤の間にキャリアにより保持したガラス基板を密着させ、さらに前記ガラス基板を上下定盤によって所定圧で挟圧しながら、ガラス基板と上下定盤とを相対的に移動させることにより、ガラス基板の両主表面を同時に研削する。この際、加工作用面を冷却したり、加工を促進するために潤滑液(クーラント)が供給される。 The present invention relates to the improvement of this grinding process. The grinding process in the present invention is a grinding process using fixed abrasive grains containing diamond particles. For example, in a double-sided lapping device, an upper and lower surface plate to which a diamond pad as a grinding tool (fixed abrasive grain grindstone) is attached. The glass substrate held by the carrier is brought into close contact with the glass substrate, and the glass substrate is sandwiched by the upper and lower surface plates at a predetermined pressure while the glass substrate and the upper and lower surface plates are relatively moved. Grind the surface at the same time. At this time, a lubricating liquid (coolant) is supplied to cool the processing working surface and accelerate the processing.

本発明に使用する研削工具(固定砥粒砥石)であるダイヤモンドパッド1は、図4にその構成の概略を示したが、いくつかのダイヤモンド粒子5(図2参照)がガラス、セラミック、金属、または樹脂などのバインダーで固められた凝集体3を樹脂(例えばアクリル系樹脂等)などの支持材6を用いてシート上に固定したものである。また、図1に別の構成の概略を示したが、いくつかのダイヤモンド粒子5(図2参照)がガラス、セラミック、金属、または樹脂などのバインダーで固められた凝集体3を樹脂(例えばアクリル系樹脂等)などの支持材を用いて固定したペレット4をシート2に貼り付けたものである。勿論、図1、図4に示す構成はあくまでも一例であり、本発明はこれに限定する趣旨ではない。例えば、上記凝集体3を含む樹脂の層をシート上に形成した後に、樹脂層に溝を形成して突起状としたダイヤモンドパッドを使用してもよい。 The diamond pad 1 which is a grinding tool (fixed abrasive grain grindstone) used in the present invention is outlined in FIG. 4, but some diamond particles 5 (see FIG. 2) are made of glass, ceramic, metal, or the like. Alternatively, the agglomerates 3 hardened with a binder such as resin are fixed on the sheet using a support material 6 such as resin (for example, acrylic resin or the like). Further, although the outline of another configuration is shown in FIG. 1, some diamond particles 5 (see FIG. 2) are made of a resin (for example, acrylic) in which an agglomerate 3 in which some diamond particles 5 (see FIG. 2) are hardened with a binder such as glass, ceramic, metal, or resin is formed. Pellets 4 fixed using a support material such as (based resin, etc.) are attached to the sheet 2. Of course, the configurations shown in FIGS. 1 and 4 are merely examples, and the present invention is not intended to be limited thereto. For example, a diamond pad may be used in which a resin layer containing the aggregate 3 is formed on the sheet and then a groove is formed in the resin layer to form a protrusion.

上記凝集体3の粒径(平均粒径)や樹脂中の砥粒密度の異なるものを製造することは可能である。
なお、本実施の形態においては、ダイヤモンド固定砥粒が上記凝集体である場合について説明する。従って、本発明において、ダイヤモンド固定砥粒と言った場合は、特に断りのない限り、上記凝集体を意味するものとし、また、ダイヤモンド固定砥粒の平均粒径、及び砥粒密度と言った場合は、上記凝集体の平均粒径、及び樹脂中の上記凝集体密度を意味するものとする。
但し、本発明は、ダイヤモンド固定砥粒が上記凝集体である場合に限定するものではない。ダイヤモンド固定砥粒が凝集体ではなく、ダイヤモンド粒子の粒1個であるようなダイヤモンドパッドを使用することもできる。
It is possible to produce those having different particle diameters (average particle diameters) of the agglomerates 3 and abrasive grain densities in the resin.
In the present embodiment, the case where the diamond-fixed abrasive grains are the agglomerates will be described. Therefore, in the present invention, the term diamond-fixed abrasive grains means the above-mentioned aggregates unless otherwise specified, and the average particle size and the abrasive grain density of the diamond-fixed abrasive grains are used. Means the average particle size of the aggregates and the density of the aggregates in the resin.
However, the present invention is not limited to the case where the diamond-fixed abrasive grains are the above-mentioned aggregates. It is also possible to use a diamond pad in which the diamond fixing abrasive grains are not aggregates but one grain of diamond particles.

本発明における研削加工処理は、上記のとおり、研削加工を行う荷重よりも高荷重で前記ガラス基板表面を粗面化する第一段階と、該第一段階の後、前記第一段階の荷重よりも低荷重で前記ガラス基板表面の研削加工を行う第二段階とを有し、これら第一段階と第二段階とを有する研削加工処理は、同一の装置を用いて行うことを特徴とする。 As described above, the grinding process in the present invention includes the first step of roughening the surface of the glass substrate with a load higher than the load for grinding, and after the first step, the load of the first step. Also has a second stage of grinding the surface of the glass substrate with a low load, and the grinding process having the first stage and the second stage is performed by using the same device.

鏡面ガラス表面をダイヤモンドパッドで直接研削加工するためには、まず、ダイヤモンド砥粒をガラス基板表面に食い込ませるためガラス表面に対して通常の研削加工時よりも高い荷重負荷をかける必要がある。高い負荷はそれだけ砥粒の切り込み深さが深くなるため、ガラス表面の粗さを粗くさせる(粗面化する)ことができる。上記第一段階は、このように鏡面ガラス表面にダイヤモンド砥粒を食い込ませて粗面化する段階である。 In order to directly grind the mirrored glass surface with a diamond pad, it is first necessary to apply a higher load to the glass surface than during normal grinding in order to allow the diamond abrasive grains to bite into the glass substrate surface. A high load increases the depth of cut of the abrasive grains, so that the roughness of the glass surface can be made rough (roughened). The first step is a step in which diamond abrasive grains are made to bite into the mirrored glass surface to roughen the surface.

このような加工途中の第一段階でガラス表面が粗面化された後には、研削加工に対して高い負荷は必要なく、むしろ負荷を下げて砥粒の切り込み深さを浅くした条件で本来の研削加工(本加工)を行う。上記第二段階はこの本加工を行う段階である。図2は、研削加工時の状態を説明するための模式図であり、ダイヤモンド固定砥粒である凝集体3がガラス基板10に食い込んで研削している状態を示している(予想図)。 After the glass surface is roughened in the first stage during such processing, a high load is not required for grinding, but rather the original condition is that the load is reduced to make the cutting depth of the abrasive grains shallower. Grinding (main processing) is performed. The second step is the step of performing this main processing. FIG. 2 is a schematic view for explaining a state at the time of grinding, and shows a state in which agglomerates 3 which are diamond-fixed abrasive grains bite into the glass substrate 10 and grind.

以上の第一段階と第二段階とを有する研削加工を行うことにより、加工速度を落とさずに当該研削加工を行うことが可能となる。さらに、それら研削加工の詳細条件を調節することで、仕上がり加工面の表面粗さを低く抑えることも可能となる。
図3は、本発明の研削加工処理における印加荷重のシーケンスの一例を示す図である。
図3の横軸は時間、縦軸は印加荷重である。スタートから荷重を次第に上げていき、荷重がP1に達した時点(A点)で一定時間(t1)を維持する。ここまでが上記第一段階であり、ガラス表面を粗面化する。
なお、A点へ至る荷重の印加を多段階のステップに分けて行ってもよい。すなわち、荷重を段階的に(シーケンス図上においては階段状に)上げてもよい。
By performing the grinding process having the above first stage and the second stage, it is possible to perform the grinding process without slowing down the processing speed. Further, by adjusting the detailed conditions of the grinding process, it is possible to keep the surface roughness of the finished processed surface low.
FIG. 3 is a diagram showing an example of a sequence of applied loads in the grinding process of the present invention.
The horizontal axis of FIG. 3 is time, and the vertical axis is the applied load. The load is gradually increased from the start, and when the load reaches P1 (point A), the load is maintained for a certain period of time (t1). This is the first step above, and the glass surface is roughened.
The load up to point A may be applied in multiple steps. That is, the load may be increased stepwise (stepwise on the sequence diagram).

そして、B点から荷重を次第に下げていき、通常の研削加工荷重P2に達した時点(C点)で一定時間(t2)を維持し、D点で研削加工を終了する。この間が上記第二段階であり、本加工を行う段階である。
なお、ここでいう「荷重P1,P2」とは、ある一定の時間維持される値を指しており、上昇途中の荷重などは含まない。
Then, the load is gradually reduced from the point B, the constant time (t2) is maintained when the normal grinding load P2 is reached (point C), and the grinding process is completed at the point D. This is the second stage described above, which is the stage where the main processing is performed.
The "loads P1 and P2" here refer to values that are maintained for a certain period of time, and do not include loads that are in the process of rising.

