JP6958803B2 - 電磁的情報漏洩評価装置、電磁的情報漏洩評価方法、および電磁的情報漏洩評価プログラム - Google Patents
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- 電子機器から放射される漏洩電磁波から、前記電子機器において表示されている画面情報が再現されるリスクを評価する電磁的情報漏洩評価装置であって、
前記電子機器から放射される前記漏洩電磁波を計測し、かつ前記漏洩電磁波が計測された環境と同一環境において、前記電子機器から前記漏洩電磁波が放射されていない場合に取得される背景雑音を計測する計測部と、
前記漏洩電磁波と前記背景雑音とをそれぞれ時間領域データとして用いて、前記漏洩電磁波と前記背景雑音との間でt検定を行う検定部と、
前記t検定によって得られるt値に基づいて、前記漏洩電磁波から前記画面情報が再現されるリスクを評価する評価部とを備え、
前記計測部による計測、前記検定部によるt検定、および前記評価部による評価からなる一連の処理が、前記電子機器から前記計測部までの距離および角度が異なる各条件において行われる、電磁的情報漏洩評価装置。 - 前記計測部は、前記電子機器に電源が投入されていない状態において前記背景雑音を計測する、請求項1に記載の電磁的情報漏洩評価装置。
- 前記計測部は、前記電子機器からランダムな画面が表示されている状態において前記背景雑音を計測する、請求項1に記載の電磁的情報漏洩評価装置。
- 電子機器から放射される漏洩電磁波から、前記電子機器において表示されている画面情報が再現されるリスクを評価する装置が行う電磁的情報漏洩評価方法であって、
前記装置の計測部が、前記電子機器から放射される前記漏洩電磁波を計測する工程と、
前記計測部が、前記漏洩電磁波が計測された環境と同一環境において、前記電子機器から前記漏洩電磁波が放射されていない場合に取得される背景雑音を計測する工程と、
前記装置の検定部が、前記漏洩電磁波と前記背景雑音とをそれぞれ時間領域データとして用いて、前記漏洩電磁波と前記背景雑音との間でt検定を行う工程と、
前記装置の評価部が、前記t検定によって得られるt値に基づいて、前記漏洩電磁波から前記画面情報が再現されるリスクを評価する工程とを含み、
前記漏洩電磁波を計測する工程、前記背景雑音を計測する工程、前記t検定を行う工程、および前記評価する工程からなる一連の工程が、前記電子機器から前記計測部までの距離および角度が異なる各条件において行われる、電磁的情報漏洩評価方法。 - 電子機器から放射される漏洩電磁波から、前記電子機器において表示されている画面情報が再現されるリスクを評価するために、
前記電子機器から放射され、計測手段によって計測された前記漏洩電磁波と、前記漏洩電磁波が計測された環境と同一環境において、前記電子機器から前記漏洩電磁波が放射されていない場合に、前記計測手段によって計測された背景雑音とをそれぞれ時間領域データとして用いて、前記漏洩電磁波と前記背景雑音との間でt検定を行う第1の処理を行う機能と、
前記t検定によって得られるt値に基づいて、前記漏洩電磁波から前記画面情報が再現されるリスクを評価する第2の処理を行う機能と
をコンピュータに実現させるための電磁的情報漏洩評価プログラムであって、
前記第1の処理と、前記第1の処理に続く前記第2の処理とは、前記電子機器から前記計測手段までの距離および角度が異なる各条件において行われる、電磁的情報漏洩評価プログラム。
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