上記第一段階における荷重P1は、130〜200g/cmの範囲とすることが好ましい。荷重P1が130g/cmよりも小さいと、粗面化が不十分となるので前述の研削加工できない時間を十分に短縮できず、加工速度が低下する恐れがある。すなわち、第一段階後の表面粗さが十分に大きくならないため、第二段階においても固定砥粒が滑ってしまい、研削レートが低下する恐れがある。また、荷重P1が130g/cmよりも小さいと、ガラス基板と定盤との間の密着性が不足する場合がある。こうなると、上定盤がガラス基板の上面に作用する荷重と、下定盤がガラス基板の下面に作用する加重の差が大きくなり、ガラス基板の下面の全体または一部が研削されない問題が発生する場合がある。これは、重力の影響によってクーラントが下定盤の上に溜まりやすいため、下定盤とガラス基板との間にクーラントの膜が生じるためと推察される。130g/cmよりも高い荷重をかけて上下の定盤でしっかりとガラス基板を挟みこむことで、この問題を解消することができる。
一方、荷重P1が200g/cmよりも大きいと、砥粒による切込みが深くなりすぎて、スクラッチが多く発生し、本加工や後続の研磨工程の取代を大きくする必要が出てくるため加工時間が長くなってしまう恐れがある。また、ガラス基板が割れたりヒビが発生する場合がある。
The load P1 in the first step is preferably in the range of 130 to 200 g / cm 2. If the load P1 is smaller than 130 g / cm 2 , the roughening is insufficient, so that the time during which the above-mentioned grinding process cannot be performed cannot be sufficiently shortened, and the processing speed may decrease. That is, since the surface roughness after the first stage is not sufficiently large, the fixed abrasive grains may slip even in the second stage, and the grinding rate may decrease. Further, if the load P1 is smaller than 130 g / cm 2 , the adhesion between the glass substrate and the surface plate may be insufficient. In this case, the difference between the load applied by the upper surface plate on the upper surface of the glass substrate and the load applied by the lower surface plate on the lower surface of the glass substrate becomes large, causing a problem that the entire or part of the lower surface of the glass substrate is not ground. In some cases. It is presumed that this is because the coolant tends to accumulate on the lower platen due to the influence of gravity, and a coolant film is formed between the lower platen and the glass substrate. This problem can be solved by firmly sandwiching the glass substrate between the upper and lower surface plates by applying a load higher than 130 g / cm 2.
On the other hand, if the load P1 is larger than 200 g / cm 2, the depth of cut by the abrasive grains becomes too deep, many scratches occur, and it becomes necessary to increase the allowance for the main processing and the subsequent polishing process. May become longer. In addition, the glass substrate may be cracked or cracked.

また、上記第二段階における荷重P2は、50〜120g/cmの範囲とすることが好ましい。第一段階よりも低い荷重であって前記範囲内の荷重で粗面化された表面を研削加工することで、加工面の表面粗さを低く抑えることが可能になる。
また、P1/P2は1.20以上であることが好ましい。こうすることで、加工速度をより高くするとともに粗さを低減することができる。より具体的には、研削加工後の表面粗さを0.12μm以下とすることができる。
また、P1/P2=3.0以下であることが好ましい。P1/P2が3.0より大きいと、第一段階から第二段階に移行する際に一時的にガラス基板と定盤との間の密着性が不足し、ガラス基板の下面の全体または一部が研削されない問題が発生する場合がある。
The load P2 in the second stage is preferably in the range of 50 to 120 g / cm 2. By grinding a surface that has been roughened with a load lower than that of the first stage and with a load within the above range, the surface roughness of the machined surface can be suppressed to a low level.
Further, P1 / P2 is preferably 1.20 or more. By doing so, the processing speed can be increased and the roughness can be reduced. More specifically, the surface roughness after grinding can be 0.12 μm or less.
Further, it is preferable that P1 / P2 = 3.0 or less. If P1 / P2 is larger than 3.0, the adhesion between the glass substrate and the surface plate is temporarily insufficient when shifting from the first stage to the second stage, and the entire or part of the lower surface of the glass substrate is present. May not be ground.

また、加工開始から上記A点(荷重P1)に至る第一段階の荷重印加速度(傾きk)を、0.5〜15g/(cm2・sec)とすることが好ましい。傾きkが0.5g/(cm2・sec)より小さい(印加速度が遅い)場合、低い荷重のため砥粒が滑って食い込まず、むしろ砥粒が磨耗することになり、第一段階での粗面化が不十分となったり、加工レートが低下したりするなど研削能力が劣化するので好ましくない。一方、傾きkが15g/(cm2・sec)より大きい(印加速度が速い)場合、ガラス基板に対して砥粒に急激な負荷が印加されるため、砥粒が破砕して研削能力が低下したり、ガラス基板が割れる恐れがある。さらに、研削パッドの使用可能回数(ライフ)の観点から、4g/(cm2・sec)以上とするとより好ましい。 Further, it is preferable that the load application speed (inclination k) in the first stage from the start of processing to the point A (load P1) is 0.5 to 15 g / (cm 2 · sec). When the inclination k is smaller than 0.5 g / (cm 2 · sec) (the application speed is slow), the abrasive grains do not slip and bite due to the low load, but rather the abrasive grains are worn out, which is the coarseness in the first stage. It is not preferable because the grinding ability deteriorates, such as insufficient surface formation and a decrease in the processing rate. On the other hand, when the inclination k is larger than 15 g / (cm 2 · sec) (the application speed is fast), a sudden load is applied to the abrasive grains on the glass substrate, so that the abrasive grains are crushed and the grinding ability is lowered. There is a risk of cracking or cracking of the glass substrate. Further, from the viewpoint of the number of times (life) that the grinding pad can be used , it is more preferable that the grinding pad is 4 g / (cm 2 · sec) or more.

また、上記第一段階における荷重P1で粗面化する時間t1は、例えば10〜600秒の範囲とすることが好ましい。t1が10秒より短いと、ガラス主表面への砥粒の食い込みが不十分となり加工速度が遅くなる恐れがある。一方、t1が600秒より長いと、深いスクラッチが発生しやすくなり、仕上りの主表面が粗くなる恐れがある。 Further, the time t1 for roughening with the load P1 in the first step is preferably in the range of, for example, 10 to 600 seconds. If t1 is shorter than 10 seconds, the abrasive grains may not sufficiently bite into the main surface of the glass and the processing speed may be slowed down. On the other hand, if t1 is longer than 600 seconds, deep scratches are likely to occur, and the finished main surface may become rough.

また、B点(荷重P1)から荷重を次第に下げていき、通常の研削加工荷重P2に達するC点までの時間は、例えば10〜90秒の範囲とすることが好ましい。BC間の時間が10秒より短いと、急激な荷重変動により基板平坦度が悪化する可能性がある。このような場合、上述の荷重P1が130g/cmよりも小さい場合と同様のメカニズムによって、上定盤がガラス基板の上面に作用する荷重と、下定盤がガラス基板の下面に作用する加重の差が一時的に大きくなると思われる。そのため、ガラス基板の全体または一部が適正に研削されないために、平坦度が悪い部分が残ると推察される。
一方、BC間の時間が90秒より長くなると、P1(第一段階)からP2(第二段階)に移行する間にガラスが過剰に研削されるため板厚のコントロールが難しくなったり、深いスクラッチが発生して仕上りの主表面粗さが増大する恐れがある。
Further, the time from the point B (load P1) to the point C where the load is gradually reduced and reaches the normal grinding load P2 is preferably in the range of, for example, 10 to 90 seconds. If the time between BCs is shorter than 10 seconds, the flatness of the substrate may deteriorate due to sudden load fluctuations. In such a case, the load that the upper surface plate acts on the upper surface of the glass substrate and the load that the lower surface plate acts on the lower surface of the glass substrate are applied by the same mechanism as when the load P1 described above is smaller than 130 g / cm 2. The difference is expected to increase temporarily. Therefore, it is presumed that a portion having poor flatness remains because the whole or a part of the glass substrate is not properly ground.
On the other hand, if the time between BCs is longer than 90 seconds, the glass is excessively ground during the transition from P1 (first stage) to P2 (second stage), making it difficult to control the plate thickness or deep scratching. May increase the roughness of the main surface of the finished product.

また、上記第二段階における荷重P2で研削加工を行う時間t2は、30秒以上とすることが好ましい。荷重P2にて一定量を加工しないと荷重P1で形成した溝を取りきれず、それがスクラッチとして残る恐れがある。t2の上限は、研削加工処理での仕上がり品質等を考慮して適宜決定される。
なお、t1<t2とすると、仕上がりの粗さを低下させることができるので好ましい。t1≧t2であると、加工後に表面粗さが低くならない場合がある。すなわち、本発明では高い研削レートと加工後の低粗さを両立できる技術であるが、低荷重による第二段階の加工時間が不足すると、第一段階によって粗くなった粗さを第二段階で低くしきれなくなることがある。また、スクラッチが残留する恐れがある。これらは後に続く研磨工程の取代増加などにより解消できるものの、製造コスト上昇の一因となりうる。
また、P1×t1(面積)<P2×t2(面積)であることが好ましい。こうすることで、研削処理後の表面粗さを十分に低減することが可能になる。
Further, the time t2 for performing the grinding process with the load P2 in the second step is preferably 30 seconds or more. Unless a certain amount is processed by the load P2, the groove formed by the load P1 cannot be completely removed, which may remain as a scratch. The upper limit of t2 is appropriately determined in consideration of the finish quality in the grinding process and the like.
It is preferable that t1 <t2 because the roughness of the finished product can be reduced. If t1 ≧ t2, the surface roughness may not be lowered after processing. That is, the present invention is a technique capable of achieving both a high grinding rate and low roughness after processing, but if the processing time of the second stage due to a low load is insufficient, the roughness roughened by the first stage is reduced to the second stage. It may not be possible to keep it low. In addition, scratches may remain. Although these can be eliminated by increasing the cost of the subsequent polishing process, they can contribute to the increase in manufacturing cost.
Further, it is preferable that P1 × t1 (area) <P2 × t2 (area). By doing so, it becomes possible to sufficiently reduce the surface roughness after the grinding process.

また、本発明においては、研削加工処理全体における加工速度は、2.0μm/分以上、より好ましくは3.0μm/分以上とすることが好ましい。この範囲であれば、加工速度を落とさずに研削加工を行なうことが可能である。なお、上記研削加工処理全体における加工速度とは、全研削厚みを全加工時間(第一段階と第二段階を含む)で除した値のことを云う。 Further, in the present invention, the processing speed in the entire grinding process is preferably 2.0 μm / min or more, more preferably 3.0 μm / min or more. Within this range, it is possible to perform grinding without slowing down the processing speed. The processing speed in the entire grinding process is a value obtained by dividing the total grinding thickness by the total processing time (including the first stage and the second stage).

また、本発明においては、上記ダイヤモンド固定砥粒の平均粒径が20〜40μmであることが好適である。さらに、ダイヤモンド固定砥粒の個々の粒径は、10〜50μmであることが好ましい。上記ダイヤモンド砥粒の平均粒径あるいは個々の粒径が上記を下回ると鏡面状ガラス基板に対する切り込みが浅くなりガラス基板への食い込みが進行しない。一方、上記ダイヤモンド砥粒の平均粒径あるいは個々の粒径が上記を上回ると仕上りの粗さが粗くなるため後工程の取り代負荷が大きくなる。
なお、前にも説明したとおり、ここでダイヤモンド固定砥粒とは、前記凝集体を意味する。また、凝集体に含まれる個々のダイヤモンド粒子の大きさは、平均粒径で1〜5μmであることが好ましい。
Further, in the present invention, it is preferable that the average particle size of the diamond-fixed abrasive grains is 20 to 40 μm. Further, the individual particle size of the diamond fixed abrasive grains is preferably 10 to 50 μm. If the average particle size or the individual particle size of the diamond abrasive grains is less than the above, the cut into the mirror-shaped glass substrate becomes shallow and the bite into the glass substrate does not proceed. On the other hand, if the average particle size or the individual particle size of the diamond abrasive grains exceeds the above, the roughness of the finished product becomes coarse, so that the replacement load in the subsequent process becomes large.
As described above, the diamond-fixed abrasive grains here mean the agglomerates. The size of the individual diamond particles contained in the aggregate is preferably 1 to 5 μm in average particle size.

なお、本発明において、上記平均粒径(D50)とは、レーザー回折法により測定された粒度分布における粉体の集団の全体積を100%として累積カーブを求めたとき、その累積カーブが50%となる点の粒径(以下、「累積平均粒子径(50%径)」と呼ぶ。)を言う。本発明において、累積平均粒子径(50%径)は、具体的には、粒子径・粒度分布測定装置を用いて測定して得られる値である。 In the present invention, the average particle size (D50) is 50% when the cumulative curve is calculated with the total volume of the powder population in the particle size distribution measured by the laser diffraction method as 100%. The particle size of the point (hereinafter referred to as "cumulative average particle size (50% diameter)"). In the present invention, the cumulative average particle size (50% diameter) is specifically a value obtained by measuring using a particle size / particle size distribution measuring device.

以上説明したように、本発明では、研削処理は、同じ固定砥粒砥石(ダイヤモンドパッド)を使用し、一度のプロセスにおいて「通常研削より高い荷重+通常荷重」を連続的に行う。そして、生産性を上げるために、基板を交換して、同様のプロセスが繰り返される。このとき、投入基板の主表面が鏡面であるために、固定砥粒砥石の表面にスラッジが溜まりやすいことを突き止めた。従来のようなラッピング後のガラス基板を加工する場合、投入基板の表面粗さが大きいため、研削加工によって砥石表面に蓄積されるスラッジは、次々に投入される新たなガラス基板表面によって除去されるが、本発明のような鏡面のガラス基板を直接研削加工する場合にはその効果が得られない。
すなわち、生産性向上のために同じ固定砥粒砥石を用いて多数回の処理を行う場合は、研削砥粒の突き出し量を精密に制御することが必要であることを突き止めた。
As described above, in the present invention, in the grinding process, the same fixed abrasive grain grindstone (diamond pad) is used, and "a load higher than that of normal grinding + a normal load" is continuously performed in one process. Then, in order to increase the productivity, the substrate is replaced and the same process is repeated. At this time, it was found that sludge tends to accumulate on the surface of the fixed abrasive grain grindstone because the main surface of the input substrate is a mirror surface. When processing a glass substrate after wrapping as in the conventional case, since the surface roughness of the input substrate is large, sludge accumulated on the surface of the grindstone by grinding is removed by the new glass substrate surface to be charged one after another. However, the effect cannot be obtained when the mirror-surfaced glass substrate is directly ground as in the present invention.
That is, it was found that it is necessary to precisely control the amount of protrusion of the ground abrasive grains when the same fixed abrasive grain grindstone is used for a large number of treatments in order to improve productivity.

本発明における研削処理では、研削砥粒(つまりダイヤモンド固定砥粒)の突出し量が好適に調整された研削砥石を用いて、ガラス基板主表面の研削を行うことが好適である。 In the grinding process in the present invention, it is preferable to grind the main surface of the glass substrate using a grinding wheel in which the amount of protrusion of the grinding abrasive grains (that is, diamond fixed abrasive grains) is appropriately adjusted.

たとえば上記研削砥粒の突出し量が低い研削砥石を用いると、研削砥石の表面にスラッジが溜まることによって、砥粒がガラス表面に接触することが阻害されてしまい、ガラス表面に対して十分に作用できない(ガラス表面に対する作用が弱い)砥粒が多く存在するため、上述の部分的な研削不良が発生し、結果的に加工後の平坦度不良の発生率が高まる。 For example, when a grinding wheel having a low protrusion amount of the grinding wheel is used, sludge accumulates on the surface of the grinding wheel, which hinders the abrasive grains from coming into contact with the glass surface and sufficiently acts on the glass surface. Since there are many abrasive grains that cannot (weakly act on the glass surface), the above-mentioned partial grinding defects occur, and as a result, the occurrence rate of flatness defects after processing increases.

これに対して、研削砥粒の突出し量が好適に調整された研削砥石を用いると、砥石の表面にスラッジが溜まっても、砥粒がガラス表面に接触することが阻害されることを抑制できるため、ガラス表面に研削砥粒が安定的に作用するようになり、研削ムラのない安定した研削加工を行えるようになる。 On the other hand, when a grinding wheel in which the amount of protrusion of the grinding wheel is appropriately adjusted is used, it is possible to prevent the grinding wheel from being hindered from coming into contact with the glass surface even if sludge accumulates on the surface of the grinding wheel. Therefore, the grinding abrasive grains act stably on the glass surface, and stable grinding without uneven grinding can be performed.

上記の研削砥石の研削砥粒の突出し量は、以下のようにして測定することができる。
研削加工実施前の上下定盤の研削砥石(通常、円盤状に形成されている)に対して、内周から外周までの距離を100%としたとき、内周から10%、50%、90%の位置から、それぞれ2.5mm×2.5mmの大きさの合計6サンプル(パッド片)を切り出す。この6サンプルのそれぞれについて、例えばレーザー顕微鏡を用いて得られた観察画像から任意の研削砥粒の例えば5個を選択し、砥粒と砥粒周辺の樹脂部との高低差を測定し、全砥粒の高低差の平均値をもってその研削砥石の研削砥粒の突出し量と定義する。
The amount of protrusion of the grinding abrasive grains of the above-mentioned grinding wheel can be measured as follows.
When the distance from the inner circumference to the outer circumference is 100% with respect to the grinding wheel of the upper and lower surface plates (usually formed in a disk shape) before grinding, 10%, 50%, 90 from the inner circumference. A total of 6 samples (pad pieces) having a size of 2.5 mm × 2.5 mm are cut out from the% position. For each of these 6 samples, for example, 5 arbitrary grinding abrasive grains were selected from the observation images obtained using, for example, a laser microscope, and the height difference between the abrasive grains and the resin portion around the abrasive grains was measured, and all of them were measured. The average value of the height difference of the abrasive grains is defined as the amount of protrusion of the grinding abrasive grains of the grinding wheel.

研削砥粒の突出し量を調整するためには、例えばドレス処理によって行うことが可能である。具体的には、たとえば、研削加工に使用する両面研削装置をドレス処理にも適用し、上下定盤に配備されたダイヤモンドパッドのような研削砥石表面に、適当な厚みバラツキに管理された砥石を接触させ、両面研削装置の上下定盤を回転させた状態でドレス処理を行うことができる。ドレス処理に用いる砥石の材質は特に制約されないが、例えばアルミナ砥石などが好適である。また、この場合、厚みバラツキの異なる複数の砥石を用いて、段階的にドレス処理を行うようにしてもよい。 In order to adjust the amount of protrusion of the grinding abrasive grains, for example, a dressing process can be performed. Specifically, for example, a double-sided grinding device used for grinding is also applied to dressing, and a grindstone controlled to an appropriate thickness variation is applied to the surface of a grinding wheel such as a diamond pad installed on an upper and lower surface plates. The dressing process can be performed in a state where the upper and lower surface plates of the double-sided grinding device are rotated in contact with each other. The material of the grindstone used for the dressing treatment is not particularly limited, but for example, an alumina grindstone is suitable. Further, in this case, the dressing process may be performed stepwise by using a plurality of grindstones having different thickness variations.

本発明において、研削加工処理に投入するガラス基板の主表面は鏡面であり、表面粗さは、通常はRaで0.05μm以下、より好ましくは0.001〜0.01μmである。本発明では特に、研削処理に投入するガラス基板の表面粗さRaが0.001〜0.01μmと極めて低い板ガラスとすることができるため、後工程の取代を最小限に抑制できるので、低コストな磁気ディスクガラス基板を製造することが可能である。
また、本発明において、上記第一段階終了後のガラス基板の表面粗さは、概ねRaで0.100〜0.150μmの範囲である。この範囲に粗面化されることにより、続く第二段階の研削加工が良好に行われる。
また、本発明においては、上記第二段階終了後のガラス基板の表面粗さが、Raで0.080〜0.130μmの範囲に仕上がる。このように仕上がりの粗さを低く抑えることが可能となるので、後の工程の加工負荷を減らすことができる。
In the present invention, the main surface of the glass substrate to be subjected to the grinding process is a mirror surface, and the surface roughness is usually 0.05 μm or less in Ra, more preferably 0.001 to 0.01 μm. In particular, in the present invention, since the surface roughness Ra of the glass substrate to be put into the grinding process can be extremely low as 0.001 to 0.01 μm, the removal allowance in the subsequent process can be minimized, so that the cost is low. It is possible to manufacture a magnetic disk glass substrate.
Further, in the present invention, the surface roughness of the glass substrate after the completion of the first step is generally in the range of 0.100 to 0.150 μm in Ra. By roughening the surface within this range, the subsequent second-stage grinding process is satisfactorily performed.
Further, in the present invention, the surface roughness of the glass substrate after the completion of the second step is finished in the range of 0.080 to 0.130 μm in Ra. Since the roughness of the finished product can be suppressed to a low level in this way, the processing load in the subsequent process can be reduced.

以上説明したように、本発明の研削加工処理においては、従来の固定砥粒を用いた研削加工における研削加工できない時間の発生による生産性の低下を改善することができ、また、第一段階と第二段階とを有する研削加工処理は、同一の装置を用いて連続して行うことができるので、生産性を上げることが可能である。また、本発明の研削加工処理によれば、加工速度を落とさずに、しかも加工面の表面粗さを低く抑えることが可能となり、後の工程の加工負荷も減らすことができる。 As described above, in the grinding process of the present invention, it is possible to improve the decrease in productivity due to the occurrence of time during which the grinding process cannot be performed in the conventional grinding process using fixed abrasive grains, and the first step is Since the grinding process having the second stage can be continuously performed using the same device, it is possible to increase the productivity. Further, according to the grinding process of the present invention, it is possible to suppress the surface roughness of the processed surface to a low level without reducing the processing speed, and it is possible to reduce the processing load in the subsequent process.

本発明においては、ガラス基板を構成するガラス(の硝種)は、アモルファスのアルミノシリケートガラスとすることが好ましい。このようなガラス基板は表面を鏡面研磨することにより平滑な鏡面に仕上げることができ、また加工後の強度が良好である。このようなアルミノシリケートガラスとしては、例えば、SiO2 を主成分としてAl23を20重量%以下含むガラスが好ましい。さらに、SiO2 を主成分としてAl23を15重量%以下含むガラスとするとより好ましい。具体的には、SiO2 を62重量%以上75重量%以下、Al23を5重量%以上15重量%以下、Li2 Oを4重量%以上10重量%以下、Na2 Oを4重量%以上12重量%以下、ZrO2 を5.5重量%以上15重量%以下、主成分として含有するとともに、Na2O/ZrO2 の重量比が0.5以上2.0以下、Al23 /ZrO2 の重量比が0.4以上2.5以下であるリン酸化物を含まないアモルファスのアルミノシリケートガラスを用いることができる。
また、このアルミノシリケートガラスとしては、重量%で表して、
SiO2 58〜66%、Al23 13〜19%、Li2O 3〜 4.5%、Na2O 6〜13%、K2O 0〜 5%、R2O 10〜18%、(ただし、R2O=Li2O+Na2O+K2O)
MgO 0〜 3.5%、CaO 1〜 7%、SrO 0〜 2%、BaO 0〜 2%、RO 2〜10%、(ただし、RO=MgO+CaO+SrO+BaO)
TiO2 0〜 2%、CeO2 0〜 2%、Fe23 0〜 2%、MnO 0〜 1%、(ただし、TiO2+CeO2+Fe23+MnO=0.01〜3%)の組成を含有する化学強化用ガラスを使用することができる。
In the present invention, the glass (glass type) constituting the glass substrate is preferably amorphous aluminosilicate glass. Such a glass substrate can be finished into a smooth mirror surface by mirror polishing the surface, and the strength after processing is good. As such an aluminosilicate glass, for example, a glass containing SiO 2 as a main component and Al 2 O 3 in an amount of 20% by weight or less is preferable. Further, it is more preferable to use a glass containing SiO 2 as a main component and Al 2 O 3 in an amount of 15% by weight or less. Specifically, SiO 2 is 62% by weight or more and 75% by weight or less, Al 2 O 3 is 5% by weight or more and 15% by weight or less, Li 2 O is 4% by weight or more and 10% by weight or less, and Na 2 O is 4% by weight. % Or more and 12% by weight or less, ZrO 2 is 5.5% by weight or more and 15% by weight or less as a main component, and the weight ratio of Na 2 O / ZrO 2 is 0.5 or more and 2.0 or less, Al 2 O. Aluminosilicate glass containing no phosphor oxide having a weight ratio of 3 / ZrO 2 of 0.4 or more and 2.5 or less can be used.
In addition, as this aluminosilicate glass, it is expressed in% by weight,
SiO 2 58 to 66%, Al 2 O 3 13 to 19%, Li 2 O 3 to 4.5%, Na 2 O 6 to 13%, K 2 O 0 to 5%, R 2 O 10 to 18%, (However, R 2 O = Li 2 O + Na 2 O + K 2 O)
MgO 0 to 3.5%, CaO 1 to 7%, SrO 0 to 2%, BaO 0 to 2%, RO 2 to 10% (however, RO = MgO + CaO + SrO + BaO)
TiO 20 to 2%, CeO 20 to 2%, Fe 2 O 30 to 2%, MnO 0 to 1% (however, TiO 2 + CeO 2 + Fe 2 O 3 + MnO = 0.01 to 3%) Chemically strengthened glass containing the composition can be used.

また、耐熱性ガラスとしては、例えば、モル%表示にて、SiOを50〜75%、Alを0〜5%、BaOを0〜2%、LiOを0〜3%、ZnOを0〜5%、NaOおよびKOを合計で3〜15%、MgO、CaO、SrOおよびBaOを合計で14〜35%、ZrO、TiO、La、Y、Yb、Ta、NbおよびHfOを合計で2〜9%、含み、モル比[(MgO+CaO)/(MgO+CaO+SrO+BaO)]が0.85〜1の範囲であり、且つモル比[Al/(MgO+CaO)]が0〜0.30の範囲であるガラスを好ましく用いることができる。
また、SiOを56〜75モル%、Alを1〜9モル%、LiO、NaOおよびKOからなる群から選ばれるアルカリ金属酸化物を合計で6〜15モル%、MgO、CaOおよびSrOからなる群から選ばれるアルカリ土類金属酸化物を合計で10〜30モル%、ZrO、TiO、Y、La、Gd、NbおよびTaからなる群から選ばれる酸化物を合計で0%超かつ10モル%以下、含むガラスであってもよい。
本発明において、ガラス組成におけるAlの含有量が15重量%以下であると好ましい。さらには、Alの含有量が5モル%以下であるとなお好ましい。
As the heat-resistant glass, for example, SiO 2 is 50 to 75%, Al 2 O 3 is 0 to 5%, BaO is 0 to 2%, and Li 2 O is 0 to 3% in mol% display. ZnO is 0 to 5%, Na 2 O and K 2 O are 3 to 15% in total, MgO, CaO, SrO and BaO are 14 to 35% in total, ZrO 2 , TiO 2 , La 2 O 3 , Y 2 Contains O 3 , Yb 2 O 3 , Ta 2 O 5 , Nb 2 O 5 and HfO 2 in total of 2-9%, and the molar ratio [(MgO + CaO) / (MgO + CaO + SrO + BaO)] is in the range of 0.85-1. Glass having a molar ratio [Al 2 O 3 / (MgO + CaO)] in the range of 0 to 0.30 can be preferably used.
Further, a total of 6 to 15 mol of alkali metal oxides selected from the group consisting of 56 to 75 mol% of SiO 2 , 1 to 9 mol% of Al 2 O 3 and Li 2 O, Na 2 O and K 2 O. %, MgO, CaO and SrO selected from the group consisting of 10 to 30 mol% of alkaline earth metal oxides in total, ZrO 2 , TiO 2 , Y 2 O 3 , La 2 O 3 , Gd 2 O 3 , Nb The glass may contain a total of more than 0% and 10 mol% or less of oxides selected from the group consisting of 2 O 5 and Ta 2 O 5.
In the present invention, the content of Al 2 O 3 in the glass composition is preferably 15% by weight or less. Furthermore, it is still preferable that the content of Al 2 O 3 is 5 mol% or less.

なお、従来は、研削工程は、粗研削工程(第1の研削工程)と精研削工程(第2の研削工程)の2段階を経て行われることが一般的であるが、本発明による研削加工処理を適用することで、1回の工程で行うことが可能である。 Conventionally, the grinding process is generally performed through two stages of a rough grinding process (first grinding process) and a fine grinding process (second grinding process), but the grinding process according to the present invention. By applying the treatment, it is possible to carry out in one step.

この研削加工の終了後は、高精度な平面を得るための鏡面研磨加工を行う。本発明においては、研削加工において、従来の遊離砥粒方式に対し、本発明による固定砥粒方式を適用したことにより、加工表面粗さの低下が可能となったため、後の鏡面研磨加工工程での除去量が少なくて済み、加工負荷が低減され、加工コストの削減が可能になる。 After the completion of this grinding process, a mirror polishing process is performed to obtain a highly accurate flat surface. In the present invention, in the grinding process, by applying the fixed abrasive grain method according to the present invention to the conventional free abrasive grain method, it is possible to reduce the processed surface roughness. The amount of waste removed is small, the processing load is reduced, and the processing cost can be reduced.

ガラス基板の鏡面研磨方法としては、酸化セリウムやコロイダルシリカ等の金属酸化物の研磨材を含有するスラリー(研磨液)を供給しながら、ポリウレタン等のポリシャの研磨パッドを用いて行うのが好適である。高い平滑性を有するガラス基板は、たとえば酸化セリウム系研磨材を用いて研磨した後(第1研磨加工)、さらにコロイダルシリカ砥粒を用いた仕上げ研磨(鏡面研磨)(第2研磨加工)によって得ることが可能である。 As a mirror polishing method for a glass substrate, it is preferable to use a polisher polishing pad such as polyurethane while supplying a slurry (polishing liquid) containing a polishing material of a metal oxide such as cerium oxide or colloidal silica. be. A glass substrate having high smoothness is obtained, for example, by polishing with a cerium oxide-based polishing material (first polishing process) and then by finish polishing (mirror surface polishing) using colloidal silica abrasive grains (second polishing process). It is possible.

本発明においては、鏡面研磨加工後のガラス基板の表面は、算術平均表面粗さRaが0.2nm以下、さらに好ましくは0.13nm以下である鏡面とされることが好ましい。なお、本発明においてRa、Rmaxというときは、日本工業規格(JIS)B0601に準拠して算出される粗さのことである。
また、本発明において表面粗さ(例えば、最大粗さRmax、算術平均粗さRa)は、原子間力顕微鏡(AFM)で5μm×5μmの正方形エリアを測定したときに得られる表面形状の表面粗さとすることが実用上好ましい。なお、触針式表面粗さ計を用いて測定してもよい。
In the present invention, the surface of the glass substrate after the mirror polishing process is preferably a mirror surface having an arithmetic average surface roughness Ra of 0.2 nm or less, more preferably 0.13 nm or less. In the present invention, the terms Ra and Rmax mean the roughness calculated in accordance with Japanese Industrial Standards (JIS) B0601.
Further, in the present invention, the surface roughness (for example, maximum roughness Rmax, arithmetic average roughness Ra) is the surface roughness of the surface shape obtained when a square area of 5 μm × 5 μm is measured with an atomic force microscope (AFM). It is practically preferable to use this. In addition, you may measure using a stylus type surface roughness meter.

本発明においては、第1研磨加工後、第2研磨加工前に、化学強化処理を施すことが好ましい。化学強化処理の方法としては、例えば、ガラス転移点の温度を超えない温度領域で、イオン交換を行う低温型イオン交換法などが好ましい。化学強化処理とは、溶融させた化学強化塩とガラス基板とを接触させることにより、化学強化塩中の相対的に大きな原子半径のアルカリ金属元素と、ガラス基板中の相対的に小さな原子半径のアルカリ金属元素とをイオン交換し、ガラス基板の表層に該イオン半径の大きなアルカリ金属元素を浸透させ、ガラス基板の表面に圧縮応力を生じさせる処理のことである。化学強化処理されたガラス基板は耐衝撃性に優れているので、例えばモバイル用途のHDDに搭載するのに特に好ましい。化学強化塩としては、硝酸カリウムや硝酸ナトリウムなどのアルカリ金属硝酸塩を好ましく用いることができる。 In the present invention, it is preferable to perform a chemical strengthening treatment after the first polishing process and before the second polishing process. As a method of chemical strengthening treatment, for example, a low-temperature ion exchange method in which ion exchange is performed in a temperature range not exceeding the temperature of the glass transition point is preferable. The chemical strengthening treatment is to bring the molten chemically strengthened salt into contact with the glass substrate, so that the alkali metal element having a relatively large atomic radius in the chemically strengthened salt and the relatively small atomic radius in the glass substrate are formed. This is a process in which an alkali metal element is ion-exchanged, the alkali metal element having a large ion radius is infiltrated into the surface layer of the glass substrate, and a compressive stress is generated on the surface of the glass substrate. Since the chemically strengthened glass substrate has excellent impact resistance, it is particularly preferable to mount it on, for example, an HDD for mobile use. As the chemically fortified salt, an alkali metal nitrate such as potassium nitrate or sodium nitrate can be preferably used.

また、本発明は、以上の磁気ディスク用ガラス基板を用いた磁気ディスクの製造方法についても提供する。本発明において磁気ディスクは、本発明による磁気ディスク用ガラス基板の上に少なくとも磁性層を形成して製造される。磁性層の材料としては、異方性磁界の大きな六方晶系であるCoCrPt系やCoPt系強磁性合金を用いることができる。磁性層の形成方法としてはスパッタリング法、例えばDCマグネトロンスパッタリング法によりガラス基板の上に磁性層を成膜する方法を用いることが好適である。またガラス基板と磁性層との間に、下地層を介挿することにより磁性層の磁性グレインの配向方向や磁性グレインの大きさを制御することができる。例えば,Cr系合金など立方晶系下地層を用いることにより、例えば磁性層の磁化容易方向を磁気ディスク面に沿って配向させることができる。この場合、面内磁気記録方式の磁気ディスクが製造される。また、例えば、RuやTiを含む六方晶系下地層を用いることにより、例えば磁性層の磁化容易方向を磁気ディスク面の法線に沿って配向させることができる。この場合、垂直磁気記録方式の磁気ディスクが製造される。下地層は磁性層同様にスパッタリング法により形成することができる。 The present invention also provides a method for manufacturing a magnetic disk using the above glass substrate for a magnetic disk. In the present invention, the magnetic disk is manufactured by forming at least a magnetic layer on the glass substrate for the magnetic disk according to the present invention. As the material of the magnetic layer, a CoCrPt-based or CoPt-based ferromagnetic alloy, which is a hexagonal system having a large anisotropic magnetic field, can be used. As a method for forming the magnetic layer, it is preferable to use a sputtering method, for example, a method of forming a magnetic layer on a glass substrate by a DC magnetron sputtering method. Further, by inserting a base layer between the glass substrate and the magnetic layer, the orientation direction of the magnetic grains of the magnetic layer and the size of the magnetic grains can be controlled. For example, by using a cubic base layer such as a Cr-based alloy, the direction in which the magnetic layer can be easily magnetized can be oriented along the magnetic disk surface. In this case, an in-plane magnetic recording type magnetic disk is manufactured. Further, for example, by using a hexagonal base layer containing Ru and Ti, for example, the easy magnetization direction of the magnetic layer can be oriented along the normal of the magnetic disk surface. In this case, a perpendicular magnetic recording type magnetic disk is manufactured. The base layer can be formed by a sputtering method like the magnetic layer.

また、磁性層の上に、保護層、潤滑層をこの順に形成するとよい。保護層としてはアモルファスの水素化炭素系保護層が好適である。例えばプラズマCVD法により保護層を形成することができる。また、潤滑層としては、パーフルオロポリエーテル化合物の主鎖の末端に官能基を有する潤滑剤を用いることができる。取り分け、極性官能基として水酸基を末端に備えるパーフルオロポリエーテル化合物を主成分とすることが好ましい。潤滑層はディップ法により塗布形成することができる。
本発明によって得られるガラス基板を利用することにより、信頼性の高い磁気ディスクを得ることができる。
Further, the protective layer and the lubricating layer may be formed in this order on the magnetic layer. As the protective layer, an amorphous carbon hydride-based protective layer is suitable. For example, a protective layer can be formed by a plasma CVD method. Further, as the lubricating layer, a lubricant having a functional group at the end of the main chain of the perfluoropolyether compound can be used. In particular, it is preferable that the main component is a perfluoropolyether compound having a hydroxyl group at the end as a polar functional group. The lubricating layer can be applied and formed by the dip method.
By using the glass substrate obtained by the present invention, a highly reliable magnetic disk can be obtained.

以下に実施例を挙げて、本発明の実施の形態について具体的に説明する。なお、本発明は以下の実施例に限定されるものではない。
(実施例1)
以下の(1)基板準備工程、(2)形状加工工程、(3)端面研磨工程、(4)主表面研削加工処理、(5)主表面研磨工程(第1研磨工程)、(6)化学強化工程、(7)主表面研磨工程(第2研磨工程)を経て本実施例の磁気ディスク用ガラス基板を製造した。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be specifically described with reference to examples. The present invention is not limited to the following examples.
(Example 1)
The following (1) substrate preparation process, (2) shape processing process, (3) end face polishing process, (4) main surface polishing process, (5) main surface polishing process (first polishing process), (6) chemistry The glass substrate for the magnetic disk of this example was manufactured through a strengthening step and (7) a main surface polishing step (second polishing step).

(1)基板準備工程
フロート法により製造された厚さ1mmのアルミノシリケートガラスからなる大板ガラスを準備し、正方形の小片となるようにダイヤモンドカッターを用いて裁断した。次いで、ダイヤモンドカッターを用いて、外径65mm、中心部に内径20mmの円孔を有する円盤形状に加工した。このアルミノシリケートガラスとしては、重量%で表して、
SiO2 58〜66%、Al23 13〜19%、Li2O 3〜 4.5%、Na2O 6〜13%、K2O 0〜 5%、R2O 10〜18%、(ただし、R2O=Li2O+Na2O+K2O)
MgO 0〜 3.5%、CaO 1〜 7%、SrO 0〜 2%、BaO 0〜 2%、RO 2〜10%、(ただし、RO=MgO+CaO+SrO+BaO)
TiO2 0〜 2%、CeO2 0〜 2%、Fe23 0〜 2%、MnO 0〜 1%、(ただし、TiO2+CeO2+Fe23+MnO=0.01〜3%)の組成を含有する化学強化用ガラスを使用した。
(1) Substrate preparation step A large plate glass made of aluminosilicate glass having a thickness of 1 mm manufactured by the float method was prepared and cut into small pieces using a diamond cutter. Next, using a diamond cutter, it was processed into a disk shape having a circular hole having an outer diameter of 65 mm and an inner diameter of 20 mm in the center. For this aluminosilicate glass, it is expressed in% by weight.
SiO 2 58 to 66%, Al 2 O 3 13 to 19%, Li 2 O 3 to 4.5%, Na 2 O 6 to 13%, K 2 O 0 to 5%, R 2 O 10 to 18%, (However, R 2 O = Li 2 O + Na 2 O + K 2 O)
MgO 0 to 3.5%, CaO 1 to 7%, SrO 0 to 2%, BaO 0 to 2%, RO 2 to 10% (however, RO = MgO + CaO + SrO + BaO)
TiO 20 to 2%, CeO 20 to 2%, Fe 2 O 30 to 2%, MnO 0 to 1% (however, TiO 2 + CeO 2 + Fe 2 O 3 + MnO = 0.01 to 3%) A chemically strengthened glass containing the composition was used.

(2)形状加工工程
次に、外周端面および内周端面に所定の面取り加工を施した。なお、一般に、2.5インチ型HDD(ハードディスクドライブ)では、外径が65mmの磁気ディスクを用いる。
(2) Shape Machining Step Next, a predetermined chamfering process was performed on the outer peripheral end face and the inner peripheral end face. In general, a 2.5-inch HDD (hard disk drive) uses a magnetic disk having an outer diameter of 65 mm.

(3)端面研磨工程
次いで、公知のブラシ研磨方法により、ガラス基板を回転させながらガラス基板の端面(内周、外周)の表面を研磨した。
(3) End Face Polishing Step Next, the surface of the end face (inner circumference, outer circumference) of the glass substrate was polished while rotating the glass substrate by a known brush polishing method.

(4)主表面研削加工処理
この主表面研削加工処理は両面ラッピング装置を用い、ダイヤモンドパッドが貼り付けられた上下定盤の間にキャリアにより保持したガラス基板をセットして行なった。ダイヤモンドパッドとしては、複数のダイヤモンド粒子をガラスでビトリファイド結合させた凝集体を樹脂で固定して固定砥粒とした固定砥粒砥石を使用した。ここで、凝集体の平均粒径は約25μm、凝集体中の個々のダイヤモンド粒子の平均粒径(D50)は2.5μmとした。また、潤滑液を使用しながら行った。なお、研削加工処理前のガラス基板の主表面は鏡面であった。また、主表面の粗さを触針式粗さ計で測定したところ、Raで5nmであった。
(4) Main surface grinding process This main surface grinding process was performed by using a double-sided lapping device and setting a glass substrate held by a carrier between the upper and lower surface plates to which a diamond pad was attached. As the diamond pad, a fixed-abrasive grindstone was used in which agglomerates in which a plurality of diamond particles were vitrified and bonded with glass were fixed with a resin to form fixed abrasive grains. Here, the average particle size of the aggregate was about 25 μm, and the average particle size (D50) of the individual diamond particles in the aggregate was 2.5 μm. In addition, it was carried out while using a lubricating liquid. The main surface of the glass substrate before the grinding process was a mirror surface. Moreover, when the roughness of the main surface was measured with a stylus type roughness meter, it was 5 nm in Ra.

具体的には、定盤の回転数を10〜100rpmの範囲で適宜選択し、ガラス基板への荷重は、図3に示すシーケンスに従って印加した。本実施例では、第一段階(粗面化)の荷重(P1)を150g/cm、第二段階(本加工)の荷重(P2)を100g/cmにそれぞれ設定して、上記ラッピング装置のサンギアとインターナルギアを回転させることによって、キャリア内に収納したガラス基板の両面を加工した。
なお、図3における傾きkは10g/(cm・sec)、t1は60秒、BC間の時間は15秒、t2はt1よりも長い200秒とした。
上記研削加工処理を終えたガラス基板を、中性洗剤、水の各洗浄槽(超音波印加)に順次浸漬して、超音波洗浄を行なった。
Specifically, the rotation speed of the surface plate was appropriately selected in the range of 10 to 100 rpm, and the load on the glass substrate was applied according to the sequence shown in FIG. In this embodiment, the load (P1) of the first stage (roughening) is set to 150 g / cm 2 , and the load (P2) of the second stage (main processing) is set to 100 g / cm 2 , respectively. By rotating the sun gear and internal gear of the above, both sides of the glass substrate housed in the carrier were processed.
The slope k in FIG. 3 was 10 g / (cm 2 · sec), t1 was 60 seconds, the time between BCs was 15 seconds, and t2 was 200 seconds longer than t1.
The glass substrate that had been subjected to the above grinding process was sequentially immersed in each cleaning tank (ultrasonic application) of a neutral detergent and water to perform ultrasonic cleaning.

この研削加工処理では、1回の処理(1バッチ)につき50枚の加工を行なった。加工後のガラス基板について、触針式表面粗さ計を用いて、表面粗さの測定を行った。表面粗さ(Ra)と、研削加工処理全体における加工速度の測定結果を表1、表2に示した。なお、上記研削加工処理全体における加工速度は、全研削厚みを全加工時間(第一段階と第二段階を含む)で除した値である。また、暗室中において集光ランプを用いて、主表面にスクラッチが発生したガラス基板の数をカウントすることによりスクラッチの評価を実施した。 In this grinding process, 50 sheets were processed per process (1 batch). The surface roughness of the processed glass substrate was measured using a stylus type surface roughness meter. Tables 1 and 2 show the measurement results of the surface roughness (Ra) and the processing speed in the entire grinding process. The processing speed in the entire grinding process is a value obtained by dividing the total grinding thickness by the total processing time (including the first stage and the second stage). In addition, scratches were evaluated by counting the number of glass substrates in which scratches were generated on the main surface using a condensing lamp in a dark room.

(5)主表面研磨工程(第1研磨工程)
次に、上述した研削加工で残留した傷や歪みを除去するための第1研磨工程を両面研磨装置を用いて行なった。両面研磨装置においては、研磨パッドが貼り付けられた上下研磨定盤の間にキャリアにより保持したガラス基板を密着させ、このキャリアを太陽歯車(サンギア)と内歯歯車(インターナルギア)とに噛合させ、上記ガラス基板を上下定盤によって挟圧する。その後、研磨パッドとガラス基板の研磨面との間に研磨液を供給して回転させることによって、ガラス基板が定盤上で自転しながら公転して両面を同時に研磨加工するものである。具体的には、ポリシャとして硬質ポリシャ(硬質発泡ウレタン)を用い、第1研磨工程を実施した。研磨液としては酸化セリウムを研磨剤として水に分散させたものを用いた。
(5) Main surface polishing process (first polishing process)
Next, the first polishing step for removing scratches and strains remaining in the above-mentioned grinding process was performed using a double-sided polishing device. In a double-sided polishing device, a glass substrate held by a carrier is brought into close contact between the upper and lower polishing surface plates to which a polishing pad is attached, and this carrier is meshed with a sun gear (sun gear) and an internal gear (internal gear). , The glass substrate is sandwiched by the upper and lower surface plates. After that, by supplying a polishing liquid between the polishing pad and the polishing surface of the glass substrate and rotating the glass substrate, the glass substrate revolves while rotating on the surface plate to simultaneously polish both sides. Specifically, a hard polisher (hard urethane foam) was used as the polisher, and the first polishing step was carried out. As the polishing liquid, a cerium oxide dispersed in water as an abrasive was used.

(6)化学強化工程
次に、上記洗浄を終えたガラス基板に化学強化を施した。化学強化処理は、硝酸カリウムと硝酸ナトリウムを混合して溶融させた化学強化液を用意し、この化学強化溶液中にガラス基板を浸漬することによって行なった。
(6) Chemical strengthening step Next, the glass substrate after the above cleaning was chemically strengthened. The chemical strengthening treatment was carried out by preparing a chemical strengthening solution obtained by mixing and melting potassium nitrate and sodium nitrate, and immersing a glass substrate in the chemically strengthening solution.

(7)主表面研磨工程(第2研磨工程)
次いで上記の第1研磨工程で使用したものと同じ両面研磨装置を用い、ポリシャを軟質ポリシャ(スウェード)の研磨パッドに替えて第2研磨工程を実施した。この第2研磨工程は、上述した第1研磨工程で得られた平坦な表面を維持しつつ、表面粗さをさらに低下させて平滑な鏡面に仕上げるための鏡面研磨加工である。研磨液としてはコロイダルシリカを水に分散したものを使用した。上記第2研磨工程を終えたガラス基板を適宜洗浄し、乾燥した。
(7) Main surface polishing process (second polishing process)
Then, using the same double-sided polishing apparatus used in the first polishing step, the polisher was replaced with a soft polisher (suede) polishing pad, and the second polishing step was carried out. This second polishing step is a mirror polishing process for further reducing the surface roughness to finish a smooth mirror surface while maintaining the flat surface obtained in the first polishing step described above. As the polishing liquid, a colloidal silica dispersed in water was used. The glass substrate after the second polishing step was appropriately washed and dried.

また、上記工程を経て得られたガラス基板の主表面の表面粗さを原子間力顕微鏡(AFM)にて測定したところ、Rmax=1.53nm、Ra=0.13nmと超平滑な表面を持つガラス基板を得た。また、そのガラス基板の表面を原子間力顕微鏡(AFM)及び電子顕微鏡で分析したところ、鏡面状であり、突起や傷等の表面欠陥は観察されなかった。
また、得られたガラス基板の外径は65mm、内径は20mm、板厚は0.635mmであった。
こうして、本実施例の磁気ディスク用ガラス基板を得た。
Further, when the surface roughness of the main surface of the glass substrate obtained through the above steps was measured by an atomic force microscope (AFM), it had an ultra-smooth surface with Rmax = 1.53 nm and Ra = 0.13 nm. A glass substrate was obtained. Moreover, when the surface of the glass substrate was analyzed by an atomic force microscope (AFM) and an electron microscope, it was mirror-like and no surface defects such as protrusions and scratches were observed.
The outer diameter of the obtained glass substrate was 65 mm, the inner diameter was 20 mm, and the plate thickness was 0.635 mm.
In this way, the glass substrate for the magnetic disk of this example was obtained.

(実施例2)
上記実施例1の研削加工処理において、第一段階(粗面化)の荷重(P1)を130g/cmに設定したこと以外は実施例1と同様にして研削加工処理を実施した。そして、研削加工処理以外は実施例1と同様にして磁気ディスク用ガラス基板を得た。
研削加工後のガラス基板について、研削面のスクラッチ、研削加工処理全体における加工速度の測定結果を表1に示した。
(Example 2)
In the grinding process of Example 1, the grinding process was performed in the same manner as in Example 1 except that the load (P1) of the first stage (roughening) was set to 130 g / cm 2. Then, a glass substrate for a magnetic disk was obtained in the same manner as in Example 1 except for the grinding process.
Table 1 shows the measurement results of scratches on the ground surface and the processing speed of the entire grinding process for the glass substrate after the grinding process.

(実施例3)
上記実施例1の研削加工処理において、第一段階(粗面化)の荷重(P1)を200g/cmに設定したこと以外は実施例1と同様にして研削加工処理を実施した。そして、研削加工処理以外は実施例1と同様にして磁気ディスク用ガラス基板を得た。
研削加工後のガラス基板について、研削面のスクラッチ、研削加工処理全体における加工速度の測定結果を表1に示した。
(Example 3)
In the grinding process of Example 1, the grinding process was performed in the same manner as in Example 1 except that the load (P1) of the first stage (roughening) was set to 200 g / cm 2. Then, a glass substrate for a magnetic disk was obtained in the same manner as in Example 1 except for the grinding process.
Table 1 shows the measurement results of scratches on the ground surface and the processing speed of the entire grinding process for the glass substrate after the grinding process.

(実施例4)
上記実施例1の研削加工処理において、第二段階(本加工)の荷重(P2)を50g/cmに設定したこと以外は実施例1と同様にして研削加工処理を実施した。そして、研削加工処理以外は実施例1と同様にして磁気ディスク用ガラス基板を得た。
研削加工後のガラス基板について、実施例1と同様にして測定した表面粗さ(Ra)と、研削加工処理全体における加工速度の測定結果を表2に示した。
(Example 4)
In the grinding process of Example 1, the grinding process was performed in the same manner as in Example 1 except that the load (P2) of the second stage (main processing) was set to 50 g / cm 2. Then, a glass substrate for a magnetic disk was obtained in the same manner as in Example 1 except for the grinding process.
Table 2 shows the surface roughness (Ra) measured in the same manner as in Example 1 and the measurement results of the processing speed in the entire grinding process for the glass substrate after the grinding process.

(実施例5)
上記実施例1の研削加工処理において、第二段階(本加工)の荷重(P2)を70g/cmに設定したこと以外は実施例1と同様にして研削加工処理を実施した。そして、研削加工処理以外は実施例1と同様にして磁気ディスク用ガラス基板を得た。
研削加工後のガラス基板について、実施例1と同様にして測定した表面粗さ(Ra)と、研削加工処理全体における加工速度の測定結果を表2に示した。
(Example 5)
In the grinding process of Example 1, the grinding process was performed in the same manner as in Example 1 except that the load (P2) of the second stage (main processing) was set to 70 g / cm 2. Then, a glass substrate for a magnetic disk was obtained in the same manner as in Example 1 except for the grinding process.
Table 2 shows the surface roughness (Ra) measured in the same manner as in Example 1 and the measurement results of the processing speed in the entire grinding process for the glass substrate after the grinding process.

(実施例6)
上記実施例1の研削加工処理において、第二段階(本加工)の荷重(P2)を120g/cmに設定したこと以外は実施例1と同様にして研削加工処理を実施した。そして、研削加工処理以外は実施例1と同様にして磁気ディスク用ガラス基板を得た。
研削加工後のガラス基板について、実施例1と同様にして測定した表面粗さ(Ra)と、研削加工処理全体における加工速度の測定結果を表2に示した。
(Example 6)
In the grinding process of Example 1, the grinding process was performed in the same manner as in Example 1 except that the load (P2) of the second stage (main processing) was set to 120 g / cm 2. Then, a glass substrate for a magnetic disk was obtained in the same manner as in Example 1 except for the grinding process.
Table 2 shows the surface roughness (Ra) measured in the same manner as in Example 1 and the measurement results of the processing speed in the entire grinding process for the glass substrate after the grinding process.

(実施例7)
上記実施例1の研削加工処理において、第一段階(粗面化)の荷重(P1)を120g/cmに設定したこと以外は実施例1と同様にして研削加工処理を実施した。そして、研削加工処理以外は実施例1と同様にして磁気ディスク用ガラス基板を得た。
研削加工後のガラス基板について、研削面のスクラッチ、研削加工処理全体における加工速度の測定結果を表1に示した。
(Example 7)
In the grinding process of Example 1, the grinding process was performed in the same manner as in Example 1 except that the load (P1) of the first stage (roughening) was set to 120 g / cm 2. Then, a glass substrate for a magnetic disk was obtained in the same manner as in Example 1 except for the grinding process.
Table 1 shows the measurement results of scratches on the ground surface and the processing speed of the entire grinding process for the glass substrate after the grinding process.

(実施例8)
上記実施例1の研削加工処理において、第一段階(粗面化)の荷重(P1)を210g/cmに設定したこと以外は実施例1と同様にして研削加工処理を実施した。そして、研削加工処理以外は実施例1と同様にして磁気ディスク用ガラス基板を得た。
研削加工後のガラス基板について、研削面のスクラッチ、研削加工処理全体における加工速度の測定結果を表1に示した。
(Example 8)
In the grinding process of Example 1, the grinding process was performed in the same manner as in Example 1 except that the load (P1) of the first stage (roughening) was set to 210 g / cm 2. Then, a glass substrate for a magnetic disk was obtained in the same manner as in Example 1 except for the grinding process.
Table 1 shows the measurement results of scratches on the ground surface and the processing speed of the entire grinding process for the glass substrate after the grinding process.

(実施例9)
上記実施例1の研削加工処理において、第二段階(本加工)の荷重(P2)を40g/cmに設定したこと以外は実施例1と同様にして研削加工処理を実施した。そして、研削加工処理以外は実施例1と同様にして磁気ディスク用ガラス基板を得た。
研削加工後のガラス基板について、実施例1と同様にして測定した表面粗さ(Ra)と、研削加工処理全体における加工速度の測定結果を表2に示した。
(Example 9)
In the grinding process of Example 1, the grinding process was performed in the same manner as in Example 1 except that the load (P2) of the second stage (main processing) was set to 40 g / cm 2. Then, a glass substrate for a magnetic disk was obtained in the same manner as in Example 1 except for the grinding process.
Table 2 shows the surface roughness (Ra) measured in the same manner as in Example 1 and the measurement results of the processing speed in the entire grinding process for the glass substrate after the grinding process.

(実施例10)
上記実施例1の研削加工処理において、第二段階(本加工)の荷重(P2)を130g/cmに設定したこと以外は実施例1と同様にして研削加工処理を実施した。そして、研削加工処理以外は実施例1と同様にして磁気ディスク用ガラス基板を得た。
研削加工後のガラス基板について、実施例1と同様にして測定した表面粗さ(Ra)と、研削加工処理全体における加工速度の測定結果を表2に示した。
(Example 10)
In the grinding process of Example 1, the grinding process was performed in the same manner as in Example 1 except that the load (P2) of the second stage (main processing) was set to 130 g / cm 2. Then, a glass substrate for a magnetic disk was obtained in the same manner as in Example 1 except for the grinding process.
Table 2 shows the surface roughness (Ra) measured in the same manner as in Example 1 and the measurement results of the processing speed in the entire grinding process for the glass substrate after the grinding process.

(比較例)
上記実施例1の研削加工処理において、荷重を100g/cmに設定して、最初から研削加工(本加工)を実施した。そして、研削加工処理以外は実施例1と同様にして磁気ディスク用ガラス基板を得た。
研削加工後のガラス基板について、研削面のスクラッチ、研削加工処理全体における加工速度の測定結果を表1に示した。
(Comparison example)
In the grinding process of Example 1, the load was set to 100 g / cm 2 and the grinding process (main process) was performed from the beginning. Then, a glass substrate for a magnetic disk was obtained in the same manner as in Example 1 except for the grinding process.
Table 1 shows the measurement results of scratches on the ground surface and the processing speed of the entire grinding process for the glass substrate after the grinding process.

Figure 0006960970
Figure 0006960970

Figure 0006960970
Figure 0006960970

上記表1、表2の結果から、以下のことがわかる。
1.上記第一段階を設けず、荷重を研削加工(本加工)の荷重に設定して、最初から研削加工(本加工)を実施した比較例においては、研削加工できない時間が長くなり、加工速度が低下してしまう。
2.これに対し、本発明の実施例によれば、従来の固定砥粒を用いた研削加工における研削加工できない時間を減らし、加工速度を落とさずに研削加工を行うことが可能となる。さらに、研削加工の条件を調節することで加工面の表面粗さを低く抑えることも可能になる。特に、第一段階における荷重P1を、130〜200g/cmの範囲とし、第二段階における荷重P2を、50〜120g/cmの範囲とすることにより、良好な結果が得られる。
なお、第一段階における荷重P1が130g/cmよりも小さいと(実施例7)、研削加工できない時間を十分に短縮できず、加工速度が低下してしまう。一方、荷重P1が200g/cmよりも大きいと(実施例8)、砥粒による切込みが深くなりすぎて、スクラッチが発生し、本加工や後続の研磨工程の取代を大きくする必要が出てくるため全体の加工時間が長くなってしまう。つまり、P1は、加工速度の観点から130g/cm以上が好ましく、スクラッチの観点から200g/cm以下であることが好ましい。
また、P1/P2の値については、上記結果から、1.20以上、または、3以下であることが好ましい。
From the results in Tables 1 and 2 above, the following can be seen.
1. 1. In the comparative example in which the first step is not provided, the load is set to the load of the grinding process (main processing), and the grinding process (main processing) is performed from the beginning, the time during which the grinding process cannot be performed becomes longer and the processing speed increases. It will drop.
2. On the other hand, according to the embodiment of the present invention, it is possible to reduce the time during which grinding cannot be performed in the conventional grinding process using fixed abrasive grains, and to perform the grinding process without reducing the processing speed. Furthermore, it is possible to keep the surface roughness of the machined surface low by adjusting the grinding conditions. In particular, the load P1 in the first stage, a range of 130~200g / cm 2, the load P2 in the second stage, by the range of 50 to 120 / cm 2, better results are obtained.
If the load P1 in the first stage is smaller than 130 g / cm 2 (Example 7), the time during which grinding cannot be performed cannot be sufficiently shortened, and the processing speed is lowered. On the other hand, when the load P1 is larger than 200 g / cm 2 (Example 8), the depth of cut by the abrasive grains becomes too deep, scratches occur, and it becomes necessary to increase the allowance for the main processing and the subsequent polishing process. Therefore, the entire processing time becomes long. That is, P1 is preferably 130 g / cm 2 or more from the viewpoint of processing speed, and preferably 200 g / cm 2 or less from the viewpoint of scratch.
Further, the value of P1 / P2 is preferably 1.20 or more or 3 or less from the above results.

また、その他の例(比較例)として、P1を100(g/cm)、P2を130(g/cm)としてその他は実施例1と同様にしてガラス基板を処理し、評価したところ、Raが0.132μmとなり、後続の研磨工程の取代を大きくする必要が出てくるため、製造コストを下げられないことがわかった。 Further, as another example (comparative example), the glass substrate was treated and evaluated in the same manner as in Example 1 with P1 being 100 (g / cm 2 ) and P2 being 130 (g / cm 2). It was found that the manufacturing cost could not be reduced because Ra became 0.132 μm and it became necessary to increase the allowance for the subsequent polishing process.

また、表2の実施例のそれぞれの条件を用いて、常に新しいガラス基板を使用するようにして、連続50バッチの連続加工を行い、合計2500枚の加工後のガラス基板について調査したところ、実施例9の条件においてのみ、主表面の一部が研削されていない基板が1枚見つかった。このような未研削の基板は、スクラッチ検査と同じ方法を用いて発見することができる。
また、実施例4の条件からP1のみを160(g/cm)、140(g/cm)と変化させて同様の連続加工を行ったところ(それぞれ実施例11、12とする。それぞれのP1/P2は、3.2、2.8となる)、140(g/cm)とした場合は上記のような未研削の基板は見つからなかったが、160(g/cm)とした場合には1枚見つかった。
すなわち、実施例4、9、11、12の結果より、P1/P2が3より大きくなると、連続加工をした際に、未研削の基板が発生する恐れがあることがわかった。
In addition, using each of the conditions of the examples in Table 2, continuous processing of 50 batches was performed continuously so as to always use a new glass substrate, and a total of 2500 processed glass substrates were investigated. Only under the conditions of Example 9, one substrate was found in which a part of the main surface was not ground. Such unground substrates can be found using the same methods as for scratch inspection.
Further, from the conditions of Example 4, only P1 was changed to 160 (g / cm 2 ) and 140 (g / cm 2 ), and the same continuous processing was performed (these are Examples 11 and 12, respectively. When P1 / P2 was set to 3.2 and 2.8) and 140 (g / cm 2 ), the above unground substrate was not found, but it was set to 160 (g / cm 2 ). In the case, one was found.
That is, from the results of Examples 4, 9, 11 and 12, it was found that when P1 / P2 is larger than 3, there is a possibility that an unground substrate may be generated during continuous machining.

また、実施例1において使用したダイヤモンドパッドにおける研削砥粒(凝集体)の突き出し量を、0.3μm〜8μmの間で変化させた。
この点以外は、実施例1と同様にして研削処理を連続して行い、得られた2500枚のガラス基板の表面観察結果を以下の表3に示した。
Further, the amount of protrusion of the grinding abrasive grains (aggregates) in the diamond pad used in Example 1 was changed between 0.3 μm and 8 μm.
Except for this point, the grinding process was continuously performed in the same manner as in Example 1, and the surface observation results of the obtained 2500 glass substrates are shown in Table 3 below.

Figure 0006960970
Figure 0006960970

上記表3の結果から、研削処理に使用するダイヤモンドパッドの表面において、研削砥粒の突き出し量は、とりわけ0.5μm〜7μmの範囲であることが好ましい。 From the results in Table 3 above, on the surface of the diamond pad used for the grinding process, the amount of protrusion of the grinding abrasive grains is particularly preferably in the range of 0.5 μm to 7 μm.

(磁気ディスクの製造)
上記実施例1で得られた磁気ディスク用ガラス基板に以下の成膜工程を施して、垂直磁気記録用磁気ディスクを得た。
すなわち、上記ガラス基板上に、Ti系合金薄膜からなる付着層、CoTaZr合金薄膜からなる軟磁性層、Ru薄膜からなる下地層、CoCrPt合金からなる垂直磁気記録層、カーボン保護層、潤滑層を順次成膜した。保護層は、磁気記録層が磁気ヘッドとの接触によって劣化することを防止するためのもので、水素化カーボンからなり、耐磨耗性が得られる。また、潤滑層は、アルコール変性パーフルオロポリエーテルの液体潤滑剤をディップ法により形成した。
得られた磁気ディスクについて、DFHヘッドを備えたHDDに組み込み、80℃かつ80%RHの高温高湿環境下においてDFH機能を作動させつつ1ヶ月間のロードアンロード耐久性試験を行ったところ、特に障害も無く、良好な結果が得られた。
(Manufacturing of magnetic disks)
The glass substrate for a magnetic disk obtained in Example 1 was subjected to the following film forming step to obtain a magnetic disk for perpendicular magnetic recording.
That is, on the glass substrate, an adhesion layer made of a Ti-based alloy thin film, a soft magnetic layer made of a CoTaZr alloy thin film, a base layer made of a Ru thin film, a perpendicular magnetic recording layer made of a CoCrPt alloy, a carbon protective layer, and a lubricating layer are sequentially formed. A film was formed. The protective layer is for preventing the magnetic recording layer from being deteriorated by contact with the magnetic head, is made of carbon hydride, and has abrasion resistance. Further, as the lubricating layer, a liquid lubricant of alcohol-modified perfluoropolyether was formed by a dip method.
The obtained magnetic disk was incorporated into an HDD equipped with a DFH head, and a load / unload durability test was conducted for one month while operating the DFH function in a high temperature and high humidity environment of 80 ° C. and 80% RH. There were no particular obstacles, and good results were obtained.

1 ダイヤモンドパッド
2 シート
3 凝集体
4 ペレット
5 ダイヤモンド粒子
6 支持材
10 ガラス基板
1 Diamond pad 2 Sheet 3 Aggregate 4 Pellets 5 Diamond particles 6 Support material 10 Glass substrate

Claims (6)

上下定盤の間にキャリアにより保持したガラス基板を密着させ、前記ガラス基板を上下定盤によって所定圧で挟圧しながら、前記ガラス基板と前記上下定盤とを相対的に移動させることにより、前記ガラス基板の両主表面を同時に研削加工処理する際に、前記上下定盤に貼り付ける固定砥粒砥石であって、
前記固定砥粒砥石は、主表面が鏡面であるガラス基板の研削加工処理に用いられるものであり、
前記研削加工処理は、前記ガラス基板の表面を粗面化する第一段階と、該第一段階の後に実施され、前記ガラス基板を研削する第二段階を有し、
前記固定砥粒砥石は、前記第一段階及び第二段階を通じて用いられるものであり、
前記固定砥粒砥石は、ダイヤモンド粒子を含む固定砥粒を含み、
前記固定砥粒の突出し量は0.5μm〜7μmである、
前記固定砥粒砥石を用いてガラス基板の主表面を研削する処理を有することを特徴とするガラス基板の製造方法
The glass substrate held by the carrier is brought into close contact between the upper and lower surface plates, and the glass substrate and the upper and lower surface plates are relatively moved while being sandwiched by the upper and lower surface plates at a predetermined pressure. A fixed abrasive grain grindstone that is attached to the upper and lower surface plates when both main surfaces of a glass substrate are simultaneously ground.
The fixed abrasive grain grindstone is used for grinding a glass substrate whose main surface is a mirror surface.
The grinding process has a first step of roughening the surface of the glass substrate and a second step of grinding the glass substrate, which is carried out after the first step.
The fixed abrasive grain grindstone is used through the first step and the second step.
The fixed abrasive grain grindstone includes fixed abrasive grains containing diamond particles.
The amount of protrusion of the fixed abrasive grains is 0.5 μm to 7 μm.
A method for manufacturing a glass substrate, which comprises a process of grinding the main surface of the glass substrate using the fixed abrasive grain grindstone.
前記固定砥粒は、いくつかのダイヤモンド粒子がガラス、セラミック、金属、または樹脂のバインダーで固められた凝集体であることを特徴とする請求項1に記載のガラス基板の製造方法 The method for producing a glass substrate according to claim 1, wherein the fixed abrasive grains are aggregates in which some diamond particles are hardened with a binder of glass, ceramic, metal, or resin. 前記固定砥粒の平均粒径は20〜40μmであることを特徴とする請求項1又は2に記載のガラス基板の製造方法 The method for producing a glass substrate according to claim 1 or 2 , wherein the fixed abrasive grains have an average particle size of 20 to 40 μm. 前記ダイヤモンド粒子の平均粒径は1〜5μmであることを特徴とする請求項1乃至のいずれかに記載のガラス基板の製造方法 The method for producing a glass substrate according to any one of claims 1 to 3 , wherein the average particle size of the diamond particles is 1 to 5 μm. 前記ガラス基板は磁気ディスク用ガラス基板の製造に用いられるガラス基板であることを特徴とする請求項1乃至4のいずれかに記載のガラス基板の製造方法。 The method for manufacturing a glass substrate according to any one of claims 1 to 4, wherein the glass substrate is a glass substrate used for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk. 請求項1乃至5のいずれかに記載のガラス基板の主表面を研削する処理の後、さらに、当該ガラス基板の主表面を研磨する処理を有することを特徴とするガラス基板の製造方法。 A method for producing a glass substrate, which comprises, after the process of grinding the main surface of the glass substrate according to any one of claims 1 to 5, a process of further polishing the main surface of the glass substrate.
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